JP2007035995A - Copper surface treatment liquid, method for manufacturing laminate and laminate - Google Patents

Copper surface treatment liquid, method for manufacturing laminate and laminate Download PDF

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伸也 佐々木
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元昭 谷
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a copper surface treatment liquid capable of enhancing adhesiveness between a copper surface and insulating resin, a method for manufacturing a laminate in which adhesiveness between the copper surface and the insulating resin can be enhanced, and the laminate in which the adhesiveness between the copper surface and the insulating resin is enhanced. <P>SOLUTION: The copper surface is treated with the copper surface treatment liquid containing the triazine thiol of a specific constitution or its derivative and an organic acid or a carbonic acid to form an insulating resin film thereon. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は銅表面処理技術に関する。より具体的には、銅配線層に接して絶縁樹脂層を有する積層体、たとえば支持基板上に絶縁樹脂層と銅配線層とを持つ回路基板において、銅配線層と絶縁樹脂層との密着性を向上させるための銅配線層の表面処理技術に関する。   The present invention relates to a copper surface treatment technique. More specifically, in a laminate having an insulating resin layer in contact with a copper wiring layer, for example, a circuit board having an insulating resin layer and a copper wiring layer on a support substrate, adhesion between the copper wiring layer and the insulating resin layer The present invention relates to a surface treatment technology of a copper wiring layer for improving the resistance.

近年、プリント配線板の微細化、多層化および電子部品の高密度実装化が急速に進み、プリント配線板に対してビルドアップ多層配線構造の検討が活発に行われている。   In recent years, miniaturization and multilayering of printed wiring boards and high-density mounting of electronic components have rapidly progressed, and a buildup multilayer wiring structure has been actively studied for printed wiring boards.

ビルドアップ多層配線構造では、複数の配線層間に絶縁樹脂層が形成されており、配線層間の導通をとるために、ビアホールと称される微細な穴を絶縁樹脂層に形成する。ビアホールは、たとえば、感光性樹脂を用いてフォトリソグラフィ技術により形成する方法や、レーザを照射し穴を形成する方法で作製される。   In the build-up multilayer wiring structure, an insulating resin layer is formed between a plurality of wiring layers, and fine holes called via holes are formed in the insulating resin layer in order to establish conduction between the wiring layers. The via hole is produced by, for example, a method using a photosensitive resin by a photolithography technique or a method of forming a hole by irradiating a laser.

次いで、無電解メッキまたは電気メッキによって、この絶縁樹脂層上に導体を形成し、これをエッチングして新たな配線パターンを形成する。その後、必要に応じて絶縁樹脂層の形成から配線パターンまでの形成工程を繰り返せば、回路の集積度を高めることができる。   Next, a conductor is formed on the insulating resin layer by electroless plating or electroplating, and this is etched to form a new wiring pattern. Thereafter, if the formation process from the formation of the insulating resin layer to the wiring pattern is repeated as necessary, the degree of circuit integration can be increased.

従来からビルドアップ配線基板の配線のほとんどは、銅から成り立っているが、銅は樹脂との密着性が低いことが知られている。そのため、ビルドアップ配線基板の銅配線とその上側の絶縁樹脂層との密着性を向上させるために、次の処理がなされている。   Conventionally, most of the wiring of the build-up wiring board is made of copper, but copper is known to have low adhesion to a resin. Therefore, in order to improve the adhesion between the copper wiring of the build-up wiring board and the insulating resin layer on the upper side, the following processing is performed.

すなわち、塩化第二銅液、塩化第二鉄液、硫酸/過酸化水素水液、ギ酸系水溶液などで銅配線の表面をエッチング(化学研磨)し、10点平均表面粗さ(R)2μm以上の微細突起を作り、配線の上側に形成される樹脂が微細突起のアンカー作用により銅配線表面に強固に固定されるようにする処理がなされている。 That is, the surface of the copper wiring is etched (chemically polished) with cupric chloride solution, ferric chloride solution, sulfuric acid / hydrogen peroxide solution, formic acid aqueous solution, etc., and 10-point average surface roughness (R z ) 2 μm A process is performed in which the fine protrusions are formed and the resin formed on the upper side of the wiring is firmly fixed to the copper wiring surface by the anchor action of the fine protrusions.

しかしながら、近年ビルドアップ配線基板にも高周波の信号が伝送されるようになり、特に1GHzを超える周波数領域においては、微細突起のある配線構造では表皮効果による伝送損失、特に導体損が増大するという問題が生じてきた。   However, in recent years, high-frequency signals have also been transmitted to build-up wiring boards, and particularly in the frequency region exceeding 1 GHz, there is a problem that transmission loss due to the skin effect, particularly conductor loss, increases in a wiring structure with fine protrusions. Has arisen.

銅配線と絶縁樹脂間との密着性は、上記物理的アンカー効果に起因する密着性以外には、銅と絶縁樹脂中の構成成分との間の化学的密着がある。分子レベルでは、各種のトリアジンチオールを用いた方法が開示されている。具体的には、特許文献1では、導体上にトリアジンチオール層が形成されている。この方法では樹脂がトリアジンチオールと反応可能なABS樹脂等に限定されている。また、特許文献2では、導体上にトリアジンチオール層を形成し、さらにトリアジンチオールと反応または吸着可能な有機化合物を形成し、絶縁樹脂との密着を高めている。しかし、この方法では銅表面の酸化を避けることができないため、0.5kgf/cm(換算値は0.049MPa・cm)以下のピール強度しか得られなかった。   The adhesion between the copper wiring and the insulating resin includes chemical adhesion between the copper and the constituent components in the insulating resin, in addition to the adhesion due to the physical anchor effect. At the molecular level, methods using various triazine thiols are disclosed. Specifically, in Patent Document 1, a triazine thiol layer is formed on a conductor. In this method, the resin is limited to an ABS resin that can react with triazine thiol. In Patent Document 2, a triazine thiol layer is formed on a conductor, and an organic compound capable of reacting or adsorbing with triazine thiol is further formed to enhance adhesion with the insulating resin. However, since oxidation of the copper surface cannot be avoided by this method, only a peel strength of 0.5 kgf / cm (converted value is 0.049 MPa · cm) or less was obtained.

これに対しては、トリアジンチオール皮膜を有機メッキして製膜し、その上に絶縁樹脂層を形成する方法が提案されている(非特許文献1参照。)。すなわち、まず逆バイアスをかけて銅表面の酸化皮膜を除去し、しかる後にトリアジンチオールを有機メッキする方法である。しかしながら、メッキするためにはシード電極層が必須であり、孤立した配線部位への適用が困難であるといった問題がある。
特開平10−335782号公報(特許請求の範囲) 特開2001−203462号公報(特許請求の範囲) 森邦夫,「表面技術」,2000年,第51巻、No.3,p.276
For this, a method has been proposed in which a triazine thiol film is formed by organic plating to form an insulating resin layer thereon (see Non-Patent Document 1). That is, first, a reverse bias is applied to remove the oxide film on the copper surface, and then triazine thiol is organically plated. However, a seed electrode layer is essential for plating, and there is a problem that it is difficult to apply to an isolated wiring site.
Japanese Patent Laid-Open No. 10-335782 (Claims) JP 2001-203462 A (Claims) Kunio Mori, “Surface Technology”, 2000, Vol. 3, p. 276

本発明は、上記問題を解決し、銅表面と絶縁樹脂との密着性を向上させる新規な技術を提供することを目的としている。本発明のさらに他の目的および利点は、以下の説明から明らかになるであろう。   An object of the present invention is to solve the above problems and provide a novel technique for improving the adhesion between a copper surface and an insulating resin. Still other objects and advantages of the present invention will become apparent from the following description.

本発明の一態様によれば、下記式(1)に示すトリアジンチオールおよびその誘導体からなる群から選ばれた少なくとも一つの化合物と、   According to one aspect of the present invention, at least one compound selected from the group consisting of triazine thiol and its derivatives represented by the following formula (1):

Figure 2007035995
(式(1)中、XはNRまたはSAであり、NR中のRは、互いに独立に水素、メチル基、エチル基、n―プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、i−ブチル基、t−ブチル基または置換基を有していてもよいフェニル基であり、Aは、互いに独立に、水素、NH、リチウム、ナトリウム、カリウム、ルビジウムまたはセシウムである。)
有機酸および炭酸からなる群から選ばれた少なくとも一つの酸とを含んでなる銅表面処理液が提供される。
Figure 2007035995
(In the formula (1), X is NR 2 or SA, and R in NR 2 is independently of each other hydrogen, methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, i-butyl. A group, a t-butyl group or an optionally substituted phenyl group, and A is independently of each other hydrogen, NH 4 , lithium, sodium, potassium, rubidium or cesium.)
There is provided a copper surface treatment solution comprising at least one acid selected from the group consisting of an organic acid and carbonic acid.

本発明態様により銅表面と絶縁樹脂との密着性を向上させることができる。具体的には銅配線層に接して絶縁樹脂層を有する積層体において、銅配線層と絶縁樹脂層との間の密着性を向上させることができる。従って、密着性に優れた積層体、たとえば多層配線構造を持つ半導体集積回路装置を得ることができる。   According to the embodiment of the present invention, the adhesion between the copper surface and the insulating resin can be improved. Specifically, in a laminate having an insulating resin layer in contact with a copper wiring layer, adhesion between the copper wiring layer and the insulating resin layer can be improved. Therefore, it is possible to obtain a laminated body having excellent adhesion, for example, a semiconductor integrated circuit device having a multilayer wiring structure.

銅表面処理液のpHが7以下であること、銅表面処理液が、水とアルコールとの少なくとも一つを含んでなること、銅表面処理液が、銅表面と絶縁樹脂との密着性を向上させるための処理液であること、および、銅表面処理液が、銅配線層と絶縁樹脂層との密着性を向上させるための処理液であること、が好ましい。   The pH of the copper surface treatment liquid is 7 or less, the copper surface treatment liquid contains at least one of water and alcohol, and the copper surface treatment liquid improves the adhesion between the copper surface and the insulating resin. And a copper surface treatment liquid is preferably a treatment liquid for improving the adhesion between the copper wiring layer and the insulating resin layer.

本発明の他の一態様によれば、銅配線層に接して絶縁樹脂層を有する積層体の製造方法において、上記の銅表面処理液で当該銅配線表面を処理し、その上に当該絶縁樹脂層を形成する、積層体の製造方法が提供される。本発明態様により、密着性に優れた積層体、たとえば多層配線構造を持つ半導体集積回路装置を製造することができる。   According to another aspect of the present invention, in a method for manufacturing a laminate having an insulating resin layer in contact with a copper wiring layer, the copper wiring surface is treated with the copper surface treatment liquid, and the insulating resin is formed thereon. A method of manufacturing a laminate is provided that forms a layer. According to the aspect of the present invention, it is possible to manufacture a laminated body having excellent adhesion, for example, a semiconductor integrated circuit device having a multilayer wiring structure.

前記銅表面処理液での銅配線表面の処理が、前記銅表面処理液中への銅配線表面の浸漬または前記銅表面処理液による銅配線表面へのスプレーであること、前記銅表面処理液による前記銅配線表面の処理後、前記絶縁樹脂層の形成前に、銅表面処理液により処理された銅配線表面をシラン系カップリング剤で処理すること、および、前記絶縁樹脂層が、ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂、ビスマレイミド樹脂、マレイミド樹脂、シアネート樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ポリフェニレンオキサイド樹脂、オレフィン樹脂、フッ素含有樹脂、液晶ポリマー、ポリエーテルイミド樹脂およびポリエーテルエーテルケトン樹脂からなる群から選ばれた少なくとも一つの樹脂を含んでなるものであること、が好ましい。   The treatment of the copper wiring surface with the copper surface treatment liquid is immersion of the copper wiring surface in the copper surface treatment liquid or spraying on the copper wiring surface with the copper surface treatment liquid, by the copper surface treatment liquid After the treatment of the copper wiring surface, before the formation of the insulating resin layer, the copper wiring surface treated with a copper surface treatment liquid is treated with a silane coupling agent, and the insulating resin layer is a polyimide resin, At least one selected from the group consisting of epoxy resins, bismaleimide resins, maleimide resins, cyanate resins, polyphenylene ether resins, polyphenylene oxide resins, olefin resins, fluorine-containing resins, liquid crystal polymers, polyetherimide resins, and polyetheretherketone resins. It is preferable that it comprises two resins.

本発明の更に他の一態様によれば、銅配線層に接して絶縁樹脂層を有する積層体であって、上記の銅表面処理液で当該銅配線表面を処理し、その上に当該絶縁樹脂層を形成してなる積層体が提供される。本発明態様により、密着性に優れた積層体、たとえば多層配線構造を持つ半導体集積回路装置を得ることができる。   According to still another aspect of the present invention, a laminate having an insulating resin layer in contact with a copper wiring layer, wherein the copper wiring surface is treated with the copper surface treatment liquid, and the insulating resin is formed thereon. A laminated body formed by forming a layer is provided. According to the aspect of the present invention, it is possible to obtain a laminated body having excellent adhesion, for example, a semiconductor integrated circuit device having a multilayer wiring structure.

前記銅表面処理液での銅配線表面の処理が、前記銅表面処理液中への銅配線表面の浸漬または前記銅表面処理液による銅配線表面へのスプレーであること、前記銅表面処理液による前記銅配線表面の処理後、前記絶縁樹脂層の形成前に、銅表面処理液により処理された銅配線表面をシラン系カップリング剤で処理してなること、前記積層体が多層配線構造を持つ半導体集積回路装置であること、および、前記絶縁樹脂層が、ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂、ビスマレイミド樹脂、マレイミド樹脂、シアネート樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ポリフェニレンオキサイド樹脂、オレフィン樹脂、フッ素含有樹脂、液晶ポリマー、ポリエーテルイミド樹脂およびポリエーテルエーテルケトン樹脂からなる群から選ばれた少なくとも一つの樹脂を含んでなるものであること、が好ましい。   The treatment of the copper wiring surface with the copper surface treatment liquid is immersion of the copper wiring surface in the copper surface treatment liquid or spraying on the copper wiring surface with the copper surface treatment liquid, by the copper surface treatment liquid After the treatment of the copper wiring surface and before the formation of the insulating resin layer, the copper wiring surface treated with a copper surface treatment liquid is treated with a silane coupling agent, and the laminate has a multilayer wiring structure. A semiconductor integrated circuit device, and the insulating resin layer is a polyimide resin, epoxy resin, bismaleimide resin, maleimide resin, cyanate resin, polyphenylene ether resin, polyphenylene oxide resin, olefin resin, fluorine-containing resin, liquid crystal polymer, At least one resin selected from the group consisting of polyetherimide resins and polyetheretherketone resins It is made comprise, are preferred.

本発明により銅表面と絶縁樹脂との密着性を向上させることができる。具体的には銅配線層に接して絶縁樹脂層を有する積層体において、銅配線層と絶縁樹脂層との間の密着性を向上させることができる。従って、密着性に優れた積層体、たとえば多層配線構造を持つ半導体集積回路装置を得ることができる。   According to the present invention, the adhesion between the copper surface and the insulating resin can be improved. Specifically, in a laminate having an insulating resin layer in contact with a copper wiring layer, adhesion between the copper wiring layer and the insulating resin layer can be improved. Therefore, it is possible to obtain a laminated body having excellent adhesion, for example, a semiconductor integrated circuit device having a multilayer wiring structure.

以下に、本発明の実施の形態を図、式、実施例等を使用して説明する。なお、これらの図、式、実施例等および説明は本発明を例示するものであり、本発明の範囲を制限するものではない。本発明の趣旨に合致する限り他の実施の形態も本発明の範疇に属し得ることは言うまでもない。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings, formulas, examples and the like. In addition, these figures, formulas, examples, etc., and explanations illustrate the present invention, and do not limit the scope of the present invention. It goes without saying that other embodiments may belong to the category of the present invention as long as they match the gist of the present invention.

本発明に係る銅表面処理液は、特定の化学構造を有するトリアジンチオールおよびその誘導体からなる群から選ばれた少なくとも一つの化合物と有機酸および炭酸からなる群から選ばれた少なくとも一つの酸とを含んでなる。   The copper surface treatment liquid according to the present invention comprises at least one compound selected from the group consisting of triazine thiol having a specific chemical structure and derivatives thereof and at least one acid selected from the group consisting of organic acids and carbonic acid. Comprising.

本発明において銅表面処理液による処理の対象となる銅表面は、無電解メッキ法、電解メッキ法、蒸着法、スパッタ法、ダマシン法等どのような方法で作製された銅の表面であってもよく、空気中における銅の酸化等の化学的変化を受ける前の表面であっても、化学的変化を受けた後の表面であってもよいが、密着効果を発揮し易いという観点からは後者の方が好ましい。たとえば銅配線を大気中で形成した場合や、銅配線を、酸素に触れない環境下で形成した後空気に触れた場合が該当する。なお、本発明において「銅」には銅合金も含まれる。銅合金における銅の含有量については特に制限はないが、多い方が本発明の効果が現れやすい。   In the present invention, the copper surface to be treated with the copper surface treatment liquid may be a copper surface produced by any method such as an electroless plating method, an electrolytic plating method, a vapor deposition method, a sputtering method, or a damascene method. Well, it may be the surface before undergoing a chemical change such as copper oxidation in the air, or the surface after undergoing a chemical change, but the latter from the viewpoint of easily exerting the adhesion effect Is preferred. For example, the case where the copper wiring is formed in the atmosphere, or the case where the copper wiring is formed in an environment where it is not exposed to oxygen and then exposed to air is applicable. In the present invention, “copper” includes a copper alloy. Although there is no restriction | limiting in particular about copper content in a copper alloy, the one where there are many will show the effect of this invention easily.

この銅表面は、上記のアンカー処理を受けたものであってもよい。そのような場合にはより高い密着性が得られることが多い。アンカー処理における銅表面10点平均表面粗さは0.5〜5μmの範囲が好ましい。   This copper surface may have been subjected to the above-described anchor treatment. In such a case, higher adhesion is often obtained. The copper surface 10-point average surface roughness in the anchor treatment is preferably in the range of 0.5 to 5 μm.

特定の化学構造を有するトリアジンチオールやその誘導体(以下、「トリアジンチオールやその誘導体」を纏めて「トリアジンチオール化合物」と呼称する)により密着力が向上する理由は、一つまたは二つのメルカプト基が銅と反応し、残ったメルカプト基および/またはNR基が絶縁樹脂と反応することにより高い密着力が得られるからであると推察される。 The reason why adhesion is improved by triazine thiol having a specific chemical structure or a derivative thereof (hereinafter, “triazine thiol or derivative thereof” is collectively referred to as “triazine thiol compound”) is that one or two mercapto groups are This is presumably because high adhesion can be obtained by reacting with copper and the remaining mercapto group and / or NR 2 group reacting with the insulating resin.

このときトリアジンチオール化合物のメルカプト基と銅との反応が重要であり酸化皮膜が存在するとこの反応を阻害するため、ピール強度等で測定できる密着力が減少するが、本発明に係る有機酸や炭酸(以下「本発明に係る有機酸や炭酸」を纏めて言う場合は「「本発明に係る酸」と呼称する)はこの酸化皮膜を除去する機能を有すると考えられる。本発明に係る酸はトリアジンチオール化合物と共存して銅表面に作用することが重要である。たとえば、本発明に係る酸で処理した後にトリアジンチオール化合物で処理する場合には、両処理の間に短時間でも空気に曝されると効果が減少する。両処理の間に短時間でも空気に曝さないようにする場合にはある程度の効果は得られると思われるが、装置が複雑になりコストアップにつながる。   At this time, the reaction between the mercapto group of the triazine thiol compound and copper is important. If an oxide film is present, this reaction is inhibited, and thus the adhesion that can be measured by peel strength is reduced. (Hereinafter, when “organic acid and carbonic acid according to the present invention” are collectively referred to as “an acid according to the present invention”), it is considered to have a function of removing this oxide film. It is important that the acid according to the present invention acts on the copper surface in coexistence with the triazine thiol compound. For example, in the case of treating with the triazine thiol compound after treating with the acid according to the present invention, the effect decreases when exposed to air even for a short time between both treatments. If it is not exposed to air even for a short time between both treatments, it seems that a certain effect can be obtained, but the apparatus becomes complicated and leads to an increase in cost.

上記特定の化学構造を有するトリアジンチオール化合物は式(1)で表すことができる。   The triazine thiol compound having the specific chemical structure can be represented by the formula (1).

Figure 2007035995
式(1)中、XはNRまたはSAであり、NR中のRは、互いに独立に水素、メチル基、エチル基、n―プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、i−ブチル基、t−ブチル基または置換基を有していてもよいフェニル基であり、Aは、互いに独立に、水素、NH、リチウム、ナトリウム、カリウム、ルビジウムまたはセシウムである。XがSAの場合は、三つのメルカプト基の内銅と反応せずに残ったメルカプト基が絶縁樹脂と反応することにより高い密着力が得られる。XがNRの場合は、二つのメルカプト基の内銅と反応せずに残ったメルカプト基があればそのメルカプト基とアミノ基とが絶縁樹脂と反応することにより高い密着力が得られることになる。
Figure 2007035995
In the formula (1), X is NR 2 or SA, and R in NR 2 is independently of each other hydrogen, methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, i-butyl group. , A t-butyl group or an optionally substituted phenyl group, and A is independently of each other hydrogen, NH 4 , lithium, sodium, potassium, rubidium or cesium. When X is SA, high adhesion can be obtained by reacting the remaining mercapto group without reacting with the inner copper of the three mercapto groups with the insulating resin. When X is NR 2 , if there is a mercapto group remaining without reacting with the inner copper of the two mercapto groups, the mercapto group and the amino group react with the insulating resin to obtain high adhesion. Become.

このトリアジンチオール化合物は、公知の任意の方法で合成することができる。たとえば、1,3,5−トリアジン−2,4,6−トリチオンと水酸化アルカリ金属若しくはアルカリ金属ボロンハイドライドとを水若しくは有機溶媒に溶解するか、または、1,3,5−トリアジン−2,4,6−トリチオンとアミンとを水若しくは有機溶媒に溶解することによりトリアジントリチオールやその塩を調製することができる。XがNRの化合物については、1,3,5−トリアジン−2,4,6−トリクロライドと1等量のアミンとを反応させた後、水硫化ソーダを反応させることにより合成することができる。 This triazine thiol compound can be synthesized by any known method. For example, 1,3,5-triazine-2,4,6-trithione and alkali metal hydroxide or alkali metal boron hydride are dissolved in water or an organic solvent, or 1,3,5-triazine-2, Triazine trithiol or a salt thereof can be prepared by dissolving 4,6-trithione and amine in water or an organic solvent. A compound in which X is NR 2 can be synthesized by reacting 1,3,5-triazine-2,4,6-trichloride with 1 equivalent of amine and then reacting with sodium hydrosulfide. it can.

このトリアジンチオール化合物は、本発明に係る銅表面処理液中に1種のみ存在しても複数存在してもよい。本発明の趣旨に反しない限り、その純度にも特に制限はなく、中間体や副産物が混在していてもよい場合もある。   One or more triazine thiol compounds may be present in the copper surface treatment liquid according to the present invention. As long as it is not contrary to the gist of the present invention, the purity is not particularly limited, and an intermediate or a by-product may be mixed.

本発明に係る銅表面処理液中におけるトリアジンチオール化合物の濃度は、処理に必要な時間等実情に応じて適宜定めればよい。一般的には0.1mmol/L〜1000mmol/Lの範囲が好ましい。トリアジンチオール化合物が複数ある場合はその合計が0.1mmol/L〜1000mmol/Lの範囲が好ましい。0.1mmol/Lよりの薄い濃度では、金属表面に十分な膜厚のトリアジンチオール誘導体層が形成されず、また、1000mmol/Lよりも濃いとトリアジンチオール誘導体層が厚くなりすぎ、トリアジンチオール誘導体同士の反応が起こるため、絶縁樹脂と反応することが困難になる場合がある。   What is necessary is just to determine suitably the density | concentration of the triazine thiol compound in the copper surface treatment liquid which concerns on this invention according to actual conditions, such as time required for a process. Generally, the range of 0.1 mmol / L to 1000 mmol / L is preferable. When there are a plurality of triazine thiol compounds, the total is preferably in the range of 0.1 mmol / L to 1000 mmol / L. When the concentration is lower than 0.1 mmol / L, a triazine thiol derivative layer having a sufficient thickness is not formed on the metal surface. When the concentration is higher than 1000 mmol / L, the triazine thiol derivative layer becomes too thick. Since this reaction occurs, it may be difficult to react with the insulating resin.

本発明に係る有機酸の種類については特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。炭素数1〜6までの、飽和または不飽和の脂肪族または脂環族の基と1個または2個のカルボン酸基とを有する有機酸を例示することができる。ヒドロキシ基が含まれていてもよい。より具体的には、ギ酸、酢酸、プロピオン酸、オクチル酸、グリコール酸、酪酸、イソ酪酸、アクリル酸、メタクリル酸、クロトン酸、イソクロトン酸、シュウ酸、マロン酸、コハク酸、アジピン酸、マレイン酸、アセチレンジカルボン酸、乳酸、酒石酸、リンゴ酸およびクエン酸を例示することができる。   There is no restriction | limiting in particular about the kind of organic acid which concerns on this invention, According to the objective, it can select suitably. Examples thereof include organic acids having 1 to 6 carbon atoms and having saturated or unsaturated aliphatic or alicyclic groups and one or two carboxylic acid groups. A hydroxy group may be included. More specifically, formic acid, acetic acid, propionic acid, octylic acid, glycolic acid, butyric acid, isobutyric acid, acrylic acid, methacrylic acid, crotonic acid, isocrotonic acid, oxalic acid, malonic acid, succinic acid, adipic acid, maleic acid And acetylenedicarboxylic acid, lactic acid, tartaric acid, malic acid and citric acid.

本発明に係る炭酸は公知のどのような方法で作製してもよい。炭酸塩を塩酸等で中和して作製してもよく、水中に炭酸ガスを吹き込んで作製してもよい。   Carbonic acid according to the present invention may be produced by any known method. It may be prepared by neutralizing carbonate with hydrochloric acid or the like, or by blowing carbon dioxide into water.

本発明に係るトリアジンチオール化合物ならびに有機酸および/または炭酸は、溶媒中に溶解して使用される。使用できる溶媒には特に制限はないが、溶解度及び使用の容易さから、水とアルコールとの少なくともいずれか一方を含むものが好ましい。水とアルコールの混合溶媒または水溶媒がより好ましい。   The triazine thiol compound and the organic acid and / or carbonic acid according to the present invention are used after being dissolved in a solvent. Although there is no restriction | limiting in particular in the solvent which can be used, The thing containing at least any one of water and alcohol is preferable from solubility and the ease of use. A mixed solvent of water and alcohol or a water solvent is more preferable.

本発明に係る酸は、系が中性または酸性側の時にその効果を発揮する。pHが7を超えると酸化銅を溶解する速度が極めて遅くなる。すなわち、本発明に係る銅表面処理液のpHが7以下であることが好ましい。系のpHは、本発明に係る銅表面処理液中における本発明に係る酸の種類および濃度の他に、本発明に係るトリアジンチオール化合物におけるNRの種類、Aの種類、本発明に係るトリアジンチオール化合物の濃度等により変化するので、本発明に係る酸の種類と使用量は、本発明に係るトリアジンチオール化合物の種類と使用量とを考慮して、本発明に係る銅表面処理液のpHが7以下となるように決めることが好ましい。本発明に係る銅表面処理液のpHは3〜7の範囲にあることがより好ましい。 The acid according to the present invention exhibits its effect when the system is neutral or acidic. When pH exceeds 7, the speed | rate which melt | dissolves a copper oxide will become very slow. That is, the pH of the copper surface treatment liquid according to the present invention is preferably 7 or less. In addition to the type and concentration of the acid according to the present invention in the copper surface treatment liquid according to the present invention, the pH of the system is the type of NR 2 in the triazine thiol compound according to the present invention, the type of A, and the triazine according to the present invention. Since it varies depending on the concentration of the thiol compound, the type and amount of the acid according to the present invention take into account the type and amount of the triazine thiol compound according to the present invention and the pH of the copper surface treatment liquid according to the present invention. Is preferably determined to be 7 or less. The pH of the copper surface treatment liquid according to the present invention is more preferably in the range of 3-7.

本発明に係る銅表面処理液には、本発明の趣旨に反しない限り、他の剤を共存させてもよい。   In the copper surface treatment liquid according to the present invention, other agents may be allowed to coexist as long as not departing from the spirit of the present invention.

本発明に係る銅表面処理液は、銅表面と絶縁樹脂との間の密着性を向上させること、たとえば銅配線層と絶縁樹脂層との間の密着性を向上させること、を目的とする銅表面の処理に適する。具体的には銅配線層に接して絶縁樹脂層を有する積層体(たとえば多層配線構造を持つ半導体集積回路装置)において、銅配線層と絶縁樹脂層との間の密着性を向上させることができる。従って、密着性に優れた積層体、たとえば多層配線構造を持つ半導体集積回路装置を得ることができる。   The copper surface treatment liquid according to the present invention is a copper intended to improve the adhesion between the copper surface and the insulating resin, for example, to improve the adhesion between the copper wiring layer and the insulating resin layer. Suitable for surface treatment. Specifically, in a laminate having an insulating resin layer in contact with the copper wiring layer (for example, a semiconductor integrated circuit device having a multilayer wiring structure), the adhesion between the copper wiring layer and the insulating resin layer can be improved. . Therefore, it is possible to obtain a laminated body having excellent adhesion, for example, a semiconductor integrated circuit device having a multilayer wiring structure.

このような積層体は、上記銅表面処理液で銅配線表面を処理し、その上に絶縁樹脂層を形成することで得ることができる。この処理については特に制限はないが、銅表面処理液中への銅配線表面の浸漬または銅表面処理液による銅配線表面へのスプレーが簡便かつ確実であり好ましい。なお、銅表面処理液は、使用直前に所定の組成にすればよい。スプレーの場合には、複数の噴射源に別々の組成の処理液があり、スプレーにより本発明に係る組成になるものであってもよい場合もある。   Such a laminate can be obtained by treating the copper wiring surface with the copper surface treatment liquid and forming an insulating resin layer thereon. Although there is no restriction | limiting in particular about this process, The immersion to the copper wiring surface in a copper surface treatment liquid or the spraying to the copper wiring surface by a copper surface treatment liquid is simple and reliable, and preferable. In addition, what is necessary is just to make a copper surface treatment liquid into a predetermined composition just before use. In the case of spraying, there are cases where processing liquids having different compositions are present in a plurality of injection sources, and the composition according to the present invention may be obtained by spraying.

本発明に係る銅配線は、上述のごとく、無電解メッキ法、電解メッキ法、蒸着法、スパッタ法、ダマシン法等どのような方法で作製されたものでもよく、インナービアホール、スルーホール、接続端子等を含んだものでもよい。処理の際に銅配線に通電する必要もないため、孤立した配線部位への適用も可能である。   As described above, the copper wiring according to the present invention may be produced by any method such as electroless plating, electrolytic plating, vapor deposition, sputtering, damascene, inner via hole, through hole, connection terminal. Etc. may be included. Since it is not necessary to energize the copper wiring during processing, it can be applied to isolated wiring parts.

本発明に係る銅配線上に設ける絶縁樹脂層には、公知の材料を選択して使用することができる。具体的には、耐熱性や絶縁性に優れた、ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂、ビスマレイミド樹脂、マレイミド樹脂、シアネート樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ポリフェニレンオキサイド樹脂、オレフィン樹脂、フッ素含有樹脂、液晶ポリマー、ポリエーテルイミド樹脂、ポリエーテルエーテルケトン樹脂等を挙げることができる。なお、これらを複数種使用してもよい。   A known material can be selected and used for the insulating resin layer provided on the copper wiring according to the present invention. Specifically, polyimide resin, epoxy resin, bismaleimide resin, maleimide resin, cyanate resin, polyphenylene ether resin, polyphenylene oxide resin, olefin resin, fluorine-containing resin, liquid crystal polymer, polyether having excellent heat resistance and insulation properties Examples thereof include imide resins and polyether ether ketone resins. A plurality of these may be used.

本発明に係る銅表面処理液による銅配線表面の処理後、絶縁樹脂層の形成前に、銅表面処理液により処理された銅配線表面をカップリング剤で処理することが好ましい。このようにすると、銅表面上にあるトリアジンチオールの銅と反応に関与しないメルカプト基またはアミノ基がカップリング剤と反応し、さらにカップリング剤の官能基が絶縁樹脂と反応することでトリアジンチオールのみでは反応性に乏しい絶縁樹脂に対しても高い密着力が得られるようになる。この目的のために使用できるカップリング剤としては、シラン系カップリング剤、チタネート系カップリング剤、アルミニウム系カップリング剤等が挙げられる。特にシラン系カップリング剤が好ましい。カップリング剤の分子中に、アミノ基、メルカプト基、エポキシ基、イミダゾール基、ジアルキルアミノ基、ピリジン基の少なくとも一つを含むことが好ましい。   After the treatment of the copper wiring surface with the copper surface treatment liquid according to the present invention, the copper wiring surface treated with the copper surface treatment liquid is preferably treated with a coupling agent before the formation of the insulating resin layer. In this way, the mercapto group or amino group that does not participate in the reaction with the copper of the triazine thiol on the copper surface reacts with the coupling agent, and further the functional group of the coupling agent reacts with the insulating resin, so that only the triazine thiol is reacted. Then, a high adhesive force can be obtained even for an insulating resin having poor reactivity. Examples of coupling agents that can be used for this purpose include silane coupling agents, titanate coupling agents, aluminum coupling agents, and the like. A silane coupling agent is particularly preferable. It is preferable that the molecule of the coupling agent contains at least one of an amino group, a mercapto group, an epoxy group, an imidazole group, a dialkylamino group, and a pyridine group.

シラン系カップリング剤は、公知のシラン系カップリング剤から適宜選択することができる。具体例としては、ビニルトリクロロシラン、ビニルトリス(2−メトキシ)シラン、ビニルトリエトキシシラン、メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン、N−(2−アミノエチル)−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−(2−アミノエチル)−3−アミノプロピルメチルジメトキシシラン、3−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−フェニルアミノプロピルトリメトキシシラン、3−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、3−クロロプロピルトリメトキシシラン等が挙げられる。   The silane coupling agent can be appropriately selected from known silane coupling agents. Specific examples include vinyltrichlorosilane, vinyltris (2-methoxy) silane, vinyltriethoxysilane, methacryloxypropyltrimethoxysilane, 2- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane, and 3-glycidoxypropyl. Trimethoxysilane, 3-glycidoxypropylmethyldiethoxysilane, N- (2-aminoethyl) -3-aminopropyltrimethoxysilane, N- (2-aminoethyl) -3-aminopropylmethyldimethoxysilane, 3 -Aminopropyltriethoxysilane, N-phenylaminopropyltrimethoxysilane, 3-mercaptopropyltrimethoxysilane, 3-chloropropyltrimethoxysilane and the like.

カップリング剤による処理については特に制限はないが、カップリング剤液中への銅配線表面の浸漬またはカップリング剤液による銅配線表面へのスプレーが簡便かつ確実であり好ましい。   Although there is no restriction | limiting in particular about the process by a coupling agent, The immersion to the copper wiring surface in a coupling agent liquid or the spraying to the copper wiring surface by a coupling agent liquid is simple and reliable, and preferable.

本発明に係る銅表面処理液で当該銅配線表面を処理してなる積層体は、一つの積層体中に銅配線層と絶縁樹脂層との組み合わせを複数個有する場合も多い。その典型例がビルドアップ多層回路基板である。以下に、本発明の配線表面処理方法を用いてビルドアップ多層回路基板を形成する方法を図1を用いて例示的に説明する。   The laminate obtained by treating the copper wiring surface with the copper surface treatment liquid according to the present invention often has a plurality of combinations of copper wiring layers and insulating resin layers in one laminate. A typical example is a build-up multilayer circuit board. Hereinafter, a method for forming a build-up multilayer circuit board using the wiring surface treatment method of the present invention will be described with reference to FIG.

図1は、ビルドアップ多層回路基板形成時の模式的断面図である。まず、図1(1)に示すように、回路を形成したガラス繊維強化樹脂基板1上に、ビルドアップ絶縁樹脂層2を形成する。絶縁樹脂層2の表面は、密着性を得るための表面粗化処理を施した後、無電解メッキやスパッタ法などで、金属の通電層3を形成する。   FIG. 1 is a schematic cross-sectional view when forming a build-up multilayer circuit board. First, as shown in FIG. 1A, a build-up insulating resin layer 2 is formed on a glass fiber reinforced resin substrate 1 on which a circuit is formed. The surface of the insulating resin layer 2 is subjected to a surface roughening treatment for obtaining adhesion, and then a metal conductive layer 3 is formed by electroless plating or sputtering.

次に図1(2)に示すように、レジスト4をパターニング形成し、ついで図1(3)に示すように、その開口部に電気メッキ銅5を成長させる。ついで図1(4)に示すように、レジストを剥離した後に、図1(5)に示すように通電層3をエッチングで除去する。   Next, as shown in FIG. 1 (2), a resist 4 is formed by patterning. Then, as shown in FIG. 1 (3), electroplated copper 5 is grown in the opening. Next, as shown in FIG. 1 (4), after the resist is removed, the conductive layer 3 is removed by etching as shown in FIG. 1 (5).

次に図1(6)に示すように、本発明に係る銅表面処理液で表面処理を行う。処理方法は、浸漬法やスプレーによる吹き付け法などを用いることができる。処理後、水等の適当な液体で処理面を洗浄すると、本発明に係るトリアジン化合物6が配線(銅メッキ部分)の上にのみ残存する。   Next, as shown in FIG. 1 (6), surface treatment is performed with the copper surface treatment liquid according to the present invention. As a treatment method, a dipping method, a spraying method using a spray, or the like can be used. After the treatment, when the treatment surface is washed with an appropriate liquid such as water, the triazine compound 6 according to the present invention remains only on the wiring (copper plating portion).

その後、図1(7)に示すように、配線表面にシラン系カップリング剤処理を行い、シラン系カップリング剤層7を形成すれば、さらに密着強度を高めることができる。カップリング剤処理の方法としては、浸漬法、スプレーによる吹きつけ法などを用いることができる。   Thereafter, as shown in FIG. 1 (7), if the silane coupling agent treatment is performed on the wiring surface to form the silane coupling agent layer 7, the adhesion strength can be further increased. As a method for the coupling agent treatment, an immersion method, a spraying method using a spray, or the like can be used.

この後、図1(8)に示すように、次の層である絶縁樹脂層8を形成する。絶縁樹脂層の形成には公知の方法、たとえば半硬化の樹脂を貼り付ける方法や溶剤を含む液状の樹脂を塗布する方法などを採用することができる。ついで、上下の配線の導通をとるために、ビアホールを形成する。このプロセスを繰り返すことにより、多層回路基板を形成できる。   Thereafter, as shown in FIG. 1 (8), an insulating resin layer 8 as the next layer is formed. For forming the insulating resin layer, a known method such as a method of attaching a semi-cured resin or a method of applying a liquid resin containing a solvent can be employed. Next, a via hole is formed in order to establish conduction between the upper and lower wirings. By repeating this process, a multilayer circuit board can be formed.

次に本発明の実施例および比較例を詳述する。なお、すべての例は空気雰囲気中で行った。
[実施例1]
2,4,6−トリメルカプト−1,3,5−トリアジン1ナトリウム塩(サンチオールN−1、三協化成製)および酢酸を水に混合し、1時間撹拌して、前者が1重量%、後者が1重量%の銅表面処理液を作製した。この銅表面処理液のpHは、3.5であった。
Next, examples and comparative examples of the present invention will be described in detail. All examples were performed in an air atmosphere.
[Example 1]
2,4,6-trimercapto-1,3,5-triazine monosodium salt (Sunthiol N-1, Sankyo Kasei Co., Ltd.) and acetic acid were mixed with water and stirred for 1 hour. The latter produced a copper surface treatment solution of 1% by weight. The pH of this copper surface treatment solution was 3.5.

厚さ35μmの電気メッキ銅箔を、上記銅表面処理液で、室温下、5分間浸漬処理し、水洗後、100℃で30分ベークし、乾燥させた。銅箔上にトリアジン化合物が残存することをオージェ電子分光法で確認した。   An electroplated copper foil having a thickness of 35 μm was immersed in the copper surface treatment solution at room temperature for 5 minutes, washed with water, baked at 100 ° C. for 30 minutes, and dried. It was confirmed by Auger electron spectroscopy that the triazine compound remained on the copper foil.

処理面に対して、半硬化状態(Bステージ)の熱硬化性エポキシ樹脂シートが接するように重ね、真空プレスで、150℃,1MPaの条件下、5分間プレスした。その後、真空プレスから取り出し、大気圧下で180℃,1時間の加熱でエポキシ樹脂を硬化させた。   The treatment surface was overlaid so that a semi-cured (B stage) thermosetting epoxy resin sheet was in contact with the treated surface, and was pressed with a vacuum press under conditions of 150 ° C. and 1 MPa for 5 minutes. Then, it removed from the vacuum press and the epoxy resin was hardened by heating at 180 ° C. for 1 hour under atmospheric pressure.

このようにして得た積層体を1cm幅に切り込み、密着力として、ピール強度を測定した。0.8kgf/cm(換算値は0.078MPa・cm)と、既存の表面粗化によるアンカー効果における密着と同等のピール強度が得られた。
[実施例2]
2,4,6−トリメルカプト−1,3,5−トリアジン1ナトリウム塩(サンチオールN−1、三協化成製)および酢酸を水に混合し、1時間撹拌して、前者が1重量%、後者が1重量%の銅表面処理液を作製した。この銅表面処理液のpHは、3.5であった。
The laminate thus obtained was cut into a width of 1 cm, and the peel strength was measured as the adhesion. A peel strength equal to 0.8 kgf / cm (converted value is 0.078 MPa · cm), which is the same as the adhesion in the anchor effect by the existing surface roughening, was obtained.
[Example 2]
2,4,6-trimercapto-1,3,5-triazine monosodium salt (Sunthiol N-1, Sankyo Kasei Co., Ltd.) and acetic acid were mixed with water and stirred for 1 hour. The latter produced a copper surface treatment solution of 1% by weight. The pH of this copper surface treatment solution was 3.5.

厚さ35μmの電気メッキ銅箔を、この銅表面処理液で、室温下、5分間浸漬処理し、水洗し、この銅箔を1重量%のγ−アミノプロピルトリエトキシシラン(シラン系カップリング剤、KBE−903:信越化学工業製)水溶液で5分間浸漬処理し、水洗し、その後、100℃で30分ベークして乾燥させ、カップリング剤処理を行った。   An electroplated copper foil having a thickness of 35 μm was immersed in this copper surface treatment solution at room temperature for 5 minutes, washed with water, and 1% by weight of γ-aminopropyltriethoxysilane (silane coupling agent). , KBE-903: manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) and immersed in an aqueous solution for 5 minutes, washed with water, then baked at 100 ° C. for 30 minutes and dried to carry out a coupling agent treatment.

処理面に対して、半硬化状態(Bステージ)の熱硬化性エポキシ樹脂シートが接するように重ね、真空プレスで、150℃,1MPaの条件下、5分間プレスした。その後、真空プレスから取り出し、大気圧下で180℃,1時間の加熱でエポキシ樹脂を硬化させた。   The treatment surface was overlaid so that a semi-cured (B stage) thermosetting epoxy resin sheet was in contact with the treated surface, and was pressed with a vacuum press under conditions of 150 ° C. and 1 MPa for 5 minutes. Then, it removed from the vacuum press and the epoxy resin was hardened by heating at 180 ° C. for 1 hour under atmospheric pressure.

このようにして得た積層体を1cm幅に切り込み、ピール強度を測定した。トリアジンチオール化合物にさらにシラン系カップリング剤を用いることで、1.0kgf/cm(換算値は0.098MPa・cm)と、実施例1に対してさらに高いピール強度が得られた。
[実施例3]
2,4,6−トリメルカプト−1,3,5−トリアジン1ナトリウム塩(サンチオールN−1、三協化成製)の0.1重量%水溶液中に炭酸ガスを圧力0.1MPaで5分間吹き込んだ後に、1時間撹拌して銅表面処理液を作製した。この銅表面処理液のpHは、5.5であった。
The laminate thus obtained was cut into a width of 1 cm, and the peel strength was measured. By further using a silane coupling agent for the triazine thiol compound, 1.0 kgf / cm (converted value was 0.098 MPa · cm), which was higher peel strength than Example 1, was obtained.
[Example 3]
Carbon dioxide gas was added at a pressure of 0.1 MPa for 5 minutes in a 0.1 wt% aqueous solution of 2,4,6-trimercapto-1,3,5-triazine monosodium salt (Sunthiol N-1, Sankyo Kasei). After blowing, the mixture was stirred for 1 hour to prepare a copper surface treatment liquid. The pH of this copper surface treatment solution was 5.5.

厚さ35μmの電気メッキ銅箔を、この銅表面処理液で、室温、5分間浸漬処理し、水洗し、その後、100℃で30分ベークして乾燥させ、実施例2と同様のカップリング剤処理を行った。   A 35 μm-thick electroplated copper foil was immersed in this copper surface treatment solution at room temperature for 5 minutes, washed with water, then baked at 100 ° C. for 30 minutes and dried, and the same coupling agent as in Example 2 Processed.

処理面に対して、半硬化状態(Bステージ)の熱硬化性エポキシ樹脂シートが接するように重ね、真空プレスで150℃,1MPa,5分間プレスした。その後、真空プレスから取り出し、大気圧下で180℃,1時間の加熱でエポキシ樹脂を硬化させた。   It piled up so that the thermosetting epoxy resin sheet of a semi-hardened state (B stage) might touch the treated surface, and it pressed at 150 ° C, 1 MPa, and 5 minutes with the vacuum press. Then, it removed from the vacuum press and the epoxy resin was hardened by heating at 180 ° C. for 1 hour under atmospheric pressure.

このようにして得た積層体を1cm幅に切り込み、ピール強度を測定した。0.8kgf/cmと既存のアンカー効果による密着と同等のピール強度が得られた。
[比較例1]
pHが8.5に調整された2,4,6−トリメルカプト−1,3,5−トリアジン1ナトリウム塩(サンチオールN−1、三協化成製)1重量%を含む水溶液を用い、厚さ35μmの電気メッキ銅箔を室温で5分間浸漬処理し、水洗し、その後、100℃で30分ベークして乾燥した。
The laminate thus obtained was cut into a width of 1 cm, and the peel strength was measured. A peel strength equal to 0.8 kgf / cm and the close contact with the existing anchor effect was obtained.
[Comparative Example 1]
Using an aqueous solution containing 1% by weight of 2,4,6-trimercapto-1,3,5-triazine monosodium salt (Sunthiol N-1, manufactured by Sankyo Kasei) whose pH was adjusted to 8.5, A 35 μm thick electroplated copper foil was immersed at room temperature for 5 minutes, washed with water, then baked at 100 ° C. for 30 minutes and dried.

処理面に対して、半硬化状態(Bステージ)の熱硬化性エポキシ樹脂シートが接するように重ね、真空プレスで、150℃,1MPaの条件下、5分間プレスした。その後、真空プレスから取り出し、大気圧下で180℃,1時間エポキシ樹脂を硬化させた。   The treatment surface was overlaid so that a semi-cured (B stage) thermosetting epoxy resin sheet was in contact with the treated surface, and was pressed with a vacuum press under conditions of 150 ° C. and 1 MPa for 5 minutes. Thereafter, the epoxy resin was taken out from the vacuum press and cured at 180 ° C. for 1 hour under atmospheric pressure.

銅箔を1cm幅に切り込み、ピール強度を測定した。0.5kgf/cmのピール強度が得られた。   The copper foil was cut into a 1 cm width, and the peel strength was measured. A peel strength of 0.5 kgf / cm was obtained.

なお、上記に開示した内容から、下記の付記に示した発明が導き出せる。   In addition, the invention shown to the following additional remarks can be derived from the content disclosed above.

(付記1)
下記式(1)に示すトリアジンチオールおよびその誘導体からなる群から選ばれた少なくとも一つの化合物と、
(Appendix 1)
At least one compound selected from the group consisting of triazine thiol and its derivatives represented by the following formula (1):

Figure 2007035995
(式(1)中、XはNRまたはSAであり、NR中のRは、互いに独立に水素、メチル基、エチル基、n―プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、i−ブチル基、t−ブチル基または置換基を有していてもよいフェニル基であり、Aは、互いに独立に、水素、NH、リチウム、ナトリウム、カリウム、ルビジウムまたはセシウムである。)
有機酸および炭酸からなる群から選ばれた少なくとも一つの酸と
を含んでなる銅表面処理液。
Figure 2007035995
(In the formula (1), X is NR 2 or SA, and R in NR 2 is independently of each other hydrogen, methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, i-butyl. group, a phenyl group which may have a t- butyl group or a substituent, a is, independently of one another, hydrogen, NH 4, lithium, sodium, potassium, rubidium or cesium.)
A copper surface treatment liquid comprising at least one acid selected from the group consisting of an organic acid and carbonic acid.

(付記2)
pHが7以下である、付記1に記載の銅表面処理液。
(Appendix 2)
The copper surface treatment solution according to Supplementary Note 1, wherein the pH is 7 or less.

(付記3)
水とアルコールとの少なくとも一つを含んでなる、付記1または2に記載の銅表面処理液。
(Appendix 3)
The copper surface treatment solution according to appendix 1 or 2, comprising at least one of water and alcohol.

(付記4)
銅表面と絶縁樹脂との密着性を向上させるための処理液である、付記1〜3のいずれかに記載の銅表面処理液。
(Appendix 4)
The copper surface treatment liquid according to any one of appendices 1 to 3, which is a treatment liquid for improving adhesion between the copper surface and the insulating resin.

(付記5)
銅配線層と絶縁樹脂層との密着性を向上させるための処理液である、付記1〜4のいずれかに記載の銅表面処理液。
(Appendix 5)
The copper surface treatment liquid according to any one of appendices 1 to 4, which is a treatment liquid for improving adhesion between the copper wiring layer and the insulating resin layer.

(付記6)
銅配線層に接して絶縁樹脂層を有する積層体の製造方法において、
付記1〜5のいずれかに記載の銅表面処理液で当該銅配線表面を処理し、その上に当該絶縁樹脂層を形成する、
積層体の製造方法。
(Appendix 6)
In the manufacturing method of the laminate having the insulating resin layer in contact with the copper wiring layer,
Treating the copper wiring surface with the copper surface treatment liquid according to any one of appendices 1 to 5, and forming the insulating resin layer thereon;
A manufacturing method of a layered product.

(付記7)
前記銅表面処理液での銅配線表面の処理が、前記銅表面処理液中への銅配線表面の浸漬または前記銅表面処理液による銅配線表面へのスプレーである、付記6に記載の積層体の製造方法。
(Appendix 7)
The laminate according to appendix 6, wherein the treatment of the copper wiring surface with the copper surface treatment liquid is immersion of the copper wiring surface in the copper surface treatment liquid or spraying on the copper wiring surface with the copper surface treatment liquid. Manufacturing method.

(付記8)
前記銅表面処理液による前記銅配線表面の処理後、前記絶縁樹脂層の形成前に、銅表面処理液により処理された銅配線表面をシラン系カップリング剤で処理する、付記6または7に記載の積層体の製造方法。
(Appendix 8)
Supplementary note 6 or 7, wherein the copper wiring surface treated with the copper surface treatment liquid is treated with a silane coupling agent after the treatment of the copper wiring surface with the copper surface treatment liquid and before the formation of the insulating resin layer. The manufacturing method of the laminated body.

(付記9)
前記絶縁樹脂層が、ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂、ビスマレイミド樹脂、マレイミド樹脂、シアネート樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ポリフェニレンオキサイド樹脂、オレフィン樹脂、フッ素含有樹脂、液晶ポリマー、ポリエーテルイミド樹脂およびポリエーテルエーテルケトン樹脂からなる群から選ばれた少なくとも一つの樹脂を含んでなるものである、付記6〜8のいずれかに記載の積層体の製造方法。
(Appendix 9)
The insulating resin layer is composed of polyimide resin, epoxy resin, bismaleimide resin, maleimide resin, cyanate resin, polyphenylene ether resin, polyphenylene oxide resin, olefin resin, fluorine-containing resin, liquid crystal polymer, polyetherimide resin and polyether ether ketone resin. The method for producing a laminate according to any one of appendices 6 to 8, which comprises at least one resin selected from the group consisting of:

(付記10)
銅配線層に接して絶縁樹脂層を有する積層体であって、付記1〜5のいずれかに記載の銅表面処理液で当該銅配線表面を処理し、その上に当該絶縁樹脂層を形成してなる積層体。
(Appendix 10)
A laminated body having an insulating resin layer in contact with a copper wiring layer, wherein the copper wiring surface is treated with the copper surface treatment liquid according to any one of appendices 1 to 5, and the insulating resin layer is formed thereon. A laminated body.

(付記11)
前記銅表面処理液での銅配線表面の処理が、前記銅表面処理液中への銅配線表面の浸漬または前記銅表面処理液による銅配線表面へのスプレーである、付記10に記載の積層体。
(Appendix 11)
The laminate according to appendix 10, wherein the treatment of the copper wiring surface with the copper surface treatment liquid is immersion of the copper wiring surface in the copper surface treatment liquid or spraying on the copper wiring surface with the copper surface treatment liquid. .

(付記12)
前記銅表面処理液による前記銅配線表面の処理後、前記絶縁樹脂層の形成前に、銅表面処理液により処理された銅配線表面をシラン系カップリング剤で処理してなる、付記10または11に記載の積層体。
(Appendix 12)
Additional treatment 10 or 11 wherein the copper wiring surface treated with the copper surface treatment liquid is treated with a silane coupling agent after the treatment of the copper wiring surface with the copper surface treatment liquid and before the formation of the insulating resin layer. The laminated body as described in.

(付記13)
前記積層体が多層配線構造を持つ半導体集積回路装置である、付記10〜12のいずれかに記載の積層体。
(Appendix 13)
The laminate according to any one of appendices 10 to 12, wherein the laminate is a semiconductor integrated circuit device having a multilayer wiring structure.

(付記14)
前記絶縁樹脂層が、ポリイミド樹脂、エポキシ樹脂、ビスマレイミド樹脂、マレイミド樹脂、シアネート樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ポリフェニレンオキサイド樹脂、オレフィン樹脂、フッ素含有樹脂、液晶ポリマー、ポリエーテルイミド樹脂およびポリエーテルエーテルケトン樹脂からなる群から選ばれた少なくとも一つの樹脂を含んでなるものである、付記10〜13のいずれかに記載の積層体。
(Appendix 14)
The insulating resin layer is composed of polyimide resin, epoxy resin, bismaleimide resin, maleimide resin, cyanate resin, polyphenylene ether resin, polyphenylene oxide resin, olefin resin, fluorine-containing resin, liquid crystal polymer, polyetherimide resin and polyether ether ketone resin. The laminate according to any one of supplementary notes 10 to 13, comprising at least one resin selected from the group consisting of:

ビルドアップ多層回路基板形成時の模式的断面図である。It is a typical sectional view at the time of build-up multilayer circuit board formation.

符号の説明Explanation of symbols

1 ガラス繊維強化樹脂基板
2 絶縁樹脂層
3 通電層
4 レジスト
5 電気メッキ銅
6 トリアジン化合物
7 シラン系カップリング剤層
8 絶縁樹脂層
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Glass fiber reinforced resin board | substrate 2 Insulating resin layer 3 Current carrying layer 4 Resist 5 Electroplated copper 6 Triazine compound 7 Silane coupling agent layer 8 Insulating resin layer

Claims (5)

下記式(1)に示すトリアジンチオールおよびその誘導体からなる群から選ばれた少なくとも一つの化合物と、
Figure 2007035995
(式(1)中、XはNRまたはSAであり、NR中のRは、互いに独立に水素、メチル基、エチル基、n―プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、i−ブチル基、t−ブチル基または置換基を有していてもよいフェニル基であり、Aは、互いに独立に、水素、NH、リチウム、ナトリウム、カリウム、ルビジウムまたはセシウムである。)
有機酸および炭酸からなる群から選ばれた少なくとも一つの酸と
を含んでなる銅表面処理液。
At least one compound selected from the group consisting of triazine thiol and its derivatives represented by the following formula (1):
Figure 2007035995
(In the formula (1), X is NR 2 or SA, and R in NR 2 is independently of each other hydrogen, methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, i-butyl. A group, a t-butyl group or an optionally substituted phenyl group, and A is independently of each other hydrogen, NH 4 , lithium, sodium, potassium, rubidium or cesium.)
A copper surface treatment liquid comprising at least one acid selected from the group consisting of an organic acid and carbonic acid.
銅配線層に接して絶縁樹脂層を有する積層体の製造方法において、
請求項1に記載の銅表面処理液で当該銅配線表面を処理し、その上に当該絶縁樹脂層を形成する、
積層体の製造方法。
In the manufacturing method of the laminate having the insulating resin layer in contact with the copper wiring layer,
The copper wiring surface is treated with the copper surface treatment liquid according to claim 1, and the insulating resin layer is formed thereon.
A manufacturing method of a layered product.
前記銅表面処理液での銅配線表面の処理が、前記銅表面処理液中への銅配線表面の浸漬または前記銅表面処理液による銅配線表面へのスプレーである、請求項2に記載の積層体の製造方法。   The lamination according to claim 2, wherein the treatment of the copper wiring surface with the copper surface treatment liquid is immersion of the copper wiring surface in the copper surface treatment liquid or spraying on the copper wiring surface with the copper surface treatment liquid. Body manufacturing method. 前記銅表面処理液による前記銅配線表面の処理後、前記絶縁樹脂層の形成前に、銅表面処理液により処理された銅配線表面をシラン系カップリング剤で処理する、請求項2または3に記載の積層体の製造方法。   The copper wiring surface treated with the copper surface treatment liquid is treated with a silane coupling agent after the treatment of the copper wiring surface with the copper surface treatment liquid and before the formation of the insulating resin layer. The manufacturing method of the laminated body of description. 銅配線層に接して絶縁樹脂層を有する積層体であって、請求項1に記載の銅表面処理液で当該銅配線表面を処理し、その上に当該絶縁樹脂層を形成してなる積層体。   A laminate having an insulating resin layer in contact with a copper wiring layer, wherein the copper wiring surface is treated with the copper surface treatment liquid according to claim 1 and the insulating resin layer is formed thereon. .
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