JP2007148699A - パターンマッチング方法 - Google Patents

パターンマッチング方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2007148699A
JP2007148699A JP2005341206A JP2005341206A JP2007148699A JP 2007148699 A JP2007148699 A JP 2007148699A JP 2005341206 A JP2005341206 A JP 2005341206A JP 2005341206 A JP2005341206 A JP 2005341206A JP 2007148699 A JP2007148699 A JP 2007148699A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pattern
target image
position detection
angle
detection pattern
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2005341206A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4792939B2 (ja
Inventor
Ryosuke Mitaka
良介 三高
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Works Ltd filed Critical Matsushita Electric Works Ltd
Priority to JP2005341206A priority Critical patent/JP4792939B2/ja
Publication of JP2007148699A publication Critical patent/JP2007148699A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4792939B2 publication Critical patent/JP4792939B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Image Analysis (AREA)

Abstract

【課題】標準パターンを位置検出パターンと角度検出パターンとに分割し、対象画像の位置と回転角度とを個々に求めることにより、回転角度の正確な検出を可能とする。
【解決手段】標準パターンが、対称中心となる代表点の周りにおいて許容された回転では形状変化を生じない位置検出パターンと、代表点の周りでの回転により位置変化を生じる角度検出パターンとに分離される。位置検出部6では、対象画像を位置検出パターンと比較することにより標準パターンとマッチングする候補の位置を対象画像から検出する。角度検出部7では、標準パターンとマッチングする候補に対して標準パターンの代表点の周りで対象画像と角度検出パターンとを比較することにより標準パターンに対する候補の回転角度を検出する。
【選択図】図1

Description

本発明は、事前に用意された標準パターンを対象画像と照合することにより対象画像に含まれる標準パターンを検出するパターンマッチング方法に関するものである。
一般に、デジタル画像である対象画像に対してコンピュータを用いて行う画像処理のうち、事前に用意された標準パターンを対象画像から検出するために用いるパターンマッチングの技術は、様々な用途において用いられている。もっとも簡単なパターンマッチングの方法であるテンプレートマッチングでは、標準パターンを対象画像に重ね合わせて類似度を評価すればよいから、画像処理の技術について習熟していない利用者であっても比較的容易に利用することができる。
ところで、対象画像としてワークを撮像した画像を用いる場合には、ワークを撮像するカメラとワークとの相対位置によって対象画像が変化する。たとえば、製造ラインを搬送されるワークであれば、カメラによってワークを撮像する向きは一定に保つことができるものの対象画像の中でのワークの回転角度は変化するから、対象画像において標準パターンと照合する領域について標準パターンに対する回転角度を検出する必要がある。また、ワークとカメラとの距離が変化する場合やワークに複数のサイズがある場合には、対象画像において標準パターンと照合する領域について標準パターンに対するサイズの倍率を検出する必要がある。
そのため、標準パターンとは相似形であって、回転角度とサイズとが異なる複数個のパターン(インスタンス)を形成し、各インスタンスを対象画像の中でそれぞれ走査して各インスタンスごとに一致度を評価する技術が一般に採用されている。つまり、一致度が最大になるインスタンスを総当たり法によって求め、このインスタンスの位置、回転角度、サイズを、対象画像の中で標準パターンに対応しているパターンの位置、回転角度、サイズとするのである。
上述の方法を採用する場合には、標準パターンとは相似形である多数のインスタンスを生成する必要があり、多数のインスタンスについて個々に一致度を評価する必要があるから、処理負荷が大きくなるという問題を有している。
処理負荷を軽減するために、対象画像とインスタンスとにハフ変換を施してパラメータ空間において両者を照合することや、ニューラルネットワーク(ニューロコンピュータ)を用いて類似度の高いインスタンスを求めることが考えられており、この種の技術を用いると標準パターンについて発生させた各インスタンスと対象画像との照合に関しては高速化が可能である。これらの技術を採用すると、1個のずつのインスタンスと対象画像との照合に要する処理負荷は軽減されるものの、依然として標準パターンに対して対象画像と照合すべき多種類のインスタンスを発生させる必要があるから、処理負荷の大幅な軽減はできないという問題がある。
また、標準パターンが、同心円に切欠やマークが付随しているような図形であって、切欠やマークの占める面積が図形全体の面積に対して微小であるときには、対象画像と照合するために標準パターンから生成するインスタンスを、回転角度とサイズとについて微小な刻み幅で生成することが必要であり、それだけ多くのインスタンスが必要になる。また、位置を検出するためにインスタンスを微小な刻み幅で移動させることが必要になる。
上述したように、インスタンスを対象画像に照合する際には、対象画像の中での2次元の位置を示す2個のパラメータに加えて回転角度とサイズとの合計4個のパラメータが必要であり、各パラメータの刻み幅を1/nにするとすれば、上述した総当たり法では、1個のパラメータについて一致度を評価する回数がn倍になるから、4個のパラメータの全体では一致度の評価回数がnの4乗倍になる。つまり、処理負荷が爆発的に増加する可能性がある。
この種の問題に着目し、対象画像について標準パターンとマッチングさせる領域の重心を求めることで、標準パターンとマッチングする部位の位置を求め、重心の周りで標準パターンを回転させることにより、対象画像の回転角度を求める技術が提案されている(たとえば、特許文献1参照)。
特開平11−167640号公報
しかしながら、特許文献1に記載の技術では、標準パターンが対称性を有していなければ重心位置がずれることになり、重心位置が回転中心からずれていると回転角度を正確に求めることができないという問題がある。
本発明は上記事由に鑑みて為されたものであり、その目的は、標準パターンを位置の検出を行うパターンと回転角度の検出を行うパターンとに分割し、対象画像の位置と回転角度とを個々に求めることにより、処理負荷を軽減し、しかも回転中心を正確に求めて回転角度の正確な検出を可能としたパターンマッチング方法を提供することにある。
請求項1の発明は、事前に用意された標準パターンを対象画像と照合することにより対象画像に含まれる標準パターンについて少なくとも位置と回転角度とを検出するパターンマッチング方法であって、標準パターンは、対称中心となる代表点の周りにおいて許容された回転では形状変化を生じない位置検出パターンと、前記代表点の周りでの回転により位置変化を生じる角度検出パターンとからなり、対象画像を位置検出パターンと比較することにより標準パターンとマッチングするパターンの候補の位置を対象画像から検出する位置検出過程と、前記候補に対して標準パターンの代表点の周りで対象画像と角度検出パターンとを比較することにより標準パターンに対する前記候補の回転角度を検出する角度検出過程とを有することを特徴とする。
本発明では、対象画像と照合する標準パターンを、代表点の周りにおいて許容された回転を行っても形状が変化しない位置検出パターンと、代表点の周りに回転させたときに位置変化を生じる角度検出パターンとに分割し、対象画像において標準パターンとマッチングする候補の位置を求めた後に、この候補について角度検出パターンと比較して回転角度を求めるから、位置を求める処理と回転角度を求める処理とを分離して行うことができ、総当たり法によってパターンマッチングを行う場合であれば、対象画像から標準パターンにマッチングするパターンの位置を求める処理負荷は従来構成と同様であるものの、回転角度を求める際の処理負荷を大幅に低減することができる。また、回転角度の検出の前に位置が検出済みであり、この位置は許容された回転による形状変化のない位置検出パターンから求めているから、回転角度の検出の際には1次元の探索空間になる上に、回転角度を求める際の回転中心を正確に決定することができるから、結果的に回転角度を高速かつ精度よく検出することが可能になる。
請求項2の発明は、請求項1の発明において、前記位置検出過程では、前記位置検出パターンについてサイズを変更して前記対象画像と照合することにより前記候補のサイズを求めることを特徴とする。
この方法によれば、対象画像内において標準パターンと照合されるパターンのサイズが変化する場合であっても標準パターンにマッチングするパターンを検出することが可能になる。また、回転角度の検出の前に位置およびサイズが検出済みであるから、回転角度の検出の際には1次元の探索空間になり、回転角度を高速かつ精度よく検出することが可能になる。
請求項3の発明では、請求項1または請求項2の発明において、前記位置検出過程と前記角度検出過程との間に、対象画像の画素のうち位置検出パターンと重複する画素を消去する消去過程を有することを特徴とする。
この方法によれば、対象画像において標準パターンにマッチングする位置を検出した後に、位置検出パターンに重複する画素を消去することで、角度検出パターンと比較する画素数を大幅に減らすことができ、処理の高速化および精度の向上が期待できる。
請求項4の発明では、請求項1ないし請求項3のいずれかの発明において、前記標準パターンに用いる画像にハフ変換を適用することにより、対称中心としての代表点と、代表点を対称中心とした回転対称性を有する位置検出パターンとを抽出することを特徴とする。
この方法によれば、標準パターンにハフ変換を適用してパラメータ空間での性質を利用して位置検出パターンを抽出するから、位置検出パターンの抽出が容易である。
請求項5の発明は、請求項1ないし請求項4のいずれかの発明において、前記位置検出過程では、対象画像にハフ変換を適用することにより、対称中心としての代表点と、代表点を対称中心とした回転対称性を有するパターンとを抽出することを特徴とする。
この方法によれば、対象画像にハフ変換を適用してパラメータ空間での性質を利用して対象画像における回転対称性を有する部位を抽出するから、対象画像の画像空間で位置検出パターンを走査することなく対象画像において対称性を有する部位を容易に抽出することができる。また、対象画像において位置検出パターンとマッチングさせる形状が途切れているような場合でも抽出が可能になる。
請求項6の発明は、請求項1ないし請求項5のいずれかの発明において、前記角度検出過程では、対象画像および角度検出パターンにおける各画素の座標について前記代表点を原点とした極座標系に座標変換し、座標変換後の角度検出パターンを極座標系の角度軸方向において座標変換後の対象画像と照合することを特徴とする。
この方法によれば、座標変換後の平面内で角度検出パターンに相当するパターンを角度軸方向に移動させて照合するだけで回転角度を容易に求めることができる。
本発明の方法によれば、位置を求める処理と回転角度を求める処理とを分離して行うことができ、回転角度を求める際の処理負荷を大幅に低減することができるという利点がある。また、回転角度の検出の前に位置が検出済みであるから、回転角度の検出の際には1次元の探索空間になり、回転角度を高速かつ精度よく検出することが可能になるという利点を有する。
以下に説明する実施形態では、図1に示すように、ワーク1をTVカメラ2により撮像した画像を対象画像とし、事前に用意されている標準パターンが対象画像に含まれているか否かを検出するとともに、対象画像に標準パターンが含まれるときには、位置と回転角度とサイズとを求める。なお、標準パターンと照合しようとするパターンが、ワーク1とTVカメラ2との距離のみに依存してサイズを変化させる場合であって、ワーク1とTVカメラ2との距離が一定である場合には、サイズに関する照合は不要である。
TVカメラ2により撮像された対象画像はデジタル画像として記憶装置3に格納される。また、標準パターンとしては、正常なワーク1についてTVカメラ2により良好な条件で撮像した画像から抽出する。したがって、対象画像と標準パターンとはともに記憶装置3に格納される。記憶装置3は、以後の処理のために半導体メモリを用いるが、対象画像が多数存在するときや標準パターンが多数存在するときにはハードディスクドライブを併用する。
対象画像と標準パターンとの照合は、濃淡画像によって行うことも可能であるが、本実施形態では、対象画像と標準パターンとのエッジ画像を用いて照合を行うものとする。いま、TVカメラ2により撮像された濃淡画像において標準パターンとして抽出する領域が、図2(a)に示す図形IM1であるものとする。図2(a)の図形IM1からエッジ抽出すると図2(b)に示すエッジ画像IM2が得られる。エッジの抽出にあたっては、周知のエッジ抽出オペレータ(たとえば、Sobelオペレータなど)を濃淡画像に適用した画像について、画素値が規定のしきい値よりも大きい画素をエッジとして抽出すればよい。濃淡画像の図形IM1からエッジ画像IM2を抽出する処理はエッジ抽出部4において行う。
図2(b)に示すエッジ画像IM2は、二重の同心円状であるパターンP1と、三角形状のパターンP2とにより構成されている。パターンP1は、同心円の中心を代表点Cとすれば、代表点Cの周りでの回転に対して形状が変化せず、一方、パターンP2は、代表点Cの周りでの回転に対して位置が変化するという特性を有している。本発明は、この特性に着目し、各パターンP1,P2を対象画像に対して個々に照合することによって、パターンマッチングの処理負荷を軽減するものである。なお、以下では、パターンP1を位置検出パターンと呼び、パターンP2を角度検出パターンと呼ぶ。
上述の説明からわかるように、標準パターンでは、位置検出パターンP1と角度検出パターンP2とに分離する必要がある。位置検出パターンP1と角度検出パターンP2との分離は利用者が目視によって行うことも可能ではあるが、画像処理技術を適用して作業を定式化することにより位置検出パターンP1と角度検出パターンP2とを自動的に分離するほうが、結果のばらつきを抑制することができる。
そこで、エッジ画像IM2をパターン抽出部5に与える。パターン抽出部5では、ハフ変換(いわゆる円ハフ変換)を用い、エッジ画像IM2から位置検出パターンP1を分離し、エッジ画像IM2のうち位置検出パターンP1を分離した残りを角度検出パターンP2に用いる。位置検出パターンP1を分離するためのハフ変換にあたっては、図3(a)のように、エッジ画像IM2の画像空間の座標系において、任意に設定した基準点Dの座標(d,θ)を求め、基準点Dとエッジ上の各点との距離rを求める。要するに、エッジ上の各点を3個のパラメータd,θ,rを用いて表す。ここで、基準点Dが円の中心Cであれば、距離rは円の半径になる。基準点Dが円の中心Cである条件は、特定位置(d,θ)において距離rがほぼ一定になることである。
そこで、d,θ,rをパラメータに持つ3次元のパラメータ空間(投票空間)において、エッジ上の各点から任意の基準点Dに対する投票を行う。このような投票を行えば、図3(b)のように、パラメータ空間のd−θ平面において投票数のピークが得られる点(d,θ)が円の中心Cの座標を表すと考えられる。また、図2(b)に示すエッジ画像IM2では、パラメータ空間における点(d,θ)を通るr軸方向の直線上Lrの上で2箇所に投票数のピークrp1,rp2が生じる。したがって、r軸方向における各ピークrp1,rp2の値を円の半径r,rに用いることができる。上述した手順により求めた円を図4(a)に示す。この円は二重の同心円であって、画像空間における中心Cの極座標は(d,θ)であり、各円の半径はそれぞれrp1,rp2になる。この二重の同心円を位置検出パターンP1に用いるのである。なお、パラメータ空間のd−θ平面において投票数のピークは点(d,θ)以外にも現れることがあるが、投票数の大小関係によって位置検出パターンP1として採用できるか否かを判断すればよい。
ところで、図2(b)のエッジ画像IM2には、位置検出パターンP1のほかに角度検出パターンP2が含まれていた。エッジ画像IM2から位置検出パターンP1と角度検出パターンP2とを分離するには、上述のようにして位置検出パターンP1を求めた後に、得られた位置検出パターンP1をマスクとして元のエッジ画像IM2に重ね合わせる。ここで、パラメータ空間(投票空間)のr軸方向における分解能をΔr(Δrは0でもよい)とするとき、エッジ画像IM2に現れるエッジについて、代表点(d,θ)から距離がrp1±Δrの点と、代表点(d,θ)から距離がrp2±Δrの点とを消去すると、たとえば図4(b)のような角度検出パターンP2を残すことができる。つまり、ハフ変換により位置検出パターンP1を抽出した後に、エッジ画像IM2に位置検出パターンP1を重ね合わせ、重複した画素を消去することにより、残りの角度検出パターンP2を抽出するのである。パターン抽出部5で抽出された位置検出パターンP1と角度検出パターンP2とは記憶装置13に格納され、対象画像との照合に用いられる。
対象画像と標準パターンとの照合に際しては、まずワーク1を撮像した濃淡画像からエッジ画像を生成する。ワーク1の撮像からエッジ画像を生成するまでの手順は標準画像を生成する際の手順と同様である。いま、濃淡画像において図5(a)に示す図形IM3が抽出され、図5(b)に示すエッジ画像IM4が得られたとする。
このようにしてワーク1から得られたエッジ画像IM4を対象画像として標準パターンと照合するには、位置検出部6において対象画像と位置検出パターンP1との照合を行う。位置検出パターンP1は中心Cの周りでの回転に対しては形状が不変であるから、対象画像と位置検出パターンP1との照合に際しては、回転角度については考慮する必要がなく、位置検出パターンP1の位置とサイズとについて変化させればよい。
つまり、位置検出部6では、位置検出パターンP1についてサイズの異なる複数のパターン(インスタンス)を形成し、対象画像を含む画像空間内でインスタンスの位置を走査すればよい。対象画像であるエッジ画像IM4と位置検出パターンP2との照合に際しては、通常のテンプレートマッチングと同様に一致度を評価し、一致度のピークが得られるときの中心Cの位置を標準パターンにマッチングするパターンの候補の代表点(中心点)の位置とする。また、対象画像との一致度のピークが得られた位置検出パターンP1(またはインスタンス)のサイズを標準パターンにマッチングするパターンの候補のサイズとする。なお、ワーク1とTVカメラ2との距離が一定であり、かつ標準パターンと対象画像とで図形IM1,IM3のサイズが変化しない場合には、位置検出パターンP1についてサイズを変化させることなく位置の走査のみを行えばよい。
位置検出部6において対象画像の位置およびサイズが検出されると、エッジ画像IM4は角度検出部7に入力される。角度検出部7では、対象画像の標準パターンに対する回転角度を求める。つまり、角度検出部7では、位置検出部6において求めた位置およびサイズを角度検出パターンP2に適用し、必要に応じて角度検出パターンP2のサイズを調節した後、当該位置の周りで角度検出パターンP2を回転させたパターン(インスタンス)を生成し、エッジ画像IM4とインスタンスとを照合する。
ここで、本実施形態では、図5(c)に示すように、対象画像であるエッジ画像IM4におけるエッジ上の画素のうち位置検出パターンP1に重複する画素を消去し、残った画素のみについて角度検出パターンP2との照合を行う。このように、照合すべき画素数を減らしておけば、処理対象が少なくなることによって処理の高速化が期待でき、しかも数値化した一致度の差が一致時と不一致時とで大きくなることによって一致・不一致の判断精度が高くなる。図5(b)に示すエッジ画像IM4では、消去する画素は、座標位置(d,θ)である円の中心Cの周りで距離がrp1±Δrの位置に存在する画素、および距離がrp2±Δrの位置に存在する画素である。
もっとも、エッジ画像IM4から位置検出パターンP2に相当する画素を消去しなくとも、位置およびサイズを調節した位置検出パターンP2(インスタンス)を回転させることで、エッジ画像IM4と位置検出パターンP2との照合を行うことが可能である。この場合、一致度として位置検出パターンP1に対応する画素分のバイアスがかかるが、バイアス分を除けばエッジ画像IM4から位置検出パターンP1に相当する画素を消去したことと等価になる。また、エッジ画像IM4から位置検出パターンP1に相当する画素を消去しない場合には、エッジ画像IM4と標準パターンとを照合してもよい。
いずれの方法を採用する場合であっても、対象画像に対して角度検出パターンP2を照合していることになる。また、角度検出パターンP2の照合の際には、位置およびサイズの調節は不要であり、回転角度についてのみ照合すればよいから、回転角度の刻み幅に応じた照合回数でエッジ画像IM4の回転角度を求めることができる。なお、角度検出部7において上述の手順で照合を行ったときに、一致度が規定した閾値に達しない場合には、対象画像において角度検出パターンP2にマッチングする部位が存在しないと判断する。
標準パターンを位置検出パターンP1と角度検出パターンP2とに分離した後の位置、サイズ、回転角度を検出する手順について、図6にまとめて示す。まず、TVカメラ2を用いてワーク1を撮像し(S1)、エッジ検出部4において濃淡画像からエッジ画像を生成し対象画像とする(S2)。次に、位置検出過程に移行し、位置検出部6において、位置検出パターンP1(実際にはインスタンス)を対象画像に照合することにより、対象画像において標準パターンとマッチングする候補の位置およびサイズを抽出する(S3)。ここで、角度検出過程に移行し、対象画像のうち標準パターンとマッチングする候補について位置検出パターン1に重なる画素を消去した後(S4)、角度検出パターンP2と照合する(S5)。
上述のようにして、対象画像において標準パターンにマッチングするパターンが含まれているときには、位置、サイズ、回転角度を求めることができる。位置、サイズを求める際には従来技術と同様に、位置検出パターンP1について、複数のサイズのインスタンスを設定し、各位置ごとに位置検出パターンP1を対象画像と照合するから、ここまでの照合回数は従来構成と同様になる。ただし、本実施形態では、位置およびサイズを求めた後には、角度検出パターンP2を用いて回転角度のみを探索するから、回転角度の分解能により決まる照合回数を加算するだけであって、従来構成ではこの照合回数を乗算した回数だけ照合を行う必要があったので、照合に多大な処理負荷を要していたのに対して、本実施形態では照合のための処理負荷が大幅に軽減されることになる。
ところで、上述した動作例では、位置検出パターンP1についてサイズの異なる複数個のインスタンスを対象画像内で走査することにより、対象画像から標準パターンにマッチングする候補の位置およびサイズを検出していたが、対象画像内において位置およびサイズを検出するにあたり、対象画像内において標準パターンと照合するパターンが1個ないし数個程度しか存在しない場合には、必ずしも位置検出パターンP1との照合を行わなくてもよい。
すなわち、標準パターンから位置検出パターンP1を分離した方法と同様に、対象画像であるエッジ画像IM4にハフ変換を適用し、d,θ,rの3次元のパラメータ空間を投票空間に用い、d−θ平面において投票数がピークになる座標を位置に用い、この座標位置を通りr軸方向に並行な直線への投票数がピークになるときのr軸方向の値を半径とする円を標準パターンにマッチングする候補とする。また、対象画像から求めた半径rと、位置検出パターンP1における半径rとの比は、対象画像における候補のサイズに相当する。位置検出過程の処理において、ハフ変換を採用すれば、位置検出パターンP1のインスタンスを生成する必要がないから、位置検出過程における処理負荷が大幅に軽減される。
また、角度検出過程においては、位置およびサイズが既知であるから、図5(c)にしめすように、標準パターンの中心Cの位置を原点とする極座標系を設定し、対象画像のエッジ上の各画素について極座標系における座標位置(q,ψ)を求めることによって、回転角度を求めるようにしてもよい。このような極座標系において各画素の座標を求め、縦軸を距離、横軸を角度とする空間にマッピングすれば、図7に示すように、回転角度が横軸(角度軸)方向への変位として現れるから、対象画像から位置検出パターンP1に重複する画素を消去したエッジ上の画素についてマッピングした図形(図7(a))と、角度検出パターンP2をマッピングした図形(図7(b))との角度軸方向のずれを求めれば、対象画像の回転角度を求めることができる。
両図形の角度軸方向におけるずれを求めるには、位置検出パターンP1のサイズを調節して対象画像から位置検出パターンP1に相当する画素を消去し、消去後の図形について極座標系への座標変換を行い、また、角度検出パターンP2についてサイズを調節した後に極座標系への座標変換を行う。その後、極座標系で表した角度検出パターンP2を図7の角度軸方向に走査して極座標系で表した対象画像と照合すれば、一致度が最大になるときの角度を回転角度として求めることができる。
上述の例では、位置検出パターンP1として円または同心円を想定したが、図8に示すように非円形であっても代表点Cの周りにn回回転対称であって(360/n)度ずつの回転しか許容されていない場合であれば、上述した手順で回転角度を求めることが可能である。図8では位置検出パターンP1が4回回転対称である正方形が90度刻みで回転する場合を示している。図8(a)のような対象画像(ここでは濃淡画像)に対しては、図8(b)のように位置検出パターンP1を形成することができ、図9(a)に示す図形から図9(b)の図形に相当する部分を消去すれば、図9(c)のように位置検出パターンP1に重複しない画素が残る。そこで、図9(c)に示す画像に対して角度検出パターンP2を照合すれば、最大4回の回転によって回転角度を求めることができる。なお、標準パターンから位置検出パターンP1を抽出したり、対象画像から位置検出パターンP1に相当する画素を抽出したりするには、ハフ変換(いわゆる直線ハフ変換)を適用して多角形の辺に相当する直線部分を抽出してもよい。
本発明の実施形態を示すブロック図である。 同上の動作説明図である。 同上の動作説明図である。 同上の動作説明図である。 同上の動作説明図である。 同上の動作説明図である。 同上の動作説明図である。 同上の動作説明図である。
符号の説明
1 ワーク
2 TVカメラ
3 記憶装置
4 エッジ抽出部
5 パターン抽出部
6 位置検出部
7 角度検出部

Claims (6)

  1. 事前に用意された標準パターンを対象画像と照合することにより対象画像に含まれる標準パターンについて少なくとも位置と回転角度とを検出するパターンマッチング方法であって、標準パターンは、対称中心となる代表点の周りにおいて許容された回転では形状変化を生じない位置検出パターンと、前記代表点の周りでの回転により位置変化を生じる角度検出パターンとからなり、対象画像を位置検出パターンと比較することにより標準パターンとマッチングするパターンの候補の位置を対象画像から検出する位置検出過程と、前記候補に対して標準パターンの代表点の周りで対象画像と角度検出パターンとを比較することにより標準パターンに対する前記候補の回転角度を検出する角度検出過程とを有することを特徴とするパターンマッチング方法。
  2. 前記位置検出過程では、前記位置検出パターンについてサイズを変更して前記対象画像と照合することにより前記候補のサイズを求めることを特徴とする請求項1記載のパターンマッチング方法。
  3. 前記位置検出過程と前記角度検出過程との間に、対象画像の画素のうち位置検出パターンと重複する画素を消去する消去過程を有することを特徴とする請求項1または請求項2記載のパターンマッチング方法。
  4. 前記標準パターンに用いる画像にハフ変換を適用することにより、対称中心としての代表点と、代表点を対称中心とした回転対称性を有する位置検出パターンとを抽出することを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載のパターンマッチング方法。
  5. 前記位置検出過程では、対象画像にハフ変換を適用することにより、対称中心としての代表点と、代表点を対称中心とした回転対称性を有するパターンとを抽出することを特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載のパターンマッチング方法。
  6. 前記角度検出過程では、対象画像および角度検出パターンにおける各画素の座標について前記代表点を原点とした極座標系に座標変換し、座標変換後の角度検出パターンを極座標系の角度軸方向において座標変換後の対象画像と照合することを特徴とする請求項1ないし請求項5のいずれか1項に記載のパターンマッチング方法。
JP2005341206A 2005-11-25 2005-11-25 パターンマッチング方法、パターンマッチング装置 Expired - Fee Related JP4792939B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005341206A JP4792939B2 (ja) 2005-11-25 2005-11-25 パターンマッチング方法、パターンマッチング装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005341206A JP4792939B2 (ja) 2005-11-25 2005-11-25 パターンマッチング方法、パターンマッチング装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007148699A true JP2007148699A (ja) 2007-06-14
JP4792939B2 JP4792939B2 (ja) 2011-10-12

Family

ID=38210060

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005341206A Expired - Fee Related JP4792939B2 (ja) 2005-11-25 2005-11-25 パターンマッチング方法、パターンマッチング装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4792939B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9992463B2 (en) 2013-03-14 2018-06-05 3M Innovative Properties Company Alignments for a projection system with a shaped projection screen using alignment content
JP2019002765A (ja) * 2017-06-14 2019-01-10 株式会社Screenホールディングス 位置合せ方法、位置合せ装置および検査装置
CN113421239A (zh) * 2021-06-23 2021-09-21 深圳中科飞测科技股份有限公司 识别方法、识别装置、半导体处理设备及可读存储介质

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04359393A (ja) * 1991-06-05 1992-12-11 Toshiba Corp 光学的文字読取装置
JPH11167640A (ja) * 1997-12-05 1999-06-22 Tani Denki Kogyo Kk 画像認識による計測方法および記録媒体
JP2002288777A (ja) * 2001-03-23 2002-10-04 Mitsubishi Electric Corp 自動検針装置および自動検針方法
JP2003196666A (ja) * 2001-12-28 2003-07-11 Toshiba Corp 画像ベクトル定義による画像処理装置およびその方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04359393A (ja) * 1991-06-05 1992-12-11 Toshiba Corp 光学的文字読取装置
JPH11167640A (ja) * 1997-12-05 1999-06-22 Tani Denki Kogyo Kk 画像認識による計測方法および記録媒体
JP2002288777A (ja) * 2001-03-23 2002-10-04 Mitsubishi Electric Corp 自動検針装置および自動検針方法
JP2003196666A (ja) * 2001-12-28 2003-07-11 Toshiba Corp 画像ベクトル定義による画像処理装置およびその方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9992463B2 (en) 2013-03-14 2018-06-05 3M Innovative Properties Company Alignments for a projection system with a shaped projection screen using alignment content
JP2019002765A (ja) * 2017-06-14 2019-01-10 株式会社Screenホールディングス 位置合せ方法、位置合せ装置および検査装置
CN113421239A (zh) * 2021-06-23 2021-09-21 深圳中科飞测科技股份有限公司 识别方法、识别装置、半导体处理设备及可读存储介质

Also Published As

Publication number Publication date
JP4792939B2 (ja) 2011-10-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4824987B2 (ja) パターンマッチング装置およびそれを用いた半導体検査システム
David et al. Object recognition in high clutter images using line features
JP6732214B2 (ja) 画像処理装置、画像処理方法、テンプレート作成装置、物体認識処理装置及びプログラム
US8538168B2 (en) Image pattern matching systems and methods for wafer alignment
US7200270B2 (en) Pattern recognition apparatus and method using distributed model representation of partial images
WO2014061372A1 (ja) 画像処理装置、画像処理方法および画像処理プログラム
US20100296736A1 (en) Image search apparatus and method thereof
JP5468332B2 (ja) 画像特徴点抽出方法
JP6397354B2 (ja) 人物領域検出装置、方法およびプログラム
JP2006252162A (ja) パターン認識装置及びその方法
JP3914864B2 (ja) パターン認識装置及びその方法
JP5477518B1 (ja) 画像処理装置、画像処理方法および画像処理プログラム
US8705849B2 (en) Method and system for object recognition based on a trainable dynamic system
JP4792939B2 (ja) パターンマッチング方法、パターンマッチング装置
CN111354038B (zh) 锚定物检测方法及装置、电子设备及存储介质
JP4859061B2 (ja) 画像の補正方法、補正プログラムおよび画像歪み補正装置
JP5684550B2 (ja) パターンマッチング装置およびそれを用いた半導体検査システム
US9305235B1 (en) System and method for identifying and locating instances of a shape under large variations in linear degrees of freedom and/or stroke widths
CN104036494A (zh) 一种用于水果图像的快速匹配计算方法
JP2007233981A (ja) Log−Polar変換を用いた静脈認証画像の補正装置及び方法
US7110603B2 (en) Fast invariant matching using template decomposition and synthesis
JP3460824B2 (ja) 形状認識方法及び装置
TWI384418B (zh) 採用區域架構之影像處理方法及系統
JP4525526B2 (ja) パターンマッチング方法及び装置
JPH08287259A (ja) 指紋照合方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080822

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20100720

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110114

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110201

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110404

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110628

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110711

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140805

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees