JP2006349869A - 光コネクタ端面カバー、光コネクタ終端装置及び光コネクタ端面品質判定装置 - Google Patents

Abstract

【課題】
従来から、光コネクタ端面カバーを取り外さないと光コネクタの検査ができない課題がある。光コネクタを使用する前に検査を行うために光コネクタ端面カバーを光コネクタから取り外すことがあるが、この時に光コネクタ端面に塵が付着することがある。
本願発明は簡易な構造で光コネクタ端面カバーを取り外すことなく光コネクタ端面の状態を容易に検査できる光コネクタ端面カバー及び光コネクタ終端装置を提供することを目的とする。
【解決手段】
前記課題を解決する為に、光コネクタ端面カバーの透明体に球面の一部の形状の密着面を形成した。
【選択図】図１

Description

光ファイバーの接続に用いる光コネクタの端面を保護する光コネクタ端面カバーに関する。

従来から、光コネクタには、光コネクタ端面に塵が付着すると光ファイバーを伝搬する光信号が塵で遮られて光コネクタの伝搬損失が増大する、また、光信号を受けた塵が発熱することで光コネクタが破損する課題があった。光コネクタ端面カバーを光コネクタに装着したが、それでも光コネクタ端面に塵が付着した。例えば、光コネクタ端面カバーを成形したときの塵が光コネクタ端面カバーの内側に残留していると、光コネクタを運搬するときの振動で光コネクタ端面に付着する危険性があった。

前記課題を解決すべく、光コネクタ端面カバーを光コネクタ端面に粘着テープを用いて密着するように装着した（特許文献１を参照。）。光コネクタ端面カバーを成形したときに残留した塵は粘着テープに付着し、光コネクタ端面に塵が付着することを防止できる。

特開２００４−１２６２５号公報

しかし、特許文献１で開示される光コネクタ端面カバーは、光コネクタ端面カバーを取り外さないと光コネクタ端面の状態を容易に検査できない課題がある。光コネクタを使用する前に検査を行うために光コネクタ端面カバーを光コネクタから取り外すことがあるが、この時に光コネクタ端面に塵が付着することがある。また、光コネクタから光コネクタ端面カバーを取り外す際に光コネクタ端面に粘着テープの一部が残留する課題がある。光コネクタ端面に残留した粘着テープは光コネクタ端面に付着する塵となる。いずれの塵も光コネクタの伝搬損失の増大や破壊の原因となる。

本願発明は前記課題を解決する為になされたもので、簡易な構造で光コネクタ端面カバーを取り外すことなく光コネクタ端面の状態を容易に検査できる光コネクタ端面カバー及び光コネクタ終端装置を提供することを目的とする。また、光コネクタ端面品質判定装置を用いることで、光コネクタ端面の状態を容易に検査することを目的とする。

上記目的を達成するために、本願発明は、光コネクタ端面カバーの透明体に球面の一部の形状である密着面を形成することで、簡易な構造で光コネクタ端面カバーを取り外すことなく光コネクタ端面の状態を容易に検査できる光コネクタ端面カバーである。

具体的には、本願第一の発明は、球面の一部の形状である密着面が形成された透明な透明体と、前記密着面と光コネクタ端面とが密着するように前記透明体を光コネクタに装着する装着部と、を備える光コネクタ端面カバーである。

球面の一部の形状である前記密着面が形成された透明な前記透明体を備える前記光コネクタ端面カバーを前記光コネクタに装着すると、前記密着面が球面の一部の形状である為に前記光コネクタ端面と前記光コネクタ端面カバーの前記密着面が密着する。前記透明体の屈折率と前記光ファイバーのコアの屈折率を略等しくすれば、前記光コネクタ端面での反射減衰量を増大させることができる。前記光コネクタ端面に塵が付着すると前記光コネクタ端面の反射減衰量が減少する為に、反射減衰量を測定すれば前記光コネクタ端面カバーを取り外すことなく前記光コネクタ端面の状態を容易に検査できる。また、前記光コネクタ端面カバーを装着しておけば、前記光コネクタ端面に塵が付着することはない。従って、簡易な構造で光コネクタ端面カバーを取り外すことなく光コネクタ端面の状態を容易に検査できる光コネクタ端面カバーを提供することができる。

前記透明体の前記密着面から前記密着面に対向する面までが透明であることが好ましい。

前記透明体の前記密着面から前記密着面に対向する面までが透明であることで、前記光コネクタ端面カバーを外さずに前記光コネクタ端面に塵が付着しているか目視することができる。従って、簡易な構造で光コネクタ端面カバーを取り外すことなく光コネクタ端面の状態を容易に検査できる光コネクタ端面カバーを提供することができる。

前記透明体は、前記密着面に対向する面が凸レンズであることが好ましい。

前記透明体は、前記密着面に対向する面が凸レンズであることで、前記光コネクタ端面が拡大された状態で前記光コネクタ端面に塵が付着しているか目視することができる。従って、簡易な構造で光コネクタ端面カバーを取り外すことなく光コネクタ端面の状態を容易に検査できる光コネクタ端面カバーを提供することができる。

本願第二の発明は、本願第一の発明に係る光コネクタ端面カバーと、前記光コネクタ端面が形成され、コアの屈折率が前記透明体の屈折率に略等しい光ファイバーを有する光コネクタと、を備える光コネクタ終端装置である。

本願第一の発明に係る光コネクタ端面カバーを前記光コネクタに装着すると前記光コネクタ終端装置となる。前記密着面が球面の一部の形状である為に前記光コネクタ端面と前記光コネクタ端面カバーの前記密着面が密着する。前記透明体の屈折率と前記光ファイバーのコアの屈折率が略等しい為に、前記光コネクタ端面での反射減衰量を増大させることができる。前記光コネクタ端面に塵が付着すると前記光コネクタ端面の反射減衰量が減少する為に、反射減衰量を測定すれば前記光コネクタ端面カバーを取り外すことなく前記光コネクタ端面の状態を容易に検査できる。従って、簡易な構造で光コネクタ端面カバーを取り外すことなく光コネクタ端面の状態を容易に検査できる光コネクタ終端装置を提供することができる。

本願第三の発明は、本願第一の発明に係る光コネクタ端面カバーと、光ファイバーを有する光コネクタの反射減衰量が所定量以下か否かを判定する反射減衰量判定器と、を備える光コネクタ端面品質判定装置である。

本願第一の発明に係る光コネクタ端面カバーと、前記光ファイバーを有する前記光コネクタの反射減衰量が所定量以下か否かを判定する前記反射減衰量判定器と、を備える前記光コネクタ端面品質判定装置を用いることで、前記透明体の屈折率と前記光ファイバーのコアの屈折率を略等しくすれば、前記光コネクタ端面での反射減衰量を増大させることができる。前記光コネクタ端面に塵が付着すると前記光コネクタ端面の反射減衰量が減少する為に、反射減衰量を測定すれば前記光コネクタ端面カバーを取り外すことなく前記光コネクタ端面の状態を容易に検査できる。従って、光コネクタ端面の状態を容易に検査することができる。

本願発明により、簡易な構造で光コネクタ端面カバーを取り外すことなく光コネクタ端面の状態を容易に検査できる光コネクタ端面カバー及び光コネクタ終端装置を提供することができる。また、光コネクタ端面品質判定装置を用いることで、光コネクタ端面カバーを取り外すことなく光コネクタ端面の状態を容易に検査することができる。

以下、本発明の実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、本発明は、以下に示す実施形態に限定されるものでない。

本実施形態は、球面の一部の形状である密着面が形成された透明な透明体と、前記密着面と光コネクタ端面とが密着するように前記透明体を光コネクタに装着する装着部と、を備える光コネクタ端面カバーである。

本実施形態である光コネクタ端面カバー１０について、図１を用いて説明する。図１の光コネクタ端面カバー１０は、透明体２０、密着面２１、装着部３０及び突起３１を備える。光コネクタ１１０は、どのようなタイプのものでもよく、詳細については後述する。溝１１１は、このような形状に限定されず、密着面２１と光コネクタ端面１４０とが密着を維持できるように固定できればよい。光ファイバー１２０は、ガラスファイバーやプラスチックファイバーでもよく、シングルモードファイバーかマルチモードファイバーかは問わない。フェルール１３０の材料は、ジルコニアセラミック、硬化プラスチック等でもよい。

光コネクタ端面カバー１０について説明する。図１の光コネクタ端面カバー１０は、透明体２０と装着部３０を備える。

透明体２０は、光コネクタ端面１４０に対向する面に球面の一部の形状である密着面２１が形成される。透明体２０は、光コネクタ１１０を伝搬する光信号に対して透明となる材料を一体モールド成形してもよいし、また、切削や研磨して製造してもよい。

例えば、透明体２０の材料としては、フッ素化ポリマー、含重水素化ポリマー、ポリカーボネイト、ポリメチルメタクリレイト、ポリスチレン、シクロオレフィンポリマー及びジエチレングリコールビスアリルカーボネート等の樹脂、石英ガラス及び多成分ガラス等のセラミックをあげることができる。

装着部３０は、透明体２０を保持する。なお、光コネクタ端面カバー１０を光コネクタ１１０に装着する方法については後述する。

例えば、装着部３０と透明体２０の密着面２１に対向する面とを接着剤で接合してもよい。また、光コネクタのハウジング部品からなる装着部３０と透明体２０を組み合わせてもよい。

光コネクタ１１０について説明する。図１の光コネクタ１１０は、光ファイバー１２０と光ファイバー１２０の端にフェルール１３０を備える。光コネクタ端面１４０は、ＰＣ（フィジカルコンタクト）接続する為、球面の一部の形状となるように光ファイバー１２０及びフェルール１３０に形成される。また、光コネクタ１１０は、ＩＥＣ（国際電気標準会議）で規格化されている光コネクタであってもよい。例えば、ＳＣ型、ＳＣ２型、Ｄ型、ＦＣ型、ＬＣ型又はＭＵ型の規格に従った光コネクタ１１０をあげることができる。

光コネクタ端面カバー１０を光コネクタ１１０に装着する方法について説明する。光コネクタ１１０と光コネクタ端面カバー１０は、密着面２１と光コネクタ端面１４０が密着し、光コネクタ端面１４０に塵が付着しなければどのような方法で装着されてもよい。

例えば、図１に示すように光コネクタ１１０の外周部に溝１１１を形成し、溝１１１と組み合わさる突起３１を装着部３０に形成してもよい。溝１１１と突起３１が組み合わさることで、密着面２１と光コネクタ端面１４０が密着するように光コネクタ端面カバー１０を光コネクタ１１０に装着できる。

光コネクタ端面カバー１０を光コネクタ１１０に装着する他の方法としては、ネジや粘着テープを用いてもよい。また、光コネクタ１１０がＩＥＣの規格に従ったものであれば、ＩＥＣの規格に対応するように装着部３０を形成することで、光コネクタ端面カバー１０を光コネクタ１１０に装着することができる。

光コネクタ端面カバー１０を光コネクタ１１０に装着したときの効果について図２を用いて説明する。なお、図２において、図１と同じ符号は同じ意味を有する。

図２の光コネクタ端面カバー１０を光コネクタ１１０に装着すると、光コネクタ端面１４０と密着面２１がそれぞれ球面の一部の形状である為に、光コネクタ端面１４０と透明体２０の密着面２１とが密着してＰＣ接続することになる（図２の拡大部を参照。）。なお、ベアファイバー１２１は、光ファイバー１２０のコア及びクラッドが光コネクタ端面１４０に露出するように延長されたものである。光コネクタ端面１４０と透明体２０の密着面２１が密着し、透明体２０の屈折率と光ファイバー１２０のコアの屈折率を略等しくすれば、光コネクタ端面１４０の反射減衰量が増大した状態になる。光コネクタ端面１４０と密着面２１に塵が付着すると光コネクタ端面１４０がＰＣ接続でなくなり光コネクタ端面１４０の反射減衰量が減少する為に、光コネクタ端面１４０の反射減衰量を測定すれば光コネクタ端面１４０に塵が付着しているか否かを判定できる。従って、簡易な構造で光コネクタ端面カバー１０を取り外すことなく光コネクタ端面１４０の状態を容易に検査できる光コネクタ端面カバー１０を提供することができる。

また、光コネクタ端面１４０と透明体２０の密着面２１が密着することで、光コネクタ１１０を運搬するときの振動で光コネクタ端面１４０に塵が付着することはない。

透明体２０の密着面２１から密着面２１に対向する面までが透明であることが好ましい。

図３は、透明体２０の密着面２１から密着面２１に対向する面までが透明である光コネクタ端面カバー１０を光コネクタ１１０に装着した図である。なお、図３において、図１と同じ符号は同じ意味を有する。

例えば、前述したように、装着部３０と透明体２０を透明な樹脂で一体モールド成形して光コネクタ端面カバー１０を製造してもよい。

また、密着面２１と光コネクタ端面１４０とが密着できるように形成された貫通孔（図３に図示していない）を装着部３０に設けてもよい。前述した貫通孔に透明体２０を挿入することで、透明体２０の密着面２１から密着面２１に対向する面までが透明な光コネクタ端面カバー１０としてもよい。

透明体２０の密着面２１から密着面２１に対向する面までが透明であることで、光コネクタ端面カバー１０を外さずに光コネクタ端面１４０に塵が付着しているか外部から目視で確認することができる。従って、簡易な構造で光コネクタ端面カバー１０を取り外すことなく光コネクタ端面１４０の状態を容易に検査できる光コネクタ端面カバー１０を提供することができる。

透明体２０は、密着面２１に対向する面が凸レンズであることが好ましい。

図４は、密着面２１に対向する面が凸レンズ２２である光コネクタ端面カバー１０を光コネクタ１１０に装着した図である。なお、図４において、図１と同じ符号は同じ意味を有する。

装着部３０と透明体２０を透明な樹脂で一体モールド成形すれば、透明体２０の密着面２１に対向する面を凸レンズ２２とすることも容易である。また、透明体２０の密着面２１に対向する面に凸レンズ２２を形成し、図３の透明体２０と同様にして図４の装着部３０を備えることで、密着面２１に対向する面が凸レンズ２２である光コネクタ端面カバー１０としてもよい。

図４の密着面２１に対向する面が凸レンズ２２であることで、光コネクタ端面１４０が拡大された状態となる為に、光コネクタ端面１４０に塵が付着しているか目視で確認をすることができる。従って、簡易な構造で光コネクタ端面カバー１０を取り外すことなく光コネクタ端面１４０の状態を容易に検査できる光コネクタ端面カバー１０を提供することができる。

本願第一の発明に係る光コネクタ端面カバーを光コネクタに装着することで、本願第二の発明に係る光コネクタ終端装置とすることができる。具体的には、本願第一の発明に係る光コネクタ端面カバーと、前記光コネクタ端面が形成され、コアの屈折率が前記透明体の屈折率に略等しい光ファイバーを有する光コネクタと、を備える光コネクタ終端装置である。

図１から図４において、透明、かつ、光ファイバー１２０のコアの屈折率と略等しい屈折率の材料で透明体２０を形成する。

例えば、透明体２０の材料としては、光ファイバー１２０のコアが石英ガラスである場合に、光ファイバー１２０のコアの屈折率と略等しくなるものとして、ポリメチルメタクリレイトの樹脂、石英ガラス及び多成分ガラス等のセラミックをあげることができる。

図１から図４において、透明、かつ、光ファイバー１２０のコアの屈折率と略等しい屈折率の透明体２０を備える光コネクタ端面カバー１０を光コネクタ１１０に装着すると、光コネクタ終端装置となる。透明体２０の屈折率と光ファイバー１２０のコアの屈折率が略等しいことで、光コネクタ端面１４０の反射減衰量を増大させることができる。光コネクタ端面１４０に塵が付着すると光コネクタ端面１４０がＰＣ接続でなくなり光コネクタ端面１４０の反射減衰量が減少する為に、光コネクタ端面カバー１０を取り外すことなく光コネクタ端面１４０の状態を容易に検査できる。従って、簡易な構造で光コネクタ端面カバー１０を取り外すことなく光コネクタ端面１４０の状態を容易に検査できる光コネクタ終端装置を提供することができる。

本願第三の発明に係る光コネクタ端面品質判定装置を用いることで、光コネクタ端面１の状態を容易に検査することができる。具体的には、本願第一の発明に係る光コネクタ端面カバーと、光ファイバーを有する光コネクタの反射減衰量が所定量以下か否かを判定する反射減衰量判定器と、を備える光コネクタ端面品質判定装置である。

光コネクタ端面品質判定装置１５０を用いた光コネクタ端面１４０の検査方法の一例を図５に示す。図５の光コネクタ端面品質判定装置１５０は、光コネクタ端面カバー１０、光コネクタ１１０、光ファイバー１２０、反射減衰量判定器１６０及び光スプリッタ１７０を備える。なお、図５において、図１と同じ符号は同じ意味を有する。

反射減衰量判定器１６０と光スプリッタ１７０は接続され、光スプリッタ１７０から分岐して光コネクタ１１０に接続される。

図５に示すように、全ての光コネクタ１１０に光コネクタ端面カバー１０を装着したときの反射減衰量を測定する（以下、反射減衰量Ａ）。反射減衰量判定器１６０に反射減衰量Ａを所定値として記憶させる。次に、被測定物の光コネクタ１１０に光コネクタ端面カバー１０を装着したときの反射減衰量を測定する（以下、反射減衰量Ｂ）。反射減衰量判定器１６０は、反射減衰量Ｂが反射減衰量Ａ以下か否か、すなわち、反射減衰量Ｂが反射減衰量Ａと同程度であれば、光コネクタ端面１４０と密着面２１が密着しており、反射減衰量Ｂが反射減衰量Ａより小さければ、光コネクタ端面１４０と密着面２１が密着していないと判定することができる。例えば、反射減衰量の測定にはＯＴＤＲ（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｔｉｍｅ Ｄｏｍａｉｎ Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｅｒ）法を適用できる。

光パワー測定装置１６４を用いた光コネクタ端面１４０の検査方法を図６に示す。図６の光コネクタ端面品質判定装置１５１は、光コネクタ端面カバー１０、光コネクタ１１０、光ファイバー１２０、反射量減衰判定器１６１、光源１６２、光方向性結合器１６３、光パワー測定器１６４及び光スプリッタ１７０を備える。なお、図６において、図１と同じ符号は同じ意味を有する。

図６に示すように、反射減衰量判定器１６１は、光源１６２、光方向性結合器１６３及び光パワー測定器１６４を備え、光コネクタ１１０の反射減衰量が所定量以下か否かを判定できるものである。反射減衰量判定器１６１と光スプリッタ１７０は接続され、光スプリッタ１７０から分岐して光コネクタ１１０に接続される。

光源１６２から光を出力すると、光スプリッタ１７０を介して光コネクタ１１０の光コネクタ端面１４０に到達した光は、光コネクタ端面１４０で反射され、光方向性結合器１６３により光パワー測定器１６４に入力されることになる。全ての光コネクタ１１０に光コネクタ端面カバー１０を装着したときの反射減衰量を所定量として測定する（以下、反射減衰量Ａ）。反射減衰量判定器１６１に反射減衰量Ａを所定値として記憶させる。次に、被測定物の光コネクタ１１０に光コネクタ端面カバー１０を装着した反射減衰量を測定する（以下、反射減衰量Ｂ）。図６の反射減衰量判定器１６１は、図５の反射減衰量判定器１６０と同様に、反射減衰量Ａと反射減衰量Ｂを比較し光コネクタ端面１４０と密着面２１が密着しているか判断することができる。また、光源１６２から出力した光の強度と光パワー測定器１６４に入力される光の強度を比較し、光コネクタ端面１４０の反射減衰量を求めることができる。

図５に示した光コネクタ端面品質判定装置１５０又は図６に示した光コネクタ端面品質判定装置１５１を用いることで、光コネクタ端面カバー１０を取り外すことなく光コネクタ端面１４０の状態を容易に検査することができる。なお、図５に示した光コネクタ端面品質判定装置１５０又は図６に示した光コネクタ端面品質判定装置１５１には、光スプリッタ１７０で８分岐して８個の光コネクタ１１０が接続されているが、光スプリッタ１７０の分岐数又は光コネクタ１１０の数は８個に制限されるものでない。また、図５に示した光コネクタ端面品質判定装置１５０又は図６に示した光コネクタ端面品質判定装置１５１は、光スプリッタ１７０を介さずに光コネクタ１１０を接続してもよい。

本願発明は、光ファイバーを接続する光コネクタに用いることができる。

本願第一の発明の一の実施形態に係る光コネクタ端面カバーの断面図である。 本願第一の発明の他の実施形態に係る光コネクタ端面カバーの断面図である。 本願第一の発明の他の実施形態に係る光コネクタ端面カバーの断面図である。 本願第一の発明の他の実施形態に係る光コネクタ端面カバーの断面図である。 本願第三の発明の一の実施形態に係る光コネクタ端面品質判定装置の概念図である。 本願第三の発明の他の実施形態に係る光コネクタ端面品質判定装置の概念図である。

符号の説明

１０ 光コネクタ端面カバー
２０ 透明体
２１ 密着面
２２ 凸レンズ
３０ 装着部
３１ 突起
９０ 眼
１１０ 光コネクタ
１１１ 溝
１２０ 光ファイバー
１２１ ベアファイバー
１３０ フェルール
１４０ 光コネクタ端面
１５０、１５１ 光コネクタ端面品質判定装置
１６０、１６１ 反射減衰量判定器
１６２ 光源
１６３ 光方向性結合器
１６４ 光パワー測定器
１７０ 光スプリッタ

Claims (5)

1. 球面の一部の形状である密着面が形成された透明な透明体と、
   前記密着面と光コネクタ端面とが密着するように前記透明体を光コネクタに装着する装着部と、を備える光コネクタ端面カバー。
2. 前記透明体の前記密着面から前記密着面に対向する面までが透明であることを特徴とする請求項１に記載の光コネクタ端面カバー。
3. 前記透明体は、前記密着面に対向する面が凸レンズであること特徴とする請求項２に記載の光コネクタ端面カバー。
4. 請求項１から３のいずれかに記載の光コネクタ端面カバーと、
   前記光コネクタ端面が形成され、コアの屈折率が前記透明体の屈折率に略等しい光ファイバーを有する光コネクタと、を備える光コネクタ終端装置。
5. 請求項１から３のいずれかに記載の光コネクタ端面カバーと、
   光ファイバーを有する光コネクタの反射減衰量が所定量以下か否かを判定する反射減衰量判定器と、を備える光コネクタ端面品質判定装置。
   

Images