JP2007258379A - プラズマ処理装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】プラズマ処理装置10は、処理空間Sを有する基板処理室11と、処理空間Sに直流電圧を印加する上部電極板39と、処理空間Sに40MHzの高周波電力を印加するサセプタ12の導電体部29及びフォーカスリング26と、該フォーカスリング26に隣接するように配置される接地電位のシリコン電極27と、フォーカスリング26及びシリコン電極27の間に配置されるインシュレーターリング28とを備え、シリコン電極27及びフォーカスリング26の間の距離は0.5mm乃至10mmのいずれか、好ましくは0.5mm乃至5mmのいずれかに設定される。
【選択図】図1
Description
処理空間Sの圧力が2.67Pa(20mTorr)に設定され、C4F8ガス及びArガスがそれぞれの流量を14sccm及び700sccmに設定されて処理空間Sに供給され、プラズマが生成された。そして、RIE処理は5分間継続された。
W 半導体ウエハ
10,46,50 プラズマ処理装置
11 基板処理室
12 サセプタ
13 側壁部材
14 サセプタ側面被覆部材
21,47,52 高周波電源
26 フォーカスリング
27,53 シリコン電極
28 インシュレーターリング
29 導電体部
30,48 カバーリング
36 ガス導入シャワーヘッド
39 上部電極板
40,54 シールドリング
41 直流電源
Claims (7)
- 基板にプラズマ処理を施す処理空間を有する基板処理室と、前記処理空間に高周波電力を印加する高周波電極と、前記処理空間に直流電圧を印加する直流電極と、前記処理空間に露出する接地電極とを備えるプラズマ処理装置であって、
前記接地電極及び前記高周波電極は絶縁部を挟んで隣接し、
前記接地電極及び前記高周波電極の間の距離は0mm乃至10mmのいずれかに設定されることを特徴とするプラズマ処理装置。 - 前記距離が0mm乃至5mmのいずれかに設定されることを特徴とする請求項1記載のプラズマ処理装置。
- 前記距離の下限は0.5mmであることを特徴とする請求項1又は2記載のプラズマ処理装置。
- 前記絶縁部は絶縁体又は真空空間からなることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載のプラズマ処理装置。
- 基板にプラズマ処理を施す処理空間を有する基板処理室と、前記処理空間に所定の周波数以上の高周波電力のみを印加する高周波電極と、前記処理空間に直流電圧を印加する直流電極と、前記処理空間に露出する接地電極とを備えるプラズマ処理装置であって、
前記接地電極及び前記高周波電極は絶縁部を挟んで隣接することを特徴とするプラズマ処理装置。 - 前記所定の周波数は13MHzであることを特徴とする請求項5記載のプラズマ処理装置。
- 前記絶縁部は絶縁体又は真空空間からなることを特徴とする請求項5又は6記載のプラズマ処理装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006079639A JP4972327B2 (ja) | 2006-03-22 | 2006-03-22 | プラズマ処理装置 |
US11/686,618 US20070221332A1 (en) | 2006-03-22 | 2007-03-15 | Plasma processing apparatus |
CNB2007100894254A CN100570818C (zh) | 2006-03-22 | 2007-03-22 | 等离子体处理装置 |
KR1020070028048A KR100889433B1 (ko) | 2006-03-22 | 2007-03-22 | 플라즈마 처리 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006079639A JP4972327B2 (ja) | 2006-03-22 | 2006-03-22 | プラズマ処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007258379A true JP2007258379A (ja) | 2007-10-04 |
JP4972327B2 JP4972327B2 (ja) | 2012-07-11 |
Family
ID=38632321
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006079639A Expired - Fee Related JP4972327B2 (ja) | 2006-03-22 | 2006-03-22 | プラズマ処理装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4972327B2 (ja) |
KR (1) | KR100889433B1 (ja) |
CN (1) | CN100570818C (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5213496B2 (ja) * | 2008-03-31 | 2013-06-19 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマエッチング方法及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体 |
KR101290738B1 (ko) * | 2009-01-09 | 2013-07-29 | 가부시키가이샤 아루박 | 플라즈마 처리 장치 |
JP5357639B2 (ja) | 2009-06-24 | 2013-12-04 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 |
JP2022039119A (ja) * | 2020-08-27 | 2022-03-10 | キオクシア株式会社 | 排気配管装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2006066905A (ja) * | 2004-07-30 | 2006-03-09 | Tokyo Electron Ltd | プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4051209B2 (ja) * | 2001-02-02 | 2008-02-20 | キヤノンアネルバ株式会社 | 高周波プラズマ処理装置及び高周波プラズマ処理方法 |
US7147749B2 (en) * | 2002-09-30 | 2006-12-12 | Tokyo Electron Limited | Method and apparatus for an improved upper electrode plate with deposition shield in a plasma processing system |
-
2006
- 2006-03-22 JP JP2006079639A patent/JP4972327B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2007
- 2007-03-22 KR KR1020070028048A patent/KR100889433B1/ko active IP Right Grant
- 2007-03-22 CN CNB2007100894254A patent/CN100570818C/zh active Active
Patent Citations (5)
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100889433B1 (ko) | 2009-03-23 |
CN101042989A (zh) | 2007-09-26 |
JP4972327B2 (ja) | 2012-07-11 |
KR20070095830A (ko) | 2007-10-01 |
CN100570818C (zh) | 2009-12-16 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090217 |
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A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090629 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110913 |
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A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111102 |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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