JP2007317892A - Multilayered inductor - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、積層構造のチップインダクタに関し、更に詳しく述べると、内部導体パターン形状を最適化することにより直流重畳特性を向上させた積層インダクタに関するものである。この積層インダクタは、特にモバイル用途のパワー用インダクタに好適である。 The present invention relates to a chip inductor having a multilayer structure. More specifically, the present invention relates to a multilayer inductor having improved direct current superposition characteristics by optimizing the shape of an internal conductor pattern. This multilayer inductor is particularly suitable for power inductors for mobile applications.
DC−DCコンバータなどの電源回路に使用されるパワー用インダクタは、かつては磁気コアにコイルを巻線する構成が一般的であったが、近年の電源回路部品の小型化、薄型化の要望に沿い、積層構造のチップ部品が開発され実用化されている。積層型のパワー用インダクタはモバイル系の電源に使用されることが多く、小型とはいえDC−DCコンバータの構成部品の中では最も大きな部品である。これまでは1mm程度の高さのチップが多用されていたが、最近、0.8mmあるいは0.5mmというように、更なる低背化の要求が増加しつつある。 In the past, power inductors used in power circuits such as DC-DC converters were generally configured by winding a coil around a magnetic core. However, in recent years, there has been a demand for smaller and thinner power circuit components. Along with this, chip components with a laminated structure have been developed and put into practical use. Multilayer power inductors are often used for mobile power supplies, and are the largest components among DC-DC converter components, albeit small. Up to now, chips with a height of about 1 mm have been frequently used. Recently, however, there is an increasing demand for further reduction in height, such as 0.8 mm or 0.5 mm.
積層型のインダクタは、磁性体からなる電気絶縁体である磁性層と内部導体パターンが交互に積層され前記内部導体パターンを順次接続することで、電気絶縁体中で積層方向に重畳しながら螺旋状に周回するコイルが形成され、該コイルの両端がそれぞれ引出導体パターンを介して積層体チップ外表面に引き出され外部電極に接続される構造である。つまり、磁性体チップ中にコイルが埋設されている状態である。磁性層や内部導体パターンは、例えばスクリーン印刷の技法などを駆使して形成され積層される。このような積層インダクタは、コイルの周囲が磁性体で囲まれているため、磁気漏洩が少なく、比較的少ない巻数で必要なインダクタンスが得られる特徴があり、小型化、薄型化に適している。 Multilayer inductors have a magnetic layer that is an electrical insulator made of a magnetic material and internal conductor patterns that are alternately stacked, and the internal conductor patterns are sequentially connected to form a spiral while overlapping in the stacking direction in the electrical insulator. In this structure, a coil that circulates is formed, and both ends of the coil are led out to the outer surface of the multilayer chip through lead conductor patterns and connected to external electrodes. That is, the coil is embedded in the magnetic chip. The magnetic layer and the internal conductor pattern are formed and stacked by using, for example, a screen printing technique. Such a multilayer inductor is characterized in that since the coil is surrounded by a magnetic material, there is little magnetic leakage, and a necessary inductance can be obtained with a relatively small number of turns, which is suitable for downsizing and thinning.
ところで積層インダクタは、1層当たり1ターン未満(例えば1/2ターンあるいは3/4ターンなど)の内部導体パターンを積層し順次接続することでコイルを形成することが多い(例えば、特許文献1参照)。しかし、このような構成では、印刷回数が増加し、印刷層数が多くなるために、積層体チップを低背化しようとするとコイルの両端外側での磁性体が非常に薄くならざるを得ず、これにより直流重畳特性の劣化(磁性体の磁気飽和による急激なインダクタンスの低下)が引き起こされる。また、層数が増えることで内部導体パターン間を通る磁束が増加し、低DCバアイアス時のインダクタンスの変化を急激にするため交流抵抗が高くなる。このことは、待機電流による損失が大きくなることを意味し、特にモバイル用途では大きな問題となる。 By the way, a multilayer inductor often forms a coil by laminating and sequentially connecting internal conductor patterns of less than one turn per layer (for example, 1/2 turn or 3/4 turn) (for example, see Patent Document 1). ). However, with such a configuration, the number of times of printing increases and the number of printed layers increases, so when trying to reduce the height of the laminated chip, the magnetic material on both outer sides of the coil must be very thin. This causes deterioration of the DC superimposition characteristics (abrupt decrease in inductance due to magnetic saturation of the magnetic material). Further, the increase in the number of layers increases the magnetic flux passing between the internal conductor patterns, and the AC resistance increases because the change in inductance at the time of low DC bias is abrupt. This means that the loss due to the standby current becomes large, which is a big problem particularly in mobile applications.
他方、チップインダクタとしては、1層に多重巻きすること(渦巻き形状)でコイルを形成する形式もある(例えば特許文献2参照)。この構造は、低背化できる利点がある反面、コイル内側の磁性体が少なくなるため、直流重畳特性の劣化が引き起こされ、パワー用インダクタには不向きである。
本発明が解決しようとする課題は、直流重畳特性の向上と交流損失の低減を図ることができ、しかも低背化が可能な、パワー用インダクタに適した構造を実現することである。 The problem to be solved by the present invention is to realize a structure suitable for a power inductor that can improve DC superposition characteristics and reduce AC loss and can be reduced in height.
本発明は、電気絶縁体である磁性層と内部導体パターンが交互に積層され前記内部導体パターンを順次接続することで、電気絶縁体中で積層方向に重畳しながら螺旋状に周回するコイルが形成され、該コイルの両端がそれぞれ引出導体パターンを介して積層体チップ外表面に引き出され外部電極に接続される構造の積層インダクタにおいて、コイル内側での積層方向に垂直な内部磁路断面積をSI、コイル端部外側での積層方向に平行な外部磁路断面積をSU、積層体チップの積層方向に垂直な全断面積をSAとしたとき、0.5<SU/SI≦1且つ0.2≦SI/SAなる関係を満たすようにしたことを特徴とする積層インダクタである。 In the present invention, magnetic layers that are electrical insulators and internal conductor patterns are alternately stacked, and the internal conductor patterns are sequentially connected to form a coil that spirals around the electrical insulator while overlapping in the stacking direction. In the multilayer inductor having a structure in which both ends of the coil are drawn to the outer surface of the multilayer chip via the lead conductor pattern and connected to the external electrode, the internal magnetic path cross-sectional area perpendicular to the stacking direction inside the coil is represented by SI. , Where SU is the cross-sectional area of the external magnetic path parallel to the laminating direction outside the coil end, and SA is the total cross-sectional area perpendicular to the laminating direction of the multilayer chip, 0.5 <SU / SI ≦ 1 and 0. A multilayer inductor characterized by satisfying a relationship of 2 ≦ SI / SA.
ここで内部導体パターンは、1層当たり1ターン未満としてもよいが、低背化のためには1層当たり1ターン以上で3ターン以下とするのがよい。また、積層体チップを構成している電気絶縁体は、その大部分が磁性体からなり、内部導体パターンの層間すべてに非磁性層を配置するのが好ましい。この積層インダクタは、特にDC−DCコンバータなどの電源回路に使用されるモバイル用途のパワー用インダクタに好適である。 Here, the inner conductor pattern may be less than one turn per layer, but in order to reduce the height, it is preferable that the number of turns is not less than 1 turn and not more than 3 turns per layer. In addition, it is preferable that most of the electrical insulator constituting the multilayer chip is made of a magnetic material, and a nonmagnetic layer is disposed between all layers of the internal conductor pattern. This multilayer inductor is particularly suitable for a power inductor for mobile use used in a power supply circuit such as a DC-DC converter.
本発明に係る積層インダクタは、積層体チップ内部のコイル形状を最適化したことにより、コイル内外の磁路バランスをとり、高バイアス側での直流重畳特性の向上を図ることができる。特に、1層当たりのターン数を1〜3にすると、優れた直流重畳特性を維持しつつ印刷回数の低減と低背化の両方を同時に達成することが可能となる。また、内部導体パターンの層間に非磁性層を配置する構造にすると、内部導体パターンを取り囲む微小磁路ループの発生を防止でき、低バイアス側での交流損失を低減できる。 The multilayer inductor according to the present invention can optimize the DC superposition characteristics on the high bias side by balancing the magnetic path inside and outside the coil by optimizing the coil shape inside the multilayer chip. In particular, when the number of turns per layer is set to 1 to 3, it is possible to simultaneously achieve both a reduction in the number of printing times and a reduction in height while maintaining excellent direct current superposition characteristics. In addition, when the non-magnetic layer is arranged between the inner conductor patterns, it is possible to prevent the occurrence of a minute magnetic circuit loop surrounding the inner conductor pattern and reduce the AC loss on the low bias side.
本発明に係る積層インダクタの一例を図1に示す。図1において、Aは外観を、Bは上面から導体パターンを透視した状態を、Cは縦断面を、それぞれ示している。 An example of the multilayer inductor according to the present invention is shown in FIG. In FIG. 1, A shows an appearance, B shows a state where a conductor pattern is seen through from the upper surface, and C shows a longitudinal section.
この積層インダクタ10は、ほぼ直方体状をなす表面実装型のチップ部品であり、殆ど全てが磁性体からなる材料中にコイルが埋設されており、そのコイル両端がチップ両端部に形成されている外部電極12に電気的に接続されている構造である(図1のA参照)。
This
内部のコイル構造は、ほぼ環状の(1層当たり1ターンの)内部導体パターン20と電気絶縁性の磁性層22を、スクリーン印刷法などにより印刷し、交互に積層することにより形成される。内部導体パターン20は、磁性層22による磁性体中で、積層方向に重畳しながら螺旋状に周回するように順次接続されてコイルを形成する。内部導体パターン間の電気的な接続は、周知のビアホールなどを利用して行う。ここでは、内部導体パターンは、図1のBに示すように、直角に屈曲しながら矩形状に巻回されている。コイルの両端は、それぞれ引出導体パターン24を介して積層体チップ外表面の相対向する端面に引き出され、前記外部電極12に接続されることになる。
The internal coil structure is formed by printing a substantially annular inner conductor pattern 20 (one turn per layer) and an electrically insulating
本発明に係る積層インダクタでは、コイル内側での積層方向に垂直な内部磁路断面積をSI(=x×y)、コイル端部外側での積層方向に平行な外部磁路断面積をSU(=(x+y)×2×z)、積層体チップの積層方向に垂直な全断面積をSA(=L×W)としたとき、0.5<SU/SI≦1であって、且つ0.2≦SI/SAなる関係を満たすように設計する。ここで、xとyはコイル内側磁路の縦横寸法、zはコイル端から積層体チップ表面までの積層方向長さ、LとWは積層体チップの縦横寸法である。 In the multilayer inductor according to the present invention, the internal magnetic path cross-sectional area perpendicular to the stacking direction inside the coil is SI (= xx), and the external magnetic path cross-sectional area parallel to the stacking direction outside the coil end is SU ( = (X + y) × 2 × z), where SA (= L × W) is the total cross-sectional area perpendicular to the stacking direction of the stacked chips, 0.5 <SU / SI ≦ 1, and 0. It is designed to satisfy the relationship 2 ≦ SI / SA. Here, x and y are vertical and horizontal dimensions of the coil inner magnetic path, z is a length in the stacking direction from the coil end to the surface of the multilayer chip, and L and W are vertical and horizontal dimensions of the multilayer chip.
図2は、その変形例であり、Bは要部の拡大図である。内部導体パターン20の層とそれに対して間隔をおいて重なり合う別の内部導体パターン20の層の間すべてが磁性層ではなく電気絶縁性の非磁性層26になっている。このような非磁性層26は、内部導体パターン20とほぼ同じ環状(四角枠状)であり、該内部導体パターン20よりも若干幅広とするのが好ましい。若干幅広なパターンにすることによって、内部導体パターン20を印刷する際、導体ペーストの流れ込みによる短絡発生を防ぐことができ、且つ磁路断面の減少を可能な限り抑えることができる。なお、内部導体パターン20の層の間すべてを非磁性層26とするのが最も好ましいが、一部のみを非磁性層とする構成でもよい。
FIG. 2 is a modified example thereof, and B is an enlarged view of a main part. Between the layer of the
本発明に係る積層インダクタの他の例を図3に示す。これは、コイルを形成する内部導体パターンを1層当たりほぼ2ターンとした例である。製法などは、1ターンの場合と同様である。内部導体パターン20と電気絶縁性の磁性層22を、スクリーン印刷法などにより印刷し、交互に積層する。内部導体パターン20は、磁性層22による磁性体中で、積層方向に重畳しながら螺旋状に周回するように接続されてコイルを形成する。内部導体パターン間の電気的な接続は、周知のビアホールなどを利用して行う。コイルの両端は、それぞれ引出導体パターン24を介して積層体チップ外表面の相対向する端面に引き出され、外部電極に接続されることになる。
Another example of the multilayer inductor according to the present invention is shown in FIG. This is an example in which the inner conductor pattern forming the coil has approximately two turns per layer. The manufacturing method is the same as in the case of one turn. The
この構造の場合も本発明では、前記コイル内側での積層方向に垂直な内部磁路断面積をSI(=x×y)、コイル端部外側での積層方向に平行な外部磁路断面積をSU(=(x+y)×2×z)、積層体チップの積層方向に垂直な全断面積をSA(=L×W)としたとき、0.5<SU/SI≦1であって、且つ0.2≦SI/SAなる関係を満たすように設計する。なお、xとyは最も内側の内部導体パターンで囲まれるコイル内部磁路の縦横寸法である。 Also in the case of this structure, in the present invention, the internal magnetic path cross-sectional area perpendicular to the stacking direction inside the coil is SI (= xx), and the external magnetic path cross-sectional area parallel to the stacking direction is outside the coil end. SU (= (x + y) × 2 × z), where SA (= L × W) is the total cross-sectional area perpendicular to the stacking direction of the stack chip, 0.5 <SU / SI ≦ 1, and It is designed to satisfy the relationship of 0.2 ≦ SI / SA. X and y are the vertical and horizontal dimensions of the coil internal magnetic path surrounded by the innermost internal conductor pattern.
図4は、その変形例を示しており、Bは要部の拡大図である。内部導体パターン20の層とそれに対して間隔をおいて重なり合う別の内部導体パターン20の層の間すべてが磁性層ではなく電気絶縁性の非磁性層26になっている。このような非磁性層26は、2重に巻いた内部導体パターンを丁度覆うような(内部導体パターンによるコイルの最外周縁と最内周縁にほぼ一致する)四角枠状である。
FIG. 4 shows a modification thereof, and B is an enlarged view of a main part. Between the layer of the
内部導体パターンは、1層当たり1ターン未満でもよいが、上記のように1層当たり1ターン以上で3ターン以下とするのがよい。1層当たり1ターン未満の場合には、必要なインダクタンスを実現するために層数が多くなるため、高さ1mm以下の積層インダクタには不利となるし、他方、1層当たり3ターンを超えると、積層体チップの積層方向に垂直な全断面積を大きくできないので、コイル内部の磁路断面積が減少するため直流重畳特性向上の点で不利となるからである。 The inner conductor pattern may be less than one turn per layer, but as described above, it is preferable that the number of turns be not less than 1 turn and not more than 3 turns per layer. If the number of turns is less than 1 turn per layer, the number of layers increases to achieve the required inductance, which is disadvantageous for multilayer inductors with a height of 1 mm or less. On the other hand, if the number of turns exceeds 3 turns, This is because since the total cross-sectional area perpendicular to the stacking direction of the multilayer chip cannot be increased, the cross-sectional area of the magnetic path inside the coil is reduced, which is disadvantageous in terms of improving DC superposition characteristics.
具体的に、外形寸法3.2mm×2.5mm×0.5mmで、4.5ターンのコイルを形成した積層型のパワー用インダクタを例にとって説明する。内部導体パターン1層当たり1ターン未満の場合には、内部導体パターンは最少でも全5層となり、層間は4層となる。内部導体パターン1層当たり2.5ターンにすると、全2層でコイルが形成でき、層間は1層となる。両者において、直流抵抗が同じになるようにするには、後者では内部導体パターンの線幅が半減し、線間スペースを確保する分、印刷厚みで補う必要がある。例えば、前者の印刷厚みを20μm、層間を15μm、後者の印刷厚みを35μm、層間を15μmとした場合、表1に示すような構造上の差が生じる。ここで、後者におけるコイル上下での磁性層の厚みの増大は、そのまま直流重畳特性の向上につながる。 Specifically, a multilayer power inductor having an outer dimension of 3.2 mm × 2.5 mm × 0.5 mm and having a coil of 4.5 turns will be described as an example. When the number of internal conductor patterns is less than one turn, the total number of internal conductor patterns is at least 5 and the number of layers is 4 layers. If the number of turns is 2.5 per internal conductor pattern, a coil can be formed with a total of two layers, with one layer between layers. In order to make the DC resistance the same in both cases, it is necessary to compensate for the printing thickness by the amount that the line width of the internal conductor pattern is reduced by half and the space between the lines is secured in the latter. For example, when the former printing thickness is 20 μm, the interlayer is 15 μm, the latter printing thickness is 35 μm, and the interlayer is 15 μm, the structural differences shown in Table 1 occur. Here, the increase in the thickness of the magnetic layer above and below the coil in the latter directly leads to an improvement in the DC superposition characteristics.
また、図2あるいは図4に示すように、積層体チップの電気絶縁体は、その大部分を磁性体とし、内部導体パターンの層間すべてに非磁性層を配置する構成が好ましい。それによって内部導体パターンを取り囲む微小磁路ループの発生を防止し、交流損失の増加を抑制できるからである。 Further, as shown in FIG. 2 or FIG. 4, it is preferable that the electrical insulator of the multilayer chip is made of a magnetic material and a nonmagnetic layer is disposed between all the layers of the internal conductor pattern. This is because the occurrence of a minute magnetic path loop surrounding the inner conductor pattern can be prevented and an increase in AC loss can be suppressed.
積層体チップの外形寸法を一定にし、その内部に埋設するコイル形状が異なる数種類の試料について直流重畳特性を求めた。以下、その結果について述べる。 The DC superposition characteristics were determined for several types of samples with the same outer dimensions of the multilayer chip and different coil shapes embedded therein. The results will be described below.
(実施例1)
チップ外形寸法を全て2.5mm×2.0mm×0.5mm(L×W×H)とし、コイルの直流抵抗が一定になるように内部導体パターンを形成した。試料の種類は、表2に示す6種類である。試料a〜cは1層1ターン以下(具体的にはコの字型のほぼ3/4ターンのパターンを採用)であり、試料d〜fは1層2ターンの場合である。それぞれコイル内側での積層方向に垂直な内部磁路断面積SI、及びコイル端部外側での積層方向に平行な外部磁路断面積SUを変えている。なお、チップの積層方向のほぼ中央位置に非磁性層を挿入している。
Example 1
The chip outer dimensions were all 2.5 mm × 2.0 mm × 0.5 mm (L × W × H), and the internal conductor pattern was formed so that the DC resistance of the coil was constant. There are six types of samples shown in Table 2. Samples a to c are one turn or less per layer (specifically, a U-shaped pattern of approximately 3/4 turns is adopted), and samples df are cases where one layer is two turns. The internal magnetic path cross-sectional area SI perpendicular to the stacking direction inside the coil and the external magnetic path cross-sectional area SU parallel to the stacking direction outside the coil end are changed. Note that a nonmagnetic layer is inserted at a substantially central position in the stacking direction of the chips.
これらの積層インダクタにおける直流重畳特性を図5に示す。図5のAは、直流バイアスに対するインダクタンスの変化を表している。試料a,b,dは直流重畳特性の劣化が大きく、試料c,fは直流バイアス電流0Aでのインダクタンス(L@0Aで表す)が大幅に低下している。SI/SAに対するL@0Aの関係、及びSU/SIに対するインダクタンス30%減での直流バイアス(L30%減で表す)の関係をプロットしたのが図5のBである。SI/SAが0.2以下になるとL@0Aが急激に低下することが分かる。また、SU/SIが0.5未満ではL30%減が非常に小さくなることも分かる。 FIG. 5 shows the DC superposition characteristics of these multilayer inductors. A in FIG. 5 represents a change in inductance with respect to a DC bias. Samples a, b, and d have a large deterioration in DC superimposition characteristics, and samples c and f have greatly reduced inductance (represented by L @ 0A) at DC bias current 0A. FIG. 5B plots the relationship of L @ 0A to SI / SA and the relationship of DC bias (represented by L30% reduction) with a 30% reduction in inductance to SU / SI. It can be seen that L @ 0A rapidly decreases when SI / SA is 0.2 or less. It can also be seen that when SU / SI is less than 0.5, the L30% reduction is very small.
この結果から、チップ高さが0.5mmというような低背型の場合には、1層1ターン以下では良好な直流重畳特性を発現させることが極めて難しいことが分かる。 From this result, it can be seen that in the case of a low profile type with a chip height of 0.5 mm, it is extremely difficult to develop a good DC superposition characteristic with one turn or less per layer.
(実施例2)
チップ外形寸法を全て2.5mm×2.0mm×1.0mm(L×W×H)とし、コイルの直流抵抗が一定になるように内部導体パターンを形成した。試料の種類は、表3に示す6種類である。試料g〜iは1層1ターン以下(具体的にはコの字型のほぼ3/4ターンのパターンを採用)であり、試料j〜lは1層2ターンの場合である。それぞれコイル内側での積層方向に垂直な内部磁路断面積SI、及びコイル端部外側での積層方向に平行な外部磁路断面積SUを変えている。ここでも、チップの積層方向のほぼ中央位置に非磁性層を挿入している。
(Example 2)
The chip outer dimensions were all 2.5 mm × 2.0 mm × 1.0 mm (L × W × H), and the internal conductor pattern was formed so that the DC resistance of the coil was constant. There are six types of samples shown in Table 3. Samples g to i are 1 turn or less per layer (specifically, a U-shaped pattern of approximately 3/4 turns is adopted), and samples j to l are cases where 1 layer is 2 turns. The internal magnetic path cross-sectional area SI perpendicular to the stacking direction inside the coil and the external magnetic path cross-sectional area SU parallel to the stacking direction outside the coil end are changed. Also here, a nonmagnetic layer is inserted at a substantially central position in the stacking direction of the chips.
これらの積層インダクタにおいては、直流重畳特性を図6に示す。図6のAは、直流バイアスに対するインダクタンスの変化を表している。試料j,k,lは直流バイアス電流0Aでのインダクタンス(L@0Aで表す)が大幅に低下している。SI/SAに対するL@0Aの関係、及びSU/SIに対するインダクタンス30%減での直流バイアス(L30%減で表す)の関係をプロットしたのが図6のBである。SI/SAが0.2以下になるとL@0Aが急激に低下することが分かる。 In these multilayer inductors, DC superposition characteristics are shown in FIG. A in FIG. 6 represents a change in inductance with respect to a DC bias. In the samples j, k, and l, the inductance (represented by L @ 0A) at the DC bias current 0A is greatly reduced. FIG. 6B plots the relationship of L @ 0A to SI / SA and the relationship of DC bias (represented by L30% reduction) with a 30% reduction in inductance to SU / SI. It can be seen that L @ 0A rapidly decreases when SI / SA is 0.2 or less.
チップ高さが1.0mmというように比較的高い場合には、1層1ターン以下でもある程度良好な直流重畳特性を発現させることが可能であることが分かる。しかし、試料g,h(いずれも1層1ターン以下)に比べて試料j(1層2ターン)の方が直流重畳特性は良好である。
When the chip height is relatively high, such as 1.0 mm, it can be seen that good DC superposition characteristics can be exhibited even with one turn or less per layer. However, the direct current superimposition characteristic is better in the sample j (1 layer 2 turns) than in the samples g and h (both 1
10 積層インダクタ
12 外部電極
20 内部導体パターン
22 磁性層
24 引出導体パターン
26 非磁性層
DESCRIPTION OF
Claims (3)
コイル内側での積層方向に垂直な内部磁路断面積をSI、コイル端部外側での積層方向に平行な外部磁路断面積をSU、積層体チップの積層方向に垂直な全断面積をSAとしたとき、0.5<SU/SI≦1且つ0.2≦SI/SAなる関係を満たすようにしたことを特徴とする積層インダクタ。 A magnetic layer and an internal conductor pattern which are electrical insulators are alternately stacked and the internal conductor patterns are sequentially connected to form a coil that spirals around the electrical insulator in the stacking direction. In the multilayer inductor having a structure in which both ends of each are drawn to the outer surface of the multilayer chip through the lead conductor pattern and connected to the external electrode,
The internal magnetic path cross-sectional area perpendicular to the stacking direction inside the coil is SI, the external magnetic path cross-sectional area parallel to the stacking direction outside the coil end is SU, and the total cross-sectional area perpendicular to the stacking direction of the multilayer chip is SA. The multilayer inductor is characterized in that the relationship of 0.5 <SU / SI ≦ 1 and 0.2 ≦ SI / SA is satisfied.
3. The multilayer inductor according to claim 1, wherein most of the electrical insulator constituting the multilayer chip is made of a magnetic material, and a nonmagnetic layer is disposed between layers of the internal conductor pattern.
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