JP4417398B2

JP4417398B2 - Inspection device

Info

Publication number: JP4417398B2
Application number: JP2007094718A
Authority: JP
Inventors: 太河野; 清人小出
Original assignee: Japan Aviation Electronics Industry Ltd
Current assignee: Japan Aviation Electronics Industry Ltd
Priority date: 2007-03-30
Filing date: 2007-03-30
Publication date: 2010-02-17
Anticipated expiration: 2027-03-30
Also published as: JP2008249661A

Description

本発明は、ＦＰＣ（ＦｌｅｘｉｂｌｅＰｒｉｎｔｅｄＣｉｒｃｕｉｔ）及びＦＦＣ（ＦｌｅｘｉｂｌｅＦｌａｔＣａｂｌｅ）等の検査対象物の電気的特性を検査する検査装置に関し、詳しく述べると、検査装置に対する検査対象物の挿入、クランプ及び検査対象物とコネクタの接続に関する。 The present invention relates to an inspection apparatus for inspecting electrical characteristics of an inspection object such as FPC (Flexible Printed Circuit) and FFC (Flexible Flat Cable), and more specifically, insertion of an inspection object into the inspection apparatus, clamping, and inspection object Concerning the connection of objects and connectors.

従来の検査装置について図１２〜図１４を参照して説明する。 A conventional inspection apparatus will be described with reference to FIGS.

図１２は検査装置４１の断面図、図１３は検査装置４１の斜視図、図１４は検査装置４１の分解斜視図を、それぞれ示す。下カバー（基台）４２上には、基板４３が搭載され、基板４３上には、ベースフレーム４４が搭載されている。ベースフレーム４４の前方半部と基板４３の間には、インナーフレーム４５が設置されている。ベースフレーム４４には、上カバー４６が嵌合用圧縮コイルばね４７に付勢されてシャフト４８を中心として回転可能に取り付けられている。 12 is a cross-sectional view of the inspection apparatus 41, FIG. 13 is a perspective view of the inspection apparatus 41, and FIG. 14 is an exploded perspective view of the inspection apparatus 41. A substrate 43 is mounted on the lower cover (base) 42, and a base frame 44 is mounted on the substrate 43. An inner frame 45 is installed between the front half of the base frame 44 and the substrate 43. An upper cover 46 is attached to the base frame 44 so as to be rotatable about a shaft 48 by being urged by a compression coil spring 47 for fitting.

基板４３の前部には、フィルムコネクタ４９が取り付けられ、フィルムコネクタ４９の一部は基板４３とインナーフレーム４５の間に位置する。 A film connector 49 is attached to the front portion of the substrate 43, and a part of the film connector 49 is located between the substrate 43 and the inner frame 45.

下カバー４２、基板４３、インナーフレーム４５及びベースフレーム４４の前部には、プッシャ５０が上下移動可能に設置されている。 A pusher 50 is installed in front of the lower cover 42, the substrate 43, the inner frame 45, and the base frame 44 so as to be vertically movable.

図１２において、ＦＰＣ６１がインナーフレーム４５のＦＰＣ挿入口４５ａに挿入された後、上カバー４６をシャフト４８を中心として左回転すると、上カバー４６の左側下面がプッシャ５０の上部を押圧する。したがって、プッシャ５０は下降するので、ＦＰＣ６１はフィルムコネクタ４９と接続する。 In FIG. 12, after the FPC 61 is inserted into the FPC insertion opening 45 a of the inner frame 45, when the upper cover 46 is rotated counterclockwise about the shaft 48, the lower left side surface of the upper cover 46 presses the upper portion of the pusher 50. Accordingly, since the pusher 50 is lowered, the FPC 61 is connected to the film connector 49.

フィルムコネクタ４９をメインテナンスする際、検査装置４１を分解し、フィルムコネクタ４９を基板４３から取り外す。 When the film connector 49 is maintained, the inspection device 41 is disassembled and the film connector 49 is removed from the substrate 43.

この種の検査装置は、本出願前に頒布された刊行物に記載されている（例えば、特許文献１参照。）。 This type of inspection device is described in a publication distributed before the present application (see, for example, Patent Document 1).

なお、フィルムコネクタは、本出願前に頒布された刊行物に記載されている（例えば、特許文献２参照。）。 In addition, the film connector is described in the publication distributed before this application (for example, refer patent document 2).

特開２００６−３４３２６９号公報JP 2006-343269 A 特開２００５−３４０１５３号公報JP 2005-340153 A

前記従来の検査装置は、次の欠点を有する。まず、ＦＰＣの接点とフィルムコネクタの接点以外の箇所では、ＦＰＣとフィルムコネクタは、接触しておらず、また、接触圧力のみで保持されている。したがって、ＦＰＣは、外力によって容易に移動することができる。よって、ＦＰＣはフィルムコネクタに対して接触した状態でずれるため、フィルムコネクタは損傷する。 The conventional inspection apparatus has the following drawbacks. First, in places other than the contact of FPC and the contact of a film connector, FPC and a film connector are not contacting and are hold | maintained only by contact pressure. Therefore, the FPC can be easily moved by an external force. Therefore, the FPC is displaced while being in contact with the film connector, so that the film connector is damaged.

また、フィルムコネクタをメインテナンスする際、基板から取り外すが、フィルムコネクタをピンセット等を使用して基板に対して取付け・取外しする作業が煩雑である。更に、フィルムコネクタを損傷する恐れが生じる。 Further, when the film connector is maintained, it is removed from the substrate, but the work of attaching and removing the film connector to / from the substrate using tweezers or the like is complicated. Furthermore, the film connector may be damaged.

そこで、本発明は、前記従来の検査装置の欠点を改良し、ＦＰＣ等の接続対象物が外力によって容易に移動しないようにしてコネクタの損傷を防止し、また、コネクタを基板から取り外さずにメインテナンスを行うことができる検査装置を提供しようとするものである。 Therefore, the present invention improves the drawbacks of the conventional inspection device, prevents the connector from being easily moved by an external force, such as an FPC, and prevents the connector from being damaged, and maintains the connector without removing it from the board. It is an object of the present invention to provide an inspection apparatus capable of performing the above.

本発明は、前記課題を解決するため、次の手段を採用する。 The present invention employs the following means in order to solve the above problems.

１．検査対象物３１を検査する検査装置１において、前記検査装置は、基板１３と、前記基板と前記検査対象物間を接続するコネクタ１４と、前記コネクタを保持する保持部材１５と、ベース部材１６と、前記ベース部材に回転可能に保持される操作部材１９と、前記操作部材を前記基板と前記検査対象物との接続方向に向けて常時付勢する第１弾性部材２０とを有し、前記操作部材は、前記検査対象物を前記コネクタに向けて押圧する押圧部材２２と、前記検査対象物が挿入され、かつ、位置決めするガイド部１８と、前記押圧部材と前記ガイド部とを当接させる方向に向けて常時付勢する第２弾性部材２４とを有し、前記検査対象物を検査する際、前記操作部材を前記第１弾性部材の付勢方向とは反対方向に押圧することにより、前記押圧部材と前記ガイド部とが離間し、前記検査対象物を前記ガイド部に挿入して、前記操作部材の押圧を解除することにより、前記押圧部材と前記ガイド部とが前記検査対象物を挟持し、前記押圧部材と前記ガイド部とにより前記検査対象物を挟持したまま、前記押圧部材と前記ガイド部と前記検査対象物とがともに移動して、前記検査対象物を前記コネクタに向けて押圧し前記コネクタと接続する検査装置。 1. In the inspection apparatus 1 that inspects the inspection object 31, the inspection apparatus includes the substrate 13, the connector 14 that connects the substrate and the inspection object, the holding member 15 that holds the connector, and the base member 16. An operation member 19 rotatably held by the base member, and a first elastic member 20 that constantly urges the operation member toward a connection direction between the substrate and the inspection object. The member includes a pressing member 22 that presses the inspection object toward the connector, a guide portion 18 into which the inspection object is inserted and positioned, and a direction in which the pressing member and the guide portion are brought into contact with each other. A second elastic member 24 that is constantly urged toward the surface, and when the inspection object is inspected, by pressing the operation member in a direction opposite to the urging direction of the first elastic member, Pressing part The guide portion and is separated, by inserting the test object to said guide portion, by releasing the pressing of the operating member, and the pressing member and the guide portion is held between the inspection object and, while sandwiching the inspection target by said pressing member and the guide portion, the pressing member the guide portion and moves the inspection object are both a, and pressed toward the inspection object to said connector said Inspection device connected to the connector .

２．前記検査装置は、基板部分と機構部分に分割可能であり、前記基板部分は、前記基板、前記基板を載置する基台１２、前記コネクタ及び前記保持部材を有し、前記機構部分は、前記ベース部材、前記操作部材、前記押圧部材、前記ガイド部、前記第１弾性部材及び前記第２弾性部材を有し、前記基板部分と前記機構部分は、組み立てられて固定部材２８によって固定される前記１記載の検査装置。 2. The inspection apparatus can be divided into a substrate portion and a mechanism portion, and the substrate portion includes the substrate, a base 12 on which the substrate is placed, the connector, and the holding member. The base member, the operation member, the pressing member, the guide portion, the first elastic member, and the second elastic member, and the substrate portion and the mechanism portion are assembled and fixed by the fixing member 28. The inspection apparatus according to 1.

明細書の説明から明らかなように、本発明は、次の効果を奏する。 As is apparent from the description of the specification, the present invention has the following effects.

１．押圧部材とガイド部とが協働して検査対象物（ＦＰＣ等）を挟持した後、検査対象物をコネクタに向けて押圧し接続する。したがって、接続対象物は外力によって容易に移動しないので、コネクタは接続対象物との摩擦等による損傷を防止される。 1. After the pressing member and the guide portion cooperate to hold the inspection object (FPC or the like), the inspection object is pressed toward the connector to be connected. Therefore, since the connection object does not easily move due to an external force, the connector is prevented from being damaged due to friction with the connection object.

２．検査装置は基板部分と機構部分に分割可能であり、基板部分は基板、基板を載置する基台及びコネクタ等から構成され、機構部分はベース部材、操作部材、押圧部材、ガイド部、第１弾性部材及び第２弾性部材等から構成される。基板部分と機構部分は、組み立てられてねじによって固定される。したがって、コネクタを基板から取り外さずにメインテナンスを簡便に行うことができる。 2. The inspection apparatus can be divided into a substrate portion and a mechanism portion, and the substrate portion is composed of a substrate, a base on which the substrate is placed, a connector, and the like. The mechanism portion is a base member, an operation member, a pressing member, a guide portion, a first portion. It is comprised from an elastic member, a 2nd elastic member, etc. The substrate part and the mechanism part are assembled and fixed by screws. Therefore, maintenance can be easily performed without removing the connector from the board.

本発明の一実施例の検査対象物（ＦＰＣ等）を検査する検査装置について説明する。 An inspection apparatus for inspecting an inspection object (FPC or the like) according to an embodiment of the present invention will be described.

本発明の実施例１の検査装置１について図１〜図１１を参照して説明する。 An inspection apparatus 1 according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.

まず、図１は、検査装置１の全体の斜視図である。ベースフレーム１６の前部には、ＦＰＣ（後述する。）を検査装置１に挿入するために、ＦＰＣガイド１８が設置され、ＦＰＣガイド１８にＦＰＣ挿入口１８ａが設けられている。ベースフレーム１６の上部には、ＦＰＣを検査装置１に挿入するときに操作するレバー１９が回転可能に設置されている。後述する基板１３の後部には、Ｉ／Ｏコネクタ３０が設置されている。 First, FIG. 1 is a perspective view of the entire inspection apparatus 1. An FPC guide 18 is installed at the front portion of the base frame 16 in order to insert an FPC (described later) into the inspection apparatus 1, and an FPC insertion port 18 a is provided in the FPC guide 18. A lever 19 that is operated when the FPC is inserted into the inspection apparatus 1 is rotatably installed on the upper portion of the base frame 16. An I / O connector 30 is installed at the rear part of the substrate 13 to be described later.

図２は、検査プローブ１１の分解斜視図である。下カバー（基台）１２上には、基板１３が搭載され、基板１３上には、ベースフレーム１６が搭載されている。また、基板１３上には、フィルムコネクタ１４がコネクタ押え１５によって保持されている。 FIG. 2 is an exploded perspective view of the inspection probe 11. A substrate 13 is mounted on the lower cover (base) 12, and a base frame 16 is mounted on the substrate 13. A film connector 14 is held on the substrate 13 by a connector presser 15.

ベースフレーム１６の両側の凹部１６ａにガイドフレーム１７の両側の凸部１７ａがそれぞれはまることによって、ガイドフレーム１７はベースフレーム１６に上下方向にスライドできるように取り付けられている。ＦＰＣガイド１８は、ガイドフレーム１７に固定されている。 The guide frame 17 is attached to the base frame 16 so as to be slidable in the vertical direction by fitting the convex portions 17a on both sides of the guide frame 17 into the concave portions 16a on both sides of the base frame 16, respectively. The FPC guide 18 is fixed to the guide frame 17.

ベースフレーム１６の軸受１６ｂに第１シャフト２５が支持され、第１シャフト２５にレバー（操作部材）１９の第１孔１９ａがはめられ、レバー１９は一対の嵌合用圧縮コイルばね２０に付勢されて第１シャフト２５に回転可能に取り付けられている。 The first shaft 25 is supported by the bearing 16b of the base frame 16, the first hole 19a of the lever (operation member) 19 is fitted into the first shaft 25, and the lever 19 is biased by the pair of compression coil springs 20 for fitting. The first shaft 25 is rotatably attached.

レバー１９の第２孔１９ｂに第２シャフト２６が支持され、第２シャフト２６にプッシャ２２が取り付けられている。プッシャ２２は、ガイドフレーム１７に上下方向に若干スライドできるように収容されている。ガイドフレーム１７の両側の上部に設けられている突出部１７ｂに、それぞれクランプ用圧縮コイルばね押え２３の両側に設けられている孔２３ａがはまる。クランプ用圧縮コイルばね押え２３とプッシャ２２の間に配設されている一対のクランプ用圧縮コイルばね２４は、プッシャ２２を下方に押圧する。 The second shaft 26 is supported in the second hole 19 b of the lever 19, and the pusher 22 is attached to the second shaft 26. The pusher 22 is accommodated in the guide frame 17 so as to be slightly slidable in the vertical direction. Holes 23a provided on both sides of the clamp compression spring retainer 23 are fitted in the protrusions 17b provided on the upper portions on both sides of the guide frame 17, respectively. The pair of clamp compression coil springs 24 disposed between the clamp compression coil spring presser 23 and the pusher 22 presses the pusher 22 downward.

レバー１９の第３孔１９ｃに第３シャフト２７が支持され、第３シャフト２７の両端側にそれぞれ駆動アーム２１の上下方向に長い第１長孔（トラック形状の長い孔）２１ａがはまる。各駆動アーム２１は、略Ｌ字形状に構成され、ＦＰＣの挿入方向に延設される基部２１ｄと基部２１ｄの一端側から基部２１ｄと直交する方向に延設される延設部２１ｅとを有する。基部２１ｄの一端側付近に第１長孔２１ａ、基部２１ｄの他端側付近に左右方向に長い第２長孔２１ｂ、基部２１ｄの一端側に突出する突出部２１ｃが、それぞれ設けられている。 The third shaft 27 is supported in the third hole 19 c of the lever 19, and first long holes (track-shaped long holes) 21 a that are long in the vertical direction of the drive arm 21 are fitted to both ends of the third shaft 27. Each drive arm 21 is configured in a substantially L shape, and includes a base portion 21d extending in the FPC insertion direction and an extending portion 21e extending from one end side of the base portion 21d in a direction orthogonal to the base portion 21d. . A first long hole 21a is provided near one end of the base 21d, a second long hole 21b that is long in the left-right direction is provided near the other end of the base 21d, and a protrusion 21c that protrudes to one end of the base 21d.

各第２長孔２１ｂはガイドフレーム１７の両側の突出ピン１７ｃにそれぞれはまり、各突出部２１ｃはレバー１９の両側の係合部１９ｄとそれぞれ係合する。 Each of the second long holes 21 b fits in the protruding pins 17 c on both sides of the guide frame 17, and each of the protruding portions 21 c engages with the engaging portions 19 d on both sides of the lever 19.

図３は、フィルムコネクタ１４の斜視図であるが、フィルムコネクタ１４は、本出願前に周知であるので、詳細な説明は省略する。 FIG. 3 is a perspective view of the film connector 14. The film connector 14 is well known prior to the present application, and thus detailed description thereof is omitted.

図４は、ＦＰＣ３１がフィルムコネクタ１４と接続している状態を示す。プッシャ２２は、ＦＰＣ３１をＦＰＣガイド１８に押圧し、また、ＦＰＣ３１をフィルムコネクタ１４に押圧して接続する。 FIG. 4 shows a state where the FPC 31 is connected to the film connector 14. The pusher 22 presses the FPC 31 against the FPC guide 18 and presses the FPC 31 against the film connector 14 for connection.

図５は、レバー１９を押圧回転させてＦＰＣ３１を検査装置１に挿入した状態を示す。プッシャ２２は、上昇して一対のクランプ用圧縮コイルばね２４を圧縮している。レバー１９を第１シャフト２５を中心として右回転すると、ガイドフレーム１７、ＦＰＣガイド１８及びプッシャ２２は上昇するが、ＦＰＣガイド１８がベースフレーム１６のストッパ部１６ｃ（図６（Ｄ）参照）に突き当たると、ガイドフレーム１７及びＦＰＣガイド１８はそれ以上の上昇を阻止される。以後は、プッシャ２２のみが、上昇する。その理由は、各駆動アーム２１の第１長孔２１ａによる各駆動アーム２１の上下方向への移動が可能なためである。したがって、図５（Ｂ）に示されるように、プッシャ２２の下面とＦＰＣガイド１８のＦＰＣ３１を載置するＦＰＣ載置面１８ｂの上面の間に隙間が生じ、すなわち、ＦＰＣ挿入口１８ａが開くので、ＦＰＣ３１を検査装置１に挿入することができる。この際、ＦＰＣ３１は、フィルムコネクタ１４と接触しないので、フィルムコネクタ１４を損傷しない。 FIG. 5 shows a state in which the lever 19 is pressed and rotated to insert the FPC 31 into the inspection apparatus 1. The pusher 22 is raised to compress the pair of clamp compression coil springs 24. When the lever 19 is rotated clockwise about the first shaft 25, the guide frame 17, the FPC guide 18 and the pusher 22 are raised, but the FPC guide 18 hits the stopper portion 16c (see FIG. 6D) of the base frame 16. Then, the guide frame 17 and the FPC guide 18 are prevented from further rising. Thereafter, only the pusher 22 rises. This is because each drive arm 21 can be moved in the vertical direction through the first long hole 21a of each drive arm 21. Therefore, as shown in FIG. 5B, a gap is formed between the lower surface of the pusher 22 and the upper surface of the FPC placement surface 18b on which the FPC 31 of the FPC guide 18 is placed, that is, the FPC insertion port 18a is opened. The FPC 31 can be inserted into the inspection apparatus 1. At this time, since the FPC 31 does not contact the film connector 14, the film connector 14 is not damaged.

図６は、検査装置１におけるレバー１９の開操作の諸段階の正面側から見た断面図と側面側から見た断面図を示す。（Ａ）と（Ｂ）は、第１段階、すなわち、初期状態（ＦＰＣ３１を検査装置１に挿入する以前の状態）である。（Ｃ）と（Ｄ）は第２段階である。レバー１９を矢印方向に押すと、プッシャ２２が各クランプ用圧縮コイルばね２４を圧縮し、プッシャ２２とＦＰＣガイド１８は共に上昇する。しかし、１．５ｍｍ上昇したとき、ＦＰＣガイド１８は、ベースフレーム１６のストッパ部１６ｃに突き当たって停止する。（Ｅ）と（Ｆ）は、第３段階である。更に、レバー１９を矢印方向に押すと、プッシャ２２のみが、０．５ｍｍ上昇するので、ＦＰＣ挿入口１８ａを開く。 FIG. 6 shows a cross-sectional view seen from the front side and a cross-sectional view seen from the side of the stages of the opening operation of the lever 19 in the inspection apparatus 1. (A) and (B) are the first stage, that is, the initial state (the state before the FPC 31 is inserted into the inspection apparatus 1). (C) and (D) are the second stage. When the lever 19 is pushed in the direction of the arrow, the pusher 22 compresses each compression coil spring 24 for clamping, and the pusher 22 and the FPC guide 18 rise together. However, when raised by 1.5 mm, the FPC guide 18 abuts against the stopper portion 16c of the base frame 16 and stops. (E) and (F) are the third stage. Further, when the lever 19 is pushed in the direction of the arrow, only the pusher 22 is raised by 0.5 mm, so that the FPC insertion port 18a is opened.

図７（Ａ）〜（Ｃ）は、それぞれＦＰＣ３１の挿入状態、クランプ状態、フィルムコネクタ１４との接触状態を示す。図７（Ａ）は、図５と同様である。図７（Ｂ）は、ＦＰＣ３１がプッシャ２２とＦＰＣガイド１８によって挟持されてクランプ部においてクランプされている。図７（Ｃ）は、ＦＰＣ３１がフィルムコネクタ１４と接続している。 7A to 7C show the inserted state, clamped state, and contact state with the film connector 14 of the FPC 31, respectively. FIG. 7A is the same as FIG. In FIG. 7B, the FPC 31 is sandwiched between the pusher 22 and the FPC guide 18 and clamped at the clamp portion. In FIG. 7C, the FPC 31 is connected to the film connector 14.

ＦＰＣ３１を検査装置１から抜出するときの操作は、前述した操作と逆の手順である。レバー１９の端部を押圧してレバー１９を右回転させ、ＦＰＣ３１をＦＰＣガイド１８とプッシャ２２とによりクランプした状態でフィルムコネクタ１４から離間し、更にレバー１９を押圧し回転すると、クランプが解除された後に、ＦＰＣ３１を検査装置１から抜出する。このように操作すると、ＦＰＣ３１がフィルムコネクタ１４と接触した状態で、ＦＰＣ３１を抜出することが生じないので、フィルムコネクタ１４の損傷が防止される。 The operation for extracting the FPC 31 from the inspection apparatus 1 is the reverse of the above-described operation. The end of the lever 19 is pressed to rotate the lever 19 clockwise, and the FPC 31 is separated from the film connector 14 with the FPC guide 18 and the pusher 22 clamped. When the lever 19 is further pressed and rotated, the clamp is released. After that, the FPC 31 is extracted from the inspection apparatus 1. When operated in this way, the FPC 31 is not pulled out in a state where the FPC 31 is in contact with the film connector 14, so that the film connector 14 is prevented from being damaged.

図８（Ａ）と（Ｂ）は、従来の検査装置と本発明の実施例１の検査装置のＦＰＣとフィルムコネクタの接触状態の対照図である。（Ａ）は従来の検査装置であり、ＦＰＣ６１の接点部とフィルムコネクタ４９の接点部の接触部のみで、ＦＰＣ６１とフィルムコネクタ４９が接触して保持されている。したがって、ＦＰＣ６１は外力によって容易に移動することができるので、フィルムコネクタ４９は損傷する。 FIGS. 8A and 8B are contrast diagrams of the contact state between the FPC and the film connector of the conventional inspection apparatus and the inspection apparatus according to the first embodiment of the present invention. (A) is a conventional inspection apparatus, and the FPC 61 and the film connector 49 are held in contact with each other only at the contact portion between the contact portion of the FPC 61 and the contact portion of the film connector 49. Therefore, since the FPC 61 can be easily moved by an external force, the film connector 49 is damaged.

これに対して、図８（Ｂ）は、本発明の実施例１の検査装置である。ＦＰＣ３１の接点部とフィルムコネクタ１４の接点部の接触部の他に、ＦＰＣ３１をＦＰＣガイド１８とプッシャ２２とによりクランプするクランプ部が設けられる。各クランプ用圧縮コイルばね２４による接触圧力を前記接触部の接触圧力よりも強く設定することができるので、ＦＰＣ３１は、外力によって容易に移動することを防止される。したがって、フィルムコネクタ１４は、損傷を防止される。 On the other hand, FIG. 8 (B) is the inspection apparatus of Example 1 of this invention. In addition to the contact portion between the contact portion of the FPC 31 and the contact portion of the film connector 14, a clamp portion that clamps the FPC 31 with the FPC guide 18 and the pusher 22 is provided. Since the contact pressure by the compression coil spring 24 for each clamp can be set stronger than the contact pressure of the contact portion, the FPC 31 is prevented from being easily moved by an external force. Therefore, the film connector 14 is prevented from being damaged.

図９は、本発明の実施例１の検査装置１が機構部分と基板部分に分割された状態の斜視図である。検査装置１は、基板部分（基板１３、下カバー１２、フィルムコネクタ１４及びコネクタ押え１５）と機構部分（その他のベースフレーム１６、ＦＰＣガイド１８、プッシャ２２及びレバー１９等）から構成されるが、両部分は、４本のねじ２８によって組み立てられて固定される。４本のねじ２８を外すことによって、検査装置１を機構部分と基板部分に簡易に分割することができるので、フィルムコネクタ１４を基板１３から外さずに、メインテナンスを行うことができる。 FIG. 9 is a perspective view of a state in which the inspection apparatus 1 according to the first embodiment of the present invention is divided into a mechanism portion and a substrate portion. The inspection apparatus 1 is composed of a substrate portion (substrate 13, lower cover 12, film connector 14 and connector retainer 15) and a mechanism portion (other base frame 16, FPC guide 18, pusher 22 and lever 19). Both parts are assembled and fixed by four screws 28. By removing the four screws 28, the inspection apparatus 1 can be easily divided into a mechanism portion and a substrate portion, so that maintenance can be performed without removing the film connector 14 from the substrate 13.

図１０は、検査装置１の接点方向による使用形態の断面図であり、（Ａ）は下接点使用時の初期状態、（Ｂ）は下接点使用時のＦＰＣ挿入口が開いた状態、（Ｃ）は上接点使用時の初期状態、（Ｄ）は上接点使用時のＦＰＣ挿入口が開いた状態を、それぞれ示す。 10A and 10B are cross-sectional views of the usage pattern according to the contact direction of the inspection apparatus 1, in which FIG. 10A is an initial state when the lower contact is used, FIG. 10B is a state where the FPC insertion port is opened when the lower contact is used, and FIG. ) Shows an initial state when the upper contact is used, and (D) shows an opened state of the FPC insertion slot when the upper contact is used.

図１１は、検査装置１の接点方向による台座等への取付形態の斜視図である。（Ａ）は下接点使用時で、ベースフレーム１６に一対の固定用取付孔１６ｄが設けられ、各固定用取付孔１６ｄにねじが挿入されて、検査装置１は台座等に固定される。（Ｂ）は上接点使用時で、レバー１９に一対の固定用取付孔１９ｅが設けられ、各固定用取付孔１９ｅにねじが挿入されて、検査装置１は台座等（図示せず）に固定される。 FIG. 11 is a perspective view of a form of attachment to a pedestal or the like according to the contact direction of the inspection apparatus 1. (A) is when the lower contact is used, a pair of fixing mounting holes 16d are provided in the base frame 16, and screws are inserted into the fixing mounting holes 16d, whereby the inspection apparatus 1 is fixed to a pedestal or the like. (B) is when using the upper contact, the lever 19 is provided with a pair of fixing mounting holes 19e, screws are inserted into the fixing mounting holes 19e, and the inspection apparatus 1 is fixed to a pedestal or the like (not shown). Is done.

本発明においては、ガイドフレーム１７とＦＰＣガイド１８を一体に１個の部品として構成することができる。 In the present invention, the guide frame 17 and the FPC guide 18 can be integrally formed as one component.

また、フィルムコネクタ１４が基板１３に安定して取り付けられれば、コネクタ押え１５を省略することができる。この場合には、基板が保持部材となる。 Further, if the film connector 14 is stably attached to the substrate 13, the connector retainer 15 can be omitted. In this case, the substrate becomes the holding member.

ベースフレーム１６とコネクタ押え１５とを一体化してフィルムコネクタ１４をベースフレーム１６に保持するように改造することができる。 The base frame 16 and the connector retainer 15 can be integrated so that the film connector 14 can be modified to be held by the base frame 16.

更に、図９に示される基板部分と機構部分の分割構造において、ねじの本数を随意に選定することができる。また、ねじの代わりにクリップ等を用いて、基板部分と機構部分とを挟持するようにしてもよい。 Furthermore, in the divided structure of the substrate portion and the mechanism portion shown in FIG. 9, the number of screws can be arbitrarily selected. Further, a clip portion or the like may be used instead of the screw to sandwich the substrate portion and the mechanism portion.

本発明の実施例１の検査装置の斜視図である。It is a perspective view of the inspection apparatus of Example 1 of this invention. 検査プローブの分解斜視図である。It is a disassembled perspective view of a test | inspection probe. 同検査プローブに使用されるフィルムコネクタの拡大斜視図である。It is an expansion perspective view of the film connector used for the inspection probe. 同検査装置におけるＦＰＣと同フィルムコネクタの接触状態の拡大断面図である。It is an expanded sectional view of the contact state of FPC and the film connector in the inspection device. （Ａ）は同検査装置への同ＦＰＣの挿入状態の拡大断面図であり、（Ｂ）は（Ａ）における破線の円内の拡大断面図である。(A) is an expanded sectional view of the state in which the FPC is inserted into the inspection apparatus, and (B) is an enlarged sectional view in a broken-line circle in (A). 同検査装置におけるレバーの開操作の諸段階の正面側から見た図と側面側から見た図であり、（Ａ）と（Ｂ）は第１段階、（Ｃ）と（Ｄ）は第２段階、（Ｅ）と（Ｆ）は第３段階を、それぞれ示す。It is the figure seen from the front side of the various stages of the opening operation of the lever in the inspection apparatus, and the figure seen from the side, (A) and (B) are the first stage, and (C) and (D) are the second. Stages (E) and (F) show the third stage, respectively. 同検査装置の要部における同ＦＰＣの諸状態の断面図であり、（Ａ）は挿入状態、（Ｂ）はクランプ状態、（Ｃ）はフィルムコネクタとの接続状態を、それぞれ示す。It is sectional drawing of the various states of the FPC in the principal part of the inspection apparatus, (A) shows the inserted state, (B) shows the clamped state, and (C) shows the connected state with the film connector. 従来の検査装置と本発明の実施例１の検査装置のＦＰＣとフィルムコネクタの接触状態の対照図であり、（Ａ）は前者、（Ｂ）は後者を、それぞれ示す。It is a contrast figure of the contact state of FPC and a film connector of the conventional inspection apparatus and the inspection apparatus of Example 1 of this invention, (A) shows the former and (B) shows the latter, respectively. 本発明の実施例１の検査装置が機構部分と基板部分に分割された状態の斜視図である。It is a perspective view of the state by which the inspection apparatus of Example 1 of this invention was divided | segmented into the mechanism part and the board | substrate part. 同検査装置の接点方向による使用形態の図であり、（Ａ）は下接点使用時の初期状態、（Ｂ）は下接点使用時のＦＰＣ挿入口が開いた状態、（Ｃ）は上接点使用時の初期状態、（Ｄ）は上接点使用時のＦＰＣ挿入口が開いた状態を、それぞれ示す。It is a figure of the use form by the contact direction of the inspection device, (A) is the initial state when using the lower contact, (B) is the state where the FPC insertion opening is open when using the lower contact, (C) is using the upper contact (D) shows the state in which the FPC insertion slot is opened when the upper contact is used. 同検査装置の接点方向による台座等への取付形態の斜視図であり、（Ａ）は下接点使用時、（Ｂ）は上接点使用時を、それぞれ示す。It is a perspective view of the attachment form to the base etc. by the contact direction of the inspection apparatus, (A) shows the time of using the lower contact, and (B) shows the time of using the upper contact, respectively. 従来の検査装置の断面図である。It is sectional drawing of the conventional inspection apparatus. 同検査装置の斜視図である。It is a perspective view of the inspection device. 同検査装置の分解斜視図である。It is an exploded perspective view of the inspection device.

Explanation of symbols

１検査装置
１１検査プローブ
１２下カバー、基台
１３基板
１４フィルムコネクタ
１５コネクタ押え（保持部材）
１６ベースフレーム（ベース部材）
１６ａ凹部
１６ｂ軸受け
１６ｃストッパ部
１６ｄ固定用取付孔
１７ガイドフレーム
１７ａ凸部
１７ｂ突出部
１７ｃ突出ピン
１８ＦＰＣガイド（ガイド部）
１８ａＦＰＣ挿入口
１８ｂＦＰＣ載置面
１９レバー（操作部材）
１９ａ第１孔
１９ｂ第２孔
１９ｃ第３孔
１９ｄ係合部
１９ｅ固定用取付孔
２０嵌合用圧縮コイルばね（第１弾性部材）
２１駆動アーム
２１ａ第１長孔
２１ｂ第２長孔
２１ｃ突出部
２１ｄ基部
２１ｅ延設部
２２プッシャ、押圧部材
２３クランプ用圧縮コイルばね押え
２３ａ孔
２４クランプ用圧縮コイルばね（第２弾性部材）
２５第１シャフト
２６第２シャフト
２７第３シャフト
２８ねじ（固定部材）
３０Ｉ／Ｏコネクタ
３１ＦＰＣ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Inspection apparatus 11 Inspection probe 12 Lower cover, base 13 Board | substrate 14 Film connector 15 Connector presser (holding member)
16 Base frame (base member)
16a Concave portion 16b Bearing 16c Stopper portion 16d Fixing mounting hole 17 Guide frame 17a Convex portion 17b Protruding portion 17c Protruding pin 18 FPC guide (guide portion)
18a FPC insertion slot 18b FPC placement surface 19 Lever (operation member)
19a 1st hole 19b 2nd hole 19c 3rd hole 19d Engagement part 19e Fixing attachment hole 20 Compression coil spring for fitting (1st elastic member)
21 drive arm 21a 1st long hole 21b 2nd long hole 21c protrusion 21d base 21e extension 22 pusher, pressing member 23 compression coil spring retainer for clamp 23a hole 24 compression coil spring for clamp (second elastic member)
25 First shaft 26 Second shaft 27 Third shaft 28 Screw (fixing member)
30 I / O connector 31 FPC

Claims

In an inspection device for inspecting an inspection object,
The inspection apparatus includes a substrate, a connector that connects the substrate and the inspection object, a holding member that holds the connector, a base member, an operation member that is rotatably held by the base member, A first elastic member that constantly biases the operating member toward the connection direction between the substrate and the inspection object;
The operation member includes a pressing member that presses the inspection object toward the connector, a guide portion into which the inspection object is inserted and positioned, and a direction in which the pressing member and the guide portion are brought into contact with each other. A second elastic member that constantly biases toward the
When inspecting the inspection object, by pressing the operation member in a direction opposite to the urging direction of the first elastic member, the pressing member and the guide portion are separated from each other, and the inspection object is By inserting into the guide part and releasing the pressing of the operation member, the pressing member and the guide part sandwich the inspection object, and the pressing member and the guide part sandwich the inspection object. The inspection apparatus, wherein the pressing member, the guide portion, and the inspection object move together , press the inspection object toward the connector, and connect to the connector .

The inspection apparatus can be divided into a substrate part and a mechanism part,
The board portion includes the board, a base on which the board is placed, the connector, and the holding member,
The mechanism portion includes the base member, the operation member, the pressing member, the guide portion, the first elastic member, and the second elastic member,
The inspection apparatus according to claim 1, wherein the substrate portion and the mechanism portion are assembled and fixed by a fixing member.