JP2008091838A - Surface mounting substrate and method for mounting component - Google Patents

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英二 森山
Kazuyuki Hatamoto
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a surface mounting substrate and a component mounting method using the substrate for preventing superfluous collapsing of solder at a heat treatment step after component packaging. <P>SOLUTION: The surface mounting substrate 1 includes: substrate electrodes 102-104 formed on a component counter surface portion 1a; wirings 105-107 formed on the surface in a way that they may extend from the substrate electrode; and an insulating surface protective layer 111, in which electrode jointing openings 112-114 are formed so that the substrate electrodes are exposed. The surface protective layer 111 has a through hole portion 115 near to the electrode jointing opening at the component counter surface portion 1a. On the substrate electrode of the substrate, printing agent containing solder and flux is printed, and a component is mounted on the substrate so that the component electrode is located opposite to the substrate electrode, on which printing agent is printed. By heating the substrate, on which the component is mounted, the substrate electrode and the component electrode are jointed with solder. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、ベアチップ部品等の表面実装部品が実装される表面実装用の基板及びその基板に表面実装部品を実装する部品実装方法に関する。   The present invention relates to a surface mounting substrate on which a surface mounting component such as a bare chip component is mounted, and a component mounting method for mounting the surface mounting component on the substrate.

近年、小型、軽量化が著しい電子機器に用いる基板の部品実装方法として、ベアチップ部品等の部品を基板に直接装着する方法が注目されている。従来、この種の部品実装方法として、基板の基板電極上に、ハンダとフラックスを含むクリームハンダを印刷し、そのクリームハンダが印刷された基板に部品を位置決めして装着し、その後、基板を加熱するリフローを行う方法が知られている(例えば、特許文献1参照)。   In recent years, attention has been focused on a method of directly mounting a component such as a bare chip component on a substrate as a component mounting method for a substrate used in an electronic device that is significantly reduced in size and weight. Conventionally, as a component mounting method of this kind, cream solder containing solder and flux is printed on the substrate electrode of the substrate, the component is positioned and mounted on the substrate on which the cream solder is printed, and then the substrate is heated. A method of performing reflow is known (for example, see Patent Document 1).

特開2001−308268号公報JP 2001-308268 A

しかしながら、上記従来の部品実装方法において上記クリームハンダを印刷した基板に部品を装着した後、加熱処理(リフロー)を行うと、基板と部品との間に介在するハンダが過剰につぶれてしまうという問題点があった。このハンダの過剰なつぶれは、基板上で互いに近接する基板電極間の短絡の原因になったり、上記ベアチップ部品の保護層が形成されていない部品側面に回り込んで電気的な特性の変化の原因になったりする。   However, in the conventional component mounting method, when the component is mounted on the substrate on which the cream solder is printed and then heat treatment (reflow) is performed, the solder interposed between the substrate and the component is excessively crushed. There was a point. This excessive crushing of the solder may cause a short circuit between the substrate electrodes adjacent to each other on the substrate, or may cause a change in electrical characteristics by going around to the side of the component where the protective layer of the bare chip component is not formed. It becomes.

本発明は、上記問題点に鑑みなされたものであり、部品装着後の加熱処理によるハンダの過剰なつぶれを防止することができる表面実装用の基板及びその基板を用いた部品実装方法を提供することである。   The present invention has been made in view of the above problems, and provides a surface mounting substrate and a component mounting method using the substrate that can prevent excessive crushing of solder due to heat treatment after component mounting. That is.

上記目的を達成するために、請求項1の発明は、表面に実装される部品が対向する部品対向表面部分に形成された基板電極と、該基板電極から延びるように該表面に形成された配線と、該基板電極が露出するように電極接合用開口が形成された絶縁性の表面保護層とを備えた表面実装用の基板であって、該表面保護層は、該部品対向表面部分における該電極接合用開口の近傍に、貫通孔部、又は厚さが薄くなった肉薄部を有することを特徴とするものである。
また、請求項2の発明は、請求項1の表面実装用の基板において、上記貫通孔部及び上記肉薄部は上記配線に対向する位置に形成されていることを特徴とするものである。
また、請求項3の発明は、請求項1又は2の表面実装用の基板において、上記部品対向表面部分の所定方向に並ぶように形成された複数の基板電極からなる基板電極群を有し、上記貫通孔部及び上記肉薄部は、該基板電極群における該基板電極の並び方向に沿って延在するように形成されていることを特徴とするものである。
また、請求項4の発明は、請求項1、2又は3の表面実装用の基板において、上記基板電極は、上記部品対向表面部分の中心からずれた位置に形成され、上記貫通孔部及び上記肉薄部は、該部品対向表面部分における該基板電極よりも中心側に形成されていることを特徴とするものである。
また、請求項5の発明は、表面に実装される部品が対向する部品対向表面部分の中心からずれた位置に形成された基板電極と、該基板電極から延びるように該表面に形成された配線と、該基板電極が露出するように電極接合用開口が形成された絶縁性の表面保護層とを備えた表面実装用の基板であって、該配線は、該部品対向表面部分における該基板電極よりも中心側の部分を通過せずに、該基板電極からその外側に位置する該部品対向表面部分の端縁に向かって延びるように形成されていることを特徴とするものである。
また、請求項6の発明は、表面実装用の基板の基板電極上に、ハンダとフラックスとを含む印刷剤を印刷し、該印刷剤が印刷された基板電極に部品電極が対向するように該基板上に部品を装着し、該部品が装着された該基板を加熱することにより該ハンダを介して該基板電極と該部品電極とを接合する部品実装方法であって、該基板として、請求項1、2、3、4又は5の表面実装用の基板を用いることを特徴とするものである。
In order to achieve the above-mentioned object, the invention of claim 1 is directed to a substrate electrode formed on a component-facing surface portion facing a component mounted on the surface, and a wiring formed on the surface so as to extend from the substrate electrode. And an insulating surface protective layer in which an electrode bonding opening is formed so that the substrate electrode is exposed, the surface protective layer being formed on the component facing surface portion. In the vicinity of the electrode bonding opening, a through-hole portion or a thin portion with a reduced thickness is provided.
According to a second aspect of the present invention, in the substrate for surface mounting according to the first aspect, the through-hole portion and the thin portion are formed at positions facing the wiring.
Further, the invention of claim 3 has a substrate electrode group consisting of a plurality of substrate electrodes formed so as to be arranged in a predetermined direction of the component facing surface portion in the surface mounting substrate of claim 1 or 2, The through-hole portion and the thin portion are formed so as to extend along the direction in which the substrate electrodes are arranged in the substrate electrode group.
According to a fourth aspect of the present invention, in the surface mounting substrate according to the first, second, or third aspect, the substrate electrode is formed at a position shifted from the center of the component facing surface portion, and the through-hole portion and the The thin portion is characterized in that it is formed closer to the center than the substrate electrode in the component facing surface portion.
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a substrate electrode formed at a position deviated from the center of a component-facing surface portion on which a component mounted on the surface is opposed, and a wiring formed on the surface so as to extend from the substrate electrode And an insulating surface protective layer in which an opening for electrode bonding is formed so that the substrate electrode is exposed, wherein the wiring is the substrate electrode in the component facing surface portion. It is formed so as to extend from the substrate electrode toward the edge of the component facing surface portion located outside the substrate electrode without passing through the portion on the center side.
According to a sixth aspect of the present invention, a printing agent containing solder and flux is printed on a substrate electrode of a substrate for surface mounting, and the component electrode faces the substrate electrode on which the printing agent is printed. A component mounting method in which a component is mounted on a substrate, and the substrate electrode and the component electrode are joined via the solder by heating the substrate on which the component is mounted. 1, 2, 3, 4 or 5 surface-mounting substrates are used.

本発明者らは、前述の部品装着後の加熱処理におけるハンダの過剰なつぶれという課題を解決すべく、基板への部品装着及びその後の加熱処理について実験及び分析を行った。その結果、次に示すように、基板と部品との隙間に広がるフラックスが、上記ハンダの過剰なつぶれの発生に関係していることがわかった。ハンダとフラックスとを含む印刷剤が印刷された基板電極に部品電極が対向するように、基板上に部品が装着される。この部品が装着された基板を加熱すると印刷剤が溶融する。ここで、印刷剤に含まれるフラックスはハンダよりも融点が低く、しかも基板の部品対向表面部分と部品とが近接しているため、毛細管現象によってフラックスが基板の部品対向表面部分と部品との隙間に拡がっていく。このように拡がっていくフラックスと、そのフラックスに接している基板及び部品の表面との間に作用する引力により、外部から力を加えなくても上記隙間に拡がったフラックスを介して部品と基板とが互いに密着する方向の力が発生する。この密着力により、基板の部品対向表面部分と部品とが更に近接するため、基板電極と部品電極との間に挟まれている印刷剤のハンダが過剰につぶされると考えられる。本願の発明は、かかる実験及び分析の下でなされたものである。   In order to solve the above-described problem of excessive crushing of solder in the heat treatment after component mounting, the present inventors conducted experiments and analyzes on component mounting on a substrate and subsequent heat treatment. As a result, as shown below, it was found that the flux spreading in the gap between the substrate and the component is related to the occurrence of excessive crushing of the solder. The component is mounted on the substrate so that the component electrode faces the substrate electrode on which the printing agent containing solder and flux is printed. When the substrate on which the component is mounted is heated, the printing agent is melted. Here, the flux contained in the printing agent has a melting point lower than that of the solder, and the component facing surface portion of the substrate and the component are close to each other, so that the flux is separated by a capillary phenomenon between the component facing surface portion of the substrate and the component. To expand. With the flux spreading in this way and the attractive force acting between the substrate in contact with the flux and the surface of the component, the component and the substrate can be connected to each other through the flux spreading in the gap without applying external force. A force is generated in a direction in which the two come into close contact with each other. It is considered that the solder of the printing agent sandwiched between the substrate electrode and the component electrode is excessively crushed because the component facing surface portion of the substrate and the component are further brought closer by this adhesion force. The invention of the present application has been made under such experiments and analyses.

請求項1の発明において、基板の表面に形成される表面保護層は、上記部品対向表面部分における電極接合用開口の近傍に貫通孔部、又は厚さが薄くなった肉薄部を有している。この貫通孔部又は肉薄部において基板の表面と部品の表面との間隙が広がるため、部品装着後の加熱処理時において、基板の部品対向表面部分と部品との隙間における毛細管現象によるフラックスの拡がりを抑制することができる。よって、フラックスと基板及び部品との間の引力で発生する部品と基板との密着力を抑制することができる。
また、請求項2の発明において、上記貫通孔部及び肉薄部は、基板電極から延びる配線に対向する位置に形成されている。この位置では、配線がない箇所に比して、配線の厚さの分だけ表面保護層の表面が高くなって部品との隙間が狭くなろうとするため、上記フラックスの拡がりの経路となりやすい。この配線に対向する位置で表面保護層の表面が高くなる(基板と部品との隙間が減少する)のを、上記貫通孔部又は肉薄部により回避できる。よって、基板の部品対向表面部分と部品との隙間における毛細管現象によるフラックスの拡がりをより確実に抑制することができる。
また、請求項3の発明において、上記貫通孔部及び上記肉薄部は、上記基板電極群を構成する複数の基板電極の並び方向に沿って延在している。このように上記貫通孔部等が延在する場合、個々の基板電極ごとに上記貫通孔部等を有する場合に比して、貫通孔部等の数を減らして簡易な構成にすることができる。また、フラックスが上記貫通孔部等を迂回して拡がりにくくなる。よって、基板の部品対向表面部分と部品との隙間における毛細管現象によるフラックスの拡がりをより確実に抑制することができる。
また、請求項4の発明において、上記貫通孔部及び上記肉薄部は、部品対向表面部分における基板電極よりも中心側に形成されている。この部品対向表面部分の中心側は、部品と基板とが対向する面積が広く、フラックスが拡がりやすい。このフラックスが拡がりやすい部品対向表面部分の基板電極よりも中心側で、上記貫通孔部又は肉薄部により、表面保護層の表面と部品との隙間が広くなる。よって、基板の部品対向表面部分と部品との隙間における毛細管現象によるフラックスの拡がりをより確実に抑制することができる。
In the invention of claim 1, the surface protective layer formed on the surface of the substrate has a through-hole portion or a thin portion with a reduced thickness in the vicinity of the electrode bonding opening in the component facing surface portion. . Since the gap between the surface of the substrate and the surface of the component widens in this through hole or thin portion, the flux spreads due to capillary action in the gap between the component facing surface portion of the substrate and the component during the heat treatment after component mounting. Can be suppressed. Therefore, the adhesive force between the component and the substrate generated by the attractive force between the flux and the substrate and the component can be suppressed.
In the invention of claim 2, the through-hole portion and the thin portion are formed at positions facing the wiring extending from the substrate electrode. At this position, the surface of the surface protection layer is increased by the thickness of the wiring and the gap between the parts tends to be narrowed compared to a location where there is no wiring, so that the flux tends to become a path for spreading the flux. It is possible to avoid the surface of the surface protective layer from becoming higher (a gap between the substrate and the component is reduced) at a position facing the wiring by the through hole portion or the thin portion. Therefore, the spread of the flux due to the capillary phenomenon in the gap between the component facing surface portion of the substrate and the component can be more reliably suppressed.
In the invention of claim 3, the through-hole portion and the thin portion extend along an arrangement direction of a plurality of substrate electrodes constituting the substrate electrode group. As described above, when the through-hole portion extends, the number of the through-hole portions can be reduced and the structure can be simplified as compared with the case where each substrate electrode has the through-hole portion. . In addition, the flux is difficult to spread around the through hole and the like. Therefore, the spread of the flux due to the capillary phenomenon in the gap between the component facing surface portion of the substrate and the component can be more reliably suppressed.
In the invention of claim 4, the through-hole portion and the thin portion are formed closer to the center than the substrate electrode in the component facing surface portion. On the center side of the component facing surface portion, the area where the component and the substrate face each other is wide, and the flux tends to spread. The gap between the surface of the surface protective layer and the component is widened by the through hole portion or the thin portion at the center side of the substrate electrode on the component facing surface portion where the flux is likely to spread. Therefore, the spread of the flux due to the capillary phenomenon in the gap between the component facing surface portion of the substrate and the component can be more reliably suppressed.

請求項5の発明において、基板の配線は、部品対向表面部分における基板電極よりも中心側の部分を通過せずに、基板電極からその外側に位置する部品対向表面部分の端縁に向かって延びるように形成されている。このように部品対向表面部分の中心側部分を通過しないように配線を形成することにより、上記部品対向表面部分の中心側部分に配線を形成した場合に比して、配線の厚さの分だけ基板表面と部品の表面との間隙が広い。これにより、基板の部品対向表面部分と部品との隙間における毛細管現象によるフラックスの拡がりを抑制することができる。よって、フラックスと基板及び部品との間の引力で発生する部品と基板との密着力を抑制することができる。   In the invention of claim 5, the wiring of the substrate extends from the substrate electrode toward the edge of the component facing surface portion located outside the substrate electrode without passing through the portion of the component facing surface portion that is closer to the center than the substrate electrode. It is formed as follows. By forming the wiring so that it does not pass through the center side portion of the component facing surface portion in this way, compared to the case where the wiring is formed in the center side portion of the component facing surface portion, only the thickness of the wiring is obtained. The gap between the substrate surface and the component surface is wide. Thereby, the spread of the flux by the capillary phenomenon in the clearance gap between the component opposing surface part of a board | substrate and a component can be suppressed. Therefore, the adhesion force between the component and the substrate generated by the attractive force between the flux and the substrate and the component can be suppressed.

請求項6の発明では、表面に部品が実装される表面実装用の基板として、請求項1、2、3、4又は5の基板を用いる。この基板に部品を装着した後の加熱処理において、基板の部品対向表面部分と部品との隙間における毛細管現象によるフラックスの拡がりを抑制することができる。   In the invention of claim 6, the substrate of claim 1, 2, 3, 4 or 5 is used as a substrate for surface mounting on which a component is mounted. In the heat treatment after mounting the component on the substrate, it is possible to suppress the spread of the flux due to the capillary phenomenon in the gap between the component facing surface portion of the substrate and the component.

請求項1乃至6の発明によれば、基板に部品を装着した後の加熱処理において、基板と部品との隙間で毛細管現象によるフラックスの拡がりを抑制することができる。これにより、フラックスと基板や部品との間の引力で発生する部品と基板との密着力を抑制することができる。従って、基板電極と部品電極との間に挟まれている印刷剤のハンダが過剰につぶされるのを防止することができるという効果がある。
特に、請求項2乃至4の発明によれば、基板の部品対向表面部分と部品との隙間における毛細管現象によるフラックスの拡がりをより確実に抑制することができるという効果がある。
According to the first to sixth aspects of the present invention, in the heat treatment after mounting the component on the substrate, it is possible to suppress the spread of the flux due to the capillary phenomenon in the gap between the substrate and the component. Thereby, the adhesion force between the component and the substrate generated by the attractive force between the flux and the substrate or the component can be suppressed. Therefore, there is an effect that it is possible to prevent the solder of the printing agent sandwiched between the substrate electrode and the component electrode from being excessively crushed.
In particular, according to the second to fourth aspects of the invention, there is an effect that the spread of the flux due to the capillary phenomenon in the gap between the component facing surface portion of the substrate and the component can be more reliably suppressed.

以下、本発明をベアチップ部品を基板上に実装する部品実装方法に適用した実施形態について説明する。
図1(a)及び(b)はそれぞれ、本実施形態に係る部品実装方法で基板上に実装するベアチップ部品(以下、単に「ベアチップ」という。)を裏面から見た平面図及び側面図である。このベアチップ10は、樹脂で封止する前の裸の半導体ICチップである。ベアチップ10は、チップ本体11の基板に対応する裏面に、基板上の基板電極と接合される複数の部分電極12a,12b,13a,13b,14a,14bが形成されている。図1の例では、チップ本体11の裏面における長手方向の両端部にそれぞれ、3個の部品電極からなる部品電極群が形成されている。このベアチップ10の表面11s及び裏面11bsは酸化等の表面保護層が形成されている。一方、ベアチップ10の側面11a,11b,11c,11dは、半導体ウェーハ等の半導体基板から切断したときの切断面であり、内部の半導体材料が露出している。
Hereinafter, an embodiment in which the present invention is applied to a component mounting method for mounting a bare chip component on a substrate will be described.
1A and 1B are a plan view and a side view, respectively, of a bare chip component (hereinafter simply referred to as “bare chip”) mounted on a substrate by the component mounting method according to the present embodiment as viewed from the back side. . This bare chip 10 is a bare semiconductor IC chip before sealing with resin. In the bare chip 10, a plurality of partial electrodes 12 a, 12 b, 13 a, 13 b, 14 a, and 14 b bonded to the substrate electrodes on the substrate are formed on the back surface corresponding to the substrate of the chip body 11. In the example of FIG. 1, component electrode groups each including three component electrodes are formed at both ends in the longitudinal direction on the back surface of the chip body 11. A surface protective layer such as oxidation is formed on the front surface 11s and the back surface 11bs of the bare chip 10. On the other hand, the side surfaces 11a, 11b, 11c, and 11d of the bare chip 10 are cut surfaces when cut from a semiconductor substrate such as a semiconductor wafer, and the internal semiconductor material is exposed.

図2(a)及び(b)はそれぞれ本実施形態の基板1を表面から見た部分平面図及び断面図である。図2(b)は、図2(a)に示す基板1の部品対向表面部分1aの中心を通るように長手方向(図中の横方向)に切断したときの断面図である。この基板1は、絶縁性材料からなる基板本体101上に、複数の基板電極102a,102b,103a,103b,104a,104bと、複数の配線105a,105b,106a,106b,107a,107bと、絶縁性の表面保護層111とを備えている。   2A and 2B are a partial plan view and a cross-sectional view, respectively, of the substrate 1 according to the present embodiment as viewed from the surface. FIG. 2B is a cross-sectional view when cut in the longitudinal direction (lateral direction in the drawing) so as to pass through the center of the component facing surface portion 1a of the substrate 1 shown in FIG. The substrate 1 has a plurality of substrate electrodes 102a, 102b, 103a, 103b, 104a, and 104b, a plurality of wirings 105a, 105b, 106a, 106b, 107a, and 107b on a substrate body 101 made of an insulating material. The surface protective layer 111 is provided.

上記複数の基板電極102a,102b,103a,103b,104a,104bは、表面に実装されるベアチップ10の複数の部品電極それぞれに対応するように、ベアチップ10が対向する部品対向表面部分1aに形成されている。この複数の基板電極は、上記部品対向表面部分1aの中心からずれた位置に形成されている。すなわち、上記部品対向表面部分1aにおける長手方向の両端部それぞれに、3個の基板電極からなる基板電極群が形成されている。   The plurality of substrate electrodes 102a, 102b, 103a, 103b, 104a, 104b are formed on the component facing surface portion 1a facing the bare chip 10 so as to correspond to the plurality of component electrodes of the bare chip 10 mounted on the surface. ing. The plurality of substrate electrodes are formed at positions shifted from the center of the component facing surface portion 1a. That is, a substrate electrode group composed of three substrate electrodes is formed at each of both end portions in the longitudinal direction of the component facing surface portion 1a.

また、上記配線105a,105b,106a,106b,107a,107bはそれぞれ、対応する基板電極から延びるようにライン状に形成されている。これらの複数の配線のうち、各基板電極群の両端に位置する基板電極102a,102b,104a,104bにつながる配線105a,105b,107a,107bは、各基板電極から、その外側に位置する部品対向表面部分1aの端縁に向かって延びるように形成されている。一方、各基板電極群の中央に位置する基板電極103a,103bにつながる配線106a,106bは、基板1の部品対向表面部分1aにおける基板電極よりも中心側の部分を通過するように形成されている。   The wirings 105a, 105b, 106a, 106b, 107a, and 107b are each formed in a line shape so as to extend from the corresponding substrate electrode. Among these wirings, the wirings 105a, 105b, 107a, 107b connected to the substrate electrodes 102a, 102b, 104a, 104b located at both ends of each substrate electrode group are opposed to the components located outside the substrate electrodes. It is formed so as to extend toward the edge of the surface portion 1a. On the other hand, the wirings 106a and 106b connected to the substrate electrodes 103a and 103b located at the center of each substrate electrode group are formed so as to pass through a portion of the substrate 1 on the component facing surface portion 1a that is closer to the center than the substrate electrode. .

また、上記表面保護層111は、基板本体101や配線を覆って保護するものであり、例えばフォトリソグラフィ用の絶縁性のレジスト材で形成される。この表面保護層111は、各基板電極が露出するように、各基板電極上に電極接合用開口112a,112b,113a,113b,114a,114bが形成されている。これらの電極接合用開口を通して、基板1の基板電極とベアチップ10の部品電極とが接合される。   The surface protective layer 111 covers and protects the substrate body 101 and the wiring, and is formed of, for example, an insulating resist material for photolithography. In the surface protective layer 111, electrode bonding openings 112a, 112b, 113a, 113b, 114a, and 114b are formed on the substrate electrodes so that the substrate electrodes are exposed. The substrate electrode of the substrate 1 and the component electrode of the bare chip 10 are bonded through these electrode bonding openings.

また、上記表面保護層111は、上記部品対向表面部分1aにおける電極接合用開口112a,112b,113a,113b,114a,114bの近傍に貫通孔部(はくり部)115a、115bを有している。図2の例では、部品対向表面部分1aの長手方向における両端部のそれぞれに、3個の電極接合用開口からなる開口群が形成されている。そして、上記貫通孔部115a、115bはそれぞれ、対応する開口群の中心よりの近傍において、その開口群の電極接合用開口の並び方向に沿って延在するように形成されている。
なお、上記図2の例では、貫通孔部115a、115bを形成しているが、表面保護層の厚さが部分に薄くなった肉薄部を形成してもよい。
上記貫通孔部や肉薄部は、例えば、上記レジスト材等からなる表面保護層111を均一に形成した後、エッチングなどによって部分的に除去することにより形成することができる。
The surface protective layer 111 has through-hole portions (peeled portions) 115a and 115b in the vicinity of the electrode bonding openings 112a, 112b, 113a, 113b, 114a, and 114b in the component facing surface portion 1a. . In the example of FIG. 2, an opening group including three electrode bonding openings is formed at each of both end portions in the longitudinal direction of the component facing surface portion 1 a. Each of the through-hole portions 115a and 115b is formed so as to extend in the vicinity of the center of the corresponding opening group along the arrangement direction of the electrode bonding openings of the opening group.
In the example of FIG. 2, the through-hole portions 115a and 115b are formed. However, a thin portion in which the thickness of the surface protective layer is reduced may be formed.
The through-hole portion and the thin portion can be formed by, for example, uniformly forming the surface protective layer 111 made of the resist material or the like and then partially removing it by etching or the like.

また、上記基板1は、図3に示すように所定の機能を有する同じ形状及び回路の仕様を有する個別基板100を多数(例えば数10個〜数100個)並べて一括形成された基板である。この基板1は、上記ベアチップ10等が実装され所定の機能検査が行われた後、各個別基板100に分離される。これらの分離された個別基板100の一つ一つが所定の機能を有する回路モジュール部品として用いられる。   Further, the substrate 1 is a substrate in which a large number (for example, several tens to several hundreds) of individual substrates 100 having the same shape and circuit specifications having a predetermined function are arranged as shown in FIG. The substrate 1 is separated into individual substrates 100 after the bare chip 10 and the like are mounted and a predetermined function test is performed. Each of the separated individual substrates 100 is used as a circuit module component having a predetermined function.

また、上記基板1は、上記ベアチップ10以外の部品を実装するものであってもよい。例えば、基板1は、上記ベアチップ10のほか、表面実装用の樹脂外装部品としての樹脂外装チップを実装するものであってもよい。この樹脂外装チップとしては、例えば樹脂で封止された半導体IC、抵抗、コンデンサー等の部品が挙げられる。   Further, the substrate 1 may be one on which components other than the bare chip 10 are mounted. For example, in addition to the bare chip 10, the substrate 1 may be mounted with a resin-coated chip as a surface-mounted resin-coated component. Examples of the resin exterior chip include parts such as a semiconductor IC sealed with a resin, a resistor, and a capacitor.

なお、上記基板1としては、図4に示すような基板を用いてよい。この基板1では、各配線105a,105b,106a,106b,107a,107bが次のように形成されている。すなわち、配線105a,105b,107a,107bだけでなく、各基板電極群の中央に位置する基板電極103a,103bにつながる配線106a,106bも、基板1の部品対向表面部分1aにおける基板電極よりも中心側の部分を通過せずに、各基板電極103a,103bから、その外側に位置する部品対向表面部分1aの端縁に向かって延びるように形成されている。   As the substrate 1, a substrate as shown in FIG. 4 may be used. In this substrate 1, the wirings 105a, 105b, 106a, 106b, 107a, 107b are formed as follows. That is, not only the wirings 105a, 105b, 107a, 107b but also the wirings 106a, 106b connected to the substrate electrodes 103a, 103b located at the center of each substrate electrode group are more central than the substrate electrodes in the component facing surface portion 1a of the substrate 1. It is formed so as to extend from the respective substrate electrodes 103a and 103b toward the edge of the component facing surface portion 1a located outside thereof without passing through the side portion.

図5は、本実施形態に係る部品実装方法の要部を示す工程図である。
この部品実装方法では、まず、ベアチップ10が実装される前の上記構成の基板1に、導電性の印刷剤としてのクリームハンダを印刷するクリームハンダ印刷工程(P1)が実行される。
FIG. 5 is a process diagram showing the main part of the component mounting method according to the present embodiment.
In this component mounting method, first, a cream solder printing process (P1) for printing cream solder as a conductive printing agent on the substrate 1 having the above-described configuration before the bare chip 10 is mounted is executed.

次に、クリームハンダ印刷工程の後、部品装着装置により、上記ベアチップ10を基板1の所定位置に装着する部品マウント工程(P2)が実行される。   Next, after the cream solder printing process, a component mounting process (P2) for mounting the bare chip 10 on a predetermined position of the substrate 1 is performed by the component mounting apparatus.

次に、上記ベアチップ10の部品マウント工程の後、基板を加熱処理するリフロー工程(P3)が実行される。このリフロー工程により、印刷剤中のフラックスとともにハンダを溶かし、このハンダを介して基板1の基板電極とベアチップ10の部品電極とが接合される。   Next, after the component mounting process of the bare chip 10, a reflow process (P3) of heating the substrate is performed. By this reflow process, the solder is melted together with the flux in the printing agent, and the substrate electrode of the substrate 1 and the component electrode of the bare chip 10 are joined via this solder.

上記リフロー工程の後、必要に応じて、図示しないフラックス洗浄工程やアンダーフィル処理工程が実行される。アンダーフィル処理工程は、基板1とベアチップ10との隙間に充填剤としての樹脂が充填する工程である。   After the reflow process, a flux cleaning process and an underfill process (not shown) are performed as necessary. The underfill process is a process in which a resin as a filler is filled in the gap between the substrate 1 and the bare chip 10.

図6は、上記クリームハンダ印刷工程で使用可能な印刷装置の一例を示す概略構成図である。この印刷装置は、プラスチック材からなる孔版マスクである印刷マスク2を用いて、導電性の印刷剤としてのクリームハンダ3を基板1に印刷するものである。この印刷装置は、枠材2bに装着された印刷マスク2が固定部材4で固定されている。基板1は、基板電極が形成されている電極形成面が上面になるようにステージ5上に保持されている。このステージ5の下面には、ステージ5を駆動する駆動手段が設けられている。この駆動手段は、正逆回転可能なステッピングモータ6と、ボールねじ及びモータ6で回転駆動される図示しないナット等からなる上下動機構7とを用いて構成されている。このステッピングモータ6を回転制御することにより、上記ステージ5を上下方向に駆動し、基板1を、印刷マスク2に接触する印刷位置に移動させたり、印刷マスク2から離間させたりすることができる。   FIG. 6 is a schematic configuration diagram illustrating an example of a printing apparatus that can be used in the cream solder printing process. This printing apparatus prints cream solder 3 as a conductive printing agent on a substrate 1 using a printing mask 2 which is a stencil mask made of a plastic material. In this printing apparatus, the printing mask 2 mounted on the frame member 2 b is fixed by a fixing member 4. The substrate 1 is held on the stage 5 so that the electrode formation surface on which the substrate electrode is formed is the upper surface. Driving means for driving the stage 5 is provided on the lower surface of the stage 5. This driving means is configured by using a stepping motor 6 that can rotate forward and backward, and a vertical movement mechanism 7 that includes a ball screw and a nut (not shown) that is rotationally driven by the motor 6. By controlling the rotation of the stepping motor 6, the stage 5 can be driven in the vertical direction, and the substrate 1 can be moved to a printing position in contact with the printing mask 2 or separated from the printing mask 2.

上記印刷位置に移動したステージ5の上方には、印刷マスク2の開口部9にクリームハンダ3を充填する充填手段が設けられている。この充填手段は、印刷マスク2の開口部9にクリームハンダ3を刷り込むための充填部材としてのスキージ8、そのスキージ8を駆動ベルト等によって図中左右方向に駆動するための図示しないスキージ駆動機構等により構成されている。印刷用マスク2には、ベアチップ10が実装される部品対向表面部分の各基板電極に対応する開口部9が設けられている。この開口部9は、例えば微小印刷パターンの場合、100〜200μm程度の四角形の開口や、同様な寸法の直径を有する円形の開口である。   Above the stage 5 moved to the printing position, filling means for filling the cream solder 3 into the opening 9 of the printing mask 2 is provided. This filling means includes a squeegee 8 as a filling member for imprinting the cream solder 3 into the opening 9 of the printing mask 2, a squeegee drive mechanism (not shown) for driving the squeegee 8 in the left-right direction in the figure by a drive belt or the like. It is comprised by. The printing mask 2 is provided with openings 9 corresponding to the substrate electrodes on the component facing surface where the bare chip 10 is mounted. For example, in the case of a micro print pattern, the opening 9 is a rectangular opening having a diameter of about 100 to 200 μm or a circular opening having a similar diameter.

ここで、上記印刷用マスク2の開口部9が四角形の開口の場合、その開口部9の基板表面(上面)に対してほぼ垂直な内壁面のうち、スキージ移動方向(図中A方向)における下流側に位置する下流側側面は、スキージ移動方向Aに対して傾斜する傾斜面にするのが好ましい。また、印刷用マスク2の開口部9の内壁面のうち、スキージ移動方向(図中A方向)における上流側に位置する上流側側面も、同様にスキージ移動方向(図中A方向)に対して傾斜する傾斜面にするのが好ましい。例えば、印刷用マスク2の傾斜面はスキージ移動方向(図中A方向)に対してほぼ45度だけ傾斜させる。   Here, when the opening 9 of the printing mask 2 is a square opening, the inner wall surface substantially perpendicular to the substrate surface (upper surface) of the opening 9 is in the squeegee movement direction (A direction in the figure). The downstream side surface located on the downstream side is preferably an inclined surface inclined with respect to the squeegee movement direction A. Of the inner wall surface of the opening 9 of the printing mask 2, the upstream side surface located on the upstream side in the squeegee movement direction (A direction in the figure) is also the same with respect to the squeegee movement direction (A direction in the figure). It is preferable to use an inclined surface. For example, the inclined surface of the printing mask 2 is inclined by approximately 45 degrees with respect to the squeegee movement direction (A direction in the figure).

また、上記微細パターンの印刷用マスク2を用いて印刷するときに用いるクリームハンダとしては、例えば、ハンダの平均粒径が10μm以下であり、フラックス成分の含有率が11質量%程度のものが好ましい。   The cream solder used when printing using the fine pattern printing mask 2 is preferably, for example, a solder having an average particle size of 10 μm or less and a flux component content of about 11% by mass. .

上記構成の印刷装置において、まず、印刷マスク2を固定部材4で固定した後、上記モータ6を回転駆動して基板1を保持したステージ5を上昇させ、印刷マスク2に接触させる。そして、印刷マスク2の上面にクリームハンダ3をセットし、スキージ8を矢印A方向に移動させることにより、印刷マスク2の開口部9にクリームハンダ3を充填して刷り込む。
次に、上記クリームハンダ3を充填した印刷マスク2と基板1とを接触させたままの状態で、印刷条件に基づいて予め設定された待ち時間の計時を開始する。そして、所定の待ち時間が経過しクリームハンダ3のタッキング力(粘着力)が高まった状態で、上記モータ6を回転駆動してステージ5を図6中の矢印B方向に下降させ、基板1と印刷マスク2とを離間させる。この離間動作により、基板1の基板電極上に接合材を含むクリームハンダ3が形成される。
In the printing apparatus having the above-described configuration, first, the printing mask 2 is fixed by the fixing member 4, and then the motor 6 is rotationally driven to raise the stage 5 holding the substrate 1 and bring it into contact with the printing mask 2. Then, the cream solder 3 is set on the upper surface of the printing mask 2 and the squeegee 8 is moved in the direction of arrow A, whereby the opening 9 of the printing mask 2 is filled with the cream solder 3 and printed.
Next, in a state where the printing mask 2 filled with the cream solder 3 and the substrate 1 are kept in contact with each other, timing of a waiting time set in advance based on the printing conditions is started. Then, in a state where the predetermined waiting time has passed and the tacking force (adhesive force) of the cream solder 3 has been increased, the motor 6 is driven to rotate and the stage 5 is lowered in the direction of arrow B in FIG. The printing mask 2 is separated. By this separation operation, the cream solder 3 including the bonding material is formed on the substrate electrode of the substrate 1.

上記部品マウント工程では、例えば吸着ノズルを用いた部品装着装置で装着することができる。この部品装着装置では、例えば部品保持部材としてリールカセットやトレイに保持されているベアチップを吸着ノズルで吸着し、基板1のペーストハンダが印刷されている部品対向表面部分1a上に移動して装着する。上記吸着ノズルには、スプリング等の弾性部材が内蔵されており、吸着ノズルでベアチップ10を吸着するときや、吸着ノズルで吸着しているベアチップ10を基板1上に装着するときの衝撃を小さくできるようにしている。また、吸着ノズルで吸着しているベアチップ10を基板1上に装着するとき、ベアチップ10を、基板1上に印刷されているペーストハンダに所定の押圧力で密着できるようにしている。   In the component mounting step, for example, mounting can be performed with a component mounting apparatus using a suction nozzle. In this component mounting apparatus, for example, a bare chip held in a reel cassette or tray as a component holding member is sucked by a suction nozzle, and moved and mounted on a component facing surface portion 1a on which paste solder of the substrate 1 is printed. . The suction nozzle incorporates an elastic member such as a spring, and the impact when the bare chip 10 is sucked by the suction nozzle or when the bare chip 10 sucked by the suction nozzle is mounted on the substrate 1 can be reduced. I am doing so. Further, when the bare chip 10 sucked by the suction nozzle is mounted on the substrate 1, the bare chip 10 can be brought into close contact with the paste solder printed on the substrate 1 with a predetermined pressing force.

図7(a)〜(c)はそれぞれ、本実施形態の部品実装方法によりベアチップ10が実装される基板1の断面図である。これらの断面図は、前述の図2(b)と同様に、図2(a)に示す基板1の部品対向表面部分1aの中心を通るように長手方向(図中の横方向)に切断したときの断面図である。   7A to 7C are cross-sectional views of the substrate 1 on which the bare chip 10 is mounted by the component mounting method of the present embodiment. These cross-sectional views are cut in the longitudinal direction (lateral direction in the drawing) so as to pass through the center of the component facing surface portion 1a of the substrate 1 shown in FIG. 2 (a), as in FIG. 2 (b). FIG.

図7(a)は、ペーストハンダ印刷後の基板1の断面図である。印刷前の基板1は、基板電極103a,103bが露出するように、表面保護膜111に電極接合用開口113a,113bが形成されている。この表面保護膜111の電極接合用開口113a,113bそれぞれの内部に充填されるように、ペーストハンダ3a,3bが印刷されている。これらの印刷されたペーストハンダ3a,3bの高さは、表面保護層111の表面よりも高めに設定されている。また、表面保護層111の電極接合用開口113a,113bの中心よりの近傍には貫通孔部115a、115bが形成されている。   FIG. 7A is a cross-sectional view of the substrate 1 after paste solder printing. In the substrate 1 before printing, electrode bonding openings 113a and 113b are formed in the surface protective film 111 so that the substrate electrodes 103a and 103b are exposed. Paste solders 3a and 3b are printed so as to fill the electrode bonding openings 113a and 113b of the surface protective film 111, respectively. The heights of these printed paste solders 3 a and 3 b are set higher than the surface of the surface protective layer 111. Further, through-hole portions 115a and 115b are formed in the vicinity of the electrode bonding openings 113a and 113b of the surface protective layer 111 from the center.

図7(b)は、ベアチップ装着後の基板1の断面図である。基板1に印刷されたペーストハンダ3a,3bに部品電極12aが接するようにベアチップ10が装着される。このベアチップ10が装着されるときに、ベアチップ10がペーストハンダ3a,3bに押え付けられるため、ペーストハンダ3a,3bの頭部が若干つぶれる。   FIG.7 (b) is sectional drawing of the board | substrate 1 after bare chip mounting | wearing. The bare chip 10 is mounted so that the component electrodes 12a are in contact with the paste solders 3a and 3b printed on the substrate 1. When the bare chip 10 is mounted, the bare chip 10 is pressed against the paste solders 3a and 3b, so that the heads of the paste solders 3a and 3b are slightly crushed.

図7(c)は、リフロー後の基板1の断面図である。リフロー工程において、上記ベアチップ10が装着された基板が所定の加熱条件で加熱処理されると、電極間に介在するペーストハンダ3a,3b中のハンダ301a,301b及びフラックス302a,302bが溶融する。ここで、フラックス302a,302bはハンダよりも融点が低く流動性が高いため、毛細管現象により、基板1とベアチップ10との隙間に沿って拡がろうとする。本実施形態の基板1は、電極接合用開口113a,113bの近傍に貫通孔部115a、115bが形成されているため、上記隙間に沿って拡がろうとするフラックス302a,302bが、貫通孔部115a、115bでせき止められる。   FIG. 7C is a cross-sectional view of the substrate 1 after reflow. In the reflow process, when the substrate on which the bare chip 10 is mounted is heated under predetermined heating conditions, the solders 301a and 301b and the fluxes 302a and 302b in the paste solders 3a and 3b interposed between the electrodes are melted. Here, since the fluxes 302a and 302b have a lower melting point and higher fluidity than solder, they tend to spread along the gap between the substrate 1 and the bare chip 10 by capillary action. Since the through holes 115a and 115b are formed in the vicinity of the electrode bonding openings 113a and 113b in the substrate 1 according to the present embodiment, the fluxes 302a and 302b that try to spread along the gaps pass through the through holes 115a. 115b.

以上、本実施形態によれば、上記貫通孔部115a、115bによって基板1の部品対向表面部分1aとベアチップ10との隙間における毛細管現象によるフラックス302a,302bの拡がりを抑制することができる。よって、フラックス302a,302bと基板1及びベアチップ10との間の引力で発生するベアチップ10と基板1との密着力を抑制することができる。従って、基板電極102と、部品電極との間に挟まれているハンダ301a,301bが過剰につぶされるのを防止することができる。   As described above, according to the present embodiment, the through holes 115 a and 115 b can suppress the spread of the fluxes 302 a and 302 b due to the capillary phenomenon in the gap between the component facing surface portion 1 a of the substrate 1 and the bare chip 10. Therefore, the adhesive force between the bare chip 10 and the substrate 1 generated by the attractive force between the fluxes 302a and 302b and the substrate 1 and the bare chip 10 can be suppressed. Therefore, it is possible to prevent the solders 301a and 301b sandwiched between the substrate electrode 102 and the component electrodes from being excessively crushed.

特に、本実施形態によれば、上記貫通孔部115a,115bが、基板電極から延びる配線106a,106bに対向する位置に形成されている。この貫通孔部115a,115bにより、上記配線106a,106bに対向する位置で表面保護層111の表面が高くなる(基板と部品との隙間が減少する)のを回避できる。
更に、上記貫通孔部115a,115bがそれぞれ、各基板電極群を構成する複数の基板電極102a,102b,103a,103b,104a,104bの並び方向に沿って延在している。このように貫通孔部115a,115bが延在することにより、個々の基板電極ごとに上記貫通孔部を有する場合に比して、貫通孔部等の数を減らして簡易な構成にすることができる。また、フラックス302a,302bが貫通孔部115a,115bを迂回して拡がりにくくなる。
また、上記貫通孔部115a,115bは、部品対向表面部分1aにおける各基板電極102a,102b,103a,103b,104a,104bよりも中心側に形成されている。これにより、フラックスが拡がりやすい部品対向表面部分1aの基板電極よりも中心側で、表面保護層111の表面とベアチップ10との隙間が広くなる。
以上により、部品装着後の加熱処理において,基板1の部品対向表面部分1aとベアチップ10との隙間における毛細管現象によるフラックス302a,302bの拡がりをより確実に抑制することができる。
In particular, according to the present embodiment, the through-hole portions 115a and 115b are formed at positions facing the wirings 106a and 106b extending from the substrate electrode. By using the through-hole portions 115a and 115b, it is possible to avoid an increase in the surface of the surface protective layer 111 at a position facing the wirings 106a and 106b (a reduction in the gap between the substrate and the component).
Further, the through-hole portions 115a and 115b extend along the direction in which the plurality of substrate electrodes 102a, 102b, 103a, 103b, 104a, and 104b constituting each substrate electrode group are arranged. By extending the through-hole portions 115a and 115b in this way, the number of through-hole portions and the like can be reduced and the configuration can be simplified as compared with the case where each substrate electrode has the above-described through-hole portions. it can. Further, the fluxes 302a and 302b are difficult to spread around the through-hole portions 115a and 115b.
The through-hole portions 115a and 115b are formed on the center side of the component facing surface portion 1a with respect to the substrate electrodes 102a, 102b, 103a, 103b, 104a, and 104b. Thereby, the clearance gap between the surface of the surface protective layer 111 and the bare chip 10 becomes wide in the center side rather than the board | substrate electrode of the component opposing surface part 1a where a flux tends to spread.
As described above, in the heat treatment after component mounting, the spread of the fluxes 302a and 302b due to the capillary phenomenon in the gap between the component facing surface portion 1a of the substrate 1 and the bare chip 10 can be more reliably suppressed.

図8(a)〜(c)はそれぞれ、比較例の部品実装方法によりベアチップ10が実装される基板1の断面図である。図8(a)はペーストハンダ印刷後の基板1の断面図であり、図8(b)はベアチップ装着後の基板1の断面図であり、図8(c)はリフロー後の基板1の断面図である。
この比較例で用いた基板は、上記実施形態の基板1とは異なり、上記貫通孔部115a、115bを備えていない。この場合は、図8(c)に示すリフロー工程において溶融したフラックス302a,302bが、毛細管現象により、基板1の配線106a,106bの上方に位置する表面保護層11の表面とベアチップ10との隙間に沿って拡がる。このように拡がっていくフラックス302a,302bと、そのフラックスに接している基板1の表面保護層111及びベアチップ10の表面との間に、引力が発生する。この引力により、外部から力を加えなくても上記隙間に拡がったフラックス302a,302bを介して基板1とベアチップ10とが互いに密着する方向の力が発生する。この密着力により、基板1の部品対向表面部分1aとベアチップ10とが更に近接するため、基板電極103a,103bと部品電極13a,13bとの間に挟まれているハンダ301a,301bが過剰につぶされてしまう。この過剰につぶれたハンダ301a,301bは、電極間の短絡の原因になるおそれがある。また、上記過剰につぶれたハンダ301a,301bが、ベアチップ10の保護層が形成されていない側面11a,11bに到達して接触すると、ベアチップ10の電気的な特性の変化の原因になるおそれもある。
8A to 8C are cross-sectional views of the substrate 1 on which the bare chip 10 is mounted by the component mounting method of the comparative example. 8A is a cross-sectional view of the substrate 1 after paste solder printing, FIG. 8B is a cross-sectional view of the substrate 1 after mounting the bare chip, and FIG. 8C is a cross-sectional view of the substrate 1 after reflow. FIG.
Unlike the substrate 1 of the above embodiment, the substrate used in this comparative example does not include the through-hole portions 115a and 115b. In this case, the fluxes 302a and 302b melted in the reflow process shown in FIG. 8C are caused by a capillary phenomenon so that the gap between the surface of the surface protective layer 11 located above the wirings 106a and 106b of the substrate 1 and the bare chip 10 It spreads along. An attractive force is generated between the fluxes 302a and 302b spreading in this way and the surface of the surface protective layer 111 and the bare chip 10 of the substrate 1 in contact with the flux. This attractive force generates a force in a direction in which the substrate 1 and the bare chip 10 are in close contact with each other via the fluxes 302a and 302b spread in the gap without applying a force from the outside. Due to this adhesion, the component facing surface portion 1a of the substrate 1 and the bare chip 10 are closer to each other, so that the solder 301a and 301b sandwiched between the substrate electrodes 103a and 103b and the component electrodes 13a and 13b are excessively crushed. Will be. This excessively crushed solder 301a, 301b may cause a short circuit between the electrodes. Further, if the excessively crushed solders 301a and 301b reach and come into contact with the side surfaces 11a and 11b where the protective layer of the bare chip 10 is not formed, there is a possibility that the electrical characteristics of the bare chip 10 may be changed. .

図9(a)〜(c)はそれぞれ、図4に示した他の実施形態に係る基板1の断面図である。図9(a)はペーストハンダ印刷後の基板1の断面図であり、図9(b)はベアチップ装着後の基板1の断面図であり、図9(c)はリフロー後の基板1の断面図である。
この基板1を用いた場合、図9(c)に示すリフロー工程において溶融したフラックス302a,302bは、毛細管現象により、基板1とベアチップ10との隙間に沿って拡がろうとする。ここで、基板1の配線106a,106bは、基板1の部品対向表面部分1aにおける基板電極103a,103bよりも中心側の部分を通過せずに、基板電極103a,103bからその外側に位置する部品対向表面部分1aの端縁に向かって延びるように形成されている。このように部品対向表面部分1aの中心側部分を通過しないように配線106a,106bを形成することにより、上記部品対向表面部分1aの中心側部分に配線を形成した場合に比して、配線の厚さの分だけ基板表面(表面保護層の表面)とベアチップ10の表面との間隙が広い。これにより、基板1の部品対向表面部分1aとベアチップ10との隙間における毛細管現象によるフラックス302a,302bの拡がりを抑制することができる。よって、フラックス302a,302bと基板1及びベアチップ10との間の引力で発生するベアチップ10と基板1との密着力を抑制することができる。
9A to 9C are cross-sectional views of the substrate 1 according to another embodiment shown in FIG. 9A is a cross-sectional view of the substrate 1 after paste solder printing, FIG. 9B is a cross-sectional view of the substrate 1 after mounting a bare chip, and FIG. 9C is a cross-sectional view of the substrate 1 after reflow. FIG.
When this substrate 1 is used, the fluxes 302a and 302b melted in the reflow process shown in FIG. 9C try to spread along the gap between the substrate 1 and the bare chip 10 by capillary action. Here, the wirings 106a and 106b of the substrate 1 do not pass through the portion of the component-facing surface portion 1a of the substrate 1 that is closer to the center than the substrate electrodes 103a and 103b, and are components located outside the substrate electrodes 103a and 103b It is formed to extend toward the edge of the opposing surface portion 1a. In this way, by forming the wirings 106a and 106b so as not to pass through the central portion of the component facing surface portion 1a, the wiring is formed in comparison with the case where the wiring is formed in the central portion of the component facing surface portion 1a. The gap between the substrate surface (surface of the surface protective layer) and the surface of the bare chip 10 is wide by the thickness. Thereby, the spread of the fluxes 302a and 302b due to the capillary phenomenon in the gap between the component facing surface portion 1a of the substrate 1 and the bare chip 10 can be suppressed. Therefore, the adhesive force between the bare chip 10 and the substrate 1 generated by the attractive force between the fluxes 302a and 302b and the substrate 1 and the bare chip 10 can be suppressed.

なお、上記実施形態では、基板1上にベアチップ10を実装する場合について説明したが、本発明は、ベアチップ10に限定されることなく他の部品を装着する場合にも適用できるものである。また、本発明を提供可能な基板1の基板電極の配置や個数は、上記実施形態に限定されるものではない。   In the above embodiment, the case where the bare chip 10 is mounted on the substrate 1 has been described. However, the present invention is not limited to the bare chip 10 and can also be applied to the case where other components are mounted. Further, the arrangement and number of substrate electrodes of the substrate 1 that can provide the present invention are not limited to the above-described embodiment.

(a)は本実施形態に係る部品実装方法で基板上に実装するベアチップを裏面から見た平面図。(b)は同ベアチップの側面図。(A) is the top view which looked at the bare chip mounted on a board | substrate with the component mounting method which concerns on this embodiment from the back surface. (B) is a side view of the bare chip. (a)は本実施形態に係る基板を表面から見た部分平面図。(b)は同基板の断面図。(A) is the partial top view which looked at the board | substrate concerning this embodiment from the surface. (B) is sectional drawing of the board | substrate. 同基板の全体の平面図。The top view of the whole board | substrate. 他の実施形態に係る基板を表面から見た部分平面図。(b)は同基板の断面図。The partial top view which looked at the board | substrate concerning other embodiment from the surface. (B) is sectional drawing of the board | substrate. 本実施形態に係る部品実装方法の要部を示す工程図。Process drawing which shows the principal part of the component mounting method which concerns on this embodiment. クリームハンダ印刷工程で使用可能な印刷装置の一例を示す概略構成図。The schematic block diagram which shows an example of the printing apparatus which can be used at a cream solder printing process. (a)〜(c)はそれぞれ、本実施形態に係る部品実装方法の各工程における基板の断面図。(A)-(c) is sectional drawing of the board | substrate in each process of the component mounting method which concerns on this embodiment, respectively. (a)〜(c)はそれぞれ、比較例に係る部品実装方法の各工程における基板の断面図。(A)-(c) is sectional drawing of the board | substrate in each process of the component mounting method which concerns on a comparative example, respectively. (a)〜(c)はそれぞれ、他の実施形態に係る部品実装方法の各工程における基板の断面図。(A)-(c) is sectional drawing of the board | substrate in each process of the component mounting method which concerns on other embodiment, respectively.

符号の説明Explanation of symbols

1 基板
1a 部品対向表面部分
3(3a,3b) クリームハンダ
301a,301b ハンダ
302a,302b フラックス
10 ベアチップ
11 チップ本体
12a,12b 部品電極
13a,13b 部品電極
14a,14b 部品電極
101 基板本体
102a,102b 基板電極
103a,103b 基板電極
104a,104b 基板電極
105a,105b 配線
106a,106b 配線
107a,107b 配線
111 表面保護層
112a,112b 電極接合用開口
113a,113b 電極接合用開口
114a,114b 電極接合用開口
115a、115b 貫通孔部
1 substrate 1a component facing surface portion 3 (3a, 3b) cream solder 301a, 301b solder 302a, 302b flux 10 bare chip 11 chip body 12a, 12b component electrode 13a, 13b component electrode 14a, 14b component electrode 101 substrate body 102a, 102b substrate Electrode 103a, 103b Substrate electrode 104a, 104b Substrate electrode 105a, 105b Wiring 106a, 106b Wiring 107a, 107b Wiring 111 Surface protective layer 112a, 112b Electrode bonding opening 113a, 113b Electrode bonding opening 114a, 114b Electrode bonding opening 115a, 115b Through hole

Claims (6)

表面に実装される部品が対向する部品対向表面部分に形成された基板電極と、該基板電極から延びるように該表面に形成された配線と、該基板電極が露出するように電極接合用開口が形成された絶縁性の表面保護層とを備えた表面実装用の基板であって、
該表面保護層は、該部品対向表面部分における該電極接合用開口の近傍に、貫通孔部、又は厚さが薄くなった肉薄部を有することを特徴とする表面実装用の基板。
A substrate electrode formed on a component-opposing surface portion facing a component mounted on the surface, a wiring formed on the surface extending from the substrate electrode, and an electrode bonding opening so that the substrate electrode is exposed A surface-mounting substrate having an insulating surface protective layer formed,
The substrate for surface mounting, wherein the surface protective layer has a through-hole portion or a thin portion with a reduced thickness in the vicinity of the electrode bonding opening in the component facing surface portion.
請求項1の表面実装用の基板において、
上記貫通孔部及び上記肉薄部は、上記配線に対向する位置に形成されていることを特徴とする表面実装用の基板。
The substrate for surface mounting according to claim 1,
The substrate for surface mounting, wherein the through hole portion and the thin portion are formed at positions facing the wiring.
請求項1又は2の表面実装用の基板において、
上記部品対向表面部分の所定方向に並ぶように形成された複数の基板電極からなる基板電極群を有し、
上記貫通孔部及び上記肉薄部は、該基板電極群における該基板電極の並び方向に沿って延在するように形成されていることを特徴とする表面実装用の基板。
The substrate for surface mounting according to claim 1 or 2,
A substrate electrode group comprising a plurality of substrate electrodes formed so as to be aligned in a predetermined direction of the component facing surface portion;
The surface-mounting substrate, wherein the through-hole portion and the thin portion are formed so as to extend along an arrangement direction of the substrate electrodes in the substrate electrode group.
請求項1、2又は3の表面実装用の基板において、
上記基板電極は、上記部品対向表面部分の中心からずれた位置に形成され、
上記貫通孔部及び上記肉薄部は、該部品対向表面部分における該基板電極よりも中心側に形成されていることを特徴とする表面実装用の基板。
In the substrate for surface mounting according to claim 1, 2, or 3,
The substrate electrode is formed at a position shifted from the center of the component facing surface portion,
The substrate for surface mounting, wherein the through-hole portion and the thin portion are formed closer to the center side than the substrate electrode in the component facing surface portion.
表面に実装される部品が対向する部品対向表面部分の中心からずれた位置に形成された基板電極と、該基板電極から延びるように該表面に形成された配線と、該基板電極が露出するように電極接合用開口が形成された絶縁性の表面保護層とを備えた表面実装用の基板であって、
該配線は、該部品対向表面部分における該基板電極よりも中心側の部分を通過せずに、該基板電極からその外側に位置する該部品対向表面部分の端縁に向かって延びるように形成されていることを特徴とする表面実装用の基板。
A substrate electrode formed at a position shifted from the center of the component-facing surface portion facing the component mounted on the surface, wiring formed on the surface extending from the substrate electrode, and the substrate electrode exposed A substrate for surface mounting provided with an insulating surface protective layer having an electrode bonding opening formed thereon,
The wiring is formed so as to extend from the substrate electrode toward the edge of the component facing surface portion located outside the substrate electrode without passing through a portion of the component facing surface portion that is closer to the center than the substrate electrode. A substrate for surface mounting, characterized in that
表面実装用の基板の基板電極上に、ハンダとフラックスとを含む印刷剤を印刷し、該印刷剤が印刷された基板電極に部品電極が対向するように該基板上に部品を装着し、該部品が装着された該基板を加熱することにより該ハンダを介して該基板電極と該部品電極とを接合する部品実装方法であって、
該基板として、請求項1、2、3、4又は5の表面実装用の基板を用いることを特徴とする部品実装方法。
A printing agent containing solder and flux is printed on the substrate electrode of the substrate for surface mounting, and the component is mounted on the substrate so that the component electrode faces the substrate electrode on which the printing agent is printed, A component mounting method for joining the substrate electrode and the component electrode through the solder by heating the substrate on which the component is mounted,
A component mounting method, wherein the substrate for surface mounting according to claim 1, 2, 3, 4 or 5 is used as the substrate.
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