JP2006292763A - 電流測定装置 - Google Patents

電流測定装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2006292763A
JP2006292763A JP2006111234A JP2006111234A JP2006292763A JP 2006292763 A JP2006292763 A JP 2006292763A JP 2006111234 A JP2006111234 A JP 2006111234A JP 2006111234 A JP2006111234 A JP 2006111234A JP 2006292763 A JP2006292763 A JP 2006292763A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
coil
current
conductor
measuring device
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2006111234A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5064712B2 (ja
Inventor
Christian Fritsch
フリッチュ クリスティアン
Ekkehard Mann
マン エッケハルト
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Trumpf Huettinger GmbH and Co KG
Original Assignee
Huettinger Elektronik GmbH and Co KG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Huettinger Elektronik GmbH and Co KG filed Critical Huettinger Elektronik GmbH and Co KG
Publication of JP2006292763A publication Critical patent/JP2006292763A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5064712B2 publication Critical patent/JP5064712B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/145Indicating the presence of current or voltage
    • G01R19/15Indicating the presence of current
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/14Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
    • G01R15/18Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using inductive devices, e.g. transformers
    • G01R15/181Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using inductive devices, e.g. transformers using coils without a magnetic core, e.g. Rogowski coils
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/18Screening arrangements against electric or magnetic fields, e.g. against earth's field
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/0046Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof characterised by a specific application or detail not covered by any other subgroup of G01R19/00
    • G01R19/0061Measuring currents of particle-beams, currents from electron multipliers, photocurrents, ion currents; Measuring in plasmas

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)

Abstract

【課題】強力な妨害フィールドにおいて高周波電流を正確に測定できる電流測定装置を提供すること。
【解決手段】電流を導く導体(2)における電流を例えば非接触で電流測定する電流測定装置(1)であって、この電流測定装置には、コイル導体(4)を有するコイル装置(3)と、コイル導体(4)に接続されている回路(5)とが含まれており、上記コイル装置(3)は、少なくとも区分的にコイルシールド部(11)に包囲されている形式の電流測定装置(1)において、上記のコイルシールド部(11)および回路(5)は互いに依存せずにアース電位に接続されていることを特徴とする電流測定装置(1)を構成する。
【選択図】図1

Description

本発明は、電流を導く導体における電流を例えば非接触で電流測定する電流測定装置に関し、ここでこの装置にはコイル導体を有するコイル装置と、コイル導体に接続された回路が含まれ、このコイル装置は、少なくとも区分的にコイルシールド部によって包囲されている。
高周波出力電流供給部によるプラズマの励起は、例えば、半導体コーティング、プラズマエッチング、レーザ励起などから公知である。電流供給部からプラズマ装置に供給される電流の測定および監視はさまざま理由から必要である。
100V/m以下の電場および電磁場により、比較的わずかな障害が発生する状況において、数10Aまでの比較的大きなHF電流をコイルベースで電流測定することが公知である。
プラズマ技術の新たな発展においていまやさまざまなHFプラズマ応用分野でつぎのような電流測定が必要である。すなわちこれらのHFプラズマ応用分野では100Aをはるかに上回る1〜数100MHzの電流が流れ、また電流導体には0(直流電圧)〜数100MHzの周波数の1000Vを上回る電圧、しばしば5000Vさえも上回る電圧が加わるのである。電流を導きかつ1000Vの電位にある導体から数cm(<10cm)の間隔において、10kV/m以上の障害フィールド(Stoerfeld)が形成され、この障害フィールドにより、電流測定にマイナスの影響が及ぼされるか、または従来の測定装置による電流測定が不可能になってしまうのである。
従来の電流測定装置のコイルに誘導され得る電流は、あまりに大きくなり、端子において直接取り出することができないおそれがある。MHz程度(1〜100MHz)の信号を有する1A程度の大電流が、測定ケーブルを介して測定信号評価ユニットに導かれる場合には、殊に損失および測定誤りが発生することになる。
Honea等による"Improved construction of Rogowski coils for measurement of plasma currents", Journal of Physics E: Scientific Instruments 1974, Volume 7, p. 537, 538から、ロゴスキーコイルを使用して電流測定することが公知である。ここでこのロゴスキーコイルは、コイル導体に接続されているシールド部を有しているため、このシールド部とコイル導体とは少なくとも1箇所において同電位にある。
Honea et al. "Improved construction of Rogowski coils for measurement of plasma currents", Journal of Physics E: Scientific Instruments 1974, Volume 7, p. 537, 538
本発明の課題は、強力な障害フィールドにおいて高周波電流を正確に測定できる電流測定装置を提供することである。
上記の課題は、本発明による、冒頭に述べた形式の電流測定装置によって解決され、ここではコイルシールド部および回路が互いに依存せずにアース電位に接続されている。電流測定のため、電流を導く導体の領域にコイル装置を配置して、コイル導体において上記の電流を導く導体における電流を表す信号、例えば電流に比例した信号が形成されるようにしなければならないのは当然のことである。ここで上記のコイル導体には有利には複数の巻線において上記の電流を導く導体によって形成される磁場の一部が含まれる。このために上記のコイル装置のコイル導体は有利には2つの端子を有しており、上記の電流を導く導体における電流を表す信号がこれらの端子に加えられる。このような装置によって、HF電流を高周波プラズマ電流供給部からプラズマ励起装置に導く電流導体において高精度に電流を測定することができる。ここで1MHz〜数100MHzの周波数で電流強度は100Aを上回ることがあり、10kV/m以上の障害フィールド強度が発生し得る。これらは、せいぜいのところ無視することのできる測定結果誤りにしかならない。したがって障害の発生し易さは低減されるのである。
殊に有利であるのは、上記のコイルシールド部および回路が1つずつのアース端子を有する場合であり、ここではアース端子は互いに離れてアース電位に接続されている。このことが意味するのは、上記の回路もアース電位への固有の端子を有することであり、ここでこの端子は、シールド部の端子とは位置的に離れて取り付けられている。例えば大きな調整電流(Ausgleichstroeme)が流れない箇所に取り付けられるのである。このように手段によって測定信号が劣化することがない。
上記のコイルシールド部および回路を共通のアースプレートに接続することが考えられる。この際に注意すべきであるのは、アースプレートへの端子が互いに離れて配置されて、調整電流が流れないか、または無視できる調整電流だけが流れるようにすることである。択一的には上記の回路およびコイルシールド部を別個のアースプレートに接続することである。この場合にこれらのアースプレートは、極めて小さい直流抵抗(<0.1オーム)を有するインダクタンスによって接続することができる。
殊に有利の実施形態では、上記の回路にはシールド部が含まれており、このシールド部がアース電位に接続されるようにすることが可能である。このことが意味するのは、この回路がシールド部と導電的に接続される場合、アース電位に至るこの回路の接続が、この回路のシールド部を介して形成できることである。
コイル装置が円形に構成される場合、上記の電流を導く導体の周りにこのコイル装置を円形に配置することができる。この際にこのコイル装置は有利には、上記の電流を導く導体に対して垂直な面に配置される。このような配置構成によって殊に精確かつ信頼性の高い電流測定が可能になる。
有利にはコイルシールド部も円形に構成され、例えば中空トロイドとして実施される。これによってわずかな組み込みスペースしか必要としないで、障害電圧を有する電場に対してコイル装置を高い信頼性でシールドすることができる。ここでこの電場は、例えば上記の電流を導く導体の電流によって形成される妨害電圧によって形成される。
殊に有利であるのは、コイルシールド部が少なくとも区分的に開いている場合であり、例えば上記の電流を導く導体とは反対側が開いている。殊に有利には上記のシールド部は、外側に向かって開いている。すなわち円周方向に完全に閉じられていない、中空トロイドとして構成され、この中に上記のコイル装置を配置することができる。これによって電場に対する殊に良好なシールドが実現される。閉じられた(中空の)トロイドは、すなわち、コイル装置を円周方向に完全に包囲するシールド部は、電磁場を完全にシールドしてしまうことになるため、使用することができない。それはこの場合に非接触の電流測定がもはや不可能になってしまうからである。
上記のコイルシールド部は有利には銅から構成され、厚さは少なくとも1mmである。この材料から構成されるコイルシールド部は、高い電圧を形成することなく、強く入力結合された出力を殊に良好にアース電位に取り出すことができる。この際に発生する熱は、銅によって同様に良好に排出することができる。
1実施形態では上記のコイル装置をフェライトなしに、例えばロゴスキーコイルとして構成することが可能である。このコイル装置は有利には強磁性の部分を有しない。ロゴスキーコイルとは、長さlの強磁性でない支持体、例えばフェライトでない支持体において少なくとも区分的に複数の巻線に巻回されたコイル導体を有するコイルのことであると理解されたい。このコイル導体は、巻線の形で支持体の一方の端部から、この支持体の反対側の端部に向かって延びている。この反対側の端部からコイル導体は巻線内を案内されて戻るため、2つのコイル導体端部ないしはコイル導体端子は接近して並び合うようにすることが可能である。これに加えて上記の支持体が円形に、例えばスリットが入れられた円として構成される場合、コイル装置は殊に簡単に上記の電流を導く導体の周りに配置することが可能である。
ロゴスキーコイルの利点は、飽和および強磁性歪みが生じないことである。このため極めて高い電流増大速度(>40000A/μs)および極めて大きな電流(>1000A)を数100MHzにおいて測定することができる。上記の電流を導く導体は、ロゴスキーコイルを取り付けるために中断させる必要はない。したがってこれはプラズマ装置における電流測定に対する新たな要求に有利である。
殊に有利であるのは、上記の回路が少なくとも1つの負荷、例えば抵抗を有する場合である。上記のコイル装置の、例えばコイル導体の2つの端子に負荷、例えば抵抗が接続される場合、この負荷において上記の電流を導く導体における電流に比例する電圧が降下する。測定すべき電流が大きい場合、コイル装置における電流も相対的に大きく、例えば数アンペアまでになる。これらの電流は、測定ケーブルによる測定信号劣化をおそれることなしに測定ケーブルでまた離れたところにある評価ユニットに導くことはできない。したがってコイル装置の直ぐ近くに(数センチメートルの間隔で)、それ自体シールド部を有する回路を取り付ける。この回路は最も簡単なケースではただ1つの負荷を有しており、コイル装置における電流に起因してこの負荷において電圧が降下し、この電圧を取り出すことができる。抵抗値により、測定信号の電圧のレベルを調整することができる。この測定信号は、大きな劣化もなく問題なしに測定信号評価ユニットに導くことができる。
有利には上記の回路は、評価装置を接続するための少なくとも1つの測定端子を有している。上記の回路は有利には2つの端子を有しており、ここでこれらの端子に測定信号が加わり、これらの端子の一方はアース電位にある。これによって測定精度を高めることができる。アース電位は有利にはわずかな調整電流が流れる箇所に加わっているため、別のアース端子による障害のおそれはわずかである。
コイルシールド部における調整電流により、大きな損失が発生することがあり、これは大量の損失熱を形成し得る。この損失熱により、コイル装置が破壊され得る。このために有利であるのは、コイルシールド部を冷却材で冷却する、例えば水で冷却する場合である。
本発明の有利な実施形態を図面に概略的に示し、以下で図面の図に関連して詳しく説明する。
図1には、電流を導く導体2を通る電流を測定する電流測定装置1が示されている。電流測定装置1は、コイル装置3を有しており、これはロゴスキーコイルとして構成されている。コイル装置3には複数のターンを有するコイル導体4が含まれている。コイル導体4は巻線の形でコイル支持体に沿って、例えば図1に示していないコイル支持体の端部まで延びており、また巻線の内部で案内されて戻される。コイル支持体は、閉じたリングまたは閉じていない(開いた)リングとして構成することができる。
コイル導体4は回路5に接続されており、この回路は、回路5の一部と見なされるシールド部6内に配置されている。コイル導体4は、シールド部6に接続されており、このことは接続点7によって示されている。
シールド部6はアース端子9を有しており、ひいては回路5もアース端子9を有している。回路5には抵抗として構成された負荷10が含まれており、これは端子8を介してシールド部6に、ひいてはアース電位に接続されている。コイル導体4は、2つの端子23および24を有している。端子23によってコイル導体は、接続点7においてシールド部6に接続されている。また端子24によってコイル導体は、負荷10に接続されている。シールド部6および端子7,8を介してコイル導体4の端子23は、負荷10に接続されている。これにより、負荷10は2つの端子23,24に接続されているのである。
コイル装置3は、コイルシールド部11を有しており、これはアース端子12を有する。アース端子9,12は互いに離れており、アース端子9,12間には調整電流が流れないか、またはわずかな調整電流しか流れない。シールド部6はコイルシールド部11と直接に接続されていない。設けられているのは、アース端子9,12を介する間接的な接続、および例えばアース端子9,12が互いに離れて接続されているアースプレートである。
一方の電流導体端部13は負荷10以外のところで測定端子14に接続されている。この端子には測定ケーブルを介して、図示しない評価装置を接続することができる。この測定ケーブルの第2の端子は、シールド部6に接続することができ、ひいてはノイズレベルの低いアース電位に接続することができる。この端子は、測定端子14から評価装置に至る測定ケーブルに対するシールドとして利用可能である。電流を導く導体2に電流が流れると、コイル導体4に電圧が誘導され、つぎにこの電圧によって電流が発生して、負荷10を介して電圧が降下する。この電圧は、点8と14との間で、例えば測定端子14と、アース電位への任意の接続部との間の電圧として取り出すことができる。これは、電流を導く導体2を流れる電流に対する尺度である。
図2には図1の線II−IIによる断面図が示されている。ここから明瞭にわかるのは、コイル装置3が、外側に向かって開いているコイルシールド部11内に配置されていることであり、ここでこのコイルシールド部はリング状に、殊に中空トロイドとして構成されている。この実施例ではコイルシールド部11の断面は、閉じられたリング状としてU字形に構成されており、ここでこのU字形は有利には2つの脚部と、これらを接続するウェブとから構成されているため、実質的に矩形が得られる。作製はこれによって簡単になる。しかしながらコイルシールド部11は、スリットが入れられたリング形状とすることも可能である。例えばシールド部11により、コイル装置3が電場に対して容量的にシールドされる。ここでこの電場は、電流を導く導体2における高い電圧によって形成される。明らかにわかるのは、コイル装置3の戻り導体(Rueckleiter)20が、支持体22に巻回されている巻線21の中心を案内されていることである。
コイルシールド部11には銅管として構成されている冷却体25配置されており、この冷却体により、コイルシールド部11を冷却する冷却液が導かれる。冷却体25は、熱交換に有利なコイルシールド部11との接続部を少なくとも区分的に有する。
電流測定装置の概略平面図である。 図1の線II−IIによる断面図である。
符号の説明
1 電流測定装置、 2 電流を導く導体、 3 コイル装置、 4 コイル導体、 5 回路、 6 シールド部、 7,8 端子、 9,12 アース端子、 10 負荷、 11 コイルシールド部、 13 電流導体端部、14 測定端子、20 戻り導体、21 巻線、22 支持体、 23,24 端子、 25 冷却体

Claims (10)

  1. 電流を導く導体(2)における電流を例えば非接触で電流測定する電流測定装置(1)であって、
    該電流測定装置には、コイル導体(4)を有するコイル装置(3)と、コイル導体(4)に接続されている回路(5)とが含まれており、
    前記コイル装置(3)は、少なくとも区分的にコイルシールド部(11)に包囲されている形式の電流測定装置(1)において、
    前記のコイルシールド部(11)および回路(5)は互いに依存せずにアース電位に
    接続されていることを特徴とする
    電流測定装置(1)。
  2. 前記のコイルシールド部(11)および回路(5)は1つずつのアース端子(9,12)を有しており、
    該アース端子(9,12)は互いに離れてアース電位に接続されている、
    請求項1に記載の電流測定装置。
  3. 前記のコイルシールド部(11)および回路(5)は共通のアースプレートまたは別個のアースプレートに接続されている、
    請求項1または2に記載の電流測定装置。
  4. 前記回路(5)にはシールド部(6)が含まれており、
    該シールド部(6)はアース電位に接続されている、
    請求項1から3までのいずれか1項に記載の電流測定装置。
  5. 前記コイル装置(3)は円形に構成されている、
    請求項1から4までのいずれか1項に記載の電流測定装置。
  6. 前記コイルシールド部(11)は円形に構成されており、例えば断面が矩形の中空トロイドとして実施されており、殊に区分的に開かれている、
    請求項1から5までのいずれか1項に記載の電流測定装置。
  7. 前記コイル装置(11)はフェライトなしに構成されており、殊にロゴスキーコイルとして構成されている、
    請求項1から6までのいずれか1項に記載の電流測定装置。
  8. 前記回路(5)は少なくとも1つの負荷(10)、例えば抵抗を有する、
    請求項1から7までのいずれか1項に記載の電流測定装置。
  9. 前記回路(5)は、評価装置を接続するための少なくとも1つの測定端子(14)を有する、
    請求項1から8までのいずれか1項に記載の電流測定装置。
  10. 前記コイルシールド部(11)は冷却材によって冷却される、
    請求項1から9までのいずれか1項に記載の電流測定装置。
JP2006111234A 2005-04-13 2006-04-13 電流測定装置 Expired - Fee Related JP5064712B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102005016996.1A DE102005016996B4 (de) 2005-04-13 2005-04-13 Strommesseinrichtung
DE102005016996.1 2005-04-13

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006292763A true JP2006292763A (ja) 2006-10-26
JP5064712B2 JP5064712B2 (ja) 2012-10-31

Family

ID=37067730

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006111234A Expired - Fee Related JP5064712B2 (ja) 2005-04-13 2006-04-13 電流測定装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7321227B2 (ja)
JP (1) JP5064712B2 (ja)
KR (1) KR100815045B1 (ja)
DE (1) DE102005016996B4 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009139521A1 (en) * 2008-05-13 2009-11-19 Taehwatrans Co., Ltd. Clamp type current sensor with rogowski coil

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7003435B2 (en) 2002-10-03 2006-02-21 Leviton Manufacturing Co., Inc. Arc fault detector with circuit interrupter
US6972572B2 (en) 2003-12-22 2005-12-06 Leviton Manufacturing Co., Inc. Arc fault detector
US7545138B2 (en) * 2006-07-06 2009-06-09 Schweitzer Engineering Laboratories, Inc. Precision, temperature-compensated, shielded current measurement device
US7598724B2 (en) * 2007-01-19 2009-10-06 Admmicro Properties, Llc Flexible current transformer assembly
KR100860527B1 (ko) * 2007-04-03 2008-09-26 엘에스산전 주식회사 전자식 전류 변성기
KR100915653B1 (ko) * 2007-08-30 2009-09-04 김성만 전자기유도 현상을 응용한 기중절연 고압기기 전류측정장치
KR100948630B1 (ko) * 2007-11-29 2010-03-24 태화트랜스 주식회사 로고스키코일을 구비하는 전류센서
CN101910856B (zh) 2008-01-29 2014-06-18 立维腾制造有限公司 自测试故障电路中断器装置和方法
ATE541218T1 (de) * 2008-06-19 2012-01-15 Abb Technology Ag Kombiniertes elektrisches messgerät
US7924537B2 (en) * 2008-07-09 2011-04-12 Leviton Manufacturing Company, Inc. Miswiring circuit coupled to an electrical fault interrupter
KR20100067413A (ko) * 2008-12-11 2010-06-21 삼성전자주식회사 비접촉식 플라즈마 모니터링 장치, 플라즈마 처리 장치 및 비접촉식 플라즈마 모니터링 방법
MX2010001276A (es) * 2009-01-30 2011-01-10 Elster Solutions Llc Metodo y aparato para medir la salida de corriente de transformadores de energia de distribucion de bajo voltaje montados sobre cojinete.
US20110043190A1 (en) * 2009-08-20 2011-02-24 Farr Lawrence B Rogowski coil, medium voltage electrical apparatus including the same, and method of providing electrostatic shielding for a rogowski coil
US8264215B1 (en) * 2009-12-10 2012-09-11 The Boeing Company Onboard electrical current sensing system
US8493053B2 (en) * 2009-12-18 2013-07-23 GRID20/20, Inc. System and device for measuring voltage in a conductor
CN101806828B (zh) * 2010-04-07 2012-05-23 云南电力试验研究院(集团)有限公司 一种置于高电位侧的冲击放电电流全范围测量的方法
US8599523B1 (en) 2011-07-29 2013-12-03 Leviton Manufacturing Company, Inc. Arc fault circuit interrupter
US8928337B2 (en) 2012-01-27 2015-01-06 Schweitzer Engineering Laboratories, Inc. Device for measuring electrical current and method of manufacturing the same
US20140167786A1 (en) * 2012-12-14 2014-06-19 Schneider Electric USA, Inc. Current Sensor For Power Measurement Applications
US9759758B2 (en) 2014-04-25 2017-09-12 Leviton Manufacturing Co., Inc. Ground fault detector
DE102014112105A1 (de) * 2014-08-25 2016-02-25 Phoenix Contact Gmbh & Co. Kg Halterungseinrichtung für eine Rogowskispule
DE102015115264B3 (de) * 2015-09-10 2016-08-18 Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg Zentrierhalteeinrichtung für eine Rogowski-Spule, Messeinrichtung, Leistungselektronikeinrichtung und ein Verfahren zur Anordnung einer Rogowski-Spule
DE102016116719A1 (de) 2016-09-07 2018-03-08 Ms-Technik Mess- Und Regelungstechnik Gmbh & Co. Kg Vorrichtung zur Ortung einer Störstelle an einem Leiter
DE102016124164A1 (de) * 2016-12-13 2018-06-14 Dr. Ing. H.C. F. Porsche Aktiengesellschaft Vorrichtung und Verfahren zum Messen eines elektrischen Stroms in einem elektrischen Leiter
PL235872B1 (pl) * 2018-09-20 2020-11-02 Politechnika Czestochowska Urządzenie do pomiaru ultraniskich rezystancji i impedancji
EP3783370A1 (en) * 2019-08-20 2021-02-24 LEM International SA Rogowski current transducer
CN113267116B (zh) * 2021-04-15 2023-03-31 江苏省电力试验研究院有限公司 一种盘装电缆长度测量系统及方法
US11617269B2 (en) 2021-07-20 2023-03-28 Schweitzer Engineering Laboratories, Inc. Current measuring device for an electric power protection system
CN114740244B (zh) * 2022-04-01 2023-06-20 核工业西南物理研究院 一种用于等离子体电流分布诊断的罗氏线圈探针
DE102023101847A1 (de) 2023-01-25 2024-07-25 TRUMPF Hüttinger GmbH + Co. KG Verbindungsanordnung, Plasmaprozessstromversorgungsystem, Plasmaprozesssystem sowie ein Verfahren zum Betreiben eines Plasmaprozesses
DE102023109309A1 (de) 2023-04-13 2024-10-17 TRUMPF Hüttinger GmbH + Co. KG Mikrowellen-Erwärmungseinrichtung für eine mikrowellengestützte Bearbeitungsvorrichtung und Nutzung derselben

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04118668U (ja) * 1991-04-05 1992-10-23 日本電信電話株式会社 ロゴスキーコイル
JPH0618568A (ja) * 1992-07-02 1994-01-25 Mitsubishi Electric Corp 電流センサ
JP2000065866A (ja) * 1998-08-26 2000-03-03 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 電流プローブ
JP2000147023A (ja) * 1998-11-11 2000-05-26 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 感度調整機能付き大口径電流プローブ
JP2001141755A (ja) * 1999-11-16 2001-05-25 Mitsubishi Electric Corp 電流測定装置

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US1809285A (en) * 1925-10-16 1931-06-09 Westinghouse Electric & Mfg Co Electrostatic transformer
CA1182537A (fr) * 1983-02-08 1985-02-12 Hubert P. Mercure Capteur dynamique de courant
FR2564594B1 (fr) * 1984-05-21 1986-09-12 Merlin Gerin Capteur de courant a noyau amagnetique
US4841235A (en) * 1987-06-11 1989-06-20 Eaton Corporation MRS current sensor
US4897600A (en) 1987-11-13 1990-01-30 Florida International University High frequency ammeter
AU627742B2 (en) * 1988-10-18 1992-09-03 General Electric Company Current sensors
JPH03131768A (ja) * 1989-10-18 1991-06-05 Meidensha Corp ガス絶縁開閉装置の主回路電圧検出方法
US5206596A (en) * 1991-03-28 1993-04-27 Eaton Corporation Arc detector transducer using an e and b field sensor
US5506373A (en) * 1993-07-09 1996-04-09 Magnavox Electronic Systems Company Electronic module enclosure
EP0675368B1 (de) * 1994-03-30 2002-08-28 Siemens Metering AG Eingangsteil eines Messgerätes
US5576629A (en) * 1994-10-24 1996-11-19 Fourth State Technology, Inc. Plasma monitoring and control method and system
US5670860A (en) * 1995-06-06 1997-09-23 Hughes Electronics High power, high frequency, liquid-cooled transmission cable and charging system
US6184672B1 (en) * 1997-08-15 2001-02-06 General Electric Company Current sensor assembly with electrostatic shield
AU2781699A (en) * 1998-03-13 1999-09-27 Florida International University Apparatus for measuring high frequency currents
KR20010027246A (ko) 1999-09-11 2001-04-06 최위영 교류 전류센서 및 이것을 내장하는 전력기기

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04118668U (ja) * 1991-04-05 1992-10-23 日本電信電話株式会社 ロゴスキーコイル
JPH0618568A (ja) * 1992-07-02 1994-01-25 Mitsubishi Electric Corp 電流センサ
JP2000065866A (ja) * 1998-08-26 2000-03-03 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 電流プローブ
JP2000147023A (ja) * 1998-11-11 2000-05-26 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 感度調整機能付き大口径電流プローブ
JP2001141755A (ja) * 1999-11-16 2001-05-25 Mitsubishi Electric Corp 電流測定装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009139521A1 (en) * 2008-05-13 2009-11-19 Taehwatrans Co., Ltd. Clamp type current sensor with rogowski coil

Also Published As

Publication number Publication date
US7321227B2 (en) 2008-01-22
US20060232265A1 (en) 2006-10-19
JP5064712B2 (ja) 2012-10-31
DE102005016996A1 (de) 2006-10-26
DE102005016996B4 (de) 2014-10-23
KR100815045B1 (ko) 2008-03-18
KR20060109323A (ko) 2006-10-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5064712B2 (ja) 電流測定装置
JP6490160B2 (ja) 平面的rfセンサ技術の強化について
FI73320C (fi) Nmr-spolarrangemang.
US8040141B2 (en) Orthogonal radio frequency voltage/current sensor with high dynamic range
KR101099663B1 (ko) 전기적 특성을 측정하기 위한 센서
US20080106254A1 (en) Split Rogowski coil current measuring device and methods
KR20050099611A (ko) 트랜스포머 결합된 플라즈마 소스에서 전력 측정 방법
US10545177B2 (en) Non-contact sensor based Rogowski coil
KR102013286B1 (ko) 전류 감지 장치
US9052350B2 (en) On-line monitoring system for use with electrical assets and method of operating the same
US20170059622A1 (en) Compensated rogowski coil
JP2020510214A (ja) 磁場勾配センサを備えた電流変換器
KR101939569B1 (ko) 차폐 구조를 가지는 로고스키 코일 전류 센서
US11035911B2 (en) Magneto-impedance sensor
CN108226602B (zh) 用于测量交流电的时间导数的方法和传感器
US11543437B2 (en) Neel effect® isolated DC/AC current sensor incorporated in a PCB
JP2006189319A (ja) 電流測定方法
JP2017062220A (ja) 被測定電流線の固定具及び固定方法並びに電流センサ
KR101456986B1 (ko) 유도 갈래형 초고주파 펄스 신호 전류 측정 장치
JP6985317B2 (ja) 放電測定回路
KR102463554B1 (ko) 일체형 전압 및 전류 센서를 구비하는 플라즈마 장치, 및 플라즈마 장치에서의 전압 및 전류 모니터링 방법
JP2004257770A (ja) 高周波電位検出装置
JP2002207051A (ja) 高周波電流検出装置
KR101507455B1 (ko) 전류센서 겸용 라인필터
JPH02126168A (ja) 電気機器の巻線の部分放電検出方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060915

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090219

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090227

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090527

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20091002

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20091228

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20100408

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100809

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20100817

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20101227

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20101228

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20110204

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20110831

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20110906

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120627

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120809

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5064712

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150817

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees