JP2008021730A - レチクル・カバー、レチクル搬送方法および投影露光方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】レチクルの、パターンが形成された面の平面度を維持することができるように、レチクルのレチクル・ステージに取り付けられる面に、異物が付着するのを防止する、レチクル・カバーを提供する。
【解決手段】本発明によるレチクル・カバー(101)は、レチクル(103)が露光装置のレチクル・ステージに取り付けられていないときに、レチクルの、レチクル・ステージに取り付けられる面を覆う。本発明によるレチクル・カバーは、レチクルの、レチクル・ステージに取り付けられる面に対向する平面を含み、当該平面と、当該レチクル・ステージに取り付けられる面との間の間隔を、異物が進入しないように定められた値に保持することができるように構成されたことを特徴とする。
【選択図】図1
【解決手段】本発明によるレチクル・カバー(101)は、レチクル(103)が露光装置のレチクル・ステージに取り付けられていないときに、レチクルの、レチクル・ステージに取り付けられる面を覆う。本発明によるレチクル・カバーは、レチクルの、レチクル・ステージに取り付けられる面に対向する平面を含み、当該平面と、当該レチクル・ステージに取り付けられる面との間の間隔を、異物が進入しないように定められた値に保持することができるように構成されたことを特徴とする。
【選択図】図1
Description
本発明は、レチクル・カバー、当該レチクル・カバーを使用するレチクル搬送方法および投影露光方法に関する。特に、レチクルが、露光装置のレチクル・ステージに取り付けられていないときに、レチクルの、レチクル・ステージに取り付けられる面を覆うレチクル・カバー、当該レチクル・カバーを使用するレチクル搬送方法および投影露光方法に関する。
近年、半導体集積回路の微細化に伴い、光の回折限界によって制限される光学系の解像力を向上させるために、従来の紫外線に代えてこれより短い波長(11〜14nm)のEUV(Extreme Ultraviolet)光を使用した投影リソグラフィ技術が開発されている。この技術は、最近ではEUV(Extreme Ultraviolet)リソグラフィと呼ばれており、従来の波長190nm程度の光線を用いた光リソグラフィでは実現不可能な、70nm以下の解像力を得られる技術として期待されている。
EUV光の波長領域での物質の複素屈折率nは、n=1−δ−ik(iは複素記号)で表わされる。この屈折率の虚部kは極端紫外線の吸収を表す。δ、kは1に比べて非常に小さいため、この領域での屈折率は1に非常に近い。したがって従来のレンズのような透過屈折型の光学素子を使用できず、反射を利用した光学系が使用される。
レチクル(マスクとも呼ばれる)は、大気雰囲気においてレチクル・キャリアと呼ばれる保管装置に入れられて搬送される。レチクルは、大気雰囲気においてレチクル・キャリアから取り出された後、ロードロック室に収納される。さらに、レチクルの、パターンが形成された面を保護するために、当該面を保護するカバーが取り付けられることもある(たとえば、特許文献1)。
しかし、従来において、レチクルの、レチクル・ステージに取り付けられる面は保護されておらず、特にレチクルが大気雰囲気においてレチクル・キャリアから取り出された後、ロードロック室において、大気雰囲気から真空雰囲気に切り替える際に、異物が舞い上がり、レチクルのレチクル・ステージに取り付けられる面(以下、レチクルの裏面とも呼称する)に付着することがあった。
他方、EUV露光装置においては、レチクルの、パターンが形成された面の平面度を維持するため、レチクルの裏面全面吸着を行う方法が一般的である。レチクルの裏面に異物が付着したまま、レチクルの裏面全面吸着を行うと、異物によってレチクルの、パターンが形成された面の平面度が悪化し、投影露光装置の解像度が悪化するという問題があった。
レチクルの、パターンが形成された面の平面度を維持することができるように、レチクルのレチクル・ステージに取り付けられる面に、異物が付着するのを防止する、レチクル・カバーに対するニーズがある。
本発明によるレチクル・カバーは、レチクルが露光装置のレチクル・ステージに取り付けられていないときに、レチクルの、レチクル・ステージに取り付けられる面を覆う。本発明によるレチクル・カバーは、レチクルの、レチクル・ステージに取り付けられる面に対向する平面を含み、当該平面と、当該レチクル・ステージに取り付けられる面との間の間隔を、異物が進入しないように定められた値に保持することができるように構成されたことを特徴とする。
本発明によるレチクル・カバーによれば、レチクルの裏面に異物が付着するのが防止される。したがって、レチクルの、パターンが形成された面の平面度を維持することができる。
また、レチクルの、レチクル・ステージに取り付けられる面とレチクル・カバーの平面とは、所定の間隔を有するので、レチクル・カバーの接触によって、レチクルの、パターンが形成された面の平面度が損なわれることはない。
本発明によれば、レチクルの、パターンが形成された面の平面度を維持することができる、レチクル・カバーが得られる。
図13は、本発明を適用可能なEUV露光装置の構成を示す図である。
EUV光源31から放出されたEUV光32は、照明光学系33に入射し、コリメータミラーとして作用する凹面反射鏡34を介してほぼ平行光束となり、一対のフライアイミラー35aおよび35bからなるオプティカルインテグレータ35に入射する。
フライアイミラー35aの反射面の近傍、すなわちオプティカルインテグレータ35の射出面の近傍には、所定の形状を有する実質的な面光源が形成される。実質的な面光源からの光は、平面反射鏡36により偏向された後、レチクルR上に細長い円弧状の照明領域を形成する(円弧状の照明領域を形成するための開口板は図示を省略している)。照明されたレチクルRのパターンからの光は、複数の反射鏡(図13では例示的に6つの反射鏡M1〜M6)からなる投影光学系37を介して、ウエハW上にレチクルパターンの像を形成する。なお、レチクルRはレチクル・ステージ、ウエハWはウエハ・ステージに保持され、レチクルR面のパターン像をウエハWに転写する。ここでは、レチクル・ステージ、ウエハ・ステージの図示を省略している。
EUV光は、空気によっても吸収されるため、露光装置の鏡筒内は高度の真空に保つ必要がある。
種々のパターンが形成されたレチクルは、レチクル倉庫に保管されており、使用される場合に、レチクル倉庫から取り出され、露光装置まで搬送されて、露光装置のレチクル・ステージに取り付けられる。上記の搬送の際に、レチクルを大気雰囲気から真空雰囲気に移動する必要がある。レチクルを大気雰囲気から真空雰囲気に移動するには、レチクルをロードロック室に収納し、ロードロック室において、大気雰囲気から真空雰囲気に切り替える。
図1は、本発明の一実施形態によるレチクル・カバーが取り付けられたレチクルを示す図である。図1に示すように、レチクル103の、レチクル・ステージに取り付けられる面には、レチクル・カバー101が取り付けられる。
図2は、本発明の一実施形態によるレチクル・カバーが取り付けられたレチクルを示す平面図である。
レチクル103の、パターンが形成された面にはペリクルを備えたペリクル・フレーム105が予め取り付けられている。ペリクルとは、レチクルの、パターンが形成された面を保護する防塵用の薄膜である。レチクル・カバー101およびペリクル・フレーム105が取り付けられた、レチクル103は、上蓋107およびベース109からなるレチクル・キャリアに入れられて搬送される。
本実施形態において、レチクル・カバー101は、板状である。板状でなくとも、レチクル3の、レチクル・ステージに取り付けられる面に対向する平面を含んでいればよい。
レチクル・カバー101は、少なくとも3個の突起1011によって、レチクル表面との間隔を所定の値に維持しながら、支持される。所定の間隔は、100マイクロメータ以下であるのが好ましい。100マイクロメータ以下であれば、レチクル・カバー101とレチクル103の間に異物が進入しにくい。また、所定の間隔は、20マイクロメータ以上であるのが好ましい。20マイクロメータ以上であれば、突起1011を含むレチクル・カバー101を容易に製造することができる。所定の間隔を維持する剛性を確保するため、レチクル・カバー101は、板状である場合には、1ミリメータ以上の厚さを有するのが好ましい。
レチクル・キャリアの上蓋107に、たとえば、図示しない板バネ状の固定具を設け、レチクル・カバー107を固定するようにしてもよい。
レチクル・カバー101の材質は、樹脂、ガラス、金属など発塵しない物質を使用する。
図2に示すように、本実施形態によるレチクル・カバー101は、レチクル103より広く、レチクル103に取り付けた場合に、周縁部はレチクルより突出する。レチクル・カバー101の周縁部をレチクルから突出させることにより、さらに、レチクル・カバー101とレチクル103の間に異物が進入しにくくなる。図示しないが、異物の進入を防止するように、レチクル・カバー101の周縁部において、対向するレチクル103の外周を取り囲む囲いを設けてもよい。
図2に示すように、本実施形態による突起1011は、レチクル・カバー101の周縁部に、レチクル103の周縁部に当接するように設けられる。レチクル103は、一辺が152ミリメータの正方形であるが、レチクル103の外周から幅5ミリメータの範囲に、突起1011が当接するようにするのが好ましい。突起1011が、レチクル103の周縁部に当接するようにするのは、突起1011をレチクル103に当接させた影響が、レチクル103のパターンが形成された部分へ影響するのを防ぐためである。
図1において、突起1011は、錘として示されているが、球面の一部でもよい。球の直径は、たとえば、5ミリメータである。
図3は、本発明の一実施形態によるレチクル・カバーが取り付けられたレチクルを搬送するための搬送装置の構成を示す図である。搬送装置は、レチクル・ロード・ポート201、大気搬送ロボット203、ローッドロック室207、真空搬送ロボット215を含む。真空搬送ロボット215は、レチクル・ステージ221と共に、真空チャンバ213内に設置される。
以下において、レチクルの搬送方法について、説明する。
図4は、レチクルの搬送方法を示す流れ図である。
図4のステップS010において、レチクル・キャリア内に保持された、レチクル・カバー101が取り付けられたレチクル103は、図示しない搬送ロボットなどにより、レチクル・ロード・ポート201に配置される。
図4のステップS020において、レチクル・ロード・ポート201において、図示しないアームなどにより、レチクル・キャリアの上蓋107が取り外される。
図5は、レチクル・ロード・ポート201に配置された、レチクル・カバー101が取り付けられたレチクル103を示す図である。レチクル・キャリアの上蓋107は既に取り外されている。大気搬送ロボット203のアーム205が、レチクル103に接近している。
図6は、大気搬送ロボット203のアーム205によって、レチクル・ロード・ポート201から取り出された、レチクル・カバー101が取り付けられたレチクル103を示す図である。レチクル・キャリアのベース109は、レチクル・ロード・ポート201に残される。
つぎに、図4のステップS030において、レチクル・カバー101が取り付けられたレチクル103は、大気搬送ロボット203のアーム205によって、ロードロック室205に搬送され、配置される。
図7は、大気搬送ロボット203のアーム205によって、ロードロック室205に搬送される、レチクル・カバー101が取り付けられたレチクル103を示す図である。ロードロック室205の大気側のゲート209が開き、レチクル・カバー101が取り付けられたレチクル103が、ロードロック室内に搬送される。ロードロック室207の真空チャンバ213の側のゲート211は閉じたままである。
図7乃至11においては、説明のため、ゲート211がゲート209と向き合うように示している。ゲート209とゲート211の配置は、図3に示す配置であってもその他の配置でもよい。
図8は、ロードロック室207に配置された、レチクル・カバー101が取り付けられたレチクル103を示す図である。ロードロック室207のゲート209および211が閉じた状態で、ロードロック室207は真空に引かれる。
つぎに、図4のステップS040において、レチクル・カバー101が取り付けられたレチクル103は、真空搬送ロボット215のアーム217によって、ロードロック室207から真空チャンバ213に搬送される。
図9は、ロードロック室207の真空度が十分に高くなり、ロードロック室207の真空チャンバ213の側のゲート211が開いた後、ロードロック室207に進入する、真空搬送ロボット215のアーム217を示す図である。
図10は、真空搬送ロボット215のアーム217によって、ロードロック室207から取り出された、レチクル・カバー101が取り付けられたレチクル103を示す図である。
図4のステップS050において、レチクル・カバー101が取り付けられたレチクル103は、真空搬送ロボット215のアーム217によって保持されたまま、真空チャンバ213内のレチクル・カバー取り外し位置219に配置される。
図11は、真空搬送ロボット215のアーム217によって保持されたまま、真空チャンバ213内のレチクル・カバー取り外し位置219に配置された、レチクル103を示す図である。レチクル・カバー取り外し位置219において、レチクル・カバー取り外し機構221により、レチクル・カバー101が、レチクル103から取り外される。
ここで、レチクル・カバー101は、レチクル103より広く、レチクル103に取り付けた場合に、周縁部はレチクルより突出しているので、レチクル・カバー取り外し機構221は、この突出した部分を利用してレチクル・カバー101を取り外すことができる。
図4のステップS060において、レチクル103は、真空搬送ロボット215のアーム217によって、露光装置のレチクル・ステージ223のレチクル・ホルダ225に取り付けられる。
図12は、真空搬送ロボット215のアーム217によって、露光装置のレチクル・ステージ223のレチクル・ホルダ225に取り付けられたレチクル103を示す図である。レチクル103は、静電チャックなどによりレチクル・ホルダ225に吸着される。
図4のステップS070において、レチクル103を使用して投影露光が行われる。
図4のステップS080において、レチクル103が取り外される。
図4のステップS090において、取り外されたレチクル103にレチクル・カバー101が取り付けられる。後の手順はステップS010からS040を逆にして同様に行えば、レチクルを装置外へ搬出することが可能である。
本実施形態によれば、真空チャンバ213内において、レチクル103がレチクル・ホルダに取り付けられる直前まで、レチクル103の、レチクル・ステージ223に取り付けられる面がレチクル・カバー101によって覆われている。この結果、レチクル103の、レチクル・ステージ223に取り付けられる面に異物が付着する可能性はきわめて低くなる。
したがって、レチクルの、パターンが形成された面の平面度を維持することができる。
101…レチクル・カバー、103…レチクル、107…レチクル・キャリアの上蓋、109…レチクル・キャリアのベース
Claims (10)
- レチクルが露光装置のレチクル・ステージに取り付けられていないときに、レチクルの、レチクル・ステージに取り付けられる面を覆うレチクル・カバーであって、当該レチクル・ステージに取り付けられる面に対向する平面を含み、当該平面と、当該レチクル・ステージに取り付けられる面との間の間隔を、異物が進入しないように定められた値に保持することができるように構成されたことを特徴とする、レチクル・カバー。
- 前記定められた値が、20乃至100マイクロ・メータの範囲内であることを特徴とする、請求項1に記載のレチクル・カバー。
- 突起を備え、当該突起によって、前記間隔を、異物が進入しないように定められた値に保持することができるように構成されたことを特徴とする、請求項1または2に記載のレチクル・カバー。
- 当該突起が、レチクルの周縁部に当接するように構成されたことを特徴とする、請求項3に記載のレチクル・カバー。
- それぞれが球の一部から成り、球面によってレチクルに当接するように構成された、少なくとも3個の突起を備えることを特徴とする、請求項3または4に記載のレチクル・カバー。
- レチクルに取り付けられる際に、レチクルの周縁部の少なくとも一部においてレチクルより突出するように構成されていることを特徴とする、請求項1から5のいずれかに記載のレチクル・カバー。
- 周縁部に異物の進入を防ぐ囲いを設け、当該囲いがレチクルと当接しないように構成されたことを特徴とする、請求項1から6のいずれかに記載のレチクル・カバー。
- レチクルを搬送する方法であって、
レチクルの、レチクル・ステージに取り付けられる面を、請求項1から7のいずれかに記載のレチクル・カバーで覆い、
レチクル・カバーで覆ったレチクルをレチクル・キャリアに入れて搬送し、
レチクル・カバーで覆ったレチクルをレチクル・キャリアから取り出し、
露光装置のレチクル・ステージに取り付ける前に、レチクルからレチクル・カバーを取り外す、レチクルを搬送する方法。 - 投影露光方法であって、
レチクルの、レチクル・ステージに取り付けられる面を覆った、請求項1から7のいずれかに記載のレチクル・カバーを取り外し、
レチクルを露光装置のレチクル・ステージに取り付け、
レチクルを使用して投影露光を行い、
レチクルを露光装置のレチクル・ステージから取り外し、
レチクルの、レチクル・ステージに取り付けられる面に、請求項1から7のいずれかに記載のレチクル・カバーを取り付ける、投影露光方法。 - 前記レチクルのパターン面を露光時に保護するパターン面保護カバーを前記投影露光の前に取り付ける工程をさらに有することを特徴とする請求項9に記載の投影露光方法。
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