JP2007326217A - 研磨パッド - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本研磨パッドは、架橋重合体(架橋1,2−ポリブタジエン等)を含有する非水溶性マトリックス材と、その中に分散された水溶性粒子(糖類等)とを含有し、水溶性粒子の水への溶解度が25℃で0.1〜10質量%であり、且つ研磨パッドを水に浸積した際の溶出度が25℃で0.05〜50質量%である。また、本研磨パッドでは、水溶性粒子のpH3からpH11の範囲における水への溶解度が25℃で0.1〜10質量%であり、且つpH7の場合の25℃での水への溶解度に対して、pH3からpH11の範囲における25℃での水への溶解度が±50%以内である。更に、本研磨パッドでは、水溶性粒子がアミノ基、エポキシ基及びイソシアヌレート基等を含有する。
【選択図】図1
Description
本発明は半導体ウェハ等の表面の研磨に広く利用される。
このCMPにおいて生産性を大きく左右する因子として研磨速度が挙げられるが、この研磨速度は従来よりもスラリーの保持量を多くすることにより大幅に向上することができるとされている。
しかし、ポリウレタンフォームでは発泡状態を自在に制御することは難しく、気泡の大きさ、発泡密度等をフォームの全体に渡って均一に制御することは極めて困難である。その結果、ポリウレタンフォームからなる研磨パッドの品質がばらつき、研磨速度等がばらつく原因となっている。
更に、従来から、広い範囲のpH域においてそれぞれ異なるpHを有するスラリーが用いられており、これらのpHの異なる種々のスラリーに対応し得る研磨パッドが望まれている。
本発明は、このような知見に基づきなされたものである。
1.架橋重合体を含有する非水溶性マトリックス材と、該非水溶性マトリックス材中に分散された水溶性粒子と、を含有する研磨パッドにおいて、該水溶性粒子自体の水への溶解度が25℃で0.1〜10質量%であり、且つ研磨パッドを水に浸積した際の該研磨パッド中に含まれる水溶性粒子の溶出度が25℃で0.05〜50質量%であることを特徴とする研磨パッド。
2.上記水溶性粒子自体の水への溶解度が50℃で0.5〜15質量%であり、且つ研磨パッドを水に浸積した際の研磨パッド中に含まれる水溶性粒子の溶出度が50℃で0.05〜50質量%である上記1.に記載の研磨パッド。
3.上記水溶性粒子自体のpH3からpH11の全範囲における水への溶解度が25℃で0.1〜3質量%である上記1.に記載の研磨パッド。
4.上記架橋重合体を含有する非水溶性マトリックス材の少なくとも一部は、架橋された1,2−ポリブタジエンである上記1.乃至3.のいずれかに記載の研磨パッド。
5.架橋重合体を含有する非水溶性マトリックス材と、該非水溶性マトリックス材中に分散された水溶性粒子と、を含有する研磨パッドにおいて、該水溶性粒子自体のpH3からpH11の全範囲における水への溶解度が25℃で0.1〜10質量%であり、且つpH7の場合の25℃での水への溶解度に対して、pH3からpH11の全範囲における25℃での水への溶解度が±50%以内であることを特徴とする研磨パッド。
6.上記水溶性粒子自体のpH3からpH11の全範囲における25℃での水への溶解度が0.1〜3質量%であり、且つpH7の場合の25℃での水への溶解度に対して、pH3からpH11の全範囲における25℃での水への溶解度が±50%以内である上記5.に記載の研磨パッド。
7.上記架橋重合体を含有する非水溶性マトリックス材の少なくとも一部は、架橋された1,2−ポリブタジエンである上記5.又は6.に記載の研磨パッド。
8.架橋重合体を含有する非水溶性マトリックス材と、該非水溶性マトリックス材中に分散された水溶性粒子と、を含有する研磨パッドにおいて、上記水溶性粒子がアミノ基、エポキシ基、イソシアヌレート基及びヒドロキシル基を少なくとも1種含有することを特徴とする研磨パッド。
9.上記水溶性粒子自体のpH3からpH11の全範囲における水への溶解度が25℃で0.1〜10質量%であり、且つ研磨パッドを水に浸積した際の該研磨パッド中に含まれる水溶性粒子のpH3からpH11の全範囲における溶出度が25℃で0.05〜50質量%である上記8.に記載の研磨パッド。
10.上記水溶性粒子自体のpH3からpH11の全範囲における水への溶解度が25℃で0.1〜10質量%であり、且つpH7の場合の25℃での水への溶解度に対して、pH3からpH11の全範囲における25℃での水への溶解度が±50%以内である上記8.又は9.に記載の研磨パッド。
11.上記水溶性粒子自体のpH3からpH11の全範囲における水への溶解度が25℃で0.1〜3質量%であり、且つpH7の場合の25℃での水への溶解度に対して、pH3からpH11の全範囲における25℃での水への溶解度が±50%以内である上記10.に記載の研磨パッド。
12.上記架橋重合体を含有する非水溶性マトリックス材の少なくとも一部は、架橋された1,2−ポリブタジエンである上記8.乃至11.のいずれかに記載の研磨パッド。
また、水溶性粒子の50℃での水への溶解度、及び研磨パッドを水に浸積した際の水溶性粒子の50℃での溶出度が特定の範囲内であれば、より優れた研磨特性等を有する研磨パッドとすることができる。
更に、水溶性粒子のpH3からpH11の範囲における25℃での水への溶解度が特定の範囲にあれば、より優れた研磨特性等を有する研磨パッドとすることができる。
また、非水溶性マトリックス材が架橋された1,2−ポリブタジエンを含有する場合は、パッドに弾性回復力が付与され、ポアが塞がれず、より平坦性等に優れた研磨パッドとすることができる。
上記「非水溶性マトリックス材」(以下、単に「マトリックス材」ともいう。)には、架橋重合体が含有される。
上記「架橋重合体」は、マトリックス材を構成し、架橋構造を有することによりマトリックス材に弾性回復力を付与する。架橋重合体を含有することにより、研磨時に研磨パッドにかかるずり応力による変位を小さく抑えることができ、研磨時及びドレッシング時にマトリックス材が過度に引き延ばされ塑性変形してポアが埋まること、また、研磨パッド表面が過度に毛羽立つこと等を効果的に抑制することができる。従って、ポアが効率よく形成され、研磨時のスラリーの保持性の低下が少なく、また、毛羽立ちが少なく研磨平坦性等が阻害されることもない。
硬化性樹脂としては、ウレタン系樹脂、エポキシ系樹脂、(メタ)アクリル系樹脂、不飽和ポリエステル系樹脂、ポリウレタン−ウレア系樹脂、ウレア系樹脂、ケイ素系樹脂、フェノール系樹脂等が挙げられる。
これらは1種のみが含有されていてもよく、2種以上が含有されていてもよい
これらの水溶性粒子は1種のみが含有されていてもよいし、2種以上が含有されていてもよい。
これらのうちでは、アミノプロピルトリメトキシシラン、アミノプロピルトリエトキシシラン、N−β−(アミノエチル)γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−β(アミノエチル)γ−アミノプロピル(メチル)ジメトキシシラン及びN−β(アミノエチル)γ−アミノプロピルトリエトキシシラン等が好ましい。
これらのうちでは、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン及びγ−グリシドキシプロピルトリエトキシシラン等が好ましい。
これらのうちでは、1,3,5−トリス(トリメトキシシリルプロピル)イソシアヌレート、1,3,5−トリス(トリエトキシシリルプロピル)イソシアヌレート等が好ましい。
これらのカップリング剤は1種のみを用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。また、異なる種類の官能基を含有するカップリング剤を併用することもできる。
ここで、水溶性粒子のpH3からpH11の全範囲、好ましくはpH1からH13の全範囲における水への溶解度は、脱イオン水に硝酸又は水酸化カリウムを添加し、pH調整した水を用いて測定した溶解度である。以下も同様である。
ここで、水溶性粒子のpH3からpH11の全範囲、好ましくはpH1からH13の全範囲における水への溶出度は、脱イオン水に硝酸又は水酸化カリウムを添加し、pH調整した水を用いて測定した溶出度である。
尚、水溶性粒子の水への溶出度は、研磨パッドを質量比で2倍量の水(脱イオン水)に25℃で12時間浸漬した際に水に溶出した水溶性粒子の質量を、浸漬前の研磨パッドに含有されていた水溶性粒子の質量で除して100倍した値として算出することができる。
上記砥粒としては、シリカ、アルミナ、セリア、ジルコニア及びチタニア等からなる粒子を挙げることができる。これらは1種又は2種以上を用いることができる。
上記酸としては有機酸及び無機酸が挙げられる。このうち有機酸としては、パラトルエンスルホン酸、ドデシルベンゼンスルホン酸、イソプレンスルホン酸、グルコン酸、乳酸、クエン酸、酒石酸、リンゴ酸、グリコール酸、マロン酸、ギ酸、シユウ酸、コハク酸、フマル酸、マレイン酸及びフタル酸等が挙げられる。また、無機酸としては、硝酸、塩酸及び硫酸等が挙げられる。これら酸は1種又は2種以上を用いることができる。
上記塩としては、上記酸のアンモニウム塩、ナトリウム塩、カリウム塩等のアルカリ金属塩、カルシウム塩、マグネシウム塩等のアルカリ土類金属塩等が挙げられる。これらは1種又は2種以上を用いることができる。
被研磨体は特に限定されず、各種の被研磨体を用いることができる。被研磨体としては、例えば、埋め込み材料を伴う被研磨体及び埋め込み材料を伴わない被研磨体等が挙げられる。
埋め込み材料を伴う被研磨体は、例えば、少なくともその表面側に溝を備える半導体装置となる基板(通常、少なくともウェハとこのウェハの表面に形成された絶縁膜とを備える。更には、絶縁膜表面に研磨時のストッパとなるストッパ層を備えることができる。)の表面側に、少なくとも溝内に所望の材料が埋め込まれるように堆積等(CVD等による)した積層体等である。この被研磨体の研磨に際しては、余剰に堆積等された埋め込み材料を本発明の研磨パッドを用いて研磨により除去し、その表面を平坦化する研磨を行うことができる。被研磨体が埋め込み材料の下層にストッパ層を備える場合にはストッパ層の研磨も研磨の後期には同時に行うことができる。
一方、埋め込み材料を伴わない被研磨体としては、ポリシリコン及びベアシリコン等が挙げられる。
[1]研磨パッド用組成物の調製及び研磨パッドの成形
実施例1
後に架橋されてマトリックス材となる1,2−ポリブタジエン(ジェイエスアール社製、商品名「JSR RB830」)80体積%と、水溶性粒子として予め1質量%のγ−(2−アミノエチル)−アミノプロピルトリメトキシシランにより処理された
平均粒径が16μmのβ−シクロデキストリン(横浜国際バイオ研究所社製、商品名「デキシーパールβ−100」、以下、変性後のものを「変性β−シクロデキストリン」という。)20体積%とを、170℃に加熱されたルーダーにて混練した。その後、有機過酸化物(日本油脂社製、商品名「パーヘキシン25B」)0.3質量部を添加してさらに130℃で混練した後、金型内にて170℃で20分間架橋反応させて成形し、直径60cm、厚さ3mmの研磨パッドを得た。
溶出度の算出法;全溶出量をx(g)、皿に残った固形分の質量をy(3.0mg)とすると、x/(2000+x)=(y/1000)/1.5となり、xは4.008gとなる。従って、溶出度は、(4.008/280)×100=1.428で約1.4%と算出される。
(1)研磨速度及びスクラッチの有無
研磨パッドを研磨装置(SFT社製、型式「ラップマスター LM−15」)の定盤上に装着し、定盤の回転数を50rpmとし、3倍に希釈した化学機械研磨用スラリー(ジェイエスアール社製、商品名「CMS 1101」)を流量100cc/分の条件で用いて、SiO2膜ウェハを2分間研磨し、研磨速度及びスクラッチの有無を評価した。研磨速度は光学式膜厚計により研磨前後の膜厚を測定し、この膜厚差を研磨時間で除して算出した。また、スクラッチは研磨後のSiO2膜ウェハの研磨面を電子顕微鏡により観察して確認した。その結果、研磨速度は350nm/分であり、スクラッチはほとんど認められなかった。
半導体ウェハ(SKW社製、商品名「SKW−7」)を下記の条件により研磨した後、微細形状測定装置(KLA-Tencor社製、型式「P−10」)によりディッシングを測定した。その結果、ディッシングは70nmであり、被研磨面は平坦性に優れていた。
スラリー;CMS1101(ジェイエスアール社製)
化学機械研磨装置;EPO112(荏原製作所社製)
スラリー供給量;200ml/分
研磨荷重;400g/cm2
定盤回転数;70rpm
ヘッド回転数;70rpm
研磨速度;400nm/分
研磨時間;5.75分(15%オーバーポリッシュ)
未架橋1,2−ポリブタジエン(ジェイエスアール社製、商品名「JSR RB830」)60体積部と、未架橋エチレン−酢酸ビニル共重合体(東ソー社製、商品名「ウルトラセン630」)20体積部と、水溶性粒子であるβ−シクロデキストリン(横浜国際バイオ研究所社製、商品名「デキシーパールβ−100」、平均粒径20μm)20体積部と、を160℃に調温された二軸押し出し機を用いて混練した。その後、有機過酸化物(日本油脂社製、品名「パークミルD40」)1.0質量部を添加してさらに混練し、この混練物を金型に押し出した。その後、170℃で18分間保持する架橋処理を行い、直径60cm、厚さ3mmの研磨パッドを得た。次いで、この研磨パッドの研磨面側に、加藤機械社製オリジナル溝加工機を用い、溝幅の平均値が0.5mm、溝深さの平均値が0.5mm、ピッチの平均値が4mmの環状の複数の溝を同心円状に形成した。更に、実施例1と同様にして研磨速度、スクラッチの有無及びディッシングを評価した。その結果、研磨速度は300nm/分であり、スクラッチはほとんど認められず、ディッシングは60nmであり、被研磨面は平坦性に優れていた。
水溶性粒子として平均粒径20μmの硫酸カリウム(高杉製薬社製)を使用した以外は実施例1に従い、直径60cm、厚さ3mmの研磨パッドを得た。また、実施例1と同様にして硫酸カリウムの水への溶出度を算出したところ80質量%であった。同様の実験を50℃の水中で行ったときの溶出度は82質量%であった。尚、硫酸カリウムの溶解度は25℃で11質量%、50℃で12質量%であった。更に、この研磨パッドの研磨面側に、加藤機械社製オリジナル溝加工機を用い、実施例1と同様の環状の複数の溝を同心円状に形成した。また、実施例1と同様にして研磨速度、スクラッチの有無及びディッシングを評価した。その結果、研磨速度は300nm/分であり問題なかったが、多くのスクラッチが認められ、ディッシングは180nmであり、被研磨面は平坦性にも劣っていた。
市販の発泡ポリウレタン製の研磨パッド(ロデール・ニッタ社製、商品名「IC1000」)の研磨面側に加藤機械社製オリジナル溝加工機を使用し、実施例1と同様の環状の複数の溝を同心円状に形成した。また、実施例1と同様にして研磨速度、スクラッチの有無及びディッシングを評価した。その結果、研磨速度は350nm/分であり問題なかったが、多くのスクラッチが認められ、ディッシングは150nmであり、被研磨面は平坦性にも劣っていた。
Claims (12)
- 架橋重合体を含有する非水溶性マトリックス材と、該非水溶性マトリックス材中に分散された水溶性粒子と、を含有する研磨パッドにおいて、該水溶性粒子自体の水への溶解度が25℃で0.1〜10質量%であり、且つ研磨パッドを水に浸積した際の該研磨パッド中に含まれる水溶性粒子の溶出度が25℃で0.05〜50質量%であることを特徴とする研磨パッド。
- 上記水溶性粒子自体の水への溶解度が50℃で0.5〜15質量%であり、且つ研磨パッドを水に浸積した際の研磨パッド中に含まれる水溶性粒子の溶出度が50℃で0.05〜50質量%である請求項1に記載の研磨パッド。
- 上記水溶性粒子のpH3からpH11の全範囲における水への溶解度が25℃で0.1〜3質量%である請求項1に記載の研磨パッド。
- 上記架橋重合体を含有する非水溶性マトリックス材の少なくとも一部は、架橋された1,2−ポリブタジエンである請求項1乃至3のいずれかに記載の研磨パッド。
- 架橋重合体を含有する非水溶性マトリックス材と、該非水溶性マトリックス材中に分散された水溶性粒子と、を含有する研磨パッドにおいて、該水溶性粒子自体のpH3からpH11の全範囲における水への溶解度が25℃で0.1〜10質量%であり、且つpH7の場合の25℃での水への溶解度に対して、pH3からpH11の全範囲における25℃での水への溶解度が±50%以内であることを特徴とする研磨パッド。
- 上記水溶性粒子自体のpH3からpH11の全範囲における25℃での水への溶解度が0.1〜3質量%であり、且つpH7の場合の25℃での水への溶解度に対して、pH3からpH11の全範囲における25℃での水への溶解度が±50%以内である請求項5に記載の研磨パッド。
- 上記架橋重合体を含有する非水溶性マトリックス材の少なくとも一部は、架橋された1,2−ポリブタジエンである請求項5又は6に記載の研磨パッド。
- 架橋重合体を含有する非水溶性マトリックス材と、該非水溶性マトリックス材中に分散された水溶性粒子と、を含有する研磨パッドにおいて、上記水溶性粒子がアミノ基、エポキシ基、イソシアヌレート基及びヒドロキシル基を少なくとも1種含有することを特徴とする研磨パッド。
- 上記水溶性粒子自体のpH3からpH11の全範囲における水への溶解度が25℃で0.1〜10質量%であり、且つ研磨パッドを水に浸積した際の該研磨パッド中に含まれる水溶性粒子のpH3からpH11の全範囲における溶出度が25℃で0.05〜50質量%である請求項8に記載の研磨パッド。
- 上記水溶性粒子自体のpH3からpH11の全範囲における水への溶解度が25℃で0.1〜10質量%であり、且つpH7の場合の25℃での水への溶解度に対して、pH3からpH11の全範囲における25℃での水への溶解度が±50%以内である請求項8又は9に記載の研磨パッド。
- 上記水溶性粒子自体のpH3からpH11の全範囲における水への溶解度が25℃で0.1〜3質量%であり、且つpH7の場合の25℃での水への溶解度に対して、pH3からpH11の全範囲における25℃での水への溶解度が±50%以内である請求項10に記載の研磨パッド。
- 上記架橋重合体を含有する非水溶性マトリックス材の少なくとも一部は、架橋された1,2−ポリブタジエンである請求項8乃至11のいずれかに記載の研磨パッド。
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