JP2007213722A - 対物レンズ位置検出方法および対物レンズ位置検出回路 - Google Patents

対物レンズ位置検出方法および対物レンズ位置検出回路 Download PDF

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Abstract

【課題】温度変動や経時劣化等で2つのセンサ出力感度がばらついても対物レンズ位置のオフセット補正が可能な対物レンズ位置検出方法を提供する。
【解決手段】位置信号37により対物レンズ位置を判定する。り対物レンズ位置を判定する。置を判定する。bが入力されると、光電流Ia、Ibを電圧Va、Vbに変換し、Vbを反転器32に出力して反転する。微分演算器33aは、Vaおよび反転されたVbを微分し、速度成分に相当する信号V´a、V´bを算出する。比較器34は、Va´、Vb´を比較する。ゲイン調整器35aは、Va´がVb´と一致するように、Vaの出力レベルをゲイン調整する。減算器36は、ゲイン調整されたセンサ19aの出力Vaとセンサ19bの出力Vbとの差動を求め、その差動を対物レンズ位置信号37としてCPU38に出力する。CPU38は、対物レンズ位置信号37により対物レンズ位置を判定する。
【選択図】図3

Description

本発明は、対物レンズ位置検出方法及び対物レンズ位置検出回路に関し、特に、温度変動等による光センサの感度変化に対応できる対物レンズ位置検出方法及び対物レンズ位置検出回路に関する。
近年、光ディスク装置は、パーソナルコンピュータの周辺入出力装置やAV(Audio Visual)機器等として幅広く使用されている。
また、Discの種類もCD(Compact Disc)からDVD(Digital Versatile Disc)へと急速に変遷し、更には青色レーザを使用したHDDVD(High Definition DVD)/BrD(Blu―rayDisc)へと開発が進んでいる。レーザの短波長化による大容量化と、記録、再生速度の高速化に伴い、光ディスク装置に搭載されている機構部品、とりわけ光ヘッドには高精度・高機能化が要求されている。
また、種々のDiscに対応するために、異なるトラックピッチや記録方式への制御に1つの光ヘッドで対応する必要があるため、高精度のトラッキングサーボ制御が必要となり、対物レンズとレーザ光の光軸の位置ずれに対するマージンが狭くなっている。
そのため、従来から、対物レンズ位置センサを用いて対物レンズ位置を検出する方法が利用されている(例えば、特許文献1)。
特開平05−012690 図1に、従来の対物レンズ駆動装置10の一例の斜視図を示す。
対物レンズ駆動装置10は、センサA19a、センサB19bおよび可動部17を含む。可動部17は、対物レンズ11とレンズホルダ12とシートコイル15、21とを含む。
対物レンズ11はレンズホルダ12に装着されている。対物レンズ11は図示しないレーザダイオードから出射されたレーザ光(紙面の下から上へ出射)を、光ディスクの情報記録面に集光する。
レンズホルダ12は固定部材13にその一端が固定されたワイヤ14によって片持支持されている。この時、対物レンズの中心軸は、図示しないレーザ光(紙面の下から上へ出射)の光軸と一致するように精度良く組み立てられている。
レンズホルダ12のタンジェンシャル方向の両端には、シートコイル15、21が装着される。シートコイル15、21には、基板上にパターン形成されたフォーカッシングコイル及びトラッキングコイルが巻かれており、外部からフォーカッシング方向及びトラッキング方向に変位するための駆動信号を印加することができる。
固定部材13とワイヤ14の接着部には、図示しないダンパ特性を有する接着剤が使用され、対物レンズ駆動の際の不要共振を減衰させることができる。固定部材13はベース16に固定されている。シートコイル15、21の各コイルへは、図示しない外部基板に接続されたワイヤ14を介して電流が供給される。
可動部17は、シートコイル15、21の各コイルと磁石との間に働く電磁力によって、ベース16に対して、フォーカッシング方向、トラッキング方向、の各方向に移動可能である。これにより、対物レンズ11を、光ディスク媒体回転に伴い生じる面振れ、偏心の各振動に対して追従させることができる。
磁石18はシートコイル15、21に対向する位置に配置され、ベース16に固定されている。磁石18は、シートコイル15、21の各コイルへ電流が印加されると、磁石18の磁力方向とコイルの電流印加方向の関係で上述の可動部17に推力を与えることができる。
上述の可動部17の位置を検出するために、2つのセンサ(センサA19aおよびセンサB19b)がセンサホルダ20に固定されている。センサホルダ20はセンサA19aおよびセンサB19bがシートコイル15のエッジ部に対向するようにベース16に固定されている。
図2に、対物レンズ駆動装置10におけるセンサA19aおよびセンサB19bの取り付け位置の詳細図を示す。
センサA19aおよびセンサB19bは、フォトインタラプタのような光センサであり、各センサには1つの発光部と受光部とを有している。センサA19aおよびセンサB19bは、対物レンズ11のタンジェンシャル方向に平行な中心軸201に関して対称に配置されている。
センサ19aは、可動部17からみて、中心軸201を基準として右側に位置しており、センサA19aの中心を通るタンジェンシャル方向の線とシートコイル15の右端のエッジとが一致するように精度良く配置されている。
センサB19bは、可動部17からみて、中心軸201を基準として左側に位置しており、センサB19bの中心を通るタンジェンシャル方向の線とシートコイル15の左端のエッジとが一致するように精度良く配置されている。
なお、センサA19aおよびセンサB19bは、フォトインタラプタに限らず、その他の一般的な位置検出可能な無接触センサ、例えば、超音波センサ等を光センサの代わりに用いても構わない。超音波センサの場合には、一対の送波器と受波器とを用いる。送波器からの超音波が検出体で反射し、この反射音波の強さを受波器で検出する。
次に、従来の対物レンズ位置検出方式について説明する。
従来の対物レンズ位置検出方法のブロック図を図14に示す。
センサA19a、センサB19bの発光部からの光は、その一部が可動部17のシートコイル15で反射され、その反射光をセンサA19a、センサB19bの受光部が受光する。そして、センサA19a、センサB19bは、受光量に比例した光電流Ia、Ibを対物レンズ位置検出回路140へ出力する。
対物レンズ位置検出回路140は、光電流を電圧に変換するI−V変換器141a、141bと、センサ出力の差信号を算出する減算器142とから構成される。
対物レンズ位置検出回路140のI−V変換器141a、141bに光電流Ia、Ibが入力されると、I−V変換器141a、141bは光電流Ia、Ibを電圧に変換し、減算器142へ出力する。
減算器142はセンサA19aより出力された信号VaとセンサB19bより出力された信号Vbとの差動を求め、その差動を対物レンズ位置信号143としてCPU144に出力する。
そしてCPU144は、対物レンズ位置信号143により対物レンズ位置を判定することができる。
図4(a)に対物レンズ11の位置がトラッキング方向に変位した場合の対物レンズ位置信号特性を示す。
センサA19aは、タンジェンシャル方向に平行な対物レンズ11の中心軸201を基準として右側に配置されているので、対物レンズ11を搭載している可動部17が右側に変位した場合、反射体であるシートコイル15の表面から反射される光量が増加する。よって、センサA19aより出力されたセンサ出力A40aは右上がり特性を有する。
一方、センサB19bは、タンジェンシャル方向に平行な対物レンズ11の中心軸201を基準として左側に配置されているので、対物レンズ11を搭載している可動部17が右側に変位した場合、反射体であるシートコイル15の表面から反射される光量が減少する。よって、センサB19bより出力されたセンサ出力B40bは右下がり特性を有する。
2つのセンサ19a、19bは同一デバイスであれば同じ特性を有しており、各センサの感度が一致するように予め調整されている。
よって、対物レンズ位置=0においてクロスする曲線となり、また対物レンズ位置=0の縦軸を基準に左右対称形となる。
この場合の対物レンズ位置信号41は、図4(b)のようにセンサ出力A40aとセンサ出力B40bの差動として計算され、対物レンズ位置=0の位置で対物レンズ位置信号41は0となり、右上がりの特性を有する。
したがって、対物レンズ位置信号41が0になる位置に対物レンズ11の位置を制御すれば、対物レンズ11と(図示しないレーザダイオードから出射されたレーザ光の)光軸を一致させることができる。
次に、温度変動が発生した場合の対物レンズ位置信号特性について説明する。
例えば、光ディスク装置の駆動中に、電気部品等の発熱が原因で光ディスク装置内部の温度が上昇した場合には、センサA19aおよびセンサB19bの感度が低下するため、センサ出力40a、40bの出力レベルが低下する。
さらに、各センサ出力の感度低下割合が一致しない場合には、センサ出力A40a、センサ出力B40bは対物レンズ位置=0において左右対称形とはならず、対物レンズ位置信号41が0の時にオフセットが発生してしまう。
図5(a)に、センサA19aの感度低下割合がセンサB19bに比べて大きい場合の対物レンズ位置信号特性を示す。
センサ出力A50a、センサ出力B50bは対物レンズ位置=0の縦軸を基準に左右対称形とはならない。よって、図5(b)のように、対物レンズ位置信号51が0の時に対物レンズ位置のオフセット52が発生する。したがって、オフセット52をマージンの範囲内に収まるように設計しなければならない。
光ディスク装置等の動作中に温度変動等が発生した場合、センサ感度が変動し、かつ、感度変動量がセンサ個体間のばらつきにより異なる場合には、対物レンズ位置信号が0であっても、対物レンズ位置と光軸とが一致せずに光ディスク媒体への記録、再生特性及び対物レンズ位置制御特性が悪化するという問題が生じる。
また、センサ感度の経時変的な劣化が生じた場合にも、温度変動の場合と同様の問題が生じる。
本発明の目的は、温度変動や経時劣化等に伴い2つのセンサ出力感度がばらついたとしても、2つのセンサの感度を一致させ、対物レンズ位置のオフセット補正が可能な対物レンズ位置検出方法を提供することである。
本発明の対物レンズ位置検出方法は、光ディスク上に光を集光させる対物レンズを備えた対物レンズ駆動装置のタンジェンシャル方向に平行な中心軸に関して対称に配置された一対のセンサの出力を用いた対物レンズ位置検出方法であって、前記一対のセンサの出力をそれぞれ微分し、微分された信号の振幅を比較し、前記振幅の差が所定範囲内に収まるように前記一対のセンサのうち少なくとも一方の出力を調整し、調整された出力を用いて前記対物レンズの位置を検出する、ことを特徴とする。
さらに、本発明の対物レンズ位置検出方法の調整は、一対のセンサのうち一方のセンサを基準センサとし、他方のセンサの出力を基準センサの出力と一致するように調整することを特徴とする。
さらに、本発明の対物レンズ位置検出方法は、基準センサに対して、予め基準となる基準電圧を記憶手段に格納し、微分を行った後、基準センサの出力を微分して得られる信号の振幅が最大となる時に信号を出力し、当該信号と同期させて、基準センサから出力された電圧が基準電圧と一致するように調整することを特徴とする。
さらに、本発明の対物レンズ位置検出方法は、基準電圧が、常温時に基準センサから出力された電圧であることを特徴とする。
さらに、本発明の対物レンズ位置検出方法は、センサが光センサであることを特徴とする。
本発明の対物レンズ位置検出回路は、光ディスク上に光を集光させる対物レンズを備えた対物レンズ駆動装置のタンジェンシャル方向に平行な中心軸に関して対称に配置された一対のセンサに接続される対物レンズ位置検出回路であって、前記一対のセンサからの出力をそれぞれ微分して出力する微分手段と、この微分手段により微分された信号の振幅の差を求める比較手段と、前記振幅の差が所定範囲内に収まるように前記一対のセンサのうち少なくとも一方の出力を調整する調整手段と、この調整手段により調整された出力を用いて前記レンズ搭載部の位置を示す位置信号を出力する手段と、を備える。
本発明のディスク装置は、光ディスク上に光を集光させる対物レンズと、この対物レンズを備えた対物レンズ駆動装置のタンジェンシャル方向に平行な中心軸に関して対称に配置された一対のセンサと、前記一対のセンサに接続される対物レンズ位置検出回路と、を含み、前記対物レンズ位置検出回路が、前記一対のセンサからの出力をそれぞれ微分して出力する微分手段と、この微分手段により微分された信号の振幅の差を求める比較手段と、前記振幅の差が所定範囲内に収まるように前記一対のセンサのうち少なくとも一方の出力を調整する調整手段と、この調整手段により調整された出力を用いて前記レンズ搭載部の位置を示す位置信号を出力する手段と、を備える。
本発明の対物レンズ位置検出方法および対物レンズ位置検出装置では、温度変動や経時劣化等に伴い2つのセンサ出力感度がばらついたとしても、各センサから微分出力された信号の振幅が一致、または実質的に一致するようにゲイン調整を行い、各センサの感度を一致、または実質的に一致させることで、容易に対物レンズ位置のオフセットを補正することができる。
また、本発明の対物レンズ位置検出方法および対物レンズ位置検出装置では、微分出力された信号の振幅比は、微分出力された信号が0以外であれば対物レンズ位置に関係なく一定であるため、光ディスク装置等が稼働中であっても、常時対物レンズ位置信号のオフセットを補正することができる。
さらに、本発明の対物レンズ位置検出方法および対物レンズ位置検出装置では、直接2つのセンサから出力される信号を基に各センサの感度差を検出しているため、サーミスタ等の温度検出素子を必要とせず、光ピックアップに搭載する部品点数を削減することができる。
次に、本発明の実施例について図面を参照して詳細に説明する。
本発明の対物レンズ位置検出方法、対物レンズ位置検出装置およびディスク装置の第1の実施例について説明する。本発明の対物レンズ駆動装置10の構成は図1および図2と同様であるため、説明を省略する。
図1および図3を参照すると、本発明のディスク装置は、対物レンズ駆動装置10、対物レンズ位置検出回路30およびCPU38を含む。対物レンズ位置検出回路30およびCPU38は、対物レンズ駆動装置10とは別に設けられている。
対物レンズ駆動装置10は、センサA19a、センサB19bおよび可動部17を含む。
センサA19a、センサB19bの発光部からの光は、その一部が可動部17のシートコイル15で反射され、その反射光をセンサA19a、センサB19bの受光部が受光する。センサA19a、センサB19bは、受光量に比例した光電流Ia、Ibをそれぞれ対物レンズ位置検出回路30へ出力する。
対物レンズ位置検出回路30は、光電流を電圧に変換するI−V変換器31aおよび31bと、センサ出力を反転する反転器32と、入力された電圧値を微分し速度成分に相当する信号を算出する微分演算器33aおよび33bと、センサ出力を比較する比較器34と、センサ出力レベルを調整するゲイン調整器35aと、センサ出力の差信号を算出する減算器36とを含む。
I−V変換器31aおよび31bの各々は、センサA19aおよびセンサB19bから光電流IaおよびIbが入力されると、光電流IaおよびIbを電圧VaおよびVbに変換する。一方のセンサからの出力(ここではVbとする)を反転器32に出力する。
反転器32はVbを反転してVqとする。
微分演算器33aは、ゲイン調整器35aを介して入力されたVaを微分し速度成分に相当する信号V´aを算出する。微分演算器33bは、反転器32から入力されたVqを微分しその速度成分に相当する信号V´bを算出する。
比較器34は、各センサ出力の速度成分に相当する信号V´aおよびV´bを比較する。
ゲイン調整器35aは、速度成分V´aがV´bと一致するように、または、速度成分V´aおよびV´bの差が所定の範囲内に収まるように、Vaの出力レベルを調整する。
減算器36は、ゲイン調整されたセンサA19aの出力VaとセンサB19bの出力Vbとの差動を求め、その差動を対物レンズ位置信号37としてCPU38に出力する。
CPU38は、対物レンズ位置信号37に基づいて対物レンズ位置を判定する。
次に、第1の実施例における対物レンズ位置信号のオフセットの補正方法について説明する。
図4(a)に、温度変動がない常温時の対物レンズ位置に対するセンサ出力A40a、センサ出力B40bを示す。
上述したように、対物レンズ位置=0においてクロスする曲線となり、また対物レンズ位置=0の縦軸を基準に左右対称形となる。
そして、図4(b)にその対物レンズ位置信号41を示す。上述したように、対物レンズ位置=0の位置で対物レンズ位置信号41は0となり、右上がりの特性を有する。
次に、図5(a)に、温度変動時(高温時)の対物レンズ位置に対するセンサ出力A50a、センサ出力B50bを示す。温度変動によって各センサ19a、19bの感度が低下し、その感度低下割合はセンサごとに異なる。よって、センサ出力50a、50bは、対物レンズ位置=0の縦軸を基準とした左右対称形の曲線とはならなくなる。
図5(b)に、温度変動時(図5(a)の場合)の対物レンズ位置信号51を示す。対物レンズ位置信号51はセンサ出力A50a、センサ出力B50bの差動であるため、対物レンズ位置=0で対物レンズ位置信号51が0とはならない。その結果、オフセット52が生じる。
図6に、図5の温度変動時における各センサ出力及び速度成分信号の時間軸波形を示す。
図6(a)は、各センサ出力50aと50bの時間経過に伴う出力波形である。
センサ出力A50aは、I−V変換器31aを介してゲイン調整器35aから出力した信号Vaに相当し、センサ出力B50bは、I−V変換器31bを介して出力した信号Vbに相当する。
ここでは簡単にするために、対物レンズ11がトラッキング方向に正弦波駆動をしている時の波形を示している。
センサA19aとセンサB19bは、前述したように、対物レンズ駆動装置10のタンジェンシャル方向に平行な中心軸201を挟んで左右に配置されているため、位相が180度反転している。反転器32は位相関係を考慮して備えられたものであり、センサB19bからの出力のみを180度反転させる。なお、反転器32はセンサB19bではなく、センサA19aの出力のみに適用させてもよい。
センサ出力A50aおよび反転されたセンサ出力B50bは、それぞれ微分演算器33aおよび33bで速度成分に相当する信号V´aおよびV´bに変換される。
図6(b)に、速度変換されたセンサ出力Aの速度成分60aと、センサ出力Bの速度成分60bとを示す。センサ出力Aの速度成分60aおよびセンサ出力Bの速度成分60bは、それぞれ図3における微分出力V´aおよびV´bに相当する。
各センサ出力の速度成分60aおよび60bは、それぞれ位相が揃っており、各センサ19aおよび19bの感度低下ばらつき分だけ振幅が異なっている。
各センサ出力の速度成分60aおよび60bの振幅が比較器34で比較される。
ゲイン調整器35aは、比較器34の出力に基づいて、各センサ出力の速度成分60aおよび60bの振幅が一致するようにまたは、速度成分60aおよび60bの差が所定の範囲内に収まるように、Vaのゲイン調整を行う。各センサ出力の速度成分60a、60bの振幅比は対物レンズ位置に関係なく一定であるが、振幅レベルがある閾値61より高い場合にのみゲイン調整を行うようにする。なぜなら、振幅レベルが低い場合には、ノイズ等の成分により振幅比が安定せず、精度良いゲイン調整が行えないためである。閾値は任意に設定することができる。本実施の形態では、ゲイン調整はセンサA19aの出力に対して行う構成としたが、センサB19bの出力に対して行うようにしても良い。
図7に、各センサ出力の速度成分60a、60bの振幅を一致させた場合におけるセンサ出力A70a、センサ出力B70bの出力波形を示す。各センサ出力の速度成分60a、60bの振幅を一致させるように制御すると、各センサ出力70a、70bを振幅の等しい信号とすることができる。その結果、図8(a)に示されるように、各センサ出力70a、70bは、対物レンズ位置=0を縦軸として左右対称形となり、対物レンズ位置=0でクロスするようになる。そして、図8(b)に示されるように、センサ出力A70aとセンサ出力B70bの差動である対物レンズ位置信号81は、対物レンズ位置=0の位置で0となる。
なお、第1の実施例の対物レンズ位置検出回路30は、反転器32を備えない構成としても良い。なぜなら、一方のセンサ(第1の実施例ではセンサB19b)からの出力を反転しなくても、各センサの速度成分に相当する信号の振幅比を比較することは可能だからである。
また、第1の実施例では温度変動によりセンサ感度が低下した場合ついて説明したが、センサの寿命等が原因で経時的に感度が劣化した場合であっても、本発明による対物レンズ位置のオフセット補正方法は適用可能である。
このように、本発明の対物レンズ位置検出方法では、温度変動や経時劣化等に伴い2つのセンサ出力感度がばらついたとしても、各センサから微分出力された信号の振幅が一致するようにゲイン調整を行い各センサの感度を一致させることで、容易に対物レンズ位置のオフセットを補正することができる。
また、微分出力された信号の振幅比は、微分出力された信号が0以外であれば対物レンズ位置に関係なく一定であるため、光ディスク装置等が稼働中であっても、常時対物レンズ位置信号のオフセットを補正することができる。
また、本発明の対物レンズ位置検出方法では、直接2つのセンサから出力される信号を基に各センサの感度差を検出しているため、サーミスタ等の温度検出素子を必要とせず、光ピックアップに搭載する部品点数を削減することができる。
次に、本発明の対物レンズ位置検出方法および対物レンズ位置検出回路の第2の実施例について説明する。
第1の実施例における温度変動前後でのセンサ出力および対物レンズ位置信号の違いを図9に示す。なお、図9は、図4と図8を重ね合わせたものであり、常温時の特性と高温時の温度補正後の特性とを比較したものである。
図9(a)のように高温時のセンサA出力70aおよびセンサB70bは、常温時のセンサA出力40aおよびセンサB40bよりも、出力レベルが低下する。このため図9(b)に示すように、高温時の対物レンズ位置信号81は、常温時の対物レンズ位置信号41と比較し、傾きが小さい特性を有している。つまり、第1の実施例において、ゲイン調整器35aによるセンサA19aのゲイン調整のみでは、オフセット52は除去できても、対物レンズ位置信号の出力レベル、すなわち、対物レンズ位置に対する対物レンズ位置信号の傾きまでは補正できない。
上記を鑑み、第2の実施例では、対物レンズ駆動装置10の構成は第1の実施例の図1、図2と同一であるが、センサ出力のゲイン調整方法についてさらに工夫を加えている。
第2の実施例における対物レンズ位置検出回路のブロック図を図10に示す。
センサA19aおよびセンサB19bのそれぞれの発光部からの光は、その一部が可動部17のシートコイル15で反射され、その反射光をセンサA19a、センサB19bの受光部が受光する。そして、センサA19a、センサB19bは、受光量に比例した光電流Ia、Ibを対物レンズ位置検出回路100へ出力する。
対物レンズ位置検出回路100は、第1の実施例と同様に、光電流を電圧に変換するI−V変換器31a、31bと、センサ出力を反転する反転器32と、入力された電圧値を微分し速度成分に相当する信号を算出する微分演算器33a、33bと、センサ出力を比較する比較器34と、センサA19aの出力レベルを調整するゲイン調整器35aと、センサ出力の差信号を算出する減算器36とを備える。さらに、第2の実施例では、対物レンズ位置検出回路100は、センサB19bの出力レベルを調整するゲイン調整器35bと、常温時のセンサ出力を格納する記憶部101と、センサ出力の速度成分に相当する信号の最大値を検索する最大値検索部102とを備える。
I−V変換器31a、31bは、各センサ19a、19bから光電流Ia、Ibが入力されると、光電流Ia、Ibを電圧Va、Vbに変換し、ゲイン調整器35a、35bにそれぞれ出力する。
ゲイン調整器35aは、第1の実施例と同様に、センサA19aとセンサB19bの出力感度ばらつきを抑制するために設けられている。
ゲイン調整器35bは、センサB19bからの出力感度を一定のレベルに固定するために設けられている。
一方のセンサからの出力(ここではセンサB19bからの出力Vb)は、ゲイン調整器35bを介して反転器32に入力される。反転器32ではVbを反転してVqとする。
ゲイン調整器35aで増幅されたセンサA19aからの出力Vaおよびゲイン調整35bで増幅されたセンサB19bからの出力Vbを反転器32で反転した信号Vqは、それぞれ微分演算器33aおよび33bに入力される。微分演算器33a、33bは、Va、Vqを微分してその速度成分に相当する信号V´a、V´bを算出する。
記憶部101には、常温時のセンサB19bの出力Vb1を格納しておく。なお、記憶部に格納しておくデータは、常温時のセンサB19bの出力Vb1に限らず、基準となるセンサ出力レベルを格納するようにしても良い。
最大値検索部102は、センサB19bからの出力の速度成分に相当する信号V´bの最大値を検索し、最大値になった時にのみON信号を出力する。
比較器34は、各センサ19a、19bの速度成分に相当する信号V´a、V´bの振幅を比較する。
ゲイン調整器35aは、速度成分V´aがV´bと一致するように、または、速度成分V´aおよびV´bの差が所定の範囲内に収まるように、Vaの出力レベルを調整する。
ゲイン調整器35bは、最大値検索部102でON信号が出力された時に同期させて、記憶部101に格納されている信号レベルに一致するようにVbのゲイン調整を行う。
減算器36は、ゲイン調整されたセンサ19aからの出力Vaとゲイン調整されたセンサ19bからの出力Vbとの差動を求め、その差動を対物レンズ位置信号37としてCPU38に出力する。
CPU38は、対物レンズ位置信号37により対物レンズ位置を判定する。
次に、第2の実施例における対物レンズ位置信号のオフセットの補正方法について説明する。
ゲイン調整器35aは、第1の実施例と同様に、2つのセンサ19a、19bの出力変化のばらつきをなくすようにセンサA19aからの出力Vaを調整する。
ここでは主にゲイン調整器35bの動作について詳細に説明する。
図11は、センサB19bからの出力の速度成分に相当する信号V´bを示している。最大値検索部102では、センサ出力Bの速度成分に相当する信号V´bにおける最大値位置110を検索する。詳細には対物レンズ駆動装置をトラッキング方向に正弦波で駆動させ、この時の各周期における最大値位置110を検知する。この時の最大値位置110は、対物レンズ1が光軸に一致していることを示している。その理由は、対物レンズ11のトラッキング方向への移動速度は、対物レンズが中立位置即ち対物レンズ11と光軸が一致している時に最大となるためである。さらに、図9(b)のように、対物レンズ位置に対する対物レンズ位置信号41、81は、温度に関係なく、対物レンズ位置が0の時、すなわち、対物レンズ11と光軸が一致している時にその傾きが最大となる。この特性は、第1の実施例でも説明したように、図2において各センサ19a、19bの中心202a、202bがシートコイル15のエッジに一致するよう精度良く配置することにより実現可能である。このため対物レンズ11を正弦波ではなく、三角波で駆動しても最大値位置110の検知は可能である。したがって、最大値検索部102では、各周期における最大値位置110、すなわち、対物レンズ11と光軸が一致する場所を検知することができ、最大値位置110になった時にON信号を出力する。
図12に、センサB19bの出力に関するゲイン調整方法を示す。
対物レンズ位置=0の時のセンサB19bの出力は、常温時にはVb1であったものが、高温時にはVb2に低下する。記憶部101では、常温時のセンサB19bの出力Vb1を格納しておき、最大値検索部102でON信号が出力された時に、高温時のセンサB19bの出力Vb2がVb1になるようゲイン調整器35bで調節する。よって、センサB19bの出力を常温時の出力レベルに調整することができる。その結果、最終的に得られる対物レンズ位置信号37を常温時と同等の感度(つまり対物レンズ位置に対する対物レンズ位置信号の傾き)に補正することができる。すなわち、対物レンズ位置信号を図4(b)と同様にすることができる。
なお、第2の実施例の対物レンズ位置検出回路100は、反転器32を備えない構成としても良い。なぜなら、一方のセンサ(第2の実施例ではセンサB19b)からの出力を反転しなくても、各センサからの速度成分の振幅比を比較することは可能だからである。
また、第2の実施例では温度変動によりセンサ感度が低下した場合について説明したが、センサの寿命等が原因で経時的に感度が劣化した場合であっても、本発明による対物レンズ位置のオフセット補正方法は適用可能である。
このように、第2の実施例では、第1の実施例と同様の効果に加え、センサB19bの出力を基準となるセンサ出力レベル(例えば常温時の出力レベル)に調整することで、最終的に得られる対物レンズ位置信号37を常温時と同等の感度(つまり対物レンズ位置に対する対物レンズ位置信号の傾き)に補正することができる。
次に、本発明の対物レンズ位置検出方法および対物レンズ位置検出回路の第3の実施例について説明する。
第1の実施例では、片方のセンサ出力(センサA19aの出力)のゲイン調整を行うことで対物レンズ位置信号のオフセットを補正しているが、第3の実施例では、別の方法として、センサの発光部からの発光量を制御する。第3の実施例における対物レンズ位置検出方法は、センサ出力レベルの調整方法以外は第1の実施例と同様であるため、詳細な説明は省略する。
対物レンズ駆動装置10の構成は、第1の実施例と同様である。
第3の実施例における対物レンズ位置検出回路のブロック図を図13に示す。
対物レンズ位置検出回路130の構成は、ゲイン調整器35aを備えていない点を除き、第1の実施例と同様である。第3の実施例では、センサA19aが順電流制御部131を備えており、センサA19aの出力を制御している。すなわち、順電流制御部131は、比較器34での比較結果に基づき、センサA19aの発光量を発光素子に流す順電流を制御することによって調整し、センサA19aの出力レベルを調整している。
よって、第3の実施例では第1の実施例と同様の効果を得ることができる。
なお、第2の実施例においても、各センサ19a、19bの出力をゲイン調整器35a、35bで調整することに代えて、順電流制御部で制御するようにしても良い。
従来ならびに第1および第2および第3の実施例の対物レンズ駆動装置の斜視図である。 従来ならびに第1および第2および第3の実施例の対物レンズ駆動装置におけるセンサの取り付け位置を示す図である。 第1の実施例における対物レンズ位置検出回路を示すブロック図である。 常温時における対物レンズ位置に対するセンサ出力および対物レンズ位置信号を示す図である。 温度変動時(高温時)における対物レンズ位置に対するセンサ出力および対物レンズ位置信号を示す図である。 温度変動時(高温時)における各センサ出力および速度成分に相当する信号を示す図である。 第1の実施例によるオフセット補正後の各センサ出力を示す図である。 第1の実施例によるオフセット補正後の対物レンズ位置に対するセンサ出力および対物レンズ位置信号を示す図である。 第1の実施例におけるオフセット補正前後でのセンサ出力および対物レンズ位置信号を示す図である。 第2の実施例における対物レンズ位置検出回路を示すブロック図である。 センサ出力Bの速度成分に相当する信号を示す図である。 第2の実施例におけるセンサBのゲイン調整方法を示す図である。 第3の実施例における対物レンズ位置検出回路を示すブロック図である。 従来における対物レンズ位置検出回路を示すブロック図である。
符号の説明
10 対物レンズ駆動装置
11 対物レンズ
12 レンズホルダ
13 固定部材
14 ワイヤ
15、21 シートコイル
16 ベース
17 可動部
18 磁石
19a センサA
19b センサB
20 センサホルダ
201 対物レンズのタンジェンシャル方向に平行な中心軸
202a センサAの中心
202b センサBの中心
30、100、130、140 対物レンズ位置検出回路
31a、31b、141a、141b I−V変換器
32 反転器
33a、33b 微分演算器
34 比較器
35a、35b ゲイン調整器
36、142 減算器
37、41、51、81、143 対物レンズ位置信号
38、144 CPU
40a、50a、70a センサ出力A
50a、50b、70b センサ出力B
オフセット 52
60a センサ出力Aの速度成分
60b センサ出力Bの速度成分
101 記憶部
102 最大値検索部
110 最大値位置
131 順電流制御部

Claims (15)

  1. 光ディスク上に光を集光させる対物レンズのタンジェンシャル方向に平行な中心軸に関して対称に配置された一対のセンサの出力を用いた対物レンズ位置検出方法において、
    前記一対のセンサの出力をそれぞれ微分し、
    微分された信号の振幅を比較し、前記振幅の差が所定範囲内に収まるように前記一対のセンサのうち少なくとも一方の出力を調整し、
    調整された出力を用いて前記対物レンズの位置を検出する、
    ことを特徴とした対物レンズ位置検出方法。
  2. 前記一対のセンサのうち一方のセンサからの出力を反転した後に、前記比較を行うことを特徴とする請求項1に記載の対物レンズ位置検出方法。
  3. 前記調整は、前記一対のセンサの発光量を制御することにより、前記一対のセンサの出力を調整することを特徴とする請求項1乃至2のいずれか1項に記載の対物レンズ位置検出方法。
  4. 前記調整は、前記一対のセンサのうち一方のセンサを基準センサとし、他方のセンサの出力を前記基準センサの出力と一致するように調整することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の対物レンズ位置検出方法。
  5. 請求項4に記載の対物レンズ位置検出方法において、
    前記基準センサに対して、予め基準となる基準電圧を記憶手段に格納し、
    前記微分を行った後、前記基準センサの出力を微分して得られる信号の振幅が最大となる時に信号を出力し、当該信号と同期させて、前記基準センサから出力された電圧が前記基準電圧と一致するように調整する、
    ことを特徴とする対物レンズ位置検出方法。
  6. 前記基準電圧が、常温時に前記基準センサから出力された電圧であることを特徴とする請求項5に記載の対物レンズ位置検出方法。
  7. 前記センサが光センサであることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の対物レンズ位置検出方法。
  8. 光ディスク上に光を集光させる対物レンズのタンジェンシャル方向に平行な中心軸に関して対称に配置された一対のセンサに接続される対物レンズ位置検出回路において、
    前記一対のセンサからの出力をそれぞれ微分して出力する微分手段と、
    この微分手段により微分された信号の振幅の差を求める比較手段と、
    前記振幅の差が所定範囲内に収まるように前記一対のセンサのうち少なくとも一方の出力を調整する調整手段と、
    この調整手段により調整された出力を用いて前記レンズ搭載部の位置を示す位置信号を出力する手段と、
    を備えることを特徴とした対物レンズ位置検出回路。
  9. 前記一対のセンサのうち一方のセンサから出力された電圧を反転する反転手段をさらに含むことを特徴とする請求項8に記載の対物レンズ位置検出回路。
  10. 前記調整手段が前記一対のセンサに備えられ、前記センサの発光量を調整することにより前記一対のセンサの出力を調整することを特徴とする請求項8乃至9のいずれか1項に記載の対物レンズ位置検出回路。
  11. 前記調整手段が、
    前記一対のセンサのうち一方のセンサを基準センサとし、他方のセンサの出力を前記基準センサの出力と一致するように調整することを特徴とする請求項8乃至10のいずれか1項に記載の対物レンズ位置検出回路。
  12. 請求項11に記載の対物レンズ位置検出回路において、
    前記基準センサに対して基準となる基準電圧を予め格納するための記憶手段と、
    前記基準センサの前記微分出力された信号の振幅が最大となる時に第一の信号を出力する最大値検索手段と、
    をさらに備え、
    前記調整手段が、前記第一の信号と同期させて、前記基準センサから出力された電圧が前記基準電圧と一致するように調整し、当該調整の後、前記基準センサと異なるセンサの出力を前記基準センサと一致するように調整することを特徴とする対物レンズ位置検出回路。
  13. 前記基準電圧が、常温時に前記基準センサから出力された電圧であることを特徴とする請求項12に記載の対物レンズ位置検出回路。
  14. 前記センサが光センサであることを特徴とする請求項8乃至13のいずれか1項に記載の対物レンズ位置検出回路。
  15. 光ディスク上に光を集光させる対物レンズと、
    この対物レンズのタンジェンシャル方向に平行な中心軸に関して対称に配置された一対のセンサと、
    前記一対のセンサに接続される対物レンズ位置検出回路と、
    を含み、
    前記対物レンズ位置検出回路が、
    前記一対のセンサからの出力をそれぞれ微分して出力する微分手段と、
    この微分手段により微分された信号の振幅の差を求める比較手段と、
    前記振幅の差が所定範囲内に収まるように前記一対のセンサのうち少なくとも一方の出力を調整する調整手段と、
    この調整手段により調整された出力を用いて前記レンズ搭載部の位置を示す位置信号を出力する手段と、
    を備えることを特徴としたディスク装置。


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