JP2008151693A - 半導体試験装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】試験時の様々な状況に対応して電源の異常発生を即時に検出できる半導体試験装置を提供する。
【解決手段】半導体試験装置100では、試験前に予め電源部11、12,・・・が接続されたカードでの様々な状況に対応したリミット値を設定してメモリ11b、12b,・・・のそれぞれ毎に設定しておく。試験中にコンパレータ11d、12d,・・・により電源回路11a、12a,・・・から電源の電流値を検出して各リミット値と比較しリミット値を超えているか否かを判定する。電流値がリミット値を超えている電源部が存在する場合には、アラーム信号を発生させ、電源供給部22この異常が発生した電源部への電源の供給を停止させる。
【選択図】図1
【解決手段】半導体試験装置100では、試験前に予め電源部11、12,・・・が接続されたカードでの様々な状況に対応したリミット値を設定してメモリ11b、12b,・・・のそれぞれ毎に設定しておく。試験中にコンパレータ11d、12d,・・・により電源回路11a、12a,・・・から電源の電流値を検出して各リミット値と比較しリミット値を超えているか否かを判定する。電流値がリミット値を超えている電源部が存在する場合には、アラーム信号を発生させ、電源供給部22この異常が発生した電源部への電源の供給を停止させる。
【選択図】図1
Description
本発明は、ICデバイスやメモリデバイス等の被試験対象に対して試験を行うための電力を供給する電源部を備えた半導体試験装置に係り、特に、電源部の異常を判定するための回路構成に関するものである。
従来、ICデバイスやメモリデバイス等の半導体デバイスである被試験対象(以下、DUTと称する。)に対して機能確認等の試験を行う半導体試験装置では、そのテストヘッドに内蔵されたカード(回路基板)に電力を供給する電源部を複数備えている。これらの電源部は、装置本体から供給される電力を所定電圧の試験用電力に変換して、テストヘッド内のカードに供給するものである。
以下の特許文献1に記載された半導体試験装置では、装置本体であるコントロール部側に商用交流電源を整流平滑して直流高電圧に変換する第1の電源回路を設けると共に、テストヘッド部側に第1の電源回路から供給された直流高電圧電力を直流低電圧に変換するDC/DCコンバータで構成される第2の電源回路を設けている。第2の電源回路により得られた直流低電圧の電力をテスト信号発生手段を実現する各電子回路の電源として供給するように構成している(例えば、特許文献1参照。)。
特開平7−198792号公報(図2)
半導体試験装置においては、テストヘッド内での短絡等によって異常が発生すると、これを検出して電力供給を停止する必要がある。従来の半導体試験装置では、テストヘッドに実装されたカードに電力を供給する複数の電源部において、異常が発生した際には以下のように動作していた。
図4は、従来技術における半導体試験装置200の構成を示す説明図である。この半導体試験装置200は、各種の機能を備えたカードが実装されてDUTに対して機能確認等の試験を行うテストヘッド210と、装置全体の動作を制御する装置本体220とから構成されている。
テストヘッド210は、このテストヘッド210に実装された各カードのそれぞれに試験を実行するための電力を供給する複数の電源部211,212,・・・を備えている。複数の電源部211,212,・・・は、それぞれが個別にテストヘッド210に実装されたカードに接続されており、電源部211,212,・・・内に備えた電源回路(DC/DC)211a,212a,・・・が装置本体220から供給された電力を受け取って試験用に電圧を調整した後、これらのカードに電力を供給する。また、電源回路211a,212a,・・・において過電流等による異常が発生した場合には、この過電流に伴って発生する電圧の垂下を電圧異常検出回路211b,212b,・・・が検出して、装置本体220に対して異常を検出した検出信号を出力するようになっている。
装置本体220は、制御部221が装置全体の動作を制御し、異常が発生した際にテストヘッド210への電源供給の制御等を行う。また、テストヘッド210内の電源回路211a,212a,・・・に接続された電源供給部222が、外部電源からの交流電源を直流電源に変換してこれらの電源回路211a,212a,・・・に供給している。
そして、試験を実行中に電源回路211a,212a,・・・において過電流等の異常が発生すると、過電流に伴って電圧が垂下する。電圧異常検出回路211b,212b,・・・は、電圧が予め設定されたリミット値を超えて垂下するとこれを検出して検出信号を制御部221に出力し、制御部221がこの検出信号に応じてアラームを発生し、電源供給部222からの異常が発生した電源回路への電源の供給を停止する。
しかしながら、このような従来技術における半導体試験装置200では、電圧異常検出回路211b,212b,・・・が、電圧がリミット値を超えて垂下したことを検出してアラームを発生し電源の供給を停止していたため、過電流等の異常が発生しても、電源回路211a,212a,・・・の能力範囲内で電圧が垂下しない場合には異常として検出されず、特段の対処をとることができなかった。また、過電流等に伴って電圧の垂下が起こってはじめて異常を検出する構成であったため、それ以前から異常の原因となる事象が発生していても、これをすぐに検出できなかった。
そこで本発明は、試験時の様々な状況に対応して電源の異常発生を即時に検出できる半導体試験装置を提供することを課題とする。
以上のような課題を達成するために、本発明に係る半導体試験装置は、被試験対象に対して試験を行うための電力を供給する電源部と、前記電源部の異常を判定するための基準となる電流のリミット値を記憶するリミット記憶部と、前記電源部により出力される電流値を検出する電流検出部と、前記電流検出部により検出された電流値と、前記リミット記憶部により記憶されたリミット値とに基づいて前記電源部の異常を判定し、異常と判定した場合に前記電源部への電源の供給を停止する電源制御部とを備えたことを特徴とする。
このような構成により、予めリミット記憶部に電流のリミット値を設定して記憶させておきこのリミット値に基づいて異常を判定することで、試験時の様々な状況に対応して異常を検出できる。また、電圧の垂下が起こる前に過電流等が発生した時点で異常を検出できるので、異常の発生を即時に検出して電源供給の停止等の適切な措置を行うことができる。
また、本発明に係る他の半導体試験装置は、被試験対象に対して試験を行うための電力を供給する電源部と、前記電源部の異常を判定するための基準となる電流のリミット値を記憶するリミット記憶部と、前記電源部により出力される電流値を検出する電流検出部と、前記電流検出部により検出された電流値と、前記リミット記憶部により記憶されたリミット値とに基づいて前記電源部の異常を判定する異常判定部と、前記異常判定部により異常と判定された場合にアラーム信号を出力するアラーム制御部と、前記アラーム制御部によりアラーム信号が出力されたことに応じて前記電源部への電源の供給を停止する電源制御部とを備えたことを特徴とする。
このような構成により、予めリミット記憶部に電流のリミット値を設定して記憶させておきこのリミット値に基づいて異常を判定することで、試験時の様々な状況に対応して異常を検出できる。また、電圧の垂下が起こる前に過電流等が発生した時点で異常を検出できるので、異常の発生を即時に検出してアラーム信号を出力することができ、その後の電源供給の停止等の適切な措置を行うことができる。
上述の半導体試験装置において、前記異常判定部は、前記電流検出部により検出された電流値と前記リミット記憶部により記憶されたリミット値とを比較する電流比較部と、前記電流比較部が比較した結果、前記電流値がリミット値を超えている場合に異常と判定する電流判定部とをさらに備えていても良い。
このような構成により、電流比較部及び電流判定部が、電源部により出力される電流値がリミット値を超えているか否かを判定することにより、電圧の垂下を検出していた従来技術の例と比較して、異常の発生を正確かつ即時に検出することができる。
上述の半導体試験装置において、前記電流検出部により検出された電流値に基づいて前記リミット記憶部が記憶するリミット値を改めて設定する設定部をさらに備えることもできる。
このような構成により、実際に検出された電流値を設定部にフィードバックしてモニタリングや解析を行い、リミット値を適切に設定し直すことができる。
また上述の半導体試験装置において、前記リミット記憶部が記憶するリミット値を入力操作するためのリミット入力部と、前記リミット入力部による入力操作に従って、前記リミット記憶部が記憶するリミット値を設定する設定部とをさらに備えても良い。
このような構成により、作業者がリミット入力部を用いて、DUTの種類や試験内容等の試験時の様々な状況に応じて電流値のリミット値を変更して入力操作し、リミット記憶部に設定することができる。そして、このリミット記憶部に設定したリミット値を用いて判定することで試験時の様々な状況に対応して異常の発生を正確かつ即時に検出することができる。
本発明に係る半導体試験装置によれば、試験時の様々な状況に対応して電源の異常発生を即時に検出できるという効果が得られる。
また本発明では、リミット記憶部に設定される電流値のリミット値をプログラマブルに制御することができるため、電力供給先である負荷の特性に合わせて適切なリミット値に変更することができる。これにより、テストヘッド内の様々な負荷に対して複数の電源部に共通のハードウエア構成を使用することができ、個々の電源部ごとにテストヘッド内での実装場所を指定する必要がなくなる。
〔第1の実施の形態〕
以下、本発明の一実施形態について図面を用いて詳細に説明する。
図1は第1の実施の形態における半導体試験装置100の全体構成を示す説明図である。半導体試験装置100は、ICデバイスやメモリデバイス等の半導体デバイスである被試験対象に対して機能確認等の試験を行うための各種のカードをテストヘッドに実装し、装置本体から供給された電力を複数の電源部に分配しておき、各カード毎に電源部から電力を供給して試験を実行する装置である。
以下、本発明の一実施形態について図面を用いて詳細に説明する。
図1は第1の実施の形態における半導体試験装置100の全体構成を示す説明図である。半導体試験装置100は、ICデバイスやメモリデバイス等の半導体デバイスである被試験対象に対して機能確認等の試験を行うための各種のカードをテストヘッドに実装し、装置本体から供給された電力を複数の電源部に分配しておき、各カード毎に電源部から電力を供給して試験を実行する装置である。
半導体試験装置100は、各種の機能を備えたカードが実装されてDUTに対して機能確認等の試験を行うテストヘッド10と、装置全体の動作を制御する装置本体20とから構成されている。
テストヘッド10は、このテストヘッド10に実装された各カードのそれぞれ毎に電力を供給する複数の電源部11,12,・・・を備えている。これらの電源部11,12,・・・は、各カードに接続されて電力を供給する電源回路11a,12a,・・・を備えている。電源回路11a,12a,・・・は、それぞれが個別にテストヘッド10に実装されたカードと装置本体20内の電源供給部22に接続されている。電源回路11a,12a,・・・は、電源供給部22から供給された電力を受け取ってカードに試験を行うための電力を供給する。
また、電源部11,12,・・・は、電源回路11a,12a,・・・の動作の異常を判定するための基準となる電流のリミット値を記憶するメモリ11b,12b,・・・を備えている。メモリ11b,12b,・・・は、D/A変換部11c,12c,・・・と装置本体20内の電源供給部22に接続されており、例えばデータバスを介して電源供給部22から出力されたリミット値のデータを受け取って記憶する機能を有する。試験実行時において電源回路11a,12a,・・・の異常を判定する際にこのリミット値のデータをD/A変換部11c,12c,・・・に出力する。
電源部11,12,・・・は、メモリ11b,12b,・・・に記憶されたリミット値をデジタル信号からアナログ信号に変換するD/A変換部11c,12c,・・・を備えている。
電源部11,12,・・・は、電源回路11a,12a,・・・が出力する電流値を検出してメモリ11b,12b,・・・にリミット値と比較するコンパレータ11d,12d,・・・を備えている。コンパレータ11d,12d,・・・は、電源回路11a,12a,・・・のカードに電力を供給するための出力端子と、D/A変換部11c,12c,・・・と、装置本体20内の制御部21とに接続されている。コンパレータ11d,12d,・・・は、カードに供給される電源として電源回路11a,12a,・・・から出力される電流値を検出して、この検出した電流値とD/A変換部11c,12c,・・・を介してメモリ11b,12b,・・・から出力されたリミット値のデータとに基づいて電源回路11a,12a,・・・の異常を判定する機能を有する。異常と判定した場合には、異常を検出したことを示す検出信号を制御部21に出力する。
また、コンパレータ11d,12d,・・・は、電源回路11a,12a,・・・から出力される電流値を検出して、この検出した電流値とD/A変換部11c,12c,・・・を介してメモリ11b,12b,・・・から出力されたリミット値のデータとを比較して、検出した電流値がリミット値を超えているか否かを判定する機能を有する。比較した結果、検出した電流値がリミット値を超えている場合に電源に異常が発生していることを判定する。
装置本体20は、装置全体の動作を制御し電源部11,12,・・・の異常を検出した際にテストヘッド10への電源供給の制御等を行う制御部21を備えている。制御部21は、コンパレータ11d,12d,・・・から検出信号が出力されると、これに応じてアラーム信号を出力する。また、電源供給部22を制御して検出信号が出力された電源部への電源の供給を停止させる機能を有する。
装置本体20は、更にテストヘッド10への電源供給を行う電源供給部22を備えている。電源供給部22は、外部電源からの交流電源に整流変換等を行い、直流電源に変換する。この変換した直流電源を電源回路11a,12a,・・・に分配して供給する機能を有する。
装置本体20は、作業者の入力操作に応じてリミット値をメモリ11b,12b,・・・に設定して記憶させる設定部(CPU)23を備えている。設定部23は、予めプログラミングされたリミット値、あるいは操作部24を用いた入力操作により入力されたリミット値を電源部11,12,・・・のメモリ11b,12b,・・・のそれぞれ毎に設定して記憶させる機能を有する。
装置本体20は、リミット値の設定の入力操作を行うための操作部24を備えている。操作部24は、例えば装置本体20の一部に設けられているか、あるいは装置本体20に接続されたキーボード等であり、作業者はこの操作部24を用いて電源部11,12,・・・のメモリ11b,12b,・・・に対してリミット値を設定する入力操作をする。また、操作部24は、作業者の入力操作によって入力されたリミット値のデータを設定部23に出力する。
続いて、第1の実施の形態における半導体試験装置100の動作について図2に示すフローチャートを用いて説明する。なお、この動作はDUTの試験中に定期的に実行される。
ステップS201:半導体試験装置100は、テストヘッド10に実装されたカードの機能によって行われるDUTの試験の開始前に作業者のリミット値設定の入力操作に従ってリミット値を設定する処理を行う。DUTの試験の開始前に作業者が操作部24を用いてメモリ11b,12b,・・・のそれぞれに対して電源部11,12,・・・が接続されたカードでの試験内容、各電源部の負荷パターン、試験時の様々な状況に対応したリミット値を設定して入力操作すると、半導体試験装置100は、入力された各リミット値を設定対象となるメモリ11b,12b,・・・のそれぞれ毎に設定して記憶させる。
ステップS202:半導体試験装置100は、DUTの試験が行われるとコンパレータ11d,12d,・・・により電源部11,12,・・・からカードへ供給される電源の電流値を検出する処理を行う。半導体試験装置100は、試験中にコンパレータ11d,12d,・・・により電源回路11a,12a,・・・のそれぞれからDUTへ出力される電源の電流値を検出する。
ステップS203,S204:半導体試験装置100は、コンパレータ11d,12d,・・・により電源回路11a,12a,・・・から検出した各電流値とメモリ11b,12b,・・・に記憶されたリミット値とを比較する処理を行う。半導体試験装置100は、コンパレータ11d,12d,・・・によりメモリ11b,12b,・・・から各リミット値をD/A変換部11c,12c,・・・を介してアナログ信号に変換して読み出す処理を行う。そして、ステップS202において電源回路11a,12a,・・・から検出した各電流値と、メモリ11b,12b,・・・から読み出した各リミット値とをそれぞれ比較し、電流値がリミット値を超えているか否かを判定する。
ステップS205:半導体試験装置100は、各電流値と各リミット値とをそれぞれ比較した結果、電源部11,12,・・・のうち、電流値がリミット値を超えている電源部が存在する場合には(ステップS204のYes)、その電源部で異常が発生していると判定し検出信号を装置本体20へ出力してアラーム信号を発生させる処理を行う。
半導体試験装置100は、異常が発生していると判定した電源部のコンパレータから装置本体20の制御部21に検出信号を出力する。そして、半導体試験装置100は、制御部21によりアラーム信号を発生させる。半導体試験装置100の図示しない他の構成部分ではこのアラーム信号の発生に応じてアラーム音を出力する、又は警告ランプを点灯させる処理を行う。
ステップS206:半導体試験装置100は、アラーム信号の発生に応じて制御部21により電源供給部22から異常が発生した電源部への電源の供給を停止させる処理を行う。半導体試験装置100は、制御部21によりアラーム信号の発生に応じて検出信号が出力されたコンパレータを有する電源部を特定し、電源供給部22を制御してこの異常が発生した電源部への電源の供給を停止させる。
以上のように、第1の実施の形態における半導体試験装置100では、試験前に予め電源部11,12,・・・が接続されたカードでの試験内容、試験時の様々な状況に対応したリミット値をメモリ11b,12b,・・・のそれぞれに設定しておく。そして、試験中にコンパレータ11d,12d,・・・により電源回路11a,12a,・・・から電源の電流値を検出してメモリ11b,12b,・・・から読み出した各リミット値と比較し、リミット値を超えているか否かを判定する。電流値がリミット値を超えている電源部が存在する場合には、その電源部で異常が発生していると判定してアラーム信号を発生させ、電源供給部22を制御してこの異常が発生した電源部への電源の供給を停止させる。
このため、電源部11,12,・・・からカードへ出力される電流値とリミット値とを比較して異常が発生しているか否かを判定するので、異常が発生したことに伴って電圧の垂下が起こる前に過電流等が発生した時点で異常を検出でき、異常の発生を正確かつ即時に検出して早期に適切な措置を行うことができる。
また、試験前に予め試験内容、各電源部の負荷パターン、試験時の様々な状況に対応したリミット値を設定しておくので、様々な状況に対応して適切かつ即時に異常の発生を判定して検出できる。
メモリ11b,12b,・・・のリミット値は、制御部21によってプログラマブルに制御することができるため、各カードの負荷の特性に合わせてリミット値を適切に変更することができる。したがって、同じ出力電圧の電源回路については、そのハードウエア構成を共通化し、テストヘッド内での実装場所を選ばずロケーションフリー化が可能となる。これにより、テストヘッドの製造工数削減やメンテナンス作業の容易化をも図ることができる。
〔第2の実施の形態〕
次に、第2の実施の形態について説明する。
図3は、第2の実施の形態における半導体試験装置100の全体構成を示す説明図である。半導体試験装置100は、各電源部11,12,・・・に電源回路11a,12a,・・・から出力される電源の電流値のデータを検出してアナログ信号からデジタル信号に変換するA/D変換部11e,12e,・・・を備えている。これらのA/D変換部11e,12e,・・・は、装置本体20内の制御部21に接続されており電源回路11a,12a,・・・からの電流値のデータが制御部21に出力される。その他の構成は、第1の実施の形態と同様であり説明を省略する。
次に、第2の実施の形態について説明する。
図3は、第2の実施の形態における半導体試験装置100の全体構成を示す説明図である。半導体試験装置100は、各電源部11,12,・・・に電源回路11a,12a,・・・から出力される電源の電流値のデータを検出してアナログ信号からデジタル信号に変換するA/D変換部11e,12e,・・・を備えている。これらのA/D変換部11e,12e,・・・は、装置本体20内の制御部21に接続されており電源回路11a,12a,・・・からの電流値のデータが制御部21に出力される。その他の構成は、第1の実施の形態と同様であり説明を省略する。
第2の実施の形態では、半導体試験装置100は、試験中に電源回路11a,12a,・・・からカードへ出力される電源の電流値のデータを、A/D変換部11e,12e,・・・を介して設定部23が受け取る。設定部23は、受け取った電流値をフィードバック信号としてモニタしつつ、これを解析することによってリミット値の設定を変更する等の制御を実行することができる。あるいは、設定部23は受け取ったこれらの電流値のデータを図示しないディスプレイやモニタ等の表示部に表示することもできる。この場合、作業者は表示された電流値のデータを視認することで異常の発生を判断でき、また、電流値の変動パターン等の様々な状況に対応してリミット値を設定することができる。
100,200 半導体試験装置
10,210 テストヘッド
20,220 装置本体
11,12,211,212 電源部
11a,12a,211a,212a 電源回路
11b,12b メモリ
11c,12c D/A変換部
11d,12d コンパレータ
11e,12e A/D変換部
21,221 制御部
22,222 電源供給部
23 設定部
24 操作部
211b,212b 電圧異常検出回路
10,210 テストヘッド
20,220 装置本体
11,12,211,212 電源部
11a,12a,211a,212a 電源回路
11b,12b メモリ
11c,12c D/A変換部
11d,12d コンパレータ
11e,12e A/D変換部
21,221 制御部
22,222 電源供給部
23 設定部
24 操作部
211b,212b 電圧異常検出回路
Claims (5)
- 被試験対象に対して試験を行うための電力を供給する電源部と、
前記電源部の異常を判定するための基準となる電流のリミット値を記憶するリミット記憶部と、
前記電源部により出力される電流値を検出する電流検出部と、
前記電流検出部により検出された電流値と前記リミット記憶部により記憶されたリミット値とに基づいて前記電源部の異常を判定し、異常と判定した場合に前記電源部への電源の供給を停止する電源制御部とを備えたことを特徴とする半導体試験装置。 - 被試験対象に対して試験を行うための電力を供給する電源部と、
前記電源部の異常を判定するための基準となる電流のリミット値を記憶するリミット記憶部と、
前記電源部により出力される電流値を検出する電流検出部と、
前記電流検出部により検出された電流値と前記リミット記憶部により記憶されたリミット値とに基づいて前記電源部の異常を判定する異常判定部と、
前記異常判定部により異常と判定された場合にアラーム信号を出力するアラーム制御部と、
前記アラーム制御部によりアラーム信号が出力されたことに応じて前記電源部への電源の供給を停止する電源制御部とを備えたことを特徴とする半導体試験装置。 - 請求項2に記載の半導体試験装置において、
前記異常判定部は、
前記電流検出部により検出された電流値と前記リミット記憶部により記憶されたリミット値とを比較する電流比較部と、
前記電流比較部が比較した結果、前記電流値がリミット値を超えている場合に異常と判定する電流判定部とを有することを特徴とする半導体試験装置。 - 請求項2又は3に記載の半導体試験装置において、
前記電流検出部により検出された電流値に基づいて前記リミット記憶部が記憶するリミット値を改めて設定する設定部をさらに備えたことを特徴とする半導体試験装置。 - 請求項2又は3に記載の半導体試験装置において、
前記リミット記憶部が記憶するリミット値を入力操作するためのリミット入力部と、
前記リミット入力部による入力操作に従って、前記リミット記憶部が記憶するリミット値を設定する設定部とをさらに備えたことを特徴とする半導体試験装置。
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JP2011065286A (ja) * | 2009-09-15 | 2011-03-31 | Advantest Corp | 電源装置、試験装置、および電力供給方法 |
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