JP2008139224A - Measuring apparatus - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a measuring apparatus which can both easily read a measurement value and quickly switch to a measurement range suitable for magnitude of the measurement value. <P>SOLUTION: The measuring apparatus includes a measuring unit 3 for measuring a resistance value R of an object 100 to be measured in a predetermined measurement range switched from a plurality of measurement ranges and a CPU 8 for controlling the switchover of the measurement range. The CPU 8 carries out the range switchover for switching to another measurement range when a state of change of the resistance value R measured in the predetermined range satisfies predetermined conditions and in addition the resistance value R is out of a measurement scope in the predetermined measurement range. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、複数の測定レンジの中から切り替えられた所定の測定レンジで測定対象体についてのパラメータを測定する測定装置に関するものである。   The present invention relates to a measurement apparatus that measures parameters of a measurement object in a predetermined measurement range switched from a plurality of measurement ranges.

この種の測定装置として、特開2001−41982号公報において出願人が開示した測定装置が知られている。この測定装置では、測定対象信号が入力された際に、制御回路が、複数の測定レンジ(入力レンジ)の中から測定対象信号のピーク値がその測定範囲内に収まるすべての測定レンジを特定して仮決定する第1の処理を実行すると共に、測定対象信号の実効値の大きさに適したすべての測定レンジを特定して仮決定する第2の処理を実行する。また、制御回路は、第1の処理および第2の処理によって仮決定した測定レンジの中から所定の決定手順に従って測定に最も適した測定レンジを決定して、その測定レンジに切り替える。このため、この測定装置では、測定値(ピーク値および実効値)の大きさに最も適した測定レンジに直接切り替えることができるため、測定レンジを1つずつ降順または昇順で切り替える方法と比較して、測定レンジの切り替えを短時間で行うことが可能となっている。
特開2001−41982号公報(第4−5頁、第1−2図)
As this type of measuring apparatus, a measuring apparatus disclosed by the applicant in Japanese Patent Laid-Open No. 2001-41982 is known. In this measurement device, when a measurement target signal is input, the control circuit identifies all measurement ranges in which the peak value of the measurement target signal falls within the measurement range from a plurality of measurement ranges (input ranges). The first process is temporarily determined, and all the measurement ranges suitable for the magnitude of the effective value of the signal to be measured are specified and the second process is temporarily determined. In addition, the control circuit determines a measurement range most suitable for measurement from the measurement ranges temporarily determined by the first process and the second process according to a predetermined determination procedure, and switches to the measurement range. For this reason, in this measuring apparatus, since it is possible to directly switch to the measurement range most suitable for the magnitude of the measurement value (peak value and effective value), compared with the method of switching the measurement range one by one in descending order or ascending order. The measurement range can be switched in a short time.
JP 2001-41982 (page 4-5, Fig. 1-2)

ところが、上記の測定装置には、以下の改善すべき課題がある。すなわち、この測定装置では、例えば外乱の影響によってピーク値が瞬間的に変動したときには、その変動に伴って測定レンジも直ちに切り替えられる。このため、外乱の影響が大きくてピーク値が頻繁に上下動するときには、測定レンジが頻繁に切り替えられることがある。この場合、一般的に、測定値を表示する際の表示単位(例えば、電圧を測定する場合における「mV」、「V」、「kV」)は測定レンジに連動して切り替えられる。したがって、この測定装置では、外乱の影響が大きい測定環境において、測定レンジに連動して表示単位が頻繁に切り替えられることに起因して測定値の読み取りが困難となるおそれがあり、この点の改善が望まれている。   However, the measurement apparatus has the following problems to be improved. That is, in this measuring apparatus, for example, when the peak value fluctuates instantaneously due to the influence of disturbance, the measurement range is immediately switched along with the fluctuation. For this reason, when the influence of disturbance is large and the peak value frequently moves up and down, the measurement range may be frequently switched. In this case, generally, the display unit (for example, “mV”, “V”, “kV” in the case of measuring voltage) when displaying the measured value is switched in conjunction with the measurement range. Therefore, in this measurement device, there is a possibility that reading of measured values may be difficult due to frequent switching of the display unit in conjunction with the measurement range in a measurement environment where the influence of disturbance is large. Is desired.

本発明は、かかる改善すべき課題に鑑みてなされたものであり、測定値の読み取り易さ、および測定値の大きさに適した測定レンジへの短時間での切り替えを両立し得る測定装置を提供することを主目的とする。   The present invention has been made in view of the problems to be improved, and provides a measuring device that can achieve both readability of a measurement value and switching to a measurement range suitable for the size of the measurement value in a short time. The main purpose is to provide.

上記目的を達成すべく請求項1記載の測定装置は、複数の測定レンジの中から切り替えられた所定の測定レンジで測定対象体についてのパラメータを測定する測定部と、前記測定レンジの切り替えを制御する制御部とを備えた測定装置であって、前記制御部は、前記所定の測定レンジで測定された前記測定値の変化状態が所定の条件を満たし、かつ当該測定値が当該所定の測定レンジにおける測定範囲を外れているときに他の前記測定レンジに切り替えるレンジ切替処理を実行する。なお、本発明における「測定範囲」は、測定部がパラメータを正確に測定し得る範囲として測定レンジに毎に規定された範囲をいう。   In order to achieve the above object, the measurement apparatus according to claim 1 controls a measurement unit that measures a parameter of a measurement object in a predetermined measurement range switched from among a plurality of measurement ranges, and controls switching of the measurement ranges. A control unit that performs the measurement, the change state of the measurement value measured in the predetermined measurement range satisfies a predetermined condition, and the measurement value is in the predetermined measurement range A range switching process for switching to another measurement range when the measurement range is out of is performed. The “measurement range” in the present invention refers to a range defined for each measurement range as a range in which the measurement unit can accurately measure the parameter.

請求項2記載の測定装置は、請求項1記載の測定装置において、前記制御部は、連続して測定された2つの前記測定値の差分値が所定の範囲内のときに前記所定の条件を満たしたとする。   The measuring apparatus according to claim 2 is the measuring apparatus according to claim 1, wherein the control unit sets the predetermined condition when a difference value between two measured values measured in succession is within a predetermined range. Suppose you satisfy.

請求項1記載の測定装置によれば、制御部がレンジ切替処理を実行して、測定値の変化状態が所定の条件を満たしかつ測定値が測定レンジにおける測定範囲を外れたときに他の測定レンジに切り替えることにより、例えば外乱の影響によって測定値が大きく変動しているときには測定値の大小に拘わらず測定レンジを一定に維持し、測定値の変化が小さくなったときには測定値の大きさに適した測定レンジに即座に自動切替えさせることができる。このため、測定値が頻繁に変動したとしても、それに伴って測定レンジおよび表示レンジの切り替えが頻繁に行われる事態を確実に回避することができる。したがって、この測定装置によれば、測定値の読み取り易さ、および測定値の大きさに適した測定レンジへの短時間での切り替えを両立することができる。   According to the measurement apparatus of claim 1, when the control unit executes the range switching process and the change state of the measurement value satisfies a predetermined condition and the measurement value is out of the measurement range in the measurement range, another measurement is performed. By switching to the range, for example, when the measured value fluctuates greatly due to the influence of disturbance, the measured range is kept constant regardless of the magnitude of the measured value, and when the change in measured value becomes small, the measured value becomes Instantly and automatically switch to a suitable measurement range. For this reason, even if the measurement value fluctuates frequently, a situation in which the measurement range and the display range are frequently switched can be reliably avoided. Therefore, according to this measuring apparatus, it is possible to achieve both the readability of the measurement value and the switching to the measurement range suitable for the magnitude of the measurement value in a short time.

また、請求項2記載の測定装置によれば、制御部が、連続して測定された2つの測定値の差分値が所定の範囲内のときに所定の条件を満たしたとすることにより、2つの測定値の差分値の算出、および算出した差分値が所定の範囲内か否かの判別が容易なため、測定値が激しく変化している状態においてもレンジ切替を行うか否かの判別を短時間でしかも確実に行うことができる。   According to the measuring apparatus of claim 2, the control unit satisfies the predetermined condition when the difference value between the two measured values measured in succession is within a predetermined range. Since it is easy to calculate the difference value of the measured value and to determine whether the calculated difference value is within a predetermined range, it is easy to determine whether to perform range switching even when the measured value changes drastically. It can be done reliably in time.

以下、本発明に係る測定装置の最良の形態について、添付図面を参照して説明する。   Hereinafter, the best mode of a measuring apparatus according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

最初に、抵抗測定装置1の構成について、添付図面を参照して説明する。   First, the configuration of the resistance measuring apparatus 1 will be described with reference to the attached drawings.

図1,3に示す抵抗測定装置1は、本発明に係る測定装置の一例であって、測定対象体100の抵抗(本発明におけるパラメータの一例)を四端子法によって測定可能に構成されている。また、抵抗測定装置1は、複数の測定レンジの中からの測定値のレベル(大きさ)に適した測定レンジに自動的に切り替えるするオートレンジ機能を有している。具体的には、抵抗測定装置1は、図1に示すように、電源部2、測定部3、ROM4、RAM5、操作部6、表示部7およびCPU8を備えて構成されている。   1 and 3 is an example of a measuring apparatus according to the present invention, and is configured to be able to measure the resistance of the measuring object 100 (an example of a parameter in the present invention) by a four-terminal method. . Moreover, the resistance measuring apparatus 1 has an auto range function for automatically switching to a measurement range suitable for the level (size) of a measurement value from a plurality of measurement ranges. Specifically, as shown in FIG. 1, the resistance measurement apparatus 1 includes a power supply unit 2, a measurement unit 3, a ROM 4, a RAM 5, an operation unit 6, a display unit 7, and a CPU 8.

電源部2は、測定用の測定用電流Imを生成可能に構成されている。この場合、電源部2には、第1端子11a,11b(図1参照)が接続され、この第1端子11a,11bを介して測定用電流Imが測定対象体100における一対の被接続部101に出力される。   The power supply unit 2 is configured to be able to generate a measurement current Im for measurement. In this case, the power supply unit 2 is connected to the first terminals 11a and 11b (see FIG. 1), and the measurement current Im is connected to the pair of connected parts 101 in the measurement object 100 via the first terminals 11a and 11b. Is output.

測定部3は、図2に示すように、オペアンプ21、抵抗22,23、抵抗切替回路24およびA/D変換回路25を備えて構成されている。オペアンプ21は、CPU8の制御に従い、測定対象体100の被接続部101に測定用電流Imが出力されたときに生じる電圧を第2端子12a,12b(図1参照)および抵抗22を介して検出して、検出信号Sdを出力する。なお、上記した第1端子11aと第2端子12aとは、図3に示すプローブユニット9aの先端部に互いに絶縁された状態で配設され、上記した第1端子11bと第2端子12bとは、同図に示すプローブユニット9bの先端部に互いに絶縁された状態で配設されている。   As shown in FIG. 2, the measurement unit 3 includes an operational amplifier 21, resistors 22, 23, a resistance switching circuit 24, and an A / D conversion circuit 25. The operational amplifier 21 detects, through the second terminals 12a and 12b (see FIG. 1) and the resistor 22, the voltage generated when the measurement current Im is output to the connected portion 101 of the measurement object 100 under the control of the CPU 8. Then, the detection signal Sd is output. The first terminal 11a and the second terminal 12a described above are disposed in a state of being insulated from each other at the tip of the probe unit 9a shown in FIG. 3, and the first terminal 11b and the second terminal 12b described above The probe unit 9b shown in the figure is disposed in a state of being insulated from each other.

抵抗22は、測定対象体100の両被接続部101,101間に発生した電圧を検出すると共に抵抗23と相俟ってオペアンプ21の利得を決定する機能を有している。また、複数(この例では5つ)の抵抗23,23・・は、抵抗値が互いに異なるレンジ切替用の抵抗であって、抵抗切替回路24によってこれらのうちの1つがオペアンプ21の負帰還経路に接続される。抵抗切替回路24は、CPU8の制御に従って抵抗23,23・・のうちの1つを負帰還経路に切り替えて接続させる。A/D変換回路25は、オペアンプ21から出力される検出信号Sdをアナログ−ディジタル変換することによって電圧データDvを生成してCPU8に出力する。   The resistor 22 has a function of detecting the voltage generated between the two connected portions 101, 101 of the measuring object 100 and determining the gain of the operational amplifier 21 in combination with the resistor 23. In addition, a plurality of (in this example, five) resistors 23, 23,... Are range switching resistors having different resistance values, and one of these is a negative feedback path of the operational amplifier 21 by the resistor switching circuit 24. Connected to. The resistance switching circuit 24 switches and connects one of the resistors 23, 23... To the negative feedback path under the control of the CPU 8. The A / D conversion circuit 25 generates voltage data Dv by performing analog-digital conversion on the detection signal Sd output from the operational amplifier 21 and outputs the voltage data Dv to the CPU 8.

ROM4は、CPU8によって実行されるレンジ切替処理40(図5参照)においてレンジ切り替えを行うか否かの判別に用いられるしきい値Dsを記憶する。この場合、ROM4には、各測定レンジ毎に規定された複数のしきい値Dsが予め記憶されている。RAM5は、CPU8によって算出される抵抗値Rを記憶する。   The ROM 4 stores a threshold value Ds used for determining whether or not to perform range switching in the range switching process 40 (see FIG. 5) executed by the CPU 8. In this case, the ROM 4 stores in advance a plurality of threshold values Ds defined for each measurement range. The RAM 5 stores a resistance value R calculated by the CPU 8.

操作部6は、図3に示すように、抵抗測定装置1の正面に配設された電源スイッチ31や測定開始スイッチ32等の各種スイッチを備えて構成されて、各スイッチの操作に対応する操作信号SoをCPU8に出力する。表示部7は、同図に示すように、抵抗測定装置1の正面に配設された表示パネルを備えて構成されて、図4に示すように、CPU8の制御に従って測定値(抵抗値R)を表示する。   As shown in FIG. 3, the operation unit 6 includes various switches such as a power switch 31 and a measurement start switch 32 disposed on the front surface of the resistance measuring device 1, and operates corresponding to the operation of each switch. The signal So is output to the CPU 8. As shown in FIG. 4, the display unit 7 includes a display panel disposed in front of the resistance measuring device 1, and as shown in FIG. 4, the measured value (resistance value R) is controlled under the control of the CPU 8. Is displayed.

CPU8は、本発明における制御部に相当し、操作部6から出力される操作信号Soに従って電源部2および測定部3を制御する。また、CPU8は、測定開始スイッチ32に対応する操作信号Soが操作部6から出力されたときには、抵抗値測定処理を実行する。この場合、CPU8は、抵抗値測定処理の実行時にレンジ切替処理40を実行する。   The CPU 8 corresponds to the control unit in the present invention, and controls the power supply unit 2 and the measurement unit 3 according to the operation signal So output from the operation unit 6. In addition, when the operation signal So corresponding to the measurement start switch 32 is output from the operation unit 6, the CPU 8 executes resistance value measurement processing. In this case, the CPU 8 executes the range switching process 40 when executing the resistance value measurement process.

次に、抵抗測定装置1を用いて測定対象体100の抵抗値Rを測定する方法およびその際の抵抗測定装置1の動作について、図面を参照して説明する。   Next, a method for measuring the resistance value R of the measuring object 100 using the resistance measuring device 1 and the operation of the resistance measuring device 1 at that time will be described with reference to the drawings.

まず、操作部6の電源スイッチ31を操作する。この際に、CPU8が、RAM5を初期化してRAM5に保存されている各データを消去させる。次いで、操作部6の測定開始スイッチ32を操作する。この際に、操作部6が測定開始スイッチ32に対応する操作信号Soを出力し、CPU8がその操作信号Soに従って抵抗値測定処理を実行する。この抵抗値測定処理では、CPU8は、まず、測定部3の抵抗切替回路24を制御して、各抵抗23,23・・のうちの抵抗値が最小の抵抗23を負帰還経路に接続させることにより、測定値の上限値が最も大きい測定レンジに初期設定する(切り替える)。また、CPU8は、電源部2を制御して測定用電流Imを生成させる。   First, the power switch 31 of the operation unit 6 is operated. At this time, the CPU 8 initializes the RAM 5 and erases each data stored in the RAM 5. Next, the measurement start switch 32 of the operation unit 6 is operated. At this time, the operation unit 6 outputs an operation signal So corresponding to the measurement start switch 32, and the CPU 8 executes resistance value measurement processing according to the operation signal So. In this resistance value measurement process, the CPU 8 first controls the resistance switching circuit 24 of the measurement unit 3 to connect the resistor 23 having the smallest resistance value among the resistors 23, 23... To the negative feedback path. As a result, the measurement range is initialized (switched) to the measurement range with the maximum upper limit value. Further, the CPU 8 controls the power supply unit 2 to generate the measurement current Im.

続いて、プローブユニット9a,9bを測定対象体100の被接続部101にそれぞれ押し当てることにより、第1端子11a,11bおよび第2端子12a,12bを測定対象体100の被接続部101にそれぞれ接触させる。この際に、測定対象体100の被接続部101に第1端子11a,11bを介して測定用電流Imが出力され、これによって被接続部101,101間に生じる電圧を測定部3のオペアンプ21が第2端子12a,12bおよび抵抗22を介して検出して検出信号Sdを出力する。   Subsequently, the first terminals 11 a and 11 b and the second terminals 12 a and 12 b are respectively pressed against the connected portion 101 of the measuring object 100 by pressing the probe units 9 a and 9 b against the connected portion 101 of the measuring object 100. Make contact. At this time, the measurement current Im is output to the connected portion 101 of the measuring object 100 via the first terminals 11 a and 11 b, and thereby the voltage generated between the connected portions 101 and 101 is converted to the operational amplifier 21 of the measuring portion 3. Is detected via the second terminals 12a and 12b and the resistor 22, and a detection signal Sd is output.

次いで、A/D変換回路25が、検出信号Sdをアナログ−ディジタル変換することによって生成した電圧データDvを出力する。続いて、CPU8は、電圧データDvに基づき、測定対象体100の抵抗値Rを算出する。次いで、CPU8は、抵抗値RをRAM5に記憶させると共に(以下、RAM5に記憶させた抵抗値Rを「抵抗値Rm」ともいう)、抵抗値Rを表示させるための表示用データDiを生成して表示部7に出力する。これにより、図4に示すように、抵抗値Rが表示部7に表示される。この場合、CPU8は、初期設定した測定レンジに対応する表示単位(例えば「MΩ」)で抵抗値Rを表示させるように表示用データDiを生成する。   Next, the A / D conversion circuit 25 outputs voltage data Dv generated by analog-digital conversion of the detection signal Sd. Subsequently, the CPU 8 calculates a resistance value R of the measurement object 100 based on the voltage data Dv. Next, the CPU 8 stores the resistance value R in the RAM 5 (hereinafter, the resistance value R stored in the RAM 5 is also referred to as “resistance value Rm”), and generates display data Di for displaying the resistance value R. And output to the display unit 7. Thereby, as shown in FIG. 4, the resistance value R is displayed on the display unit 7. In this case, the CPU 8 generates display data Di so that the resistance value R is displayed in a display unit (for example, “MΩ”) corresponding to the initially set measurement range.

続いて、CPU8は、上記した抵抗値Rの算出時点(最初の算出時点)から所定時間(測定サンプリング周期)を経過したときに、その時点で出力されている電圧データDvに基づいて新たな抵抗値Rを算出すると共に、図5に示すレンジ切替処理40を実行する。このレンジ切替処理40では、CPU8は、初期設定した測定レンジ(上限値が最も大きい測定レンジ)に対応するしきい値DsをROM4から読み出す(ステップ41)。次いで、CPU8は、RAM5から抵抗値Rmを読み出す(ステップ42)。   Subsequently, when a predetermined time (measurement sampling cycle) has elapsed from the calculation time point (first calculation time point) of the above-described resistance value R, the CPU 8 creates a new resistance based on the voltage data Dv output at that time point. While calculating the value R, the range switching process 40 shown in FIG. 5 is performed. In this range switching process 40, the CPU 8 reads from the ROM 4 a threshold value Ds corresponding to the initially set measurement range (the measurement range having the largest upper limit value) (step 41). Next, the CPU 8 reads the resistance value Rm from the RAM 5 (step 42).

続いて、CPU8は、算出した新たな抵抗値Rと読み出した抵抗値Rmとの差分値Rdを算出して(ステップ43)、差分値Rdの絶対値がしきい値Ds以内(本発明における所定の範囲内)であるか否かを判別する(ステップ44)。この際に、差分値Rdの絶対値がしきい値Ds以内ではない、つまり抵抗値Rmの変動が大きいときには、CPU8は、抵抗値Rの大小に拘わらず、その時点で設定している測定レンジ(この場合、初期設定した測定レンジ)に設定した状態を維持したまま、このレンジ切替処理40を終了する。   Subsequently, the CPU 8 calculates a difference value Rd between the calculated new resistance value R and the read resistance value Rm (step 43), and the absolute value of the difference value Rd is within the threshold value Ds (predetermined in the present invention). It is determined whether it is within the range (step 44). At this time, when the absolute value of the difference value Rd is not within the threshold value Ds, that is, when the resistance value Rm varies greatly, the CPU 8 sets the measurement range set at that time regardless of the magnitude of the resistance value R. The range switching process 40 is terminated while maintaining the state set to (initially set measurement range in this case).

ここで、抵抗値Rの変動の原因が外乱の影響によるものであるときには、新たな抵抗値Rがその時点で設定している測定レンジの上限値を瞬間的に超えたとしても、一般的には、直ぐに測定レンジの範囲以内に低下する。この場合、抵抗値Rの変動の大きさに拘わらず抵抗値Rの大きさに応じて測定レンジを切り替える従来の測定装置では、上記の抵抗値Rが変動したときには、その都度、測定レンジが変更されてこれに連動して表示単位も変更されることがあり、抵抗値Rの読み取りが困難となるおそれがある。これに対して、この抵抗測定装置1では、上記したように抵抗値Rの変動が大きいときには、抵抗値Rの大小に拘わらずその測定レンジに維持されるため、抵抗値Rの読み取りが困難となる事態が確実に防止される。   Here, when the cause of the fluctuation of the resistance value R is due to the influence of disturbance, even if the new resistance value R momentarily exceeds the upper limit value of the measurement range set at that time, generally, Immediately falls within the measurement range. In this case, in the conventional measuring apparatus that switches the measurement range according to the magnitude of the resistance value R regardless of the magnitude of the fluctuation of the resistance value R, the measurement range is changed whenever the resistance value R changes. Accordingly, the display unit may be changed in conjunction with this, and it may be difficult to read the resistance value R. On the other hand, in the resistance measuring apparatus 1, when the resistance value R varies greatly as described above, the resistance value R is maintained regardless of the magnitude of the resistance value R, so that it is difficult to read the resistance value R. This is surely prevented.

次いで、CPU8は、新たな抵抗値RをRAM5に上書きして記憶させると共に、その抵抗値Rを表示させるための表示用データDiを表示部7に出力し、表示部7は、その表示用データDiに基づいて抵抗値Rを表示する。続いて、CPU8は、所定時間が経過したときに、その時点で出力されている電圧データDvに基づいて新たな抵抗値Rを算出すると共に、図5に示すレンジ切替処理40を実行する。   Next, the CPU 8 overwrites and stores the new resistance value R in the RAM 5 and outputs display data Di for displaying the resistance value R to the display unit 7. The display unit 7 displays the display data Di. The resistance value R is displayed based on Di. Subsequently, when a predetermined time has elapsed, the CPU 8 calculates a new resistance value R based on the voltage data Dv output at that time, and executes the range switching process 40 shown in FIG.

この場合、CPU8は、上記したステップ44において、差分値Rdの絶対値がしきい値Ds以内のとき(本発明における「測定値の変化状態が所定の条件を満たしたとき」)、には、その時点で設定されている測定レンジにおける測定範囲(測定部3が抵抗値Rを正確に測定し得る範囲)を新たな抵抗値Rが外れているか否かを判別する(ステップ45)。この際に、新たな抵抗値Rが測定レンジの測定範囲以内である(測定範囲を外れていない)ときには、CPU8は、その測定レンジに設定した状態を維持する。一方、新たな抵抗値Rが測定レンジの測定範囲から外れているときには、CPU8は、測定部3の抵抗切替回路24を制御して、その抵抗値Rの大きさに予め対応付けられている測定レンジ(本発明における他の測定レンジ)用の抵抗23を負帰還経路に接続させることにより、測定レンジを他の測定レンジに切り替える(ステップ46)。   In this case, when the absolute value of the difference value Rd is within the threshold value Ds in the above-described step 44 (“when the change state of the measured value satisfies a predetermined condition” in the present invention), the CPU 8 It is determined whether or not the new resistance value R deviates from the measurement range in the measurement range set at that time (the range in which the measurement unit 3 can accurately measure the resistance value R) (step 45). At this time, when the new resistance value R is within the measurement range of the measurement range (not out of the measurement range), the CPU 8 maintains the state set to the measurement range. On the other hand, when the new resistance value R is out of the measurement range of the measurement range, the CPU 8 controls the resistance switching circuit 24 of the measurement unit 3 to perform measurement associated with the magnitude of the resistance value R in advance. The measurement range is switched to another measurement range by connecting the resistance 23 for the range (the other measurement range in the present invention) to the negative feedback path (step 46).

次いで、CPU8は、新たな抵抗値RをRAM5に上書きして記憶させると共に、その抵抗値Rを表示させるための表示用データDiを表示部7に出力する。この場合、CPU8は、切り替え後の測定レンジに対応する表示単位(例えば「kΩ」)で抵抗値Rを表示させるように表示用データDiを生成する。これにより、図6に示すように、抵抗値Rが表示部7に表示される。以下、CPU8は、所定時間が経過する度に、上記した各処理を実行する。   Next, the CPU 8 overwrites and stores the new resistance value R in the RAM 5, and outputs display data Di for displaying the resistance value R to the display unit 7. In this case, the CPU 8 generates display data Di so that the resistance value R is displayed in a display unit (for example, “kΩ”) corresponding to the measurement range after switching. Thereby, as shown in FIG. 6, the resistance value R is displayed on the display unit 7. Thereafter, the CPU 8 executes the above-described processes every time a predetermined time elapses.

このように、この抵抗測定装置1によれば、CPU8がレンジ切替処理40を実行して、抵抗値Rの変化状態が所定の条件を満たしかつ抵抗値Rが測定レンジの測定範囲を外れたときにその測定値Rの測定に適した他の測定レンジに切り替えることにより、例えば外乱の影響によって抵抗値Rが大きく変動しているときには抵抗値Rの大小に拘わらず測定レンジを一定に維持し、抵抗値Rの変化が小さくなったときには抵抗値Rの大きさに適した測定レンジに即座に自動切替えさせることができる。このため、抵抗値Rが頻繁に変動したとしても、それに伴って測定レンジおよび表示レンジの切り替えが頻繁に行われる事態を確実に回避することができる。したがって、この抵抗測定装置1によれば、抵抗値Rの読み取り易さ、および抵抗値Rの大きさに適した測定レンジへの短時間での切り替えを両立することができる。   As described above, according to the resistance measuring apparatus 1, when the CPU 8 executes the range switching process 40, the change state of the resistance value R satisfies a predetermined condition, and the resistance value R is out of the measurement range of the measurement range. In addition, by switching to another measurement range suitable for the measurement of the measurement value R, for example, when the resistance value R varies greatly due to the influence of a disturbance, the measurement range is kept constant regardless of the magnitude of the resistance value R. When the change of the resistance value R becomes small, it can be automatically switched to the measurement range suitable for the resistance value R immediately. For this reason, even if the resistance value R frequently fluctuates, it is possible to reliably avoid a situation in which the measurement range and the display range are frequently switched accordingly. Therefore, according to the resistance measuring apparatus 1, it is possible to achieve both the readability of the resistance value R and the switching to the measurement range suitable for the magnitude of the resistance value R in a short time.

また、この抵抗測定装置1によれば、CPU8が、連続して測定された2つの抵抗値Rの差分値Rdの絶対値がしきい値Ds以内のときに所定の条件を満たしたと判別することにより、差分値Rdの算出や差分値Rdの絶対値がしきい値Ds以内であるか否かの判別が容易なため、抵抗値Rが激しく変化している状態においてもレンジ切り替えを行うか否かの判別を短時間でしかも確実に行うことができる。   Moreover, according to this resistance measuring apparatus 1, CPU8 discriminate | determines that predetermined conditions were satisfy | filled when the absolute value of the difference value Rd of the two resistance values R measured continuously is less than threshold value Ds. Thus, it is easy to calculate the difference value Rd and determine whether or not the absolute value of the difference value Rd is within the threshold value Ds, so whether or not the range is switched even in a state where the resistance value R changes drastically. Such a determination can be made in a short time and reliably.

なお、本発明は、上記の構成に限定されない。例えば、本発明におけるパラメータとしての抵抗値Rを測定する抵抗測定装置1に適用した例について上記したが、測定レンジの自動切り替え(オートレンジ切り替え)機能を備えて、電流、電圧、電力および温度等の各種のパラメータを測定可能な電流計、電圧計、電力計、マルチメータよび波形記録装置などの各種の測定装置に適用することができる。また、CPU8が、連続して測定された2つの抵抗値Rの差分値Rdの絶対値がしきい値Ds以内のときに所定の条件を満たしたと判別する例について上記したが、他の態様で所定の条件を満たしたか否かを判別する構成を採用することもできる。具体的には、測定された抵抗値Rと、その抵抗値Rの測定以前に測定された複数の抵抗値Rの平均値との差分値を算出し、その差分値の絶対値がしきい値Ds以内のときに所定の条件を満たしたと判別する構成を採用することもできる。また、連続する2つの抵抗値Rの変化率を算出してその変化率がしきい値として規定した変化率以下のときに所定の条件を満たしたと判別する構成を採用することもできる。   In addition, this invention is not limited to said structure. For example, the example applied to the resistance measuring apparatus 1 that measures the resistance value R as a parameter in the present invention has been described above, but has an automatic measurement range switching (auto-range switching) function, such as current, voltage, power, and temperature. The present invention can be applied to various measuring devices such as an ammeter, a voltmeter, a wattmeter, a multimeter, and a waveform recording device capable of measuring various parameters. In addition, although the example in which the CPU 8 determines that the predetermined condition is satisfied when the absolute value of the difference value Rd between the two resistance values R measured continuously is within the threshold value Ds has been described above, A configuration for determining whether or not a predetermined condition is satisfied may be employed. Specifically, a difference value between the measured resistance value R and the average value of a plurality of resistance values R measured before the measurement of the resistance value R is calculated, and the absolute value of the difference value is a threshold value. It is also possible to adopt a configuration that determines that a predetermined condition is satisfied when it is within Ds. It is also possible to employ a configuration in which the rate of change of two consecutive resistance values R is calculated and it is determined that a predetermined condition is satisfied when the rate of change is equal to or less than the rate of change defined as a threshold value.

抵抗測定装置1の構成を示すブロック図である。1 is a block diagram showing a configuration of a resistance measuring device 1. FIG. 測定部3の回路構成を示す回路図である。3 is a circuit diagram illustrating a circuit configuration of a measurement unit 3. FIG. 抵抗測定装置1の正面図である。1 is a front view of a resistance measuring device 1. FIG. 表示部7に抵抗値Rを表示させている状態の表示画面図である。It is a display screen figure in the state where resistance value R is displayed on display part 7. レンジ切替処理40のフローチャートである。5 is a flowchart of a range switching process 40. 測定レンジの切り替え後において表示部7に抵抗値Rを表示させている状態の表示画面図である。It is a display screen figure in the state where resistance value R is displayed on display part 7 after change of a measurement range.

符号の説明Explanation of symbols

1 抵抗測定装置
2 測定部
8 CPU
40 レンジ切替処理
100 測定対象体
Ds しきい値
R 抵抗値
Rd 差分値
Rm 抵抗値
1 Resistance Measuring Device 2 Measuring Unit 8 CPU
40 Range switching processing 100 Measurement object Ds Threshold value R Resistance value Rd Difference value Rm Resistance value

Claims (2)

複数の測定レンジの中から切り替えられた所定の測定レンジで測定対象体についてのパラメータを測定する測定部と、前記測定レンジの切り替えを制御する制御部とを備えた測定装置であって、
前記制御部は、前記所定の測定レンジで測定された前記測定値の変化状態が所定の条件を満たし、かつ当該測定値が当該所定の測定レンジにおける測定範囲を外れているときに他の前記測定レンジに切り替えるレンジ切替処理を実行する測定装置。
A measurement device comprising a measurement unit that measures a parameter for a measurement object in a predetermined measurement range switched from among a plurality of measurement ranges, and a control unit that controls switching of the measurement range,
The control unit performs the other measurement when the change state of the measurement value measured in the predetermined measurement range satisfies a predetermined condition and the measurement value is out of the measurement range in the predetermined measurement range. A measuring device that performs range switching processing for switching to a range.
前記制御部は、連続して測定された2つの前記測定値の差分値が所定の範囲内のときに前記所定の条件を満たしたとする請求項1記載の測定装置。   The measurement apparatus according to claim 1, wherein the control unit satisfies the predetermined condition when a difference value between the two measurement values continuously measured is within a predetermined range.
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