JP2007128568A - 記録方法、光ディスクおよび再生方法 - Google Patents

Abstract

【課題】 光ディスクのテスト領域を広く確保し、繰り返し記録回数を抑え、光ディスクのダメージを受けにくくすると共に、テスト領域を有効に利用できるようにする。
【解決手段】 記録層を複数有し、各記録層に対するデータの書き換えが可能な光ディスクに対してデータの記録を行なう場合であって、当該記録時に照射される光のパワーの調整を行なう場合に、第１の記録層においてパワー調整を行なう領域である第１のパワー調整領域と、前記第１の記録層よりも前記光が入射する面から遠い位置に設けられる第２の記録層においてパワー調整を行なう領域である第２のパワー調整領域との間の領域が所定の大きさよりも小さくなった場合に、前記第１のパワー調整領域または前記第２のパワー調整領域のうち、使用済み領域の大きさが大きい領域に対して、当該使用済み領域を消去する消去処理を行なう。
【選択図】 図５

Description

本発明は、複数の記録層を持ち、各記録層における最適記録パワーを設定するためのテスト記録領域を各層に有する光ディスク、並びに該光ディスクにデータを記録する記録装置（記録方法）に関するものである。

記録機能を有する光ディスクにおいて、最適な記録条件で記録を行うためにテスト記録領域が設けられているが、複数の記録層を有する場合、記録光が入射する側から見て奥の層に記録を行う場合、手前の層が記録済状態であるか否かで最適記録条件が異なっており、手前の層の状態を把握する必要があった。また、奥の層に記録を行う場合は、手前の層の記録状態の影響を避ける為には、手前の層を通過するビーム径や、奥の層と、手前の層のずれ量を考慮する必要があった。

この対応策として、奥の層を記録する場合に、手前の層を通過するビーム半径と、奥の層と手前の層のずれ量を加えた領域を考慮して、パワー調整を実施するテスト領域の配置を構成した光ディスクがある。（例えば特許文献１参照）
ＷＯ２００２／０２３５４２（第１−３４貢、第１−１４図）

複数層の記録層を持つ光ディスクに対して、奥の層でテスト記録する際には、手前の層の記録状態を一様にしておく必要があり、各記録層のテスト記録する領域を、他の記録層のテスト記録領域と重ならない様に配置した場合は、限られた光ディスクの領域の中で確保できるテスト記録領域が小さくなる。書き換え可能な光ディスクの場合、その小さい領域で繰り返しテスト記録を実施すると、繰り返し記録回数の増加から、光ディスクが劣化し、ダメージを受けやすくなる。

この発明は、上記のような問題点を解決するためになされたもので、光ディスクのテスト領域を広く確保し、繰り返し記録回数を抑え、光ディスクのダメージを受けにくくすると共に、テスト領域を有効に利用できるようにしている。

本発明に係る記録方法は、データの記録に際して、当該記録時に照射される光のパワーの調整を行なうための領域であるパワー調整領域が設定される記録層を複数有し、各記録層に対するデータの書き換えが可能な光ディスクに対して前記データの記録を行なう記録方法であって、前記パワーの調整を行なうに際し、第１の記録層のパワー調整領域である第１のパワー調整領域と、前記第１の記録層よりも前記光が入射する面から遠い位置に設けられる第２の記録層のパワー調整領域である第２のパワー調整領域との間の領域が所定の大きさよりも小さくなった場合に、前記第１のパワー調整領域または前記第２のパワー調整領域のうち、使用済み領域の大きさが大きい領域に対して、当該使用済み領域を消去する消去処理を行なうことを特徴とする。

本発明によれば、光ディスクのテスト領域を広く確保し、繰り返し記録回数を抑え、光ディスクのダメージを受けにくくすると共に、テスト領域を有効に利用できるようにしている。

実施の形態１．
図１は本発明の実施の形態における、片面に記録層を２層持ち、書き換え可能な相変化型光ディスクを示した図である。図１において、１００は光ディスク、１０２は第１層目の記録層、１０３は第２層目の記録層、１１０と１１５は光ディスク１００へ記録するための最適記録パワーを調整するためのパワー調整領域（以下、テスト領域ともいう）で、１１０は光ディスク１００の内周側にあるパワー調整領域（ＰＩ）、１１５は光ディスク１００の外周側にあるパワー調整領域（ＰＯ）、１１１は記録に関する管理情報や制御情報を記録する記録管理領域（Ｒ）、１１２、１１４は再生専用プレーヤなどで再生可能とするために、再生専用ディスクとの互換性をもたせるための情報（例えば、再生装置におけるサーボ系を制御するための情報等。以下、再生制御情報ともいう。）を記録する互換性用領域Ｌ，Ｏである。また、１１２には光ディスク１００のディスク管理情報が記録されているディスク管理領域が含まれている。互換性用領域（Ｌ）１１２と互換性用領域（Ｏ）１１４との間には、データを記録するためのデータ領域（Ｄ）１１３があり、光ディスク装置によって所望のデータが記録される。光ディスク１００には、内周側から外周側に向かって、パワー調整領域１１０（ＰＩ）、記録管理領域１１１、互換性用領域（Ｌ）１１２、データ領域１１３、互換性用領域（Ｏ）１１４、パワー調整領域１１５（ＰＯ）が存在している。１２０は光ピックアップの対物レンズ、１０１は対物レンズから出射されるビーム（記録光）を示しており、当該ビーム１０１によって光ディスク１００への情報の記録及び／又は再生が可能となる。

光ディスク１００にデータを記録する前には、一般的に試し書きにより最適な記録パワー調整を実施する。光ディスク１００にはデータを記録するための領域とは別に、例えば光ディスクの最内周部と最外周部に記録パワー調整用のパワー調整領域１１０と１１４が設けられている。記録パワーの調整は記録層毎に実施し、記録しようとする記録層と同層に存在するパワー調整領域１１０あるいは１１４でパワー調整を実施する。ここで、第２層目に記録をする場合、ビーム１０１は第１層目を通過してくる為、第１層目が記録済か未記録状態かによって、第２層目のパワー調整結果が異なってしまう。従って、第２層目でパワー調整を実施する場合は、対応する第１層目の記録状態を統一しておく事が要求される（以下、当該要求をレコーディングオーダーともいう）。そこで、実施の形態１においては、第２層目でパワー調整を実施する場合、当該第２のパワー調整領域に対応する（入射面側にある）第１層目の記録記録領域を未記録状態とする。また、光ディスク１００は書き換え可能な相変化光ディスクであり、第１層目が記録済の場合は、Ｅｒａｓｅをすることで、未記録状態とほぼ同等な状態にできる。

図２はこの発明の実施の形態１である光記録装置２００を示すものである。光記録装置２００はコントローラ（図示せず）と接続されており、例えば記録時には、光記録装置２００のフォーマッタ２０２は、前記コントローラからのデータをバッファメモリ２１０に格納した後、誤り訂正符号を付加し、変調規則に従って変調し、記録データを光ディスク１００のフォーマットにしたがって、データの配置を行う。

配置された記録データは光ディスク１００に記録される前に、最適なマークが形成されるように、パルスストラテジ生成回路２０３にてパルス列状に変調されて、レーザ駆動回路２０４の駆動信号として入力され、光ヘッド２０５を介して光ディスク２０６にデータが記録される。

光ヘッド２０５の位置決めは以下のようにして行われる。
光ヘッド２０５からの再生信号がＰｒｅＡＭＰ回路２０７にて増幅され、フォーマッタ２０２に入力される。入力された信号はフォーマッタ２０２にてアドレス情報の復号が行われ、光ヘッド２０５の現在位置が得られる。現在位置にて得られたアドレス情報から対象のアドレス情報の差分をサーボ回路２０８に与えることにより、サーボ回路２０８が光ヘッド２０５を対象の位置へ移動させる。

データ領域の記録動作には、予め、内周側のパワー調整領域（ＰＩ）１１０あるいは、外周側のパワー調整領域（ＰＯ）１１５にて試し書きが行われ、記録した領域を再生することにより、再生波形をパワー調整用演算回路２０９にて評価を行うことにより、記録パワーの最適化が行われる。なお、パワー調整領域ＰＩ，ＰＯは、例えば、以下のように使い分けることができる。すなわち、光ディスク１００を低速回転（例えば、１倍速〜４倍速）にて使用する場合にはＰＩを使用し、高速回転（例えば６倍速以上）にて使用する場合にはＰＯを使用することができる。高速回転時においては、内周側で所定の回転速度を確保することが困難となる場合があるため、上述のように使用することが有効である。また、記録パワーの最適値は、光記録装置の仕様に応じて決定する。

上記一連の動作の制御は、光記録装置２００内に設ける図示しないシステムコントローラにて行われ、システムコントローラ中のプログラムメモリに制御プログラムが格納されている。

図３は記録層とビームの関係を示した図である。図３において、１００は光ディスク、１０１は記録再生時に光ディスク１００に入射するビーム、１０２は第１層目の記録層（膜）、１０３は第２層目の記録層（膜）、１０４ａと１０４ｂは第１層目の記録膜１０２の記録状態の違い（例えば記録済状態か未記録状態かの違い）を示した領域である。１０４ａは未記録状態、１０４ｂは記録済状態である。ａは第２層目の記録膜１０３への記録開始位置、１０５は記録開始位置ａから記録する領域と方向を示した矢印、ｔは第１層目の記録膜１０２と第２層目の記録膜１０３との距離、Ｄは第２層目の記録膜１０３で記録再生する場合の第１層目の記録膜１０２におけるビーム１０１の直径を示している。

第２層目の記録膜１０３へ記録を実施する場合は、第１層目の記録膜１０２の状態がビーム１０１の径Ｄ内において、未記録状態１０４ａの様に同様でないと第２層目の記録膜１０３への記録状態に影響を与えてしまう。従って、第２層目の記録膜１０３への記録開始位置ａから記録する領域側１０５に対して、第１層目の記録膜１０２にはビーム径Ｄの半分の領域を余分に追加した領域で記録状態を同一にする必要がある。

図４は第１層目と第２層目の位置のズレを示した図である。図４（ａ）は貼り合わせによるズレが無い場合を、図４（ｂ）は貼り合わせのズレが有る場合（ズレ量が最大の場合）を示す。図において、ｂは理想的なディスクのあるアドレスにおける位置、ｂ１は第１層目の記録層１０２における位置ｂに対応する位置、ｂ２は第２層目の記録層１０３における位置ｂに対応する位置、ｅはディスクの最大偏芯量を示している。

図４（ａ）に示す様に、貼り合わせにより第１層目の記録層１０２と第２層目の記録層１０３の位置にズレが生じていない場合は、第１層目の位置ｂ１と第２層目の位置ｂ２は等しい位置となる。第２層目の記録膜１０３に対して位置ｂから矢印１０５の方向に記録を行う場合、第１層目の記録膜１０２の記録状態は、図４（ａ）に示す様に、位置ｂ１のみを考慮した領域では同一の未記録状態１０４ａにする必要がある。

また、図４（ｂ）に示す様に、貼り合わせにより第１層目の記録層１０２と第２層目の記録層１０３の位置にズレが生じている場合は、第１層目の位置ｂ１と第２層目の位置ｂ２の間でｅのずれ量が生じる。

この貼り合わせによるズレは、光ディスク１００の中心位置からの偏芯により生じ、第１層目の記録層１０２と第２層目の記録層１０３との位置のズレ量の最大値は偏芯量の最大値分ｅとなる。この貼り合わせによるズレが生じた光ディスク１００の第２層目の記録層１０３に位置ｂ２から記録を矢印１０５の方向に記録を行う場合、第１層目の記録層１０２の記録状態は、図４（ｂ）に示す様に、位置ｂ１から最大偏芯量ｅを考慮した位置の領域において同一の未記録状態１０４ａにする必要がある。

従って、第２層目の記録層１０３に記録する際には、第２層目の記録層１０３の記録位置に対して、図３で説明した上記ビーム１０１の影響と図４（ｂ）のような貼り合わせによるズレとを考慮した上で、第１層目の記録層１０２の領域を常に同一の未記録状態にする必要がある。

このような余裕を持たせた領域を制限領域（Ａ）とすると、制限領域（Ａ）の幅Ａｗは、ビーム１０１の径Ｄの半分と貼り合わせによる最大ズレ量となる光ディスク１００の偏芯量ｅの両方を考慮して、Ａｗ＝ｅ＋Ｄ／２となる。

ここで、例えば光ピックアップの対物レンズ１２０のＮＡが０．６で、第１層目の記録層１０２と第２層目の記録層１０３との最大距離を６５μｍ（５５±１５μｍ）とした場合、ビーム１０１の径Ｄが５６μｍとなる。また、最大偏芯量ｅを４０μｍとすると、制限領域（Ａ）の幅Ａｗは６８μｍとなる。

本実施の形態においては、パワー調整を実施する際に、前記制限領域（Ａ）を考慮して、この制限領域（Ａ）の幅Ａｗがｅ＋Ｄ／２と等しいかそれ以上に設定することによって、第１層目の記録状態が第２層目の記録へ影響しないようにする。

図５は本発明の実施の形態１に係る光ディスクのパワー調整領域（Ｐ）の詳細な構成例と、パワー調整領域（Ｐ）の使い方を示した図である。図５（ａ）は光ディスク１００が未使用の場合のパワー調整領域（Ｐ）の構成例と、パワー調整領域（Ｐ）の使い方を示した図で、図５（ｂ）、（ｃ）は、使用した第１層用パワー調整領域（Ｐ１）が第２層用パワー調整領域（Ｐ２）よりも大きい場合のパワー調整領域（Ｐ）の使い方を示した図で、図５（ｄ）、（ｅ）は、使用した第１層用パワー調整領域（Ｐ１）が第２層用パワー調整領域（Ｐ２）よりも小さい場合のパワー調整領域（Ｐ）の使い方を示した図である。尚、光ディスク１００には、内周側パワー調整領域（ＰＩ）１１０と、外周側パワー調整領域（ＰＯ）１１５があるが、どちらのパワー調整領域も同様に使用する事が可能である。

図５において、１００は光ディスク、１０２は第１層目の記録層、１０３は第２層目の記録層を示している。なお、以下の説明においては、第１層用パワー調整領域を第１のパワー調整領域ともいい、第２層用パワー調整領域を第２のパワー調整領域ともいう。

光ディスク１００が未使用の場合、第１層用パワー調整領域（Ｐ１）におけるパワー調整は図５（ａ）に示す様に、位置ｎ０から１、２、・・・ｊの順番で光ディスク１００の外周部から内周へ順番に使用する。１のパワー調整においては、図５（ａ）の矢印で示すように、内周から外周へ、試し記録が行われる。また、パワー調整に用いた領域を管理するために、光ディスク１００の記録管理領域（Ｒ）１１１（図１）には、使用したアドレス情報等を記録することができる領域を設けて、調整したパワー値の結果等と共に記録する。

なお、図５においては、第２の記録層１０３に制限領域Ａ１を設ける場合について示したが、パワー調整領域Ｐにおける第１の記録層１０２の内周側において、制限領域Ａ１と同一の幅（領域）で未記録状態の領域を確保することができる場合には、第２の記録層１０３における制限領域Ａ１を設けなくてもよい。したがって、この場合においては、当該パワー調整領域Ｐにおける第２の記録層１０３の最内周からパワー調整に使用することができる。

光ディスク１００が未使用の場合、第２層用パワー調整領域（Ｐ２）におけるパワー調整は図５（ａ）に示す様に、光ディスク１００の内周側に制限領域（Ａ１）を考慮した位置ｍ０から１、２、・・・ｉの順番で光ディスク１００の内周部から外周部へ順番に使用する。１のパワー調整においては、図５（ａ）の矢印で示すように、外周から内周へ、試し記録が行われる。また、パワー調整に用いた領域を管理するために、光ディスク１００の記録管理領域（Ｒ）１１１（図１）には、使用したアドレス情報等を記録することができる領域を設けて、調整したパワー値の結果等と共に記録する。

各記録層でのパワー調整は、第１層目で実施した最終のパワー調整位置ｎ１と、第２層目で実施した最終のパワー調整位置ｍ１との間が、幅Ａｗの制限領域（Ａ２）以下とならない位置まで実施できる。従って、制限領域（Ａ２）の位置は、第１層用のパワー調整回数と、第２層用のパワー調整回数によって変動することになる。

また、第１層目で実施した最終のパワー調整位置ｎ１と、第２層目で実施した最終のパワー調整位置ｍ１との間は、光ディスク１００の記録管理領域（Ｒ）１１１（図１）に記録されたパワー調整のアドレス情報から制限領域（Ａ２）以下となっているかが判断できる。

次に、位置ｍ１と位置ｎ１の間が制限領域（Ａ２）以下となった場合で、第１層目で使用したパワー調整領域（Ｐ１）が第２層目で使用したパワー調整領域（Ｐ２）よりも大きい場合は、図５（ｂ）に示す様に、第１層目でパワー調整に利用した位置ｎ１から位置ｎ０までをＤＣ−Ｅｒａｓｅして、未記録の場合と同様の状態にする。なお、以下の説明においては、ＤＣ−ＥｒａｓｅをＥｒａｓｅ（イレース）処理ともいう。

さらに、ＤＣ−Ｅｒａｓｅした最外周のアドレスを光ディスク１００の記録管理領域（Ｒ）１１１（図１）に記録する。また、このアドレスは、第１層目のパワー調整を使用したアドレス情報を記録する為の領域に記録する。また、第１層目でＤＣ−Ｅｒａｓｅしたアドレスを記録する領域を別途、光ディスク１００の記録管理領域（Ｒ）１１１に設けて、記録するようにしても良い。

第１層目がＤＣ−Ｅｒａｓｅされた後は、図５（ｃ）に示す様に、第１層目でのパワー調整は位置ｎ０から１、２、・・・、ｊの順番で試し記録を実施する。また、第２層目でのパワー調整は使用済みパワー調整領域（Ｕ２）（以下、第２の使用済み領域Ｕ２ともいう）の外周側の位置ｍ１から１、２、・・・、ｉの順番で試し記録を実施する。また、パワー調整に用いた領域を管理するために、光ディスク１００の記録管理領域（Ｒ）１１１に、使用したアドレス情報を記録する。

各記録層でのパワー調整は、第１層目で実施した最終のパワー調整位置ｎ２と、第２層目で実施した最終のパワー調整位置ｍ２との間が、幅Ａｗの制限領域（Ａ２）以下とならない位置まで実施できる。

次に、位置ｍ２と位置ｎ２の間が制限領域（Ａ２）以下となった場合で、第１層目で使用したパワー調整領域（Ｐ１）が第２層目で使用したパワー調整領域（Ｐ２）よりも小さい場合は、図５（ｄ）に示す様に、第２層目でパワー調整に利用した位置ｍ２から位置ｍ０までをＤＣ−Ｅｒａｓｅして、未記録の場合と同様の状態にする。さらに、ＤＣ−Ｅｒａｓｅした最内周のアドレスを光ディスク１００の記録管理領域（Ｒ）１１１（図１）に記録する。また、このアドレスは、第２層目のパワー調整を使用したアドレス情報を記録する為の領域に記録する。また、第２層目でＤＣ−Ｅｒａｓｅしたアドレスを記録する領域を別途、光ディスク１００の記録管理領域（Ｒ）１１１に設けて、記録するようにしても良い。

第２層目がＤＣ−Ｅｒａｓｅされた後は、図５（ｅ）に示す様に、第１層目でのパワー調整は使用済みパワー調整領域（Ｕ１）（以下、第１の使用済み領域Ｕ１ともいう）の外周側の位置ｎ２から１、２、・・・、ｊの順番で試し記録を実施する。また、第２層目でのパワー調整は位置ｍ０から１、２、・・・、ｉの順番で試し記録を実施する。また、パワー調整に用いた領域を管理するために、光ディスク１００の記録管理領域（Ｒ）１１１に、使用したアドレス情報を記録する。

各記録層でのパワー調整は、第１層目で実施した最終のパワー調整位置ｎ３と、第２層目で実施した最終のパワー調整位置ｍ３との間が、幅Ａｗの制限領域（Ａ２）以下とならない位置まで実施できる。

その後は、図５（ｂ）〜（ｅ）に示した方法と同様に、使用したパワー調整領域が多い方の記録層の使用済みパワー調整領域をＤＣ−Ｅｒａｓｅし、ＤＣ−Ｅｒａｓｅしていない記録層では、使用済みパワー調整領域の続きから、以降のパワー調整に利用する。

また、使用したパワー調整領域が同じ場合は、次にパワー調整をする記録層をＤＣ−Ｅｒａｓｅすることで、ＤＣ−Ｅｒａｓｅした後の位置が、次のパワー調整をする位置と同じとなるため、シークに必要な時間を非常に少なくすることができる。

以上のように、本実施の形態１によれば、制限領域（Ａ２）の位置が、各記録層のパワー調整回数によって、変動するため、制限領域（Ａ２）が特定位置に固定されるよりも、パワー調整領域（Ｐ）を広く利用する事ができ、試し書きに繰り返し記録される回数が少なくなるため、光ディスク１００に与えるダメージを抑えることができる。

また、使用済みのパワー調整領域が大きい方の記録層をＤＣ−Ｅｒａｓｅするようにしている為、ＤＣ−Ｅｒａｓｅの後のパワー調整回数を多く確保できる為、ＤＣ−Ｅｒａｓｅの発生頻度を低く抑える事ができ、記録開始までの時間にＤＣ−Ｅｒａｓｅの余分な時間がかかる回数を低く抑える事ができる。

また、実施の形態１に係る光ディスク１００においては、制限領域（Ａ２）の位置を固定とせず、テスト領域の使用状況に応じて位置を可変とすることができる。よって、各々の記録層のテスト記録領域を広く確保することができる。また、テスト記録領域を繰り返し使用する回数を抑える事ができる。さらに、テスト記録領域を最大限使用した際に実施するＥｒａｓｅ処理の発生頻度も抑える事ができる。よって、当該光ディスク１００のダメージを軽減する事ができる。すなわち、光ディスク１００の劣化速度を遅らせることができる。さらに、Ｅｒａｓｅ処理の余分な時間がかかる動作が発生する回数を低く抑える事ができるとともに、光ディスク１００の使用期間に全体に対する記録開始までに要する時間を少なくすることができる。

実施の形態２．
図６は、実施の形態２における記録パワーの調整を説明するための説明図である。なお、当該実施の形態２における記録装置の構成は実施の形態１において説明した記録装置２００の構成と同様であるので説明を省略する。また、以下の説明において、実施の形態１において説明した事項については、同一の符号を付し、説明を省略する。

未使用の光ディスク１００のデータ領域１１３に所定のデータ（映像データまたは音声データ等）が記録された結果、図６（ａ）に示すように、パワー調整領域Ｐが構成されたとする。

当該図６（ａ）の状態において、第１の記録層１０２にデータの記録を行う場合、第１のパワー調整領域Ｐ１の内周側の領域（当該内周側で領域ｊに隣接する領域）を使用して記録パワーの調整を行なう。また、当該図６（ａ）の状態において、第２の記録層１０３にデータの記録を行う場合には、第２のパワー調整領域Ｐ２の外周側の領域（当該外周側で領域ｉに隣接する領域）を使用して記録パワーの調整を行なう。

しかしながら、図６（ａ）の状態においては、第１の記録層１０２上の位置ｎ１と、第２の記録層１０３上の位置ｍ１との間の半径方向における距離（領域）が制限領域Ａ２と同一の大きさとなる。そうすると、レコーディングオーダーを満たすことができない。そこで、実施の形態２においても、実施の形態１と同様に、使用済み領域の大きさが大きい第１のパワー調整領域Ｐ１に対してＥｒａｓｅ処理を行なう（図６（ｂ））。

ただし、実施の形態２においては、第１の使用済み領域Ｕ１の全ての領域に対してＥｒａｓｅ処理を行なわずに、当該第１の使用済み領域Ｕ１の所定の領域に対してのみＥｒａｓｅ処理を行なう。

なお、当該所定の領域は、実施の形態２における記録方法を使用する装置（記録装置）において任意に設定可能である。しかしながら、少なくとも、Ｅｒａｓｅ処理後、第１のパワー調整領域Ｐ１または第２のパワー調整領域Ｐ２においてパワー調整を行なった後においてもレコーディングオーダーを満たすように（すなわち、制限領域Ａ２を確保できるように）当該所定の領域を設ける必要がある。

以上のようにして、第１の使用済み領域Ｕ１に対してＥｒａｓｅ処理を行なった後においては、実施の形態１において説明した場合と同様にして、第１のパワー調整領域Ｐ１または第２のパワー調整領域Ｐ２を使用して、パワー調整を行なう(図６（ｃ）)。

次に、図６（ｃ）の状態において、第２のパワー調整領域Ｐ２の領域ｉまでパワー調整に使用され、かつ、第１のパワー調整領域Ｐ１の領域ｊまでパワー調整に使用されたとする。そうすると、当該パワー調整領域Ｐにおいてパワー調整を行うと、レコーディングオーダーを満たすことができなくなってしまう。すなわち、当該光ディスク１００の半径方向において、第１のパワー調整領域Ｐ１と第２のパワー調整領域Ｐ２との間に確保すべき制限領域Ａ２を確保することができなくなってしまう。

そこで、使用済み領域が大きい第２の使用済み領域Ｕ２に対してＥｒａｓｅ処理を行なう（図６（ｄ））。なお、当該図６（ｄ）の場合においても、前記図６（ｂ）と同様に、第２の使用済み領域Ｕ２の所定の領域に対してのみＥｒａｓｅ処理を行なう。

以上のようにして、第２の使用済み領域Ｕ２に対してＥｒａｓｅ処理を行なった後においては、実施の形態１において説明した場合と同様にして、第１のパワー調整領域Ｐ１または第２のパワー調整領域Ｐ２を使用して、パワー調整を行なう(図６（ｅ）)。

以上の説明のように、実施の形態２における記録装置によれば、使用済み領域Ｕ１，Ｕ２に対してＥｒａｓｅ処理を行なう際、当該使用済領域Ｕ１，Ｕにおける所定の領域についてのみ当該Ｅｒａｓｅ処理を行なう。

よって、使用済み領域Ｕ１，Ｕ２の全ての領域に対してＥｒａｓｅ処理を行なう場合比べて、Ｅｒａｓｅ処理に要する時間を短縮することができる。したがって、データの記録開始までに要する時間を短縮することができる。

実施の形態３．
図７は、実施の形態３の記録装置におけるパワー調整を説明するためのフローチャートである。なお、当該実施の形態３における記録装置の構成は実施の形態１において説明した記録装置２００の構成と同様であるので説明を省略する。また、以下の説明において、実施の形態１において説明した事項については、同一の符号を付し、説明を省略する。

実施の形態３においては、制限領域Ａ２の大きさを、上述したＡｗに、当該パワー調整領域においてパワー調整に使用する１つの領域（例えば、図５（ａ）において、１，２，・・・，ｉで示される個々の領域。以下、１回分テスト領域ともいう）を複数個加えた大きさの領域（以下、余裕領域Ａｐともいう）に設定する。したがって、当該制限領域Ａ２は下記式（１）のようになる。なお、余裕領域Ａｐの大きさは、任意に設定可能であるが、パワー調整に使用する１つの領域の数個分ないしは数十個分の大きさであることが望ましい。

Ａｗ’ ＝ Ａｗ＋Ａｐ
＝ ｅ＋Ｄ／２＋Ａｐ・・・（１）

以下、実施の形態３における当該記録装置の動作について、図７に基づいて説明する。 当該記録装置におけるシステムコントローラ（図示せず）は、当該光ディスク１００の記録管理領域Ｒ １１１に記録された、第１のパワー調整領域における最終アドレス（例えば、図５（ａ）における位置ｎ１に対応するアドレス。以下、第１層目最終パワー調整アドレスともいう）、および、第２のパワー調整領域における最終アドレス（例えば、図５（ａ）における位置ｍ１に対応するアドレス。以下、第２層目最終パワー調整アドレスともいう）を取得する（Ｓ１）。

当該システムコントローラは、当該アドレスを取得すると、当該光ディスクの半径方向において、第１層目最終パワー調整アドレスと第２層目最終パワー調整アドレスとの間に形成される領域（以下、残領域ＲＴＡともいう）の大きさを算出する（Ｓ２）。また、当該アドレスに基づいて各記録層１０２，１０３における使用済みテスト領域Ｐ１，Ｐ２の大きさ（容量）を算出する（Ｓ２）。そして、算出した結果、容量の大きいテスト領域をＥｒａｓｅ処理（消去処理）を優先的に行なう記録層として設定する（Ｓ３）。なお、以下の説明において、優先的にＥｒａｓｅ処理を行なう記録層として設定された記録層を消去記録層ともいう。また、当該Ｓ３において、第１のテスト領域Ｐ１の容量と第２のテスト領域Ｐ２の容量とが同一の容量である場合には、いずれか一方のテスト領域を消去記録層として設定する。

当該記録装置におけるシステムコントローラは、データ領域Ｄ １１３にデータの記録を開始する際、残領域ＲＴＡと１回分テスト領域の容量とを加えた容量が、制限領域Ａｗの容量以下であるか否かについて判断する（Ｓ４）。

前記Ｓ４の判断において、残領域ＲＴＡと１回分テスト領域の容量とを加えた容量が、制限領域Ａｗの容量以下である場合（Ｓ４：ＹＥＳ）、当該システムコントローラは、サーボ回路２０８等を制御して、消去記録層の使用済み領域に対してＥｒａｓｅ処理を行なう（Ｓ５）。そして、データを記録する記録層と同じ記録層においてパワー調整を行ない（Ｓ１１）、当該パワー調整後の光強度によってデータ領域Ｄに対してデータの記録を行なう（Ｓ１２）。そして、当該データの記録が終了すると、前記記録管理領域に記録された各パワー調整領域の最終アドレスをパワー調整後における各パワー調整領域の最終アドレスに更新して（Ｓ１３）処理を終了する（ＥＮＤ）。

一方、前記Ｓ４の判断において、残領域ＲＴＡと１回分テスト領域の容量とを加えた容量が、制限領域Ａｗの容量よりも大きい場合（Ｓ４：ＮＯ）、当該システムコントローラは、残領域ＲＴＡと１回分テスト領域の容量とを加えた容量が、Ａｗ’以下であるか否かについて判断する（Ｓ６）。

当該Ｓ６の判断において、残領域ＲＴＡと１回分テスト領域の容量とを加えた容量が、Ａｗ’よりも大きい場合（Ｓ６：ＮＯ）、当該記録装置は、Ｓ１１〜Ｓ１３までの処理を行なって処理を終了する。

一方、当該Ｓ６の判断において、残領域ＲＴＡと１回分テスト領域の容量とを加えた容量がＡｗ’以下である場合（Ｓ６：ＹＥＳ）、当該システムコントローラは、第１のテスト領域Ｐ１の大きさと第２のテスト領域Ｐ２の大きさとが同一であるか否かについての判断を行なう（Ｓ７）。

システムコントローラは、当該Ｓ７の判断において、第１のテスト領域Ｐ１の大きさと第２のテスト領域Ｐ２の大きさとが同一である場合（Ｓ７：ＮＯ）、当該システムコントローラは、サーボ回路２０８等を制御して、パワー調整する記録層の使用済み領域Ｕ１、Ｕ２に対してＥｒａｓｅ処理を行なう（Ｓ８）。そして、当該Ｅｒａｓｅ処理後、当該記録装置２００は、上述したＳ１１〜Ｓ１３までの処置を行なって処理を終了する。

一方、前記Ｓ７の判断において、第１のテスト領域Ｐ１の大きさと第２のテスト領域Ｐ２の大きさとが同一でない場合（Ｓ７：ＹＥＳ）、当該システムコントローラは、消去記録層と、データの記録を行なう記録層とが同一の記録層であるか否かについて判断を行なう（Ｓ９）。

当該Ｓ９の判断において、消去記録層と、データの記録を行なう記録層とが同一の記録層でない場合、当該記録装置は、Ｓ１１からＳ１３までの処理を行なって処理を終了する。

一方、Ｓ９の判断において、消去記録層と、データの記録を行なう記録層とが同一の記録層である場合、当該システムコントローラは、サーボ回路２０８等を制御して、消去記録層の使用済み領域Ｕ１、Ｕ２に対してＥｒａｓｅ処理を行なう（Ｓ１０）。そして、当該Ｅｒａｓｅ処理後、当該記録装置２００は、上述したＳ１１〜Ｓ１３までの処置を行なって処理を終了する。

以上に説明した動作をより簡易に示すと以下のようになる。
（１）残領域ＲＴＡが、ＲＴＡ≦Ａｗ＋Ａｐであり、テスト領域Ｐ１，Ｐ２の容量の関係がＰ１＞Ｐ２であって、パワー調整を行なう記録層が第１の記録層１０２である場合には、第１のテスト領域Ｐ１に対してＥｒａｓｅ処理した後に、第１の記録層１０２においてパワー調整を行なう。
（２）残領域ＲＴＡが、ＲＴＡ≦Ａｗ＋Ａｐであり、テスト領域Ｐ１，Ｐ２の容量の関係がＰ１＞Ｐ２であって、パワー調整を行なう記録層が第２の記録層１０３である場合には、Ｅｒａｓｅ処理を行なわずに、第２の記録層においてパワー調整を行なう。
（３）残領域ＲＴＡが、ＲＴＡ≦Ａｗであり、テスト領域Ｐ１，Ｐ２の容量の関係がＰ１＞Ｐ２であって、パワー調整を行なう記録層が第２の記録層１０３である場合には、第１のテスト領域Ｐ１に対してＥｒａｓｅ処理した後に、第２層目でパワー調整を行なう。
（４）残領域ＲＴＡが、ＲＴＡ≦Ａｗ＋Ａｐであり、テスト領域Ｐ１，Ｐ２の容量の関係がＰ１＜Ｐ２であって、パワー調整を行なう記録層が第１の記録層１０２である場合には、Ｅｒａｓｅ処理を行なわずに、第１の記録層１０２においてパワー調整を行なう。
（５）残領域ＲＴＡが、ＲＴＡ≦Ａｗ＋Ａｐであり、テスト領域Ｐ１，Ｐ２の容量の関係がＰ１＜Ｐ２であって、パワー調整を行なう記録層が第２の記録層１０３である場合には、第２のテスト領域Ｐ２に対してＥｒａｓｅ処理した後に、第２の記録層においてパワー調整を行なう。
（６）残領域ＲＴＡが、ＲＴＡ≦Ａｗであり、テスト領域Ｐ１，Ｐ２の容量の関係がＰ１＜Ｐ２であって、パワー調整を行なう記録層が第１の記録層１０２である場合には、第２のテスト領域Ｐ２に対してＥｒａｓｅ処理した後に、第１層目でパワー調整を行なう。

以上の説明のように、実施の形態３における記録装置においては、レコーディングオーダーとして最低限必要な制限領域に余裕領域Ａｐを加えた新たな制限領域を設定する。そのため、実施の形態３における記録装置によれば、使用領域が多い方の記録層と、次にパワー調整を実施する記録層が一致する場合に優先的にＥｒａｓｅ処理を行なうことができる。すなわち、使用領域が多い方の記録層と、次にパワー調整を実施する記録層が一致する場合にＥｒａｓｅ処理が行なわれる頻度が全体として多くなる。そうすると、Ｅｒａｓｅ処理後の光ヘッド２０５が、各記録層においてパワー調整を行なう際に使用する領域付近に位置する場合が多くなる。したがって、当該光ヘッド２０５が、Ｅｒａｓｅ処理後、パワー調整を行なう際に使用する領域に移動するまでの時間（シーク時間）を短くすることができる。

なお、図７におけるＳ１ないしＳ３までの処理は、当該記録装置における任意のタイミングで行なえばよい。例えば、光ディスク１００が記録装置２００に挿入された際、前記システムコントローラにおいて当該光ディスク１００が既にデータの記録がされた光ディスクであるか、または未使用の光ディスク１００であるかを判断し、当該光ディスク１００が既にデータの記録がされた光ディスクである場合に、前記Ｓ１ないしＳ３の処理を行なうようにすることができる。

また、記録装置の仕様によっては、光ディスクの記録管理領域に、各記録層に対応する最終パワー調整アドレスを記録しない場合もある。このような場合においては、当該記録装置においてテスト領域Ｐの各記録層の最終パワー調整アドレスを検出するようにすればよい。具体的には、光ヘッド２０５から出力される、光ディスク１００によって反射された光の光量に応じた信号に基づいて、システムコントローラが当該検出を行なう。

実施の形態４．
図８は、実施の形態４における記録方法を説明するための説明図である。なお、当該実施の形態４における記録装置の構成は実施の形態１において説明した記録装置２００の構成と同様であるので説明を省略する。また、以下の説明においては、実施の形態１ないし３において説明した事項については同一の符号を付し、説明を省略する。

未使用の光ディスク１００のデータ領域１１３に所定のデータ（映像データまたは音声データ等）が記録された結果、図８（ａ）に示すように、パワー調整領域Ｐが構成されたとする。

当該図８（ａ）の状態において、第１の記録層１０２にデータの記録を行う場合、第１のパワー調整領域Ｐ１の内周側の領域（当該内周側で領域ｊに隣接する領域）を使用して記録パワーの調整を行なう。また、当該図８（ａ）の状態において、第２の記録層１０３にデータの記録を行う場合には、第２のパワー調整領域Ｐ２の外周側の領域（当該外周側で領域ｉに隣接する領域）を使用して記録パワーの調整を行なう。

しかしながら、図８（ａ）の状態においては、第１の記録層１０２上の位置ｎ１と、第２の記録層１０３上の位置ｍ１との間の半径方向における距離（領域）が制限領域Ａ２と同一の大きさとなる。そうすると、レコーディングオーダーを満たすことができない。

そこで、実施の形態４においては、当該レコーディングオーダーを満たすことができない場合において、以下のように処理を行なう。

当該図８（ａ）の状態の場合に、第１の記録層１０２においてパワー調整を行なう場合には、Ｅｒａｓｅ処理を行なわず、図８（ａ）に示した領域ｊの内周側に隣接する領域においてパワー調整を行なう。すなわち、パワー調整領域Ｐの第１の記録層１０２においてパワー調整が行なわれる場合においては、制限領域Ａ２を確保することができない場合であっても当該パワー調整領域Ｐの第１の記録層１０２においてパワー調整を続行する（図８（ｂ））。

次に、図８（ｂ）における領域ｊまで当該第１の記録層１０２上の領域をパワー調整に使用した後に、第２の記録層１０３においてパワー調整を行なう場合、当該記録装置２００は以下のように処理を行なう。図８（ｂ）における領域ｊまで当該第１の記録層１０２上の領域をパワー調整に使用した後においては、図８（ｂ）における位置ｎ０から位置ｎ２の領域が第１の記録済み領域となる。そこで、上述の場合、当該記録装置２００は、当該第１の記録済み領域における所定の領域に対してＥｒａｓｅ処理を行なう（図８（ｃ））。なお、当該所定の領域は実施の形態２において説明した場合と同様にして設定するが、図８（ｃ）においては第１の記録層における位置ｎ２から位置ｎ３までの間の領域に対してＥｒａｓｅ処理を行なう場合について示した。

当該Ｅｒａｓｅ処理を行なった後においては、実施の形態２において説明した場合と同様にして、当該パワー調整領域Ｐにおけるパワー調整を行なう（図８（ｄ））。

なお、上述した図８（ｂ）においては、第１の記録層１０２における位置ｎ２から位置ｎ０までの領域全体が使用済み領域（第１の使用済み領域）であり、一応、均一な状態となる、よって、当該図８（ｂ）の状態において第２の記録層１０３の領域をパワー調整領域として使用しても良さそうである。

しかしながら、当該第１の使用済み領域は、パワー調整に使用された領域であるため、一部の領域においては高強度の光が照射され、他の領域においては低強度の光が照射されている。すなわち、完全に均一な状態ではない。そうすると、当該第１の使用済み領域を透過させて、第２の記録層１０３においてパワー調整を行なった場合には、最適な光の強度を安定して得ることができない。したがって、実施の形態４において説明したように、図８（ｂ）の状態においてもＥｒａｓｅ処理を行なう。

以上の説明のように、実施の形態４における記録装置においては、レコーディングオーダーを満たさない場合においても、第１の記録層１０２を連続して使用する場合においては、Ｅｒａｓｅ処理を行なわない。

よって、第１の記録層１０３に対するＥｒａｓｅ処理の回数を必要最低限の回数とすることができる。したがって、光ディスク１００の劣化を防止して、当該光ディスク１００を長期間使用することが可能となる。

なお、実施の形態４においては、Ｅｒａｓｅ処理を所定の領域に対して行なう場合について説明したが、実施の形態１において説明した場合と同様に、第１の使用済み領域の全ての領域に対してＥｒａｓｅ処理を行なうようにしてもよい。

また、以上の説明においては、主として光ディスク１００へのデータの記録を行なう場合について説明したが、当該光ディスクの再生は、例えば、以下のように行なう。すなわち、再生装置において、前記再生制御情報に基づいて、当該再生装置のサーボ系を制御し、当該光ディスク１００に記録されたデータを読み出して再生を行なう。

実施の形態１における光ディスクを示した図である。 実施の形態１における光記録装置を示した図である。 実施の形態１における光ディスクの記録層とビームの関係を示した図である。 実施の形態１における第１層目と第２層目のと位置のズレを示した図である。 実施の形態１における光ディスクのパワー調整領域の使い方を示した図である。 実施の形態２における光ディスクのパワー調整領域の使い方を示した図である。 実施の形態３における記録装置におけるパワー調整のフローチャートを示した図である。 実施の形態４における光ディスクのパワー調整領域の使い方を示した図である。

符号の説明

１００ 光ディスク、１０１ ビーム、１０２ 第１層目の記録膜、１０３ 第２層目の記録膜、１１０ 内周側パワー調整領域（ＰＩ）、１１１ 記録管理領域（Ｒ）、１１２ 互換性用領域（Ｌ）、１１３ データ記録領域、１１４ 互換性用領域（Ｏ）、１１５ 外周側パワー調整領域（ＰＯ）、１２０ 光ピックアップの対物レンズ、２００ 光記録装置、２０２ フォーマッタ、２０３ パルスストラテジ生成回路、２０４ レーザ駆動回路、２０５ 光ヘッド、２０７ Ｐｒｅ−ＡＭＰ回路、２０８ サーボ回路、２０９ パワー調整用演算回路、２１０ バッファメモリ。

Claims (7)

1. データの記録に際して、当該記録時に照射される光のパワーの調整を行なうための領域であるパワー調整領域が設定される記録層を複数有し、各記録層に対するデータの書き換えが可能な光ディスクに対して前記データの記録を行なう記録方法であって、
   前記パワーの調整を行なうに際し、
   第１の記録層のパワー調整領域である第１のパワー調整領域と、前記第１の記録層よりも前記光が入射する面から遠い位置に設けられる第２の記録層のパワー調整領域である第２のパワー調整領域との間の制限領域が所定の大きさよりも小さくなった場合に、
   前記第１のパワー調整領域または前記第２のパワー調整領域のうち、使用済み領域の大きさが大きい領域に対して、当該使用済み領域を消去する消去処理を行なうことを特徴とする記録方法。
2. データの記録に際して、当該記録時に照射される光のパワーの調整を行なうための領域であるパワー調整領域が設定される記録層を複数有し、各記録層に対するデータの書き換えが可能な光ディスクに対して前記データの記録を行なう記録方法であって、
   前記パワーの調整を行なうに際し、
   第１の記録層のパワー調整領域である第１のパワー調整領域、または、前記第１の記録層よりも前記光が入射する面から遠い位置に設けられる第２の記録層のパワー調整領域である第２のパワー調整領域のうち、使用済み領域の大きさが大きいパワー調整領域を、当該使用済み領域を消去する消去処理を行なうパワー調整領域として設定し、
   前記第１のパワー調整領域と前記第２のパワー調整領域との間の制限領域の容量が、第１の容量よりも大きく、かつ、第２の容量よりも小さい場合であって、前記データの記録を行なう記録層と、前記消去処理を行なうパワー調整領域として設定された前記パワー調整領域を有する層とが同一である場合に、前記設定されたパワー調整領域に対して消去処理を行なうことを特徴とする記録方法。
3. 前記パワー調整を行なった後における、各パワー調整領域の最終アドレスを前記光ディスクの所定の領域に記録することを含む請求項１または２に記載の記録方法。
4. 請求項１ないし３のいずれかに記載の記録方法によって、データが記録される光ディスクであって、
   前記最終アドレスを記録する所定の領域と、
   当該光ディスクに記載された前記データを再生するために必要な情報を記録する再生情報領域とを有する光ディスク。
5. 前記第１のパワー調整領域と前記第２のパワー調整領域との間の前記領域の半径方向における位置が変更可能に構成されてなる請求項４に記載の光ディスク。
6. 請求項４または５に記載の光ディスクを再生する再生方法であって、
   前記再生情報領域に記録された前記情報に基づいて、前記光ディスクに記録された前記データを再生することを特徴とする再生方法。
7. データの記録に際して、当該記録時に照射される光のパワーの調整を行なうための領域であるパワー調整領域が設定される記録層を複数有し、各記録層に対するデータの書き換えが可能な光ディスクであって、
   第１の記録層のパワー調整領域である第１のパワー調整領域と、前記第１の記録層よりも前記光が入射する面から遠い位置に設けられる第２の記録層のパワー調整領域である第２のパワー調整領域との間に設けられる制限領域、
   前記パワー調整を行なった後における、各パワー調整領域の最終アドレスに対応する情報を記録するアドレス情報記録領域、
   当該光ディスクに記載された前記データを再生するために必要な情報を記録する再生情報領域とを有し、
   前記制限領域の位置は、当該光ディスクの半径方向において変更可能であることを特徴とする光ディスク。
   
   
   
   

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