JP2008000755A - Electrooptical device, method for producing electrooptical device and electronic equipment - Google Patents

Electrooptical device, method for producing electrooptical device and electronic equipment Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electrooptical device which is hard to be damaged by laser light upon scribing, to provide a method for producing the electrooptical device, and to provide an electronic equipment. <P>SOLUTION: A substrate 52 is parted, so as to form a counter strip substrate 55 having edge faces 55d. Next, the counter strip substrate 55 and an element mother substrate 62 are joined. After the joining, a V counter cutting face 68, a V element cutting face 67 and an H element cutting face are scribed. In the scribing, laser light 56 is condensed and emitted on each inside of the substrate 52 and the substrate 63 using a condensing lens 8, so as to form a reforming part 57. Crack parts 58 are formed at the center of the reforming part 57, and the crack parts 58 are disposingly formed, so as to perform the scribing. At this time, in the element mother substrate 62, regarding the place confronted with the V counter cutting face 68 in the counter strip substrate 55, the place free from elements, wiring and terminals is set. Thereafter, the disposingly formed crack parts 58 are pressed, and are subjected to tension, so as to be parted. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、電気光学装置及び電気光学装置の製造方法、ならびに電子機器に関するものである。   The present invention relates to an electro-optical device, a method for manufacturing the electro-optical device, and an electronic apparatus.

光透過性のある基板を品質良く切断するために、レーザ光を基板に照射して基板内部に改質領域(以下、改質部と称す。)を形成するレーザスクライブ方法が特許文献1に開示されている。それによると、パルス幅が1μs以下のレーザ光を出射し、集光レンズで基板内部に集光し、集光点におけるピークパワー密度を1×108(W/cm2)以上にする。これにより、加工対象物の内部に多光子吸収による改質部を形成するものである。 Patent Document 1 discloses a laser scribing method for irradiating a substrate with laser light to form a modified region (hereinafter referred to as a modified portion) inside the substrate in order to cut a light-transmitting substrate with high quality. Has been. According to this, a laser beam having a pulse width of 1 μs or less is emitted and condensed inside the substrate by a condenser lens, and the peak power density at the focal point is set to 1 × 10 8 (W / cm 2 ) or more. Thereby, the modified part by multiphoton absorption is formed inside the workpiece.

また、このレーザスクライブ方法において、加工対象物の内部に形成される改質部あるいはこれを起点として形成される改質部の大きさは、集光レンズの特性と、レーザ光のピークパワー密度に依存する。例えば、上記特許文献1に示されたガラス(厚さ700μm)に対してYAGレーザを用いて切断する実施例では、集光レンズの開口数が0.55の場合、ピークパワー密度がおよそ1×1011(W/cm2)では、改質部の大きさは、およそ100μmである。また、ピークパワー密度がおよそ5×1011(W/cm2)では、およそ250μmである。基板の内部に改質部を配列して形成し、改質部を押圧することで、基板を改質部に沿って品質良く分断することができる。 In this laser scribing method, the size of the modified portion formed inside the object to be processed or the modified portion formed from this depends on the characteristics of the condenser lens and the peak power density of the laser beam. Dependent. For example, in an embodiment in which the glass (thickness: 700 μm) disclosed in Patent Document 1 is cut using a YAG laser, the peak power density is approximately 1 × when the condensing lens has a numerical aperture of 0.55. At 10 11 (W / cm 2 ), the size of the modified portion is approximately 100 μm. Further, when the peak power density is about 5 × 10 11 (W / cm 2 ), it is about 250 μm. By forming the reforming portions in the substrate and pressing the reforming portions, the substrate can be divided along the reforming portions with good quality.

液晶表示装置などの表示装置は、外形が矩形の1対の基板を用いて、1対の基板の間に液晶や発光素子を配置して形成されることが多い。   A display device such as a liquid crystal display device is often formed by using a pair of substrates having a rectangular outer shape and disposing a liquid crystal or a light emitting element between the pair of substrates.

特開2002−192371号公報JP 2002-192371 A

1対の基板を接合した後に、基板にレーザ光を照射してスクライブするとき、レーザ光により形成される改質部を透過するレーザ光が存在する。集光レンズに近い場所に位置する基板に形成される改質部を透過するレーザ光は、集光レンズから離れている場所に位置する基板を照射する。集光レンズから離れている場所に位置する基板に、配線、端子、電気素子などが配置されているとき、改質部を透過するレーザ光はこれらを照射する。レーザ光を照射される配線、端子、電気素子は、レーザ光により損傷を受ける可能性がある。損傷を受ける配線、端子、電気素子は、電気的機能を正常に機能できなくなる可能性がある。   When a pair of substrates are joined and then scribed by irradiating the substrate with laser light, there is laser light that passes through the modified portion formed by the laser light. Laser light that passes through the modified portion formed on the substrate located near the condenser lens irradiates the substrate located away from the condenser lens. When wirings, terminals, electrical elements, and the like are arranged on a substrate located at a location away from the condenser lens, the laser light that passes through the modified portion irradiates them. Wiring, terminals, and electrical elements irradiated with the laser light may be damaged by the laser light. Damaged wiring, terminals, and electrical elements may not function properly.

本発明は、このような従来の問題点に着目してなされたもので、その目的は、スクライブするときに、レーザ光による損傷を受けにくい電気光学装置及び電気光学装置の製造方法、ならびに電子機器を提供することにある。   The present invention has been made paying attention to such conventional problems, and an object of the present invention is to provide an electro-optical device that is not easily damaged by laser light when scribing, a method for manufacturing the electro-optical device, and an electronic apparatus. Is to provide.

上記課題を解決するために、本発明の電気光学装置の製造方法は、第1基板と、第2基板とを接合して形成する電気光学装置の製造方法であって、第1基板が複数行且つ複数列形成されている第1マザー基板を分断して、第1基板が一行形成されている第1短冊基板を形成する第1基板第1形成工程と第1短冊基板と第2基板が複数行且つ複数列形成されている第2マザー基板とを接合する接合工程と、第1短冊基板を分断して、第1基板を形成する第1基板第2形成工程と、第2マザー基板を分断して第2基板を形成する第2基板形成工程とを有し、第1基板第2形成工程では、第1短冊基板にレーザ光を照射して改質部を形成し、分断することを特徴とする。   In order to solve the above problems, an electro-optical device manufacturing method according to the present invention is a method for manufacturing an electro-optical device formed by bonding a first substrate and a second substrate, and the first substrate has a plurality of rows. In addition, the first mother substrate formed in a plurality of rows is divided to form a first strip substrate in which the first substrate is formed in a row. A first substrate first forming step, and a plurality of first strip substrates and second substrates are formed. A joining step of joining the second mother substrates formed in rows and columns, a first substrate second forming step of dividing the first strip substrate to form the first substrate, and a second mother substrate being divided A second substrate forming step of forming a second substrate, and in the first substrate second forming step, the first strip substrate is irradiated with laser light to form a modified portion and to be divided. And

この電気光学装置の製造方法によれば、第1マザー基板には第1基板が、複数行且つ複数列形成されている。第1基板第1形成工程では、第1マザー基板が分断され、第1短冊基板が形成される。第1マザー基板には第1基板が複数行形成されており、各行毎に分断される為、第1短冊基板には、1行分の第1基板が形成されている状態となる。   According to the method of manufacturing the electro-optical device, the first substrate is formed with a plurality of rows and a plurality of columns on the first mother substrate. In the first substrate first forming step, the first mother substrate is divided to form a first strip substrate. Since the first mother substrate is formed with a plurality of rows of the first substrate and is divided for each row, the first strip substrate is in a state where the first substrate for one row is formed.

第2マザー基板にも、第2基板が複数行且つ複数列形成されており、接合工程では、第1短冊基板と第2マザー基板とを接合する。続いて、第1基板第2形成工程において、第1短冊基板にレーザ光を照射して改質部を形成し、分断して、第1基板を形成する。第2基板形成工程では、第2マザー基板を分断して第2基板を形成する。   The second mother substrate is also formed with a plurality of rows and columns in the second substrate, and the first strip substrate and the second mother substrate are bonded in the bonding step. Subsequently, in the first substrate second forming step, the first strip substrate is irradiated with laser light to form a modified portion and divided to form the first substrate. In the second substrate forming step, the second mother substrate is divided to form a second substrate.

一方、第1マザー基板と第2マザー基板とを接合し、第1マザー基板にレーザ光を照射して、電気光学装置の辺を形成する場合には、第1マザー基板を通過するレーザ光が第2マザー基板を照射する。第2マザー基板及び、第2マザー基板に形成されている素子、配線等の部材は、レーザ光が照射され、損傷を受ける可能性がある。   On the other hand, when the first mother substrate and the second mother substrate are bonded and the first mother substrate is irradiated with laser light to form the sides of the electro-optical device, the laser light passing through the first mother substrate is Irradiate the second mother substrate. The second mother substrate and members such as elements and wirings formed on the second mother substrate may be damaged by being irradiated with laser light.

本発明では、第1マザー基板から第1短冊基板が形成された後に、第1短冊基板と第2マザー基板とが接合される。従って、第1短冊基板と第2マザー基板とを接合した後、第1マザー基板を分断して形成された第1短冊基板の辺に、レーザ光を第1短冊基板に照射して改質部を形成する必要がない。   In the present invention, after the first strip substrate is formed from the first mother substrate, the first strip substrate and the second mother substrate are joined. Therefore, after joining the first strip substrate and the second mother substrate, the first strip substrate is formed by dividing the first mother substrate, and the first strip substrate is irradiated with laser light on the side of the modified portion. There is no need to form.

つまり、第1基板第2形成工程にて、第1短冊基板における辺と対向する第2マザー基板の場所には、レーザ光が照射する必要がない為、第2マザー基板及び、第2マザー基板に素子、配線等の部材が形成されているとき、形成されている素子、配線等の部材には、レーザ光が照射され、損傷を受けることがない。   That is, in the first substrate second forming step, it is not necessary to irradiate the second mother substrate facing the side of the first strip substrate with the laser beam. Therefore, the second mother substrate and the second mother substrate When a member such as an element or wiring is formed on the substrate, the formed member such as an element or wiring is irradiated with a laser beam and is not damaged.

さらに、第2マザー基板がレーザ光を通過する材料からなり、第2マザー基板において、第1基板と逆側に、第3の基板、素子、配線等の部材が形成されている場合がある。
このときにも、レーザ光を第1短冊基板に照射して改質部を形成する必要がない為、レーザ光が第2マザー基板を透過して、第2マザー基板において、第1基板と逆側に、配置されている第3の基板、素子、配線等の部材を照射して、損傷を与える可能性がない。その結果、電気光学装置は品質の良い装置とすることができる。
Further, the second mother substrate may be made of a material that transmits laser light, and a member such as a third substrate, an element, and a wiring may be formed on the second mother substrate on the side opposite to the first substrate.
Also at this time, there is no need to irradiate the first strip substrate with the laser beam to form the modified portion. Therefore, the laser beam is transmitted through the second mother substrate, and the second mother substrate is opposite to the first substrate. There is no possibility of irradiating a member such as a third substrate, an element, or a wiring disposed on the side to cause damage. As a result, the electro-optical device can be a high-quality device.

本発明の電気光学装置の製造方法は、第1短冊基板において、第1マザー基板を分断して形成される辺の一部と対向する、第2マザー基板の場所には、レーザ光の照射により損傷する部材が配置されていることを特徴とする。   The method of manufacturing the electro-optical device according to the present invention is such that, in the first strip substrate, the second mother substrate facing the part of the side formed by dividing the first mother substrate is irradiated with laser light. A member to be damaged is arranged.

この電気光学装置の製造方法によれば、第1短冊基板において、第1基板第1形成工程で形成される辺の一部と対向する、第2マザー基板の場所には、レーザ光の照射により損傷する部材が配置されている。第1短冊基板の辺と対向する、第2基板の場所には、レーザ光を照射する必要がない。従って、第2マザー基板にレーザ光が照射されて、レーザ光の照射による損傷を受ける部材が配置されているときにも、レーザ光の照射により、損傷を受けることがない。その結果、電気光学装置は品質の良い装置とすることができる。   According to the method of manufacturing the electro-optical device, the first strip substrate is exposed to the laser beam irradiation at the position of the second mother substrate facing a part of the side formed in the first substrate first forming step. Damaged members are placed. It is not necessary to irradiate the laser beam to the location of the second substrate facing the side of the first strip substrate. Therefore, even when the second mother substrate is irradiated with the laser beam and a member that is damaged by the laser beam irradiation is disposed, the second mother substrate is not damaged by the laser beam irradiation. As a result, the electro-optical device can be a high-quality device.

本発明の電気光学装置の製造方法では、損傷する部材は、電極又は配線であることを特徴とする。   The electro-optical device manufacturing method of the present invention is characterized in that the damaged member is an electrode or a wiring.

この電気光学装置の製造方法によれば、第1短冊基板において、第1基板第1形成工程で形成される辺の一部と対向する、第2マザー基板の場所には、レーザ光を照射する必要がない。従って、第1短冊基板の辺に対向する、第2マザー基板の場所に電極又は配線を配置することができる。従って、電極、配線の配置を設計し易い電気光学装置の製造方法とすることができる。   According to the method of manufacturing the electro-optical device, the first strip substrate is irradiated with a laser beam at a position of the second mother substrate facing a part of the side formed in the first substrate first forming step. There is no need. Therefore, an electrode or a wiring can be arranged at a location of the second mother substrate facing the side of the first strip substrate. Therefore, it is possible to provide an electro-optical device manufacturing method in which the arrangement of electrodes and wirings can be easily designed.

本発明の電気光学装置の製造方法は、第1基板第1形成工程では、第1マザー基板にレーザ光を照射して改質部を形成し、分断することを特徴とする。   The electro-optical device manufacturing method according to the present invention is characterized in that, in the first substrate first forming step, the first mother substrate is irradiated with laser light to form a modified portion and to be divided.

この電気光学装置の製造方法によれば、第1基板第1形成工程では、第1マザー基板にレーザ光が照射され、改質部が形成されて、分断される。従って、第1基板第1形成工程では、乾式で分断することができる。また、分断するときに、基板の破片が分離することが少ないことから、洗浄が不要となる。つまり、第1マザー基板を濡らすことなく外形の一部を形成することができる。第1マザー基板に、洗浄により性能が劣化する可能性のある膜が形成されているときにも、洗浄することなく外形の一部を形成することができる。その結果、電気光学装置は品質の良い装置とすることができる。   According to this method of manufacturing an electro-optical device, in the first substrate first forming step, the first mother substrate is irradiated with laser light, and the modified portion is formed and divided. Therefore, in the first substrate first forming step, it can be divided by a dry method. Further, since the fragments of the substrate are rarely separated when dividing, cleaning is unnecessary. That is, a part of the outer shape can be formed without wetting the first mother substrate. Even when the first mother substrate is formed with a film whose performance may be deteriorated by cleaning, a part of the outer shape can be formed without cleaning. As a result, the electro-optical device can be a high-quality device.

本発明の電気光学装置の製造方法は、第2基板形成工程では、第2マザー基板にレーザ光を照射して改質部を形成し、分断することを特徴とする。   The electro-optical device manufacturing method according to the present invention is characterized in that, in the second substrate forming step, the second mother substrate is irradiated with laser light to form a modified portion and divided.

この電気光学装置の製造方法によれば、第2基板形成工程では、第2マザー基板にレーザ光が照射され、改質部が形成されて、分断される。従って、分断するときに、基板の破片が分離することが少ない。基板の破片が電極及び製造装置等に付着して不具合を生じることを少なくすることができる。その結果、電気光学装置は品質の良い装置とすることができる。   According to this method of manufacturing an electro-optical device, in the second substrate forming step, the second mother substrate is irradiated with laser light, and a modified portion is formed and divided. Therefore, the fragments of the substrate are rarely separated when dividing. It is possible to reduce the occurrence of defects due to the fragments of the substrate adhering to the electrodes and the manufacturing apparatus. As a result, the electro-optical device can be a high-quality device.

本発明の電気光学装置の製造方法では、第1短冊基板及び第2マザー基板にはマークが形成され、接合工程において、第1短冊基板に形成されているマークと、第2マザー基板に形成されているマークとを用いて、第1短冊基板と第2マザー基板との相対位置を合わせて接合することを特徴とする。   In the electro-optical device manufacturing method of the present invention, marks are formed on the first strip substrate and the second mother substrate, and are formed on the first mother substrate and the mark formed on the first strip substrate in the bonding step. The first strip substrate and the second mother substrate are joined to each other using the marks that are aligned.

この電気光学装置の製造方法によれば、第1短冊基板及び第2マザー基板にはマークが形成されている。接合工程において、第1短冊基板に形成されているマークと、第2マザー基板に形成されているマークとを用いて、第1短冊基板と第2マザー基板とは、相対位置を合わせて接合される。従って、第1短冊基板と第2マザー基板とは位置精度良く所定の位置に接合される。その結果、電気光学装置は品質の良い装置とすることができる。   According to this method of manufacturing an electro-optical device, marks are formed on the first strip substrate and the second mother substrate. In the joining step, the first strip substrate and the second mother substrate are joined with their relative positions aligned using the mark formed on the first strip substrate and the mark formed on the second mother substrate. The Therefore, the first strip substrate and the second mother substrate are bonded to a predetermined position with high positional accuracy. As a result, the electro-optical device can be a high-quality device.

本発明の電気光学装置は、上記に記載の電気光学装置の製造方法を用いて製造されていることを特徴とする。   The electro-optical device of the present invention is manufactured using the above-described method for manufacturing an electro-optical device.

この電気光学装置によれば、電気光学装置は、第2基板に素子、配線が形成されているとき、レーザ光により損傷を殆ど受けることなく製造される。従って、品質良く製造される電気光学装置とすることができる。   According to this electro-optical device, the electro-optical device is manufactured without being damaged by the laser beam when elements and wirings are formed on the second substrate. Therefore, an electro-optical device manufactured with high quality can be obtained.

本発明の電子機器は、上記に記載の電気光学装置を表示部に備えることを特徴とする。   According to another aspect of the invention, there is provided an electronic apparatus including the above-described electro-optical device in a display unit.

この電子機器によれば、電子機器は、表示部に上記の電気光学装置を備えている。この電気光学装置は、第2基板がレーザ光により損傷を殆ど受けることなく製造され、品質良く製造されている。従って、この電子機器は、表示部に第2基板がレーザ光により損傷を受けることなく製造され、品質良く製造される電気光学装置を備えている電子機器とすることができる。   According to this electronic apparatus, the electronic apparatus includes the electro-optical device described above in the display unit. In this electro-optical device, the second substrate is manufactured with little damage by the laser beam, and is manufactured with high quality. Therefore, the electronic apparatus can be an electronic apparatus including an electro-optical device in which the second substrate is manufactured on the display unit without being damaged by the laser light and manufactured with high quality.

以下、本発明を具体化した実施例について図面に従って説明する。
尚、各図面における各部材は、各図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各部材毎に縮尺を異ならせて図示している。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
In addition, each member in each drawing is illustrated with a different scale for each member in order to make the size recognizable on each drawing.

(第1の実施形態)
本発明の第1の実施形態に係るレーザスクライブ方法について図1〜図10に従って説明する。
(First embodiment)
A laser scribing method according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.

最初にレーザ照射装置について説明する。図1は、レーザ照射装置の構成を示す概略図である。
図1に示すように、レーザ照射装置1は、レーザ光を出射するレーザ光源2と、出射されたレーザ光をワークに照射する光学経路部3と、光学経路部3に対してワークを相対的に移動させるテーブル部4と、動作を制御する制御装置5を主として構成されている。
First, the laser irradiation apparatus will be described. FIG. 1 is a schematic diagram showing a configuration of a laser irradiation apparatus.
As shown in FIG. 1, the laser irradiation apparatus 1 includes a laser light source 2 that emits laser light, an optical path unit 3 that irradiates the work with the emitted laser light, and a work relative to the optical path unit 3. The table unit 4 is moved mainly and the control device 5 for controlling the operation is mainly configured.

レーザ光源2は、出射するレーザ光を加工対象物の内部に集光して多光子吸収による改質部を形成できる光源であれば良い。例えば、レーザ光源2は、本実施形態において、LD励起Nd:YAG(Nd:Y3Al512)のレーザ媒質からなり、第3高調波(波長:355nm)のQスイッチパルス発振のレーザ光を出射する発光条件を採用している。パルス幅はおよそ14ns(ナノ秒)、パルス周期は10kHz、出力はおよそ60μJ/パルスのレーザ光を出射する発光条件を採用している。 The laser light source 2 may be any light source that can collect the emitted laser light inside the object to be processed and form a modified portion by multiphoton absorption. For example, in the present embodiment, the laser light source 2 is composed of a laser medium of LD excitation Nd: YAG (Nd: Y 3 Al 5 O 12 ), and is a third harmonic (wavelength: 355 nm) Q-switch pulse oscillation laser light. The light emission conditions for emitting light are employed. The light emission conditions for emitting a laser beam with a pulse width of about 14 ns (nanoseconds), a pulse period of 10 kHz, and an output of about 60 μJ / pulse are employed.

光学経路部3はダイクロイックミラー6を備えている。ダイクロイックミラー6は、レーザ光源2から照射されるレーザ光の光軸7上に配置されている。ダイクロイックミラー6はレーザ光源2から照射されるレーザ光を反射して、光軸7の進行方向を変更する。ダイクロイックミラー6に反射したレーザ光が通過する光軸7上に集光レンズ8が配置されている。テーブル部4にはワーク9が配置され、集光レンズ8を通過したレーザ光がワーク9に照射されるようになっている。   The optical path unit 3 includes a dichroic mirror 6. The dichroic mirror 6 is disposed on the optical axis 7 of the laser light emitted from the laser light source 2. The dichroic mirror 6 reflects the laser light emitted from the laser light source 2 and changes the traveling direction of the optical axis 7. A condenser lens 8 is disposed on the optical axis 7 through which the laser light reflected by the dichroic mirror 6 passes. A work 9 is arranged on the table 4, and the work 9 is irradiated with laser light that has passed through the condenser lens 8.

集光レンズ8はレンズ支持部10により、レンズ移動機構11に支持されている。レンズ移動機構11は、図示しない直動機構を有し、集光レンズ8を光軸7方向に移動させて、集光レンズ8を通過したレーザ光が集光する位置を移動可能としている。
直動機構は、例えばZ方向に延びるネジ軸(駆動軸)と、同ネジ軸と螺合するボールナットを供えたネジ式直動機構であって、その駆動軸が所定のパルス信号を受けて所定のステップ単位で正逆転する図示しないZ軸モータに連結されている。そして、所定のステップ数に相当する駆動信号がZ軸モータに入力されると、Z軸モータが正転又は反転して、レンズ移動機構11が同ステップ数に相当する分だけ、光軸7方向に沿って往動又は復動するようになっている。
The condenser lens 8 is supported by the lens moving mechanism 11 by the lens support portion 10. The lens moving mechanism 11 has a linear motion mechanism (not shown), and moves the condenser lens 8 in the direction of the optical axis 7 so that the position where the laser light that has passed through the condenser lens 8 is condensed can be moved.
The linear motion mechanism is, for example, a screw type linear motion mechanism provided with a screw shaft (drive shaft) extending in the Z direction and a ball nut screwed to the screw shaft, and the drive shaft receives a predetermined pulse signal. It is connected to a Z-axis motor (not shown) that rotates forward and backward in predetermined step units. When a drive signal corresponding to a predetermined number of steps is input to the Z-axis motor, the Z-axis motor rotates normally or reversely, and the lens moving mechanism 11 corresponds to the number of steps corresponding to the optical axis 7 direction. It moves forward or backward along.

集光レンズ8とダイクロイックミラー6とを通過する光軸7の延長線上にあって、ダイクロイックミラー6に対して集光レンズ8と反対側には、撮像装置12を備えている。撮像装置12は、例えば、図示しない同軸落射型光源とCCD(Charge Coupled Device)が組み込まれたものである。同軸落射型光源から出射した可視光は、集光レンズ8を透過してワーク9を照射する。撮像装置12は、集光レンズ8とダイクロイックミラー6とを通してワーク9を撮像することが可能となっている。   An imaging device 12 is provided on the extension line of the optical axis 7 passing through the condenser lens 8 and the dichroic mirror 6 and on the opposite side of the condenser lens 8 with respect to the dichroic mirror 6. The imaging device 12 includes, for example, a coaxial incident light source and a CCD (Charge Coupled Device) (not shown). The visible light emitted from the coaxial incident light source passes through the condenser lens 8 and irradiates the work 9. The imaging device 12 can image the workpiece 9 through the condenser lens 8 and the dichroic mirror 6.

テーブル部4は、基台15を備えている。基台15の光学経路部3側には、レール16が凸設して配置されており、レール16上にはX軸スライド17が配置されている。X軸スライド17は、図示しない直動機構を備え、レール16上のX方向に移動可能となっている。直動機構は、レンズ移動機構11が備える直動機構と同様な機構であり、所定のステップ数に相当する駆動信号に対応してX軸スライド17が同ステップ数に相当する分だけ、X方向に沿って往動又は復動するようになっている。   The table unit 4 includes a base 15. On the side of the optical path portion 3 of the base 15, a rail 16 is provided so as to protrude, and an X-axis slide 17 is provided on the rail 16. The X-axis slide 17 includes a linear motion mechanism (not shown) and can move in the X direction on the rail 16. The linear motion mechanism is a mechanism similar to the linear motion mechanism included in the lens moving mechanism 11, and the X-axis slide 17 corresponds to the number of steps corresponding to the drive signal corresponding to the predetermined number of steps in the X direction. It moves forward or backward along.

X軸スライド17の光学経路部3側にはレール18が凸設して配置されており、レール18上にはY軸スライド19が配置されている。Y軸スライド19は、X軸スライド17と同様な直動機構を備え、レール18上をY方向に移動可能となっている。   A rail 18 is provided so as to protrude from the X-axis slide 17 on the optical path section 3 side, and a Y-axis slide 19 is provided on the rail 18. The Y-axis slide 19 includes a linear motion mechanism similar to that of the X-axis slide 17 and can move on the rail 18 in the Y direction.

Y軸スライド19の光学経路部3側には、ステージ20が配置され、ステージ20の上面には図示しない吸引式のチャック機構が設けられている。そして、ワーク9を載置すると、チャック機構によって、ワーク9がステージ20の上面における所定の位置に位置決めされて固定されるようになっている。   A stage 20 is disposed on the optical path section 3 side of the Y-axis slide 19, and a suction chuck mechanism (not shown) is provided on the upper surface of the stage 20. When the workpiece 9 is placed, the workpiece 9 is positioned and fixed at a predetermined position on the upper surface of the stage 20 by the chuck mechanism.

制御装置5は、メインコンピュータ24を備えている。メインコンピュータ24は内部に図示しないCPU(Central Processing Unit)やメモリーを備えている。CPUはメモリー内に記憶されたプログラムソフトに従って、レーザ照射装置1の動作を制御するものである。
メインコンピュータ24は、図示しない入出力インターフェースを備え、入力装置25、表示装置26、レーザ制御装置27、レンズ制御装置28、画像処理装置29、ステージ制御装置30と接続されている。
The control device 5 includes a main computer 24. The main computer 24 includes a CPU (Central Processing Unit) and a memory (not shown). The CPU controls the operation of the laser irradiation apparatus 1 in accordance with program software stored in the memory.
The main computer 24 includes an input / output interface (not shown), and is connected to an input device 25, a display device 26, a laser control device 27, a lens control device 28, an image processing device 29, and a stage control device 30.

入力装置25は、レーザ加工の際に用いられる各種加工条件のデータを入力する装置であり、表示装置26はレーザ加工時の各種情報を表示する装置である。CPUは、入力される各種加工条件とプログラムソフトとに従って、レーザ加工を行い、加工状況を表示装置26に表示する。操作者が表示装置26に表示される各種情報を見て、レーザ加工状況を確認して操作するようになっている。   The input device 25 is a device for inputting data of various processing conditions used in laser processing, and the display device 26 is a device for displaying various information at the time of laser processing. The CPU performs laser processing according to various processing conditions and program software that are input, and displays the processing status on the display device 26. The operator looks at various information displayed on the display device 26 and confirms the laser processing status for operation.

レーザ制御装置27は、レーザ光源2を駆動するパルス信号のパルス幅、パルス周期、出力の開始と停止、等を制御する装置であり、メインコンピュータ24の制御信号により制御される。
レンズ制御装置28は、レンズ移動機構11の移動、停止を制御する装置である。レンズ移動機構11には、移動距離を検出可能な図示しない位置センサが内蔵されており、レンズ制御装置28は、この位置センサの出力を検出することにより、集光レンズ8の光軸7方向の位置を認識する。レンズ制御装置28は、レンズ移動機構11にパルス信号を送信し、レンズ移動機構11を所望の位置に移動することができるようになっている。
The laser control device 27 is a device that controls the pulse width of the pulse signal that drives the laser light source 2, the pulse cycle, the start and stop of output, and the like, and is controlled by the control signal of the main computer 24.
The lens control device 28 is a device that controls the movement and stop of the lens moving mechanism 11. The lens moving mechanism 11 has a built-in position sensor (not shown) that can detect the moving distance, and the lens control device 28 detects the output of the position sensor to detect the position of the condenser lens 8 in the direction of the optical axis 7. Recognize position. The lens control device 28 can transmit a pulse signal to the lens moving mechanism 11 to move the lens moving mechanism 11 to a desired position.

画像処理装置29は、撮像装置12から出力される画像データを演算する機能を備えている。ステージ20にワーク9を配置し、撮像装置12で撮像した画像を観察するとき、レンズ移動機構11を操作して、集光レンズ8とワーク9との距離を変えることにより画像が鮮明になるときとぼやけるときが存在する。集光レンズ8を移動して、ワーク9のステージ20側の面に焦点が合うときと、ワーク9の光学経路部3側の面に焦点が合うときに、撮像される画像が鮮明になる。一方、焦点が合っていないとき、撮像される画像は、ぼやけた画像となる。   The image processing device 29 has a function of calculating image data output from the imaging device 12. When the work 9 is placed on the stage 20 and an image taken by the imaging device 12 is observed, the lens moving mechanism 11 is operated to change the distance between the condenser lens 8 and the work 9 to make the image clearer. There are times when it is blurred. When the condenser lens 8 is moved to focus on the surface of the work 9 on the stage 20 side and when the work 9 is focused on the surface of the work 9 on the optical path unit 3 side, the image to be captured becomes clear. On the other hand, when the image is out of focus, the captured image is a blurred image.

集光レンズ8を光軸7の方向に移動して、撮像装置12が撮像する画像が鮮明になるときの集光レンズ8の位置を、内蔵する位置センサで検出することにより、ワーク9の厚みを測定することが可能となる。   The thickness of the work 9 is determined by moving the condenser lens 8 in the direction of the optical axis 7 and detecting the position of the condenser lens 8 when the image picked up by the imaging device 12 becomes clear by the built-in position sensor. Can be measured.

撮像装置12で撮像するときに焦点が合う合焦点位置と、レーザ光を照射したときに、集光レンズ8により集光される集光位置との差の距離を計測することで、合焦点位置と集光位置の差の距離であるオフセット距離を知ることができる。例えば、透明な2枚の基板を重ねた物をワーク9としてステージ20に設置し、2枚の基板の接触部に撮像装置12の焦点が合うように集光レンズ8を移動する。次に、レーザ光を照射して改質部を形成する。2枚の基板の接触部と改質部との距離を計測することでオフセット距離を設定することができる。   The in-focus position is obtained by measuring the distance between the in-focus position that is in focus when imaged by the imaging device 12 and the condensing position that is condensed by the condensing lens 8 when the laser beam is irradiated. And the offset distance, which is the difference between the condensing positions. For example, an object obtained by stacking two transparent substrates is set on the stage 20 as a workpiece 9 and the condenser lens 8 is moved so that the imaging device 12 is focused on a contact portion between the two substrates. Next, the modified portion is formed by irradiating laser light. The offset distance can be set by measuring the distance between the contact portion and the reforming portion of the two substrates.

集光レンズ8を光軸7方向に移動して、ワーク9の光学経路部3側の面に撮像装置12の焦点を合わせる。レーザ光を照射したい位置とオフセット距離とで集光レンズ8の移動距離を演算し、演算した移動距離に対応する距離分、集光レンズ8を移動させる。この方法でワーク9における所定の深さにレーザ光を集光することが可能となる。   The condenser lens 8 is moved in the direction of the optical axis 7 so that the imaging device 12 is focused on the surface of the work 9 on the optical path portion 3 side. The moving distance of the condensing lens 8 is calculated from the position where the laser beam is to be irradiated and the offset distance, and the condensing lens 8 is moved by the distance corresponding to the calculated moving distance. With this method, the laser beam can be condensed to a predetermined depth in the workpiece 9.

ステージ制御装置30は、X軸スライド17とY軸スライド19との位置情報の取得と移動制御を行う。X軸スライド17とY軸スライド19とには図示しない位置センサが内蔵されており、ステージ制御装置30は位置センサの出力を検出することにより、X軸スライド17とY軸スライド19との位置を検出する。ステージ制御装置30は、X軸スライド17とY軸スライド19との位置情報を取得し、メインコンピュータ24から指示される位置情報とを比較し、差に相当する距離に対応して、X軸スライド17とY軸スライド19とを駆動して移動する。ステージ制御装置30はX軸スライド17とY軸スライド19とを駆動して、所望の位置にワーク9を移動することが可能となっている。   The stage control device 30 performs acquisition of position information and movement control of the X-axis slide 17 and the Y-axis slide 19. The X-axis slide 17 and the Y-axis slide 19 have built-in position sensors (not shown), and the stage control device 30 detects the positions of the X-axis slide 17 and the Y-axis slide 19 by detecting the output of the position sensor. To detect. The stage control device 30 acquires the position information of the X-axis slide 17 and the Y-axis slide 19, compares the position information instructed from the main computer 24, and corresponds to the distance corresponding to the difference to the X-axis slide. 17 and the Y-axis slide 19 are driven to move. The stage control device 30 can drive the X-axis slide 17 and the Y-axis slide 19 to move the workpiece 9 to a desired position.

レーザ制御装置27がレーザ光源2を制御しレーザ光を発光させる。画像処理装置29がワーク9の面に対する光軸方向の位置を検出する。レンズ制御装置28がレーザ光を集光する光軸方向の位置を制御する。ステージ制御装置30がワーク9をXY方向に移動して、ワーク9にレーザ光が照射される位置を制御する。上述した制御を行い所望の位置にレーザ光を集光して照射することが可能となっている。   The laser control device 27 controls the laser light source 2 to emit laser light. The image processing device 29 detects the position in the optical axis direction with respect to the surface of the workpiece 9. The lens controller 28 controls the position in the optical axis direction where the laser light is condensed. The stage control device 30 moves the workpiece 9 in the XY directions, and controls the position where the workpiece 9 is irradiated with laser light. It is possible to collect and irradiate laser light at a desired position by performing the above-described control.

ここで、多光子吸収による改質部の形成について説明する。集光レンズ8によって集光されたレーザ光は、ワーク9に入射する。そして、ワーク9がレーザ光を透過する材料であっても、材料の吸収バンドギャップより光子のエネルギーが非常に大きいときには、ワーク9は光子エネルギーを吸収する。これを多光子吸収と呼び、レーザ光のパルス幅を極めて短くすることでエネルギーを高めて、多光子吸収をワーク9の内部に起こさせると、多光子吸収のエネルギーが熱エネルギーに転化せずに、永続的な構造変化が誘起された領域が形成される。   Here, formation of the modified portion by multiphoton absorption will be described. The laser beam condensed by the condenser lens 8 enters the workpiece 9. Even if the workpiece 9 is a material that transmits laser light, the workpiece 9 absorbs photon energy when the energy of the photon is much larger than the absorption band gap of the material. This is called multi-photon absorption, and if the energy is increased by making the pulse width of the laser light extremely short, causing multi-photon absorption to occur inside the workpiece 9, the energy of multi-photon absorption will not be converted into thermal energy. A region in which a permanent structural change is induced is formed.

本実施形態では、この構造変化領域を改質部と呼ぶ。改質部のうち、大きく構造変化した結果、クラックが形成された領域をクラック部と呼ぶ。尚、材料の種類によっては、例えば石英ガラスなどの場合には、クラック部は、空洞状のクラックが形成される場合もある。   In the present embodiment, this structure change region is called a modified portion. Of the modified portion, a region where a crack is formed as a result of a large structural change is referred to as a crack portion. Depending on the type of material, for example in the case of quartz glass, a hollow crack may be formed in the crack portion.

このような改質部を形成するためのレーザ光の照射条件は、加工対象物ごとにレーザ光の出力やパルス幅、パルス周期、レーザスキャン速度等の設定が必要になる。特に、レーザ光源2が照射するレーザ光の出力は、ダイクロイックミラー6や集光レンズ8のような光軸7上に配置される透過性物質による吸収で減衰することを考慮する必要がある。従って、実際の加工対象物を用いた予備試験を実施して、最適な照射条件を導くことが望ましい。   As for the irradiation condition of the laser beam for forming such a modified portion, it is necessary to set the output of the laser beam, the pulse width, the pulse period, the laser scan speed, etc. for each workpiece. In particular, it is necessary to consider that the output of the laser light emitted from the laser light source 2 is attenuated by absorption by a transmissive substance disposed on the optical axis 7 such as the dichroic mirror 6 and the condenser lens 8. Therefore, it is desirable to carry out a preliminary test using an actual workpiece to derive optimum irradiation conditions.

(液晶表示装置)
次に液晶表示装置について説明する。図2は、液晶表示装置の模式平面図であり、図3は、図2の液晶表示装置のA−A’線に沿う模式断面図である。
(Liquid crystal display device)
Next, a liquid crystal display device will be described. FIG. 2 is a schematic plan view of the liquid crystal display device, and FIG. 3 is a schematic cross-sectional view taken along the line AA ′ of the liquid crystal display device of FIG.

図2及び図3において、本実施形態の電気光学装置としての液晶表示装置33は、対をなす第2基板としてのTFTアレイ基板34と第1基板としての対向基板35とが熱硬化性の封止材であるシール36によって貼り合わされ、このシール36によって区画される領域内に封入された液晶37からなる液晶層を狭持している。シール36は、基板面内の領域において閉ざされた枠形状に形成されている。   2 and 3, the liquid crystal display device 33 as an electro-optical device according to this embodiment includes a TFT array substrate 34 as a pair of second substrates and a counter substrate 35 as a first substrate. A liquid crystal layer made of liquid crystal 37 is sandwiched between regions bonded by a seal 36 which is a stopper and sealed in a region defined by the seal 36. The seal 36 is formed in a frame shape closed in a region within the substrate surface.

シール36を形成する場所の内側で対向基板35の液晶37側の面には、遮光性材料で配線を隠すための周辺見切り38が形成されている。シール36の外側の場所には、データ線駆動回路39及び電極としての実装端子40がTFTアレイ基板34の辺34a(図2中下側の辺)に沿って形成されており、この辺34aに隣接する辺34b及び辺34c(図2中左右の辺)に沿って走査線駆動回路41が形成されている。データ線駆動回路39、実装端子40及び走査線駆動回路41はアルミニウムを素材とする配線42aにより電気的に接続されている。TFTアレイ基板34の残る辺34d(図2中上側の辺)には、2つの走査線駆動回路41の間を接続するための配線42bが設けられている。また、対向基板35のコーナー部の4箇所においては、TFTアレイ基板34と対向基板35との間で電気的導通をとるための基板間導通材43が配設されている。   A peripheral parting 38 for concealing the wiring with a light shielding material is formed on the surface of the counter substrate 35 on the liquid crystal 37 side inside the place where the seal 36 is formed. A data line drive circuit 39 and a mounting terminal 40 as an electrode are formed along a side 34a (lower side in FIG. 2) of the TFT array substrate 34 at a location outside the seal 36, and adjacent to the side 34a. A scanning line driving circuit 41 is formed along the side 34b and the side 34c (left and right sides in FIG. 2). The data line driving circuit 39, the mounting terminal 40, and the scanning line driving circuit 41 are electrically connected by a wiring 42a made of aluminum. On the remaining side 34d (upper side in FIG. 2) of the TFT array substrate 34, a wiring 42b for connecting the two scanning line driving circuits 41 is provided. In addition, inter-substrate conductive members 43 for providing electrical continuity between the TFT array substrate 34 and the counter substrate 35 are disposed at the four corners of the counter substrate 35.

また、液晶表示装置33はカラー表示用として構成しており、対向基板35において、赤(R)、緑(G)、青(B)のカラーフィルタ44R,44G,44Bが図示しない保護膜とともに形成されている。カラーフィルタ44R,44G,44Bの各フィルタ素子の間には、遮光膜45が形成されており、カラーフィルタ44R,44G,44Bを通過しない光は遮光膜45が遮断するようになっている。さらに、カラーフィルタ44R,44G,44BのTFTアレイ基板34側には対向電極46と配向膜47とが配置されている。   The liquid crystal display device 33 is configured for color display. On the counter substrate 35, red (R), green (G), and blue (B) color filters 44R, 44G, and 44B are formed together with a protective film (not shown). Has been. A light shielding film 45 is formed between the filter elements of the color filters 44R, 44G, and 44B, and the light shielding film 45 blocks light that does not pass through the color filters 44R, 44G, and 44B. Further, a counter electrode 46 and an alignment film 47 are disposed on the TFT array substrate 34 side of the color filters 44R, 44G, and 44B.

液晶は、該液晶を挟持する電極に電圧を印加すると液晶分子の液晶の傾き角度が変化する性質を持っており、TFTのスイッチング動作により、液晶にかける電圧をコントロールして液晶の傾き角度を制御し、画素毎に光を透過させたり遮ったりする動作を行う。それにより、透過した光は、画素毎に相対して設置される赤(R)、緑(G)、青(B)の3色の色フィルタを有するカラーフィルタを透過することで、画素毎に対応する各色フィルタの色を色光として透過する。なお、光が液晶により遮られた画素に対応する色フィルタには当然光は入射しないため、黒色となる。このようにTFTのスイッチング動作により、液晶をシャッタとして動作させることにより、画素毎に光の透過をコントロールし、画素を明滅させることにより、カラー映像を表示させることができる。   The liquid crystal has the property that the tilt angle of the liquid crystal molecules changes when a voltage is applied to the electrodes sandwiching the liquid crystal, and the tilt angle of the liquid crystal is controlled by controlling the voltage applied to the liquid crystal by the switching operation of the TFT. Then, an operation of transmitting or blocking light is performed for each pixel. Thereby, the transmitted light passes through a color filter having three color filters of red (R), green (G), and blue (B) that are installed relative to each pixel. The color of each corresponding color filter is transmitted as colored light. In addition, since light does not naturally enter the color filter corresponding to the pixel where the light is blocked by the liquid crystal, the color filter is black. In this way, by operating the liquid crystal as a shutter by the switching operation of the TFT, the transmission of light is controlled for each pixel, and the color image can be displayed by blinking the pixel.

このような構造を有する液晶表示装置33の画像を表示する領域には、複数の画素がm行n列のマトリクス状に構成されているとともに、これらの画素の各々には、画素信号をスイッチングするTFT(スイッチング素子)が形成されている。画素信号を供給するデータ線(ソース配線)がTFTのソース電極に電気的に接続され、走査信号を供給する走査線(ゲート配線)がTFTのゲート電極に電気的に接続され、TFTのドレイン電極に画素電極48が電気的に接続されている。画素電極48はカラーフィルタ44R,44G,44Bの各フィルタ素子と対向する場所に形成されている。走査線が接続されるTFTのゲート電極には、所定のタイミングで、走査線からパルス信号の走査信号が供給される。   In the region for displaying an image of the liquid crystal display device 33 having such a structure, a plurality of pixels are configured in a matrix of m rows and n columns, and a pixel signal is switched to each of these pixels. A TFT (switching element) is formed. A data line (source wiring) for supplying a pixel signal is electrically connected to the source electrode of the TFT, a scanning line (gate wiring) for supplying a scanning signal is electrically connected to the gate electrode of the TFT, and a drain electrode of the TFT The pixel electrode 48 is electrically connected to. The pixel electrode 48 is formed at a location facing each filter element of the color filters 44R, 44G, and 44B. A scanning signal of a pulse signal is supplied from the scanning line to the gate electrode of the TFT to which the scanning line is connected at a predetermined timing.

画素電極48は、TFTのドレインに電気的に接続されており、スイッチング素子であるTFTを一定期間だけオン状態とすることにより、データ線から供給される画素信号が各画素の画素電極48に所定のタイミングで供給される。このようにして画素電極48に供給された所定レベルの画素信号の電圧レベルは、図3に示す対向基板35の対向電極46との間で保持され、画素信号の電圧レベルに応じて、液晶37の光透過量が変化する。液晶表示装置33はカラーフィルタを備えており、カラーフィルタ44R,44G,44Bを透過する光を液晶37からなる液晶層を挟持する電極に印加する画像信号により制御することで、液晶表示装置33はカラー画像を表示することができる。   The pixel electrode 48 is electrically connected to the drain of the TFT, and the pixel signal supplied from the data line is applied to the pixel electrode 48 of each pixel by turning on the TFT as a switching element for a certain period. It is supplied at the timing. The voltage level of the pixel signal of a predetermined level supplied to the pixel electrode 48 in this way is held between the counter electrode 46 of the counter substrate 35 shown in FIG. 3, and the liquid crystal 37 is changed according to the voltage level of the pixel signal. The amount of transmitted light changes. The liquid crystal display device 33 includes a color filter, and the liquid crystal display device 33 is controlled by controlling the light transmitted through the color filters 44R, 44G, and 44B with an image signal applied to an electrode that sandwiches a liquid crystal layer made of the liquid crystal 37. A color image can be displayed.

画素電極48の対向基板35側には配向膜49が配置されている。配向膜47と配向膜49とにはその表面に溝状の凹凸が形成されており、配向膜47と配向膜49との間に充填された液晶37は、溝状の凹凸に沿って配列して形成される。   An alignment film 49 is disposed on the counter electrode 35 side of the pixel electrode 48. The alignment film 47 and the alignment film 49 have groove-like irregularities formed on their surfaces, and the liquid crystal 37 filled between the alignment film 47 and the alignment film 49 is aligned along the groove-like irregularities. Formed.

TFTアレイ基板34及び対向基板35において、液晶37と反対側の面には、図示しない偏光シートが配置され、偏光シート及び液晶37の作用により、液晶表示装置33を透過する光透過量が変化するようになっている。   In the TFT array substrate 34 and the counter substrate 35, a polarizing sheet (not shown) is disposed on the surface opposite to the liquid crystal 37, and the amount of light transmitted through the liquid crystal display device 33 is changed by the action of the polarizing sheet and the liquid crystal 37. It is like that.

(基板の分断方法)
次に上述した液晶表示装置33における基板の分断方法について図4〜図10にて説明する。図4は、基板の分断方法のフローチャートであり、図5〜10は基板の分断方法を説明する図である。
(Substrate dividing method)
Next, a method for dividing the substrate in the liquid crystal display device 33 described above will be described with reference to FIGS. FIG. 4 is a flowchart of the substrate dividing method, and FIGS. 5 to 10 are diagrams for explaining the substrate dividing method.

図4のフローチャートにおいて、ステップS1は対向マザー基板の第1スクライブ工程に相当し、対向基板35をスクライブする工程である。次にステップS2に移行する。ステップS2は対向マザー基板の第1分断工程に相当し、対向基板35を分断する工程である。ステップS1及びステップS2を合わせて、ステップS11とする。ステップS11は第1基板第1形成工程に相当し、対向基板35における外形の一部分を形成する工程である。次にステップS3に移行する。   In the flowchart of FIG. 4, step S <b> 1 corresponds to a first scribing process of the counter mother substrate, and is a process of scribing the counter substrate 35. Next, the process proceeds to step S2. Step S <b> 2 corresponds to a first dividing step of the counter mother substrate, and is a step of dividing the counter substrate 35. Step S1 and step S2 are combined to form step S11. Step S <b> 11 corresponds to the first substrate first forming step, and is a step of forming a part of the outer shape of the counter substrate 35. Next, the process proceeds to step S3.

ステップS3は接合工程に相当し、TFTアレイ基板34と対向基板35とを接合する工程である。次にステップS4に移行する。ステップS4は対向短冊基板の第2スクライブ工程に相当し、対向基板35の外形が形成されていない場所をスクライブする工程である。次にステップS5に移行する。ステップS5は素子マザー基板の第1スクライブ工程に相当し、TFTアレイ基板34の一部をスクライブする工程である。次にステップS6に移行する。ステップS6は素子マザー基板の第2スクライブ工程に相当し、TFTアレイ基板34において、ステップS5でスクライブされた部分以外の残りの部分をスクライブする工程である。次にステップS7に移行する。   Step S <b> 3 corresponds to a bonding process, and is a process of bonding the TFT array substrate 34 and the counter substrate 35. Next, the process proceeds to step S4. Step S4 corresponds to the second scribing process of the counter strip substrate, and is a process of scribing a place where the outer shape of the counter substrate 35 is not formed. Next, the process proceeds to step S5. Step S5 corresponds to a first scribe process of the element mother substrate, and is a process of scribing a part of the TFT array substrate 34. Next, the process proceeds to step S6. Step S6 corresponds to a second scribe process of the element mother substrate, and is a process of scribing the remaining part of the TFT array substrate 34 other than the part scribed in step S5. Next, the process proceeds to step S7.

ステップS7は素子マザー基板の第1分断工程に相当し、ステップS6にてスクライブされている場所を分断する工程である。次にステップS8に移行する。ステップS8は対向短冊基板の第2分断工程に相当し、ステップS4にてスクライブされている場所を分断する工程である。次にステップS9に移行する。ステップS9は素子マザー基板の第2分断工程に相当し、ステップS5にてスクライブされている場所を分断する工程である。ステップS4及びステップS8とを合わせて、ステップS12とする。ステップS12は第1基板第2形成工程に相当し、対向短冊基板をスクライブして分断する工程である。又、ステップS5〜ステップS7、及びステップS9とを合わせて、ステップS13とする。ステップS13は第2基板形成工程に相当し、素子マザー基板をスクライブして分断する工程である。以上の工程で、液晶表示装置33が形成される。   Step S7 corresponds to the first parting step of the element mother substrate, and is a step of cutting the place scribed in step S6. Next, the process proceeds to step S8. Step S8 corresponds to the second dividing step of the counter strip substrate, and is a step of dividing the place scribed in step S4. Next, the process proceeds to step S9. Step S9 corresponds to a second dividing step of the element mother substrate, and is a step of dividing the place scribed in step S5. Step S4 and step S8 are combined to form step S12. Step S12 corresponds to the first substrate second forming step, and is a step of scribing and dividing the counter strip substrate. Further, Step S5 to Step S7 and Step S9 are combined to form Step S13. Step S13 corresponds to a second substrate forming step, and is a step of scribing and dividing the element mother substrate. Through the above steps, the liquid crystal display device 33 is formed.

次に、図5〜図10を用いて、図4に示したステップと対応させて、製造方法を詳細に説明する。図5(a)は、対向基板が区画形成されたマザー基板である対向マザー基板を示す模式図である。図5(b)は、図5(a)のB−B’線に沿った模式断面図である。   Next, the manufacturing method will be described in detail with reference to FIGS. 5 to 10 in association with the steps shown in FIG. FIG. 5A is a schematic diagram showing a counter mother substrate that is a mother substrate in which the counter substrate is partitioned. FIG. 5B is a schematic cross-sectional view taken along the line B-B ′ of FIG.

図5(a)及び図5(b)に示すように、第1マザー基板としての対向マザー基板51は円板状に形成されている基板52に周辺見切り38、カラーフィルタ44、遮光膜45が形成されている。さらに、周辺見切り38、カラーフィルタ44、遮光膜45の表面には、光透過性及び通電性のある対向電極46が形成されている。対向電極46の表面には、配向膜47が形成され、表面に凹凸を形成する配向処理が施されている。基板52は、光透過性のある材質であれば良く、例えば、本実施形態では石英ガラスを採用している。   As shown in FIG. 5A and FIG. 5B, the counter mother substrate 51 as the first mother substrate is a substrate 52 formed in the shape of a disk, and a peripheral parting 38, a color filter 44, and a light shielding film 45 are provided. Is formed. Further, on the surfaces of the peripheral parting 38, the color filter 44, and the light shielding film 45, a counter electrode 46 having optical transparency and electrical conductivity is formed. An alignment film 47 is formed on the surface of the counter electrode 46, and an alignment process for forming irregularities on the surface is performed. The substrate 52 only needs to be a light-transmitting material. For example, quartz glass is used in the present embodiment.

対向マザー基板51に配列して形成される周辺見切り38において、両端の周辺見切り38の外側には、一対のマークとしての位置決めマーク53が形成されており、ステップS3において用いられる。   In the peripheral parting 38 formed by being arranged on the counter mother substrate 51, positioning marks 53 as a pair of marks are formed outside the peripheral parting part 38 at both ends, and used in step S3.

本実施形態においては、対向マザー基板51から第1短冊基板としての対向短冊基板55を形成する。対向マザー基板51から対向短冊基板55を切出すために分断する予定の面をH対向切断面54とする。H対向切断面54は一点鎖線で示した基板52の切断面であり、図5(a)のX軸方向に延在する切断面である。54a,54b,54c,54d,54eはそれぞれH対向切断面54であり、55a,55b,55cはそれぞれ対向短冊基板55である。   In the present embodiment, an opposing strip substrate 55 as a first strip substrate is formed from the opposing mother substrate 51. A surface to be divided to cut out the counter strip substrate 55 from the counter mother substrate 51 is referred to as an H counter cut surface 54. The H-opposing cut surface 54 is a cut surface of the substrate 52 indicated by a one-dot chain line, and is a cut surface extending in the X-axis direction of FIG. Reference numerals 54 a, 54 b, 54 c, 54 d, and 54 e are H opposing cut surfaces 54, and 55 a, 55 b, and 55 c are opposing strip substrates 55.

ステップS11では、対向マザー基板51をH対向切断面54に沿って分断し、第1基板としての対向短冊基板55を形成する。対向短冊基板55のH対向切断面54aは、図3に示す対向基板35の辺35dに対応し、H対向切断面54bは対向基板35の辺35aに対応する。図3に示す液晶表示装置33の対向基板35は、図5の対向基板片35bと対応し、対向短冊基板55には、対向基板片35bが一列に配列して形成されるように、H対向切断面54が設定される。   In step S11, the counter mother substrate 51 is divided along the H counter cut surface 54 to form a counter strip substrate 55 as a first substrate. The H-opposite cut surface 54 a of the counter-strip substrate 55 corresponds to the side 35 d of the counter substrate 35 shown in FIG. 3, and the H-opposite cut surface 54 b corresponds to the side 35 a of the counter substrate 35. The counter substrate 35 of the liquid crystal display device 33 shown in FIG. 3 corresponds to the counter substrate piece 35b of FIG. 5, and the counter strip substrate 55 is formed so that the counter substrate pieces 35b are arranged in a line. A cutting plane 54 is set.

図6(a)及び図6(b)はステップS1に対応する図である。図6(a)に示すように、集光レンズ8を用いて、レーザ光56を対向マザー基板51の内部に集光して照射する。レーザ光56が集光される場所には、改質部57が形成され、改質部57の中央にはクラック部58が形成される。   FIG. 6A and FIG. 6B are diagrams corresponding to step S1. As shown in FIG. 6A, the condensing lens 8 is used to condense and irradiate the laser beam 56 inside the counter mother substrate 51. A reforming portion 57 is formed at a location where the laser beam 56 is condensed, and a crack portion 58 is formed at the center of the reforming portion 57.

集光レンズ8と対向マザー基板51とを相対的に、移動しながら、レーザ光56を照射し、改質部57を配列して形成する。このとき、集光レンズ8と対向マザー基板51とは、対向マザー基板51の平面方向に図5に示すH対向切断面54に沿って相対移動する。続いて、レーザ光56を集光する場所を基板52の厚み方向に移動する。移動した後、集光レンズ8と対向マザー基板51とを相対的に、移動しながら、レーザ光56を照射し、改質部57を配列して形成する。これを繰り返し、対向マザー基板51における総てのH対向切断面54に改質部57を配列して形成する。   While the condenser lens 8 and the opposing mother substrate 51 are moved relatively, the laser beam 56 is irradiated and the modified portions 57 are arranged and formed. At this time, the condenser lens 8 and the counter mother substrate 51 are relatively moved along the H counter cut surface 54 shown in FIG. 5 in the plane direction of the counter mother substrate 51. Subsequently, the place where the laser beam 56 is condensed is moved in the thickness direction of the substrate 52. After the movement, the laser beam 56 is irradiated while the condenser lens 8 and the opposing mother substrate 51 are moved relatively, and the modified portions 57 are arranged and formed. This is repeated, and the reforming portions 57 are arranged and formed on all the H opposing cut surfaces 54 of the opposing mother substrate 51.

図6(b)に示す様に、その結果、対向マザー基板51における総てのH対向切断面54に改質部57が形成され、改質部57の中央部にはクラック部58が形成される。これにより、H対向切断面54にクラック部58が配列して形成されたクラック面59が形成される。   As a result, as shown in FIG. 6B, the modified portion 57 is formed on all the H-opposing cut surfaces 54 of the opposed mother substrate 51, and the crack portion 58 is formed in the central portion of the modified portion 57. The As a result, a crack surface 59 formed by arranging the crack portions 58 on the H-opposed cut surface 54 is formed.

図6(c)及び図6(d)はステップS2に対応する図である。図6(c)に示す様に、続いて、対向マザー基板51を弾性材からなる台60の上に配置し、クラック面59と対向する場所を、加圧部材61を用いて押圧する。対向マザー基板51は台60に沈み込み、クラック部58に張力が作用する。対向マザー基板51は、台60と接する面に近いクラック部58を起点として破断が進行し、分断する。   FIG. 6C and FIG. 6D are diagrams corresponding to step S2. Next, as shown in FIG. 6C, the opposing mother substrate 51 is placed on the base 60 made of an elastic material, and the place facing the crack surface 59 is pressed using the pressing member 61. The opposing mother substrate 51 sinks into the base 60 and tension acts on the crack portion 58. The opposing mother substrate 51 breaks up and breaks starting from a crack portion 58 close to the surface in contact with the table 60.

図6(d)に示す様に、その結果、対向マザー基板51は、いくつかの対向短冊基板55に分断される。対向短冊基板55は分断されて、辺としての端面55dが形成される。   As shown in FIG. 6D, as a result, the counter mother substrate 51 is divided into several counter strip substrates 55. The counter strip substrate 55 is divided to form an end face 55d as a side.

図7(a)及び図7(b)はステップS3に対応する図である。図7(a)は液晶表示パネルが区画形成されたマザー基板を示す模式図である。図7(a)は、対向基板側から見た平面図であり、図7(b)は、図7(a)のC−C’線に沿った模式断面図である。   FIG. 7A and FIG. 7B are diagrams corresponding to step S3. FIG. 7A is a schematic diagram showing a mother substrate on which a liquid crystal display panel is partitioned. FIG. 7A is a plan view seen from the counter substrate side, and FIG. 7B is a schematic cross-sectional view taken along the line C-C ′ of FIG.

図7(a)及び図7(b)に示す様に、第2マザー基板としての素子マザー基板62は円板状に形成されている基板63に画素電極48が形成され、画素電極48の表面には配向膜49が配置されている。配向膜49には配向処理が施されている。基板63には図示しないトランジスタ素子が形成され、各画素電極48とデータ線駆動回路39及び図2に示す走査線駆動回路41と電気的に接続されている。基板63には、実装端子40が形成されており、データ線駆動回路39及び図2に示す走査線駆動回路41と電気的に接続されている。   As shown in FIG. 7A and FIG. 7B, the element mother substrate 62 as the second mother substrate has a pixel electrode 48 formed on a disc-shaped substrate 63, and the surface of the pixel electrode 48. An alignment film 49 is disposed on the substrate. The alignment film 49 is subjected to an alignment process. Transistor elements (not shown) are formed on the substrate 63, and are electrically connected to the pixel electrodes 48, the data line driving circuit 39, and the scanning line driving circuit 41 shown in FIG. Mounting terminals 40 are formed on the substrate 63 and are electrically connected to the data line driving circuit 39 and the scanning line driving circuit 41 shown in FIG.

基板63上にシール36の材料であるシール材36aを枠形状に塗布する。シール材36aを塗布する方法は、シール36を所望の形状に塗布できれば良く、例えば、本実施形態においては、スクリーン印刷法を採用している。シール材36aは、固化後に接着力が得られ、液晶37に接触して劣化しない材料であれば良く、例えば、本実施形態においては、熱硬化性のエポキシ樹脂を採用している。   A sealing material 36a, which is a material of the seal 36, is applied on the substrate 63 in a frame shape. The method of applying the sealing material 36a only needs to apply the seal 36 in a desired shape. For example, in this embodiment, a screen printing method is adopted. The sealing material 36a may be any material that can obtain an adhesive force after solidification and does not deteriorate due to contact with the liquid crystal 37. For example, in the present embodiment, a thermosetting epoxy resin is used.

枠形状にシール材36aを塗布した後、シール材36aの内側にディスペンサを用いて液晶37を塗布する。図示しない真空チャンバに基板63を配置して、真空チャンバ内を脱気して真空にする。真空中で、対向短冊基板55と素子マザー基板62との相対位置を合わせて押圧する。
このとき、基板63には、図5に示す位置決めマーク53と対応する場所にマークとしての位置決めマーク64が形成されている。対向短冊基板55に形成されている位置決めマーク53と素子マザー基板62に形成されている位置決めマーク64とを合わせて、対向短冊基板55と素子マザー基板62との相対位置を合わせる。
After the sealing material 36a is applied in a frame shape, the liquid crystal 37 is applied inside the sealing material 36a using a dispenser. The substrate 63 is placed in a vacuum chamber (not shown), and the inside of the vacuum chamber is evacuated to make a vacuum. In a vacuum, the opposing strip substrate 55 and the element mother substrate 62 are pressed in alignment with each other.
At this time, a positioning mark 64 as a mark is formed on the substrate 63 at a location corresponding to the positioning mark 53 shown in FIG. The positioning marks 53 formed on the opposing strip substrate 55 and the positioning marks 64 formed on the element mother substrate 62 are matched to match the relative positions of the opposing strip substrate 55 and the element mother substrate 62.

一つの素子マザー基板62には、複数の対向短冊基板55に対応する形状にシール材36aが塗布されており、一つの素子マザー基板62に複数の対向短冊基板55を配置する。素子マザー基板62に対向短冊基板55を押圧した後、真空チャンバ内に空気を流入する。大気圧により対向短冊基板55と素子マザー基板62とが加圧される。   A sealing material 36 a is applied to one element mother substrate 62 in a shape corresponding to the plurality of opposed strip substrates 55, and the plurality of opposed strip substrates 55 are arranged on one element mother substrate 62. After the opposing strip substrate 55 is pressed against the element mother substrate 62, air flows into the vacuum chamber. The opposing strip substrate 55 and the element mother substrate 62 are pressurized by the atmospheric pressure.

対向短冊基板55と素子マザー基板62との相対位置を保持した状態で加熱し、シール材36aを固化してシール36を形成する。対向短冊基板55と素子マザー基板62とがシール36を介して接合されているマザー基板65が完成し、ステップS3が完了する。   The counter strip substrate 55 and the element mother substrate 62 are heated while maintaining the relative positions, and the seal material 36 a is solidified to form the seal 36. The mother substrate 65 in which the opposing strip substrate 55 and the element mother substrate 62 are joined through the seal 36 is completed, and step S3 is completed.

マザー基板65から液晶表示装置33を切出すために分断する予定の面をそれぞれ、H素子切断面66、V素子切断面67、V対向切断面68と表記する。H素子切断面66は、一点鎖線で示した素子マザー基板62の切断面であり、図7(a)のX軸方向に延在する切断面である。V素子切断面67は、一点鎖線で示した素子マザー基板62の切断面であり、図7(a)のY軸方向に延在する切断面である。V対向切断面68は、一点鎖線で示した対向短冊基板55の切断面であり、図7(a)のY軸方向に延在する切断面である。図7(a)に示した、66a,66b,66cは、それぞれH素子切断面66であり、67a,67b,67cは、それぞれV素子切断面67であり、68a,68b,68cは、それぞれV対向切断面68である。   The surfaces to be divided for cutting out the liquid crystal display device 33 from the mother substrate 65 are referred to as an H element cutting surface 66, a V element cutting surface 67, and a V opposing cutting surface 68, respectively. The H element cut surface 66 is a cut surface of the element mother substrate 62 indicated by a one-dot chain line, and is a cut surface extending in the X-axis direction of FIG. The V element cut surface 67 is a cut surface of the element mother substrate 62 indicated by a one-dot chain line, and is a cut surface extending in the Y-axis direction of FIG. The V opposing cut surface 68 is a cut surface of the opposing strip substrate 55 indicated by a one-dot chain line, and is a cut surface extending in the Y-axis direction of FIG. In FIG. 7A, 66a, 66b, and 66c are H element cut surfaces 66, 67a, 67b, and 67c are V element cut surfaces 67, and 68a, 68b, and 68c are V elements cut surfaces, respectively. This is an opposing cut surface 68.

図8(a)及び図8(b)はステップS4に対応する図である。図8(a)に示すように、集光レンズ8を用いて、レーザ光56を対向短冊基板55の内部に集光して照射する。レーザ光56が集光される場所には、改質部57が形成され、改質部57の中央にはクラック部58が形成される。   FIG. 8A and FIG. 8B are diagrams corresponding to step S4. As shown in FIG. 8A, the condensing lens 8 is used to condense and irradiate the laser beam 56 inside the opposing strip substrate 55. A reforming portion 57 is formed at a location where the laser beam 56 is condensed, and a crack portion 58 is formed at the center of the reforming portion 57.

集光レンズ8と対向短冊基板55とを相対的に、移動しながら、レーザ光56を照射し、改質部57を配列して形成する。このとき、集光レンズ8と対向短冊基板55とは、対向短冊基板55の平面方向に図7に示すV対向切断面68に沿って相対移動する。続いて、レーザ光56を集光する場所を基板52の厚み方向に移動する。移動した後、集光レンズ8と対向短冊基板55とを相対的に、移動しながら、レーザ光56を照射し、改質部57を配列して形成する。これを繰り返し、対向短冊基板55における総てのV対向切断面68に改質部57が配列して形成されたクラック面70を形成する。   While the condenser lens 8 and the opposing strip substrate 55 are relatively moved, the laser beam 56 is irradiated and the modified portions 57 are arranged and formed. At this time, the condenser lens 8 and the counter strip substrate 55 are relatively moved along the V counter cut surface 68 shown in FIG. 7 in the plane direction of the counter strip substrate 55. Subsequently, the place where the laser beam 56 is condensed is moved in the thickness direction of the substrate 52. After the movement, the laser beam 56 is irradiated while the condenser lens 8 and the opposing strip substrate 55 are moved relatively, and the modified portions 57 are arranged and formed. This process is repeated to form a crack surface 70 formed by arranging the modified portions 57 on all the V opposing cut surfaces 68 of the opposing strip substrate 55.

図8(b)に示す様に、その結果、対向短冊基板55における総てのV対向切断面68に改質部57が配列して形成されたクラック面70が形成される。   As a result, as shown in FIG. 8B, crack surfaces 70 are formed in which the modified portions 57 are arranged on all the V opposing cut surfaces 68 of the opposing strip substrate 55.

図8(c)及び図8(d)はステップS5に対応する図である。図8(c)に示すように、集光レンズ8を用いて、レーザ光56を素子マザー基板62の内部に集光して照射する。レーザ光56が集光される場所には、改質部57が形成され、改質部57の中央にはクラック部58が形成される。   FIG. 8C and FIG. 8D are diagrams corresponding to step S5. As shown in FIG. 8C, the condensing lens 8 is used to condense and irradiate the laser beam 56 inside the element mother substrate 62. A reforming portion 57 is formed at a location where the laser beam 56 is condensed, and a crack portion 58 is formed at the center of the reforming portion 57.

集光レンズ8と素子マザー基板62とを相対的に、移動しながら、レーザ光56を照射し、改質部57を配列して形成する。このとき、集光レンズ8と素子マザー基板62とは、素子マザー基板62の平面方向に図7に示すV素子切断面67に沿って相対移動する。続いて、レーザ光56を集光する場所を基板63の厚み方向に移動する。移動した後、集光レンズ8と素子マザー基板62とを相対的に、移動しながら、レーザ光56を照射し、改質部57を配列して形成する。これを繰り返し、素子マザー基板62における総てのV素子切断面67に改質部57が配列して形成されたクラック面71を形成する。   While the condenser lens 8 and the element mother substrate 62 are moved relative to each other, the laser beam 56 is irradiated and the modified portions 57 are arranged and formed. At this time, the condenser lens 8 and the element mother substrate 62 are relatively moved along the V element cut surface 67 shown in FIG. 7 in the plane direction of the element mother substrate 62. Subsequently, the place where the laser beam 56 is condensed is moved in the thickness direction of the substrate 63. After the movement, the condensing lens 8 and the element mother substrate 62 are relatively moved while being irradiated with the laser beam 56 and the reforming portions 57 are arranged and formed. This process is repeated to form crack surfaces 71 formed by arranging modified portions 57 on all V element cut surfaces 67 of the element mother substrate 62.

図8(d)に示す様に、その結果、素子マザー基板62における総てのV素子切断面67に改質部57が配列して形成されたクラック面71が形成される。   As a result, as shown in FIG. 8D, crack surfaces 71 are formed in which the modified portions 57 are arranged on all the V element cut surfaces 67 of the element mother substrate 62.

図9(a)及び図9(b)はステップS6に対応する図である。図9(a)に示すように、集光レンズ8を用いて、レーザ光56を素子マザー基板62の内部に集光して照射する。レーザ光56が集光される場所には、改質部57が形成され、改質部57の中央にはクラック部58が形成される。   FIG. 9A and FIG. 9B are diagrams corresponding to step S6. As shown in FIG. 9A, the condensing lens 8 is used to condense and irradiate the laser beam 56 inside the element mother substrate 62. A reforming portion 57 is formed at a location where the laser beam 56 is condensed, and a crack portion 58 is formed at the center of the reforming portion 57.

集光レンズ8と素子マザー基板62とを相対的に、移動しながら、レーザ光56を照射し、改質部57を配列して形成する。このとき、集光レンズ8と素子マザー基板62とは、素子マザー基板62の平面方向に図7に示すH素子切断面66に沿って相対移動する。続いて、レーザ光56を集光する場所を基板63の厚み方向に移動する。移動した後、集光レンズ8と素子マザー基板62とを相対的に、移動しながら、レーザ光56を照射し、改質部57を配列して形成する。これを繰り返し、素子マザー基板62における総てのH素子切断面66に改質部57が配列して形成されたクラック面72を形成する。   While the condenser lens 8 and the element mother substrate 62 are moved relative to each other, the laser beam 56 is irradiated and the modified portions 57 are arranged and formed. At this time, the condenser lens 8 and the element mother substrate 62 move relative to each other along the H element cut surface 66 shown in FIG. 7 in the plane direction of the element mother substrate 62. Subsequently, the place where the laser beam 56 is condensed is moved in the thickness direction of the substrate 63. After the movement, the condensing lens 8 and the element mother substrate 62 are relatively moved while being irradiated with the laser beam 56 and the reforming portions 57 are arranged and formed. This process is repeated to form crack surfaces 72 formed by arranging the modified portions 57 on all the H element cut surfaces 66 of the element mother substrate 62.

図9(b)に示す様に、その結果、素子マザー基板62における総てのH素子切断面66に改質部57が配列して形成されたクラック面72が形成される。   As a result, as shown in FIG. 9B, crack surfaces 72 are formed in which the modified portions 57 are arranged on all the H element cut surfaces 66 of the element mother substrate 62.

図9(c)及び図9(d)はステップS7に対応する図である。図9(c)に示す様に、素子マザー基板62を弾性材からなる台60の上に配置し、クラック面72と対向する場所を、加圧部材61を用いて押圧する。素子マザー基板62は台60に沈み込み、クラック部58に張力が作用する。素子マザー基板62は、台60と接する面に近いクラック部58を起点として破断が進行し、分断する。   FIG. 9C and FIG. 9D are diagrams corresponding to step S7. As shown in FIG. 9C, the element mother substrate 62 is disposed on the base 60 made of an elastic material, and a place facing the crack surface 72 is pressed using the pressing member 61. The element mother substrate 62 sinks into the base 60 and tension acts on the crack portion 58. The element mother substrate 62 breaks and breaks starting from a crack portion 58 close to the surface in contact with the base 60.

図9(d)に示す様に、その結果、素子マザー基板62は、いくつかの短冊基板73に分断される。   As shown in FIG. 9D, as a result, the element mother substrate 62 is divided into several strip substrates 73.

図10(a)及び図10(b)はステップS8に対応する図である。図10(a)に示す様に、続いて、対向短冊基板55を弾性材からなる台60の上に配置し、クラック面70と対向する場所を、加圧部材61を用いて押圧する。対向短冊基板55は台60に沈み込み、クラック部58に張力が作用する。対向短冊基板55は、台60と接する面に近いクラック部58を起点として破断が進行し、分断する。
図10(b)に示す様に、その結果、対向短冊基板55に形成されている総てのV対向切断面68のクラック面70が分断される。
FIG. 10A and FIG. 10B are diagrams corresponding to step S8. Next, as shown in FIG. 10A, the opposing strip substrate 55 is disposed on the base 60 made of an elastic material, and the place facing the crack surface 70 is pressed using the pressing member 61. The counter strip substrate 55 sinks into the table 60, and tension acts on the crack portion 58. The opposing strip substrate 55 breaks up and breaks starting from a crack portion 58 close to the surface in contact with the table 60.
As shown in FIG. 10B, as a result, the crack surfaces 70 of all the V opposing cut surfaces 68 formed on the opposing strip substrate 55 are divided.

図10(c)及び図10(d)はステップS9に対応する図である。図10(c)に示す様に、続いて、素子マザー基板62を弾性材からなる台60の上に配置し、クラック面71と対向する場所を、加圧部材61を用いて押圧する。素子マザー基板62は台60に沈み込み、クラック部58に張力が作用する。素子マザー基板62は、台60と接する面に近いクラック部58を起点として破断が進行し、分断する。   FIG.10 (c) and FIG.10 (d) are figures corresponding to step S9. Next, as shown in FIG. 10C, the element mother substrate 62 is placed on the base 60 made of an elastic material, and the place facing the crack surface 71 is pressed using the pressing member 61. The element mother substrate 62 sinks into the base 60 and tension acts on the crack portion 58. The element mother substrate 62 breaks and breaks starting from a crack portion 58 close to the surface in contact with the base 60.

図10(d)に示す様に、その結果、素子マザー基板62に形成されているV素子切断面67のクラック面71が分断され、短冊基板73からいくつかの液晶表示装置33が形成される。   As a result, as shown in FIG. 10D, the crack surface 71 of the V element cut surface 67 formed on the element mother substrate 62 is divided, and several liquid crystal display devices 33 are formed from the strip substrate 73. .

図3に示すTFTアレイ基板34及び対向基板35に図示しない偏光シートを貼り付けて液晶表示装置33が完成する。   A liquid crystal display device 33 is completed by attaching a polarizing sheet (not shown) to the TFT array substrate 34 and the counter substrate 35 shown in FIG.

上述したように、本実施形態によれば、以下の効果を有する。
(1)本実施形態によれば、ステップS11の第1基板形成工程では、対向マザー基板51において、端面55dを含む外形の一部が形成され、対向短冊基板55が形成される。続いて、対向短冊基板55と素子マザー基板62とが接合される。対向短冊基板55と素子マザー基板62とが接合された後、対向短冊基板55をスクライブする為に、ステップS11でスクライブ及び分断して形成した図7(b)に示す端面55dにレーザ光を照射してスクライブすることは無い。
As described above, this embodiment has the following effects.
(1) According to the present embodiment, in the first substrate forming step of step S11, a part of the outer shape including the end face 55d is formed in the counter mother substrate 51, and the counter strip substrate 55 is formed. Subsequently, the opposing strip substrate 55 and the element mother substrate 62 are joined. After the opposing strip substrate 55 and the element mother substrate 62 are joined, in order to scribe the opposing strip substrate 55, laser light is irradiated to the end surface 55d shown in FIG. 7B formed by scribing and dividing in step S11. And never scribe.

素子マザー基板62において、端面55dと対向する場所には、配線42aが形成されている。この配線42aには、端面55dを形成するためにレーザ光を照射されることがない為、配線42aが損傷を受けることがない。   In the element mother substrate 62, wirings 42a are formed at positions facing the end face 55d. Since the wiring 42a is not irradiated with laser light to form the end face 55d, the wiring 42a is not damaged.

(2)本実施形態によれば、データ線駆動回路39、実装端子40及び走査線駆動回路41はアルミニウムを素材とする配線42aにより電気的に接続されており、レーザ光の照射を受けると損傷して断線する可能性がある。本実施形態の効果(1)に記載の通り、この配線には、端面55dを形成するためにレーザ光を照射されることがない為、損傷を受けることがない。従って、端面55dを形成するために、配線42aが断線されることがない。   (2) According to this embodiment, the data line driving circuit 39, the mounting terminal 40, and the scanning line driving circuit 41 are electrically connected by the wiring 42a made of aluminum, and are damaged when irradiated with laser light. There is a possibility of disconnection. As described in the effect (1) of this embodiment, this wiring is not irradiated with laser light to form the end face 55d, and thus is not damaged. Accordingly, the wiring 42a is not disconnected in order to form the end face 55d.

(3)本実施形態によれば、対向短冊基板55に位置決めマーク53が形成され、素子マザー基板62に位置決めマーク64が形成されている。ステップS3において、位置決めマーク53と位置決めマーク64とを用いて、対向短冊基板55と素子マザー基板62との相対位置を合わせることから、位置精度よく位置合わせをすることができる。   (3) According to this embodiment, the positioning mark 53 is formed on the opposing strip substrate 55, and the positioning mark 64 is formed on the element mother substrate 62. In step S3, since the relative positions of the opposing strip substrate 55 and the element mother substrate 62 are aligned using the positioning mark 53 and the positioning mark 64, alignment can be performed with high positional accuracy.

(4)本実施形態によれば、ステップS11で対向短冊基板55を形成して、ステップS3において、素子マザー基板62と接合している。対向短冊基板55には、複数の液晶表示装置33に対応するカラーフィルタ44、遮光膜45、対向電極46等が形成されている。対向基板35を個々に分断してから素子マザー基板62に接合する場合に比べて、1回の接合工程により複数の対向基板35を接合できることから、対向基板35を接合する回数を減らすことができる為、生産性良く製造できる。   (4) According to the present embodiment, the counter strip substrate 55 is formed in step S11, and bonded to the element mother substrate 62 in step S3. On the counter strip substrate 55, a color filter 44, a light shielding film 45, a counter electrode 46, and the like corresponding to the plurality of liquid crystal display devices 33 are formed. Compared to the case where the counter substrate 35 is divided individually and then bonded to the element mother substrate 62, a plurality of the counter substrates 35 can be bonded by one bonding step, so that the number of times of bonding the counter substrate 35 can be reduced. Therefore, it can be manufactured with high productivity.

(5)本実施形態によれば、ステップS12の第1基板第2形成工程において、レーザ光を照射する光軸上に配線、素子、実装端子40、シール36等が配置されない状態で、レーザ光を照射している。従って、この液晶表示装置33は、配線、素子、実装端子40、シール36等がレーザ光により損傷を受けることなく製造され、品質良く製造される電気光学装置とすることができる。   (5) According to the present embodiment, in the first substrate second forming process of step S12, the laser beam is not disposed on the optical axis to be irradiated with the laser beam, with no wiring, elements, mounting terminals 40, seals 36, etc. Is being irradiated. Therefore, the liquid crystal display device 33 can be an electro-optical device in which wiring, elements, mounting terminals 40, seals 36, and the like are manufactured without being damaged by the laser light and are manufactured with high quality.

(6)本実施形態によれば、レーザ光を用いて基板の内部にクラック部58を配列して形成し、スクライブしている。従って、ガラス粉の発生を少なくスクライブすることができる。
(第2の実施形態)
(6) According to the present embodiment, the laser beam is used to arrange and form the crack portions 58 inside the substrate and scribe. Therefore, it is possible to scribe with less generation of glass powder.
(Second Embodiment)

次に、上記の第1の実施形態の液晶表示装置33を備えた電子機器について説明する。
図11は、パーソナルコンピュータに液晶表示装置を搭載した例を示す概略斜視図である。図11に示すように、電子機器としてのパーソナルコンピュータ80の本体は情報を表示する表示装置81を備えている。この表示装置81に、第1の実施形態により製造された液晶表示装置33が配設されている。パーソナルコンピュータ80に配置されている表示装置81は上記の実施形態により製造され、表示装置81における基板は、基板に配置されている素子等がレーザ光により損傷を受けずにスクライブされて分断されている。従って、パーソナルコンピュータ90は、基板に配置されている素子等がレーザ光により損傷を受けずにスクライブされて分断されている液晶表示装置33を、表示部に備えた電子機器となっている。
Next, an electronic apparatus provided with the liquid crystal display device 33 of the first embodiment will be described.
FIG. 11 is a schematic perspective view showing an example in which a liquid crystal display device is mounted on a personal computer. As shown in FIG. 11, the main body of a personal computer 80 as an electronic apparatus includes a display device 81 that displays information. The display device 81 is provided with the liquid crystal display device 33 manufactured according to the first embodiment. The display device 81 arranged in the personal computer 80 is manufactured according to the above-described embodiment, and the substrate in the display device 81 is divided by being scribed without being damaged by the laser beam and the elements arranged on the substrate. Yes. Therefore, the personal computer 90 is an electronic device provided with a liquid crystal display device 33 in which a device or the like arranged on a substrate is scribed and divided without being damaged by a laser beam.

尚、本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、種々の変更や改良を加えることも可能である。変形例を以下に述べる。
(変形例1)
前記第1の実施形態では、対向マザー基板51にレーザ光を用いてスクライブし、対向短冊基板55を形成したが、これに限らない。ガラスカッタ(ガラススクライバ)を用いて対向マザー基板51を分断しても良い。ここで、ガラスカッタは、ダイヤモンド片又は、超硬合金片や表面にダイヤモンドや超硬合金等の硬質の素材を備えて形成された輪を用いて、基板上を加圧しながら移動することで、基板に傷をつけ、クラックを形成する刃工具を示す。
In addition, this invention is not limited to embodiment mentioned above, A various change and improvement can also be added. A modification will be described below.
(Modification 1)
In the first embodiment, the counter mother substrate 51 is scribed using laser light to form the counter strip substrate 55, but the present invention is not limited to this. The counter mother substrate 51 may be divided using a glass cutter (glass scriber). Here, the glass cutter is moved while applying pressure on the substrate using a diamond piece or a carbide piece and a ring formed with a hard material such as diamond or cemented carbide on the surface, The blade tool which damages a board | substrate and forms a crack is shown.

ガラスカッタを用いてスクライブする方法は、基板の表面にクラックを形成するだけであり、レーザ光を用いて改質部を配列して形成し、スクライブする方法に比べて短い時間で製造することができる。その結果、生産性良くスクライブして分断することができる。   The method of scribing using a glass cutter only forms cracks on the surface of the substrate, and it can be manufactured in a shorter time than the method of scribing by forming the modified portions by using a laser beam. it can. As a result, it can be scribed and divided with good productivity.

(変形例2)
前記第1の実施形態では、対向マザー基板51にレーザ光を用いてスクライブし、対向短冊基板55を形成したが、これに限らない。ダイサー式切断機を用いて切断しても良い。切断する端面を位置精度良く形成することができる。
(Modification 2)
In the first embodiment, the counter mother substrate 51 is scribed using laser light to form the counter strip substrate 55, but the present invention is not limited to this. You may cut | disconnect using a dicer-type cutting machine. The end face to be cut can be formed with high positional accuracy.

(変形例3)
前記第1の実施形態では、ステップS3の接合工程で素子マザー基板62と対向短冊基板55とを接合している。素子マザー基板62において、対向短冊基板55の端面55dと対向する場所には、配線が配置されていたが、これに限らない。データ線駆動回路39、実装端子40、走査線駆動回路41等のいずれの素子があっても、レーザ光を照射されないことから、損傷を受けずにスクライブして、分断することができる。
(Modification 3)
In the first embodiment, the element mother substrate 62 and the counter strip substrate 55 are bonded in the bonding step of step S3. In the element mother substrate 62, the wiring is arranged at a location facing the end surface 55d of the opposing strip substrate 55, but this is not restrictive. Since any element such as the data line driving circuit 39, the mounting terminal 40, and the scanning line driving circuit 41 is not irradiated with laser light, it can be scribed and divided without being damaged.

(変形例4)
前記第1の実施形態では、対向マザー基板51から対向短冊基板55を形成して、素子マザー基板62と接合したが、これに限らない。対向マザー基板51から個々の液晶表示装置33に対応する対向基板35を形成して、素子マザー基板62と接合しても良い。
(Modification 4)
In the first embodiment, the counter strip substrate 55 is formed from the counter mother substrate 51 and bonded to the element mother substrate 62. However, the present invention is not limited to this. A counter substrate 35 corresponding to each liquid crystal display device 33 may be formed from the counter mother substrate 51 and bonded to the element mother substrate 62.

(変形例5)
前記第1の実施形態では、ステップS4〜ステップS6でスクライブして、ステップS7〜ステップS9で分断したが、これに限らない。ステップS4の後、ステップS8を行って、対向短冊基板55を分断する。つぎに、ステップS5〜ステップS7を行い、ステップS9を行って、素子マザー基板62を分断しても良い。つまり、スクライブする工程と分断する工程を交互に行っても良い。改質部57が経時変化する前に分断できることから、品質良く分断できる。
(Modification 5)
In the first embodiment, the scribing is performed in steps S4 to S6 and the processing is divided in steps S7 to S9. However, the present invention is not limited to this. Step S8 is performed after step S4, and the opposing strip board | substrate 55 is parted. Next, step S5 to step S7 may be performed, and step S9 may be performed to divide the element mother substrate 62. That is, the step of scribing and the step of dividing may be performed alternately. Since the reforming part 57 can be divided before aging, it can be divided with high quality.

(変形例6)
前記第1の実施形態では、TFTアレイ基板34及び対向基板35に石英ガラスを用いたが、これに限らない。光透過性があり、液晶表示装置33を構成できる脆性材料であれば良く、例えば、石英ガラスの他に、ソーダ石灰ガラス、パイレックス(登録商標)等のホウ珪酸ガラス、OA−10(日本電気硝子社製)等の無アルカリガラス、ネオセラム(登録商標)等の耐熱結晶化ガラス、光学ガラス、水晶等を挙げることができる。
(Modification 6)
In the first embodiment, quartz glass is used for the TFT array substrate 34 and the counter substrate 35. However, the present invention is not limited to this. Any brittle material that has optical transparency and can constitute the liquid crystal display device 33 may be used. Non-alkali glass such as Neoceram (registered trademark), optical glass, crystal and the like.

(変形例7)
前記第1の実施形態では、液晶表示装置33に本発明の基板の分断方法を用いたが、液晶表示装置33以外の電気光学装置にも用いることができる。基板を備えた電気光学装置として、例えば、プラズマディスプレイ、有機EL(ELECTROLUMINESCENCE)ディスプレイ、真空蛍光ディスプレイ、フィールドエミッションディスプレイ等における基板の分断手段として好適に用いることができる。いずれの場合でも、基板を分断する工程で面取りされる基板を備えた電気光学装置を提供することができる。
(Modification 7)
In the first embodiment, the method for dividing a substrate of the present invention is used for the liquid crystal display device 33, but it can also be used for electro-optical devices other than the liquid crystal display device 33. As an electro-optical device provided with a substrate, for example, it can be suitably used as a means for dividing a substrate in a plasma display, an organic EL (ELECTROLUMINESCENCE) display, a vacuum fluorescent display, a field emission display, or the like. In any case, it is possible to provide an electro-optical device including a substrate that is chamfered in the step of dividing the substrate.

(変形例8)前記第2実施形態で、液晶表示装置33をパーソナルコンピュータ80の表示部81に用いたが、これに限定されない。例えば、電子ブック、携帯電話、ディジタルスチルカメラ、液晶テレビ、ビューファインダ型あるいはモニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、タッチパネル等の電子機器の画像表示手段として好適に用いることができる。いずれの場合でも、表示部に低いレーザ光強度でスクライブして分割された液晶表示装置33を備えた電子機器を提供することができる。   (Modification 8) In the second embodiment, the liquid crystal display device 33 is used as the display unit 81 of the personal computer 80. However, the present invention is not limited to this. For example, electronic book, mobile phone, digital still camera, LCD TV, viewfinder type or monitor direct view type video tape recorder, car navigation device, pager, electronic notebook, calculator, word processor, workstation, video phone, POS terminal, touch panel It can be suitably used as an image display means of electronic equipment such as. In any case, it is possible to provide an electronic device including the liquid crystal display device 33 that is divided by scribing the display portion with low laser light intensity.

第1の実施形態に係るレーザ照射装置の構成を示す概略図。Schematic which shows the structure of the laser irradiation apparatus which concerns on 1st Embodiment. 液晶表示装置の模式平面図。FIG. 3 is a schematic plan view of a liquid crystal display device. 液晶表示装置の模式断面図。1 is a schematic cross-sectional view of a liquid crystal display device. 基板の分断方法のフローチャート。The flowchart of the dividing method of a board | substrate. 対向マザー基板の模式図。The schematic diagram of an opposing mother board | substrate. 基板の分断方法を説明する図。The figure explaining the division | segmentation method of a board | substrate. マザー基板の模式図。The schematic diagram of a mother board. 基板の分断方法を説明する図。The figure explaining the division | segmentation method of a board | substrate. 基板の分断方法を説明する図。The figure explaining the division | segmentation method of a board | substrate. 基板の分断方法を説明する図。The figure explaining the division | segmentation method of a board | substrate. 第2の実施形態に係るパーソナルコンピュータを示す概略斜視図。The schematic perspective view which shows the personal computer which concerns on 2nd Embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

33…電気光学装置としての液晶表示装置、34…第2の基板としてのTFTアレイ基板、35…第1の基板としての対向基板、40…電極としての実装端子、42a…配線、51…第1マザー基板としての対向マザー基板、53,64…マークとしての位置決めマーク、55…第1短冊基板としての対向短冊基板、55d…辺としての端面、56…レーザ光、57…改質部、62…第2マザー基板としての素子マザー基板。
33 ... Liquid crystal display device as electro-optical device, 34 ... TFT array substrate as second substrate, 35 ... Counter substrate as first substrate, 40 ... Mounting terminal as electrode, 42a ... Wiring, 51 ... First Opposing mother substrate as a mother substrate, 53, 64 ... Positioning mark as a mark, 55 ... Opposing strip substrate as a first strip substrate, 55d ... End face as a side, 56 ... Laser light, 57 ... Modification part, 62 ... An element mother substrate as a second mother substrate.

Claims (8)

第1基板と、第2基板とを接合して形成する電気光学装置の製造方法であって、
前記第1基板が複数行且つ複数列形成されている第1マザー基板を分断して、前記第1基板が一行形成されている第1短冊基板を形成する第1基板第1形成工程と
前記第1短冊基板と前記第2基板が複数行且つ複数列形成されている第2マザー基板とを接合する接合工程と、
前記第1短冊基板を分断して、前記第1基板を形成する第1基板第2形成工程と、
前記第2マザー基板を分断して前記第2基板を形成する第2基板形成工程とを有し、
第1基板第2形成工程では、前記第1短冊基板にレーザ光を照射して改質部を形成し、分断することを特徴とする電気光学装置の製造方法。
A method of manufacturing an electro-optical device, which is formed by bonding a first substrate and a second substrate,
A first substrate first forming step of dividing a first mother substrate in which the first substrate is formed in a plurality of rows and a plurality of columns to form a first strip substrate in which the first substrate is formed in a row; A bonding step of bonding a strip substrate and a second mother substrate in which the second substrate is formed in a plurality of rows and columns;
A first substrate second forming step of dividing the first strip substrate to form the first substrate;
A second substrate forming step of dividing the second mother substrate to form the second substrate;
In the first substrate second forming step, the modified portion is formed by irradiating the first strip substrate with laser light, and the divided portion is divided.
請求項1に記載の電気光学装置の製造方法であって、
前記第1短冊基板において、第1マザー基板を分断して形成される辺の一部と対向する、前記第2マザー基板の場所には、レーザ光の照射により損傷する部材が配置されていることを特徴とする電気光学装置の製造方法。
A method of manufacturing the electro-optical device according to claim 1,
In the first strip substrate, a member that is damaged by laser light irradiation is disposed at a location of the second mother substrate facing a part of a side formed by dividing the first mother substrate. A method for manufacturing an electro-optical device.
請求項2に記載の電気光学装置の製造方法であって、
前記損傷する前記部材は、電極又は配線であることを特徴とする電気光学装置の製造方法。
A method of manufacturing the electro-optical device according to claim 2,
The electro-optical device manufacturing method, wherein the damaged member is an electrode or a wiring.
請求項1〜3のいずれか一項に記載の電気光学装置の製造方法であって、
前記第1基板第1形成工程では、前記第1マザー基板にレーザ光を照射して改質部を形成し、分断することを特徴とする電気光学装置の製造方法。
A method for manufacturing an electro-optical device according to claim 1,
In the first substrate first forming step, the modified portion is formed by irradiating the first mother substrate with laser light, and the method is divided.
請求項1〜4のいずれか一項に記載の電気光学装置の製造方法であって、
前記第2基板形成工程では、前記第2マザー基板にレーザ光を照射して改質部を形成し、分断することを特徴とする電気光学装置の製造方法。
A method for manufacturing an electro-optical device according to any one of claims 1 to 4,
In the second substrate forming step, the modified portion is formed by irradiating the second mother substrate with laser light, and the method is divided.
請求項1〜5のいずれか一項に記載の電気光学装置の製造方法であって、
前記第1短冊基板及び前記第2マザー基板にはマークが形成され、
前記接合工程において、前記第1短冊基板に形成されているマークと、前記第2マザー基板に形成されているマークとを用いて、前記第1短冊基板と前記第2マザー基板との相対位置を合わせて接合することを特徴とする電気光学装置の製造方法。
A method for manufacturing an electro-optical device according to any one of claims 1 to 5,
A mark is formed on the first strip substrate and the second mother substrate,
In the joining step, a relative position between the first strip substrate and the second mother substrate is determined using a mark formed on the first strip substrate and a mark formed on the second mother substrate. A method of manufacturing an electro-optical device, characterized by joining together.
請求項1〜6のいずれか一項に記載の電気光学装置の製造方法を用いて製造されていることを特徴とする電気光学装置。   An electro-optical device manufactured using the method for manufacturing an electro-optical device according to claim 1. 請求項7に記載の電気光学装置を表示部に備えることを特徴とする電子機器。
An electronic apparatus comprising the electro-optical device according to claim 7 in a display unit.
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