JP2008191080A - Contact probe - Google Patents

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JP2008191080A
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Tadashi Tomoi
忠司 友井
Tetsuya Hamaguchi
哲也 濱口
Tomoshi Kasai
智志 葛西
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University of Tokyo NUC
Hioki EE Corp
Original Assignee
University of Tokyo NUC
Hioki EE Corp
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a contact probe capable of preventing breakage of a contact end of an electrode, and damages to an object body to be probed. <P>SOLUTION: The contact probe 1A in which a contact end of a center electrode 4a protrudes forward more than a contact end of an outer electrode 3a in a probing direction in a non-probing state comprises: the center electrode 4a and the outer electrode 3a that are disposed so as to allow movement relative with respect to a base part 2a in the probing directions (directions of the arrows A and B), and that are mutually insulated; a spring 6a that energizes the center electrode 4a and the outer electrode 3a in the directions opposite to the probing directions; a spring 5a that energizes the outer electrode 3a and a base part 2 in the directions opposite to the probing directions; and an oil damping mechanism 7a that decreases the moving speed of the outer electrode 3a with respect to the center electrode 4a in the probing direction. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、第1電極および第2電極の一対の電極を備えたコンタクトプローブに関するものである。   The present invention relates to a contact probe provided with a pair of electrodes of a first electrode and a second electrode.

例えば、四端子法による測定に際しては、測定対象導体(プロービング対象体)に対して別個独立して接触可能な電圧測定用電極および電流測定用電極の一対の電極を有するコンタクトプローブを使用する。この種のコンタクトプローブとして、特開平5−232137号公報にバネ式コンタクトプローブが開示されている。この公報において第2従来例として開示されているコンタクトプローブは、電圧測定用ピン(電圧測定用電極)と、電圧測定用ピンの挿通が可能に構成された中空の(筒状の)電流測定用ピン(電流測定用電極)との一対の電極を備えている。   For example, in the measurement by the four-terminal method, a contact probe having a pair of electrodes of a voltage measurement electrode and a current measurement electrode that can be separately and independently contacted with a measurement object conductor (probing object) is used. As this type of contact probe, a spring-type contact probe is disclosed in JP-A-5-232137. The contact probe disclosed as the second conventional example in this publication is a voltage measuring pin (voltage measuring electrode) and a hollow (cylindrical) current measuring device configured to allow insertion of the voltage measuring pin. A pair of electrodes (pins for current measurement) is provided.

この場合、このコンタクトプローブでは、電流測定用ピン内に配設された絶縁体(絶縁体で形成された筒:以下、「筒状絶縁体」ともいう)を介して電圧測定用ピンが電流測定用ピンに対してスライド可能に保持されている。また、電流測定用ピンおよび電圧測定用ピンは、上記の筒状絶縁体内に配設されたバネによってプロービング方向において相反する方向に付勢されている。さらに、このコンタクトプローブでは、電流測定用ピンがプロービング装置にコンタクトプローブを保持させるための筒(以下、前述した筒状絶縁体と区別するために「ベース部」ともいう)内をスライド可能に構成されている。また、電流測定用ピンおよびベース部は、電流測定用ピンの外側に配設されたバネによってプロービング方向において相反する方向に付勢されている。   In this case, in this contact probe, the voltage measurement pin measures the current through an insulator (cylinder made of an insulator: hereinafter also referred to as “cylindrical insulator”) disposed in the current measurement pin. It is slidably held with respect to the pins for use. Further, the current measuring pin and the voltage measuring pin are biased in opposite directions in the probing direction by the spring disposed in the cylindrical insulator. Furthermore, this contact probe is configured so that the current measuring pin can slide within a cylinder (hereinafter also referred to as a “base part” to distinguish it from the aforementioned cylindrical insulator) for holding the contact probe in the probing device. Has been. The current measuring pin and the base portion are biased in opposite directions in the probing direction by a spring disposed outside the current measuring pin.

このコンタクトプローブを用いたプロービングに際しては、移動機構の保持部にベース部を保持させるようにしてプロービング装置にコンタクトプローブを装着する。次いで、プロービングの開始が指示されたときに、移動機構がプロービング対象体に向けて(プロービング方向で)ベース部を移動させる。この際には、まず、電圧測定用ピンの先端部がプロービング対象体に当接し、その状態において、ベース部がさらに移動させられることにより、電流測定用ピンに対して電圧測定用ピンがプロービング方向とは逆向きに相対的に移動させられる。この際に、筒状絶縁体内のバネが押し縮められることにより、その反発力によって電圧測定用ピンの先端部がプロービング対象体の表面に向けて付勢される。   When probing using the contact probe, the contact probe is attached to the probing apparatus so that the holding portion of the moving mechanism holds the base portion. Next, when the start of probing is instructed, the moving mechanism moves the base portion toward the probing object (in the probing direction). In this case, first, the tip of the voltage measurement pin contacts the probing object, and in this state, the base portion is further moved, so that the voltage measurement pin is in the probing direction with respect to the current measurement pin. Is relatively moved in the opposite direction. At this time, when the spring in the cylindrical insulator is compressed, the tip of the voltage measuring pin is urged toward the surface of the probing object by the repulsive force.

次いで、移動機構がベース部をさらに移動させることにより、電流測定用ピンの先端部がプロービング対象体に当接し、その状態からベース部がさらに移動させられることにより、ベース部に対して電流測定用ピンがプロービング方向とは逆向きに相対的に移動させられる。この際に、電流測定用ピンの外側に配設されたバネが押し縮められることにより、その反発力によって電流測定用ピンの先端部がプロービング対象体の表面に向けて付勢される。この状態において、プロービング対象体に接触している電圧測定用ピンおよび電流測定用ピンを用いた電気的検査が実行される。
特開平5−232137号公報(第2頁、第3図)
Next, when the moving mechanism further moves the base part, the tip of the current measuring pin comes into contact with the probing object, and the base part is further moved from that state, so that the base part is used for current measurement. The pin is moved relative to the probing direction. At this time, the spring disposed outside the current measuring pin is pressed and contracted, whereby the tip of the current measuring pin is urged toward the surface of the probing object by the repulsive force. In this state, an electrical inspection using the voltage measurement pin and the current measurement pin that are in contact with the probing object is performed.
JP-A-5-232137 (2nd page, FIG. 3)

ところが、従来のコンタクトプローブには、以下の問題点がある。すなわち、従来のコンタクトプローブでは、電圧測定用ピンの先端部がプロービング対象体に接触した時点から電流測定用ピンの先端部がプロービング対象体に接触する時点までの間において筒状絶縁体に内蔵されたバネが弾性変形することにより、その反発力によって電圧測定用ピンの先端部をプロービング対象体に向けて付勢すると共に、電圧測定用ピンに対する電流測定用ピンの移動速度を徐々に低下させて電流測定用ピンの当接時にプロービング対象体に加わる衝撃を緩和する構成が採用されている。この場合、従来のコンタクトプローブでは、電圧測定用ピンの挿通を可能とするために電流測定用ピンが筒状に形成されると共に、電流測定用ピンおよび電圧測定用ピンを相互に絶縁しつつ、電流測定用ピンに対する電圧測定用ピンのスライドを許容する筒状絶縁体が電流測定用ピンの内側に取り付けられている。したがって、従来のコンタクトプローブでは、電流測定用ピンの質量(電流測定用ピンの質量および筒状絶縁体の質量の合計質量)が非常に大きくなっている。   However, the conventional contact probe has the following problems. That is, in the conventional contact probe, it is built into the cylindrical insulator from the time when the tip of the voltage measurement pin contacts the probing object until the time when the tip of the current measurement pin contacts the probing object. When the spring is elastically deformed, the repulsive force urges the tip of the voltage measuring pin toward the probing object and gradually decreases the moving speed of the current measuring pin relative to the voltage measuring pin. A configuration is adopted in which the impact applied to the probing object when the current measuring pin contacts is reduced. In this case, in the conventional contact probe, the current measurement pin is formed in a cylindrical shape so that the voltage measurement pin can be inserted, and the current measurement pin and the voltage measurement pin are insulated from each other, A cylindrical insulator that allows the voltage measurement pin to slide relative to the current measurement pin is attached to the inside of the current measurement pin. Therefore, in the conventional contact probe, the mass of the current measurement pin (the total mass of the mass of the current measurement pin and the mass of the cylindrical insulator) is very large.

このため、筒状絶縁体に内蔵されたバネの弾性変形によって電圧測定用ピンに対する電流測定用ピンの移動速度を低下させようとしているにも拘わらず、慣性の法則に従って電流測定用ピンが移動し続けようとする力が大きいことに起因して、移動速度が十分に低下するのに先立って電流測定用ピンがプロービング対象体に当接することとなり、電流測定用ピンの先端部とプロービング対象体との接触部位に大きな力が加わることとなる。この結果、電流測定用ピンの先端部が過剰に強い力でプロービング対象体に押し付けられる事に起因して、従来のコンタクトプローブには、プロービング対象体の表面における電流測定用ピンの接触部位に大きな打痕(傷付き)が生じたり、電流測定用ピンの先端部が破損したりするという問題点がある。   For this reason, the current measuring pin moves according to the law of inertia even though the elastic deformation of the spring built in the cylindrical insulator attempts to reduce the moving speed of the current measuring pin relative to the voltage measuring pin. Due to the large force to be continued, the current measuring pin comes into contact with the probing object prior to sufficiently lowering the moving speed, and the tip of the current measuring pin and the probing object A large force is applied to the contact portion. As a result, the contact portion of the current measurement pin on the surface of the probing object is large in the conventional contact probe because the tip of the current measurement pin is pressed against the probing object with an excessively strong force. There is a problem that dents (scratches) occur or the tip of the current measuring pin is damaged.

この場合、電圧測定用ピンの接触に先立って電流測定用ピンがプロービング対象体に接触させられるタイプのコンタクトプローブであって、電圧測定用ピンの質量が大きいタイプのコンタクトプローブでは、電流測定用ピンおよび電圧測定用ピンを相反する方向に付勢するバネの弾性変形によって電流測定用ピンに対する電圧測定用ピンの移動速度を低下させようとしても、慣性の法則に従って電圧測定用ピンが移動し続けようとする力が大きいことに起因して、移動速度が十分に低下するのに先立って電圧測定用ピンがプロービング対象体に当接することとなり、電圧測定用ピンの先端部とプロービング対象体との接触部位に大きな力が加わる。この結果、上記の従来のコンタクトプローブと同様にして、このタイプのコンタクトプローブにおいても、電圧測定用ピンの先端部が過剰に強い力でプロービング対象体に押し付けられる事に起因して、プロービング対象体の表面に大きな打痕(傷付き)が生じたり、電圧測定用ピンの先端部が破損したりするという問題が生じる。   In this case, in the case of a contact probe in which the current measurement pin is brought into contact with the probing object prior to the contact of the voltage measurement pin, and the contact probe of the type in which the mass of the voltage measurement pin is large, the current measurement pin The voltage measuring pin will continue to move in accordance with the law of inertia even if the voltage measuring pin is moved by the elastic deformation of the spring that biases the voltage measuring pin in the opposite direction. The voltage measuring pin comes into contact with the probing object prior to sufficiently lowering the moving speed due to the large force to make contact between the tip of the voltage measuring pin and the probing object. A large force is applied to the part. As a result, in the same manner as the conventional contact probe described above, even in this type of contact probe, the probing target object is caused by the fact that the tip of the voltage measuring pin is pressed against the probing object with an excessively strong force. There arises a problem that a large dent (scratch) is generated on the surface of the wire and that the tip of the voltage measuring pin is damaged.

本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、電極における接触側端部の破損およびプロービング対象体の傷付きを防止し得るコンタクトプローブを提供することを主目的とする。   The present invention has been made in view of such problems, and a main object of the present invention is to provide a contact probe that can prevent damage to a contact side end portion of an electrode and damage to a probing target.

上記目的を達成すべく請求項1記載のコンタクトプローブは、ベース部に対してプロービング方向における相対的な移動が可能に配設されて相互に絶縁された第1電極および第2電極と、前記第1電極および前記第2電極を前記プロービング方向において相反する向きに付勢する第1付勢部材と、前記第2電極および前記ベース部を前記プロービング方向において相反する向きに付勢する第2付勢部材とを備えると共に、非プロービング状態において前記第1電極における接触側端部が前記第2電極における接触側端部よりも前記プロービング方向側に突出しているコンタクトプローブであって、前記第1電極に対する前記第2電極の前記プロービング方向における移動速度を低下させる減衰機構を備えている。   In order to achieve the above object, the contact probe according to claim 1 is provided with a first electrode and a second electrode which are arranged so as to be relatively movable in a probing direction with respect to a base portion and are insulated from each other; A first urging member that urges one electrode and the second electrode in opposite directions in the probing direction; and a second urging member that urges the second electrode and the base portion in opposite directions in the probing direction. A contact probe in which the contact side end portion of the first electrode protrudes more toward the probing direction than the contact side end portion of the second electrode in a non-probing state, An attenuation mechanism is provided for reducing the moving speed of the second electrode in the probing direction.

請求項2記載のコンタクトプローブは、請求項1記載のコンタクトプローブにおいて、前記第1電極としてのピン状の中心電極と、前記第2電極としての筒状の外側電極とを備えて、当該外側電極内に前記中心電極が挿入されている。   The contact probe according to claim 2 is the contact probe according to claim 1, comprising a pin-shaped center electrode as the first electrode and a cylindrical outer electrode as the second electrode, and the outer electrode. The center electrode is inserted inside.

請求項3記載のコンタクトプローブは、請求項1記載のコンタクトプローブにおいて、前記第1電極としての筒状の外側電極と、前記第2電極としてのピン状の中心電極とを備えて、当該外側電極内に前記中心電極が挿入されている。   The contact probe according to claim 3 is the contact probe according to claim 1, comprising a cylindrical outer electrode as the first electrode and a pin-shaped center electrode as the second electrode, and the outer electrode. The center electrode is inserted inside.

請求項4記載のコンタクトプローブは、請求項1から3のいずれかに記載のコンタクトプローブにおいて、前記減衰機構としてのオイルダンパ機構を備えている。   A contact probe according to a fourth aspect is the contact probe according to any one of the first to third aspects, further comprising an oil damper mechanism as the damping mechanism.

請求項1記載のコンタクトプローブでは、第1電極に対する第2電極のプロービング方向における移動速度を低下させる減衰機構を備えている。したがって、このコンタクトプローブによれば、電圧測定用ピンに対する電流測定用ピンの移動速度をバネの反発力によって徐々に低下させる構成の従来のコンタクトプローブと比較して、第1付勢部材の反発力および減衰機構内で生じる抵抗によって、第2電極がプロービング対象体に接触するのに先立って第1電極に対する第2電極の移動速度を十分に低下させることができるため、第2電極の質量がある程度大きい場合であっても、第2電極の先端部が過剰に強い力でプロービング対象体に押し付けられる事態が回避されてプロービング対象体の表面に大きな打痕(傷付き)が生じたり、第2電極の先端部が破損したりする事態を確実に回避することができる。   The contact probe according to claim 1 is provided with an attenuation mechanism that reduces a moving speed of the second electrode in the probing direction with respect to the first electrode. Therefore, according to this contact probe, the repulsive force of the first biasing member is compared with the conventional contact probe in which the moving speed of the current measuring pin with respect to the voltage measuring pin is gradually decreased by the repulsive force of the spring. And the resistance generated in the attenuation mechanism can sufficiently reduce the moving speed of the second electrode relative to the first electrode before the second electrode contacts the probing object. Even if it is large, the situation where the tip of the second electrode is pressed against the probing object with an excessively strong force is avoided, and a large dent (scratch) is generated on the surface of the probing object, or the second electrode It is possible to surely avoid the situation that the tip of the glass is damaged.

また、請求項2記載のコンタクトプローブでは、第1電極としてのピン状の中心電極と、第2電極としての筒状の外側電極とを備えて、外側電極内に中心電極が挿入されている。したがって、このコンタクトプローブによれば、比較的簡易な構成でありながら、第1電極の先端部および第2電極の先端部をプロービング対象体上の極く狭い範囲内に別個独立して接触させることができる。   The contact probe according to claim 2 includes a pin-shaped center electrode as the first electrode and a cylindrical outer electrode as the second electrode, and the center electrode is inserted into the outer electrode. Therefore, according to this contact probe, the tip portion of the first electrode and the tip portion of the second electrode are separately and independently brought into contact with each other within a very narrow range on the probing object, although the configuration is relatively simple. Can do.

さらに、請求項3記載のコンタクトプローブでは、第1電極としての筒状の外側電極と、第2電極としてのピン状の中心電極とを備えて、外側電極内に中心電極が挿入されている。したがって、このコンタクトプローブによれば、比較的簡易な構成でありながら、第1電極の先端部および第2電極の先端部をプロービング対象体上の極く狭い範囲内に別個独立して接触させることができる。   Furthermore, the contact probe according to claim 3 is provided with a cylindrical outer electrode as the first electrode and a pin-shaped center electrode as the second electrode, and the center electrode is inserted into the outer electrode. Therefore, according to this contact probe, the tip portion of the first electrode and the tip portion of the second electrode are separately and independently brought into contact with each other within a very narrow range on the probing object, although the configuration is relatively simple. Can do.

また、請求項4記載のコンタクトプローブでは、減衰機構としてのオイルダンパ機構を備えている。したがって、このコンタクトプローブによれば、簡易な構成でありながら、プロービング時において第1電極に対する第2電極の移動速度を十分に低下させることができると共に、例えば、摺動抵抗を利用した減衰機構等とは異なり、プロービングを数多く行ったとしても、減衰機構(オイルダンパ機構)の減衰能力を大きく低下させることなく十分な能力を長期に亘って維持することができる。また、機械式の複雑な構成の減衰機構とは異なり、コンタクトプローブの製造コストの高騰を回避することができる。   The contact probe according to claim 4 includes an oil damper mechanism as a damping mechanism. Therefore, according to this contact probe, while having a simple configuration, the moving speed of the second electrode relative to the first electrode can be sufficiently reduced during probing, and, for example, an attenuation mechanism using a sliding resistance or the like In contrast to this, even if a lot of probing is performed, a sufficient capability can be maintained for a long time without greatly reducing the damping capability of the damping mechanism (oil damper mechanism). Further, unlike a mechanical damping mechanism having a complicated configuration, it is possible to avoid an increase in the manufacturing cost of the contact probe.

以下、添付図面を参照して、本発明に係るコンタクトプローブの最良の形態について説明する。   Hereinafter, the best mode of a contact probe according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

最初に、コンタクトプローブ1Aの構成およびその動作原理について、図面を参照して説明する。   First, the configuration of the contact probe 1A and its operating principle will be described with reference to the drawings.

図1に示すコンタクトプローブ1Aは、本発明に係るコンタクトプローブの一例であって、ベース部(ホルダ)2a、外側電極3a、中心電極4a、スプリング5a,6aおよびオイルダンパ機構7aを備えて全体として細長棒状に形成されている。なお、同図および後に参照する図2〜4では、本発明に係るコンタクトプローブについての理解を容易とするために、コンタクトプローブ1Aの構成を概念的に図示している。したがって、これらの図面おける各部材の長さや突起部等の形成位置およびその大きさについては、実際のコンタクトプローブ1A(図示せず)とは相違している。また、外側電極3aおよび中心電極4aの間などに配設されている絶縁体や、外側電極3aおよび中心電極4aをプロービング装置(図示せず)に電気的に接続するための接続ケーブル等の図示および説明を省略する。   A contact probe 1A shown in FIG. 1 is an example of a contact probe according to the present invention, and includes a base portion (holder) 2a, an outer electrode 3a, a center electrode 4a, springs 5a and 6a, and an oil damper mechanism 7a as a whole. It is formed in the shape of an elongated bar. 2 and 4 to be referred later, the configuration of the contact probe 1A is conceptually illustrated in order to facilitate understanding of the contact probe according to the present invention. Therefore, the length of each member in these drawings, the position where the protrusions are formed, and the size thereof are different from those of the actual contact probe 1A (not shown). In addition, an insulator disposed between the outer electrode 3a and the center electrode 4a, a connection cable for electrically connecting the outer electrode 3a and the center electrode 4a to a probing device (not shown), and the like are illustrated. The description is omitted.

ベース部2aは、プロービング装置における移動機構にコンタクトプローブ1Aを取り付けるため(移動機構の保持部にコンタクトプローブ1Aを保持させるため)の部材であって、その内側に外側電極3aおよび中心電極4aを挿通可能に全体として円筒状に形成されている。外側電極3aは、本発明における第2電極の一例であって、その内側に中心電極4aやスプリング6aを挿通可能に全体として円筒状に形成されている。また、外側電極3aは、その一端側(同図における下端部側)に本発明における接触側端部が形成されると共に、プロービング時においてスプリング5aによってベース部2aに対して矢印Aの向き(プロービング方向)に付勢される。   The base portion 2a is a member for attaching the contact probe 1A to the moving mechanism in the probing apparatus (in order to hold the contact probe 1A in the holding portion of the moving mechanism), and the outer electrode 3a and the center electrode 4a are inserted inside thereof. It is possible to form a cylindrical shape as a whole. The outer electrode 3a is an example of the second electrode in the present invention, and is formed in a cylindrical shape as a whole so that the center electrode 4a and the spring 6a can be inserted therein. Further, the outer electrode 3a is formed with a contact side end in the present invention on one end side (the lower end side in the figure) and at the time of probing, the direction of the arrow A with respect to the base portion 2a by the spring 5a (probing) Direction).

中心電極4aは、本発明における第1電極の一例であって、全体としてピン状(棒状)に形成されて外側電極3a内に挿通させられている。この場合、このコンタクトプローブ1Aでは、図1に示す非プロービング状態(外側電極3aおよび中心電極4aの双方がプロービング対象体Xに接触していない状態)において、中心電極4aにおける接触側端部(同図における下端部)が外側電極3aにおける接触側端部(同図における下端部)よりもプロービング方向(矢印Aの向き)に突出している。スプリング5aは、本発明における第2付勢部材の一例であって、圧縮型の弦巻ばねで構成されてベース部2aおよび外側電極3aを相反する向きに付勢する。スプリング6aは、本発明における第1付勢部材の一例であって、圧縮型の弦巻ばねで構成されて外側電極3aおよび中心電極4aを相反する向きに付勢する。   The center electrode 4a is an example of the first electrode in the present invention, and is formed into a pin shape (bar shape) as a whole and inserted into the outer electrode 3a. In this case, in the contact probe 1A, in the non-probing state (a state where both the outer electrode 3a and the center electrode 4a are not in contact with the probing object X) shown in FIG. The lower end portion in the figure protrudes in the probing direction (direction of arrow A) from the contact side end portion (lower end portion in the figure) of the outer electrode 3a. The spring 5a is an example of a second urging member in the present invention, and is composed of a compression-type string-wound spring and urges the base portion 2a and the outer electrode 3a in opposite directions. The spring 6a is an example of a first urging member in the present invention, and is configured by a compression-type string spring to urge the outer electrode 3a and the center electrode 4a in opposite directions.

オイルダンパ機構7aは、本発明における減衰機構の一例であって、このコンタクトプローブ1Aでは、一例として、外側電極3aをシリンダとし、中心電極4aをピストンとし、かつオイル13を抵抗体として、中心電極4aに対する外側電極3aの移動速度を低下させる減衰機構が構成されている。具体的には、中心電極4aには、その外径が外側電極3aの内径とほぼ等しい鍔部11aが形成されると共に、鍔部11aには、オイル13の通過を許容する極く小さな複数のオリフィス12aが形成されている。また、外側電極3a内に封入されたオイル13は、オイルダンパ機構7aがコンタクトプローブ1Aの用途に応じて予め規定された減衰力を発揮できるように、その粘度が規定されている。   The oil damper mechanism 7a is an example of a damping mechanism in the present invention. In the contact probe 1A, as an example, the outer electrode 3a is a cylinder, the center electrode 4a is a piston, and the oil 13 is a resistor. An attenuation mechanism is configured to reduce the moving speed of the outer electrode 3a relative to 4a. Specifically, the center electrode 4a is formed with a flange portion 11a having an outer diameter substantially equal to the inner diameter of the outer electrode 3a, and the flange portion 11a has a plurality of extremely small pieces that allow passage of the oil 13. An orifice 12a is formed. Further, the viscosity of the oil 13 sealed in the outer electrode 3a is regulated so that the oil damper mechanism 7a can exhibit a damping force defined in advance according to the use of the contact probe 1A.

このコンタクトプローブ1Aを用いたプロービングに際しては、プロービング装置における移動機構の保持部(図示せず)にベース部2aを保持させるようにしてプロービング装置にコンタクトプローブ1Aを装着する。次いで、プロービングの開始が指示されたときに、移動機構がプロービング対象体Xに向けて矢印Aの向きにベース部2aを移動させる。この際には、図2に示すように、まず、中心電極4aの先端部がプロービング対象体Xに当接し、その状態において、ベース部2aが矢印Aの向きにさらに移動させられることにより、中心電極4aに対して外側電極3aがプロービング方向(矢印Aの向き)に移動させられる。   When probing using the contact probe 1A, the contact probe 1A is mounted on the probing device so that the base portion 2a is held by a holding portion (not shown) of a moving mechanism in the probing device. Next, when the start of probing is instructed, the moving mechanism moves the base portion 2a toward the probing object X in the direction of arrow A. In this case, as shown in FIG. 2, first, the tip of the center electrode 4a abuts against the probing object X, and in this state, the base 2a is further moved in the direction of arrow A, The outer electrode 3a is moved in the probing direction (direction of arrow A) with respect to the electrode 4a.

この際に、スプリング5a,6aが押し縮められることにより、その反発力によって中心電極4aの先端部がプロービング対象体Xの表面に向けて矢印Aの向きに付勢される。また、外側電極3a内において中心電極4aが外側電極3aに対してプロービング方向とは逆向き(矢印Bの向き)に相対的に移動させられるのに伴い、外側電極3a内に封入されているオイル13が各オリフィス12aを通過して鍔部11aの裏側の空間(外側電極3a内における接触側端部側の空間)に流れ込む。この際に、オイル13が各オリフィス12aを通過する際に生じる流動抵抗、およびスプリング6aの反発力によって、中心電極4aに対する外側電極3aのプロービング方向(矢印Aの向き)への移動速度が低下させられる。   At this time, when the springs 5a and 6a are compressed, the tip of the center electrode 4a is urged toward the surface of the probing object X in the direction of arrow A by the repulsive force. Further, as the center electrode 4a is moved relative to the outer electrode 3a in the direction opposite to the probing direction (direction of arrow B) in the outer electrode 3a, the oil sealed in the outer electrode 3a 13 passes through each orifice 12a and flows into the space on the back side of the flange portion 11a (the space on the contact side end portion side in the outer electrode 3a). At this time, due to the flow resistance generated when the oil 13 passes through each orifice 12a and the repulsive force of the spring 6a, the moving speed of the outer electrode 3a in the probing direction (direction of arrow A) with respect to the center electrode 4a is reduced. It is done.

したがって、図3に示すように、外側電極3aの先端部がプロービング対象体Xに当接する際には、中心電極4aに対する外側電極3aの移動速度が十分に低下させられているため、外側電極3aの先端部がプロービング対象体Xに対して過剰に速い速度で当接する事態が回避される。この結果、外側電極3aの先端部とプロービング対象体Xとの接触部位に加わる力が従来のコンタクトプローブと比較して十分に小さくなっている。この場合、出願人は、従来のコンタクトプローブと同程度の大きさのコンタクトプローブ1Aにおいて、外側電極3a(電流測定用ピン)の当接時にプロービング対象体Xの表面に加わる衝撃力が従来のコンタクトプローブと比較して1/2〜1/3程度となるのを確認している。   Therefore, as shown in FIG. 3, when the tip of the outer electrode 3a comes into contact with the probing object X, the moving speed of the outer electrode 3a with respect to the center electrode 4a is sufficiently reduced, so the outer electrode 3a Is prevented from coming into contact with the probing object X at an excessively high speed. As a result, the force applied to the contact portion between the distal end portion of the outer electrode 3a and the probing object X is sufficiently small as compared with the conventional contact probe. In this case, the applicant applies an impact force applied to the surface of the probing object X when the outer electrode 3a (current measurement pin) contacts the contact probe 1A having the same size as the conventional contact probe. It is confirmed that it is about 1/2 to 1/3 compared with the probe.

また、この状態においては、スプリング6aが十分に押し縮められることにより、その反発力によって中心電極4aの先端部がプロービング方向(矢印A)の向きでプロービング対象体Xに付勢される。続いて、移動機構によってベース部2aがさらに移動させられることにより、図4に示すように、ベース部2aが外側電極3aおよび中心電極4aに対してプロービング方向(矢印Aの向き)に移動させられる。この際に、スプリング5aが押し縮められることにより、その反発力によって外側電極3aの先端部がプロービング方向(矢印A)の向きでプロービング対象体Xに付勢される。この状態において、プロービング対象体Xに接触している外側電極3aおよび中心電極4aを用いた電気的検査が実行される。   In this state, when the spring 6a is sufficiently compressed, the repulsive force biases the tip of the center electrode 4a toward the probing target body X in the probing direction (arrow A). Subsequently, when the base portion 2a is further moved by the moving mechanism, the base portion 2a is moved in the probing direction (direction of arrow A) with respect to the outer electrode 3a and the center electrode 4a as shown in FIG. . At this time, when the spring 5a is compressed and contracted, the tip of the outer electrode 3a is urged toward the probing object X in the probing direction (arrow A) by the repulsive force. In this state, an electrical inspection using the outer electrode 3a and the center electrode 4a that are in contact with the probing object X is performed.

このように、このコンタクトプローブ1Aでは、中心電極4a(第1電極)に対する外側電極3a(第2電極)のプロービング方向における移動速度を低下させるオイルダンパ機構7a(減衰機構)を備えている。したがって、このコンタクトプローブ1Aによれば、電圧測定用ピンに対する電流測定用ピンの移動速度をバネの反発力によって徐々に低下させる構成の従来のコンタクトプローブと比較して、スプリング6aの反発力およびオイルダンパ機構7a内で生じる抵抗(この例では、オイル13の流動抵抗)によって、外側電極3aがプロービング対象体Xに接触するのに先立って中心電極4aに対する外側電極3aの移動速度を十分に低下させることができるため、外側電極3aの質量がある程度大きい場合であっても、外側電極3aの先端部が過剰に強い力でプロービング対象体Xに押し付けられる事態が回避されてプロービング対象体Xの表面に大きな打痕(傷付き)が生じたり、外側電極3aの先端部が破損したりする事態を確実に回避することができる。   As described above, the contact probe 1A includes the oil damper mechanism 7a (attenuation mechanism) that reduces the moving speed of the outer electrode 3a (second electrode) in the probing direction with respect to the center electrode 4a (first electrode). Therefore, according to the contact probe 1A, the repulsive force and oil of the spring 6a are compared with the conventional contact probe in which the moving speed of the current measuring pin with respect to the voltage measuring pin is gradually decreased by the repulsive force of the spring. The resistance generated in the damper mechanism 7a (in this example, the flow resistance of the oil 13) sufficiently reduces the moving speed of the outer electrode 3a relative to the center electrode 4a before the outer electrode 3a contacts the probing object X. Therefore, even when the mass of the outer electrode 3a is large to some extent, a situation in which the tip of the outer electrode 3a is pressed against the probing target body X with an excessively strong force is avoided, and the surface of the probing target body X is avoided. Surely avoid situations where large dents (scratches) occur or the tip of the outer electrode 3a is damaged. Rukoto can.

また、このコンタクトプローブ1Aでは、本発明における第1電極としてのピン状の中心電極4aと、本発明における第2電極としての筒状の外側電極3aとを備えて、外側電極3a内に中心電極4aが挿入されている。したがって、このコンタクトプローブ1Aによれば、比較的簡易な構成でありながら、外側電極3aの先端部および中心電極4aの先端部をプロービング対象体X上の極く狭い範囲内に別個独立して接触させることができる。   Further, the contact probe 1A includes a pin-shaped center electrode 4a as the first electrode in the present invention and a cylindrical outer electrode 3a as the second electrode in the present invention, and the center electrode is disposed in the outer electrode 3a. 4a is inserted. Therefore, according to the contact probe 1A, the tip portion of the outer electrode 3a and the tip portion of the center electrode 4a are separately and independently contacted within a very narrow range on the probing object X, although the configuration is relatively simple. Can be made.

さらに、このコンタクトプローブ1Aでは、本発明における減衰機構としてのオイルダンパ機構7aを備えている。したがって、このコンタクトプローブ1Aによれば、簡易な構成でありながら、プロービング時において中心電極4aに対する外側電極3aの移動速度を十分に低下させることができると共に、例えば、摺動抵抗を利用した減衰機構等とは異なり、プロービングを数多く行ったとしても、オイルダンパ機構7aの減衰能力を大きく低下させることなく十分な能力を長期に亘って維持することができる。また、機械式の複雑な構成の減衰機構とは異なり、コンタクトプローブ1Aの製造コストの高騰を回避することができる。   Further, the contact probe 1A includes an oil damper mechanism 7a as a damping mechanism in the present invention. Therefore, according to the contact probe 1A, while having a simple configuration, the moving speed of the outer electrode 3a with respect to the center electrode 4a can be sufficiently reduced during probing, and, for example, an attenuation mechanism using a sliding resistance is used. Unlike the above, even if many probing operations are performed, sufficient capability can be maintained over a long period of time without greatly reducing the damping capability of the oil damper mechanism 7a. Further, unlike the mechanical damping mechanism having a complicated configuration, it is possible to avoid an increase in the manufacturing cost of the contact probe 1A.

次に、コンタクトプローブ1Bの構成およびその動作原理について、図面を参照して説明する。   Next, the configuration of the contact probe 1B and its operating principle will be described with reference to the drawings.

図5に示すコンタクトプローブ1Bは、本発明に係るコンタクトプローブの他の一例であって、ベース部(ホルダ)2b、外側電極3b、中心電極4b、スプリング5b,6bおよびオイルダンパ機構7bを備えて全体として細長棒状に形成されている。なお、同図および後に参照する図6〜8では、本発明に係るコンタクトプローブについての理解を容易とするために、コンタクトプローブ1Bの構成を概念的に図示している。したがって、これらの図面おける各部材の長さや突起部等の形成位置およびその大きさについては、実際のコンタクトプローブ1B(図示せず)とは相違している。また、外側電極3bおよび中心電極4bの間などに配設されている絶縁体や、外側電極3bおよび中心電極4bをプロービング装置(図示せず)に電気的に接続するための接続ケーブル等の図示および説明を省略する。   A contact probe 1B shown in FIG. 5 is another example of a contact probe according to the present invention, and includes a base (holder) 2b, an outer electrode 3b, a center electrode 4b, springs 5b and 6b, and an oil damper mechanism 7b. It is formed in the shape of a long and narrow bar as a whole. 6 and 8 to be referred to later conceptually illustrate the configuration of the contact probe 1B in order to facilitate understanding of the contact probe according to the present invention. Therefore, the length of each member in these drawings, the position where the protrusions are formed, and the size thereof are different from those of the actual contact probe 1B (not shown). In addition, an insulator disposed between the outer electrode 3b and the center electrode 4b, a connection cable for electrically connecting the outer electrode 3b and the center electrode 4b to a probing device (not shown), and the like are illustrated. The description is omitted.

ベース部2bは、プロービング装置における移動機構にコンタクトプローブ1Bを取り付けるため(移動機構の保持部にコンタクトプローブ1Bを保持させるため)の部材であって、一例として、円筒状に形成されて中心電極4bの一端部にスライド自在に取り付けられている。外側電極3bは、本発明における第1電極の他の一例であって、その内側に中心電極4bを挿通可能に全体として円筒状に形成されている。また、外側電極3bは、その一端側(同図における下端部側)に本発明における接触側端部が形成されると共に、プロービング時においてスプリング6bによって中心電極4bに対して矢印Aの向き(プロービング方向)に付勢される。   The base portion 2b is a member for attaching the contact probe 1B to the moving mechanism in the probing apparatus (for holding the contact probe 1B in the holding portion of the moving mechanism). As an example, the base portion 2b is formed in a cylindrical shape and has a central electrode 4b. It is slidably attached to one end of the. The outer electrode 3b is another example of the first electrode according to the present invention, and is formed in a cylindrical shape as a whole so that the center electrode 4b can be inserted therein. Further, the outer electrode 3b is formed with a contact side end in the present invention on one end side (the lower end side in the figure), and at the time of probing, the direction of the arrow A (probing) with respect to the center electrode 4b by the spring 6b. Direction).

中心電極4bは、本発明における第2電極の他の一例であって、全体としてピン状(棒状)に形成されている。この場合、このコンタクトプローブ1Bでは、図5に示す非プロービング状態(外側電極3bおよび中心電極4bの双方がプロービング対象体Xに接触していない状態)において、外側電極3bにおける接触側端部(同図における下端部)が中心電極4bにおける接触側端部(同図における下端部)よりもプロービング方向(矢印Aの向き)に突出している。スプリング5bは、本発明における第2付勢部材の一例であって、圧縮型の弦巻ばねで構成されてベース部2bおよび中心電極4bを相反する向きに付勢する。スプリング6bは、本発明における第1付勢部材の一例であって、圧縮型の弦巻ばねで構成されて外側電極3bおよび中心電極4bを相反する向きに付勢する。   The center electrode 4b is another example of the second electrode in the present invention, and is formed in a pin shape (bar shape) as a whole. In this case, in the contact probe 1B, in the non-probing state (a state in which both the outer electrode 3b and the center electrode 4b are not in contact with the probing target body X) shown in FIG. The lower end portion in the figure protrudes in the probing direction (direction of arrow A) from the contact side end portion (lower end portion in the figure) of the center electrode 4b. The spring 5b is an example of a second urging member in the present invention, and is composed of a compression-type string-wound spring and urges the base portion 2b and the center electrode 4b in opposite directions. The spring 6b is an example of a first urging member in the present invention, and is configured by a compression-type string spring to urge the outer electrode 3b and the center electrode 4b in opposite directions.

オイルダンパ機構7bは、本発明における減衰機構の他の一例であって、このコンタクトプローブ1Bでは、一例として、外側電極3bをシリンダとし、中心電極4bをピストンとし、かつオイル13を抵抗体として、外側電極3bに対する中心電極4bの移動速度を低下させる減衰機構が構成されている。具体的には、中心電極4bには、その外径が外側電極3bの内径とほぼ等しい鍔部11bが形成されると共に、鍔部11bには、オイル13の通過を許容する極く小さな複数のオリフィス12bが形成されている。また、外側電極3b内に封入されたオイル13は、オイルダンパ機構7bがコンタクトプローブ1Bの用途に応じて予め規定された減衰力を発揮できるように、その粘度が規定されている。   The oil damper mechanism 7b is another example of the damping mechanism in the present invention. In the contact probe 1B, as an example, the outer electrode 3b is a cylinder, the center electrode 4b is a piston, and the oil 13 is a resistor. An attenuation mechanism is configured to reduce the moving speed of the center electrode 4b relative to the outer electrode 3b. Specifically, the center electrode 4b is formed with a flange portion 11b having an outer diameter substantially equal to the inner diameter of the outer electrode 3b, and the flange portion 11b has a plurality of extremely small pieces that allow the oil 13 to pass therethrough. An orifice 12b is formed. Further, the viscosity of the oil 13 sealed in the outer electrode 3b is regulated so that the oil damper mechanism 7b can exhibit a damping force defined in advance according to the use of the contact probe 1B.

このコンタクトプローブ1Bを用いたプロービングに際しては、プロービング装置における移動機構の保持部(図示せず)にベース部2bを保持させるようにしてプロービング装置にコンタクトプローブ1Bを装着する。次いで、プロービングの開始が指示されたときに、移動機構がプロービング対象体Xに向けて矢印Aの向きにベース部2bを移動させる。この際には、図6に示すように、まず、外側電極3bの先端部がプロービング対象体Xに当接し、その状態において、ベース部2bが矢印Aの向きにさらに移動させられることにより、外側電極3bに対して中心電極4bがプロービング方向(矢印Aの向き)に移動させられる。   When probing using the contact probe 1B, the contact probe 1B is mounted on the probing device so that the base portion 2b is held by a holding portion (not shown) of a moving mechanism in the probing device. Next, when the start of probing is instructed, the moving mechanism moves the base portion 2b toward the probing object X in the direction of arrow A. In this case, as shown in FIG. 6, first, the distal end portion of the outer electrode 3b abuts on the probing object X, and in this state, the base portion 2b is further moved in the direction of the arrow A, thereby The center electrode 4b is moved with respect to the electrode 3b in the probing direction (direction of arrow A).

この際に、スプリング5b,6bが押し縮められることにより、その反発力によって外側電極3bの先端部がプロービング対象体Xの表面に向けて矢印Aの向きに付勢される。また、外側電極3b内において中心電極4bが外側電極3bに対してプロービング方向(矢印Aの向き)に移動させられるのに伴い、外側電極3b内に封入されているオイル13が各オリフィス12bを通過して鍔部11bの裏側の空間(外部電極3b内におけるベース部2b側の空間)に流れ込む。この際に、オイル13が各オリフィス12bを通過する際に生じる流動抵抗、およびスプリング6bの反発力によって、外側電極3bに対する中心電極4bのプロービング方向(矢印Aの向き)への移動速度が低下させられる。   At this time, the springs 5b and 6b are pressed and contracted, so that the repulsive force biases the tip of the outer electrode 3b toward the surface of the probing object X in the direction of arrow A. Further, as the center electrode 4b is moved in the probing direction (direction of arrow A) with respect to the outer electrode 3b in the outer electrode 3b, the oil 13 sealed in the outer electrode 3b passes through each orifice 12b. Then, it flows into the space on the back side of the flange portion 11b (the space on the base portion 2b side in the external electrode 3b). At this time, due to the flow resistance generated when the oil 13 passes through each orifice 12b and the repulsive force of the spring 6b, the moving speed of the center electrode 4b in the probing direction (direction of arrow A) with respect to the outer electrode 3b is reduced. It is done.

したがって、図7に示すように、中心電極4bの先端部がプロービング対象体Xに当接する際には、外側電極3bに対する中心電極4bの移動速度が十分に低下させられているため、中心電極4bの先端部がプロービング対象体Xに対して過剰に速い速度で当接する事態が回避される。この結果、中心電極4bの先端部とプロービング対象体Xとの接触部位に加わる力が従来のコンタクトプローブと比較して十分に小さくなっている。この場合、出願人は、コンタクトプローブ1Bと同様の構成であって減衰機構(オイルダンパ機構7b)を備えていない従来のコンタクトプローブと比較して、中心電極4b(電圧測定用ピン)の当接時にプロービング対象体Xの表面に加わる衝撃力が従来のコンタクトプローブと比較して1/2〜1/3程度となるのを確認している。   Therefore, as shown in FIG. 7, when the tip of the center electrode 4b contacts the probing object X, the moving speed of the center electrode 4b with respect to the outer electrode 3b is sufficiently reduced, so that the center electrode 4b Is prevented from coming into contact with the probing object X at an excessively high speed. As a result, the force applied to the contact portion between the tip portion of the center electrode 4b and the probing object X is sufficiently smaller than that of the conventional contact probe. In this case, the applicant makes contact with the center electrode 4b (voltage measurement pin) as compared with a conventional contact probe that has the same configuration as the contact probe 1B and does not include an attenuation mechanism (oil damper mechanism 7b). It has been confirmed that the impact force applied to the surface of the probing object X is about 1/2 to 1/3 as compared with the conventional contact probe.

また、この状態においては、スプリング6bが十分に押し縮められることにより、その反発力によって外側電極3bの先端部がプロービング方向(矢印A)の向きでプロービング対象体Xに付勢される。続いて、移動機構によってベース部2bがさらに移動させられることにより、図8に示すように、ベース部2bが外側電極3bおよび中心電極4bに対してプロービング方向(矢印Aの向き)に移動させられる。この際に、スプリング5bが押し縮められることにより、その反発力によって中心電極4bの先端部がプロービング方向(矢印A)の向きでプロービング対象体Xに付勢される。この状態において、プロービング対象体Xに接触している外側電極3bおよび中心電極4bを用いた電気的検査が実行される。   In this state, when the spring 6b is sufficiently compressed, the tip of the outer electrode 3b is urged toward the probing object X in the probing direction (arrow A) by the repulsive force. Subsequently, when the base portion 2b is further moved by the moving mechanism, the base portion 2b is moved in the probing direction (direction of arrow A) with respect to the outer electrode 3b and the center electrode 4b as shown in FIG. . At this time, when the spring 5b is compressed and contracted, the tip of the center electrode 4b is urged toward the probing target body X in the probing direction (arrow A) by the repulsive force. In this state, an electrical inspection using the outer electrode 3b and the center electrode 4b that are in contact with the probing object X is performed.

このように、このコンタクトプローブ1Bでは、外側電極3b(第1電極)に対する中心電極4b(第2電極)のプロービング方向における移動速度を低下させるオイルダンパ機構7b(減衰機構)を備えている。したがって、このコンタクトプローブ1Bによれば、電流測定用ピンに対する電圧測定用ピンの移動速度をバネの反発力によって徐々に低下させる構成の従来のコンタクトプローブと比較して、スプリング6bの反発力およびオイルダンパ機構7b内で生じる抵抗(この例では、オイル13の流動抵抗)によって、中心電極4bがプロービング対象体Xに接触するのに先立って外側電極3bに対する中心電極4bの移動速度を十分に低下させることができるため、中心電極4bの質量がある程度大きい場合であっても、中心電極4bの先端部が過剰に強い力でプロービング対象体Xに押し付けられる事態が回避されてプロービング対象体Xの表面に大きな打痕(傷付き)が生じたり、中心電極4bの先端部が破損したりする事態を確実に回避することができる。   As described above, the contact probe 1B includes the oil damper mechanism 7b (attenuating mechanism) that reduces the moving speed of the center electrode 4b (second electrode) in the probing direction with respect to the outer electrode 3b (first electrode). Therefore, according to the contact probe 1B, the repulsive force and oil of the spring 6b are compared with the conventional contact probe in which the moving speed of the voltage measuring pin with respect to the current measuring pin is gradually decreased by the repulsive force of the spring. The resistance generated in the damper mechanism 7b (in this example, the flow resistance of the oil 13) sufficiently reduces the moving speed of the center electrode 4b relative to the outer electrode 3b before the center electrode 4b contacts the probing object X. Therefore, even when the mass of the center electrode 4b is large to some extent, a situation in which the tip of the center electrode 4b is pressed against the probing target body X with an excessively strong force is avoided, and the surface of the probing target body X is avoided. Surely avoid situations where large dents (scratches) occur or the tip of the center electrode 4b is damaged. Rukoto can.

また、このコンタクトプローブ1Bでは、本発明における第1電極としての筒状の外側電極3bと、本発明における第2電極としてのピン状の中心電極4bとを備えて、外側電極3b内に中心電極4bが挿入されている。したがって、このコンタクトプローブ1Bによれば、比較的簡易な構成でありながら、外側電極3bの先端部および中心電極4bの先端部をプロービング対象体X上の極く狭い範囲内に別個独立して接触させることができる。   The contact probe 1B includes a cylindrical outer electrode 3b as a first electrode in the present invention and a pin-shaped center electrode 4b as a second electrode in the present invention. 4b is inserted. Therefore, according to the contact probe 1B, the tip portion of the outer electrode 3b and the tip portion of the center electrode 4b are separately and independently contacted within a very narrow range on the probing object X, although the configuration is relatively simple. Can be made.

さらに、このコンタクトプローブ1Bでは、本発明における減衰機構としてのオイルダンパ機構7bを備えている。したがって、このコンタクトプローブ1Bによれば、簡易な構成でありながら、プロービング時において外側電極3bに対する中心電極4bの移動速度を十分に低下させることができると共に、例えば、摺動抵抗を利用した減衰機構等とは異なり、プロービングを数多く行ったとしても、オイルダンパ機構7bの減衰能力を大きく低下させることなく十分な能力を長期に亘って維持することができる。また、機械式の複雑な構成の減衰機構とは異なり、コンタクトプローブ1Bの製造コストの高騰を回避することができる。   Further, the contact probe 1B includes an oil damper mechanism 7b as a damping mechanism in the present invention. Therefore, according to the contact probe 1B, while having a simple configuration, the moving speed of the center electrode 4b with respect to the outer electrode 3b can be sufficiently reduced during probing, and, for example, an attenuation mechanism using a sliding resistance is used. Unlike the above, even if many probing operations are performed, a sufficient capability can be maintained for a long time without greatly reducing the damping capability of the oil damper mechanism 7b. Further, unlike the mechanical damping mechanism having a complicated configuration, it is possible to avoid an increase in the manufacturing cost of the contact probe 1B.

なお、本発明は、上記の構成に限定されない。例えば、スプリング5a,5b,6a,6bとして圧縮型の弦巻ばねを用いたコンタクトプローブ1A,1Bについて説明したが、本発明における各付勢部材の構成はこれに限定されず、例えば、引っ張型ばね(縮長方向に弾性復帰しようとするばね)を用いて構成することができる。この構成を採用する場合においては、各付勢部材の配設位置や、付勢部材が係合する突出部の位置等を適宜変更する。また、本発明における各付勢部材は、弦巻ばねのような付勢部材に限定されず、例えば、発泡樹脂等の弾性部材で構成することもできる。   In addition, this invention is not limited to said structure. For example, the contact probes 1A and 1B using compression-type string-wound springs as the springs 5a, 5b, 6a, and 6b have been described. However, the configuration of each biasing member in the present invention is not limited to this, and for example, a tension spring (A spring that is elastically restored in the contraction direction) can be used. In the case of adopting this configuration, the arrangement position of each urging member, the position of the protruding portion with which the urging member is engaged, and the like are appropriately changed. In addition, each urging member in the present invention is not limited to an urging member such as a string-wound spring, and may be constituted by an elastic member such as foamed resin.

さらに、中心電極4aに対する外側電極3aの移動に伴ってオイル13が外側電極3a内における接触側端部側の空間に流れ込む構成のオイルダンパ機構7aを有するコンタクトプローブ1A、および外側電極3bに対する中心電極4bの移動に伴ってオイル13が外側電極3b内におけるベース部2b側の空間に流れ込む構成のオイルダンパ機構7bを有するコンタクトプローブ1Bについて説明したが、本発明におけるオイルダンパ機構の構成はこれに限定されない。具体的には、コンタクトプローブ1Aにおけるオイルダンパ機構7aに代えて、中心電極4aに対する外側電極3aの移動に伴ってオイル13が外側電極3a内における接触側端部側の空間からベース部2a側の空間に流れ込む構成のオイルダンパ機構を採用したり、コンタクトプローブ1Bにおけるオイルダンパ機構7bに代えて、外側電極3bに対する中心電極4bの移動に伴ってオイル13が外側電極3a内におけるベース部2b側の空間から接触側端部側の空間に流れ込む構成のオイルダンパ機構を採用したりすることができる。この際には、コンタクトプローブ1A,1Bにおける中心電極4a,4bにおいて鍔部11a,11bの形成位置を適宜変更する。   Further, as the outer electrode 3a moves with respect to the center electrode 4a, the contact probe 1A having an oil damper mechanism 7a configured to allow the oil 13 to flow into the space on the contact side end side in the outer electrode 3a, and the center electrode with respect to the outer electrode 3b. Although the contact probe 1B having the oil damper mechanism 7b configured to allow the oil 13 to flow into the space on the base portion 2b side in the outer electrode 3b with the movement of 4b has been described, the configuration of the oil damper mechanism in the present invention is limited to this. Not. Specifically, instead of the oil damper mechanism 7a in the contact probe 1A, as the outer electrode 3a moves relative to the center electrode 4a, the oil 13 moves from the space on the contact side end side in the outer electrode 3a to the base portion 2a side. An oil damper mechanism configured to flow into the space is adopted, or instead of the oil damper mechanism 7b in the contact probe 1B, the oil 13 is moved to the base electrode 2b side in the outer electrode 3a as the center electrode 4b moves relative to the outer electrode 3b. An oil damper mechanism configured to flow from the space into the space on the contact side end side can be employed. In this case, the formation positions of the flange portions 11a and 11b are appropriately changed in the center electrodes 4a and 4b in the contact probes 1A and 1B.

また、本発明におけるオイルダンパ機構は、外側電極3a,3bをシリンダとし、中心電極4a,4bをピストンとし、オイル13を抵抗体とする構成に限定されず、外側電極3a,3bとは別個のシリンダ内に中心電極4a,4bとは別個のピストンを配設してオイル13を封入することで、オイルダンパ機構を構成すると共に、シリンダおよびピストンのいずれか一方を第1電極に連結し、かつ、いずれか他方を第2電極に連結して第1電極に対する第2電極の移動速度を低下させる減衰機構を構成することができる。加えて、本発明における減衰機構は、オイルダンパ機構に限定されず、オイルダンパ機構におけるオイルに代えて抵抗体として空気を利用したエアダンパ機構や、圧縮変形時または伸長変形時にその変形方向に働く力を減衰させる例えば減衰ゴム機構などを採用することができる。   In addition, the oil damper mechanism in the present invention is not limited to the configuration in which the outer electrodes 3a and 3b are cylinders, the center electrodes 4a and 4b are pistons, and the oil 13 is a resistor, and is independent of the outer electrodes 3a and 3b. A piston separate from the center electrodes 4a and 4b is disposed in the cylinder, and the oil 13 is sealed to form an oil damper mechanism, and either the cylinder or the piston is connected to the first electrode, and A damping mechanism that reduces the moving speed of the second electrode relative to the first electrode by connecting the other to the second electrode can be configured. In addition, the damping mechanism in the present invention is not limited to the oil damper mechanism, and an air damper mechanism that uses air as a resistor instead of oil in the oil damper mechanism, or a force that acts in the deformation direction during compression deformation or expansion deformation. For example, a damping rubber mechanism or the like can be employed.

非プロービング状態におけるコンタクトプローブ1Aの側面断面図である。It is side surface sectional drawing of the contact probe 1A in a non-probing state. 中心電極4aの先端部をプロービング対象体Xに当接させた状態のコンタクトプローブ1Aの側面断面図である。4 is a side cross-sectional view of a contact probe 1A in a state in which a tip portion of a center electrode 4a is in contact with a probing target body X. FIG. 外側電極3aの先端部、および中心電極4aの先端部をプロービング対象体Xに当接させた状態のコンタクトプローブ1Aの側面断面図である。FIG. 4 is a side cross-sectional view of the contact probe 1A in a state in which the tip of the outer electrode 3a and the tip of the center electrode 4a are in contact with the probing target body X. 外側電極3aの先端部、および中心電極4aの先端部をプロービング対象体Xに付勢した状態のコンタクトプローブ1Aの側面断面図である。FIG. 4 is a side cross-sectional view of the contact probe 1A in a state where the tip of the outer electrode 3a and the tip of the center electrode 4a are urged toward the probing target body X. 非プロービング状態におけるコンタクトプローブ1Bの側面断面図である。It is side surface sectional drawing of the contact probe 1B in a non-probing state. 外側電極3bの先端部をプロービング対象体Xに当接させた状態のコンタクトプローブ1Bの側面断面図である。FIG. 4 is a side cross-sectional view of the contact probe 1B in a state where the tip of the outer electrode 3b is in contact with the probing target body X. 外側電極3bの先端部、および中心電極4bの先端部をプロービング対象体Xに当接させた状態のコンタクトプローブ1Bの側面断面図である。FIG. 5 is a side cross-sectional view of the contact probe 1B in a state in which the distal end portion of the outer electrode 3b and the distal end portion of the center electrode 4b are in contact with the probing target body X. 外側電極3bの先端部、および中心電極4bの先端部をプロービング対象体Xに付勢した状態のコンタクトプローブ1Bの側面断面図である。FIG. 4 is a side cross-sectional view of the contact probe 1B in a state where the distal end portion of the outer electrode 3b and the distal end portion of the center electrode 4b are urged toward the probing target body X.

符号の説明Explanation of symbols

1A,1B コンタクトプローブ
2a,2b ベース部
3a,3b 外側電極
4a,4b 中心電極
5a,5b,6a,6b スプリング
7a,7b オイルダンパ機構
X プロービング対象体
1A, 1B Contact probe 2a, 2b Base part 3a, 3b Outer electrode 4a, 4b Center electrode 5a, 5b, 6a, 6b Spring 7a, 7b Oil damper mechanism X Probing object

Claims (4)

ベース部に対してプロービング方向における相対的な移動が可能に配設されて相互に絶縁された第1電極および第2電極と、前記第1電極および前記第2電極を前記プロービング方向において相反する向きに付勢する第1付勢部材と、前記第2電極および前記ベース部を前記プロービング方向において相反する向きに付勢する第2付勢部材とを備えると共に、非プロービング状態において前記第1電極における接触側端部が前記第2電極における接触側端部よりも前記プロービング方向側に突出しているコンタクトプローブであって、
前記第1電極に対する前記第2電極の前記プロービング方向における移動速度を低下させる減衰機構を備えているコンタクトプローブ。
A first electrode and a second electrode, which are arranged to be relatively movable in the probing direction with respect to the base portion and insulated from each other, and directions in which the first electrode and the second electrode are opposite to each other in the probing direction And a second urging member that urges the second electrode and the base portion in opposite directions in the probing direction, and in the non-probing state, the first electrode A contact probe in which a contact side end protrudes in the probing direction side from a contact side end in the second electrode,
A contact probe comprising an attenuation mechanism that reduces a moving speed of the second electrode in the probing direction with respect to the first electrode.
前記第1電極としてのピン状の中心電極と、前記第2電極としての筒状の外側電極とを備えて、当該外側電極内に前記中心電極が挿入されている請求項1記載のコンタクトプローブ。   The contact probe according to claim 1, comprising a pin-shaped center electrode as the first electrode and a cylindrical outer electrode as the second electrode, wherein the center electrode is inserted into the outer electrode. 前記第1電極としての筒状の外側電極と、前記第2電極としてのピン状の中心電極とを備えて、当該外側電極内に前記中心電極が挿入されている請求項1記載のコンタクトプローブ。   The contact probe according to claim 1, comprising a cylindrical outer electrode as the first electrode and a pin-shaped center electrode as the second electrode, wherein the center electrode is inserted into the outer electrode. 前記減衰機構としてのオイルダンパ機構を備えている請求項1から3のいずれかに記載のコンタクトプローブ。   The contact probe according to claim 1, further comprising an oil damper mechanism as the damping mechanism.
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