JP2008027774A - Ic socket and its manufacturing method - Google Patents
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Abstract
Description
この発明は、CPUやLSIなどのICパッケージを例えばプリント基板に実装する際に使用するICソケットに関し、さらに詳しくは、例えば三次元回路形成技術を用いて立体回路が形成されたICソケットおよびその製造方法に関するものである。 The present invention relates to an IC socket used when mounting an IC package such as a CPU or LSI on, for example, a printed circuit board, and more specifically, for example, an IC socket in which a three-dimensional circuit is formed using a three-dimensional circuit forming technique and its manufacture It is about the method.
従来から、CPUやLSIなどのICパッケージを、ICソケットを介してプリント基板に実装する技術が検討されている。パーソナルコンピュータやサーバのマザーボードの多くには、LGA(Land Grid array)パッケージや、BGA(Ball Grid Array)パッケージのCPUを装着するためのソケットが実装されている。 Conventionally, techniques for mounting an IC package such as a CPU or LSI on a printed circuit board via an IC socket have been studied. Many motherboards of personal computers and servers are mounted with sockets for mounting CPUs of LGA (Land Grid array) packages and BGA (Ball Grid Array) packages.
CPUは、その機能、性能の向上のため、年々多ピン化、高速化が進んでおり、パッケージの大型化やファインピッチ化によって対応がなされている。これに伴い、ICソケットも多ピン化への対応が必要になるとともに、パッケージのサイズアップに伴う撓み量増大への対応や、パッケージの接触ランドやボールの高さばらつきへの対応が必要になる。 The number of pins and the speed of CPUs are increasing year by year in order to improve the functions and performance of CPUs, and measures are being taken by increasing the size of packages and making fine pitches. Along with this, it is necessary to cope with the increase in the number of pins of the IC socket, and it is also necessary to cope with an increase in the amount of bending accompanying an increase in the size of the package and a variation in the contact land of the package and the height variation of the ball. .
したがって、ICソケットでは、ICパッケージの電極部との接触において撓み方向へのストロークを確保できる構造が求められる。 Therefore, the IC socket is required to have a structure that can ensure a stroke in the bending direction in contact with the electrode portion of the IC package.
また、ファインピッチ化に対する対応としては、極力簡単な構造で実現すべきであり、パッケージからプリント基板への接続を短い距離で行う構造が望ましい。 Further, as a countermeasure to the fine pitch, it should be realized with a simple structure as much as possible, and a structure in which the connection from the package to the printed board is performed at a short distance is desirable.
さらに、高速化に対する対応としては、ICソケットとパッケージとのコンタクトが低インダクタンスであることが重要であり、高速化による消費電流増大に対応して許容電流も高いことが求められる。 Furthermore, in order to cope with the high speed, it is important that the contact between the IC socket and the package has a low inductance, and the allowable current is required to be high in response to the increase in current consumption due to the high speed.
現在のLGAパッケージ用ソケットの主流は、約1mmピッチの400〜800ピンのものであり、金属板を複雑に折り曲げて所定のコンタクト片を作り、これをソケットハウジングにコンタクトを挿入した構造のICソケットが知られている(例えば、特許文献1、2参照)。しかし、これらのICソケットでは、ソケットハウジングに1ピンずつコンタクトを挿入して組み立てるため、ピン数が多くなると製造に必要なコンタクト挿入時間が増大し、生産性が悪化する。
The current mainstream of LGA package sockets is 400-800 pins with a pitch of about 1 mm. An IC socket having a structure in which a metal plate is bent in a complicated manner to form a predetermined contact piece and a contact is inserted into the socket housing. Is known (see, for example,
このような問題の対策案として、コンタクトとして導電性エラストマーによるコラムを用いた構造のものが知られている(例えば、特許文献3参照)。しかし、このようにコンタクトとしてエラストマーを用いると、金属接触に比較して接触抵抗が高く、高電流化に対して発熱や電圧降下の増大の恐れがある。また、エラストマーを用いたICソケットでは、ICパッケージを装着するときに、エラストマーでなるコンタクト部が、ICパッケージ側のランド(電極部)の金属面をワイピング(擦過)しないため、ランドの酸化膜除去が期待できないという問題点がある。さらに、このICソケットは、ICパッケージ側の金属でなるランドに対してエラストマーの圧接で接触するため、経時的に接触抵抗が変化するなどの問題点がある。
そこで、本発明の目的は、ICパッケージ側のランドに対してコンタクトが金属接触でき、生産性が高く、多ピン化、ファインピッチ化、大電流化、高速化に対応できるICソケットおよびその製造方法を提供することにある。 SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an IC socket that can make metal contact with a land on the IC package side, has high productivity, and can cope with high pin count, fine pitch, large current, and high speed, and a manufacturing method thereof. Is to provide.
本発明の第1の特徴は、ICソケットであって、ICパッケージを装着する表面側から裏面側に向けて形成された複数のコンタクト収納穴が配置され、前記コンタクト収納穴の周縁部にコンタクト固定部を有する、板状のソケット基体と、前記コンタクト収納穴に臨んだ状態で前記コンタクト固定部の表面側に一端部側が固定されたコンタクト片と、前記コンタクト片の前記一端部と前記コンタクト固定部とを貫いて前記コンタクト片を前記ソケット基体の裏面側への導通を可能にするスルーホール部と、を備えることを要旨とする。 A first feature of the present invention is an IC socket, in which a plurality of contact storage holes formed from the front surface side to the back surface side on which an IC package is mounted are arranged, and contacts are fixed to the peripheral portion of the contact storage hole. A plate-shaped socket base, a contact piece having one end side fixed to the surface side of the contact fixing part in a state facing the contact housing hole, the one end part of the contact piece, and the contact fixing part And a through-hole portion that allows the contact piece to conduct to the back side of the socket base.
本発明の第2の特徴は、ICソケット複合体であって、請求項1乃至請求項9のいずれか一項に記載された一対のICソケットが、裏面同士を合わせた状態で当接され、且つ前記裏面側の前記スルーホール部同士がはんだづけされていることを要旨とする。
A second feature of the present invention is an IC socket composite, wherein the pair of IC sockets according to any one of
本発明の第3の特徴は、一端部にスルーホール用開口部を有する複数のコンタクト片を、金属板を加工して形成する工程と、前記コンタクト片を射出成形型にセットして、板状のソケット基体を射出成形を行って、ICパッケージを装着する表面側から裏面側に向けて凹んだ複数のコンタクト収納穴が配置され、且つ前記コンタクト収納穴の周縁部のコンタクト固定部に前記コンタクト片の一端部が固定され、前記スルーホール用開口部と連通するスルーホールを有する、板状のソケット基体を形成する工程と、前記スルーホールおよび前記コンタクト片の一部を露出させるように型にセットする工程と、前記スルーホールおよび前記コンタクト片の露出した部分にめっき層を形成するめっき工程と、を備えることを要旨とする。 A third feature of the present invention is that a plurality of contact pieces having through-hole openings at one end are formed by processing a metal plate, and the contact pieces are set in an injection mold to form a plate shape. A plurality of contact storage holes recessed from the front surface side to the back surface side where the IC package is mounted are disposed by injection molding, and the contact piece is formed on the contact fixing portion at the peripheral edge of the contact storage hole. A step of forming a plate-shaped socket base having a through hole communicating with the through hole opening, and setting the mold to expose a part of the through hole and the contact piece. And a plating step of forming a plating layer on the exposed portions of the through holes and the contact pieces.
本発明によれば、ICパッケージ側のランドに対してコンタクトが金属接触でき、生産性が高く、多ピン化、ファインピッチ化、大電流化、高速化に対応できるICソケットを提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide an IC socket capable of making metal contact with a land on the IC package side, having high productivity, and capable of dealing with high pin count, fine pitch, high current, and high speed. .
以下、本発明に係るICソケット、ICソケット複合体、およびICソケットの製造方法を図面に示す実施の形態に基づいて説明する。 Hereinafter, an IC socket, an IC socket composite, and a method of manufacturing an IC socket according to the present invention will be described based on embodiments shown in the drawings.
[第1の実施の形態]
図1および図2は、第1の実施の形態に係るICソケットを示している。なお、図1は第1の実施の形態に係るICソケットの要部平面図、図2は図1のA−A断面図である。
[First Embodiment]
1 and 2 show an IC socket according to the first embodiment. 1 is a main part plan view of the IC socket according to the first embodiment, and FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line AA of FIG.
本実施の形態のICソケット1は、複数のコンタクト片10と、これらコンタクト片10を所定の配列で配置するソケット基体20と、スルーホール部30と、から大略構成されている。
The
コンタクト片10は、例えば、ベリリウム銅、燐青銅などの銅合金やステンレス合金などの、導電性ならびに反発性(ばね性)を有する金属板を外形加工してなる。このコンタクト片10は長方形状であり、一端部側には後述するスルーホール31と連通するための開口部11が形成されている。
The
図2に示すように、コンタクト片10の他端部側には、装着されるICパッケージ(図示省略する。)側へ膨出するコンタクト突起12が形成されている。このコンタクト突起12は、コンタクト片10の上面に半球形状に形成された樹脂突起13、この樹脂突起13を封止するように形成されためっき層14とで構成されている。
As shown in FIG. 2, a
ソケット基体20は、コンタクト収納穴としての貫通孔21が所定の配置で形成されている。本実施の形態では、貫通孔21の平面形状が長方形である。また、ソケット基体20における貫通孔21の一方側の周縁部近傍には、図示しないICパッケージ側に突出する支柱状のコンタクト固定部22が形成されている。図1および図2に示すように、このコンタクト固定部22は、貫通孔21の長手方向に沿って、貫通孔21同士の間に支柱状に形成されたものである。このコンタクト固定部22には、ソケット基体20の表裏方向に貫通するスルーホール31が形成されている。そして、このコンタクト固定部22の上部には、コンタクト片10の一端部側が固定され、コンタクト固定部22のスルーホール31と、このコンタクト片10の開口部11とが連通するように設定されている。
The
コンタクト片10は、上述するように、一端部側がこのコンタクト固定部22に固定され、一端部以外の部分は、貫通孔21に臨んだ状態となっている。
As described above, one end of the
スルーホール部30は、コンタクト固定部22を表裏方向に貫通するスルーホール31の内壁を介して、コンタクト片10の開口部11とスルーホール31とが合致した状態でコンタクト片10の開口部11の周辺と、スルーホール31の裏面側の周辺とに亘って形成されためっき層32でなる。なお、めっき層14,32の下地としては、触媒層が形成されていてもよい。
The through-
本実施の形態に係るICソケット1では、ICパッケージ側のランドに対してコンタクト片10が金属接触できるため、接触抵抗を小さく設定できる。
In the
(ICパッケージの装着)
次に、図3〜図5を用いて、本実施の形態に係るICソケット1に、ICパッケージ40を装着する場合について説明する。
(Installation of IC package)
Next, the case where the
図3は、ICパッケージ40をICソケット1に位置合わせした装着直前の状態を示す。このICパッケージ40はLGAパッケージであり、下面に複数のランド部41が配置されている。ICソケット1側のコンタクト片10の他端部に突設されたコンタクト突起12は、ICパッケージ40のランド部41の配列と同様に設けられている。図3に示すように、コンタクト突起12と当接するランド部41は、図中一点鎖線L1で示す位置である。
FIG. 3 shows a state immediately before the
図4は、ICパッケージ40のランド部41をICソケット1のコンタクト突起12に当接させた後、さらに押し付けた状態を示す。このとき、図4に示すように、コンタクト突起12とランド部41とは、図中一点鎖線L2で示す位置で当接する。したがって、コンタクト突起12のめっき層14とランド部41とは一点鎖線L1からL2の位置に互いにズレながら擦られる。
FIG. 4 shows a state in which the
図5は、ICパッケージ40のランド部41をICソケット1のコンタクト突起12へさらに押し付けた状態を示す。このとき、図5に示すように、コンタクト突起12とランド部41とは、図中一点鎖線L3で示す位置で当接する。したがって、コンタクト突起12のめっき層14とランド部41とは最初に当接した状態から当接点が距離dだけ互いにズレながら擦られて移動する。最終的には、ICパッケージ40が外れないように、図示しないリテンションロック機構で保持すればよい。
FIG. 5 shows a state in which the
このように接点が擦られながらずれることで、接点の酸化膜を除去するワイピング作用がある。したがって、めっき層14とランド部41とは、接触抵抗の小さい接続を確保することができる。
As described above, the contact is displaced while being rubbed, thereby having a wiping action for removing the oxide film on the contact. Therefore, the
(ICソケットの実装)
本実施の形態に係るICソケット1の実装方法としては、はんだボールを用いることができる。以下、はんだボールの形成方法について図6(a)〜(c)を用いて説明する。
(IC socket mounting)
As a method for mounting the
この実装方法は、例えばパーソナルコンピュータのマザーボード(メインプリント基板)においてICソケット1を実装する場合に用いることができる。図6(a)、(b)に示すように、ICソケット1のスルーホール部30の裏面側のランド32Aに、はんだペースト50をスクリーン印刷する。
This mounting method can be used, for example, when the
次に、図6(c)に示すように、リフローなどの方法により加熱して、印刷したはんだペースト50をはんだボール51に変化させればよい。
Next, as shown in FIG. 6C, the printed
このようにして製造されたICソケット1をマザーボードに実装するには、ICソケット1をマザーボード上に位置合わせして載置し、他の部品を実装する際に同時にリフローによるはんだ付けを行えばよい。
In order to mount the manufactured
(ICソケット複合体)
ICソケットのメンテナンス性が要求されるサーバ用ソケットでは、図7(b)に示すような、ICソケット複合体1Aを用いることが便利である。
(IC socket complex)
For a server socket that requires maintenance of an IC socket, it is convenient to use an
このICソケット複合体1Aの製造方法は、図7(a)に示すように、スルーホール部33のランド32Aが上下に対称となるように設けられた、一対のICソケット1用意する。これらICソケット1の一方のランド32Aには、図7(a)に示すように、はんだペースト50を印刷しておく。そして、図7(a)に示すように、一対のICソケット1を互いにランド32A同士が対応するように位置合わせして接合させる。このとき、互いに対応するランド32A同士の間には、図7(a)に示すように、はんだペースト50が介在された状態となる。
As shown in FIG. 7A, the
次に、この状態を保ちながら、リフローなどの加熱を行って上下一対のICソケット1のランド32A同士をはんだ付けすることにより、ICソケット複合体1Aが完成する。
Next, while maintaining this state, heating such as reflow is performed to solder the
このICソケット複合体1Aは、表裏面にそれぞれコンタクトを有するため、表裏面において交換可能なソケット構造体を実現できる。
Since this
(ICソケットの製造方法)
次に、本実施の形態に係るICソケット1の製造方法についてMID(Molded Interconection Device)技術を適用して説明する。なお、この製造方法は、図11に示すようなフローチャートに沿って行われる。
(IC socket manufacturing method)
Next, a method for manufacturing the
先ず、図8(a)に示すように、金属板10Aを用意し、例えばエッチングやプレスにより外形加工を行って、図8(b)に示すようなコンタクト片10を形成する。このコンタクト片10は、図1に示したように長方形状であり、一端部側に開口部11を形成しておく。
First, as shown in FIG. 8A, a
コンタクト片10は、製造するICソケット1が必要とするコンタクトの数を用意する。これらコンタクト片10同士は、その後の工程が行い易いように、最終的なICソケット1のコンタクト片10の配列に並んだ形で、必要なコンタクト数分だけ外形加工して後述するランナー16を介して一体に設けておく。なお、必要に応じて、この一体化された加工済みのコンタクト片10は複数に分けてもよいが、工程での扱い易さとしては、全てのコンタクト片10が一体になったブロックとして加工されることが望ましい。図10は、ICソケット1の半完成品の平面図であり、コンタクト片10同士がランナー16で一体化されて繋がっている状態を示している。このようにコンタクト片10をランナー16で電気的に繋がっていればめっき工程で電解めっきを用いることが可能になる。
The
次に、一体化された複数のコンタクト片10を型にセットして、一次射出成型を行う。この結果、図8(c)に示すように、コンタクト片10の一端部側がソケット基体20にインサート(本実施の形態では接合)され、且つコンタクト片10の他端部の表面上に樹脂突起13が形成された半製品が作製できる。
Next, a plurality of
その後、図8(c)の状態でエッチングにて表面処理を行う。 Thereafter, surface treatment is performed by etching in the state of FIG.
次に、めっきする部分を残して二次射出成型を行う。この二次射出成型用の型は、回路形成を行うための単なるマスクである。図9(a)においては、二次射出成型用の型を省略して示す。そして、図9(a)に示すように、図示しない二次射出成型用の型から露出した部分に触媒層15を付着させる。
Next, secondary injection molding is performed leaving a portion to be plated. This mold for secondary injection molding is merely a mask for performing circuit formation. In FIG. 9A, a secondary injection mold is omitted. Then, as shown in FIG. 9A, the
続いて、図9(b)に示すように、コンタクト片10の開口部11の周囲部分と樹脂突起13上の触媒層15が残るように触媒層15のエッチングを行う。
Subsequently, as shown in FIG. 9B, the
その後、図示しない二次射出成型用の型を除去した後、電解めっきを行えば、図9(c)に示すような三次元回路形成を行うことができる。このめっき工程では、コンタクト突起12の表面のめっき層14と、スルーホール31内の触媒層15の表面のめっき層32とが、同時に形成される。なお、本実施の形態においては電解めっきを用いたが、無電解めっきを行ってもよい。
Then, after removing a mold for secondary injection molding (not shown) and performing electroplating, three-dimensional circuit formation as shown in FIG. 9C can be performed. In this plating step, the
その後、ランナー16を適宜カットすることにより、本実施の形態に係るICソケット1の製造が完成する。また、図6(a)〜(c)に示したように、スルーホール部30のめっき層32のランド32Aにはんだボール51を形成してもよいし、その後リテンションロック機構部品を設けてもよい。
Thereafter, the
ここで、具体的なICソケット1の仕様の一例について説明する。
Here, an example of a specific specification of the
回路幅 0.2mm〜
回路間隔 0.2mm〜
コンタクト片の板厚 0.3mm〜
スルーホール径 φ0.2mm
めっきの下地 Cu:4〜10μm
めっきの中間層 Ni:6〜20μm
めっきの仕上層 Au:0.1〜0.3μm
適用樹脂 LCP、SPS、PA、PPA、PPS、 PC−ABS、PEI
なお、上記仕様例においては、めっきとして、下地(Cu)、中間(Ni)、仕上げ(Au)の例を示したが、使用環境に応じて、中間を無くし、Cuに直にAuめっきをしてもよい。
Circuit width 0.2mm ~
Circuit interval 0.2mm ~
Contact piece thickness 0.3mm ~
Through hole diameter φ0.2mm
Plating base Cu: 4 to 10 μm
Plating intermediate layer Ni: 6 to 20 μm
Plating finish layer Au: 0.1 to 0.3 μm
Applicable resin LCP, SPS, PA, PPA, PPS, PC-ABS, PEI
In the above specification example, examples of the base (Cu), intermediate (Ni), and finish (Au) are shown as plating. However, depending on the usage environment, the intermediate is eliminated and Au is plated directly on Cu. May be.
また、適用樹脂は必要な特性によって選択すればよいが、電気的特性を重視する場合、低誘電率である液晶ポリマー(LCP)は有効な材料である。LCPを用いる場合は、耐熱性を高くし易く、リフロー耐性も十分なものを実現しやすい上、強度も高いという利点がある。その反面、機械的強度に異方性があり、ウエルド強度が低いという欠点もある。しかし、近年はエンジニアリングプラスチックの技術は飛躍的に進歩しており、スーパーエンジニアリングプラスチックと呼ばれる、これまで相反した特徴であったものを両立する材料が次々に開発されてており、MDI技術では一般的に射出成型に使用できる材料であれば適用が可能であるため、今後目的にあった樹脂が選択できる可能性は益々高くなると考えられる。 The applied resin may be selected depending on the required characteristics. However, when electric characteristics are important, a liquid crystal polymer (LCP) having a low dielectric constant is an effective material. In the case of using LCP, there is an advantage that heat resistance is easily increased, a reflow resistance is sufficient, and that strength is high. On the other hand, the mechanical strength is anisotropic and the weld strength is low. However, in recent years, engineering plastics technology has made great strides, and materials called super engineering plastics, which have been compatible with each other, have been developed one after another. Since any material that can be used for injection molding can be applied, it is considered that the possibility of selecting a resin that meets the purpose will be increased.
本実施の形態に係るICソケット1では、MID技術を用いることにより、従来のICソケットよりも生産性が飛躍的に高く、多ピン化、ファインピッチ化、大電流化、高速化にも対応できる。
In the
[第2の実施の形態]
図12〜図14は、本発明の第2の実施の形態に係るICソケット2を示している。図12はICソケット2の要部平面図、図13(a)は図12のB−B断面図、図13(b)は図12のC−C断面図、図14(a)は図12のD−D断面図、図14(b)は図12のD−D断面図である。なお、第2の実施の形態のICソケット2の各部は、上記した第1の実施の形態と同様の部分には同一の符号もしくは類似の符号を付して詳細な説明は省略する。
[Second Embodiment]
12 to 14 show an
本実施の形態に係るICソケット2は、コンタクト固定部22の高さは、周囲の樹脂部分と同一の厚さに設定されたものである。すなわち、ソケット基体20は、コンタクト固定部22が表面側へ突出することがなく、コンタクト片10の台座となる樹脂には単に長方形のコンタクト収納穴としての貫通孔21Aが所定の配列で形成され、貫通孔21Aの周縁部のコンタクト固定部22にスルーホール31が形成された簡単な構造である。このため、一次射出成型に用いられる裏面側に配置される金型は単純な凸部のみの形状であり、表面側に配置される金型は樹脂突起13Aを形成するための凹部のみの形状で実現できる。
In the
このように、コンタクト片10を固定するコンタクト固定部22の高さを樹脂で制御できるため、コンタクト片10のストローク設計に自由度があり、求められるコンタクトピッチやピン数の仕様、ICパッケージの反り許容値によってはコンタクト片10の長さが短くてもよい場合が考えられる。
As described above, since the height of the
また、本実施の形態に係るICソケット2では、コンタクト片10が臨む貫通孔21Aの幅がコンタクト片10の幅よりも余裕を持って幅広に設定されている。
Further, in the
さらに、本実施の形態に係るICソケット2では、コンタクト片10の他端部に設けられる樹脂突起13Aの形状が半球状ではなく、略半円柱(蒲鉾)形状に設定されている。
Furthermore, in the
本実施の形態に係るICソケット2においても、上記した第1の実施の形態と同様の作用・効果を奏することができる。また、本実施の形態に係るICソケット2の製造方法は、上記した第1の実施の形態に係るICソケット1の製造方法と同様である。
Also in the
[第3の実施の形態]
図15〜図17は、本発明の第3の実施の形態に係るICソケット3を示している。図15はICソケット3の要部平面図、図16(a)は図15のF−F断面図、図16(b)は図15のG−G断面図、図16(c)は図15のH−H断面図、図17(a)は図15のI−I断面図、図17(b)は図15のJ−J断面図、図17(c)は図15のK−K断面図である。なお、第3の実施の形態のICソケット3の各部は、上記した第1および第2の実施の形態に係るICソケット1もしくはICソケット2と同様の部分には同一の符号もしくは類似の符号を付して詳細な説明は省略する。
[Third Embodiment]
15 to 17 show an
本実施の形態に係るICソケット3では、上記した第2の実施の形態に係るICソケット2と同様に、コンタクト固定部22の高さは、周囲の樹脂部分と同一の厚さに設定されたものである。すなわち、ソケット基体20は、コンタクト固定部22が表面側へ突出することがなく、コンタクト片10Aの台座となる樹脂には単に長方形のコンタクト収納穴としての貫通孔21Bが所定の配列で形成され、貫通孔21Bの周縁部のコンタクト固定部22にスルーホール31が形成された簡単な構造である。このため、一次射出成型に用いられる裏面側に配置される金型は単純な凸部のみの形状であり、表面側に配置される金型は樹脂突起13Aを形成するための凹部のみの形状で実現できる。
In the
このように、コンタクト片10Aは、図15に示すように、クランク状に屈曲する形状であり、ストロークを長く設定している。コンタクト片10Aの設計は、多ピン化、ファインピッチ化に伴い、パッケージ反りの許容値、接圧との関係も重要であり、今後技術的な難易度は高くなる場合も予想される。したがって、このような形状として、コンタクト片10Aの板バネ長を長くし、あるいはストロークにおける荷重を低くすることができる構造は、バネ設計の自由度を広げる方法として有効である。本実施の形態に係るICソケット3は、成型に要する金型形状を簡単にし、コンタクトピッチが短いにも拘わらず板バネ長を実効的に長くとることができる。
Thus, as shown in FIG. 15, the
このため、本実施の形態に係るICソケット3では、コンタクト片10Aが臨む貫通孔21Bは、板バネ長を稼げるように屈曲してコンタクト片10Aを斜めに配置できるようにしている。
For this reason, in the
本実施の形態に係るICソケット3においても、コンタクト片10Aの他端部に設けられる樹脂突起13Aの形状が半球状ではなく、略半円柱(蒲鉾)形状に設定されている。
Also in the
本実施の形態に係るICソケット3においても、上記した第1および第2の実施の形態と同様の作用・効果を奏することができる。また、本実施の形態に係るICソケット3の製造方法は、上記した第1の実施の形態に係るICソケット1の製造方法と同様である。
Also in the
[第4の実施の形態]
図18および図19は、本発明の第4の実施の形態に係るICソケット4を示している。
[Fourth Embodiment]
18 and 19 show an
本実施の形態に係るICソケット4においても、コンタクト固定部22の高さは、周囲の樹脂部分と同一の厚さに設定されたものである。すなわち、ソケット基体20は、コンタクト固定部22が表面側へ突出することがなく、コンタクト片10の台座となる樹脂には単に長方形のコンタクト収納穴としての貫通孔21が所定の配列で形成され、貫通孔21の周縁部のコンタクト固定部22にスルーホールが形成された簡単な構造である。このため、一次射出成型に用いられる裏面側に配置される金型は単純な凸部のみの形状であり、表面側に配置される金型は樹脂突起13を形成するための凹部のみの形状で実現できる。
Also in the
このように、コンタクト片10を固定するコンタクト固定部22の高さを樹脂で制御できるため、コンタクト片10のストローク設計に自由度があり、求められるコンタクトピッチやピン数の仕様、ICパッケージの反り許容値によってはコンタクト片10の長さが短くてもよい場合が考えられる。
As described above, since the height of the
また、本実施の形態に係る貫通孔21内には、コンタクト片10の接圧調整ならびにコンタクト片10を変形に伴う接圧の減少を抑えるために、弾力性を有するエラストマー60が配置されている。
Further, in the through
本実施の形態に係るICソケット4においても、上記した第1の実施の形態と同様の作用・効果を奏することができる。また、本実施の形態に係るICソケット4の製造方法は、上記した第1の実施の形態に係るICソケット1の製造方法と同様であるが、図20に示すように、ソケット基体(ソケットハウジング)20を成形した後に、貫通孔21内にエラストマー60を成形する工程が組み込まれている。
Also in the
[第5の実施の形態]
図20および図21は、本発明の第5の実施の形態に係るICソケット5を示している。図20は、ICソケット5の要部断面図、図21は図20のM−M断面図である。
[Fifth Embodiment]
20 and 21 show an
本実施の形態に係るICソケット5は、図21に示すように、コンタクト固定部22にコンタクト片10をインサート成形したときに、コンタクト片10の上にも樹脂層22Aが形成されて、コンタクト片10が樹脂で挟まれる構造となっている。このため、コンタクト片10がコンタクト固定部22に確実に保持されており、コンタクト片10に負荷がかかった場合の耐久性を向上している。
In the
本実施の形態における他の構成は、上記した各実施の形態に近似するものであるため、図面に同様の符号を付して説明を省略する。 Other configurations in the present embodiment are similar to those in the above-described embodiments, and thus the same reference numerals are given to the drawings and description thereof is omitted.
[その他の実施の形態]
上述した実施の形態の開示の一部をなす論述および図面はこの発明を限定するものであると理解すべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施の形態、実施例および運用技術が明らかとなろう。
[Other embodiments]
It should not be understood that the descriptions and drawings which form part of the disclosure of the above-described embodiments limit the present invention. From this disclosure, various alternative embodiments, examples and operational techniques will be apparent to those skilled in the art.
例えば、上記した各実施の形態では、めっき層の下に触媒層を形成した例であるが、触媒層を形成せずにめっき層を形成しても勿論よい。 For example, each of the above embodiments is an example in which the catalyst layer is formed under the plating layer, but it is needless to say that the plating layer may be formed without forming the catalyst layer.
また、上記した各実施の形態では、コンタクト収納穴としての貫通孔21,21A,21Bを形成したが、有底の凹溝であってもよい。
Further, in each of the embodiments described above, the through
さらに、上記した各実施の形態では、コンタクト片10の他端部に樹脂突起13,13Aを形成して、この樹脂突起13,13Aの表面にめっきを施したが、金属板でなるコンタクト片10の他端部にプレス加工により表面側へ膨出した突部を形成しても勿論よい。
Further, in each of the embodiments described above, the
1,2,3,4,5 ICソケット
1A ICソケット複合体
10 コンタクト片
10A コンタクト片
11 開口部
12 コンタクト突起
13,13A 樹脂突起
14,32 めっき層
15 触媒層
16 ランナー
20 ソケット基体
21,21A,21B 貫通孔
22 コンタクト固定部
22A 樹脂層
30 スルーホール部
31 スルーホール
32A ランド
40 ICパッケージ
41 ランド部
50 はんだペースト
51 はんだボール
60 エラストマー
1, 2, 3, 4, 5
Claims (13)
前記コンタクト収納穴に臨んだ状態で前記コンタクト固定部の表面側に一端部側が固定されたコンタクト片と、
前記コンタクト片の前記一端部と前記コンタクト固定部とを貫いて前記コンタクト片を前記ソケット基体の裏面側への導通を可能にするスルーホール部と、
を備えることを特徴とするICソケット。 A plurality of contact storage holes formed from the front surface side to the back surface side to which the IC package is mounted, and a plate-shaped socket base having a contact fixing portion at the peripheral edge of the contact storage hole;
A contact piece whose one end is fixed to the surface side of the contact fixing portion in a state of facing the contact storing hole;
A through-hole portion that allows the contact piece to pass through the one end portion of the contact piece and the contact fixing portion to the back side of the socket base;
An IC socket comprising:
前記コンタクト片を射出成形型にセットして、板状のソケット基体を射出成形を行って、ICパッケージを装着する表面側から裏面側に向けて凹んだ複数のコンタクト収納穴が配置され、且つ前記コンタクト収納穴の周縁部のコンタクト固定部に前記コンタクト片の一端部が固定され、前記スルーホール用開口部と連通するスルーホールを有する、板状のソケット基体を形成する工程と、
前記スルーホールおよび前記コンタクト片の一部を露出させるように型にセットする工程と、
前記スルーホールおよび前記コンタクト片の露出した部分にめっき層を形成するめっき工程と、
を備えることを特徴とするICソケットの製造方法。 A step of forming a plurality of contact pieces having through-hole openings at one end by processing a metal plate;
The contact piece is set in an injection mold, a plate-shaped socket base is injection-molded, and a plurality of contact housing holes recessed from the front surface side to the back surface side on which the IC package is mounted are arranged, and A step of forming a plate-shaped socket base having one end of the contact piece fixed to a contact fixing portion at a peripheral edge of a contact housing hole and having a through hole communicating with the through hole opening;
Setting the mold so as to expose a part of the through hole and the contact piece;
A plating step of forming a plating layer on the exposed portion of the through hole and the contact piece;
A method for manufacturing an IC socket, comprising:
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2006
- 2006-07-21 JP JP2006199847A patent/JP2008027774A/en active Pending
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