JP2007178339A - Continuity testing method and testing device thereof - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、配線基板と電子部品とのはんだ接合不良を検出するための技術に関する。 The present invention relates to a technique for detecting a solder joint failure between a wiring board and an electronic component.
従来から、配線基板と該配線基板に実装された電子部品との接合不良を検出するため、導通試験(電気的特性試験)が行われている。導通試験では、例えば、電子部品がはんだ接合にて実装された配線基板(以下、配線基板ユニットと記載する)の回路を構成する配線パターンにプローブピンを接触させて電流を印加して回路を作動させるとともに、回路から出力される電気信号を検出し、該電気信号と良品から得られる電気信号とを比較することにより、配線基板と電子部品とが適切にはんだ接合されているかどうかの評価を行う。 Conventionally, a continuity test (electric characteristic test) has been performed to detect a bonding failure between a wiring board and an electronic component mounted on the wiring board. In the continuity test, for example, a probe pin is brought into contact with a wiring pattern constituting a circuit of a wiring board (hereinafter referred to as a wiring board unit) on which electronic components are mounted by solder bonding, and a circuit is operated by applying a current. In addition, the electrical signal output from the circuit is detected, and the electrical signal is compared with the electrical signal obtained from the non-defective product, thereby evaluating whether the wiring board and the electronic component are appropriately soldered. .
しかし、配線基板と電子部品とが適切にはんだ接合されていないが、電子部品と配線基板とがはんだを介して接触している場合には、該配線基板と電子部品との接合部に導電性が確保されるため、接合不良を検出することはできなかった。 However, if the wiring board and the electronic component are not properly soldered, but the electronic component and the wiring board are in contact with each other via solder, the conductive part is conductive at the joint between the wiring board and the electronic component. Therefore, it was not possible to detect a bonding failure.
そこで、配線基板ユニットに振動を加えて配線基板を共振させることによって、瞬間的に配線基板と電子部品との接合部に導電性がない状態を強制的に形成して導通試験を行うことで、接合不良を検出する導通試験方法が提案されている。
例えば、特許文献1に記載の検査装置では、配線基板ユニットを固定する検査治具と振動装置とを連結棒にて連結し、プローブピンを備えたプローバーユニットと配線基板ユニットとを同様に振動させることによって、配線基板ユニットに振動を与えながら、同時に配線基板の回路に電流を印加して検査を実施することができる構造としている。
For example, in the inspection apparatus described in Patent Document 1, an inspection jig for fixing a wiring board unit and a vibration device are connected by a connecting rod, and the prober unit including the probe pin and the wiring board unit are similarly vibrated. Thus, the structure is such that the inspection can be performed by applying current to the circuit of the wiring board at the same time while applying vibration to the wiring board unit.
上記背景技術に記載の導通試験では、配線基板に対して加振して共振を発生させ、該配線基板を瞬間的に反った(又は、撓んだ)状態にして、導電性のない状態を強制的に形成して導通試験を行うが、電子部品の形状や接合位置などによっては、接合不良が存在しても配線基板が反ったときに電子部品とはんだとの接触が維持されることがあった。 In the continuity test described in the above background art, the wiring board is vibrated to generate resonance, and the wiring board is instantaneously warped (or bent), and the non-conductive state is obtained. The continuity test is performed by forcibly forming, but depending on the shape and bonding position of the electronic component, contact between the electronic component and the solder may be maintained when the wiring board is warped even if there is a bonding failure. there were.
そこで本発明では、配線基板と電子部品との接合部において、接合不良が存在する場合に、確実にその接合不良を検出することのできる導通試験方法、及び、これに供する導通試験装置について提案する。 Accordingly, the present invention proposes a continuity test method capable of reliably detecting a bonding failure when a bonding failure exists at the joint between the wiring board and the electronic component, and a continuity test apparatus provided for the same. .
本発明の解決しようとする課題は以上の如くであり、次にこの課題を解決するための手段を説明する。 The problem to be solved by the present invention is as described above. Next, means for solving the problem will be described.
即ち、請求項1においては、配線基板に電子部品が実装されて成る配線基板ユニットにおける電子部品と配線基板との接合不良を検出する導通試験方法において、配線基板ユニットに具備される配線基板と任意の電子部品との双方を共振させた状態で、前記配線基板ユニットに構成される回路に通電して配線基板と任意の電子部品との接続部の接続状態を検査するものである。 That is, according to a first aspect of the present invention, there is provided a continuity test method for detecting a bonding failure between an electronic component and a wiring board in a wiring board unit in which an electronic component is mounted on the wiring board. In a state where both of the electronic components are resonated, the circuit configured in the wiring board unit is energized to inspect the connection state of the connecting portion between the wiring board and an arbitrary electronic component.
請求項2においては、配線基板に電子部品が実装されて成る配線基板ユニットにおける電子部品と配線基板との接合不良を検出する導通試験方法において、前記配線基板ユニットを静止させた状態と、前記配線基板ユニットに具備される配線基板と任意の電子部品とを共振させた状態との双方において、該配線基板ユニットに構成される回路に通電して配線基板と任意の電子部品との接続部の導通抵抗を測定し、これらの導通抵抗を比較演算することにより、接合不良を検出するものである。 According to a second aspect of the present invention, in the continuity test method for detecting a bonding failure between the electronic component and the wiring board in the wiring board unit in which the electronic component is mounted on the wiring board, the wiring board unit is stationary, and the wiring In both the state in which the wiring board included in the board unit and an arbitrary electronic component are resonated, the circuit configured in the wiring board unit is energized to conduct the connection portion between the wiring board and the arbitrary electronic component. A junction failure is detected by measuring the resistance and comparing and calculating these conduction resistances.
請求項3においては、前記配線基板および任意の電子部品の振動の腹と節の位置を変化させて、少なくとも複数回の導通抵抗の測定を行い、これらの導通抵抗を比較演算することにより、接合不良を検出するものである。 In claim 3, by changing the positions of the vibration antinodes and nodes of the wiring board and any electronic component, measuring the conduction resistance at least a plurality of times, and comparing and calculating these conduction resistances, This is to detect a defect.
請求項4においては、配線基板に電子部品が実装されて成る配線基板ユニットにおける電子部品と配線基板との接合不良を検出する導通試験を行うための導通試験装置において、前記配線基板の周縁部を保持する保持部材と、前記配線基板ユニットに具備される配線基板および任意の電子部品の双方が共振する発振周波数にて前記保持部材を振動させる加振手段と、前記配線基板ユニットに構成される回路に通電し、該回路から出力される電気信号を検出し、配線基板と任意の電子部品との接続部の導通抵抗を測定する電気信号測定手段とを、備えるものである。 According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a continuity test apparatus for performing a continuity test for detecting a bonding failure between an electronic component and a wiring board in a wiring board unit in which the electronic component is mounted on the wiring board. A holding member, vibration means for vibrating the holding member at an oscillation frequency at which both of the wiring board provided in the wiring board unit and any electronic component resonate, and a circuit configured in the wiring board unit And an electric signal measuring means for detecting an electric signal output from the circuit and measuring a conduction resistance of a connection portion between the wiring board and an arbitrary electronic component.
請求項5においては、前記配線基板ユニットを静止させた状態と、該配線基板ユニットに具備される配線基板と任意の電子部品とを共振させた状態との双方において、該配線基板ユニットに構成される回路に通電して配線基板と任意の電子部品との接続部の導通抵抗を測定し、これらの導通抵抗を比較演算することにより、接合の良・不良を判定する判定手段を、さらに備えるものである。 According to a fifth aspect of the present invention, the wiring board unit is configured in both the state where the wiring board unit is stationary and the state where the wiring board included in the wiring board unit and any electronic component are resonated. Further comprising determination means for determining whether the connection is good or bad by measuring the conduction resistance of the connection portion between the wiring board and any electronic component by energizing the circuit to be connected, and comparing and calculating these conduction resistances. It is.
請求項6においては、前記配線基板または電子部品の変位を測定する変位測定手段と、前記変位変位測定手段の測定結果より、前記配線基板ユニットに具備される配線基板と任意の電子部品とが共振しているかを判定する共振確認手段とを、さらに備えるものである。 According to a sixth aspect of the present invention, a displacement measuring means for measuring the displacement of the wiring board or the electronic component, and a wiring board provided in the wiring board unit and an arbitrary electronic component resonate from the measurement result of the displacement displacement measuring means. And resonance confirmation means for determining whether or not it is.
請求項7においては、前記配線基板の周縁部における、前記保持部材の保持位置を可変とするものである。 According to a seventh aspect of the present invention, the holding position of the holding member at the periphery of the wiring board is variable.
本発明の効果として、以下に示すような効果を奏する。 As effects of the present invention, the following effects can be obtained.
請求項1においては、配線基板のみならず電子部品をも共振させるので、配線基板のみを共振させる時と比較して、はんだと電子部品との離間距離をより増大できる。よって、電子部品の形状や配置により配線基板が反ってもはんだから離れなかった場合や、はんだにて電子部品が不完全に接合されている場合などの、配線基板のみを共振させて導通試験を行うときに検出できなかったような接合不良をも、検出できる可能性が高まる。 According to the first aspect, since not only the wiring board but also the electronic component is resonated, the distance between the solder and the electronic component can be further increased as compared with the case where only the wiring board is resonated. Therefore, when the wiring board is warped due to the shape and arrangement of the electronic component, it does not separate from the solder, or when the electronic component is incompletely joined with the solder, etc. The possibility of detecting a bonding failure that could not be detected when performing is increased.
請求項2においては、配線基板のみならず電子部品をも共振させるので、配線基板のみを共振させる時と比較して、はんだと電子部品との離間距離をより増大できる。よって、電子部品の形状や配置により配線基板が反ってもはんだから離れなかった場合や、はんだにて電子部品が不完全に接合されている場合などの、配線基板のみを共振させて導通試験を行うときに検出できなかったような接合不良をも、検出できる可能性が高まる。
さらに、配線基板ユニットの個体差や、計測機器の精度差を解消し、より精密に接続状態を検査することができる。
According to the second aspect, since not only the wiring board but also the electronic component is resonated, the distance between the solder and the electronic component can be further increased as compared with the case where only the wiring board is resonated. Therefore, when the wiring board is warped due to the shape and arrangement of the electronic parts, the continuity test is performed by resonating only the wiring board, such as when the electronic parts are not joined with the solder, or when the electronic parts are incompletely joined with the solder. The possibility of detecting a bonding failure that could not be detected when performing is increased.
Furthermore, individual differences in wiring board units and accuracy differences in measurement equipment can be eliminated, and the connection state can be inspected more precisely.
請求項3においては、一の測定で節近傍に配置されている電子部品を、他の測定で節近傍以外の変位の大きい箇所に位置させることができ、より確実に接合不良を検出することができる。 In claim 3, the electronic component arranged in the vicinity of the node in one measurement can be positioned in a location with a large displacement other than in the vicinity of the node in another measurement, and it is possible to detect a bonding failure more reliably. it can.
請求項4においては、配線基板のみならず電子部品をも共振させるので、配線基板のみを共振させる時と比較して、はんだと電子部品との離間距離をより増大できる。よって、電子部品の形状や配置により配線基板が反ってもはんだから離れなかった場合や、はんだにて電子部品が不完全に接合されている場合などの、配線基板のみを共振させて導通試験を行うときに検出できなかったような接合不良をも、検出できる可能性が高まる。 According to the fourth aspect, since not only the wiring board but also the electronic component is resonated, the distance between the solder and the electronic component can be further increased as compared with the case where only the wiring board is resonated. Therefore, when the wiring board is warped due to the shape and arrangement of the electronic parts, the continuity test is performed by resonating only the wiring board, such as when the electronic parts are not joined with the solder, or when the electronic parts are incompletely joined with the solder. The possibility of detecting a bonding failure that could not be detected when performing is increased.
請求項5においては、配線基板ユニットの個体差や、計測機器の精度差を解消し、より精密に接続状態を検査することができる。 According to the fifth aspect, it is possible to eliminate the individual difference of the wiring board unit and the accuracy difference of the measuring device, and to inspect the connection state more precisely.
請求項6においては、配線基板や電子部品の個体差により予め設定された周波数で共振が発生しない場合があるので、確実に共振が発生しているかを確認したうえで導通検査を行うことができる。 According to the sixth aspect of the present invention, resonance may not occur at a preset frequency due to individual differences between the wiring board and the electronic component. Therefore, the continuity test can be performed after confirming whether resonance has occurred reliably. .
請求項7においては、配線基板が振動する際の腹と節の位置を可変とすることができるので、一の測定で節近傍に配置されている電子部品を、他の測定で節近傍以外の変位の大きい箇所に位置させることができ、より確実に接合不良を検出することができる。
In
次に、発明の実施の形態を説明する。
図1ははんだ接合不良が発生している配線基板と電子部品との接合部を示す図、図2ははんだと電子部品との変位の様子を示す図、図3は導通試験装置の全体構成を示す図、図4は導通試験装置の構成を示す側面図、図5は保持部材の移動と配線基板の振動との関係を示す図、図6は導通試験における演算制御部による処理の流れ図である。
Next, embodiments of the invention will be described.
FIG. 1 is a diagram showing a joint portion between a wiring board and an electronic component in which a solder joint failure has occurred, FIG. 2 is a diagram showing a state of displacement between the solder and the electronic component, and FIG. 3 is an overall configuration of a continuity test apparatus. FIG. 4 is a side view showing the configuration of the continuity test apparatus, FIG. 5 is a diagram showing the relationship between the movement of the holding member and the vibration of the wiring board, and FIG. 6 is a flowchart of processing by the arithmetic control unit in the continuity test. .
本発明は、図1に示すように、配線基板11と、該配線基板11にはんだ12にて接合された電子部品13との、接合不良を検出するための導通試験方法及びこれに供する導通試験装置20に関するものである。
導通試験では、電子部品13が実装された配線基板11(以下、配線基板ユニット10と記載する)に構成される回路に電流を印加するとともに、該回路から出力される電気信号を検出し、該電気信号を評価することにより、配線基板と電子部品とが適切にはんだ接合されているかどうかの評価を行う。
評価を行う電気信号としては、例えば抵抗値を表わす電気信号を用いる。
As shown in FIG. 1, the present invention is a continuity test method for detecting a joint failure between a
In the continuity test, a current is applied to a circuit configured on the wiring board 11 (hereinafter referred to as the wiring board unit 10) on which the
For example, an electrical signal representing a resistance value is used as the electrical signal to be evaluated.
図1aに示すように、配線基板11に電子部品13が適切には接合されていないが、電子部品13と配線基板11とがはんだ12を介して接触している場合には、配線基板11と電子部品13との接合部に導電性が確保される。
上記のような接合不良を検出するために、本発明に係る導通試験方法では、配線基板ユニット10を加振して、配線基板11及び電子部品13の双方を共振させながら、電気回路の導電性を検査する。
加振されることによって、配線基板11と接合不良が存在する電子部品13とは独立して挙動し、図1a及び図2に示すように、はんだ12と電子部品13とが離れて導電性が無くなる瞬間が存在する。導通試験では、この現象を検出することにより、配線基板11と電子部品13との接合不良を検出する。
As shown in FIG. 1 a, the
In order to detect such a bonding failure as described above, in the continuity test method according to the present invention, the
By being vibrated, the
図2では、配線基板11と電子部品13とをそれぞれ共振させたときの、はんだ12と電子部品13とが接触しているはんだ側の点12Aと、同じく電子部品側の点13Aとの変位を示している。
In FIG. 2, when the
図2の図表より、配線基板11と電子部品13とが振動するうちに、点12Aと点13Aとが離れた状態となることがわかる。同じく図2の図表より、配線基板11のみならず電子部品13をも共振させれば、配線基板11のみを共振させる場合と比較して、はんだ12と電子部品13との離間距離がより増大することがわかる。
よって、電子部品13の形状や配置により配線基板11が反ってもはんだ12から離れなかった場合や、はんだ12にて電子部品13が不完全に接合されている場合などの、配線基板11のみを共振させて導通試験を行うときに検出できなかったような接合不良も、配線基板11と電子部品13の双方を共振させることによって検出できる可能性が高まる。
From the chart of FIG. 2, it can be seen that the
Therefore, only when the
ここで、導通試験装置20の構成について説明する。
図3及び図4に示すように、導通試験装置20は、大概して、配線基板ユニット10を保持するとともに加振する加振部7と、配線基板ユニット10に形成される電気回路に電流を印加して抵抗値を測定する測定部8と、前記加振部7や測定部8の動作を制御したり前記測定部8の測定結果に基づいて演算を行ったりする演算制御部9とで構成される。
Here, the configuration of the
As shown in FIGS. 3 and 4, the
前記加振部7は、配線基板ユニット10のうち配線基板11の周縁部を保持する複数の保持部材22・22・・・と、該保持部材22に振動を与える振動子23と、該振動子23を発振させ当該振動を調節する発振器24とで構成される。
前記振動子23と発振器24とで、保持部材22を介して配線基板ユニット10を加振する、加振手段として機能する。
The
The
前記発振器24では、各振動子23の発振のON/OFFを、独立して調整することが可能であり、この結果、全ての保持部材22・22・・・を振動させたり、又は、特定の保持部材22・22・・・を振動させたりすることが可能である。
上記のようにして振動する保持部材22は、配線基板11を保持するのみならず、該配線基板11に振動を与える機能を併せて備え持つこととなる。
In the oscillator 24, it is possible to independently adjust the ON / OFF of the oscillation of each
The holding
また、前記発振器24では、各振動子23の発振周波数や振幅の調整を行うことができる。該発振周波数は、配線基板11と、任意の電子部品13との双方を共振させることのできる周波数となるように、調整される。
配線基板11と任意の電子部品13は、通常、固有振動数について基本振動は異なるが、いくつかの倍振動において重複する場合があり、この倍振動にあたる周波数で配線基板11と任意の電子部品13とを振動させれば、双方に共振が生じる。
In the oscillator 24, the oscillation frequency and amplitude of each
The
なお、一つの配線基板11には、複数の電子部品13が実装され、電子部品13ごとに固有振動数が異なる。
そこで、発振器24では、配線基板11に実装された全ての電子部品13と配線基板11とが順に共振するように、振動子23の発振する発振周波数を変化させる制御を行うことができる。
また、発振器24では、経験的に接合不良が発生しやすい幾つかの電子部品と、配線基板11とが順に共振するように、振動子23の発振する発振周波数を変化させる制御を行うことができる。
さらに、発振器24では、接合不良を検出しようとする特定の電子部品と、配線基板11とが順に共振するように、振動子23の発振する発振周波数を定めることができる。
A plurality of
Therefore, the oscillator 24 can perform control to change the oscillation frequency of the
Further, in the oscillator 24, it is possible to perform control to change the oscillation frequency of the
Furthermore, the oscillator 24 can determine the oscillation frequency at which the
前記保持部材22・22・・・は、例えば、リニアスライド等の可動支持手段にて、前後左右に移動可能に支持され、配線基板11に相対して移動することができる。すなわち、配線基板11の周縁部において、保持部材22にて保持される位置を変更することができる。なお、本実施例においては、保持部材22・22・・・は、略矩形状の配線基板11の各辺のそれぞれに、加振することによって配線基板11にねじれが生じないように配置される。
The holding
上述の通り保持部材22・22・・・の位置が可変であるので、図5に示すように、振動する配線基板11の、振動の腹と節の位置を自在に変更することができる。
これにより、例えば、図5bに示すように、振動の節近傍に相当する位置に接合されていた電子部品13は、接合不良が存在しても配線基板11が反ったときにはんだ12から離れることはないが、図5cに示すように、振動の節及び腹の位置を適宜変更させることによって、配線基板11が反ったときに接合不良の電子部品13がはんだ12から離れる位置となるように調整することができる。
このように、保持部材22・22・・・を位置可変として、配線基板11の振動の腹と節の位置を可変としたので、振動の腹と節の位置を移動させることによって、振動の腹と節の位置が不動である場合には検出できなかった接合不良も、検出できる可能性が高まる。
As described above, since the positions of the holding
As a result, for example, as shown in FIG. 5b, the
As described above, since the positions of the holding
前記測定部8は、検査プローブ25aを備えたプローブユニット25と、測定器26と、変位計測手段27とで構成される。
前記プローブユニット25と測定器26とで、配線基板ユニットに構成される回路に通電し、該回路から出力される電気信号を検出して、導通抵抗等の電気信号を測定する、電気信号測定手段として機能する。
The measuring unit 8 includes a
An electrical signal measuring means for energizing a circuit configured in the wiring board unit with the
前記検査プローブ25aは、配線基板ユニット10の回路を構成する配線パターンに接触して、該配線基板ユニット10に構成される回路と前記測定器26とを電気的に接続するものである。
本実施例においては、配線基板11には、配線基板ユニット10に構成される回路への電気信号の出入力部となるコネクタ14が設けられており、該コネクタ14に検査プローブ25aが接続される。
The
In the present embodiment, the
なお、上記実施例においては、配線基板11上のコネクタ14と検査プローブ25aとを電気的に接続しているが、配線基板11上の配線パターンに直接検査プローブ25を接触させて電気的に接続することもできる。
In the above embodiment, the
前記検査プローブ25aが備えられたプローブユニット25は、配線基板11を支持する単数又は複数の保持部材22・22・・・に固設される。これにより、検査プローブ25aが配線基板11と同様に加振されて、検査プローブ25aと配線基板11とが一体的に振動するので、検査プローブ25aとコネクタ14との相対変位が略一定となり、検査プローブ25aの振動等に起因するノイズの発生が抑制され、測定の安定性向上に寄与することができる。
The
また、前記測定器26は、検査プローブ25aに流す電流値を制御したり、検査プローブ25を通じて検出した電気信号に基づいて配線基板ユニット10に構成される回路の抵抗値を測定したりするものである。
なお、プローブユニット25及び測定器26は、本実施例の形態に限定されるものではなく、一般に導電試験に用いられる測定器等を採用することができる。例えば、測定器26にて導電率を測定するように構成したり、検査プローブ25aにおいて定電圧を流して電流値を検出するように構成したりできる。
The measuring
In addition, the
前記変位計測手段27は、配線基板11及び(又は)電子部品13の変位を検出するためのものであって、本実施例においては、カメラ装置と画像処理装置を採用している。但し、変位計測手段27は、レーザー変位計や超音波変位計などの非接触式変位計や、接触式変位計などの各種変位計を採用することができる。
The displacement measuring means 27 is for detecting the displacement of the
前記演算制御部9は、動作させる振動子23及び該振動子23の発振周波数を調整するために前記発振器24の制御を行う加振制御手段41と、前記検査プローブ25aより与える電流値を調整するために測定器26の制御を行う測定器制御手段42と、前記測定器26にて測定された抵抗値に基づいて接合不良の有無を判定する判定手段43と、前記変位計測手段27の計測結果に基づいて共振状態を確認する共振確認手段44とを備える。
The arithmetic control section 9 adjusts the
本実施例において、前記加振制御手段41、測定器制御手段42、判定手段43、共振確認手段44は、表示出力手段としてのモニタ31や入力手段としてのキーボード32等を備えた汎用コンピュータ30にて機能させている。但し、前記加振制御手段41、測定器制御手段42、判定手段43、共振確認手段44のうち、いずれか一つ又は複数を、独立した電子計算機にて構成することもできる。
In this embodiment, the vibration control means 41, measuring instrument control means 42, determination means 43, and resonance confirmation means 44 are provided on a general-
続いて、上記構成の導通試験装置20を用いた、導通試験の流れについて、図6に示す流れ図を用いて説明する。
Next, the flow of the continuity test using the
導通試験の前処理として、配線基板11の端部を保持部材22・22・・・で保持させる。
先ず、配線基板11及び電子部品13により形成される回路の所定箇所の抵抗値を、静止状態で測定する(S1)。
演算制御部9の測定器制御手段42では、検査プローブ25aにて、配線基板ユニット10に構成される回路に所定の電流を流すとともに、該回路から出力される電気信号を検出し、この検出信号を受けた測定器26にて抵抗値を測定するように、該測定器26を動作させる。
測定された抵抗値は、測定器26より演算制御部9に伝達され、静止時抵抗値として取得される(S2)。
As a pretreatment for the continuity test, the end of the
First, the resistance value of a predetermined portion of a circuit formed by the
The measuring instrument control means 42 of the arithmetic control unit 9 causes the
The measured resistance value is transmitted from the measuring
続いて、配線基板ユニット10を加振する(S3)。
演算制御部9の加振制御手段41では、所定の振動子23を所定の発振周波数にて振動させるように、発振器24を動作させる。
Subsequently, the
The vibration control means 41 of the arithmetic control unit 9 operates the oscillator 24 so that the
そして、配線基板ユニット10の振動が安定したのち、該配線基板ユニット10の振動状態が良好であるかを判定する(S4)。
配線基板11及び任意の電子部品13が共振する共振周波数を予め測定し、振動子23の発振周波数として設定するが、保持部材22・22・・・の保持位置や、配線基板11及び電子部品13の個体差により、共振する周波数に差異が生じるため、設定された発振周波数で共振が発生しない場合も生じるため、確実に共振が発生しているかを確認するのである。
Then, after the vibration of the
The resonance frequency at which the
演算制御部9の共振確認手段44では、変位計測手段27の測定結果を取得し、配線基板11及び電子部品13の変位と予め設定された基準値とを比較して共振発生の有無を判断し、配線基板11及び電子部品13の振動状態が良好であるかを判定する。つまり、配線基板11及び電子部品13が、共振していれば振動状態が良であると判定し、共振していなければ振動状態が不良であると判定する。
The resonance confirmation unit 44 of the arithmetic control unit 9 acquires the measurement result of the
配線基板11の振動状態が良好でなければ、配線基板11及び電子部品13を共振させるために、発振器24にて振動子23の発振周波数を所定の調整幅だけ微調整するように加振制御手段41を動作させる(S21)。
なお、発振器24にて振動子23の発振周波数を調整することにて、配線基板11及び電子部品13を共振させることに加え、保持部材22・22・・・の位置を調整することにより振動の腹と節の位置を移動させて、接合不良を検出しようとする箇所の変位がより大きくなるように調整することができる。
If the vibration state of the
In addition to adjusting the oscillation frequency of the
そして、振動子23の発振周波数を微調整して、配線基板11の振動が安定したのち、再び、配線基板11の振動状態が良好であるかを判定する(S4)。
上記振動状態の判定(S4)→振動数端数の調整(S21)→振動状態の判定(S4)の、各処理工程は、配線基板11の振動状態が良好と判定されるまで繰り返される。
Then, the oscillation frequency of the
Each processing step of determination of vibration state (S4) → adjustment of frequency fraction (S21) → determination of vibration state (S4) is repeated until it is determined that the vibration state of the
配線基板11の振動状態が良好であれば、振動状態での配線基板11及び電子部品により形成される回路の所定箇所の(静止状態で測定した箇所と同じ箇所の)抵抗値を測定する(S5)。
演算制御部9の測定器制御手段42では、検査プローブ25aにて、配線基板11及び電子部品13により形成される回路に所定の電流を流すとともに、該回路から出力される電気信号を検出し、この検出信号を受けた測定器26にて抵抗値を測定するように、該測定器26を動作させる。
測定された抵抗値は、測定器26より演算制御部9に伝達され、振動時抵抗値として取得される(S6)。
If the vibration state of the
The measuring instrument control means 42 of the arithmetic control unit 9 causes the
The measured resistance value is transmitted from the measuring
測定が終われば、配線基板11の振動を停止させる。
演算制御部9の加振制御手段41では、振動子23の発振を停止させるように、発振器24を動作させる。但し、配線基板11の振動を継続した状態で以下に示す過程に移行することもできる。
When the measurement is finished, the vibration of the
The vibration control means 41 of the arithmetic control unit 9 operates the oscillator 24 so as to stop the oscillation of the
そして、演算制御部9の判定手段43では、前記静止時抵抗値と、前記振動時抵抗値とを比較演算するとともに(S7)、これらの差異が所定の許容範囲内にあるかどうかを演算し(S8)、許容範囲内であれば良判定をし(S9)、許容範囲内でなければ不良判定をし(S10)、導通試験を終了する。 The determination means 43 of the calculation control unit 9 compares the resistance value at rest and the resistance value at vibration (S7) and calculates whether these differences are within a predetermined allowable range. (S8) If it is within the allowable range, a good determination is made (S9), and if it is not within the allowable range, a failure is determined (S10), and the continuity test is terminated.
上述の導通試験では、同一の試験対象について、静止状態と、振動状態との双方において、抵抗値の測定を行っている。従って、配線基板ユニット10の個体差や、計測機器の精度差を解消し、より精密に接合不良を検出することができる。
In the above-described continuity test, the resistance value is measured for the same test object in both a stationary state and a vibration state. Therefore, the individual difference of the
なお、上述の導通試験において、振動子23の発振周波数を変化させて抵抗値の測定を行うことが、確実に接合不良を検出するうえで、より望ましい。
振動子23の発振周波数を変化させて抵抗値の測定を行うことにより、配線基板11に実装された電子部品13のうち、共振している電子部品13を特定することができ、どの電子部品13において接合不良が生じているかを追求することができる。さらに、共振させることのできる電子部品13の割合を増大させることができるので、より確実に接合不良の検出を行うことができる。
In the above-described continuity test, it is more desirable to measure the resistance value by changing the oscillation frequency of the
By measuring the resistance value by changing the oscillation frequency of the
さらに、上述の導通試験において、配線基板11の保持部材22・22・・・による保持位置を変化させて、複数回の抵抗値の測定を行うことが、確実に接合不良を検出するうえで、より望ましい。
配線基板11の保持部材22・22・・・による保持位置を変化させて抵抗値の測定を行うことにより、配線基板11の振動の腹と節の位置が変化するので、一の測定で節近傍に配置されている電子部品を、他の測定で節近傍以外の変位の大きい箇所に位置させることができ、より確実に接合不良を検出することができる。
例えば、一度目の測定においては節近傍に配置されていた電子部品13を、保持部材22・22・・・の位置を変化させて行う二度目の測定において変位の大きい腹近傍の位置に配置することができ、この場合、一度目の測定において検出できなかった接合不良を二度目の測定において検出できるようになる。
Further, in the above-described continuity test, changing the holding position of the
By changing the holding position of the
For example, in the first measurement, the
11 配線基板
12 はんだ
13 電子部品
14 コネクタ
20 導通試験装置
22 保持部材
23 振動子
24 発振器
25 プローブユニット
25a 検査プローブ
26 測定器
27 変位計測手段
41 加振制御手段
42 測定器制御手段
43 判定手段
44 共振確認手段
DESCRIPTION OF
Claims (7)
配線基板ユニットに具備される配線基板と任意の電子部品との双方を共振させた状態で、前記配線基板ユニットに構成される回路に通電して配線基板と任意の電子部品との接続部の接続状態を検査することを特徴とする
導通試験方法。 In a continuity test method for detecting a bonding failure between an electronic component and a wiring board in a wiring board unit formed by mounting electronic components on the wiring board,
In a state where both the wiring board provided in the wiring board unit and an arbitrary electronic component are resonated, the circuit configured in the wiring board unit is energized to connect the connection portion between the wiring board and the arbitrary electronic component. A continuity test method characterized by inspecting a state.
前記配線基板ユニットを静止させた状態と、前記配線基板ユニットに具備される配線基板と任意の電子部品とを共振させた状態との双方において、該配線基板ユニットに構成される回路に通電して配線基板と任意の電子部品との接続部の導通抵抗を測定し、
これらの導通抵抗を比較演算することにより、接合不良を検出することを特徴とする
導通試験方法。 In a continuity test method for detecting a bonding failure between an electronic component and a wiring board in a wiring board unit formed by mounting electronic components on the wiring board,
In both the state where the wiring board unit is stationary and the state where the wiring board included in the wiring board unit and any electronic component are resonated, the circuit configured in the wiring board unit is energized. Measure the conduction resistance of the connection part between the wiring board and any electronic component,
A continuity test method characterized in that a bonding failure is detected by comparing and calculating these conduction resistances.
請求項1又は請求項2に記載の導通試験方法。 Detecting a bonding failure by changing the position of vibration antinodes and nodes of the wiring board and any electronic component, measuring the conduction resistance at least several times, and comparing these conduction resistances. Features
The continuity test method according to claim 1 or 2.
前記配線基板の周縁部を保持する保持部材と、
前記配線基板ユニットに具備される配線基板および任意の電子部品の双方が共振する発振周波数にて前記保持部材を振動させる加振手段と、
前記配線基板ユニットに構成される回路に通電し、該回路から出力される電気信号を検出し、配線基板と任意の電子部品との接続部の導通抵抗を測定する電気信号測定手段とを、備えることを特徴とする
導通試験装置。 In a continuity test apparatus for performing a continuity test for detecting a bonding failure between an electronic component and a wiring board in a wiring board unit formed by mounting electronic components on a wiring board,
A holding member for holding a peripheral edge of the wiring board;
Vibration means for vibrating the holding member at an oscillation frequency at which both the wiring board and any electronic component provided in the wiring board unit resonate;
An electric signal measuring means for energizing a circuit configured in the wiring board unit, detecting an electric signal output from the circuit, and measuring a conduction resistance of a connection portion between the wiring board and an arbitrary electronic component; A continuity test apparatus characterized by the above.
さらに備えることを特徴とする、
請求項4に記載の導通試験装置。 In both the state where the wiring board unit is stationary and the state where the wiring board included in the wiring board unit is resonated with an arbitrary electronic component, the circuit configured in the wiring board unit is energized. Measuring means for the conduction resistance of the connection part between the wiring board and any electronic component, and by comparing these conduction resistances, a determination means for judging whether the bonding is good or bad,
Further comprising:
The continuity test apparatus according to claim 4.
前記変位変位測定手段の測定結果より、前記配線基板ユニットに具備される配線基板と任意の電子部品とが共振しているかを判定する共振確認手段とを、
さらに備えることを特徴とする、
請求項4又は請求項5に記載の導通試験装置。 Displacement measuring means for measuring the displacement of the wiring board or electronic component;
From the measurement result of the displacement displacement measuring means, resonance confirmation means for determining whether the wiring board provided in the wiring board unit and any electronic component are resonating,
Further comprising:
The continuity test apparatus according to claim 4 or 5.
請求項4から請求項6までの何れか一項に記載の導通試験装置。
The holding position of the holding member at the periphery of the wiring board is variable.
The continuity test apparatus according to any one of claims 4 to 6.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005378820A JP2007178339A (en) | 2005-12-28 | 2005-12-28 | Continuity testing method and testing device thereof |
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---|---|---|---|---|
JP2010040176A (en) * | 2008-07-31 | 2010-02-18 | Toshiba Corp | Heating cooking appliance |
KR20140108968A (en) * | 2013-03-04 | 2014-09-15 | (주)온테스트 | Apparatus for crack detection of contact unit of electronic device and system for performance test system having thesame |
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2005
- 2005-12-28 JP JP2005378820A patent/JP2007178339A/en active Pending
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