JP2008098252A - 太陽電池の特性評価用の情報処理装置、太陽電池の特性評価用プログラム、太陽電池の特性評価システム - Google Patents

太陽電池の特性評価用の情報処理装置、太陽電池の特性評価用プログラム、太陽電池の特性評価システム Download PDF

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壽一 長谷川
Tadashi Kato
加藤  正
Hidetaka Suzuki
秀爵 鈴木
Yoshihiro Hishikawa
善博 菱川
Kanehito Otani
謙仁 大谷
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Abstract

【課題】太陽電池の特性評価の精度を向上させること。
【解決手段】少なくとも演算部及び記憶部を含み、太陽電池の特性値の計測データを用いた情報処理を行う情報処理装置であって、前記演算部が、(a)太陽電池に関する特性であって、互いに相関する第1特性値及び第2特性値を含む計測データを取得すること、(b)前記計測データに基づき、第1の近似関数を求めること、(c)前記第1の近似関数に基づき、誤差として許容されるべき有効範囲を設定すること、(d)前記有効範囲内に含まれない前記計測データを除外し、当該有効範囲内に含まれる前記計測データを抽出すること、を含む、太陽電池の特性評価用の情報処理装置である。
【選択図】図8

Description

本発明は、太陽電池の特性を評価するための技術に関する。
現在、地球環境問題や資源の枯渇問題を改善するために太陽電池が注目されている。その太陽電池の性能を表す指数には、短絡電流Isc、開放電圧Voc、最大電力点Pmax、曲線因子FF、変換効率n、最適動作電圧Vpm、最適動作電流Ipm があり、太陽電池を評価する際にこれらの値が必要になる。これらの性能指数はJIS8953に示されるように、屋外において太陽電池の電流電圧出力特性(I−V特性)を計測することによって得ることができる。
一般に太陽電池の電流電圧出力特性は、日射強度(放射照度)と温度(太陽電池の裏面温度)によって大きく変化する。また、結晶シリコン太陽電池やCIGS(銅-インジウム-ガリウム-セレン)太陽電池では、ある数値範囲内の短絡電流Isc内で、開放電圧Vocと最大電力Pmax(変換効率n)の関係や、開放電圧Vocと曲線因子FFの関係は、それぞれ、理論的には1対1の関係、すなわち線形関係になる。しかし、日射強度の変動や風速等による太陽電池セル温度のばらつき、太陽光スペクトル分布変動が誤差要因として重なり、最大電力点Pmax、曲線因子FFがある範囲内でばらつく。更にこれらの値は、時として大きな誤差を有する場合がある。このような不都合に対し、従来は、日射変動が大きい時間帯(時刻)のデータを取り除く方法がとられていたが、曇天日に取得したデータ数が大幅に減少するという点であまり好ましくなかった。また、日陰の影響による計測装置の誤作動に起因する誤差は、従来の方法では除くことが困難であった。更に、アモルファスシリコン太陽電池、色素増感太陽電池、有機薄膜太陽電池を対象とした場合には、上記した開放電圧Vocと最大電力Pmax(変換効率n)の関係や、開放電圧Vocと曲線因子FFの関係は、これらの関係は必ずしも1対1(線形)に対応しないため、誤差を除くことが一層困難となる。
また、太陽電池の特性を測定する場合、日射強度と太陽電池の裏面温度を計測する必要があり、日射計や温度計(熱電対、白金抵抗)を用いているが、コストもかかり、熱電対や白金抵抗を太陽電池の裏面に貼り付ける必要があり作業が煩雑であった。
大関,他:「太陽光発電における計測データの品質診断方法」,Journal of JSES,Vol.30,No.6,pp.47-55(2004)
本発明に係る具体的態様は、太陽電池の特性評価の精度を向上させる技術を提供することを目的とする。
また、本発明の他の具体的態様は、太陽電池の温度特性及び日射特性を利用して、電流電圧出力特性を用いて日射強度および太陽電池の裏面温度を推定する技術を提供することを目的とする。
本発明に係る情報処理装置は、少なくとも演算部及び記憶部を含み、太陽電池の特性値の計測データを用いた情報処理を行う情報処理装置であって、
上記演算部が、
(a)太陽電池に関する特性であって、互いに相関する第1特性値及び第2特性値を含む計測データを取得すること、
(b)上記計測データに基づき、第1の近似関数を求めること、
(c)上記第1の近似関数に基づき、誤差として許容されるべき有効範囲を設定すること、
(d)上記有効範囲内に含まれない上記計測データを除外し、当該有効範囲内に含まれる上記計測データを抽出すること、
を含む。
好ましくは、上記ステップ(a)は、相互に通信可能に接続された外部装置から上記計測データを取得する。
好ましくは、上記ステップ(a)は、上記記憶部に格納された上記計測データを読み出すことにより、当該計測データを取得する。
好ましくは、上記ステップ(b)における上記第1の近似関数が1次関数である。なお、2次関数又はそれ以上の高次関数であってもよい。
好ましくは、
上記ステップ(c)は、
上記計測データの各々について、上記第1の近似曲線との距離を算出すること、
算出された上記距離について標準偏差σを求めること、
上記標準偏差に基づき、±σまたはこれの定数倍の範囲を上記有効範囲として設定すること、
を含み、
上記ステップ(d)は、
上記標準偏差に基づく上記有効範囲内に含まれる上記計測データを抽出する。
好ましくは、
上記ステップ(b)で求められた上記第1の近似関数をY=αX+β(Xは上記第1特性値、Yは上記第2特性値をそれぞれ表す。)とすると、
上記ステップ(c)は、
上記近似関数に対し、上記βから一定値だけ増加させた値β1及び上記βから一定値だけ減じた値β2をそれぞれ設定すること、
上記β1及びβ2を用いて表される第2の近似関数Y=αX+β1及び第3の近似関数Y=αX+β2に挟まれた範囲を上記有効範囲と設定すること、
を含み、
上記ステップ(d)は、上記第2の近似関数Y=αX+β1及び上記第3の近似関数Y=αX+β2に基づく上記有効範囲内に含まれる上記計測データを抽出する。
好ましくは、
(e)上記ステップ(d)において抽出される、上記有効範囲内に含まれる上記計測データに基づいて第4の近似関数を求めること、
(f)上記第2特性値を指定し、上記第4の近似関数を用いて上記第1特性値の推定値を算出すること、
を更に含む。
本発明に係るプログラムは、少なくとも演算部及び記憶部を含むコンピュータによって実行され、太陽電池の特性値の計測データを用いた情報処理を行わせるためのプログラムであって、
上記演算部に、
(a)太陽電池に関する特性であって、互いに相関する第1特性値及び第2特性値を含む計測データを取得するステップと、
(b)上記計測データに基づき、第1の近似関数を求めるステップと、
(c)上記第1の近似関数に基づき、誤差として許容されるべき有効範囲を設定するステップと、
(d)上記有効範囲内に含まれない上記計測データを除外し、当該有効範囲内に含まれる上記計測データを抽出するステップと、
を実行させることを特徴とするプログラムである。
好ましくは、上述のプログラムは、
上記演算部に、
(e)上記ステップ(d)において抽出される、上記有効範囲内に含まれる上記計測データに基づいて第4の近似関数を求めるステップと、
(f)上記第2特性値を指定し、上記第4の近似関数を用いて上記第1特性値の推定値を算出するステップと、
を更に実行させる。
本発明に係る他の態様の情報処理装置は、少なくとも演算部及び記憶部を含み、太陽電池の特性値の計測データを用いた情報処理を行う情報処理装置であって、
上記演算部が、
(a)太陽電池に関する特性であって、互いに相関する第1特性値及び第2特性値を含む計測データを取得すること、
(b)上記計測データに基づき、近似関数を求めること、
(c)上記第2特性値を指定し、上記近似関数を用いて上記第1特性値の推定値を算出すること、
を含む。
本発明に係る他の態様のプログラムは、少なくとも演算部及び記憶部を含むコンピュータによって実行され、太陽電池の特性値の計測データを用いた情報処理を行わせるためのプログラムであって、
上記演算部に、
(a)太陽電池に関する特性であって、互いに相関する第1特性値及び第2特性値を含む計測データを取得するステップと、
(b)上記計測データに基づき、近似関数を求めるステップと、
(c)上記第2特性値を指定し、上記近似関数を用いて上記第1特性値の推定値を算出するステップと、
を実行させることを特徴とする。
本発明に係る太陽電池の特性評価システムは、
太陽電池に関する特性であって、互いに相関する第1特性値及び第2特性値を含む特性値を計測する特性評価装置と、
上記特性評価装置と相互に通信可能に接続された情報処理装置と、
を含んで構成される。そして、情報処理装置として、上述の本発明に係る情報処理装置が用いられることを特徴とする。
以下、本発明の実施の形態について図面を参照しながら説明する。
図1は、一実施形態の太陽電池モジュールの特性評価システムの構成を説明する図である。図1に示す特性評価システム100は、太陽電池モジュール200の特性評価を行うためのものであり、特性評価装置10、コンピュータ12、温度計14、20、日射計16、リファレンスセル18、を含んで構成される。
特性評価装置10は、配線を介して太陽電池モジュール200と接続されており、太陽電池モジュールの特性を評価し、その結果を表示する。この特性評価装置10は、例えば、USB(universal Serial Bus)などの有線又は無線の通信手段を用いてコンピュータ12と接続されており、計測した特性値や評価結果などをコンピュータ12へ転送することができる。本実施形態の特性評価装置10は、手に持つことができる程度の大きさであり、電池を装填することにより、外部からの電源供給を受けることなく動作可能である。また、特性評価装置10は、表示部を備えており、コンピュータ12等の外部装置による動作制御を受けることなく、単独で太陽電池モジュール200の特性値の計測、評価及び表示を行うことができる。特性評価装置10の構成や動作の詳細については更に後述する。
コンピュータ12は、例えば汎用的なパーソナルコンピュータであり、特性評価装置10から取得したデータの集計、分析、表示等の情報処理を行う。なお、コンピュータ12を用いて特性評価装置10の動作を制御してもよい。また、コンピュータ12に備わった表示部を用いて、特性評価装置10による特性評価結果の内容を表示してもよい。
温度計14は、太陽電池モジュール200の裏面側に配置され、当該裏面側の温度を検出するために用いられる。ここで「裏面側」とは、太陽電池モジュール200の受光面(太陽光を受けるべき面)と反対側の面である。温度計14としては、例えば熱電対が用いられる。温度計14は、例えば太陽電池モジュール200の裏面の中央付近に設置される。温度計14による検出信号(温度検出結果)は配線を介して特性評価装置10に入力される。
日射計16は、太陽光の入射状態が太陽電池モジュール200と同条件になるように、例えば、太陽電池モジュール200に近接する位置に設置される。日射計16としては、例えば全天日射計が用いられる。日射計16による検出信号(日射検出結果)は配線を介して特性評価装置10に入力される。
リファレンスセル18は、日射計16と同様に設置され、用いられる。リファレンスセル18による検出信号は配線を介して特性評価装置10に入力される。リファレンスセル18としては、特に被測定太陽電池と特性の揃ったものを使用することにより、より正確な基準状態への換算を行うことができる。
温度計20は、太陽電池モジュール200に近接する位置に設置され、外気温の検出に用いられる。温度計20としては、例えば放射温度計が用いられる。温度計14による検出信号(温度検出結果)は配線を介して特性評価装置10に入力される。
ワイヤレスセンサー変換器22は、各温度計14、20、日射計16、リファレンスセル18のそれぞれの出力信号を無線通信用信号に変換し、特性評価装置10へ送信する。このワイヤレスセンサー変換器22は、オプションとして用意されているものであり、省略されてもよい。無線通信を利用することにより、各温度計14、20、日射計16、リファレンスセル18のそれぞれと特性評価装置10との間に配線が不要となり、より一層、特性評価がしやすくなる利点がある。
図2は、太陽電池モジュール200の回路構成例について説明する図である。各太陽電池パネル201は、1つ又は複数の太陽電池を含んで構成される。各パネル群202a、202bは、それぞれ複数の太陽電池パネル201を直列に接続して構成される。これらのパネル群202a、202bを並列に接続して構成される。本実施形態の太陽電池モジュール200は、上記のように2つのパネル群202a、202bを並列接続して構成したモジュールを1つ又は複数含んで構成される。特性評価装置10は、このモジュールの両端に接続されて電圧、電流を計測する。なお、太陽電池モジュール200の回路構成はこれに限定されるものではない。
次に、特性評価装置10について更に詳細に説明する。
図3は、特性評価装置10の機能について概略的に説明する図である。図3では、特性評価装置10の表示部における表示画面例が示されている。本実施形態の特性評価装置10は、太陽電池モジュール200について、(1)電流−電圧特性(I−V特性)を計測する機能、(2)電力−電圧特性(P−V特性)を計測する機能、(3)電流−時間特性(I−T特性)を計測する機能、(4)電圧−時間特性(V−T特性)を計測する機能、を備えている。そして、図3(A)はI−V特性の表示例、図3(B)はP−V特性の表示例、図3(C)はI−T特性の表示例、図3(D)はV−T特性の表示例、図3(E)は数値データの表示例、をそれぞれ示している。
ここで、太陽電池の等価回路を図4に示す。図4に示す太陽電池パネル201について、負荷(Z)を変化させながら負荷の両端の電圧vを電流iを計測することによりI−V特性が得られる。電圧と電流の積算値が電力であるから、この電力値が最大となるところで太陽電池を動作させると、効率のよい使い方になる。本実施形態の特性評価装置10は、このI−V特性を計測し、そのデータからP−V特性を算出することによって最大出力電力Pmaxを算出する。
図5は、特性評価装置10の詳細構成を説明するためのブロック図である。図5に示す特性評価装置10は、CPU(Central Processing Unit)30、アナログ−デジタル変換器(A/D)32、48、50、液晶表示部(LCD)34、容量素子(コンデンサ)36、抵抗素子38、トランジスタ40、42、オペアンプ44、46、メモリ52、を含んで構成されている。
CPU30は、特性評価装置10の全体の動作を制御する。CPU30の詳細については更に後述する。
アナログ−デジタル変換器32は、温度計14の出力信号(太陽電池裏面温度)、日射計16の出力信号、温度計20の出力信号(外気温度)、リファレンスセルの出力信号のそれぞれをデジタル信号に変換する。デジタル信号はCPU30に入力される。
液晶表示部34は、CPU30から画像信号が供給され、当該画像信号に対応する画像を表示する。表示内容の具体例は上述した通りである(図3参照)。なお、液晶以外の表示デバイス(例えば、エレクトロルミネッセンス装置、電気泳動装置等)を用いて表示部が構成されていてもよい。
容量素子36と抵抗素子38とは、図示のように直列に接続され、太陽電池モジュール200の出力端(+、−)の間に接続されている。本実施形態の特性評価装置10は、容量素子36を負荷として用い、この容量素子36の充電/放電を利用して太陽電池パネルのI−V特性等の各種特性を計測する。
トランジスタ40は、ゲートがCPU30と接続され、ソース、ドレインが容量素子36の両端にそれぞれ接続されている。このトランジスタ40は、CPU30からゲートに供給される制御信号を受けてオン状態とオフ状態が切り替わる。
トランジスタ42は、ゲートがCPU30と接続され、ソース−ドレイン経路が容量素子36と抵抗素子38との間に直列に接続されている。このトランジスタ42は、CPU30からゲートに供給される制御信号を受けてオン状態とオフ状態が切り替わることにより、容量素子36と抵抗素子38からなる電流経路を開閉するスイッチとして機能する。
オペアンプ44は、特性評価装置10の一方の入力端(+)に表れる電圧を増幅する。増幅された電圧信号はアナログ−デジタル変換器48によってデジタル信号に変換され、CPU30に取り込まれる。
オペアンプ46は、抵抗素子38の一方端(特性評価装置の他方の入力端と接続されていない側の端子)に表れる電圧を増幅する。増幅された電圧信号はアナログ−デジタル変換器50によってデジタル信号に変換され、CPU30に取り込まれる。
メモリ52は、CPU30が太陽電池モジュール200の特性評価を行うために必要な各種データを格納する。このメモリ52としては、例えばROM(Read Only Memory)や、データ保持及び書き換えの可能な不揮発性RAM、或いはハードディスク装置などが挙げられる。ここで、本実施形態の特性評価装置10は、予めメモリ52に格納しておいた基準特性のデータと、太陽電池モジュール200から取得したI−V特性のデータとをフィッティングすることにより、特性評価を行う。また、メモリ52には、上記の基準特性のデータのほか、計測されたI−V特性のデータも格納される。メモリ52は、例えば、I−V特性のデータを300セット程度格納できる。
図6は、電流−電圧特性(I−V特性)及び電力−電圧特性(P−V特性)について詳細に説明する図である。太陽電池のI−V特性とは、太陽電池に光をあて、負荷の電圧を変化させたときに、太陽電池の出力端から得られる電流と電圧の特性をいう。また、太陽電池のP−V特性とは、太陽電池に光をあて、負荷の電圧を変化させたときに、太陽電池の出力端において得られる電力(電流と電圧の積)の特性をいう。図6に示すように、太陽電池の性能を評価する重要なパラメータとしては、短絡電流Isc、開放電圧Voc、最大出力電力Pmax、最大出力電力時の電圧Vpmaxなどがある。短絡電流Iscとは、太陽電池の出力端を短絡させたときに流れる電流をいう。この短絡電流Iscの値に基づき、その太陽電池がどれだけ電流を流す能力があるかを評価できる。開放電圧Vocとは、太陽電池の出力端に負荷を接続しない状態(無負荷状態)にしたときの電圧をいう。この開放電圧Vocの値に基づき、その太陽電池がどれだけ電圧を発生する能力があるかを評価できる。最大出力電力Pmaxは、I−V特性の曲線上において電流と電圧の積である電力Pを演算し、電力が最大となる点の出力値をいう。
図7は、上述した図1に示したコンピュータ12の詳細な構成例を示すブロック図である。上記のように、このコンピュータ12と太陽電池の特性評価装置10との相互間の接続には、例えばUSB、IEEE1394、RS−232C等の通信規格に適応した通信ケーブルが用いられる。コンピュータ12は、例えば汎用的なパーソナルコンピュータ(ノートブック型、デスクトップ型などのいずれでもよい)であり、演算部としてのCPU61、記憶部としてのROM62、RAM63、メディアドライブ64及びハードディスクドライブ(HDD)65、操作部66、表示部67、通信インタフェース(IF)68、を含んで構成される。このコンピュータ12は、予めインストールされ、HDD65に記憶されている所定のプログラムがRAM64に読み込まれ、当該プログラムがCPU51によって実行されることにより、太陽電池の特性評価に適した情報処理装置として機能する。具体的には、通信IF68を介して特性評価装置10から取得したデータを用いて各種の演算が行われる。演算内容については後述する。上記のメディアドライブ64は、例えばCD或いはDVD等の光学ディスクに対する情報の読み出し/書き込み可能なディスクドライブからなる。
本実施形態に係る太陽電池モジュールの特性評価システム及びこれに含まれる太陽電池の特性評価装置10は上記のような構成を有しており、次に、当該システムのコンピュータ12において行われる情報処理の内容について詳細に説明する。具体的には、この情報処理は、コンピュータ12内のCPU61が所定のプログラムをROM62或いはHDD65から読み出し、当該プログラムを実行することによって実現される。
(A)特異なデータを除去する処理について
図8は、計測データ中から特異なデータを除去する処理の手順を示すフローチャートである。図9は、計測データの具体例を示すグラフである。図9では計測データの一例として、多結晶太陽電池モジュールの太陽電池裏面温度T(第1特性値)と太陽電池の最大電力値Pm(第2特性値)の関係の計測データが示されている。なお、この計測データは、太陽電池の短絡電流値Iscが1.95A〜2.00A(約1.3%)の範囲内に含まれるデータのみを抽出したものである。図9を見てみると、各温度に対して最大電力値Pmは、概ね比例関係にあることがわかる。しかし、屋外における計測では、図9において円で囲み「a」と示しているデータのように、大きく誤差が生じるデータ(特異なデータ)が含まれる場合がある。これは屋外環境条件の変動や測定器異常の際の影響と考えられるが、このようなデータが混一した場合の解析は望ましくない。この様なことから、計測データに基づいて近似関数を求め、更にこの近似関数に基づいて一定の幅を有する許容誤差範囲を設定し、との許容誤算範囲から外れるデータについては、特異なデータと判断し、除去する。以下にその具体的な内容を説明する。
CPU61は、利用者が操作部66を用いて行う操作指示に基づいて、許容誤差の指定方法を選択する(ステップS100)。具体的には、本実施形態では許容誤差の指定のバリエーションとして、(a)標準偏差を利用する方法、(b)短絡電流Iscの選定範囲誤差に基づく方法、(c)太陽電池の裏面温度Tの測定誤差に基づく方法、(d)日射変動量に基づく方法、(e)電流−電圧特性の計測時における測定装置の計測精度に起因する誤差(装置誤差)に基づく方法、があり、利用者がいずれかを指定できる。以下では、例として上記(a)の方法が選択された場合を想定して説明する。なお、他の(b)〜(e)の方法の詳細については後述する。
次に、CPU61は、太陽電池の特性評価装置10から太陽電池の特性の計測データを取得する(ステップS101)。計測データの一例としては、上記したように太陽電池の裏面温度Tと最大電力値Pmとの関係を示す計測データがある。この計測データは、特性評価装置10からリアルタイムに取得される場合の他、予め取得したものをRAM63あるいはHDD65に格納しておき、当該格納しておいた計測データをCPU61が読み出すことによって取得されてもよい。
次に、CPU61は、特定のパラメータ値を範囲指定して、その範囲内に含まれるデータを抽出する(ステップS102)。特定のパラメータ値の範囲は、例えば利用者が操作部66を用いて行う操作指示に基づいて指定されるが、ROM62或いはHDD65に格納されたデータに基づいて指定されてもよい。特定のパラメータ値の一例として、本実施形態では短絡電流値Iscを考える。具体的には、上記ステップS101において取得した太陽電池の裏面温度Tと最大電力値Pmとの関係の全計測データのうち、各計測データが得られた際の太陽電池の短絡電流値Iscが一定の範囲に入るものだけが抽出される。短絡電流値Iscの範囲は、上記のように、例えば1.95A〜2.00A(約1.3%)の範囲内に設定される。
次に、CPU61は、上記ステップS102において抽出した計測データに基づき、近似関数(第1の近似関数)を求める(ステップS103)。この近似関数を求めた例が図9に実線で示されている。ここでは、一般式Y=αX+βで表される1次関数に直線近似をしている。本例では、太陽電池の裏面温度Tと最大電力値Pmとの関係がPm=αT+βという形で直線近似される。ここでαは傾き、βは切片である。なお、近似関数を求める対象とする計測データの特性によっては、1次関数ではなく、より高次の近似関数(2次関数など)を求めてもよい。
次に、CPU61は、上記ステップS103で求めた近似関数に基づいて、ステップS100において選択された許容誤差の指定方法により、誤差として許容されるべき範囲(以下「有効範囲」と呼ぶ)を設定する(ステップS104)。ここでは、上記したように標準偏差を利用する方法について説明する。図10は、図9に示した近似関数の部分拡大図である。図10に示すように、まず、各計測データについて近似曲線との距離を算出する。すなわち、ある太陽電池の裏面温度Tに対して近似関数から得られる計算値としての電力最大値をPmとすると、この計算値Pmと実測値Pm′との差を求める。図10では各実測値Pm′が黒点により示され、これら各黒点と近似関数との距離が矢印によって示されている。次に、各計測データと近似曲線との距離について標準偏差σを求める。標準偏差σは周知の方法を採用して求められる。簡単に説明すると、まず距離についての全データの平均値を求める。次に、個々の距離の値と平均値とのずれ(偏差)を求める。次に、偏差の2乗の総和を求め、これをデータ数で除算する。これにより分散σ2が得られる。この分散の値の平方根を求めることにより標準偏差σが得られる。この標準偏差σを用いて上記の有効範囲を設定する。例えば、±1標準偏差(±σ)の範囲内を上記の有効範囲としたり、±2標準偏差(±2σ)の範囲を上記の有効範囲とすることができる(図11参照)。もちろん、これらの中間的な範囲(例えば、±1.5σなど)を有効範囲と設定してもよい。すなわち、標準偏差σを定数倍したものであればよい。
次に、CPU61は、上述したステップS104において設定した有効範囲内に含まれない計測データを除外し、有効範囲内のデータのみを抽出する(ステップS105)。これにより、大きな誤差を含むデータ等の特異なデータが除外された、より精度の高い計測データが得られる。
なお、有効範囲の設定方法については、以下のような方法も採用し得る。上記のように、有効範囲の設定方法には、(b)短絡電流Iscの選定範囲誤差に基づく方法、(c)太陽電池の裏面温度Tの測定誤差に基づく方法、(d)日射変動量に基づく方法、(e)電流−電圧特性の計測時における測定装置の計測精度に起因する誤差(装置誤差)に基づく方法、がある。
(b)の短絡電流Iscの選定範囲誤差に基づく方法とは、短絡電流Iscを範囲指定したときの値の誤差を有効範囲とする方法である。すなわち、a≦Isc≦bの範囲を指定している場合、許容可能な誤差を±(b−a)/aとする。上記のようにIscを1.95A〜2.00Aの範囲で指定した場合には、許容可能な誤差は±(2.00-1.95)/1.95≒±0.026、すなわち±2.6%となる。この数値を用いて、上記の近似関数に基づいて有効範囲を設定できる。具体的には、上記したPm=αT+βという近似関数に対し、許容可能な誤差の値に基づいて切片βを上下にずらした値β1、β2をそれぞれ設定する。β1、β2はそれぞれ、β1=β+0.026β=1.026β、β2=β-0.026β=0.974β、と設定される。それにより、近似関数Pm=αT+βを挟む各近似関数Pm=αT+β1(第2の近似関数)、Pm=αT+β2(第3の近似関数)、が得られる。これらの近似関数の例が図12において点線で示されている。これらの近似関数Pm=αT+β1、Pm=αT+β2に挟まれた範囲を本実施形態における有効範囲とする。
(c)の太陽電池の裏面温度Tの測定誤差に基づく方法とは、太陽電池の裏面温度Tを測定する際に、温度センサが外れた場合を除き、温度センサを正しく取り付けたと考えていても、真値と実測値とに誤差が生じていることが考えられる。この温度誤差の最大値を推定し、得られたデータの最高温度からの割合を求め、その割合を有効範囲とする。例えば、温度誤差の最大値を2℃と推定した場合であれば、計測データ中の裏面温度Tの最高値が60℃であるとすると、±2/60≒±0.033、すなわち±3.3%となる。この数値を用いて、上記(b)の場合と同様にβ1、β2を算出し、近似関数に基づく有効範囲を設定する。
(d)の日射変動量に基づく方法とは、短絡電流Iscを範囲指定したときに、この範囲指定された短絡電流Iscに対応する日射強度の最大値a[kW/m2]、最小値b[kW/m2]に基づいて有効範囲を求める方法である。すなわち、短絡電流や最大電力値を計測する場合、その際の日射強度も併せて計測されており、これらのデータが関連付けられて、太陽電池の特性評価装置10からコンピュータ12へ引き渡されるので、このデータが用いられる。具体的な方法は上記(b)の場合に準ずるのでここでは詳細な説明を省略する。
(e)の電流−電圧特性の計測時における測定装置の計測精度に起因する誤差(装置誤差)に基づく方法とは、太陽電池の特性計測装置10の測定精度を考慮するものである。例えば、太陽電池の特性評価装置10が種々の特性値を計測する際における測定精度が±0.5%であったとする、この数値を用いて、上記(b)の場合と同様にβ1、β2を算出し、近似関数に基づく有効範囲を設定する。
(B)太陽電池の裏面温度及び日射強度を推定する処理について
上記のようにして特異なデータを除去した後の計測データを用いることにより、太陽電池の裏面温度及び日射強度を推定することができる。その詳細について以下に説明する。
図13は、太陽電池の裏面温度等を推定する処理手順を示すフローチャートである。まず、CPU61は、上述した処理によって得られ、RAM63或いはHDD65に格納されている、特異なデータを除去した後のデータをRAM63或いはHDD65から読み出す(ステップS201)。
次に、CPU61は、上記ステップS201で読み出したデータを用いて近似関数(第4の近似関数)を求める(ステップS202)。この具体例を図14及び図15に示す。図14は、太陽電池の裏面温度Tと最大電力値Pmとの関係についての近似関数を示す。図15は、日射強度Irrと最大電力値Pmとの関係についての近似関数である。なお、日射強度と最大電力値との関係の計測データについても、上記した処理によって特異データが除去されている。
次に、CPU61は、利用者により操作部66を用いて行われる指示入力に基づいて、太陽電池の特性値を指定する(ステップS203)。例えば、利用者は、太陽電池の特性を測定することによって得られた最大電力値を指定する。
次に、CPU61は、ステップS202で求めた近似関数と、ステップS203で指定された特性値とに基づいて、太陽電池の裏面温度および日射強度を算出する(ステップS204)。具体的には、図14に示す近似関数に対して太陽電池の最大電力値を代入することにより、その電力値に対応する太陽電池の裏面温度を算出できる。この算出結果を太陽電池の裏面温度の推定値として利用できる。すなわち、予め太陽電池の裏面温度と最大電力値との関係を計測して近似関数を求めておけば、以後は、太陽電池の最大電力値を計測することにより、その計測時の裏面温度を推定できることになる。同様に、図15に示す近似関数に対して太陽電池の最大電力値を代入することにより、その電力値に対応する日射強度を算出できる。この算出結果を実際の日射強度の推定値として利用できる。すなわち、予め日射強度とと最大電力値との関係を計測して近似関数を求めておけば、以後は、太陽電池の最大電力値を計測することにより、その計測時の日射強度を推定できることになる。それらにより、太陽電池の特性評価装置10を用いて自動的に太陽電池の特性値を計測する際に、それに連動して日射強度や太陽電池の裏面温度を計測することが不要となり、太陽電池の計測に要する労力を大幅に軽減することができる。
なお、本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨の範囲内において種々に変形して実施することが可能である。例えば、上述した実施形態の特性評価装置10は、I−V特性の検出方法としてコンデンサ負荷方式を採用していたが、検出方法はこれに限定されるものではなく、X−Yレコーダ方式、バイアス電源方式、電子負荷方式など種々の方式を採用し得る。
一実施形態の太陽電池モジュールの特性評価システムの構成を説明する図である。 太陽電池モジュールの回路構成例について説明する図である。 特性評価装置の機能について概略的に説明する図である。 太陽電池の等価回路を示す図である。 特性評価装置の詳細構成を説明するためのブロック図である。 電流−電圧特性(I−V特性)及び電力−電圧特性(P−V特性)について詳細に説明する図である。 図1に示したコンピュータの詳細な構成例を示すブロック図である。 計測データ中から特異なデータを除去する処理の手順を示すフローチャートである。 計測データの具体例を示すグラフである。 図9に示した近似関数の部分拡大図である。 標準偏差を用いて有効範囲を設定する方法を説明する図である。 近似関数Pm=αT+βを挟む各近似関数Pm=αT+β1、Pm=αT+β2の例を示す図である。 太陽電池の裏面温度等を推定する処理手順を示すフローチャートである。 太陽電池の裏面温度Tと最大電力値Pmとの関係についての近似関数を示す図である。 日射強度Irrと最大電力値Pmとの関係についての近似関数を示す図である。
符号の説明
10…太陽電池の特性評価装置
12…コンピュータ
14…温度計
16…日射計
18…リファレンスセル
20…温度計
22…ワイヤレスセンサー変換器
32…アナログ−デジタル変換器
34…液晶表示部
36…容量素子
38…抵抗素子
40…トランジスタ
42…トランジスタ
44…オペアンプ
46…オペアンプ
48…アナログ−デジタル変換器
50…アナログ−デジタル変換器
52…メモリ
100…太陽電池の特性評価システム
200…太陽電池モジュール

Claims (12)

  1. 少なくとも演算部及び記憶部を含み、太陽電池の特性値の計測データを用いた情報処理を行う情報処理装置であって、
    前記演算部が、
    (a)太陽電池に関する特性であって、互いに相関する第1特性値及び第2特性値を含む計測データを取得すること、
    (b)前記計測データに基づき、第1の近似関数を求めること、
    (c)前記第1の近似関数に基づき、誤差として許容されるべき有効範囲を設定すること、
    (d)前記有効範囲内に含まれない前記計測データを除外し、当該有効範囲内に含まれる前記計測データを抽出すること、
    を含む、太陽電池の特性評価用の情報処理装置。
  2. 前記ステップ(a)は、相互に通信可能に接続された外部装置から前記計測データを取得する、
    請求項1に記載の情報処理装置。
  3. 前記ステップ(a)は、前記記憶部に格納された前記計測データを読み出すことにより、当該計測データを取得する、
    請求項1に記載の情報処理装置。
  4. 前記ステップ(b)における前記第1の近似関数が1次関数である、
    請求項1に記載の情報処理装置。
  5. 前記ステップ(c)は、
    前記計測データの各々について、前記第1の近似曲線との距離を算出すること、
    算出された前記距離について標準偏差σを求めること、
    前記標準偏差に基づき、±σまたはこれの定数倍の範囲を前記有効範囲として設定すること、
    を含み、
    前記ステップ(d)は、
    前記標準偏差に基づく前記有効範囲内に含まれる前記計測データを抽出する、
    請求項1に記載の情報処理装置。
  6. 前記ステップ(b)で求められた前記第1の近似関数をY=αX+β(Xは前記第1特性値、Yは前記第2特性値をそれぞれ表す。)とすると、
    前記ステップ(c)は、
    前記近似関数に対し、前記βから一定値だけ増加させた値β1及び前記βから一定値だけ減じた値β2をそれぞれ設定すること、
    前記β1及びβ2を用いて表される第2の近似関数Y=αX+β1及び第3の近似関数Y=αX+β2に挟まれた範囲を前記有効範囲と設定すること、
    を含み、
    前記ステップ(d)は、前記第2の近似関数Y=αX+β1及び前記第3の近似関数Y=αX+β2に基づく前記有効範囲内に含まれる前記計測データを抽出する、
    請求項1に記載の情報処理装置。
  7. (e)前記ステップ(d)において抽出される、前記有効範囲内に含まれる前記計測データに基づいて第4の近似関数を求めること、
    (f)前記第2特性値を指定し、前記第4の近似関数を用いて前記第1特性値の推定値を算出すること、
    を更に含む、請求項1に記載の情報処理装置。
  8. 少なくとも演算部及び記憶部を含むコンピュータによって実行され、太陽電池の特性値の計測データを用いた情報処理を行わせるためのプログラムであって、
    前記演算部に、
    (a)太陽電池に関する特性であって、互いに相関する第1特性値及び第2特性値を含む計測データを取得するステップと、
    (b)前記計測データに基づき、第1の近似関数を求めるステップと、
    (c)前記第1の近似関数に基づき、誤差として許容されるべき有効範囲を設定するステップと、
    (d)前記有効範囲内に含まれない前記計測データを除外し、当該有効範囲内に含まれる前記計測データを抽出するステップと、
    を実行させる、太陽電池の特性評価用プログラム。
  9. 前記演算部に、
    (e)前記ステップ(d)において抽出される、前記有効範囲内に含まれる前記計測データに基づいて第4の近似関数を求めるステップと、
    (f)前記第2特性値を指定し、前記第4の近似関数を用いて前記第1特性値の推定値を算出するステップと、
    を更に実行させる、請求項9に記載の太陽電池の特性評価用プログラム。
  10. 少なくとも演算部及び記憶部を含み、太陽電池の特性値の計測データを用いた情報処理を行う情報処理装置であって、
    前記演算部が、
    (a)太陽電池に関する特性であって、互いに相関する第1特性値及び第2特性値を含む計測データを取得すること、
    (b)前記計測データに基づき、近似関数を求めること、
    (c)前記第2特性値を指定し、前記近似関数を用いて前記第1特性値の推定値を算出すること、
    を含む、太陽電池の特性評価用の情報処理装置。
  11. 少なくとも演算部及び記憶部を含むコンピュータによって実行され、太陽電池の特性値の計測データを用いた情報処理を行わせるためのプログラムであって、
    前記演算部に、
    (a)太陽電池に関する特性であって、互いに相関する第1特性値及び第2特性値を含む計測データを取得するステップと、
    (b)前記計測データに基づき、近似関数を求めるステップと、
    (c)前記第2特性値を指定し、前記近似関数を用いて前記第1特性値の推定値を算出するステップと、
    を実行させる、太陽電池の特性評価用プログラム。
  12. 太陽電池に関する特性であって、互いに相関する第1特性値及び第2特性値を含む特性値を計測する特性評価装置と、
    前記特性評価装置と相互に通信可能に接続された情報処理装置と、
    を含んで構成される太陽電池の特性評価システムであって、
    前記情報処理装置として、請求項1〜請求項7のいずれか1項に記載の情報処理装置が用いられることを特徴とする、太陽電池の特性評価システム。
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010278036A (ja) * 2009-05-26 2010-12-09 Hitachi Ltd 太陽光発電システム
JP2012054401A (ja) * 2010-09-01 2012-03-15 Ntt Facilities Inc 太陽光発電診断装置
WO2012081116A1 (ja) * 2010-12-16 2012-06-21 三菱電機株式会社 太陽光発電システム
KR101252256B1 (ko) 2010-12-30 2013-04-08 주식회사 우정하이텍 태양전지 양부 판별 검사기기
JP2015114741A (ja) * 2013-12-09 2015-06-22 オムロン株式会社 太陽電池の評価装置、評価方法及び、太陽光発電システム
JP2015163043A (ja) * 2014-02-28 2015-09-07 オムロン株式会社 太陽電池の評価装置、評価方法及び、太陽光発電システム
JP2015177604A (ja) * 2014-03-13 2015-10-05 オムロン株式会社 太陽電池の評価装置
JP2019080463A (ja) * 2017-10-26 2019-05-23 三菱電機株式会社 太陽電池診断装置および太陽電池診断方法
WO2019244313A1 (ja) * 2018-06-21 2019-12-26 三菱電機株式会社 データ処理装置、データ処理方法および太陽電池モジュールの製造方法
CN114818314A (zh) * 2022-04-22 2022-07-29 陕西科技大学 基于动态规划的InGaN/GaN多量子阱太阳能电池模型参数提取方法

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010278036A (ja) * 2009-05-26 2010-12-09 Hitachi Ltd 太陽光発電システム
JP2012054401A (ja) * 2010-09-01 2012-03-15 Ntt Facilities Inc 太陽光発電診断装置
WO2012081116A1 (ja) * 2010-12-16 2012-06-21 三菱電機株式会社 太陽光発電システム
JP5335151B2 (ja) * 2010-12-16 2013-11-06 三菱電機株式会社 太陽光発電システム
KR101252256B1 (ko) 2010-12-30 2013-04-08 주식회사 우정하이텍 태양전지 양부 판별 검사기기
JP2015114741A (ja) * 2013-12-09 2015-06-22 オムロン株式会社 太陽電池の評価装置、評価方法及び、太陽光発電システム
JP2015163043A (ja) * 2014-02-28 2015-09-07 オムロン株式会社 太陽電池の評価装置、評価方法及び、太陽光発電システム
JP2015177604A (ja) * 2014-03-13 2015-10-05 オムロン株式会社 太陽電池の評価装置
JP2019080463A (ja) * 2017-10-26 2019-05-23 三菱電機株式会社 太陽電池診断装置および太陽電池診断方法
WO2019244313A1 (ja) * 2018-06-21 2019-12-26 三菱電機株式会社 データ処理装置、データ処理方法および太陽電池モジュールの製造方法
CN114818314A (zh) * 2022-04-22 2022-07-29 陕西科技大学 基于动态规划的InGaN/GaN多量子阱太阳能电池模型参数提取方法

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