JP2008157750A - Resistance meter - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、測定対象体の抵抗値を測定する抵抗計に関するものである。 The present invention relates to an ohmmeter that measures a resistance value of a measurement object.
この種の抵抗計として、特開2000−214194号公報において出願人が開示した絶縁抵抗計が知られている。この絶縁抵抗計では、CPUが、例えばプローブを介して入力した電流値および供給電圧に基づいて被測定電気機器の抵抗値を測定し、測定した被測定電気機器の抵抗値と設定された基準値とを比較して、抵抗値が基準値よりも小さいときには被測定電気機器を不良品と判別してブザーを鳴動させる。したがって、この絶縁抵抗計では、基準値を予め設定しておくことで、被測定電気機器の良品・不良品の状態を報知することが可能となっている。
ところが、上記の絶縁抵抗計には、以下の改善すべき課題がある。すなわち、この絶縁抵抗計では、被測定電気機器の良品・不良品の状態が、測定された被測定電気機器の抵抗値と基準値との比較によって報知される。この場合、被測定電気機器とプローブとの接触不良が生じているときには、測定された抵抗値が無限大となって基準値以上になるため、ブザーは鳴動しない。このため、この絶縁抵抗計では、被測定電気機器が不良品であったとしても、接触不良が生じているときには、被測定電気機器が不良品である旨が報知されないおそれがある。したがって、被測定電気機器とプローブとの接触不良による不都合を改善するのが好ましい。 However, the above insulation resistance meter has the following problems to be improved. That is, in this insulation resistance meter, the state of the non-defective product or the defective product of the measured electrical device is notified by comparing the measured resistance value of the measured electrical device with the reference value. In this case, when a poor contact between the electric device to be measured and the probe occurs, the measured resistance value becomes infinite and exceeds the reference value, so the buzzer does not sound. For this reason, in this insulation resistance meter, even if the electric device to be measured is a defective product, there is a possibility that it is not notified that the electric device to be measured is a defective product when a contact failure occurs. Therefore, it is preferable to improve inconvenience due to poor contact between the electric device to be measured and the probe.
本発明は、かかる改善すべき課題に鑑みてなされたものであり、測定対象体との接触不良による不都合を回避し得る抵抗計を提供することを主目的とする。 The present invention has been made in view of such a problem to be improved, and a main object of the present invention is to provide an ohmmeter that can avoid inconvenience due to poor contact with a measurement object.
上記目的を達成すべく請求項1記載の抵抗計は、測定対象体に試験電圧を供給する電源部を備え、前記測定対象体の抵抗値を測定可能に構成された抵抗計であって、前記試験電圧が供給されているときに前記測定対象体に流れる電流の電流値の変動を検出して当該変動の大きさを示す検出信号を出力する検出部と、音出力部と、前記検出信号によって示される前記変動の大きさが予め規定された第1基準値に最初に達したときに一定の所定時間長で前記音出力部に音を出力させる処理部とを備えている。
In order to achieve the above object, the ohmmeter according to
また、請求項2記載の抵抗計は、請求項1記載の抵抗計において、前記処理部は、前記所定時間の経過時において前記変動の大きさが前記第1基準値以下の第2基準値を超えているときには当該変動の大きさが当該第2基準値以下になるまで前記音出力部に前記音を出力させる。
The ohmmeter according to
また、請求項3記載の抵抗計は、請求項2記載の抵抗計において、前記音出力部は、前記音の出力の経過時間に応じて周波数を変化させて当該音を出力する。
The ohmmeter according to
また、請求項4記載の抵抗計は、請求項1から3のいずれかに記載の抵抗計において、前記第1基準値と前記第2基準値とが同じ値に規定されている。
The ohmmeter according to claim 4 is the ohmmeter according to any one of
また、請求項5記載の抵抗計は、請求項1から4のいずれかに記載の抵抗計において、前記検出部は、前記測定対象体に流れる前記電流を検出して当該電流の電流値を示す信号を出力する電流検出回路と、当該電流検出回路から出力された前記信号を時間で微分することによって前記検出信号を生成する微分回路とを備えている。
The ohmmeter according to
請求項1記載の抵抗計では、処理部が、検出信号によって示される電流値の変動の大きさが第1基準値に最初に達したときに一定の所定時間長で音出力部に音を出力させる。この場合、例えばプローブを介して測定対象体に試験電圧を供給すると共に測定対象体に流れる電流を検出する際に、測定対象体とプローブとが正常に接触しているときには、高抵抗の測定対象体であっても(例えば絶縁抵抗計として用いるときには測定対象体が良品であっても)その内部容量を充電する充電電流が瞬間的に流れる。このため、検出信号によって示される電流値の変動の大きさがごく短時間の間だけ変化する。一方、測定対象体とプローブとの間で接触不良が生じているときには、測定対象体には電流が流れないため、検出信号によって示される電流値の変動の大きさが変化しない。したがって、この抵抗計によれば、充電電流によって生じる電流値の変動を検出することができるように第1基準値を設定することにより、測定対象体とプローブとが正常に接触しているときに限って一定の所定時間長で音を出力させることができるため、測定対象体との接触不良を確実に認識させることができる結果、接触不良に起因する不都合を確実に回避することができる。
The resistance meter according to
請求項2記載の抵抗計では、処理部が、所定時間の経過時において電流値の変動の大きさが第2基準値を超えているときには、変動の大きさが第2基準値以下になる時点まで音出力部に音を出力させる。この場合、測定対象体が低抵抗値であればあるほど(例えば絶縁抵抗計として用いるときには不良品であればあるほど)大きい電流値の電流が充電電流の他に測定対象体に流れるため、検出された電流の電流値の変動の大きさが第2基準値に達するまでの時間、つまり流れる電流の値が安定するまでの時間が長くなる。したがって、この抵抗計によれば、抵抗値が低いほど音の長さを長くして出力することになる結果、絶縁抵抗計として用いるときには、音の長さの違いを聞き分けることにより、測定対象体の不良の程度を確実かつ容易に把握することができる。
3. The resistance meter according to
請求項3記載の抵抗計では、音出力部が、音の出力の経過時間に応じて周波数を変化させて音を出力する。この場合、抵抗値が低いほど音の出力時間が長くなるため、測定対象体が低抵抗値であればあるほど(例えば絶縁抵抗計として用いるときには不良品であればあるほど)高い周波数(または低い周波数)から低い周波数(または高い周波数)の音までが音出力部によって出力される。したがって、この抵抗計によれば、音の周波数の変化を聞き分けることにより、測定対象体の不良の程度を一層確実かつ容易に把握することができる。
In the ohmmeter according to
請求項4記載の抵抗計によれば、第1基準値と第2基準値とを同じ値に規定したことにより、装置を簡易に構成することができる。 According to the resistance meter of the fourth aspect, the first reference value and the second reference value are defined to be the same value, so that the apparatus can be configured simply.
請求項5記載の抵抗計では、検出部に備えられた微分回路が、電流検出回路から出力された電流値を示す信号を時間で微分することにより、電流値の変動の大きさを示す検出信号を生成する。この場合、電流値を示す信号を微分することによって得られる値は、電流値の変化の速度を示す値となる。したがって、この抵抗計によれば、電流値の変動を確実に検出することができるため、測定対象体との接触不良を一層確実に認識させることができる。
6. The resistance meter according to
以下、添付図面を参照して、本発明に係る抵抗計の最良の形態について説明する。 The best mode of an ohmmeter according to the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.
最初に、本発明に係る抵抗計を適用した絶縁抵抗計1の構成について、添付図面を参照して説明する。
First, the configuration of an
絶縁抵抗計1は、図1に示すように、プローブP1,P2、電源部2、メータ4、検出部5、処理部6および音出力部7を備え、測定対象体100の絶縁抵抗値Rを測定可能に構成されている。この場合、測定対象体100は、内部抵抗101に加えて、一般的に内部容量102を有している。
As shown in FIG. 1, the
プローブP1,P2は、測定対象体100に供給(印加)するための直流の試験電圧(例えば数kV)Vtの供給用および後述する電流Itの検出用のプローブであり、絶縁抵抗値Rの測定の際に測定対象体100の両端にそれぞれ接触させられる。電源部2は、試験電圧Vtを生成して出力する。メータ4は、例えば、アナログ式のメータであり、測定された測定対象体100の絶縁抵抗値Rを指針の振れ角によって表示する。検出部5は、電流検出回路51および微分回路52を備えて構成されている。電流検出回路51は、検出抵抗(図示せず)を備え、試験電圧Vtが供給されているときに測定対象体100に流れる電流Itを検出して電流Itの電流値を示す電圧信号Vaを出力する。具体的には、電流検出回路51は、電流Itが流れたときに検出抵抗の両端に発生する電圧を電圧信号Vaとして出力する。この場合、電圧信号Vaは、検出抵抗の抵抗値が一定であるため、測定対象体100を流れる電流Itの電流値に比例する電圧値を示す。また、微分回路52は、電流検出回路51から出力された電圧信号Vaを時間で微分することによって電圧信号Vb(本発明の検出信号に相当する)を生成して出力する。この場合、電圧信号Vbは、電流Itの電流値を示す電圧信号Vaが時間で微分されることによって生成されており、時間に対する電流Itの電流値の変動の大きさを示す。
The probes P1 and P2 are probes for supplying a DC test voltage (for example, several kV) Vt to be supplied (applied) to the
処理部6は、比較回路61、タイマ回路62および加算回路63を備えて構成されている。比較回路61は、例えばコンパレータ(図示せず)を備えて構成されており、電圧信号Vbの電圧値が基準電圧値Vs(本発明における第1基準値および第2基準値に相当する)以上のときにハイ電圧の信号S1を出力し、電圧信号Vbの電圧値が基準電圧値Vs未満のときにロウ電圧の信号S1を出力する。この場合、基準電圧値Vsは、後述する充電電流Icが流れるときの電圧信号Vaの変動を検出可能な電圧値に設定されている。タイマ回路62は、信号S1がロウ電圧からハイ電圧となったときに一定の時間T1(本発明における所定時間)に亘ってハイ電圧の信号S2を出力する。加算回路63は、論理和回路であり、信号S1および信号S2のうちの少なくとも一方がハイ電圧のときにハイ電圧の信号S3を出力し、いずれもロウ電圧のときにロウ電圧の信号S3を出力する。
The processing unit 6 includes a
音出力部7は、例えば、発振回路71、増幅回路72およびスピーカ73を備えて構成されて、処理部6から出力される信号S3に従って音を出力する。発振回路71は、例えば、図5に示すように、処理部6から出力された信号S3がハイ電圧のときに、タイマ回路62から出力される信号S2の時間T1と同一時間に規定されている時間Taを経過するまでは一定の周波数F1の出力信号Soを出力し、その時間Taを経過した後には経過時間Tに応じて周波数F1から一定の変化率で周波数が低下する出力信号Soを出力する。なお、発振回路71から周波数F1の出力信号Soが出力される時間Taと、信号S2の時間T1とを異ならせることもできる。増幅回路72は、発振回路71から出力される出力信号Soを増幅してスピーカ73に出力し、スピーカ73は、出力信号Soに基づく音を出力する。
The sound output unit 7 includes, for example, an
次に、絶縁抵抗計1の使用方法について、図面を参照して説明する。
Next, the usage method of the
まず、図1に示すように、プローブP1,P2を測定対象体100に接続する。次いで、図示しない操作部の電圧値設定ボタンを操作することによって測定対象体100に供給する試験電圧Vtの電圧値を設定した後に、スタートボタンを操作する。
First, as shown in FIG. 1, the probes P <b> 1 and P <b> 2 are connected to the
これにより、電源部2が、設定された電圧値の試験電圧Vtを生成して、プローブP1,P2を介して測定対象体100に供給する。この場合、プローブP1,P2と測定対象体100との接触が正常であり、両者が電気的に接続されている状態のときには、測定対象体100の絶縁抵抗値R(内部抵抗101の抵抗値)の大小に拘わらず、内部容量102を充電する充電電流Icがごく短時間の間に流れる。このため、電流検出回路51が、充電電流Icを検出して電圧信号Vaとして出力する。ここで、絶縁抵抗値Rが大きいときには(測定対象体100が良品のときには)、内部抵抗101を電流Irが殆ど流れないため、電圧信号Vaは、例えば、図2(a)に示すように、その電圧値が瞬間的に上昇した後に徐々に低下する。この際に、微分回路52が、電圧信号Vaを微分して電圧信号Vbを出力する。この場合、絶縁抵抗値Rが大きいときには、同図(b)に示すように、微分回路52は、基準電圧値Vs以上となる時間が時間T1よりも短い電圧信号Vbを出力する。次いで、比較回路61が、電圧信号Vbの電圧値と基準電圧値Vsとを比較して、同図(c)に示すように、電圧信号Vbが基準電圧値Vs以上となる期間中に亘ってハイ電圧となる信号S1を出力する。続いて、タイマ回路62が、信号S1がロウ電圧からハイ電圧となった時点から時間T1に亘ってハイ電圧となる信号S2を出力する。
Thereby, the
次いで、加算回路63が、信号S1および信号S2を加算して、信号S1がハイ電圧となった時点から両信号S1,S2がいずれもロウ電圧になるまでの期間に亘ってハイ電圧となる信号S3を出力する。この場合、時間T1の経過後では、両信号S1,S2が共にロウ電圧となるため、加算回路63は、図2(d)に示すように、時間T1の間だけハイ電圧となる信号S3を出力する。次いで、音出力部7の発振回路71が、時間T1に亘って周波数F1の出力信号Soを出力する。この際に、増幅回路72が出力信号Soを増幅して時間T1の期間中において周波数F1の音を出力する。この結果、スピーカ73から音が出力されることにより、プローブP1,P2と測定対象体100との間に接触不良が生じておらず、かつその音の出力時間の長さに基づいて測定対象体100が良品であると判断することができる。なお、この際に、主として充電電流Icがごく短時間の間だけメータ4を流れる。したがって、メータ4の指針は、例えば、図6(a)に示すように、低抵抗値の目盛りの位置に向かって瞬間的に振れる。また、スピーカ71からは、時間T1に亘って例えばピッという音が出力される。次いで、メータ4の指針は、高抵抗値の目盛りの位置に向かって戻るようにして振れた後に、最後は無限大の抵抗値の目盛りを示した状態で停止する。
Next, the
一方、プローブP1,P2と測定対象体100との間で接触不良が生じておらず、かつ絶縁抵抗値Rがやや小さいときには(絶縁抵抗値Rが中位(測定対象体100がやや不良品)のときには)、内部容量102を充電する充電電流Icの他に、小さい電流値の電流Irが内部抵抗101を流れるため、電圧信号Vaは、例えば、図3(a)に示すように、その電圧値が瞬間的に上昇した後にやや低い電圧値で安定する。このため、微分回路52は、同図(b)に示すように、基準電圧値Vs以上になる時間が時間T1よりも長い電圧信号Vbを出力する。次いで、比較回路61が、同図(c)に示すように、電圧信号Vbが基準電圧値Vs以上となる期間中に亘ってハイ電圧となる信号S1を出力する。続いて、タイマ回路62が、信号S1がロウ電圧からハイ電圧となった時点から時間T1に亘ってハイ電圧となる信号S2を出力する。
On the other hand, when there is no contact failure between the probes P1 and P2 and the
次いで、加算回路63が、信号S1および信号S2を加算して、信号S1がハイ電圧となった時点から両信号S1,S2がいずれもロウ電圧になるまでの期間に亘ってハイ電圧となる信号S3を出力する。つまり、加算回路63は、図3(d)に示すように、時間T1と、時間T1の経過時点から両信号S1,S2がいずれもロウ電圧になるまでの時間Te1とを合計した時間T2に亘ってハイ電圧となる信号S3を出力する。次いで、発振回路71が、時間T2に亘って出力信号Soを出力する。この場合、発振回路71は、周波数F1の出力信号Soを時間T1(時間Ta)に亘って出力して、時間T1の経過後では、その後の経過時間Tの長さに応じて周波数Fが徐々に低下する出力信号Soを時間Te1に亘って出力する。この場合、図5に示すように、時間T2の経過時点における出力信号Soの最終的な周波数Fは、時間T2に対応する(時間Te1に対応する)周波数である周波数F2となる。この際には、増幅回路72が、出力信号Soを増幅して時間T1の期間中において周波数F1の音を出力した後に、時間Te1の期間中において周波数Fが周波数F2まで徐々に低下する音を出力する。この結果、スピーカ73から音が出力されることにより、プローブP1,P2と測定対象体100との間に接触不良が生じていないと判断することができる。さらに、その音の出力時間が時間T2であり、また周波数Fが周波数F2まで変化することにより、その音の出力時間の長さおよび周波数の変化に基づいて、測定対象体100の絶縁抵抗値Rが中位のため、やや不良品であると判断することができる。なお、この際には、充電電流Ic以外に小さい電流値の電流Irがメータ4を流れる。したがって、メータ4の指針は、例えば、低抵抗値の目盛りの位置に向かって瞬間的に振れた後にやや小さい抵抗値の目盛りを示した状態で停止する。
Next, the
また、プローブP1,P2と測定対象体100との間で接触不良が生じておらず、かつ絶縁抵抗値Rが小さいときには(測定対象体100が不良品のときには)、内部容量102を充電する充電電流Icの他に、大きい電流値の電流Irが内部抵抗101に流れるため、電圧信号Vaは、例えば、図4(a)に示すように、その電圧値が瞬間的に上昇した後にさらに上昇して高い電圧値で安定する。このため、微分回路52は、同図(b)に示すように、基準電圧値Vs以上となる時間が時間T2よりも長い電圧信号Vbを出力する。次いで、比較回路61が、同図(c)に示すように、電圧信号Vbが基準電圧値Vs以上となる期間中に亘ってハイ電圧となる信号S1を出力する。続いて、タイマ回路62が、信号S1がロウ電圧からハイ電圧となった時点から時間T1に亘ってハイ電圧となる信号S2を出力する。
Further, when no contact failure occurs between the probes P1 and P2 and the
次いで、加算回路63が、信号S1および信号S2を加算して、信号S1がハイ電圧となった時点から両信号S1,S2がいずれもロウ電圧になるまでの期間に亘ってハイ電圧となる信号S3を出力する。つまり、加算回路63は、図4(d)に示すように、時間T1と、時間T1の経過時点から両信号S1,S2がいずれもロウ電圧になるまでの時間Te2とを合計した時間T3に亘ってハイ電圧となる信号S3を出力する。次いで、発振回路71が、時間T3に亘って出力信号Soを出力する。この場合、発振回路71は、周波数F1の出力信号Soを時間T1(時間Ta)に亘って出力して、時間T1の経過後では、その後の経過時間Tの長さに応じて周波数Fが徐々に低下する出力信号Soを時間Te2に亘って出力する。この場合、図5に示すように、時間T3の経過時点における出力信号Soの最終的な周波数Fは、時間T3に対応する(時間Te2に対応する)周波数である周波数F3となる。この際には、増幅回路72が、出力信号Soを増幅して時間T1の期間中において周波数F1の音を出力した後に、時間Te2の期間中において周波数Fが周波数F3まで徐々に低下する音を出力する。この結果、スピーカ73から音が出力されることにより、プローブP1,P2と測定対象体100との間に接触不良が生じていないと判断することができる。さらに、その音の出力時間が時間T3であり、また周波数Fが周波数F2よりも低い周波数F3まで変化することにより、その音の出力時間の長さおよび周波数の変化に基づいて測定対象体100の絶縁抵抗値Rが小さいため、不良品であると判断することができる。なお、この際に、充電電流Ic以外に大きい電流値の電流Irがメータ4を流れる。したがって、メータ4の指針は、例えば、図6(b)に示すように、より低抵抗値の目盛りの位置に向かって振れ、さらに小さい抵抗値の目盛りの位置まで振れる。また、スピーカ71からは、時間T3に亘って例えば周波数が徐々に低下するピーという音が出力される。次いで、メータ4の指針は、その小さい抵抗値の目盛りを示した状態で停止する。
Next, the
一方、プローブP1,P2と測定対象体100との間に接触不良が生じているときには、測定対象体100の絶縁抵抗値R(内部抵抗101の抵抗値)の大小に拘わらず、測定対象体100には電流Itが流れない。このため、電流検出回路51が、電流Itの電流値がゼロアンペアであることを示す電圧信号Vaを出力する。この結果、電圧信号Vaが変化しないため、電圧信号Vbの電圧値はゼロボルトを示す。したがって、電圧信号Vbの電圧値が基準電圧値Vs以上とならないため、処理部6が出力信号Soを生成しない。このため、スピーカ73から音が出力されないため、プローブP1,P2と測定対象体100との間に接触不良が生じていると判断することができる。
On the other hand, when a contact failure occurs between the probes P1 and P2 and the
このように、この絶縁抵抗計1によれば、電圧信号Vbによって示される電流Itの電流値の変動の大きさが基準電圧値Vsに最初に達したときに時間T1に亘って音出力部7に音を出力させる処理部6を備えたことにより、プローブP1,P2と測定対象体100とが正常に接触しているときに限り、時間T1に亘って音を出力させることができる結果、測定対象体100との接触不良を確実に認識させることができる結果、接触不良に起因する不都合を確実に回避することができる。
As described above, according to the
また、この絶縁抵抗計によれば、処理部6が、時間T1の経過時において電圧信号Vbの電圧値が基準電圧値Vsを超えているときには電圧信号Vbの電圧値が基準電圧値Vs以下になる時点まで音出力部7に音を出力させることにより、絶縁抵抗値Rが低いほど音の長さを長くして出力することになる結果、音の長さの違いを聞き分けることによって測定対象体100の不良の程度を確実かつ容易に把握することができる Further, according to this insulation resistance meter, when the processing unit 6 determines that the voltage value of the voltage signal Vb exceeds the reference voltage value Vs when the time T1 has elapsed, the voltage value of the voltage signal Vb is less than or equal to the reference voltage value Vs. By outputting the sound to the sound output unit 7 until a certain point in time, the lower the insulation resistance value R, the longer the sound length is output. As a result, the object to be measured is identified by listening to the difference in sound length. The degree of 100 defects can be grasped reliably and easily.
また、この絶縁抵抗計1によれば、音出力部7が音の出力の経過時間Tに応じて周波数Fを変化させて音を出力することにより、音の周波数Fの変化を聞き分けることによって測定対象体100の不良の程度を一層確実かつ容易に把握することができる。
Further, according to the
また、この絶縁抵抗計1によれば、電流検出回路51から出力された電圧信号Vaを時間で微分することによって電圧信号Vbを生成する微分回路52を検出部5に備えたことにより、電流値の変動を確実に検出することができるため、測定対象体100との接触不良を一層確実に認識させることができる。
Further, according to the
なお、本発明は、上記の構成に限定されない。例えば、本発明における第1基準値と第2基準値とを同じ値に規定した例について説明したが、第1基準値と第2基準値とを異なる値に規定することもできる。例えば、図4に示すように、基準電圧値Vs2(本発明における第2基準値に相当する)を規定して、比較回路61が、同図(c)に破線で示すように、電圧信号Vbの電圧値が基準電圧値Vs以上のときにハイ電圧の信号S1の出力を開始し、電圧信号Vbの電圧値が基準電圧値Vs2以下となる時点でハイ電圧の信号S1の出力を停止する。この結果、加算回路63が、信号S1および信号S2を加算して、同図(d)の破線で示すように、時間T1と、時間T1の経過時点から両信号S1,S2がいずれもロウ電圧になるまでの時間Te2とを合計した時間T3に亘ってハイ電圧となる信号S3を出力する。この構成においても、上記した効果を同様に奏することができる。ただし、第1基準値と第2基準値とを同じ値に規定することで、絶縁抵抗計1を簡易に構成することができる。
In addition, this invention is not limited to said structure. For example, although the example in which the first reference value and the second reference value are defined as the same value in the present invention has been described, the first reference value and the second reference value can be defined as different values. For example, as shown in FIG. 4, a reference voltage value Vs2 (corresponding to the second reference value in the present invention) is defined, and the
また、ブザーなどの音を出力する音響素子を用いて本発明における音出力部を構成することもできる。この構成では、加算回路63から出力された信号S3を駆動信号として音出力部内の音響素子を鳴動させる。この構成においても、出力される音の長さの違いによって測定対象体100の良品・不良品の状態を容易に判別することができる。また、アナログ式のメータ4に代えてデジタル式のメータで測定値を表示する構成の抵抗計に本発明を適用することもできる。この構成では、連続して測定した電流Itについての電流値の差分値を検出信号とし、その差分値が第1基準値に最初に達したときに時間T1に亘って音出力部7に音を出力させると共に、時間T1の経過時において差分値が第2基準値を超えているときにはその差分値が第2基準値以下となる時点まで音出力部7に音を出力させることにより、上記した効果と同様の効果を奏することができる。さらに、本発明は、絶縁抵抗計1に限らず、マルチメータなどの抵抗計にも適用可能である。
In addition, the sound output unit according to the present invention can be configured using an acoustic element that outputs a sound such as a buzzer. In this configuration, the acoustic element in the sound output unit is caused to ring using the signal S3 output from the
1 絶縁抵抗計
2 電源部
5 検出部
6 処理部
7 音出力部
51 電流検出回路
52 微分回路
100 測定対象体
F 周波数
It 電流
So 出力信号
T1 時間
Va,Vb 電圧信号
Vs 基準電圧値
Vs2 基準電圧値
Vt 試験電圧
DESCRIPTION OF
Claims (5)
前記試験電圧が供給されているときに前記測定対象体に流れる電流の電流値の変動を検出して当該変動の大きさを示す検出信号を出力する検出部と、音出力部と、前記検出信号によって示される前記変動の大きさが予め規定された第1基準値に最初に達したときに一定の所定時間長で前記音出力部に音を出力させる処理部とを備えている抵抗計。 A resistance meter comprising a power supply for supplying a test voltage to a measurement object, and configured to be able to measure the resistance value of the measurement object,
A detection unit that detects a change in the current value of the current flowing through the measurement object when the test voltage is supplied and outputs a detection signal indicating the magnitude of the change, a sound output unit, and the detection signal And a processing unit that causes the sound output unit to output a sound for a predetermined length of time when the magnitude of the variation indicated by is first reached a first reference value defined in advance.
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