JP2007234783A - 画像センサパッケージ - Google Patents

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Abstract

【課題】樹脂封止した状態で冷熱サイクルが加わったときの封止樹脂と被封止部材との界面における線膨張差による不具合を抑制することができるとともに封止用透明樹脂のレンズ機能を維持することができる画像センサパッケージを提供する。
【解決手段】画像センサチップ10における少なくとも受光部11が透明樹脂30にて封止されるとともに当該封止用透明樹脂30の一部が凸面レンズ形状にされ、光が凸面レンズ形状部31を通して画像センサチップ10の受光部11に導かれる。封止用透明樹脂30として、樹脂材料に対し、当該樹脂材料よりも線膨張係数が小さく、かつ当該樹脂材料と屈折率が等しい又は近い無機系フィラーを添加したものが用いられている。
【選択図】図1

Description

本発明は、画像センサパッケージに関し、詳しくは、画像センサチップをレンズ一体型透明樹脂にて封止した画像センサパッケージに関するものである。
撮像素子の透明モールドに関する技術としては、特許文献1に記載されているように、センサチップがリードフレームに搭載され、センサチップとリードフレームとがワイヤボンディングされ、センサチップ等を透明樹脂で封止(モールド)して構成したり、特許文献2に記載されているように封止用透明樹脂をレンズ形状に成型してモールドするものなどがある。
実開平4−94751号公報 特開昭61−268059号公報
いずれの構造においても封止用透明樹脂とセンサチップの線膨張の差、もしくは封止用透明樹脂とリードフレームの線膨張の差が大きいために、車載環境など温度差の大きい環境下では、封止用透明樹脂とセンサチップの界面の剥離やボンディングワイヤの切れ不良が発生する懸念があった。
本発明は、上記問題点に着目してなされたものであり、その目的は、樹脂封止した状態で冷熱サイクルが加わったときの封止樹脂と被封止部材との界面における線膨張差による不具合を抑制することができるとともに封止用透明樹脂のレンズ機能を維持することができる画像センサパッケージを提供することにある。
上記の課題を解決するために、請求項1に記載の発明では、封止用透明樹脂として、樹脂材料に対し、当該樹脂材料よりも線膨張係数が小さく、かつ当該樹脂材料と屈折率が等しい又は近い無機系フィラーを添加したものを用いたことを要旨とする。
請求項1に記載の発明によれば、封止用透明樹脂として、樹脂材料に対し、当該樹脂材料よりも線膨張係数が小さい無機系フィラーを添加することにより、封止用透明樹脂の熱膨張係数を小さくして画像センサチップの熱膨張係数に近づける又は等しくすることができ、画像センサチップにおける少なくとも受光部を透明樹脂にて封止した状態で冷熱サイクルが加わったときに封止用透明樹脂と画像センサチップの界面での剥離を発生させにくくすることができる。また、無機系フィラーは樹脂材料と屈折率が等しい又は近いので、封止用透明樹脂のレンズ機能を維持することができる。このようにして、樹脂封止した状態で冷熱サイクルが加わったときの封止樹脂と被封止部材との界面における線膨張差による不具合を抑制することができるとともに封止用透明樹脂のレンズ機能を維持することができる。
請求項2に記載のように、請求項1に記載の画像センサパッケージにおいて、透明樹脂にて、画像センサチップの受光部のみを封止するとともに、当該封止用透明樹脂が回路基板に設けた光導入用透孔内に位置する状態で画像センサチップを回路基板にフリップチップ実装してなる構成とすることにより、請求項1に記載の発明の作用効果に加えて、リードフレームとボンディングワイヤを用いることなく、画像センサチップの表面から突出する封止用透明樹脂を回路基板の光導入用透孔内に配した状態で画像センサチップを回路基板にフリップチップ実装でき(電気的に接続でき)、透明樹脂にて封止した状態で冷熱サイクルが加わったときの断線を防止できる(ワイヤ切れを防止できる)。
請求項3に記載のように、請求項1に記載の画像センサパッケージにおいて、透明樹脂にて、画像センサチップにおける受光部および画像センサチップでのその周辺の回路部のみを封止するとともに、当該封止用透明樹脂が回路基板に設けた光導入用透孔内に位置する状態で画像センサチップを回路基板にフリップチップ実装してなる構成とすることにより、請求項1に記載の発明の作用効果に加えて、リードフレームとボンディングワイヤを用いることなく、画像センサチップの表面から突出する封止用透明樹脂を回路基板の光導入用透孔内に配した状態で画像センサチップを回路基板にフリップチップ実装でき(電気的に接続でき)、透明樹脂にて封止した状態で冷熱サイクルが加わったときの断線を防止できる(ワイヤ切れを防止できる)。
請求項4に記載のように、請求項1に記載の画像センサパッケージにおいて、画像センサチップに同チップを貫通する貫通電極を設けるとともに、画像センサチップにおける受光部を構成する面とは反対面にフリップチップ実装用電極を設け、透明樹脂にて、画像センサチップにおける受光部を構成する面とは反対面が露出するようにして画像センサチップを封止することにより、請求項1に記載の発明の作用効果に加えて、リードフレームとボンディングワイヤを用いることなく、貫通電極およびフリップチップ実装用電極を介して画像センサチップにおける樹脂封止されていない面からフリップチップ実装でき(電気的に接続でき)、透明樹脂にて封止した状態で冷熱サイクルが加わったときの断線を防止できる(ワイヤ切れを防止できる)。
請求項5に記載のように、請求項1〜4のいずれか1項に記載の画像センサパッケージにおいて、無機系フィラーとしてシリカ微粉末を用いると、請求項1〜4のいずれか1項に記載の発明の作用効果に加えて、無機系フィラーとしてシリカ微粉末を用いることにより光学特性に優れたものとなる。
請求項6に記載のように、請求項1〜4のいずれか1項に記載の画像センサパッケージにおいて、樹脂材料として透明エポキシ樹脂を用いるとともに、無機系フィラーとしてシリカ微粉末を用いると、請求項1〜4のいずれか1項に記載の発明の作用効果に加えて、樹脂材料として透明エポキシ樹脂を用いるとともに無機系フィラーとしてシリカ微粉末を用いることにより、屈折率を等しくすることができ、光学特性に優れたものとなる。
請求項1〜4のいずれか1項に記載の画像センサパッケージにおいて、請求項7に記載のように、無機系フィラーとしてアルミナ微粉末を用いたり、請求項8に記載のように、無機系フィラーとしてSiON微粉末を用いることができる。
また、請求項1〜4のいずれか1項に記載の画像センサパッケージにおいて、請求項9に記載のように、樹脂材料として透明シリコーン系樹脂を用いたり、請求項10に記載のように、樹脂材料として透明アクリル系樹脂を用いることができる。
(第1の実施の形態)
以下、本発明を具体化した第1の実施形態を図面に従って説明する。
図1には、本実施形態における画像センサパッケージ1を示す。この画像センサパッケージ1は、車両に搭載され、温度差の大きい搭載環境で使用される。具体的には、車室内のルームミラーの裏面に設置され、車両前方の進行方向を撮像する画像センサとして用いられる。
画像センサパッケージ1は、レンズ一体型モールド構造をなしている。画像センサパッケージ1は、画像センサチップ10とリードフレーム20とボンディングワイヤ25と封止用透明樹脂30からなっている。
センサチップ10は上面の中央部に受光部11が形成されている。この受光部には画素を構成する受光素子が縦横に多数配置されている。受光素子として、例えばフォトダイオードを用いることができる。このセンサチップ10がリードフレーム20のチップ載置部21の上に受光部11が上を向くように搭載されている。センサチップ10とリードフレーム20のリード部22とがボンディングワイヤ25によって電気的に接続されている。センサチップ10と、ワイヤ25と、リードフレーム20のチップ載置部21と、リードフレーム20のリード部22の一部が、封止用透明樹脂30で封止(モールド)されている。封止用透明樹脂30におけるセンサチップ10の受光部11の上方に位置する部位が球面状、即ち、凸面レンズ形状に形成され、凸面レンズ形状部31を構成している。そして、光が凸面レンズ形状部31を通して画像センサチップ10の受光部11に導かれる。受光部11で光が電気信号に変換され、この信号(撮像データ)がワイヤ25及びリードフレームのリード部22を通して外部機器に送られる。
ここで、封止用透明樹脂30として、樹脂材料に対し、当該樹脂材料よりも線膨張係数が小さく、かつ当該樹脂材料と屈折率が等しい又は近い無機系フィラーを添加したものを用いている。本実施形態では樹脂材料として透明エポキシ樹脂(線膨張係数:数10ppm/℃、屈折率:1.5)を、また、無機系フィラーとしてシリカ微粉末(線膨張係数:数ppm/℃、屈折率:1.5)を用いている。このようにして、封止用透明樹脂における樹脂材料の線膨張係数を低減することを目的として無機系フィラーを添加し、かつ、封止用樹脂の透光性を維持すべく、無機系フィラーと樹脂材料の屈折率を合せ込んでいる(屈折率の整合がとられている)。
よって、熱的性能として、封止用透明樹脂30とセンサチップ(シリコン:数ppm/℃)10の線膨張の差、および封止用透明樹脂30とリードフレーム(例えば銅:10数ppm/℃)20の線膨張の差が小さくなり、温度差の大きい車載環境下においても封止用透明樹脂30とセンサチップ10の界面の剥離を防止することができるとともにボンディングワイヤ25の切れ不良の発生を防止することができる。また、光学的性能として、屈折率差に起因する光の散乱を抑制でき、レンズの結像機能を満たす。
上記実施形態によれば、以下のような効果を得ることができる。
(1)画像センサチップ10における少なくとも受光部11を透明樹脂30にて封止するとともに封止用透明樹脂30の一部を凸面レンズ形状にして、光を凸面レンズ形状部31を通して画像センサチップ10の受光部11に導くようにした画像センサパッケージ1であって、封止用透明樹脂30として、樹脂材料に対し、当該樹脂材料よりも線膨張係数が小さく、かつ当該樹脂材料と屈折率が等しい又は近い無機系フィラーを添加したものを用いた。よって、封止用透明樹脂30として、樹脂材料に対し、樹脂材料よりも線膨張係数が小さい無機系フィラーを添加することにより、封止用透明樹脂30の熱膨張係数を小さくして画像センサチップ10の熱膨張係数に近づける又は等しくすることができ(封止用透明樹脂30の線膨張を低減でき)、画像センサチップ10における少なくとも受光部11を透明樹脂30にて封止した状態で冷熱サイクルが加わったときに封止用透明樹脂30と画像センサチップ10の界面での剥離を発生させにくくすることができる。また、無機系フィラーは樹脂材料と屈折率が等しい又は近いので、封止用透明樹脂30のレンズ機能を維持することができる。
このようにして、樹脂封止した状態で冷熱サイクルが加わったときの封止樹脂(30)と被封止部材との界面における線膨張差による不具合を抑制することができるとともに封止用透明樹脂30のレンズ機能を維持することができる。
(2)無機系フィラーとしてシリカ微粉末を用いたので、光学特性に優れたものとなる。
(3)特に、樹脂材料として透明エポキシ樹脂を用いるとともに、無機系フィラーとしてシリカ微粉末を用いたので、屈折率を等しくすることができ、光学特性に優れたものとなる。
(第2の実施の形態)
次に、第2の実施の形態を、第1の実施形態との相違点を中心に説明する。
図2には、本実施形態における画像センサパッケージを示す。図1に示す第1の実施形態では、センサチップ10をリードフレーム20のチップ載置部21に搭載し、センサチップ10とリードフレームのリード部22とをワイヤボンディングし、センサチップ10とワイヤ25とリードフレーム20を透明樹脂30でモールドして構成したが、これに代わり、本実施の形態においては以下のようにして回路基板に実装される画像センサパッケージを構成している。
図2に示すように、画像センサチップ10において上面中央部には受光部11が形成され、この受光部11のみが透明樹脂50にて封止され、かつ、この透明樹脂50が球面状、即ち、凸面レンズ形状に形成され、凸面レンズ形状部を構成している。即ち、封止用透明樹脂50の全部を凸面レンズ形状にしている。封止用透明樹脂50として、第1実施形態と同様に、樹脂材料に対し、当該樹脂材料よりも線膨張係数が小さく、かつ当該樹脂材料と屈折率が等しい又は近い無機系フィラーを添加したものを用いている。
また、画像センサチップ10の上面での外周部にはフリップチップ実装用電極(バンプ)51が多数形成されている。回路基板40には光導入用透孔41が形成されている。回路基板40の下面において透明樹脂50(凸面レンズ形状部)が回路基板40の光導入用透孔41に入る状態で画像センサチップ10のフリップチップ実装用電極51が回路基板40と半田付けにて接合されている。そして、光は、回路基板40の光導入用透孔41から透明樹脂50(凸面レンズ形状部)を通して画像センサチップ10の受光部11に集光する。受光部11で光が電気信号に変換され、この信号(撮像データ)がフリップチップ実装用電極51を通して回路基板40に送られる。
本実施形態においても、透明樹脂50と画像センサチップ10の線膨張差が低減されるので、透明樹脂50と画像センサチップ10の界面は剥離が抑制される。
透明樹脂50にて画像センサチップ10の受光部11のみを封止するのではなく、透明樹脂50にて、画像センサチップ10における受光部11および画像センサチップ10でのその周辺の回路部のみを封止してもよい。
このようにして本実施形態においては、透明樹脂50にて画像センサチップ10の受光部11のみ(又は画像センサチップ10における受光部および画像センサチップ10でのその周辺の回路部のみ)を封止するとともに、封止用透明樹脂50が回路基板40に設けた光導入用透孔41内に位置する状態で画像センサチップ10を回路基板40にフリップチップ実装した。よって、リードフレームとボンディングワイヤを用いることなく、画像センサチップ10の表面から突出する封止用透明樹脂50を回路基板40の光導入用透孔41内に配した状態で画像センサチップ10を回路基板40にフリップチップ実装でき(電気的に接続でき)、透明樹脂にて封止した状態で冷熱サイクルが加わったときの断線を防止できる(ワイヤ切れを防止できる)。
(第3の実施の形態)
次に、第3の実施の形態を、第1の実施形態との相違点を中心に説明する。
図3には、本実施形態における画像センサパッケージを示す。
図3に示すように、画像センサチップ10において上面中央部には受光部11が形成されている。また、画像センサチップ10の上面での外周部には同チップを貫通する貫通電極62が多数設けられている。この貫通電極62によりセンサチップ上面側と下面側とが電気的に接続されている。画像センサチップ10の下面において貫通電極62の端部にはフリップチップ実装用電極(バンプ)63が設けられている。
画像センサチップ10の上面と側面とが透明樹脂60にて封止されている。透明樹脂60における画像センサチップ10の受光部11の上方に位置する部位は球面状、即ち、凸面レンズ形状に形成され、凸面レンズ形状部61を構成している。封止用透明樹脂60として、第1実施形態と同様に、樹脂材料に対し、当該樹脂材料よりも線膨張係数が小さく、かつ当該樹脂材料と屈折率が等しい又は近い無機系フィラーを添加したものを用いている。
このチップ下面が樹脂封止されずにチップ下面からフリップチップ実装用電極63が突出する画像センサパッケージが回路基板70に実装される。光は、透明樹脂60の凸面レンズ形状部61を通して画像センサチップ10の受光部11に集光する。受光部11で光が電気信号に変換され、この信号(撮像データ)が貫通電極62およびチップ下面のフリップチップ実装用電極63を通して回路基板70に送られる。
本実施形態においても、透明樹脂60と画像センサチップ10の線膨張差が低減されるので、透明樹脂60と画像センサチップ10の界面は剥離が抑制される。
このようにして本実施形態においては、画像センサチップ10に同チップを貫通する貫通電極62を設けるとともに、画像センサチップ10における受光部11を構成する面とは反対面にフリップチップ実装用電極63を設け、透明樹脂60にて画像センサチップ10における受光部11を構成する面とは反対面が露出するようにして画像センサチップ10を封止した。よって、リードフレームとボンディングワイヤを用いることなく、貫通電極62およびフリップチップ実装用電極63を介して画像センサチップ10における樹脂封止されていない面からフリップチップ実装でき(電気的に接続でき)、透明樹脂にて封止した状態で冷熱サイクルが加わったときの断線を防止できる(ワイヤ切れを防止できる)。
これまでの説明においては、樹脂材料として透明エポキシ樹脂を用いるとともに無機系フィラーとしてシリカ微粉末(SiO微粉末)を用いる場合を例示したが、これに限ることなく、樹脂材料として、透明シリコーン系樹脂、あるいは透明アクリル系樹脂を用いてもよく、また、無機系フィラーとして、アルミナの微粉末(Al微粉末)、あるいはSiONの微粉末を用いてもよい。
第1の実施形態における画像センサパッケージの縦断面図。 第2の実施形態における画像センサパッケージの縦断面図。 第3の実施形態における画像センサパッケージの縦断面図。
符号の説明
1…画像センサパッケージ、10…画像センサチップ、11…受光部、30…封止用透明樹脂、31…凸面レンズ形状部、40…回路基板、41…光導入用透孔、50…封止用透明樹脂、60…封止用透明樹脂、61…凸面レンズ形状部、62…貫通電極、63…フリップチップ実装用電極。

Claims (10)

  1. 画像センサチップ(10)における少なくとも受光部(11)を透明樹脂(30,50,60)にて封止するとともに当該封止用透明樹脂(30,50,60)の一部又は全部を凸面レンズ形状にして、光を凸面レンズ形状部(31,50,61)を通して画像センサチップ(10)の受光部(11)に導くようにした画像センサパッケージであって、
    前記封止用透明樹脂(30,50,60)として、樹脂材料に対し、当該樹脂材料よりも線膨張係数が小さく、かつ当該樹脂材料と屈折率が等しい又は近い無機系フィラーを添加したものを用いたことを特徴とする画像センサパッケージ。
  2. 回路基板(40)に実装される画像センサパッケージであって、前記透明樹脂(50)にて、画像センサチップ(10)の受光部(11)のみを封止するとともに、当該封止用透明樹脂(50)が回路基板(40)に設けた光導入用透孔(41)内に位置する状態で画像センサチップ(10)を前記回路基板(40)にフリップチップ実装してなることを特徴とする請求項1に記載の画像センサパッケージ。
  3. 回路基板(40)に実装される画像センサパッケージであって、前記透明樹脂(50)にて、画像センサチップ(10)における受光部(11)および画像センサチップ(10)でのその周辺の回路部のみを封止するとともに、当該封止用透明樹脂(50)が回路基板(40)に設けた光導入用透孔(41)内に位置する状態で画像センサチップ(10)を前記回路基板(40)にフリップチップ実装してなることを特徴とする請求項1に記載の画像センサパッケージ。
  4. 画像センサチップ(10)に同チップを貫通する貫通電極(62)を設けるとともに、画像センサチップ(10)における受光部(11)を構成する面とは反対面にフリップチップ実装用電極(63)を設け、前記透明樹脂(60)にて、画像センサチップ(10)における受光部(11)を構成する面とは反対面が露出するようにして画像センサチップ(10)を封止したことを特徴とする請求項1に記載の画像センサパッケージ。
  5. 前記無機系フィラーとしてシリカ微粉末を用いたことを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の画像センサパッケージ。
  6. 前記樹脂材料として透明エポキシ樹脂を用いるとともに、前記無機系フィラーとしてシリカ微粉末を用いたことを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の画像センサパッケージ。
  7. 前記無機系フィラーとしてアルミナ微粉末を用いたことを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の画像センサパッケージ。
  8. 前記無機系フィラーとしてSiON微粉末を用いたことを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の画像センサパッケージ。
  9. 前記樹脂材料として透明シリコーン系樹脂を用いたことを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の画像センサパッケージ。
  10. 前記樹脂材料として透明アクリル系樹脂を用いたことを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の画像センサパッケージ。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101667571B (zh) * 2008-09-01 2011-10-12 原相科技股份有限公司 感测模块
JPWO2013031174A1 (ja) * 2011-08-26 2015-03-23 パナソニック株式会社 光学材料及びこれを含む光学素子
US9029968B2 (en) 2011-11-17 2015-05-12 Seiko Instruments Inc. Optical sensor device
JP2017146527A (ja) * 2016-02-19 2017-08-24 大日本印刷株式会社 撮像モジュール、撮像装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61268059A (ja) * 1985-05-23 1986-11-27 Nec Corp 固体撮像装置
JPH05315652A (ja) * 1992-04-02 1993-11-26 Nec Corp 光半導体装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61268059A (ja) * 1985-05-23 1986-11-27 Nec Corp 固体撮像装置
JPH05315652A (ja) * 1992-04-02 1993-11-26 Nec Corp 光半導体装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101667571B (zh) * 2008-09-01 2011-10-12 原相科技股份有限公司 感测模块
JPWO2013031174A1 (ja) * 2011-08-26 2015-03-23 パナソニック株式会社 光学材料及びこれを含む光学素子
US9029968B2 (en) 2011-11-17 2015-05-12 Seiko Instruments Inc. Optical sensor device
JP2017146527A (ja) * 2016-02-19 2017-08-24 大日本印刷株式会社 撮像モジュール、撮像装置

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