JP2008180675A - Lsiテスタ - Google Patents
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Abstract
【解決手段】複数のテストセグメントから構成されるテストフローに基づき複数のDUTを同時にテストするLSIテスタにおいて、必要な計測モジュールを予約し、予約が成立した場合は、計測モジュールを使用するテストセグメントを実行し、成立しない場合は、使用しないテストセグメントを実行する。複数のDUTの試験時間を短縮するために、DUT毎に独立してテストセグメントの順序を入れ替えてテストを実行する。
【選択図】図1
Description
従って本発明が解決しようとする課題は、コストを抑えると共にテスト時間を短縮することが可能なLSIテスタを実現することにある。
複数のテストセグメントから構成されるテストフローに基づき複数のDUTを同時にテストするLSIテスタにおいて、
前記DUT毎に独立して前記テストセグメントの順序を入れ替えて前記テストを実行することを特徴とする。
複数のテストセグメントから構成されるテストフローに基づき複数のDUTを同時にテストするLSIテスタにおいて、
前記テストで使用する計測モジュールと、この計測モジュールの使用状態を管理するモジュール管理手段と、前記使用状態に応じて前記DUT毎に独立して前記テストセグメントの順序を入れ替えて前記テストを実行するように制御するテスト独立制御手段とを備えたことを特徴とする。
請求項2記載のLSIテスタにおいて、
前記テスト独立制御手段が、
前記モジュール管理手段に前記計測モジュールの予約申し込みを送信し、予約成立を受信した場合には前記計測モジュールを使用するテストセグメントを実行するように制御し、予約成立を受信しなかった場合には前記計測モジュールを使用しないテストセグメントを実行するように制御することを特徴とする。
請求項3記載のLSIテスタにおいて、
前記モジュール管理手段が、
前記予約申し込みに対して必要な全ての前記計測モジュールが確保できた時に前記予約成立を送信することを特徴とする。
請求項3若しくは請求項4に記載のLSIテスタにおいて、
前記テスト独立制御手段が、
前記計測モジュールを使用するテストセグメントの実行が終了した時点で前記モジュール管理手段に予約解除を送信することを特徴とする。
請求項2乃至請求項5のいずれかに記載のLSIテスタにおいて、
前記テスト独立制御手段が、
現在実行中のテストセグメントの残り時間と共に前記予約申し込みを送信することを特徴とする。
請求項6記載のLSIテスタにおいて、
前記モジュール管理手段が、
予約優先順位の高いDUTのテストセグメント残り時間と予約優先順位の低いDUTのテストセグメント所要時間を比較し、もし、前記予約優先順位の高いDUTのテストセグメント残り時間内に前記予約優先順位の低いDUTのテストセグメントが実行可能であれば、前記予約優先順位の低いDUTのテストを制御している前記テスト独立制御手段に予約成立を送信することを特徴とする。
請求項1〜請求項7の発明によれば、複数のDUTを同時にテストするLSIテスタにおいて、DUT毎に独立してテストセグメントの順序を入れ替えてテストを実行することにより、計測モジュールの数はそのままで、計測モジュールを効率的に各DUTに割り当てることができるので、コストを抑えると共にテスト時間を短縮することが可能になる。
2 計測モジュール
3 テスト実行手段
41 モジュール管理手段
42 テスト独立制御手段
50,51 LSIテスタ
100 DUT
200 端末
Claims (7)
- 複数のテストセグメントから構成されるテストフローに基づき複数のDUTを同時にテストするLSIテスタにおいて、
前記DUT毎に独立して前記テストセグメントの順序を入れ替えて前記テストを実行することを特徴とするLSIテスタ。 - 複数のテストセグメントから構成されるテストフローに基づき複数のDUTを同時にテストするLSIテスタにおいて、
前記テストで使用する計測モジュールと、
この計測モジュールの使用状態を管理するモジュール管理手段と、
前記使用状態に応じて前記DUT毎に独立して前記テストセグメントの順序を入れ替えて前記テストを実行するように制御するテスト独立制御手段と
を備えたことを特徴とするLSIテスタ。 - 前記テスト独立制御手段が、
前記モジュール管理手段に前記計測モジュールの予約申し込みを送信し、予約成立を受信した場合には前記計測モジュールを使用するテストセグメントを実行するように制御し、予約成立を受信しなかった場合には前記計測モジュールを使用しないテストセグメントを実行するように制御することを特徴とする
請求項2記載のLSIテスタ。 - 前記モジュール管理手段が、
前記予約申し込みに対して必要な全ての前記計測モジュールが確保できた時に前記予約成立を送信することを特徴とする
請求項3記載のLSIテスタ。 - 前記テスト独立制御手段が、
前記計測モジュールを使用するテストセグメントの実行が終了した時点で前記モジュール管理手段に予約解除を送信することを特徴とする
請求項3若しくは請求項4に記載のLSIテスタ。 - 前記テスト独立制御手段が、
現在実行中のテストセグメントの残り時間と共に前記予約申し込みを送信することを特徴とする
請求項2乃至請求項5のいずれかに記載のLSIテスタ。 - 前記モジュール管理手段が、
予約優先順位の高いDUTのテストセグメント残り時間と予約優先順位の低いDUTのテストセグメント所要時間を比較し、もし、前記予約優先順位の高いDUTのテストセグメント残り時間内に前記予約優先順位の低いDUTのテストセグメントが実行可能であれば、前記予約優先順位の低いDUTのテストを制御している前記テスト独立制御手段に予約成立を送信することを特徴とする
請求項6記載のLSIテスタ。
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Publication Number | Publication Date |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017512978A (ja) * | 2014-02-24 | 2017-05-25 | ライトポイント・コーポレイションLitePoint Corporation | 共有テストリソースを使用して複数の無線データパケット信号送受信器をテストする方法 |
CN109506879A (zh) * | 2018-11-27 | 2019-03-22 | 中国空气动力研究与发展中心高速空气动力研究所 | 一种在风洞试验中对测试行为进行监控的装置及其控制方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08122404A (ja) * | 1994-10-21 | 1996-05-17 | Advantest Corp | 半導体ic試験装置のセットアップ方法 |
JP2005300344A (ja) * | 2004-04-12 | 2005-10-27 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体集積回路のテストシステム |
-
2007
- 2007-01-26 JP JP2007016121A patent/JP5061622B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
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CN109506879B (zh) * | 2018-11-27 | 2020-10-16 | 中国空气动力研究与发展中心高速空气动力研究所 | 一种在风洞试验中对测试行为进行监控的装置的控制方法 |
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