JP2006326379A - Manufacturing method of electro-optical apparatus, droplet ejection apparatus and method of inspecting ejection quantity - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing method of an electro-optical apparatus capable of controlling the quantity of an ejected liquid appropriately, a droplet ejection apparatus and a method of inspecting the ejection quantity. <P>SOLUTION: A liquid ejection apparatus 20 has an ejection head 32 and ejects fine droplets toward a mother substrate 25 from the head 32. A weighing pan 47 for inspection of the ejection quantity is arranged on the substrate 25, and a carrying robot 41 moving the weighing pan 47 from the substrate 25 and a weighing instrument 42 for measurement of the weight of the liquid discharged from the head 32 to the weighing pan 47 are provided. Based on the weight of the liquid in the weighing pan 47, the weight of droplets ejected from the head 32 is calculated. When the calculated weight of fine droplets is out of a predetermined weight range, the ejection quantity of the head 32 is controlled according to the error of the weight of droplets. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、電気光学装置の製造方法、液滴吐出装置及び吐出量検査方法に関する。   The present invention relates to a method for manufacturing an electro-optical device, a droplet discharge device, and a discharge amount inspection method.

従来より、液晶表示装置や有機エレクトロルミネッセンス表示装置等の電気光学装置の製造方法として、インクジェット方式が採用されている。このインクジェット方式では、プロセスの簡略化・製造コストの軽減等の利点を有し、吐出ヘッドから液滴を基板に吐出して、液体中の分散質・溶質を基板に定着させることで、基板上に薄膜を形成する。   2. Description of the Related Art Conventionally, an inkjet method has been adopted as a method for manufacturing an electro-optical device such as a liquid crystal display device or an organic electroluminescence display device. This ink jet method has advantages such as simplification of the process and reduction of manufacturing costs. By ejecting droplets from the ejection head onto the substrate and fixing the dispersoids / solutes in the liquid to the substrate, A thin film is formed.

吐出ヘッドから吐出される液体は、予め吐出可能な粘度となるように調整されているが、液体の粘度は、製造工程の温度条件によって変化してしまう。液体の粘度変化は、吐出ヘッドから吐出された液滴の重量(吐出量)に影響を与えるため、基板に形成する薄膜の厚み等にばらつきが生じる問題がある。   The liquid discharged from the discharge head is adjusted in advance to have a dischargeable viscosity, but the viscosity of the liquid changes depending on the temperature conditions of the manufacturing process. Since the change in the viscosity of the liquid affects the weight (discharge amount) of the droplets discharged from the discharge head, there is a problem in that the thickness of the thin film formed on the substrate varies.

これに対し、ヒータ等の温度調節機構を吐出ヘッドの周囲等に設け、吐出ヘッド内の液体の温度を所定範囲内に保持することにより、粘度を安定化する方法が提案されている。また、特許文献1には、吐出ヘッドから吐出された液滴の重量を測定する製造装置が記載されている。この製造装置は、吐出ヘッドを往復動させる移動機構と、基板を載置したテーブルを吐出ヘッドの下方に搬送する移動機構と、吐出ヘッドの移動可能な領域のうち、基板を載置したテーブル以外の場所に、秤量皿を配設した重量測定装置とを備えている。そして、吐出ヘッドの検査を行うため、吐出ヘッドから秤量皿に液滴を吐出させて、吐出された液滴の重量を測定する。この液滴の重量が所定範囲外となる場合には、吐出ヘッドに印加される駆動電圧の大きさ又は波形を変更し、吐出量を調節する。
特開2004−4915号公報
On the other hand, a method of stabilizing the viscosity by providing a temperature adjusting mechanism such as a heater around the discharge head and maintaining the temperature of the liquid in the discharge head within a predetermined range has been proposed. Patent Document 1 describes a manufacturing apparatus that measures the weight of droplets ejected from an ejection head. This manufacturing apparatus includes a moving mechanism that reciprocates the ejection head, a moving mechanism that conveys a table on which the substrate is placed below the ejection head, and a table in which the ejection head is movable, other than the table on which the substrate is placed. Is provided with a weight measuring device provided with a weighing pan. Then, in order to inspect the ejection head, droplets are ejected from the ejection head to the weighing pan, and the weight of the ejected droplets is measured. When the weight of the droplet is out of the predetermined range, the magnitude or waveform of the drive voltage applied to the ejection head is changed to adjust the ejection amount.
JP 2004-4915 A

ところが、上記した方法では、重量測定による検査工程での条件と、実際に基板に液体を吐出する吐出工程での条件とが異なることがある。例えば、ヘッド等に温度調節機構が具備されている場合、温度調節機構からの熱が、基板とヘッドとの間に蓄積され、局所的に温度が高くなる。このため、検査工程のときの液体の粘度と、実際に基板に液滴を吐出する吐出工程の液体の粘度との差異が大きくなり、液体の重量、即ち吐出量が変化してしまう。このように、検査工程及び実際の吐出工程の各条件の僅かな相違が、膜厚等の誤差の原因となる。   However, in the above-described method, the conditions in the inspection process based on the weight measurement may differ from the conditions in the discharge process for actually discharging the liquid onto the substrate. For example, when the head or the like is provided with a temperature adjustment mechanism, heat from the temperature adjustment mechanism is accumulated between the substrate and the head, and the temperature locally increases. For this reason, the difference between the viscosity of the liquid in the inspection process and the viscosity of the liquid in the discharge process for actually discharging droplets onto the substrate increases, and the weight of the liquid, that is, the discharge amount changes. Thus, slight differences in the conditions of the inspection process and the actual discharge process cause errors such as film thickness.

本発明は、上記問題点を鑑みてなされたものであり、その目的は、液体吐出量を適切に制御することができる電気光学装置の製造方法、液滴吐出装置及び吐出量検査方法を提供することにある。   SUMMARY An advantage of some aspects of the invention is that it provides an electro-optical device manufacturing method, a droplet discharge device, and a discharge amount inspection method capable of appropriately controlling a liquid discharge amount. There is.

本発明は、液滴吐出ヘッドから基板に向って液滴を吐出する工程を有する電気光学装置の製造方法において、前記液滴吐出ヘッドが前記基板に液滴を吐出する際の属性条件と、同じ属性条件を設定して、吐出量検査のために前記液滴吐出ヘッドから液滴を吐出し、前記液滴吐出ヘッドから吐出された液滴の重量を算出し、算出された前記液滴の重量に応じて、前記液滴吐出ヘッドの吐出量を制御する。   The present invention relates to an electro-optical device manufacturing method including a step of discharging droplets from a droplet discharge head toward a substrate, and has the same attribute condition as when the droplet discharge head discharges droplets onto the substrate Set attribute conditions, discharge droplets from the droplet discharge head for discharge amount inspection, calculate the weight of the droplets discharged from the droplet discharge head, and calculate the weight of the droplets Accordingly, the discharge amount of the droplet discharge head is controlled.

これによれば、液滴吐出ヘッドが基板に液滴を吐出する際の属性条件と、同じ属性条件
を設定し、液滴吐出ヘッドから、吐出量検査のために液滴を吐出する。そして、液滴の重量を算出し、算出された液滴重量に応じて、液滴吐出ヘッドの吐出量を制御する。即ち、吐出量検査の際に、実際の吐出工程と同じ条件下で液滴を吐出するので、検査工程で算出された液滴の重量と、電気光学装置の製造工程において吐出される液滴の重量との誤差を小さくすることができる。そして、液滴重量の誤差を液滴吐出ヘッドの吐出量に反映させるので、電気光学装置の製造工程で生ずる誤差を小さくすることができる。
According to this, the same attribute condition as the attribute condition when the droplet discharge head discharges the droplet onto the substrate is set, and the droplet is discharged from the droplet discharge head for the discharge amount inspection. Then, the droplet weight is calculated, and the discharge amount of the droplet discharge head is controlled in accordance with the calculated droplet weight. That is, during the ejection amount inspection, the droplets are ejected under the same conditions as in the actual ejection process, so the weight of the droplets calculated in the inspection process and the droplets ejected in the electro-optical device manufacturing process The error from the weight can be reduced. Since the error of the droplet weight is reflected in the discharge amount of the droplet discharge head, the error generated in the manufacturing process of the electro-optical device can be reduced.

この製造方法において、前記基板上に秤量器を配置し、前記液滴吐出ヘッドが前記基板上に配置された前記秤量器に向かって液滴を吐出し、前記秤量器内の液体の重量に基づいて、前記液滴吐出ヘッドから吐出された液滴の重量を算出する。   In this manufacturing method, a weighing device is disposed on the substrate, and the droplet discharge head ejects droplets toward the weighing device disposed on the substrate, and is based on the weight of the liquid in the weighing device. Then, the weight of the droplet discharged from the droplet discharge head is calculated.

これによれば、液滴吐出ヘッドは、基板上に配置された秤量器に液滴を吐出するので、液滴吐出ヘッドが実際に基板に液滴を吐出する際の条件に、より即した条件下で吐出量検査を行うことができる。   According to this, since the droplet discharge head discharges droplets to the weighing device disposed on the substrate, the conditions more closely match the conditions when the droplet discharge head actually discharges the droplets onto the substrate. The discharge amount inspection can be performed below.

この電気光学装置の製造方法において、吐出量検査のための秤量器を、前記液滴吐出ヘッドの移動可能範囲内に設けられた吐出量検査領域に配置し、前記吐出量検査領域を、前記液滴吐出ヘッドが前記基板に向って液滴を吐出する際の温度と同じ温度に設定する。   In this method of manufacturing an electro-optical device, a weigher for discharging amount inspection is disposed in a discharging amount inspection region provided within a movable range of the droplet discharging head, and the discharging amount inspection region is disposed in the liquid amount inspection region. The temperature is set to the same temperature as when the droplet discharge head discharges droplets toward the substrate.

これによれば、吐出量検査のための秤量器を、液滴吐出ヘッドの移動可能範囲内に設けられた吐出量検査領域に配置し、吐出量検査領域を、液滴吐出ヘッドが基板に向って液滴を吐出する際の温度条件と同じ温度に設定する。このため、液滴量が、温度によって変化する場合に、液滴吐出ヘッドが基板に液滴を吐出する際の吐出条件に、より即した条件下で吐出量検査を行うことができる。   According to this, the weighing device for the discharge amount inspection is arranged in the discharge amount inspection region provided within the movable range of the droplet discharge head, and the discharge amount inspection region is directed toward the substrate. Then, the temperature is set to the same temperature as that for discharging the droplet. For this reason, when the droplet amount changes depending on the temperature, the discharge amount inspection can be performed under conditions more suitable for the discharge conditions when the droplet discharge head discharges droplets onto the substrate.

本発明は、基板に向って液滴を吐出する液滴吐出ヘッドと、吐出量検査のための秤量器を前記基板上に配置するとともに、その秤量器を前記基板上から移動させる移動手段と、前記液滴吐出ヘッドから前記秤量器内に吐出された液体の重量を測定する測定手段と、前記秤量器内の液体の重量に基づいて、前記液滴吐出ヘッドから吐出された液滴の重量を算出する演算手段と、算出された前記液滴の重量に応じて前記液滴吐出ヘッドの吐出量を制御するヘッド制御手段とを備えた。   The present invention provides a droplet discharge head for discharging droplets toward a substrate, a weighing unit for discharging amount inspection on the substrate, and a moving means for moving the weighing device from the substrate, Measuring means for measuring the weight of the liquid discharged from the droplet discharge head into the weighing instrument, and the weight of the droplet discharged from the droplet discharge head based on the weight of the liquid in the weighing instrument. A calculating means for calculating and a head control means for controlling the discharge amount of the droplet discharge head in accordance with the calculated weight of the droplet.

これによれば、液滴吐出装置は、吐出量検査のための秤量器を基板上に配置及び移動させる移動手段と、秤量器内の液体の重量を測定する測定手段とを備える。また、秤量器内の液体の重量に基づいて、液滴吐出ヘッドから吐出された液滴の重量を算出する演算手段と、液滴重量に応じて液滴吐出ヘッドの吐出量を制御するヘッド制御手段とを備える。このため、吐出量検査を、液滴吐出ヘッドが実際に基板に液滴を吐出する際の条件に、より即した条件下で行うことができる。そして、その検査結果に基づいて、実際の液滴吐出ヘッドの吐出量を制御するので、実際の吐出工程の液滴重量との誤差をより小さくすることができる。   According to this, the droplet discharge device includes a moving unit that disposes and moves a weighing unit for discharging amount inspection on the substrate, and a measuring unit that measures the weight of the liquid in the weighing unit. In addition, calculation means for calculating the weight of the droplet discharged from the droplet discharge head based on the weight of the liquid in the weighing device, and head control for controlling the discharge amount of the droplet discharge head according to the droplet weight Means. For this reason, the ejection amount inspection can be performed under a condition that more closely matches the conditions under which the droplet ejection head actually ejects droplets onto the substrate. Since the actual discharge amount of the droplet discharge head is controlled based on the inspection result, the error from the droplet weight in the actual discharge step can be further reduced.

この液滴吐出装置において、前記液滴吐出ヘッドに液体を供給する液体供給手段と、前記液体供給手段から前記液滴吐出ヘッドまでのうち、少なくとも一部を加熱する加熱手段とを備えた。   The droplet discharge apparatus includes a liquid supply unit that supplies a liquid to the droplet discharge head and a heating unit that heats at least a part of the liquid discharge unit to the droplet discharge head.

これによれば、液滴吐出装置は、液体供給手段と、液体供給手段から液滴吐出ヘッドまでのうち、少なくとも一部を加熱する加熱手段とを備える。このため、温度変化によって吐出特性が変化してしまう液体を使用する場合に、吐出条件を安定化することができる。しかも、加熱手段による雰囲気の温度勾配が生じることによって、検査での吐出量と実際の吐出量との間で誤差が生じやすい場合に、吐出量検査を基板上で行うので、特に効果を
発揮できる。
According to this, the droplet discharge device includes a liquid supply unit and a heating unit that heats at least a part of the liquid supply unit to the droplet discharge head. For this reason, when using a liquid whose discharge characteristics change due to a temperature change, the discharge conditions can be stabilized. In addition, when the temperature gradient of the atmosphere caused by the heating means is generated and an error is likely to occur between the discharge amount in the inspection and the actual discharge amount, the discharge amount inspection is performed on the substrate, so that it is particularly effective. .

本発明は、基板に向って液滴を吐出する液滴吐出ヘッドと、前記液滴吐出ヘッドを移動するヘッド移動機構と、前記液滴吐出ヘッドに液体を供給する液体供給手段と、前記液体供給手段から前記液滴吐出ヘッドまでのうち、少なくとも一部を加熱する加熱手段と、吐出量検査のための秤量器が配設された吐出量検査領域を、前記液滴吐出ヘッドが前記基板に液滴を吐出する温度条件と同じ温度条件にする温度調節手段と、前記液滴吐出ヘッドから前記秤量器内に吐出された液体の重量を測定する測定手段と、前記秤量器内の液体の重量に基づいて、前記液滴吐出ヘッドから吐出された液滴の重量を算出する演算手段と、算出された前記液滴の重量に応じて前記液滴吐出ヘッドの吐出量を制御するヘッド制御手段とを備えた。   The present invention includes a droplet discharge head that discharges a droplet toward a substrate, a head moving mechanism that moves the droplet discharge head, a liquid supply unit that supplies a liquid to the droplet discharge head, and the liquid supply The droplet discharge head is disposed on the substrate with a discharge amount inspection region in which a heating unit for heating at least a part of the droplet discharge head and a weighing device for discharge amount inspection are disposed. Temperature adjusting means for setting the same temperature condition as the temperature condition for discharging droplets, measuring means for measuring the weight of the liquid discharged from the droplet discharge head into the weighing instrument, and the weight of the liquid in the weighing instrument. And calculating means for calculating the weight of the droplet discharged from the droplet discharge head, and a head control means for controlling the discharge amount of the droplet discharge head according to the calculated weight of the droplet. Prepared.

これによれば、吐出量検査のための秤量器を、液滴吐出ヘッドの移動可能範囲内に設けられた吐出量検査領域に配置し、吐出量検査領域を、液滴吐出ヘッドが基板に向って液滴を吐出する際の温度条件と同じ温度に設定する。このため、液滴量が、温度によって変化する場合に、液滴吐出ヘッドが基板に液滴を吐出する際の吐出条件に、より即した条件下で吐出量検査を行うことができる。   According to this, the weighing device for the discharge amount inspection is arranged in the discharge amount inspection region provided within the movable range of the droplet discharge head, and the discharge amount inspection region is directed toward the substrate. Then, the temperature is set to the same temperature as that for discharging the droplet. For this reason, when the droplet amount changes depending on the temperature, the discharge amount inspection can be performed under conditions more suitable for the discharge conditions when the droplet discharge head discharges droplets onto the substrate.

本発明は、基板に液滴を吐出する液滴吐出ヘッドの吐出量を検査する吐出量検査方法において、前記液滴吐出ヘッドが前記基板に液滴を吐出する際の属性条件と、同じ属性条件を設定して、吐出量検査のために前記液滴吐出ヘッドから液滴を吐出し、前記液滴吐出ヘッドから吐出された液滴の重量を算出する。   The present invention relates to an ejection amount inspection method for inspecting an ejection amount of a droplet ejection head that ejects droplets onto a substrate, and the same attribute condition as an attribute condition when the droplet ejection head ejects droplets onto the substrate Is set to discharge a droplet from the droplet discharge head for discharge amount inspection, and the weight of the droplet discharged from the droplet discharge head is calculated.

これによれば、液滴吐出ヘッドが基板に液滴を吐出する際の属性条件と同じ属性条件を設定して、吐出量検査のために液滴を吐出させ、その液滴の重量を算出する。このため、液滴吐出ヘッドが実際に基板に液滴を吐出する際の条件に、より即した条件下で吐出量検査を行うことができる。   According to this, the same attribute condition as the attribute condition when the droplet discharge head discharges the droplet onto the substrate is set, the droplet is discharged for the discharge amount inspection, and the weight of the droplet is calculated. . For this reason, it is possible to perform a discharge amount inspection under a condition that more closely matches the condition when the droplet discharge head actually discharges the droplet onto the substrate.

以下、本発明の電気光学装置の製造方法、液滴吐出装置及び吐出量検査方法を、液晶表示装置を製造する装置に具体化した一実施形態を図1〜図8に従って説明する。図1は、電気光学装置としての液晶表示装置1の概略図、図2は液晶表示装置1の要部断面図である。   Hereinafter, an embodiment in which an electro-optical device manufacturing method, a droplet discharge device, and a discharge amount inspection method according to the present invention are embodied in an apparatus for manufacturing a liquid crystal display device will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is a schematic view of a liquid crystal display device 1 as an electro-optical device, and FIG.

図1及び図2に示すように、液晶表示装置1は、透明の素子基板2と対向基板3とを備えている。図1に示すように、素子基板2の素子形成面2aであって、図中上側には、信号生成回路4a、電圧制御回路4bが形成されている。また、素子基板2は、その素子形成面2aの左右両側に1対の走査線駆動回路4cが形成され、下側に信号線駆動回路4dが形成されている。そして、素子基板2には、各回路4a〜4dに囲まれた領域内に、液晶封入領域25c(図7参照)が形成され、その液晶封入領域25cと相対向するように対向基板3が配設されている。液晶封入領域25cには、左右方向に延びる複数の走査線(図示せず)が所定の間隔をおいて形成され、その各走査線が走査線駆動回路4cに接続されている。また、液晶封入領域25cには、上下方向に延びる複数のデータ線(図示せず)が所定の間隔をおいて形成され、信号線駆動回路4dに接続されている。そして、走査線とデータ線の交差する位置には、対応する走査線及びデータ線に接続されて、n行×m列のマトリクス状に配設された複数の画素領域が形成されている。各画素領域内には、それぞれTFT等からなる図示しない制御素子と、ITO等の透明導電膜からなる画素電極(図示せず)が形成されている。さらに、素子基板2及び対向基板3の外側には、図示しない1対の偏光板が設けられている。   As shown in FIGS. 1 and 2, the liquid crystal display device 1 includes a transparent element substrate 2 and a counter substrate 3. As shown in FIG. 1, a signal generation circuit 4a and a voltage control circuit 4b are formed on the element formation surface 2a of the element substrate 2 on the upper side in the drawing. The element substrate 2 has a pair of scanning line drive circuits 4c formed on the left and right sides of the element formation surface 2a, and a signal line drive circuit 4d formed on the lower side. In the element substrate 2, a liquid crystal sealing region 25c (see FIG. 7) is formed in a region surrounded by the circuits 4a to 4d, and the counter substrate 3 is arranged so as to face the liquid crystal sealing region 25c. It is installed. In the liquid crystal sealing region 25c, a plurality of scanning lines (not shown) extending in the left-right direction are formed at predetermined intervals, and each scanning line is connected to the scanning line driving circuit 4c. In the liquid crystal sealing region 25c, a plurality of data lines (not shown) extending in the vertical direction are formed at predetermined intervals and connected to the signal line driving circuit 4d. A plurality of pixel regions arranged in a matrix of n rows × m columns are formed at positions where the scan lines and the data lines intersect with each other, corresponding to the scan lines and the data lines. In each pixel region, a control element (not shown) made of a TFT and a pixel electrode (not shown) made of a transparent conductive film such as ITO are formed. Further, a pair of polarizing plates (not shown) are provided outside the element substrate 2 and the counter substrate 3.

図2に示すように、素子基板2の液晶封入領域25cには、画素電極5と、図示しない画素トランジスタとが形成されている。画素電極5の上には、図示しない配向膜が形成されている。素子基板2と対向基板3との間には、シール材7が液晶封入領域25cを囲むように介在することにより空間が形成されている。シール材7は、図示しない球状の導電性粒子からなるスペーサを含み、素子形成面2a上に矩形状に形成されている。シール材7により形成された空間には、液晶8が封入されている。また、素子基板2の素子形成面2aの反対側の面には、図示しないバックライトが配設されている。   As shown in FIG. 2, the pixel electrode 5 and a pixel transistor (not shown) are formed in the liquid crystal sealing region 25 c of the element substrate 2. An alignment film (not shown) is formed on the pixel electrode 5. A space is formed between the element substrate 2 and the counter substrate 3 by interposing the sealing material 7 so as to surround the liquid crystal sealing region 25c. The sealing material 7 includes a spacer made of spherical conductive particles (not shown) and is formed in a rectangular shape on the element forming surface 2a. Liquid crystal 8 is sealed in the space formed by the sealing material 7. A backlight (not shown) is disposed on the surface of the element substrate 2 opposite to the element formation surface 2a.

図2に示すように、対向基板3は、素子基板2側の面(対向電極形成面3a)に、カラーフィルタ10が設けられている。カラーフィルタ10は、素子基板2の各画素領域を囲むように形成されたブラックマトリクスKと、ブラックマトリクスKの間に形成された赤色フィルタ層R、緑色フィルタ層G及び青色フィルタ層Bを備えている。各フィルタ層R,G,B及びブラックマトリクスKの下側には光透過性を有する保護膜11と、ITO等の透明導電層からなる対向電極12とが形成されている。対向電極12の下側には、ラビング処理等による配向処理の施された図示しない配向膜が積層されていて、液晶8の配向を所定の配向に設定するようになっている。   As shown in FIG. 2, the counter substrate 3 is provided with a color filter 10 on the surface (counter electrode forming surface 3a) on the element substrate 2 side. The color filter 10 includes a black matrix K formed so as to surround each pixel region of the element substrate 2, and a red filter layer R, a green filter layer G, and a blue filter layer B formed between the black matrices K. Yes. On the lower side of each filter layer R, G, B and black matrix K, a protective film 11 having optical transparency and a counter electrode 12 made of a transparent conductive layer such as ITO are formed. On the lower side of the counter electrode 12, an alignment film (not shown) subjected to an alignment process such as a rubbing process is laminated, and the alignment of the liquid crystal 8 is set to a predetermined alignment.

次に、液晶表示装置1を製造する液滴吐出装置20について、図3〜図6に従って説明する。図3は、液滴吐出装置20の斜視図である。液滴吐出装置20は、略直方体形状の基台21を備えている。基台21には、1対の案内溝22が形成されている。以下、この案内溝22が延びる方向を、Y矢印方向とし、その水平面においてY矢印方向と直交する方向をX矢印方向とする。   Next, the droplet discharge device 20 for manufacturing the liquid crystal display device 1 will be described with reference to FIGS. FIG. 3 is a perspective view of the droplet discharge device 20. The droplet discharge device 20 includes a base 21 having a substantially rectangular parallelepiped shape. A pair of guide grooves 22 is formed in the base 21. Hereinafter, the direction in which the guide groove 22 extends is defined as the Y arrow direction, and the direction orthogonal to the Y arrow direction in the horizontal plane is defined as the X arrow direction.

基台21の上には、基板ステージ23が取り付けられている。基板ステージ23と、基台21との間には、駆動機構が備えられている。この駆動機構は、Y矢印方向に延びるネジ軸と、同ネジ軸と螺合するボールナットを備え、ネジ軸は、ステッピングモータからなるY軸モータMY(図6参照)に連結されている。そして、所定のステップ数に相当する駆動信号がY軸モータMYに入力されると、Y軸モータMYが正転又は逆転して、基板ステージ23は、入力されたステップ数に相当する分だけ、基台21にY矢印方向に延びる案内溝22に沿って往動又は復動するようになっている。   A substrate stage 23 is attached on the base 21. A drive mechanism is provided between the substrate stage 23 and the base 21. This drive mechanism includes a screw shaft extending in the Y-arrow direction and a ball nut screwed to the screw shaft, and the screw shaft is coupled to a Y-axis motor MY (see FIG. 6) formed of a stepping motor. Then, when a drive signal corresponding to a predetermined number of steps is input to the Y-axis motor MY, the Y-axis motor MY rotates forward or reversely, and the substrate stage 23 is equivalent to the input number of steps. The base 21 moves forward or backward along a guide groove 22 extending in the Y arrow direction.

基板ステージ23の上面は、載置面24となっている。載置面24には、図示しない吸引式の基板チャック機構が設けられている。この載置面24には、基板としての円盤状のマザー基板25が配置される。尚、マザー基板25は、数十個の液晶表示装置1を形成するためのガラス透明基板であって、配向膜、シール材7が既に形成されている。また、四角枠状に形成された各シール材7により、各液晶表示装置1の各液晶封入領域25cが区画形成され、マザー基板25上にマトリクス状に配置されている。尚、ここでは、マザー基板25上において、液晶封入領域25c及びシール材7以外の領域を、液晶封入領域25cを取り囲む周辺領域25dとする。   The upper surface of the substrate stage 23 is a mounting surface 24. The mounting surface 24 is provided with a suction-type substrate chuck mechanism (not shown). A disc-shaped mother substrate 25 as a substrate is disposed on the mounting surface 24. The mother substrate 25 is a glass transparent substrate for forming several tens of liquid crystal display devices 1, and an alignment film and a sealing material 7 are already formed thereon. In addition, the liquid crystal sealing regions 25c of the liquid crystal display devices 1 are partitioned by the sealing materials 7 formed in a square frame shape, and are arranged on the mother substrate 25 in a matrix. Here, on the mother substrate 25, a region other than the liquid crystal sealing region 25c and the sealing material 7 is a peripheral region 25d surrounding the liquid crystal sealing region 25c.

さらに、基板ステージ23内には、第1のヒータH1が内蔵されている。第1のヒータH1は、基板ステージ23に設けられた第1の温度センサS1(図6参照)が検出した温度に基づいて、基板ステージ23を所定温度範囲内に温度調節し、載置面24に載置されたマザー基板25を加熱するようになっている。   Furthermore, a first heater H1 is built in the substrate stage 23. The first heater H1 adjusts the temperature of the substrate stage 23 within a predetermined temperature range based on the temperature detected by the first temperature sensor S1 (see FIG. 6) provided on the substrate stage 23, and places the placement surface 24. The mother board 25 placed on the board is heated.

また、基台21の外側には、基板位置検出装置38(図6参照)が配設されている。基板位置検出装置38は、例えば、検出ビームを射出する発光部と、その反射光を受光する受光部(いずれも図示せず)とを備えている。そして、搬送されたマザー基板25が検出ビームを遮光することにより、マザー基板25の端縁を検出するようになっている。   A substrate position detection device 38 (see FIG. 6) is disposed outside the base 21. The substrate position detection device 38 includes, for example, a light emitting unit that emits a detection beam and a light receiving unit (none of which is shown) that receives the reflected light. The conveyed mother substrate 25 shields the detection beam, thereby detecting the edge of the mother substrate 25.

基台21の両側には、1対の支持台27,28が立設されている。これらの支持台27,28には、X矢印方向に延びるヘッド移動機構を構成する案内部材29が架設されている。案内部材29は、基台21の幅(X矢印方向の長さ)よりも長く形成され、その一端が支持台27側に張り出すように配置されている。   A pair of support bases 27 and 28 are erected on both sides of the base 21. A guide member 29 that constitutes a head moving mechanism extending in the direction of the arrow X is installed on the support bases 27 and 28. The guide member 29 is formed longer than the width of the base 21 (the length in the X arrow direction), and one end of the guide member 29 is disposed so as to protrude toward the support base 27.

案内部材29の側面には、ヘッド移動機構を構成するX矢印方向に延びる上下一対の案内レール30が突設されている。この案内レール30には、キャリッジ31が取り付けられ、その案内レール30とキャリッジ31との間には直動機構が設けられている。直動機構は、X矢印方向に延びるネジ軸と、ネジ軸に螺合するボールナットとを備え、ネジ軸は、ヘッド移動機構を構成するX軸モータMXに(図6参照)連結されている。そして、所定のステップ数に相当する駆動信号をX軸モータMXに入力すると、X軸モータMXが正転又は逆転して、キャリッジ31がステップ数に相当する分だけX矢印方向に沿って往動又は復動する。   On the side surface of the guide member 29, a pair of upper and lower guide rails 30 extending in the direction of the arrow X that constitutes the head moving mechanism are projected. A carriage 31 is attached to the guide rail 30, and a linear motion mechanism is provided between the guide rail 30 and the carriage 31. The linear motion mechanism includes a screw shaft extending in the X arrow direction and a ball nut screwed to the screw shaft, and the screw shaft is connected to an X-axis motor MX (see FIG. 6) constituting the head moving mechanism. . When a drive signal corresponding to a predetermined number of steps is input to the X-axis motor MX, the X-axis motor MX rotates forward or reverse, and the carriage 31 moves forward along the X arrow direction by the amount corresponding to the number of steps. Or return.

キャリッジ31の下面には、液滴吐出ヘッドとしての吐出ヘッド32が設けられている。吐出ヘッド32は、図5に示すように、その下面にノズルプレート33を備えている。ノズルプレート33には、例えば180個のノズル(図示せず)がX矢印方向に一列に形成されている。   An ejection head 32 as a droplet ejection head is provided on the lower surface of the carriage 31. As shown in FIG. 5, the ejection head 32 includes a nozzle plate 33 on the lower surface thereof. In the nozzle plate 33, for example, 180 nozzles (not shown) are formed in a row in the X arrow direction.

また、吐出ヘッド32は、各ノズルにそれぞれ対応する貯留室(図示せず)と、圧電素子PZと(図6参照)を備えている。貯留室は、吐出ヘッド32に供給された液晶を一時貯留するようになっている。そして、圧電素子PZが、印加された駆動波形に応じて変形すると、貯留室内の液体としての液晶が、図5に示すような液滴としての微小液滴D1となって吐出される。   Further, the ejection head 32 includes a storage chamber (not shown) corresponding to each nozzle, and a piezoelectric element PZ (see FIG. 6). The storage chamber temporarily stores the liquid crystal supplied to the ejection head 32. Then, when the piezoelectric element PZ is deformed according to the applied driving waveform, the liquid crystal as the liquid in the storage chamber is discharged as a fine liquid droplet D1 as a liquid droplet as shown in FIG.

さらに、図5に示すように、キャリッジ31には、吐出ヘッド32を加熱するための第2のヒータH2が吐出ヘッド32の周囲を取り囲むように設けられている。第2のヒータH2は、吐出ヘッド32内の高粘度の液晶を加熱して、低粘度化し、吐出性を良好にするようになっている。また、第2のヒータH2は、第2の温度センサS2(図6参照)が検出した温度に基づいて加熱制御され、吐出ヘッド32内の液晶の温度調節を行うようになっている。   Further, as shown in FIG. 5, the carriage 31 is provided with a second heater H <b> 2 for heating the ejection head 32 so as to surround the circumference of the ejection head 32. The second heater H2 heats the high-viscosity liquid crystal in the discharge head 32 to reduce the viscosity and improve the discharge property. The second heater H2 is heated and controlled based on the temperature detected by the second temperature sensor S2 (see FIG. 6), and adjusts the temperature of the liquid crystal in the discharge head 32.

また、図3に示すように、案内部材29の上側には、液体供給手段を構成する収容タンク35が配設され、その収容タンク35には、吐出ヘッド32に供給する液晶が貯留されている。収容タンク35には、キャリッジ31に液晶を供給する図示しない供給機構が連結されている。   As shown in FIG. 3, a storage tank 35 that constitutes a liquid supply unit is disposed above the guide member 29, and liquid crystal to be supplied to the ejection head 32 is stored in the storage tank 35. . A supply mechanism (not shown) that supplies liquid crystal to the carriage 31 is connected to the storage tank 35.

また、収容タンク35には、加熱手段としての第3のヒータH3が設けられている。第3のヒータH3は、収容タンク35内の液晶を加熱し、例えば、液晶の粘度が2〜20cpsになるような温度にする。さらに、収容タンク35には、第3の温度センサS3(図6参照)が設けられ、第3の温度センサS3は、収容タンク35内の液温を測定する。そして、基板ステージ23及び吐出ヘッド32に設けられた第1及び第2のヒータH1,H2は、収容タンク35で加熱された液晶の温度が下がらないように、温度を所定範囲内に保持している。   The storage tank 35 is provided with a third heater H3 as a heating means. The third heater H3 heats the liquid crystal in the storage tank 35, for example, to a temperature at which the viscosity of the liquid crystal is 2 to 20 cps. Further, the storage tank 35 is provided with a third temperature sensor S3 (see FIG. 6), and the third temperature sensor S3 measures the liquid temperature in the storage tank 35. The first and second heaters H1 and H2 provided on the substrate stage 23 and the ejection head 32 maintain the temperature within a predetermined range so that the temperature of the liquid crystal heated in the storage tank 35 does not decrease. Yes.

また、図3に示すように、液滴吐出装置20は、検査機構40を備えている。検査機構40は、移動手段としての搬送ロボット41と、測定手段としての重量測定装置42とを有している。搬送ロボット41は、基台43と、基台43に配設された支持部44と、支持部44に取り付けられたアーム部45とを有している。アーム部45は、2つの腕部から構成され、略中央で屈曲可能になっており、第1〜第4検査用モータMZ1〜MZ4(
図6参照)を駆動源として駆動する。第1検査用モータMZ1は、支持部44を中心にアーム部45を約360度回転可能になっている。また、第2検査用モータMZ2は、支持部44をZ矢印方向に往復動させることによってアーム部45を上下動させるようになっている。さらに、第3検査用モータMZ3は、アーム部45の2つの腕部のなす角度を制御する。さらにまた、第4検査用モータMZ4は、アーム部45の先端に設けた開閉可能なクランプ部46を開閉駆動する。
As shown in FIG. 3, the droplet discharge device 20 includes an inspection mechanism 40. The inspection mechanism 40 includes a transport robot 41 as a moving unit and a weight measuring device 42 as a measuring unit. The transfer robot 41 includes a base 43, a support part 44 disposed on the base 43, and an arm part 45 attached to the support part 44. The arm part 45 is composed of two arm parts, and is bendable at substantially the center. The first to fourth inspection motors MZ1 to MZ4 (
(See FIG. 6). The first inspection motor MZ1 can rotate the arm portion 45 about 360 degrees around the support portion 44. The second inspection motor MZ2 moves the arm portion 45 up and down by reciprocating the support portion 44 in the Z arrow direction. Further, the third inspection motor MZ3 controls the angle formed by the two arm portions of the arm portion 45. Furthermore, the fourth inspection motor MZ4 drives to open and close the clamp unit 46 that can be opened and closed provided at the tip of the arm unit 45.

搬送ロボット41は、図示しない収容部に収容された秤量器としての秤量皿47を、クランプ部46によって把持し、図4中実線で示すように、基板ステージ23上に載置されたマザー基板25の上に秤量皿47を運び、図3に示すように秤量皿47を周辺領域25dに載置する。秤量皿47は、アルミニウム等の軽量金属からなり、直径数センチメートルの円形状に形成されている。この秤量皿47は、基板ステージ23の移動により、図5に示すように吐出ヘッド32の下方まで搬送され、吐出ヘッド32から吐出量検査のために吐出された微小液滴D1を受け止めるようになっている。   The transfer robot 41 grips a weighing pan 47 as a weighing device accommodated in a housing unit (not shown) by a clamp unit 46, and the mother substrate 25 placed on the substrate stage 23 as shown by a solid line in FIG. The weighing dish 47 is carried on the surface, and the weighing dish 47 is placed on the peripheral region 25d as shown in FIG. The weighing pan 47 is made of a lightweight metal such as aluminum and is formed in a circular shape having a diameter of several centimeters. As shown in FIG. 5, the weighing pan 47 is transported to the lower side of the discharge head 32 as shown in FIG. ing.

また、搬送ロボット41は、吐出ヘッド32から吐出された液晶が入っている秤量皿47をクランプ部46によって把持し、図4中2点鎖線で示すように、アーム部45の回転により、秤量皿47を重量測定装置42上に置くようになっている。重量測定装置42は、例えば、電子天秤であって、液体の入った秤量皿47の重量を測定する。そして、予め測定した空の秤量皿47の重量を差し引いて、秤量皿47に入った液体の重量を算出する。   Further, the transfer robot 41 holds the weighing pan 47 containing the liquid crystal discharged from the discharge head 32 by the clamp unit 46 and rotates the arm unit 45 as indicated by a two-dot chain line in FIG. 47 is placed on the weight measuring device 42. The weight measuring device 42 is an electronic balance, for example, and measures the weight of the weighing pan 47 containing the liquid. Then, the weight of the liquid that has entered the weighing dish 47 is calculated by subtracting the weight of the empty weighing dish 47 measured in advance.

次に、液滴吐出装置20の電気的構成を図6に従って説明する。液滴吐出装置20は、制御装置50を備えている。制御装置50は、ヘッド制御手段及び演算手段としての制御部51と、各種データを受信するI/F部52とを備えている。さらに、DRAM及びSRAMからなるRAM53、各種制御プログラムを格納するROM54、各種データを出力するI/F部55を備えている。   Next, the electrical configuration of the droplet discharge device 20 will be described with reference to FIG. The droplet discharge device 20 includes a control device 50. The control device 50 includes a control unit 51 as a head control unit and a calculation unit, and an I / F unit 52 that receives various data. Further, a RAM 53 including DRAM and SRAM, a ROM 54 for storing various control programs, and an I / F unit 55 for outputting various data are provided.

制御部51は、CPU等からなり、I/F部52を介して、基板位置検出装置38から端縁検出信号を受信すると、マザー基板25が初期位置に到達したと判断する。そして、制御部51は、I/F部55を介して、Y軸モータ駆動回路56を駆動し、Y軸モータMYを回転させて、基板ステージ23をY矢印方向の所望の位置に導く。また、制御部51は、I/F部55を介して、ヘッド制御手段を構成するX軸モータ駆動回路57を駆動し、X軸モータMXを回転させて、キャリッジ31をマザー基板25上であって、X矢印方向の所望の位置に移動する。吐出量検査の場合には、制御部51は、ROM54に格納された検査プログラムに従って、Y軸モータ駆動回路56及びX軸モータ駆動回路57を駆動して、マザー基板25を所定の位置に移動させる。   The control unit 51 includes a CPU or the like, and determines that the mother board 25 has reached the initial position when receiving an edge detection signal from the board position detection device 38 via the I / F unit 52. Then, the control unit 51 drives the Y-axis motor drive circuit 56 via the I / F unit 55 and rotates the Y-axis motor MY to guide the substrate stage 23 to a desired position in the Y arrow direction. Further, the control unit 51 drives the X-axis motor drive circuit 57 constituting the head control means via the I / F unit 55 to rotate the X-axis motor MX, so that the carriage 31 is placed on the mother board 25. To the desired position in the direction of the arrow X. In the case of the discharge amount inspection, the control unit 51 drives the Y-axis motor drive circuit 56 and the X-axis motor drive circuit 57 according to the inspection program stored in the ROM 54 to move the mother board 25 to a predetermined position. .

また、制御部51は、重量測定装置42から、秤量皿47内の液晶の重量を示す測定データをI/F部52を介して取得する。制御部51は、検査プログラムに基づき、液晶重量を吐出液滴数で除算する。吐出液滴数は、検査の際に吐出ヘッド32から吐出される液滴数を示し、例えば5000滴等のように予め定められ、ROM54に格納されている。制御部51は、液滴あたりの重量を算出すると、その重量が、基準値を中心とした所定重量範囲内に収まるか否かを判断する。液滴(液晶)の重量が、所定重量範囲内に収まる場合には、そのとき吐出ヘッド32の圧電素子PZに印加された駆動電圧を維持する。液滴(液晶)の重量が、所定範囲外となる場合には、吐出ヘッド32の圧電素子PZに印加される駆動電圧の大きさ・波形を変更する。このとき、制御部51は、算出した液滴の重量に応じて、圧電素子PZに印加する駆動電圧の波形データを生成して、駆動電圧生成回路63に出力する。   In addition, the control unit 51 acquires measurement data indicating the weight of the liquid crystal in the weighing pan 47 from the weight measurement device 42 via the I / F unit 52. The control unit 51 divides the liquid crystal weight by the number of ejected droplets based on the inspection program. The number of ejected droplets indicates the number of droplets ejected from the ejection head 32 at the time of inspection, and is determined in advance, for example, 5000 droplets, and stored in the ROM 54. When calculating the weight per droplet, the control unit 51 determines whether or not the weight falls within a predetermined weight range centered on the reference value. When the weight of the liquid droplet (liquid crystal) falls within the predetermined weight range, the driving voltage applied to the piezoelectric element PZ of the ejection head 32 at that time is maintained. When the weight of the liquid droplet (liquid crystal) is out of the predetermined range, the magnitude and waveform of the drive voltage applied to the piezoelectric element PZ of the ejection head 32 are changed. At this time, the control unit 51 generates waveform data of the drive voltage applied to the piezoelectric element PZ according to the calculated weight of the droplet, and outputs the waveform data to the drive voltage generation circuit 63.

駆動電圧生成回路63は、入力した波形データを、デジタル/アナログ変換し、アナログ信号の波形信号を増幅して、駆動電圧を生成する。生成した駆動電圧は、発振回路61から発生するクロック信号に同期させて、ヘッド制御手段を構成するヘッド駆動回路58に出力する。つまり、液滴の重量が、所定範囲よりも小さい場合には、制御部51は、吐出ヘッド32からの吐出量(微小液滴D1の体積)を増大させる波形データを生成する。反対に、液滴の重量が所定範囲よりも大きい場合には、吐出ヘッド32からの吐出量(微小液滴D1の体積)を減少させる波形データを生成する。   The drive voltage generation circuit 63 performs digital / analog conversion on the input waveform data, amplifies the waveform signal of the analog signal, and generates a drive voltage. The generated drive voltage is output to the head drive circuit 58 constituting the head control means in synchronization with the clock signal generated from the oscillation circuit 61. That is, when the weight of the droplet is smaller than the predetermined range, the control unit 51 generates waveform data that increases the ejection amount (volume of the minute droplet D1) from the ejection head 32. On the other hand, when the weight of the droplet is larger than the predetermined range, waveform data for reducing the ejection amount (volume of the minute droplet D1) from the ejection head 32 is generated.

さらに、制御装置50は、温度制御部60を有している。温度制御部60は、I/F部52を介して、収容タンク35、キャリッジ31、基板ステージ23に配設された各温度センサS1〜S3から温度検出データを入力する。そして、それらの温度が、所定温度範囲内であるか否かを判断する。各温度が所定温度範囲外である場合には、各温度が所定温度範囲内になるように、第1〜第3のヒータH1〜H3をそれぞれ駆動制御して、液晶を予め定めた適切な温度に維持するようになっている。   Furthermore, the control device 50 has a temperature control unit 60. The temperature control unit 60 inputs temperature detection data from the temperature sensors S1 to S3 disposed on the storage tank 35, the carriage 31, and the substrate stage 23 via the I / F unit 52. Then, it is determined whether or not those temperatures are within a predetermined temperature range. When each temperature is outside the predetermined temperature range, the first to third heaters H1 to H3 are driven and controlled so that the respective temperatures are within the predetermined temperature range, and the liquid crystal is set to an appropriate temperature determined in advance. It is supposed to keep on.

また、制御部51は、検査プログラムに従って、検査用モータ駆動回路62を駆動する。検査用モータ駆動回路62は、搬送ロボット41を駆動する第1〜第4検査用モータMZ1〜MZ4を、適宜駆動制御する。即ち、制御部51は、検査用モータ駆動回路62を介して、搬送ロボット41が秤量皿47を把持するように制御し、把持した状態で、基板ステージ23に載置されたマザー基板25の所定の位置に、秤量皿47を載置するように制御する。そして、吐出ヘッド32から秤量皿47に微小液滴D1(液晶)が吐出されると、制御部51は、搬送ロボット41を、クランプ部46により液晶が入った秤量皿47を把持させるように制御する。さらに、秤量皿47を把持した状態のまま、クランプ部46が、重量測定装置42の測定部に位置するまで、アーム部45を回転させる。そして、クランプ部46を駆動して、秤量皿47を重量測定装置42の上に載置させる。この検査は、1枚のマザー基板25に対して1回ずつ行われる。   The control unit 51 drives the inspection motor drive circuit 62 in accordance with the inspection program. The inspection motor drive circuit 62 appropriately drives and controls the first to fourth inspection motors MZ1 to MZ4 that drive the transport robot 41. That is, the control unit 51 controls the transport robot 41 to grip the weighing pan 47 via the inspection motor drive circuit 62, and in the gripped state, the predetermined amount of the mother substrate 25 placed on the substrate stage 23 is controlled. The weighing pan 47 is controlled to be placed at the position. When the minute droplet D1 (liquid crystal) is discharged from the discharge head 32 to the weighing pan 47, the control unit 51 controls the transport robot 41 to hold the weighing pan 47 containing the liquid crystal by the clamp unit 46. To do. Further, the arm unit 45 is rotated until the clamp unit 46 is positioned at the measuring unit of the weight measuring device 42 while holding the weighing pan 47. Then, the clamp unit 46 is driven to place the weighing pan 47 on the weight measuring device 42. This inspection is performed once for each mother substrate 25.

次に、吐出ヘッド32の検査工程、及び液晶表示装置1の製造工程を説明する。まず、検査工程において、基板ステージ23上にマザー基板25が載置されると、制御部51は、基板位置検出装置38から取得した端縁検出信号に基づいて、マザー基板25の位置を算出する。そして、制御部51は、Y軸モータ駆動回路56を駆動し、図3に示すように、マザー基板25を、搬送ロボット41が周辺領域25dに秤量皿47を配置可能な位置まで搬送する。また、このとき、温度制御部60は、各温度センサSから検出データを取得して、基板ステージ23、吐出ヘッド32、収容タンク35の液温等を、所定温度範囲内に調節している。   Next, the inspection process of the ejection head 32 and the manufacturing process of the liquid crystal display device 1 will be described. First, when the mother substrate 25 is placed on the substrate stage 23 in the inspection process, the control unit 51 calculates the position of the mother substrate 25 based on the edge detection signal acquired from the substrate position detection device 38. . And the control part 51 drives the Y-axis motor drive circuit 56, and as shown in FIG. 3, it conveys the mother board | substrate 25 to the position where the conveyance robot 41 can arrange | position the weighing pan 47 in the peripheral region 25d. At this time, the temperature control unit 60 obtains detection data from each temperature sensor S and adjusts the liquid temperature and the like of the substrate stage 23, the discharge head 32, and the storage tank 35 within a predetermined temperature range.

基板ステージ23の位置調整が終わると、制御部51は、検査用モータ駆動回路62を介して、搬送ロボット41を制御する。まず、搬送ロボット41のクランプ部46を制御して、図示しない収容部に収容された空の秤量皿47を把持させる。そして、支持部44を中心にアーム部45を回動させ、クランプ部46を、マザー基板25の周辺領域25dのうち、例えば左上の位置に配置する。そして、支持部44を上下動させるとともに、クランプ部46を制御して、図3に示すように、周辺領域25dに秤量皿47を載置する。   When the position adjustment of the substrate stage 23 is finished, the control unit 51 controls the transport robot 41 via the inspection motor drive circuit 62. First, the clamp part 46 of the transport robot 41 is controlled to grip an empty weighing dish 47 accommodated in an accommodating part (not shown). Then, the arm portion 45 is rotated around the support portion 44, and the clamp portion 46 is disposed, for example, at the upper left position in the peripheral region 25d of the mother substrate 25. And while moving the support part 44 up and down, the clamp part 46 is controlled, and as shown in FIG. 3, the weighing dish 47 is mounted in the peripheral region 25d.

図3のようにマザー基板25に秤量皿47を載置すると、制御部51は、アーム部45を上動させ、退避位置まで移動する。そして、Y軸モータ駆動回路56及びX軸モータ駆動回路57を介して、Y軸モータMY及びX軸モータMXを所定量だけ回転させて、図5に示すように、秤量皿47が吐出ヘッド32と対峙する位置まで、基板ステージ23及びキャリッジ31を駆動する。そして、制御部51は、マザー基板25に実際に微小液滴D1を吐出するための波形データと同様の波形データを駆動電圧生成回路63に送信し、駆動電圧生成回路63は波形データに応じた駆動電圧をヘッド駆動回路58に送信する。こ
のとき、吐出ヘッド32の各ノズルのうち、秤量皿47内に微小液滴D1を吐出可能なノズルのみに対し、5000ショット分の駆動電圧を生成する。ヘッド駆動回路58は、その駆動電圧を圧電素子PZに印加して、圧電素子PZを変形させる。これにより、吐出ヘッド32から、例えば5000滴の微小液滴D1が秤量皿47に向って吐出される。このように、吐出ヘッド32及び基板ステージ23等に配設された第1〜第3のヒータH1〜H3から発せられた熱が吐出ヘッド32及びマザー基板25の間に蓄積され、局所的に温度が高い領域が生じている場合にも、秤量皿47がマザー基板25上に載置されるため、実際の液滴吐出工程と同じ雰囲気下で検査が行われる。これにより、検査工程の温度条件(属性条件)が、実際の製造工程の温度条件(属性条件)と等しくなるため、液体の粘度変化が解消され、検査工程で吐出された微小液滴D1の重量と、実際の吐出工程で吐出された微小液滴D1との誤差が発生しにくくなる。
When the weighing pan 47 is placed on the mother substrate 25 as shown in FIG. 3, the control unit 51 moves the arm unit 45 upward and moves to the retracted position. Then, the Y-axis motor MY and the X-axis motor MX are rotated by a predetermined amount via the Y-axis motor drive circuit 56 and the X-axis motor drive circuit 57, and the weighing pan 47 is moved to the discharge head 32 as shown in FIG. The substrate stage 23 and the carriage 31 are driven to a position facing the substrate. Then, the control unit 51 transmits waveform data similar to the waveform data for actually ejecting the micro droplet D1 to the mother substrate 25 to the drive voltage generation circuit 63, and the drive voltage generation circuit 63 responds to the waveform data. The drive voltage is transmitted to the head drive circuit 58. At this time, a drive voltage for 5000 shots is generated only for the nozzles that can discharge the minute droplets D1 into the weighing pan 47 among the nozzles of the discharge head 32. The head drive circuit 58 applies the drive voltage to the piezoelectric element PZ to deform the piezoelectric element PZ. As a result, for example, 5000 microdroplets D1 are ejected from the ejection head 32 toward the weighing dish 47. Thus, the heat generated from the first to third heaters H1 to H3 disposed on the ejection head 32, the substrate stage 23, and the like is accumulated between the ejection head 32 and the mother substrate 25, and the temperature is locally increased. Even in the case where a high area is generated, since the weighing dish 47 is placed on the mother substrate 25, the inspection is performed under the same atmosphere as the actual droplet discharge process. As a result, the temperature condition (attribute condition) in the inspection process becomes equal to the temperature condition (attribute condition) in the actual manufacturing process. And an error from the minute droplet D1 ejected in the actual ejection process is less likely to occur.

吐出ヘッド32からの微小液滴D1の吐出が終了すると、制御部51は、支持部44を中心にアーム部45を回動し、クランプ部46が、液晶が入った秤量皿47を把持するように制御する。そして、制御部51は、アーム部45を回動し、図4中2点鎖線で示すように、把持した秤量皿47を重量測定装置42に載置するように制御する。液晶が入った秤量皿47を重量測定装置42に載置すると、制御部51は、次の検査のため、クランプ部46により空の新しい秤量皿47を把持可能な位置までアーム部45を回動する。   When the ejection of the minute droplets D1 from the ejection head 32 is completed, the control unit 51 rotates the arm unit 45 around the support unit 44 so that the clamp unit 46 grips the weighing dish 47 containing the liquid crystal. To control. Then, the control unit 51 controls the arm unit 45 to rotate and place the grasped weighing pan 47 on the weight measuring device 42 as indicated by a two-dot chain line in FIG. When the weighing pan 47 containing the liquid crystal is placed on the weight measuring device 42, the control unit 51 rotates the arm unit 45 to a position at which the empty new weighing pan 47 can be gripped by the clamp unit 46 for the next inspection. To do.

重量測定装置42上に、液晶の入った秤量皿47が載置されると、重量測定装置42は、全重量から、予め測定した空の秤量皿47の重量を減算して、液晶の重量を示す測定データを算出する。そして、その測定データを、制御装置50(制御部51)に送信する。   When the weighing pan 47 containing the liquid crystal is placed on the weight measuring device 42, the weight measuring device 42 subtracts the weight of the empty weighing pan 47 measured in advance from the total weight to obtain the weight of the liquid crystal. Calculate the measured data shown. Then, the measurement data is transmitted to the control device 50 (control unit 51).

制御部51は、測定データを取得すると、検査プログラムに従って、その測定データに基づく液晶の重量を、吐出ヘッド32から吐出させた液滴数(例えば、5000滴)で除算する。これにより、微小液滴D1の重量の平均値が算出される。   When acquiring the measurement data, the control unit 51 divides the weight of the liquid crystal based on the measurement data by the number of droplets ejected from the ejection head 32 (for example, 5000 droplets) according to the inspection program. Thereby, the average value of the weight of the micro droplet D1 is calculated.

さらに、算出した微小液滴D1の重量が、所定の重量範囲であるか否かを判断する。この重量範囲は、液晶表示装置1に封入される液晶量の誤差の許容範囲に基づいて決められている。微小液滴D1の重量が、所定の重量範囲外である場合には、RAM53に格納された、検査結果を示すフラグを、所定の重量範囲外であること、即ち吐出ヘッド32に吐出不良が生じていることを示す状態に更新する。また、その微小液滴D1の基準値に対する誤差もRAM53に一時格納する。   Further, it is determined whether or not the calculated weight of the fine droplet D1 is within a predetermined weight range. This weight range is determined based on an allowable range of an error in the amount of liquid crystal sealed in the liquid crystal display device 1. When the weight of the minute droplet D1 is outside the predetermined weight range, the flag indicating the inspection result stored in the RAM 53 is out of the predetermined weight range, that is, the discharge head 32 has a discharge failure. Update to a state that indicates Further, an error with respect to the reference value of the micro droplet D1 is also temporarily stored in the RAM 53.

続いて、液晶表示装置1を製造するための、液体吐出工程を行う。制御部51は、マザー基板25のY軸方向側の液晶封入領域25cのうち、左端の液晶封入領域25cが吐出ヘッド32と対峙するように、Y軸モータ駆動回路56及びX軸モータ駆動回路57を駆動する。   Subsequently, a liquid discharge process for manufacturing the liquid crystal display device 1 is performed. The control unit 51 includes a Y-axis motor drive circuit 56 and an X-axis motor drive circuit 57 so that the leftmost liquid crystal sealed area 25c of the mother board 25 faces the discharge head 32 in the liquid crystal sealed area 25c on the Y axis direction side. Drive.

同時に、制御部51は、RAM53に格納された、検査結果を示すフラグ、検査工程での液滴重量の誤差を示すデータに従って、波形データを生成する。即ち、制御部51は、RAM53に格納されたフラグが、検査結果が所定の重量範囲外であることを示し、液滴重量が、所定重量範囲よりも小さいと判断すると、誤差の大きさに応じて、吐出ヘッド32から吐出される微小液滴D1の体積(吐出量)を大きくするような波形データを生成する。つまり、液滴重量が、重量範囲外である場合においても、基準値との差異が大きい場合には、その差異の大きさに応じて、微小液滴D1の大きさを大きくするような波形データを生成する。   At the same time, the control unit 51 generates waveform data according to the flag indicating the inspection result and the data indicating the error of the droplet weight in the inspection process, which are stored in the RAM 53. That is, when the control unit 51 determines that the flag stored in the RAM 53 indicates that the inspection result is out of the predetermined weight range and the droplet weight is smaller than the predetermined weight range, the control unit 51 responds to the magnitude of the error. Thus, waveform data for increasing the volume (discharge amount) of the micro droplet D1 discharged from the discharge head 32 is generated. That is, even when the droplet weight is outside the weight range, if the difference from the reference value is large, the waveform data increases the size of the minute droplet D1 in accordance with the difference. Is generated.

また、液滴重量が、所定重量範囲よりも大きい場合には、制御部51は、吐出ヘッド32から吐出される微小液滴D1の体積(吐出量)を、基準値との差に応じて小さくするよ
うな波形データを生成する。
When the droplet weight is larger than the predetermined weight range, the control unit 51 reduces the volume (discharge amount) of the minute droplet D1 discharged from the discharge head 32 according to the difference from the reference value. Waveform data is generated.

制御部51は、検査結果に基づいて生成した波形データを駆動電圧生成回路63に出力する。駆動電圧生成回路63は、波形データに基づいた駆動電圧を生成し、その駆動電圧をクロック信号に同期させて、ヘッド駆動回路58に供給する。ヘッド駆動回路58は、圧電素子PZに駆動電圧を印加する。すると、図7に示すように、吐出ヘッド32から、シール材7によって囲まれた液晶封入領域25cに向って、微小液滴D1が吐出される。液晶封入領域25cに吐出された微小液滴D1は、図8に示すように、マザー基板25に付着して、半球状の液滴D2となる。このときの微小液滴D1の体積(吐出量)は、検査結果を反映しているため、その重量は所定重量範囲内になっている。   The control unit 51 outputs waveform data generated based on the inspection result to the drive voltage generation circuit 63. The drive voltage generation circuit 63 generates a drive voltage based on the waveform data, and supplies the drive voltage to the head drive circuit 58 in synchronization with the clock signal. The head drive circuit 58 applies a drive voltage to the piezoelectric element PZ. Then, as shown in FIG. 7, the micro droplet D <b> 1 is ejected from the ejection head 32 toward the liquid crystal sealing region 25 c surrounded by the sealing material 7. As shown in FIG. 8, the micro droplet D1 discharged to the liquid crystal sealing region 25c adheres to the mother substrate 25 and becomes a hemispherical droplet D2. Since the volume (discharge amount) of the micro droplet D1 at this time reflects the inspection result, its weight is within a predetermined weight range.

1つの液晶封入領域25cに微小液滴D1を吐出し終わると、制御部51は、Y軸モータ駆動回路56を制御して、基板ステージ23を所定量だけY軸方向に搬送する。そして、吐出し終わった液晶封入領域25cと、Y軸方向(列方向)において隣接する液晶封入領域25cに向って、同じように微小液滴D1を吐出する。   When the fine liquid droplets D1 are completely discharged into one liquid crystal sealing region 25c, the control unit 51 controls the Y-axis motor drive circuit 56 to convey the substrate stage 23 by a predetermined amount in the Y-axis direction. Then, the fine liquid droplets D1 are discharged in the same manner toward the liquid crystal sealing region 25c adjacent to the liquid crystal sealing region 25c that has been discharged and in the Y-axis direction (column direction).

1列の液晶封入領域25cに液体を吐出すると、制御部51は、X軸モータ駆動回路57を制御して、隣の列の各液晶封入領域25cと、吐出ヘッド32とが対峙するようにキャリッジ31を移動する。そして、各列の液晶封入領域25cに吐出ヘッド32から液晶を吐出する。   When the liquid is discharged to the liquid crystal sealed area 25c in one row, the control unit 51 controls the X-axis motor drive circuit 57 to move the carriage so that each liquid crystal sealed area 25c in the adjacent row and the discharge head 32 face each other. Move 31. Then, the liquid crystal is discharged from the discharge head 32 to the liquid crystal sealing region 25c of each column.

そして、液晶封入領域25cに液晶を吐出し終わると、素子基板2を形成するためのマザー基板25に、対向基板3を形成するためのマザー基板25を真空下で貼り合せる。さらに、所定の大きさに成形することにより、各液晶表示装置1を形成する。   When the liquid crystal is completely discharged into the liquid crystal sealing region 25c, the mother substrate 25 for forming the counter substrate 3 is bonded to the mother substrate 25 for forming the element substrate 2 under vacuum. Further, each liquid crystal display device 1 is formed by molding into a predetermined size.

上記実施形態によれば、以下のような効果を得ることができる。
(1)上記実施形態では、液滴吐出装置20は、微小液滴D1を吐出する吐出ヘッド32と、マザー基板25を搬送する基板ステージ23を備えるようにした。また、吐出量検査のための秤量皿47をマザー基板25上に配置するとともに、液体が入った秤量皿47を重量測定装置42に移動させる搬送ロボット41を備えるようにした。さらに、吐出ヘッド32から秤量皿47内に吐出された液体の重量に基づいて、各微小液滴D1の重量を算出し、算出された液滴重量に応じて、吐出ヘッド32の吐出量を制御する制御部51及び駆動電圧生成回路63を備えるようにした。即ち、検査工程において、実際の液体吐出工程と同じ条件下で微小液滴D1を吐出するので、液晶の粘度を一定にし、検査工程の液滴重量と、実際の製造工程での液滴重量との差異をほぼ無くすことができる。そして、検査工程で算出された、液滴重量の基準値からの誤差を、吐出ヘッド32の吐出量に反映させるので、液晶表示装置1に封入される液晶材料の誤差を小さくすることができる。
According to the above embodiment, the following effects can be obtained.
(1) In the embodiment described above, the droplet discharge device 20 includes the discharge head 32 that discharges the micro droplet D1 and the substrate stage 23 that transports the mother substrate 25. Further, a weighing dish 47 for discharging amount inspection is arranged on the mother substrate 25, and a transport robot 41 for moving the weighing dish 47 containing liquid to the weight measuring device 42 is provided. Further, the weight of each micro droplet D1 is calculated based on the weight of the liquid discharged from the discharge head 32 into the weighing pan 47, and the discharge amount of the discharge head 32 is controlled according to the calculated droplet weight. The control unit 51 and the drive voltage generation circuit 63 are provided. That is, in the inspection process, since the minute liquid droplets D1 are discharged under the same conditions as the actual liquid discharge process, the viscosity of the liquid crystal is made constant, the liquid drop weight in the inspection process, This difference can be almost eliminated. Since the error from the reference value of the droplet weight calculated in the inspection process is reflected in the discharge amount of the discharge head 32, the error of the liquid crystal material sealed in the liquid crystal display device 1 can be reduced.

(2)上記実施形態では、液滴吐出装置20は、液晶の粘度を適切な粘度にするために、第3のヒータH3を収容タンク35に配設するようにした。また、第1及び第2のヒータH1,H2を、基板ステージ23及び吐出ヘッド32にそれぞれ配設するようにした。このため、吐出ヘッド32内の液体の温度を適切な範囲に保持することができる。そして、吐出ヘッド32とマザー基板25との間に熱が蓄積され易く、雰囲気に温度勾配が生じやすい装置において、秤量皿47をマザー基板25上に載置して検査を行うので、吐出ヘッド32から吐出される微小液滴D1の重量の誤差を小さくできるため、特に効果を発揮できる。   (2) In the above embodiment, the droplet discharge device 20 is configured to dispose the third heater H3 in the storage tank 35 in order to make the viscosity of the liquid crystal appropriate. Further, the first and second heaters H1 and H2 are disposed on the substrate stage 23 and the ejection head 32, respectively. For this reason, the temperature of the liquid in the ejection head 32 can be maintained in an appropriate range. In the apparatus in which heat is likely to be accumulated between the ejection head 32 and the mother substrate 25 and the temperature gradient is likely to occur in the atmosphere, the weighing pan 47 is placed on the mother substrate 25 for inspection. Since the error of the weight of the fine droplet D1 discharged from the nozzle can be reduced, the effect can be exhibited particularly.

(3)上記実施形態では、液滴吐出装置20は、液晶表示装置1の液晶層を形成するために液晶を吐出ヘッド32から吐出するようにしたので、封入された液晶材料量の誤差が小さくなり、液晶表示装置1の表示不良を防ぐことができる。   (3) In the above embodiment, since the liquid droplet ejection device 20 ejects liquid crystal from the ejection head 32 in order to form the liquid crystal layer of the liquid crystal display device 1, an error in the amount of the encapsulated liquid crystal material is small. Thus, display defects of the liquid crystal display device 1 can be prevented.

尚、本実施形態は以下のように変更してもよい。
・上記実施形態では、RAM53に、検査結果を示すフラグを格納するようにしたが、基準値からの誤差のみを格納するようにしてもよい。そして、実際の吐出工程の際に、制御部51が、RAM53に格納された誤差に基づき、微小液滴D1が所定の重量範囲内であるか否かを判断するようにしてもよい。
In addition, you may change this embodiment as follows.
In the above embodiment, the flag indicating the inspection result is stored in the RAM 53, but only an error from the reference value may be stored. In the actual ejection process, the control unit 51 may determine whether or not the micro droplet D1 is within a predetermined weight range based on the error stored in the RAM 53.

・上記実施形態では、マザー基板25上に秤量皿47を載置したが、キャリッジ31の移動可能範囲内に秤量皿47を配置してもよい。例えば、図9に示すように、キャリッジ31の移動可能範囲内に配置された吐出量検査領域70に、温度調節手段を構成する温度調節ユニット71を内蔵した重量測定装置42を配置してもよい。温度調節ユニット71は、マザー基板25と吐出ヘッド32との間の雰囲気と同じ雰囲気を生成することができる。即ち、温度調節ユニット71は、マザー基板25と吐出ヘッド32との間の温度と、秤量皿47と吐出ヘッド32との間の温度とが少なくとも同じになるように、秤量皿47を載置した載置面を保温する。そして、重量測定装置42上に秤量皿47を載置し、キャリッジ31の移動により吐出ヘッド32と秤量皿47とが対峙可能となるようにして、吐出量検査の際には、吐出ヘッド32から秤量皿47に向って微小液滴D1を吐出する。また、このとき、マザー基板25に対して微小液滴D1を吐出する際に、吐出ヘッド32近傍の温度を測定する図示しない温度センサをキャリッジ31に具備してもよい。そして、実際の吐出工程の際の、吐出ヘッド32とマザー基板25との間の雰囲気の温度を、その温度センサにより予め測定しておき、検査工程において、温度制御部60により、吐出ヘッド32と秤量皿47との間の雰囲気が、予め測定した温度になるように、制御部51が温度調節ユニット71を制御するようにしてもよい。このようにすると、マザー基板25以外の場所で、実際の吐出工程の条件に即した検査を行うことができる。   In the above embodiment, the weighing pan 47 is placed on the mother substrate 25, but the weighing pan 47 may be disposed within the movable range of the carriage 31. For example, as shown in FIG. 9, a weight measuring device 42 incorporating a temperature adjustment unit 71 constituting a temperature adjustment means may be arranged in the discharge amount inspection region 70 arranged within the movable range of the carriage 31. . The temperature adjustment unit 71 can generate the same atmosphere as the atmosphere between the mother substrate 25 and the ejection head 32. That is, the temperature adjustment unit 71 places the weighing dish 47 so that the temperature between the mother substrate 25 and the ejection head 32 and the temperature between the weighing dish 47 and the ejection head 32 are at least the same. Keep the mounting surface warm. Then, the weighing pan 47 is placed on the weight measuring device 42 so that the ejection head 32 and the weighing pan 47 can be opposed to each other by the movement of the carriage 31. A fine droplet D1 is discharged toward the weighing dish 47. At this time, the carriage 31 may be provided with a temperature sensor (not shown) for measuring the temperature in the vicinity of the ejection head 32 when ejecting the micro droplet D1 onto the mother substrate 25. Then, the temperature of the atmosphere between the ejection head 32 and the mother substrate 25 in the actual ejection process is measured in advance by the temperature sensor, and in the inspection process, the temperature control unit 60 The control unit 51 may control the temperature adjustment unit 71 so that the atmosphere between the weighing pan 47 and the temperature measured in advance is set. In this way, it is possible to perform an inspection in accordance with the conditions of the actual discharge process at a place other than the mother substrate 25.

・上記実施形態では、秤量皿47は、マザー基板25の周辺領域25dのうち、いずれの位置に配置してもよい。また、基板ステージ23と吐出ヘッド32との間の温度と、マザー基板25と吐出ヘッド32との間の温度がほぼ同じである場合には、秤量皿47を基板ステージ23に載置するようにしてもよい。   In the above embodiment, the weighing pan 47 may be arranged at any position in the peripheral region 25 d of the mother substrate 25. Further, when the temperature between the substrate stage 23 and the ejection head 32 and the temperature between the mother substrate 25 and the ejection head 32 are substantially the same, the weighing pan 47 is placed on the substrate stage 23. May be.

・制御装置50に備えられた温度制御部60は制御装置50と別体であってもよい。
・基板ステージ23に配設された第1のヒータH1、収容タンク35に配設された第3のヒータH3は省略してもよい。また、第3のヒータH3は、収容タンク35から、吐出ヘッド32までの液体供給機構のうち、他の位置に設けてもよい。
The temperature control unit 60 provided in the control device 50 may be separate from the control device 50.
The first heater H1 disposed on the substrate stage 23 and the third heater H3 disposed on the storage tank 35 may be omitted. Further, the third heater H3 may be provided at another position in the liquid supply mechanism from the storage tank 35 to the ejection head 32.

・秤量皿47をマザー基板25上に配置し、液晶の入った秤量皿47をマザー基板25から移動させる移動手段は、搬送ロボット41以外の装置でもよい。例えば、秤量皿47を取付けたテーブルをマザー基板25上に搬送する装置等、その他の装置でもよい。   The moving means for disposing the weighing pan 47 on the mother substrate 25 and moving the weighing pan 47 containing the liquid crystal from the mother substrate 25 may be an apparatus other than the transport robot 41. For example, other devices such as a device that transports the table with the weighing pan 47 onto the mother substrate 25 may be used.

・液晶表示装置1は、図1及び図2に示すような構成にしたが、それ以外の構成の液晶表示装置1にしてもよい。
・上記実施形態では、液滴吐出装置20は、液晶表示装置1の液晶を吐出するようにしたが、その他の液体を吐出する装置に具体化してもよい。例えば、液晶表示装置1のうち、配線、フィルタ層等、他の部材を製造する装置でもよい。又は、有機エレクトロルミネッセンス表示装置の電気光学装置を製造する装置でもよい。又は、平面状の電子放出素子を備え、同素子から放出された電子による蛍光物質の発光を利用した電界効果型装置(FEDやSED等)の電気光学装置を製造する装置でもよい。
The liquid crystal display device 1 is configured as shown in FIGS. 1 and 2, but the liquid crystal display device 1 may have other configurations.
In the above embodiment, the liquid droplet ejection device 20 ejects the liquid crystal of the liquid crystal display device 1, but may be embodied in a device that ejects other liquids. For example, the liquid crystal display device 1 may be a device that manufactures other members such as wiring and filter layers. Or the apparatus which manufactures the electro-optical apparatus of an organic electroluminescent display apparatus may be sufficient. Alternatively, it may be an apparatus that includes a planar electron-emitting device and manufactures an electro-optical device such as a field effect device (FED, SED, or the like) that utilizes light emission of a fluorescent material by electrons emitted from the device.

液晶表示装置の概略図。Schematic of a liquid crystal display device. 液晶表示装置の要部断面図。The principal part sectional drawing of a liquid crystal display device. 液滴吐出装置の斜視図。The perspective view of a droplet discharge device. 同液滴吐出装置の要部平面図。The principal part top view of the droplet discharge apparatus. 同液滴吐出装置の要部側面図。The principal part side view of the droplet discharge apparatus. 同液滴吐出装置の構成を説明するブロック図。The block diagram explaining the structure of the droplet discharge apparatus. 同液滴吐出装置の要部側面図。The principal part side view of the droplet discharge apparatus. 液滴が付着した基板の断面図。Sectional drawing of the board | substrate with which the droplet adhered. 別例の液滴吐出装置の斜視図。The perspective view of the droplet discharge device of another example.

符号の説明Explanation of symbols

1…電気光学装置としての液晶表示装置、20…液滴吐出装置、25…基板としてのマザー基板、29…ヘッド移動機構を構成する案内部材、30…ヘッド移動機構を構成する案内レール、32…液滴吐出ヘッドとしての吐出ヘッド、35…液体供給手段を構成する収容タンク、40…移動手段としての搬送ロボット、42…測定手段としての重量測定装置、47…秤量器としての秤量皿、51…ヘッド制御手段及び演算手段を構成する制御部、58…ヘッド制御手段を構成するヘッド駆動回路、63…ヘッド制御手段を構成する駆動電圧生成回路、70…吐出量検査領域、71…温度調節手段を構成する温度調節ユニット、D1…液滴としての微小液滴、D2…液滴、MX…ヘッド移動機構を構成するX軸モータ、UT…加熱手段としての加熱ユニット。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Liquid crystal display device as an electro-optical device, 20 ... Droplet discharge device, 25 ... Mother board as a substrate, 29 ... Guide member which comprises a head moving mechanism, 30 ... Guide rail which comprises a head moving mechanism, 32 ... Discharge head as a droplet discharge head, 35... Storage tank constituting liquid supply means, 40... Transport robot as moving means, 42... Weight measuring device as measurement means, 47. Control unit constituting head control means and calculation means, 58... Head drive circuit constituting head control means, 63... Drive voltage generation circuit constituting head control means, 70... Discharge amount inspection region, 71. Constituting temperature control unit, D1 ... micro droplet as a droplet, D2 ... droplet, MX ... X-axis motor constituting head moving mechanism, UT ... as heating means Thermal unit.

Claims (7)

液滴吐出ヘッドから基板に向って液滴を吐出する工程を有する電気光学装置の製造方法において、
前記液滴吐出ヘッドが前記基板に液滴を吐出する際の属性条件と、同じ属性条件を設定して、吐出量検査のために前記液滴吐出ヘッドから液滴を吐出し、
前記液滴吐出ヘッドから吐出された液滴の重量を算出し、
算出された前記液滴の重量に応じて、前記液滴吐出ヘッドの吐出量を制御することを特徴とする電気光学装置の製造方法。
In a method of manufacturing an electro-optical device having a step of discharging droplets from a droplet discharge head toward a substrate,
Set the same attribute condition as the attribute condition when the droplet discharge head discharges the droplet onto the substrate, and discharge the droplet from the droplet discharge head for discharge amount inspection,
Calculate the weight of the droplets ejected from the droplet ejection head,
A method for manufacturing an electro-optical device, wherein the ejection amount of the droplet ejection head is controlled according to the calculated weight of the droplet.
請求項1に記載の電気光学装置の製造方法において、
前記基板上に秤量器を配置し、
前記液滴吐出ヘッドが前記基板上に配置された前記秤量器に向かって液滴を吐出し、
前記秤量器内の液体の重量に基づいて、前記液滴吐出ヘッドから吐出された液滴の重量を算出することを特徴とする電気光学装置の製造方法。
The method of manufacturing the electro-optical device according to claim 1,
Placing a weigher on the substrate;
The droplet discharge head discharges droplets toward the weighing instrument disposed on the substrate;
A method for manufacturing an electro-optical device, comprising: calculating a weight of a droplet discharged from the droplet discharge head based on a weight of a liquid in the weighing instrument.
請求項1に記載の電気光学装置の製造方法において、
吐出量検査のための秤量器を、前記液滴吐出ヘッドの移動可能範囲内に設けられた吐出量検査領域に配置し、
前記吐出量検査領域を、前記液滴吐出ヘッドが前記基板に向って液滴を吐出する際の温度と同じ温度に設定することを特徴とする電気光学装置の製造方法。
The method of manufacturing the electro-optical device according to claim 1,
A weighing device for discharging amount inspection is disposed in a discharging amount inspection region provided within a movable range of the droplet discharging head,
The method for manufacturing an electro-optical device, wherein the discharge amount inspection region is set to a temperature that is the same as a temperature at which the droplet discharge head discharges droplets toward the substrate.
基板に向って液滴を吐出する液滴吐出ヘッドと、
吐出量検査のための秤量器を前記基板上に配置するとともに、その秤量器を前記基板上から移動させる移動手段と、
前記液滴吐出ヘッドから前記秤量器内に吐出された液体の重量を測定する測定手段と、
前記秤量器内の液体の重量に基づいて、前記液滴吐出ヘッドから吐出された液滴の重量を算出する演算手段と、
算出された前記液滴の重量に応じて前記液滴吐出ヘッドの吐出量を制御するヘッド制御手段と
を備えたことを特徴とする液滴吐出装置。
A droplet discharge head for discharging droplets toward the substrate;
A moving unit for disposing a weigher for the discharge amount inspection on the substrate and moving the weigher from the substrate;
Measuring means for measuring the weight of the liquid discharged from the droplet discharge head into the weighing device;
Calculation means for calculating the weight of the droplets ejected from the droplet ejection head based on the weight of the liquid in the weigher;
A droplet discharge apparatus comprising: a head control unit that controls a discharge amount of the droplet discharge head according to the calculated weight of the droplet.
請求項4に記載の液滴吐出装置において、
前記液滴吐出ヘッドに液体を供給する液体供給手段と、
前記液体供給手段から前記液滴吐出ヘッドまでのうち、少なくとも一部を加熱する加熱手段とを備えたことを特徴とする液滴吐出装置。
The droplet discharge device according to claim 4,
Liquid supply means for supplying liquid to the droplet discharge head;
A droplet discharge apparatus comprising: a heating unit that heats at least part of the liquid supply unit to the droplet discharge head.
基板に向って液滴を吐出する液滴吐出ヘッドと、
前記液滴吐出ヘッドを移動するヘッド移動機構と、
前記液滴吐出ヘッドに液体を供給する液体供給手段と、
前記液体供給手段から前記液滴吐出ヘッドまでのうち、少なくとも一部を加熱する加熱手段と、
吐出量検査のための秤量器が配設された吐出量検査領域を、前記液滴吐出ヘッドが前記基板に液滴を吐出する温度条件と同じ温度条件にする温度調節手段と、
前記液滴吐出ヘッドから前記秤量器内に吐出された液体の重量を測定する測定手段と、
前記秤量器内の液体の重量に基づいて、前記液滴吐出ヘッドから吐出された液滴の重量を算出する演算手段と、
算出された前記液滴の重量に応じて前記液滴吐出ヘッドの吐出量を制御するヘッド制御手段と
を備えたことを特徴とする液滴吐出装置。
A droplet discharge head for discharging droplets toward the substrate;
A head moving mechanism for moving the droplet discharge head;
Liquid supply means for supplying liquid to the droplet discharge head;
Heating means for heating at least a part of the liquid supply means to the droplet discharge head;
A temperature adjusting means for setting a discharge amount inspection region in which a weigher for discharge amount inspection is disposed to the same temperature condition as a temperature condition for the droplet discharge head to discharge a droplet onto the substrate;
Measuring means for measuring the weight of the liquid discharged from the droplet discharge head into the weighing device;
Calculation means for calculating the weight of the droplets ejected from the droplet ejection head based on the weight of the liquid in the weigher;
A droplet discharge apparatus comprising: a head control unit that controls a discharge amount of the droplet discharge head according to the calculated weight of the droplet.
基板に液滴を吐出する液滴吐出ヘッドの吐出量を検査する吐出量検査方法において、
前記液滴吐出ヘッドが前記基板に液滴を吐出する際の属性条件と、同じ属性条件を設定して、吐出量検査のために前記液滴吐出ヘッドから液滴を吐出し、
前記液滴吐出ヘッドから吐出された液滴の重量を算出することを特徴とする吐出量検査方法。
In a discharge amount inspection method for inspecting a discharge amount of a droplet discharge head that discharges droplets onto a substrate,
Set the same attribute condition as the attribute condition when the droplet discharge head discharges the droplet onto the substrate, and discharge the droplet from the droplet discharge head for discharge amount inspection,
A discharge amount inspection method, wherein the weight of a droplet discharged from the droplet discharge head is calculated.
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