JP2007322168A - 電子機器及びその検査方法 - Google Patents

Abstract

【課題】第１の基板と、第１の基板に接続され、第１の基板と協働して動作する第２の基板とを有する電子機器及びその検査方法に関し、検査のための工程を簡略化でき、かつ、不用意に検査プログラムが起動することがない電子機器及びその検査方法を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明は、第１の基板（１１３）と、第１の基板（１１３）に接続され、第１の基板（１１３）と協働して動作する第２の基板（１１２）とを有する電子機器において、第１の基板（１１３）は検査プログラム（ｐ１）及び製品プログラム（ｐ２）が記憶された記憶装置（１５２）と、記憶装置（１５２）に記憶された検査プログラム（ｐ１）及び製品プログラム（ｐ２）に基づいて処理を実行する処理装置（１５１）とを有し、処理装置（１５１）は検査装置（２００）が接続されたときに検査プログラム（ｐ１）を起動し、第２の基板（１１２）が接続されたときに製品プログラム（ｐ２）を起動することを特徴とする。
【選択図】図１

Description

本発明は電子機器及びその検査方法に係り、特に、第１の基板と、第１の基板に接続され、第１の基板と協働して動作する第２の基板とを有する電子機器及びその検査方法に関する。

チューナなどの電子機器は、メイン基板及びフロントパネル基板、電源基板など、機能や搭載位置などの基づいて分けられた複数の基板をケーブルなどによって接続して、複数の基板で協働して所望の機能を達成するように構成されている。

このとき、複数の基板を電子機器として組み付けた後に機能の検査を行うと、複数の基板のうちどの基板に不具合があるかを特定できず、機器としての不具合となる。あるいは、機器を分解して不具合のある基板を交換する必要があり、生産性が悪いなどの問題点がある。このため、各基板の段階で検査を行い、検査を通った基板により機器を組み立てることにより機器として生産性を向上している。

一方、近年、機器の多機能化、各基板での処理の増加などによって複数の基板にマイコンなどが搭載し、機能を分散させるようになっている。このとき、例えば、フロントパネル基板に搭載されるマイコンには、高機能な処理は要求されないので、マイコンに内蔵されたＲＯＭにプログラムを予めインストールして、機能を実現している。このとき、製品プログラムに検査機能を搭載し、製品プログラムから特殊な操作を行うことによって検査機能を起動し、検査を行っていた。

なお、検査プログラムにより被試験装置の試験を行う試験方法については各種提案されている（例えば、特許文献１〜５参照）。
特開平０５−１０８３１０号公報 特開平０７−２５３９０３号公報 特開平０５− ２８０００号公報 特開平０８− ８６８３４号公報 特開平１１− ８５５６０号公報

このような、電子機器ではプログラムのインストール、削除などの不要な工程を削減し、生産性を向上できるようにすることが望まれていた。

本発明は上記の点に鑑みてなされたもので、検査のための工程を簡略化でき、かつ、不用意に検査プログラムが起動することがない電子機器及びその検査方法を提供することを目的とする。

本発明は、第１の基板（１１３）と、第１の基板（１１３）に接続され、第１の基板（１１３）と協働して動作する第２の基板（１１２）とを有する電子機器において、第１の基板（１１３）は検査プログラム（ｐ１）及び製品プログラム（ｐ２）が記憶された記憶装置（１５２）と、記憶装置（１５２）に記憶された検査プログラム（ｐ１）及び製品プログラム（ｐ２）に基づいて処理を実行する処理装置（１５１）とを有し、処理装置（１５１）は検査装置（２００）が接続されたときに検査プログラム（ｐ１）を起動し、第２の基板（１１２）が接続されたときに製品プログラム（ｐ２）を起動することを特徴とする。

第１の基板（１１３）は、検査装置（２００）又は第２の基板（１１２）との接続を行うためのコネクタ（１３５）を有し、処理装置（１５１）はコネクタ（１３５）に検査装置が接続されたときに検査プログラムを起動し、第２の基板（１１２）が接続されたときに製品プログラム（ｐ２）を起動することを特徴とする。

処理装置（１５１）は、コネクタ（１３５）のうち所定の接点の電圧が第１の電圧のときに検査プログラム（ｐ１）を起動し、第２の電圧のときに製品プログラム（ｐ２）を起動することを特徴とする。

また、本発明は、第１の基板（１１３）と、第１の基板（１１３）に接続され、第１の基板（１１３）と協働して動作する第２の基板（１１２）とを有する電子機器の検査方法において、第１の基板（１１３）は検査プログラム（ｐ１）及び製品プログラム（ｐ２）が記憶された記憶装置（１５２）と、記憶装置（１５２）に記憶された検査プログラム（ｐ１）及び製品プログラム（ｐ２）に基づいて処理を実行する処理装置（１５１）とを有し、検査装置（２００）が接続されたときに検査プログラム（ｐ１）を起動し、第２の基板（１１２）が接続されたときに製品プログラム（ｐ２）を起動することを特徴とする。

なお、上記参照符号はあくまでも参考であり、これによって、特許請求の範囲の記載が限定されるものではない。

本発明によれば、検査プログラムと製品プログラムを別々に搭載しており、第１の基板に検査装置が接続されたときには検査プログラムが起動し、第１の基板に第２の基板が接続されたときには製品プログラムが起動するため、検査時と製品時とでプログラムを切り換える操作が不要となり、検査のための工程を簡略化できる。

また、製品として組み付けたときには検査プログラムが起動することはないので、不用意に検査プログラムが起動することを防止できる。

図１は、本発明の電子機器の一実施例のブロック構成図、本発明の電子機器の一実施例の斜視図、図２は本発明の電子機器の一実施例の分解斜視図、図３は本発明の電子機器の一実施例のブロック構成図を示す。

本実施例の電子機器１００は、電源基板１１１、メイン基板１１２、フロントパネル基板１１３、データ処理基板１１４をシャーシ１１５に搭載し、フロントパネル１１６及びカバー１１７により覆った構成とされている。

電源基板１１１には、交流電源が接続され、交流電源を直流電源に変換してメイン基板１１２に供給する。メイン基板１１２には、データ処理基板１１４、及び、各種電子部品やＩＣなどが搭載されており、機器の主な機能を実行する。

〔フロントパネル基板１１３〕
図４はフロントパネル基板１１３の構成図を示す。

フロントパネル基板１１３は、メイン基板１１２にフラットケーブル１２１により接続されており、プリント配線板１３１上に操作スイッチ１３１、赤外線受光部１３２、マイコン１３３、表示装置１３４、コネクタ１３５を搭載した構成とされている。操作スイッチ１３１は、フロントパネル１１６の操作ボタン１４１に対応する位置に設けられており、操作ボタン１４１が操作されたときに駆動されて、マイコン１３３に操作信号を供給する。

赤外線受光部１３２は、受光窓１４２に対応する位置に設けられており、リモコンから送信された赤外光を検知し、検知信号をマイコン１３３に供給する。

図５はマイコン１３３のブロック構成図を示す。

マイコン１３３は、ＣＰＵ１５１、ＲＯＭ１５２、ＲＡＭ１５３、インタフェース回路１５４などが内蔵されており、ＲＯＭ１５２に記憶されたプログラムに基づいて処理を実行する。マイコン１３３は、電源などの投入時に端子Ｔmの電位に基づいてＲＯＭ１５２からＲＡＭ１５３にプログラムをロードし、ＣＰＵ１５１をＲＡＭ１５３にロードされたプログラムに基づいて実行する。

ＲＯＭ１５２には、検査プログラムｐ１及び製品プログラムｐ２が予め記憶されている。また、ＲＡＭ１５３は、ＣＰＵ１５１の作業用記憶領域を提供する。

表示装置１３４は、フラットディスプレイ、ＬＥＤであり、フロントパネル１１６の表示窓１４３に対応する位置に設けられており、現在選局中のチャンネルなどの情報や電源の投入・切断の状態などの情報を表示する。

コネクタ１３５には、検査時には検査装置２００が接続され、実装時にはフラットケーブル１２１の一端が接続される。なお、フラットケーブル１２１の他端は、メイン基板１１２に接続されている。

このとき、電源基板１１１、メイン基板１１２、フロントパネル基板１１３、データ処理基板１１４を各々の基板の機能を検査装置によって検査した後に、シャーシ１１５に組み付け、接続するようにしている。これによって、組み付けた後に検査を行う場合に比べて製品としての歩留まりを向上させることができる。

図６はフロントパネル基板１１３の処理フローチャートを示す。

マイコン１３３は、ステップＳ２−１で端子Ｔmの電位を検出し、ステップＳ２−２で端子Ｔmの電位がハイレベルか、ローレベルからを検出する。

マイコン１３３は、ステップＳ２−２で端子Ｔmの電位がローレベルであれば、ステップＳ２−３で検査プログラムをＲＯＭ１５２からＲＡＭ１５３にロードして、ステップＳ２−４で検査プログラムに基づいてＣＰＵ１５１を動作させる。

マイコン１３３は、ステップＳ２−２で端子Ｔmの電位がハイレベルであれば、ステップＳ２−５でＲＯＭ１５２から製品プログラムをＲＡＭ１５３にロードして、ステップＳ２−６で製品プログラムに基づいてＣＰＵ１５１を動作させる。

図７は本発明の一実施例の動作を説明するための図を示す。図６（Ａ）は検査時、図６（Ｂ）は製品搭載時の状態を示している。

フロントパネル基板１１３は、検査時には図６（Ａ）に示すようにコネクタ１３５に検査装置２００が接続される。

検査装置２００が接続されると、コネクタ１３５の所定の端子が接地状態とされる。コネクタ１３５の所定の端子が接地状態でフロントパネル基板１１３に電源が投入されると、マイコン１３３はＲＯＭ１５２からＲＡＭ１５３に検査プログラムをロードする。

ＲＯＭ１５２からＲＡＭ１５３に検査プログラムがロードされた状態で、検査装置２００から検査命令が供給されると、マイコン１３３は検査プログラムに基づいて表示装置１３４を駆動して、検査処理を実行する。

フロントパネル基板１１３は、製品搭載時には図６（Ｂ）に示すようにコネクタ１３５にフラットケーブル１２１を介してメイン基板１１２が接続される。

メイン基板１１２が接続された状態では、コネクタ１３５の所定の端子が開放状態とされる。コネクタ１３５の所定の端子が開放状態でメイン基板１１２からフロントパネル基板１１３に電源が供給されると、マイコン１３３は、ＲＯＭ１５２からＲＡＭ１５３に製品プログラムをロードする。

ＲＯＭ１５２からＲＡＭ１５３に製品プログラムがロードされると、マイコン１３３は製品プログラムに基づいて処理を行い、製品としての機能を実現する。例えば、操作スイッチ１３１、赤外線受光部１３２からの操作信号によりメイン基板１１２にチャンネル切換などのコマンドを発行したり、メイン基板１１２から供給されるコマンドに基づいて表示装置１３４の表示を制御したりする。

本実施例によれば、マイコン１３３に内蔵されるＲＯＭ１５２に検査プログラム及び製品プログラムを予め記憶しておくので、プログラムをインストールし直す工程が不要となる。また、フロントパネル基板１１３のメイン基板１１２との接続を行うためのコネクタ１３５の所定の端子が短絡状態か、開放状態かを検知して、検査装置２００が接続されているか、メイン基板１１２が接続されているかを判断して、ＲＯＭ１５２からＲＡＭ１５３にロードするプログラムを製品プログラムにするか、検査プログラムにするかを自動的に切り換えている。このため、コネクタ１３５に検査装置２００を接続すれば、検査プログラムが起動し、メイン基板１１２を接続すれば、製品プログラムが自動的に起動するので、検査、組み立て作業を簡略化できる。さらに、コネクタ１３５は製品組み込み時には電子機器１００の内部に位置しており、ユーザが勝手に操作することはできない。よって、不用意に検査プログラムが起動することを防止できる。

なお、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変形例が考えられる。

本発明の電子機器の一実施例のブロック構成図である。 本発明の電子機器の一実施例の斜視図である。 本発明の電子機器の一実施例の分解斜視図である。 フロントパネル基板１１３の構成図である。 マイコン１３３のブロック構成図である。 フロントパネル基板１１３の処理フローチャートである。 本発明の一実施例の動作を説明するための図である。

符号の説明

１００ 電子機器
１１１ 電源基板、１１２ メイン基板、１１３ フロントパネル基板
１１４ データ処理基板、１１５ シャーシ、１１６ フロントパネル
１１７ カバー
１２１ フラットケーブル
１３１ 操作スイッチ、１３２ 赤外線受光部、１３３ マイコン、１３４ 表示装置
１３５ コネクタ
１４１ 操作ボタン、１４２ 受光窓、１４３ 表示窓
１５１ ＣＰＵ、１５２ ＲＯＭ、１５３ ＲＡＭ、１５４ インタフェース回路
２００ フロントパネル基板検査装置

Claims (4)

1. 第１の基板と、該第１の基板に接続され、前記第１の基板と協働して動作する第２の基板とを有する電子機器において、
   前記第１の基板は検査プログラム及び製品プログラムが記憶された記憶装置と、前記記憶装置に記憶された前記検査プログラム及び前記製品プログラムに基づいて処理を実行する処理装置とを有し、
   前記処理装置は、検査装置が接続されたときに前記検査プログラムを起動し、前記第２の基板が接続されたときに前記製品プログラムを起動することを特徴とする電子機器。
2. 前記第１の基板は、前記検査装置又は前記第２の基板との接続を行うためのコネクタを有し、
   前記処理装置は、前記コネクタに前記検査装置が接続されたときに前記検査プログラムを起動し、前記第２の基板が接続されたときに前記製品プログラムを起動することを特徴とする請求項１記載の電子機器。
3. 前記処理装置は、前記コネクタのうち所定の接点の電圧が第１の電圧のときに前記検査プログラムを起動し、第２の電圧のときに前記製品プログラムを起動することを特徴とする請求項２記載の電子機器。
4. 第１の基板と、該第１の基板に接続され、前記第１の基板と協働して動作する第２の基板とを有する電子機器の検査方法において、
   前記第１の基板は検査プログラム及び製品プログラムが記憶された記憶装置と、前記記憶装置に記憶された前記検査プログラム及び前記製品プログラムに基づいて処理を実行する処理装置とを有し、
   検査装置が接続されたときに前記検査プログラムを起動し、前記第２の基板が接続されたときに前記製品プログラムを起動することを特徴とする電子機器の検査方法。

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