JP2007257753A - Micro optical recording head and its manufacturing method - Google Patents

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Naoki Nishida
直樹 西田
Hiroaki Ueda
裕昭 上田
Manami Kuiseko
真奈美 杭迫
Kojiro Sekine
孝二郎 関根
Kenji Konno
賢治 金野
Masahiro Okitsu
昌広 興津
Hiroshi Hatano
洋 波多野
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a compact micro optical recording head for recording information at a high density and a small optical spot, and its manufacturing method: the micro optical recording device; an optical assist type magnetic recording head, its manufacturing method, and an optical assist type magnetic recording device. <P>SOLUTION: The micro optical recording head for using a light for recoding information in a recording medium includes a slider 11 relatively moved while floating on the recording medium. The slider 11 includes an optical waveguide constituted of a core 31, a subcore 32, and a clad 33, and a plasmon probe 30 disposed in its condensing part. When the core 31 of the optical waveguide is formed, a core layer is formed up to the middle part, the plasmon probe 30 is formed in a part near the center of the core 31 from above and, when the core layer is formed after a remaining core layer is formed, the thick plasmon probe 30 is buried in the optical waveguide. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は微小光記録ヘッドとその製造方法に関するものであり、例えば、情報記録に光を利用する微小光記録ヘッドとその製造方法、並びに情報記録に磁界と光を利用する光アシスト式磁気記録ヘッドとその製造方法に関するものである。   The present invention relates to a minute optical recording head and a manufacturing method thereof, for example, a minute optical recording head using light for information recording, a manufacturing method thereof, and a light-assisted magnetic recording head using a magnetic field and light for information recording. And its manufacturing method.

磁気記録方式では、記録密度が高くなると磁気ビットが外部温度等の影響を顕著に受けるようになる。このため高い保磁力を有する記録媒体が必要になるが、そのような記録媒体を使用すると記録時に必要な磁界も大きくなる。記録ヘッドによって発生する磁界は飽和磁束密度によって上限が決まるが、この値は材料限界に近づいており飛躍的な増大は望めない。そこで、記録時に局所的に加熱して磁気軟化を生じさせ、保磁力が小さくなった状態で記録し、その後に加熱を止めて自然冷却することにより、記録した磁気ビットの安定性を保証する方式が提案されている。この方式は熱アシスト磁気記録方式と呼ばれている。   In the magnetic recording method, when the recording density increases, the magnetic bit is significantly affected by the external temperature and the like. For this reason, a recording medium having a high coercive force is required. However, when such a recording medium is used, the magnetic field required for recording also increases. The upper limit of the magnetic field generated by the recording head is determined by the saturation magnetic flux density, but this value is approaching the material limit and cannot be expected to increase dramatically. Therefore, a method of guaranteeing the stability of the recorded magnetic bit by locally heating at the time of recording, causing magnetic softening, recording with a reduced coercive force, and then stopping the heating and naturally cooling Has been proposed. This method is called a heat-assisted magnetic recording method.

熱アシスト磁気記録方式では、記録媒体の加熱を瞬間的に行うことが望ましい。また、加熱する機構と記録媒体とが接触することは許されない。このため、加熱は光の吸収を利用して行われるのが一般的であり、加熱に光を用いる方式は光アシスト式と呼ばれている。光アシスト式で超高密度記録を行う場合、必要なスポット径は20nm程度になるが、通常の光学系では回折限界があるため、光をそこまで集光することはできない。そこで、非伝搬光である近接場光を用いて加熱する方式がいくつか提案されている(特許文献1等参照。)。この方式では適当な波長のレーザ光を光学系によって集光し、数十nmの大きさの金属(プラズモンプローブと呼ばれる。)に照射して近接場光を発生させ、その近接場光を加熱手段として用いている。
特開2005−116155号公報
In the heat-assisted magnetic recording method, it is desirable to instantaneously heat the recording medium. Further, the heating mechanism and the recording medium are not allowed to contact each other. For this reason, heating is generally performed using absorption of light, and a method using light for heating is called a light assist method. When ultra-high-density recording is performed by the optical assist method, the required spot diameter is about 20 nm. However, since a normal optical system has a diffraction limit, the light cannot be condensed to that extent. In view of this, several methods of heating using near-field light that is non-propagating light have been proposed (see Patent Document 1, etc.). In this method, laser light of an appropriate wavelength is collected by an optical system, irradiated with a metal with a size of several tens of nm (called a plasmon probe) to generate near-field light, and the near-field light is heated by means of heating. It is used as.
JP-A-2005-116155

一般的な磁気記録装置(例えばハードディスク装置)では、狭いスペースに記録用のディスクが複数枚積層され、その隙間は1mm以下に設定される。このため、磁気記録ヘッドの厚みは制限される。特許文献1記載の光アシスト式磁気記録ヘッドや通常の光磁気記録ヘッド(MO)では、ヘッド背面に大きな光学系が配置されるため、上記のように磁気記録ヘッドが厚みの制限を受ける磁気記録装置に対応することはできない。この点から、光アシスト式磁気記録ヘッドには非常に薄い導光手段及び集光手段が求められている。   In a general magnetic recording device (for example, a hard disk device), a plurality of recording disks are stacked in a narrow space, and the gap is set to 1 mm or less. For this reason, the thickness of the magnetic recording head is limited. In the optically assisted magnetic recording head and the ordinary magneto-optical recording head (MO) described in Patent Document 1, since a large optical system is arranged on the back surface of the head, the magnetic recording head is subject to the thickness limitation as described above. It cannot correspond to a device. From this point, the optically assisted magnetic recording head is required to have a very thin light guiding means and condensing means.

また、通常のレンズやSIL(solid immersion lens)でディスク上に光スポットを形成する場合、スポットサイズを小さくするためにNA(numerical aperture)を大きくとらなければならない。これは集光点に向かう光線の角度が大きいことを意味する。光アシスト式磁気記録ヘッドにおける光アシスト部は、通常のハードディスク装置に用いられている磁気記録部や磁気再生部と共存する必要があるので、上記のようにNAが大きいと、光が磁気記録部や磁気再生部と干渉してしまうことになる。また、ビーム径や磁気記録ヘッドの大型化を招くことにもなる。   In addition, when a light spot is formed on a disk using a normal lens or SIL (solid immersion lens), a large numerical aperture (NA) must be taken in order to reduce the spot size. This means that the angle of the light beam toward the condensing point is large. Since the optical assist unit in the optical assist type magnetic recording head needs to coexist with the magnetic recording unit and the magnetic reproducing unit used in a normal hard disk device, when the NA is large as described above, the light is recorded in the magnetic recording unit. Or the magnetic reproducing unit. In addition, the beam diameter and the magnetic recording head are increased in size.

本発明はこのような状況に鑑みてなされたものであって、その目的は、小さな光スポットで高密度の情報記録が可能な小型の微小光記録ヘッド、その製造方法及び微小光記録装置、並びに小さな光スポットで高密度の情報記録が可能な小型の光アシスト式磁気記録ヘッド、その製造方法及び光アシスト式磁気記録装置を提供することにある。   The present invention has been made in view of such a situation, and an object thereof is a small micro optical recording head capable of recording information at a high density with a small light spot, a manufacturing method thereof, a micro optical recording apparatus, and It is an object of the present invention to provide a compact optically assisted magnetic recording head capable of recording high-density information with a small optical spot, a manufacturing method thereof, and an optically assisted magnetic recording apparatus.

上記目的を達成するために、第1の発明の微小光記録ヘッドは、記録媒体に対する情報記録に光を利用する微小光記録ヘッドであって、記録媒体上で浮上しながら相対的に移動するスライダを有し、そのスライダが光導波路とその集光部分に設けられたプラズモンプローブとを有し、前記プラズモンプローブが厚みのある形状となって前記光導波路内に埋め込まれていることを特徴とする。   In order to achieve the above object, a micro optical recording head according to a first aspect of the present invention is a micro optical recording head that uses light for information recording on a recording medium, and is a slider that moves relatively while floating on the recording medium. The slider has an optical waveguide and a plasmon probe provided at the condensing portion, and the plasmon probe is formed in a thick shape and embedded in the optical waveguide. .

第2の発明の微小光記録ヘッドは、上記第1の発明において、前記光導波路による光の導波方向を前記プラズモンプローブ及びスライダの厚み方向とし、プラズモンプローブの厚さをL1とし、スライダの厚さをL2とすると、条件式:1μm<L1<L2を満たすことを特徴とする。   According to a second aspect of the present invention, there is provided the micro-optical recording head according to the first aspect, wherein the light guiding direction of the optical waveguide is the thickness direction of the plasmon probe and the slider, the thickness of the plasmon probe is L1, and the thickness of the slider. When the thickness is L2, the conditional expression: 1 μm <L1 <L2 is satisfied.

第3の発明の微小光記録ヘッドの製造方法は、上記第1又は第2の発明に係る微小光記録ヘッドの製造方法であって、前記光導波路のコアを形成する際、その途中までコア層の成膜を行い、その上からコアの中心近傍部分に前記プラズモンプローブを形成し、残りのコア層の成膜を行った後、コア層を所定のコア形状に加工することを特徴とする。   According to a third aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing a micro optical recording head according to the first or second aspect of the present invention, wherein the core layer is partially formed when the core of the optical waveguide is formed. The plasmon probe is formed in the vicinity of the center of the core from above, the remaining core layer is formed, and then the core layer is processed into a predetermined core shape.

第4の発明の光アシスト式磁気記録ヘッドは、上記第1又は第2の発明に係る微小光記録ヘッドにおいて、さらに磁気記録素子を有することを特徴とする。   An optically assisted magnetic recording head according to a fourth aspect of the invention is the micro optical recording head according to the first or second aspect of the invention, further comprising a magnetic recording element.

第5の発明の光アシスト式磁気記録ヘッドの製造方法は、上記第4の発明に係る光アシスト式磁気記録ヘッドの製造方法であって、前記光導波路のコアを形成する際、その途中までコア層の成膜を行い、その上からコアの中心近傍部分に前記プラズモンプローブを形成し、残りのコア層の成膜を行った後、コア層を所定のコア形状に加工することを特徴とする。   A method for manufacturing an optically assisted magnetic recording head according to a fifth aspect of the invention is a method for manufacturing an optically assisted magnetic recording head according to the fourth aspect of the invention, wherein when the core of the optical waveguide is formed, the core is halfway Forming a layer, forming the plasmon probe in the vicinity of the center of the core from above, forming the remaining core layer, and then processing the core layer into a predetermined core shape .

第6の発明の微小光記録装置は、上記第1又は第2の発明に係る微小光記録ヘッドを備えたことを特徴とする。   According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a minute optical recording apparatus including the minute optical recording head according to the first or second aspect.

第7の発明の光アシスト式磁気記録装置は、上記第4の発明に係る光アシスト式磁気記録ヘッドを備えたことを特徴とする。   An optically assisted magnetic recording apparatus according to a seventh aspect of the invention includes the optically assisted magnetic recording head according to the fourth aspect of the invention.

本発明によれば、スライダに光導波路を有するとともに光導波路内に厚みのあるプラズモンプローブが埋め込まれた構成になっているため、記録ヘッド及びそれを備えた記録装置の小型化とともに、小さな光スポットを得ることが可能になる。そして、光スポットサイズが小さくなることにより、記録の高密度化が可能になる。光導波路内へのプラズモンプローブの埋め込みは、コア層の成膜を2段階に分けて行うことにより容易に実現可能であり、光導波路におけるプラズモンプローブの位置合わせも簡単に行うことができる。   According to the present invention, since the slider has an optical waveguide and a thick plasmon probe is embedded in the optical waveguide, the recording head and the recording apparatus including the same can be downsized, and a small light spot can be obtained. Can be obtained. Further, since the light spot size is reduced, the recording density can be increased. Embedding the plasmon probe in the optical waveguide can be easily realized by performing the film formation of the core layer in two stages, and the positioning of the plasmon probe in the optical waveguide can also be easily performed.

以下、本発明に係る光アシスト式の磁気記録ヘッドとそれを備えた磁気記録装置等を、図面を参照しつつ説明する。なお、各実施の形態等の相互で同一の部分や相当する部分には同一の符号を付して重複説明を適宜省略する。   Hereinafter, an optically assisted magnetic recording head according to the present invention and a magnetic recording apparatus including the same will be described with reference to the drawings. In addition, the same code | symbol is mutually attached | subjected to the part which is the same in each embodiment etc., and the corresponding part, and duplication description is abbreviate | omitted suitably.

図1に、光アシスト式の磁気記録ヘッドを搭載した磁気記録装置(例えばハードディスク装置)の概略構成例を示す。この磁気記録装置10は、記録用のディスク(磁気記録媒体)2と、支軸5を支点として矢印A方向(トラッキング方向)に回転可能に設けられたサスペンション4と、サスペンション4に取り付けられたトラッキング用のアクチュエータ6と、サスペンション4の先端部に取り付けられた光アシスト式の磁気記録ヘッド3と、ディスク2を矢印B方向に回転させるモータ(不図示)と、を筐体1内に備えており、磁気記録ヘッド3がディスク2上で浮上しながら相対的に移動しうるように構成されている。   FIG. 1 shows a schematic configuration example of a magnetic recording apparatus (for example, a hard disk apparatus) equipped with an optically assisted magnetic recording head. This magnetic recording apparatus 10 includes a recording disk (magnetic recording medium) 2, a suspension 4 provided so as to be rotatable in the direction of arrow A (tracking direction) with a support shaft 5 as a fulcrum, and a tracking attached to the suspension 4. The housing 1 is provided with an actuator 6 for use, an optically assisted magnetic recording head 3 attached to the tip of the suspension 4, and a motor (not shown) for rotating the disk 2 in the direction of arrow B. The magnetic recording head 3 is configured to move relatively while floating on the disk 2.

磁気記録ヘッド3は、ディスク2に対する情報記録に光を利用する微小光記録ヘッドであって、半導体レーザ,光ファイバー等から成る光源部と、ディスク2の被記録部分を近赤外レーザー光でスポット加熱するための光アシスト部と、光源部からの近赤外レーザー光を光アシスト部に導く光学系と、ディスク2の被記録部分に対して磁気情報の書き込み行う磁気記録部と、ディスク2に記録されている磁気情報の読み取りを行う磁気再生部と、を備えている。光源部を構成している半導体レーザは近赤外光源であり、その半導体レーザから出射した近赤外波長(1550nm,1310nm等)のレーザー光は光ファイバーで所定位置まで導光される。光源部から出射した近赤外レーザー光は、光学系により光アシスト部に導光され、光アシスト部の光導波路を通って磁気記録ヘッド3から出射する。光アシスト部から出射した近赤外レーザー光が微小な光スポットとしてディスク2に照射されると、ディスク2の照射部分の温度が一時的に上昇してディスク2の保磁力が低下する。その保磁力の低下した状態の照射部分に対して、磁気記録部により磁気情報が書き込まれる。この磁気記録ヘッド3の詳細を以下に説明する。   The magnetic recording head 3 is a micro-optical recording head that uses light for information recording on the disk 2, and a spot light source section composed of a semiconductor laser, an optical fiber, etc., and a recording portion of the disk 2 are spot-heated with near-infrared laser light. A light assist unit, an optical system for guiding near-infrared laser light from the light source unit to the light assist unit, a magnetic recording unit for writing magnetic information to a recording portion of the disk 2, and recording on the disk 2 A magnetic reproducing unit for reading the magnetic information. A semiconductor laser constituting the light source unit is a near-infrared light source, and laser light having a near-infrared wavelength (1550 nm, 1310 nm, etc.) emitted from the semiconductor laser is guided to a predetermined position by an optical fiber. Near-infrared laser light emitted from the light source unit is guided to the optical assist unit by the optical system, and exits from the magnetic recording head 3 through the optical waveguide of the optical assist unit. When the near-infrared laser beam emitted from the light assist part is irradiated onto the disk 2 as a minute light spot, the temperature of the irradiated part of the disk 2 temporarily rises and the coercive force of the disk 2 decreases. Magnetic information is written by the magnetic recording unit to the irradiated portion with the coercive force lowered. Details of the magnetic recording head 3 will be described below.

図2〜図5に、磁気記録ヘッド3の具体的な光学構成(光学面形状,光路等)を実施例1〜4として光学断面で示し、また、実施例1〜4のコンストラクションデータを以下に挙げる。各実施例のコンストラクションデータにおいて、ri(i=0,1,2,3,...)は光源部側から数えてi番目の面Si(i=0,1,2,3,...)の曲率半径(mm)、di(i=0,1,2,3,...)は光源部側から数えてi番目の軸上面間隔(mm)をそれぞれ示しており、Ni(i=1,2,...)は光源部側から数えてi番目の媒質の使用波長に対する屈折率を示しており、x軸傾きai(i=0,1,2,3,...)とy軸偏心bi(i=0,1,2,3,...)は互いに直交するxy座標系における面Siの傾き角度(°)と偏心量(mm)をそれぞれ示している。なお、光源位置は光ファイバー14の出射端面に相当する。また、光源のNA(numerical aperture)及び使用波長をあわせて示す。   2 to 5 show specific optical configurations (optical surface shape, optical path, etc.) of the magnetic recording head 3 as optical cross sections as Examples 1 to 4, and the construction data of Examples 1 to 4 are shown below. I will give you. In the construction data of each example, ri (i = 0,1,2,3, ...) is the i-th surface Si (i = 0,1,2,3, ...) counted from the light source side. ) Radius of curvature (mm), di (i = 0,1,2,3, ...) indicates the i-th axis upper surface interval (mm) counted from the light source side, and Ni (i = 1,2, ...) indicates the refractive index with respect to the used wavelength of the i-th medium counted from the light source side, and the x-axis inclination ai (i = 0,1,2,3, ...) and y-axis eccentricity bi (i = 0, 1, 2, 3,...) indicates the tilt angle (°) and the eccentricity (mm) of the surface Si in the mutually orthogonal xy coordinate systems. The light source position corresponds to the emission end face of the optical fiber 14. The NA (numerical aperture) of the light source and the wavelength used are also shown.

《実施例1》
光源のNA=0.083333
使用波長:1.31(μm)
[面] [曲率半径][軸上面間隔][屈折率] [x軸傾き] [y軸偏心]
S0 r0= ∞ d0= 0.244 - a0= 0 b0= 0(光源)
S1 r1= 0.125 d1= 0.25 N1=1.50358291 a1= 0 b1= 0
S2 r2=-0.125 d2= 0.03 - a2= 0 b2= 0
S3 r3= - d3= 0 - a3= 35.26 b3= 0
S4 r4= ∞ d4= 0.6 N2=3.51136585 a4= 0 b4= 0
S5 r5= - d5= 0 - a5=-70.528 b5= 0
S6 r6= - d6= 0 - a6= 0 b6= 0.20388742
S7 r7= ∞ d7= 0 - a7= 0 b7= 0(全反射面)
S8 r8= ∞ d8=-0.8 N3=3.51136585 a8= 0 b8= 0
S9 r9= - d9= 0 - a9=-61.03 b9= 0
S10 r10= - d10=0 - a10= 0 b10=-0.70013749
S11 r11=∞ d11=0 N4=3.51136585 a11= 0 b11= 0
S12 r12=∞ a12= 0 b12= 0
Example 1
NA of light source = 0.083333
Wavelength used: 1.31 (μm)
[Surface] [Radius of curvature] [Axis spacing] [Refractive index] [X-axis tilt] [Y-axis eccentricity]
S0 r0 = ∞ d0 = 0.244-a0 = 0 b0 = 0 (light source)
S1 r1 = 0.125 d1 = 0.25 N1 = 1.50358291 a1 = 0 b1 = 0
S2 r2 = -0.125 d2 = 0.03-a2 = 0 b2 = 0
S3 r3 =-d3 = 0-a3 = 35.26 b3 = 0
S4 r4 = ∞ d4 = 0.6 N2 = 3.51136585 a4 = 0 b4 = 0
S5 r5 =-d5 = 0-a5 = -70.528 b5 = 0
S6 r6 =-d6 = 0-a6 = 0 b6 = 0.20388742
S7 r7 = ∞ d7 = 0-a7 = 0 b7 = 0 (total reflection surface)
S8 r8 = ∞ d8 = -0.8 N3 = 3.51136585 a8 = 0 b8 = 0
S9 r9 =-d9 = 0-a9 = -61.03 b9 = 0
S10 r10 =-d10 = 0-a10 = 0 b10 = -0.70013749
S11 r11 = ∞ d11 = 0 N4 = 3.51136585 a11 = 0 b11 = 0
S12 r12 = ∞ a12 = 0 b12 = 0

《実施例2》
光源のNA=0.083333
使用波長:1.31(μm)
[面] [曲率半径][軸上面間隔][屈折率] [x軸傾き] [y軸偏心]
S0 r0= ∞ d0= 0.1 - a0= 0 b0= 0(光源)
S1 r1= 0.075 d1= 0.15 N1=1.75030841 a1= 0 b1= 0
S2 r2=-0.075 d2= 0.02 - a2= 0 b2= 0
S3 r3= - d3= 0 - a3= 35.26 b3= 0
S4 r4= ∞ d4= 0.2 N2=3.51136585 a4= 0 b4= 0
S5 r5= - d5= 0 - a5=-70.528 b5= 0
S6 r6= - d6= 0 - a6= 0 b6= 0.067962472
S7 r7= ∞ d7= 0 - a7= 0 b7= 0(全反射面)
S8 r8= ∞ d8=-0.4 N3=3.51136585 a8= 0 b8= 0
S9 r9= - d9= 0 - a9=-61.03 b9= 0
S10 r10= - d10=0 - a10= 0 b10=-0.35006874
S11 r11=∞ d11=0 N4=3.51136585 a11= 0 b11= 0
S12 r12=∞ a12= 0 b12= 0
Example 2
NA of light source = 0.083333
Wavelength used: 1.31 (μm)
[Surface] [Radius of curvature] [Axis spacing] [Refractive index] [X-axis tilt] [Y-axis eccentricity]
S0 r0 = ∞ d0 = 0.1-a0 = 0 b0 = 0 (light source)
S1 r1 = 0.075 d1 = 0.15 N1 = 1.75030841 a1 = 0 b1 = 0
S2 r2 = -0.075 d2 = 0.02-a2 = 0 b2 = 0
S3 r3 =-d3 = 0-a3 = 35.26 b3 = 0
S4 r4 = ∞ d4 = 0.2 N2 = 3.51136585 a4 = 0 b4 = 0
S5 r5 =-d5 = 0-a5 = -70.528 b5 = 0
S6 r6 =-d6 = 0-a6 = 0 b6 = 0.067962472
S7 r7 = ∞ d7 = 0-a7 = 0 b7 = 0 (total reflection surface)
S8 r8 = ∞ d8 = -0.4 N3 = 3.51136585 a8 = 0 b8 = 0
S9 r9 =-d9 = 0-a9 = -61.03 b9 = 0
S10 r10 =-d10 = 0-a10 = 0 b10 = -0.35006874
S11 r11 = ∞ d11 = 0 N4 = 3.51136585 a11 = 0 b11 = 0
S12 r12 = ∞ a12 = 0 b12 = 0

《実施例3》
光源のNA=0.083333
使用波長:1.31(μm)
[面] [曲率半径] [軸上面間隔] [屈折率] [x軸傾き] [y軸偏心]
S0 r0= ∞ d0= 0.0402565 - a0= 0 b0= 0(光源)
S1 r1= 0.075 d1= 0.15 N1=1.50358291 a1= 0 b1= 0
S2 r2=-0.075 d2= 0.005 - a2= 0 b2= 0
S3 r3= - d3= 0 - a3= 42.4 b3= 0
S4 r4= - d4= 0 - a4= 0 b4= 0.04259
S5 r5= 0.0466425 d5= 0.0466425 N2=1.50358291 a5= 0 b5= 0
S6 r6= ∞ d6= 0 N3=1.50358291 a6= 0 b6= 0
S7 r7= ∞ d7= 0.3 N4=3.51136585 a7= 0 b7= 0
S8 r8= - d8= 0 - a8= -70.528779 b8= 0
S9 r9= - d9= 0 - a9= 0 b9= 0.14647875
S10 r10=∞ d10= 0 - a10= 0 b10= 0(全反射面)
S11 r11=∞ d11=-0.25 N5=3.51136585 a11= 0 b11= 0
S12 r12= - d12= 0 - a12=-54.738842 b12= 0
S13 r13= - d13= 0 - a13= 0 b13=-0.20163192
S14 r14=∞ d14= 0 N6=3.51136585 a14= 0 b14= 0
S15 r15=∞ a15= 0 b15= 0
Example 3
NA of light source = 0.083333
Wavelength used: 1.31 (μm)
[Surface] [Radius of curvature] [Axis top spacing] [Refractive index] [X-axis tilt] [Y-axis eccentricity]
S0 r0 = ∞ d0 = 0.0402565-a0 = 0 b0 = 0 (light source)
S1 r1 = 0.075 d1 = 0.15 N1 = 1.50358291 a1 = 0 b1 = 0
S2 r2 = -0.075 d2 = 0.005-a2 = 0 b2 = 0
S3 r3 =-d3 = 0-a3 = 42.4 b3 = 0
S4 r4 =-d4 = 0-a4 = 0 b4 = 0.04259
S5 r5 = 0.0466425 d5 = 0.0466425 N2 = 1.50358291 a5 = 0 b5 = 0
S6 r6 = ∞ d6 = 0 N3 = 1.50358291 a6 = 0 b6 = 0
S7 r7 = ∞ d7 = 0.3 N4 = 3.51136585 a7 = 0 b7 = 0
S8 r8 =-d8 = 0-a8 = -70.528779 b8 = 0
S9 r9 =-d9 = 0-a9 = 0 b9 = 0.14647875
S10 r10 = ∞ d10 = 0-a10 = 0 b10 = 0 (total reflection surface)
S11 r11 = ∞ d11 = -0.25 N5 = 3.51136585 a11 = 0 b11 = 0
S12 r12 =-d12 = 0-a12 = -54.738842 b12 = 0
S13 r13 =-d13 = 0-a13 = 0 b13 = -0.20163192
S14 r14 = ∞ d14 = 0 N6 = 3.51136585 a14 = 0 b14 = 0
S15 r15 = ∞ a15 = 0 b15 = 0

《実施例4》
光源のNA=0.083333
使用波長:1.31(μm)
[面] [曲率半径][軸上面間隔] [屈折率] [x軸傾き] [y軸偏心]
S0 r0= ∞ d0= 0.293245 - a0= 0 b0= 0(光源)
S1 r1= 0.15 d1= 0.3 N1=1.50358291 a1= 0 b1= 0
S2 r2=-0.15 d2= 0.05 - a2= 0 b2= 0
S3 r3= - d3= 0.035 - a3=-54.73561 b3= 0
S4 r4= - d4= 0 - a4= 0 b4=-0.049497475
S5 r5= ∞ d5= 0 - a5= 0 b5= 0(反射面)
S6 r6= ∞ d6= 0 - a6= 0 b6= 0
S7 r7= - d7=-0.15 - a7=-54.73561 b7= 0
S8 r8= - d8= 0 - a8= 0 b8= 0
S9 r9= ∞ d9= 0 - a9= 0 b9= 0
S10 r10=∞ a10= 0 b10=0
Example 4
NA of light source = 0.083333
Wavelength used: 1.31 (μm)
[Surface] [Radius of curvature] [Axis spacing] [Refractive index] [X-axis tilt] [Y-axis eccentricity]
S0 r0 = ∞ d0 = 0.293245-a0 = 0 b0 = 0 (light source)
S1 r1 = 0.15 d1 = 0.3 N1 = 1.50358291 a1 = 0 b1 = 0
S2 r2 = -0.15 d2 = 0.05-a2 = 0 b2 = 0
S3 r3 =-d3 = 0.035-a3 = -54.73561 b3 = 0
S4 r4 =-d4 = 0-a4 = 0 b4 = -0.049497475
S5 r5 = ∞ d5 = 0-a5 = 0 b5 = 0 (reflecting surface)
S6 r6 = ∞ d6 = 0-a6 = 0 b6 = 0
S7 r7 =-d7 = -0.15-a7 = -54.73561 b7 = 0
S8 r8 =-d8 = 0-a8 = 0 b8 = 0
S9 r9 = ∞ d9 = 0-a9 = 0 b9 = 0
S10 r10 = ∞ a10 = 0 b10 = 0

実施例1〜3(図2〜図4)は光路中に全反射のあるタイプの磁気記録ヘッド、実施例4(図5)は光路中に全反射のないタイプの磁気記録ヘッドであり、いずれも図1中の磁気記録ヘッド3に相当するものである。図2〜図5において、11はスライダ、12Aは光導波路を有する光アシスト部、12Bは磁気記録部、12Cは磁気再生部、13はシリコンベンチ、14は光ファイバー、15は球レンズ、19は基板であり、図2〜図4において17はマイクロプリズムであり、図4において16は半球レンズであり、図5において18はマイクロミラーである。   Examples 1 to 3 (FIGS. 2 to 4) are types of magnetic recording heads having total reflection in the optical path, and Example 4 (FIG. 5) is a type of magnetic recording head having no total reflection in the optical path. This also corresponds to the magnetic recording head 3 in FIG. 2-5, 11 is a slider, 12A is an optical assist unit having an optical waveguide, 12B is a magnetic recording unit, 12C is a magnetic reproducing unit, 13 is a silicon bench, 14 is an optical fiber, 15 is a spherical lens, and 19 is a substrate. 2 to 4, 17 is a microprism, 16 is a hemispherical lens in FIG. 4, and 18 is a micromirror in FIG. 5.

実施例1〜4において、磁気記録部12Bはディスク2に対して磁気情報の書き込みを行う磁気記録素子であり、磁気再生部12Cはディスク2に記録されている磁気情報の読み取りを行う磁気再生素子であり、光アシスト部12Aはディスク2の被記録部分を近赤外レーザー光でスポット加熱するための光アシスト素子である。なお、各実施例ではディスク2の記録領域の流入側から流出側にかけて、磁気再生部12C,光アシスト部12A,磁気記録部12Bの順に配置されているが、配置順はこれに限らない。光アシスト部12Aの流出側直後に磁気記録部12Bが位置すればよいので、例えば、光アシスト部12A,磁気記録部12B,磁気再生部12Cの順に配置してもよい。   In Examples 1 to 4, the magnetic recording unit 12B is a magnetic recording element that writes magnetic information to the disk 2, and the magnetic reproducing unit 12C is a magnetic reproducing element that reads magnetic information recorded on the disk 2. The optical assist unit 12A is an optical assist element for spot-heating the recording portion of the disk 2 with near infrared laser light. In each embodiment, the magnetic reproducing unit 12C, the optical assist unit 12A, and the magnetic recording unit 12B are arranged in this order from the inflow side to the outflow side of the recording area of the disk 2, but the arrangement order is not limited to this. Since the magnetic recording unit 12B may be positioned immediately after the outflow side of the optical assist unit 12A, for example, the optical assist unit 12A, the magnetic recording unit 12B, and the magnetic reproducing unit 12C may be arranged in this order.

実施例1,2の磁気記録ヘッド3は、光ファイバー14を含む光源部と、その光ファイバー14からの近赤外レーザー光を光アシスト部12Aに導くための球レンズ15及びマイクロプリズム17から成る光学系と、光源部及び光学系が取り付けられるシリコンベンチ13と、シリコンベンチ13が取り付けられた状態でディスク2(図1)上で浮上しながら相対的に移動するスライダ11と、で構成されている。実施例3の磁気記録ヘッド3は、光ファイバー14を含む光源部と、その光ファイバー14からの近赤外レーザー光を光アシスト部12Aに導くための球レンズ15,半球レンズ16及びマイクロプリズム17から成る光学系と、光源部及び光学系が取り付けられるシリコンベンチ13と、シリコンベンチ13が取り付けられた状態でディスク2(図1)上で浮上しながら相対的に移動するスライダ11と、で構成されている。実施例4の磁気記録ヘッド3は、光ファイバー14を含む光源部と、その光ファイバー14からの近赤外レーザー光を光アシスト部12Aに導くための球レンズ15及びマイクロミラー18から成る光学系と、光源部及び光学系が取り付けられるシリコンベンチ13と、シリコンベンチ13が取り付けられた状態でディスク2(図1)上で浮上しながら相対的に移動するスライダ11と、で構成されている。実施例1〜4におけるスライダ11内には、光アシスト部12A,磁気記録部12B及び磁気再生部12Cがスライダ11と一体化された状態で設けられている。また、実施例1〜3においてマイクロプリズム17はシリコンベンチ13と一体的に構成されており、実施例4においてマイクロミラー18はシリコンベンチ13と一体的に構成されている。   The magnetic recording heads 3 of the first and second embodiments are an optical system including a light source unit including an optical fiber 14 and a spherical lens 15 and a microprism 17 for guiding near-infrared laser light from the optical fiber 14 to the optical assist unit 12A. And a silicon bench 13 to which the light source unit and the optical system are attached, and a slider 11 that moves relatively while floating on the disk 2 (FIG. 1) with the silicon bench 13 attached. The magnetic recording head 3 according to the third embodiment includes a light source unit including an optical fiber 14, and a spherical lens 15, a hemispherical lens 16, and a microprism 17 for guiding the near infrared laser light from the optical fiber 14 to the light assist unit 12 </ b> A. An optical system, a silicon bench 13 to which the light source unit and the optical system are attached, and a slider 11 that moves relatively while floating on the disk 2 (FIG. 1) with the silicon bench 13 attached. Yes. The magnetic recording head 3 according to the fourth embodiment includes a light source unit including an optical fiber 14, an optical system including a spherical lens 15 and a micromirror 18 for guiding near-infrared laser light from the optical fiber 14 to the light assist unit 12A, and A silicon bench 13 to which the light source unit and the optical system are attached, and a slider 11 that moves relatively while floating on the disk 2 (FIG. 1) with the silicon bench 13 attached. In the slider 11 in the first to fourth embodiments, an optical assist unit 12 </ b> A, a magnetic recording unit 12 </ b> B, and a magnetic reproducing unit 12 </ b> C are provided in an integrated state with the slider 11. In the first to third embodiments, the microprism 17 is configured integrally with the silicon bench 13, and in the fourth embodiment, the micromirror 18 is configured integrally with the silicon bench 13.

実施例1(図2)の光学構成を説明する。シリコンベンチ13には異方性エッチングでV溝(不図示)が設けられており、そのV溝に直径125μmの光ファイバー14が設置されている。光ファイバー14の光出射側端面は斜めにカットされているため、光束は光ファイバー14から右下方に出射した後、球レンズ15に入射する。球レンズ15は、直径0.25mmのガラス球(BK7)から成る等倍光学系であり、球レンズ15を通過した光束は、シリコンベンチ13と一体化されたシリコンマイクロプリズム17での全反射により偏向される。シリコンマイクロプリズム17は頂角が約70°であり、異方性エッチングにより形成されている。シリコンマイクロプリズム17で偏向された光束は、直下の光アシスト部12A内の光導波路に対して集光され、光導波路との結合が完了する。光ファイバー14のモードフィールド径は約9μmであり、光アシスト部12A内の光導波路のモードフィールド径も約9μmであるため、この光学系の倍率は1:1である。光アシスト部12Aから出射した光束が微小な光スポットとしてディスク2(図1)に照射されると、ディスク2の照射部分の温度が一時的に上昇してディスク2の保磁力が低下する。その保磁力の低下した状態の照射部分に対して、磁気記録部12Bにより磁気情報の書き込みが行われる。   The optical configuration of Example 1 (FIG. 2) will be described. The silicon bench 13 is provided with a V groove (not shown) by anisotropic etching, and an optical fiber 14 having a diameter of 125 μm is installed in the V groove. Since the light emitting side end face of the optical fiber 14 is cut obliquely, the light beam exits from the optical fiber 14 to the lower right and then enters the spherical lens 15. The spherical lens 15 is an equal-magnification optical system composed of a glass sphere (BK7) having a diameter of 0.25 mm, and the light beam that has passed through the spherical lens 15 is totally reflected by the silicon microprism 17 integrated with the silicon bench 13. Deflected. The silicon microprism 17 has an apex angle of about 70 ° and is formed by anisotropic etching. The light beam deflected by the silicon microprism 17 is collected on the optical waveguide in the light assist portion 12A immediately below, and the coupling with the optical waveguide is completed. The mode field diameter of the optical fiber 14 is about 9 μm, and the mode field diameter of the optical waveguide in the optical assist portion 12A is also about 9 μm. Therefore, the magnification of this optical system is 1: 1. When the light beam emitted from the light assist portion 12A is irradiated onto the disk 2 (FIG. 1) as a minute light spot, the temperature of the irradiated portion of the disk 2 temporarily rises and the coercive force of the disk 2 decreases. Magnetic information is written by the magnetic recording unit 12B to the irradiated portion in which the coercive force is reduced.

実施例2(図3)の光学構成を説明する。シリコンベンチ13には異方性エッチングでV溝(不図示)が設けられており、そのV溝に直径125μmの光ファイバー14が設置されている。光ファイバー14の光出射側端面は斜めにカットされているため、光束は光ファイバー14から右下方に出射した後、球レンズ15に入射する。球レンズ15は、直径0.15mmのサファイアガラス球から成る等倍光学系であり、球レンズ15を通過した光束は、シリコンベンチ13と一体化されたシリコンマイクロプリズム17での全反射により偏向される。シリコンマイクロプリズム17は頂角が約70°であり、異方性エッチングにより形成されている。シリコンマイクロプリズム17で偏向された光束は、直下の光アシスト部12A内の光導波路に対して集光され、光導波路との結合が完了する。光ファイバー14のモードフィールド径は約9μmであり、光アシスト部12A内の光導波路のモードフィールド径も約9μmであるため、この光学系の倍率は1:1である。光アシスト部12Aから出射した光束が微小な光スポットとしてディスク2(図1)に照射されると、ディスク2の照射部分の温度が一時的に上昇してディスク2の保磁力が低下する。その保磁力の低下した状態の照射部分に対して、磁気記録部12Bにより磁気情報の書き込みが行われる。   The optical configuration of Example 2 (FIG. 3) will be described. The silicon bench 13 is provided with a V groove (not shown) by anisotropic etching, and an optical fiber 14 having a diameter of 125 μm is installed in the V groove. Since the light emitting side end face of the optical fiber 14 is cut obliquely, the light beam exits from the optical fiber 14 to the lower right and then enters the spherical lens 15. The spherical lens 15 is an equal-magnification optical system composed of a sapphire glass sphere having a diameter of 0.15 mm, and the light beam that has passed through the spherical lens 15 is deflected by total reflection at a silicon microprism 17 integrated with the silicon bench 13. The The silicon microprism 17 has an apex angle of about 70 ° and is formed by anisotropic etching. The light beam deflected by the silicon microprism 17 is collected on the optical waveguide in the light assist portion 12A immediately below, and the coupling with the optical waveguide is completed. The mode field diameter of the optical fiber 14 is about 9 μm, and the mode field diameter of the optical waveguide in the optical assist portion 12A is also about 9 μm. Therefore, the magnification of this optical system is 1: 1. When the light beam emitted from the light assist portion 12A is irradiated onto the disk 2 (FIG. 1) as a minute light spot, the temperature of the irradiated portion of the disk 2 temporarily rises and the coercive force of the disk 2 decreases. Magnetic information is written by the magnetic recording unit 12B to the irradiated portion in which the coercive force is reduced.

実施例3(図4)の光学構成を説明する。シリコンベンチ13には異方性エッチングでV溝(不図示)が設けられており、そのV溝に直径125μmの光ファイバー14が設置されている。光ファイバー14の光出射側端面は斜めにカットされているため、光束は光ファイバー14から右上方に出射した後、球レンズ15に入射する。球レンズ15は直径0.15mmのガラス球(BK7)から成り、光束は球レンズ15で略コリメートされる。球レンズ15を通過した光束は、半球レンズ16に入射する。半球レンズ16は直径0.093285mmのガラス半球(BK7)から成り、シリコンベンチ13と一体化されたシリコンマイクロプリズム17に接着されている。球レンズ15から出射した略コリメート光束は、半球レンズ16で集光された後、シリコンマイクロプリズム17での全反射により偏向される。シリコンマイクロプリズム17は頂角が約70°であり、異方性エッチングにより形成されている。シリコンマイクロプリズム17で偏向された光束は、直下の光アシスト部12A内の光導波路に対して集光され、光導波路との結合が完了する。光ファイバー14のモードフィールド径は約9μmであり、光アシスト部12A内の光導波路のモードフィールド径も約9μmであるため、この光学系の倍率は1:1である。光アシスト部12Aから出射した光束が微小な光スポットとしてディスク2(図1)に照射されると、ディスク2の照射部分の温度が一時的に上昇してディスク2の保磁力が低下する。その保磁力の低下した状態の照射部分に対して、磁気記録部12Bにより磁気情報の書き込みが行われる。   The optical configuration of Example 3 (FIG. 4) will be described. The silicon bench 13 is provided with a V groove (not shown) by anisotropic etching, and an optical fiber 14 having a diameter of 125 μm is installed in the V groove. Since the light emission side end face of the optical fiber 14 is cut obliquely, the light beam is emitted from the optical fiber 14 to the upper right and then enters the spherical lens 15. The spherical lens 15 is made of a glass sphere (BK7) having a diameter of 0.15 mm, and the luminous flux is substantially collimated by the spherical lens 15. The light beam that has passed through the spherical lens 15 enters the hemispherical lens 16. The hemispherical lens 16 is formed of a glass hemisphere (BK7) having a diameter of 0.093285 mm, and is bonded to a silicon microprism 17 integrated with the silicon bench 13. The substantially collimated light beam emitted from the spherical lens 15 is condensed by the hemispherical lens 16 and then deflected by total reflection by the silicon microprism 17. The silicon microprism 17 has an apex angle of about 70 ° and is formed by anisotropic etching. The light beam deflected by the silicon microprism 17 is collected on the optical waveguide in the light assist portion 12A immediately below, and the coupling with the optical waveguide is completed. The mode field diameter of the optical fiber 14 is about 9 μm, and the mode field diameter of the optical waveguide in the optical assist portion 12A is also about 9 μm. Therefore, the magnification of this optical system is 1: 1. When the light beam emitted from the light assist portion 12A is irradiated onto the disk 2 (FIG. 1) as a minute light spot, the temperature of the irradiated portion of the disk 2 temporarily rises and the coercive force of the disk 2 decreases. Magnetic information is written by the magnetic recording unit 12B to the irradiated portion in which the coercive force is reduced.

実施例4(図5)の光学構成を説明する。シリコンベンチ13には異方性エッチングでV溝(不図示)が設けられており、そのV溝に直径125μmの光ファイバー14が設置されている。光ファイバー14の光出射側端面は斜めにカットされているため、光束は光ファイバー14から右下方に出射した後、球レンズ15に入射する。球レンズ15は、直径0.3mmのガラス球(BK7)から成る等倍光学系であり、球レンズ15を通過した光束は、シリコンベンチ13と一体化されたシリコンマイクロミラー18での反射により偏向される。シリコンマイクロミラー18はスライダ11との成す角度が約54°であり、異方性エッチングにより形成されている。また、シリコンマイクロミラー18の表面はアルミコートされている。シリコンマイクロミラー18で偏向された光束は、直下の光アシスト部12A内の光導波路に対して集光され、光導波路との結合が完了する。光ファイバー14のモードフィールド径は約9μmであり、光アシスト部12A内の光導波路のモードフィールド径も約9μmであるため、この光学系の倍率は1:1である。光アシスト部12Aから出射した光束が微小な光スポットとしてディスク2(図1)に照射されると、ディスク2の照射部分の温度が一時的に上昇してディスク2の保磁力が低下する。その保磁力の低下した状態の照射部分に対して、磁気記録部12Bにより磁気情報の書き込みが行われる。   The optical configuration of Example 4 (FIG. 5) will be described. The silicon bench 13 is provided with a V groove (not shown) by anisotropic etching, and an optical fiber 14 having a diameter of 125 μm is installed in the V groove. Since the light emitting side end face of the optical fiber 14 is cut obliquely, the light beam exits from the optical fiber 14 to the lower right and then enters the spherical lens 15. The spherical lens 15 is an equal-magnification optical system composed of a glass sphere (BK7) having a diameter of 0.3 mm, and the light beam that has passed through the spherical lens 15 is deflected by reflection from a silicon micromirror 18 integrated with the silicon bench 13. Is done. The silicon micromirror 18 has an angle of about 54 ° with the slider 11 and is formed by anisotropic etching. The surface of the silicon micromirror 18 is coated with aluminum. The light beam deflected by the silicon micromirror 18 is condensed on the optical waveguide in the light assist portion 12A immediately below, and the coupling with the optical waveguide is completed. The mode field diameter of the optical fiber 14 is about 9 μm, and the mode field diameter of the optical waveguide in the optical assist portion 12A is also about 9 μm. Therefore, the magnification of this optical system is 1: 1. When the light beam emitted from the light assist portion 12A is irradiated onto the disk 2 (FIG. 1) as a minute light spot, the temperature of the irradiated portion of the disk 2 temporarily rises and the coercive force of the disk 2 decreases. Magnetic information is written by the magnetic recording unit 12B to the irradiated portion in which the coercive force is reduced.

次に、実施例1〜4(図2〜図5)の磁気記録ヘッド3がスライダ11内に有する光アシスト部12Aを、具体例を挙げて説明する。図6〜図8に、光アシスト部12Aの具体例を示す。図6は光アシスト部12Aの具体例の内部構造を斜視図で示しており、図7は光アシスト部12Aに対する光入力側(つまり図2〜図5に示す配置での上面側)から見たスライダ11の外観を示している。また、図8はスライダ11の断面構造を示しており、図8(A)は図7におけるA−A’線断面(図2〜図5の断面と対応する。)、図8(B)は図7におけるB−B’線断面(ディスク2(図1)の記録領域の流出側から見た断面)をそれぞれ示している。   Next, the optical assist unit 12A included in the slider 11 of the magnetic recording head 3 of Examples 1 to 4 (FIGS. 2 to 5) will be described with a specific example. 6 to 8 show specific examples of the light assist unit 12A. 6 is a perspective view showing an internal structure of a specific example of the light assist portion 12A, and FIG. 7 is a view from the light input side (that is, the upper surface side in the arrangement shown in FIGS. 2 to 5) with respect to the light assist portion 12A. The external appearance of the slider 11 is shown. 8 shows a cross-sectional structure of the slider 11. FIG. 8A is a cross-sectional view taken along the line AA 'in FIG. 7 (corresponding to the cross-sections of FIGS. 2 to 5), and FIG. FIG. 8 shows cross sections taken along line BB ′ in FIG. 7 (cross sections viewed from the outflow side of the recording area of the disk 2 (FIG. 1)).

図6〜図8に示す光アシスト部12Aは、コア31(例えばSi),サブコア32(例えばSiON)及びクラッド33(例えばSiO2)から成る光導波路、並びに光導波路の集光部分に設けられたプラズモンプローブ30を有している。プラズモンプローブ30は、ピン形状の金属薄膜(材料例:金,銀,アルミニウム等)から成るプラズモン励起用アンテナで構成されており、厚みのある形状となって光導波路(具体的にはコア31の光出力側部分)内に埋め込まれている。光導波路の幅方向のサイズは、図8(B)に示すように、コア31の光入力側の幅D3が100nm以下、光出力側の幅D2が300nmであるのに対し、プラズモンプローブ30の幅D1は20nm以下である。また、光導波路による光の導波方向をプラズモンプローブ30及びスライダ11の厚み方向とし、図8に示すように、プラズモンプローブ30の厚さをL1とし、スライダ11の厚さをL2とすると、条件式:1μm<L1<L2を満たした構成になっている。 The optical assist unit 12A shown in FIGS. 6 to 8 is provided in an optical waveguide composed of a core 31 (for example, Si), a sub-core 32 (for example, SiON), and a clad 33 (for example, SiO 2 ), and a condensing portion of the optical waveguide A plasmon probe 30 is provided. The plasmon probe 30 is composed of a plasmon excitation antenna made of a pin-shaped metal thin film (material examples: gold, silver, aluminum, etc.), and has a thick shape and an optical waveguide (specifically, the core 31). Embedded in the light output side part). As shown in FIG. 8B, the width in the width direction of the optical waveguide is such that the width D3 on the light input side of the core 31 is 100 nm or less and the width D2 on the light output side is 300 nm. The width D1 is 20 nm or less. Further, when the light guiding direction by the optical waveguide is the thickness direction of the plasmon probe 30 and the slider 11, the thickness of the plasmon probe 30 is L1, and the thickness of the slider 11 is L2, as shown in FIG. Formula: 1 μm <L1 <L2 is satisfied.

図6等に示すような3次元光導波路に、厚みのある形状のアンテナから成るプラズモンプローブを埋め込むことにより、集光点とプラズモンプローブとの位置合わせを光導波路形成後に行うことが不要になる。また、そのような構成では、プラズモンプローブの位置合わせを簡易に行うことが可能である。例えば、プラズモンプローブをアパーチャやアンテナとして光導波路の集光点に貼り付ける場合には、集光点との位置合わせは困難である。しかし、プラズモンプローブを光導波路に埋め込む構成であれば、コア加工時に一連の作業として高精度の位置合わせを行うことが可能である。また、光導波路にプラズモンプローブを埋め込む構成では、SILに埋め込む構成等に比べて集光点とプラズモンプローブとの間に位置ズレが生じにくいというメリットもある。したがって、記録媒体に対する情報記録に光を利用する微小光記録ヘッドにあっては、記録媒体上で浮上しながら相対的に移動するスライダを設け、そのスライダに光導波路を設け、その集光部分に厚みのある形状のプラズモンプローブを光導波路内に埋め込むように設けることが好ましい。   By embedding a plasmon probe including a thick antenna in a three-dimensional optical waveguide as shown in FIG. 6 and the like, it is not necessary to align the focal point and the plasmon probe after forming the optical waveguide. In such a configuration, the plasmon probe can be easily aligned. For example, when a plasmon probe is attached as an aperture or an antenna to a condensing point of an optical waveguide, alignment with the condensing point is difficult. However, if the plasmon probe is embedded in the optical waveguide, it is possible to perform highly accurate alignment as a series of operations during core processing. In addition, the configuration in which the plasmon probe is embedded in the optical waveguide has an advantage that the positional deviation is less likely to occur between the condensing point and the plasmon probe as compared with the configuration in which the plasmon probe is embedded in the SIL. Therefore, in a minute optical recording head that uses light for recording information on a recording medium, a slider that moves relatively while floating on the recording medium is provided, an optical waveguide is provided on the slider, and the light collecting portion is It is preferable to provide a plasmon probe having a thick shape so as to be embedded in the optical waveguide.

厚みのある形状のプラズモンプローブを用いる場合、ある程度の厚みにすると端面の加工時に切断位置の誤差に対する許容が良くなる。ブレード幅の約10分の1が誤差になるので、条件式:1μm<L1を満たすようにすればよい。また、その厚みL1をスライダの厚みL2以上にしても意味がないので、条件式:1μm<L1<L2を満たすことが好ましいといえる。   When a plasmon probe having a thick shape is used, if the thickness is set to a certain level, tolerance for a cutting position error is improved when the end face is processed. Since about one-tenth of the blade width is an error, the conditional expression: 1 μm <L1 should be satisfied. Further, since it does not make sense to make the thickness L1 equal to or greater than the slider thickness L2, it can be said that it is preferable to satisfy the conditional expression: 1 μm <L1 <L2.

プラズモンプローブ30に光が作用すると、その頂点近辺に近接場光が発生して、非常に小さいスポットサイズの光を用いた記録又は再生を行うことが可能となる。つまり、光導波路の光出力側部分にプラズモンプローブを設けることにより局在プラズモンを発生させれば、光導波路で形成された光スポットのサイズを更に小さくすることができ、高密度記録に有利となる。また、コア材料としてシリコンを用いれば、シリコンは屈折率が高いので、近接場発生効率が良くなる。なお、コア31の中央にプラズモンプローブ30の頂点が位置することが好ましく、また、近赤外波長(1550nm)では金属薄膜の材料として金を用いることが好ましい。   When light acts on the plasmon probe 30, near-field light is generated near the apex of the plasmon probe 30, and recording or reproduction using light with a very small spot size can be performed. That is, if a localized plasmon is generated by providing a plasmon probe in the light output side portion of the optical waveguide, the size of the light spot formed in the optical waveguide can be further reduced, which is advantageous for high-density recording. . In addition, when silicon is used as the core material, since the refractive index of silicon is high, the near-field generation efficiency is improved. Note that the apex of the plasmon probe 30 is preferably located at the center of the core 31, and gold is preferably used as a material for the metal thin film at a near infrared wavelength (1550 nm).

光アシスト式で超高密度記録を行う場合に必要なスポット径は20nm程度であり、光の利用効率を考えると、プラズモンプローブ30におけるモードフィールド径(MFD)は0.3μm程度が望ましい。そのままの大きさでは光入射が困難であるため、スポット径を5μm程度から数100nmまで小さくするスポットサイズ変換を行う必要がある。光アシスト部12Aの具体例(図6〜図8)では、光導波路の少なくとも一部でスポットサイズ変換器を構成することにより、光入射を容易にするためのスポットサイズ変換を行う構成としている。   The spot diameter required for ultra-high-density recording by the optical assist method is about 20 nm, and the mode field diameter (MFD) of the plasmon probe 30 is preferably about 0.3 μm in consideration of the light utilization efficiency. Since it is difficult to make light incident with the size as it is, it is necessary to perform spot size conversion to reduce the spot diameter from about 5 μm to several hundreds of nm. In the specific examples (FIGS. 6 to 8) of the light assist unit 12A, a spot size converter is configured by at least a part of the optical waveguide to perform spot size conversion for facilitating light incidence.

図6〜図8に示す光アシスト部12Aでのコア31の幅は、図8(A)に示す断面では光入力側から光出力側にかけて一定になっているが、図8(B)に示す断面ではサブコア32内において光入力側から光出力側にかけて徐々に広くなるように変化している。この光導波路径の滑らかな変化により、モードフィールド径が変換される。つまり、この具体例における光導波路のコア31の幅は、図8(B)に示すように、光入力側でD3=100nm以下、光出力側でD2=300nmとなっているが、光入力側ではサブコア32によりMFD:5μm程度の光導波路が構成され、その後徐々にコア31に光結合してモードフィールド径が小さくなる。このように、光導波路径を滑らかに変化させることによりモードフィールド径を変換して、[光導波路の光入力側のモードフィールド径]>[光導波路の光出力側のモードフィールド径]を満たすようにすることが好ましい。   The width of the core 31 in the light assist portion 12A shown in FIGS. 6 to 8 is constant from the light input side to the light output side in the cross section shown in FIG. 8A, but is shown in FIG. 8B. The cross section changes so as to gradually widen from the light input side to the light output side in the sub-core 32. The mode field diameter is converted by the smooth change of the optical waveguide diameter. That is, the width of the core 31 of the optical waveguide in this specific example is D3 = 100 nm or less on the light input side and D2 = 300 nm on the light output side as shown in FIG. Then, an optical waveguide having an MFD of about 5 μm is formed by the sub-core 32, and thereafter, the mode field diameter is reduced by gradually optically coupling to the core 31. As described above, the mode field diameter is converted by smoothly changing the optical waveguide diameter so that [mode field diameter on the optical input side of the optical waveguide]> [mode field diameter on the optical output side of the optical waveguide] is satisfied. It is preferable to make it.

光導波路の先端を徐々に細く(又は薄く)なるようにしておくと、光導波路のコアを伝搬してきた光がスポットサイズ変換用光導波路のコア部分にさしかかると、光がクラッドへ漏れだす量が多くなり、光の電界分布が広がることになる。その結果、スポットサイズが大きくなる。しかしながら、変換用光導波路のコアの幅を極端に細く又は厚みを薄くすると、光導波路として伝搬モードが存在できない状態、すなわちカットオフ状態となる。このとき、光はサブコア(例えばSiON)及びクラッド(例えばSiO2)で構成された光導波路と結合し、大きな光スポットを形成することができる。これは小さいスポットを拡大する方向での説明であるが、光の逆進性により上記のように拡大された光スポットと同じ形状の光を入射させれば、光スポットを縮小することができる。なお、細く又は薄くする方向が一方向であっても、光スポットを2次元的に拡大することができる。 If the tip of the optical waveguide is gradually made thinner (or thinner), the amount of light leaking into the cladding will be reduced when the light propagating through the core of the optical waveguide reaches the core portion of the optical waveguide for spot size conversion. This increases the electric field distribution of light. As a result, the spot size increases. However, when the width of the core of the conversion optical waveguide is made extremely thin or thin, the propagation mode cannot exist as the optical waveguide, that is, a cut-off state is obtained. At this time, the light can be combined with an optical waveguide composed of a sub-core (eg, SiON) and a clad (eg, SiO 2 ) to form a large light spot. This is an explanation in the direction of enlarging a small spot, but the light spot can be reduced if light having the same shape as the light spot magnified as described above is incident due to the reversibility of light. Even if the direction of thinning or thinning is one direction, the light spot can be expanded two-dimensionally.

前述したように、通常のレンズやSILでディスク上に光スポットを形成する場合、スポットサイズを小さくするためにNAを大きくとらなければならない。これは集光点に向かう光線の角度が大きいことを意味するので、光が磁気記録部や磁気再生部と干渉してしまうことになり、また、ビーム径や磁気記録ヘッドの大型化を招くことにもなる。それに対し前述した磁気記録ヘッド3では、スライダ11に光導波路を有する構成になっているため、磁気記録部や磁気再生部との配置的干渉は問題とならない。また、光導波路の少なくとも一部で構成されるスポットサイズ変換器により、スライダ11の上部におけるモードフィールド径を大きくしておけば、上部レンズのNAを小さくすることができ、ビーム径も小さくとることができるため、光学系の小型化に寄与することができる。   As described above, when a light spot is formed on a disk with a normal lens or SIL, the NA must be increased in order to reduce the spot size. This means that the angle of the light beam toward the condensing point is large, so that the light interferes with the magnetic recording unit and the magnetic reproducing unit, and also increases the beam diameter and the magnetic recording head. It also becomes. On the other hand, in the magnetic recording head 3 described above, since the slider 11 has an optical waveguide, the positional interference with the magnetic recording unit and the magnetic reproducing unit does not cause a problem. Further, if the mode field diameter at the upper part of the slider 11 is increased by a spot size converter composed of at least a part of the optical waveguide, the NA of the upper lens can be reduced and the beam diameter can be reduced. Therefore, it can contribute to miniaturization of the optical system.

通常、光導波路部の長さはスライダ厚さと一致させるが、特殊な構成ではその前後としてもよい。例えば、位置合わせ用としてスライダに凹形状(又は凸形状)を設け、逆にシリコンベンチに凸形状(又は凹形状)を設けた場合では、光導波路部の長さがスライダ厚さと一致していなくてもよい。また、スポットサイズ変換器の長さは、0.2mm以上であることが好ましい。スポットサイズ変換を急激に行うと漏れ光が発生し、この過剰損失を低減するには0.2mm以上の長さが必要となるからである。なお、図6〜図8に示す具体例におけるスポットサイズ変換器の長さは、コア31の幅が光入力側から光出力側にかけて徐々に変化している部分の長さ、つまりサブコア32の長さに相当する。   Usually, the length of the optical waveguide portion is made to coincide with the slider thickness, but may be before and after in a special configuration. For example, when a concave shape (or convex shape) is provided on the slider for alignment and a convex shape (or concave shape) is provided on the silicon bench, the length of the optical waveguide portion does not match the slider thickness. May be. Moreover, it is preferable that the length of a spot size converter is 0.2 mm or more. This is because when spot size conversion is performed rapidly, leaked light is generated, and a length of 0.2 mm or more is required to reduce this excess loss. The length of the spot size converter in the specific examples shown in FIGS. 6 to 8 is the length of the portion where the width of the core 31 gradually changes from the light input side to the light output side, that is, the length of the sub-core 32. It corresponds to.

次に、光アシスト部12A(図6〜図8)を有するスライダ11の製造方法を、図9〜図11の工程図を用いて説明する。図9はスライダ11の製造工程を示しており、図10,図11は図9中のプラズモンプローブ30の製造工程1,2をそれぞれ示している。図9(A)に示すように、基板19(材料:AlTiC等)に磁気再生部12Cを作製した後、平坦化し、CVD(Chemical Vapor Deposition)を用いて第1のSiO2層20を6μm成膜する。そして、フォトリソ工程でSiO2層20に深さ3μmの凹部をサブコア32用として形成し、その凹部にCVDを用いて第1のSiON層21を形成する(図9(B))。SiO2層20及びSiON層21の上に、図9(C)に示すように、第1のSi層(コア層)22aを成膜する。このとき、後述する製造工程1でプラズモンプローブ30を作製する場合にはSi層22aを150nm成膜し、製造工程2でプラズモンプローブ30を作製する場合にはSi層22aを250nm成膜する。 Next, a method for manufacturing the slider 11 having the light assist portion 12A (FIGS. 6 to 8) will be described with reference to the process diagrams of FIGS. 9 shows the manufacturing process of the slider 11, and FIGS. 10 and 11 show the manufacturing processes 1 and 2 of the plasmon probe 30 in FIG. 9, respectively. As shown in FIG. 9A, after the magnetic reproducing portion 12C is formed on the substrate 19 (material: AlTiC or the like), it is flattened, and the first SiO 2 layer 20 is formed to 6 μm by using CVD (Chemical Vapor Deposition). Film. Then, a recess having a depth of 3 μm is formed in the SiO 2 layer 20 for the sub-core 32 by a photolithography process, and the first SiON layer 21 is formed in the recess by using CVD (FIG. 9B). On the SiO 2 layer 20 and the SiON layer 21, as shown in FIG. 9C, a first Si layer (core layer) 22a is formed. At this time, when the plasmon probe 30 is manufactured in the manufacturing process 1 described later, the Si layer 22a is formed to a thickness of 150 nm, and when the plasmon probe 30 is manufactured in the manufacturing process 2, the Si layer 22a is formed to a thickness of 250 nm.

次に、プラズモンプローブ30の製造工程に入る。図10に示す製造工程1では、第1のSi層(コア層)22aの上にレジストを塗布し、電子ビームリソグラフィーにより20nm(図8(B)の幅D1に相当する。)の溝形状をパターニングして、図10(A)に示すようにレジストパターン26を形成する。そして、蒸着,スパッタ等で金を成膜すると、図10(B)に示すように金薄膜27が得られる。リフトオフ工程により、図10(C)に示すように金薄膜27から金線形状を形成する。次に、図9(D)及び図10(D)に示すように、第2のSi層(コア層)22bを150nm成膜する。その上にレジストを塗布し、電子ビームリソグラフィーによりコア形状をパターニングして、レジストパターンを形成する。このとき、コア形状が所望のテーパ形状となるようにレジストパターンを形成する。RIE(Reactive Ion Etching)を用いて、第1,第2のSi層22a,22bを加工し、図9(E)及び図10(E)に示すようにコア31を形成する。   Next, the manufacturing process of the plasmon probe 30 is started. In the manufacturing process 1 shown in FIG. 10, a resist is applied on the first Si layer (core layer) 22a, and a groove shape of 20 nm (corresponding to the width D1 in FIG. 8B) is formed by electron beam lithography. Patterning is performed to form a resist pattern 26 as shown in FIG. Then, when gold is deposited by vapor deposition, sputtering, or the like, a gold thin film 27 is obtained as shown in FIG. Through the lift-off process, a gold wire shape is formed from the gold thin film 27 as shown in FIG. Next, as shown in FIGS. 9D and 10D, a second Si layer (core layer) 22b is formed to a thickness of 150 nm. A resist is applied thereon, and the core shape is patterned by electron beam lithography to form a resist pattern. At this time, the resist pattern is formed so that the core shape has a desired taper shape. The first and second Si layers 22a and 22b are processed using RIE (Reactive Ion Etching) to form the core 31 as shown in FIGS. 9E and 10E.

図11に示す製造工程2では、第1のSi層(コア層)22aの上にレジストを塗布し、電子ビームリソグラフィーにより150nm(図8(B)の幅D1に相当する。)の溝形状をパターニングして、図11(A)に示すようにレジストパターン26を形成する。そして、図11(B)に示すようにドライエッチングによりSi層22aをV溝形状に加工する。次に、蒸着,スパッタ等で金を成膜すると、図11(C)に示すように金薄膜27が得られる。図11(D)に示すように、V溝部以外の金薄膜27を研磨工程により除去して平坦化する。次に、図9(D)及び図11(E)に示すように、第2のSi層(コア層)22bを50nm成膜する。その上にレジストを塗布し、電子ビームリソグラフィーによりコア形状をパターニングして、レジストパターンを形成する。このとき、コア形状が所望のテーパ形状となるようにレジストパターンを形成する。RIEを用いて、第1,第2のSi層22a,22bを加工し、図9(E)及び図11(F)に示すようにコア31を形成する。   In the manufacturing process 2 shown in FIG. 11, a resist is applied on the first Si layer (core layer) 22a, and a groove shape of 150 nm (corresponding to the width D1 in FIG. 8B) is formed by electron beam lithography. Patterning is performed to form a resist pattern 26 as shown in FIG. Then, as shown in FIG. 11B, the Si layer 22a is processed into a V-groove shape by dry etching. Next, when gold is deposited by vapor deposition, sputtering or the like, a gold thin film 27 is obtained as shown in FIG. As shown in FIG. 11D, the gold thin film 27 other than the V-groove is removed and flattened by a polishing process. Next, as shown in FIGS. 9D and 11E, a second Si layer (core layer) 22b is formed to a thickness of 50 nm. A resist is applied thereon, and the core shape is patterned by electron beam lithography to form a resist pattern. At this time, the resist pattern is formed so that the core shape has a desired taper shape. Using RIE, the first and second Si layers 22a and 22b are processed to form the core 31 as shown in FIGS. 9 (E) and 11 (F).

上記製造工程1又は2でプラズモンプローブ30が埋め込まれたコア31を形成した後、図9(E)に示すように、CVDを用いて第2のSiON層23をコア31上で3μm積層する。フォトリソ工程でSiON層23を3μm幅に加工し、図9(F)に示すようにサブコア32を形成する。図9(G)に示すように、CVDを用いて第2のSiO2層24を8μm成膜した後に平坦化し、磁気記録部12Bを作製する。図9(H)に示すように、ダイシング,ミリング等の加工方法により、スライダ形状に切断加工する。クラッド33はSiO2層20とSiO2層24とで構成される。なお、基板19はAlTiCから成っているが、シリコンから成るものを用いてもよい。 After forming the core 31 in which the plasmon probe 30 is embedded in the manufacturing process 1 or 2, the second SiON layer 23 is laminated on the core 31 by 3 μm using CVD as shown in FIG. The SiON layer 23 is processed to a width of 3 μm by a photolithography process, and a sub-core 32 is formed as shown in FIG. As shown in FIG. 9 (G), the second SiO 2 layer 24 is formed to a thickness of 8 μm using CVD and then flattened to produce the magnetic recording portion 12B. As shown in FIG. 9 (H), it is cut into a slider shape by a processing method such as dicing or milling. The clad 33 is composed of the SiO 2 layer 20 and the SiO 2 layer 24. The substrate 19 is made of AlTiC, but may be made of silicon.

なお、図6〜図8に示す光アシスト部の変形例として、図17の上面図に示すように、コア31の一面がサブコア32の一面と一致するように構成することもできる。このようにすれば、図9(B)の製造工程を省略することができ、光アシスト部の製造プロセスを簡略化することができる。   As a modification of the light assist unit shown in FIGS. 6 to 8, one surface of the core 31 can be configured to coincide with one surface of the sub-core 32 as shown in the top view of FIG. 17. In this way, the manufacturing process of FIG. 9B can be omitted, and the manufacturing process of the optical assist unit can be simplified.

上述したように、光導波路のコアを形成する際、その途中までコア層の成膜を行い、その上からコアの中心近傍部分にプラズモンプローブを形成し、残りのコア層の成膜を行った後、コア層を所定のコア形状に加工することが好ましい。このようにプラズモンプローブを光導波路に埋め込むことにより、コア加工時に一連の作業としてプラズモンプローブの位置合わせを高精度かつ簡易に行うことが可能となり、そのような構成を有する光導波路では、光導波路形成後の集光点との位置合わせが不要になる。   As described above, when the core of the optical waveguide was formed, the core layer was formed halfway, the plasmon probe was formed near the center of the core from above, and the remaining core layer was formed. Then, it is preferable to process the core layer into a predetermined core shape. By embedding the plasmon probe in the optical waveguide in this way, it becomes possible to perform positioning of the plasmon probe as a series of operations at the time of core processing with high accuracy and simplicity. In an optical waveguide having such a configuration, an optical waveguide is formed. Positioning with a later condensing point becomes unnecessary.

上記光導波路のように、そのコア材料がシリコンであり、光導波路の使用波長が近赤外波長であることが好ましい。いろいろな高屈折率材料が一般的に知られており、その高屈折率材料を使用することにより、紫外光から可視光,近赤外光まで様々な波長に対応することができ、レーザや光学系の部材の選択肢は広がる。しかし、一般に高屈折率材料はドライエッチング装置で加工してもエッチング速度が遅く、レジストとの選択比も取り難く、性能の良い微細構造を形成するためには困難が伴う。例えば、GaAs,GaN等の材料では可視光を用いることができるが、加工は困難である。シリコンは半導体プロセスの一般的材料であり、その加工方法が確立されているため、比較的簡単に加工を行うことができる。したがって、シリコンを光導波路のコア材料として用いることが好ましい。ただし、シリコンを光導波路のコア材料として用いると、可視光を使用することができないので、光導波路に使用する光として近赤外光を用いることが好ましい。つまり、近赤外波長(1550nm,1310nm等)の光源を用いれば、実績のあるシリコンをコア材料として用いることができるため、加工性が向上して有利になる。   Like the optical waveguide, the core material is preferably silicon, and the wavelength used for the optical waveguide is preferably a near infrared wavelength. Various high-refractive-index materials are generally known. By using these high-refractive-index materials, it is possible to cope with various wavelengths from ultraviolet light to visible light and near-infrared light. There are a wide range of options for system components. However, in general, a high refractive index material has a low etching rate even when processed with a dry etching apparatus, and it is difficult to obtain a selective ratio with a resist, and it is difficult to form a fine structure with good performance. For example, visible light can be used for materials such as GaAs and GaN, but processing is difficult. Silicon is a common material for semiconductor processes, and its processing method has been established, so that it can be processed relatively easily. Therefore, it is preferable to use silicon as the core material of the optical waveguide. However, when silicon is used as the core material of the optical waveguide, visible light cannot be used. Therefore, it is preferable to use near infrared light as the light used for the optical waveguide. In other words, if a light source having a near infrared wavelength (1550 nm, 1310 nm, etc.) is used, proven silicon can be used as a core material, which is advantageous in improving workability.

シリコンは屈折率が石英に比べてはるかに高いので、シリコンを光導波路のコア材料として用いることにより、コアとクラッドとの屈折率差Δnを大きくすることができ、単純な構成で微小スポット(つまり高エネルギー密度)を得ることが可能となる。例えば、上記のようにコアをシリコンで構成しクラッドをSiO2で構成すれば、屈折率差Δnを大きくすることができ、スポット径を1μm以下、0.5μm程度にまで小さくすることができる。コアとクラッドとの屈折率差Δnは、コアの屈折率(ここではシリコン等)をn1とし、クラッドの屈折率(ここではSiO2等)をn2とすると、式:Δn(%)=(n12−n22)/(2・n12)×100≒(n1−n2)/n1×100で定義される。なお、SiO2の屈折率は1.465、SiONの屈折率は1.5、Siの屈折率は3.5であり、コア材料が石英の光導波路で得られるスポット径は10μm程度である。 Since the refractive index of silicon is much higher than that of quartz, by using silicon as the core material of the optical waveguide, the refractive index difference Δn between the core and the cladding can be increased, and a small spot (that is, a simple structure) High energy density) can be obtained. For example, if the core is made of silicon and the clad is made of SiO 2 as described above, the refractive index difference Δn can be increased, and the spot diameter can be reduced to 1 μm or less and about 0.5 μm. The refractive index difference Δn between the core and the clad is expressed by the equation: Δn (%) = (n1) where n1 is the refractive index of the core (here, silicon or the like) and n2 is the refractive index of the clad (here, SiO 2 or the like). 2 -n2 2) / (defined by 2 · n1 2) × 100 ≒ (n1-n2) / n1 × 100. The refractive index of SiO 2 is 1.465, the refractive index of SiON is 1.5, the refractive index of Si is 3.5, and the spot diameter obtained with an optical waveguide whose core material is quartz is about 10 μm.

光導波路においてコアとクラッドとの屈折率差Δnは20%以上であることが望ましい。Δnが20%以上となる高屈折率差の光導波路を用いることにより、単純な構成で微小なスポットを得ることが可能となる。基本モードのビーム径が1μm以下になるので、屈折率差Δnは20%以上必要である。その1μmはプラズモンを高効率に励起するために必要なビーム径である。また、屈折率差Δnは50%以下である。なぜならば、コアの屈折率をいくら高くしてもΔnの式は50%に漸近するだけだからである。   In the optical waveguide, the refractive index difference Δn between the core and the clad is desirably 20% or more. By using an optical waveguide having a high refractive index difference in which Δn is 20% or more, it is possible to obtain a minute spot with a simple configuration. Since the beam diameter of the fundamental mode is 1 μm or less, the refractive index difference Δn needs to be 20% or more. The 1 μm is a beam diameter necessary for exciting plasmons with high efficiency. The refractive index difference Δn is 50% or less. This is because, no matter how high the refractive index of the core, the Δn equation only approaches 50%.

前述したようにシリコンは近赤外波長用として有効なコア材料であるが、加工上のメリットを要しない場合には、コア材料として他の高屈折率材料を用いることにより、紫外光から可視光,近赤外光まで幅広い波長域で微小スポットの効果を得ることができる。シリコン以外の高屈折率材料(波長域)の例としては、ダイヤモンド(可視全域);III−V族半導体:AlGaAs(近赤外,赤),GaN(緑,青)GaAsP(赤,橙,青),GaP(赤,黄,緑),InGaN(青緑,青),AlGaInP(橙,黄橙,黄,緑);II−VI族半導体:ZnSe(青)が挙げられる。また、シリコン以外の高屈折率材料の加工方法の例としては、ダイヤモンドではO2ガスによるドライエッチングが挙げられ、GaAs系,GaP系,ZnSe,GaN系では、Cl2系ガス又はメタン水素を用いたICPエッチング装置でのドライエッチング加工が挙げられる。 As described above, silicon is an effective core material for near-infrared wavelengths. However, if processing advantages are not required, by using another high refractive index material as the core material, visible light from ultraviolet light can be obtained. , The effect of a minute spot can be obtained in a wide wavelength range up to near infrared light. Examples of high refractive index materials (wavelength range) other than silicon include diamond (all visible range); III-V semiconductors: AlGaAs (near infrared, red), GaN (green, blue) GaAsP (red, orange, blue) ), GaP (red, yellow, green), InGaN (blue green, blue), AlGaInP (orange, yellow orange, yellow, green); II-VI group semiconductor: ZnSe (blue). Examples of processing methods for high refractive index materials other than silicon include dry etching with O 2 gas for diamond, and Cl 2 gas or methane hydrogen for GaAs, GaP, ZnSe, and GaN systems. For example, dry etching using an ICP etching apparatus.

前述したように、高屈折率材料であるシリコン等でコアが構成された光導波路を用いることが好ましく、コアの高い屈折率により光スポットを小さくすることが可能となる。しかし、その小さいスポットサイズのままでスライダ上部に光導波路をつないだ場合(スポットサイズ変換器を用いない場合)、その光導波路に光を入射させるためにはNAの大きな光学系を用いる必要がある。したがって、光学系として非球面レンズ等の高精度のレンズを用いる必要がある。一般に、非球面レンズ等の高精度レンズの作製には加熱成形が用いられるが、加熱成形には金型作製に伴う問題があり、成形時にレンズ面の精度等を維持する必要性もある。このため、レンズはある程度の大きさを持つ必要があり、現状ではφ1.5mm程度が下限である。   As described above, it is preferable to use an optical waveguide having a core made of silicon or the like, which is a high refractive index material, and the light spot can be reduced by the high refractive index of the core. However, when an optical waveguide is connected to the upper part of the slider with the small spot size (when a spot size converter is not used), it is necessary to use an optical system with a large NA in order to make light incident on the optical waveguide. . Therefore, it is necessary to use a highly accurate lens such as an aspheric lens as the optical system. In general, thermoforming is used to manufacture a high-precision lens such as an aspherical lens. However, there is a problem associated with mold manufacture in thermoforming, and it is necessary to maintain the accuracy of the lens surface during molding. For this reason, the lens needs to have a certain size, and the current lower limit is about φ1.5 mm.

また前述したように、ハードディスク装置等のディスク装置では、高容量化の要請から複数枚の記録用ディスクを用いることが一般的である(図1参照。)。その場合、磁気記録ヘッドはその隙間に入って動けるような薄さが必須要件となっている。複数枚使用しない場合でも、小型のハードディス装置等では筐体の壁とディスクとの間が薄くなっており、同様に磁気記録ヘッドは薄くなる必要がある。その空間はおよそ1mm程度である。しかし、前述したような光導波路を用いると、高いNAの光学系が必要となり、非球面レンズ等の高精度のレンズ、すなわちある程度の大きさのレンズを用いる必要となり、この要請を満たすことができない。また、スライダと光学系に必要とされる配置精度は、光入力側での光導波路の光スポットサイズに依存しており、その観点からも光出力側(記録部側)の光スポットと比較して、光入力側の光スポットは大きくなることが必要とされる。   Further, as described above, in a disk device such as a hard disk device, it is general to use a plurality of recording disks in order to increase the capacity (see FIG. 1). In that case, the magnetic recording head is required to be thin enough to move in the gap. Even when a plurality of sheets are not used, in a small hard disk device or the like, the space between the housing wall and the disk is thin, and similarly, the magnetic recording head needs to be thin. The space is about 1 mm. However, when the optical waveguide as described above is used, an optical system with a high NA is required, and a high-precision lens such as an aspheric lens, that is, a lens having a certain size is required, and this request cannot be satisfied. . In addition, the placement accuracy required for the slider and the optical system depends on the light spot size of the optical waveguide on the light input side. From this viewpoint, it is compared with the light spot on the light output side (recording unit side). Therefore, the light spot on the light input side needs to be large.

前述した磁気記録ヘッド3では、スポットサイズ変換器を用いることにより、光出力側の光スポットと比較して、光入力側の光スポットを大きくしている。これにより、NAの小さな光学系を用いることができるため、構成が単純で小型化が容易なレンズ(例えば、ボールレンズや回折レンズ等)を用いることが可能となり、光学系を薄型にすることが初めて可能となる。また、スライダと光学系とに必要とされる配置精度も緩くなり、組み立て時にも有利になる。   In the magnetic recording head 3 described above, by using a spot size converter, the light spot on the light input side is made larger than the light spot on the light output side. As a result, since an optical system with a small NA can be used, it becomes possible to use a lens (for example, a ball lens or a diffractive lens) that has a simple configuration and can be easily miniaturized, and the optical system can be made thin. This is possible for the first time. In addition, the arrangement accuracy required for the slider and the optical system is reduced, which is advantageous during assembly.

以上の要件から、光導波路の光出力側のモードフィールド径をdとし、光導波路の光入力側のモードフィールド径をDとしたとき、光導波路径を滑らかに変化させることによりモードフィールド径を変換して、D>dを満たすことが望ましい。例えば前記具体例の場合、D=5μm,d=0.3μmである。光導波路径を滑らかに変化させることによりモードフィールド径を変換して、光導波路の光入力側のモードフィールド径よりも光導波路の光出力側のモードフィールド径が小さくなるようにする構成により、小さな光スポットを得ることが可能になる。そして、光スポットサイズが小さくなることにより、記録の高密度化が可能になる。倍率の上限に関しては、作製時の原理的な問題(広げることのできる最大光スポットサイズの限界と、作ることのできる最も小さな光スポットサイズの限界)と、倍率の実用上必要とされる値(光出力側サイズ:0.25μm,光入力側サイズ:10μm)と、から40倍程度と規定することができる。したがって、モードフィールド径が40d>D>dを満たすことが更に望ましい。   From the above requirements, when the mode field diameter on the light output side of the optical waveguide is d and the mode field diameter on the light input side of the optical waveguide is D, the mode field diameter is converted by smoothly changing the optical waveguide diameter. Therefore, it is desirable to satisfy D> d. For example, in the specific example, D = 5 μm and d = 0.3 μm. By changing the mode field diameter by smoothly changing the optical waveguide diameter, the mode field diameter on the optical output side of the optical waveguide is smaller than the mode field diameter on the optical input side of the optical waveguide. It becomes possible to obtain a light spot. Further, since the light spot size is reduced, the recording density can be increased. Regarding the upper limit of magnification, there are fundamental problems during fabrication (the maximum light spot size limit that can be widened and the limit of the smallest light spot size that can be created) and the practically required value of the magnification ( Light output side size: 0.25 μm, light input side size: 10 μm) and about 40 times. Therefore, it is more desirable that the mode field diameter satisfy 40d> D> d.

また、光学系とスライダとを合わせた磁気記録ヘッドの最大高さが、ディスクと部材(例えば、ディスク及びスライダを収容する筐体、記録用の第2のディスクである。)との間の距離より小さいことが望ましい。図1に示す磁気記録装置10では、ディスク2に情報を書き込むために光導波路を有し、かつ、ディスク2上で浮上しながら相対的に移動するスライダ11(図2等)と、光導波路に光を入射させる光学系と、を合わせた磁気記録ヘッド3の最大高さが、スライダ11の移動経路を覆うように配された筐体1とディスク2との間の距離より小さく、さらに隣り合って位置するディスク2間の距離より小さい構成になっている。そしてこの構成により、磁気記録装置10の小型化を達成している。   Further, the maximum height of the magnetic recording head including the optical system and the slider is the distance between the disk and the member (for example, a housing for housing the disk and the slider, or a second disk for recording). It is desirable to be smaller. A magnetic recording apparatus 10 shown in FIG. 1 has an optical waveguide for writing information on the disk 2 and moves relatively while floating on the disk 2, and an optical waveguide. The maximum height of the magnetic recording head 3 combined with the optical system that makes the light incident is smaller than the distance between the housing 1 and the disk 2 arranged so as to cover the moving path of the slider 11, and further adjacent to each other. Is smaller than the distance between the discs 2 positioned. With this configuration, the magnetic recording apparatus 10 can be reduced in size.

前述した磁気記録ヘッド3は、ディスク2に対する情報記録に光を利用する光アシスト式磁気記録ヘッドであるが、記録媒体に対する情報記録に光を利用する微小光記録ヘッドであって、記録媒体上で浮上しながら相対的に移動するスライダを有し、そのスライダが光導波路とその集光部分に設けられたプラズモンプローブとを有し、プラズモンプローブが厚みのある形状となって光導波路内に埋め込まれているものであれば、光アシスト式磁気記録ヘッドに限らない。例えば、近接場光記録,相変化記録等の記録を行う記録ヘッドにおいても、前記特徴のある光導波路を用いることにより同様の効果を得ることが可能である。図12に、そのような光導波路12aを有する微小光記録ヘッド3aを示す。この微小光記録ヘッド3aは、磁気を利用しない光記録を行う構成になっており、磁気再生部12Cと磁気記録部12Bを有しない他は、実施例3(図4)の磁気記録ヘッド3と同様の構成になっている。   The magnetic recording head 3 described above is an optically assisted magnetic recording head that uses light for information recording on the disk 2, but is a micro optical recording head that uses light for information recording on a recording medium. It has a slider that moves relatively while floating, and the slider has an optical waveguide and a plasmon probe provided at the condensing part, and the plasmon probe is embedded in the optical waveguide in a thick shape. However, the optically assisted magnetic recording head is not limited. For example, even in a recording head that performs recording such as near-field optical recording and phase change recording, the same effect can be obtained by using the optical waveguide having the characteristics described above. FIG. 12 shows a micro optical recording head 3a having such an optical waveguide 12a. The minute optical recording head 3a is configured to perform optical recording without using magnetism, and the magnetic recording head 3 of the third embodiment (FIG. 4) is the same as the magnetic recording head 3 except that the magnetic reproducing unit 12C and the magnetic recording unit 12B are not provided. It has the same configuration.

次に、実施例3(図4)の磁気記録ヘッド3を例に挙げて、シリコンベンチ13とスライダ11との位置調整,接着等を説明する。シリコンベンチ13への光源部(光ファイバー14等)及び光学系(球レンズ15等)の取り付けは、メカ精度での組付けにより行われる。一方、スライダ11内への光アシスト部12A,磁気記録部12B及び磁気再生部12Cの形成は、図9〜図11に示す工程により作製され、浮上構造(不図示)やプラズモンプローブ30を設けることにより得られる。つまり、シリコンベンチ13とスライダ11とは、図13中の両方向矢印で示すように作製方向が異なる。したがって、別々に作製して組付けることが好ましく、それが個々の作製精度の向上及び作製時間の短縮を図る上で効果的である。   Next, taking the magnetic recording head 3 of Example 3 (FIG. 4) as an example, position adjustment, adhesion, etc. between the silicon bench 13 and the slider 11 will be described. The light source unit (such as the optical fiber 14) and the optical system (such as the spherical lens 15) are attached to the silicon bench 13 by assembling with mechanical accuracy. On the other hand, the optical assist portion 12A, the magnetic recording portion 12B, and the magnetic reproducing portion 12C are formed in the slider 11 by the steps shown in FIGS. 9 to 11, and a floating structure (not shown) and a plasmon probe 30 are provided. Is obtained. That is, the silicon bench 13 and the slider 11 have different production directions as indicated by the double-directional arrows in FIG. Therefore, it is preferable to manufacture and assemble them separately, which is effective in improving the individual manufacturing accuracy and shortening the manufacturing time.

シリコンベンチ13とスライダ11との水平方向の位置決めは、それらの上部からカメラ等で観察しながら、図14に示すように位置決めマーク(+)等を基準に行うことが可能である。カメラでの観察は赤外光で行うことができる。シリコンは赤外波長に対して透明であるため、赤外光を用いることによりマーク(+)を基準とする位置決めが可能である。位置決めマーク(+)が2点あれば光軸(Z軸)に対して互いに直交する2方向(X軸,Y軸)と光軸回りの角度θZを調整することが可能である。なお、シリコンベンチ13の上部には光ファイバー14等の構造物があるので、シリコンベンチ13の裏面に位置決めマーク(+)を設けることが好ましい。   Positioning of the silicon bench 13 and the slider 11 in the horizontal direction can be performed with reference to a positioning mark (+) or the like as shown in FIG. 14 while observing them from above with a camera or the like. Observation with a camera can be performed with infrared light. Since silicon is transparent to infrared wavelengths, positioning using the mark (+) as a reference is possible by using infrared light. If there are two positioning marks (+), it is possible to adjust two directions (X axis and Y axis) perpendicular to the optical axis (Z axis) and the angle θZ around the optical axis. Since there are structures such as the optical fiber 14 above the silicon bench 13, it is preferable to provide a positioning mark (+) on the back surface of the silicon bench 13.

シリコンベンチ13とスライダ11との傾き調整は、赤外光を用いた相互の干渉を利用して行うことができる(傾き調整1)。例えば、図15(A)中の実線矢印で示すようにシリコンベンチ13上から赤外光を照射し、シリコンベンチ13の底面での反射光とスライダ11の上面での反射光との干渉により得られる干渉縞(図15(B))を見ながら、傾き調整を行うことができる。また、傾き調整は赤外光を用いたオートコリメータを利用して行うこともできる(傾き調整2)。図16(A)にオートコリメータ25でスライダ11の傾きを計測しながら調整する様子を示し、図16(B)にそのときのオートコリメータ画像を示す。図16(C)にオートコリメータ25でシリコンベンチ13の傾きを計測しながら調整する様子を示し、図16(D)にそのときのオートコリメータ画像を示す。   The tilt adjustment between the silicon bench 13 and the slider 11 can be performed using mutual interference using infrared light (tilt adjustment 1). For example, as shown by a solid line arrow in FIG. 15A, infrared light is irradiated from above the silicon bench 13 and obtained by interference between reflected light on the bottom surface of the silicon bench 13 and reflected light on the top surface of the slider 11. The tilt can be adjusted while viewing the interference fringes (FIG. 15B). The tilt adjustment can also be performed using an autocollimator using infrared light (tilt adjustment 2). FIG. 16A shows a state where adjustment is performed while measuring the tilt of the slider 11 with the autocollimator 25, and FIG. 16B shows an autocollimator image at that time. FIG. 16C shows how the autocollimator 25 adjusts while measuring the tilt of the silicon bench 13, and FIG. 16D shows an autocollimator image at that time.

シリコンベンチ13とスライダ11との接着は、接着剤を用いて行うのが好ましい。接着剤の例としては、熱硬化性接着剤(液状,シート状),二液混合型接着剤(液状),嫌気性接着剤(液状)が挙げられる。熱硬化性接着剤(液状,シート状)の例としては、使用波長を透過する(透明な)アクリル樹脂,エポキシ樹脂,シリコーン樹脂,熱硬化性ポリイミドが挙げられ、二液混合型接着剤(液状)の例としては、使用波長を透過する(透明な)アクリル樹脂,エポキシ樹脂,ウレタン樹脂が挙げられ、嫌気性接着剤(液状)の例としては空気に触れている間は硬化せず、空気を遮断することで硬化するもの、使用波長を透過する(透明な)アクリル樹脂(ロックタイト(商品名)等)が挙げられる。   Adhesion between the silicon bench 13 and the slider 11 is preferably performed using an adhesive. Examples of the adhesive include a thermosetting adhesive (liquid, sheet-like), a two-component mixed adhesive (liquid), and an anaerobic adhesive (liquid). Examples of thermosetting adhesives (liquid, sheet-like) include (transparent) acrylic resin, epoxy resin, silicone resin, thermosetting polyimide that transmits the wavelength used, and two-component mixed adhesive (liquid ) Examples include (transparent) acrylic resin, epoxy resin, and urethane resin that transmit the wavelength used. Examples of anaerobic adhesive (liquid) are not cured while in contact with air, Examples include those that cure by blocking, and (transparent) acrylic resins (such as Loctite (trade name)) that transmit the wavelength used.

一般的に光学部品の接着に用いられるUV硬化性樹脂は、UVがシリコンやスライダ材料を透過しないので好ましくない。横からUV照射しようとしても、接着層が薄いと届かないので好ましくない。溶剤の揮発により基材同士が結びつき接着するタイプは、接着層が薄いため溶剤が揮発できず好ましくない。空気中又は物体表面の水分と反応して固化するシアノアクリレート接着剤(瞬間接着剤)は、接着面に水分が入り込めないので好ましくない。また、シリコンベンチ13とスライダ11との接着に基板直接接合法を用いてもよい。この方法は、一般に材質の異なる2種の基板を面と面とで直接圧接し、加熱等を行うことにより、原子オーダーで接合させる方法である。この方法には、ハンダや接着剤等の中間物質を必要としないというメリットがある。   In general, a UV curable resin used for bonding optical components is not preferable because UV does not pass through silicon or a slider material. Even if UV irradiation is attempted from the side, it is not preferable because the adhesive layer does not reach if it is thin. The type in which the substrates are bonded together by volatilization of the solvent is not preferable because the solvent cannot be volatilized because the adhesive layer is thin. A cyanoacrylate adhesive (instant adhesive) that solidifies by reacting with moisture in the air or on the surface of the object is not preferable because moisture cannot enter the bonding surface. Further, a substrate direct bonding method may be used for bonding the silicon bench 13 and the slider 11. This method is generally a method in which two kinds of substrates having different materials are bonded in an atomic order by directly pressing the two surfaces with each other and performing heating or the like. This method has the advantage of not requiring intermediate substances such as solder and adhesive.

光アシスト式磁気記録装置の概略構成例を示す斜視図。1 is a perspective view illustrating a schematic configuration example of an optically assisted magnetic recording apparatus. 光アシスト式磁気記録ヘッドの実施例1を示す断面図。FIG. 3 is a cross-sectional view showing Example 1 of the optically assisted magnetic recording head. 光アシスト式磁気記録ヘッドの実施例2を示す断面図。Sectional drawing which shows Example 2 of an optically assisted magnetic recording head. 光アシスト式磁気記録ヘッドの実施例3を示す断面図。Sectional drawing showing Example 3 of the optically assisted magnetic recording head. 光アシスト式磁気記録ヘッドの実施例4を示す断面図。Sectional drawing which shows Example 4 of an optically assisted magnetic recording head. 光アシスト部の具体例を示す斜視図。The perspective view which shows the specific example of a light assist part. 光アシスト部の具体例を示す上面図。The top view which shows the specific example of a light-assist part. 光アシスト部の具体例を示す断面図。Sectional drawing which shows the specific example of a light-assist part. 光アシスト部の具体例を有するスライダの製造工程を示す断面図。Sectional drawing which shows the manufacturing process of the slider which has a specific example of a light-assist part. 図9中のプラズモンプローブの製造工程1を示す断面図。Sectional drawing which shows the manufacturing process 1 of the plasmon probe in FIG. 図9中のプラズモンプローブの製造工程2を示す断面図。Sectional drawing which shows the manufacturing process 2 of the plasmon probe in FIG. 光アシスト式磁気記録ヘッド以外の微小記録ヘッドの実施例を示す断面図。Sectional drawing which shows the Example of micro recording heads other than an optical assist type magnetic recording head. シリコンベンチとスライダとの組み立てを説明するための断面図。Sectional drawing for demonstrating the assembly of a silicon bench and a slider. シリコンベンチとスライダとの水平方向の位置調整を説明するための平面図。The top view for demonstrating the position adjustment of the horizontal direction of a silicon bench and a slider. シリコンベンチとスライダとの傾き調整1を説明するための図。The figure for demonstrating the inclination adjustment 1 of a silicon bench and a slider. シリコンベンチとスライダとの傾き調整2を説明するための図。The figure for demonstrating the inclination adjustment 2 of a silicon bench and a slider. 光アシスト部の変形例を示す上面図。The top view which shows the modification of a light-assist part.

符号の説明Explanation of symbols

1 筐体
2 記録用のディスク(記録媒体)
3 磁気記録ヘッド(微小光記録ヘッド)
3a 微小光記録ヘッド
10 磁気記録装置(ハードディスク装置)
11 スライダ
12A 光アシスト部(光アシスト素子,光導波路)
12B 磁気記録部(磁気記録素子)
12C 磁気再生部(磁気再生素子)
12a 光導波路
13 シリコンベンチ
14 光ファイバー(光源部)
15 球レンズ(光学系)
16 半球レンズ(光学系)
17 マイクロプリズム(光学系)
18 マイクロミラー(光学系)
19 基板
20 第1のSiO2
21 第1のSiON層
22a 第1のSi層(コア層)
22b 第2のSi層(コア層)
23 第2のSiON層
24 第2のSiO2
26 レジストパターン
27 金薄膜
30 プラズモンプローブ
31 コア
32 サブコア
33 クラッド
1 Housing 2 Recording disk (recording medium)
3 Magnetic recording head (micro optical recording head)
3a Micro optical recording head 10 Magnetic recording device (hard disk device)
11 Slider 12A Optical assist part (optical assist element, optical waveguide)
12B Magnetic recording part (magnetic recording element)
12C Magnetic reproducing unit (magnetic reproducing element)
12a Optical waveguide 13 Silicon bench 14 Optical fiber (light source)
15 ball lens (optical system)
16 Hemispherical lens (optical system)
17 Microprism (optical system)
18 Micromirror (optical system)
19 Substrate 20 1st SiO 2 layer 21 1st SiON layer 22a 1st Si layer (core layer)
22b Second Si layer (core layer)
23 Second SiON layer 24 Second SiO 2 layer 26 Resist pattern 27 Gold thin film 30 Plasmon probe 31 Core 32 Sub-core 33 Cladding

Claims (7)

記録媒体に対する情報記録に光を利用する微小光記録ヘッドであって、記録媒体上で浮上しながら相対的に移動するスライダを有し、そのスライダが光導波路とその集光部分に設けられたプラズモンプローブとを有し、前記プラズモンプローブが厚みのある形状となって前記光導波路内に埋め込まれていることを特徴とする微小光記録ヘッド。   A micro-optical recording head that uses light for recording information on a recording medium, and has a slider that moves relatively while floating on the recording medium, and the slider is a plasmon provided in an optical waveguide and a condensing portion thereof. A micro optical recording head comprising: a probe, wherein the plasmon probe has a thick shape and is embedded in the optical waveguide. 前記光導波路による光の導波方向を前記プラズモンプローブ及びスライダの厚み方向とし、プラズモンプローブの厚さをL1とし、スライダの厚さをL2とすると、条件式:1μm<L1<L2を満たすことを特徴とする請求項1記載の微小光記録ヘッド。   When the light guiding direction of the optical waveguide is the thickness direction of the plasmon probe and the slider, the thickness of the plasmon probe is L1, and the thickness of the slider is L2, the conditional expression 1 μm <L1 <L2 is satisfied. 2. The micro optical recording head according to claim 1, wherein 請求項1又は2記載の微小光記録ヘッドの製造方法であって、前記光導波路のコアを形成する際、その途中までコア層の成膜を行い、その上からコアの中心近傍部分に前記プラズモンプローブを形成し、残りのコア層の成膜を行った後、コア層を所定のコア形状に加工することを特徴とする微小光記録ヘッドの製造方法。   3. The method of manufacturing a micro optical recording head according to claim 1, wherein when the core of the optical waveguide is formed, the core layer is formed halfway, and the plasmon is formed on the core in the vicinity of the center of the core. A method of manufacturing a micro-optical recording head, comprising: forming a probe, forming a remaining core layer, and then processing the core layer into a predetermined core shape. 請求項1又は2記載の微小光記録ヘッドにおいて、さらに磁気記録素子を有することを特徴とする光アシスト式磁気記録ヘッド。   3. The optically assisted magnetic recording head according to claim 1, further comprising a magnetic recording element. 請求項4記載の光アシスト式磁気記録ヘッドの製造方法であって、前記光導波路のコアを形成する際、その途中までコア層の成膜を行い、その上からコアの中心近傍部分に前記プラズモンプローブを形成し、残りのコア層の成膜を行った後、コア層を所定のコア形状に加工することを特徴とする光アシスト式磁気記録ヘッドの製造方法。   5. The method of manufacturing an optically assisted magnetic recording head according to claim 4, wherein when the core of the optical waveguide is formed, the core layer is formed halfway, and the plasmon is formed on the core in the vicinity of the center thereof. A method of manufacturing an optically assisted magnetic recording head, comprising: forming a probe, forming a remaining core layer, and then processing the core layer into a predetermined core shape. 請求項1又は2記載の微小光記録ヘッドを備えたことを特徴とする微小光記録装置。   A micro optical recording apparatus comprising the micro optical recording head according to claim 1. 請求項4記載の光アシスト式磁気記録ヘッドを備えたことを特徴とする光アシスト式磁気記録装置。   An optically assisted magnetic recording apparatus comprising the optically assisted magnetic recording head according to claim 4.
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