JP2007054704A - 描画システム、デバイス及び電気光学装置並びに電子機器 - Google Patents

描画システム、デバイス及び電気光学装置並びに電子機器 Download PDF

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Abstract

【課題】 隔壁等を設けることなく微細パターンを描画する。
【解決手段】 吐出ヘッド1から液滴Lを吐出して基板上に描画する。吐出ヘッド1から吐出された液滴Lを捕捉する捕捉手段15と、捕捉した液滴Lを基板上の所定位置に位置決めする位置決め手段と、位置決めされた液滴Lにより基板上に描画されたパターンの少なくとも一部を除去する除去手段とを15とを備える。
【選択図】 図2

Description

本発明は、描画システム、デバイス及び電気光学装置並びに電子機器に関するものである。
近年、電子装置の製造過程に用いられる塗布技術として、液体吐出方式の利用が拡大する傾向にある。液体吐出方式による塗布技術は、一般に、基板と液体吐出ヘッドとを相対的に移動させながら、液体吐出ヘッドに設けられた複数のノズルから液状体を液滴として吐出し、その液滴を基板上に繰り返し付着させて塗布膜を形成するものであり、スピンコート方式などの従来の塗布技術に比べて、液状体の消費に無駄が少なく、任意のパターンをフォトリソグラフィーなどの手段を用いず直接塗布することが出来るといった利点を有する。
例えば、特許文献1、特許文献2などには、パターン形成用材料を含んだ機能液を液滴吐出ヘッドから基板上に吐出することにより、パターン形成面に材料を配置(塗布)して半導体集積回路などの微細な配線パターンを形成する技術が開示されている。
特開平11−274671号公報 特開2000−216330号公報
しかしながら、上述したような従来技術には、以下のような問題が存在する。
液滴の着弾精度は±数ミクロンであり、微細パターンを描画する超精密プロセスには適用できないという問題がある。
そこで、微細パターンを描画すべき領域を囲む隔壁を形成し、隔壁間に液滴を吐出する方法も採れるが、この場合、隔壁を形成するための工程を別途設ける必要があり、工数アップ及びコスト増加を招いてしまう。さらに、着色剤を含む液滴を吐出してカラーフィルタを製造する場合には、隔壁により開口率が低下するという問題も生じる。
本発明は、以上のような点を考慮してなされたもので、隔壁等を設けることなく微細パターンが描画可能な描画システム、及び微細パターンが描画されたデバイス、このデバイスを備えた電気光学装置並びに電子機器を提供することを目的とする。
上記の目的を達成するために本発明は、以下の構成を採用している。
本発明の描画システムは、吐出ヘッドから液滴を吐出して基板上に描画する描画システムであって、前記吐出ヘッドから吐出された液滴を捕捉する捕捉手段と、捕捉した前記液滴を基板上の所定位置に位置決めする位置決め手段と、前記位置決めされた液滴により前記基板上に描画されたパターンの少なくとも一部を除去する除去手段とを備えることを特徴とするものである。
従って、本発明の描画システムでは、吐出ヘッドから吐出された液滴を基板に着弾する前に捕捉し、さらに捕捉した液滴を基板上の所定位置に位置決めするため、隔壁等を設ける必要がなく、工数アップ及びコスト増加を招くことなく、液滴を高精度に基板上に配置して、微細パターンを描画することができる。また、本発明の描画システムでは、除去手段により、基板上のパターンを除去できるので、例えば配線パターンの一部を除去して抵抗素子を形成する等、所望形状を容易に形成することが可能になる。
前記捕捉手段としては、照射した光の光圧で前記液滴を捕捉する構成を好適に採用できる。この場合の光としては、YAGレーザや赤外線レーザ等のレーザ光を用いることができる。すなわち、本発明では、いわゆるレーザピンセット方式により液滴を捕捉して、基板上に高精度に位置決めすることにより、微細パターンを描画することが可能である。
前記位置決め手段としては、前記捕捉された液滴に対して前記基板を前記所定位置に応じた位置に相対移動させる構成を採用できる。
これにより、本発明では、捕捉した液滴を移動させずに基板上の所定位置に塗布できるため、液滴が捕捉状態から外れることなく安定して所定位置に描画することが可能になる。
また、前記位置決め手段としては、前記光を集光する光学素子と、前記光学素子の焦点位置を移動させる移動装置とを有する構成も好適に採用できる。
この構成では、光学素子の焦点に光が集光され、この焦点位置に液滴を捕捉しておくことが可能になる。そして、移動装置により光学素子の焦点位置を移動させることにより、捕捉した液滴を焦点位置に追従させて移動させることができる。
そのため、焦点位置を基板上の所定位置に移動させることにより、液滴を所定位置に移動させて塗布することが可能になる。
また、この場合には、前記位置決め手段が、捕捉された前記液滴を互いに受け渡して搬送する複数の搬送手段を有する構成も好適に採用できる。
従って、この構成では、液滴を捕捉した位置と基板上に塗布する位置との距離が大きい場合でも円滑に液滴を搬送することが可能になり、基板の大型化にも対応することができる。
また、本発明では、前記液滴を吐出するタイミングに応じて前記光の焦点位置を移動させる同期装置を有する構成も好適に採用できる。
この構成では、吐出ヘッドから吐出された液滴の移動速度に合わせて光の焦点位置の移動速度を同期させることにより、液滴と焦点位置との相対速度を略同一とすることができ、吐出ヘッドから吐出された液滴を容易に捕捉することができる。
また、本発明では、前記光が、前記液滴に対して透明な波長を有する第1光と、前記液滴を硬化させる波長を有する第2光とを有する構成も好適に採用できる。
これにより、本発明では、第1光が液滴を透過する際の光圧により液滴を捕捉することができるとともに、第2光により液滴を硬化(溶媒の蒸発が進んだ半硬化状態も含む)させることにより、液滴の捕捉状態が解除されてしまうことを防止でき、また球状の液滴を例えばマイクロレンズとして基板上に配置することが可能になる。
また、本発明における前記除去手段としては、前記基板上に形成されたパターンに対して第3光を照射して、前記パターンの少なくとも一部を除去する構成を好適に採用できる。これにより、本発明では、第3光の照射位置を調整することにより、容易にパターン除去位置を設定することができ、所望形状を容易に得ることができる。
この第3光としては、前記液滴を捕捉する前記光と同一波長を有することが好ましい。
これにより、本発明では、捕捉手段と同一の光源を使用することが可能になり、装置の小型化及び低価格化に寄与できる。
そして、本発明のデバイスは、先に記載の描画システムにより、基板上に機能液の液滴が塗布されたことを特徴とするものである。
これにより、本発明では、基板上に隔壁等を設けることなく、高精度に微細パターンが描画されたデバイスを得ることができる。
また、このデバイスとしては、前記液滴が前記基板における前記液滴に対する親液性領域に塗布される構成も好適である。
これにより、本発明では、
そして、本発明の電気光学装置は、先に記載のデバイスを備えることを特徴とするものである。また、本発明の電子機器は、先に記載のデバイスを備えることを特徴とするものである。
従って、本発明では、工数アップ及びコスト増加を招くことなく、高精度に微細パターンが描画された高品質の電気光学装置及び電子機器を得ることができる。
以下、本発明の描画システム、デバイス及び電気光学装置並びに電子機器の実施の形態を、図1ないし図13を参照して説明する。
(第1実施形態)
まず、本発明の描画システムについて説明する。
この描画システムは、液滴吐出ヘッドから液滴を吐出して基板に塗布する液滴吐出装置(インクジェット装置)を備えている。
図1は、描画システムを構成する液滴吐出装置IJの概略構成を示す斜視図である。
液滴吐出装置IJは、液滴吐出ヘッド(吐出ヘッド)1と、X軸方向駆動軸4と、Y軸方向ガイド軸5と、制御装置CONTと、ステージ7と、クリーニング機構8と、基台9、レーザピンセット装置(捕捉手段)15とを備えている。
ステージ7は、この液滴吐出装置IJによりインク(液体材料)を設けられる基板Pを支持するものであって、基板Pを基準位置に固定する不図示の固定機構を備えている。
液滴吐出ヘッド1は、複数の吐出ノズルを備えたマルチノズルタイプの液滴吐出ヘッドであり、長手方向とX軸方向とを一致させている。複数の吐出ノズルは、液滴吐出ヘッド1の上面(+Z側の面)にX軸方向に並んで一定間隔で設けられている。液滴吐出ヘッド1の吐出ノズルからは、ステージ7に支持されている基板Pに塗布(描画)される各種機能液の液滴が吐出される。
X軸方向駆動軸4には、X軸方向駆動モータ2が接続されている。X軸方向駆動モータ2はステッピングモータ等であり、制御装置CONTからX軸方向の駆動信号が供給されると、X軸方向駆動軸4を回転させる。X軸方向駆動軸4が回転すると、液滴吐出ヘッド1はX軸方向に移動する。
Y軸方向ガイド軸5は、基台9に対して動かないように固定されている。ステージ7は、Y軸方向駆動モータ3を備えている。Y軸方向駆動モータ3はステッピングモータ等であり、制御装置CONTからY軸方向の駆動信号が供給されると、ステージ7をY軸方向に移動させる。
制御装置CONTは、液滴吐出ヘッド1に液滴の吐出制御用の電圧を供給する。また、X軸方向駆動モータ2に液滴吐出ヘッド1のX軸方向の移動を制御する駆動パルス信号を、Y軸方向駆動モータ3にステージ7のY軸方向の移動を制御する駆動パルス信号を供給する。
クリーニング機構8は、液滴吐出ヘッド1をクリーニングするものである。クリーニング機構8には、図示しないY軸方向の駆動モータが備えられている。このY軸方向の駆動モータの駆動により、クリーニング機構は、Y軸方向ガイド軸5に沿って移動する。クリーニング機構8の移動も制御装置CONTにより制御される。
液滴吐出装置IJは、液滴吐出ヘッド1と基板Pを支持するステージ7とを相対的に走査しつつ基板Pに対して液滴を塗布する。ここで、以下の説明において、Y軸方向を走査方向、Y軸方向と直交するX軸方向を非走査方向とする。したがって、液滴吐出ヘッド1の吐出ノズルは、非走査方向であるX軸方向に一定間隔で並んで設けられている。なお、図1では、液滴吐出ヘッド1は、基板Pの進行方向に対し直角に配置されているが、液滴吐出ヘッド1の角度を調整し、基板Pの進行方向に対して交差させるようにしてもよい。このようにすれば、液滴吐出ヘッド1の角度を調整することで、ノズル間のピッチを調節することが出来る。また、基板Pとノズル面との距離を任意に調節することが出来るようにしてもよい。
液滴吐出法の吐出技術としては、帯電制御方式、加圧振動方式、電気機械変換式、電気熱変換方式、静電吸引方式などが挙げられる。帯電制御方式は、材料に帯電電極で電荷を付与し、偏向電極で材料の飛翔方向を制御してノズルから吐出させるものである。また、加圧振動方式は、材料に3×10Pa程度の高圧を印加してノズル先端側に材料を吐出させるものであり、制御電圧をかけない場合には材料が直進してノズルから吐出され、制御電圧をかけると材料間に静電的な反発が起こり、材料が飛散してノズルから吐出されない。また、電気機械変換方式は、ピエゾ素子(圧電素子)がパルス的な電気信号を受けて変形する性質を利用したもので、ピエゾ素子が変形することによって材料を貯留した空間に可撓物質を介して圧力を与え、この空間から材料を押し出してノズルから吐出させるものである。
図2には、ピエゾ方式による液体材料の吐出原理を説明するための図である。
図2において、液体材料(機能液)を収容する液体室21に隣接してピエゾ素子22が設置されている。液体室21には、液体材料を収容する材料タンクを含む液体材料供給系23を介して液体材料が供給される。ピエゾ素子22は駆動回路24に接続されており、この駆動回路24を介してピエゾ素子22に電圧を印加し、ピエゾ素子22を変形させることにより、液体室21が変形し、ノズル25から液体材料が吐出される。この場合、印加電圧の値を所定の駆動波形で変化させることにより、ピエゾ素子22の歪み量が制御される。また、印加電圧の周波数を変化させることにより、ピエゾ素子22の歪み速度が制御される。
なお、液滴吐出方式としては、液体材料を加熱し発生した泡(バブル)により液体材料を吐出させるバブル(サーマル)方式でも採用可能であるが、ピエゾ方式による液滴吐出は材料に熱を加えないため、材料の組成に影響を与えにくいという利点を有する。
また、本実施の形態においては、図1及び図2に示すように、液滴吐出ヘッド1の走査方向一方側に位置してレーザピンセット装置15が設けられている。
レーザピンセット装置15は、液滴吐出ヘッド1から吐出された液滴Lを捕捉し、基板P上の所定位置に位置決めするものであって、レーザ光源を含むレーザ光発生装置16と、レーザ光発生装置16から照射されたレーザ光(光)を集光する対物レンズ等の集光レンズ(光学素子)17と、これらレーザ光発生装置16及び集光レンズ17を一体的に保持してX軸と平行な軸周りに回転自在な支持部材18とを有している。集光レンズ17は、複数のノズル25のそれぞれに対して設けられている。また、レーザ光発生装置16は、複数のノズル25のそれぞれに対して設けてもよいし、一つのレーザ光をビームスプリッタにより、複数のレーザ光に分岐してもよい。
また、このレーザピンセット装置15は、液滴吐出ヘッド1から+Z側に向けて吐出された液滴Lが重力及び空気抵抗によって、飛行速度がほぼゼロとなる高さ(Z位置)に配置されている。
レーザ光発生装置16からは、液滴Lに対して透明な(液滴Lに対して、実質的に吸収されない)波長を有するレーザ光が−Y側へ向けて平行光として照射される。レーザ光源としては、例えばYAG、赤外線、アルゴン等が好適に用いられる。
集光レンズ17は、液滴吐出ヘッド1から吐出された液滴Lの飛行経路上に焦点位置が合致するように光学特性及び位置が設定されるとともに、図示しない駆動機構(移動装置)により、レーザ光発生装置16に対して微小距離の離間・接近が自在な構成となっている。
上記のレーザ光発生装置16からのレーザ光の照射、支持部材18の回転及び集光レンズ17の移動は、制御装置CONTにより制御される。
続いて、上記の液滴吐出装置IJを用いた液滴塗布方法により、基板P上に液滴を描画する手順について、図2乃至図7を参照して説明する。なお、図3及び図4においては、便宜上、液滴吐出ヘッド1及び支持部材18の図示を省略している。
図2に示すように、液滴吐出ヘッド1から吐出されて液滴Lは、重力(自重)及び空気抵抗により減速して、速度がほぼゼロとなる捕捉位置に到達する。
液滴Lが捕捉位置に到達したことが、カメラやラインセンサ等の検出手段(図示せず)により検出されると、制御装置CONTはレーザ光発生装置16からレーザ光を照射させる。
液滴Lの大きさがレーザ光の波長よりも十分大きい場合、レーザ光が液滴Lを透過する際に屈折することにより、液滴Lに力(光圧)が及ぼされる。つまり、レーザ光が液滴Lで屈折する際の光圧が運動量として変換され、液滴Lに力が及ぶことになる。運動量保存の法則により総運動量は保存されるため、一部の運動量が液滴Lに分配されて液滴Lを拘束する力となる。
例えば、レーザ光が平行光である場合、レーザ光の光子の分布はガウシアンで、光子密度(光子の流れまたは光の強さ)がビーム中央で最も大きく、円周部に向かうに従って小さくなる。また、レーザ中心部の光は外側に屈折し(中央から遠ざかる)、この光子の運動量の変化から発生したカはビームの中央方向に向う。一方、レーザ周辺部の光は内側に屈折し(中央に向かう)、この光子の運動量の変化から発生したカはビームの周辺方向に向う。ところが、ビームの中央付近の光子の数が大きいことからこの2つの力は、同じではなく、レーザ中央部の光で発生した光の方がより大きくなり、結果として液滴Lはレーザ中央付近に捕捉される。
次に、支持部材18がレーザ光発生装置16及び集光レンズ17とともに、図2中、反時計回りに90°回転することにより、レーザ光で捕捉されている液滴Lは、図3に示すように、基板Pと対向する位置に移動する。このときの移動速度は、液滴Lの直径、表面張力、粘度等で決定されるが、捕捉状態を維持できる範囲の高速で移動させることがスループットの考慮した場合、好ましい。
続いて、制御装置CONTは位置決め手段として、集光レンズ17を基板Pに接近する(レーザ光発生装置16から離間する)方向に移動させる。これにより、集光レンズ17の焦点位置が移動し、レーザ光で捕捉された液滴Lも基板Pに接近して着弾する。そして、レーザ光発生装置16からのレーザ照射を停止することにより、液滴Lへの捕捉状態は解除され、液滴Lは基板P上の所定位置に位置決めされる。
これら液滴Lの基板Pへの位置決めは、複数のノズル25のそれぞれで独立して行われる。
なお、液滴Lが着弾する前には、予め基板Pは、液滴Lが塗布される所定の位置が、集光レンズ17の直下に位置決めされるように、X軸方向駆動モータ2を介して液滴吐出ヘッド1(及びレーザピンセット装置15)を相対移動させるとともに、Y軸方向駆動モータ3を介してステージ7を移動させておく。
この後、液滴Lを乾燥・焼成することにより、基板P上の所定位置に膜パターンF(例えば配線パターン、図5参照)が描画形成される。
続いて、レーザピンセット装置15は除去手段として、膜パターンFの一部を除去する。具体的には、集光レンズ17の焦点位置が膜パターンF上に位置するように、集光レンズ17を移動させる。また、膜パターンFの中、除去すべき膜パターンが集光レンズ17の焦点位置となるように、ステージ7を駆動する。また膜パターンFのトリミング可能なパワーをレーザ光が有するようにレーザ光発生装置16を調整する。
そして、レーザ光発生装置16から出射されたレーザ光(第3光)により膜パターンFが照射されることにより、図6に示すように、膜パターンFの一部が除去されて欠落部Faが形成される。
そして、膜パターンFを除去する形状に応じてステージ7を介して基板Pを相対移動させることにより、所望形状の欠落部Faを形成することができる。例えば、図7に示すように、線状の膜パターンFに対して線幅方向に基板Pを移動させることにより、部分的に繋がった配線パターンを形成する欠落部Faとすることができる。
この場合、配線パターンFの中に任意の抵抗値を有する抵抗素子を形成することができる。
以上のように、本実施の形態では、液滴吐出ヘッド1から吐出された液滴Lをレーザピンセット装置15で捕捉し、基板P上の所定位置に位置決めするため、隔壁を用いることなく超精密の微細パターンを容易に描画形成することができ、隔壁を用いた場合のような工数アップ及びコスト増加を回避することが可能になる。
また、本実施形態では、集光素子17の焦点位置を移動させることにより、容易に液滴Lを所定位置に移動させることができる。
また、本実施形態では、レーザ光によって膜パターンFの一部を任意の形状にトリミングするので、抵抗素子等を膜ターンFの一部に容易に形成することが可能になる。
また、本発明では、液滴Lを捕捉する際と同じ波長のレーザ光を用いてパターンのトリミングを行っているため、光源を共用することが可能になり、装置の小型化及び低価格に寄与できる。
(第2実施形態)
続いて、第2実施形態について説明する。
上記第1実施形態では、液滴吐出ヘッド1から液滴Lを上方(+Z側)へ向けて吐出する構成としたが、本実施形態では、下方(−Z側)に向けて吐出する場合について説明する。また、本実施形態では、液滴Lとして、UV硬化樹脂の液滴が吐出され、液滴Lを捕捉するレーザピンセット装置15が上記レーザ光に加えて、液滴Lを硬化させる波長を有するUV光を照射する構成となっている。
この構成では、ノズル25は、液滴吐出ヘッド1の下面側(−Z側)に形成されており、レーザピンセット装置15は吐出された液滴Lが空気抵抗により飛行速度がほぼゼロとなるZ位置に配置されている。
具体的には、重量が10ngの液滴Lはおよそ3m/sの速度で吐出された場合、2mm程度飛行すると、空気抵抗により減速して速度がほぼゼロとなる。
そのため、レーザピンセット装置15は、液滴吐出ヘッド1のノズル面からおよそ2mm程度下方のZ位置に設けられ、吐出された液滴Lに対して光を照射して捕捉する。
このとき、レーザ光発生装置16からは上記レーザ光が第1光として照射されるとともに、図示しないUV光発生装置からはUV光が第2光として照射される。液滴Lに対してレーザ光を照射することにより液滴Lを捕捉し、UV光を照射することにより、液滴Lの硬化を促進させることができる。
そのため、着弾時には、液滴Lは硬化(または高粘度化)しているため、濡れ拡がらずに着弾径を小さくすることができ、より微細なパターンを形成することが可能になるとともに、別途、乾燥・焼成工程を設ける必要がなくなるため、生産効率の向上に寄与できる。
さらに、本実施形態では、空中で液滴Lを硬化させることにより、略球体を形成できる等、塗布・描画時の形状を制御することも可能である。
また、硬化して形状が安定した液滴Lを移動させることになるため、移動速度を大きくすることが可能になり、スループットの向上に寄与できる。
このように、硬化(半硬化)した液滴Lを基板上に位置決めした後に、上述したレーザ光発生装置16から出射されるレーザ光を用いてトリミングを行うことにより、微細パターンに対して所望の微細形状を形成することが可能である。
(第3実施形態)
続いて、本発明に係る液滴吐出装置の第3実施形態について、図8を参照して説明する。上記実施形態では、液滴吐出ヘッド1から吐出された液滴Lの飛行速度がほぼゼロとなるZ位置にレーザピンセット装置15を配置して、液滴Lを捕捉する構成としたが、本実施形態では、照射するレーザ光を液滴Lの飛行速度と同期させて捕捉する構成となっている。
より詳細には、図8に示すように、本実施形態に係るレーザピンセット装置15は、レーザ光発生装置16と集光レンズ17との間に、ポリゴンミラー(同期装置)19が配設されている。ポリゴンミラー19は、制御装置CONTの制御下で液滴吐出ヘッド1からの液滴Lの吐出タイミングに応じた回転速度でX軸周りの図中、反時計回り方向に回転する。レーザ光発生装置16から照射されたレーザ光は、ポリゴンミラー19の反射面19aで反射して集光ミラー17で集光されるが、ポリゴンミラー19が回転するのに従って、集光ミラー17の焦点位置も−Z側へ移動する。
そのため、ポリゴンミラー19の回転速度及びタイミングを調整することにより、吐出された液滴Lの飛行速度と集光レンズ17の焦点位置の移動速度との相対速度をほぼゼロとすることができる。
本実施形態では、上記の構成を採ることにより、必ずしも重力や空気抵抗により液滴Lの飛行速度がほぼゼロとなるZ位置にレーザピンセット装置15を配置する必要がなくなり、設計の汎用性を拡げることが可能になる。
また、本実施形態では、液滴Lの飛行速度がゼロとならない場合でも、容易、且つ確実に液滴Lを捕捉して、基板P上の所定位置に位置決めすることが可能になる。
また、本実施形態においても、位置決めされた液滴Lに対してレーザトリミングを実施することにより、任意の形状を容易に形成することが可能である。
(第4実施形態)
次に、第4実施形態について、図9を参照して説明する。
本実施形態では、図9に示すように、レーザピンセット装置15がY軸方向に間隔をあけて複数設けられている。各レーザピンセット装置15は、液滴Lを捕捉した状態でX軸周りに、例えば180°回転することで、搬送手段として液滴Lを互いに受け渡してY軸方向に搬送可能に設けられている。
この際、隣り合うレーザピンセット装置15においては、レーザ光発生装置16、集光レンズ17、支持部材18は、互いに逆方向に回転する構成となっている。
本実施形態では、例えば基板Pを移動させる機構が設けられていない場合であっても、容易、且つ確実に液滴Lを所望の位置に搬送して、基板Pの所定位置に位置決めすることが可能である。また、このとき、隣り合うレーザピンセット装置15間で回転方向を逆方向に設定することにより、隣り合うレーザピンセット装置15間で焦点位置の相対移動速度をほぼゼロにすることが可能になり、液滴Lの移動速度を低下させることなく、連続的に液滴Lを受け渡すことが可能になり、液滴塗布に要する時間を短くして生産効率の向上に寄与できる。
上述した描画システムを構成する液滴吐出装置IJを用いて微細パターンが形成された基板は、例えば半導体素子等を備えて構成される各種の電子デバイスに用いられるが、このような基板を備えた各種の電子デバイスは、全て本発明のデバイスとなる。
また、電子デバイス以外にも、前記微細パターンが形成された基板は各種の表示デバイスや駆動デバイスに適用可能であり、これらデバイスは、例えばワープロ、パソコン等の携帯型情報処理装置や、携帯電話、腕時計型電子機器など、各種の電子機器における表示部等として好適に用いることができる。
(液晶表示装置)
次に、上述した液滴吐出装置IJを備えた描画システムを用いて製造される液晶パネル(デバイス)及び当該液晶パネルを備える液晶装置(電気光学装置)について説明する。
図10乃至図12に示す本実施の形態の電気光学装置としての液晶表示装置は、スイッチング素子としてTFT(Thin Film Transistor)素子を用いたアクティブマトリクスタイプの透過型液晶装置である。図10は本実施形態の透過型液晶装置のマトリクス状に配置された複数の画素におけるスイッチング素子、信号線等の等価回路図である。図11はデータ線、走査線、画素電極等が形成されたTFTアレイ基板の相隣接する複数の画素群の構造を示す要部平面図である。図12は図11のA−A’線断面図である。なお、図12においては、図示上側が光入射側、図示下側が視認側(観察者側)である場合について図示している。また、各図においては、各層や各部材を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各層や各部材毎に縮尺を異ならせてある。
本実施の形態の液晶表示装置において、図10に示すように、マトリクス状に配置された複数の画素には、画素電極39と、当該画素電極39への通電制御を行うためのスイッチング素子であるTFT素子30とがそれぞれ形成されており、画像信号が供給されるデータ線6aが当該TFT素子30のソースに電気的に接続されている。データ線6aに書き込む画像信号S1、S2、…、Snは、この順に線順次に供給されるか、あるいは相隣接する複数のデータ線6aに対してグループ毎に供給される。
また、走査線3aがTFT素子30のゲートに電気的に接続されており、複数の走査線3aに対して走査信号G1、G2、…、Gmが所定のタイミングでパルス的に線順次で印加される。また、画素電極39はTFT素子30のドレインに電気的に接続されており、スイッチング素子であるTFT素子30を一定期間だけオンすることにより、データ線6aから供給される画像信号S1、S2、…、Snを所定のタイミングで書き込む。
画素電極39を介して液晶に書き込まれた所定レベルの画像信号S1、S2、…、Snは、後述する共通電極との間で一定期間保持される。液晶は、印加される電圧レベルにより分子集合の配向や秩序が変化することにより、光を変調し、階調表示を可能にする。ここで、保持された画像信号がリークすることを防止するために、画素電極39と共通電極との間に形成される液晶容量と並列に蓄積容量70が付加されている。
次に、図11に基づいて、本実施形態の液晶表示装置の要部の平面構造について説明する。図11に示すように、TFTアレイ基板上に、インジウム錫酸化物(Indium Tin Oxide, 以下、ITOと略記する)等の透明導電性材料からなる矩形状の画素電極39(点線部9Aにより輪郭を示す)が複数、マトリクス状に設けられており、画素電極39の縦横の境界に各々沿ってデータ線6a、走査線3aおよび容量線3bが設けられている。本実施の形態において、各画素電極39および各画素電極39を囲むように配設されたデータ線6a、走査線3a、容量線3b等が形成された領域が画素であり、マトリクス状に配置された各画素毎に表示を行うことが可能な構造になっている。そして、各画素電極39を囲むデータ線6a、走査線3a、容量線3b等が形成された縦横の格子状に形成された領域が画像の表示を行わない非表示領域Uとされている。
データ線6aは、TFT素子30を構成する例えばポリシリコン膜からなる半導体層1aのうち、後述のソース領域にコンタクトホール35を介して電気的に接続されており、画素電極39は、半導体層1aのうち、後述のドレイン領域にコンタクトホール38を介して電気的に接続されている。また、半導体層1aのうち、後述のチャネル領域(図中左上がりの斜線の領域)に対向するように走査線3aが配置されており、走査線3aはチャネル領域に対向する部分でゲート電極として機能する。
容量線3bは、走査線3aに沿って略直線状に伸びる本線部(すなわち、平面的に見て、走査線3aに沿って形成された第1領域)と、データ線6aと交差する箇所からデータ線6aに沿って前段側(図中上向き)に突出した突出部(すなわち、平面的に見て、データ線6aに沿って延設された第2領域)とを有する。そして、図11中、右上がりの斜線で示した領域には、複数の第1遮光膜11aが設けられている。
次に、図12に基づいて、本実施の形態の液晶表示装置の断面構造について説明する。図12は、上述した通り図11のA−A’線断面図であり、TFT素子30が形成された領域の構成について示す断面図である。本実施の形態の液晶装置においては、TFTアレイ基板10と、これに対向配置される対向基板20との間に液晶層50が挟持されている。
液晶層50は、例えば一種又は数種類のネマティック液晶を混合した液晶からなり、一対の配向膜40及び60の間で、所定の配向状態をとる。TFTアレイ基板10は、石英等の透光性材料からなる基板本体10Aと、その液晶層50側表面に形成されたTFT素子30、画素電極39、配向膜40を主体として構成されており、対向基板20はガラスや石英等の透光性材料からなる基板本体20Aと、その液晶層50側表面に形成された共通電極31、配向膜60、を主体として構成されている。そして、各基板10,20は、スペーサー45を介して所定の基板間隔が保持されている。
TFTアレイ基板10において、基板本体10Aの液晶層50側表面には画素電極39が設けられ、各画素電極39に隣接する位置に、各画素電極39をスイッチング制御する画素スイッチング用TFT素子30が設けられている。画素スイッチング用TFT素子30は、LDD(Lightly Doped Drain)構造を有しており、走査線3a、当該走査線3aからの電界によりチャネルが形成される半導体層1aのチャネル領域1a’、走査線3aと半導体層1aとを絶縁するゲート絶縁膜32、データ線6a、半導体層1aの低濃度ソース領域1bおよび低濃度ドレイン領域1c、半導体層1aの高濃度ソース領域1dおよび高濃度ドレイン領域1eを備えている。
上記走査線3a上、ゲート絶縁膜32上を含む基板本体10A上には、高濃度ソース領域1dへ通じるコンタクトホール35、及び高濃度ドレイン領域1eへ通じるコンタクトホール38が開孔した第2層間絶縁膜34が形成されている。つまり、データ線6aは、第2層間絶縁膜34を貫通するコンタクトホール35を介して高濃度ソース領域1dに電気的に接続されている。
さらに、データ線6a上および第2層間絶縁膜34上には、高濃度ドレイン領域1eへ通じるコンタクトホール38が開孔した第3層間絶縁膜37が形成されている。すなわち、高濃度ドレイン領域1eは、第2層間絶縁膜34および第3層間絶縁膜37を貫通するコンタクトホール38を介して画素電極39に電気的に接続されている。
また、TFTアレイ基板10の基板本体10Aの液晶層50側表面において、各画素スイッチング用TFT素子30が形成された領域には、TFTアレイ基板10を透過し、TFTアレイ基板10の図示下面(TFTアレイ基板10と空気との界面)で反射されて、液晶層50側に戻る戻り光が、少なくとも半導体層1aのチャネル領域1a’および低濃度ソース、ドレイン領域1b、1cに入射することを防止するための第1遮光膜11aが設けられている。
また、第1遮光膜11aと画素スイッチング用TFT素子30との間には、画素スイッチング用TFT素子30を構成する半導体層1aを第1遮光膜11aから電気的に絶縁するための第1層間絶縁膜12が形成されている。さらに、図11に示したように、TFTアレイ基板10に第1遮光膜11aを設けるのに加えて、コンタクトホール13を介して第1遮光膜11aは、前段あるいは後段の容量線3bに電気的に接続するように構成されている。
さらに、TFTアレイ基板10の液晶層50側最表面、すなわち、画素電極39および第3層間絶縁膜37上には、電圧無印加時における液晶層50内の液晶分子の配向を制御する配向膜40が形成されている。したがって、このようなTFT素子30を具備する領域においては、TFTアレイ基板10の液晶層50側最表面、すなわち液晶層50の挟持面には複数の凹凸ないし段差が形成された構成となっている。
他方、対向基板20には、基板本体20Aの液晶層50側表面であって、データ線6a、走査線3a、画素スイッチング用TFT素子30の形成領域に対向する領域、すなわち各画素部の開口領域以外の領域に、入射光が画素スイッチング用TFT素子30の半導体層1aのチャネル領域1a’や低濃度ソース領域1b、低濃度ドレイン領域1cに侵入することを防止するための第2遮光膜33が設けられている。さらに、第2遮光膜33が形成された基板本体20Aの液晶層50側には、その略全面にわたって、ITO等からなる共通電極31が形成され、その液晶層50側には、電圧無印加時における液晶層50内の液晶分子の配向を制御する配向膜60が形成されている。
上記の液晶表示装置においては、例えばスペーサー45を形成する液滴が液滴吐出ヘッドから吐出され、上述したレーザピンセット装置15により捕捉されて所定位置に高精度に位置決めすることができる。
そのため、ブラックマトリックス上に正確に配置することができ、スペーサー45の位置ズレに起因する不具合、例えば開口率の低下等を防ぐことが可能になり、表示性に優れた高品質の液晶表示装置を得ることができる。
(電子機器)
図13(a)〜(c)は、本発明の電子機器の実施の形態例を示している。
本例の電子機器は、上記の液晶装置を表示手段として備えている。
図13(a)は、携帯電話の一例を示した斜視図である。図13(a)において、符号1000は携帯電話本体を示し、符号1001は上記の液晶装置を用いた表示部を示している。
図13(b)は、腕時計型電子機器の一例を示した斜視図である。図13(b)において、符号1100は時計本体を示し、符号1101は上記の液晶装置を用いた表示部を示している。
図13(c)は、ワープロ、パソコンなどの携帯型情報処理装置の一例を示した斜視図である。図13(c)において、符号1200は情報処理装置、符号1202はキーボードなどの入力部、符号1204は情報処理装置本体、符号1206は上記の液晶装置を用いた表示部を示している。
図13(a)〜(c)に示すそれぞれの電子機器は、上記の液晶装置を表示手段として備えているので、表示性に優れた高品質の電子機器を得ることができる。
以上、添付図面を参照しながら本発明に係る好適な実施形態について説明したが、本発明は係る例に限定されないことは言うまでもない。上述した例において示した各構成部材の諸形状や組み合わせ等は一例であって、本発明の主旨から逸脱しない範囲において設計要求等に基づき種々変更可能である。
例えば、上記実施形態では、液滴Lを捕捉するレーザ光と、膜パターンFをトリミングするレーザ光とを同一波長(同一光源)とする構成としたが、これに限定されるものではなく、液滴Lの種類に応じトリミングに適した波長を有する光(光源)を個別に用いる構成としてもよい。
また、上記実施形態では、集光レンズ17の焦点位置に対して基板Pを相対移動させる構成としたが、これに限定されるものではなく、集光レンズ17または、レーザ光発生装置16が基板Pに対して相対移動する構成としてもよい。
また、本発明に係る描画システムは、上述した液晶パネルの製造のみに適用されるものではなく、例えば、電流を通すことによって発光する有機機能層を画素として用いる有機EL装置等、他の電気光学装置の製造にも適用可能である。なお、有機EL装置に本発明を適用した場合には、有機機能層が本発明に係る液滴吐出装置によって形成される。
さらに、液晶パネルや有機EL装置以外にも、金属配線や有機薄膜トランジスタ、レジストやマイクロレンズアレイ、バイオ分野にも適用可能である。
例えば、上述したUV硬化樹脂を搬送することにより、マイクロレンズを形成することができ、また空中で硬化させることにより、VCSEL上に球状のレンズを形成することも可能になる。
また、液晶表示装置に用いられるカラーフィルタの製造にも適用できる。カラーフィルタ形成用の液滴は、溶媒を選択すれば、波長が1000〜2500nm付近までは透明であるため、この波長帯の光を用いて捕捉することができる。さらに、カラーフィルタ形成用の液滴に吸収される波長の光を照射することにより、液滴の溶媒が蒸発して高濃度化されるため、隔壁から溢れ出すことなく塗布することが可能である。さらに、この場合、液滴が凸形状となるため、レンズ機能を兼用させることで、別途レンズアレイを形成する工程を設ける必要がなくなり、生産効率の向上に寄与できる。また、ある程度硬化した液滴を塗布するため、隔壁そのものを設ける必要もなくなる。
また、隔壁を設けずに液滴を塗布する場合には、例えば基板上の液滴塗布領域に撥液性を付与することで、パターンの線幅を確保するが、本実施形態では、ある程度硬化した液滴を塗布するため、液滴塗布領域が親液性であっても、微細パターンを形成することが可能である。
また、透明電極として多く用いられるITOを成膜する際にも、上述したレーザピンセット装置を用いて基板上に位置決めすることにより、超精密な微細パターンからなる金属配線を形成することも可能になる。
液滴吐出装置の概略構成を示す斜視図である。 液滴吐出ヘッド及びレーザピンセット装置の概略構成図である。 基板上に液滴を描画する手順を示す図である。 基板上に液滴を描画する手順を示す図である。 基板上の膜パターンをトリミングする図である。 基板上の膜パターンをトリミングする図である。 トリミングされた膜パターンの詳細図である。 第3実施形態に係る液滴吐出ヘッド及びレーザピンセット装置の概略構成図である。 第4実施形態に係る液滴吐出ヘッド及びレーザピンセット装置の概略構成図である。 透過型液晶装置のマトリクス状に配置された複数の画素におけるスイッチング素子、信号線等の等価回路図である。 TFTアレイ基板の相隣接する複数の画素群の構造を示す要部平面図である。 図11のA−A’線断面図である。 本発明に係る電子機器の一例を示す斜視図である。
符号の説明
F…膜パターン(パターン)、 IJ…液滴吐出装置(描画システム)、 L…液滴、 P…基板、 1…液滴吐出ヘッド(吐出ヘッド)、 15…レーザピンセット装置(捕捉手段、除去手段)、 19…ポリゴンミラー(同期装置)、 1000…携帯電話本体(電子機器)、 1100…時計本体(電子機器)、 1200…情報処理装置(電子機器)

Claims (13)

  1. 吐出ヘッドから液滴を吐出して基板上に描画する描画システムであって、
    前記吐出ヘッドから吐出された液滴を捕捉する捕捉手段と、
    捕捉した前記液滴を基板上の所定位置に位置決めする位置決め手段と、
    前記位置決めされた液滴により前記基板上に描画されたパターンの少なくとも一部を除去する除去手段とを有することを特徴とする描画システム。
  2. 請求項1記載の描画システムにおいて、
    前記捕捉手段は、照射した光の光圧で前記液滴を捕捉することを特徴とする描画システム。
  3. 請求項2記載の描画システムにおいて、
    前記位置決め手段は、前記捕捉された液滴に対して前記基板を前記所定位置に応じた位置に相対移動させることを特徴とする描画システム。
  4. 請求項2記載の描画システムにおいて、
    前記位置決め手段は、前記光を集光する光学素子と、前記光学素子の焦点位置を移動させる移動装置とを有することを特徴とする描画システム。
  5. 請求項4記載の描画システムにおいて、
    前記位置決め手段は、捕捉された前記液滴を互いに受け渡して搬送する複数の搬送手段を有することを特徴とする描画システム。
  6. 請求項2から5のいずれかに記載の描画システムにおいて、
    前記液滴を吐出するタイミングに応じて前記光の焦点位置を移動させる同期装置を有することを特徴とする描画システム。
  7. 請求項2から6のいずれかに記載の描画システムにおいて、
    前記光は、前記液滴に対して透明な波長を有する第1光と、前記液滴を硬化させる波長を有する第2光とを有することを特徴とする描画システム。
  8. 請求項2から7のいずれかに記載の描画システムにおいて、
    前記除去手段は、前記基板上に形成されたパターンに対して第3光を照射して、前記パターンの少なくとも一部を除去することを特徴とする描画システム。
  9. 請求項8記載の描画システムにおいて、
    前記第3光は、前記液滴を捕捉する前記光と同一波長を有することを特徴とする描画システム。
  10. 請求項1から9のいずれかに記載の描画システムにより、基板上に機能液の液滴が塗布されたことを特徴とするデバイス。
  11. 請求項10記載のデバイスにおいて、
    前記液滴は、前記基板における前記液滴に対する親液性領域に塗布されることを特徴とするデバイス。
  12. 請求項10または11記載のデバイスを備えることを特徴とする電気光学装置。
  13. 請求項10または11記載のデバイスを備えることを特徴とする電子機器。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009139060A1 (ja) * 2008-05-15 2009-11-19 株式会社島津製作所 光マトリックスデバイスの製造方法および光マトリックスデバイスの製造装置
JPWO2013035489A1 (ja) * 2011-09-06 2015-03-23 株式会社ニコン 基板処理装置
JP2020054983A (ja) * 2018-10-04 2020-04-09 国立大学法人東京海洋大学 液滴生成方法および液滴生成装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009139060A1 (ja) * 2008-05-15 2009-11-19 株式会社島津製作所 光マトリックスデバイスの製造方法および光マトリックスデバイスの製造装置
JPWO2013035489A1 (ja) * 2011-09-06 2015-03-23 株式会社ニコン 基板処理装置
JP2020054983A (ja) * 2018-10-04 2020-04-09 国立大学法人東京海洋大学 液滴生成方法および液滴生成装置
JP7237333B2 (ja) 2018-10-04 2023-03-13 国立大学法人東京海洋大学 液滴生成方法および液滴生成装置

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