JP2008026260A - Chip parts jig for four-terminal measurement - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、下面に電極を備える微小なチップ部品の電気的な特性を四端子測定法により測定することができるほか、サイズを異にするチップ部品にも柔軟に対応させつつ、電気的な接触も確実に確保させた状態のもとで位置固定することができる四端子測定用チップ部品治具に関する技術である。 In addition to being able to measure the electrical characteristics of a minute chip component having electrodes on the bottom surface by a four-terminal measurement method, the present invention can flexibly accommodate chip components of different sizes while making electrical contact. This is a technique related to a chip component jig for four-terminal measurement that can be fixed in a fixed position.
図7は、下記特許文献1に開示されているチップ部品測定用治具の全体斜視図であり、チップ部品測定用治具1の全体は、測定されるべきチップ部品が水平な下面側に備える一対の電極と個別に接触する各接触端子5,5を表出させてなる定置台部3を固定した筐体などからなる基台2と、該基台2上に配設されて接触端子5,5に電極を各別に接触させた状態のもとで定置台部3との間でチップ部品を位置固定する保持機構6とで構成されている。
この場合、定置台部3は、基台2側にねじ止めして固定配置される絶縁性の台本体部4と、該台本体部4の略中央部にチップ部品の大きさとの関係で定まる縦横幅が付与された凹部4aと、該凹部4a上の適宜位置に平面視が略三角形状を呈し、かつ、それぞれの頂角部側を対向させて隣接配置された導電性の一対の接触端子5,5とを備えて形成されている。
In this case, the stationary base 3 is determined by the relationship between the
一方、保持機構6は、基台1上に位置固定を自在に配設される支台部7と、該支台部7上にその雄ねじ側を突出させて直立配置されるボルト軸部8と、該ボルト軸部8にその長さ方向を直交させ、かつ、上昇方向への付勢力を伴って遊挿される昇降腕部9と、付勢力に抗した昇降腕部9の押し下げを自在にボルト軸部8に螺着されるナット部8aと、昇降腕部9を回動停止させるストッパー9aとで形成されている。
On the other hand, the holding mechanism 6 includes an
このため、測定時には、昇降腕部9の先端側に垂設された圧接部の押圧力によりその位置が固定された状態のもとで定置台部3上にチップ部品を定置することができることになる。
For this reason, at the time of measurement, it is possible to place the chip component on the stationary base 3 under a state where the position is fixed by the pressing force of the pressure contact portion suspended from the distal end side of the
しかし、図7に示すチップ部品測定用治具1による場合には、下面に電極を備えるチップ部品を二端子測定法により測定することはできるものの、より測定精度が高い四端子測定法による測定には対応させることができない不都合があった。 However, in the case of using the chip component measuring jig 1 shown in FIG. 7, a chip component having electrodes on the lower surface can be measured by the two-terminal measurement method, but the measurement by the four-terminal measurement method with higher measurement accuracy is possible. There was an inconvenience that could not be dealt with.
また、図7に示すチップ部品測定用治具1による場合には、面サイズを同じくする同一のチップ部品に限定され、面サイズを異にするチップ部品には柔軟に適用させることができないという不具合もあった。 Further, in the case of using the chip part measuring jig 1 shown in FIG. 7, it is limited to the same chip part having the same surface size, and cannot be flexibly applied to chip parts having different surface sizes. There was also.
本発明は、従来例にみられた上記課題に鑑み、下面電極タイプの微小なチップ部品の電気的な特性を四端子測定法により精度を高めて確実に測定することができるほか、サイズを異にするチップ部品であっても柔軟に対応させることもできる四端子測定用チップ部品治具を提供することを目的とする。 In view of the above-mentioned problems seen in the conventional example, the present invention can measure the electrical characteristics of a small chip component of the bottom electrode type with a high accuracy by a four-terminal measurement method, and can also vary the size. It is an object of the present invention to provide a chip component jig for four-terminal measurement that can be flexibly adapted even to a chip component to be made.
本発明は、上記目的を達成すべくなされたものであり、測定対象試料としてのチップ部品が下面側に相互に向き合った位置関係のもとで備える一対の電極における一方の前記電極側に各別に接触させる2本の接触端子を具備させた一側端子台と、他方の前記電極側に各別に接触させる2本の接触端子を具備させた他側端子台と、これら一側端子台と他側端子台とを前記チップ部品の下面サイズに対応させるべく相互の接離とその位置固定とを自在に支持する基台とを少なくとも備え、該基台には、前記一側端子台の各接触端子にチップ部品の一方の前記電極を、前記他側端子台の各接触端子にチップ部品の他方の前記電極をそれぞれ接触させて前記チップ部品を定置する押当て部材を配設したことを最も主要な特徴とする。 The present invention has been made to achieve the above-mentioned object, and each of the electrode parts in a pair of electrodes provided under a positional relationship in which chip parts as measurement target samples face each other on the lower surface side is separately provided. One side terminal block provided with two contact terminals to be contacted, the other side terminal block provided with two contact terminals respectively brought into contact with the other electrode side, and the one side terminal block and the other side And at least a base for freely supporting and fixing the position of the terminal block so as to correspond to the size of the lower surface of the chip component, and the base includes each contact terminal of the one-side terminal block. The most important thing is that one of the electrodes of the chip component is disposed, and the pressing member for placing the chip component is arranged by bringing the other electrode of the chip component into contact with each contact terminal of the other terminal block. Features.
この場合、それぞれの前記接触端子における少なくとも各接触端部側は、前記押当て部材を介して前記チップ部品が押し付けられた際に撓む可撓性が付与されて前記一側端子台と前記他側端子台とに各別に配設させておくのが好ましい。 In this case, at least each contact end portion side of each contact terminal is provided with flexibility to bend when the chip component is pressed through the pressing member, so that the one-side terminal block and the other are provided. It is preferable to arrange each separately on the side terminal block.
請求項1に係る発明によれば、2本の接触端子を具備させた一側端子台と、2本の接触端子を具備させた他側端子台とを、チップ部品のサイズに対応させるべく相互の接離とその位置固定とを自在に基台側に支持させてあるので、下面電極タイプの微小なチップ部品の電気的な特性をそのサイズの大小によく対応させながら四端子測定法により精度を高めて確実に測定することができる。 According to the first aspect of the present invention, the one side terminal block provided with two contact terminals and the other side terminal block provided with two contact terminals are mutually connected to correspond to the size of the chip component. Since the contact and separation of the electrode and its position fixing are supported on the base side freely, the accuracy of the four-terminal measurement method is achieved while making the electrical characteristics of the small chip parts of the bottom electrode type well correspond to the size of the chip. Can be measured reliably.
また、請求項2に係る発明によれば、計4本の接触端子における各接触端部側には、押し当て部材を介してチップ部品が押し付けられた際に下方に撓む可撓性が付与されているので、各接触端のすべての位置を同一平面上に強制的に位置させることで、より確実な接触関係を確保して精度の高い四端子測定を行うことができる。 According to the invention of claim 2, the flexibility of bending downward when the chip component is pressed through the pressing member is imparted to each contact end side of the total of four contact terminals. Therefore, by forcibly positioning all the positions of each contact end on the same plane, a more reliable contact relationship can be ensured and highly accurate four-terminal measurement can be performed.
図1は、本発明の一例を押当て部材の一部を省略して示す全体斜視図であり、図2は、図1におけるA−A線矢視方向での断面構造をチップ部品を定置した状態のもとで拡大して示す説明図である。また、図3は、本発明を構成している一側端子台の外観形状を示す斜視図であり、図4は、図3におけるB−B線矢視方向での断面図である。なお、図1における楕円形状の囲繞領域は、四端子測定法による測定領域を示す。 FIG. 1 is an overall perspective view showing an example of the present invention with a part of a pressing member omitted, and FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. It is explanatory drawing expanded and shown under a state. FIG. 3 is a perspective view showing the external shape of the one-side terminal block constituting the present invention, and FIG. 4 is a cross-sectional view in the direction of arrows BB in FIG. In addition, the oval-shaped surrounding area | region in FIG. 1 shows the measurement area | region by a 4-terminal measuring method.
これらの図によれば、四端子測定用チップ部品治具11の全体は、測定対象試料としてのチップ部品71がその下面側に例えば図6に明示されているように相互に向き合った位置関係のもとで備える一対の電極72,73における一方の電極72側に各別に接触させる2本の接触端子20,23を具備させた一側端子台12と、他方の電極73側に各別に接触させる2本の接触端子40,43を具備させた他側端子台32と、これら一側端子台12と他側端子台32とをチップ部品71の下面サイズの大小に対応させるべく相互の接離とその位置固定とを自在に支持する基台52とを少なくとも備えて構成されている。なお、図中の符号19は、アルミ板を備える下カバーを示し、例えば一側端子台12や台本体部13を左右方向に開いた際などに内部に意図しないごみが入り込むのを防止することができるようになっている。
According to these drawings, the whole of the four-terminal measuring
このうち、一側端子台12を構成している略直方体形状を呈する台本体部13は、図3および図4からも明らかなように、その前端部側に位置する下側部を略L字状に削除して前面側と下底面側とを開口させた隔室部14が形成されており、該隔室部14を介して2本の接触端子20,23を配設することができるようになっている。
Among these, the
また、板状を呈する2本の接触端子20,23は、それぞれの開放端側をチップ部品71の一方の電極72への接触端21,24とする直立片部20a,23aと、これら直立片部20a,23aの終端側から水平方向に延設された水平片部20b,23bと、これら水平片部20b,23bの終端側から垂設された垂下片部20c,23cとで形成されている。
Further, the two
この場合、2本の接触端子20,23は、接触端子20の水平片部20b側を上方に、接触端子23の水平片部23b側を下方にそれぞれ配置するとともに、これら水平片部20b,23b相互間にスペーサ材26を介在させた上で一体的に連結して組み合わされており、これにより接触端子23の接触端24側が前列に、接触端子20の接触端21側が後列に配置されることになる。
In this case, the two
これを図示例に基づきより詳しく説明すれば、接触端子20,23における水平片部20b,23bとスペーサ材26とには、その組み合わせ時に相互が対面合致する部位にボルト材29を挿通させるための通孔22,25,27が穿設されている。
This will be described in more detail with reference to the illustrated example. For the
また、台本体部13にあって隔室部14の天井としての役割を担っている表出面14a側の所定位置には、スペーサ材26を介して一体的に組み合わされている接触端子20,23をボルト材29を介して位置固定するための雌ねじ部15が形成されており、該雌ねじ部15にボルト材29を螺着させることで接触端子20,23側を台本体部13側に取り付けることができるようになっている。
In addition,
この場合、台本体部13の前端上角側の中央部に位置する領域には、チップ部品71が一方の電極72側を介して載置される定置部16が形成されており、該定置部16を介して接触端子20の接触端21と接触端子23の接触端24とを一方の電極72に同時接触させるために表出配置することができることになる。
In this case, a
しかも、台本体部13は、接触端子20の直立片部20aと水平片部20bとの境界部位である内側角部と対面する角部に切除部17が形成されており、該切除部17により直立片部20aと水平片部20bとの境界部位である内側角部がやや円曲している場合にも追随させることができるようになっている。また、スペーサ材26は、接触端子20にあって直立片部20a側に位置する直立片部20aとの対面部位の肉厚を薄くして空隙28が確保できるように形成されている。このため、接触端子20には、その接触端21が上方から外力により押し込まれた際に撓ませるための可撓性を付与することができることになる。
Moreover, the
他の1本である接触端子23の直立片部23aと水平片部23bとは、スペーサ材26を介して下方への撓みが自在となって配置されている。この場合、スペーサ材26は、接触端子23の直立片部23aと水平片部23bとの境界部位である内側角部と対面する角部に切除部26aが形成されており、該切除部26aにより直立片部23aと水平片部23bとの境界部位である内側角部がやや円曲している場合にも追随させることができるようになっている。また、接触端子23の直立片部23aと水平片部23bとは、スペーサ材26に対し非固定状態となって単に接触させてあるだけなので、接触端子23の接触端24が上方から外力により押し込まれた際に下方に撓ませることができることになる。
The other
また、台本体部13は、隔室部14近傍に位置する部位の上下方向に貫通させた雌ねじ孔18を有しており、該雌ねじ孔18に抓みねじ58が一側支持片部55上面から長孔57を通して螺着される。このとき、一側端子台12は、一側支持片部55の内壁面方向へと吊り上げられる固定される。その結果、台本体部13は、その全体が一側支持片部55を介して基台52側に固定できることになる。
In addition, the
他側端子台32は、一側端子台12と同じ構造を備えて形成されており、基台52側に一側端子台12と向き合わせた配置関係のもとで一側端子台12と同様に位置固定されることなる。なお、他側端子台32の構造については、図中に一側端子台12と対応させた符号を付してその詳細説明を省略する。
The other-
一側端子台12と他側端子台32とを相互の接離とその位置固定とを自在に支持する基台52は、接触端子20,23,40,43と各別に結線された計4個の接続端子54を備えてなる基台本体部53と、該基台本体部53上に位置固定されて一側端子台12と他側端子台32とをそれぞれの定置部16,36を表出させた状態のもとで接離自在に各別に支持する一側支持片部55と他側支持片部65とを少なくとも備えて構成されている。
A total of four
この場合、一側支持片部55と他側支持片部65とは、一側端子台12と他側端子台32とを相互に接離させる際のガイド部材として機能させるために基台本体部53上に位置固定されている。
In this case, the one-side
これを一側支持片部55と一側端子台12との配置関係について詳しく説明すれば、一側支持片部55の底面側には、基台本体部53との間で一側端子台12側を定置部16を表出させた状態のもとで位置規制しながら進退自在(図示例においては左右方向)に収容する空間部56が形成されているほか、その上面には、一側端子台12の進退方向を長さ方向とする長孔57が形成されている。
This will be described in detail with respect to the positional relationship between the one-
そして、該長孔57は、一側端子台12が図2に示す位置関係にあるときに抓みねじ68をその前端57a側に当接させ、図6に示す位置関係にあるときに抓みねじ68をその後端57b側に当接させる長さを付与して形成されている。
Then, the
他側支持片部65は、一側支持片部55と同じ構造を備えて形成されており、基台52上に一側支持片部55と向き合わせた配置関係のもとで一側支持片部55と同様に位置固定されることなる。なお、他側支持片部65の構造については、図中に一側支持片部55と対応させた符号を付してその詳細説明を省略する。
The other side
しかも、基台52を構成している基台本体部53には、一側端子台12の各接触端子20,23にチップ部品71の一方の電極72を、他側端子台32の各接触端子40,43にチップ部品71の他方の電極73をそれぞれ接触させてチップ部品71を定置部16,36上に定置する押当て部材69が配設されている。
In addition, in the
該押当て部材69は、サイズを異にするチップ部品71を定置部16,36上に位置固定することができる構造を備えているものであればよく、例えば図5に示されているように、基台本体部53上にその昇降を自在に螺着された螺杆材69aと、該螺杆材69aに取り付けられてチップ部品71側と当接する押さえ板69bとで構成するなど、適宜の構造のものを採用することができる。
The pressing
次に、上記構成からなる本発明の作用・効果を説明すれば、まず、今回分の測定対象試料となるチップ部品71が選択される。該チップ部品71は、例えば図6からも明らかなように、水平な下面側に相互に向き合った位置関係で配設されている一対の電極72,73を備えている。
Next, the operation and effect of the present invention having the above-described configuration will be described. First, the
選択されたチップ部品71が最も微少な面サイズを備えているものである場合には、一側端子台12を基台52側に位置固定している抓みねじ58と、他側端子台32を基台52側に位置固定している抓みねじ68とを緩め、一側端子台12は一側支持片部55の空間部56内を進出させ、他側端子台32は他側支持片部65の空間部66内を進出させる。これにより、抓みねじ58は、長孔57の前端57aに、抓みねじ68は長孔67の前端67aにそれぞれ当接する結果、一側端子台12と他側端子台32との移動も停止され、この停止位置にて抓みねじ58と抓みねじ68とを緊締することで位置固定され、図1に示すように相互を接近させることができる。
When the selected
図1の状態のもとでは、一側端子台12と他側端子台32とを接近させることで、図中に楕円形状の囲繞領域として示される測定部が確保され、図2に示すように選択されたチップ部品71が定置される。
Under the state of FIG. 1, by bringing the one-
この場合、チップ部品71は、一方の電極72に一側端子台12が備える2本の接触端子20,23を、他方の電極73に他側端子台32が備える2本の接触端子40,43をそれぞれ接触させる位置関係のもとで定置させることができる。
In this case, the
また、基台52には、押し当て部材69が配設されおり、該押し当て部材69を構成している押さえ板69bをチップ部品71の上面に押し当てることにより電気的な接触関係を確実なものとすることができる。
Further, a pressing
しかも、仮に接触端子20,23,40,43の接触端21,24,41,44の位置が同一平面上に位置していない場合には、押さえ板69bでチップ部品71の上面をより強く押し下げて既に接触状態にあるいずれかの直立片部20a,23a,40a,43aのみを下方へと撓ませることで、接触端21,24,41,44のすべての位置を同一平面上に位置させることができるので、より確実な接触関係を確保して精度の高い四端子測定を行うことができることになる。
Moreover, if the positions of the contact ends 21, 24, 41, 44 of the
かくして、今回分の測定対象試料であるチップ部品71に対する四端子測定を終えた後は、逆の手順を踏むことで該チップ部品71を回収することができる。
Thus, after completing the four-terminal measurement for the
一方、選択されたチップ部品71が最も大きな面サイズを備えているものである場合には、一側端子台12を基台52側に位置固定している抓みねじ58と、他側端子台32を基台52側に位置固定している抓みねじ68とを緩め、一側端子台12は一側支持片部55の空間部56内を後退させ、他側端子台32は他側支持片部65の空間部66内を後退させる。
On the other hand, when the selected
これにより、抓みねじ58は、長孔57の後端57bに、抓みねじ68は長孔67の後端67bにそれぞれ当接する結果、一側端子台12と他側端子台32との移動も停止され、この停止位置にて抓みねじ58と抓みねじ68とを緊締することで位置固定され、図6に示すように相互を離間させることができる。
As a result, the scissors screw 58 abuts on the
図6の状態のもとでは、一側端子台12と他側端子台32とを引き離すことで、大きな面領域となって確保される測定部へとチップ部品71を定置させることができる。
Under the state of FIG. 6, by separating the one-
この場合、チップ部品71は、図2の場合と同様に一方の電極72に一側端子台12が備える2本の接触端子20,23を、他方の電極73に他側端子台32が備える2本の接触端子40,43をそれぞれ接触させる位置関係のもとで定置させることができる。
In this case, as in the case of FIG. 2, the
また、この場合においても押さえ板69bをチップ部品71の上面に押し当てることにより、電気的な接触関係を確実なものとすることができるので、既に接触状態にあるいずれかの直立片部20a,23a,40a,43aのみを下方へと撓ませることで、接触端21,24,41,44のすべての位置を同一平面上に位置させて確実な接触関係を確保して精度の高い四端子測定を行うことができることになる。
Also in this case, since the electrical contact relationship can be ensured by pressing the
かくして、今回分の測定対象試料である最もサイズの大きなチップ部品71に対する四端子測定を終えた後は、逆の手順を踏むことで該チップ部品71を回収することができる。
Thus, after finishing the four-terminal measurement for the
なお、以上は、図2に示す最小サイズのチップ部品71と、図6に示す最大サイズのチップ部品71とを例にその作用・効果を説明したものであり、当然のことながら両者のサイズ内に含まれるサイズを異にするチップ部品のための四端子測定用チップ部品治具11として適用することができる。
Note that the above has described the operation and effect of the
11 四端子測定用チップ部品治具
12 一側端子台
32 他側端子台
13,33 台本体部
14,34 隔室部
15,35 雌ねじ部
16,36 定置部
17,37 切除部
18,38 雌ねじ孔
20,23,40,43 接触端子
20a,23a,40a,43a 直立片部
20b,23b,40b,43b 水平片部
20c,23c,40c,43c 垂下片部
21,24,41,44 接触端
22,25,42,45 通孔
26,46 スペーサ
26a,46a 切除部
27,47 通孔
28,48 空隙
29,49 ボルト材
52 基台
53 基台本体部
54 接続端子
55 一側支持片部
65 他側支持片部
56,66 空間部
57,67 長孔
57a,67a 前端
57b,67b 前端
58,68 抓みねじ
69 押し当て部材
69a 螺杆材
69b 押さえ板
71 チップ部品
72,73 電極
11 Four-terminal measurement
Claims (2)
該基台には、前記一側端子台の各接触端子にチップ部品の一方の前記電極を、前記他側端子台の各接触端子にチップ部品の他方の前記電極をそれぞれ接触させて前記チップ部品を定置する押当て部材を配設したことを特徴とする四端子測定用チップ部品治具。 A one-side terminal block provided with two contact terminals that are individually brought into contact with one of the electrode sides of a pair of electrodes provided under a positional relationship in which a chip component as a measurement target sample faces the lower surface side; The other side terminal block provided with two contact terminals to be brought into contact with the other electrode side separately, and the one side terminal block and the other side terminal block are adapted to correspond to the lower surface size of the chip component. At least a base that freely supports contact and separation and its position fixing,
In the base, one of the electrodes of the chip component is brought into contact with each contact terminal of the one-side terminal block, and the other electrode of the chip component is brought into contact with each contact terminal of the other-side terminal block. A four-terminal measuring chip component jig, characterized in that a pressing member is provided for fixing the terminal.
At least each contact end side of each contact terminal is provided with flexibility to bend when the chip component is pressed through the pressing member, and the one-side terminal block and the other-side terminal block. The four-terminal measuring chip component jig according to claim 1, which is separately provided.
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