JP2007240378A - Strain/temperature measurement method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、抵抗式ひずみゲージを使用してひずみ測定を行うと共に、リード線により構成した熱電対を用いて温度測定を行うひずみ・温度測定方法に関する。 The present invention relates to a strain / temperature measurement method in which strain measurement is performed using a resistance strain gauge and temperature measurement is performed using a thermocouple constituted by a lead wire.
従来、この種の測定手法としては、例えば特許文献1に記載されているものが知られている。 Conventionally, as this kind of measurement technique, for example, the one described in Patent Document 1 is known.
この測定手法を図2を参照して以下に説明する。測定対象物に貼着される抵抗式ひずみゲージ100の一端に第1リード線101および第2リード線102の2本のリード線が接続され、他端には、第3リード線103および第4リード線104の2本リード線が接続されている。そして、抵抗式ひずみゲージ100は、3個の固定抵抗値の抵抗体105,106,107を直列に接続してなる抵抗回路108に第1リード線101および第3リード線103を介して接続され、この接続により抵抗式ひずみゲージ1を一辺に有するブリッジ回路109(詳しくはホイートストンブリッジ回路)が構成される。なお、抵抗体105〜107の各抵抗値は、抵抗式ひずみゲージ1の無ひずみ状態での抵抗値(公称抵抗値)と同じである。また、図2中r101〜r104は、それぞれ第1〜第4リード線101〜104の抵抗値を示している。
This measurement technique will be described below with reference to FIG. Two lead wires of a
このブリッジ回路109は、第3リード線103と抵抗回路108との接続部であるA点と、このA点に対してブリッジ回路109の対角点となるC点(抵抗体106と抵抗体107との接続部)とを一対の入力部とし、これらの入力部の間にブリッジ電源電圧Eが印加される。また、第1および第2リード線101,102が接続されたひずみゲージ100の一端と、この一端に対してブリッジ回路109の対角点となるD点(抵抗体105と抵抗体106との接続部)とを一対の出力部とし、そららの出力部の間の電位差eがブリッジ回路109の出力電圧として計測される。この場合、出力電圧eの計測に際しては、ひずみゲージ100の一端の電位は、前記第2リード線102を介して抽出される。すなわち、1ゲージ3線法に従って、第2リード線102を用いて出力電圧eが計測される。この出力電圧eは、ひずみゲージ100の抵抗値変化に応じて変化するので、該出力電圧eを基に、ひずみゲージ100のひずみ(ひずみゲージ1を貼着する測定対象物のひずみ)が測定される。
The
一方、ひずみ測定に使用する前記第1〜第3リード線101〜103は、その材質(導線の材質)は同じであり、例えば銅である。また、第4リード線104の材質は、第1〜第3リード線101〜103と異なり、例えば、コンスタンタンである。この場合、第3リード線103と第4リード線104とにより、ひずみゲージ100の他端を接点とする熱電対110が構成される。この熱電対110の出力電圧et、すなわち、第3リード線103の先端(抵抗回路108側の端部)と、第4リード線104の先端(ひずみゲージ1と反対側の端部)との間の電位差etが熱電対110の温度に応じた電圧となるので、該出力電圧etが計測され、その計測された出力電圧etを基に、熱電対110の温度、すなわち、ひずみ測定環境の温度が測定される。
On the other hand, the first to
このような測定手法によれば、ひずみ測定と、それに影響を及ぼす環境温度の測定とを同時に行なうことが可能となり、ブリッジ回路109の出力電圧eに基づくひずみ測定値を温度測定に応じて補正する(温度に応じたひずみゲージ100の見かけひずみを補償する)などの処理を行なうことが可能となる。
前記特許文献1に見られる技術では、熱電対110を構成する第3および第4リード線103,104のうちの第3リード線103は、ブリッジ回路109に組み込まれているので、該ブリッジ回路109にブリッジ電源電圧Eを印加した状態で、第3リード線103に電流が流れ、その電流と第3リード線103の抵抗値r103とに応じた電圧が該第3リード線103に発生する。そして、その電圧は、第3リード線103の長さやひずみゲージ100の抵抗値変化などに応じて変化する。このため、熱電対110の出力電圧etは、熱電対110の温度だけに依するものではなく、ひずみゲージ100の抵抗値変化などの影響を受ける。従って、熱電対110の出力電圧etから把握される温度に誤差が生じ、特にその誤差は、第1〜第4リード線101〜104の長さが長い場合に大きなものとなるという不都合があった。
In the technique found in Patent Document 1, the
本発明はかかる背景に鑑み、ひずみ測定を行いつつ高精度の温度測定を可能とするひずみ・温度測定方法を提供することを目的とする。 In view of this background, an object of the present invention is to provide a strain / temperature measurement method that enables highly accurate temperature measurement while performing strain measurement.
かかる目的を達成するために、本発明のひずみ測定方法は、一端に、同一材質から成る第1リード線および第2リード線が接続されると共に、他端に、該第1および第2リード線と同一材質から成る第3リード線と、該第1〜第3リード線とは異なる材質から成り、該第3リード線と共に熱電対を構成する第4リード線とが接続された抵抗式ひずみゲージを用い、固定抵抗値の複数の抵抗体から成る抵抗回路に前記第1リード線および第3リード線を介して前記抵抗式ひずみゲージを接続することにより該抵抗式ひずみゲージを一辺に有するブリッジ回路を構成し、このブリッジ回路にブリッジ電源電圧を印加しつつ、該ブリッジ回路の出力電圧を1ゲージ3線法に従って前記第2リード線を用いて抽出すると共に、前記熱電対の出力電圧を前記第3リード線および第4リード線を介して抽出し、前記抽出したブリッジ回路の出力電圧を基に前記抵抗式ひずみゲージに生じるひずみを測定すると共に、前記抽出した熱電対の出力電圧を基に該熱電対の温度を測定するようにしたひずみ・温度測定方法において、前記ブリッジ回路にブリッジ電源電圧を印加した状態で前記第1リード線に生じる電圧を該第1リード線の前記抵抗回路への接続部と前記第2リード線とを介して抽出し、その抽出した第1リード線の発生電圧と前記抽出した熱電対の出力電圧との差に基づいて該熱電対の温度を測定するようにしたことを特徴とする。 In order to achieve this object, the strain measuring method of the present invention has a first lead wire and a second lead wire made of the same material connected to one end, and the first and second lead wires connected to the other end. A resistance strain gage in which a third lead wire made of the same material as that of the first lead wire and a fourth lead wire constituting a thermocouple together with the third lead wire are connected to the third lead wire. And connecting the resistance strain gauge through the first lead wire and the third lead wire to a resistance circuit composed of a plurality of resistors having a fixed resistance value, and having the resistance strain gauge on one side The bridge power supply voltage is applied to the bridge circuit, and the output voltage of the bridge circuit is extracted using the second lead wire according to the 1-gauge 3-wire method, and the output voltage of the thermocouple is Extracted via the third lead wire and the fourth lead wire, and measured strain generated in the resistance strain gauge based on the output voltage of the extracted bridge circuit, and based on the output voltage of the extracted thermocouple In the strain / temperature measurement method in which the temperature of the thermocouple is measured, a voltage generated in the first lead wire in a state where a bridge power supply voltage is applied to the bridge circuit is supplied to the resistance circuit of the first lead wire. And the temperature of the thermocouple is measured based on the difference between the extracted voltage of the first lead wire and the extracted output voltage of the thermocouple. It is characterized by that.
前記第1〜第4リード線の長さは、一般に、ほぼ同じ長さとされ、また、第1〜第3リード線の材質は、同一であるので、第1リード線の抵抗値と第3リード線の抵抗値とは、常にほぼ等しい値になる。そして、1ゲージ3線法では、ブリッジ回路のブリッジ電源電圧に対して、第1リード線および第3リード線は直列に接続されることとなるので、第1リード線と第3リード線とにそれぞれ流れる電流も等しい。従って、ブリッジ回路にブリッジ電源電圧を付与した状態で第1リード線に生じる電圧と第3リード線に生じる電圧とはほぼ等しくなる。さらに、1ゲージ3線法では、第1リード線の抵抗式ひずみゲージ側の端部の電位は、前記第2リード線を介して抽出でき、第1リード線の抵抗回路側の端部の電位は、該抵抗回路と第1リード線との接続部から抽出できる。従って、その接続部と前記第2リード線とを介して第1リード線に生じる電圧を抽出できる。なお、その抽出には、高入力インピーダンスの増幅器やバッファを使用すればよい。 In general, the first to fourth lead wires have substantially the same length, and the first to third lead wires are made of the same material. Therefore, the resistance value of the first lead wire and the third lead wire are the same. The resistance value of the wire is always almost equal. In the 1-gauge 3-wire method, the first lead wire and the third lead wire are connected in series with respect to the bridge power supply voltage of the bridge circuit, so that the first lead wire and the third lead wire are connected to each other. The currents flowing through each are the same. Therefore, the voltage generated in the first lead wire and the voltage generated in the third lead wire in a state where the bridge power supply voltage is applied to the bridge circuit are substantially equal. Furthermore, in the 1-gauge 3-wire method, the potential at the end of the first lead wire on the resistance strain gauge side can be extracted via the second lead wire, and the potential at the end of the first lead wire on the resistance circuit side. Can be extracted from the connection between the resistor circuit and the first lead wire. Therefore, it is possible to extract a voltage generated in the first lead wire through the connection portion and the second lead wire. For the extraction, a high input impedance amplifier or buffer may be used.
そこで、本発明のひずみ・温度測定方法では、前記第1リード線に生じる電圧を該第1リード線の前記抵抗回路への接続部と前記第2リード線とを介して抽出し、その抽出した第1リード線の電圧と前記抽出した熱電対の出力電圧との差に基づいて該熱電対の温度を測定するようにした。この場合、抽出される第1リード線の発生電圧は、前記第3リード線の発生電圧とほぼ等しいので、この発生電圧と熱電対との差の電圧は、熱電対の出力電圧から、第3リード線に流れる電流と該第3リード線の抵抗値とに応じて該第3リード線に発生する電圧を除去したものに相当する。従って、当該差の電圧に基づいて熱電対の温度を測定することで、該熱電対の温度を精度よく測定することができることとなる。 Therefore, in the strain / temperature measurement method of the present invention, the voltage generated in the first lead wire is extracted via the connection portion of the first lead wire to the resistance circuit and the second lead wire, and the extraction is performed. The temperature of the thermocouple was measured based on the difference between the voltage of the first lead wire and the output voltage of the extracted thermocouple. In this case, since the generated voltage of the extracted first lead wire is substantially equal to the generated voltage of the third lead wire, the difference voltage between the generated voltage and the thermocouple is calculated from the output voltage of the thermocouple as the third voltage. This corresponds to a voltage obtained by removing the voltage generated in the third lead wire in accordance with the current flowing in the lead wire and the resistance value of the third lead wire. Therefore, by measuring the temperature of the thermocouple based on the difference voltage, the temperature of the thermocouple can be accurately measured.
よって、本発明のひずみ・温度測定手法によれば、ひずみ測定を行いつつ高精度の温度測定を可能なる。 Therefore, according to the strain / temperature measurement method of the present invention, it is possible to perform temperature measurement with high accuracy while performing strain measurement.
本発明の一実施形態を図1を参照して説明する。図1は本発明を適用した測定系の要部構成を示す回路図である。 An embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a circuit diagram showing a main configuration of a measurement system to which the present invention is applied.
図1を参照して、1はひずみを測定しようとする測定対象物(図示せず)に接着剤などを介して貼着される抵抗式ひずみゲージ(以下、単にひずみゲージという)、2はひずみゲージ1を接続する測定器である。 Referring to FIG. 1, reference numeral 1 is a resistance strain gauge (hereinafter simply referred to as a strain gauge) attached to an object to be measured (not shown) via an adhesive or the like, and 2 is a strain. A measuring instrument to which the gauge 1 is connected.
ひずみゲージ1の一端には、第1リード線11および第2リード線12が接続され、他端には、第3リード線13および第4リード線14が接続されている。そして、第1〜第4リード線11〜14は、それぞれ測定器2に設けられた接続端子21,22,23,24に接続される。
The
第1〜第4リード線11〜14は、ほぼ同じ長さである。また、第1〜第4リード線11〜14のうちの第1〜第3リード線11〜13は、その導線の径および材質がいずれも同一である。従って、第1〜第3リード線11〜13のそれぞれの抵抗値r11,r12,r13は互いにほぼ同一である。なお、第1〜第3リード線11〜13の材質は例えば銅である。
The first to
一方、第4リード14はその導線の材質が第1〜第3リード線11〜13と相違しており、その材質は、例えばコンスタンタンである。従って、第4リード線14と第3リード線13とにより、ひずみゲージ1の他端を接点とする熱電対15が構成されている。なお、第4リード線14の導線の径は、第1〜第3リード線11〜13の径と同じでもよいが、異なっていてもよい。また、第4リード線14の抵抗値r14は、第1〜第3リード線11〜13のそれぞれの抵抗値r11,r12,r13と同じでもよいが、異なっていてもよい。
On the other hand, the material of the lead wire of the
測定器2には、3個の固定抵抗値の抵抗体25,26,27を直列に接続してなる抵抗回路28(抵抗体25〜27の直列回路)と、ブリッジ電源29と、増幅器30と、差動増幅器31とが設けられている。
The measuring device 2 includes a resistor circuit 28 (series circuit of
抵抗回路28は、その両端がそれぞれ接続端子21,23に同電位に導通されており、これらの接続端子21,23に前記第1リード線11および第3リード線13を接続することで、ひずみゲージ1を1辺に有するブリッジ回路32が構成されるようになっている。なお、抵抗回路28の各抵抗体25,26,27の抵抗値は、いずれもひずみゲージ1の無ひずみ状態での抵抗値(ひずみゲージ1の公称抵抗値)と同じである。各抵抗体25〜27としては、固定抵抗値の通常の抵抗素子を使用すればよいが、ひずみゲージ1と同じ特性のひずみゲージを使用してもよい。補足すると、ブリッジ回路32の各辺(ひずみゲージ1を含む辺以外の辺)の固定抵抗値が複数の抵抗体の合成抵抗値になるように、より多くの抵抗体を組み合わせて抵抗回路28を構成するようにしてもよい。
Both ends of the
ブリッジ電源29は、ブリッジ回路32の電源電圧として、一定のブリッジ電源電圧Eを出力するものである。この場合、第3リード線13と抵抗回路28の抵抗体27との接続部であるA点(接続端子23と同電位部分)と、抵抗体25および抵抗体26の接続部であるC点とがブリッジ回路32の一対の電源入力部であるので、これらの電源入力部A,Cに導体ライン33a,33bを介して接続されている。
The
増幅器30は、ブリッジ回路の出力電圧eを増幅して出力するものである。ここで、1ゲージ3線法のひずみ測定では、第1および第2リード線11,12が接続されたひずみゲージ1の一端と、抵抗体26と抵抗体27との接続部であるD点との間の電位差がブリッジ回路32の検出すべき出力電圧eである。このため、増幅器30は、その入力側が、ブリッジ回路32のD点と第2リード線12を接続する接続端子22とにそれぞれ導体ライン34a,34bを介して接続されている。この場合、増幅器30は、高入力インピーダンスのものであるため、ひずみゲージ1の一端およびブリッジ回路32のD点と、増幅器30の入力側との間に流れる電流は極めて微小である。従って、増幅器30の入力側をD点と接続端子22とに接続することで、ブリッジ回路32に流れる電流に実質的な影響を及ぼすことなく、増幅器30の入力側にひずみゲージ1の一端の電位が第2リード線12を介して入力されると共に、ブリッジ回路32のD点の電位が入力される。これにより、ブリッジ回路32の検出すべき出力電圧eが適切に抽出されて増幅器30に入力され、該出力電圧eに比例した電圧が増幅器30から出力される。
The
差動増幅器31は、熱電対15の出力電圧etと、第1リード線11の発生電圧erとを入力として、それらの差(et−er)の電圧を増幅して出力するものである。ここで、熱電対15の出力電圧etは、第3リード線13の先端(接続端子23への接続端)と、第4リード線14の先端(接続端子24への接続端)との間の電位差であるので、接続端子23,24がそれぞれ導体ライン35a,35bを介して差動増幅器31の入力側に接続されている。また、第1リード線11の発生電圧erは、第1リード線11の先端(接続端子21との接続端)と、第1リード線11の基端(ひずみゲージ1との接続端)との間の電位差であるので、第1リード線11の基端に第2リード線12を介して接続される接続端子22と、第1リード線11の先端を接続する接続端子21とがそれぞれ導体ライン36a,36bを介して差動増幅器31の入力側に接続されている。この場合、差動増幅器31は、高入力インピーダンスのものであるため、接続端子23,24と差動増幅器31の入力側との間に流れる電流、並びに、ひずみゲージ1の一端(第2リード線12のひずみゲージ1への接続端)と接続端子21(第1リード線11の先端)と差動増幅器との間で流れる電流は極めて微小である。従って、差動増幅器31の入力側を上記のように接続端子21〜24に接続することで、ブリッジ回路32に流れる電流に実質的な影響を及ぼすことなく、第3リード線13および第4リード線14のそれぞれの先端の電位が差動増幅器31に入力されると共に、第1リード線11の先端および基端のそれぞれの電位が差動増幅器31に入力される。これにより、熱電対15の出力電圧etと、第1リード線11の発生電圧erとが適切に抽出されて差動増幅器31に入力され、それらの差分の電圧(et−er)に比例する電圧が差動増幅器31から出力される。
The
なお、増幅器30および差動増幅器31の出力は、ひずみ測定値や温度測定値を求める処理を実行する演算処理部(図示しない)などに入力される。
The outputs of the
次にかかる測定系の作動を説明する。ひずみゲージ1を測定対象物に貼着し、前記リード線11〜14をそれぞれ測定器2の接続端子21〜24に接続した状態で、ブリッジ電源29を起動する。これにより、ブリッジ電源29からブリッジ電源電圧Eがブリッジ回路32の入力部A,Cの間に印加され、ブリッジ回路32(第1および第3リード線11,13を含む)に電流が流れる。
Next, the operation of the measurement system will be described. The
このとき、ブリッジ回路32の出力電圧eは、ひずみゲージ1のひずみ(ひずみゲージ1を貼着した測定対象物のひずみ)に応じた値となり、その出力電圧eが前記したように増幅器30に入力されて増幅され、該出力電圧eに比例した電圧が増幅器30から出力される。
At this time, the output voltage e of the
また、差動増幅器31には、前記したように熱電対15の出力電圧etと第1リード線11の発生電圧erとが入力され、それらの差分の電圧(et−er)に比例した電圧が作動増幅器31から出力される。ここで、熱電対15の出力電圧etには、該熱電対15の温度に起因する電圧成分だけでなく、ブリッジ回路32に含まれる第3リード線13に流れる電流に起因して該第3リード線13に発生する電圧成分も含まれる。
Further, as described above, the output voltage et of the
一方、第1リード線11に流れる電流と第3リード線13に流れる電流は等しく、また、該第1および第3リード線11,13の抵抗値は、ほぼ同一である。従って、差動増幅器31に入力される第1リード線11の発生電圧erは、第3リード線13の発生電圧にほぼ等しい。このため、差動増幅器31の出力は、熱電対15の出力電圧etから、第3リード線13の発生電圧を除去してなる電圧、すなわち、該熱電対15の温度に起因する電圧にほぼ比例するものとなる。これにより、差動増幅器31から、熱電対15の温度だけに依存する電圧信号が得られることとなる。
On the other hand, the current flowing through the
そして、増幅器30および差動増幅器31の出力を入力する図示しない演算処理部では、差動増幅器31の出力を基に熱電対15の温度、すなわち、ひずみゲージ1によるひずみ測定箇所の環境温度を測定する(差動増幅器31の出力電圧を温度値に換算する)。また、該演算処理部では、例えば増幅器30の出力を基に、ひずみゲージ1のひずみを測定し(増幅器30の出力電圧をひずみ値に換算する)、さらに、そのひずみ測定値を熱電対15の温度測定値を基に補正することで、該ひずみ測定値の温度補償(環境温度の変化に応じたひずみゲージ1の見かけひずみの補償)を行なう。また、演算処理部は、その温度補償後のひずみ測定値や、温度測定値を記録保持したり、表示するなどの処理を実行する。なお、ひずみ測定値の温度補償は、補正換算表などを用いて作業者が行なうようにしてもよい。
An arithmetic processing unit (not shown) that inputs the outputs of the
この場合、差動増幅器31の出力を基に、熱電対15の温度(ひずみ測定時の環境温度)を精度よく測定できるので、ブリッジ回路32の出力電圧eから得られるひずみ測定値の補正を適切に行なうことができる。
In this case, since the temperature of the thermocouple 15 (environment temperature at the time of strain measurement) can be accurately measured based on the output of the
なお、以上説明した実施形態では、熱電対15の出力電圧etと第1リード線11の発生電圧erとの差分の電圧(et−er)を差動増幅器31を使用して検出するようにしたが、熱電対15の出力電圧etと第1リード線11の発生電圧erとをそれぞれ各別に増幅したものをA/D変換し、それらの値の差を演算により求めるようにしてもよい。
In the embodiment described above, the differential voltage (et−er) between the output voltage et of the
また、前記実施形態では、1つのひずみゲージ1だけを使用する測定系を説明したが、複数のひずみゲージ1を使用して、多点測定を行なう測定系であってもよい。その場合、各ひずみゲージ1と測定器2との接続をスイッチを介して切り換えるようにしてもよい。 In the above embodiment, a measurement system using only one strain gauge 1 has been described. However, a measurement system that uses a plurality of strain gauges 1 to perform multipoint measurement may be used. In that case, you may make it switch the connection of each strain gauge 1 and the measuring device 2 via a switch.
1…抵抗式ひずみゲージ、11…第1リード線、12…第2リード線、13…第3リード線、14…第4リード線、15…熱電対、32…ブリッジ回路。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Resistance strain gauge, 11 ... 1st lead wire, 12 ... 2nd lead wire, 13 ... 3rd lead wire, 14 ... 4th lead wire, 15 ... Thermocouple, 32 ... Bridge circuit.
Claims (1)
前記ブリッジ回路にブリッジ電源電圧を印加した状態で前記第1リード線に生じる電圧を該第1リード線の前記抵抗回路への接続部と前記第2リード線とを介して抽出し、その抽出した第1リード線の発生電圧と前記抽出した熱電対の出力電圧との差に基づいて該熱電対の温度を測定するようにしたことを特徴とするひずみ・温度測定方法。 A first lead wire and a second lead wire made of the same material are connected to one end, a third lead wire made of the same material as the first and second lead wires to the other end, and the first to first lead wires A resistance strain gage made of a material different from the three lead wire and connected to the fourth lead wire constituting the thermocouple together with the third lead wire is used to form a resistance circuit composed of a plurality of resistors having a fixed resistance value. By connecting the resistance strain gauge via the first lead wire and the third lead wire to form a bridge circuit having the resistance strain gauge on one side, while applying a bridge power supply voltage to the bridge circuit, Extracting the output voltage of the bridge circuit using the second lead wire according to the 1 gauge three wire method, extracting the output voltage of the thermocouple via the third lead wire and the fourth lead wire, A strain / temperature measuring method for measuring strain generated in the resistance strain gauge based on the output voltage of the bridge circuit and measuring the temperature of the thermocouple based on the output voltage of the extracted thermocouple In
The voltage generated in the first lead wire in a state where a bridge power supply voltage is applied to the bridge circuit is extracted via the connection portion of the first lead wire to the resistor circuit and the second lead wire, and the extraction is performed. A strain / temperature measuring method characterized in that the temperature of the thermocouple is measured based on the difference between the voltage generated by the first lead wire and the output voltage of the extracted thermocouple.
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