JP2007313745A - 画像処理による寸法位置測定方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】被対象物の寸法位置の測定を光学収差を補正して高精度に且つ安価に行うことができる画像処理における寸法位置測定方法を提供する。
【解決手段】撮影手段によって、複数の検査パターン201が並設されたスケール200を検査パターン201の1つが画像110の中心となるように撮影し、画像110を画像処理することにより、当該画像110の中心の検査パターン201を基準パターン201aとして、基準パターン201aを基準とした検査パターン201のそれぞれの位置を測定して画像位置データを取得すると共に、画像位置データとスケール200の実際の基準パターン201aを基準とした検査パターン201のそれぞれの位置データである基準位置データとに基づいて画像位置における光学系の光学収差を取得し、光学収差に基づいて被対象物の画像処理による寸法位置を補正する。
【選択図】図3
【解決手段】撮影手段によって、複数の検査パターン201が並設されたスケール200を検査パターン201の1つが画像110の中心となるように撮影し、画像110を画像処理することにより、当該画像110の中心の検査パターン201を基準パターン201aとして、基準パターン201aを基準とした検査パターン201のそれぞれの位置を測定して画像位置データを取得すると共に、画像位置データとスケール200の実際の基準パターン201aを基準とした検査パターン201のそれぞれの位置データである基準位置データとに基づいて画像位置における光学系の光学収差を取得し、光学収差に基づいて被対象物の画像処理による寸法位置を補正する。
【選択図】図3
Description
本発明は、被対象物を撮影して画像処理する際に光学収差を補正して被対象物の寸法位置を測定する画像処理による寸法位置測定方法に関し、特に、液体噴射ヘッドの各ノズル開口毎に印字パターンからなるテストパターンを印刷し、印字パターンを撮影して画像処理することにより、印字パターンの位置データを取得する画像処理による寸法位置測定方法に関する。
一般的に、被対象物の寸法位置の測定は、レンズ等の光学系、CCDカメラ及び光源などを有する撮影手段によって被対象物を撮影して画像を取得し、この画像を画像処理することにより、被対象物の寸法位置を測定していた。
しかしながら、光学系の光学収差によって画像処理により取得した被対象物の寸法位置と、実際の被対象物の寸法位置とに誤差が生じてしまい、高精度な測定が行えないという問題がある。
また、光学収差が補正された光学系を使用することにより、光学収差による誤差を解消することができるが、光学収差の補正がどの程度行われているか不明であると共に、光学収差が補正された光学系は高価であるという問題がある。
また、インクジェット式記録ヘッドの印刷品質を検査するためには、インクジェット式記録ヘッドによって各ノズル開口毎に印字パターンを印刷し、並設された印字パターンからなるテストパターンを形成し、このテストパターン全体の印字パターンの相対的な位置を測定することで行われる。この印字パターンの位置の測定は、例えば、レンズ等の光学系を有するカメラと、移動可能に設けられて移動位置が座標として取得可能な移動ステージとを用いて行われていた。すなわち、カメラの中心がテストパターンの各印字パターンに合うように移動ステージを移動し、このときの移動ステージの位置を各印字パターン毎に測定することで、テストパターン全体の印字パターンの相対的な位置を測定していた。
しかしながら、カメラと移動ステージとを用いた印字パターンの位置測定では、カメラの中心を各印字パターン毎に合わせなくてはならず、煩雑であると共に測定に時間がかかってしまうという問題がある。
また、カメラと移動ステージとを用いた印字パターンの位置測定では、移動テーブルの位置決め精度が印字パターンの位置に含まれてしまうため、高精度な測定を行うことができないという問題がある。
さらに、テストパターンをカメラにより撮影して画像を取得し、この画像を画像処理することで、印字パターンの位置を容易に且つ高速に測定することができるが、光学系の光学収差によって画像処理により取得した印字パターンの位置と、実際の印字パターンの位置とに誤差が生じてしまい、高精度な測定が行えないという問題がある。
また、インクジェット方式によりインク滴が滴下されてインクが塗布される領域にダミー画素形成部を設け、このダミー画素形成部にインクを滴下してパターンを観察及び解析し、インクの吐出量及び吐出タイミングを決定するものが提案されている(例えば、特許文献1参照)。
しかしながら、特許文献1の方法では、パターンを観察する装置自体が高コストになってしまうと共に、各ノズル開口による印字パターンの相対的な位置を観察することができず、測定に時間がかかり煩雑であるという問題がある。
なお、このような問題はインクを吐出するインクジェット式記録ヘッドの印字パターンを測定する画像処理における寸法位置測定方法だけでなく、インク以外の液体を噴射する液体噴射ヘッドの印字パターンを測定する画像処理における寸法位置測定方法においても同様に存在する。
本発明はこのような事情に鑑み、被対象物の寸法位置の測定を光学収差を補正して高精度に且つ安価に行うことができる画像処理における寸法位置測定方法を提供することを課題とする。
上記課題を解決する本発明の第1の態様は、光学系を有する撮影手段により、被対象物を撮影して画像を取得し、該画像を画像処理することにより前記被対象物の寸法位置を測定する際に、前記撮影手段によって、複数の検査パターンが並設されたスケールを前記検査パターンの1つが画像の中心となるように撮影し、前記画像を画像処理することにより、当該画像の中心の前記検査パターンを基準パターンとして、該基準パターンを基準とした前記検査パターンのそれぞれの位置を測定して画像位置データを取得すると共に、該画像位置データと前記スケールの実際の前記基準パターンを基準とした前記検査パターンのそれぞれの位置データである基準位置データとに基づいて画像位置における前記光学系の光学収差を取得し、該光学収差に基づいて前記被対象物の画像処理による寸法位置を補正することを特徴とする画像処理による寸法位置測定方法にある。
かかる第1の態様では、光学収差が補正された高価な光学系を用いることなく、被対象物の寸法位置を画像処理により安価で且つ高精度に測定することができる。
かかる第1の態様では、光学収差が補正された高価な光学系を用いることなく、被対象物の寸法位置を画像処理により安価で且つ高精度に測定することができる。
本発明の第2の態様は、前記スケールの前記検査パターンが直線状に形成されたものであることを特徴とする第1の態様の画像処理による寸法位置測定方法にある。
かかる第2の態様では、直線状の検査パターンが並設されたスケールを用いることで、並設方向の光学収差を高精度に取得することができる。
かかる第2の態様では、直線状の検査パターンが並設されたスケールを用いることで、並設方向の光学収差を高精度に取得することができる。
本発明の第3の態様は、前記画像位置データから近似式を算出し、この近似式と基準位置データとの差から光学収差補正式を算出し、該光学収差補正式に基づいて前記被対象物の画像処理による寸法位置を補正することを特徴とする第1又は2の態様の画像処理による寸法位置測定方法にある。
かかる第3の態様では、近似式及び光学収差補正式により、画像処理により取得した寸法位置を容易に且つ高精度に補正することができる。
かかる第3の態様では、近似式及び光学収差補正式により、画像処理により取得した寸法位置を容易に且つ高精度に補正することができる。
本発明の第4の態様は、前記被対象物が、液体を噴射するノズル開口が並設された液体噴射ヘッドによって、被記録媒体に前記ノズル開口毎に印刷された印字パターンが並設されたテストパターンであると共に、測定する前記被対象物の寸法位置が、前記テストパターンの1つの前記印字パターンを基準とした他の印字パターンの位置データであることを特徴とする第1〜3の何れかの態様の画像処理による寸法位置測定方法にある。
かかる第4の態様では、実際の印字パターン全体の相対位置を画像処理により安価に且つ高精度に取得することができると共に、従来のようにカメラと移動ステージとを用いた印字パターンの位置測定に比べて、短時間で高精度な測定を行うことができる。
かかる第4の態様では、実際の印字パターン全体の相対位置を画像処理により安価に且つ高精度に取得することができると共に、従来のようにカメラと移動ステージとを用いた印字パターンの位置測定に比べて、短時間で高精度な測定を行うことができる。
本発明の第5の態様は、前記スケールの前記検査パターンが、前記印字パターンと略同一の間隔で設けられたものであることを特徴とする第1〜4の何れかの態様の画像処理による寸法位置測定方法にある。
かかる第5の態様では、画像処理により取得した印字パターンの位置データの補正を行う際に、同一の分解能で取得した光学収差に基づいて補正することができるため、高精度な補正を行うことができる。
かかる第5の態様では、画像処理により取得した印字パターンの位置データの補正を行う際に、同一の分解能で取得した光学収差に基づいて補正することができるため、高精度な補正を行うことができる。
以下に本発明を実施形態に基づいて詳細に説明する。
(実施形態1)
図1は、本発明の実施形態1に係る被記録媒体の平面図である。図1に示すように、本実施形態では、画像処理により寸法位置を測定する被対象物として、液体噴射ヘッドの代表例であるインクジェット式記録ヘッドによって紙やガラス板などの被記録媒体Sにテストパターン1を印刷したものを用いる。
(実施形態1)
図1は、本発明の実施形態1に係る被記録媒体の平面図である。図1に示すように、本実施形態では、画像処理により寸法位置を測定する被対象物として、液体噴射ヘッドの代表例であるインクジェット式記録ヘッドによって紙やガラス板などの被記録媒体Sにテストパターン1を印刷したものを用いる。
詳しくは、インクジェット式記録ヘッドによって被記録媒体Sに、各ノズル開口毎に直線状の印字パターン2を印刷する。例えば、インクジェット式記録ヘッドに180個のノズル開口からなるノズル列が設けられている場合、180本の直線状の印字パターンを印刷する。
次に、被記録媒体Sのテストパターン1を撮影することにより、画像を取得する。
ここで、テストパターン1を撮影する測定装置について図2を参照して説明する。なお、図2は、測定装置を示す平面図及びそのA−A′断面図である。図2に示すように、測定装置10は、テストパターン1が印刷された被記録媒体Sが載置されるステージ20と、ステージ20の被記録媒体Sが載置される一方面に相対向する領域に設けられた撮影手段30とを具備する。撮影手段30は、レンズ等の光学系、CCDカメラ及び光源などからなる。
ここで、テストパターン1を撮影する測定装置について図2を参照して説明する。なお、図2は、測定装置を示す平面図及びそのA−A′断面図である。図2に示すように、測定装置10は、テストパターン1が印刷された被記録媒体Sが載置されるステージ20と、ステージ20の被記録媒体Sが載置される一方面に相対向する領域に設けられた撮影手段30とを具備する。撮影手段30は、レンズ等の光学系、CCDカメラ及び光源などからなる。
このような測定装置10の撮影手段30によって、テストパターン1を撮影し、画像を取得する。
そして、測定装置10によって取得したテストパターン1の画像を画像処理することにより、画像の中心を基準(0)として、各印字パターン2の並設方向の距離を測定し、各印字パターンの位置データを取得する。
このとき、撮影手段30の光学系の光学収差によって、テストパターン1を撮影した画像を画像処理することにより取得した印字パターン2の位置データと、実際の印字パターンの位置とに誤差が生じてしまう。
このため、予め撮影手段30の光学系の光学収差を取得し、この光学収差に基づいてテストパターン1を撮影した画像を画像処理することにより取得した印字パターン2の位置データを補正する。
具体的には、図3(a)に示すように、基準となる検査パターン201が形成されたスケール200を用意する。スケール200としては、例えば、ガラス板やセラミック板、ステンレス板等の金属板等が挙げられる。また、検査パターン201としては、例えば、直線状に形成されたものが挙げられる。このような検査パターン201は、スケール200に蒸着法等により高精度に形成することができる。さらに、検査パターン201は、印字パターン2と略同一の間隔で形成するのが好ましい。これにより、画像処理により取得した印字パターン2の位置データの補正を行う際に、同一の分解能で取得した光学収差に基づいて補正することができるため、高精度な補正を行うことができる。
また、実際のスケール200の各検査パターン201の間隔Y1、Y2、Y3〜YXを測定する。この測定は、高精度な測定を行える測定装置により測定することができる。なお、検査パターン201の設計値を用いると、設計値と実際の検査パターン201との誤差が存在するため、正確な光学収差を得ることができない。
そして、このスケール200を撮影手段30により撮影して図3(b)に示すような画像110を取得する。このとき、撮影手段30によって画像110内の一方向に亘って検査パターン201が並設されるように撮影する。また、撮影手段30によってスケール200を撮影して画像110を取得する際に、画像110を画像処理する際の寸法位置の基準となる中心が、スケール200の1つの検査パターン201となるように撮影する。これにより、画像処理して位置データを取得する際の寸法位置の基準となる中心に撮影された1つの検査パターン201を基準パターン201aとする。
次に、画像110を画像処理することによって、画像110の寸法位置の基準となる中心に写る基準パターン201aを基準とした検査パターン201のそれぞれの位置Z1、Z2、Z3〜ZX及びZ−1、Z−2、Z−3〜Z−Xを測定して画像位置データを取得する。
また、上述したように、実際のスケール200の検査パターン201の間隔Y1、Y2、Y3〜YXから、画像110の寸法位置の基準となる基準パターン201aを基準とした各検査パターン201の位置データである基準位置データを算出する。
次に、画像処理により取得した画像位置データと、実際のスケール200の基準位置データとに基づいて光学収差を算出する。すなわち、画像位置データは、撮影手段30の光学系の光学収差によって実際のスケール200の基準位置データとは誤差が生じるため、画像位置データと、実際のスケール200の基準位置データとに基づいて誤差を解消するための光学収差を算出する。
実際には、画像位置データから最小二乗法により近似式を算出し、この近似式により算出した値と、基準位置データとの差からn次式からなる光学収差補正式を算出する。
そして、この光学収差補正式に基づいて、テストパターン1の画像を画像処理することにより取得した各印字パターン2の位置データを補正する。これにより、テストパターン1を撮影した画像を画像処理することによって、実際の印字パターンの位置と同じ寸法位置を高精度に取得することができる。したがって、撮影手段30として光学収差が補正された光学系を使用する必要がなく、印字パターン2の寸法位置を安価で且つ高精度に測定することができる。また、従来のようにカメラと移動ステージとを用いた印字パターンの位置測定に比べて、短時間で高精度な測定を行うことができる。
ここで、画像位置データから最小二乗法により近似式を求め、この近似式により算出した値と、各基準位置データとの差である近似差を算出し、さらに、近似差からn次式からなる光学収差補正式、例えば、5次式からなる光学収差補正式を求め、画像位置データを光学収差補正式により補正した補正値を算出する。
そして、画像位置データと画像位置データを光学収差補正式により補正した補正値との差、すなわち補正量を図4のグラフに示す。
図4に示すように、画像位置データと画像位置データを光学収差補正式により補正した補正値との差、すなわち補正量は、光学系の中心位置ではほとんどなく、光学系の端では大きくなっていることが分かる。すなわち、光学系の光学収差は、光学系の中心位置ではほとんどなく、光学系の端では大きくなっている。
なお、本実施形態では、画像位置データ及び基準位置データとして、検査パターン201の中心の位置を位置データとして取得するようにしたが、特にこれに限定されず、例えば、検査パターン201の並設方向両側のエッジの位置を位置データとして取得するようにすれば、データ量を2倍にすることができ、さらに高精度な測定及び補正を行うことができる。
(他の実施形態)
以上、本発明の実施形態1を説明したが、本発明は上述したものに限定されるものではない。例えば、上述した実施形態1では、直線状の検査パターン201を並設することで、光学系の検査パターン201の並設方向の光学収差を取得するようにしたが、特にこれに限定されず、直線状の検査パターンが並設された検査パターンの列を互いに交差するように2列設けることで、光学系の交差する方向での光学収差を取得することができる。
以上、本発明の実施形態1を説明したが、本発明は上述したものに限定されるものではない。例えば、上述した実施形態1では、直線状の検査パターン201を並設することで、光学系の検査パターン201の並設方向の光学収差を取得するようにしたが、特にこれに限定されず、直線状の検査パターンが並設された検査パターンの列を互いに交差するように2列設けることで、光学系の交差する方向での光学収差を取得することができる。
また、上述したインクジェット式記録ヘッドによって印刷した印字パターン2が並設されたテストパターン1を被対象物として、印字パターン2の位置を画像処理により測定するようにしたが、特にこれに限定されず、例えば、機械部品等の一般的な部材の寸法を画像処理により測定する際にも本発明を用いることができる。
また、上述した実施形態1では、液体噴射ヘッドの一例としてインクジェット式記録ヘッドにより印字した印字パターンからなるテストパターンの位置を測定する画像処理における寸法位置測定方法を例示したが、インク以外の液体を噴射する液体噴射ヘッドの液体により印刷された印字パターンからなるテストパターンの位置を測定する画像処理における寸法位置測定方法においても勿論適用することができる。その他の液体噴射ヘッドとしては、例えば、プリンタ等の画像記録装置に用いられる各種の記録ヘッド、液晶ディスプレー等のカラーフィルタの製造に用いられる色材噴射ヘッド、有機ELディスプレー、FED(面発光ディスプレー)等の電極形成に用いられる電極材料噴射ヘッド、バイオchip製造に用いられる生体有機物噴射ヘッド等が挙げられる。
1 テストパターン、 2 印字パターン、 10 測定装置、 20 ステージ、 30 撮影手段、 110 画像、 200 スケール、 201 検査パターン、 201a 基準パターン、 S 被記録媒体
Claims (5)
- 光学系を有する撮影手段により、被対象物を撮影して画像を取得し、該画像を画像処理することにより前記被対象物の寸法位置を測定する際に、
前記撮影手段によって、複数の検査パターンが並設されたスケールを前記検査パターンの1つが画像の中心となるように撮影し、前記画像を画像処理することにより、当該画像の中心の前記検査パターンを基準パターンとして、該基準パターンを基準とした前記検査パターンのそれぞれの位置を測定して画像位置データを取得すると共に、該画像位置データと前記スケールの実際の前記基準パターンを基準とした前記検査パターンのそれぞれの位置データである基準位置データとに基づいて画像位置における前記光学系の光学収差を取得し、該光学収差に基づいて前記被対象物の画像処理による寸法位置を補正することを特徴とする画像処理による寸法位置測定方法。 - 前記スケールの前記検査パターンが直線状に形成されたものであることを特徴とする請求項1記載の画像処理による寸法位置測定方法。
- 前記画像位置データから近似式を算出し、この近似式と基準位置データとの差から光学収差補正式を算出し、該光学収差補正式に基づいて前記被対象物の画像処理による寸法位置を補正することを特徴とする請求項1又は2記載の画像処理による寸法位置測定方法。
- 前記被対象物が、液体を噴射するノズル開口が並設された液体噴射ヘッドによって、被記録媒体に前記ノズル開口毎に印刷された印字パターンが並設されたテストパターンであると共に、測定する前記被対象物の寸法位置が、前記テストパターンの1つの前記印字パターンを基準とした他の印字パターンの位置データであることを特徴とする請求項1〜3の何れかに記載の画像処理による寸法位置測定方法。
- 前記スケールの前記検査パターンが、前記印字パターンと略同一の間隔で設けられたものであることを特徴とする請求項1〜4の何れかに記載の画像処理による寸法位置測定方法。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2006145430A JP2007313745A (ja) | 2006-05-25 | 2006-05-25 | 画像処理による寸法位置測定方法 |
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Cited By (2)
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CN113324479A (zh) * | 2021-06-16 | 2021-08-31 | 厦门天宇丰荣科技有限公司 | 生物墨水3d打印的平面实心矩形尺寸精度评定方法及其装置 |
CN113446944A (zh) * | 2021-06-16 | 2021-09-28 | 厦门天宇丰荣科技有限公司 | 生物墨水3d打印的直线元素尺寸精度评定方法和装置 |
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2006
- 2006-05-25 JP JP2006145430A patent/JP2007313745A/ja active Pending
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