JP2006310761A - Tray for chip electronic component, its manufacturing process, and process for manufacturing chip electronic component using it - Google Patents

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芳信 芹田
Miki Sato
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a tray for chip electronic component which can contain a large number of ceramic electronic components while reducing the clearance between a base board and a mesh body without touching the terminal electrodes to each other. <P>SOLUTION: A base board 2 is composed of a metal material and includes a flat surface 21 on one side. A mesh body 4 is woven of metal wires 41 and 42 and includes a large number of intersections 43 and meshes 45. The intersections 43 are formed by overlapping the metal wires 41 and 42 in the thickness direction of the mesh body 4. The meshes 45 form a component containing section surrounded by the intersections 43 and the metal wires 41 and 42. The base board 2 and the mesh body 4 are bonded to the intersections 43 by a diffusion joint 5. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、積層セラミックコンデンサ等のチップ状電子部品の端子電極焼付等に用いて好適なチップ状電子部品用トレー及びそのトレーの製造方法、更にそのトレーを用いたチップ状電子部品の製造方法に関する。   The present invention relates to a chip-shaped electronic component tray suitable for use in baking terminal electrodes of chip-shaped electronic components such as multilayer ceramic capacitors, a method for manufacturing the tray, and a method for manufacturing a chip-shaped electronic component using the tray. .

内部電極を有するチップ状電子部品は端部に端子電極(外部電極)を有する。積層セラミックコンデンサは、内部電極と、セラミック誘電体層とを、必要数だけ交互に積層してグリーンシート積層体を構成する。次に、グリーンシート積層体を、個々のグリーンチップに切断した後、焼成する。   A chip-shaped electronic component having an internal electrode has a terminal electrode (external electrode) at the end. A multilayer ceramic capacitor forms a green sheet laminate by alternately laminating internal electrodes and ceramic dielectric layers in a necessary number. Next, the green sheet laminate is cut into individual green chips and then fired.

次に、グリーンチップが焼成され得られたセラミック電子部品の両端に、導電成分及び有機バインダを含む電極ペースト(導体ペースト)を塗布し、焼き付けることにより、内部電極の断層面と、電気的に接続する端子電極を形成する。導電成分としては、例えば、銅粉の形で他の組成物と混合された電極ペーストが用いられ、セラミック電子部品の両端面に塗布された後、焼き付け処理されて銅端子電極とされる。   Next, an electrode paste containing a conductive component and an organic binder (conductor paste) is applied to both ends of the ceramic electronic component obtained by firing the green chip and electrically connected to the tomographic surface of the internal electrode by baking. The terminal electrode to be formed is formed. As the conductive component, for example, an electrode paste mixed with another composition in the form of copper powder is used, and after being applied to both end faces of the ceramic electronic component, it is baked to form a copper terminal electrode.

端子電極の焼き付けに当たっては、内部電極の断層面が酸化して端子電極と導通不良が生じないように、窒素(N2)雰囲気中、つまり中性雰囲気中で、700℃〜900℃の温度範囲にて焼き付けされる。 When baking the terminal electrode, a temperature range of 700 ° C. to 900 ° C. is performed in a nitrogen (N 2 ) atmosphere, that is, in a neutral atmosphere so that the fault surface of the internal electrode is not oxidized and poor conduction with the terminal electrode occurs. It is baked in.

この焼き付け工程は、トンネル型焼成炉を、ステンレス鋼線(例えばSUS316)でなるメッシュベルトが循環する構成にして、電極ペーストの塗布されたセラミック電子部品を、ステンレス鋼線でなるメッシュで作製されたトレーに、ランダムにばら積み収容し、このトレーをステンレス鋼線でなる枠に載置して、その枠をメッシュベルトに載せてトンネル形状の焼成炉を通過させて行う。   In this baking process, a tunnel-type firing furnace is configured so that a mesh belt made of stainless steel wire (for example, SUS316) circulates, and a ceramic electronic component coated with electrode paste is made of a mesh made of stainless steel wire. The trays are stored in bulk at random, and this tray is placed on a frame made of stainless steel wire, and the frame is placed on a mesh belt and passed through a tunnel-shaped firing furnace.

ところが、トレーにランダムにばら積み収容されたセラミック電子部品は、電極ペーストが塗布された端子電極が、隣接する他のセラミック電子部品の端子電極に接触すると、接触した状態で焼き付けが行われ、相互に付着してしまうことになる。互いに付着したセラミック電子部品を強制的に剥がそうとすると、どちらか片方の端子電極が部分的に剥がれてしまい、そのため両端部に形成された端子電極の一部に凹凸した傷が残り、端子電極不良として歩留まりを悪化させる要因になってしまう。   However, ceramic electronic components randomly stacked and accommodated in trays are baked in contact with each other when the terminal electrode to which the electrode paste is applied contacts the terminal electrode of another adjacent ceramic electronic component. It will stick. If you try to forcibly remove the ceramic electronic components that are attached to each other, either one of the terminal electrodes will be partially peeled off, so that uneven scratches remain on part of the terminal electrodes formed at both ends, and the terminal electrodes It becomes a factor which worsens a yield as a defect.

この問題を解決するため、例えば特許文献1では、セラミック電子部品に塗布された端子電極が、他のセラミック電子部品に塗布された端子電極に接触することのないトレーを開示している。   In order to solve this problem, for example, Patent Document 1 discloses a tray in which a terminal electrode applied to a ceramic electronic component does not come into contact with a terminal electrode applied to another ceramic electronic component.

このトレーは、ベース板に網体を固着し、前記トレーの網目の1区画につき、1個の塗膜付きセラミック電子部品をそれぞれ収容して搬送する。このため、電極ペーストが塗布された端子電極が、隣接する他のセラミック電子部品の端子電極に接触することがないため、上述した問題を解決できる。   In this tray, a net is fixed to a base plate, and one coated ceramic electronic component is accommodated and conveyed for each section of the tray mesh. For this reason, since the terminal electrode to which the electrode paste is applied does not come into contact with the terminal electrode of another adjacent ceramic electronic component, the above-described problem can be solved.

しかし、このトレーは、点溶接(スポット溶接)でベース板に網体を固着している。特許文献1の記載によると、点溶接の間隔と配置は、例えば縦横方向に等間隔である。ベース板に網体を点溶接した個所はベース板と網体が固着しているが、点溶接されていない個所はベース板と網体の間に隙間が生じ易い。この隙間がセラミック電子部品の保持において、不都合なまで拡がらない程度に点溶接の配置を密にするが、点溶接をした個所はセラミック電子部品を保持できないことから、点溶接の配置はなるべく疎にしてセラミック電子部品の収容数を得ている。   However, this tray has a mesh body fixed to a base plate by spot welding (spot welding). According to the description of Patent Document 1, the interval and arrangement of spot welding are, for example, equal intervals in the vertical and horizontal directions. The base plate and the mesh body are fixed to the base plate where the mesh body is spot welded. However, a gap is likely to be generated between the base plate and the mesh body at the location where spot welding is not performed. The placement of spot welding is dense so that this gap does not widen inadequately when holding ceramic electronic components, but the location of spot welding cannot hold ceramic electronic components, so the location of spot welding is as small as possible. Thus, the number of ceramic electronic components accommodated is obtained.

したがって、特許文献1に記載された技術によると、セラミック電子部品が小型化すればするほど、点溶接の個所を増やす必要があり、この結果、セラミック電子部品の収容数が低下する。
特開2003−77776号公報
Therefore, according to the technique described in Patent Document 1, the smaller the ceramic electronic component is, the more it is necessary to increase the number of spot welding points. As a result, the number of ceramic electronic components accommodated decreases.
Japanese Patent Laid-Open No. 2003-77776

本発明の課題は、セラミック電子部品の端子電極同士が接触することのないチップ状電子部品用トレー、そのトレーの製造方法及びそのトレーを用いたチップ状電子部品の製造方法を提供することである。   An object of the present invention is to provide a chip-shaped electronic component tray in which terminal electrodes of ceramic electronic components do not contact each other, a method for manufacturing the tray, and a method for manufacturing a chip-shaped electronic component using the tray. .

本発明のもう1つの課題は、ベース板と網体との間の隙間が小さく、その隙間にチップ状電子部品が入り込むことのないチップ状電子部品用トレー、そのトレーの製造方法及びそのトレーを用いたチップ状電子部品の製造方法を提供することである。   Another object of the present invention is to provide a chip-shaped electronic component tray in which the gap between the base plate and the net is small and the chip-shaped electronic component does not enter the gap, a method for manufacturing the tray, and the tray. It is to provide a method for manufacturing the chip-shaped electronic component used.

本発明の更にもう1つの課題は、セラミック電子部品の収容数量の大きなチップ状電子部品用トレー、そのトレーの製造方法及びそのトレーを用いたチップ状電子部品の製造方法を提供することである。   Still another object of the present invention is to provide a chip-shaped electronic component tray having a large quantity of ceramic electronic components, a method for manufacturing the tray, and a method for manufacturing a chip-shaped electronic component using the tray.

上述した課題を解決するため、本発明は、チップ状電子部品用トレー及びそのトレーの製造方法、更にそのトレーを用いたチップ状電子部品の製造方法について開示する。   In order to solve the above-described problems, the present invention discloses a chip-shaped electronic component tray, a method for manufacturing the tray, and a method for manufacturing a chip-shaped electronic component using the tray.

1.チップ状電子部品用トレー
本発明に係るチップ状電子部品用トレーは、ベース板と網体とを含む。前記ベース板は、金属材料で構成され、一面に平板面を含む。前記網体は、金属線で織られており、多数の金属線交差部と、多数の網目とを含む。前記ベース板及び前記網体は、前記平板面において、前記交差部と拡散接合により固着している。
1. Chip-shaped electronic component tray The chip-shaped electronic component tray according to the present invention includes a base plate and a net. The base plate is made of a metal material and includes a flat plate surface on one side. The mesh body is woven with metal wires, and includes a large number of metal wire intersections and a large number of meshes. The base plate and the net are fixed to the intersecting portion by diffusion bonding on the flat plate surface.

2.チップ状電子部品の製造方法(トレーの使用方法)
本発明に係るチップ状電子部品の製造方法では、上述したチップ状電子部品用トレーを用い、前記チップ状電子部品用トレーの前記網目に、塗膜付きセラミック電子部品を収容する。そして、前記チップ状電子部品用トレーに収容した前記塗膜付きセラミック電子部品を加熱して、端子電極を焼付ける。
2. Manufacturing method of chip-shaped electronic components (Tray usage method)
In the chip-shaped electronic component manufacturing method according to the present invention, the above-described chip-shaped electronic component tray is used, and the ceramic electronic component with a coating film is accommodated in the mesh of the chip-shaped electronic component tray. And the said ceramic electronic component with a coating film accommodated in the said tray for chip-shaped electronic components is heated, and a terminal electrode is baked.

ここで、本発明に係るチップ状電子部品用トレーにおいて、網体は、金属線で織られており、多数の金属線交差部と、多数の網目とを含む。従って、一つの網目を1個のチップ状電子部品の収容区画とし、各網目にセラミック電子部品を1個ずつ収容できるから、セラミック電子部品の端子電極同士が接触することのないチップ状電子部品用トレーが提供できる。   Here, in the tray for chip-shaped electronic components according to the present invention, the mesh body is woven with metal wires, and includes a large number of metal wire intersections and a large number of meshes. Accordingly, since one mesh is used as an accommodating section for one chip-shaped electronic component, and one ceramic electronic component can be accommodated in each mesh, the terminal electrodes of the ceramic electronic component are not in contact with each other. Tray can be provided.

ベース板及び網体は、平板面において、交差部と拡散接合により固着しているから、網体の全面にわたって交差部がベース板に固着しベース板と網体との間の隙間を小さく保つことができる。したがって、ベース板と網体との間の隙間にチップ状電子部品が入り込む不具合を防止できる。   Since the base plate and the net are fixed to the crossing portion by diffusion bonding on the flat plate surface, the crossing portion is fixed to the base plate over the entire surface of the net and the gap between the base plate and the net is kept small. Can do. Therefore, it is possible to prevent a problem that the chip-shaped electronic component enters the gap between the base plate and the net.

また、ベース板に固着する部分は、網体の交差部であるので、基本的には、全ての網目がチップ状電子部品の収容区画として利用できる。このため、セラミック電子部品の収容数量の大きなチップ状電子部品用トレーが提供できる。   Further, since the portion fixed to the base plate is a crossing portion of the mesh body, basically, all the meshes can be used as housing sections for chip-shaped electronic components. For this reason, the tray for chip-shaped electronic components with a large accommodation quantity of ceramic electronic components can be provided.

3.チップ状電子部品用トレーの製造方法
本発明に係るチップ状電子部品用トレーの製造方法は、上述したチップ状電子部品用トレーを製造するに当たり、前記ベース板の一面に前記網体を配置し、前記ベース板と前記網体とを加圧、加熱し、前記ベース板と前記網体とを前記平板面において、前記交差部と拡散接合により固着する。
3. Manufacturing method of tray for chip-shaped electronic component The manufacturing method of the tray for chip-shaped electronic component according to the present invention, when manufacturing the above-described tray for chip-shaped electronic component, arranges the net body on one surface of the base plate, The base plate and the mesh body are pressurized and heated, and the base plate and the mesh body are fixed to the intersecting portion by diffusion bonding on the flat plate surface.

上述したチップ状電子部品用トレーの製造方法において、ベース板の一面に網体を配置すると、交差部の厚みが厚いので、網体の全面にわたって交差部がベース板の一面と接触する。この状態でベース板及び網体を両側から挟み込んで、加圧し、加熱することにより、ベース板及び網体を拡散接合により固着することができる。   In the above-described method for manufacturing a chip-shaped electronic component tray, when the mesh body is arranged on one surface of the base plate, the thickness of the intersecting portion is large, so that the intersecting portion contacts one surface of the base plate over the entire surface of the mesh body. In this state, the base plate and the net body are sandwiched from both sides, pressurized, and heated, so that the base plate and the net body can be fixed by diffusion bonding.

上述した拡散接合によれば、網体の全面にわたって交差部がベース板に固着され、ベース板と網体との間の隙間を小さく保つことができる。したがって、ベース板と網体との間の隙間にチップ状電子部品が入り込む不具合を防止できる。   According to the diffusion bonding described above, the intersecting portion is fixed to the base plate over the entire surface of the net body, and the gap between the base plate and the net body can be kept small. Therefore, it is possible to prevent a problem that the chip-shaped electronic component enters the gap between the base plate and the net.

また、交差部は、金属線が網体の厚み方向で重なって形成されるから、この部分の厚みが厚くなる。このため、ベース板の平板面に網体を組み合わせると、網体の全面にわたって交差部が平板面に接触する。   In addition, since the intersecting portion is formed by overlapping the metal wires in the thickness direction of the mesh body, the thickness of this portion is increased. For this reason, when a net is combined with the flat plate surface of the base plate, the crossing portion contacts the flat plate surface over the entire surface of the net.

したがって、両者を加圧し、加熱することにより、網体の全面にわたる接触部分をベース板の平板面に拡散接合させることができる。   Therefore, by pressurizing and heating both, the contact portion over the entire surface of the net can be diffusion bonded to the flat plate surface of the base plate.

更に、ベース板に固着する部分は網体の交差部であるので、基本的には、全ての網目がチップ状電子部品の収容区画として利用できる。このため、セラミック電子部品の収容数量の大きなチップ状電子部品用トレーが提供できる。   Furthermore, since the portion fixed to the base plate is the intersection of the mesh body, basically, all the meshes can be used as the accommodating section for the chip-shaped electronic component. For this reason, the tray for chip-shaped electronic components with a large accommodation quantity of ceramic electronic components can be provided.

本発明の他の目的、構成及び利点については、添付図面を参照し、更に詳しく説明する。但し、添付図面は、単なる例示に過ぎない。   Other objects, configurations and advantages of the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings. However, the attached drawings are merely examples.

以上述べたように、本発明によれば次のような効果を得ることができる。
(A)セラミック電子部品の端子電極同士が接触することのないチップ状電子部品用トレー、そのトレーの製造方法及びそのトレーを用いたチップ状電子部品の製造方法を提供することができる。
(B)ベース板と網体との間の隙間が小さく、その隙間にチップ状電子部品が入り込むことのないチップ状電子部品用トレー、そのトレーの製造方法及びそのトレーを用いたチップ状電子部品の製造方法を提供することができる。
(C)セラミック電子部品の収容数量の大きなチップ状電子部品用トレー、そのトレーの製造方法及びそのトレーを用いたチップ状電子部品の製造方法を提供することができる。
As described above, according to the present invention, the following effects can be obtained.
(A) It is possible to provide a chip-shaped electronic component tray in which terminal electrodes of ceramic electronic components do not contact each other, a method for manufacturing the tray, and a method for manufacturing a chip-shaped electronic component using the tray.
(B) A chip-shaped electronic component tray in which a gap between the base plate and the net is small and no chip-shaped electronic component enters the gap, a method for manufacturing the tray, and a chip-shaped electronic component using the tray The manufacturing method of can be provided.
(C) It is possible to provide a chip-shaped electronic component tray having a large quantity of ceramic electronic components, a method for manufacturing the tray, and a method for manufacturing a chip-shaped electronic component using the tray.

1.チップ状電子部品用トレー
図1は本発明に係るチップ状電子部品用トレーの一実施例を示す平面図、図2は図1に図示した矢印A部分の拡大平面図、図3は図2の3−3線に沿った断面図である。図示されたチップ状電子部品用トレーは、ベース板2と、網体4とを含む。ベース板2は、金属材料で構成され、一面に平板面21を含む。
1. 1 is a plan view showing an embodiment of a chip-shaped electronic component tray according to the present invention, FIG. 2 is an enlarged plan view of an arrow A portion shown in FIG. 1, and FIG. FIG. 3 is a sectional view taken along line 3-3. The illustrated chip-shaped electronic component tray includes a base plate 2 and a net body 4. The base plate 2 is made of a metal material and includes a flat plate surface 21 on one surface.

図3を参照すると、網体4は、縦の金属線41と横の金属線42とで織られており、多数の交差部43と、多数の網目45とを含む。交差部43は、金属線41、42が網体4の厚み方向で重なって形成される。より詳しくは、交差部43は、互いに隣り合う部分で、金属線41、42の上下が互い違いになるように交互に入れ替わって織られている。網体4の形態は本実施例に限らず、交差部43が網体4の厚み方向で重なって形成されれば、どのような形態であってもよい。また、部品収納区画毎に交差部43が存在していれば、部品収納区画毎に拡散接合5が行え、ベース板2と網体4との間の隙間を小さく保つことができる。   Referring to FIG. 3, the mesh body 4 is woven with vertical metal wires 41 and horizontal metal wires 42, and includes a large number of intersections 43 and a large number of meshes 45. The intersecting portion 43 is formed by overlapping the metal wires 41 and 42 in the thickness direction of the net body 4. More specifically, the intersecting portion 43 is a portion adjacent to each other, and is alternately woven so that the upper and lower sides of the metal wires 41 and 42 are alternated. The form of the mesh body 4 is not limited to the present embodiment, and any form may be employed as long as the intersecting portion 43 is formed so as to overlap in the thickness direction of the mesh body 4. Moreover, if the intersection part 43 exists for every component storage section, the diffusion joining 5 can be performed for every component storage section, and the clearance gap between the base board 2 and the net body 4 can be kept small.

網目45は、交差部43と、金属線41、42とで囲まれた部品収納区画を形成する。ベース板2及び網体4は、平板面21において、交差部43と拡散接合5により固着されている。網目45は、好ましくは、縦横比が1:1〜3:4の正方形状とし、セラミック電子部品1の長手方向が横向きに入ることができない縦横比とする。   The mesh 45 forms a component storage section surrounded by the intersecting portion 43 and the metal wires 41 and 42. The base plate 2 and the net 4 are fixed to each other on the flat plate surface 21 by the intersection 43 and the diffusion bonding 5. The mesh 45 preferably has a square shape with an aspect ratio of 1: 1 to 3: 4, and has an aspect ratio in which the longitudinal direction of the ceramic electronic component 1 cannot enter the lateral direction.

網目45の高さは、あまり低いと、収容されたセラミック電子部品1が脱落しやすく、あまり高いとセラミック電子部品の収容作業が困難となる。そこで、網目45の高さは、セラミック電子部品1の高さ寸法を考慮し、上述した不具合が生じないような高さに設定される。網目45の高さは、主として網体4を構成する金属線41、42の直径で決定されるので、網目45の高さ設定にあたっては、金属線41、42の直径を選択することになる。   When the height of the mesh 45 is too low, the accommodated ceramic electronic component 1 is likely to drop off, and when it is too high, it is difficult to accommodate the ceramic electronic component. Therefore, the height of the mesh 45 is set to a height that does not cause the above-described problems in consideration of the height dimension of the ceramic electronic component 1. Since the height of the mesh 45 is mainly determined by the diameters of the metal wires 41 and 42 constituting the mesh body 4, the diameter of the metal wires 41 and 42 is selected when setting the height of the mesh 45.

網体4の材質としては、端子電極の焼付を700℃〜900℃の温度範囲にて行うため、高温で安定性のある材料、例えばSUS304(Fe-18Cr-Ni)、MN(63Ni−30Cu)、Ha(Ni-Cr-Mo)及びチタン等が好適である。特に、チタンが好適である。チタンは、端子電極焼付に際して、セラミック電子部品との付着が全く無く、極めて好都合である。チタンを用いる場合、ベース板2及び網体4をチタンによって構成する他、ステンレス鋼の表面にめっきやコーティング等の手段によって、チタン被覆膜として形成してもよい。ベース板2及び網体4の材質は拡散接合を確実に行う上で、同一の材料が望ましい。尚、MN (63Ni−30Cu)は、合金MNが材質成分として63%以上のNiと、30%程度のCuを含有することを示す。   As the material of the mesh body 4, since the terminal electrode is baked in a temperature range of 700 ° C. to 900 ° C., a material which is stable at a high temperature, for example, SUS304 (Fe-18Cr-Ni), MN (63Ni-30Cu) , Ha (Ni—Cr—Mo), titanium and the like are preferable. Titanium is particularly preferable. Titanium is extremely convenient because it does not adhere to ceramic electronic components at the time of terminal electrode baking. When titanium is used, the base plate 2 and the mesh body 4 may be formed of titanium, or may be formed as a titanium coating film on the surface of stainless steel by means such as plating or coating. The material of the base plate 2 and the net body 4 is preferably the same material for ensuring diffusion bonding. Note that MN (63Ni-30Cu) indicates that the alloy MN contains 63% or more of Ni and about 30% of Cu as material components.

2.チップ状電子部品の製造方法(トレーの使用方法)
本発明にチップ状電子部品の製造方法では、上述したトレーを、チップ状電子部品の端子電極焼付け処理の際に用いる。図4は、チップ状電子部品の端子電極焼付にあたり、図3に図示したチップ状電子部品用トレーに、セラミック電子部品1を収容した状態を示す部分断面図である。セラミック電子部品1には、焼付け前の端子電極塗膜10が付与されている。セラミック電子部品1が例えば積層セラミックコンデンサであれば、端子電極塗膜10はセラミック電子部品1の長手方向両端に塗布される。
2. Manufacturing method of chip-shaped electronic components (Tray usage method)
In the manufacturing method of the chip-shaped electronic component according to the present invention, the above-described tray is used in the terminal electrode baking process of the chip-shaped electronic component. FIG. 4 is a partial cross-sectional view showing a state in which the ceramic electronic component 1 is accommodated in the chip-shaped electronic component tray shown in FIG. 3 when the terminal electrode of the chip-shaped electronic component is baked. The ceramic electronic component 1 is provided with a terminal electrode coating film 10 before baking. If the ceramic electronic component 1 is, for example, a multilayer ceramic capacitor, the terminal electrode coating film 10 is applied to both ends of the ceramic electronic component 1 in the longitudinal direction.

端子電極塗膜10を有するセラミック電子部品1は、周知の製造方法によって製造される。端子電極塗膜10は、例えば、銅等の金属粉を主成分とする導電成分と、有機バインダとを含み、これらを混合してペースト状に調整したものを、セラミック素体に塗布し、乾燥させることによって得られる。使用しうる端子電極塗膜の種類は特に限定されず、従来から知られているものを用途に合わせ任意に用いることができる。   The ceramic electronic component 1 having the terminal electrode coating film 10 is manufactured by a known manufacturing method. The terminal electrode coating film 10 includes, for example, a conductive component mainly composed of a metal powder such as copper and an organic binder, and a paste prepared by mixing these is applied to the ceramic body and dried. To obtain. The kind of terminal electrode coating film that can be used is not particularly limited, and any conventionally known terminal electrode coating film can be arbitrarily used according to the application.

図4において、セラミック電子部品1は、網目45に1個ずつ収容される。セラミック電子部品1が、汎用の積層セラミックコンデンサである場合、網目45は、縦横比が1:1〜3:4の正方形状であれば、セラミック電子部品1の長手方向が横向きに入ることができない。したがって、塗膜付きセラミック電子部品1は、長手方向を高さ方向として、網目45に収容され、1個の網目45に複数のセラミック電子部品1が収容されることはない。   In FIG. 4, the ceramic electronic components 1 are accommodated one by one in the mesh 45. When the ceramic electronic component 1 is a general-purpose multilayer ceramic capacitor, if the mesh 45 has a square shape with an aspect ratio of 1: 1 to 3: 4, the longitudinal direction of the ceramic electronic component 1 cannot enter sideways. . Therefore, the ceramic electronic component 1 with a coating film is accommodated in the mesh 45 with the longitudinal direction as the height direction, and a plurality of ceramic electronic components 1 are not accommodated in one mesh 45.

チップ状電子部品用トレーに収容された塗膜付きセラミック電子部品1は、次に、チップ状電子部品用トレーごと焼付炉に入れられ、700℃〜900℃程度に加熱されて端子電極焼付が行われる。このとき、セラミック電子部品1に塗布された端子電極塗膜10から有機バインダを除去する脱バインダ処理が行われる。脱バインダ処理は、網目45の周囲4面における交差部43と、金属線41、42との段差で形成される隙間G1を介して行われる。この隙間G1は、網体4の全面にわたって均等に存在するため、脱バインダ処理が良好に行え、更に、焼付温度の均一化及び焼付雰囲気の均一化を実現する。また、図4に示したように、ベース板2の厚さ方向に貫通孔23を設ければ、脱バインダ処理、焼付温度の均一化及び焼付雰囲気の均一化が更に良好に行える。   Next, the ceramic electronic component 1 with a coating film housed in the chip-shaped electronic component tray is placed in a baking furnace together with the chip-shaped electronic component tray, and is heated to about 700 ° C. to 900 ° C. to be subjected to terminal electrode baking. Is called. At this time, a binder removal process for removing the organic binder from the terminal electrode coating film 10 applied to the ceramic electronic component 1 is performed. The binder removal process is performed through a gap G <b> 1 formed by steps between the intersecting portions 43 on the four surfaces around the mesh 45 and the metal wires 41 and 42. Since the gap G1 exists evenly over the entire surface of the net body 4, the binder removal process can be performed satisfactorily, and the baking temperature and the baking atmosphere can be made uniform. Moreover, as shown in FIG. 4, if the through hole 23 is provided in the thickness direction of the base plate 2, the binder removal process, the uniform baking temperature, and the uniform baking atmosphere can be further improved.

また、網体4は、金属線41、42で織られており、多数の金属線交差部43と、多数の網目45とを含むから、一つの網目45を1個のチップ状電子部品の収容区画とし、各網目45にセラミック電子部品1を1個ずつ収容することができる。従って、セラミック電子部品1の端子電極塗膜10同士が接触することがない。   Further, the mesh body 4 is woven with the metal wires 41 and 42 and includes a large number of metal wire intersections 43 and a large number of meshes 45, so that one mesh 45 is accommodated in one chip-shaped electronic component. One ceramic electronic component 1 can be accommodated in each mesh 45. Therefore, the terminal electrode coating films 10 of the ceramic electronic component 1 do not contact each other.

また、ベース板2及び網体4は、平板面21において、交差部43と拡散接合5により固着しているから、網体4の全面にわたって交差部43がベース板2に固着しベース板2と網体4との間の隙間を小さく保つことができる。したがって、ベース板2と網体4との間の隙間にチップ状電子部品が入り込む不具合を防止できる。   Further, since the base plate 2 and the mesh body 4 are fixed to the intersecting portion 43 and the diffusion bonding 5 on the flat plate surface 21, the intersecting portion 43 is secured to the base plate 2 over the entire surface of the mesh body 4. The gap between the net body 4 can be kept small. Therefore, it is possible to prevent a problem that the chip-shaped electronic component enters the gap between the base plate 2 and the net body 4.

しかも、ベース板2に固着する部分は網体4の交差部43であるので、基本的には、全ての網目45が部品収納区画として利用できる。このため、セラミック電子部品1の収容数量の大きなチップ状電子部品用トレーが提供できる。   Moreover, since the portion fixed to the base plate 2 is the intersecting portion 43 of the mesh body 4, basically, all the meshes 45 can be used as the component storage section. For this reason, the tray for chip-shaped electronic components with a large accommodation quantity of the ceramic electronic components 1 can be provided.

次に、網体4の材質毎の焼付け実験結果を表1に示す。表1において、付着率(%)は網体4に対する端子電極塗膜(Cu膜)10の付着率(N=10,000)を示す。但し、付着率が高くても、端子電極塗膜10に破損、剥離などの欠陥を生じなければ問題はない。表1では、端子電極塗膜10の欠陥を生じたものを、付着不良率(%)として表示してある。   Next, Table 1 shows the results of baking experiments for each material of the mesh body 4. In Table 1, the adhesion rate (%) indicates the adhesion rate (N = 10,000) of the terminal electrode coating film (Cu film) 10 to the net 4. However, even if the adhesion rate is high, there is no problem if the terminal electrode coating film 10 is not damaged or peeled off. In Table 1, what produced the defect of the terminal electrode coating film 10 is displayed as a defective adhesion rate (%).

Figure 2006310761
Figure 2006310761

表1を参照すると、網体4を、SUS304(Fe-18Cr-Ni)、MN(63Ni−30Cu)、HA(Ni-Cr-Mo)及びチタンの何れで構成した場合でも、付着率に差はあっても、付着不良率は0.00(%)であり、何れの材質も使用可能であることが分かる。特に、Tiを用いた場合は、付着率が、他の材質に比較して著しく低い0.37(%)である。このことは、Tiを用いて網体4を構成した場合、付着率が極めて低くなり、付着による端子電極塗膜10へのダメージが極小になることを意味する。ステンレス鋼の表面にめっきやコーティング等の手段によって、チタン被覆膜を形成した場合も、同様の結果が得られた。   Referring to Table 1, there is a difference in the adhesion rate regardless of whether the network 4 is made of SUS304 (Fe-18Cr-Ni), MN (63Ni-30Cu), HA (Ni-Cr-Mo), or titanium. Even in this case, the adhesion failure rate is 0.00 (%), and it can be seen that any material can be used. In particular, when Ti is used, the adhesion rate is 0.37 (%), which is significantly lower than other materials. This means that when the net 4 is formed using Ti, the adhesion rate becomes extremely low, and damage to the terminal electrode coating film 10 due to adhesion is minimized. Similar results were obtained when a titanium coating film was formed on the surface of stainless steel by means such as plating or coating.

3.チップ状電子部品用トレーの製造方法
図5はベース板と網体との組み合わせ工程を説明する断面図、図6は、加圧、加熱、拡散接合工程を説明する断面図である。本発明に係るチップ状電子部品用トレーの製造方法は、図1〜図3に図示したチップ状電子部品用トレーを製造する方法である。
3. Manufacturing Method of Chip-shaped Electronic Component Tray FIG. 5 is a cross-sectional view for explaining the process of combining the base plate and the net body, and FIG. The chip-shaped electronic component tray manufacturing method according to the present invention is a method for manufacturing the chip-shaped electronic component tray shown in FIGS.

まず、図5に示すように、ベース板2と網体4とを準備する。ベース板2は、例えばステンレス鋼板等の金属材料で構成され、一面に平板面21を含む。網体4は、例えばステンレス鋼線等の金属線41、42で織られており、多数の金属線交差部43と、多数の網目45とを含む。交差部43は、金属線41、42が網体4の厚み方向で重なって形成される。網目45は、交差部43と、金属線41、42とで囲まれた部品収納区画を形成する。   First, as shown in FIG. 5, a base plate 2 and a net 4 are prepared. The base plate 2 is made of a metal material such as a stainless steel plate, for example, and includes a flat plate surface 21 on one surface. The mesh body 4 is woven with metal wires 41 and 42 such as stainless steel wires, for example, and includes a large number of metal wire intersections 43 and a large number of meshes 45. The intersecting portion 43 is formed by overlapping the metal wires 41 and 42 in the thickness direction of the net body 4. The mesh 45 forms a component storage section surrounded by the intersecting portion 43 and the metal wires 41 and 42.

準備されたベース板2及び網体4は、図5に図示するように、互いに重ねあわされる。ベース板2と網体4とをこのように組み合わせると、網体4において、交差部43の厚みが厚いので、網体4の全面にわたって交差部43がベース板2の平板面21と接触する。ベース板2及び網体4は、この重ね合わせの状態で加圧、加熱、拡散接合工程に移行する。   The prepared base plate 2 and net 4 are overlapped with each other as shown in FIG. When the base plate 2 and the mesh body 4 are combined in this way, the intersection 43 in the mesh body 4 is thick, so that the intersection 43 contacts the flat plate surface 21 of the base plate 2 over the entire surface of the mesh body 4. The base plate 2 and the net 4 are transferred to the pressurizing, heating, and diffusion bonding processes in this superposed state.

加圧、加熱、拡散接合工程では、図6に図示するように、ベース板2の下側に下側押圧板61があてがわれ、網体4の上側に上側押圧板62があてがわれ、矢印F1又はF2の方向の押圧力を加えた状態で、1000℃程度の温度で加熱される。これにより、ベース板2及び網体4を拡散接合5により固着する。押圧荷重、過熱時間などは、ベース板2及び網体4の材質、形状、大きさ、厚さなどに応じて、経験的に定めることができる。   In the pressurization, heating, and diffusion bonding steps, as shown in FIG. 6, a lower pressing plate 61 is applied to the lower side of the base plate 2, and an upper pressing plate 62 is applied to the upper side of the net body 4. Heating is performed at a temperature of about 1000 ° C. with a pressing force in the direction of the arrow F1 or F2. Thereby, the base plate 2 and the net 4 are fixed by the diffusion bonding 5. The pressing load, the overheating time, and the like can be determined empirically according to the material, shape, size, thickness, and the like of the base plate 2 and the net body 4.

上述した拡散接合5によれば、網体4の全面にわたって交差部43がベース板2に固着し、ベース板2と網体4との間の隙間を小さく保つことができる。したがって、ベース板2と網体4との間の隙間にチップ状電子部品が入り込む不具合を防止できる。   According to the diffusion bonding 5 described above, the intersecting portion 43 is fixed to the base plate 2 over the entire surface of the mesh body 4, and the gap between the base plate 2 and the mesh body 4 can be kept small. Therefore, it is possible to prevent a problem that the chip-shaped electronic component enters the gap between the base plate 2 and the net body 4.

また、交差部43は、金属線41、42が網体4の厚み方向で重なって形成されるから、この部分の厚みが厚くなる。このため、ベース板2の平板面21に網体4を組み合わせると、網体4の全面にわたって交差部43が平板面21に接触する。したがって、両者を加熱、加圧することにより、網体4の全面にわたる接触部分をベース板2の平板面21に拡散接合5させることができる。   Further, since the crossing portion 43 is formed by overlapping the metal wires 41 and 42 in the thickness direction of the net body 4, the thickness of this portion is increased. For this reason, when the mesh body 4 is combined with the flat plate surface 21 of the base plate 2, the intersecting portion 43 contacts the flat plate surface 21 over the entire surface of the mesh body 4. Accordingly, by heating and pressurizing both, the contact portion over the entire surface of the mesh body 4 can be diffusion bonded 5 to the flat plate surface 21 of the base plate 2.

以上、好ましい実施例を参照して本発明を詳細に説明したが、本発明はこれらに限定されるものではなく、当業者であれば、その基本的技術思想および教示に基づき、種々の変形例を想到できることは自明である。   The present invention has been described in detail with reference to the preferred embodiments. However, the present invention is not limited to these embodiments, and various modifications can be made by those skilled in the art based on the basic technical idea and teachings. It is self-evident that

本発明に係るチップ状電子部品用トレーの一実施例を示す平面図。The top view which shows one Example of the tray for chip-shaped electronic components which concerns on this invention. 図1に図示した矢印A部分の拡大平面図である。FIG. 2 is an enlarged plan view of an arrow A portion illustrated in FIG. 1. 図2の3−3線に沿った断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view taken along line 3-3 in FIG. 図3に図示したチップ状電子部品用トレーに塗膜付きセラミック電子部品を収容した状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the state which accommodated the ceramic electronic component with a coating film in the tray for chip-shaped electronic components shown in FIG. 本発明に係るチップ状電子部品用トレーの製造方法における一つの工程を示す図である。It is a figure which shows one process in the manufacturing method of the tray for chip-shaped electronic components which concerns on this invention. 図5に示した工程の後の加圧、加熱及び拡散接合工程を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining the pressurization, heating, and diffusion bonding process after the process shown in FIG.

符号の説明Explanation of symbols

1 セラミック電子部品
10 塗膜
2 ベース板
21 平板面
4 網体
41、42 金属線
43 交差部
45 網目
5 拡散接合

1 Ceramic electronic parts 10 Paint film
2 Base plate 21 Flat plate surface
4 Mesh 41, 42 Metal wire 43 Intersection 45 Mesh
5 Diffusion bonding

Claims (10)

ベース板と、網体とを含み、チップ状電子部品の処理に用いられるトレーであって、
前記ベース板は、金属材料で構成され、一面に平板面を含み、
前記網体は、金属線で織られ、多数の金属線交差部と、多数の網目とを含み、
前記ベース板及び前記網体は、前記平板面において、前記交差部と拡散接合により固着されている、
チップ状電子部品用トレー。
A tray including a base plate and a net, and used for processing chip-shaped electronic components,
The base plate is made of a metal material and includes a flat plate surface on one side,
The mesh body is woven with metal wires, and includes a large number of metal wire intersections and a large number of meshes,
The base plate and the net are fixed to the intersecting portion by diffusion bonding on the flat plate surface,
Chip-type electronic component tray.
請求項1に記載されたチップ状電子部品用トレーであって、前記ベース板は、その厚さ方向に貫通孔を有する、チップ状電子部品用トレー。   It is a tray for chip-shaped electronic components described in Claim 1, Comprising: The said base board is a tray for chip-shaped electronic components which has a through-hole in the thickness direction. 請求項1又は2に記載されたチップ状電子部品用トレーであって、前記ベース板及び前記網体の材質は、チタンを主成分とする、チップ状電子部品用トレー。   3. The chip-shaped electronic component tray according to claim 1, wherein a material of the base plate and the net body is titanium. 請求項1又は2に記載されたチップ状電子部品用トレーであって、前記ベース板及び前記網体は、チタンで被覆されている、チップ状電子部品用トレー。   3. The chip-shaped electronic component tray according to claim 1, wherein the base plate and the net body are coated with titanium. 請求項1又は2に記載されたチップ状電子部品用トレーであって、前記ベース板及び前記網体の材質は、ステンレス鋼を主成分とするチップ状電子部品用トレー。   3. The chip-shaped electronic component tray according to claim 1, wherein a material of the base plate and the mesh body is stainless steel as a main component. 4. 請求項1又は2に記載されたチップ状電子部品用トレーであって、前記ベース板及び前記網体の材質は、63Ni−30Cuを主成分とする、チップ状電子部品用トレー。   3. The chip-shaped electronic component tray according to claim 1, wherein a material of the base plate and the mesh body is 63Ni-30Cu as a main component. 4. 請求項1又は2に記載されたチップ状電子部品用トレーであって、前記ベース板及び前記網体の材質は、Ni-Cr-Moを主成分とする、チップ状電子部品用トレー。   3. The chip-shaped electronic component tray according to claim 1, wherein a material of the base plate and the net is mainly Ni—Cr—Mo. 4. 請求項1乃至7の何れかに記載されたチップ状電子部品用トレーであって、前記網目は、縦横比が1:1〜3:4の正方形状であって、チップ状電子部品の長手方向が横向きに入ることができない寸法に構成されているチップ状電子部品用トレー。   The tray for chip-shaped electronic components according to any one of claims 1 to 7, wherein the mesh has a square shape with an aspect ratio of 1: 1 to 3: 4, and is a longitudinal direction of the chip-shaped electronic component. Chip-shaped electronic component tray that is configured to have a size that cannot enter sideways. 請求項1乃至8の何れかに記載されたチップ状電子部品用トレーを製造する方法であって、
前記ベース板の一面に前記網体を配置し、
前記ベース板と前記網体とを加圧、加熱し、前記ベース板と前記網体とを前記平板面において、前記交差部と拡散接合により固着する
工程を含むチップ状電子部品用トレーの製造方法。
A method for producing a tray for a chip-shaped electronic component according to any one of claims 1 to 8,
Placing the net on one side of the base plate;
A method of manufacturing a tray for chip-like electronic parts, comprising: pressing and heating the base plate and the net body, and fixing the base plate and the net body to the intersecting portion by diffusion bonding on the flat plate surface. .
端子電極焼付け形成工程を含むチップ状電子部品の製造方法であって、
請求項1乃至8の何れかに記載されたチップ状電子部品用トレーを用い、前記チップ状電子部品用トレーの前記網目に、塗膜付きセラミック電子部品を収容し、
前記チップ状電子部品用トレーに収容した前記塗膜付きセラミック電子部品を加熱して、端子電極を焼付ける
工程を含むチップ状電子部品の製造方法。

A method of manufacturing a chip-shaped electronic component including a terminal electrode baking formation step,
Using the chip-shaped electronic component tray according to any one of claims 1 to 8, containing a coated ceramic electronic component in the mesh of the chip-shaped electronic component tray,
A method for manufacturing a chip-shaped electronic component, comprising heating the coated ceramic electronic component housed in the chip-shaped electronic component tray and baking the terminal electrode.

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