JP2007194510A - Ceramic electronic part jig, and method for manufacturing ceramic electronic part using same - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、積層セラミックコンデンサ等のセラミック電子部品のCu端子電極焼付等に用いて好適なセラミック電子部品用冶具及びその冶具を用いたセラミック電子部品の製造方法に関する。 The present invention relates to a jig for a ceramic electronic component suitable for use in baking a Cu terminal electrode of a ceramic electronic component such as a multilayer ceramic capacitor, and a method for manufacturing a ceramic electronic component using the jig.
積層セラミックコンデンサ等のセラミック電子部品では、グリーンチップを焼成して得られたチップの両端に、Cu粉末及び有機バインダを含む電極ペースト(導体ペースト)を塗布し、焼き付けることにより、内部電極と、電気的に接続するCu端子電極を形成する。 In a ceramic electronic component such as a multilayer ceramic capacitor, an electrode paste (conductor paste) containing Cu powder and an organic binder is applied to both ends of a chip obtained by firing a green chip, and then baked, whereby an internal electrode and an electric Cu terminal electrodes to be connected are formed.
Cu端子電極の焼き付けに当たっては、内部電極の断層面が酸化してCu端子電極と導通不良が生じないように、窒素(N2)雰囲気中、つまり中性雰囲気中で、700℃〜900℃の温度範囲にて焼き付けされる。この焼き付け工程は、電極ペーストの塗布されたセラミック電子部品を、ステンレス鋼線でなるメッシュで作製された冶具に、ランダムにばら積み収容し、この冶具をステンレス鋼線でなる枠に載置して、その枠をメッシュベルトに載せて焼成炉を通過させて行う。 In baking of the Cu terminal electrode, in a nitrogen (N 2 ) atmosphere, that is, in a neutral atmosphere, 700 ° C. to 900 ° C. so that the tomographic plane of the internal electrode is not oxidized and poor conduction with the Cu terminal electrode does not occur. Bake in the temperature range. In this baking process, ceramic electronic components coated with electrode paste are randomly stored in a jig made of a mesh made of stainless steel wire, and this jig is placed on a frame made of stainless steel wire, The frame is placed on a mesh belt and passed through a firing furnace.
ところが、冶具にランダムにばら積み収容されたセラミック電子部品は、Cu端子電極が、隣接する他のセラミック電子部品のCu端子電極に接触し、接触した状態で焼き付けが行われ、相互に付着してしまう。互いに付着したセラミック電子部品を強制的に剥がそうとすると、Cu端子電極が部分的に剥がれてしまい、Cu端子電極の一部に傷が残り、Cu端子電極不良として歩留まりを悪化させる。 However, ceramic electronic components randomly stacked and accommodated in jigs have Cu terminal electrodes in contact with Cu terminal electrodes of other adjacent ceramic electronic components, and are baked in contact with each other to adhere to each other. . If the ceramic electronic components attached to each other are forcibly peeled off, the Cu terminal electrode is partially peeled off, so that a part of the Cu terminal electrode is damaged and the yield is deteriorated as a defective Cu terminal electrode.
この問題を解決するため、例えば特許文献1は、Niメッシュの表面にZrO2粉末を付着させた冶具を用い、メッシュの各網目にCu端子電極を付与したチップ部品を落とし込んで、焼き付ける手法を開示している。また、特許文献2は、Niで形成された網状体の表面にNiOからなる酸化被膜を形成した冶具を開示している。
In order to solve this problem, for example, Patent Document 1 discloses a technique of using a jig in which ZrO 2 powder is attached to the surface of a Ni mesh, dropping a chip component provided with a Cu terminal electrode on each mesh mesh, and baking it. is doing.
しかし、特許文献1、2に開示された冶具を用いた場合、Cu端子電極が、メッシュ又は網状体の表面に付着してしまい、付着痕跡として、Cu端子電極の一部に傷が残り、Cu端子電極不良として歩留まりを悪化させる。
However, when the jigs disclosed in
しかも、メッシュ又は網状体の表面にCu端子電極が付着した場合、剥離後にCu端子電極を構成するCu成分が残ってしまい、それが、次の焼付け処理において、Cu端子電極の付着を促進させる原因となる。このため、冶具の耐用期間を短縮してしまうという問題点もあった。
本発明の課題は、Cu端子電極の付着、及び、付着不良を著しく低減できるセラミック電子部品用冶具、及び、その冶具を用いたセラミック電子部品の製造方法を提供することである。 An object of the present invention is to provide a jig for a ceramic electronic component capable of remarkably reducing adhesion and adhesion failure of a Cu terminal electrode, and a method for manufacturing a ceramic electronic component using the jig.
本発明のもう一つの課題は、耐用期間を著しく長期化し、コストダウンに寄与するセラミック電子部品用冶具、及び、その冶具を用いたセラミック電子部品の製造方法を提供することである。 Another object of the present invention is to provide a jig for a ceramic electronic component that significantly extends the service life and contributes to cost reduction, and a method for manufacturing a ceramic electronic component using the jig.
本発明に係るセラミック電子部品用冶具は、セラミック電子部品を熱処理するために用いられるものであって、少なくとも、前記セラミック電子部品を受ける部分が、チタンを主成分とする材料で構成され、又は、チタンを主成分とする皮膜によって覆われている。 The jig for a ceramic electronic component according to the present invention is used for heat-treating a ceramic electronic component, and at least the portion that receives the ceramic electronic component is made of a material mainly composed of titanium, or It is covered with a film mainly composed of titanium.
上述した冶具は、Cu端子電極焼付け形成工程を含むセラミック電子部品の製造方法の実施に適用される。適用において、冶具の面上に、Cuを主成分とする未焼付けCu端子電極塗膜を有するセラミック電子部品を供給する。次に、前記冶具及び前記セラミック電子部品を熱処理して、前記Cu端子電極塗膜を焼付ける。 The jig described above is applied to the implementation of a method for manufacturing a ceramic electronic component including a Cu terminal electrode baking formation step. In application, a ceramic electronic component having an unbaked Cu terminal electrode coating composed mainly of Cu on the surface of the jig is supplied. Next, the jig and the ceramic electronic component are heat-treated, and the Cu terminal electrode coating film is baked.
上述したCu端子電極塗膜の焼付け処理において、その処理に用いられている冶具は、セラミック電子部品を受ける部分が、チタンを主成分とする材料で構成され、又は、チタンを主成分とする皮膜によって覆われているから、Cu端子電極の付着、及び、付着不良率を著しく低減できる。 In the above-described baking process for the Cu terminal electrode coating film, the jig used in the processing is configured such that the portion that receives the ceramic electronic component is made of a material mainly containing titanium, or a film mainly containing titanium. Therefore, the adhesion of the Cu terminal electrode and the adhesion failure rate can be significantly reduced.
しかも、メッシュ又は網状体の表面に対するCu端子電極の付着が著しく低減されるから、メッシュ又は網状体の表面に対するCu成分の残留も極めて少なくなる。このため、冶具の耐用期間が著しく長くなり、コストダウンに寄与することができる。 Moreover, since the adhesion of the Cu terminal electrode to the surface of the mesh or network is remarkably reduced, the residual Cu component on the surface of the mesh or network is extremely reduced. For this reason, the lifetime of a jig becomes remarkably long and can contribute to cost reduction.
本発明に係る冶具は、未焼付けCu端子電極塗膜を有するセラミック電子部品を個別的に受ける多数の凹受部を有する。この凹受部を形成する最も簡単な手段は、網状体を用いることである。別の手段として、切抜かれた孔を有する複数枚の板材を組み合わせて、焼付け処理に適した特有の凹受部を形成することも有効である。 The jig according to the present invention has a large number of concave receiving portions that individually receive ceramic electronic components having unbaked Cu terminal electrode coating films. The simplest means for forming the concave receiving portion is to use a net-like body. As another means, it is also effective to combine a plurality of plate materials having cut-out holes to form a specific concave receiving portion suitable for the baking process.
何れの場合も、セラミック電子部品を受ける部分は、チタンを主成分とする材料で構成され、又は、チタンを主成分とする皮膜によって覆われる。 In any case, the part that receives the ceramic electronic component is made of a material mainly composed of titanium, or is covered with a film mainly composed of titanium.
以上述べたように、本発明によれば、未焼付けCu端子電極の付着、及び、付着不良を著しく低減できるセラミック電子部品用冶具、及び、その冶具を用いたセラミック電子部品の製造方法を提供することができる。また、耐用期間を著しく長期化し、コストダウンに寄与するセラミック電子部品用冶具、及び、その冶具を用いたセラミック電子部品の製造方法を提供することができる。 As described above, according to the present invention, it is possible to provide a jig for a ceramic electronic component capable of significantly reducing the adhesion of an unbaked Cu terminal electrode and an adhesion failure, and a method for manufacturing a ceramic electronic component using the jig. be able to. In addition, it is possible to provide a jig for a ceramic electronic component that significantly extends the service life and contributes to cost reduction, and a method for manufacturing a ceramic electronic component using the jig.
本発明の他の目的、構成及び利点については、添付図面を参照し、更に詳しく説明する。但し、添付図面は、単なる例示に過ぎない。 Other objects, configurations and advantages of the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings. However, the attached drawings are merely examples.
図1は本発明に係るセラミック電子部品用冶具の一実施例を示す平面図、図2は図1に図示した矢印A部分の拡大平面図、図3は図2の3−3線に沿った断面図である。図示されたセラミック電子部品用冶具は、ベース板2と、網状体4とを含む。ベース板2は、金属材料で構成され、一面に平板面200を含む。
1 is a plan view showing one embodiment of a jig for ceramic electronic parts according to the present invention, FIG. 2 is an enlarged plan view of an arrow A portion shown in FIG. 1, and FIG. 3 is taken along line 3-3 in FIG. It is sectional drawing. The illustrated ceramic electronic component jig includes a
図3を参照すると、網状体4は、縦の金属線41と横の金属線42とで織られており、多数の交差部43と、多数の網目でなる凹受部45とを含む。縦の金属線41及び横の金属線42は、ともに、チタンを用いる。チタンは、Cu端子電極焼付に際して、Cu端子電極との付着が殆どない。ベース板2及び網状体4は、チタン又はチタン合金によって構成できる他、ステンレス鋼等の金属基材の表面にめっきやコーティング等の手段によって、チタン被覆膜として形成してもよい。
Referring to FIG. 3, the mesh body 4 is woven with
交差部43は、金属線41、42が網状体4の厚み方向で重なって形成される。より詳しくは、交差部43は、互いに隣り合う部分で、金属線41、42の上下が互い違いになるように交互に入れ替わって織られている。網状体4の形態は本実施例に限らず、交差部43が網状体4の厚み方向で重なって形成されれば、どのような形態であってもよい。また、部品収納区画毎に交差部43が存在していれば、部品収納区画毎に金属拡散接合を実行し、ベース板2と網状体4との間の隙間を小さく保つことができる。
The intersecting
網目でなる凹受部45は、交差部43と、金属線41、42とで囲まれた部品収納区画を形成する。ベース板2及び網状体4は、平板面200において、交差部43と、例えば拡散接合により固着されている。
The concave
凹受部45の高さは、あまり低いと、収容されたセラミック電子部品50が脱落しやすく、あまり高いとセラミック電子部品の収容作業が困難となる。そこで、凹受部45の高さは、セラミック電子部品50の高さ寸法を考慮し、上述した不具合が生じないような高さに設定される。凹受部45の高さは、主として網状体4を構成する金属線41、42の直径で決定されるので、凹受部45の高さ設定にあたっては、金属線41、42の直径を選択することになる。
If the height of the
上述した冶具は、セラミック電子部品のCu端子電極焼付け形成工程の実施に適用される。図4は、セラミック電子部品のCu端子電極焼付にあたり、図3に図示したセラミック電子部品用冶具に、セラミック電子部品50を収容した状態を示す部分断面図である。セラミック電子部品50のセラミック素体501には、焼付け前のCu端子電極塗膜502が付与されている。セラミック電子部品50が例えば積層セラミックコンデンサであれば、Cu端子電極塗膜502はセラミック電子部品50の長手方向両端に塗布される。
The above-described jig is applied to the Cu terminal electrode baking forming process for ceramic electronic components. FIG. 4 is a partial cross-sectional view showing a state in which the ceramic
Cu端子電極塗膜502は、銅粉を主成分とする導電成分と、有機バインダとを含み、これらを混合して調製したペーストを、セラミック素体501に塗布し、乾燥させることによって得られる。
The Cu terminal
図4において、セラミック電子部品50は、凹受部45に1個ずつ収容される。セラミック電子部品用冶具に収容された塗膜付きセラミック電子部品50は、次に、セラミック電子部品用冶具ごと焼付炉に入れられ、700℃〜900℃程度に加熱されてCu端子電極焼付が行われる。このとき、セラミック電子部品50に塗布されたCu端子電極塗膜502から有機バインダを除去する脱バインダ処理が行われる。脱バインダ処理は、凹受部45の周囲4面における交差部43と、金属線41、42との段差で形成される隙間G1を介して行われる。この隙間G1は、網状体4の全面にわたって均等に存在するため、脱バインダ処理が良好に行え、更に、焼付温度の均一化及び焼付雰囲気の均一化を実現する。また、図4に示したように、ベース板2の厚さ方向に貫通孔23を設ければ、脱バインダ処理、焼付温度及び焼付雰囲気を、均一化できる。
In FIG. 4, the ceramic
また、網状体4は、金属線41、42で織られており、多数の金属線交差部43と、多数の凹受部45とを含むから、一つの凹受部45を1個のセラミック電子部品の収容区画とし、各凹受部45にセラミック電子部品50を1個ずつ収容することができる。従って、セラミック電子部品50のCu端子電極塗膜502同士が接触することがない。
In addition, the mesh body 4 is woven with
また、ベース板2及び網状体4は、平板面200において、交差部43と拡散接合5により固着しているから、網状体4の全面にわたって交差部43がベース板2に固着しベース板2と網状体4との間の隙間を小さく保つことができる。したがって、ベース板2と網状体4との間の隙間にセラミック電子部品が入り込む不具合を防止できる。
In addition, since the
しかも、ベース板2に固着する部分は網状体4の交差部43であるので、基本的には、全ての凹受部45が部品収納区画として利用できる。このため、セラミック電子部品50の収容数量の大きなセラミック電子部品用冶具が提供できる。
Moreover, since the portion fixed to the
更に、本発明に特有の構成として、セラミック電子部品を受けるベース板2及び網状体4が、チタンやチタン合金によって構成され、又は、ステンレス鋼等の金属基材の表面にチタン被覆膜を付着させた構成を有するから、Cu端子電極塗膜502の付着、及び、付着不良を著しく低減できる。
Furthermore, as a configuration unique to the present invention, the
次に、ベース板2及び網状体4の材質毎の焼付け実験結果を表1に示す。表1において、付着率(%)は網状体4に対するCu端子電極塗膜502の付着率(N=10,000)を示す。
Next, Table 1 shows the results of baking experiments for each material of the
表1を参照すると、網状体4を、SUS304(Fe-18Cr-Ni)、MN(63Ni−30Cu)及びHA(Ni-Cr-Mo)で構成した場合、付着率が11〜76.62(%)に達するのに対し、Tiによって構成した場合は、上述した他の材質に比較して著しく低い0.37(%)である。このことは、Tiを用いてベース板2及び網状体4を構成した場合、付着率が極めて低くなり、付着によるCu端子電極塗膜502へのダメージが極小になることを意味する。ステンレス鋼等の金属基材の表面にめっきやコーティング等の手段によって、チタン被覆膜を形成した場合も、同様の結果が得られた。尚、表1の4に記載された合金MNにおいて、材質成分(63Ni−30Cu)は、63%以上のNiと、30%程度のCuを含有することを示す。
Referring to Table 1, when the mesh body 4 is composed of SUS304 (Fe-18Cr-Ni), MN (63Ni-30Cu) and HA (Ni-Cr-Mo), the adhesion rate is 11 to 76.62 (%). In contrast, when Ti is used, it is 0.37 (%), which is significantly lower than other materials described above. This means that when the
しかも、ベース板2及び網状体4の表面に対するCu端子電極塗膜502の付着が著しく低減されるから、ベース板2及び網状体4の表面に対するCu成分の残留も極めて少なくなる。このため、冶具の耐用期間が著しく長くなり、コストダウンに寄与することができる。次に、この点について、表2を参照して説明する。表2は、ベース板2及び網状体4を、Tiによって構成した場合において、繰り返し使用(投入数)したときの付着率及び付着不良率を示すデータである。
In addition, since the adhesion of the Cu terminal
表2を参照すると、ベース板2及び網状体4を、Tiによって構成した場合、投入数が増すと、付着率は高くなる傾向にあるが、端子に傷が残る付着不良率は、最大6回の繰り返し使用においても、0.0(%)であり、冶具の耐用期間が著しく長くなり、コストダウンに寄与することができることが分かる。
Referring to Table 2, when the
本発明は、種々のタイプの冶具に適用できる。その具体例を以下に示す。図5は本発明に係る治具の別の実施例を示す平面図、図6は図5に示した治具の分解図、図7は図5、図6に示した治具の部分拡大図である。 The present invention can be applied to various types of jigs. Specific examples are shown below. 5 is a plan view showing another embodiment of the jig according to the present invention, FIG. 6 is an exploded view of the jig shown in FIG. 5, and FIG. 7 is a partially enlarged view of the jig shown in FIGS. It is.
図5、図6を参照すると、図示の治具は、第1の薄板部材10と、第2の薄板部材21、22と、第3の薄板部材30とを含む。第3の薄板部材30は、第2の薄板部材22の上に配置され、第2の薄板部材22は、第2の薄板部材21の上に配置され、第2の薄板部材21は、第1の薄板部材10の上に配置されている。第1〜第3の薄板部材10〜30のそれぞれは、拡散接合、又は、熱圧着されていることが好ましい。
Referring to FIGS. 5 and 6, the illustrated jig includes a first
第1〜第3の薄板部材10、21、22、30は、チタンによって構成されている。これとは異なって、ステンレス鋼等の金属基材の表面にめっきやコーティング等の手段によって、チタン被覆膜を形成してもよい。第1〜第3の薄板部材10〜30のそれぞれの厚みは、例えば、1〜10mm程度とすることが好ましい。
The first to third
第1の薄板部材10は、基板100と、通気孔101とを含む。通気孔101は、複数であり、基板100の厚み方向に貫通している。通気孔101のそれぞれは、格子状に配列されている。
The first
第2の薄板部材21は、基板210と、第1のスリット211とを含む。第1のスリット211は、基板210の厚み方向に貫通している。第2の薄板部材22は、基板220と、第2のスリット221とを含む。第2のスリット221は、基板220の厚み方向に貫通している。第2のスリット221は、厚み方向で見て、第1のスリット211と直交していることが好ましいが、交差する角度は任意である。
The second
第3の薄板部材30は、基板300と、凹受部301とを含む。凹受部301は、格子状に配列され、それぞれが基板300の厚み方向に貫通している。凹受部301−301間の間隔は任意である。
The third
スリット211、221及び凹受部301は、厚み方向に連通するように組み合わされている。連通する部分(連通路)A1、B1は、チップが通り抜けられる程度の内径を有し、基板100の保持部102により、少なくとも部分的に塞がれている。
The
図8は、図5〜図7に示した治具の使用状態を説明する部分断面図である。図8において、セラミック電子部品50のそれぞれは、凹受部301からスリット211、221に導かれ、保持部102に保持され、この状態で、脱バインダ工程、又は、焼成工程が施される。
FIG. 8 is a partial cross-sectional view for explaining the usage state of the jig shown in FIGS. In FIG. 8, each of the ceramic
本発明に特有の構成として、セラミック電子部品を受ける第1〜第3の薄板部材10、21、22、30が、チタンによって構成され、又は、ステンレス鋼等の金属基材の表面にめっきやコーティング等の手段によって、チタン被覆膜が形成されているから、脱バインダ工程や焼成工程において、Cu端子電極塗膜502の付着、及び、付着不良を著しく低減できる。
As a structure peculiar to the present invention, the first to third
第2の薄板部材21、22のスリット211、221、及び、第3の薄板部材30の凹受部301は、厚み方向に連通するから、セラミック電子部品50は、凹受部301からスリット211、221に導かれ、治具内に個別的に収納される。スリット211、221、及び、少なくとも2つの凹受部301は、凹受部301の一方−スリット221−スリット211−スリット221−凹受部301の他方へと抜ける流路(図5参照)を形成するので、通気性が良くなり、焼成雰囲気の均一化、及び、焼成温度の均一化が実現されるとともに、脱バイガスが放出され易くなる。このため、加熱むらが生じにくくなるとともに、脱バインダに要する時間が短縮される。
Since the
第1の薄板部材10の保持部102は、連通路301、211、221を塞ぎ、セラミック電子部品50を保持する。このため、セラミック電子部品50を治具内に安定的に保持した状態で、脱バインダ工程、又は、焼成工程を施すことができ、電子部品を歩留まりよく製造し得る。
The holding
また、図示の第1の薄板部材10は、通気孔101を含む。通気孔101は、連通路301、211、221に通じ、凹受部301−スリット221−スリット211−通気孔101へと抜ける流路(図5参照)を形成するので、更に通気性が良くなり、加熱むらが生じにくくなるとともに、脱バインダに要する時間が短縮される。
The illustrated first
また、図示の実施例では、第1〜第3の薄板部材10〜30に連通路301、211、221、101が設けられている分だけ、空洞部分が多くなる。このため、熱容量小さくなり、脱バインダ、焼成工程における省エネルギー化が図られる。また、空洞部分により軽量化が図られる。
Further, in the illustrated embodiment, the number of hollow portions increases as the first to third
図9は、本発明に係る治具の別の一実施例を示す分解平面図、図10は図9に示した治具の断面図である。これらの図において、図1〜図8に現れた構成部分に相当する部分については、同一の参照符号を付してある。 FIG. 9 is an exploded plan view showing another embodiment of the jig according to the present invention, and FIG. 10 is a sectional view of the jig shown in FIG. In these drawings, parts corresponding to the constituent parts appearing in FIGS. 1 to 8 are given the same reference numerals.
図9、図10に示した治具は、第1の薄板部材10と、第2の薄板部材21、22と、第3の薄板部材30とを含む。これらは、チタンによって構成され、又は、ステンレス鋼等の金属基材の表面にめっきやコーティング等の手段によって、チタン被覆膜が形成されている。図6〜図8に示した実施例と異なって、第1の薄板部材10には、通気孔が設けられていない。
The jig shown in FIGS. 9 and 10 includes a first
図9、図10に図示した実施例においては、第1の薄板部材10、第2の薄板部材21、22、及び、第3の薄板部材30が、チタンやチタン合金によって構成され、又は、ステンレス鋼等の金属基材の表面にチタン被覆膜を付着させた構成を有するから、Cu端子電極塗膜502の付着、及び、付着不良を著しく低減できる。その他の作用効果については、先に述べた実施例とほぼ同じである。
In the embodiment shown in FIGS. 9 and 10, the first
図11は、本発明に係る治具の更に別の実施例を示す分解平面図、図12は図11に示した治具の断面図である。図11、図12に示した治具は、第1の薄板部材10と、第2の薄板部材21と、第3の薄板部材30とを含む。これらは、チタンやチタン合金によって構成され、又は、ステンレス鋼等の金属基材の表面にチタン被覆膜を付着させた構成を有する。従って、Cu端子電極塗膜502の付着、及び、付着不良を著しく低減できる。その他の作用効果については、先に述べた実施例とほぼ同じである。
11 is an exploded plan view showing still another embodiment of the jig according to the present invention, and FIG. 12 is a cross-sectional view of the jig shown in FIG. The jig shown in FIGS. 11 and 12 includes a first
図13は、本発明に係る治具の更に別の一実施例を示す分解平面図である。図13に示した治具は、第1の薄板部材10と、第2の薄板部材21と、第3の薄板部材30とを含む。これらは、チタンやチタン合金によって構成され、又は、ステンレス鋼等の金属基材の表面にチタン被覆膜を付着させた構成を有する。従って、Cu端子電極塗膜502の付着、及び、付着不良を著しく低減できる。その他の作用効果については、先に述べた実施例とほぼ同じである。
FIG. 13 is an exploded plan view showing still another embodiment of the jig according to the present invention. The jig shown in FIG. 13 includes a first
第2の薄板部材21は、基板210と、第1のスリット211、212とを含む。第1のスリット211、212は、基板210の厚み方向に貫通しており、厚み方向で見て、互いに直交している。
The second
図14は本発明に係る治具の一実施例を示す平面図、図15は図14に示した治具の分解平面図、図16は図14、図15に示した冶具の拡大断面図である。図14〜図16に図示された治具は、第1の薄板部材11、12と、第2の薄板部材21、22と、第3の薄板部材30とを含む。これらは、チタンやチタン合金によって構成され、又は、ステンレス鋼等の金属基材の表面にチタン被覆膜を付着させた構成を有する。
14 is a plan view showing an embodiment of the jig according to the present invention, FIG. 15 is an exploded plan view of the jig shown in FIG. 14, and FIG. 16 is an enlarged sectional view of the jig shown in FIGS. is there. 14 to 16 includes first
第1の薄板部材11、12のそれぞれは、同一の構成であり、第2の薄板部材21、22のそれぞれは、同一の構成である。第3の薄板部材30は、第2の薄板部材22の上に配置され、第2の薄板部材22は、第2の薄板部材21の上に配置され、第2の薄板部材21は、第1の薄板部材12の上に配置され、第1の薄板部材12は、第1の薄板部材11の上に配置されている。第1〜第3の薄板部材11〜30のそれぞれは、拡散接合、又は、熱圧着されていることが好ましい。第1〜第3の薄板部材11〜30のそれぞれの厚みは、例えば、1〜10mm程度とすることが好ましい。
Each of the first
第3の薄板部材30は、基板300と、部品挿入用の凹受部301とを含む。凹受部301は、格子状に配列され、それぞれが基板300の厚み方向に貫通している。凹受部301−301間の間隔は任意である。
The third
第2の薄板部材21は、基板210と、空洞部201とを含む。第2の薄板部材22は、基板220と、空洞部201とを含む。空洞部201は、厚み方向でみて、凹受部301と重なる位置に形成され、基板210、220の厚み方向に貫通している。
The second
空洞部201の最大差渡し寸法は、凹受部301の最大差渡し寸法よりも大きい。空洞部201において、チップが姿勢を変えるために必要だからである。
The maximum passing dimension of the
第1の薄板部材11は、基板110と、第1の支持部111と、第2の支持部112と、溝部113とを含む。第1の薄板部材12は、基板120と、第1の支持部111と、第2の支持部112と、溝部113とを含む。
The first
第1の支持部111は、少なくとも一部が、厚み方向でみて、凹受部301と重ならない位置に形成されている。第2の支持部112は、少なくとも一部が、厚み方向で見て、凹受部301と重なる位置に形成されている。溝部113は、第1、第2の支持部111、112の周囲に形成されている。溝部113は、第1の支持部111がチップを支持している状態において、チップの端部付近に形成されていることが好ましい。
At least a part of the
図16は、図14、図15に示した治具の使用状態を説明する断面図である。図16において、セラミック電子部品50は、その長手方向に沿って、凹受部301から空洞部201に導かれる。連通路301、201は、チップが長手方向に沿って通り抜けられる程度の内径を有し、第2の支持部112は、少なくとも一部が、厚み方向で見て、凹受部301と重なる位置に形成されているから、長手方向に沿って挿入されたチップは、第2の支持部112に支持される。
FIG. 16 is a cross-sectional view illustrating a usage state of the jig illustrated in FIGS. 14 and 15. In FIG. 16, the ceramic
次に、第2の支持部112に支持されたチップが転倒する。チップを転倒させる方法は、任意である。例えば、治具に振動を与えてチップを転倒させる方法や、支持装置を用いる方法等を挙げることができる。
Next, the chip supported by the
空洞部201は、セラミック電子部品50が略90度回転し得るだけの空間を有するから、セラミック電子部品50は、その長手方向が第2の薄板部材と平行になるように配置される。
Since the
第1の支持部111は、少なくとも一部が、厚み方向でみて、凹受部301と重ならない位置に形成されているから、転倒したチップは、その長手方向の中央部分が第1の支持部111に支持される。
Since at least a part of the
第1の支持部111がチップを支持している状態において、チップの端部付近には溝部113が形成されているから、チップのCu端子電極塗膜502と基板110、120との接触が回避される。これにより、チップと治具とが付着する不具合が回避される。
In the state where the
次に、この状態で、脱バインダ工程、焼成工程が施される。脱バインダ工程において、第1の薄板部材11、12、第2の薄板部材21、22及び第3の薄板部材30は、チタンやチタン合金によって構成され、又は、ステンレス鋼等の金属基材の表面にチタン被覆膜を付着させた構成を有するから、Cu端子電極塗膜502の付着、及び、付着不良を著しく低減できる。
Next, a binder removal process and a baking process are performed in this state. In the binder removal step, the first
セラミック電子部品50は、その長手方向に沿って、凹受部301に挿入され、空洞部201において、長手方向が第2の薄板部材と平行になるように配置される。これにより、セラミック電子部品50のそれぞれは、その長手方向に関して、治具との距離が一定になり、セラミック電子部品50の長手方向に沿って加熱むらが生じる不具合が回避される。
The ceramic
また、第2の薄板部材21、22と平行に配置されることにより、セラミック電子部品50の自重により、セラミック電子部品50と治具とが付着する不具合が回避される。第2の薄板部材21、22と平行に配置されることにより、セラミック電子部品50の自重が一点に集中しないからである。
Moreover, the arrangement | positioning in parallel with the 2nd
第1の薄板部材11、12は、連通路301、201を、少なくとも部分的に塞ぎ、セラミック電子部品50を保持する。これにより、セラミック電子部品50を治具内に安定的に保持した状態で、脱バインダ工程、又は、焼成工程を施すことができ、歩留まりよく電子部品を製造し得る。
The first
また、それぞれのセラミック電子部品50は、空洞部201に個別的に保持され、互いに重なり合うことがないから、通気性が良くなる。このため、加熱むらが生じにくくなるとともに、脱バインダに要する時間が短縮される。
Further, each ceramic
更に、図示の実施例では、溝部113が基板110、120の厚み方向に貫通しているから、第3の薄板部材30の側から凹受部301、空洞部201に至り、溝部113を介して、第1の薄板部材11の側へと抜ける流路(連通路)が形成される。かかる構成により、通気性が良くなり、加熱むらが生じにくくなるとともに、脱バインダに要する時間が短縮される。
Further, in the illustrated embodiment, since the groove 113 penetrates in the thickness direction of the
特に、連通路301、201、103によれば、第1の薄板部材11に面する側の外気と、第3の薄板部材30に面する側の外気が通気し、セラミック電子部品50に均一な外気が加わり、極めて良好な脱バインダ、焼成特性が得られる。
In particular, according to the
また、図示の実施例において、第1〜第3の薄板部材11〜30は、連通路301、201、103が設けられている分だけ、空洞部分が多くなる。このため、熱容量小さくなり、脱バインダ、焼成工程における省エネルギー化が図られる。また、空洞部分により軽量化が図られる。
Further, in the illustrated embodiment, the first to third
図17は、本発明に係る治具の別の実施例を示す分解平面図、図18は図17の18−18線に沿った断面図、図19は図18の19−19線に沿った断面図である。 17 is an exploded plan view showing another embodiment of the jig according to the present invention, FIG. 18 is a cross-sectional view taken along line 18-18 in FIG. 17, and FIG. 19 is taken along line 19-19 in FIG. It is sectional drawing.
図17〜図19に示した治具は、第1の薄板部材11と、第2の薄板部材21、22と、第3の薄板部材30とを含む。これらは、チタンやチタン合金によって構成され、又は、ステンレス鋼等の金属基材の表面にチタン被覆膜を付着させた構成を有する。
The jig shown in FIGS. 17 to 19 includes a first
第1の薄板部材11は、基板110と、第1の支持部111と、第2の支持部112と、溝部113とを含む。第1の支持部111は、2つの部分に分離され、第2の薄板部材21と対向する側の一面から溝部113にかけて、テーパ(V字溝)を有する。
The first
図17において、溝部113は、チップの長手方向に沿った楕円形状部分103Aと、長手方向に直交する方向の楕円形状部分103Bとを含む。楕円形状部分103A、103Bは、セラミック電子部品50の形状に対応して形成されている。
In FIG. 17, the groove 113 includes an
図18において、セラミック電子部品50は、その長手方向に沿って、凹受部301から空洞部201に導かれ、その後、セラミック電子部品50は、バランスを失って転倒する。
In FIG. 18, the ceramic
図示の実施例では、第1の支持部111にテーパ(V字溝)が形成されているので、セラミック電子部品50がテーパにより位置決めされる。このため、セラミック電子部品50が空洞部201の壁面に接触し、チップと治具とが付着する不具合を回避し得る。
In the illustrated embodiment, since the
また、第1の支持部111の周囲には、セラミック電子部品50の形状に対応する溝部113が形成されているので、第1の支持部111によりセラミック電子部品50が位置決めされた状態において、チップと治具との接触を確実に回避し得る。
In addition, since a groove 113 corresponding to the shape of the ceramic
図20は、本発明に係る治具の更に別の実施例を示す分解平面図、図21は図20の21−21線に沿った断面図である。 20 is an exploded plan view showing still another embodiment of the jig according to the present invention, and FIG. 21 is a sectional view taken along line 21-21 of FIG.
図20、図21に示した治具は、第1の薄板部材11と、第2の薄板部材21、22と、第3の薄板部材30と、第4の薄板部材70とを含む。これらは、チタンやチタン合金によって構成され、又は、ステンレス鋼等の金属基材の表面にチタン被覆膜を付着させた構成を有する。
The jig shown in FIGS. 20 and 21 includes a first
第4の薄板部材70は、基板700と、通気孔701とを含む。図示の実施例では、連通路301、201、103、701が形成されているので、通気性が良くなり、加熱むらが生じにくくなるとともに、脱バインダに要する時間が短縮される。
The fourth
図22は、本発明に係る治具の更に別の実施例を示す分解平面図、図23は図22に示した治具の断面図である。 FIG. 22 is an exploded plan view showing still another embodiment of the jig according to the present invention, and FIG. 23 is a sectional view of the jig shown in FIG.
図22、図23に示した治具は、第1の薄板部材11と、第2の薄板部材21、22と、第3の薄板部材30とを含む。これらは、チタンやチタン合金によって構成され、又は、ステンレス鋼等の金属基材の表面にチタン被覆膜を付着させた構成を有する。第2の薄板部材21は、基板210と、第1のスリット211とを含む。第2の薄板部材22は、基板220と、第2のスリット221とを含む。
The jig shown in FIGS. 22 and 23 includes a first
スリット211、221は、厚み方向で見て、互いに交差しており、交差した部分に空洞部201が形成されている。スリット211、221の交差する角度は任意であるが、直交していることが好ましい。
The
図示の実施例では、連通路301、201、103だけでなく、凹受部301の一方−スリット221−凹受部301の他方へと抜ける流路(連通路)、凹受部301の一方−スリット221−スリット211−スリット221−凹受部301の他方へと抜ける流路(連通路)、及び、溝部113の一方−スリット211−溝部113の他方へと抜ける流路(連通路)が形成され、通気性が更に良好となる。
In the illustrated embodiment, not only the
以上、好ましい実施例を参照して本発明を詳細に説明したが、本発明はこれらに限定されるものではなく、当業者であれば、その基本的技術思想および教示に基づき、種々の変形例を想到できることは自明である。 The present invention has been described in detail with reference to the preferred embodiments. However, the present invention is not limited to these embodiments, and various modifications can be made by those skilled in the art based on the basic technical idea and teachings. It is self-evident that
502 塗膜
2 ベース板
200 平板面
4 網体
41、42 金属線
43 交差部
45 凹受部
502 paint film
2
4
Claims (3)
少なくとも、前記セラミック電子部品を受ける部分が、チタンを主成分とする材料で構成され、又は、チタンを主成分とする皮膜によって覆われている、
冶具。 A jig used to heat-treat ceramic electronic components,
At least the portion that receives the ceramic electronic component is made of a material mainly composed of titanium, or is covered with a film mainly composed of titanium,
Jig.
請求項1又は2に記載された冶具を用い、前記冶具の面上に、Cuを主成分とする未焼付けCu端子電極塗膜を有するセラミック電子部品を供給し、
次に、前記冶具及び前記セラミック電子部品を熱処理して、前記Cu端子電極塗膜を焼き付ける、
工程を含むセラミック電子部品の製造方法。
A method of manufacturing a ceramic electronic component including a Cu terminal electrode baking formation step,
Using the jig according to claim 1 or 2, supplying a ceramic electronic component having an unbaked Cu terminal electrode coating film mainly composed of Cu on the surface of the jig,
Next, the jig and the ceramic electronic component are heat-treated, and the Cu terminal electrode coating film is baked.
A method of manufacturing a ceramic electronic component including a process.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2006013233A JP2007194510A (en) | 2006-01-20 | 2006-01-20 | Ceramic electronic part jig, and method for manufacturing ceramic electronic part using same |
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WO2021039048A1 (en) * | 2019-08-23 | 2021-03-04 | 株式会社村田製作所 | Jig for chip-like electronic component |
WO2022176296A1 (en) * | 2021-02-22 | 2022-08-25 | 株式会社村田製作所 | Method for manufacturing ceramic electronic component |
-
2006
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JP7327489B2 (en) | 2019-08-23 | 2023-08-16 | 株式会社村田製作所 | Jigs for chip-shaped electronic components |
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