JP2006351102A - Manufacturing apparatus of optical disk - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing method and a manufacturing apparatus for manufacturing an optical disk of high quality having one or two signal layers and compatible with high density recording. <P>SOLUTION: The manufacturing apparatus of the optical disk is provided with an annular mask member comprising a light shielding material which does not substantially transmit curing light and has an inside diameter more than 90% of the outside diameter of a disk substrate and an outside diameter larger than the outside diameter of the disk substrate and a mask movement mechanism moving the mask member to a set position in the vicinity of the surface of the disk substrate placed on a second rotational treatment device and substantially preventing irradiation of an outer peripheral part exceeding 90% of a light transmission film spread on the disk substrate with the curing light when the disk substrate is irradiated with the curing light by a first irradiation device with the curing light. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、光ディスクの製造装置、特に高密度記録を可能にする光ディスクの製造装置に関する。   The present invention relates to an optical disk manufacturing apparatus, and more particularly to an optical disk manufacturing apparatus that enables high-density recording.

近年、DVD(Digital Versatile Disc)の発展は目覚しく、広く普及しつつあり、量産規模で生産が行われている。現在普及しているDVDの製造方法の一例は、概略、情報信号を形成する溝を有するスタンパを射出成形金型に取り付け、射出成形によって、厚さが0.6mmのディスク基板を形成し、前記溝の存在する面に反射膜を成膜した後に、淡色又は透明(以下、透明という)な接着剤により2枚のディスク基板を貼り合せて完成品を得ている。このように、2枚のディスク基板を貼り合せてDVDを製造する装置については、種々の生産ラインの機構がすでに提案されている(例えば、特許文献1参照)。   In recent years, the development of DVD (Digital Versatile Disc) has been remarkable and is becoming widespread, and is being produced on a mass production scale. An example of a DVD manufacturing method that is currently widely used is that a stamper having a groove for forming an information signal is generally attached to an injection mold, and a disk substrate having a thickness of 0.6 mm is formed by injection molding. After a reflective film is formed on the surface where the groove exists, a finished product is obtained by laminating two disk substrates with a light-colored or transparent (hereinafter referred to as transparent) adhesive. As described above, various production line mechanisms have already been proposed for an apparatus for manufacturing a DVD by bonding two disk substrates (see, for example, Patent Document 1).

他方では、次世代の高密度記録を可能にする情報記録媒体としてブルーレーザ対応のディスクの開発が進んでいる。このブルーレーザ対応のディスクでは、波長が405nmと短いレーザ光によってディスクと反対側から情報の記録再生を行うため、ディスクの反射膜の上に100μm(0.1mm)の膜厚の透明な光透過膜を形成する必要がある。更に、信号層が2層のブルーレーザ対応のディスクでは、前記透明な光透過膜の上に信号層を有する別の光透過膜と半透明の反射膜、更には透明なカバー層を形成する必要があり、これら光透過膜とカバー層とを含めてほぼ100μmの膜厚にしなければならない。しかも、これら光透過膜とカバー層の厚みの均一性は情報の記録再生に大きな影響を与えるので、非常に高い均一性が要求される。   On the other hand, a blue laser compatible disc is being developed as an information recording medium enabling next-generation high-density recording. In this blue laser compatible disc, information is recorded / reproduced from the opposite side of the disc by a laser beam having a short wavelength of 405 nm, so that a transparent light transmission with a film thickness of 100 μm (0.1 mm) is formed on the reflective film of the disc. It is necessary to form a film. Furthermore, in the case of a blue laser compatible disc having two signal layers, it is necessary to form another light transmission film having a signal layer, a semitransparent reflection film, and a transparent cover layer on the transparent light transmission film. The film thickness including the light transmission film and the cover layer must be approximately 100 μm. In addition, the uniformity of the thickness of the light transmission film and the cover layer has a great influence on the recording / reproduction of information, and therefore, a very high uniformity is required.

このため、出来るだけディスク基板の中心部に近い位置に放射線硬化性の液状材料を供給し、スピンコーティングにより均一性の高い光透過膜を形成する方法及び装置がすでに開示されている(例えば、特許文献2、特許文献3参照)。また、透明な光透過膜とカバー層との間に気泡が入り込むと、情報の記録再生に大きな影響を与えるので、真空中において、第1の信号層を有するディスク基板と第2の信号層を有する光透過膜の形成された転写用ディスク基板とを貼り合せる方法及び装置もすでに開示されている(例えば、特許文献4参照)。更にまた、ディスク基板から転写用ディスク基板を確実かつ簡単に剥離して、信号層を転写する方法及び装置もすでに開示されている(例えば、特許文献5参照)。
特開2002−245692公報 特許第3557863号公報 特開2004−220750公報 特許第3302630号公報 特開2002−197731公報
For this reason, a method and an apparatus for supplying a radiation-curable liquid material as close to the center of the disk substrate as possible and forming a highly uniform light transmission film by spin coating have already been disclosed (for example, patents). Reference 2 and Patent Reference 3). In addition, if air bubbles enter between the transparent light-transmitting film and the cover layer, the recording / reproduction of information is greatly affected. Therefore, in vacuum, the disk substrate having the first signal layer and the second signal layer are connected to each other. A method and apparatus for bonding a transfer disk substrate on which a light-transmitting film is formed have also been disclosed (for example, see Patent Document 4). Furthermore, a method and apparatus for transferring the signal layer by reliably and easily peeling the transfer disk substrate from the disk substrate has already been disclosed (see, for example, Patent Document 5).
JP 2002-245692 A Japanese Patent No. 3557863 JP 2004-220750 A Japanese Patent No. 3302630 JP 2002-197731 A

しかし、高密度記録対応の光ディスクであって、平坦性に優れた光透過膜を合理的に形成できる経済性に優れた製造装置について開示しているものはない。
本発明は、信号層が1層又は2層の高密度記録対応の高品質の光ディスクを合理的に製造できる製造装置を提供することを課題としている。
However, there is no disclosure of an economical manufacturing apparatus that can rationally form a light transmission film excellent in flatness, which is an optical disk compatible with high-density recording.
It is an object of the present invention to provide a manufacturing apparatus that can rationally manufacture a high-quality optical disc compatible with high-density recording having one or two signal layers.

第1の発明は、前記課題を解決するために、ディスク基板に液状物質を供給する液状物質供給機構と、前記ディスク基板に供給された前記液状物質を遠心力によって展延して光透過膜を形成する第1の回転処理装置と、前記光透過膜の形成された前記ディスク基板を回転処理する第2の回転処理装置と、該第2の回転処理装置に載置されている前記ディスク基板に硬化光を照射する第1の硬化光照射装置と、第2の硬化光照射装置とを備える光ディスク製造装置であって、前記硬化光を実質的に透過しない光遮蔽材料からなり、かつ前記ディスク基板の外径の90%を越える内径と、前記ディスク基板の外径よりも大きな外径とを有する大きさの環状のマスク部材と、前記第1の硬化光照射装置が硬化光を照射するときには、前記マスク部材を前記ディスク基板の表面近傍の設定位置まで移動させて、前記ディスク基板に展延されている前記光透過膜の90%を越える外周部に実質的に硬化光が照射されるのを防ぎ、硬化光の照射後には前記設定位置から別の位置に移動させるマスク移動機構とを備えることを特徴とする光ディスク製造装置を提供するものである。   In order to solve the above-mentioned problems, a first invention provides a liquid material supply mechanism for supplying a liquid material to a disk substrate, and a light transmission film formed by spreading the liquid material supplied to the disk substrate by centrifugal force. A first rotation processing device to be formed; a second rotation processing device for rotating the disk substrate on which the light-transmitting film is formed; and the disk substrate mounted on the second rotation processing device. An optical disc manufacturing apparatus comprising a first curing light irradiation device for irradiating curing light and a second curing light irradiation device, wherein the disk substrate is made of a light shielding material that does not substantially transmit the curing light. When the first curing light irradiation device irradiates the curing light, an annular mask member having an inner diameter exceeding 90% of the outer diameter of the disk substrate and an outer diameter larger than the outer diameter of the disk substrate, The mask member By moving to a set position near the surface of the disk substrate, it is possible to prevent the curing light from being substantially irradiated to the outer peripheral portion over 90% of the light transmission film spread on the disk substrate. And a mask moving mechanism for moving from the set position to another position after the irradiation.

第2の発明は、前記第1の発明において、前記マスク移動機構は、前記第2の回転処理装置が回転処理を行う前に、前記マスク部材を前記ディスク基板の表面近傍の所定位置まで移動させておくことを特徴とする光ディスク製造装置を提供する。   In a second aspect based on the first aspect, the mask moving mechanism moves the mask member to a predetermined position near the surface of the disk substrate before the second rotation processing device performs rotation processing. An optical disc manufacturing apparatus is provided.

第3の発明は、前記第1の発明又は前記第2の発明において、前記マスク移動機構は、前記マスク部材を支持するマスク支持部と、固定の構造物に固定されるベース部と、該ベース部に固定され、かつそのベース部に対して垂直方向に可動して前記マスク支持部を上下動させる上下動部と、前記マスク支持部を旋回運動させる旋回駆動部とを備えることを特徴とする光ディスク製造装置を提供するものである。   According to a third invention, in the first invention or the second invention, the mask moving mechanism includes a mask support portion for supporting the mask member, a base portion fixed to a fixed structure, and the base And a vertical movement unit that moves in the vertical direction with respect to the base part and moves the mask support part up and down, and a turning drive part that turns the mask support part. An optical disc manufacturing apparatus is provided.

第4の発明は、前記第1の発明ないし前記第3の発明のいずれかにおいて、前記液状物質供給機構の周囲には、前記ディスクの中央孔に被せるキャップ部材が複数個載置されているキャップ載置台と、該キャップ載置台に載置されている前記キャップ部材を前記第1の回転処理装置に載置された前記ディスク基板の中央孔に被せるキャップ移載装置とが備えられ、前記液状物質供給機構は、前記ディスク基板の中央孔に被せられている前記キャップ部材の中心又は中心近傍に前記液状物質を供給することを特徴とする光ディスク製造装置を提供する。   According to a fourth invention, in any one of the first to third inventions, a plurality of cap members placed on a central hole of the disk are placed around the liquid substance supply mechanism. A mounting table; and a cap transfer device that covers the cap member mounted on the cap mounting table over a central hole of the disk substrate mounted on the first rotation processing device. The supply mechanism provides an optical disk manufacturing apparatus that supplies the liquid material to the center of the cap member that is put on the center hole of the disk substrate or to the vicinity of the center.

第5の発明は、前記第4の発明において、前記キャップ移載装置は、前記ディスク基板の中央孔に載置される前記キャップ部材を、前記ディスク基板毎に新たに前記キャップ載置台に載置されている別のキャップ部材に交換することを特徴とする光ディスク製造装置を提供する。   In a fifth aspect based on the fourth aspect, the cap transfer device places the cap member placed in the central hole of the disc substrate on the cap placement base for each disc substrate. An optical disc manufacturing apparatus is provided in which the cap member is replaced with another cap member.

第6の発明は、前記第1の発明ないし前記第5の発明のいずれかにおいて、前記第2の回転処理装置の回転処理速度は、前記第1の回転処理装置の回転処理速度よりも小さいことを特徴とする光ディスク製造装置を提供する。   In a sixth aspect based on any one of the first aspect to the fifth aspect, the rotational processing speed of the second rotational processing device is lower than the rotational processing speed of the first rotational processing device. An optical disc manufacturing apparatus is provided.

第7の発明は、前記第1の発明ないし前記第6の発明のいずれかにおいて、前記第1の硬化光照射装置1台から等しい距離に2台の前記第2の回転処理装置が備えられ、前記第1の硬化光照射装置は、2台の前記第2の回転処理装置のそれぞれに載置されている前記ディスク基板に交互に硬化光を照射することを特徴とする光ディスク製造装置を提供する。   According to a seventh invention, in any one of the first invention to the sixth invention, two second rotation processing devices are provided at an equal distance from one first curing light irradiation device, The first curing light irradiation apparatus provides an optical disk manufacturing apparatus that alternately irradiates curing light onto the disk substrate mounted on each of the two second rotation processing apparatuses. .

第8の発明は、前記第1の発明ないし前記第7の発明のいずれかにおいて、前記第2の硬化光照射装置は、前記光透過膜が形成された前記ディスク基板を搬送する搬送ラインの上方に備えられ、前記第2の硬化光照射装置からの硬化光が前記搬送ラインに照射されるのを防ぐシャッタ部材を備えることを特徴とする光ディスク製造装置を提供する。   According to an eighth invention, in any one of the first invention to the seventh invention, the second curing light irradiation device is provided above a conveyance line for conveying the disk substrate on which the light transmission film is formed. Provided with a shutter member that prevents the curing light from the second curing light irradiation device from being irradiated onto the transport line.

第9の発明は、前記第1の発明ないし前記第8の発明のいずれかにおいて、前記ディスク基板は、信号層が形成されたディスク基板、又は転写される信号層が形成された転写用ディスク基板であることを特徴とする光ディスク製造装置を提供する。   According to a ninth invention, in any one of the first to eighth inventions, the disk substrate is a disk substrate on which a signal layer is formed or a transfer disk substrate on which a signal layer to be transferred is formed. An optical disc manufacturing apparatus is provided.

本発明によれば、外周部の盛り上がりがない均一で所定の膜厚の光透過膜を有する高品質の光ディスクを製造できる光ディスク製造装置を提供することができる。   According to the present invention, it is possible to provide an optical disc manufacturing apparatus capable of manufacturing a high-quality optical disc having a uniform light-transmitting film having a predetermined film thickness with no rise in the outer peripheral portion.

特に、前記第2、第3の発明によれば、第2の回転処理装置の回転中にマスク部材の移動による気流の乱れが生じないので、膜厚が更に均一である高品質の光ディスクを製造できる光ディスク製造装置を提供することができる。   In particular, according to the second and third inventions, since the turbulence of the air flow due to the movement of the mask member does not occur during the rotation of the second rotation processing apparatus, a high-quality optical disc having a more uniform film thickness is manufactured. An optical disc manufacturing apparatus that can be provided can be provided.

前記第4の発明によれば、より均一の膜厚の光透過膜を得ることができるので、より高品質の光ディスクを製造できる光ディスク製造装置を提供することができる。   According to the fourth aspect of the present invention, a light transmission film having a more uniform film thickness can be obtained, so that an optical disk manufacturing apparatus capable of manufacturing a higher quality optical disk can be provided.

前記第5の発明によれば、キャップ部材を交換するために均等な液状物質の供給が可能になるので、より一層均一の膜厚の光透過膜を得ることができる。   According to the fifth aspect of the present invention, since a uniform liquid substance can be supplied to replace the cap member, a light transmission film having a more uniform film thickness can be obtained.

前記第6の発明によれば、より膜厚が設定値に近い光透過膜を得ることができるので、より高品質の光ディスクを製造できる光ディスク製造装置を提供することができる。   According to the sixth aspect of the invention, a light transmission film having a film thickness closer to the set value can be obtained, and therefore an optical disk manufacturing apparatus capable of manufacturing a higher quality optical disk can be provided.

前記第7の発明によれば、装置全体の温度上昇を抑制できるので、安定した高品質の光ディスクを製造できる。   According to the seventh aspect, since the temperature rise of the entire apparatus can be suppressed, a stable high quality optical disc can be manufactured.

前記第8の発明によれば、搬送ラインなど他の部位に発熱などによる悪影響を与えることなく光照射工程が行える光ディスク製造装置を提供することができる。   According to the eighth aspect of the present invention, it is possible to provide an optical disc manufacturing apparatus that can perform a light irradiation process without adversely affecting other parts such as a transport line due to heat generation.

前記第9の発明によれば、転写用ディスクにも適用できるので、信号層が2層以上の光ディスクであっても、高品質の光ディスクを提供することができる。   According to the ninth aspect of the invention, since it can be applied to a transfer disk, even if the signal layer is an optical disk having two or more layers, a high-quality optical disk can be provided.

先ず、本発明を実施するための最良の形態である実施形態1の光ディスク製造装置200について図1〜図6を用いて説明する。図1は光ディスク製造装置200の全体を示し、図2、図3は光ディスク製造装置200の一部分を示し、図4−1、図4−2は光ディスクの製造工程を説明するための図、図5はマスク部材とマスク移動機構とを説明するための図、図6は硬化光照射装置とシャッタ部材とを説明するための図である。   First, an optical disk manufacturing apparatus 200 according to Embodiment 1 which is the best mode for carrying out the present invention will be described with reference to FIGS. 1 shows the entire optical disk manufacturing apparatus 200, FIGS. 2 and 3 show a part of the optical disk manufacturing apparatus 200, FIGS. 4-1 and 4-2 are diagrams for explaining the optical disk manufacturing process, and FIG. FIG. 6 is a diagram for explaining the mask member and the mask moving mechanism, and FIG. 6 is a diagram for explaining the curing light irradiation device and the shutter member.

[実施形態1]
この光ディスク製造装置200は、一点鎖線で分けられる二つの機構部200Aと機構部200Bとからなる。信号層が1層の光ディスクを製造するときには、機構部200Aのみを動作させ、機構部200Bは動作させない。そして、信号層が2層の光ディスクを製造するときには、二つの機構部200Aと機構部200Bとを動作させる。先ずは、信号層が1層の光ディスクの一例として、高密度記録対応の光ディスクを製造するときの機構部200Aについて説明する。
[Embodiment 1]
The optical disc manufacturing apparatus 200 includes two mechanism units 200A and 200B separated by a one-dot chain line. When manufacturing an optical disc with one signal layer, only the mechanism unit 200A is operated, and the mechanism unit 200B is not operated. Then, when manufacturing an optical disc having two signal layers, the two mechanism sections 200A and 200B are operated. First, as an example of an optical disc having one signal layer, a mechanism unit 200A for manufacturing an optical disc compatible with high-density recording will be described.

図1において、射出成形機1は、図示しない射出成形金型に所望の記録溝を有するスタンパが取り付けられており、図4−1(A)に示すような信号層a1を有するディスク基板Dを射出成形する。ディスク基板Dは、厚みが1.1mm、直径が120mm、中心孔径が15mmのポリカーボネイト樹脂円板からなるが、これに限られるものではない。信号層a1は、情報信号が凹凸のピットとして形成されたものであり、説明を分かり易くするために、ディスク基板Dの厚みに比べて、凹凸のピットを大幅に拡大して示している。ディスク基板Dは、ディスク基板取り出し機構3によって、射出成形機1の近傍に設置されている冷却機構5に移載され、回転冷却される。   In FIG. 1, an injection molding machine 1 has a stamper having a desired recording groove attached to an injection mold (not shown), and a disk substrate D having a signal layer a1 as shown in FIG. Injection molding. The disk substrate D is made of a polycarbonate resin disk having a thickness of 1.1 mm, a diameter of 120 mm, and a center hole diameter of 15 mm, but is not limited thereto. In the signal layer a1, information signals are formed as concave and convex pits, and the concave and convex pits are greatly enlarged as compared with the thickness of the disk substrate D for easy understanding. The disk substrate D is transferred to the cooling mechanism 5 installed in the vicinity of the injection molding machine 1 by the disk substrate take-out mechanism 3 and is rotationally cooled.

冷却機構5については本件出願人が既に提案(例えば、特開2002−358695号公報)しているので詳細に図示しないが、ディスク基板Dが射出成形機1から天地に対してほぼ垂直に取り出されるので、冷却機構5はディスク基板Dを垂直方向に保持しながら高速回転冷却を行う。射出成形機1から取り出されたばかりのディスク基板Dは未だ柔らかいので、冷却機構5が数千回転以上、好ましくは3000rpm以上の回転数で高速回転させることによって、大きな遠心力をディスク基板Dに与えながら高速で冷却することができ、反りの小さなディスク基板Dを得ることができる。冷却機構5は、射出成形機1の性能と有効な冷却時間との兼ね合いで、図示しないが、3台の回転冷却装置を備えており、3台の回転冷却装置はディスク基板取り出し機構3に対して等距離に配置される。射出成形機1からのディスク基板Dは、ディスク基板取り出し機構3によって順番に3台の回転冷却装置に移載される。   Although the present applicant has already proposed the cooling mechanism 5 (for example, Japanese Patent Laid-Open No. 2002-358695), the disk substrate D is taken out from the injection molding machine 1 almost perpendicularly to the top and bottom, although not shown in detail. Therefore, the cooling mechanism 5 performs high-speed rotation cooling while holding the disk substrate D in the vertical direction. Since the disk substrate D just taken out from the injection molding machine 1 is still soft, the cooling mechanism 5 is rotated at a high speed of several thousand revolutions or more, preferably 3000 rpm or more, so that a large centrifugal force is applied to the disk substrate D. A disk substrate D that can be cooled at high speed and has a small warpage can be obtained. Although not shown in the drawing, the cooling mechanism 5 includes three rotary cooling devices, which are in balance with the performance of the injection molding machine 1 and the effective cooling time. Arranged at the same distance. The disc substrate D from the injection molding machine 1 is transferred to the three rotary cooling devices in order by the disc substrate take-out mechanism 3.

回転冷却装置はそれぞれ所定時間回転すると、停止し、移載機構7は回転冷却装置からディスク基板Dを鉛直方向に保持したまま順にエージング機構9に移載する。エージング機構9は、一般的な構造のものであり、複数のディスク基板Dをほぼ一定間隔で鉛直に保持しながら一定速度で前進し、ディスク基板Dをほぼ室温まで冷却する。エージング機構9の終端で、ディスク基板Dは順に間欠回転機構11に引き渡され、間欠回転機構11の回転に伴い、次のポジションにある表裏反転機構13まで搬送される。表裏反転機構13は、ディスク基板Dに形成された信号層a1を上面又は下面に反転するためのものであり、射出成形機1から取り出されたディスク基板Dの信号層a1の存在する面を上面又は下面どちらの向きにして後述する成膜装置19に供給するかで、選択的に動作する。この例では、表裏反転機構13によって180度反転され、信号層a1が上を向くように水平状態にされる。そして、ディスク基板Dは更に間欠回転機構11が回転するのに伴い、その次のポジションにある第1の移載機構15によって第1の搬送機構の搬送ライン17に移載される。   When the rotary cooling device rotates for a predetermined time, the rotary cooling device stops and the transfer mechanism 7 transfers the disk substrate D from the rotary cooling device to the aging mechanism 9 in order while holding the disk substrate D in the vertical direction. The aging mechanism 9 has a general structure, and advances at a constant speed while holding a plurality of disk substrates D vertically at substantially constant intervals, thereby cooling the disk substrates D to approximately room temperature. At the end of the aging mechanism 9, the disk substrate D is sequentially delivered to the intermittent rotation mechanism 11, and is conveyed to the front / back reversing mechanism 13 at the next position as the intermittent rotation mechanism 11 rotates. The front / back reversing mechanism 13 is for inverting the signal layer a1 formed on the disk substrate D to the upper surface or the lower surface, and the surface on which the signal layer a1 of the disk substrate D taken out from the injection molding machine 1 exists is the upper surface. Alternatively, the operation is selectively performed depending on which direction the lower surface is supplied to a film forming apparatus 19 described later. In this example, the signal is reversed 180 degrees by the front / back reversing mechanism 13 so that the signal layer a <b> 1 faces upward. As the intermittent rotation mechanism 11 further rotates, the disk substrate D is transferred to the transfer line 17 of the first transfer mechanism by the first transfer mechanism 15 at the next position.

図1及び図2において、第1の搬送機構の搬送ライン17は、図面の上下方向に長いエンドレス(無端)状のものであり、丸印で示される複数のディスク載置部17aを備え、そのディスク載置部17aに移載されたディスク基板Dは、搬送ライン17が間欠的に動作するのに伴い、スパッタリング装置のような成膜装置19によって、図4−1(B)に示すように信号層a1に反射膜b1が形成される。反射膜b1はアルミニウム又は銀などからなる1μm以下の厚さを有する薄膜である。反射膜b1の形成されたディスクをDaとする。搬送ライン17に沿ってディスク蓄積部20が備えられ、ディスク蓄積部20はディスク積載用回転テーブル21と移載機構23とスペーサ供給機構25とからなる。これら機構は装置が正常に動作しているときには使用されないが、トラブルなどが生じて後述する後段の機構が停止した場合に次のように動作して、ディスクDaをディスク積載用回転テーブル21に蓄える。   1 and 2, the transport line 17 of the first transport mechanism has an endless (endless) shape that is long in the vertical direction of the drawing, and includes a plurality of disk mounting portions 17a indicated by circles. As shown in FIG. 4B, the disk substrate D transferred to the disk mounting portion 17a is formed by the film forming apparatus 19 such as a sputtering apparatus as the transfer line 17 operates intermittently. A reflective film b1 is formed on the signal layer a1. The reflective film b1 is a thin film made of aluminum or silver and having a thickness of 1 μm or less. A disk on which the reflective film b1 is formed is represented by Da. A disk storage unit 20 is provided along the transport line 17, and the disk storage unit 20 includes a disk loading rotary table 21, a transfer mechanism 23, and a spacer supply mechanism 25. These mechanisms are not used when the apparatus is operating normally. However, when a trouble or the like occurs and a later stage mechanism, which will be described later, stops, it operates as follows to store the disk Da in the disk stacking rotary table 21. .

ディスク積載用回転テーブル21は、複数枚のディスクDaを積載する積載部21Aを複数、例えば4箇所有し、スペーサ供給機構25はディスクDaが積載されるときにディスクDa間の隙間を確保するための不図示のスペーサを1個ずつ供給する。移載機構23は、図2に示すように、一方の移載アーム23Aで第1の搬送機構の搬送ライン17からディスクDaを1枚ずつディスク積載用回転テーブル21に移載して積載し、その上に、他方の移載アーム23Bでスペーサ供給機構25から取り出した不図示のスペーサを1個ずつ与える。また、トラブルが回復すると、トラブル回復信号を受けて、移載機構23は、ディスクDaが搬送ライン17上を搬送されて来ない内に、移載アーム23Aでディスク積載用回転テーブル21から搬送ライン17のディスク載置部17aへディスクDaを1枚ずつ自動的に移載する働きも行う。したがって、ディスクDaを無駄にすることなく、有効に使用することができる。なお、移載アーム23Bについては後述する。   The disk stacking rotary table 21 has a plurality of, for example, four, stacking portions 21A for stacking a plurality of disks Da, and the spacer supply mechanism 25 secures a gap between the disks Da when the disks Da are stacked. The spacers (not shown) are supplied one by one. As shown in FIG. 2, the transfer mechanism 23 transfers and loads the disks Da one by one from the transfer line 17 of the first transfer mechanism to the disk stacking rotary table 21 with one transfer arm 23A. On top of this, one spacer (not shown) taken out from the spacer supply mechanism 25 by the other transfer arm 23B is provided one by one. When the trouble is recovered, the transfer mechanism 23 receives the trouble recovery signal, and the transfer mechanism 23 transfers the transfer line from the disk loading rotary table 21 by the transfer arm 23A while the disk Da is not transferred on the transfer line 17. The disk Da is also automatically transferred one by one to the 17 disk mounting portions 17a. Therefore, the disk Da can be used effectively without wasting it. The transfer arm 23B will be described later.

次にディスクDaは、鎖線で示すように、移載機構27によって、搬送ライン17の第1の移載ポジションXから第2の搬送機構の第1の搬送ラインとなる搬送ライン29に移載され、搬送ライン29によって順次間欠的に搬送される。載置台29aについては図6(A)、(B)によって後で説明するが、搬送ライン29の上にはほぼ一定間隔で載置台29aが備えられ、それら載置台に順次ディスクDaが載置される。第2の搬送機構の搬送ライン29に沿って先ず、ほぼ100μmの厚みのカバー層となる光透過膜を形成する光透過膜形成部31が備えられている。光透過膜形成部31は、同時移載機構33とディスク基板Daに液状物質を供給する液体供給機構35と高速回転処理を行って前記液状物質をディスクDaに展延する回転処理装置37と移載機構39とキャップ蓄積機構41とキャップ洗浄機構42とを一組とする機構を、複数、例えば3組備える。これら3組の機構は同一であり、同時に動作する。これら組数については3組に限定されるものではなく、1組以上備えれば、生産は可能である。   Next, as indicated by the chain line, the disk Da is transferred by the transfer mechanism 27 from the first transfer position X of the transfer line 17 to the transfer line 29 that is the first transfer line of the second transfer mechanism. , And are sequentially conveyed intermittently by the conveyance line 29. The mounting table 29a will be described later with reference to FIGS. 6A and 6B. However, the mounting table 29a is provided on the transport line 29 at almost regular intervals, and the disks Da are sequentially mounted on the mounting table 29a. The First, a light transmission film forming portion 31 for forming a light transmission film serving as a cover layer having a thickness of about 100 μm is provided along the transport line 29 of the second transport mechanism. The light transmission film forming unit 31 includes a simultaneous transfer mechanism 33, a liquid supply mechanism 35 that supplies a liquid material to the disk substrate Da, and a rotation processing device 37 that performs high-speed rotation processing to spread the liquid material on the disk Da. A plurality of, for example, three sets of mechanisms each including the mounting mechanism 39, the cap accumulating mechanism 41, and the cap cleaning mechanism 42 are provided. These three sets of mechanisms are identical and operate simultaneously. The number of sets is not limited to three, and production is possible if one or more sets are provided.

3台の同時移載機構33は、それぞれ図示しない一対の180度方向の違う移載アームを備え、その一方の移載アームで搬送ライン29の載置台29a上のディスクDaを吸着保持すると同時に、回転処理装置37内で回転処理の行われたディスクDaを他方の移載アームによって吸着保持し、しかる後に180°水平方向に旋回して、搬送ライン29の載置台29a上のディスクDaを回転処理装置37内に載置すると同時に、それぞれの回転処理装置37内の3枚のディスクDaを搬送ライン29の載置台29a上に載置する。つまり、3台の同時移載機構33は、搬送ライン29が搬送動作を3回行う毎にディスクDaの前記移載動作を行うので、回転処理装置37における回転処理時間を1台の回転処理装置37の場合に比べてほぼ3倍長く採ることができる。   Each of the three simultaneous transfer mechanisms 33 includes a pair of transfer arms (not shown) having different 180-degree directions, and at the same time the disk Da on the mounting table 29a of the transport line 29 is sucked and held by one of the transfer arms, The disk Da that has been subjected to the rotation processing in the rotation processing device 37 is sucked and held by the other transfer arm, and then rotated 180 ° horizontally to rotate the disk Da on the mounting table 29a of the transport line 29. Simultaneously with the placement in the apparatus 37, the three disks Da in the respective rotation processing apparatuses 37 are placed on the placement table 29 a of the transport line 29. That is, since the three simultaneous transfer mechanisms 33 perform the transfer operation of the disk Da every time the transfer line 29 performs the transfer operation three times, the rotation processing time in the rotation processing device 37 is reduced to one rotation processing device. Compared to 37, it can be taken approximately three times longer.

キャップ蓄積機構41は、詳細は図示しないが、間欠的に回転するテーブル上に複数のキャップ部材Caを保持している。移載機構39は、搬送ライン29の載置台29a上のディスクDaが回転処理装置37内に移載されると、キャップ蓄積機構41からキャップ部材Caの頂部を吸着保持、あるいは把持して、ディスクDaの不図示の中央孔を覆うように載置する。キャップ部材Caは、ディスクDaの中央孔とその中央孔に挿入される回転処理装置37における不図示のセンターピンを覆うような特定の構造になっている。通常、ディスク基板Dは、中央孔が直径15mmで、記録領域の内径が43〜46mmであるので、キャップ部材Caの外径は18〜23mm程度である。しかし、これに限定されるものではない。   The cap storage mechanism 41 holds a plurality of cap members Ca on a table that rotates intermittently, although details are not shown. When the disk Da on the mounting table 29 a of the transport line 29 is transferred into the rotation processing device 37, the transfer mechanism 39 sucks and holds or grips the top of the cap member Ca from the cap storage mechanism 41. It is placed so as to cover a center hole (not shown) of Da. The cap member Ca has a specific structure that covers a center hole of the disk Da and a center pin (not shown) in the rotation processing device 37 inserted in the center hole. Normally, the disk substrate D has a central hole having a diameter of 15 mm and an inner diameter of the recording area of 43 to 46 mm, and therefore the outer diameter of the cap member Ca is about 18 to 23 mm. However, it is not limited to this.

キャップ部材CaがディスクDaに被せられると、液体供給機構35はキャップ部材Caの中心点又は中心点近傍に前記液状物質を供給する。この液状物質は、透明な材料、例えばアクリル樹脂であり、スピンコート方法によってほぼ100μmの厚みをもつ光透過膜を形成できるよう、粘度の調整されたものである。キャップ部材Caの中心点に前記液状物質が供給されるときには、液状物質は点状に与えられるが、キャップ部材Caの中心点の近傍に前記液状物質が供給されるときには、液状物質は中心点を囲む円環状に供給される。その円環の内径はできるだけ小さいことが望まれる。前記液状物質がキャップ部材Ca上に供給されると、回転処理装置37は高速回転を行って、遠心力により前記液状物質をディスクDa上に展延する。ディスクDa上にカバー層となる光透過膜c1の形成されたディスクDbを図4−1(C)に示す。   When the cap member Ca is put on the disk Da, the liquid supply mechanism 35 supplies the liquid material to the center point of the cap member Ca or in the vicinity of the center point. This liquid substance is a transparent material such as an acrylic resin, and has a viscosity adjusted so that a light transmission film having a thickness of about 100 μm can be formed by a spin coating method. When the liquid material is supplied to the center point of the cap member Ca, the liquid material is given in a point shape, but when the liquid material is supplied near the center point of the cap member Ca, the liquid material has a center point. Supplied in an enclosing annular shape. It is desirable that the inner diameter of the ring is as small as possible. When the liquid material is supplied onto the cap member Ca, the rotation processing device 37 rotates at a high speed and spreads the liquid material on the disk Da by centrifugal force. A disk Db in which a light transmission film c1 serving as a cover layer is formed on the disk Da is shown in FIG.

光透過膜形成部31においてカバー層となる光透過膜c1を形成する前記工程は、光透過膜が例えばほぼ100μmの厚みであることから、液状物質の供給と高速回転による液状物質の展延は2回以上行ってもよい。例えば、液状物質の供給と高速回転による液状物質の展延とを2回に分けて行うことによって、ほぼ100μmの厚みに等しい膜厚の均一な光透過膜c1を精確に、かつ短時間で形成することができる。2度の回転処理を行う場合、前記液状物質は粘度を含めて同一のものが用いられるが、必ずしもこれに限ることは無く、1度目に塗布される前記液状物質の粘度は低く、2度目に塗布される前記液状物質の粘度を高くしても良い。回転処理装置37が回転を停止し、光透過膜c1の展延が終了すると、移載機構39が動作して、回転処理装置37からキャップ部材Caをキャップ蓄積機構41に戻す。この戻されたキャップ部材Caには前記液状物質が塗布されているので、戻されたキャップ部材Caは洗浄ポジションでキャップ洗浄機構42によって洗浄され、前記液状物質が除去される。この洗浄工程は、洗浄液のシャワー、又は洗浄液への浸漬など種々の方法で行われ、前記液状物質は硬化光が照射されていないので、液状の状態にあるために容易に除去される。このような工程が他の二組の機構によっても同時に行われ、これら三組の機構によりそれぞれ光透過膜c1の形成されたディスクDbが搬送ライン29の載置台29a上に移載される。このとき、光透過膜c1はまだ硬化されていない。   In the step of forming the light transmissive film c1 serving as the cover layer in the light transmissive film forming unit 31, the light transmissive film has a thickness of, for example, approximately 100 μm. You may carry out twice or more. For example, by supplying the liquid material and spreading the liquid material by high-speed rotation in two steps, a uniform light-transmitting film c1 having a film thickness approximately equal to 100 μm is formed accurately and in a short time. can do. When performing the rotation process twice, the same liquid material including the viscosity is used. However, the liquid material is not necessarily limited to this, and the viscosity of the liquid material applied for the first time is low. The viscosity of the liquid substance to be applied may be increased. When the rotation processing device 37 stops rotating and the spreading of the light transmission film c <b> 1 ends, the transfer mechanism 39 operates to return the cap member Ca from the rotation processing device 37 to the cap accumulation mechanism 41. Since the liquid material is applied to the returned cap member Ca, the returned cap member Ca is cleaned by the cap cleaning mechanism 42 at the cleaning position, and the liquid material is removed. This cleaning process is performed by various methods such as showering the cleaning liquid or immersing in the cleaning liquid. Since the liquid substance is not irradiated with the curing light, it is easily removed because it is in a liquid state. Such a process is performed simultaneously by the other two sets of mechanisms, and the disks Db each having the light transmission film c1 formed thereon are transferred onto the mounting table 29a of the transport line 29 by these three sets of mechanisms. At this time, the light transmission film c1 is not yet cured.

前にも述べたが、特に高密度記録対応の光ディスクにあっては、光透過膜c1の平坦性がレーザ光による情報信号の書き込み、又は再生に大きな影響を与える。したがって、光透過膜c1はどの箇所も均一の厚みであることが大切である。しかしながら、スピンコート方法によってほぼ100μmの均一な厚みの光透過膜c1を形成するのは極めて難しく、光透過膜c1の外周部がそれよりも内側の部分に比べて厚くなってしまうことが分かった。この有効な対応策として、次に下記のような硬化光の照射による1次硬化工程を行う。   As described above, particularly in an optical disc compatible with high-density recording, the flatness of the light transmission film c1 has a great influence on writing or reproduction of an information signal by a laser beam. Therefore, it is important that the light-transmitting film c1 has a uniform thickness everywhere. However, it is extremely difficult to form a light transmissive film c1 having a uniform thickness of approximately 100 μm by the spin coating method, and it has been found that the outer peripheral portion of the light transmissive film c1 is thicker than the inner portion. . As an effective countermeasure, a primary curing step is performed by irradiation with curing light as described below.

この1次硬化工程では、主としてディスクDbの光透過膜c1の外周部を除く、他の部分に硬化光を照射して半硬化又は硬化状態にしてその部分の膜厚を固定化し、光透過膜c1の外周部は未硬化の状態のままにしばらく放置しておくことにより、重力又は重力と遠心力によって、その外周部も薄くなって、光透過膜c1の全面で膜厚が均一化されるところに特徴がある。この硬化光照射工程は、互いに同一構造の同時移載機構43と45、互いに同一構造の回転処理装置47と49、互いに同一構造のマスク移動機構51と53、共通のフラッシュランプ装置のような硬化光照射機構55とによって行われる。同時移載機構43と45とは同時に動作する。同時移載機構43、45は搬送ライン29上のディスクDbを回転処理装置47、49に移載すると同時に、回転処理装置47、49で紫外線のような硬化光が照射されたディスクDbを搬送ライン29の載置台29a上に移載する。したがって、同時移載機構43、45は搬送ライン29の間欠的な搬送動作に同期して一回おきに移載動作を行い、回転処理装置47、49の回転処理時間は搬送ライン29の間欠的な2回の搬送動作に要する時間を採ることができる。   In this primary curing step, the other part except the outer peripheral part of the light transmission film c1 of the disk Db is irradiated with curing light to make it semi-cured or cured to fix the film thickness of the part. By leaving the outer peripheral portion of c1 in an uncured state for a while, the outer peripheral portion becomes thinner due to gravity or gravity and centrifugal force, and the film thickness is made uniform over the entire surface of the light transmission film c1. There is a feature. This curing light irradiation process is performed by a simultaneous transfer mechanism 43 and 45 having the same structure, rotation processing devices 47 and 49 having the same structure, mask moving mechanisms 51 and 53 having the same structure, and a common flash lamp device. This is performed by the light irradiation mechanism 55. The simultaneous transfer mechanisms 43 and 45 operate simultaneously. The simultaneous transfer mechanisms 43 and 45 transfer the disk Db on the transport line 29 to the rotation processing devices 47 and 49, and simultaneously transfer the disk Db irradiated with curing light such as ultraviolet rays by the rotation processing devices 47 and 49. It is transferred onto 29 mounting tables 29a. Therefore, the simultaneous transfer mechanisms 43 and 45 perform the transfer operation every other time in synchronization with the intermittent transfer operation of the transfer line 29, and the rotation processing time of the rotation processing devices 47 and 49 is intermittent for the transfer line 29. Therefore, it is possible to take time required for two transport operations.

同時移載機構43、45がディスクDbを回転処理装置47、49に移載すると、マスク移動機構51、53が動作して、図4−1(D)に示されるようなマスク部材Maを水平方向にスライドさせ、マスク部材Maは回転処理装置47、49に載置されているディスク基板D2の上面から僅か上方に離れて停止させられる。マスク部材Maは、紫外線のような硬化光を実質的に透過しない樹脂材料又は無機材料、あるいは金属材料からなる。マスク部材Maの下の光透過膜c1に硬化光をできるだけ侵入させないために、マスク部材MaとディスクDbの上面との間の間隔は僅かであり、したがって、回転処理装置47、49が回転処理動作を行う前に、マスク部材Maを所定位置に設定させるのが好ましい。回転処理装置47、49が回転処理動作を行っているときにマスク部材Maを所定位置まで搬送すると、気流の乱れが生じ、光透過膜c1の平坦性に悪影響を与えるからである。   When the simultaneous transfer mechanisms 43 and 45 transfer the disk Db to the rotation processing devices 47 and 49, the mask moving mechanisms 51 and 53 operate, and the mask member Ma as shown in FIG. The mask member Ma is stopped slightly away from the upper surface of the disk substrate D2 placed on the rotation processing devices 47 and 49. The mask member Ma is made of a resin material, an inorganic material, or a metal material that does not substantially transmit curing light such as ultraviolet rays. The distance between the mask member Ma and the upper surface of the disk Db is small so that the curing light does not enter the light transmitting film c1 below the mask member Ma as much as possible. Therefore, the rotation processing devices 47 and 49 perform the rotation processing operation. It is preferable that the mask member Ma is set at a predetermined position before performing. This is because if the mask member Ma is transported to a predetermined position while the rotation processing devices 47 and 49 are performing the rotation processing operation, the airflow is disturbed and the flatness of the light transmission film c1 is adversely affected.

ここで、直径が120mmがディスク基板Dで行った種々の実験結果から、マスク部材Maの内径をwとし、ディスク基板Dの外径をWとするとき、内径wはディスク基板Dの外径Wの90%以上であって、ディスク基板Dの外径Wよりも小さい範囲(W>w≧0.9W)にあらねばならないことが分かった。マスク部材Maの内径wがディスク基板Dの外径Wの90%よりも小さい場合には、最外周領域の少し内側の平坦な部分まで半硬化又は硬化されないので、その領域が薄くなることがあり、光透過膜c1の平坦性に悪影響を及ぼす。また、マスク部材Maの外径がディスク基板Dの外径W以下である場合には、1次硬化工程において、ディスク基板Dの外周端面に硬化光が直接又は間接的に照射されて、その外周端面の光透過膜c1形成用の材料が半硬化又は硬化し、1次硬化工程の効果が半減され、光透過膜c1の平坦化が十分に行えなくなる。なお、ディスク基板Dの直径が120mmよりも小さいディスク、あるいは大きなディスクであっても、マスク部材Maの内径wは範囲(W>w≧0.9W)にあれば同様な効果が得られる。   Here, from various experimental results performed on the disk substrate D having a diameter of 120 mm, when the inner diameter of the mask member Ma is w and the outer diameter of the disk substrate D is W, the inner diameter w is the outer diameter W of the disk substrate D. It was found that it should be in a range (W> w ≧ 0.9 W) that is 90% or more of the disk substrate D and smaller than the outer diameter W of the disk substrate D. When the inner diameter w of the mask member Ma is smaller than 90% of the outer diameter W of the disk substrate D, the flat portion slightly inside the outermost peripheral region is not semi-cured or cured, and the region may become thin. This adversely affects the flatness of the light transmission film c1. Further, when the outer diameter of the mask member Ma is equal to or smaller than the outer diameter W of the disk substrate D, the outer peripheral end surface of the disk substrate D is directly or indirectly irradiated with curing light in the primary curing step, and the outer periphery thereof The material for forming the light transmission film c1 on the end face is semi-cured or cured, the effect of the primary curing process is halved, and the light transmission film c1 cannot be sufficiently flattened. Even if the disk substrate D has a diameter smaller than 120 mm or a larger disk, the same effect can be obtained if the inner diameter w of the mask member Ma is in the range (W> w ≧ 0.9 W).

図5(A)、(B)を利用して、マスク移動機構51、53及びマスク部材Maについて詳細を説明する。マスク移動機構51、53は双方とも同一構造であるので、マスク移動機構51についてのみ説明する。マスク移動機構51は、図示しない固定の構造物に固定されるベース部51A、上下動部51B、旋回駆動部51C、回転・上下動可能部51D、マスク支持部51Eなどからなる。上下動部51Bは、空気の吸入、排出により上下動するシリンダロッド51Baを有する空気シリンダ51Bbなどからなり、シリンダロッド51Baはベース部51Aの穴部を通して上方に延びている。シリンダロッド51Baの上部はフローティングジョイント51Bcを介して回転・上下動可能部51Dに結合されている。更に、上下動部51Bは、ベース部51Aに取り付けられて、マスク部材Maの下限を決定するストッパ部材51Bdと、マスク部材Maがストッパ部材51Bdに当接するときの衝撃と振動とを吸収するダンパ兼ストッッパ部材Beとを有し、これらストッパ部材51Bdとダンパ兼ストッッパ部材Beはマスク部材Maを偏りなく安定かつ水平に下限位置に停止することを可能にしている。   Details of the mask moving mechanisms 51 and 53 and the mask member Ma will be described with reference to FIGS. Since both the mask moving mechanisms 51 and 53 have the same structure, only the mask moving mechanism 51 will be described. The mask moving mechanism 51 includes a base portion 51A fixed to a fixed structure (not shown), a vertically moving portion 51B, a turning drive portion 51C, a rotatable / vertically movable portion 51D, a mask support portion 51E, and the like. The vertically moving portion 51B includes an air cylinder 51Bb having a cylinder rod 51Ba that moves up and down by air suction and discharge, and the cylinder rod 51Ba extends upward through a hole in the base portion 51A. The upper part of the cylinder rod 51Ba is coupled to a rotatable / vertically movable portion 51D via a floating joint 51Bc. Further, the vertically moving portion 51B is attached to the base portion 51A, and serves as a stopper member 51Bd that determines the lower limit of the mask member Ma, and a damper that absorbs shock and vibration when the mask member Ma contacts the stopper member 51Bd. The stopper member 51Bd and the damper / stopper member Be allow the mask member Ma to be stably and horizontally stopped at the lower limit position without being biased.

旋回駆動部51Cは、主に回転型テーブル51Caと、これを設定角度だけ両方向に回転させることができる回転駆動機構51Cb、回転型テーブル51Caに結合されてその回転に伴って回転する円盤状のギヤ51Ccとからなる。ギヤ51Ccの歯は、回転・上下動可能部51Dのギヤ51Daの歯に結合されており、ギヤ51Daの軸はラジアルベアリングと直線駆動ベアリング(不図示)とを組み合わせた構造を持つ回転・上下動可能機構51Dbに結合されている。回転・上下動可能機構51Dbはマスク支持部51Eの軸部分51Eaに結合されている。マスク支持部51Eは、主に軸部分51Ea、マスク部材Maの紙面表裏方向の角度と紙面左右方向の角度を調整し得るゴニオメータのような角度調整機構51Eb、マイクロメータのような上下微調整機構51Ecなどからなり、マスク部材Maは上下微調整機構51Ecに結合され支持されている。   The turning drive unit 51C is mainly composed of a rotary table 51Ca, a rotary drive mechanism 51Cb capable of rotating the rotary table 51Ca in both directions by a set angle, and a disc-shaped gear coupled to the rotary table 51Ca and rotating with the rotation. 51Cc. The teeth of the gear 51Cc are coupled to the teeth of the gear 51Da of the rotatable / vertically movable portion 51D, and the shaft of the gear 51Da has a structure combining a radial bearing and a linear drive bearing (not shown). It is coupled to the possible mechanism 51Db. The rotatable / vertically movable mechanism 51Db is coupled to the shaft portion 51Ea of the mask support 51E. The mask support 51E is mainly composed of a shaft portion 51Ea, an angle adjustment mechanism 51Eb such as a goniometer that can adjust the angle in the front and back directions of the mask member Ma and the angle in the left and right direction of the paper, and a vertical fine adjustment mechanism 51Ec such as a micrometer. The mask member Ma is coupled to and supported by the vertical fine adjustment mechanism 51Ec.

次に、マスク移動機構51の動作について説明する。マスク部材Maが原点位置P1にあるときには、上下動部51Bのシリンダロッド51Baは上方向に前進している状態にある。光透過膜c1の形成されたディスクDbが搬送ライン29から回転処理装置47に移載されると、マスク移動機構51の旋回駆動部51Cが動作を開始し、その回転駆動機構51Cbは回転型テーブル51Caを所定回転角度だけ回転させる。これに伴い、円盤状のギヤ51Ccが回転し、これに歯合している回転・上下動可能部51Dのギヤ51Daが回転し、回転・上下動可能機構51Dbが所定角度回転することによってマスク支持部51Eが回転し、それに支承されているマスク部材Maが所定角度旋回して、図5(B)の破線で示すように、マスク部材Maは原点位置P1から回転処理装置47上のマスキング位置P2まで旋回する。次に、上下動部51Bのシリンダロッド51Baは設定量だけ下方向に後退する。この際、予め角度調整機構51Ebによって、マスク部材MaがディスクDbと高精度で並行となるようにマスク部材Maの角度調整が行われ、さらに上下微調整機構51EcがディスクDbの上面に接触せず、しかも至近距離に位置する高さに調整されている。したがって、マスク部材Maがマスキング位置P2にあるときには、マスク部材Maの中心とディスクDbの中心とがほぼ一致し、マスク部材MaがディスクDbの上面からわずかな位置に並行している。   Next, the operation of the mask moving mechanism 51 will be described. When the mask member Ma is at the origin position P1, the cylinder rod 51Ba of the vertical movement portion 51B is in a state of moving upward. When the disk Db on which the light transmission film c1 is formed is transferred from the transport line 29 to the rotation processing device 47, the turning drive unit 51C of the mask moving mechanism 51 starts to operate, and the rotation drive mechanism 51Cb is a rotary table. 51Ca is rotated by a predetermined rotation angle. Along with this, the disc-shaped gear 51Cc rotates, the gear 51Da of the rotatable / vertically movable portion 51D meshing with this rotates, and the rotatable / vertically movable mechanism 51Db rotates by a predetermined angle to support the mask. The portion 51E rotates and the mask member Ma supported by the portion 51E rotates by a predetermined angle. As shown by the broken line in FIG. 5B, the mask member Ma moves from the origin position P1 to the masking position P2 on the rotation processing device 47. Turn until. Next, the cylinder rod 51Ba of the vertically moving portion 51B is retracted downward by a set amount. At this time, the angle adjustment mechanism 51Eb previously adjusts the angle of the mask member Ma so that the mask member Ma is parallel to the disk Db with high accuracy, and the fine adjustment mechanism 51Ec does not contact the upper surface of the disk Db. Moreover, it is adjusted to a height located at a close distance. Therefore, when the mask member Ma is at the masking position P2, the center of the mask member Ma and the center of the disk Db substantially coincide, and the mask member Ma is parallel to a slight position from the upper surface of the disk Db.

そして図1に示す硬化光照射機構55からの紫外線のような硬化光がマスク部材Maの内径wに囲まれる空部Tを通してディスクDbの光透過膜c1に照射されると、先ず、上下動部51Bのシリンダロッド51Baが上方向に前進することによって、回転・上下動可能部51D、マスク支持部51Eなどが上昇することにより、マスク部材Maも上昇する。これとほぼ同時に、旋回駆動部51Cが動作してそのギヤ51Cc、回転・上下動可能部51Dのギヤ51Daを回転させ、マスク支持部51Eを回転させてマスク部材Maを所定角度旋回させる。その後すぐに同時移載機構43が回転処理装置47のディスクDbを搬送ライン29上に戻す。そして、マスク部材Maは図5(B)に示す原点位置P1に戻って、次のサイクルの動作に備える。マスク移動機構部53は、マスク移動機構51と全く同様に動作するので説明を省略する。   Then, when curing light such as ultraviolet rays from the curing light irradiation mechanism 55 shown in FIG. 1 is irradiated to the light transmission film c1 of the disk Db through the void T surrounded by the inner diameter w of the mask member Ma, first, the vertical movement portion When the cylinder rod 51Ba of 51B moves forward, the rotatable / vertically movable portion 51D, the mask support portion 51E, and the like rise, and the mask member Ma also rises. At substantially the same time, the turning drive unit 51C operates to rotate the gear 51Cc and the gear 51Da of the rotatable / vertically movable portion 51D, and rotate the mask support portion 51E to turn the mask member Ma by a predetermined angle. Immediately thereafter, the simultaneous transfer mechanism 43 returns the disk Db of the rotation processing device 47 onto the transport line 29. Then, the mask member Ma returns to the origin position P1 shown in FIG. 5B and prepares for the operation of the next cycle. The mask moving mechanism unit 53 operates in exactly the same manner as the mask moving mechanism 51 and will not be described.

他方では、回転処理装置47と49とから同一の位置にある共通の硬化光照射機構55は、同時移載機構43、45が搬送ライン29上のディスク基板Dbを回転処理装置47、49に移載すると、先ず回転処理装置47の上方の設定位置まで移動する。したがって、回転処理装置47は、マスク部材Maが所定位置に設定されると、直ぐに回転動作を行うが、この回転動作は光透過膜c1の膜厚を微調整することと、光透過膜c1への硬化光を均一に照射するものであるので、光透過膜形成部31における回転処理装置37の回転速度よりも低い回転速度で回転を行い、その回転処理の最終段階又はその直後において、フラッシュランプ装置のような硬化光照射装置55が硬化光を短時間、例えば、200ms程度均一に照射する。この硬化光の照射によって、マスク部材Maで遮光された以外の部分の光透過膜c1は硬化又は半硬化される。しかし、マスク部材Maで遮光された光透過膜c1の外周部は半硬化もされずに柔らかい状態のままにある。なお、この硬化光の照射は、光透過膜c1を展延するための前記回転処理の途中で行われてもよい。   On the other hand, in the common curing light irradiation mechanism 55 at the same position from the rotation processing devices 47 and 49, the simultaneous transfer mechanisms 43 and 45 transfer the disk substrate Db on the transport line 29 to the rotation processing devices 47 and 49. When loaded, it first moves to a set position above the rotation processing device 47. Therefore, the rotation processing device 47 performs a rotation operation immediately after the mask member Ma is set at a predetermined position. This rotation operation finely adjusts the film thickness of the light transmission film c1 and moves to the light transmission film c1. Therefore, the flash lamp is rotated at a rotation speed lower than the rotation speed of the rotation processing device 37 in the light transmission film forming unit 31, and the flash lamp is used at the final stage of the rotation processing or immediately after that. A curing light irradiation device 55 such as a device irradiates the curing light uniformly for a short time, for example, about 200 ms. By the irradiation of the curing light, the portion of the light transmission film c1 other than that shielded by the mask member Ma is cured or semi-cured. However, the outer peripheral portion of the light transmission film c1 shielded by the mask member Ma is not semi-cured and remains in a soft state. In addition, irradiation of this hardening light may be performed in the middle of the said rotation process for extending the light transmissive film | membrane c1.

硬化光照射装置55は、紫外線のような硬化光の照射を終了すると、原位置を通って回転処理装置49へ向かい、回転処理装置49の上方の設定位置に停止すると同時に、又はその直前に、回転処理装置49が回転動作を開始し、その回転処理の最終段階又はその直後において、硬化光照射装置55が硬化光を短時間均一に照射する。しかる後、硬化光照射装置55は原位置に戻ると共に、マスク移動機構51、53はそれぞれのマスク部材Maを回転処理装置47、49から外れている原位置まで移動させ、次の周期の動作に備える。光透過膜c1の外周部だけが柔らかい状態で搬送ライン29の載置台29a上に戻されたディスクDbは、次の2次硬化工程で光透過膜c1の全面が硬化される。前記1次硬化工程から2次硬化工程の行われるまでの時間は、光透過膜c1の柔らかい外周部が重力によって厚みが低減されて平坦化される時間長であり、搬送時間の長さで調整している。なお、硬化光照射装置55の照射時間は、回転処理に要する時間に比べて大幅に短い時間、例えば数百ms以下(例えば、200ms程度)の時間であるので、回転処理装置47、49に対して1台の硬化光照射装置55で対応することができ、経済的に有利である。また、装置の発熱によるディスクの品質への悪影響を小さくできる。なお、回転処理装置47、49において硬化光を照射した後もディスクDbを回転した場合には、マスク部材Maによって遮光された光透過膜c1の柔らかい外周部だけが遠心力を受けて更に展延され、薄くなるので、その回転時間、回転速度を調節することによってより一層平坦化が促進され、高品質の光ディスクを得ることができる。   When the curing light irradiation device 55 finishes irradiating the curing light such as ultraviolet rays, the curing light irradiation device 55 passes through the original position to the rotation processing device 49, stops at the set position above the rotation processing device 49, or immediately before it. The rotation processing device 49 starts rotating operation, and at the final stage of the rotation processing or immediately after that, the curing light irradiation device 55 irradiates the curing light uniformly for a short time. Thereafter, the curing light irradiation device 55 returns to the original position, and the mask moving mechanisms 51 and 53 move the respective mask members Ma to the original positions that are out of the rotation processing devices 47 and 49, so that the operation of the next cycle is performed. Prepare. The entire surface of the light transmission film c1 is cured in the next secondary curing process of the disk Db returned to the mounting table 29a of the transport line 29 with only the outer peripheral portion of the light transmission film c1 being soft. The time from the primary curing step to the secondary curing step is a time length during which the soft outer peripheral portion of the light transmission film c1 is flattened by reducing the thickness due to gravity, and is adjusted by the length of the conveyance time. is doing. Note that the irradiation time of the curing light irradiation device 55 is significantly shorter than the time required for the rotation processing, for example, several hundred ms or less (for example, about 200 ms). This is economically advantageous because it can be handled by one curing light irradiation device 55. Further, the adverse effect on the quality of the disk due to the heat generated by the apparatus can be reduced. When the disk Db is rotated even after the curing light is irradiated in the rotation processing devices 47 and 49, only the soft outer peripheral portion of the light transmission film c1 shielded by the mask member Ma receives the centrifugal force and further spreads. Since the thickness is reduced, the flattening is further promoted by adjusting the rotation time and the rotation speed, and a high-quality optical disc can be obtained.

この2次硬化工程では、図4−1(E)に示すようにディスクDbの上側から硬化光を照射するため、図6に示すように、搬送ライン29の硬化ポジションの上方にフラッシュランプ装置のような硬化光照射装置57が設けられている。硬化光照射装置57は、概略図6(B)に示すように、遮光カバーとなる外殻郭部57A、外殻郭部57A内に設けられたフラッシュランプのような硬化光ランプ57B、外殻郭部57Aの上部に設けられてその内部の温度があまり上昇しないよう排気するファンのような排気部57C、外殻郭部57Aの内壁から内側方向に延びて硬化光ランプ57Bを支持するランプ支持部57D、硬化光ランプ57Bからの光をディスクDbの円周部に反射してその円周に付着している光透過膜c1の未硬化部分を硬化させる反射板部57Eからなる。また、外殻郭部57Aの下面には遮光性を良くするための遮光シール57Fも設けられている。その他に、硬化光照射装置57の外殻郭部57Aと協働して硬化光が漏洩しないように密閉空間を形成するシャッタ部材58が備えられている。シャッタ部材58については特に詳しく説明しないが、搬送ライン29の進行方向に対して直角方向に進退可能な2枚の遮光板58a、58bからなり、搬送ライン29の載置台29aの円柱状軸部29bに当接する部分は半円状の切欠部となっており、また、前記2枚の遮光板58aと58bとが当接するときには、互いが接触しあう部分で上下に重なり合うように、一方は上側が切欠されて薄くなっており、他方の遮光板は下側が切欠されて薄くなっている。   In this secondary curing step, as shown in FIG. 4-1 (E), the curing light is irradiated from the upper side of the disk Db. Therefore, as shown in FIG. Such a curing light irradiation device 57 is provided. As shown in FIG. 6B, the curing light irradiation device 57 includes an outer shell 57A serving as a light shielding cover, a curing light lamp 57B such as a flash lamp provided in the outer shell 57A, and an outer shell. An exhaust part 57C, such as a fan, is provided on the upper part of the shell part 57A and exhausts the internal temperature so as not to rise so much, and a lamp support that extends inward from the inner wall of the outer shell part 57A and supports the curing light lamp 57B. Part 57D, and a reflecting plate part 57E that reflects light from the curing light lamp 57B to the circumferential part of the disk Db and cures the uncured part of the light transmission film c1 attached to the circumference. Further, a light-shielding seal 57F for improving the light-shielding property is also provided on the lower surface of the outer shell part 57A. In addition, there is provided a shutter member 58 that forms a sealed space so that the curing light does not leak in cooperation with the outer shell 57A of the curing light irradiation device 57. Although the shutter member 58 will not be described in detail, the shutter member 58 includes two light shielding plates 58 a and 58 b that can move back and forth in a direction perpendicular to the traveling direction of the transport line 29. The part that contacts the surface is a semi-circular cutout, and when the two light shielding plates 58a and 58b are in contact, the upper part of the light shielding plates 58a and 58b overlaps with each other so that they are in contact with each other. The other shading plate is cut and thinned at the lower side.

硬化光照射装置57は、搬送ライン29の間欠的な搬送動作に同期して上下動できるようになっており、搬送ライン29が間欠的に止まると、図6(A)、(B)に示すように、硬化光照射装置57は設定位置まで下降する。このとき、搬送ライン29の載置台29a上に位置し、搬送の妨げにならないように間隔をもって位置しているシャッタ部材58の遮光板58a、58bがそれぞれ搬送ライン29の進行方向に対して直角方向(矢印方向)に移動して、遮光板58a、58bの対向部分は重なり合う。そして、外殻郭部57Aの下端の遮光シール57Fがャッタ部材58の上面に当接し、密閉空間が形成される。この密閉空間内にディスク受台29aとディスクDbは存在する。この状態で、硬化光ランプ57Bが発光する。硬化光ランプ57Bからの紫外線はディスクDbの平面状の光透過膜c1に直接照射され、また、その円周部に形成されている光透過膜には反射板部57Eにより反射された紫外線が照射されるので、すべての光透過膜が硬化されて光透過膜となる。このとき、排気部57Cは密閉空間内の空気を排気している。   The curing light irradiation device 57 can move up and down in synchronization with the intermittent conveyance operation of the conveyance line 29. When the conveyance line 29 stops intermittently, the curing light irradiation device 57 is shown in FIGS. Thus, the curing light irradiation device 57 is lowered to the set position. At this time, the light shielding plates 58a and 58b of the shutter member 58, which are located on the mounting table 29a of the transport line 29 and are spaced so as not to interfere with the transport, are perpendicular to the traveling direction of the transport line 29, respectively. Moving in the direction of the arrow, the opposing portions of the light shielding plates 58a, 58b overlap. Then, the light shielding seal 57F at the lower end of the outer shell portion 57A abuts on the upper surface of the cutter member 58, and a sealed space is formed. The disk holder 29a and the disk Db exist in this sealed space. In this state, the curing light lamp 57B emits light. The ultraviolet light from the curing light lamp 57B is directly applied to the planar light-transmitting film c1 of the disk Db, and the light transmitting film formed on the circumference of the disk Db is irradiated with the ultraviolet light reflected by the reflecting plate part 57E. Therefore, all the light transmission films are cured to form a light transmission film. At this time, the exhaust part 57C exhausts the air in the sealed space.

硬化光ランプ57Bからの紫外線の照射が終了すると、硬化光照射装置57とシャッタ部材58とはほぼ同時に動作を開始し、硬化光照射装置57は上方に移動し、シャッタ部材58は搬送ライン29の搬送方向に直角で、反対方向に移動する。硬化光照射装置57とシャッタ部材58とが元の位置に戻ると、搬送ライン29は再び搬送を開始する。そして、硬化光照射装置57、シャッタ部材58は次のサイクルの動作に備える。ここで図6(C)の左図からも分かるように、シャッタ部材58の2枚の遮光板58a、58bは載置台29aに接触しない程度の間隔で向き合っていればよい。シャッタ部材58によって紫外線が搬送ライン29に照射されないため、搬送ライン29の温度上昇を防ぐことができる。   When the irradiation of the ultraviolet light from the curing light lamp 57B is completed, the curing light irradiation device 57 and the shutter member 58 start to operate almost simultaneously, the curing light irradiation device 57 moves upward, and the shutter member 58 moves to the transport line 29. Move in the opposite direction at right angles to the transport direction. When the curing light irradiation device 57 and the shutter member 58 return to their original positions, the transport line 29 starts transporting again. The curing light irradiation device 57 and the shutter member 58 are prepared for the next cycle operation. Here, as can be seen from the left diagram of FIG. 6C, the two light shielding plates 58a and 58b of the shutter member 58 need only face each other at a distance that does not contact the mounting table 29a. The shutter member 58 does not irradiate the transport line 29 with ultraviolet rays, so that the temperature of the transport line 29 can be prevented from rising.

搬送ライン29の終端部には、ディスク蓄積部20と同様なディスク蓄積部59が備えられていると同時に、第2の搬送機構の第2の搬送ラインとなる搬送ライン61の開始端と移載機構63とが備えられている。ディスク蓄積部59は、ディスク積載用回転テーブル59Aとスペーサ蓄積機構59bとからなり、ディスク積載用回転テーブル59Aは複数枚、例えば200枚のディスクDbを積載する積載部を4箇所有し、スペーサ蓄積機構59BはディスクDbが積載されるときにディスクDb間の隙間を確保するための不図示のスペーサを多数蓄積している。ディスク積載用回転テーブル59Aとスペーサ蓄積機構59Bとは、前述のディスク積載用回転テーブル21とスペーサ蓄積機構23と同様なものであるので、説明を省く。ディスク蓄積部59は、製造ラインの後段でトラブルが生じたときに、第1の搬送機構の搬送ライン17及び第2の搬送機構の搬送ライン29上の仕掛かり中のディスクを無駄にすることがないように蓄積したり、製造途中のディスクのサンプルを抽出するためのものである。したがって、通常の動作時には、移載機構63は、搬送ライン29の終端部のディスクDbをすべて第2の搬送機構の搬送ライン61に移載する。なお、移載機構63は故障発生信号を受けるときに自動的に搬送ライン29のディスクDbをディスク蓄積部59に移載し、また、故障回復信号を受けるときにディスク蓄積部59からディスクDbを搬送ライン61に移載する。さらに、不図示のサンプル採取用ボタンを押すことによって、予め決められた枚数のディスクDbをサンプルとして、ディスク蓄積部59に移載することができる。   At the end of the transport line 29, a disk storage unit 59 similar to the disk storage unit 20 is provided, and at the same time, transfer to and from the start end of the transport line 61 serving as the second transport line of the second transport mechanism. A mechanism 63 is provided. The disk storage unit 59 includes a disk stacking rotary table 59A and a spacer storage mechanism 59b. The disk stacking rotary table 59A has four stacking units for stacking a plurality of, for example, 200 disks Db. The mechanism 59B accumulates a number of spacers (not shown) for securing a gap between the disks Db when the disks Db are stacked. The disk stacking rotary table 59A and the spacer storage mechanism 59B are the same as the disk stacking rotary table 21 and the spacer storage mechanism 23 described above, and will not be described. The disk storage unit 59 may waste a disk in progress on the transport line 17 of the first transport mechanism and the transport line 29 of the second transport mechanism when a trouble occurs in the later stage of the production line. It is for accumulating or extracting a sample of a disc in the middle of manufacture. Accordingly, during normal operation, the transfer mechanism 63 transfers all the disks Db at the end of the transfer line 29 to the transfer line 61 of the second transfer mechanism. The transfer mechanism 63 automatically transfers the disk Db of the transport line 29 to the disk storage unit 59 when receiving a failure occurrence signal, and receives the disk Db from the disk storage unit 59 when receiving a failure recovery signal. Transfer to the transfer line 61. Furthermore, by pressing a sample collection button (not shown), a predetermined number of disks Db can be transferred to the disk storage unit 59 as samples.

第2の搬送機構の搬送ライン61に移載されたディスクDbは、先ず、搬送ライン61上においてハードコート用の液状物質が液状物質供給機構65によって供給される。液状物質供給機構65は液状物質を吐出しながらほぼ1回転するノズル部65Aを有し、第3の搬送ライン61上を順次搬送されてくるディスクDbの内周側の所定位置にドーナッツ状に液状物質を供給する。この液状物質は前記光透過膜用の液状物質に比べて低粘度であり、耐擦傷性に優れた特性を呈するハードコート層を形成するのに適した材料が用いられる。ディスクDbにドーナッツ状に供給された液状物質は、回転処理部67において展延され、図4−2(F)で示すような、例えば1〜4μm程度の厚みのハードコート層eが形成される。ディスクDbにハードコート層eの形成されたディスクをDcという。回転処理部67は、同一構成の3台の同時移載機構69と3台の高速回転処理を行う回転処理装置71とからなり、3台の同時移載機構69は同時に動作して搬送ライン61上のディスクDbを対応する回転処理装置71に移載すると同時に、回転処理が終了したディスクDcを搬送ライン61上に移載する。液状物質供給機構65は、搬送ライン61の近傍に配置され、ノズル部65Aが搬送ライン61上に待機しているために、処理時間を短縮することができる。   The disc Db transferred to the transport line 61 of the second transport mechanism is first supplied with a liquid material for hard coating on the transport line 61 by the liquid material supply mechanism 65. The liquid material supply mechanism 65 has a nozzle portion 65A that rotates almost once while discharging a liquid material, and is liquid in a donut shape at a predetermined position on the inner circumference side of the disk Db that is sequentially transported on the third transport line 61. Supply substances. This liquid substance has a lower viscosity than the liquid substance for the light-transmitting film, and a material suitable for forming a hard coat layer exhibiting excellent scratch resistance is used. The liquid substance supplied in a donut shape to the disk Db is spread in the rotation processing unit 67 to form a hard coat layer e having a thickness of about 1 to 4 μm, for example, as shown in FIG. . A disk in which the hard coat layer e is formed on the disk Db is referred to as Dc. The rotation processing unit 67 includes three simultaneous transfer mechanisms 69 having the same configuration and three rotation processing devices 71 that perform high-speed rotation processing. The three simultaneous transfer mechanisms 69 operate at the same time to move the transfer line 61. At the same time that the upper disk Db is transferred to the corresponding rotation processing device 71, the disk Dc that has been subjected to the rotation processing is transferred onto the transport line 61. Since the liquid substance supply mechanism 65 is disposed in the vicinity of the transport line 61 and the nozzle portion 65A is waiting on the transport line 61, the processing time can be shortened.

次の工程で、図4−2(G)で示すように、ハードコート層eは硬化光照射装置73の上方からの紫外線のような硬化光により硬化される。硬化光照射装置73は硬化光照射装置57と同様な構成のものであるので、説明を省略するが、搬送ライン61の上方だけに設けられている。ディスクDcは、二つの移載アーム75aと75bとを有する移載機構75の移載アーム75aによって、搬送ライン61からターンテーブル機構77に移載される。ターンテーブル機構77は、ディスクDcを載置する箇所を90°間隔で4ポジション有し、90°ずつ間欠的に回転する。表裏反転機構79が、搬送ライン61からディスクDcを受け取るポジションの次のポジション近傍に配置されており、ディスクDcを表裏反転する。その表裏反転によって、ディスク基板Dの裏面が上になり、次のポジションでスパッタリング装置のような成膜装置81によって、図4−2(H)に示すように、ディスク基板Dの裏面上に吸水防止用膜fが形成される。この吸水防止用膜fは、ディスク基板Dそのものの材質が吸水することによって、反ってしまうのを防止する目的と、金属反射膜の腐食を防止する目的とがある。ディスクDcに吸水防止用膜fの形成されたディスクをDdという。   In the next step, as shown in FIG. 4G, the hard coat layer e is cured by curing light such as ultraviolet rays from above the curing light irradiation device 73. Since the curing light irradiation device 73 has the same configuration as that of the curing light irradiation device 57, the description thereof is omitted, but the curing light irradiation device 73 is provided only above the transport line 61. The disk Dc is transferred from the transfer line 61 to the turntable mechanism 77 by the transfer arm 75a of the transfer mechanism 75 having two transfer arms 75a and 75b. The turntable mechanism 77 has four positions at 90 ° intervals where the disk Dc is placed and rotates intermittently by 90 °. A front / back reversing mechanism 79 is disposed in the vicinity of the position next to the position where the disk Dc is received from the transport line 61, and reverses the disk Dc. By the reverse of the front and back, the back surface of the disk substrate D is turned up, and water is absorbed on the back surface of the disk substrate D by a film forming device 81 such as a sputtering device at the next position as shown in FIG. A prevention film f is formed. This water absorption preventing film f has the purpose of preventing the material of the disk substrate D itself from being warped and the purpose of preventing corrosion of the metal reflective film. A disk in which the water absorption preventing film f is formed on the disk Dc is referred to as Dd.

ディスクDdがターンテーブル機構77の最初のポジションに戻ると、移載機構75の他方の移載アーム75bがそのディスクDdを中継台83に載置する。このとき、移載機構75の移載アーム75aが搬送ライン61からディスクDcをターンテーブル機構77に移載する動作と、移載機構75の移載アーム75bがターンテーブル機構77からディスクをDdを中継台83に移載する動作とは同時に行われる。中継台83に載置されているディスクDdは移載機構85の移載アーム85aによって検査部87に移載されると共に、検査部87で検査されたディスクDdは、移載機構85の移載アーム85bによって別の中継台89に移載される。検査部87では、下方向から検査光を照射して、あるいはCCDカメラなどを利用して予め決められた検査項目に従ってディスクの検査を行う。検査結果に従って、移載機構91の一方の移載アームは良品を良品用積載機構93へ、また不良品は不良品用積載機構95へ移載され、順次積載される。   When the disk Dd returns to the initial position of the turntable mechanism 77, the other transfer arm 75b of the transfer mechanism 75 places the disk Dd on the relay stand 83. At this time, the transfer arm 75a of the transfer mechanism 75 transfers the disk Dc from the transport line 61 to the turntable mechanism 77, and the transfer arm 75b of the transfer mechanism 75 transfers the disk from the turntable mechanism 77 to Dd. The operation of transferring to the relay table 83 is performed at the same time. The disk Dd placed on the relay stand 83 is transferred to the inspection unit 87 by the transfer arm 85a of the transfer mechanism 85, and the disk Dd inspected by the inspection unit 87 is transferred to the transfer mechanism 85. It is transferred to another relay stand 89 by the arm 85b. The inspection unit 87 inspects the disc according to predetermined inspection items by irradiating inspection light from below or using a CCD camera or the like. According to the inspection result, one transfer arm of the transfer mechanism 91 transfers non-defective products to the non-defective product stacking mechanism 93 and defective products to the non-defective product stacking mechanism 95 and sequentially loads them.

移載機構91のこの選別動作は、検査部87での検査結果による良品と不良品とを示す信号を受けて、自動的に行われる。良品用積載機構93は一般的な構造のものであって、詳細については図示しないが、ターンテーブルとその上に配置され、順次多数枚ディスクを積載できる複数のスタックポールなどからなる光ディスク積載部とからなる。なお、移載機構91の他方の移載アームは、スペーサ蓄積部96からスペーサを良品用積載機構93のディスクの上に1個宛て移載する。スペーサは積載されるディスク間の間隙を確保し、光ディスク同士が密着するのを防ぐ役割を果たす。なお、図示していないが、良品の光ディスクには必要に応じてレーベル印刷が施され、信号層が1層の高密度記録対応の光ディスクが完成する。
[実施形態2]
前述したように、この光ディスク製造装置200は、一点鎖線で分けられる二つの機構部200Aと機構部200Bとからなり、信号層が2層の高密度記録対応の光ディスクを製造するときには、二つの機構部200Aと機構部200Bとを動作させる。先ず、信号層が2層の高密度記録対応の光ディスクの製造が、信号層が1層である高密度記録対応の光ディスクの前述の製造と大きく異なる概略について先ず説明すると、(1)成膜装置19によって、図4−1(B)に示したようにディスク基板Dの第1の信号層a1に反射膜b1が形成されたディスクDaは、第1の搬送機構の搬送ライン17から第2の搬送機構の搬送ライン29に移載されず、二つの機構部200Aと機構部200Bとの間の搬送を行う同時移載機構97によって、機構部200Bの第3の搬送機構の搬送ライン137に移載される。また、(2)機構部200Bにおいて前記ディスクDaに第2の信号層a2が転写された光透過膜を有するディスクが、同時移載機構97によって搬送ライン137から機構部200Aの搬送ライン17に移載される。(3)成膜装置19は、第2の信号層a2に半透明の反射膜を形成、つまり、第1の反射膜だけでなく、半透明の第2の反射膜をも形成する。(4)半透明の第2の反射膜の形成されたディスクが搬送ライン17から搬送ライン29に移載され、前述したような工程でカバー層となる光透過膜などが形成される。
This sorting operation of the transfer mechanism 91 is automatically performed in response to a signal indicating a non-defective product and a defective product based on the inspection result in the inspection unit 87. The non-defective product stacking mechanism 93 has a general structure, and although not shown in detail, an optical disk stacking unit including a turntable and a plurality of stack poles arranged on the turntable and capable of stacking a large number of discs sequentially. Consists of. The other transfer arm of the transfer mechanism 91 transfers one spacer from the spacer accumulating unit 96 onto the disk of the non-defective product stacking mechanism 93. The spacer plays a role of securing a gap between the loaded disks and preventing the optical disks from coming into close contact with each other. Although not shown in the figure, a non-defective optical disc is subjected to label printing as necessary, and an optical disc compatible with high-density recording with one signal layer is completed.
[Embodiment 2]
As described above, the optical disc manufacturing apparatus 200 includes the two mechanism portions 200A and 200B separated by a one-dot chain line. When manufacturing an optical disc compatible with high-density recording with two signal layers, two mechanisms are used. The unit 200A and the mechanism unit 200B are operated. First, the outline of the production of an optical disc compatible with high-density recording having two signal layers and the above-mentioned production of an optical disc compatible with high-density recording having one signal layer will be described first. (1) Film forming apparatus 19, the disk Da having the reflection film b1 formed on the first signal layer a1 of the disk substrate D as shown in FIG. 4B is transferred from the transfer line 17 of the first transfer mechanism to the second line. It is not transferred to the transfer line 29 of the transfer mechanism, but is transferred to the transfer line 137 of the third transfer mechanism of the mechanism unit 200B by the simultaneous transfer mechanism 97 that transfers between the two mechanism units 200A and 200B. It will be posted. (2) In the mechanism unit 200B, the disk having the light transmission film having the second signal layer a2 transferred to the disk Da is transferred from the transfer line 137 to the transfer line 17 of the mechanism unit 200A by the simultaneous transfer mechanism 97. It will be posted. (3) The film forming apparatus 19 forms a translucent reflective film on the second signal layer a2, that is, forms not only the first reflective film but also a translucent second reflective film. (4) The disc on which the translucent second reflective film is formed is transferred from the transport line 17 to the transport line 29, and a light transmission film or the like serving as a cover layer is formed in the process described above.

機構部200Bにおいて、射出成形機101は、図示しない射出成形金型に所望の記録溝を有するスタンパが取り付けられており、図7−1(A)に示すような第2の信号層a2を有する転写用ディスク基板Tを射出成形する。転写用ディスク基板Tは、直径が120mm、中心孔径が15mmの樹脂円板からなるが、これに限られるものではない。第2の信号層a2は、情報信号が凹凸のピットとして形成されたものであり、説明を分かり易くするために、転写用ディスク基板Tの厚みに比べて、凹凸のピットを大幅に拡大して示している。転写用ディスク基板Tは、ディスク取り出し機構103によって、射出成形機101の近傍に設置されている冷却機構105に移載され、回転冷却される。   In the mechanical part 200B, the injection molding machine 101 has a stamper having a desired recording groove attached to an injection mold (not shown), and has a second signal layer a2 as shown in FIG. The transfer disk substrate T is injection molded. The transfer disk substrate T is made of a resin disk having a diameter of 120 mm and a center hole diameter of 15 mm, but is not limited thereto. In the second signal layer a2, information signals are formed as concave and convex pits. To make the explanation easy to understand, the concave and convex pits are greatly enlarged compared to the thickness of the transfer disk substrate T. Show. The transfer disk substrate T is transferred to the cooling mechanism 105 installed in the vicinity of the injection molding machine 101 by the disk take-out mechanism 103, and is rotationally cooled.

ディスク取り出し機構103、冷却機構105については、前述したディスク基板取り出し機構3、冷却機構5と同様なものであり、動作も同様であるので説明を省略する。各冷却機構105の回転冷却装置はそれぞれ所定時間回転すると、停止し、移載機構107は転写用ディスク基板Tを縦方向に保持したまま順にエージング機構109に移載する。移載機構107及びエージング機構109は、前述した移載機構7及びエージング機構9とほぼ同様な構造であって、動作も同様であるので、説明を省略する。エージング機構109でほぼ室温まで冷却された転写用ディスク基板Tは、エージング機構109の終端で、順に間欠回転機構111に引き渡され、間欠回転機構111の回転に伴い、次のポジションで、表裏反転機構113によって180度反転され、第2の信号層a2が上を向くように水平状態にされる。前述のように、表裏反転機構113は、反転の必要な場合のみ動作させればよい。そして、転写用ディスク基板Tは更に間欠回転機構111が回転するのに伴い、その次のポジションで、移載機構115によって転写用搬送機構の搬送ライン117に移載される。   The disk take-out mechanism 103 and the cooling mechanism 105 are the same as the disk substrate take-out mechanism 3 and the cooling mechanism 5 described above, and their operations are also the same, so that the description thereof is omitted. When the rotation cooling device of each cooling mechanism 105 rotates for a predetermined time, it stops, and the transfer mechanism 107 transfers the transfer disk substrate T to the aging mechanism 109 in order while holding the transfer disk substrate T in the vertical direction. The transfer mechanism 107 and the aging mechanism 109 have substantially the same structure as the transfer mechanism 7 and the aging mechanism 9 described above, and the operations thereof are also the same, and thus description thereof is omitted. The transfer disk substrate T cooled to almost room temperature by the aging mechanism 109 is sequentially delivered to the intermittent rotation mechanism 111 at the end of the aging mechanism 109, and at the next position along with the rotation of the intermittent rotation mechanism 111, the front and back reversing mechanism It is inverted 180 degrees by 113, and is brought into a horizontal state so that the second signal layer a2 faces upward. As described above, the front / back reversing mechanism 113 may be operated only when reversal is necessary. Then, as the intermittent rotation mechanism 111 further rotates, the transfer disk substrate T is transferred to the transfer line 117 of the transfer transfer mechanism by the transfer mechanism 115 at the next position.

転写用搬送機構の搬送ライン117に沿って、光透過膜形成部31と同様な構成であって同様に動作して、転写用の光透過膜c2を転写用ディスク基板Tに形成する光透過膜形成部119が備えられている。光透過膜形成部119は、同時移載機構121と転写用ディスク基板Tに液状物質を供給する液体供給機構123と、高速回転処理を行って前記液状物質を転写用ディスク基板Tに展延する回転処理装置125と、移載機構127とキャップ蓄積機構129とキャップ洗浄機構131とを一組とする機構を3組備える。これら3組の機構は同一であり、同時に動作する。3台の同時移載機構121は、同時移載機構33と同様なものであって、搬送ライン117上の転写用ディスク基板Tをそれぞれ回転処理装置125内に載置すると同時に、それぞれの回転処理装置125内の3枚の転写用ディスク基板Tを搬送ライン117上に載置する。3台の同時移載機構121は、搬送ライン117が搬送動作を3回行う毎に転写用ディスク基板Tの移載動作を行うので、回転処理装置125における回転処理時間を1台の回転処理装置125の場合に比べて3倍長く採ることができる。   A light-transmitting film that has the same configuration as the light-transmitting film forming unit 31 and operates in the same manner along the transfer line 117 of the transfer-use transport mechanism, and forms the transfer light-transmitting film c2 on the transfer disk substrate T. A forming part 119 is provided. The light transmission film forming unit 119 spreads the liquid material onto the transfer disk substrate T by performing a simultaneous transfer mechanism 121, a liquid supply mechanism 123 that supplies the liquid material to the transfer disk substrate T, and a high-speed rotation process. Three sets of mechanisms including a rotation processing device 125, a transfer mechanism 127, a cap accumulation mechanism 129, and a cap cleaning mechanism 131 are provided. These three sets of mechanisms are identical and operate simultaneously. The three simultaneous transfer mechanisms 121 are the same as the simultaneous transfer mechanism 33, and the transfer disk substrates T on the transport line 117 are respectively placed in the rotation processing device 125, and at the same time, the respective rotation processes are performed. Three transfer disk substrates T in the apparatus 125 are placed on the transport line 117. Since the three simultaneous transfer mechanisms 121 perform the transfer operation of the transfer disk substrate T every time the transfer line 117 performs the transfer operation three times, the rotation processing time in the rotation processing device 125 is set to one rotation processing device. It can be taken three times longer than the case of 125.

キャップ蓄積機構129は、キャップ蓄積機構41と同様なものであるので、詳しく述べないが、間欠的に回転するテーブル上に複数のキャップ部材Caを保持している。転写用ディスク基板Tが回転処理装置125内に移載される度に、移載機構127は、キャップ蓄積機構129からキャップ部材Caを転写用ディスク基板Tの不図示の中央孔を覆うように載置する。キャップ部材Caは、転写用ディスク基板Tの中央孔とその中央孔に挿入されている回転処理装置125の不図示のセンターピンを覆うような特定の構造になっている。前述したように、ディスク基板Dは、中央孔が直径15mmで、記録領域の内径が43〜46mmであり、ディスク基板Dに適した転写用の光透過膜c2を転写用ディスク基板Tに形成しなければならない。したがって、キャップ部材Caの外径は18〜23mm程度であり、しかしこれに限定されるものではない。   The cap accumulating mechanism 129 is the same as the cap accumulating mechanism 41 and is not described in detail, but holds a plurality of cap members Ca on a table that rotates intermittently. Each time the transfer disk substrate T is transferred into the rotation processing device 125, the transfer mechanism 127 loads the cap member Ca from the cap accumulation mechanism 129 so as to cover a center hole (not shown) of the transfer disk substrate T. Put. The cap member Ca has a specific structure that covers the center hole of the transfer disk substrate T and the center pin (not shown) of the rotation processing device 125 inserted in the center hole. As described above, the disc substrate D has a central hole having a diameter of 15 mm and an inner diameter of the recording area of 43 to 46 mm, and the transfer light transmitting film c2 suitable for the disc substrate D is formed on the transfer disc substrate T. There must be. Therefore, the outer diameter of the cap member Ca is about 18 to 23 mm, but is not limited thereto.

キャップ部材Caが転写用ディスク基板Tに被せられると、液体供給機構123がキャップCaの中心点又は中心点近傍に前記液状物質を供給する。この液状物質は、透明な材料、例えばアクリル樹脂であり、スピンコート方法によって数十μmの厚みをもつ光透過膜を形成できるよう、粘度の調整されたものである。キャップ部材Caの中心点に前記液状物質が供給されるときには、液状物質は点状に与えられるが、キャップ部材Caの中心点の近傍に前記液状物質が供給されるときには、液状物質は中心を囲む円環状に供給される。前記液状物質がキャップ部材Ca上に供給されると、回転処理装置125は高速回転を行って、遠心力により前記液状物質を転写用ディスク基板T上に展延する。光透過膜c2の形成された転写用ディスク基板Tを図7−1(B)に示す。光透過膜c2の形成された転写用ディスク基板Tを転写用ディスクTaという。転写用ディスクTaは、同時移載機構121によって転写用搬送機構の搬送ライン117に移載される。光透過膜c2の形成は実施形態1で説明した光透過膜c1の形成と同様に行うことができるので、これ以上の説明は省略する。また、キャップ洗浄機構131によるキャップCaの洗浄についても前述と同様にできるので、説明を省略する。この時点では、光透過膜c2はまだ硬化されていない。搬送ライン117に移載された転写用ディスクTaは移載機構133によってターンテーブル機構135に移載される。   When the cap member Ca is placed on the transfer disk substrate T, the liquid supply mechanism 123 supplies the liquid substance to the center point of the cap Ca or in the vicinity of the center point. This liquid substance is a transparent material, for example, an acrylic resin, and has a viscosity adjusted so that a light transmission film having a thickness of several tens of μm can be formed by a spin coating method. When the liquid substance is supplied to the central point of the cap member Ca, the liquid substance is given in a dot shape, but when the liquid substance is supplied near the central point of the cap member Ca, the liquid substance surrounds the center. Supplied in an annular shape. When the liquid material is supplied onto the cap member Ca, the rotation processing device 125 rotates at a high speed and spreads the liquid material on the transfer disk substrate T by centrifugal force. A transfer disk substrate T on which the light transmission film c2 is formed is shown in FIG. The transfer disk substrate T on which the light transmission film c2 is formed is referred to as a transfer disk Ta. The transfer disk Ta is transferred to the transfer line 117 of the transfer transfer mechanism by the simultaneous transfer mechanism 121. Since the formation of the light transmission film c2 can be performed in the same manner as the formation of the light transmission film c1 described in the first embodiment, further description is omitted. Further, the cleaning of the cap Ca by the cap cleaning mechanism 131 can be performed in the same manner as described above, and thus the description thereof is omitted. At this point, the light transmission film c2 has not been cured yet. The transfer disk Ta transferred to the transport line 117 is transferred to the turntable mechanism 135 by the transfer mechanism 133.

他方では、成膜装置19によって図4−1(B)に示したディスク基板Dの第1の信号層a1に反射膜b1が形成されたディスクDaは、図3でも示すように、搬送ライン17から搬送ライン29に移載されずに、同時移載機構97によって搬送ライン17の第2の移載ポジションYから機構部200Bの搬送ライン137の移載ポジションZに移載される。搬送ライン137のポジションZに移載されたディスクDaは、次のポジションで液状物質供給機構139によって液状物質が順次供給される。液状物質供給機構139は液状物質を吐出しながらほぼ1回転するノズル部139Aを有し、搬送ライン137上を順次搬送されてくるディスクDaの内周側の所定位置に円環状に液状物質を供給する。この液状物質は、透明で接着性に優れた樹脂材料、代表的には接着剤である。   On the other hand, the disk Da on which the reflective film b1 is formed on the first signal layer a1 of the disk substrate D shown in FIG. Are transferred from the second transfer position Y of the transfer line 17 to the transfer position Z of the transfer line 137 of the mechanism unit 200B by the simultaneous transfer mechanism 97 without being transferred to the transfer line 29. The disk Da transferred to the position Z of the transport line 137 is sequentially supplied with the liquid material by the liquid material supply mechanism 139 at the next position. The liquid material supply mechanism 139 has a nozzle portion 139A that rotates almost once while discharging the liquid material, and supplies the liquid material in an annular shape to a predetermined position on the inner circumference side of the disk Da that is sequentially transported on the transport line 137. To do. This liquid substance is a resin material that is transparent and excellent in adhesiveness, typically an adhesive.

液状物質の供給されたディスクDaは、回転処理部141で高速回転処理され、図7−1(C)に示すように、反射膜b1上に液状物質が展延されて薄い接着層dを形成する。ディスクDaに接着層dの形成されたディスクをDeとする。回転処理部141は、同一構成の3台の同時移載機構143と一般的なスピンナのような3台の回転処理装置145とからなる。同時移載機構143は、搬送ライン137上のディスクDaを同時にそれぞれの回転処理装置145に移載すると同時に、それぞれの回転処理装置145で回転処理されたディスクを搬送ライン137上に移載する。ディスクDeの反射膜b1上に形成された接着層dは硬化処理がなされないまま、移載機構147の一方の移載アーム147Aにより吸着保持されてターンテーブル機構135に移載される。ターンテーブル機構135は時計回りに間欠的に回転する。なお、3台の同時移載機構143の移載動作は、搬送ライン137の間欠的な3回の搬送動作毎に行われ、その間、各回転処理装置145は回転処理動作を行っている。   The disk Da supplied with the liquid material is rotated at a high speed by the rotation processing unit 141, and the liquid material is spread on the reflective film b1 to form a thin adhesive layer d as shown in FIG. To do. A disk having an adhesive layer d formed on the disk Da is denoted by De. The rotation processing unit 141 includes three simultaneous transfer mechanisms 143 having the same configuration and three rotation processing devices 145 such as general spinners. The simultaneous transfer mechanism 143 simultaneously transfers the disk Da on the transport line 137 to each rotation processing device 145, and simultaneously transfers the disk rotated by each rotation processing device 145 onto the transport line 137. The adhesive layer d formed on the reflective film b1 of the disk De is sucked and held by one transfer arm 147A of the transfer mechanism 147 without being cured and transferred to the turntable mechanism 135. The turntable mechanism 135 rotates intermittently clockwise. Note that the transfer operation of the three simultaneous transfer mechanisms 143 is performed every three intermittent transfer operations of the transfer line 137, and during that time, each rotation processing device 145 performs the rotation processing operation.

ターンテーブル機構135は、90°間隔で四つの載置台135Aを有する。載置台135Aは石英のような透明な耐熱性の光透過材料からなり、ディスクDeは四つの載置台135Aの内の向き合う二つに載置される。ディスクDeが載置されていない空の二つの載置台135Aに前述の転写用ディスクTaが搬送ライン117から移載される。図8(A)に示すように、各載置台135Aの上面には、その中心部にセンタリング部Pが設けられ、またその外周部に前述したようなマスク部材Maが設けられている。センタリング部Pは小円板部Paとピン部Pbとからなる。ディスクDe、転写用ディスクTaの外周部分はマスク部材Maによって支承され、また内周部分が小円板部Paによって支承される。センタリング部Pは載置台135Aと同一の材料からなるのが好ましい。   The turntable mechanism 135 includes four mounting tables 135A at 90 ° intervals. The mounting table 135A is made of a transparent heat-resistant light-transmitting material such as quartz, and the disk De is mounted on two of the four mounting tables 135A facing each other. The transfer disk Ta described above is transferred from the transport line 117 to two empty mounting tables 135A on which the disk De is not mounted. As shown in FIG. 8A, a centering portion P is provided at the center of each mounting table 135A, and the mask member Ma as described above is provided at the outer periphery thereof. The centering portion P includes a small disc portion Pa and a pin portion Pb. The outer peripheral portions of the disk De and the transfer disk Ta are supported by the mask member Ma, and the inner peripheral portion is supported by the small disk portion Pa. The centering portion P is preferably made of the same material as the mounting table 135A.

ターンテーブル機構135の間欠的な回転に伴い、転写用ディスクTaが搬送ライン137から移載されるポジションの次のポジションにおいて、図7−1(D)、図7−1(E)に示すように、その下側に設けられている硬化光照射装置149から紫外線のような硬化光が、図8(B)に示すようなマスク部材Ma(W>w≧0.9W)により遮光されないディスクDeの接着層dと転写用ディスクTaの光透過膜c2の面域に交互に照射される1次硬化工程が行われる。この1次硬化工程は載置台135Aを通して行われる。なお、Wはディスク基板Dの外径、wはマスク部材Maの内径をそれぞれ示す。硬化光が照射されたディスクDeの接着層d、転写用ディスクTaの光透過膜c2は半硬化又は硬化され、マスク部材Maで遮光された外周部分は硬化されないまま次のポジションに搬送される。前記次のポジションで、移載機構151がディスクDeを、その接着層dの形成されていない内周部を吸着保持して表裏反転機構153の載置台153Aへ、また、転写用ディスクTaを、光透過膜c2の形成されていない内周部を吸着保持して載置台155へ交互に順次移載する。なお、硬化光をターンテーブル機構135の下側から照射せずに、上側から照射してもかまわない。この場合には、マスク部材MaをディスクDeの接着層d、転写用ディスクTaの光透過膜c2に接触しないように、これらから若干距離を隔てて上方に設置すればよい。   As the turntable mechanism 135 rotates intermittently, as shown in FIGS. 7-1D and 7-1E, in the position next to the position where the transfer disk Ta is transferred from the transport line 137. Further, a disk De in which curing light such as ultraviolet rays is not shielded by a mask member Ma (W> w ≧ 0.9 W) as shown in FIG. 8B from the curing light irradiation device 149 provided on the lower side thereof. A primary curing step is performed in which the surface area of the adhesive layer d and the light transmitting film c2 of the transfer disk Ta are alternately irradiated. This primary curing process is performed through the mounting table 135A. W represents the outer diameter of the disk substrate D, and w represents the inner diameter of the mask member Ma. The adhesive layer d of the disk De irradiated with the curing light and the light transmission film c2 of the transfer disk Ta are semi-cured or cured, and the outer peripheral portion shielded by the mask member Ma is conveyed to the next position without being cured. At the next position, the transfer mechanism 151 sucks and holds the disk De, the inner peripheral portion where the adhesive layer d is not formed, and puts the transfer disk Ta on the mounting table 153A of the front / back reversing mechanism 153. The inner periphery where the light transmission film c <b> 2 is not formed is sucked and held and sequentially transferred to the mounting table 155. The curing light may be irradiated from the upper side without being irradiated from the lower side of the turntable mechanism 135. In this case, the mask member Ma may be placed at a distance from the mask De so as not to contact the adhesive layer d of the disk De and the light transmission film c2 of the transfer disk Ta.

表裏反転機構153の載置台153A上のディスクDeは、上面と下面とが反転されて載置台153Bに載置される。この反転操作によって、ディスクDe上に形成されている接着層dが下側になる。前述したように、その接着層dは少なくとも外周部が硬化していないので、載置台153A、載置台153BはディスクDeにおける接着層dの形成されていない内周部分を支承する大きさのものが好ましい。表裏反転機構153の反転動作は、載置台153AがディスクDeを吸着保持した状態で180度反転動作を行って、ディスクDeを反転させて載置台153Bに載置する構造、あるいは載置されている位置でディスクDeの外周端を把持して180度回転して反転する構造など、本件出願人が既に提案している構造のものを採用することができる(例えば、特開平5−277427号公報又は特開平8−131928号公報)。   The disk De on the mounting table 153A of the front / back reversing mechanism 153 is mounted on the mounting table 153B with its upper and lower surfaces reversed. By this reversal operation, the adhesive layer d formed on the disk De becomes the lower side. As described above, since at least the outer peripheral portion of the adhesive layer d is not cured, the mounting table 153A and the mounting table 153B have a size that supports the inner peripheral portion of the disk De where the adhesive layer d is not formed. preferable. The reversing operation of the front / back reversing mechanism 153 is a structure in which the mounting table 153A performs a 180-degree reversing operation in a state where the disk De is sucked and held, and the disk De is reversed and mounted on the mounting table 153B. A structure already proposed by the present applicant, such as a structure in which the outer edge of the disk De is held at a position and rotated 180 degrees to be reversed, can be adopted (for example, Japanese Patent Laid-Open No. 5-277427 or JP-A-8-131928).

移載機構157が載置台155に載置されている転写用ディスクTaの光透過膜c2の形成されていない内周部を吸着保持して、最初に転写用ディスクTaをターンテーブル機構159のポジションaに移載する。次に、移載機構157は載置台153B上のディスクDeを転写用ディスクTaの上に移載する。ターンテーブル機構159は複数の移載ポジションを備えており、図示しないが、それら移載ポジションにはディスクDeを転写用ディスクTaからある小さな間隔を隔てて保持するために、ディスクDeと転写用ディス基板Tの中心孔に挿入される保持部材が備えられている。この保持部材によって転写用ディスクTaの光透過膜とディスクDeの接着層とはある小さな距離を隔てた状態で真空貼り合せ機構161へ搬送される。   The transfer mechanism 157 sucks and holds the inner peripheral portion of the transfer disk Ta mounted on the mounting table 155 where the light transmission film c2 is not formed, and first places the transfer disk Ta in the position of the turntable mechanism 159. Transfer to a. Next, the transfer mechanism 157 transfers the disk De on the mounting table 153B onto the transfer disk Ta. The turntable mechanism 159 has a plurality of transfer positions. Although not shown, the turn table mechanism 159 has a disk De and a transfer disk in order to hold the disk De at a small distance from the transfer disk Ta. A holding member to be inserted into the center hole of the substrate T is provided. With this holding member, the light transmission film of the transfer disk Ta and the adhesive layer of the disk De are conveyed to the vacuum bonding mechanism 161 with a small distance therebetween.

真空貼り合せ機構161は、二つのポジションbとcとが収まるようになっており、ディスク基板の外形サイズよりも少し大きい図示しない二つの円筒チャンバをポジションbとc上にそれぞれ有している。二つの円筒チャンバは、ターンテーブル機構159が間欠的に回転動作を行うときにはポジションbとcとの上方に待機しており、ターンテーブル機構159が停止すると、二つのチャンバが降下して、ターンテーブル機構159との小さな密閉空間を作り、図示していない真空ポンプ装置が動作して、その二つの密閉空間を真空にする。ターンテーブル機構159のポジションaで、ある一定の間隔で対向した状態に保たれた転写用ディスクTaとディスクDeとが2組形成され、それらがポジションbとcとに搬送されると、図示しない二つのチャンバが下降して二つのポジションbとcとが真空雰囲気になり、転写用ディスクTaにディスクDeが重ね合わされ、加圧力がかけられるようになっている。このようにして、転写用ディスクTaの光透過膜c2とディスクDeの接着層dとの間に気泡の存在しない2枚のディスクの貼り合せが行われる。なお、必ずしも真空中で貼り合せを行う必要はなく、本件出願人が既に提案(例えば、特開平9−63127号公報)しているように、接着膜c1を光透過転写層d1に軽く接触させた状態で、相対的に回転差を持って回転させながら貼り合わせるような方法でもよい。この場合には、接着膜c1は1次硬化を行わない方が望ましい。また、別の貼り合せ方法でもよい。   The vacuum bonding mechanism 161 has two positions b and c, and has two cylindrical chambers (not shown) on the positions b and c, which are slightly larger than the outer size of the disk substrate. The two cylindrical chambers are waiting above the positions b and c when the turntable mechanism 159 rotates intermittently. When the turntable mechanism 159 stops, the two chambers move down to turn the turntable. A small sealed space with the mechanism 159 is created, and a vacuum pump device (not shown) is operated to evacuate the two sealed spaces. When two sets of transfer disks Ta and De that are kept facing each other at a certain interval at position a of the turntable mechanism 159 are formed and conveyed to positions b and c, they are not shown. The two chambers are lowered and the two positions b and c are in a vacuum atmosphere, and the disk De is superimposed on the transfer disk Ta so that pressure is applied. In this manner, two discs without bubbles are bonded between the light transmission film c2 of the transfer disc Ta and the adhesive layer d of the disc De. Note that it is not always necessary to perform the bonding in a vacuum. As already proposed by the present applicant (for example, JP-A-9-63127), the adhesive film c1 is lightly brought into contact with the light transmission transfer layer d1. In this state, it may be a method of bonding together while rotating with a relative rotational difference. In this case, the adhesive film c1 is preferably not subjected to primary curing. Another bonding method may be used.

図7−2(F)に示すように、転写用ディスクTaとディスクDeとを貼り合せてなるディスクDfは、ターンテーブル機構159のポジションdにおいて移載機構163によってターンテーブル機構165に移載される。ターンテーブル機構165はターンテーブル機構135と同様な構造のものであるので、説明を省略する。ターンテーブル機構165の丸印で示す透明な材料からなる載置台165Aに載置されているディスクDfは、図7−2(G)に示すように、硬化光照射装置167によって上方から紫外線のような硬化光が照射され、2次硬化が行われる。この2次硬化工程では、上方からの硬化光が接着層dと光透過膜c2との全面に照射されることによって、接着層dと光透過膜c2との未硬化部分が完全に硬化される。   As shown in FIG. 7-2 (F), the disk Df formed by laminating the transfer disk Ta and the disk De is transferred to the turntable mechanism 165 by the transfer mechanism 163 at the position d of the turntable mechanism 159. The Since the turntable mechanism 165 has the same structure as the turntable mechanism 135, the description thereof is omitted. The disk Df mounted on the mounting table 165A made of a transparent material indicated by the circle of the turntable mechanism 165 is exposed to ultraviolet light from above by the curing light irradiation device 167 as shown in FIG. Secondary curing is performed by irradiation with an appropriate curing light. In this secondary curing step, the uncured portions of the adhesive layer d and the light transmissive film c2 are completely cured by irradiating the entire surface of the adhesive layer d and the light transmissive film c2 with curing light from above. .

2次硬化工程の行われたディスクDfは、図3の破線矢印で示すように、移載機構147の移載アーム147Bによって、搬送ライン137に移載される。このディスクDfをターンテーブル機構165から搬送ライン137に移載する動作と、前述した搬送ライン137からターンテーブル機構135にディスクDeを移載する動作とは、移載機構147の移載アーム147Bと移載アーム147Aとによって同時に行われる。搬送ライン137によって搬送されるディスクDfは、図7−2(H)に示すように、表裏反転機構169によって表裏が反転され、転写用ディスク基板Tが上側、ディスク基板Dが下側になる。そして、図7−2(I)に示すように、次に剥離機構171によって転写用ディスク基板Tが光透過膜c2から剥離され、光透過膜c2には第2の信号層a2が転写される。剥離機構171は、2台の同時移載機構173と175、剥離機構177と179、転写用ディスク除去機構181と183とから概略構成される。   The disk Df that has undergone the secondary curing process is transferred to the transport line 137 by the transfer arm 147B of the transfer mechanism 147, as indicated by the dashed arrow in FIG. The operation of transferring the disk Df from the turntable mechanism 165 to the transfer line 137 and the operation of transferring the disk De from the transfer line 137 to the turntable mechanism 135 include the transfer arm 147B of the transfer mechanism 147 and the transfer arm 147B. Simultaneously with the transfer arm 147A. As shown in FIG. 7-2 (H), the disk Df transported by the transport line 137 is reversed by the front / back reversing mechanism 169 so that the transfer disk substrate T is on the upper side and the disk substrate D is on the lower side. Then, as shown in FIG. 7-2 (I), the transfer disk substrate T is then peeled off from the light transmission film c2 by the peeling mechanism 171 and the second signal layer a2 is transferred to the light transmission film c2. . The peeling mechanism 171 is generally composed of two simultaneous transfer mechanisms 173 and 175, peeling mechanisms 177 and 179, and transfer disk removing mechanisms 181 and 183.

剥離機構177、179は、同時移載機構173、175それぞれからディスクDfが移載されると、次のポジションで剥離動作を行う。この剥離は、例えば、ディスクDfの中央孔側から機械的な力を転写用ディスク基板Tと転写用の光透過膜c2との間に加えて、それらの間を部分的に剥離して開き、その間に圧搾空気を与えることにより、光透過膜c2に悪影響を与えることなく確実かつ容易に剥離を行うことができる。なお、剥離機構171については前述の剥離機構に限定されるものではない。そして、剥離された転写用ディスク基板Tは次のポジションで転写用ディスク除去機構181、183によってそれぞれ除去される。転写用ディスク基板Tが除去され、転写用の光透過膜c2の転写されたディスクDfをディスクDgという。ディスクDgは、図3の破線矢印で示すように、同時移載機構173、175によって搬送ライン137に移載される。このとき、搬送ライン137からディスクDfが剥離装置177、179に同時に移載されるのは勿論である。   When the disk Df is transferred from the simultaneous transfer mechanisms 173 and 175, the peeling mechanisms 177 and 179 perform a peeling operation at the next position. For example, a mechanical force is applied between the transfer disk substrate T and the transfer light-transmitting film c2 from the center hole side of the disk Df, and a part of them is partially peeled and opened. By applying compressed air during that time, peeling can be performed reliably and easily without adversely affecting the light transmission film c2. Note that the peeling mechanism 171 is not limited to the above-described peeling mechanism. The peeled transfer disk substrate T is removed by the transfer disk removing mechanisms 181 and 183 at the next positions. The disk Df from which the transfer disk substrate T has been removed and the transfer light-transmitting film c2 has been transferred is referred to as disk Dg. The disk Dg is transferred to the transport line 137 by the simultaneous transfer mechanisms 173 and 175, as indicated by broken line arrows in FIG. At this time, of course, the disk Df is simultaneously transferred from the transport line 137 to the peeling devices 177 and 179.

次に、図3の破線矢印で示すように、同時移載機構97によって、ディスクDgは搬送ライン137のポジションZから搬送ライン17のポジションYのディスク載置部17a上に移載される。ここで、ディスク載置部17aは丸印で示されているように一定間隔で複数設けられており、ディスクDgは1個おきでディスク載置部17aに載置される。ディスクDgが載置されていないディスク載置部17aには、射出成形されたディスク基板Dが移載機構15によって移載される。したがって、ディスク基板Dも1個おきでディスク載置部17aに載置される。信号層が1層の光ディスクの製造に比べて、信号層が2層の光ディスクの製造の場合には、搬送ライン17の搬送速度を2倍にすることで、第1の信号層が形成されたディスク基板と第2の信号層が形成されたディスクDgとを交互にディスク載置部17a上に載置して搬送することができる。   Next, as indicated by the broken line arrow in FIG. 3, the disk Dg is transferred from the position Z of the transport line 137 to the disk mounting portion 17 a at the position Y of the transport line 17 by the simultaneous transfer mechanism 97. Here, a plurality of disk mounting portions 17a are provided at regular intervals as indicated by circles, and every other disk Dg is mounted on the disk mounting portion 17a. The injection-molded disk substrate D is transferred by the transfer mechanism 15 to the disk mounting portion 17a where the disk Dg is not mounted. Therefore, every other disk substrate D is also placed on the disk placing portion 17a. In the case of manufacturing an optical disc having two signal layers as compared with the manufacturing of an optical disc having one signal layer, the first signal layer is formed by doubling the transport speed of the transport line 17. The disk substrate and the disk Dg on which the second signal layer is formed can be alternately mounted on the disk mounting portion 17a and conveyed.

成膜装置19は、交互に、図4−1(B)で示したディスク基板Dの第1の信号層a1に反射膜b1を形成すると共に、図7−3(J)で示すように、ディスクDgにおける第2の信号層a2を有する光透過膜c2上にAu、Ag、Si、Ai、Ag合金などからなる半透明の第2の反射膜b2を成膜する。第2の反射膜b2が形成されたディスクDgをディスクDhという。したがって、成膜装置19以降の搬送ライン17では、ディスク基板Dの第1の信号層a1に反射膜b1の形成されたディスクDaとディスクDhとが交互に順に搬送される。ディスク蓄積部20は、前述したように、トラブルなどが発生したときにディスクDaとディスクDhとを、移載機構23の移載アーム23Aによってディスク積載用回転テーブル21の積載部21Aに積載する。また、トラブルなどが回復したときには、ディスクDaとディスクDhとが交互にディスク積載用回転テーブル21の積載部21Aから搬送ライン17に移載される。   The film forming apparatus 19 alternately forms the reflective film b1 on the first signal layer a1 of the disk substrate D shown in FIG. 4-1 (B), and as shown in FIG. 7-3 (J), A translucent second reflective film b2 made of Au, Ag, Si, Ai, Ag alloy or the like is formed on the light transmission film c2 having the second signal layer a2 in the disk Dg. The disc Dg on which the second reflective film b2 is formed is called a disc Dh. Therefore, in the transfer line 17 after the film forming apparatus 19, the disk Da and the disk Dh on which the reflection film b1 is formed on the first signal layer a1 of the disk substrate D are alternately transferred in order. As described above, the disk storage unit 20 loads the disk Da and the disk Dh onto the stacking unit 21A of the disk stacking rotary table 21 by the transfer arm 23A of the transfer mechanism 23 when a trouble or the like occurs. When the trouble is recovered, the disk Da and the disk Dh are alternately transferred from the stacking portion 21A of the disk stacking rotary table 21 to the transport line 17.

そして、搬送ライン17の移載ポジションXで、図3の破線矢印で示すように、移載機構27によってディスクDhのみが搬送ライン29に移載される。ディスクDaは搬送ライン17をそのまま搬送される。次に、図7−3(K)に示すように、光透過膜形成部31によって半透明の第2の反射膜b2の上にカバー層となる光透過膜c1が形成される。光透過膜形成部31及び光透過膜c1の形成方法については、既に詳述したので説明を省略するが、光透過膜c1は信号層が1層のときに比べて薄く、光透過膜c1とc2との和の厚みがほぼ100μmになる厚みである。次に、図7−3(L)に示すように、光透過膜c1の1次硬化工程が行われる。更に、硬化光照射装置57によって光透過膜c1の2次硬化工程が行われる。光透過膜c1の形成されたディスクをディスクDiという。このディスクDiの光透過膜c1の上に、前述と同様にしてハードコート層が形成され、その後に検査され、良品か、あるいは不良品か反転されて、分別される。光透過膜形成部31以降の各機構、及び動作については既に詳しく述べてあり、光透過膜c1が第2の反射膜b2上に形成される点を除いて、前述と同じであるので、説明を省略する。このようにして、高密度記録対応の信号層が2層の光ディスクを製造することができる。   Then, only the disk Dh is transferred to the transfer line 29 by the transfer mechanism 27 at the transfer position X of the transfer line 17 as indicated by the broken line arrow in FIG. The disk Da is conveyed on the conveyance line 17 as it is. Next, as shown in FIG. 7-3 (K), the light transmission film forming part 31 forms a light transmission film c1 serving as a cover layer on the translucent second reflection film b2. The method of forming the light transmissive film forming portion 31 and the light transmissive film c1 has already been described in detail and will not be described here. However, the light transmissive film c1 is thinner than when the signal layer is one layer, and the light transmissive film c1 This is the thickness at which the sum of c2 is approximately 100 μm. Next, as shown in FIG. 7-3 (L), a primary curing step of the light transmission film c1 is performed. Further, a secondary curing step of the light transmission film c <b> 1 is performed by the curing light irradiation device 57. The disk on which the light transmission film c1 is formed is called a disk Di. A hard coat layer is formed on the light transmission film c1 of the disk Di in the same manner as described above, and then inspected, and it is sorted out by inverting whether it is a non-defective product or a defective product. Each mechanism and operation after the light transmission film forming unit 31 has already been described in detail, and is the same as described above except that the light transmission film c1 is formed on the second reflection film b2. Is omitted. In this manner, an optical disc having two signal layers compatible with high-density recording can be manufactured.

なお、以上述べた実施形態において、冷却機構、光透過膜形成部、硬化光照射装置、接着層を形成するための回転処理部、貼り合せ機構、剥離機構など個々の機構や装置については別のものを用いても勿論よい。また、ディスク蓄積部20、59、1次硬化を行う硬化光照射装置、吸水防止膜形成機構などについては、必ずしも必要でなく、必要に応じて別の構造のものを用いても構わない。
In the embodiment described above, individual mechanisms and devices such as a cooling mechanism, a light transmission film forming unit, a curing light irradiation device, a rotation processing unit for forming an adhesive layer, a bonding mechanism, and a peeling mechanism are different. Of course, it may be used. Further, the disk storage units 20, 59, the curing light irradiation device that performs the primary curing, the water absorption prevention film forming mechanism, and the like are not necessarily required, and those having another structure may be used as necessary.

本発明に係る最良の実施形態の光ディスク製造装置200全体の概略構成を示す図である。It is a figure which shows schematic structure of the whole optical disk manufacturing apparatus 200 of the best embodiment based on this invention. 本発明に係る光ディスク製造装置200の一部分を示す図である。It is a figure which shows a part of optical disk manufacturing apparatus 200 based on this invention. 本発明に係る光ディスク製造装置200の一部分を示す図である。It is a figure which shows a part of optical disk manufacturing apparatus 200 based on this invention. 本発明に係る光ディスク製造装置200を用いて1層の信号層を有する高密度記録対応の光ディスクを製造する工程(A)〜(E)を示す図である。It is a figure which shows the process (A)-(E) which manufactures the optical disk corresponding to a high density recording which has one signal layer using the optical disk manufacturing apparatus 200 based on this invention. 本発明に係る光ディスク製造装置200を用いて1層の信号層を有する高密度記録対応の光ディスクを製造する工程(F)〜(H)を示す図である。It is a figure which shows the process (F)-(H) which manufactures the optical disk corresponding to a high density recording which has one signal layer using the optical disk manufacturing apparatus 200 based on this invention. 本発明に係る光ディスク製造装置200に用いられるマスク移動機構の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the mask moving mechanism used for the optical disk manufacturing apparatus 200 concerning this invention. 本発明に係る光ディスク製造装置200に用いられる硬化光照射装置の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the curing light irradiation apparatus used for the optical disk manufacturing apparatus 200 concerning this invention. 本発明に係る光ディスク製造装置200を用いて2層の信号層を有する高密度記録対応の光ディスクを製造する工程(A)〜(E)を示す図である。It is a figure which shows the process (A)-(E) which manufactures the optical disk corresponding to a high density recording which has two signal layers using the optical disk manufacturing apparatus 200 based on this invention. 本発明に係る光ディスク製造装置200を用いて2層の信号層を有する高密度記録対応の光ディスクを製造する工程(F)〜(I)を示す図である。It is a figure which shows process (F)-(I) which manufactures the optical disk corresponding to a high density recording which has two signal layers using the optical disk manufacturing apparatus 200 concerning this invention. 本発明に係る光ディスク製造装置200を用いて2層の信号層を有する高密度記録対応の光ディスクを製造する工程(J)〜(L)を示す図である。It is a figure which shows the process (J)-(L) which manufactures the optical disk corresponding to a high density recording which has two signal layers using the optical disk manufacturing apparatus 200 which concerns on this invention. 本発明に係る光ディスク製造装置200で用いられる載置台の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the mounting base used with the optical disk manufacturing apparatus 200 concerning this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1・・・射出成形機
3・・・ディスク基板取り出し機構
5・・・冷却機構
7・・・移載機構
9・・・エージング機構
11・・・間欠回転機構
13・・・表裏反転機構
15・・・移載機構
17・・・第1の搬送機構の搬送ライン
19・・・成膜装置
20・・・ディスク蓄積部
21・・・ディスク積載用回転テーブル
23・・・移載機構
25・・・スペーサ供給機構
27・・・移載機構
29・・・第2の搬送機構の第1の搬送ライン
31・・・光透過膜形成部
33・・・同時移載機構
35・・・液体供給機構
37・・・回転処理装置
39・・・移載機構
41・・・キャップ蓄積機構
42・・・キャップ洗浄機構
43、45・・・同時移載機構
47、49・・・回転処理装置
51、53・・・マスク移動機構
53・・・共通固定部材
55・・・硬化光照射装置
57・・・硬化光照射装置
58・・・シャッタ部材
59・・・ディスク蓄積部
61・・・第2の搬送機構における第2の搬送ライン
63・・・移載機構
65・・・液状物質供給機構
67・・・回転処理部
69・・・同時移載機構
71・・・回転処理装置
73・・・硬化光照射装置
75・・・移載機構
77・・・ターンテーブル機構
79・・・表裏反転機構
81・・・成膜装置
83・・・中継台
85・・・移載機構
87・・・検査部
89・・・中継台
91・・・移載機構
93・・・良品用積載機構
95・・・不良品用積載機構
96・・・スペーサ蓄積部
97・・・同時移載機構
101・・・射出成形機
103・・・ディスク取り出し機構
105・・・冷却機構
107・・・移載機構
109・・・エージング機構
111・・・間欠回転機構
113・・・表裏反転機構
115・・・移載機構
117・・・転写用搬送機構の搬送ライン
119・・・光透過膜形成部
121・・・同時移載機構
123・・・移載機構
125・・・液体供給機構
127・・・移載機構
129・・・キャップ蓄積機構
131・・・キャップ洗浄機構
133・・・移載機構
135・・・ターンテーブル機構
137・・・第3の搬送機構の搬送ライン
139・・・液状物質供給機構
141・・・回転処理部
143・・・同時移載機構
145・・・回転処理装置
147・・・移載機構
149・・・硬化光照射装置
151・・・移載機構
153・・・表裏反転機構
155・・・載置台
157・・・移載機構
159・・・ターンテーブル機構
161・・・真空貼り合せ装置
163・・・移載機構
165・・・ターンテーブル機構
167・・・硬化光照射装置
169・・・表裏反転機構
171・・・剥離機構
173、175・・・同時移載機構
177、179・・・剥離装置
181、183・・・転写用ディスク除去機構
Ma・・・マスク部材
Ca・・・キャップ部材
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Injection molding machine 3 ... Disk board | substrate taking-out mechanism 5 ... Cooling mechanism 7 ... Transfer mechanism 9 ... Aging mechanism 11 ... Intermittent rotation mechanism 13 ... Front-back inversion mechanism 15. ..Transfer mechanism 17... Transfer line of the first transport mechanism 19... Deposition apparatus 20... Disc storage unit 21. Spacer supply mechanism 27: transfer mechanism 29 ... first transfer line of second transfer mechanism 31 ... light transmission film forming unit 33 ... simultaneous transfer mechanism 35 ... liquid supply mechanism 37... Rotation processing device 39... Transfer mechanism 41... Cap accumulation mechanism 42... Cap cleaning mechanism 43 and 45. Simultaneous transfer mechanism 47 and 49. ... Mask moving mechanism 53 ... Common fixing Material 55 ... Curing light irradiation device 57 ... Curing light irradiation device 58 ... Shutter member 59 ... Disc storage part 61 ... Second transport line 63 in second transport mechanism 63 ... Transfer Loading mechanism 65 ... Liquid substance supply mechanism 67 ... Rotation processing unit 69 ... Simultaneous transfer mechanism 71 ... Rotation processing device 73 ... Curing light irradiation device 75 ... Transfer mechanism 77 ... Turntable mechanism 79: Front / back reversing mechanism 81 ... Film forming apparatus 83 ... Relay stand 85 ... Transfer mechanism 87 ... Inspection section 89 ... Relay stand 91 ... Transfer mechanism 93: Non-defective product stacking mechanism 95: Defective product stacking mechanism 96: Spacer accumulating unit 97 ... Simultaneous transfer mechanism 101 ... Injection molding machine 103 ... Disc ejecting mechanism 105 ... Cooling mechanism 107 ... Transfer mechanism 109 ... Aging mechanism 111 ... Intermittent rotation mechanism 113 ... Front / back reversing mechanism 115 ... Transfer mechanism 117 ... Transfer line of transfer transfer mechanism 119 ... Light transmission film forming part 121 ... Simultaneous transfer Mechanism 123 ... Transfer mechanism 125 ... Liquid supply mechanism 127 ... Transfer mechanism 129 ... Cap storage mechanism 131 ... Cap cleaning mechanism 133 ... Transfer mechanism 135 ... Turn table mechanism 137... Transport line of third transport mechanism 139... Liquid substance supply mechanism 141... Rotation processing unit 143... Simultaneous transfer mechanism 145. ... Curing light irradiation device 151 ... Transfer mechanism 153 ... Front / back reversing mechanism 155 ... Mounting table 157 ... Transfer mechanism 159 ... Turntable mechanism 161 ... True Empty bonding apparatus 163... Transfer mechanism 165... Turntable mechanism 167... Curing light irradiation apparatus 169... Front / back reversing mechanism 171. DESCRIPTION OF SYMBOLS 179 ... Stripping apparatus 181, 183 ... Transfer disk removal mechanism Ma ... Mask member Ca ... Cap member

Claims (9)

ディスク基板に液状物質を供給する液状物質供給機構と、前記ディスク基板に供給された前記液状物質を遠心力によって展延して光透過膜を形成する第1の回転処理装置と、前記光透過膜の形成された前記ディスク基板を回転処理する第2の回転処理装置と、該第2の回転処理装置に載置されている前記ディスク基板に硬化光を照射する第1の硬化光照射装置と、第2の硬化光照射装置とを備える光ディスク製造装置であって、
前記硬化光を実質的に透過しない光遮蔽材料からなり、かつ前記ディスク基板の外径の90%を越える内径と、前記ディスク基板の外径よりも大きな外径とを有する大きさの環状のマスク部材と、
前記第1の硬化光照射装置が硬化光を照射するときには、前記マスク部材を前記ディスク基板の表面近傍の設定位置まで移動させて、前記ディスク基板に展延されている前記光透過膜の90%を越える外周部に実質的に硬化光が照射されるのを防ぎ、硬化光の照射後には前記設定位置から別の位置に移動させるマスク移動機構と、
を備えることを特徴とする光ディスク製造装置。
A liquid material supply mechanism for supplying a liquid material to the disk substrate; a first rotation processing device for spreading the liquid material supplied to the disk substrate by a centrifugal force to form a light transmissive film; and the light transmissive film. A second rotation processing device for rotating the disk substrate formed thereon, a first curing light irradiation device for irradiating the disk substrate mounted on the second rotation processing device with curing light, An optical disc manufacturing apparatus comprising a second curing light irradiation device,
An annular mask made of a light shielding material that does not substantially transmit the curing light and having an inner diameter that exceeds 90% of the outer diameter of the disk substrate and an outer diameter that is larger than the outer diameter of the disk substrate Members,
When the first curing light irradiation device irradiates curing light, the mask member is moved to a set position near the surface of the disk substrate, and 90% of the light transmission film spread on the disk substrate. A mask moving mechanism that substantially prevents the curing light from being applied to the outer peripheral portion beyond the mask, and moves to another position from the set position after irradiation of the curing light;
An optical disc manufacturing apparatus comprising:
請求項1において、
前記マスク移動機構は、前記第2の回転処理装置が回転処理を行う前に、前記マスク部材を前記ディスク基板の表面近傍の所定位置まで移動させておくことを特徴とする光ディスク製造装置。
In claim 1,
The optical disk manufacturing apparatus, wherein the mask moving mechanism moves the mask member to a predetermined position near the surface of the disk substrate before the second rotation processing device performs the rotation processing.
請求項1又は請求項2において、
前記マスク移動機構は、
前記マスク部材を支持するマスク支持部と、
固定の構造物に固定されるベース部と、
該ベース部に固定され、かつそのベース部に対して垂直方向に可動して前記マスク支持部を上下動させる上下動部と、
前記マスク支持部を旋回運動させる旋回駆動部と、
を備えることを特徴とする光ディスク製造装置。
In claim 1 or claim 2,
The mask moving mechanism is
A mask support for supporting the mask member;
A base portion fixed to a fixed structure;
A vertical movement part fixed to the base part and movable in a direction perpendicular to the base part to move the mask support part up and down;
A turning drive part for turning the mask support part;
An optical disc manufacturing apparatus comprising:
請求項1ないし請求項3のいずれかにおいて、
前記液状物質供給機構の周囲には、
前記ディスクの中央孔に被せるキャップ部材が複数個載置されているキャップ載置台と、
該キャップ載置台に載置されている前記キャップ部材を前記第1の回転処理装置に載置された前記ディスク基板の中央孔に被せるキャップ移載装置と、
が備えられ、
前記液状物質供給機構は、前記ディスク基板の中央孔に被せられている前記キャップ部材の中心又は中心近傍に前記液状物質を供給することを特徴とする光ディスク製造装置。
In any one of Claims 1 thru | or 3,
Around the liquid substance supply mechanism,
A cap mounting table on which a plurality of cap members covering the center hole of the disk are mounted;
A cap transfer device that covers the cap member mounted on the cap mounting table over a central hole of the disk substrate mounted on the first rotation processing device;
Is provided,
2. The optical disk manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the liquid material supply mechanism supplies the liquid material to the center or the vicinity of the center of the cap member covering the center hole of the disk substrate.
請求項4において、
前記キャップ移載装置は、前記ディスク基板の中央孔に載置される前記キャップ部材を、前記ディスク基板毎に新たに前記キャップ載置台に載置されている別のキャップ部材に交換することを特徴とする光ディスク製造装置。
In claim 4,
The cap transfer device replaces the cap member placed in the central hole of the disc substrate with another cap member newly placed on the cap placement table for each disc substrate. An optical disc manufacturing apparatus.
請求項1ないし請求項5のいずれかにおいて、
前記第2の回転処理装置の回転処理速度は、前記第1の回転処理装置の回転処理速度よりも小さいことを特徴とする光ディスク製造装置。
In any one of Claims 1 thru | or 5,
An optical disc manufacturing apparatus, wherein a rotation processing speed of the second rotation processing device is lower than a rotation processing speed of the first rotation processing device.
請求項1ないし請求項6のいずれかにおいて、
前記第1の硬化光照射装置1台から等しい距離に2台の前記第2の回転処理装置が備えられ、
前記第1の硬化光照射装置は、2台の前記第2の回転処理装置のそれぞれに載置されている前記ディスク基板に交互に硬化光を照射することを特徴とする光ディスク製造装置。
In any one of Claims 1 thru | or 6,
Two second rotation processing devices are provided at an equal distance from one first curing light irradiation device,
The optical disk manufacturing apparatus, wherein the first curing light irradiation apparatus alternately irradiates curing light to the disk substrate mounted on each of the two second rotation processing apparatuses.
請求項1ないし請求項7のいずれかにおいて、
前記第2の硬化光照射装置は、前記光透過膜が形成された前記ディスク基板を搬送する搬送ラインの上方に備えられ、
前記第2の硬化光照射装置からの硬化光が前記搬送ラインに照射されるのを防ぐシャッタ部材を備えることを特徴とする光ディスク製造装置。
In any one of Claims 1 thru | or 7,
The second curing light irradiation device is provided above a conveyance line for conveying the disk substrate on which the light transmission film is formed,
An optical disk manufacturing apparatus comprising: a shutter member that prevents the curing light from the second curing light irradiation apparatus from being irradiated to the transport line.
請求項1ないし請求項8のいずれかにおいて、
前記ディスク基板は、信号層が形成されたディスク基板、又は転写される信号層が形成された転写用ディスク基板であることを特徴とする光ディスク製造装置。
In any one of Claims 1 thru | or 8,
The optical disc manufacturing apparatus, wherein the disc substrate is a disc substrate on which a signal layer is formed or a transfer disc substrate on which a signal layer to be transferred is formed.
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