JP2008170180A - タイヤ検査装置及び検査方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】ビードコアのタイヤ半径方向外側に配置されている金属製部材がビードコアの周面に対し所定の方向に延びているか否かを正確かつ短時間で判定する。
【解決手段】X線発生器5から放射されるX線の照射位置がビードコア51の外周面51aに平行になるように設定する。X線検出器9の検出信号レベルが所定の閾値以下か否かに基づいて、その検出信号が検出されたときにX線発生器5及びX線検出器9が対向しているタイヤTyの周方向位置において、カーカスプライ52の巻き返し部分53がビードコア51の外周面51aに沿って配置されているか否かを判定する。
【選択図】図9

Description

本発明は、タイヤの内部構造を検査する装置及び方法に関し、特に、ビードコアの外側に配置されている金属性部材がビードコアの外周面に対し、所定の方向に延びているか否かを検査する装置及び方法に関する。
空気入りタイヤでは、カーカスプライをトレッド部からサイドウォール部を経て一対のビード部迄トロイダル状に延在させるとともに、各ビード部に埋設したリング状のビードコアの周りで、タイヤ半径方向の内側から外側へ巻き返している。ここで、カーカスプライの巻き返し高さを十分に高くし、その巻き返し部分をゴム部材中に埋め込み、固定することで、タイヤが負荷転動しているときのプライコードの引き抜けを防止している。
ところが、このようなビード部構造では、カーカスプライの巻き返し部分のタイヤ半径方向外側端を境として、タイヤ半径方向の内外に剛性の段差が生じるため、負荷転動しているときのビード部からサイドウォール部にかけての撓み変形及び周方向剪断変形の繰り返しによって、前記巻き返し部分のタイヤ半径方向外側端及びその近傍に応力が集中するため、そのタイヤ半径方向外側のゴム部材からセパレーションが発生しやすいという問題がある。
そこで、このような問題を解決するため、図11に示すようなカーカスプライ52の巻き返し部分53を、ビードコア51の周面に沿わせて巻き回した空気入りタイヤが提案されている(特許文献1参照)。この空気入りタイヤを製造するときは、スチールコードが埋め込まれたカーカスプライを塑性変形させて型付けし、曲げ易い状態にしてビードコアに巻き付ける。このとき、カーカスプライ52の巻き返し部分53が十分に曲がらず、図12に示すように、巻き返し部分53の先端付近がビードコア51の周面から離れてしまうと、所期の性能を発揮できなくなる。
そこで、巻き返し部分53がビードコア51の周面に沿っているか否かを非破壊で検査することが必要になる。従来、タイヤの内部構造を非破壊で検査する装置としては、回転軸を鉛直方向にした姿勢、換言すれば側面を上に向けた状態でコンベアにより搬送されているタイヤに対し、所定の搬送位置にて上方からタイヤの側面全体にX線を照射するとともに、タイヤを透過したX線をコンベアの下方に配置されたX線ラインセンサで検出するようにしたタイヤ内部検査装置(特許文献2参照)、回転軸を水平にした姿勢でタイヤを支持台に載せ、かつ上方から加圧するとともに、トレッドの上方からX線を照射し、タイヤ内で散乱したX線をサイドウォールの外側にて検出するようにしたタイヤ用CTスキャナ装置(特許文献3参照)、回転軸を鉛直方向にした姿勢でターンテーブル上に載せられたタイヤのサイドウォール部の内面と外面とを挟んでX線照射器とX線ラインセンサとを配置し、X線照射器から放射され、サイドウォール部を透過したX線をX線ラインセンサで検出する動作をターンテーブルを回転させながら行うことにより、タイヤのプライコードの配列ピッチを測定する装置(特許文献4参照)などがある。
しかし、上記タイヤ内部検査装置では、一対のビード部を透過したX線を検出しているため、個々のビード部のカーカスプライの巻き返し部分の配置が適正か否かを検出することはできない。また、上記タイヤ用CTスキャナ装置では、X線照射器を水平方向に移動させ、X線検出器を鉛直方向に移動させることにより断層像を生成しているため、タイヤ全体の断層像の生成に時間がかかる。さらに、上記プライコードの配列ピッチを測定する装置では、X線の照射位置、照射方向がそれぞれサイドウォール部、タイヤの回転軸に平行な方向に固定されているため、カーカスプライの巻き返し部分の位置を正確に把握することはできない。
特開2002−321289号公報 特開2000−249665号公報 特開平7−32829号公報 特開2000−292139号公報
本発明は、前記従来の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、ビードコアの外側に配置されている金属製部材がビードコアの外周面に対し所定の方向に延びているか否かを正確かつ短時間で判定できるようにすることである。
請求項1の発明は、X線発生器と、X線検出器と、前記X線発生器と前記X線検出器とを対向させ、かつ間隔を変化させることが可能な保持手段と、前記X線発生器と前記X線検出器とが検査対象タイヤのビード部の内面と外面とを挟むように前記保持手段を配置し、かつ前記保持手段を前記タイヤの回転軸に垂直な方向の回りに揺動可能に配置する配置手段と、前記検査対象タイヤと前記配置手段とを相対的にタイヤ周方向へ回転させる回転手段と、前記X線検出器の検出信号を前記タイヤの周方向位置に対応させる手段と、該手段の出力に基づいて、ビードコアの外側に配置されている金属製部材が、前記周方向位置において前記ビードコアの外周面に対し所定の方向に延びているか否かを判定する手段とを備えたことを特徴とするタイヤ検査装置である。
請求項2の発明は、請求項1記載のタイヤ検査装置において、前記X線検出器はライン状の検出部を有し、前記配置手段は前記ラインの方向がタイヤ半径方向となるように前記X線検出器を配置することを特徴とする。
請求項3の発明は、請求項2記載のタイヤ検査装置において、前記X線検出器の検出信号の増幅率又減衰率を前記ラインの方向の位置に応じて調整可能なレベル調整手段を備えたことを特徴とする。
請求項4の発明は、タイヤのビードコアの外側に配置されている金属性部材が前記ビードコアの外周面に対し所定の方向に延びているか否かを検査するタイヤ検査方法であって、前記タイヤのビード部の内面及び外面を挟んでX線発生器及びX線検出器を配置する工程と、前記X線発生器から前記ビードコアの外周面に対し所定の方向にX線を照射するとともに、前記ビード部を透過したX線を前記X線検出器で検出する工程と、前記X線検出器の検出信号を前記タイヤの周方向位置に対応させる工程と、前記検出信号と前記周方向位置との対応関係に基づいて、前記金属製部材が前記周方向位置において前記所定の方向に延びているか否かを判定する工程とを備えたことを特徴とするタイヤ検査方法。
請求項5の発明は、請求項4記載のタイヤ検査方法において、前記所定の方向は略平行な方向であることを特徴とする。
請求項6の発明は、請求項4記載のタイヤ検査方法において、前記ビードコアの外側は、前記ビードコアのタイヤ半径方向外側であることを特徴とする。
請求項7の発明は、請求項4記載のタイヤ検査方法において、前記金属性部材はカーカスプライの巻き返し部分であることを特徴とする。
(作用)本発明によれば、X線発生器からビードコアの外周面に対し所定の方向にX線を照射し、タイヤを透過したX線をX線検出器で検出し、X線検出器の検出信号をタイヤの周方向位置に対応させ、X線検出器の検出信号レベルとタイヤ周方向位置との対応関係に基づいて、金属製部材が前記周方向位置において前記所定の方向に延びているか否かを判定する。
本発明によれば、ビードコアの外側に配置されている金属製部材がビードコアの外周面に対し所定の方向に延びているか否かを正確かつ短時間で判定できる。
以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。
図1は本発明の実施形態のタイヤ検査装置の概略構成を示す図である。
このタイヤ検査装置は、装置全体の制御等を行う制御装置1と、回転軸を水平にした状態で保持されているタイヤTyを回転させるタイヤ回転装置3と、タイヤTyの左右ビード部の外面に対向するように配置されているX線発生器5,7と、タイヤTyの左右ビード部の内面に対向するように配置されているX線検出器9,11と、X線発生器5,7を周期的に駆動するための駆動信号を生成する駆動装置13と、X線検出器9,11の出力信号の増幅及びA/D変換を行い制御装置1に出力する増幅・A/D変換器15とを備えている。
制御装置1は、CPU12と、RAM、ROM、フラッシュメモリなどのメモリ14とを備えている。また、ハードディスク装置などの外部記憶装置16が接続されている。タイヤ回転装置3、駆動装置13、及び増幅・A/D変換器15は制御装置1の制御により動作する。
図2はタイヤ回転装置3をタイヤTyの左側面から見た図である。タイヤ回転装置3は、それぞれが図示されていないモータにより駆動される3個のローラ31,33、35を備えている。ローラ31,33、35は、それらの中心が正三角形の頂点となる位置に配置されており、その三角形内にタイヤTyを配置し、ローラ31,33、35をそれぞれの回転軸に垂直な方向へ移動させて、それぞれの外周面をタイヤTyのトレッドに押し当てた後、図示のように時計回りに回転させることで、タイヤTyを反時計回りに回転させることができる。なお、タイヤTyを時計回りに回転させるように構成してもよい。
図3はX線発生器5及びX線検出器9、並びにそれらの保持手段などをタイヤTyの半断面とともに示す図である。X線発生器5及びX線検出器9は、X線発生器5のX線放射面とX線検出器9のX線検出面とが対向するように、板状の保持体18に保持されている。また、X線発生器5、X線検出器9は、保持体18上でそれぞれ矢印b、cの方向に往復移動可能であり、これによりタイヤTyのビード部の厚さに応じてX線発生器5、X線検出器9の対向する面の間隔を変化させることができる。さらに、保持体18は第1アーム20の一端に固定され、第1アーム20の他端は、タイヤTyの回転軸に垂直な揺動軸24を介して第2アーム22の一端に取り付けられている。従って、第1アーム20を矢印dの方向に揺動させることにより、X線発生器5からタイヤTyのビード部の外面に照射するX線の照射方向(照射角度)を変化させることができる。ここで、X線発生器5、X線検出器9の矢印b、cの方向への移動、及び第1アーム20を矢印dの方向への揺動は制御装置1により制御される。また、図示されていないが、第2アーム22の他端は立体的(三次元的)に移動可能に構成されているので、第1アーム20及び第2アーム22を動作させることにより、X線発生器5、X線検出器9がタイヤTyのビード部を挟む位置に保持体18を配置することができる。
図4はX線発生器5から放射されたX線XrがタイヤTyを透過してX線検出器9に入射する様子を示す図である。X線発生器5のX線放射面には、タイヤTyに照射するX線Xrの幅を狭くしてライン状にするためのスリット5aが形成されている。このようにライン状に形成されたX線XrはタイヤTyを透過し、X線ラインセンサからなるX線検出器9で検出される。ここで、図4の上下方向、つまりスリット5aの長手方向及びX線ラインセンサの長手方向がタイヤTyの半径方向となるようにX線発生器5及びX線検出器9を配置する。
図5に示すように、X線検出器9のラインセンサを構成する多数(図示は13個)の検出素子の出力信号は増幅・A/D変換器15に個別に入力され、出力信号毎に増幅及びA/D変換されて、制御装置1に入力される。ここで、個々の検出素子の出力信号の増幅率は検出素子毎に設定可能であり、図6に示すように、不良品領域の増幅率βを良品領域の増幅率αよりも高めている。良品領域、不良品領域は、具体的には図7に示すように、タイヤTyのビード部を挟んでX線発生器5及びX線検出器9を対向させ、X線発生器5から放射されたX線XrをX線検出器9で検出するときに、ビードコア51のタイヤ半径方向外側の周面51aに略平行な所定幅の領域を良品領域とし、そのタイヤ半径方向外側を不良品領域としている。そして、図8に示すように、タイヤTyの周方向位置毎に、良品領域、不良品領域の各々の全ての検出素子の出力電流を増幅して加算し、その合計値(電流値)が閾値以下の場合、不良区間とする。
ここで、不良品領域の増幅率βを良品領域の増幅率αよりも高めているので、不良品領域に金属部材(ここでは、カーカスプライの巻き返し部分の端部)が入ることによる減少するX線検出器9の検出電流の減少量も増幅している。これにより、X線検出器9の全ての検出素子の出力電流を増幅して加算した合計値の振れ幅が大きくなる。従って、その合計値のみを監視の対象とすることにより、容易に不良区間の判定が行える。なお、図6では、説明を分かり易くするため、良品領域の増幅率α、不良品領域の増幅率βをともに一定値としたが、実際にはタイヤTyのビード部の厚みがX線検出器9のラインセンサの配列方向で一定でないことなどの影響により良品領域内、不良品領域内で一定になるとは限らない。これらの増幅率は予めキャリブレーションを行うことにより決定し、メモリ14に格納しておく。
以上、X線発生器5及びX線検出器9に関連する部分ついて説明したが、X線発生器7及びX線検出器11に関連する部分も同様に構成されている。
次に、以上の構成を有するタイヤ検査装置により、タイヤTyのカーカスプライの巻き返し部分がビードコア51のタイヤ半径方向外側の周面に沿って配置されているか否かを判定する手順を説明する。ここで、以下の手順の前提として、図示しないタイヤ運搬手段により、回転軸を水平にした状態のタイヤTyがタイヤ検査装置の所定の位置(図2参照)に配置されているものとする。
まず制御装置1の制御により、第2アーム22を動作させて、図3に示すように、X線発生器5及びX線検出器9がタイヤTyのビード部を挟むように保持体18を配置する。このとき、X線発生器5とX線検出器9との間隔はタイヤTyのビード部の厚さに応じて調整する。X線発生器7及びX線検出器11についても同様である。次いで、第1アーム20を動作させて、X線発生器5及びX線検出器9とタイヤTyのビード部との関係が図9Aに示す位置関係、つまりX線発生器5から放射されるX線Xrの照射位置がビードコア51のタイヤ半径方向外側の外周面51aのタイヤ半径方向外側の不良品領域、照射方向が外周面51aに略平行になるように保持体18を配置する。
次に制御装置1の制御により、タイヤ回転装置3を一定の低速で回転させる。次いで、駆動装置13に対し、X線発生器5及び7に周期的な駆動信号を与えるように制御するとともに、増幅・A/D変換器15に対し、上記駆動信号と同期したタイミングでX線検出器9及び11の出力信号を処理するように制御する。
これにより、X線発生器5及びX線検出器9、並びにX線発生器7及びX線検出器11とタイヤTyのビード部との関係が図9Aに示す状態を維持したまま、タイヤTyが回転するとともに、X線発生器5及び7から一定周期で放射され、タイヤTyのビードコア51のタイヤ半径方向外側の外周面51aのタイヤ半径方向外側を透過したX線がX線検出器9及び11で検出され、増幅・A/D変換器15により、X線検出器9及び11の各々を構成するラインセンサの素子毎に所定の増幅率で増幅され、デジタル値に変換された後に制御装置1に入力される。ここでは、X線検出器9及び11の各々を構成するラインセンサの全ての検出素子で検出されるX線は不良品領域を通ったものであるから、全て増幅率βで増幅される。
このとき、図9Aに示すように、カーカスプライ52の巻き返し部分53がビードコア51の外周面51aに沿って配置されている(良品領域に存在する)場合は、X線発生器5から放射されたX線Xrは巻き返し部分53を透過せずにX線検出器9に到達する。これに対し、図9Bに示すように、巻き返し部分53がビードコア51の外周面51aに沿っていない(不良品領域に存在する)場合は、X線発生器5から放射されたX線Xrは巻き返し部分53を透過してX線検出器9に到達する。ここで、金属に対するX線透過率はゴムに対するX線透過率よりも小さいので、巻き返し部分53が不良品領域に存在する場合は、良品領域に存在する場合と比べ、X線検出器9の出力電流のレベルが低下する。従って、図9Bの場合のX線検出器9を構成するラインセンサの全ての検出素子の出力電流を増幅し加算した合計値は、図9Aの場合よりも小さくなるので、二つの合計値の間に閾値を設定することにより、巻き返し部分53が不良品領域に存在するか否かを判定することができる。
図8を参照しながら説明したように、タイヤTyの周方向位置毎に、X線検出器9及びX線検出器11のそれぞれのラインセンサを構成する全ての検出素子の出力電流を増幅した値(電流)の合計値と所定の閾値との大小関係に基づいて、カーカスプライ52の巻き返し部分53が不良か否かを判定することができるので、制御装置1は、増幅・A/D変換器15から出力されたタイヤ1周分のデータをタイヤTyの周方向位置と対応させることにより、図10に示すような、タイヤTyの周方向位置(0〜360度)の全体における不良箇所の有無のデータを生成することができる。この図において、L、RはそれぞれタイヤTyの左、右のビード部のデータである。なお、増幅・A/D変換器15の出力データと、タイヤTyの周方向位置との対応付けは、例えば駆動装置13がX線発生器5及び7に供給する駆動信号の周期及び位相をタイヤ回転装置3の回転周期及び位相と関連させることにより行うことができる。
以上説明したように、本発明の実施形態のタイヤ検査装置によれば、X線発生器からビードコア51のタイヤ半径方向外側の外周面51aに対し略平行にX線を照射し、タイヤTyを透過したX線をX線検出器9及び11で検出し、X線検出器9及び11の出力電流をタイヤTyの周方向位置に対応させ、X線検出器9及び11の出力電流レベルとタイヤ周方向位置との対応関係に基づいて、タイヤTyのカーカスプライ52の巻き返し部分53がビードコア51のタイヤ半径方向外側の外周面51aに沿って配置されているか否かを判定することにより、カーカスプライ52の巻き返し部分53が不良か否かを正確かつ短時間に判定することができる。
なお、以上の実施形態では、タイヤ回転装置3によりタイヤTyを回転させたが、タイヤTyを回転させる代わりに保持体18がタイヤTyの周方向に回転するように構成してもよい。また、以上の実施形態では、X線検出器9及び11の各々のラインセンサを構成する素子毎に増幅・A/D変換器15の増幅率の設定を可能にしたが、ラインセンサを構成する素子毎に減衰器を設定可能に構成してもよい。さらに、以上の実施形態では、図10に示すような検出電流レベル対周方向位置のデータを生成しているが、そのデータに加えて、二次元の画像データを生成してもよい。さらに、以上の実施形態では、X線を用いているが、X線以外の電磁波(ミリ波など)や超音波を用いてもよい。
本発明の実施形態のタイヤ検査装置の概略構成を示す図である。 本発明の実施形態のタイヤ回転装置をタイヤの左側面から見た図である。 本発明の実施形態のX線発生器及びX線検出器、並びにそれらの保持手段などをタイヤの半断面とともに示す図である。 本発明の実施形態のX線発生器から放射されたX線がタイヤを透過してX線検出器に入射する様子を示す図である。 本発明の実施形態のX線検出器の検出素子と増幅・A/D変換器との接続関係を示す図である。 本発明の実施形態のX線検出器の検出素子と増幅率との関係を示す図である。 本発明の実施形態のタイヤ検査装置における良品領域及び不良品領域を示す図である。 本発明の実施形態のタイヤ検査装置において不良区間を判定する原理を説明するための図である。 本発明の実施形態のタイヤ検査装置において、X線発生器から放射されたX線が良品領域、不良品領域を透過してX線検出器に到達する様子を示す図である。 本発明の実施形態のタイヤ検査装置にて生成されるタイヤの周方向位置の全体における不良箇所の有無のデータを示す図である。 カーカスプライの巻き返し部分をビードコアの周面に沿わせて巻き回した空気入りタイヤを示す図である。 図11に示すタイヤにおいて、巻き返し部分が十分に曲がらずビードコアの周面から離れている状態を示す図である。
符号の説明
1・・・制御装置、3・・・タイヤ回転装置、5,7・・・X線発生器、9,11・・・X線検出器、13・・・駆動装置、15・・・増幅・A/D変換器、18・・・保持体、20・・・第1アーム、22・・・第2アーム、24・・・揺動軸、31,33,35・・・ローラ、51・・・ビードコア、52・・・カーカスプライ、53・・・巻き返し部分、Ty・・・タイヤ、Xr・・・X線。

Claims (7)

  1. X線発生器と、X線検出器と、前記X線発生器と前記X線検出器とを対向させ、かつ間隔を変化させることが可能な保持手段と、前記X線発生器と前記X線検出器とが検査対象タイヤのビード部の内面と外面とを挟むように前記保持手段を配置し、かつ前記保持手段を前記タイヤの回転軸に垂直な方向の回りに揺動可能に配置する配置手段と、前記検査対象タイヤと前記配置手段とを相対的にタイヤ周方向へ回転させる回転手段と、前記X線検出器の検出信号を前記タイヤの周方向位置に対応させる手段と、該手段の出力に基づいて、ビードコアの外側に配置されている金属製部材が、前記周方向位置において前記ビードコアの外周面に対し所定の方向に延びているか否かを判定する手段とを備えたことを特徴とするタイヤ検査装置。
  2. 請求項1記載のタイヤ検査装置において、
    前記X線検出器はライン状の検出部を有し、前記配置手段は前記ラインの方向がタイヤ半径方向となるように前記X線検出器を配置することを特徴とするタイヤ検査装置。
  3. 請求項2記載のタイヤ検査装置において、
    前記X線検出器の検出信号の増幅率又減衰率を前記ラインの方向の位置に応じて調整可能なレベル調整手段を備えたことを特徴とするタイヤ検査装置。
  4. タイヤのビードコアの外側に配置されている金属性部材が前記ビードコアの外周面に対し所定の方向に延びているか否かを検査するタイヤ検査方法であって、
    前記タイヤのビード部の内面及び外面を挟んでX線発生器及びX線検出器を配置する工程と、前記X線発生器から前記ビードコアの外周面に対し所定の方向にX線を照射するとともに、前記ビード部を透過したX線を前記X線検出器で検出する工程と、前記X線検出器の検出信号を前記タイヤの周方向位置に対応させる工程と、前記検出信号と前記周方向位置との対応関係に基づいて、前記金属製部材が前記周方向位置において前記所定の方向に延びているか否かを判定する工程とを備えたことを特徴とするタイヤ検査方法。
  5. 請求項4記載のタイヤ検査方法において、
    前記所定の方向は略平行な方向であることを特徴とするタイヤ検査方法。
  6. 請求項4記載のタイヤ検査方法において、
    前記ビードコアの外側は、前記ビードコアのタイヤ半径方向外側であることを特徴とするタイヤ検査方法。
  7. 請求項4記載のタイヤ検査方法において、
    前記金属性部材はカーカスプライの巻き返し部分であることを特徴とするタイヤ検査方法。
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