JP2007101343A - Method, kit, and device for detecting concentration of copper of solder alloy - Google Patents

Method, kit, and device for detecting concentration of copper of solder alloy Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method capable of simply calculating the concentration of copper contained in a solder alloy by simple equipment or fixtures, and a kit and a device for easily executing this method. <P>SOLUTION: In the method for detecting the concentration of copper in the solder alloy, (1) the known amount of the target solder alloy is dissolved in an aqueous solution of an inorganic acid, (2) the prepared sample solution is diluted, (3) the diluted solution is mixed with a reaction solution to react with copper ions to form a colored copper complex and a solution of a reaction accelerator to react with them and (4) the absorbance of the reaction product solution is measured and the measuring result is referred to a preliminarily detected result by the same procedure to calculate the concentration of target copper. The kit comprises one set of the aqueous solution of a known concentration of the inorganic acid, a diluting liquid, a reaction solution with known concentration, a reaction accelerator solution and a known amount of a pH adjusting liquid. The device is constituted by holding a very small amount weighing device, an absorbancy measuring instrument and the first-fifth contains constituting the kit in a case body. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、半田合金の銅濃度検出方法およびキット並びに装置に関する。   The present invention relates to a copper concentration detection method, kit, and apparatus for a solder alloy.

現在において、電気製品の電気回路装置としてはプリント基板が広く用いられている。そして、実際のプリント基板は、通常、種々の実装用電子部品が半田合金によってエポキシ樹脂やセラミックよりなる基板の回路に機械的に接合され、同時に電気的な接続が達成されて構成されている。   At present, printed circuit boards are widely used as electrical circuit devices for electrical products. An actual printed circuit board is usually configured such that various electronic components for mounting are mechanically joined to a circuit of a board made of epoxy resin or ceramic by a solder alloy, and electrical connection is achieved at the same time.

従前において、半田合金としては、錫成分と鉛成分の比率が約6:4の錫−鉛合金が用いられてきた。しかし、この錫−鉛合金は、電気製品が廃棄された場合に雨水によって溶け出して地下水を汚染することとなり、いわゆる鉛害の原因となるためにその使用の規制が要請されている。
このような理由から、最近では、鉛成分を含有しない「鉛フリー半田」と称される種々の半田合金の開発が進められてきている。鉛フリー半田は、錫を主成分として、銀、銅、ビスマス、インジウム等の添加金属成分が添加されたものであるが、後述するように、技術的になお多くの問題がある。
In the past, tin-lead alloys having a ratio of tin component to lead component of about 6: 4 have been used as solder alloys. However, when this electrical product is discarded, this tin-lead alloy is dissolved by rainwater and pollutes groundwater, so that it is a cause of so-called lead damage, and its use is required to be regulated.
For these reasons, recently, various solder alloys called “lead-free solder” not containing a lead component have been developed. Lead-free solder contains tin as a main component and added with additive metal components such as silver, copper, bismuth, and indium. However, as described later, there are still many technical problems.

通常、電子部品をプリント基板に半田合金により接合する工程においては、半田浴槽内に溶融した状態の半田合金が収容された半田浴が用いられており、実装用電子部品をプリント基板に組み合わせたものを半田浴の溶融半田中に浸漬させることにより、所期の接合工程が実施される。   Usually, in the process of joining an electronic component to a printed circuit board with a solder alloy, a solder bath containing a molten solder alloy is used in the solder bath, and the electronic component for mounting is combined with the printed circuit board. Is immersed in the molten solder in the solder bath, and the desired joining step is performed.

而して、半田浴の半田合金については、これを組成する各金属成分の含有濃度が変化すると、当然のこととして半田合金の特性が変化して種々の問題の原因となることから、その金属成分の含有濃度を管理することが重要である。
例えば、銅は、或る種の半田合金においては必要な成分として特定の濃度範囲で含有されている。
Thus, with regard to the solder alloy of the solder bath, if the concentration of each metal component composing the solder alloy changes, the characteristics of the solder alloy naturally change, causing various problems. It is important to control the concentration of components.
For example, copper is contained in a specific concentration range as a necessary component in certain solder alloys.

然るに、接合処理すべきプリント基板のパターン配線に用いられている銅箔などから金属銅が半田浴の溶融半田合金中に相当の割合で溶け込むため、接合処理が繰り返し行われることによって当該溶融半田合金中の銅の含有濃度が次第に高いものとなる。
そして、銅の含有濃度が高い半田合金は、通常、物理的特性である「伸び率」が低いものとなるために機械的耐久性が低いものとなり、そのような半田合金によって形成された接合部を有するプリント基板では、当該接合部に、例えば当該基板に反りが生じることにより外部からストレスが加えられたときに、容易に破壊が生ずる問題点がある。
However, since the copper is melted in a considerable proportion in the molten solder alloy of the solder bath from the copper foil used for the pattern wiring of the printed circuit board to be bonded, the molten solder alloy is obtained by repeating the bonding process. The content concentration of copper in the inside becomes gradually higher.
A solder alloy having a high copper concentration usually has a low physical durability, ie, “elongation rate”, and therefore has low mechanical durability. In the printed circuit board having the above, there is a problem that the joint portion easily breaks when stress is applied from the outside due to warpage of the board, for example.

また、鉛フリー半田の融点は、通常、錫−鉛合金よりなる半田合金の融点の約183℃に比して高く、例えば代表的な錫−銀−銅合金では例えば217℃、錫−銅合金では例えば227℃である。そして、銅の含有濃度が高い半田合金では液相温度が高いものとなって、例えば同じ溶融温度であっても半田合金の粘度が高いものとなり、例えば半田合金が糸状に伸びる糸引き現象が生じ易くなる結果、所期の接合処理を高い信頼性で達成することができない。   In addition, the melting point of lead-free solder is usually higher than the melting point of a solder alloy made of a tin-lead alloy, which is about 183 ° C. For example, a typical tin-silver-copper alloy has a melting point of 217 ° C., for example. Then, it is 227 degreeC, for example. A solder alloy having a high copper content has a high liquidus temperature. For example, the solder alloy has a high viscosity even at the same melting temperature. As a result, the desired joining process cannot be achieved with high reliability.

従来、半田合金について、含有される銅の含有濃度を知るための方法としては、主にX線蛍光分析やICP分析などの機器分析や化学分析が行われている。これらの分析方法を実施するためには精密で高価な装置が必要であるが、そのような装置を、半田合金による接合処理工程が実施される現場に設置することは非現実的である。
このような事情から、実際には、そのような分析装置を備えた専門の分析機関に半田合金の試料を提供して、その銅の含有濃度の測定結果を入手しているのが現状である。
Conventionally, as a method for knowing the content concentration of copper contained in a solder alloy, instrumental analysis and chemical analysis such as X-ray fluorescence analysis and ICP analysis are mainly performed. In order to carry out these analysis methods, a precise and expensive device is required, but it is impractical to install such a device at a site where a solder alloy bonding process is performed.
Under such circumstances, in reality, a sample of a solder alloy is provided to a specialized analysis institution equipped with such an analysis apparatus, and the measurement result of the copper content is obtained. .

しかしながら、以上のような現状の方式では、費用が高いことを別にしても、分析結果が入手されるまでに数日間以上を要するため、半田合金の銅の含有濃度を迅速に知ることができず、半田合金の状態について十分に有効な管理を行うことができず、結局、高い信頼性をもって接合処理を行うことができない、という問題点がある。   However, in the current method as described above, it takes several days or more for the analysis results to be obtained, apart from the high cost, so it is possible to quickly know the copper content of the solder alloy. Therefore, there is a problem in that it is not possible to perform sufficiently effective management on the state of the solder alloy, and eventually it is impossible to perform the bonding process with high reliability.

本発明は、以上のような事情に基づいてなされたものであって、その目的は、簡単な設備または備品により、半田合金について、銅の含有濃度を簡便に、かつ、短時間のうちに求めることのできる半田合金の銅濃度検出方法を提供することにある。   The present invention has been made on the basis of the circumstances as described above, and the object thereof is to obtain the copper content concentration easily and in a short time for a solder alloy with simple equipment or equipment. An object of the present invention is to provide a method for detecting the copper concentration of a solder alloy.

本発明の他の目的は、上記の半田合金の銅濃度検出方法を容易に実施することを可能とする半田合金の銅濃度検出用キットを提供することにある。   It is another object of the present invention to provide a solder alloy copper concentration detection kit that allows the above-described method for detecting a copper concentration of a solder alloy to be easily carried out.

本発明の更に他の目的は、上記の半田合金の銅濃度検出方法を容易に実施することを可能とする半田合金の銅濃度検出用装置を提供することにある。   Still another object of the present invention is to provide an apparatus for detecting the copper concentration of a solder alloy that makes it possible to easily carry out the above-described method for detecting the copper concentration of a solder alloy.

本発明の半田合金の銅濃度検出方法は、
(1)銅の含有濃度を知るべき半田合金の既知量の試料を無機酸の水溶液に溶解し、
(2)得られる試料溶液を希釈液により希釈し、
(3)得られる希釈溶液を、銅イオンと反応して有色の銅錯体を形成する配位子化合物を含有する反応用溶液および還元性反応促進剤の溶液と混合して反応させ、
(4)得られる反応生成物溶液の吸光度を測定し、その測定結果を、銅の含有濃度が既知の半田合金について同様の手順により予め求めておいた検量結果と対照することにより、当該半田合金の試料における銅の含有濃度を求める
ことを特徴とする。
The copper concentration detection method of the solder alloy of the present invention,
(1) Dissolve a known amount of a sample of a solder alloy whose copper concentration should be known in an aqueous solution of an inorganic acid,
(2) Dilute the resulting sample solution with a diluent,
(3) The resulting diluted solution is mixed with a reaction solution containing a ligand compound that reacts with copper ions to form a colored copper complex and a solution of a reducing reaction accelerator, and reacted.
(4) The absorbance of the obtained reaction product solution is measured, and the measurement result is compared with the calibration result obtained in advance by the same procedure for the solder alloy whose copper concentration is known, thereby the solder alloy. The content concentration of copper in the sample is determined.

以上において、反応用溶液に含有される配位子化合物としては5,10,20−テトラフェニル−21H,23H−ポルフィンテトラスルホン酸二硫酸塩水和物が用いられ、反応がpH3〜7で行われることが好ましい。反応促進剤としてはアスコルビン酸を用いることができる。   In the above, 5,10,20-tetraphenyl-21H, 23H-porphine tetrasulfonic acid disulfate hydrate is used as the ligand compound contained in the reaction solution, and the reaction is carried out at pH 3-7. It is preferable. Ascorbic acid can be used as the reaction accelerator.

反応生成物溶液の吸光度の測定は、当該反応生成物溶液のpHが3以下とされた状態で波長413nmの光の吸光度を求めることにより、行うことが好ましい。   The measurement of the absorbance of the reaction product solution is preferably performed by determining the absorbance of light having a wavelength of 413 nm in a state where the pH of the reaction product solution is 3 or less.

本発明の半田合金の銅濃度検出用キットは、上記の半田合金の銅濃度検出方法の実施に用いられるキットであって、
(A)既知の濃度の無機酸の水溶液の既知量が収容された第1の容器と、
(B)希釈液の既知量が収容された第2の容器と、
(C)既知の濃度の反応用溶液の既知量が収容された第3の容器と、
(D)反応促進剤の既知量が収容された第4の容器と、
(E)pH調整液の既知量が収容された第5の容器と
が1組のセットとされていることを特徴とする。
The solder alloy copper concentration detection kit of the present invention is a kit used for carrying out the above-described solder alloy copper concentration detection method,
(A) a first container containing a known amount of an aqueous solution of an inorganic acid of known concentration;
(B) a second container containing a known amount of diluent,
(C) a third container containing a known amount of a reaction solution of known concentration;
(D) a fourth container containing a known amount of reaction accelerator;
(E) The fifth container in which a known amount of the pH adjusting solution is accommodated is a set.

本発明の半田合金の銅濃度検出用装置は、ケース体と、このケース体に設けられた微量秤量器と、前記ケース体に設けられた吸光度測定器とを備え、
前記ケース体には、上記のキットを構成する第1の容器乃至第5の容器を保持する容器保持部が形成されていることを特徴とする。
An apparatus for detecting the copper concentration of a solder alloy according to the present invention comprises a case body, a microweigher provided in the case body, and an absorbance measuring device provided in the case body,
The case body is characterized in that a container holding portion for holding the first container to the fifth container constituting the kit is formed.

本発明の半田合金の銅濃度検出方法によれば、実質的にきわめて微量の試料を用いればよく、高度な技能や熟練が要求される煩雑な操作が不要であるため、簡単な設備または備品によって容易に実施することができ、その結果、目的とする半田合金について銅の含有濃度を短い所要時間のうちに知ることができる。   According to the copper concentration detection method of the solder alloy of the present invention, it is only necessary to use a very small amount of sample, and a complicated operation requiring high skill and skill is unnecessary. As a result, the copper concentration of the target solder alloy can be known within a short time.

本発明の半田合金の銅濃度検出用キットによれば、必要な複数の試薬類が既知の濃度あるいは量のものとして備えられているため、きわめて簡単な操作により、上記の半田合金の銅濃度検出方法を実施することができる。   According to the kit for detecting the copper concentration of the solder alloy of the present invention, since a plurality of necessary reagents are provided in known concentrations or amounts, the copper concentration detection of the above-described solder alloy can be performed by a very simple operation. The method can be carried out.

本発明の半田合金の銅濃度検出用装置によれば、きわめて簡便に上記の半田合金の銅濃度検出方法を実施することができる。   According to the apparatus for detecting a copper concentration of a solder alloy of the present invention, the above-described method for detecting a copper concentration of a solder alloy can be carried out very simply.

以下、図面により、本発明の実施の一例について詳細に説明する。
図1は、本発明の半田合金の銅濃度検出用装置の構成の一例を示す概念図である。この装置10は、ケース体12に、通常、化学天秤と称される微量秤量器14と、吸光度測定器16とが、当該ケース体12の上部領域に配置されて設けられて構成されている。吸光度測定器16は、光源16A、波長413nmに高い透過波長域を有するバンドパスフィルター16B、測定用セル16Cおよび受光素子16Dにより構成されている。16Eは表示部である。
Hereinafter, an example of implementation of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
FIG. 1 is a conceptual diagram showing an example of the configuration of the apparatus for detecting a copper concentration of a solder alloy according to the present invention. The apparatus 10 is configured by providing a case body 12 with a microweigher 14, which is usually called an chemical balance, and an absorbance measuring device 16 arranged in the upper region of the case body 12. The absorbance measuring device 16 includes a light source 16A, a band-pass filter 16B having a high transmission wavelength region at a wavelength of 413 nm, a measurement cell 16C, and a light receiving element 16D. Reference numeral 16E denotes a display unit.

ケース体12の下部領域には、後述する第1の容器から第5の容器を収容して保持する5つの容器保持部HA〜HEが開口した状態に形成されている。更に、ケース体12の最下部には、微量液体を採取して適宜の個所に供給するシリンジ18が着脱自在に備えられている。   In the lower region of the case body 12, five container holding portions HA to HE for receiving and holding a first container to a fifth container described later are formed in an open state. Furthermore, a syringe 18 that collects a trace amount of liquid and supplies it to an appropriate location is detachably provided at the bottom of the case body 12.

そして、以下の5種の液体すなわちA液乃至E液の所定量がそれぞれ収容された5つの容器すなわち第1の容器乃至第5の容器が用意され、これらの容器がケース体12における5つの容器保持部HA〜HEに取り出し自在に保持される。ここに、第1の容器乃至第5の容器は、いずれも、開閉自在なキャップを有する容器である。   Then, the following five liquids, that is, five containers each containing a predetermined amount of liquid A to liquid E, that is, the first container to the fifth container are prepared, and these containers are the five containers in the case body 12. The holders HA to HE are detachably held. Here, each of the first container to the fifth container is a container having a cap that can be freely opened and closed.

〔第1の容器〕
A液 無機酸の水溶液(硫酸と硝酸と純水との1:1:8の溶液) 5mL
〔第2の容器〕
B液 希釈液(純水) 25mL
〔第3の容器〕
C液 反応用溶液(5,10,20−テトラフェニル−21H,23H−ポルフィンテトラスルホン酸二硫酸塩水和物(「TPPS」と略称される。)の4mgと酢酸アンモニウム7.7gに純水を加えて1000mLとした溶液) 30mL
〔第4の容器〕
D液 反応促進剤溶液(アスコルビン酸53gに純水を加えて1000mLとした溶液) 10mL
〔第5の容器〕
E液 pH調整液(上記A液と同一組成の溶液) 2mL
[First container]
Liquid A Aqueous solution of inorganic acid (1: 1: 8 solution of sulfuric acid, nitric acid and pure water) 5 mL
[Second container]
B liquid Diluent (pure water) 25mL
[Third container]
Solution C Pure water was added to 4 mg of the reaction solution (5,10,20-tetraphenyl-21H, 23H-porphine tetrasulfonic acid disulfate hydrate (abbreviated as “TPPS”) and 7.7 g of ammonium acetate. In addition, the solution made 1000mL) 30mL
[Fourth container]
Liquid D Reaction accelerator solution (solution obtained by adding pure water to 53 g of ascorbic acid to make 1000 mL) 10 mL
[Fifth container]
Solution E pH adjustment solution (solution having the same composition as solution A) 2 mL

上記C液(反応用溶液)を組成するTPPSは、銅イオンと反応して有色の銅錯体を形成する配位子化合物であって、下記構造式(1)で示されるものである。
また、当該C液に含有される酢酸アンモニウムは、銅イオンとTPPSとの反応を促進する反応促進剤である。
The TPPS composing the solution C (reaction solution) is a ligand compound that reacts with copper ions to form a colored copper complex, and is represented by the following structural formula (1).
The ammonium acetate contained in the liquid C is a reaction accelerator that promotes the reaction between copper ions and TPPS.

Figure 2007101343
Figure 2007101343

以上のような半田合金の銅濃度検出用装置を用い、下記の第1の操作〜第4の操作を行うことにより、銅の含有濃度を知るべき半田合金(以下、「対象半田合金」という。)について、銅の含有濃度を求めることができる。   By using the above-described apparatus for detecting the copper concentration of a solder alloy, the following first to fourth operations are performed, whereby the solder alloy whose concentration of copper should be known (hereinafter referred to as “target solder alloy”). ), The copper concentration can be determined.

第1の操作(試料溶液の調製)
この第1の操作は、対象半田合金の既知量の試料を採取し、その溶液を調製する操作である。
〔試料の秤量〕
対象半田合金を例えば削り取ることによって極微量、例えば1〜20mgの試料を採取し、当該試料の質量を微量秤量器14により測定する。この試料が少量であると、所要時間が短くなるので好ましい。
〔試料の溶解〕
一方、容量が例えば50mLのビーカーを用意し、これに、ケース体12から取り出した第1の容器のA液の全部(無機酸の水溶液5mL)を入れ、このA液に上記の対象半田合金の試料を加えて完全に溶解させることにより、試料溶液を調製する。
この試料溶液の調製においては、短時間のうちに試料を完全に溶解させるために、例えば、系を加熱し、攪拌し、または系に振動を加えることができる。
First operation (preparation of sample solution)
This first operation is an operation for collecting a known amount of a sample of the target solder alloy and preparing a solution thereof.
[Weighing sample]
For example, a sample of 1 to 20 mg is collected by scraping off the target solder alloy, and the mass of the sample is measured by the micrometer 14. A small amount of this sample is preferable because the required time is shortened.
[Dissolution of sample]
On the other hand, a beaker having a capacity of, for example, 50 mL is prepared, and all of the A solution (5 mL of an inorganic acid aqueous solution) taken out from the case body 12 is put in this beaker. A sample solution is prepared by adding the sample and dissolving it completely.
In preparing the sample solution, in order to completely dissolve the sample in a short time, for example, the system can be heated, stirred, or vibrated.

第2の操作(試料の希釈溶液の調製)
〔試料溶液の希釈〕
ケース体12から第2の容器を取り出してB液の全部(希釈液25mL)を、第1の操作によって得られた試料溶液に加えて試料の希釈溶液(30mL)を調製する。この試料の希釈溶液の調製においても、必要に応じて、攪拌が行われる。
Second operation (preparation of a diluted sample solution)
[Dilution of sample solution]
The second container is taken out from the case body 12, and all of the liquid B (diluted solution 25mL) is added to the sample solution obtained by the first operation to prepare a diluted sample solution (30mL). In the preparation of the diluted solution of this sample, stirring is performed as necessary.

第3の操作(銅錯体の生成反応)
〔銅錯体の生成反応の実行〕
別途、容量が例えば50mLのビーカーを用意し、これに、ケース体12から取り出した第3の容器のC液の全部(反応用溶液30mL)を入れ、このC液に、第2の操作で得られた試料の希釈溶液の1mLを、ケース体12に備えられているシリンジ18を用いて添加すると共に、ケース体12から取り出した第4の容器のD液の全部(反応促進剤溶液10mL)を添加して攪拌し、反応させる。反応は約5分間で完了する。
この操作において、添加される試料の希釈溶液の量は、厳密に規定された量とされることが必要である。
この第3の操作による銅錯体の生成反応は、系がpH3〜7とされることが好ましい。上記の条件によれば、系のpHは約4となる。
Third operation (copper complex formation reaction)
[Execution of copper complex formation reaction]
Separately, prepare a beaker with a capacity of, for example, 50 mL, and put all the C solution (30 mL of reaction solution) in the third container taken out from the case body 12 into this C solution. 1 mL of the diluted solution of the obtained sample is added using the syringe 18 provided in the case body 12, and all the D solution (10 mL of the reaction accelerator solution) in the fourth container taken out from the case body 12 is added. Add, stir and react. The reaction is complete in about 5 minutes.
In this operation, it is necessary that the amount of the diluted solution of the sample to be added be a strictly defined amount.
It is preferable that the production | generation reaction of the copper complex by this 3rd operation shall be pH 3-7. According to the above conditions, the pH of the system is about 4.

第4の操作(吸光度の測定)
〔吸光度測定試料の調製〕 第3の操作によって得られた反応生成物溶液に、ケース体12から取り出した第5の容器のE液の全部(pH調整液2mL)を添加し、攪拌することにより、pHが3以下の吸光度測定試料の調製する。上記の条件によれば、当該吸光度測定試料のpHは約1となるが、吸光度測定試料は後述するように、pH3以下とされた状態で吸光度の測定が行われることが好ましい。
〔吸光度の測定〕
得られた吸光度測定試料を測定用セル16Cに充填し、これをケース体12に設けられた吸光度測定器16にセットして、当該吸光度測定試料の波長413nmの光に対する吸光度を測定する。この測定結果は、表示部16Eに表示される。
Fourth operation (measurement of absorbance)
[Preparation of absorbance measurement sample] To the reaction product solution obtained by the third operation, all of the E solution (2 mL of pH adjusting solution) taken out from the case body 12 was added and stirred. Prepare an absorbance measurement sample having a pH of 3 or less. According to the above conditions, the pH of the absorbance measurement sample is about 1, but it is preferable that the absorbance measurement is performed in a state where the absorbance measurement sample is set to pH 3 or less as described later.
(Measurement of absorbance)
The obtained absorbance measurement sample is filled in the measurement cell 16C, and this is set in the absorbance measuring device 16 provided in the case body 12, and the absorbance of the absorbance measurement sample with respect to light having a wavelength of 413 nm is measured. The measurement result is displayed on the display unit 16E.

〔銅の含有濃度の取得〕
得られた測定結果の吸光度の値を、予め求めておいた検量結果と対照し、これにより、対象半田合金の銅の含有濃度を知ることができる。
[Acquisition of copper concentration]
The absorbance value of the obtained measurement result is compared with the calibration result obtained in advance, whereby the concentration of copper contained in the target solder alloy can be known.

以上の第1の操作において、無機酸の水溶液は、上記A液の組成に限定されるものではなく、対象半田合金が溶解されるものであればよい。
また、第2の操作において試料溶液が希釈液によって希釈されるが、この希釈により、第3の操作における反応用溶液との反応を円滑にかつ短時間に生じさせることが可能となる。この第2の操作において用いられる希釈液は純水に限られず、銅錯体の生成に影響与えないものであれば、適当な物質の溶液であってもよい。
In the first operation described above, the aqueous solution of the inorganic acid is not limited to the composition of the liquid A, and may be any solution as long as the target solder alloy is dissolved.
Further, in the second operation, the sample solution is diluted with the diluent, and this dilution makes it possible to cause the reaction with the reaction solution in the third operation smoothly and in a short time. The diluent used in the second operation is not limited to pure water, and may be a solution of an appropriate substance as long as it does not affect the formation of the copper complex.

第3の操作においては、TPPSと銅イオンとの有色の錯体生成反応が生ずるが、その反応生成物は特異的な吸収スペクトルを示し、第4の操作において測定されるその吸光度は、含有される錯体化合物の濃度に応じたものとなる。
従って、対象半田合金の代わりに、銅の含有濃度が既知であって当該濃度が異なる種々の標準試料の各々について、同一の条件に従い、上記第1の操作乃至第4の操作を行うことにより、銅の含有濃度に応じた吸光度の情報を得ることができるので、その検量結果に基づいて例えば銅の含有濃度に対する吸光度の関係を示す検量線を作成しておけば、これと対照することにより、銅の含有濃度が未知の対象半田合金についての吸光度の値から、当該対象半田合金の銅の含有濃度を求めることができる。
In the third operation, a colored complex formation reaction between TPPS and copper ions occurs, but the reaction product shows a specific absorption spectrum, and its absorbance measured in the fourth operation is contained. It depends on the concentration of the complex compound.
Therefore, instead of the target solder alloy, by performing the first operation to the fourth operation according to the same conditions for each of various standard samples whose copper concentration is known and the concentration is different, Since it is possible to obtain information on the absorbance according to the copper content, if a calibration curve showing the relationship of the absorbance to the copper content is prepared based on the calibration result, for example, by contrasting with this, From the absorbance value of the target solder alloy whose copper content concentration is unknown, the copper content concentration of the target solder alloy can be obtained.

例えば、銅成分の濃度がそれぞれ、0質量%、0.5質量%、0.75質量%、1.0質量%および1.25質量%と異なる5種類の錫−銀系半田合金を標準試料とし、各々の6.6mgを秤量し、これを上記A液5mLに溶解させて標準試料溶液を調製し、これをB液25mLにより希釈して標準試料の希釈溶液を調製し、その1mLを採取してこれをC液30mLに添加すると共にD液10mLを添加し、5分間放置した後、E液2mLを添加して吸光度測定試料を調製し、その波長413nmの光に対する吸光度を吸光度測定器により測定し、銅の含有濃度と吸光度測定値との関係を曲線図に表すことにより、検量線を作成することができる。
実際には、測定誤差の影響を考慮して、各標準試料についての吸光度測定試料の調製およびその吸光度測定を例えば5回行い、その平均値を採用することが好ましい。
For example, five types of tin-silver solder alloys whose copper component concentrations are different from 0% by mass, 0.5% by mass, 0.75% by mass, 1.0% by mass, and 1.25% by mass are standard samples. 6.6 mg of each was weighed and dissolved in 5 mL of the above solution A to prepare a standard sample solution, which was diluted with 25 mL of solution B to prepare a diluted standard sample solution, and 1 mL was collected. Then add 10 mL of D solution and add 10 mL of D solution and let stand for 5 minutes, then add 2 mL of E solution to prepare an absorbance measurement sample, and measure the absorbance with respect to the light having a wavelength of 413 nm with an absorbance meter. A calibration curve can be created by measuring and expressing the relationship between the copper concentration and the absorbance measurement value in a curve diagram.
Actually, taking into account the influence of measurement error, it is preferable to prepare an absorbance measurement sample for each standard sample and measure the absorbance thereof, for example, five times, and adopt the average value.

本発明において、反応用溶液に含有される銅イオンと反応して有色の銅錯体を形成する配位子化合物としては、上記構造式(1)で示される5,10,20−テトラフェニル−21H,23H−ポルフィンテトラスルホン酸二硫酸塩水和物が好適に用いられる。この化合物は、銅イオンと反応して、下記構造式(2)で示される銅錯体を生成する。この反応は、既述のように、pH3〜7において円滑に進行する。   In the present invention, as a ligand compound that forms a colored copper complex by reacting with copper ions contained in the reaction solution, 5,10,20-tetraphenyl-21H represented by the above structural formula (1) is used. , 23H-porphine tetrasulfonic acid disulfate hydrate is preferably used. This compound reacts with copper ions to form a copper complex represented by the following structural formula (2). As described above, this reaction proceeds smoothly at pH 3-7.

Figure 2007101343
Figure 2007101343

第4の操作において、吸光度測定試料を調製するために、pH調整液を添加する理由は次のとおりである。
銅の含有濃度が0.5質量%の標準試料と、銅の含有濃度が0質量%の対照試料を用いて上記第1の操作〜第4の操作と同様の操作を行って得られる吸光度測定試料について、pHが1である条件下での測定により得られた波長400〜450nmの領域における吸光度特性曲線を、図2に示す。曲線aが、銀3.0質量%、銅0.5質量%の錫−銀−銅半田合金よりなる標準試料Aについてのものであり、曲線bが、銀3.5質量%、銅0質量%の錫−銀半田合金よりなる対照試料Bについてのものである。
この曲線図から、標準試料Aによれば、波長413nmの個所において、対照試料Bによる場合よりも吸光度が明確に高いことが理解される。
なお、標準試料Aによれば波長434nmの個所において高い吸光度が生じているが、対照試料Bによる場合にも同じ波長434nmの個所において高い吸光度が生じるため、この波長における吸光度から得られる銅の含有濃度は、信頼性の高いものではない。
In the fourth operation, the reason for adding the pH adjusting solution in order to prepare the absorbance measurement sample is as follows.
Absorbance measurement obtained by performing the same operation as the first to fourth operations using a standard sample having a copper content of 0.5% by mass and a control sample having a copper content of 0% by mass. FIG. 2 shows the absorbance characteristic curve in the wavelength region of 400 to 450 nm obtained by measurement under the condition that the pH is 1 for the sample. Curve a is for a standard sample A made of a tin-silver-copper solder alloy of 3.0% by mass of silver and 0.5% by mass of copper, and curve b is 3.5% by mass of silver and 0% by mass of copper. % For control sample B consisting of% tin-silver solder alloy.
From this curve diagram, it is understood that the absorbance of the standard sample A is clearly higher at the wavelength of 413 nm than that of the control sample B.
The standard sample A has a high absorbance at a wavelength of 434 nm, but the control sample B also has a high absorbance at a wavelength of 434 nm. Therefore, the copper content obtained from the absorbance at this wavelength is contained. The concentration is not reliable.

図3は、図2の場合と同様の標準試料Aおよび対照試料Bについて、第4の操作においてE液(pH調整液)の添加をしなかったこと以外は、図2の場合と全く同様にして得られた結果である。すなわち、この図3の場合の吸光度測定試料はpHが4の条件で吸光度測定が行われている。そして、図2の場合と同様に、曲線aが標準試料Aに対応し、曲線bが対照試料Bに対応する。   FIG. 3 is the same as FIG. 2 except that the standard solution A and the control sample B similar to those in FIG. 2 were not added with the E solution (pH adjusting solution) in the fourth operation. This is the result obtained. That is, the absorbance measurement sample in the case of FIG. 3 is subjected to absorbance measurement under the condition of pH 4. 2, the curve a corresponds to the standard sample A, and the curve b corresponds to the control sample B.

この図3から明らかなように、pHが4の条件下では、波長413nmの個所に標準試料Aによる高い吸光度が現れるのであるが、同時に、この波長413nmの個所には対照試料Bも吸収ピークを有する。これは、銅錯体の生成に関与しなかったTPPSの影響によるものであって、標準試料Aの吸光度の測定において大きな誤差の原因となる。
一方、pH1の条件下では、図2から明らかなように、対照試料Bは波長413nmの個所に特にピークを示さないので、標準試料Aについて、波長413nmの個所における吸光度を測定することにより、未反応のTPPSによる影響を可及的に小さいものとすることができ、その結果、波長413nmの光に対する吸光度測定値は、生成された銅錯体の濃度に対応する程度がより高いものとなるので、得られる吸光度測定値は、銅の含有濃度との関係が高い信頼性を有するものとなる。
As apparent from FIG. 3, under the condition where the pH is 4, a high absorbance due to the standard sample A appears at the position of the wavelength 413 nm. At the same time, the control sample B also has an absorption peak at the position of the wavelength 413 nm. Have. This is due to the influence of TPPS that was not involved in the formation of the copper complex, and causes a large error in the measurement of the absorbance of the standard sample A.
On the other hand, under the condition of pH 1, as is clear from FIG. 2, the control sample B does not show a particular peak at a wavelength of 413 nm. Therefore, by measuring the absorbance of the standard sample A at a wavelength of 413 nm, The influence of TPPS on the reaction can be made as small as possible, and as a result, the absorbance measurement value for light with a wavelength of 413 nm is higher to the extent corresponding to the concentration of the produced copper complex, The obtained absorbance measurement value is highly reliable in relation to the copper concentration.

以上のように、pH4の反応生成物溶液をpH調整液によってpH1に変化させることにより、未反応のTPPSの吸収波長を413nmから434nmにシフトさせることができるので、これにより、波長413nmにおける銅錯体の吸光度を信頼性の高いものとすることができるのである。   As described above, the absorption wavelength of the unreacted TPPS can be shifted from 413 nm to 434 nm by changing the pH 4 reaction product solution to pH 1 with the pH adjusting solution. Thus, the light absorbency of can be made highly reliable.

以上、本発明を具体的に説明したが、本発明においては、吸光度測定試料における試料濃度すなわち対象半田合金の濃度を求めることができる条件下であれば、当該試料濃度と測定された吸光度の値に基づいて、予め求めておいた検量結果と対照することにより、当該試料の対象半田合金における銅の含有濃度を求めることができる。
従って対象半田合金を溶解する無機酸の水溶液(A液)の種類、濃度および量、試料溶液を希釈するための希釈液(B液)の種類、濃度および量は、特に制限されるものではなく、それぞれ、既知の濃度および既知の量で使用されればよい。
Although the present invention has been specifically described above, in the present invention, if the sample concentration in the absorbance measurement sample, that is, the concentration of the target solder alloy can be obtained, the sample concentration and the measured absorbance value can be obtained. Based on the above, the content of copper in the target solder alloy of the sample can be obtained by comparing with the calibration result obtained in advance.
Accordingly, the type, concentration and amount of the aqueous solution (solution A) of the inorganic acid that dissolves the target solder alloy, and the type, concentration and amount of the diluent (solution B) for diluting the sample solution are not particularly limited. May be used in known concentrations and in known amounts, respectively.

また、反応用溶液(C液)に含有される配位子化合物種類、濃度および量も、特に制限されるものではなく、既知の濃度および既知の量で使用されればよい。ただし、反応用溶液は、対象半田合金に含有されるすべての銅が錯体を形成する量以上の量で使用されることが必要である。
この反応用溶液には、上記の例のように、反応促進剤の一部(上記の例では、酢酸アンモニウム)を共に含有させておくことができるが、反応促進剤は、反応用溶液とは別個の溶液として使用することもできる。
The kind, concentration and amount of the ligand compound contained in the reaction solution (C solution) are not particularly limited, and may be used at a known concentration and a known amount. However, the reaction solution needs to be used in an amount that is equal to or greater than the amount in which all copper contained in the target solder alloy forms a complex.
In this reaction solution, a part of the reaction accelerator (ammonium acetate in the above example) can be contained together as in the above example, but the reaction accelerator is different from the reaction solution. It can also be used as a separate solution.

反応促進剤溶液(D液)は、実際の反応を円滑に進行させるために必要であるが、その濃度および量は制限されるものではない。この事情は、反応用溶液に含有される反応促進剤についても同様である。
更に、pH調整液もその種類、濃度および量が制限されるものではないが、適切なpHとなるものであることが重要である。
The reaction accelerator solution (solution D) is necessary for smoothly progressing the actual reaction, but the concentration and amount thereof are not limited. The same applies to the reaction accelerator contained in the reaction solution.
Further, the type, concentration and amount of the pH adjusting liquid are not limited, but it is important that the pH adjusting liquid has an appropriate pH.

本発明では、反応生成物溶液を組成する、銅イオンと反応して有色の銅錯体を形成する配位子化合物としては、上記TPPSの他に、α,β,γ,δ−テトラフェニルポルフィントリスルホン酸二硫酸塩水和物(これも「TPPS」と称されることがある。)を用いることができる。   In the present invention, as a ligand compound constituting the reaction product solution and reacting with copper ions to form a colored copper complex, in addition to the above TPPS, α, β, γ, δ-tetraphenylporphine triphenyl is used. Sulfonic acid disulfate hydrate (also sometimes referred to as “TPPS”) can be used.

以上のように、本発明の半田合金の銅濃度検出方法は、実質的に微量の試料を用いればよく、高度な技量が要求される煩雑な操作が不要であるため、簡単な設備または備品によって実施することができ、その結果、目的とする半田合金について銅の含有濃度を短い所要時間のうちに知ることができ、半田合金による接合処理の工程が実施される現場においてきわめて有利に、当該半田合金についてその銅の含有濃度を求めることができる。   As described above, the method for detecting the copper concentration of a solder alloy according to the present invention requires only a very small amount of sample and does not require a complicated operation requiring a high level of skill. As a result, the copper content of the target solder alloy can be known within a short period of time, and this solder is very advantageous at the site where the solder alloy bonding process is performed. The copper concentration of the alloy can be determined.

また、本発明の半田合金の銅濃度検出用装置においては、上記の半田合金の銅濃度検出方法を実施するために必要な試薬である無機酸の水溶液、希釈液、反応用溶液、反応促進剤溶液およびpH調整液の5種を、それぞれ、A液、B液、C液、D液およびE液として各々規定の量で、第1の容器、第2の容器、第3の容器、第4の容器および第5の容器に収容し、1組のセットとされてキットが構成されているため、当該キットを使用することにより、試料としてA液に溶解させる対象半田合金の量を秤量するのみで他の吸光度測定試料の濃度の計算に必要な要素が固定された状態であるため、得られる吸光度測定値から一定の計算式によって吸光度測定試料の濃度を知ることができ、その結果、目的とする対象半田合金の銅の含有濃度をきわめて簡単に、かつ、正確に求めることができる。   In the apparatus for detecting the copper concentration of the solder alloy of the present invention, an aqueous solution of an inorganic acid, a diluting solution, a reaction solution, a reaction accelerator, which are reagents necessary for carrying out the above-described method for detecting the copper concentration of the solder alloy The five types of solution and pH adjusting solution are respectively defined as A solution, B solution, C solution, D solution and E solution in the first container, the second container, the third container, and the fourth container. Since the kit is configured as a set, the sample is only weighed as a sample to be dissolved in the liquid A. Since the elements necessary for calculating the concentration of other absorbance measurement samples are fixed, the concentration of the absorbance measurement sample can be determined from the obtained absorbance measurement value using a certain calculation formula. Determine the copper content of the target solder alloy Easily Te fit, and it can be determined accurately.

更に、本発明の半田合金の銅濃度検出用装置によれば、上記のキットを構成する第1の容器乃至第5の容器を保持する容器保持部と共に、対象半田合金の試料を秤量するための微量秤量器と、吸光度測定器とがケース体に設けられているため、きわめて簡便に、対象半田合金について、銅の含有濃度を求めることができる。   Furthermore, according to the apparatus for detecting the copper concentration of the solder alloy of the present invention, the sample for the target solder alloy is weighed together with the container holding part for holding the first container to the fifth container constituting the kit. Since the microweighing device and the absorbance measuring device are provided in the case body, the copper concentration of the target solder alloy can be obtained very simply.

そして、予め求められた検量結果の情報、具体的には検量線情報を適宜の記憶装置に記憶させておき、これを利用して吸光度測定値情報を処理することにより、例えば、吸光度測定器16の表示部16Eに、直接、銅の含有濃度を表示させる構成とすることも可能である。   Then, information on the calibration result obtained in advance, specifically, calibration curve information, is stored in an appropriate storage device, and the absorbance measurement value information is processed using this, for example, the absorbance measuring device 16. It is also possible to display the copper concentration directly on the display unit 16E.

本発明の半田合金の銅濃度検出用装置の構成の一例を示す概念図である。It is a conceptual diagram which shows an example of a structure of the copper concentration detection apparatus of the solder alloy of this invention. 銅の含有濃度が0.5質量%の標準試料と、銅の含有濃度が0質量%の対照試料について、pHが1である条件下で測定された、波長400〜450nmの領域における吸光度特性曲線図である。Absorbance characteristic curve in a wavelength region of 400 to 450 nm measured under the condition of pH 1 for a standard sample having a copper content of 0.5% by mass and a control sample having a copper content of 0% by mass FIG. 図2の場合と同様の標準試料および対照試料について、pHが4の条件で測定された波長400〜450nmの領域における吸光度特性曲線図である。FIG. 4 is an absorbance characteristic curve diagram in a wavelength range of 400 to 450 nm measured under the condition of pH 4 for a standard sample and a control sample similar to those in FIG. 2.

符号の説明Explanation of symbols

10 半田合金の銅濃度検出用装置
12 ケース体
14 微量秤量器
16 吸光度測定器
16A 光源
16B バンドパスフィルター
16C 測定用セル
16D 受光素子
16E 表示部
HA〜HE 容器保持部
18 シリンジ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Solder alloy copper concentration detection apparatus 12 Case body 14 Micro weighing device 16 Absorbance measuring device 16A Light source 16B Band pass filter 16C Measurement cell 16D Light receiving element 16E Display part HA-HE Container holding part 18 Syringe

Claims (6)

(1)銅の含有濃度を知るべき半田合金の既知量の試料を無機酸の水溶液に溶解し、
(2)得られる試料溶液を希釈液により希釈し、
(3)得られる希釈溶液を、銅イオンと反応して有色の銅錯体を形成する配位子化合物を含有する反応用溶液および還元性反応促進剤の溶液と混合して反応させ、
(4)得られる反応生成物溶液の吸光度を測定し、その測定結果を、銅の含有濃度が既知の半田合金について同様の手順により予め求めておいた検量結果と対照することにより、当該半田合金の試料における銅の含有濃度を求める
ことを特徴とする半田合金の銅濃度検出方法。
(1) Dissolve a known amount of a sample of a solder alloy whose copper concentration should be known in an aqueous solution of an inorganic acid,
(2) Dilute the resulting sample solution with a diluent,
(3) The resulting diluted solution is mixed with a reaction solution containing a ligand compound that reacts with copper ions to form a colored copper complex and a solution of a reducing reaction accelerator, and reacted.
(4) The absorbance of the obtained reaction product solution is measured, and the measurement result is compared with the calibration result obtained in advance by the same procedure for the solder alloy whose copper concentration is known, thereby the solder alloy. A method for detecting a copper concentration in a solder alloy, comprising: determining a copper concentration in the sample.
反応用溶液に含有される配位子化合物が5,10,20−テトラフェニル−21H,23H−ポルフィンテトラスルホン酸二硫酸塩水和物であり、反応がpH3〜7で行われることを特徴とする請求項1に記載の半田合金の銅濃度検出方法。   The ligand compound contained in the reaction solution is 5,10,20-tetraphenyl-21H, 23H-porphine tetrasulfonic acid disulfate hydrate, and the reaction is carried out at pH 3-7. The method for detecting a copper concentration in a solder alloy according to claim 1. 反応促進剤がアスコルビン酸であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の半田合金の銅濃度検出方法。   The method according to claim 1 or 2, wherein the reaction accelerator is ascorbic acid. 反応生成物溶液の吸光度の測定を、当該反応生成物溶液のpHが3以下とされた状態で波長413nmの光の吸光度を求めることにより、行うことを特徴とする請求項2または請求項3に記載の半田合金の銅濃度検出方法。   The absorbance of the reaction product solution is measured by determining the absorbance of light having a wavelength of 413 nm in a state where the pH of the reaction product solution is 3 or less. The method for detecting the copper concentration of the solder alloy as described. 請求項1〜請求項4のいずれかに記載の半田合金の銅濃度検出方法の実施に用いられるキットであって、
(A)既知の濃度の無機酸の水溶液の既知量が収容された第1の容器と、
(B)希釈液の既知量が収容された第2の容器と、
(C)既知の濃度の反応用溶液の既知量が収容された第3の容器と、
(D)反応促進剤の既知量が収容された第4の容器と、
(E)pH調整液の既知量が収容された第5の容器と
が1組のセットとされていることを特徴とする半田合金の銅濃度検出用キット。
It is a kit used for implementation of the copper concentration detection method of the solder alloy according to any one of claims 1 to 4,
(A) a first container containing a known amount of an aqueous solution of an inorganic acid of known concentration;
(B) a second container containing a known amount of diluent,
(C) a third container containing a known amount of a reaction solution of known concentration;
(D) a fourth container containing a known amount of reaction accelerator;
(E) A copper concentration detection kit for a solder alloy, characterized in that a set of a fifth container containing a known amount of a pH adjusting solution is set.
ケース体と、このケース体に設けられた微量秤量器と、前記ケース体に設けられた吸光度測定器とを備え、
前記ケース体には、請求項5に記載の半田合金の銅濃度検出用キットを構成する第1の容器乃至第5の容器を保持する容器保持部が形成されていることを特徴とする半田合金の銅濃度検出用装置。
A case body, a microweigher provided in the case body, and an absorbance measuring device provided in the case body,
Solder alloy, wherein the case body is formed with a container holding portion for holding the first container to the fifth container constituting the kit for detecting the copper concentration of the solder alloy according to claim 5. For copper concentration detection.
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