JP2006329859A - イオンコントロールセンサ - Google Patents
イオンコントロールセンサ Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006329859A JP2006329859A JP2005155348A JP2005155348A JP2006329859A JP 2006329859 A JP2006329859 A JP 2006329859A JP 2005155348 A JP2005155348 A JP 2005155348A JP 2005155348 A JP2005155348 A JP 2005155348A JP 2006329859 A JP2006329859 A JP 2006329859A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- potential
- surface potential
- control sensor
- ion
- probe
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/0046—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof characterised by a specific application or detail not covered by any other subgroup of G01R19/00
- G01R19/0061—Measuring currents of particle-beams, currents from electron multipliers, photocurrents, ion currents; Measuring in plasmas
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/24—Arrangements for measuring quantities of charge
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/12—Measuring electrostatic fields or voltage-potential
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Elimination Of Static Electricity (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
【課題】極めて簡単な構造により、イオンバランスの検出や被除電物の帯電電位の検出を可能にしてイオナイザの除電性能の向上に寄与できるようにした低コストのイオンコントロールセンサを提供する。
【解決手段】被除電物に正負のイオンを供給して除電する除電装置であって、被除電物の表面電位を測定するための表面電位測定用プローブを備えた除電装置において、表面電位測定用プローブ11を構成する電位検出部11aと、この電位検出部11aに対し非接触状態で包囲するように配置された導電性のキャップ13とを備え、被除電物30の帯電電荷、または除電装置20から供給されたイオンによってキャップ13に発生した電位を、電位検出部11aにより検出してフィードバック信号として除電装置20内の制御回路24に送出する。
【選択図】図2
Description
本発明は、除電装置が発生する正負イオン量のイオンバランスと被除電物の帯電電位との双方を検出可能としたイオンコントロールセンサに関するものである。
従来、被除電物の静電容量の大きさや表面電位に合わせて、放電電極針に印加する電圧を可変制御するようにした除電装置が、例えば後述する特許文献1に記載されている。
この除電装置は、電圧を印加して被除電物に対しコロナ放電を生じさせる少なくとも1本の放電電極針と、被除電物の表面電位を連続的に測定する表面電位計と、測定した表面電位に応じて被除電物の表面電位をゼロに収束させるような印加電圧を演算する演算処理手段と、演算により求めた印加電圧を放電電極針に出力する電圧出力手段とを有し、表面電位計の測定結果を演算処理手段にフィードバックして放電電極針への印加電圧を可変するように構成されている。また、演算処理手段は、表面電位測定値の変動に基づいて被除電物の静電容量を演算する機能も備えている。
上記特許文献1記載の従来技術によれば、被除電物の表面電位やこれに基づく静電容量を常時測定し、これらの測定値を演算処理手段にフィードバックして放電電極針への印加電圧を制御することにより、高精度に除電を行うことが一応可能になっている。
また、イオナイザ(除電装置)が発生するイオンのうち、除電に必要な量のイオンだけを液晶基板(被除電物)に到達させるようにして、イオンバランスが崩れた場合にも液晶基板を逆帯電させないようにした液晶パネルの製造装置が、特許文献2に記載されている。
この液晶パネル製造装置は、コロナ放電によりイオンを発生する除電装置と、除電対象物へ向かうイオン量を除電対象物の帯電量に応じて調節するグリッド電極板等の電極部材とを有し、除電装置は、放電側を開口したシールドケースと、シールドケース内に設けられた放電電極と、この放電電極にコロナ放電に必要な高電圧を印加する高圧電源とを備えたものである。
その作用としては、液晶基板の帯電量に応じて液晶基板と電極部材との間の電界が変化することに着目し、帯電量が小さい場合には前記電界が弱くなることにより、除電装置から発生したイオンの大部分を電極部材から接地側に逃がして液晶基板への到達イオン量を減少させ、帯電量が大きい場合には前記電界が強くなることにより、除電装置から発生したイオンの大部分を液晶基板に到達させて除電効果を高めている。
その作用としては、液晶基板の帯電量に応じて液晶基板と電極部材との間の電界が変化することに着目し、帯電量が小さい場合には前記電界が弱くなることにより、除電装置から発生したイオンの大部分を電極部材から接地側に逃がして液晶基板への到達イオン量を減少させ、帯電量が大きい場合には前記電界が強くなることにより、除電装置から発生したイオンの大部分を液晶基板に到達させて除電効果を高めている。
しかしながら、特許文献1に記載された従来技術では、基本的には被除電物の表面電位に基づいて除電装置を制御しており、除電装置から発生する正負イオンのイオンバランスは考慮されていない。このため、除電装置から発生する正負のイオン量がアンバランスになっている場合もあり、もともと帯電していなかった被除電物をイオナイザによって一方の極性に帯電させてしまうことがある。このようにして被除電物が帯電した場合には、その表面電位に基づく除電装置の制御によって除電することが可能であるが、本来的には必要のない除電動作を行うことになり、時間や電力を浪費することとなる。
また、特許文献2に記載された従来技術は、液晶基板の帯電量に応じた電界強度に応じて液晶基板へのイオンの到達量を制御しているため、除電精度を高くするには限界があり、例えば液晶基板を正確に±0〔V〕に維持するのが困難であった。
更に、除電装置に多数配置された放電電極針と液晶基板との間の空間をカバーできるように大形のグリッド電極板等を備える必要があるので、構成部品が大型化し、装置全体の大型化やコストの上昇を招くという問題もあった。
更に、除電装置に多数配置された放電電極針と液晶基板との間の空間をカバーできるように大形のグリッド電極板等を備える必要があるので、構成部品が大型化し、装置全体の大型化やコストの上昇を招くという問題もあった。
そこで本発明の解決課題は、極めて簡単な構造により、イオンバランスの検出や被除電物の帯電電位の検出を可能にして除電装置の性能を向上させるようにした低コストのイオンコントロールセンサを提供することにある。
上記課題を解決するため、請求項1に記載した発明は、被除電物に正負のイオンを供給して除電する除電装置であって、被除電物の表面電位を測定するための表面電位測定用プローブを備えた除電装置において、
表面電位測定用プローブを構成する電位検出部と、この電位検出部を包囲するように絶縁部材を介して配置された導電性のキャップと、を備えたものである。
表面電位測定用プローブを構成する電位検出部と、この電位検出部を包囲するように絶縁部材を介して配置された導電性のキャップと、を備えたものである。
請求項2に記載した発明は、請求項1に記載したイオンコントロールセンサにおいて、
被除電物の帯電電荷、または除電装置から供給されたイオンによって前記キャップに発生した電位を、前記電位検出部により検出してフィードバック信号として除電装置内の制御回路に送出するものである。
被除電物の帯電電荷、または除電装置から供給されたイオンによって前記キャップに発生した電位を、前記電位検出部により検出してフィードバック信号として除電装置内の制御回路に送出するものである。
本発明によれば、除電装置が発生する正負イオンのイオンバランスと被除電物の表面電位とを単一のイオンコントロールセンサによって検出することができ、高精度かつ高効率の除電装置を実現することができる。
また、本発明は、既存の表面電位測定用プローブの電位検出部に絶縁部材を介して導電性のキャップを取り付けるだけで実現可能であり、構造が極めて簡単で低コストにて提供可能である。
また、本発明は、既存の表面電位測定用プローブの電位検出部に絶縁部材を介して導電性のキャップを取り付けるだけで実現可能であり、構造が極めて簡単で低コストにて提供可能である。
以下、図に沿って本発明の実施形態を説明する。まず、図1は、この実施形態にかかるイオンコントロールセンサ10の斜視図である。
図1において、11は角棒状の表面電位測定用プローブであり、いわゆる音叉型または音片型表面電位測定装置等のプローブであって、被除電物の表面電位を非接触で測定可能なものである。なお、このプローブ11による表面電位の測定原理は、特に限定されるものではない。このプローブ11は、ケーブル21を介して後述する除電装置20に接続されている。
図1において、11は角棒状の表面電位測定用プローブであり、いわゆる音叉型または音片型表面電位測定装置等のプローブであって、被除電物の表面電位を非接触で測定可能なものである。なお、このプローブ11による表面電位の測定原理は、特に限定されるものではない。このプローブ11は、ケーブル21を介して後述する除電装置20に接続されている。
表面電位測定用プローブ11の長手方向ほぼ中央部には、合成樹脂等からなるロ字形の絶縁部材12が固着されていると共に、この絶縁部材12とプローブ11の先端部とを包囲するように、有底角筒状の導電材料からなるキャップ13がネジ14にて取り付けられている。なお、上述したプローブ11の先端部は、検出孔(図示せず)を有する電位検出部11aを構成しており、この電位検出部11aとキャップ13の内面とは、前記絶縁部材12及び空間により非接触状態に保たれている。
次に、図2は本実施形態の使用状態の説明図であり、図3は除電装置20の概略的な構成図である。
図3に示すように、除電装置20は、コロナ放電により正負のイオンを発生させる複数の放電電極22と、これらの放電電極22に可変の高電圧を印加するための高電圧電源回路23と、前記表面電位測定用プローブ11の出力信号に基づいて高電圧電源回路23を制御する制御回路24とを備えている。
なお、この除電装置20は、放電電極22に交流電圧を印加する交流式除電装置、あるいは直流電圧を印加する直流式除電装置の何れでも良く、必要に応じて発生イオンを被除電物方向に強制的に送出するファンを備えていても良い。
図3に示すように、除電装置20は、コロナ放電により正負のイオンを発生させる複数の放電電極22と、これらの放電電極22に可変の高電圧を印加するための高電圧電源回路23と、前記表面電位測定用プローブ11の出力信号に基づいて高電圧電源回路23を制御する制御回路24とを備えている。
なお、この除電装置20は、放電電極22に交流電圧を印加する交流式除電装置、あるいは直流電圧を印加する直流式除電装置の何れでも良く、必要に応じて発生イオンを被除電物方向に強制的に送出するファンを備えていても良い。
次いで、この実施形態の作用を図2を参照しつつ説明する。
図2において、イオンコントロールセンサ10は、除電するべき被除電物30の表面に近接して配置される。ここで、被除電物30は、半導体ウェハや液晶基板等を始めとした各種の除電対象物である。
図2において、イオンコントロールセンサ10は、除電するべき被除電物30の表面に近接して配置される。ここで、被除電物30は、半導体ウェハや液晶基板等を始めとした各種の除電対象物である。
いま、イオンコントロールセンサ10の直下に搬送されてきた被除電物30が例えば正電位に帯電していたとすると、静電誘導によりイオンコントロールセンサ10のキャップも正電位に帯電する。この正電位は表面電位測定用プローブ21の電位検出部11aによって検出され、その検出信号がフィードバック信号として除電装置20内の制御回路24に入力される。
これにより、制御回路24では、被除電物30の正電位を除去(中和)するために放電電極22から負イオンを多量に発生させるように、高電圧電源回路23を動作させる。例えば、放電電極22に印加する交流または直流の負電圧の振幅を正電圧の振幅より大きくする等の制御動作を行う。
これにより、制御回路24では、被除電物30の正電位を除去(中和)するために放電電極22から負イオンを多量に発生させるように、高電圧電源回路23を動作させる。例えば、放電電極22に印加する交流または直流の負電圧の振幅を正電圧の振幅より大きくする等の制御動作を行う。
上記の動作により、放電電極22から発生した多量の負イオンが被除電物30に供給されるため、被除電物30の正電位が中和されて除電が行われる。
また、放電電極22から発生する正負イオン量のバランス、いわゆるイオンバランスを検出する場合には、イオンコントロールセンサ10の直下に被除電物30が存在しない状態、あるいは、被除電物30が存在していたとしても正負何れにも帯電していない状態において、除電装置20を動作させる。
この場合には、イオンコントロールセンサ10のキャップ13が放電電極22から発生した正負イオン量のバランスに応じて正電位または負電位に帯電し、また、イオンバランスがとれていれば0電位となる。
この場合には、イオンコントロールセンサ10のキャップ13が放電電極22から発生した正負イオン量のバランスに応じて正電位または負電位に帯電し、また、イオンバランスがとれていれば0電位となる。
すなわち、発生した正イオンが負イオンより多ければ、キャップ13が正電位に帯電するので、表面電位測定用プローブ11の電位検出部11aは正電位を検出し、その検出信号がフィードバック信号として除電装置20内の制御回路24に入力される。このため、制御回路24では、放電電極22から負イオンを多量に発生させるように、高電圧電源回路23を動作させる制御動作を行う。
放電電極22から発生する負イオンが正イオンより多い場合には、上記と逆の動作になるのは言うまでもない。
放電電極22から発生する負イオンが正イオンより多い場合には、上記と逆の動作になるのは言うまでもない。
なお、上述した実施形態はあくまで一例であり、本発明のイオンコントロールセンサや表面電位測定用プローブの形状、構造は何ら限定されるものではない。
また、除電装置の構造、形状も特に限定されず、天井等への据付型、卓上型、エアガン型など各種タイプの除電装置に適用可能である。
また、除電装置の構造、形状も特に限定されず、天井等への据付型、卓上型、エアガン型など各種タイプの除電装置に適用可能である。
10:イオンコントロールセンサ
11:表面電位測定用プローブ
11a:電位検出部
12:絶縁部材
13:キャップ
14:ネジ
20:除電装置
21:ケーブル
22:放電電極
23:高電圧電源回路
24:制御回路
30:被除電物
11:表面電位測定用プローブ
11a:電位検出部
12:絶縁部材
13:キャップ
14:ネジ
20:除電装置
21:ケーブル
22:放電電極
23:高電圧電源回路
24:制御回路
30:被除電物
Claims (2)
- 被除電物に正負のイオンを供給して除電する除電装置であって、被除電物の表面電位を測定するための表面電位測定用プローブを備えた除電装置において、
表面電位測定用プローブを構成する電位検出部と、この電位検出部を包囲するように絶縁部材を介して配置された導電性のキャップと、
を備えたことを特徴とするイオンコントロールセンサ。 - 請求項1に記載したイオンコントロールセンサにおいて、
被除電物の帯電電荷、または除電装置から供給されたイオンによって前記キャップに発生した電位を、前記電位検出部により検出してフィードバック信号として除電装置内の制御回路に送出することを特徴とするイオンコントロールセンサ。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005155348A JP2006329859A (ja) | 2005-05-27 | 2005-05-27 | イオンコントロールセンサ |
CN2005800498853A CN101180547B (zh) | 2005-05-27 | 2005-06-13 | 离子控制传感器 |
KR1020077016325A KR20080010382A (ko) | 2005-05-27 | 2005-06-13 | 이온 컨트롤 센서 |
PCT/JP2005/011195 WO2006126285A1 (ja) | 2005-05-27 | 2005-06-13 | イオンコントロールセンサ |
US11/886,692 US20090015263A1 (en) | 2005-05-27 | 2005-06-13 | Ion Control Sensor |
TW094119625A TWI265296B (en) | 2005-05-27 | 2005-06-14 | Ion control sensor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005155348A JP2006329859A (ja) | 2005-05-27 | 2005-05-27 | イオンコントロールセンサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006329859A true JP2006329859A (ja) | 2006-12-07 |
Family
ID=37451720
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005155348A Pending JP2006329859A (ja) | 2005-05-27 | 2005-05-27 | イオンコントロールセンサ |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20090015263A1 (ja) |
JP (1) | JP2006329859A (ja) |
KR (1) | KR20080010382A (ja) |
CN (1) | CN101180547B (ja) |
TW (1) | TWI265296B (ja) |
WO (1) | WO2006126285A1 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5463788B2 (ja) * | 2009-08-18 | 2014-04-09 | 富士通株式会社 | イオン分析装置、及びイオン分析方法 |
US9841450B2 (en) * | 2013-07-20 | 2017-12-12 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | Static electricity distribution measuring apparatus and static electricity distribution measuring method |
CN104698297B (zh) * | 2015-02-09 | 2018-05-04 | 南方电网科学研究院有限责任公司 | 一种大尺寸同轴电缆绝缘空间电荷测量的修正方法 |
US10251251B2 (en) * | 2016-02-03 | 2019-04-02 | Yi Jing Technology Co., Ltd | Electrostatic dissipation device with static sensing and method thereof |
EP3620786B1 (en) * | 2018-09-10 | 2022-11-16 | Nrd Llc | Ion sensor |
EP4012755A1 (en) * | 2020-12-11 | 2022-06-15 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Micro-semiconductor chip wetting align apparatus |
CN114545102B (zh) * | 2022-01-14 | 2023-04-28 | 深圳市中明科技股份有限公司 | 一种在线监控系统 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3824454A (en) * | 1971-10-18 | 1974-07-16 | Enviro Tech Sciences Inc | Calibrated electrostatic charge detector and method for measuring the strength of electrostatic fields |
IT1052888B (it) * | 1975-03-06 | 1981-07-20 | Berckheim Graf Von | Perfezionamento nei dispositivi rivelatori e misuratori di ioni |
JPS5979861A (ja) * | 1982-10-29 | 1984-05-09 | Kasuga Denki Kk | 静電気検出器 |
JP3049542B2 (ja) * | 1996-01-16 | 2000-06-05 | 有限会社優然 | プラスイオン、マイナスイオンの混合比を調節する方法 |
JPH11329783A (ja) * | 1998-05-18 | 1999-11-30 | Toshiba Electronic Engineering Corp | 帯電々荷中和方法及び帯電々荷中和装置 |
JP3336965B2 (ja) * | 1998-07-22 | 2002-10-21 | 株式会社村田製作所 | 電位センサ |
CN1195246C (zh) * | 2001-02-09 | 2005-03-30 | 诺日士钢机株式会社 | 胶片清洁器 |
-
2005
- 2005-05-27 JP JP2005155348A patent/JP2006329859A/ja active Pending
- 2005-06-13 WO PCT/JP2005/011195 patent/WO2006126285A1/ja active Application Filing
- 2005-06-13 US US11/886,692 patent/US20090015263A1/en not_active Abandoned
- 2005-06-13 KR KR1020077016325A patent/KR20080010382A/ko not_active Application Discontinuation
- 2005-06-13 CN CN2005800498853A patent/CN101180547B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2005-06-14 TW TW094119625A patent/TWI265296B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW200641364A (en) | 2006-12-01 |
WO2006126285A1 (ja) | 2006-11-30 |
CN101180547A (zh) | 2008-05-14 |
KR20080010382A (ko) | 2008-01-30 |
CN101180547B (zh) | 2011-03-09 |
TWI265296B (en) | 2006-11-01 |
US20090015263A1 (en) | 2009-01-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2006329859A (ja) | イオンコントロールセンサ | |
JP5909785B2 (ja) | イオン平衡測定及び調整のための遮蔽されたコンデンサ回路を有する電離平衡装置 | |
KR101167741B1 (ko) | 이온 생성 방법 및 장치 | |
JP5369888B2 (ja) | 静電容量センサの電極構造及びそれを用いた車両用近接センサ | |
US9404945B2 (en) | Ionization monitoring device | |
WO2003049509A1 (en) | Air ionizer and method | |
JP2007149419A (ja) | イオンバランス調整方法及びそれを用いたワークの除電方法 | |
JP2012186148A (ja) | 除電装置および方法 | |
JP5063050B2 (ja) | 静電容量型の検出装置 | |
KR101390130B1 (ko) | 공기 이온 측정 장치 | |
KR101833762B1 (ko) | 플라즈마 공정용 챔버 내부 관리 시스템 | |
WO2013187383A1 (ja) | 除電装置 | |
Takahashi et al. | Development of an ion measuring system for AC corona discharge | |
JPH10300803A (ja) | 帯電物の表面電位検出装置および該検出装置を用いた 除電装置 | |
Said et al. | Effect of wires number on corona discharge of an electrostatic precipitators | |
JP2009053074A (ja) | 電界検出装置 | |
JP3117459U7 (ja) | ||
Kolarž et al. | Zeroing and testing units developed for Gerdien atmospheric ion detectors | |
US20160196949A1 (en) | Atmospheric ionizer including a source that supplies electrical energy to an ion-generating structure without wires | |
JP3117459U (ja) | イオンセンサ及びそれを用いたイオナイザ制御装置並びにイオン量監視装置 | |
KR20170041214A (ko) | 폐루프 피드백 및 인터리빙된 샘플링에 의한 활성 이온화 제어 | |
JP5805027B2 (ja) | イオン生成装置及び異常放電検知方法 | |
JPH11345697A (ja) | 除電装置 | |
JP2010055848A (ja) | 除電器 | |
EP2775577B1 (en) | Ionization apparatus |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20071122 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20080313 |