JP2007017419A - ダイオード発振素子を用いた建材および建造物のイメージング方法およびイメージングシステム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】発振素子としてタンネットダイオードを用い、10GHzから300GHz(1THz)の発振周波数を用いた反射イメージングにより、大型建材や、大型建造物まで適応できるイメージング方法およびイメージングシステムに関し、発振器ユニットと検出器ユニットを一体化し、これをスキャンするシステムの採用により、木材やコンクリート壁、建造物やトンネル内壁の内部構造欠陥や異物の混入を簡便に観察できる。
また発振周波数を選ぶことにより、物質中の電磁波透過能を制御し、表面から奥深く存在する建造物内部構造をイメージングできる。
【選択図】 図5
Description
2…ステム
3…スライディングショート
4…バイアスピン
5…方形導波路
6…ホーンアンテナ
7…石英スタンドオフ
8…ダイオード素子
9…金リボン
81…n+GaAs基板結晶
82…GaAs n−層
83…GaAs n+層
84…GaAs p+層
10…ダイオード発振素子
11…レンズ
12…物体
13…内部構造欠陥
14…異物
15…検出器
16…信号処理部
17…駆動機構
18…ビームスプリッタ
19…プローブ
20、24…法線方向(r)駆動機構
21、25…回転方向(θ)駆動機構
22、26…長手方向(Z)駆動機構
23…柱状物質
27…中空の柱状(パイプ状)物質
Claims (6)
- ダイオード発振素子およびその共振器構造によって構成される10−300GHzの範囲の所定周波数の電磁波発生源を用い、前記電磁波の発生手段、集光手段、ビーム分割手段、および検出手段を組み合わせ一体化しプローブとし、前記プローブを走査することにより、試料表面および内部からの電磁波の反射強度を測定し、前記試料の反射イメージング画像を得ることにより試料中の異物や構造欠陥の分布を画像化することを特徴とするダイオード発振素子を用いた建材および建造物のイメージング方法およびイメージングシステム。
- 前記ダイオード発振素子が、ガンダイオード、インパットダイオード、あるいはタンネットダイオードのいずれかであることを特徴とする請求項1に記載のダイオード発振素子を用いた建材および建造物のイメージング方法およびイメージングシステム。
- 前記試料が、非平面を含む柱状であり、前記プローブが物体表面に対し、法線方向(r)、回転方向(θ)、および長さ方向(Z)に走査されることを特徴とする、請求項1に記載のダイオード発振素子を用いた建材および建造物のイメージング方法およびイメージングシステム。
- 前記試料が柱状木材であることを特徴とする請求項3に記載のダイオード発振素子を用いた建材および建造物のイメージング方法およびイメージングシステム。
- 前記試料が、非平面を含む中空のパイプであり、前記プローブが中空内部より物体表面に対し、法線方向(r)、回転方向(θ)、および長さ方向(Z)に走査されることを特徴とする、請求項1に記載のダイオード発振素子を用いた建材および建造物のイメージング方法およびイメージングシステム。
- 前記試料がトンネル内壁面であることを特徴とする請求項5に記載のダイオード発振素子を用いた建材および建造物のイメージング方法およびイメージングシステム。
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007132915A (ja) * | 2005-11-09 | 2007-05-31 | Semiconductor Res Found | 建造物の検査方法および検査システム |
JP2008249525A (ja) * | 2007-03-30 | 2008-10-16 | Kansai Electric Power Co Inc:The | 碍子型避雷器の吸湿検出方法、碍子型避雷器の吸湿劣化検出方法、および碍子型避雷器の吸湿検出装置 |
JP2008268164A (ja) * | 2007-04-24 | 2008-11-06 | Tohoku Univ | 電磁波の偏光特性を利用した非破壊検査装置 |
JP2012256867A (ja) * | 2011-05-17 | 2012-12-27 | Canon Inc | 導波路、該導波路を用いた装置及び導波路の製造方法 |
JP2023014700A (ja) * | 2021-07-19 | 2023-01-31 | 株式会社東芝 | 信号処理方法、信号処理装置、信号処理システム及びプログラム |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08178907A (ja) * | 1994-12-22 | 1996-07-12 | Sekisui Chem Co Ltd | 埋設管用空洞探査装置 |
JP2001201463A (ja) * | 2000-01-17 | 2001-07-27 | Aoki Corp | 構造物の高周波数領域電磁レーダー診断方法 |
JP2003014658A (ja) * | 2001-06-27 | 2003-01-15 | Tohoku Techno Arch Co Ltd | マイクロ波非破壊評価装置 |
JP2003066495A (ja) * | 2001-08-22 | 2003-03-05 | Fuji Xerox Co Ltd | 光又は電磁波の発生方法及び発生装置 |
JP2003207463A (ja) * | 2001-11-12 | 2003-07-25 | Shogo Tanaka | コンクリート構造物及びそれ以外の構造物の非破壊検査方法 |
JP2003525446A (ja) * | 2000-02-28 | 2003-08-26 | テラビュー リミテッド | 撮像装置及び方法 |
WO2003076916A1 (fr) * | 2002-03-13 | 2003-09-18 | Burn-Am Co., Ltd. | Procede et dispositif d'inspection interieure pour canalisation souterraine, et procede de recherche des deteriorations du beton sur la face interieure d'une canalisation souterraine |
JP2004156987A (ja) * | 2002-11-06 | 2004-06-03 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 非破壊評価装置およびマイクロ波照射装置 |
WO2005022130A1 (en) * | 2003-08-27 | 2005-03-10 | Teraview Limited | Method and apparatus for investigating a non-planar sample |
-
2005
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Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08178907A (ja) * | 1994-12-22 | 1996-07-12 | Sekisui Chem Co Ltd | 埋設管用空洞探査装置 |
JP2001201463A (ja) * | 2000-01-17 | 2001-07-27 | Aoki Corp | 構造物の高周波数領域電磁レーダー診断方法 |
JP2003525446A (ja) * | 2000-02-28 | 2003-08-26 | テラビュー リミテッド | 撮像装置及び方法 |
JP2003014658A (ja) * | 2001-06-27 | 2003-01-15 | Tohoku Techno Arch Co Ltd | マイクロ波非破壊評価装置 |
JP2003066495A (ja) * | 2001-08-22 | 2003-03-05 | Fuji Xerox Co Ltd | 光又は電磁波の発生方法及び発生装置 |
JP2003207463A (ja) * | 2001-11-12 | 2003-07-25 | Shogo Tanaka | コンクリート構造物及びそれ以外の構造物の非破壊検査方法 |
WO2003076916A1 (fr) * | 2002-03-13 | 2003-09-18 | Burn-Am Co., Ltd. | Procede et dispositif d'inspection interieure pour canalisation souterraine, et procede de recherche des deteriorations du beton sur la face interieure d'une canalisation souterraine |
JP2004156987A (ja) * | 2002-11-06 | 2004-06-03 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 非破壊評価装置およびマイクロ波照射装置 |
WO2005022130A1 (en) * | 2003-08-27 | 2005-03-10 | Teraview Limited | Method and apparatus for investigating a non-planar sample |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007132915A (ja) * | 2005-11-09 | 2007-05-31 | Semiconductor Res Found | 建造物の検査方法および検査システム |
JP2008249525A (ja) * | 2007-03-30 | 2008-10-16 | Kansai Electric Power Co Inc:The | 碍子型避雷器の吸湿検出方法、碍子型避雷器の吸湿劣化検出方法、および碍子型避雷器の吸湿検出装置 |
JP2008268164A (ja) * | 2007-04-24 | 2008-11-06 | Tohoku Univ | 電磁波の偏光特性を利用した非破壊検査装置 |
JP2012256867A (ja) * | 2011-05-17 | 2012-12-27 | Canon Inc | 導波路、該導波路を用いた装置及び導波路の製造方法 |
JP2023014700A (ja) * | 2021-07-19 | 2023-01-31 | 株式会社東芝 | 信号処理方法、信号処理装置、信号処理システム及びプログラム |
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