JP2007034030A - 液晶装置 - Google Patents

液晶装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2007034030A
JP2007034030A JP2005218990A JP2005218990A JP2007034030A JP 2007034030 A JP2007034030 A JP 2007034030A JP 2005218990 A JP2005218990 A JP 2005218990A JP 2005218990 A JP2005218990 A JP 2005218990A JP 2007034030 A JP2007034030 A JP 2007034030A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid crystal
wavelength
light
crystal device
low
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2005218990A
Other languages
English (en)
Inventor
Makoto Kurihara
誠 栗原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Citizen Watch Co Ltd
Original Assignee
Citizen Watch Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Citizen Watch Co Ltd filed Critical Citizen Watch Co Ltd
Priority to JP2005218990A priority Critical patent/JP2007034030A/ja
Publication of JP2007034030A publication Critical patent/JP2007034030A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

【課題】 液晶装置を紫外線接着剤で支持枠に取り付けるときに、硬化用紫外線で劣化しない液晶装置及び次世代光ディスクにも対応し且つ信頼性が高い液晶装置を得ることを目的とする。
【解決手段】 封止された液晶を挟んで対向する基板の少なくとも一方の基板上方に配設される光制御反射膜が、波長405nmと波長660nmの2つに低反射低域を有しこの低反射帯域と低反射帯域との間に、波長510nmで反射率4.75%の高反射帯域を有する。さらに、波長780nmでも、低反射帯域としている。さらに、波長380nm近傍で紫外線硬化型接着材の硬化用紫外線を反射する、高反射率5%以上の反射特性を有する光制御反射膜である。
【選択図】 図4

Description

本発明は、液晶装置に関し、特に光ディスクなどの光記録媒体に情報を記録再生する際に用いられる液晶装置において、より高い効果が得られる。
近年、高画質の動画等を記録するために、光ディスクの情報記緑容量の高密度化、及び大容量化が強く望まれている。特に、近年携帯型機器としての商品化が進んできている。このような中で、光ディスクをモバイル用途で使用するために、光ピックアップ装置(具体的には、光検出部(光ディスクからの光検出)と光書込部(光ディスクへの光書き込み)を有する)の小型軽量化、低消費電力化、及び動作温度範囲の拡大が強く望まれている。
ところで、光ディスクの記録密度を大きくするためには、レーザ光を短波長化することと、対物レンズの開口数NAを大きくすることとが必要である。例えば、CD(Compact Disc)と比較して高密度化が図られたDVD(Digital Versatile Disc)では、開口数NAが0.6の対物レンズと、波長が660nmのレーザ光とを用いて大容量化を実現している。さらに、次世代高密度光ディスクでは、波長が405nmのレーザ光と開口数NAが0.6または0.85の対物レンズとを用いてさらなる大容量化が実用化されつつある。
一方、CD用のレーザ光の波長は、785nmである。
しかしながら、大容量化が図られた光ディスクでは、対物レンズの開口数NAが大きくなるに従って、収差の影響が問題になってくる。例えば、光ディスクの記録領域にレーザ光が照射された際に、情報が記録された記録層上に照射されるレーザ光が透過する距離となる、光ディスクにおけるレーザ光の入射面と記緑層との間の光透過層の厚さt(以下、光ディスク基板厚さtと称する)の誤差によって発生する収差は、開口数NAの4乗に比例して増加する。
上記説明では、球面収差の収差補正を示したが、収差としては、他に、コマ収差、非点収差があり、これらの収差も液晶装置で補正することができる。
したがって、この収差を抑制するためには、光ディスク基板厚さtの寸法公差を小さくすることが効果的となる。
しかしながら、光ディスク基板厚さtの誤差は光ディスクの製造方法に依存するため、光ディスク基板厚さtの寸法精度を高めることが非常に困難であるという問題がある。また、光ディスク基板厚さtの寸法精度を高めることは、光ディスクの製造コストを増加させてしまうという不都合がある。したがって、光ピックアップ装置に、光ディスクを再生する際に生じる収差を補正する機能を有することが求められる。
そこで、近年、この収差を補正するのに液晶装置を用いる技術が開発されている。
特に液晶装置の中の収差補正セルと呼ばれることが多い。この液晶装置を光ピックアップ装置に組み込む場合、液晶装置を固定枠に固着する必要があり、この固着に紫外線硬化型接着剤が用いられている。
そのために、紫外線の照射により紫外線硬化型接着剤を硬化させる際に、この紫外線が液晶と配向膜に当たり液晶と配向膜が劣化し、液晶装置が紫外線劣化を生じたり、液晶装
置が紫外線を吸収し、発熱して高温になり、その結果、液晶装置の製品寿命が低下するという問題がある。
また、投射型表示装置では、光源からの紫外線をカットするために∪∨カットフィルタが用いられている。すなわち、投射型表示装置である液晶プロジェクタでは、光源から発生する紫外線、さらに可視光でも短い波長の光から液晶パネルその他の部品を保護するため、光源と液晶パネルとの間の光路に∪∨カットフィルタを配置している。
∪∨カットフィルタとしては、紫外線を吸収する∪∨吸収ガラス又はガラス基板に紫外線を反射する光反射制御膜を設けた∪∨反射ガラスが用いられている。
∪∨カットフィルタの機能は、400nm以下の波長の紫外線と紫外線に近い可視光の一部をほぼ完全に遮り、これらの光線による部品の劣化を防止し、製品の寿命を長くすることにある。これに加えて、青色が過剰な超高圧水銀灯の青色の一部をカットし、色のバランスを改善することも要求されている。
このような段差部付光反射制御膜は、下記の特許文献1に示されている様に、半値波長(特許文献1によると、半値波長とは、そのフィルターの最大透過率の半分の透過率を示す波長、である)が415〜430nmの範囲で良く、半値波長の許容範囲が広いため、製造が容易である。半値波長が415nmより低いと、超高圧水銀灯の405nm近辺のピークを十分にカットすることができず、部品の劣化を防止することが困難になる。一方、430nmより高くすると、製造上の半値波長のバラツキで440nm付近のピークの透過率に影響を及ぼし、段差部(図5のイの部分)を設けた意味がなくなってしまう。
また、段差部(図5のイの部分)の波長範囲を430〜450nmとするのは、超高圧水銀灯の440nm付近のピークの透過率を調整して青色を抑制し、色のバランスを調整するためである。段差部での平均透過率を70〜90%、好ましくは80〜90%とするのは、色のバランス上から透過率をこの範囲とする必要があるからである。更に、460〜660nmの波長範囲で90%以上、好ましくは95%以上の透過率を有する必要があるのは、光源の輝度を落とさずに投射光を明るくする必要があるからである。
下記の特許文献1に示されている図を当明細書の図5に示して説明すると、図5に示すグラフにおいて、BK7(n=1.52の白板ガラス)なるガラスの上に成膜された段差部付光反射制御膜の透過率特性を実線イで示す。破線ロは超高圧水銀灯の輝度特性である。
この透過率特性を有する段差部付光反射制御膜はTiO2−SiO2交互の37層の膜のフィルタである。
半値波長が425nmで、波長範囲428〜450nmの範囲(段差部)の平均の透過率は約85%である。460〜660nmの波長範囲で95%以上の高透過率になっている。
また、∪∨カットフィルタに設けられている反射防止膜は、光透過性基板の表面での反射を抑制し、可視光線の透過率を向上させる機能を有する。
また、反射防止膜は、光透過性基板の表面での反射を抑制し、可視光線の透過率を向上させる機能を有する。この反射防止膜は、無機被膜、有機被膜の単層または多層で構成される。
図5のように段差部付光反射制御膜を設けた∪∨カットフィルタは、超高圧水銀灯の4
05nm近辺のピークより短波長の紫外線や可視光線を半値波長の設定で反射し、440nm付近のピークは段差部で透過率を調節することができる。そのため、紫外線による部品の劣化を防止できると共に、超高圧水銀灯の過剰な青色を確実に減色して色のバランスを調整することができる(特許文献1参照)。
特開2003−107242号公報
上記した従来の∪∨カットフィルタにおいて、透過率特性を有する段差部付光反射制御膜は、図5のグラフにおいてイで示すように、420nm以下の波長の紫外線と紫外線に近い可視光の一部をほぼ完全に遮り、半値波長が425nmで、波長範囲428〜450nmの範囲(段差部)の平均の透過率は約85%であり、460〜660nmの波長範囲で95%以上の高透過率になっていて、超高圧水銀灯の輝度特性に合った透過率特性を備えている。しかも、660〜800nmの波長範囲で90%以上の高透過率になっている。
また、CDは780nmの波長、DVDは660nmの波長、次世代光ディスク(ブルーレイ(Blu−ray)規格又は、hd−dvd規格)では405nmの波長のレーザを用いる。
光ピックアップ装置において、収差を補正する液晶装置を液晶装置固定枠への固着するが、このとき紫外線硬化型接着剤を用いる。液晶装置の周囲を、あるいは周囲の一部を枠状の固定枠の周囲に紫外線硬化型樹脂を用いて接着し、液晶装置を固定枠に固定、あるいは支持させる。
この収差を補正する液晶装置の光入射側の面上に、これまでのUVカットフィルタを用いた場合、液晶装置の固定枠への固着する部分を避けて紫外線(UV)カットフィルタを配設する。さもないと、液晶装置の側面や液晶装置の周辺や下面に入った紫外線硬化型接着剤に紫外線が十分照射されず、紫外線硬化型接着材の硬化が十分に得られない問題が生じるためである。
一方、液晶装置上あるいは液晶を挟んでいるガラス基板、プラスチック基板上の所定の位置にのみ形成することで、液晶および配向膜を紫外線から保護し、液晶装置周辺の紫外線を透過することができるが、この時には、所定の場所のみにUVカットフィルタを配設するためにのマスクあるいはマスクパターンが必要になり、加工工数が増え、費用が増大する問題を有する。
また、従来の∪∨カットフィルタは、例えば上記したような段差部付光反射制御膜の波長−反射特性を有しており、660〜800nmの波長範囲で90%以上の高透過率になっているために、前記DVDやCDに使用するレーザ光の波長である660nm及び785nm以外の波長領域でも90%以上の高透過率を維持するものでしかなかった。
本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、収差を補正する液晶装置の固定枠への固着に使用する紫外線硬化型接着剤の硬化の為の紫外線が液晶または配向膜に照射するのを防ぎ、液晶装置の劣化等の問題を解決することを目的とする。
さらに半導体レーザから出射された光ビームの位相を制御して収差を補正し、且つ次世代光ディスク、DVD、CDのためのレーザ光の光波長特性に合った透過率特性を確実に備えた液晶装置を提供することを目的とする。
一方、紫外線を含む所定の反射光が、液晶装置上で反射され、有機材料からなる光学部材に当たり、その有機材料を劣化させる問題が生じることや、液晶装置上で反射した不要な光(特定の波長を有するレーザ光)が、この光の発光源である半導体レーザ素子に戻り、レーザ光の発光特性を落とす(例えば、光の強さが変動する、光の位相が変動する)問
題がある。そこで、本発明は不要な反射光を抑えた液晶装置を得ることを目的とする。
このように、本発明は液晶装置を紫外線接着剤で支持枠に取り付けるときに、硬化用紫外線で劣化しない液晶装置及び次世代光ディスクにも対応し且つ信頼性が高い液晶装置を得ることを目的とする。
上記課題を解決するために本発明の第1の手段は、封止された液晶を挟んで対向する基板の少なくとも一方の基板上方に配設される光制御反射膜が、少なくとも2つの低反射低域を有しこの低反射帯域と低反射帯域との間に高反射帯域を有することを特徴とする。
上記課題を解決するために本発明の第2の手段は、本発明の第1の手段において前記光反射制御膜の前記複数の低反射帯域の1つの低反射帯域が、波長405nmを有する波長帯域であることを特徴とする。
上記課題を解決するために本発明の第3の手段は、本発明の第2の手段において前記光反射制御膜の前記複数の低反射帯域の1つの低反射帯域が、波長660nmを有する波長帯域であることを特徴とする。
上記課題を解決するために本発明の第4の手段は、本発明の第3の手段において前記光反射制御膜の前記複数の低反射帯域の1つの低反射帯域が、波長785nmを有する波長帯域であることを特徴とする。
上記課題を解決するために本発明の第5の手段は、本発明の第1乃至第4の手段のいずれかの一の手段において前記光反射制御膜は、高屈折率層の材料として、TiO2を用い、低屈折率層の材料として、SiO2を用い、前記高屈折率層と前記低屈折率層とが前記光透過性基板上に交互に繰り返し積層された誘電体多層膜で構成されていることを特徴とする。
上記課題を解決するために本発明の第6の手段は、液晶装置の光透過性基板に、380nm以下の波長の紫外線と紫外線に近い可視光の一部をほぼ完全に遮る光反射制御膜を形成して構成されたことを特徴とする。
上記課題を解決するために本発明の第7の手段は、本発明の第1の手段において前記光反射制御膜は、少なくとも405nm付近の波長を低反射率で透過させることを特徴とする。
上記課題を解決するために本発明の第8の手段は、本発明の第7の手段において前記光反射制御膜の405nm及びその近傍の波長の反射率が0.1%以下であることを特徴とする。
上記課題を解決するために本発明の第9の手段は、本発明の第6の手段において前記光反射制御膜は、波長405nm、波長660nm及びその近傍の波長の光を低反射率で透過させることを特徴とする。
上記課題を解決するために本発明の第10の手段は、本発明の第6の手段において前記光反射制御膜は、波長405nm、波長660nm、波長785nm及びその近傍の波長の光を低反射率で透過させることを特徴とする。
上記課題を解決するために本発明の第11の手段は、本発明の第6乃至第10の手段の
いずれかの一の手段において前記光反射制御膜が高屈折率層の材料として、TiO2、Ta2O5、Nb2O5 が用いられ、低屈折率層の材料として、SiO2あるいはMgF2が用いられていて、前記高屈折率層と前記低屈折率層とが前記光透過性基板上に交互に繰り返し積層された誘電体多層膜で構成されていることを特徴とする。
本発明に係る液晶装置によれば、収差を補正する液晶装置の固定枠への固着に使用する紫外線硬化型接着剤の硬化の為の紫外線を遮断して、液晶装置の劣化等の問題を解決するばかりか、半導体レーザから出射された光ビームの位相を制御して収差を補正し、且つ光ディスクの読みとりあるいは書き込みレーザ光の光波長特性に合った透過率特性を確実に備えることができる。
また、本発明に係る液晶装置によれば、波長が405nm近辺の反射を抑え、次世代用の光ディスクの読みとりあるいは書き込みレーザ光の光波長特性に合った透過率特性を備えることができる。
また、本発明に係る液晶装置によれば、半値波長が405nm近辺、及び660nm近辺で透過率が低反射率、すなわち高透過率になっていて、光ディスクの読みとりあるいは書き込みレーザ光の光波長特性に合った透過率特性を備えることができる。
また、本発明に係る液晶装置によれば、半値波長が405nm近辺、660nm近辺及び785nm近辺で透過率が高透過率になっていて、光ディスクの読みとりあるいは書き込みのレーザ光の光波長特性に合った透過率特性を備えることができる。
また、本発明に係る液晶装置によれば、半値波長が405nm近辺、660nm近辺及び785nm近辺で透過率が低反射率すなわち高透過率で透過させる光反射制御膜を容易に作製することができる。
また、光の波長が405nm及びその近傍で反射率が0.1以下と、紫外線での不要な反射光を極めて少なくしたので、紫外線を含む所定の反射光が、液晶装置上で反射され、有機材料からなる光学部材に当たり、その有機材料を劣化させる問題を防ぎ、液晶装置上で反射した不要な光(特定の波長を有するレーザ光)が、この光の発光源である半導体レーザ素子に戻り、レーザ光の発光特性を落とす(例えば、光の強さが変動する、光の位相が変動する)問題を防いだ、および不要な反射光を抑えたとの液晶装置を得ることができる効果を有する。このため、本発明は、信頼性が高く、光学特性が向上した液晶装置を得ることができる効果を有する。
非連続な低波長帯域となっており、低波長低域が非連続な波長−反射率特性を有する膜が配設されたことを特徴とする本発明の液晶装置は、従来技術の図5の製造費用に比べ、実際上の設計、製造が低コストになる効果も有している。
次に、図面を参照して本発明の好適な実施形態を説明する。
図1は本発明に係る液晶装置の概略構成を示す構成図、図2は同液晶装置の一部省略した平面図であり透視的に部分的に破断した図である。図3は本発明に係る液晶装置を組み込んだ光ピックアップ装置の概略構成を示す構成図、図4は本発明に係る液晶装置の反射率特性(透過率特性)を示すグラフである。
本発明に係る液晶装置7は、図1に示すように、液晶装置40の第1の光透過性基板41と第2の光透過性基板47のそれぞれの外面に光反射制御膜50を設けて構成してある。
液晶装置40は、図1に示すように、第1の光透過性基板41、第1の電極42である第1のITO膜(インジウム−錫−酸化物合金)、液晶層44中の液晶の配向を制御する第1の配向膜43、液晶層44、第2の配向膜45、第2の電極46である第2のITO膜、及び第2の光透過性基板47を、この順に備えている。また、上記液晶装置40は、枠形状をなす封止層48を備えている。電極の材質をITOとしたが、他の材料、例えばAl(アルミニュウム)、でも良い。
ここで、第1の電極42および第2の電極46は、それぞれ、第1の光透過性基板41および第2の光透過性基板47上であって、液晶層44側に成膜されており、外部から印加される電圧信号に応じて液晶層44の屈折率を変化させると共に、光を透過させる透明電極である。
封止層48は、互いに対向する第1の光透過性基板41と第2の光透過性基板47とに挟まれていて、封止層の枠内に注入された液晶よりなる液晶層44の液晶が封止層の枠である封止枠の外に漏れないようにしている。また、液晶層44は、入射する光ビームの偏光方向に配向方向を一致させて設けられた液晶で形成された層である。
第2の電極46は、図2に示すように、分割された電極パターン46a、46b、46cで構成されている。
図2は、図2を正面に見て、破断線より左側は上面から見た図であり、主に第1の電極42を開示している。破断線より右側は、上側の第1の透明基板を及び第1の電極を破断削除し第2の電極46を開示している。
図2において、導電粒子51aに対して電極端子42aが大きく表現されているが、実際は導電粒子51aの粒経が5μm前後であり、電極端子は導電粒子の径以上の幅またはその数倍の幅または長さを有している。この長さは封止部材幅である1mm前後になる。液晶層の厚みは5μm前後である。
図2において2点鎖線で示した部分は、第1の電極42を示す仮想線である。
一方、第1の電極42は、膜全体がひとつの電極パターン42となっている。
さらに、図2に示すように、第1の光透過性基板41には、電極端子部49a、49b、49c、49dが形成されている。そして、この電極端子部49a、49b、49c、49dは、それぞれ、給電線51a、51b、51c、51dを介して、それぞれに、電極パターン42、46a、46b、46cに接続されている。また、これらの電極端子部49a、49b、49c、49dは、液晶装置40に対して外部から電圧信号を入力するために利用される。
電極端子49aは、給電線51aを経由して、絶縁接着材の中に導電粒子51eを混入したところの異方性導電接着剤よりなる枠状の液晶を封止する封止層48により、すなわち導電粒子51eを介して、第1の光透過性基板41の電極端子42aと接続し、さらに第1の電極42と接続される。このようにして第2の透明基板47上の信号が第1の透明基板41に信号を供給する。
すなわち異方性導電接着剤の導電粒子51eにより、対向する第1の光透過性基板41上の配線あるいは電線と第2の光透過性基板47上の所定の配線あるいは所定の電線とが接続あるいは電気的導通される。
ここで、光ディスク基板厚さtに応じて、後述する光ピックアップ装置において、対物
レンズと光源との間に配置した液晶装置40に印加する電圧信号を変化させることにより、位相変化を生じさせて収差を補正している。
つまり、第1の電極42を共通電位として、電極パターン46a、46b、46cにそれぞれ所定の電圧差を印加することにより、電極パターン46a、46b、46cに対応する領域の液晶層44の液晶の配向方向をそれぞれ変化させて各領域を通過するレーザ光に位相変化を生じさせ、光ディスク基板厚さtに起因する光路差(収差)を補正している。これにより、光ディスクの記録層に収差が無い状態で集光することが可能になる。
光反射制御膜50は、高屈折率層の材料として、TiO2、ZrO2が用いられ、低屈折率層の材料として、SiO2、Al2O3及びMgF2が用いられていて、高屈折率層と低屈折率層とが液晶装置40の光透過性基板(第1、第2の光透過性基板41、47)上に交互に繰り返し積層された誘電体多層膜で構成されている。この場合、第1、第2の光透過性基板41、47の厚みは0.5mmであり、光反射制御膜50の厚みは0.32μmである。
上記した誘電体多層膜の成膜方法は、例えば真空蒸着法、イオンプレーティング法、スパッタリング法、CVD法、飽和溶液中での化学反応により析出させる方法等を採用することができる。
光反射制御膜50は、高屈折率層と低屈折率層とが交互にそれぞれ同じ光学的膜厚で繰り返し積層された繰り返し交互層を有する。膜厚の基本的な設計では、繰り返し交互層として、(0.5H、1L、0.5H)5のように表される。ここで、カットしたい波長の中心近くの波長を設計波長として、高屈折率層(H)の膜厚を光学的膜厚nd=1/4λの値を1Hとして表記し、低屈折率層(L)を同様に1Lとする。
Sはスタック数と呼ばれる繰り返しの回数で、括弧内の構成を周期的に繰り返すことを表している。実際に積層される層数は2S+1層となり、Sの値を大きくすると吸収一透過へ変化する立ち上がり特性(急峻さ)を急にすることができる。Sの値としては3から20程度の範囲から選定される。この繰り返し交互層によって、カットされる特定の波長が決定される。
透過帯域の透過率を高くし、リップルと呼ばれる光透過率の凹凸をフラットな特性にするためには、繰り返し交互層の基板近くと、媒質近くの数層ずつの膜厚を変化させて最適設計を行う。そのため、基板の上から順に、0.5LH・・・HL(HL)5HL・・・H、0.5Lのように表記される。このような多層膜カットフィルタの設計は市販のソフトウエアを用いて理論的に行うことができる。
具体的には、参考文献:OPTRONICS誌1999NO.5P.175−190に示しされている。
このようなソフトウエアを用いることによって、図4に示す光反射制御膜50の高温3層ARシュミュレーションを得ることが出来た。
実施例では、白板ガラス(形式:OA−10F、メーカ:NEG社)よりなるガラス基板の上に、SiO2層−TiO2層−SiO2層−TiO2層−SiO2層からなる5層の誘電体多層膜を形成し、反射率−波長特性を測定したところ、図4の特性グラフが得られた。このグラフは、前記の如く中ミレーションであるが、実際の測定でもほぼ同じ特性を示した。とくに図4の波長405nmで反射率0.1%との特性は、実際の測定でも、ほぼ同じ値が得られた。
この5層AR(5層反射防止膜)のシュミュレーションは、この5層ARに分光した光を当てて反射(弗化マグネシウム反射を100%としての校正されている反射)を測定したものである。
この5層ARシュミュレーションは、380nm以下の波長の紫外線と紫外線に近い可視光の一部をほぼ完全に遮り、波長が405nm(青色レーザ光)、660nm及び785nm及びその近傍で反射率が約0.3%以下の高透過率あるいは極低反射率特性を有しているので、DVDとCDで使用するレーザ光に対応した透過率特性あるいは反射率特性を備えている。
図4より明らかな如く、封止された液晶を挟んで対向する基板の上方に、複数の低反射帯域である波長帯域(中心波長で示す)405nmと660nmと780nmが示されており、低反射波長帯域405nmと低反射波長帯域660あるいは低反射波長帯域780とは500nmの反射率4.8%を挟んで、非連続な低波長帯域となっており、低波長低域が非連続な波長−反射率特性を有する膜が配設されている。
このような波長特性を有する多層膜は、従来技術の図5の製造費用に比べ、実際上の製造が低コストになる効果も有している。
また、封止された液晶を挟んで対向する基板の少なくとも一方の基板上方に配設される光制御反射膜が、図4の特性を有している。
波長400nmと波長660nmの2つに低反射低域を有しこの低反射帯域と低反射帯域との間に、波長510nmで反射率4.75%の高反射帯域を有する。
また、波長780nmでも、低反射帯域としている。
さらに、波長380nm近傍で紫外線硬化型接着材の硬化用紫外線を反射する、高反射率5%以上の反射特性を有する光制御反射膜である。
上記した本発明に係る液晶装置7は、図3に示すように、光ピックアップ装置1に組み込まれている。すなわち、光ピックアップ装置1は、半導体レーザ(光源)2、コリメータレンズ3、回折格子4、1/2波長板5、ビームスプリッタ6、液晶装置7、1/4波長板8、対物レンズ9、図示しないアクチュエータ、このアクチュエータの可動部(保持手段)10、集光レンズ11、光検出器12、集光レンズ13、円柱レンズ14、光検出器15、及び液晶駆動回路16を備えている。
半導体レーザ2は波長λ=405nmの光ビームを出射している。この半導体レーザ2から出射された光ビームは、コリメータレンズ3により平行光ビームとされる。そして、この平行光ビームは、回折格子4でメインビームとトラッキング用の2つのサブビームとの3つの光ビームに分割される。
また、3つの光ビームは、1/2波長板5、ビームスプリッタ6、液晶装置7、1/4波長板8をそれぞれ通過して、対物レンズ9によって光ディスク19上に集光される。対物レンズ9としては、開口数NA=0.85のものが使用される。
液晶装置7、1/4波長板8、対物レンズ9は、レンズホルダ(固定枠)等で構成される可動部10に一体的に保持されており、図示しない磁石やコイルを用いてフォーカス方向とトラッキング方向の2方向に一体駆動される。
半導体レーザ2から出射された光ビームの一部である特定の光成分は、ビームスプリッタ6を透過し液晶装置7と1/4波長板8を透過した後に、前記光ビームは対物レンズ9でよりピンポイント状態に集光されて、光ディスク19面上を照射する。
また、半導体レーザ2から出射された光ビームの他の光成分は、ビームスプリッタ6で反射される。すなわち、光ビームの他の光成分は、ビームスプリッタ6により光検出器12の方向に反射される。ビームスプリッタで反射した後に、この光ビームは、集光レンズ11を通過して、光検出器12に集光される。そして、この集光された光ビームに対する
光検出器12での出力が、光ディスク19に対するレーザ出力を制御する目的に使用される。1/2波長板5は、回転させられることにより、光検出器12への光ビームの入射光量を調整するものである。
光ディスク19で反射された光ビームは、再び対物レンズ9に入射して、1/4波長板8及び液晶装置7を通過し、ビームスプリッタ6で反射される。このビ−ムスプリッタ6で反射された光ビームは、集光レンズ13および円柱レンズ14を通過して、光検出器15に入射する。そして、この光検出器15において、フォーカス誤差信号、トラッキング誤差信号、及び情報再生信号が検出される。光検出器15は低ノイズ化のためにアンプが内蔵されており、光検出器15に入射した光ビームは光電変換後に電涜電圧変換がなされて出力される。
光ディスク19は、透明基板19a、記録層19b及びダミー基板19cをこの順に備えている。
透明基板19aは、光ディスク19を保護する保護層の役割を果たしている。また、記録層19bは、光ビームの照射により、情報を記録する層である。さらに、上記ダミー基板19cは、光ディスク19の強度を強める役割を果たす。
そして、この光ディスク19では、透明基板19aと記録層19bとダミー基板19cが接合されており、透明基板19aと記録層19bとダミー基板19cとを合わせた光ディスク19のトータル厚みが、例えば1.2mmとなっている。また、透明基板19aの光ディスク基板厚さtは100μmを目標として製造されるが、必ず、厚み誤差が発生する。それゆえ、一枚の光ディスク内でも周方向や半径位置によって光ディスク基板厚さtが変化してしまう。他の光ディスクの使用を考慮すると、さらに大きな厚み誤差が生じてしまう。
液晶装置7は、液晶駆動回路16と、FPC等によりアクチュエータ内部で電気配線されている。また、液晶駆動回路16により液晶装置7の電極に印加する電圧を制御することで、液晶装置7は、光ディスク19の透明基板19aの厚み誤差で発生する収差を補正するようになっている。つまり、液晶装置7は、半導体レーザ2から出射された光ビームの位相を制御して収差を補正する。
上記したように、液晶装置7の光反射制御膜50は、380nm以下の波長の紫外線を遮り、波長が405nm、660nm、785nm及びその近傍の波長で透過率が約0.3%以下の超低反射率になっているために、半導体レーザ2が、波長λ=405nmの光ビームを出射しているので、液晶装置7において、この光ビームが選択されて、半導体レーザ2から出射された光ビームの位相を制御して収差が補正される。
なお、半導体レーザ2が、波長λ=660nmの光ビームを出射した場合には、液晶装置7において、この光ビームが選択される。さらに、半導体レーザ2が、波長λ=785nmの光ビームを出射した場合には、液晶装置7において、この光ビームが選択されて、半導体レーザ2から出射された光ビームの位相を制御して収差が補正される。
上記した本発明の実施の形態1によれば、収差を補正する液晶装置40の固定枠への固着に使用する紫外線硬化型接着剤の硬化の為の紫外線を遮断して、液晶装置40の劣化等の問題を解決するばかりか、半値波長が405nm近辺、660nm近辺及び785nm近辺で透過率が高透過率になっていて、DVDとCD等の光ディスク装置のためのレーザ光の光波長特性に合った透過率特性を備えることができる。
また、本発明に係る液晶装置7では、参考文献(OPTRONICS誌1999NO.5P.175−190)に示されているようなソフトウエアを用いることによって、光反射制御膜50に、少なくとも405nm付近の波長のみを高透過率で透過させる機能を付与するこで、液晶装置7は、収差を補正する液晶装置40の固定枠への固着に使用する紫外線硬化型接着剤の硬化の為の紫外線を遮断して、液晶装置の劣化等の問題を解決するばかりか、405nm近辺における波長のみの透過率が高透過率になっていて、DVD等の光ディスク装置のためのレーザ光の光波長特性に合った透過率特性を備えることになる。
また、透過率特性(反射率特性)あるいは光の分光特性を示すグラフで、光の波長405nmから785nmの全区間を低反射率にしようとすると、参考文献(OPTRONICS誌1999NO.5P.175−190。特に図11)に示されているように、多層膜の層数を増やすことで光の波長特性を急峻にすることができるが、分光特性あるいは光の分光特性のリップルが大きくなる問題が指摘されている。このリップルを少なくするためには多層膜の層数を減らせば、波長特性が鈍ってしまう(緩やかになる)と言う問題が生じるので、目的とする光波長特性を得るためには、ソフトの計算値を試行錯誤して決める必要があり、設計時間などの工数が多く掛かりコストダウンが得れない問題を有していた。
一方、本発明は非連続な波長帯域となっており、低波長低域が非連続な波長−反射率特性を有する膜が配設されたことを特徴とするので、本発明の液晶装置は、従来技術の図5の設計費を含む製造費用に比べ、設計費を含む製造が低コストになる効果も有している。
なぜなら本発明は、図4に示した如く、リップルを除去する必要が無く、このため光波長特性が急峻な特性とすることは容易に得られ、設計工数の削減、実験の回数の削減等のコストダウンの効果が得られるとともに、分光特性が急峻な物が得られ、光波長405nm以下の光を正確にシャットダウンする効果が得られる。
たとえ、低反射率を示すリップルの光波長が380nmであったとしても、リップルのため簡単な条件設定でリップルの光波長を380nmからずらすことは容易である。
上記の効果に伴い、製造に於ける良品の歩留まりが向上する効果も得られる。
上記説明では、反射膜を封止された液晶を挟んで対向する第2の光透過性基板基板の上に配設したが、必要に応じて第1の光透過性基板基板の下側にも配設しても良い。
また、上記説明では、反射膜を封止された液晶を挟んで対向する第2の光透過性基板基板の上に配設したが、偏光板や位相差板やタッチパネル等が第2の光透過性基板基板の上に配設されるときには、これらを構成するシート状あるいは板状の部材の上面あるいは下面あるいは内面に本発明の反射膜である、複数の低反射帯域が非連続となる波長−反射率特性を有する膜を配設しても本発明の効果は得られる。
本発明に係る液晶装置によれば、収差を補正する液晶装置の固定枠への固着に使用する紫外線硬化型接着剤の硬化の為の紫外線を遮断して、液晶装置の劣化等の問題を解決するばかりか、半導体レーザから出射された光ビームの位相を制御して収差を補正し、且つDVDのためのレーザ光の光波長特性に合った透過率特性を確実に備えることができるという効果を有していて、光ディスクなどの光記録媒体に情報を記録再生する際に用いられる液晶装置等に有用である。
本発明に係る液晶装置の概略構成を示す構成図である。 同液晶装置の一部省略した平面図であり、一部を破断した平面図でもある。 本発明に係る液晶装置を組み込んだ光ピックアップ装置の概略構成を示す構成図である。 本発明に係る液晶装置の透過率特性(反射率特性)を示すグラフである。 超高圧水銀灯の輝度分布及び∪∨カットフィルタの光反射制御膜と紫外線吸収ガラスの分光透過率を示すグラフである。
符号の説明
7 液晶装置
40 液晶装置
41 第1の光透過性基板
47 第2の光透過性基板
50 光反射制御膜

Claims (12)

  1. 封止された液晶を挟んで対向する基板の少なくとも一方の基板上方に配設される光制御反射膜が、少なくとも2つの低反射帯域を有しこの低反射帯域と低反射帯域との間に高反射帯域を有することを特徴とする液晶装置。
  2. 前記光反射制御膜の前記複数の低反射帯域の1つの低反射帯域が、波長405nmを有する波長帯域であることを特徴とする請求項1に記載の液晶装置。
  3. 前記光反射制御膜の前記複数の低反射帯域の1つの低反射帯域が、波長660nmを有する波長帯域であることを特徴とする請求項2に記載の液晶装置。
  4. 前記光反射制御膜の前記複数の低反射帯域の1つの低反射帯域が、波長785nmを有する波長帯域であることを特徴とする請求項3に記載の液晶装置。
  5. 前記光反射制御膜は、高屈折率層の材料として、TiO2を用い、低屈折率層の材料として、SiO2を用い、前記高屈折率層と前記低屈折率層とが前記光透過性基板上に交互に繰り返し積層された誘電体多層膜で構成されていることを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか一に記載の液晶装置。
  6. 液晶装置の光透過性基板に、380nm以下の波長の光を遮る光反射制御膜を形成して構成されたことを特徴とする液晶装置。
  7. 前記光反射制御膜は、少なくとも405nm付近の波長を低反射率で透過させることを特徴とする請求項6に記載の液晶装置。
  8. 前記光反射制御膜の405nm及びその近傍の波長の反射率が0.1%以下であることを特徴とする請求項7に記載の液晶装置。
  9. 前記光反射制御膜は、波長405nm、波長660nm及びその近傍の波長の光を低反射率で透過させることを特徴とする請求項6に記載の液晶装置。
  10. 前記光反射制御膜は、波長405nm、波長660nm、波長785nm及びその近傍の波長の光を低反射率で透過させることを特徴とする請求項6に記載の液晶装置。
  11. 前記光反射制御膜は、高屈折率層の材料として、TiO2を用い、低屈折率層の材料として、SiO2を用い、前記高屈折率層と前記低屈折率層とが前記光透過性基板上に交互に繰り返し積層された誘電体多層膜で構成されていることを特徴とする請求項6乃至請求項10のいずれか一に記載の液晶装置。
  12. 封止された液晶を挟んで対向する基板の少なくとも一方の基板上方に配設される光制御反射膜が、波長405nmの低反射帯域を有することを特徴とする液晶装置。
JP2005218990A 2005-07-28 2005-07-28 液晶装置 Pending JP2007034030A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005218990A JP2007034030A (ja) 2005-07-28 2005-07-28 液晶装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005218990A JP2007034030A (ja) 2005-07-28 2005-07-28 液晶装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007034030A true JP2007034030A (ja) 2007-02-08

Family

ID=37793351

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005218990A Pending JP2007034030A (ja) 2005-07-28 2005-07-28 液晶装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2007034030A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20110062371A (ko) * 2009-12-03 2011-06-10 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치
JP2013506165A (ja) * 2009-09-29 2013-02-21 シーリアル テクノロジーズ ソシエテ アノニム 2次元及び/又は3次元の画像コンテンツを提示するディスプレイ用の光変調器

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1138400A (ja) * 1997-07-17 1999-02-12 Olympus Optical Co Ltd 液晶素子
JP2005031297A (ja) * 2003-07-10 2005-02-03 Asahi Techno Glass Corp 液晶表示装置の反射防止膜付き透明基板
JP2005038581A (ja) * 2003-06-30 2005-02-10 Konica Minolta Opto Inc 光学素子及び光ピックアップ装置
JP2006030275A (ja) * 2004-07-12 2006-02-02 Asahi Glass Co Ltd 光学部材、光回折素子、および位相板

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1138400A (ja) * 1997-07-17 1999-02-12 Olympus Optical Co Ltd 液晶素子
JP2005038581A (ja) * 2003-06-30 2005-02-10 Konica Minolta Opto Inc 光学素子及び光ピックアップ装置
JP2005031297A (ja) * 2003-07-10 2005-02-03 Asahi Techno Glass Corp 液晶表示装置の反射防止膜付き透明基板
JP2006030275A (ja) * 2004-07-12 2006-02-02 Asahi Glass Co Ltd 光学部材、光回折素子、および位相板

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013506165A (ja) * 2009-09-29 2013-02-21 シーリアル テクノロジーズ ソシエテ アノニム 2次元及び/又は3次元の画像コンテンツを提示するディスプレイ用の光変調器
KR20110062371A (ko) * 2009-12-03 2011-06-10 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치
KR101708855B1 (ko) * 2009-12-03 2017-02-21 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2006013901A1 (ja) 液晶レンズ素子および光ヘッド装置
WO2006009176A1 (ja) 液晶レンズ素子および光ヘッド装置
US7839458B2 (en) Liquid crystal optical element having grouped concentric electrodes
JP4552556B2 (ja) 液晶レンズ素子および光ヘッド装置
US7898926B2 (en) Optical pickup
JP5291906B2 (ja) 対物光学素子及び光ヘッド装置
US7889622B2 (en) Optical head for optical recorder/reproducer
JP2004103058A (ja) 球面収差補正装置
US20090110011A1 (en) Optical component for laser beam
JP2001006203A (ja) 光ヘッド装置
US20060140078A1 (en) Optical pickup device
JP4455396B2 (ja) 位相制御素子及び光ヘッド装置
JP2007034030A (ja) 液晶装置
JP2001100174A (ja) 光学素子、光ヘッド及び光記録再生装置
KR100603871B1 (ko) 광 픽업 장치
JP4207550B2 (ja) 光ヘッド装置
US20090129238A1 (en) Objective lens
US20050207314A1 (en) Optical element, optical head, optical information device and method of controlling optical head
KR101120026B1 (ko) 능동형 보정소자 및 이를 채용한 호환형 광픽업 및 광 기록및/또는 재생기기
TWI383389B (zh) 光學拾取頭及資訊處理裝置
EP1318510A2 (en) Optical disk and recording/reproducing apparatus
JP2003338070A (ja) 光ヘッド装置
WO2007099948A1 (ja) 収差補正素子、収差補正装置および光ピックアップ
JP2005149714A (ja) 集積型の光ピックアップ、それを採用した光記録および/または再生装置
JP2005011417A (ja) 光ピックアップ装置及びそれを備えた光情報記録/再生装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Effective date: 20080527

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20080527

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110328

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110419

A02 Decision of refusal

Effective date: 20110816

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02