JP2007218867A - Linewidth-measuring device having macro-viewing functionality - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、大型ガラス基板のパターン線幅や間隔を TV カメラ等の二次元センサを用いて非接触で寸法測定する装置におけるマクロ観察機能の方式改良に関するものである。 The present invention relates to a method for improving a macro observation function in an apparatus for measuring the pattern line width and interval of a large glass substrate in a non-contact manner using a two-dimensional sensor such as a TV camera.
図1を参照して従来技術の説明を行う。図1は、従来のマクロ観察機能を備えた基本的な寸法測定装置の構成を説明するための図である。
寸法測定装置の基本的な構成としては、被測定対象物を搭載するためのステージ部 1 と、ステージ部 1 を覆う安全カバー 2 と、被測定対象物を拡大するための光学顕微鏡 3 と、拡大された被測定対象物の空間像を撮像する TV カメラ 4 と、TV カメラ 4 が撮像した空間像から画像処理寸法測定演算やステージ制御等を行う測定制御処理部 5 とから構成される。
被測定対象物は、例えば、液晶基板や PDP( Plasma Display Panel )基板で代表される FPD( Flat Panel Display )等の大型ガラス基板である。
The prior art will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a diagram for explaining the configuration of a basic dimension measuring apparatus having a conventional macro observation function.
The basic configuration of the dimension measuring device consists of a stage part 1 for mounting the object to be measured, a safety cover 2 for covering the stage part 1, an optical microscope 3 for enlarging the object to be measured, and an enlargement. The TV camera 4 that captures the aerial image of the measured object and the measurement
The object to be measured is, for example, a large glass substrate such as an FPD (Flat Panel Display) represented by a liquid crystal substrate or a PDP (Plasma Display Panel) substrate.
上記の寸法測定装置において、マクロ観察を行うためには、ステージ部 1 の試料台 18 上に固定された被検査対象基板に光を照射するためのマクロ照明部 6 と被検査対象物を傾斜させる機構が必要になる。図1の例では、寸法測定装置の天井部分に取付けられているのがマクロ照明部 6 である。
従来のマクロ照明部 6 は、光源ランプ 7 、反射ミラー 8 、及び、均一照明を得るためのフレネルレンズ 9 などを使用していた。このため、装置の天井部分にかなり大きなスペースを必要としていた。
In the above dimension measuring apparatus, in order to perform macro observation, the macro illumination unit 6 for irradiating light to the substrate to be inspected fixed on the
The conventional macro illumination unit 6 uses a light source lamp 7, a reflection mirror 8, a Fresnel lens 9 for obtaining uniform illumination, and the like. For this reason, a considerably large space is required in the ceiling portion of the apparatus.
次に図1の試料台 18 部分に構築されているのが、被検査対象物を傾斜させるための機構である。従来は、被検査対象物を傾斜させるために、大型ガラス基板等の被検査対象物を搭載するステージ部 1 の試料台 18 自体を傾斜させていた(傾斜させた試料台 18′参照)。このため、試料台 18 の構造が複雑になる上に試料台 18 を傾斜させるための制御系なども必要となる。
マクロ検査のための装置としては、例えば、特許文献1に記載がある。
Next, a mechanism for tilting the object to be inspected is constructed on the
An apparatus for macro inspection is described in Patent Document 1, for example.
従来のマクロ観察機構では、マクロ照明部に大きなスペースを必要とすることと、大型ガラス基板を搭載する試料台自体を傾斜させるために構造が複雑で、試料台を傾斜させるための空間も必要になり、設計工数や製作時間、または調整時間が多くなり、高額な費用が必要になる上、装置も大きくなってしまう問題がある。
本発明の目的は、上記問題を解決し、小さく、安価で、簡易的に使用できるマクロ観察機能を実現できる寸法測定装置を提供することにある。
The conventional macro observation mechanism requires a large space for the macro illumination part, and the structure is complicated to tilt the sample stage itself on which a large glass substrate is mounted, and a space for tilting the sample stage is also required. Therefore, there are problems that the number of man-hours for design, production time, and adjustment time increase, which requires a high cost and increases the size of the apparatus.
An object of the present invention is to provide a dimension measuring apparatus that solves the above-described problems and that can realize a macro observation function that is small, inexpensive, and easy to use.
上記目的を達成するため、本発明のマクロ観察機能を備えた線幅測定装置は、マクロ照明部にライトガイド光源装置を使用し、ライトガイド取付部(出射口)に均一照明を得られるロッドレンズを取付けたものである。 In order to achieve the above object, a line width measuring apparatus having a macro observation function according to the present invention uses a light guide light source device for a macro illumination unit, and a rod lens capable of obtaining uniform illumination at a light guide mounting unit (emission port). Is attached.
即ち、本発明のマクロ観察機能を備えた線幅測定装置は、被測定対象物を搭載する移動可能なマクロ台車を備えたことを特徴とする。
また、本発明のマクロ観察機能を備えた線幅測定装置は、光源から出射する光を拡散するロッドレンズと、該ロッドレンズを通った光を反射し、マクロ観察のために被測定対象物に照射するために自在に位置と角度を調整可能であることを特徴とする。
That is, the line width measuring apparatus having the macro observation function of the present invention is characterized by including a movable macro carriage on which a measurement object is mounted.
The line width measuring apparatus having the macro observation function of the present invention also reflects a rod lens that diffuses the light emitted from the light source and the light that has passed through the rod lens to the object to be measured for macro observation. The position and angle can be freely adjusted for irradiation.
本発明によれば、大型のフレネルレンズを不要とすることができた。また、ステージ部とは全く別置きで、大型ガラス基板を搭載し傾斜させるためにマクロ台車を使用することで、小型で、ステージの試料台を傾斜させることなく、簡易的なマクロ観察を実現する装置を提供することができた。
更に、ロッドレンズ付きライトガイド光源装置と別置きマクロ台車を採用することにより、装置自体の構造もシンプルになり、装置外形寸法が小さくできる上に費用が軽減できた。
According to the present invention, a large Fresnel lens can be dispensed with. In addition, by using a macro carriage to mount and tilt a large glass substrate that is completely separate from the stage section, it is small and realizes simple macro observation without tilting the stage sample stage. The equipment could be provided.
Further, by adopting a separately installed macro carriage with a light guide light source device with a rod lens, the structure of the device itself is simplified, the external dimensions of the device can be reduced, and the cost can be reduced.
本発明の一実施例を図2〜図4を参照して説明する。図2は、本発明に適用する光源装置を示す図、図3は、本発明の一実施例の大型ガラス基板を搭載するマクロ台車を示す図、図4は、本発明の一実施例の寸法測定装置全体の構成を説明するための図である。 An embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 2 is a diagram showing a light source device applied to the present invention, FIG. 3 is a diagram showing a macro carriage mounted with a large glass substrate according to one embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a dimension of one embodiment of the present invention. It is a figure for demonstrating the structure of the whole measuring apparatus.
図4に示すように、装置の安全カバー 2′の上部にマクロ照明部 16 を設ける。マクロ照明部16 には、ライトガイド光源装置(図2参照)10 を使用し、ライトガイド取付部(出射口)19 に均一照明を得られるロッドレンズ11 を取付ける。
As shown in FIG. 4, a
更に、反射ミラー 20 を設け、ロッドレンズ出射口を反射ミラー方向に向けて設置する。反射ミラー 20 は、ステージ搬入口 21 付近に光が照射できるように位置や角度が調整できる機構とする。
また、ライトガイド光源装置 10 の出射口 19 にはリモート制御可能なフィルタ切替機構を設け、フィルタを切替えることで色々な波長の光を照射することができる。
Further, a
In addition, the
大型ガラス基板を搭載するマクロ台車の一実施例を図3に示す。図3(a) はマクロ台車 12 を側面から見た図、図3(b) はマクロ台車 12 を正面から見た図、図3(c) はマクロ台車 12 のベースプレート(試料台)13 付近の図、図3(d) はマクロ台車 12 のベースプレート 13 と基板固定用ガイド 14 を説明する図である。その他、31 は水平線方向(床面)、32 は垂直線方向( PASS LINE )、33 はマクロ台車 12 を移動させるためのキャスター、34 はベースプレート 13 の傾斜角度を固定するロックレバー、35 は制限タイロッド、36 は角度変更用取手、37 は調整角度範囲、38 はガススプリングを示す。
FIG. 3 shows an example of a macro carriage equipped with a large glass substrate. 3 (a) is a view of the
図3において、マクロ台車 12 は、大型ガラス基板(図示しない)を搭載し、クランプ固定できる。また、大型ガラス基板を搭載したベースプレート 13 を傾斜させることが可能であり、基板固定用ガイド 14 はフレキシブルに基板サイズに合せてベースプレート 13 を可動するので、あらゆるサイズの基板を搭載することができる。
In FIG. 3, the
図4において、装置ステージのガントリー 15 を一番奥へ移動させておき、大型ガラス基板を搭載したマクロ台車 12 を移動してワーク搬入口 21 に挿入し、マクロ照明 6′を点灯する。
照明の明るさ調整やフィルタ変更などは全て測定制御処理部 5′の測定制御アプリケーションソフトにより図示しない表示画面を見ながら、図示しない操作器を用いてオペレータによる操作が可能である。
In FIG. 4, the
The illumination brightness adjustment and filter change can all be performed by an operator using an operation device (not shown) while viewing a display screen (not shown) using the measurement control application software of the measurement control processing unit 5 '.
ワーク搬入口 21 には、エリアセンサ 17 を設け、マクロ台車 12 挿入中にはステージが動かないようインターロックをかけて安全を確保している。
このような構成によって、装置内に挿入したマクロ台車 12 のベースプレート 13 を観察し易い角度に傾斜させ、照明の明るさやフィルタなどを調整しながらマクロ観察を行うことができる。
An
With such a configuration, it is possible to perform macro observation while tilting the
上記のように、ロッドレンズ付きライトガイド光源装置と別置きマクロ台車を採用することにより、装置自体の構造もシンプルになり、装置外形寸法が小さくできる上に設計、製作、及び調整の費用を軽減できる。 As described above, the light guide light source device with the rod lens and the separately mounted macro carriage simplify the structure of the device itself, reduce the external dimensions of the device, and reduce the cost of design, production, and adjustment. it can.
なお、本発明の装置で、線幅測定を行う場合には、図4におけるステージ部 1′の試料台上に被測定対象物であるガラス基板を搭載して測定を行う。 When the line width measurement is performed with the apparatus of the present invention, the measurement is performed by mounting the glass substrate as the object to be measured on the sample stage of the stage portion 1 ′ in FIG.
1,1′:ステージ部、 2,2′:安全カバー、 3:光学顕微鏡、 4:TV カメラ、 5,5′:測定制御処理部、 6,6′:マクロ照明部、 7:光源ランプ、 8:反射ミラー、 9:フレネルレンズ、 10:ライトガイド光源装置、 11:ロッドレンズ、 12:マクロ台車、 13:ベースプレート、 14:基板固定用ガイド、 15:ガントリー、 16:マクロ照明部、 17:エリアセンサ、 18,18′:試料台、 19:ライトガイド取付部、 20:反射ミラー、 21:ステージ搬入口、 31:水平線方向、 32:PASS LINE、 33:キャスター、 34:ロックレバー、 35:制限タイロッド、 36:角度変更用取手、 37:調整角度範囲、 38:ガススプリング。 1, 1 ': Stage part, 2, 2': Safety cover, 3: Optical microscope, 4: TV camera, 5, 5 ': Measurement control processing part, 6, 6': Macro illumination part, 7: Light source lamp, 8: Reflection mirror, 9: Fresnel lens, 10: Light guide light source device, 11: Rod lens, 12: Macro carriage, 13: Base plate, 14: Guide for fixing board, 15: Gantry, 16: Macro illumination unit, 17: Area sensor, 18, 18 ': Sample stage, 19: Light guide mounting part, 20: Reflection mirror, 21: Stage inlet, 31: Horizontal direction, 32: PASS LINE, 33: Caster, 34: Lock lever, 35: Limit tie rod, 36: Handle for changing angle, 37: Adjustable angle range, 38: Gas spring.
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Applications Claiming Priority (1)
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JP2006042882A JP4911675B2 (en) | 2006-02-20 | 2006-02-20 | Line width measuring device with macro observation function |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2007218867A true JP2007218867A (en) | 2007-08-30 |
JP4911675B2 JP4911675B2 (en) | 2012-04-04 |
Family
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62173731A (en) * | 1986-01-28 | 1987-07-30 | Toshiba Corp | Inspection device for surface of article to be inspected |
JPH0783624A (en) * | 1993-09-10 | 1995-03-28 | Idemitsu Material Kk | Measurement method and device for strain of molding stamper |
JPH0783845A (en) * | 1993-09-17 | 1995-03-31 | New Kurieishiyon:Kk | Inspection device |
JP2003315273A (en) * | 2002-04-26 | 2003-11-06 | Hitachi Kokusai Electric Inc | Apparatus for visually inspecting plate-shaped object |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62173731A (en) * | 1986-01-28 | 1987-07-30 | Toshiba Corp | Inspection device for surface of article to be inspected |
JPH0783624A (en) * | 1993-09-10 | 1995-03-28 | Idemitsu Material Kk | Measurement method and device for strain of molding stamper |
JPH0783845A (en) * | 1993-09-17 | 1995-03-31 | New Kurieishiyon:Kk | Inspection device |
JP2003315273A (en) * | 2002-04-26 | 2003-11-06 | Hitachi Kokusai Electric Inc | Apparatus for visually inspecting plate-shaped object |
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