JP2007315862A - 計数装置、絞り制御装置およびカメラ - Google Patents

Abstract

【課題】絞り制御を行う際の分解能を向上する。
【解決手段】制御回路１０１は、レリーズ動作開始後、フォトインタラプタ４６０から出力されるパルス信号が所定のパルス数Ａに達した時点で、矩形波１周期あたりのＯＮ／ＯＦＦ時間比を計測する。制御回路１０１は、計測したＯＮ／ＯＦＦ時間比に基づいて、ＰＩ抵抗１０３の抵抗値Ｒを補正して、ＬＥＤ４６２の発光光量を制御する。すなわち、制御回路１０１は、ＬＥＤ４６２の発光光量を制御することでフォトインタラプタ４６０の検出感度、すなわちフォトインタラプタ４６０の応答特性を変更して、矩形波の欠損を防止する。
【選択図】図３

Description

本発明は、非接触で計数する計数装置と、この計数装置を用いた絞り制御装置およびカメラに関する。

カメラ等に使用される絞り制御装置では、レンズに設けられた絞りをカメラ側の絞り駆動レバーで駆動する。カメラ側の絞り駆動レバーの駆動量は、ギヤ列により増速・拡大し、ギヤの回転数としてフォトカプラ等により検出される。そしてこの検出値が所定の値となったとき、ギヤ列に対して制動をかけて当該ギヤ列とギヤ列に連動している絞り駆動レバーを停止させることで所望の絞り値を得る。絞り制御の精度を向上させるために、絞り駆動時の駆動特性の変化を補正する絞り制御装置が知られている（特許文献１参照）。

特開平８−７６１７１号公報

従来の絞り制御装置では、スリットを設けた円盤の回転によって得られる、フォトインタラプタのパルス信号数を計数してギヤの回転数を算出している。絞り制御の精度を向上させるためには、スリットの間隔を狭めることで円盤１回転当たりのスリット数を増やして分解能を挙げることが考えられる。しかし、従来の絞り制御装置では、円盤のスリットの間隔を狭めると、フォトインタラプタの検出部を通過するスリット数を正確に検出できなくなるため、絞り制御の精度をさらに向上させるのが困難である。

（１） 請求項１の発明による計数装置は、計数対象物の変化を非接触で検出する検出手段と、検出手段で検出した結果に基づいて変化を計数する計数手段と、検出手段の応答特性を変更する変更手段とを備えることを特徴とする。
（２） 請求項２の発明は、請求項１に記載の計数装置において、検出手段は、発光部と、発光部が発する光を受光する受光部とを有し、計数対象物の変化を受光部が受光する光の強度変化で検出する光学検出手段であり、変更手段は、発光部の光量を変更することによって応答特性を変更することを特徴とする。
（３） 請求項３の発明は、請求項２に記載の計数装置において、変更手段は、抵抗値を変更することで発光部を流れる電流を変更して発光部の光量を変更することを特徴とする。
（４） 請求項４の発明は、請求項１〜３のいずれか一項に記載の計数装置において、変更手段は、検出手段で計数対象物の変化を検出した結果に基づいて、応答特性を変更することを特徴とする。
（５） 請求項５の発明は、請求項１〜３のいずれか一項に記載の計数装置において、検出手段近傍の温度を検出する温度検出手段をさらに備え、変更手段は、温度検出手段で検出した検出手段近傍の温度に基づいて、応答特性を変更することを特徴とする。
（６） 請求項６の発明によるカメラの絞り制御装置は、レンズの絞りを駆動する絞り駆動部材と、請求項１〜５のいずれか一項に記載の計数装置を用いて絞りの状態を検出する絞り検出装置と、絞り駆動部材と連動して駆動されて絞りの状態を絞り検出手段に伝達する伝達部材とを備えることを特徴とする。
（７） 請求項７の発明によるカメラは、請求項６に記載の絞り制御装置を備えることを特徴とする。

本発明による計数装置では、計数精度を向上できる。また、この計数装置を備えたカメラの絞り制御装置では、絞り制御の精度を向上できる。さらに、この絞り制御装置を備えたカメラでは、ユーザの所望する画質で安定的に撮像できる。

図１〜６を参照して、本発明による計数装置をカメラの絞り制御装置に適用した一実施の形態を説明する。図１は、本発明による計数装置を適用した電子カメラである、一眼レフタイプのカメラボディ１と、カメラボディ１に装着する撮影レンズ２を示した斜視図である。カメラボディ１にはレリーズボタン４と、撮像素子であるＣＣＤ５と、カメラボディ１の各部を制御する制御回路１０１と、絞り機構４００とが設けられている。３０１は、撮影レンズ２からの被写体像をＣＣＤ５に導くための撮影光路であり、３２１は、メインミラーである。本実施の形態の電子カメラでは、制御回路１０１からの制御信号によってＣＣＤ５の電荷の蓄積時間を制御する、いわゆる電子シャッタと呼ばれるもので露出時間を制御する。カメラボディ１に撮影レンズ２を装着すると、レンズ側絞りレバー３とカメラ側の絞りレバー４０４の当接部４０４ｂとが当接する。レンズ側絞りレバー３は、カメラ側の絞りレバー（以下、単に絞りレバーと呼ぶ）４０４により駆動されて所定の絞り値に制御される。

図２は、カメラボディ１に組み込まれる絞り機構４００の構造を概念的に示す図であり、レリーズ動作開始前の状態を示している。絞り機構４００は、駆動モータ４０２と、駆動レバー４０３と、上述した絞りレバー４０４と、拡大ギヤ列４０７と、ラチェットギヤ４１０と、スリット円盤４１１と、フォトインタラプタ４６０と、係止レバー４０９と、マグネット４０８と、リセットレバー４１３とを有する。絞り機構４００は、撮影レンズ２の絞りを制御する絞り制御装置である。

駆動モータ４０２は、絞り込み動作を行う際の動力源であり、軸４０２ａが回転駆動されると軸４０２ａに取り付けられた当接部４０２ｂが図示左右方向に移動して、後述するように、駆動レバー４０３を駆動する。駆動レバー４０３は、軸ＡＸ１を中心に回動可能に軸支されたレバーであり、腕４０３ａ，４０３ｂと、当接部４０３ｃと、カム部４０３ｄ，４０３ｅとを備えている。駆動レバー４０３は、バネ４５１によって図示反時計方向に付勢され、駆動モータ４０２の軸４０２ａに取り付けられた当接部４０２ｂに腕４０３ａが当接することで、図示反時計方向への回動が規制されている。腕４０３ｂは、メインミラー３２１の当接部３２１ａに当接している。なお、メインミラー３２１は、軸ＡＸ２を中心に回動可能に軸支され、バネ３５１によって図示時計方向に付勢されている。

当接部４０３ｃは、絞りレバー４０４の後述する当接部４０４ｃと当接している。カム部４０３ｄ，４０３ｅは、リセットレバー４１３の一端に設けられたカムフォロアと当接する。カム部４０３ｄは、軸ＡＸ１を中心とするカム部４０３ｄの高さがカム部４０３ｅの高さよりも高くなるように形成されている。

絞りレバー４０４は、軸ＡＸ１を中心に回動可能に軸支されたレバーであり、レンズの絞りを駆動する絞り駆動部材である。絞りレバー４０４は、腕４０４ａと、当接部４０４ｃと、扇形ギヤ部４０４ｄとを備えている。絞りレバー４０４は、バネ４５２を介して駆動レバー４０３と連結され、バネ４５２によって図示時計方向に付勢されている。絞りレバー４０４は、当接部４０４ｃが駆動レバー４０３の当接部４０３ｃと当接することで、図示時計方向への回動が規制されている。腕４０４ａの先端には、上述した当接部４０４ｂが設けられ、カメラボディ１に装着した撮影レンズ２のレンズ側絞りレバー３と当接する。扇形ギヤ部４０４ｄは、軸ＡＸ１を中心とした円弧に沿って設けられた扇状のギヤ部分であり、後述する拡大ギヤ列４０７の入力側（低速側）のギヤと噛合している。

拡大ギヤ列４０７は、絞りレバー４０４の回転量を拡大するギヤ列であり、入力側（低速側）のギヤにラチェットギヤ４１０が取り付けられ、出力側（高速側）のギヤにスリット円盤４１１が取り付けられている。拡大ギヤ列４０７は、絞りレバー４０４の回転量をフォトインタラプタ４６０に伝達する伝達部材である。スリット円盤４１１にはスリット（小穴）４１１ａが円周方向に沿って等間隔で複数設けられ、このスリット円盤４１１を挟み込むようにフォトインタラプタ４６０が設けられている。フォトインタラプタ４６０は、スリット円盤４１１の回転によって検出部の近傍を小穴４１１ａが移動すると、小穴４１１ａの位置に応じてオンオフ信号（パルス信号）を出力する光学式のセンサである。フォトインタラプタ４６０の詳細については後述する。

係止レバー４０９は、軸ＡＸ３に回動可能に支持されたレバーであり、一端にはラチェットギヤ４１０に係合する係合部４０９ａと、マグネット４０８に吸着されるアーマチャ４０９ｂとが設けられている。係止レバー４０９の他端にはバネ４５３の一端が取り付けられている。バネ４５３の他端は後述するリセットレバー４１３に取り付けられている。係止レバー４０９は、バネ４５３によって図示時計方向に付勢されている。

リセットレバー４１３は、軸ＡＸ３に回動可能に支持されたレバーであり、一方側の腕４１３ａの先端にカムフォロア４１３ｂが設けられている。リセットレバー４１３は、他方側の腕に接続されたバネ４５４によって図示時計方向に付勢され、カムフォロア４１３ｂが駆動レバー４０３のカム部４０３ｄまたはカム部４０３ｅに当接することで、図示時計方向への回動が規制されている。一方側の腕４１３ａには、マグネット４０８が取り付けられている。

図３は、カメラボディ１の回路構成のうち、絞り機構４００に関する要部を示す図である。制御回路１０１には、レリーズスイッチ４ａと、駆動モータ４０２と、マグネット４０８と、フォトインタラプタ４６０とが接続されている。レリーズスイッチ４ａは、レリーズボタン４の押圧操作によってオンオフされるスイッチである。フォトインタラプタ４６０には、スリット円盤４１１を挟み込むように対面する検出部４６１が設けられている。検出部４６１には、スリット円盤４１１を挟み込むように発光ダイオード（ＬＥＤ）４６２と受光素子４６３とが対面して配設されている。

制御回路１０１には、メモリ１０２と、フォトインタラプタ（ＰＩ）抵抗１０３と、トランジスタ１０４と、温度センサ１０５とが接続されている。メモリ１０２は、ＰＩ抵抗１０３の後述する設定抵抗値や初期値を記憶するメモリである。ＰＩ抵抗１０３は、ＬＥＤ４６２に流れる電流を制限する抵抗であり、その抵抗値Ｒが制御回路１０１によって制御される。トランジスタ１０４は、ＬＥＤ４６２を点灯または消灯させるスイッチとしての役割を果たし、制御回路１０１からの信号によって、ＬＥＤ４６２を点灯または消灯させる。温度センサ１０５は、温度検出手段としての、フォトインタラプタ４６０の近傍の温度を検出するためのセンサである。

−−−絞り機構４００の動作について−−−
このように構成される絞り機構４００は、次のように動作する。レリーズボタン４が押圧されると、レリーズスイッチ４ａからレリーズ信号が制御回路１０１へ出力される。制御回路１０１は、レリーズ信号が入力されると駆動モータ４０２の駆動を開始することでレリーズ動作を開始する。駆動モータ４０２が駆動されると当接部４０２ｂが図示右方向に移動して、腕４０３ａ（駆動レバー４０３）を、図示時計方向に駆動する。駆動レバー４０３が図示時計方向に回動されると、腕４０３ｂがミラー３２１の当接部３２１ａを押圧してメインミラー３２１を図示反時計方向に回動させてミラーアップさせる。

また、駆動レバー４０３が図示時計方向に回動されると、当接部４０３ｃも図示時計方向に回動するので、バネ４５２の付勢力、および、レンズ側絞りレバー３からの付勢力によって絞りレバー４０４が図示時計方向に回動される。上述のように、扇形ギヤ部４０４ｄが拡大ギヤ列４０７の入力側のギヤと噛合しているので、駆動レバー４０３の回動量は、拡大ギヤ列４０７によって拡大され、スリット円盤４１１の回転量として、フォトインタラプタ４６０で検出される。すなわち、フォトインタラプタ４６０の検出部を通過する小穴４１１ａの通過数に等しいパルス信号がフォトインタラプタ４６０から制御回路１０１へ出力される。

制御回路１０１は、不図示の測光装置で検出された被写体の明るさに基づいて公知の測光演算を行い、制御絞り値を演算する。制御回路１０１は、フォトインタラプタ４６０から出力されるパルス信号の数（パルス数）が、所定の目標パルス数に達したと判断すると、マグネット４０８を所定の時間だけ励磁して、マグネット４０８に吸着されていたアーマチャ４０９ｂを釈放する。これにより、係止レバー４０９は、バネ４５３の付勢力によって図示時計方向に回動し、係合部４０９ａをラチェットギヤ４１０に係合させてラチェットギヤ４１０の回動を停止させる。

ラチェットギヤ４１０の回動が停止されると、ラチェットギヤ４１０が取り付けられた拡大ギヤ列４０７の入力側のギヤ、および、このギヤと噛合する扇形ギヤ部４０４ｄ（すなわち絞りレバー４０４）の回動が停止する。これにより、絞りレバー４０４の当接部４０４ｂに追従してレンズ側絞りレバー３がレンズ側のバネ３５１の付勢力で駆動されて、撮影レンズ２が制御絞り値となるように絞り込まれる。

ラチェットギヤ４１０の回動停止後も、駆動レバー４０３は図示時計方向へ回動し続けるので、当初駆動レバー４０３のカム部４０３ｄに当接していたカムフォロア４１３ｂがカム部４０３ｅと当接するようになる。これにより、リセットレバー４１３とマグネット４０８とがバネ４５４の付勢力によって図示時計方向に回動されるので、マグネット４０８が釈放したアーマチャ４０９ｂを再び吸着する。

次いで、周知の装置により不図示のシャッタが作動して撮影動作が行われ、被写体像がＣＣＤ５で撮像されると、引き続き各部のリセット動作が行われる。以下、リセット動作について説明する。リセット動作では、制御回路１０１は、レリーズ動作のときとは逆方向に駆動モータ４０２を駆動させる。駆動モータ４０２が逆方向に駆動されると当接部４０２ｂが図示左方向に移動するので、バネ４５１の付勢力によって腕４０３ａ、すなわち駆動レバー４０３が図示反時計方向に回動される。これにより、当接部３２１ａを押圧していた腕４０３ｂが図示反時計方向に回動するので、メインミラー３２１はバネ３５１の付勢力によって図示時計方向に回動されてミラーダウンする。

駆動レバー４０３が図示反時計方向に回動されると、カム部４０３ｄがカムフォロア４１３ｂを押圧して、リセットレバー４１３とマグネット４０８とを図示反時計方向に回動させる。マグネット４０８にはアーマチャ４０９ｂが吸着されているので、係止レバー４０９も同様に図示反時計方向に回動する。これにより、係合部４０９ａとラチェットギヤ４１０との係合が解除され、増速ギヤ列４０７および扇形ギヤ部４０４ｄ（すなわち絞りレバー４０４）の回動が可能となる。

さらに駆動レバー４０３が図示反時計方向へ回動されると、駆動レバー４０３の当接部４０３ｃと絞りレバー４０４の当接部４０４ｃとが当接して絞りレバー４０４を図示反時計方向に回動させる。これにより、レンズ側絞りレバー３がレンズ側のバネ３５１の付勢力に抗して駆動されて、撮影レンズ２の絞りが開放され、リセット動作が終了する。

−−−フォトインタラプタ４６０について−−−
フォトインタラプタ４６０は、ＬＥＤ４６２が発する光を受光素子４６３で受光したか否かによって異なる信号を出力する素子であり、計数対象物であるスリット円盤４１１の小穴４１１ａの位置の変化を非接触で検出する検出手段（光学検出手段）である。たとえば、フォトインタラプタ４６０では、ＬＥＤ４６２が発する光を受光素子４６３で受光するとオン信号を出力し、ＬＥＤ４６２が発する光を受光素子４６３で受光できない場合には、オフ信号を出力する。

図４（ａ），（ｂ）は、フォトインタラプタ４６０とスリット円盤４１１とを示す図であり、図４（ａ）は外観を示す図であり、図４（ｂ）は、図４（ａ）のＢ−Ｂ矢視断面図である。スリット円盤４１１の回転によって検出部４６１を小穴４１１ａが順次移動すると、ＬＥＤ４６２の発する光が小穴４１１ａを通過したり、スリット円盤４１１の小穴４１１ａが設けられていない部分（以下、遮光部と呼ぶ）４１１ｂで遮られたりする。受光素子４６３は、受光した光を光電変換して電気信号を出力する。受光素子４６３から出力される電気信号はさらにＡ／Ｄ変換されて制御回路１０１へ出力される。したがって、スリット円盤４１１の回転に伴い、図５に示すような矩形波のパルス信号がフォトインタラプタ４６０から出力される。

電子カメラや銀塩フィルムを用いるカメラでは、上述したレリーズ動作における絞り制御を行う際の分解能を向上させるため、スリット円盤４１１における小穴４１１ａの間隔を狭めて小穴４１１ａの数を増やすことが要請されている。しかし、スリット円盤４１１における小穴４１１ａの間隔を狭めると、図４（ｂ）に示すように、隣り合った２つの小穴（小穴１４１１ａと小穴２４１１ａ）の双方を通過した光を受光素子４６３で同時に受光してしまう。すなわち、スリット円盤４１１における小穴４１１ａの間隔を狭めると、ＬＥＤ４６２から発せられた光が遮光部４１１ｂで十分に遮られないこととなる。その結果、オフ信号が出力されなくなってフォトインタラプタ４６０から出力される矩形波が欠けてしまい、制御回路１０１へ出力されるパルス数が少なくなってしまう。

なお、受光素子４６３の受光感度はフォトインタラプタ４６０の個体毎に異なる。そのため、感度の高い個体では、小穴４１１ａの間隔を狭めていなくても、上述したように隣り合った小穴１４１１ａと小穴２４１１ａの双方からの光を同時に検出してフォトインタラプタ４６０から出力される矩形波が欠けてしまう恐れがある。このような矩形波の欠損を防止するためには小穴４１１ａの間隔を広げればよいが、絞り制御を行う際の分解能を向上させるという要請に反することとなる。

絞り制御を行う際の分解能を向上させるために、小穴４１１ａの間隔とともに、小穴４１１ａ自体の幅も狭めることが考えられる。しかし、幅が狭められることで小穴４１１ａから透過する光の光量が減ると、感度の低い個体では受光素子４６３で十分に光電変換できず、オン信号が出力されなくなってフォトインタラプタ４６０から出力される矩形波が欠けてしまう恐れがある。

さらに、受光素子４６３の受光感度や、ＬＥＤ４６２の発光光量には温度依存性が存在するため、フォトインタラプタ４６０としての検出感度が温度によって変化する。そこで、本実施の形態の電子カメラでは、温度センサ１０５で検出したフォトインタラプタ４６０の近傍の温度と、フォトインタラプタ４６０から出力される矩形波のオン信号の出力時間とオフ信号の出力時間との比率とに基づいて、ＰＩ抵抗１０３の抵抗値Ｒを変更して、ＬＥＤ４６２の発光光量を制御する。すなわち、ＬＥＤ４６２の発光光量を制御することでフォトインタラプタ４６０の検出感度、すなわちフォトインタラプタ４６０の応答特性を変更して、矩形波の欠損を防止する。

−−−ＬＥＤ４６２の発光光量制御−−−
不図示の電源スイッチがオンされた後の初回のレリーズ動作において、制御回路１０１は、あらかじめメモリ１０２に格納されているＰＩ抵抗１０３の抵抗値Ｒの値（初期値）を、温度センサ１０５の検出温度に応じて補正し、初期値に代えて補正した抵抗値をＰＩ抵抗１０３の抵抗値Ｒとして設定する。レリーズ動作時に、ＬＥＤ４６２に通電されると、ＬＥＤ４６２に流れる電流が抵抗値補正後のＰＩ抵抗１０３で制限される。この状態で一旦撮像動作が行われる。

なお、上述した抵抗値Ｒの補正（温度補償）に際しては、温度センサ１０５の検出温度に基づいて所定の関係式を用いて補正値を演算し、抵抗値Ｒの初期値を演算した補正値で補正することとしても良い。また、温度センサ１０５の検出温度に基づいて、あらかじめ定められた所定のマップから補正値を読み出して、抵抗値Ｒの初期値を読み出した補正値で補正することとしても良い。

電源スイッチがオンされた後の初回のレリーズ動作において、あらかじめ定められたパルス数Ａに達するまで、フォトインタラプタ４６０からパルス信号が出力されると、制御回路１０１は、パルス数Ａに達した時点における矩形波１周期あたりのオン信号の出力時間とオフ信号の出力時間との比率を計測する。ここで、図５に示すように、矩形波の１周期の時間をＴａとし、矩形波の１周期中のオン信号の出力時間をＴｂとして、矩形波の１周期中のオン信号の出力時間の割合（Ｔｂ／Ｔａ）をＯＮ／ＯＦＦ時間比と定義する。なお、絞り込み動作開始直後は絞りレバー４０４の速度変化率が大きいため、正確なＯＮ／ＯＦＦ時間比を計測できない。そのため、絞り込み動作開始直後にＯＮ／ＯＦＦ時間比を計測しないように、パルス数Ａは、絞りレバー４０４の回動速度がある程度安定するパルス数に設定されている。

パルス数を正確に計測するためには、フォトインタラプタ４６０から出力されるパルス信号は、矩形波１周期あたりのオン信号の出力時間とオフ信号の出力時間との比率が略等しくなることが望ましい。すなわちＯＮ／ＯＦＦ時間比が略０．５となることが望ましい。

そこで、本実施の形態の電子カメラでは、レリーズ動作中にＯＮ／ＯＦＦ時間比を計測し、計測したＯＮ／ＯＦＦ時間比に応じて抵抗値Ｒを補正して、次回のレリーズ時には、ＯＮ／ＯＦＦ時間比に応じて補正された抵抗値Ｒに基づいて抵抗値Ｒが温度補償されるようにしている。すなわち、レリーズ動作中に計測したＯＮ／ＯＦＦ時間比が０．４以下であるか、０．６以上である場合、たとえば次式（１）によって抵抗値Ｒを補正する。
Ｒ＝Ｘ＋Ｙ×（Ｔｂ／Ｔａ） ・・・（１）
ここで、Ｘ，Ｙはそれぞれあらかじめ定められた値である。

次回のレリーズ時には、（１）式で補正した抵抗値Ｒを初期値として、上述した温度補正を行う。なお、レリーズ動作中に計測したＯＮ／ＯＦＦ時間比が０．４を超え、かつ、０．６未満である場合には、（１）式による補正は行わない。

なお、制御回路１０１は、上述したようにフォトインタラプタ４６０が出力するパルス信号に基づいて、スリット円盤４１１の回転数を計数する計数手段であり、フォトインタラプタ４６０の応答特性を変更する変更手段でもある。フォトインタラプタ４６０と制御回路１０１によって計数装置が構成されている。

−−−フローチャート−−−
図６は、上述の動作をソフトウェアとして実現するためのフローチャートを示している。不図示の電源スイッチがＯＮとなると、図６に示す処理を行うプログラムが起動されて制御回路１０１で実行される。ステップＳ１において、レリーズスイッチ４ａがオンされるまで待機する。ステップＳ１が肯定判断されるとステップＳ３へ進み、抵抗値Ｒの初期値をメモリ１０２から読み込んでステップＳ５へ進む。

ステップＳ５において、上述したように抵抗値Ｒの温度補償を行ってステップＳ７へ進む。ステップＳ７において、ステップＳ５における温度補償後の値を抵抗値Ｒに設定してステップＳ９へ進む。ステップＳ９において、ＬＥＤ４６２への通電を開始するようにトランジスタ１０４へ信号を出力して、ステップＳ１１へ進む。

ステップＳ１１において、駆動モータ４０２の駆動を開始してステップＳ１３へ進む。ステップＳ１３において、別途演算された制御絞り値が開放絞り値であるか否かを判断する。ステップＳ１３が否定判断されるとステップＳ１５へ進む。ステップＳ１５において、制御絞り値から算出される目標パルス数があらかじめ定められたパルス数Ａ以上であるか否かを判断する。ステップＳ１５が肯定判断されるとステップＳ１７へ進み、パルス数Ａに達した時点におけるＯＮ／ＯＦＦ時間比を計測する。

ステップＳ１７が実行されるとステップＳ２１およびステップＳ４１へ進む。ステップＳ２１において、フォトインタラプタ４６０から出力されるパルス信号のパルス数（計測パルス数）が目標パルス数に達するまで待機する。ステップＳ２１が肯定判断されるとステップＳ２３へ進み、アーマチャ４０９ｂの釈放に必要な所定の時間だけマグネット４０８を励磁してステップＳ２５に進む。ステップＳ２５において所定時間待機した後ステップＳ２７へ進み、不図示のシャッタ機構を動作させてステップＳ２９へ進む。

ステップＳ２９において、ＬＥＤ４６２を消灯するようにトランジスタ１０４へ信号を出力して、ステップＳ３１へ進む。ステップＳ３１において、公知の露光シーケンス動作を実行してステップＳ３３へ進む。ステップＳ３３において、上述したリセット動作を実行させてリターンする。

ステップＳ４１において、ステップＳ１７で計測したＯＮ／ＯＦＦ時間比が０．４を超え、かつ、０．６未満であるか否かを判断する。ステップＳ４３が否定判断されるとステップＳ４３へ進み、上述した（１）式で抵抗値Ｒを補正し、この値を抵抗値Ｒの初期値としてメモリ１０２に記憶させてリターンする。ステップＳ４１が肯定判断されるとリターンする。

ステップＳ１３が肯定判断されるとステップＳ２３へ進む。また、ステップＳ１５が否定判断されるとステップＳ２１へ進む。

上述した電子カメラでは、次の作用効果を奏する。
（１） フォトインタラプタ４６０の応答特性を変更するように構成したので、個体毎に感度が異なるフォトインタラプタ４６０を用いても、矩形波の欠損を防止できる。これにより、スリット円盤４１１の小穴４１１ａの数を増やすことができ、絞り制御を行う際の分解能を向上できる。すなわち絞り制御の精度を向上できる。また、フォトインタラプタ４６０に課される感度条件を緩和できるので、安価なフォトインタラプタを採用できるようになり、電子カメラの製造コストを低減できる。

（２） ＬＥＤ４６２の発光光量を制御することでフォトインタラプタ４６０の応答特性を変更するように構成した。ＬＥＤ４６２の発光光量は、ＬＥＤ４６２に流れる電流によって制御できるのでフォトインタラプタ４６０の外部から容易に変更できる。また、ＰＩ抵抗１０３の抵抗値Ｒを変更することでＬＥＤ４６２の発光光量を制御するように構成した。これにより、簡単な回路構成でフォトインタラプタ４６０の応答特性を変更できるので、設計変更も僅かで済み、絞り機構４００および電子カメラの開発コストも低減できる。

（３） パルス数Ａに達した時点におけるＯＮ／ＯＦＦ時間比によってフォトインタラプタ４６０の応答特性を変更するように構成したので、フォトインタラプタ４６０が組み込まれた電子カメラ毎に適切な応答特性となるように変更できる。したがって、電子カメラ毎にフォトインタラプタ４６０の応答特性の再調整をする必要がなくなるので、製造コストを削減できる。

（４） 計測したＯＮ／ＯＦＦ時間比に基づいて次回のレリーズ動作時のフォトインタラプタ４６０の応答特性を変更するように構成した。これにより、フォトインタラプタ４６０が出力するパルス信号のＯＮ／ＯＦＦ時間比を、パルス数を正確に計測するために望ましいとされる略０．５に近づけることができるので、絞り込み精度を向上できる。

（５） 温度センサ１０５で検出したフォトインタラプタ４６０の近傍の温度に基づいて温度補償を行うように構成した。したがって、フォトインタラプタ４６０の検出感度が温度によって変化することを抑制できるので、電子カメラ周辺の雰囲気温度や電子カメラの使用に伴う発熱によって、絞り込み精度へ悪影響が及ぶのを防止できる。これにより、電子カメラの絞り込み精度が安定するので、ユーザの所望する画質を安定的に確保できる。

−−−変形例−−−
（１） 上述の説明では、温度センサ１０５で検出したフォトインタラプタ４６０の近傍の温度、および、計測したＯＮ／ＯＦＦ時間比に応じてＰＩ抵抗１０３の抵抗値Ｒを補正するように構成したが、本発明はこれに限定されない。たとえば、温度センサ１０５の検出温度のみによってＰＩ抵抗１０３の抵抗値Ｒを補正してもよく、計測したＯＮ／ＯＦＦ時間比のみによってＰＩ抵抗１０３の抵抗値Ｒを補正してもよい。

（２） 上述の説明では、ＰＩ抵抗１０３の抵抗値Ｒを変更することでＬＥＤ４６２の発光光量を変更するように構成したが、本発明はこれに限定されない。ＬＥＤ４６２の発光光量を変更できるのであれば、電源側の電圧（印加電圧）を変更してＬＥＤ４６２に流れる電流値を変更しても良い。

（３） 上述の説明では、計測したＯＮ／ＯＦＦ時間比に応じて、発光側であるＬＥＤ４６２の発光光量を変更することでフォトインタラプタ４６０の応答特性を変更するように構成したが、本発明はこれに限定されない。たとえば、受光素子４６３から出力される電気信号をＡ／Ｄ変換する際に、どの程度の電気信号レベルを境にオン信号を出力するかオフ信号を出力するかという、Ａ／Ｄ変換の特性を変更することでフォトインタラプタ４６０の応答特性を変更するように構成することもできる。このように、受光側の感度をフォトインタラプタ４６０の外部から変更できるように構成した場合には、上述したようなＯＮ／ＯＦＦ時間比に応じたフォトインタラプタ４６０の応答特性の変更はしなくてもよい。

（４） 上述の説明では、本発明による計数装置を電子カメラの絞り機構４００に適用した実施例を説明したが、本発明はこれに限定されず、フォトインタラプタを用いた他の計数装置にも適用可能である。たとえば、フォトインタラプタを用いて電子カメラのレンズの駆動量を検出するなど、電子カメラにおける絞り機構４００以外の可動部分の駆動量や位置の検出装置に本発明を適用してもよい。また、電子カメラ以外の各種装置における計数装置に本発明を適用してもよい。

（５） 上述の説明では、フォトインタラプタ４６０の応答特性を変更するように構成したが、本発明はこれに限定されず、ホール素子などの磁力を用いた計数装置など、非接触で計数可能な計数装置に本発明を適用できる。たとえば、ホール素子を用いた計数装置の場合には、発生させる磁力の強さを制御することによって、上述の説明と同様にホール素子の応答特性を変更できる。
（６） 上述した各実施の形態および変形例は、それぞれ組み合わせてもよい。

なお、本発明は、上述した実施の形態のものに何ら限定されず、計数対象物の変化を非接触で検出する検出手段と、検出手段で検出した結果に基づいて変化を計数する計数手段と、検出手段の応答特性を変更する変更手段とを備える各種構造の計数装置や、この計数装置を備えたカメラの絞り制御装置、この絞り制御装置を備えたカメラを含むものである。

本発明による計数装置を適用した電子カメラである、一眼レフタイプのカメラボディ１と、カメラボディ１に装着する撮影レンズ２を示した斜視図である。 カメラボディ１に組み込まれる絞り機構４００の構造を概念的に示す図である。 カメラボディ１の回路構成を示す図である。 フォトインタラプタ４６０とスリット円盤４１１とを示す図であり、（ａ）は外観を示す図であり、（ｂ）は（ａ）のＢ−Ｂ矢視断面図である。 フォトインタラプタ４６０から出力されるパルス信号を示すグラフである。 制御回路１０１で実行されるプログラムのフローチャートである。

符号の説明

１ カメラボディ ２ 撮影レンズ
３ レンズ側絞りレバー １０１ 制御回路
１０３ フォトインタラプタ（ＰＩ）抵抗 １０５ 温度センサ
４００ 絞り機構 ４０４ カメラ側の絞りレバー（絞りレバー）
４０７ 拡大ギヤ列 ４１１ スリット円盤
４６０ フォトインタラプタ ４６１ 検出部
４６２ 発光ダイオード（ＬＥＤ） ４６３ 受光素子

Claims (7)

1. 計数対象物の変化を非接触で検出する検出手段と、
   前記検出手段で検出した結果に基づいて前記変化を計数する計数手段と、
   前記検出手段の応答特性を変更する変更手段とを備えることを特徴とする計数装置。
2. 請求項１に記載の計数装置において、
   前記検出手段は、発光部と、前記発光部が発する光を受光する受光部とを有し、前記計数対象物の変化を前記受光部が受光する光の強度変化で検出する光学検出手段であり、
   前記変更手段は、前記発光部の光量を変更することによって前記応答特性を変更することを特徴とする計数装置。
3. 請求項２に記載の計数装置において、
   前記変更手段は、抵抗値を変更することで前記発光部を流れる電流を変更して前記発光部の光量を変更することを特徴とする計数装置。
4. 請求項１〜３のいずれか一項に記載の計数装置において、
   前記変更手段は、前記検出手段で前記計数対象物の変化を検出した結果に基づいて、前記応答特性を変更することを特徴とする計数装置。
5. 請求項１〜３のいずれか一項に記載の計数装置において、
   前記検出手段近傍の温度を検出する温度検出手段をさらに備え、
   前記変更手段は、前記温度検出手段で検出した前記検出手段近傍の温度に基づいて、前記応答特性を変更することを特徴とする計数装置。
6. レンズの絞りを駆動する絞り駆動部材と、
   請求項１〜５のいずれか一項に記載の計数装置を用いて前記絞りの状態を検出する絞り検出装置と、
   前記絞り駆動部材と連動して駆動されて前記絞りの状態を前記絞り検出装置に伝達する伝達部材とを備えることを特徴とするカメラの絞り制御装置。
7. 請求項６に記載の絞り制御装置を備えることを特徴とするカメラ。

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