JP2007122059A - 回折型光変調器を利用するディスプレイシステムにおける印加電圧調整装置 - Google Patents

Abstract

【課題】回折型光変調器に印加される電圧を、回折型光変調器が出射する回折光の強度を測定して調整することができる回折型光変調器を利用するディスプレイシステムにおける印加電圧調整装置を提供する。
【解決手段】光源系、照明光学部、回折型光変調器、投映及びスキャニング光学部、及びスクリーンを含むディスプレイシステムであって、回折型光変調器の圧電体に印加電圧が印加される場合、回折型光変調器から出射する回折光の強度を測定して出力する光強度測定部と、回折型光変調器の圧電体に印加電圧を印加し、それによる回折型光変調器から出力される回折光の強度を光強度測定部から受信し、受信した測定光強度と回折型光変調器の圧電体に印加電圧が印加される場合に測定されると予想される予想光強度とを比較して、回折型光変調器で所定の光強度を得るために印加されなければならない印加電圧を調整する印加電圧調整部とを備える。
【選択図】図１１

Description

本発明は回折型光変調器を利用するディスプレイシステムにおいて、回折型光変調器に印加される電圧を、回折型光変調器が出射する回折光の強度を測定して調整する印加電圧調整装置に関するものである。

次世代ディスプレイ装置として、各種平板ディスプレイ装置（ＦＰＤ：Ｆｌａｔ Ｐａｎｅｌ Ｄｉｓｐｌａｙ）に対する研究が活発に進んでおり、そのうち、一般化したディスプレイ装置には、液晶の電気光学的特性を用いる液晶ディスプレイ装置（ＬＣＤ：Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ）と、ガス放電を用いるプラズマディスプレイパネル（ＰＤＰ：Ｐｌａｓｍａ Ｄｉｓｐｌａｙ Ｐａｎｅｌ）などがある。

そのうち、液晶ディスプレイ装置（以下、“ＬＣＤ”という）は視野角が狭くて応答速度が遅いだけでなく、半導体製造工程を利用して薄膜トランジスタ（ＴＦＴ：Ｔｈｉｎ Ｆｉｌｍ Ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ）及び電極などを形成しなければならないので、工程が複雑であるという欠点がある。

プラズマディスプレイパネル（ＰＤＰ）は、製造工程が単純であるので、大面積化に有利であるという利点はあるが、電力消費が大きいのみならず、放電及び発光効率が低くて高価であるという欠点がある。

このような平板ディスプレイ装置の問題を解決することができる新しいディスプレイ装置の開発が進んでいるが、最近では極超微細加工技術である微小電気機械システム（Ｍｉｃｒｏ Ｅｌｅｃｔｒｏｍｅｃｈａｎｉｃａｌ Ｓｙｓｔｅｍ：以下、“ＭＥＭＳ”という）を利用して、ピクセル（Ｐｉｘｅｌ）ごとに微細な空間光変調器（Ｓｐａｔｉａｌ Ｌｉｇｈｔ Ｍｏｄｕｌａｔｏｒ；ＳＬＭ）を形成することによって、画像をディスプレイすることができるディスプレイ装置が提案されたことがある。

ここで、空間光変調器（ＳＬＭ）とは、電気的または光学的な入力に対応する空間パターンに入射光線を変造させる変換器である。入射光線は、これの位相、強度、偏光または方向に変調でき、光変造は、いろいろの電気光学または磁気光学効果のあるさまざまな物質、及び表面変形によって光線を変造させる物質によって達成することができる。

図１は従来技術によるオープンホール基盤の回折光変調器の斜視図である。

同図を参照すれば、従来技術によるオープンホール基盤の回折光変調器は基板１０１を含んでいる。

また、オープンホール基盤の回折光変調器は、基板１０１の上部に形成された絶縁層１０２を含んでいる。

また、オープンホール基盤の回折型光変調器は、絶縁層１０２の一部分に形成され、上側反射部（第１反射部）１０６ａ〜１０６ｎのホール１０６ａａ〜１０６ｎｂと上側反射部１０６ａ〜１０６ｎ間の空間とを通過して入射する光を反射する下部反射部（第２反射部）１０３を含んでいる。

また、オープンホール基盤の回折型光変調器は、両者間に下部反射部１０３が位置するように、基板１０１の表面に互いに離隔した位置に形成されている一対の側面支持部材１０４、１０４’を含んでいる。

また、オープンホール基盤の回折型光変調器は、一対の側面支持部材１０４、１０４’によって両側部がそれぞれ支持され、基板１０１から離隔しており、中央部位が上下移動可能であり、中央部位には、上側反射部１０６ａ〜１０６ｎに形成されたホール１０６ａａ〜１０６ｎｂに対応するホール（図示せず）が形成されており、アレイを形成する複数の積層体支持板１０５ａ〜１０５ｎを含んでいる。

また、オープンホール基盤の回折型光変調器は、積層体支持板１０５ａ〜１０５ｎの中央部位に形成され、中央にホール１０６ａａ〜１０６ｎｂを持っていることにより、入射する光を一部は反射し、一部はホール１０６ａａ〜１０６ｎｂを通じて通過させ、アレイを形成する上側反射部１０６ａ〜１０６ｎを含んでいる。

また、オープンホール基盤の回折型光変調器は、積層体支持板１０６ａ〜１０６ｎにそれぞれ互いに離隔して形成されており、側面支持部材１０４、１０４’の上部に位置し、積層体支持板１０６ａ〜１０６ｎを上下に移動させるための複数対の圧電体１１０ａ〜１１０ｎ、１１０ａ’〜１１０ｎ’を備えている。

ここで、一対の圧電体１１０ａ〜１１０ｎ、１１０ａ’〜１１０ｎ’は、下部電極層１１０ａａ〜１１０ｎａ、１１０ａａ’〜１１０ｎａ’、圧電材料層１１０ａｂ〜１１０ｎｂ、１１０ａｂ〜１１０ｎｂ’、及び上部電極層１１０ａｃ〜１１０ｎｃ、１１０ａｃ’〜１１０ｎｃに電圧が印加される場合、圧電材料層１１０ａｂ〜１１０ｎｂ、１１０ａｂ’〜１１０ｎｂ’の収縮と膨脹によって積層体支持板１０５ａ〜１０５ｎの中央部位が上下に動くことになり、これにより上側反射部１０６ａ〜１０６ｎも上下に動くことになる。便宜上、積層体支持板１０６ａ〜１０６ｎ、上側反射部１０６ａ〜１０６ｎ、及び一対の圧電体１１０ａ〜１１０ｎ、１１０ａ’〜１１０ｎ’のそれぞれを含むユニットをエレメントという。

一方、光がオープンホール回折型光変調器の上側反射部１０６ａ〜１０６ｎに入射する場合、上側反射部１０６ａ〜１０６ｎは、一部の光は反射し、一部の光はホール１０６ａａ〜１０６ｎｂを通じて通過させる。下部反射部１０３は、上側反射部１０６ａ〜１０６ｎのホール１０６ａａ〜１０６ｎｂを通じて通過してきた光を反射させることになる。

その結果、上側反射部１０６ａ〜１０６ｎで反射する反射光と下部反射部１０３で反射した反射光は多くの回折係数を有する回折光を形成することになる。入射光の波長がλとすれば、その回折光の強度は、上側反射部１０６ａ〜１０６ｎと下部反射部１０３間の段差（間隔）が、λ／４の奇数倍になる時に最大になり、偶数倍になる時に最小になる。

図２は図１のＡ−Ａ’線についての部分切断面を示す図で、第１上側反射部１０６ａと第２上側反射部１０６ｂの断面を示している。

図２において、上側反射部１０６ａ、１０６ｂと絶縁層上に形成された下部反射部１０３との間隔が第１間隔（ｎλ／２、ここで、λは入射光の波長、ｎは整数）になれば、最小の光強度となる。そして、上側反射部１０６ａ、１０６ｂと絶縁層上に形成された下部反射部１０３との間隔が第２間隔（λ／４＋ｎλ／２、ここで、λは入射光の波長、ｎは整数）であれば、最大の光強度となる。一方、最大の光強度を表示するために、実線で表示された第１上側反射部１０６ａはｌ_１またはＬ_１だけの変位がなければならなく、第２上側反射部１０６ｂはｌ_２またはＬ_２だけの変位がなければならない。

しかし、上側反射部１０６ａ、１０６ｂは、時間が経つにしたがい、ひんぱんな上下運動によって圧電体１１０ａ、１１０ａ’、１１０ｂ、１１０ｂ’に電圧が印加されない場合にも、実線で表示された初期位置でない点線で表示された位置にある場合が発生する。この場合には、最小光強度または最大光強度を得るために、第１上側反射部１０６ａ、１０６ｂはｌ_１’またはＬ_１’の変位がなければならなく、第２上側反射部１０６ｂ、１０６ｂ’はｌ_２’またはＬ_２’の変位がなければならない。

結論として、上側反射部１０６ａ〜１０６ｎ毎に、最小光強度または最大光強度を表示するための変位量に差がある。このような変位量を考慮しないで電圧を印加すれば、印加された電圧によって得られるものと予想される回折光の強度を得ることができなくなり、その結果、画質特性が劣化する。

したがって、前述した回折型光変調器のいろいろの応用で考慮しなければならないことは、回折型光変調器が、材料的／機械的変形が駆動中に発生する場合、初期に設定された印加電圧の基準と光強度の関係式が成立されない可能性が発生し、以後、このような変位量を考慮して電圧を印加しなければならないことである。

本発明は前記のような問題点を解決するためになされたもので、回折型光変調器を利用するディスプレイシステムにおいて、回折型光変調器に印加される電圧を、回折型光変調器が出射する回折光の強度を測定して調整することができる印加電圧調整装置を提供することをその目的とする。

このような目的を達成するための本発明の特徴は、光源系、照明光学部、回折型光変調器、投映及びスキャニング光学部、及びスクリーンを含み、回折型光変調器が第１反射部及び第１反射部と一定の間隔で配置された第２反射部を有し、第１反射部及び第２反射部で反射した反射光を用いて回折光を生成し、圧電材料からなる圧電体を利用して第１反射部と第２反射部間の間隔を可変させるディスプレイシステムにおいて、（イ）回折型光変調器の圧電体に印加電圧が印加される場合、回折光の強度を測定し、測定された強度を出力する光強度測定部と、（ロ）回折型光変調器の圧電体に印加電圧を印加し、印加電圧の印加によって回折型光変調器から出力される回折光の強度を光強度測定部から受信し、受信した測定光強度と回折型光変調器の圧電体に印加電圧が印加される場合に測定されると予想される予想光強度とを比較して、回折型光変調器から特定の光強度を得るために必要な印加電圧を調整する印加電圧調整部とを備える印加電圧調整装置であることを要旨とする。

以上説明したように、本発明によれば、回折型光変調器のエレメントの材料的／機械的変形及びその他の要因によって歪曲される光強度を補正することで、長期間のディスプレイ時に画質維持が可能になる効果がある。

以下、添付図面に基づいて、本発明の好適な実施の形態を詳細に説明する。

図３は本発明の実施の形態に係る印加電圧調整装置が備えられた携帯用端末機に応用される回折型光変調器を利用するディスプレイシステムのブロック構成図である。

図３に示すように、本発明の実施の形態に係る印加電圧調整装置が備えられた携帯用端末機に応用される回折型光変調器を利用するディスプレイシステムは、無線通信を行う無線通信部３１０、情報を入力するキー入力部３１２、映像データなどを記憶するメモリ３１４、映像イメージがディスプレイ部３２０に表示されるようにするか、あるいは１パネル方式の回折型光変調器を利用するディスプレイシステムである光変調器プロジェクター３３０のプロジェクション制御部３４０などを制御して、映像イメージがスクリーン３６０に投射されるようにするベースバンドプロセッサ３１６、具備したカメラなどから入力された映像を処理し、処理された映像イメージデータをベースバンドプロセッサ３１６に伝送するイメージセンサーモジュールプロセッサ３１８、ベースバンドプロセッサ３１６から映像イメージデータを入力され、入力された映像イメージを画面上に表示するディスプレイ部３２０、及びベースバンドプロセッサ３１６の制御によって、ベースバンドプロセッサ３１６から入力された映像イメージデータに基づき映像イメージを生成した後、生成された映像イメージを拡大してスクリーン３６０に投射する１パネル方式の光変調器プロジェクター３３０を含む。ここで、ベースバンドプロセッサ３１６を端末制御系と呼ぶことができる。

ここで、光変調器プロジェクター３３０は、ベースバンドプロセッサ３１６から入力された制御信号によって、ベースバンドプロセッサ３１６から入力された映像イメージデータによる映像を光変調光学系３５０が生成するように光変調光学系３５０を制御するプロジェクション制御部３４０と、プロジェクション制御部３４０から入力される制御信号によって、映像イメージを生成し、生成された映像イメージを拡大してスクリーン３６０に投射する光変調光学系３５０とを含む。ここで、プロジェクション制御部３４０は、回折型光変調器３５３の圧電体に所定の印加電圧を印加して、印加電圧の印加によって回折型光変調器３５３から出力される回折光の強度を光強度測定部３５７から受信し、受信した測定光強度と回折型光変調器３５３の圧電体に所定の印加電圧が印加される場合に測定されると予測される予想光強度とを比較して、回折型光変調器３５３から所望の光強度を得るために必要な印加電圧を調整する印加電圧調整部として機能する。光強度測定部３５７は、回折型光変調器３５３の圧電体に印加電圧が印加される場合に、回折型光変調器３５３から出力される回折光の強度を測定し、測定された強度を印加電圧調整部であるプロジェクション制御部３４０に出力する
プロジェクション制御部３４０は、一例として図４Ａに示すように、映像入力部４００、映像ピボット部４０２、映像データ保存部４０３、ガンマ基準電圧保存部４０４、映像補正及び制御部４０６、エレメント別補正データ保存部４０８、映像データ出力部４１０、映像同期信号出力部４１２、印加電圧出力部４３０、光源制御部４１６、スキャニング制御部４１８、基準電圧再設定装置４２０、光変調器駆動回路４２２、光源駆動回路４２４、及びスキャナ駆動回路４２６を備えている。印加電圧出力部４３０は、上側電極基準電圧補正部４１４及び下側電極基準電圧出力部４１５を備える。

前記プロジェクション制御部３４０の他の例としては、図４Ｂに示すように、映像入力部４００、映像ピボット部４０２、映像データ保存部４０３、ガンマ基準電圧保存部４０４、映像補正及び制御部４０６、エレメント別補正データ保存部４０８、映像データ出力部４１０、映像同期信号出力部４１２、印加電圧出力部４３０’、光源制御部４１６、スキャニング制御部４１８、基準電圧再設定装置４２０’、光変調器駆動回路４２２、光源駆動回路４２４、及びスキャナ駆動回路４２６を備えている。印加電圧出力部４３０’は、上側電極基準電圧出力部４１４’、下側電極基準電圧補正部４１５’を備える。

映像入力部４００と映像ピボット部４０２は、光変調光学系３５０と端末制御系とのインターフェース機能をする。

そして、光変調光学系３５０は、ＲＧＢ光源を生成して出射する光源系３５１、光源系３５１から出射した光を回折型光変調器３５３に入射させる照明光学部３５２、照明光学部３５２に入射した光を回折させて映像イメージを生成する回折型光変調器３５３、回折型光変調器３５３で生成された複数次数の回折光のうち、所望次数の回折光を通過させるシュリーレン光学部３５４、シュリーレン光学部３５４を通過した回折光からなる映像イメージをスクリーン３６０に投射する投映及びスキャニング光学部３５５、シュリーレン光学部３５４の後に位置し、シュリーレン光学部３５４を通過した回折光の大部分を投映及びスキャニング光学部３５５に通過させ、一部は光強度測定部３５７に向かうようにする半透過性反射部３５６、及び半透過性反射部３５６で反射して入射する回折光の強度を測定して出力する光強度測定部３５７を含む。すなわち、照明光学部３５２が入射した光を回折させて、複数の回折次数を有する回折光を形成することになる。この際、複数回折次数の回折光のいずれか一次数または複数次数の回折光が所望の映像イメージを生成することになる。尚、回折型光変調器３５３としては、例えば図１に示した回折型光変調器３５３を採用可能であり、回折型光変調器３５３の有する圧電体は、下部電極層と、下部電極層上に配置された圧電材料層と、圧電材料層上に配置された上部電極層とを含む。

以下、図３、図４Ａ及び図４Ｂを参照して、光変調プロジェクターを利用する携帯用端末機のプロジェクション動作について簡略に説明する。

まず、使用者がキー入力部３１２を使って映像イメージを拡大してスクリーンに投射するプロジェクションモードを選択し（このようなプロジェクションモードはメニューを通じて使用者に提供される）、スクリーン３６０に投射したい映像イメージを使用者が選択すれば、ベースバンドプロセッサ３１６は、使用者が選択した映像の映像イメージデータをプロジェクション制御部３４０に伝送する。

そして、ベースバンドプロセッサ３１６は、プロジェクション制御部３４０にプロジェクションモード制御信号を伝送し、プロジェクション制御部３４０に入力された映像イメージデータによる駆動信号を光源系３５１と回折型光変調器３５３に伝送するようにする。

すなわち、プロジェクション制御部３４０の映像入力部４００は、ベースバンドプロセッサ３１６から映像イメージデータを入力されると同時に垂直同期信号（Ｖｓｙｎｃ）と水平同期信号（Ｈｓｙｎｃ）を受信する。

そして、プロジェクション制御部３４０の映像ピボット部４０２は、横方向に整列されている映像イメージデータを縦方向に変換するデータトランスポーズを行うことで、横方向に入力された映像イメージデータを縦方向の映像イメージデータに変換して出力する。このように映像ピボット部３０２でデータトランスポーズが必要な理由は、回折型光変調器３５３から出射する走査線は複数のピクセル（一例として、入力される映像データが４８０×６４０である場合、４８０個のピクセル）に対応するスキャニング回折点光が縦に配列されているので、横方向にスキャンして表示するようになっているからである。

すなわち、図５Ａのように、標準映像データは横方向に整列されている。しかし、回折型光変調器３５３は、例えば図１に示すように、複数の上側反射部が縦方向に配列されているため、複数映像データを横方向にスキャニングしながら表示するようになっている。

したがって、回折型光変調器３５３を利用して４８０×６４０個のピクセルからなる１フレームの映像を走査線でスキャニングして形成するためには、４８０個の縦方向に配列されたデータを必要とする。

言い換えれば、図５Ａは４８０×６４０ピクセルで構成される１フレームの映像データの構造を示す。図５Ａに示す映像データは、外部から横方向に、（０，０）、（０，１）、（０，２）、（０，３）、・・・の順に入力される。

しかし、回折型光変調器３５３を利用してスキャニングするためには、４８０個の縦方向に配列されたデータが要求されるので、図５Ｂに示すように、入力される映像データは横方向配列から縦方向配列にトランスポーズされなければならない。

そして、映像補正及び制御部４０６は、スキャニング時間の間には、映像ピボット部４０２によってデータトランスポーズされて映像データ保存部４０３に保存された映像データを第1列から最後列まで順次読み取って出力する。

また、映像補正及び制御部４０６は、映像ピボット部４０２から映像イメージデータが入力されれば、エレメント別補正データ保存部４０８に保存されたエレメント別補正データテーブルによる補正を行い、補正された映像イメージデータを映像データ出力部４１０に出力する。

ガンマ基準電圧保存部４０４には、上部電極（ガンマ）基準電圧と下部電極（ガンマ）基準電圧が保存されている。

ここで、ガンマ基準電圧保存部４０４に保存された上部電極基準電圧とは、回折型光変調器３５３の光変調器駆動回路４２２がエレメント別に映像データの階調度による印加電圧を出力する時に参照する上部電極基準電圧を意味する。

そして、ガンマ基準電圧保存部４０４に保存された下部電極基準電圧とは、回折型光変調器３５３の下部電極層に印加される下部電極基準電圧を意味する。

このようなガンマ基準電圧保存部４０４に上部電極基準電圧を保存し、回折型光変調器３５３の光変調器駆動回路４２２が階調度による印加電圧を出力する時に参照するようにする必要がある理由は、回折型光変調器３５３から出射する回折光の強度が、印加される電圧の電圧レベルによって線形的に変化しなく非線形的に変化する図６に示すガンマ特性を有するからである。すなわち、図６の光強度履歴曲線を参照すれば、得ようとする光強度が線形的に変化するのに対し、光強度Ｐ_１、Ｐ_２、・・・、Ｐ_nの間隔が一定である場合、印加すべき電圧Ｒ_１、Ｒ_２、・・・、Ｒ_ｎは一定間隔を有さず、非線形性を示す。そのため、ガンマ基準電圧保存部４０４に上部電極基準電圧を保存して、回折型光変調器３５３の光変調器駆動回路４２２が階調度による印加電圧を出力する時に参照するようにする必要がある。

そして、ガンマ基準電圧保存部４０４に保存されている上部電極基準電圧はそれぞれの光源に対して決まっている。一例として、Ｒ光源に対してＲ_１〜Ｒ_ｎのＲ上部電極基準電圧が、Ｇ光源に対してＧ_１〜Ｇ_ｎのＧ上部電極基準電圧が、そしてＢ光源に対してＢ_１〜Ｂ_ｎのＢ上部電極基準電圧が決まっている。

そして、ガンマ基準電圧保存部４０４に保存されている下部電極基準電圧はそれぞれの光源に対して決まっている。一例として、Ｒ光源に対してＲＬのＲ下部電極基準電圧が、Ｇ光源に対してＧＬのＧ下部電極基準電圧が、Ｂ光源に対してＢＬのＢ下部電極基準電圧が決まっている。

光変調器駆動回路４２２は、図４Ａを参照すれば、映像データ出力部４１０から映像イメージデータとして階調度が入力されれば、これに対応する上部電極電圧を得るために、上側電極基準電圧補正部４１４から出力される上部電極基準電圧を参照する。この際、上側電極基準電圧補正部４１４は、ガンマ基準電圧保存部４０４に保存されている上部電極基準電圧を読み取り、この読み取られた上部電極基準電圧を補正した後、補正された上部電極基準電圧を光変調器駆動回路４２２に出力する。ここで、上側電極基準電圧補正部４１４で上部電極基準電圧を補正する理由については以後に詳細に説明する。そして、ガンマ基準電圧保存部４０４に保存されている下部電極基準電圧は回折型光変調器３５３の下部電極層に印加される。この際、下側電極基準電圧出力部４１５は、ガンマ基準電圧保存部４０４に保存されている下部電極基準電圧を読み取って回折型光変調器３５３の下部電極層に出力する。このようになれば、回折型光変調器３５３のそれぞれのエレメントの駆動電圧は、光変調器駆動回路４２２から出力する上部電極電圧と下側電極基準電圧出力部４１５から下部電極層に印加される下部電極電圧との差が駆動電圧（印加電圧）になるものである。

一方、図４Ｂを参照すれば、光変調器駆動回路４２２は、映像データ出力部４１０から映像イメージデータとして階調度が入力されれば、これに対応する上部電極基準電圧を得るために、上側電極基準電圧出力部４１４’から出力する上部電極基準電圧を参照する。この際、上側電極基準電圧出力部４１４’は、ガンマ基準電圧保存部４０４に保存されている上部電極基準電圧を読み取り、この読み取られた上部電極基準電圧を光変調器駆動回路４２２に出力する。そして、下側電極基準電圧補正部４１５’は、ガンマ基準電圧保存部４０４に保存されている下部電極基準電圧を読み取り、読み取られた下部電極基準電圧を補正値によって補正した後、補正された下部電極基準電圧を回折型光変調器３５３の下部電極層に出力する。ここで、下側電極基準電圧補正部４１５’で下部電極基準電圧を補正する理由については以後に詳細に説明する。このようにすれば、回折型光変調器３５３のそれぞれのエレメントの駆動電圧は、光変調器駆動回路４２２から出力する上部電極電圧と下側電極基準電圧補正部４１５’から下部電極層に印加される下部電極電圧との電圧差になる。

一方、上部電極基準電圧と下部電極基準電圧は、回折型光変調器３５３が製造される時に、回折型光変調器３５３を一定電圧範囲で繰り返し駆動した後、光強度検出器（たとえば、フォトセンターなど）を利用してエレメント別光強度を得、図６に示すように、これによってエレメント別光強度履歴曲線を構成することにより得られる。この時に得られた相異なる三つのエレメントに対する光強度履歴曲線の一例を図７に示す。ここで、エレメント１の場合、光強度が最小の電圧はＶ_{P１ｍｉｎ}で、光強度が最大の電圧はＶ_{P１ｍａｘ}であり、エレメント２の場合、光強度が最小の電圧はＶ_{P２ｍｉｎ}で、光強度が最大の電圧はＶ_{P２ｍａｘ}であり、エレメント３の場合、光強度が最小の電圧はＶ_{P３ｍｉｎ}で、光強度が最大の電圧はＶ_{P３ｍａｘ}である。

このように、試験者が選択した上部電極基準電圧をガンマ基準電圧保存部４０４に入力すれば、入力された上部電極基準電圧がガンマ基準電圧保存部４０４に保存される。また、試験者は、このような上部電極基準電圧範囲の基準になる下部電極基準電圧を決めてガンマ基準電圧保存部４０４に保存する。この際、試験者は基準電圧再設定装置４２０または４２０’が基準電圧を再設定するのに利用できるように、すべての上側反射部に対する光強度（曲線）を平均した平均光強度（曲線、図８に示す）を基準電圧再設定装置４２０または４２０’に提供する。

一方、エレメント別補正データ保存部４０８に保存されたエレメント別補正データは、映像補正及び制御部４０６が映像ピボット部４０２から入力される映像イメージデータを補正し、補正された出力映像イメージデータを生成するために参照するもので、図９に示すようにテーブルに作成することができる。

図９の補正データテーブルを見れば、外部入力映像階調度（入力映像イメージデータ）があり、そのそれぞれに対して補正された映像階調度（補正された出力映像イメージデータ）がエレメント別に決まっていることが分かる。

一例として、エレメント１の場合、入力映像階調度が０であれば、補正された映像階調度として５が出力され、１であれば６、２５４であれば２４９、２５５であれば２５０が出力されるようになっている。このようなエレメント別補正データが必要な理由を知るために算出過程を理解する必要があるが、その算出過程を理解するためには、回折型光変調器３５３のディスプレイ応用において光変調器駆動回路４２２の動作を理解する必要がある。

光変調器駆動回路４２２は、階調度が入力されれば、上側電極基準電圧補正部４１４（または上側電極基準電圧出力部４１４’）から出力される上部電極基準電圧を参照して上部電極電圧を決める。この際、一例として、Ｒ光源に対して上部電極基準電圧をＲ１〜Ｒｎとすれば、光変調器駆動回路４２２は、階調０が入力されれば電圧Ｒ１を出力し、階調２５５が入力されれば電圧Ｒｎを出力し、０と２５５間の値が入力されれば、前もって決まった駆動電圧を出力する。ところで、図７から分かるように、上部電極基準電圧をエレメント別に最小電圧と最大電圧に設定しないで最小電圧と最大電圧を共に含むように設定したから、逆にエレメント別補正データを算出しなければならない。これをエレメント１についてだけ光強度履歴曲線を示す図１０を参照して説明すれば、外部から入力される階調度が例えば０である場合、０を補正しないで光変調器駆動回路４２２に印加すれば、出力電圧はＲ１になり、この際、実際のエレメント１が出力する光強度は１５になる。したがって、このような不一致を解決するために、実際エレメント１が０の光強度を出射するＶ_{P１ｍｉｎ}に対応する対応階調度１０を光変調器駆動回路４２２に出力すれば良い。

結論として、エレメント別補正データ保存部４０８は、前述した方式によって、外部から入力される入力映像階調度を補正することができる補正映像階調度を図９に示すようなテーブルに作成して保存している。

一方、映像補正及び制御部４０６は、映像ピボット部４０２から入力された垂直同期信号と水平同期信号を映像同期信号出力部４２５に出力する。

また、映像補正及び制御部４０６は、光源制御部４１６に光源スイッチング制御信号を出力し、光源制御部４１６が光源駆動回路４２４を制御して光源をスイッチングするようにし、スキャニング制御部４１８にスキャニング制御信号を出力し、スキャニング制御部４１８がスキャナ駆動回路４２６を駆動するようにする。

すると、光変調器駆動回路４２２は、映像データ出力部４１０から映像イメージデータ階調度を受信し、上側電極基準電圧補正部４１４（または上側電極基準電圧出力部４１４’）から出力される上部電極基準電圧を参照して駆動電圧を決定し、決定された駆動電圧を回折型光変調器３５３に出力する。

一方、本発明の実施の形態に係る基準電圧再設定装置４２０は、図４Ａの上側電極基準電圧補正部４１４に保存されている上部電極基準電圧補正値を再設定する。

ここで、まず上部電極基準電圧の補正値の再設定が必要な理由は、時間が経つにしたがって回折型光変調器３５３のエレメントの動特性が変化するからである。よって、基準電圧再設定装置４２０は、回折型光変調器３５３のすべてのエレメントに一定の階調度を供給した後、例えば０または２５５を供給した後、それによる光強度を測定して光強度曲線の変異程度を検出した後、光強度曲線の変異による上部電極基準電圧を補正することができるように、補正値を再設定する。ここでは、基準電圧再設定装置４２０が上側電極基準電圧補正部４１４に保存されている補正値を再設定するように具現したが、これとは異なり、ガンマ基準電圧保存部４０４に保存されている上部電極基準電圧を再設定することもできる。

一方、基準電圧再設定装置４２０’は、図４Ｂの下側電極基準電圧補正部４１５’に保存されている下部電極基準電圧補正値を再設定する。

ここで、下部電極基準電圧の補正値の再設定が必要な理由は、時間が経つにしたがって回折型光変調器３５３のエレメントの動特性が変化するからである。よって、基準電圧再設定装置４２０’は、回折型光変調器３５３のすべてのエレメントに一定の階調度を供給した後、例えば０または２５５を供給した後、それによる光強度を測定して光強度曲線の変異程度を検出した後、光強度曲線の変異による下部電極基準電圧を補正することができるように補正値を再設定する。ここでは、基準電圧再設定装置４２０’が下側電極基準電圧補正部４１５’に保存されている補正値を再設定するように具現したが、これとは異なり、ガンマ基準電圧保存部４０４に保存されている下部電極基準電圧を再設定することもできる。

図１１は本発明の実施の形態に係る印加電圧調整装置の内部ブロック図、図１２は本発明の実施の形態に係る印加電圧調整方法のフローチャートである。

図１１に示した印加電圧調整装置は、光強度測定部３５７と基準電圧再設定装置４２０とから構成され、基準電圧再設定装置４２０は、光強度保存部４３１、光強度変異検出部４３２、及び再設定部４３３を備えている。

光強度保存部４３１は、回折型光変調器３５３の圧電体に所定の印加電圧が印加される場合に測定されると予想される予想光強度を保存する。光強度変異検出部４３２は、回折型光変調器３５３の圧電体に所定の印加電圧が印加される場合に回折型光変調器３５３から出力される回折光の強度を光強度測定部３５７から受信し、受信した測定光強度と光強度保存部４３１に保存された予想光強度とを比較して、ガンマ基準電圧保存部４０４に保存された回折型光変調器３５３に印加されなければならない上部電極基準電圧を調整するための補正値を出力する。再設定部４３３は、光強度変異検出部４３２から出力される補正値を用いて、回折型光変調器３５３に印加される上部電極基準電圧に加わる補正値を調整する。

ここで、光強度測定部３５７はフォトセンサなどが使用可能であり、回折型光変調器のすべてのエレメントに同一階調度の駆動電圧が印加される場合（図１２のフローチャートのステップＳ１１０）、回折型光変調器のすべてのエレメントから出射する回折光の平均光強度を検出して出力する（ステップＳ１１２）。

すると、光強度変異検出部４３２は、光強度保存部４３１を参照して光強度変異量を検出する（ステップＳ１１４）。図１３に示すように、すべてのエレメントに０の階調度が入力された時、光強度Ｐ_１が出力されなければならないがＰ_２が出力されたら、所望の光強度の出力を得るためには、さらに低い電圧を加えなければならないことが分かり、それによって電圧変異量ΔＶ１を出力し、これにより、再設定部４３３は、上部電極基準電圧をＲ_F１〜Ｒ_Fｎに再設定するように、上側電極基準電圧補正部４１４にある補正値を−ΔＶ１に再設定する（ステップＳ１１６）。すると、上側電極基準電圧補正部４１４は、上部電極基準電圧を出力する時、ガンマ基準電圧保存部４０４に保存されている上部電極基準電圧に補正値ΔＶ１を引き算して出力し、補正された上部電極基準電圧値を出力する。このようにすれば、所望の回折光の強度を得ることができる。

また、光強度変異検出部４３２は、すべてのエレメントに０の階調度が入力された時、光強度Ｐ_１が出力されなければならないが、Ｐ_３が出力されたら、所望の光強度の出力を得るためには、さらに高い電圧を印加しなければならないことが分かり、それによって電圧変異量ΔＶ２を出力し、これにより、再設定部４３３は、基準電圧をＲ_S１〜Ｒ_Sｎで出力することができるように、上側電極基準電圧補正部４１４にある補正値をΔＶ２に設定する（ステップＳ１１６）。すると、上側電極基準電圧補正部４１４は、上部電極基準電圧を出力する時、ガンマ基準電圧保存部４０４に保存されている上部電極基準電圧に補正値ΔＶ２を加算して出力し、補正された上部電極基準電圧値を出力する。このようにすれば、所望の回折光の強度を得ることができる。

図１４は本発明の実施の形態に係る印加電圧調整装置の内部ブロック図の他の例、図１５は本発明の実施の形態に係る印加電圧調整方法のフローチャートの他の例である。

図１４に示した印加電圧調整装置は、光強度測定部３５７と基準電圧再設定装置４２０’とから構成され、基準電圧再設定装置４２０’は、光強度保存部４３１’、光強度変異検出部４３２’、及び再設定部４３３’を備えている。

ここで、光強度測定部３５７はフォトセンサなどが使用可能であり、回折型光変調器のすべてのエレメントに同一階調度の駆動電圧が印加される場合（図１５のフローチャートのステップＳ２１０）、回折型光変調器のすべてのエレメントから出射する回折光の平均光強度を検出して出力する（ステップＳ２１２）。

すると、光強度変異検出部４３２’は、光強度保存部４３１’を参照して光強度変異量を検出する（ステップＳ２１４）。図１６Ａに示すように、すべてのエレメントに０の階調度が入力された時、光強度Ｐ_１が出力されなければならないが、Ｐ_２が出力されたら、所望の光強度の出力を得るためには、さらに低い電圧を印加しなければならないことが分かり、それによって電圧変異量ΔＶ１を出力する。これにより、再設定部４３３’は、下側電極基準電圧補正部４１５’に保存されている補正値をΔＶ１に再設定し（ステップＳ２１６）、図１６Ｂに示すように、下部電極基準電圧がΔＶ１になるようにする。このようにすれば、下側電極基準電圧補正部４１５’から出力される下部電極基準電圧がΔＶ１だけ移動し、図１６Ｂに示すように、上部電極基準電圧をＶ_ｔｍｉｎ〜Ｖ_ｔｍａｘに調整しなくても、エレメントの上部電極層に印加される上部電極電圧がＲ_F１〜Ｒ_Fｎに再設定されることにより、回折型光変調器の動特性の変化に対応することができるので、所望の回折光の強度を得るために印加されなければならない印加電圧を正確に得ることができる。

また、光強度変異検出部４３２’は、すべてのエレメントに０の階調度が入力された時、光強度Ｐ１が出力されなければならないが、Ｐ３が出力されたら、所望の光強度の出力を得るためには、さらに高い電圧を印加しなければならないことが分かり、それによって電圧変異量ΔＶ２を出力する。

これにより、再設定部４３３’は、下側電極基準電圧補正部４１５’に保存されている補正値を−ΔＶ２に再設定して（ステップＳ２１６）、図１６Ｂに示すように、下部電極基準電圧が−ΔＶ２になるようにする。このようにすれば、下側電極基準電圧補正部４１５’から出力される下部電極基準電圧が−ΔＶ２だけ移動することになることにより、図１６Ｂに示すように、上部電極基準電圧をＶ_ｔｍｉｎ〜Ｖ_ｔｍａｘに調整しなくても、エレメントの上部電極層に印加される上部電極電圧がＲ_S１〜Ｒ_Sｎに再設定され、回折型光変調器の動特性の変化に対応することができるので、所望の回折光の強度を得るために印加されなければならない印加電圧を正確に得ることができる。

上記では、すべての上側反射部の階調度が０である場合について説明したが、０だけでなく、２５５及びその他のどんな一定の階調度も使用することができることは勿論である。

一方、光強度を検出するために、光強度測定部３５７はフォトセンサが使用可能であり、図３に示すように、シュリーレン光学部３５４の後端に半透過性反射部３５６を備えて、一部の反射光を受けて光強度を検出することができる。

また、光強度を検出するための光強度測定部３５７は、図１７に示すように、スクリーン１４００の前端にフォトセンサ１４０１を設置することで、回折型光変調器が出射する回折光の強度を測定することができる。ここで、フォトセンサ１４０１の前端には集光レンズ１４０３が位置することにより、すべてのエレメントに対応する回折光が集光されて、全体回折光に対する光強度を得ることができるようにしている。

この際、光学系の投映及びスキャニング光学部がポリゴンミラー１４０２を使用する場合、図１８に示すように、ポリゴンミラー１４０２の反射面を光強度測定面と映像有効面に分け、回折光が光強度測定面に入射する場合、回折型光変調器のエレメント別階調を０に統一し、フォトセンサ１４０１を、光強度測定面で反射する回折光を測定することができる位置に位置させることで、光強度を測定する。ここでは、投映及びスキャニング光学部の一例としてポリゴンミラー１４０２について説明したが、その他にもガルバノメーターミラーとＭＥＭＳスキャナなども使用可能であることは勿論である。前述したように、光強度を測定するために、映像補正及び制御部４０６が上部電極基準電圧を調整するための光強度を測定するために必要な時間の間に提供される階調度とその以後に提供される階調度のデータタイミング図を図１９に示す。図１９に示すように、光強度測定面に回折光が入射する時間の間には、Ｒ光源０階調データ、またはＧ光源０階調データ、またはＢ光源０階調データが提供され、映像有効面に回折光が入射する時間の間には、Ｒ映像データ、またはＧ映像データ、またはＢ映像データが提供される。

本発明は、回折型光変調器に印加される電圧を、回折型光変調器が出射する回折光の強度を測定して調整することができる回折型光変調器を利用するディスプレイシステムにおける印加電圧調整装置に適用可能である。

従来技術によるオープンホール基盤の回折光変調器の斜視図である。 図１のＡ−Ａ’線についての部分切断面を示すもので、第１上側反射部と第２上側反射部の断面図である。 本発明の実施の形態に係る印加電圧調整装置が備えられた携帯用端末機に応用される回折型光変調器を利用するディスプレイシステムのブロック構成図である。 図３に示したプロジェクション制御部のブロック構成図の例である。 図３に示したプロジェクション制御部のブロック構成図の他の例である。 ４８０×６４０ピクセルで構成される１フレームの映像データの構造を示す構造図である。 入力される映像データが横方向配列から縦方向配列にトランスポーズされた構造図である。 回折型光変調器において、回折光の強度対印加電圧を示すグラフである。 回折型光変調器のエレメント別に印加される電圧対光強度を示すグラフである。 回折型光変調器に印加される印加電圧対平均光強度グラフである。 エレメント別補正データ保存部に保存された補正テーブルである。 エレメント別補正データ算出過程を説明するためのグラフである。 本発明の実施の形態に係る印加電圧調整装置の内部ブロック図の例である。 本発明の実施の形態に係る印加電圧調整方法のフローチャートの例である。 図１１に示した基準電圧再設定装置が基準電圧を再設定する過程を説明するためのグラフである。 本発明の実施の形態に係る印加電圧調整装置の内部ブロック図の他の例である。 本発明の実施の形態に係る加電圧調整方法のフローチャートの他の例である。 図１４に示した基準電圧再設定装置が基準電圧を再設定する過程を説明するためのグラフである。 図１４に示した基準電圧再設定装置が基準電圧を再設定する過程を説明するためのグラフである。 光強度測定に使用されるポリゴンミラーとフォトセンサを示す図である。 ポリゴンミラーの拡大図である。 映像補正及び制御部が出力する映像階調データのタイミング図である。

符号の説明

３１０ 無線通信部
３１２ キー入力部
３１４ メモリ
３１６ ベースバンドプロセッサ
３１８ イメージセンサーモジュールプロセッサ
３２０ ディスプレイ部
３２２ マルチメディアプロセッサ
３４０ プロジェクション制御部
３５０ 光変調光学系
３５１ 光源系
３５２ 照明光学部
３５３ 回折型光変調器
３５４ シュリーレン光学部
３５５ 投映及びスキャニング光学部
３５６ 半透過性反射部
３５７ 光強度測定部
４００ 映像入力部
４０２ 映像ピボット部
４０３ 映像データ保存部
４０４ ガンマ基準電圧保存部
４０６ 映像補正及び制御部
４０８ エレメント別補正データ保存部
４１０ 映像データ出力部
４１２ 映像同期信号出力部
４１４ 上側電極基準電圧補正部
４１４’ 上側電極基準電圧出力部
４１５ 下側電極基準電圧出力部
４１５’ 下側電極基準電圧補正部
４１６ 光源制御部
４１８ スキャニング制御部
４２２ 光変調器駆動回路
４２４ 光源駆動回路
４２６ スキャナ駆動回路
４３１、４３１’ 光強度保存部
４３２、４３２’ 光強度変異検出部
４３３、４３３’ 再設定部

Claims (19)

1. 光源系、照明光学部、回折型光変調器、投映及びスキャニング光学部、及びスクリーンを含み、前記回折型光変調器が第１反射部及び前記第１反射部と一定の間隔で配置された第２反射部を有し、前記第１反射部及び前記第２反射部で反射した反射光を用いて回折光を生成し、圧電材料からなる圧電体を利用して前記第１反射部と前記第２反射部間の間隔を可変させるディスプレイシステムにおいて、
   前記回折型光変調器の前記圧電体に印加電圧が印加される場合、前記回折光の強度を測定し、測定された前記強度を出力する光強度測定部と、
   前記回折型光変調器の前記圧電体に前記印加電圧を印加し、前記印加電圧の印加によって前記回折型光変調器から出力される前記回折光の前記強度を前記光強度測定部から受信し、受信した測定光強度と前記回折型光変調器の前記圧電体に前記印加電圧が印加される場合に測定されると予想される予想光強度とを比較して、前記回折型光変調器から特定の光強度を得るために必要な印加電圧を調整する印加電圧調整部
   とを備えることを特徴とする印加電圧調整装置。
2. 前記光強度測定部は、フォトセンサを含むことを特徴とする請求項１に記載の印加電圧調整装置。
3. 前記回折型光変調器の後端に位置し、前記回折光の大部分を前記投映及びスキャニング光学部に通過させ、前記回折光の残りの部分を前記光強度測定部に入射させる半透過性反射部を更に含み、
   前記光強度測定部は、前記半透過性反射部から入射する回折光の強度を測定することを特徴とする請求項１に記載の印加電圧調整装置。
4. 前記光強度測定部は、フォトセンサであることを特徴とする請求項３に記載の印加電圧調整装置。
5. 前記光強度測定部は、前記スクリーンの一方の端に配置されることを特徴とする請求項１に記載の印加電圧調整装置。
6. 前記回折型光変調器の前記圧電体は、下部電極層と、前記下部電極層上に配置された圧電材料層と、前記圧電材料層上に配置された上部電極層とを含み、
   前記印加電圧調整部は、前記上部電極層に印加される電圧値を調整することを特徴とする、請求項１に記載の印加電圧調整装置。
7. 前記印加電圧調整部は、
   前記回折型光変調器の前記圧電体の前記上部電極層に印加される上部電極基準電圧と前記下部電極層に印加される下部電極基準電圧とを保存する基準電圧保存部と、
   前記基準電圧保存部に保存されている前記上部電極基準電圧に補正値を加え、補正された上部電極基準電圧を出力し、前記下部電極基準電圧を出力する印加電圧出力部と、
   前記回折型光変調器の前記圧電体に前記印加電圧を印加する映像制御部と、
   前記回折型光変調器の前記圧電体に前記印加電圧が印加される場合に前記回折型光変調器から出力される回折光の前記強度を前記光強度測定部から受信し、受信した測定光強度と前記回折型光変調器の前記圧電体に前記印加電圧が印加される場合に測定されると予想される予想光強度とを比較して、前記基準電圧保存部に保存された前記回折型光変調器に印加される上部電極基準電圧を調整するために使用される前記印加電圧出力部の補正値を調整する基準電圧再設定装置
   とを備えることを特徴とする請求項６に記載の印加電圧調整装置。
8. 前記印加電圧出力部は、
   前記基準電圧保存部に保存されている前記上部電極基準電圧に前記補正値を加えて出力する上側電極基準電圧補正部と、
   前記基準電圧保存部に保存されている下部電極基準電圧を出力する下側電極基準電圧出力部
   とを備えることを特徴とする請求項７に記載の印加電圧調整装置。
9. 前記基準電圧再設定装置は、
   前記回折型光変調器の前記圧電体に前記印加電圧が印加される場合に測定されると予想される予想光強度を保存する光強度保存部と、
   前記回折型光変調器の前記圧電体に前記印加電圧が印加される場合に前記回折型光変調器から出力される回折光の強度を前記光強度測定部から受信し、受信された測定光強度と前記回折型光変調器の前記圧電体に前記印加電圧が印加される場合に測定されると予想される前記光強度保存部の前記予想光強度とを比較して、前記基準電圧保存部に保存された前記回折型光変調器に印加されなければならない上部電極基準電圧を調整するための補正値を出力する光強度変異検出部と、
   前記光強度変異検出部が出力する前記補正値を用いて、前記回折型光変調器に印加される前記印加電圧出力部に保存された上部電極基準電圧に加える補正値を調整する再設定部
   とを備えること特徴とする請求項７に記載の印加電圧調整装置。
10. 前記印加電圧調整部は、
    前記回折型光変調器の前記圧電体の前記電極層に印加される上部電極基準電圧と前記下部電極層に印加される下部電極基準電圧とを保存する基準電圧保存部と、
    前記基準電圧保存部に保存されている前記電極基準電圧と前記電極基準電圧とを出力する印加電圧出力部と、
    前記回折型光変調器の前記圧電体に前記印加電圧を印加する映像制御部と、
    前記回折型光変調器の前記圧電体に前記印加電圧が印加される場合に前記回折型光変調器から出力される回折光の強度を前記光強度測定部から受信し、受信した測定光強度と前記回折型光変調器の前記圧電体に前記印加電圧が印加される場合に測定されると予想される予想光強度とを比較して、前記基準電圧保存部に保存された前記回折型光変調器で所定の光強度を得るために印加されなければならない上部電極基準電圧を調整する基準電圧再設定装置
    とを備えることを特徴とする請求項６に記載の印加電圧調整装置。
11. 前記印加電圧出力部は、
    前記基準電圧保存部に保存されている前記上部電極基準電圧を出力する上側電極基準電圧補正部と、
    前記基準電圧保存部に保存されている前記下部電極基準電圧を出力する下側電極基準電圧出力部
    とを備えることを特徴とする請求項１０に記載の印加電圧調整装置。
12. 前記基準電圧再設定装置は、
    前記回折型光変調器の前記圧電体に前記印加電圧が印加される場合に測定されると予想される予想光強度を保存する光強度保存部と、
    前記回折型光変調器の前記圧電体に前記印加電圧が印加される場合に前記回折型光変調器から出力される回折光の強度を前記光強度測定部から受信し、受信した測定光強度と前記回折型光変調器の前記圧電体に前記印加電圧が印加される場合に測定されると予想される前記光強度保存部の前記予想光強度とを比較して、前記回折型光変調器から所定の光強度を得るために印加されなければならない前記基準電圧保存部に保存された前記上部電極電圧を調整するための補正値を出力する光強度変異検出部と、
    前記光強度変異検出部が出力する補正値を用いて、前記基準電圧保存部に保存された前記回折型光変調器に印加される上部電極基準電圧を調整する再設定部
    とを備えることを特徴とする請求項１０に記載の印加電圧調整装置。
13. 前記回折型光変調器の前記圧電体は、下部電極層と、前記下部電極層上に配置された圧電材料層と、前記圧電材料層上に配置されている上部電極層とを含み、
    前記印加電圧調整部は、前記下部電極層に印加される電圧値を調整することを特徴とする請求項１に記載の印加電圧調整装置。
14. 前記印加電圧調整部は、
    前記回折型光変調器の前記上部電極層に印加される上部電極基準電圧と前記下部電極層に印加される下部電極基準電圧とを保存する基準電圧保存部と、
    前記基準電圧保存部に保存されている前記上部電極基準電圧を出力し、前記下部電極基準電圧に補正値を加え、補正された下部電極基準電圧を出力する印加電圧出力部と、
    前記回折型光変調器の前記圧電体に前記印加電圧を印加する映像制御部と、
    前記回折型光変調器の前記圧電体に前記印加電圧が印加される場合に前記回折型光変調器から出力される回折光の強度を前記光強度測定部から受信し、受信した測定光強度と前記回折型光変調器の前記圧電体に前記印加電圧が印加される場合に測定されると予想される予想光強度とを比較して、前記回折型光変調器から所定の光強度を得るために印加されなければならない下部電極基準電圧を得るために前記印加電圧出力部の補正値を調整する基準電圧再設定装置
    とを備えることを特徴とする請求項１３に記載の印加電圧調整装置。
15. 前記印加電圧出力部は、
    前記基準電圧保存部に保存されている前記上部電極基準電圧を出力する上側電極基準電圧出力部と、
    前記基準電圧保存部に保存されている前記下部電極基準電圧に前記補正値を加えて出力する下側電極基準電圧補正部
    とを備えることを特徴とする請求項１４に記載の印加電圧調整装置。
16. 前記基準電圧再設定装置は、
    前記回折型光変調器の前記圧電体に前記印加電圧が印加される場合に測定されると予想される予想光強度を保存する光強度保存部と、
    前記回折型光変調器の前記圧電体に前記印加電圧が印加される場合に前記回折型光変調器から出力される回折光の強度を前記光強度測定部から受信し、受信した測定光強度と前記回折型光変調器の前記圧電体に前記印加電圧が印加される場合に測定されると予想される前記光強度保存部の予想光強度とを比較して、前記回折型光変調器から所定の光強度を得るために印加されなければならない前記基準電圧保存部に保存された下部電極基準電圧を調整するための補正値を出力する光強度変異検出部と、
    前記光強度変異検出部から出力される補正値を用いて、前記回折型光変調器で所定の光強度を得るために前記印加電圧出力部に保存された下部電極基準電圧に加える補正値を調整する再設定部
    とを備えることを特徴とする請求項１４に記載の印加電圧調整装置。
17. 前記印加電圧調整部は、
    前記回折型光変調器の前記上部電極層に印加される上部電極基準電圧と前記下部電極層に印加される下部電極基準電圧とを保存する基準電圧保存部と、
    前記基準電圧保存部に保存されている前記上部電極基準電圧と前記下部電極基準電圧を出力する印加電圧出力部と、
    前記回折型光変調器の前記圧電体に前記印加電圧を印加する映像制御部と、
    前記回折型光変調器の前記圧電体に前記印加電圧が印加される場合に前記回折型光変調器から出力される回折光の強度を前記光強度測定部から受信し、受信した測定光強度と前記回折型光変調器の前記圧電体に前記印加電圧が印加される場合に測定されると予想される予想光強度とを比較して、前記基準電圧保存部に保存された前記回折型光変調器から所定の光強度を得るために印加されなければならない下部電極基準電圧を調整する基準電圧再設定装置
    とを備えることを特徴とする請求項１３に記載の印加電圧調整装置。
18. 前記印加電圧出力部は、
    前記基準電圧保存部に保存されている前記上部電極基準電圧を出力する上側電極基準電圧出力部と、
    前記基準電圧保存部に保存されている前記下部電極基準電圧を出力する下側電極基準電圧補正部
    とを備えることを特徴とする請求項１７に記載の印加電圧調整装置。
19. 前記基準電圧再設定装置は、
    前記回折型光変調器の前記圧電体に前記印加電圧が印加される場合に測定されると予想される予想光強度を保存する光強度保存部と、
    前記回折型光変調器の前記圧電体に前記印加電圧が印加される場合に前記回折型光変調器から出力される回折光の強度を前記光強度測定部から受信し、受信した測定光強度と前記回折型光変調器の前記圧電体に前記印加電圧が印加される場合に測定されると予想される前記光強度保存部の予想光強度とを比較して、前記回折型光変調器で所定の光強度を得るために印加されなければならない前記基準電圧保存部に保存された下部電極基準電圧を調整するための補正値を出力する光強度変異検出部と、
    前記光強度変異検出部が出力する補正値を用いて、前記回折型光変調器で所定の光強度を得るために印加されなければならない前記基準電圧保存部に保存された下部電極基準電圧を調整する再設定部
    とを備えることを特徴とする請求項１７に記載の印加電圧調整装置。

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