JP2008014684A - Method of acquiring camera scaling in component placement machine - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、電子部品をプリント基板に実装する部品実装機において、部品認識カメラのスケーリング値を取得する方法に関する。 The present invention relates to a method for acquiring a scaling value of a component recognition camera in a component mounter that mounts electronic components on a printed circuit board.
従来から、部品供給装置から供給される電子部品を搭載ヘッドの吸着ノズルで吸着し、搭載ヘッドを回路基板に移動させて、電子部品を回路基板に搭載する部品実装機が知られている。部品吸着時に吸着ズレが発生すると、精度ある搭載が行われないので、吸着された電子部品を部品認識カメラで撮像し、その画像処理により求められる部品中心と吸着角度に基づき搭載位置を補正して、部品実装を行っている。 2. Description of the Related Art Conventionally, there has been known a component mounter that mounts an electronic component on a circuit board by sucking an electronic component supplied from a component supply device with a suction nozzle of the mounting head, moving the mounting head to the circuit board. If suction displacement occurs when parts are picked up, accurate mounting is not performed, so picked up electronic parts are picked up by a part recognition camera, and the mounting position is corrected based on the part center and picking angle required by the image processing. And component mounting.
部品中心と吸着角度を求める部品認識は、部品認識カメラのスケーリング値(1画素あたりの実サイズ:ピクセルレートともいう)を求めて行われるので、正確な部品搭載には、正確なスケーリング値を取得する必要がある。 Component recognition for obtaining the component center and suction angle is performed by obtaining the scaling value of the component recognition camera (actual size per pixel: also called pixel rate), so accurate scaling values are obtained for accurate component mounting. There is a need to.
この実装装置においてカメラスケーリング値を取得する方法として、予め2つの円の芯間の距離が把握されている治具をカメラによって撮像し、その画像を処理して2つの円の芯間の画素数を求めてスケーリング値を取得する方法、あるいは、特許文献1に開示されるように、治具を上下左右4方向に移動して、画像認識を行い認識座標からスケーリング値を取得する方法が知られている。
しかしながら、従来の電子部品実装装置においてスケーリング値を取得する方法では、カメラ組み付け時の傾きやカメラCCD面のあおり等の影響を考慮していなかった。このため、視野内におけるスケーリング値に誤差が発生しているために、小型高機能化・高密度実装化の要求に応じられないという問題が生じている。 However, in the conventional method for acquiring the scaling value in the electronic component mounting apparatus, the influence of tilt at the time of camera assembly, tilting of the camera CCD surface, and the like has not been taken into consideration. For this reason, since an error has occurred in the scaling value in the field of view, there is a problem that it is not possible to meet the demands for miniaturization, high functionality, and high density mounting.
従って、本発明は、このような問題点を解決するためになされたもので、部品実装機において部品認識精度を高めることができるカメラスケーリング取得方法を提供することを課題とする。 Accordingly, the present invention has been made to solve such problems, and it is an object of the present invention to provide a camera scaling acquisition method capable of improving component recognition accuracy in a component mounter.
上記課題を解決する本発明は、
部品実装機のカメラスケーリング取得方法であって、
複数のパターンが形成された治具をカメラで撮像し、
前記撮像されたパターンの少なくとも一つのパターンが視野エリア内に撮像されるように、カメラ視野を複数の視野エリアに分割し、
各視野エリア内のパターン画像を処理して各視野エリアごとにスケーリング値を算出し、保存することを特徴とする。
The present invention for solving the above problems
A camera scaling acquisition method for a component mounter,
Take a picture of a jig with multiple patterns with a camera,
Dividing the camera field of view into a plurality of field areas such that at least one of the captured patterns is imaged within the field area;
A pattern image in each visual field area is processed, a scaling value is calculated for each visual field area, and stored.
本発明によれば、分割したカメラ視野エリア内における個々のスケーリング値を参照できるので、高精度で部品電極の実座標を測定することができ、部品の認識精度を向上させることができる。 According to the present invention, since individual scaling values within the divided camera field of view can be referred to, the actual coordinates of the component electrodes can be measured with high accuracy, and the recognition accuracy of the components can be improved.
以下、図面に示す実施の形態に基づいて本発明を詳細に説明する。 Hereinafter, the present invention will be described in detail based on embodiments shown in the drawings.
図1は、本発明が用いられる部品実装機1の概略正面図で、図2は、その制御系のブロック図である。図1において、部品実装装置1には、部品供給部から供給される電子部品(不図示)を吸着する吸着ノズル3を装着した搭載ヘッドユニット2が設けられており、この搭載ヘッドユニット2は、XY駆動ユニット4によりX軸及びY軸方向に移動される。搭載ヘッドユニット2には、CCDカメラなどにより構成される基板認識カメラ5が固定されており、この基板認識カメラ5は、電子部品が搭載される基板(不図示)、あるいは、後述するように、部品実装機1のベースフレーム上設置されたカメラスケーリング取得用の治具6を撮像する。また、部品実装機1のベースには、吸着ノズル3により吸着された電子部品あるいは治具6を撮像するCCDカメラなどにより構成される部品認識カメラ8が固定される。
FIG. 1 is a schematic front view of a
XY駆動ユニット4は、図2に示されたように、CPU、ROM、RAMなどで構成されるコントローラ10の制御に基づいて駆動されるX軸モータ11およびY軸モータ12を備えている。搭載ヘッドユニット2は、X軸モータ11、Y軸モータ12により駆動されてXY方向に移動する。また、搭載ヘッドユニット2に取り付けられた吸着ノズル3は、コントローラ10の制御に基づいて駆動されるZ軸モータ13により上下方向に昇降され、またθ軸モータ14により吸着軸を中心に回動する。
As shown in FIG. 2, the
画像処理装置17は、CPU17a、メモリ17b、A/D変換器17cなどで構成され、基板認識カメラ5で撮像された基板の画像を処理して、基板の位置を検出し、また、部品認識カメラ8で撮像された電子部品の画像を処理して部品認識を行い、部品の中心位置や吸着傾きを取得する。
The
また、画像処理装置17は、基板認識カメラで撮像された治具6の画像を処理して治具6の位置を検出するとともに、吸着ノズル3で吸着された治具6の画像を処理して部品認識カメラ8のスケーリング値を取得する。
The
また、部品実装機1には、部品データを入力するためのキーボード15、マウス16などの入力装置が設けられ、これらの入力されたデータは、ハードディスク、フラッシュメモリなどで構成される記憶装置18に格納される。また、部品実装機1には、モニタ19が設けられ、このモニタ19の画面には、基板認識カメラ5で撮像された基板や治具、並びに部品認識カメラ8で撮像された電子部品や治具の画像などが表示できるようになっている。
In addition, the
このような部品実装機1において、基板認識カメラ5により撮像された基板の画像が処理されて基板認識が行われる。また、部品供給部から供給される電子部品は、吸着ノズル3により吸着された後、部品認識カメラ8上に移動して部品認識カメラ8により撮像され、その画像が画像処理装置17により処理され、部品認識が行われる。コントローラ10は、基板認識並びに部品認識結果に基づいて、記憶装置18に記憶されている部品搭載位置を補正し、電子部品を基板上の正しい位置に搭載する。
In such a
このような部品実装機を用いた部品実装において、部品認識カメラ8が、XY平面に水平に取り付けられておらず、あおり角の影響で視野内においてスケーリング値(一画素あたりの実サイズ)に誤差が生じることがある。このような場合には、高精度の部品認識が保証されないので、本発明では、治具6を用いて部品認識カメラのスケーリング値を取得して部品認識を行う。
In component mounting using such a component mounting machine, the
以下に、部品認識カメラのスケーリング値を取得する方法を説明する。 Below, the method to acquire the scaling value of a component recognition camera is demonstrated.
図3には、スケーリング値を取得するための冶具6が詳細に図示されている。治具6は、たとえば、矩形形状の透明な薄いガラス基板で形成されており、その面には、2つの位置決め用マーク6a、6b、それに多数の横ライン6c並びに縦ライン6dが等間隔にグリッド状のパターンとして描画され、それにより縦横のラインで形成される正方形のパターン6eが複数形成される。マーク6a、6bの位置、それに各ライン6c、6dのライン位置、各ライン幅などは、予め正確に測定されている。また、マーク6a、6bの形状は、円形状であっても十字状であってもよく、また、マーク、グリッドパターンの認識を良好に行うために、各マーク6a、6b、各ライン6c、6dは銀色で描画されている。
FIG. 3 shows the
スケーリング値の取得は、図5の流れに従って行われる。まず、スケーリング取得用冶具6を所定位置に配置し(ステップS1)、X軸モータ11およびY軸モータ12を駆動して搭載ヘッドユニット2に取り付けられた基板認識カメラ5を治具6のマーク6a上に移動する(ステップS2)。
Acquisition of the scaling value is performed according to the flow of FIG. First, the
次に、基板認識カメラ5により、マーク6aを撮像し、画像処理装置17によりマーク6aの画像を処理して重心を算出する。続いて、同様にマーク6bを撮像してその重心を求め(ステップS4、S5)、各マーク6a、6bの重心から治具6の中心位置とその傾きを算出する(ステップS6)。
Next, the mark 6a is imaged by the
続いて、搭載ヘッドユニット2に吸着ノズル3を装着し、吸着ノズル3を算出した治具6の中心位置に移動させ、Z軸モータ13を駆動して下降させ治具6を吸着する(ステップS7)。そして、θ軸モータ14を駆動して、算出した角度に従って治具の傾きを補正し、治具6を部品認識カメラ8上に移動する(ステップS8)。
Subsequently, the
続いて、不図示の照明光源を点灯して治具6を照明し、部品認識カメラ8により治具6を撮像する(ステップS9)。この治具6の画像が図4に図示されており、部品認識カメラ8の視野30内に治具6の画像6’が写し出されている。6a’、6b’はマーク6a、6bの画像、6c’、6d’はライン6c、6dの画像であり、カメラ視野30は、3×3の9つの視野エリア30a〜30iに分割されている。視野30は、各分割された視野エリア内にそれぞれ少なくとも一つのパターン6eがパターン画像6e’として撮像されるように、複数の視野エリアに分割される。従って、3×3以外の分割パターンにすることもできる。重要なことは、分割された個々の視野エリアにおいて、正確なスケーリング値が取得できるように、カメラ視野を所定数の視野エリアに分割することである。
Subsequently, an illumination light source (not shown) is turned on to illuminate the
図6に示したように、例えば、分割により得られた視野エリア30eには、2本の横ライン6cの画像6c’と、2本の縦ライン6dの画像6d’からなるパターンがパターン画像6e’として撮像されている。公知の方法を用いてこのパターン画像のX方向エッジE1、E2を検出し、各検出したエッジの平均値を求めてエッジE1、E2のX座標X1、X2から、エッジE1、E2間の画素数を求める。エッジE1、E2間の実距離は予め分かっているので、ピクセルレート、つまりスケーリング値に対応する(エッジ間距離)÷(エッジ間の画素数)を算出する。同様に、Y方向についても、パターン画像6e’のエッジE3、E4を検出し、エッジE3、E4のY座標Y1、Y2を求め、Y方向のピクセルレートを求める。
As shown in FIG. 6, for example, in the
上述の処理を、各視野エリア30a〜30d、30f〜30iについて行い、各視野エリア30a〜30iごとに求めたX方向とY方向のスケーリング値を、メモリ17bあるいは記憶装置18に保存する。
The above-described processing is performed for each of the
以上の処理がステップS10の処理である。 The above process is the process of step S10.
実際に、電子部品を基板に搭載する場合には、保存した視野別のスケーリング値を用いて部品認識を行う。搭載ヘッドユニット2は、XY駆動ユニット4により部品供給部に移動する。そして、部品供給部から供給される電子部品を吸着ノズル3により吸着し、その後部品認識カメラ8上に移動する。部品認識カメラ8上で、電子部品が部品認識カメラ8により撮像される。
Actually, when an electronic component is mounted on a substrate, component recognition is performed using the stored scaling value for each field of view. The mounting
例えば、電極40a、40b、40cを備えた電子部品40が部品認識カメラ8により視野30内に撮像された状態が図8に示されている。電極の実座標を求めるには、画素のピクセルレートが必要となる。
For example, FIG. 8 shows a state in which the
図7には、任意の画素Pのピクセルレートを求める方法が図示されている。図7において、画素Pは、例えば視野エリア30aに存在しているとする。画素Pのピクセルレートを求めるとき、視野エリア30aとその近傍の3つの視野エリア30b、30d、30eのピクセルレートを参照する。なお、画素A、B、C、Dは、視野エリア30a、30b、30d、30eの中心画素で、そのピクセルレートは、保存されている各視野エリアのピクセルレート(スケーリング値)を用いる。
FIG. 7 illustrates a method for obtaining the pixel rate of an arbitrary pixel P. In FIG. 7, it is assumed that the pixel P exists in the
各中心画素間を結ぶ線AB、線AC、線ADを引き、線AB、線ACおよび線ADに、画素Pから垂線を引いて交点B’、交点C’および交点D’を求め、これら3つの交点と画素Aとの距離、画素Aと各画素B’、C’、D’との距離の比から各交点についてそれぞれピクセルレートを算出する。 Lines AB, AC, and AD connecting the central pixels are drawn, and perpendiculars are drawn from the pixel P to the lines AB, AC, and AD to obtain intersections B ′, intersections C ′, and intersections D ′. The pixel rate is calculated for each intersection from the distance between the two intersections and the pixel A and the ratio of the distances between the pixel A and the pixels B ′, C ′, and D ′.
例えば、交点B’のピクセルレートは、
(画素Aのピクセルレート)+((画素Bのピクセルレート)−(画素Aのピクセルレート))×(線分AB’間の長さ/線分AB間の長さ)
の式に従って算出する。
For example, the pixel rate of the intersection B ′ is
(Pixel rate of pixel A) + ((pixel rate of pixel B) − (pixel rate of pixel A)) × (length between line segments AB ′ / length between line segments AB)
It calculates according to the formula.
同様に、交点C’に対して画素A、Cに基づいてピクセルレートを算出し、交点D’に対して画素A、Dに基づいてピクセルレートを算出し、これら交点B’、C’、D’から得られる3つのピクセルレートの平均値を画素Pのピクセルレートとする。この画素Pのピクセルレートは、それぞれのX、Y方向について求められる。 Similarly, the pixel rate is calculated based on the pixels A and C for the intersection C ′, the pixel rate is calculated based on the pixels A and D for the intersection D ′, and the intersections B ′, C ′, and D are calculated. Let the average value of the three pixel rates obtained from 'be the pixel rate of the pixel P. The pixel rate of the pixel P is obtained for each of the X and Y directions.
このように、任意の画素のピクセルレートが算出できるので、図8に示したように、例えば電極40aの近傍の画素Pのピクセルレートを図7に示した方法で算出する。また、画素Qはカメラの視野中心の画素で、この画素を基準として実座標を算出する。画素Qのピクセルレートとしては、メモリ17に保存されている視野エリア30eのピクセルレートを用いる。そして、画素Pと画素Qの各ピクセルレートの平均値を求め、この平均値と画素PQ間のX方向画素数を乗算することにより電極40aのX方向実座標を算出し、また該平均値とPQ間のY方向画素数を乗算することにより電極40aのY方向実座標を算出する。ここで、実座標とは、例えば単位がmmなど機械で扱える座標である。
In this way, since the pixel rate of an arbitrary pixel can be calculated, as shown in FIG. 8, for example, the pixel rate of the pixel P in the vicinity of the
同様に、他の電極40b、40cについてもそのX、Y方向の実座標を求め、これら求めた電極座標から部品中心と傾きを求める。
Similarly, for the
なお、治具6に形成されるパターンは、図3に示したようなグリッド状のパターンではなく、サイズ、パターン間の距離が既知の複数のパターンであれば、任意のパターンとすることができる。例えば、図9に示したような複数のマーク60aからなる複数のパターン60bを描画した治具60を用いることができる。この場合には、カメラ視野は、少なくとも一つのパターン60bが分割された視野エリア内に撮像されるように分割される。各マーク60aの重心を取得し、そのマーク重心間の画素数から各視野エリア内のスケーリング値を取得する。
The pattern formed on the
2 搭載ヘッドユニット
3 吸着ノズル
4 XY駆動ユニット
5 基板認識カメラ
6 治具
8 部品認識カメラ
17 画像処理装置
30 カメラ視野
2 mounted
Claims (2)
複数のパターンが形成された治具をカメラで撮像し、
前記撮像されたパターンの少なくとも一つのパターンが視野エリア内に撮像されるように、カメラ視野を複数の視野エリアに分割し、
各視野エリア内のパターン画像を処理して各視野エリアごとにスケーリング値を算出し、保存することを特徴とする部品実装機のカメラスケーリング取得方法。 A camera scaling acquisition method for a component mounter,
Take a picture of a jig with multiple patterns with a camera,
Dividing the camera field of view into a plurality of field areas such that at least one of the captured patterns is imaged within the field area;
A method for obtaining camera scaling of a component mounting machine, wherein a pattern image in each visual field area is processed to calculate and store a scaling value for each visual field area.
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