JP2006281012A - Substrate cleaning device, substrate cleaning method and manufacturing method of substrate - Google Patents

Substrate cleaning device, substrate cleaning method and manufacturing method of substrate Download PDF

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善弘 森口
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To simplify the constitution of a brush and to uniformly clean a substrate. <P>SOLUTION: The substrate 1 is loaded on a plurality of rollers 10 and is moved in a substrate moving direction by the rotation of the rollers 10. A medium reservoir 13 is arranged such that the upper end of a recessed part is very close to the lower surface of the substrate 1, and a medium 3 which overflows from the upper end of the recessed part is supplied to the lower surface of the substrate 1. An ultrasonic vibrator 14 to which a high frequency voltage is applied from a high frequency oscillator 15 generates ultrasonic vibrations, the ultrasonic vibrations are transmitted through the medium 3 to the substrate 1, and thus the substrate 1 is ultrasonically vibrated. When the substrate 1 is ultrasonically vibrated, stains and foreign matters on the substrate 1 are vibrated together with the substrate 1. The vibrated stains and foreign matters hit the brush bristles of a brush 11a brought into contact with the substrate 1 and are peeled off from the substrate 1. The stains and foreign matters peeled off from the substrate 1 are washed away by washing liquid 2 supplied from a nozzle 12a and removed. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、フラットパネルディスプレイ装置用のパネル基板や半導体ウェーハ等を洗浄する基板洗浄装置、基板洗浄方法、及びそれらを用いた基板の製造方法に係り、特に基板を移動しながらブラシを用いて洗浄を行う基板洗浄装置、基板洗浄方法、及びそれらを用いた基板の製造方法に関する。   The present invention relates to a substrate cleaning apparatus, a substrate cleaning method, and a substrate manufacturing method using the substrate cleaning apparatus for cleaning a panel substrate, a semiconductor wafer, and the like for a flat panel display device, and in particular, cleaning using a brush while moving the substrate. The present invention relates to a substrate cleaning apparatus, a substrate cleaning method, and a substrate manufacturing method using them.

液晶ディスプレイ装置等のフラットパネルディスプレイ装置や半導体装置の製造工程では、現像やエッチング等の薬液処理により、パネル基板や半導体ウェーハ等の基板上にカラーフィルタや回路パターン等を形成する。このとき、基板上に汚れや異物が存在すると、カラーフィルタや回路パターン等が良好に形成されないため、基板を製造工程へ受け入れる際、及び薬液処理の前又は後には、基板の洗浄が必要である。基板の洗浄及び薬液処理を含む一連の処理は、ローラコンベア等の基板搬送機構を用いて、基板を移動しながら行われることが多い。   In a manufacturing process of a flat panel display device such as a liquid crystal display device or a semiconductor device, a color filter, a circuit pattern, or the like is formed on a substrate such as a panel substrate or a semiconductor wafer by chemical processing such as development or etching. At this time, if dirt or foreign matter is present on the substrate, color filters, circuit patterns, etc. are not formed well. Therefore, the substrate needs to be cleaned when the substrate is received in the manufacturing process and before or after the chemical treatment. . A series of processing including substrate cleaning and chemical solution processing is often performed while moving the substrate using a substrate transport mechanism such as a roller conveyor.

基板の洗浄は、一般に基板上の汚れや異物、薬液等を純水等の洗浄液で洗い流して行われるが、汚れや異物が多い場合、あるいは特に高い洗浄力が望まれる場合には、ブラシを用いて汚れや異物を基板から剥離する。基板を移動しながらブラシを用いて洗浄を行う基板洗浄装置において、ブラシに超音波振動を加えて基板を均一に洗浄する技術が、特許文献1に記載されている。
特開2004−273623号公報
Substrate cleaning is generally performed by washing away dirt, foreign matter, chemicals, etc. on the substrate with a cleaning solution such as pure water. If there is a lot of dirt or foreign matter, or if a particularly high cleaning power is desired, use a brush. Remove dirt and foreign matter from the substrate. Patent Document 1 discloses a technique for uniformly cleaning a substrate by applying ultrasonic vibrations to the brush in a substrate cleaning apparatus that performs cleaning using a brush while moving the substrate.
JP 2004-273623 A

基板を移動しながらブラシを用いて洗浄を行う基板洗浄装置では、基板が大型化すると、基板の幅に合わせてブラシを長尺化しなければならない。ブラシを長尺化すると、ブラシの自重が増加し、ブラシにたわみが発生する。このため、ブラシの中央部と両端部とで基板に接触する圧力が異なり、基板を均一に洗浄することができないという問題があった。   In a substrate cleaning apparatus that performs cleaning using a brush while moving a substrate, when the substrate is enlarged, the brush must be elongated in accordance with the width of the substrate. When the brush is lengthened, the weight of the brush increases and the brush is deflected. For this reason, the pressure which contacts a board | substrate differs in the center part and both ends of a brush, and there existed a problem that a board | substrate could not be wash | cleaned uniformly.

これに対し、特許文献1では、ブラシに超音波発生体を設け、ブラシ毛を超音波振動させることで、基板にブラシ毛が均一な圧力で接触していなくとも、基板を均一に洗浄できる様にしている。しかしながら、基板の大型化に伴ってブラシが長尺化する程、ブラシの取り付け、調整、取り外し等が容易であることが望まれ、ブラシの取り付け、調整、取り外し等を容易にするためには、ブラシの構成を簡素化して、ブラシに余分な機構を設けたくないという要求がある。また、特許文献1に記載の技術では、ブラシが長尺化する程、重いブラシを超音波振動させるためにより大型の超音波発生体が必要となる。   On the other hand, in Patent Document 1, an ultrasonic generator is provided on the brush, and the brush bristles are ultrasonically oscillated, so that the substrate can be cleaned evenly even if the bristles are not in contact with the substrate with uniform pressure. I have to. However, as the length of the brush increases with the increase in the size of the substrate, it is desired that the brush is easily attached, adjusted, removed, etc. In order to facilitate the attachment, adjustment, removal, etc. of the brush, There is a demand for simplifying the configuration of the brush and not wanting to provide an extra mechanism on the brush. Moreover, in the technique described in Patent Document 1, a larger ultrasonic generator is required to ultrasonically vibrate a heavy brush as the brush becomes longer.

さらに、従来の基板を移動しながらブラシを用いて洗浄を行う基板洗浄装置では、ブラシで基板から剥離した汚れや異物を洗浄液で洗い流して除去しているが、洗浄液が基板の外部へ流れ出るまでの間に、洗浄液中の汚れや異物が基板に再付着するという問題があった。   Furthermore, in a conventional substrate cleaning apparatus that performs cleaning using a brush while moving the substrate, dirt and foreign matter peeled off from the substrate with the brush are washed away with the cleaning liquid, but until the cleaning liquid flows out of the substrate. In the meantime, there was a problem that dirt and foreign matter in the cleaning liquid reattached to the substrate.

本発明の課題は、ブラシの構成を簡素化し、かつ基板を均一に洗浄することである。また、本発明の課題は、汚れや異物が基板に再付着するのを抑制し、洗浄効果を向上させることである。さらに、本発明の課題は、品質の高い基板を製造することである。   An object of the present invention is to simplify the configuration of the brush and to clean the substrate uniformly. Moreover, the subject of this invention is suppressing a dirt and a foreign material from adhering to a board | substrate again, and improving a cleaning effect. Furthermore, an object of the present invention is to produce a high-quality substrate.

本発明の基板洗浄装置は、基板を移動する基板移動手段と、洗浄液を基板移動手段により移動される基板へ供給する洗浄液供給手段と、基板移動手段により移動される基板の移動方向と直交する方向の幅に渡って配置され、基板移動手段により移動される基板に接触するブラシと、ブラシと別個に設けられ、基板移動手段により移動される基板を所定の周波数で振動させる基板振動手段とを備えたものである。   The substrate cleaning apparatus of the present invention includes a substrate moving means for moving a substrate, a cleaning liquid supply means for supplying a cleaning liquid to a substrate moved by the substrate moving means, and a direction orthogonal to the moving direction of the substrate moved by the substrate moving means. A brush that contacts the substrate moved by the substrate moving means and a substrate vibrating means that is provided separately from the brush and vibrates the substrate moved by the substrate moving means at a predetermined frequency. It is a thing.

また、本発明の基板洗浄方法は、基板を移動しながら、洗浄液を基板へ供給し、基板の移動方向と直交する方向の幅に渡って、ブラシを基板に接触させ、ブラシと別個の手段を用いて基板を所定の周波数で振動させるものである。   Further, the substrate cleaning method of the present invention supplies the cleaning liquid to the substrate while moving the substrate, contacts the brush with the substrate over the width in the direction orthogonal to the moving direction of the substrate, and provides a means separate from the brush. It is used to vibrate the substrate at a predetermined frequency.

基板を所定の周波数で振動させると、基板上の汚れや異物が基板と一緒に振動する。振動する汚れや異物は、基板の移動に従って、基板に接触させたブラシに衝突する。このとき、汚れや異物は、振動しているので、ブラシとの衝突によって基板から剥離しやすい。基板から剥離した汚れや異物は、基板へ供給された洗浄液で洗い流されて除去される。特許文献1の様にブラシを振動させる必要がなく、ブラシの構成が簡素化され、かつ基板が均一に洗浄される。また、基板を振動させるので、洗浄液中の汚れや異物が基板に再付着しにくい。   When the substrate is vibrated at a predetermined frequency, dirt and foreign matter on the substrate vibrate together with the substrate. The vibrating dirt and foreign matter collide with the brush in contact with the substrate as the substrate moves. At this time, since dirt and foreign matter vibrate, they easily peel off from the substrate due to collision with the brush. Dirt and foreign matter peeled off the substrate are washed away with the cleaning liquid supplied to the substrate and removed. There is no need to vibrate the brush as in Patent Document 1, the configuration of the brush is simplified, and the substrate is cleaned uniformly. In addition, since the substrate is vibrated, dirt and foreign matter in the cleaning liquid are less likely to reattach to the substrate.

さらに、本発明の基板洗浄装置は、基板振動手段が、振動を伝達する媒質を基板移動手段により移動される基板へ供給する媒質供給手段と、振動を伝達する媒質に接触する振動発生源とを有するものである。また、本発明の基板洗浄方法は、振動を伝達する媒質を基板へ供給し、振動を伝達する媒質に振動発生源を接触させて基板を振動させるものである。振動発生源で発生した振動が基板へ供給された媒質を介して基板へ伝達され、基板が振動する。振動を伝達する媒質を介して基板を振動させるので、基板の移動を阻害することなく基板の振動が行われる。   Furthermore, the substrate cleaning apparatus according to the present invention includes a medium supply unit that supplies a medium that transmits vibration to the substrate that is moved by the substrate moving unit, and a vibration source that contacts the medium that transmits vibration. It is what you have. In the substrate cleaning method of the present invention, a medium that transmits vibration is supplied to the substrate, and a vibration generation source is brought into contact with the medium that transmits vibration to vibrate the substrate. The vibration generated by the vibration generation source is transmitted to the substrate through the medium supplied to the substrate, and the substrate vibrates. Since the substrate is vibrated through the medium for transmitting vibration, the substrate is vibrated without hindering the movement of the substrate.

振動を伝達する媒質は、振動の周波数に応じて伝達に適した粘度の液体を使用する。一例として、媒質に純水等の洗浄液を用い、振動発生源に超音波振動子を含むものを用いることができる。   As a medium for transmitting vibration, a liquid having a viscosity suitable for transmission according to the frequency of vibration is used. As an example, it is possible to use a cleaning liquid such as pure water as a medium and an ultrasonic vibrator as a vibration generation source.

さらに、本発明の基板洗浄装置は、洗浄液供給手段及びブラシを基板移動手段により移動される基板の上方及び下方に備えたものである。また、本発明の基板洗浄方法は、洗浄液を基板の両面へ供給し、ブラシを基板の両面に接触させるものである。基板の両面を洗浄する際、特許文献1では各ブラシに振動手段を設ける必要があったが、基板を振動させるので、振動手段が1つで済む。   Furthermore, the substrate cleaning apparatus of the present invention is provided with cleaning liquid supply means and brushes above and below the substrate moved by the substrate moving means. In the substrate cleaning method of the present invention, the cleaning liquid is supplied to both surfaces of the substrate, and the brush is brought into contact with both surfaces of the substrate. When cleaning both surfaces of the substrate, in Patent Document 1, it is necessary to provide a vibration means for each brush. However, since the substrate is vibrated, only one vibration means is required.

さらに、本発明の基板洗浄装置は、基板移動手段が、基板を水平に対して所定の角度傾斜した状態で移動するものである。また、本発明の基板洗浄方法は、基板を水平に対して所定の角度傾斜した状態で移動するものである。基板を水平に対して所定の角度傾斜した状態で移動すると、基板へ供給した洗浄液が基板の外部へ流れ出やすくなる。従って、洗浄液中の汚れや異物がさらに基板に再付着しにくくなる。   Furthermore, in the substrate cleaning apparatus of the present invention, the substrate moving means moves the substrate while tilting the substrate at a predetermined angle with respect to the horizontal. The substrate cleaning method of the present invention moves the substrate in a state inclined at a predetermined angle with respect to the horizontal. When the substrate is moved in a state inclined at a predetermined angle with respect to the horizontal, the cleaning liquid supplied to the substrate easily flows out of the substrate. Therefore, dirt and foreign matter in the cleaning liquid are less likely to reattach to the substrate.

本発明の基板の製造方法は、上記のいずれかの基板洗浄装置又は基板洗浄方法を用いて基板を洗浄した後、所定の薬液処理を行うものである。基板が高い洗浄効果で均一に洗浄され、基板上にカラーフィルタや回路パターン等が良好に形成される。   In the substrate manufacturing method of the present invention, a predetermined chemical solution treatment is performed after the substrate is cleaned using any one of the above-described substrate cleaning apparatuses or substrate cleaning methods. The substrate is uniformly cleaned with a high cleaning effect, and color filters, circuit patterns, and the like are favorably formed on the substrate.

本発明の基板洗浄装置及び基板洗浄方法によれば、ブラシと別個の手段を用いて基板を所定の周波数で振動させることにより、ブラシの構成を簡素化し、かつ基板を均一に洗浄することができる。ブラシの構成が簡素化されるので、ブラシの取り付け、調整、取り外し等が容易となる。また、基板を所定の周波数で振動させることにより、汚れや異物が基板に再付着するのを抑制し、洗浄効果を向上させることができる。   According to the substrate cleaning apparatus and the substrate cleaning method of the present invention, the configuration of the brush can be simplified and the substrate can be cleaned uniformly by vibrating the substrate at a predetermined frequency using a means separate from the brush. . Since the configuration of the brush is simplified, it is easy to attach, adjust, and remove the brush. Further, by vibrating the substrate at a predetermined frequency, it is possible to suppress dirt and foreign matter from adhering again to the substrate and improve the cleaning effect.

さらに、本発明の基板洗浄装置及び基板洗浄方法によれば、振動を伝達する媒質を介して基板を振動させることにより、基板の移動を阻害することなく基板を振動させることができる。   Furthermore, according to the substrate cleaning apparatus and the substrate cleaning method of the present invention, the substrate can be vibrated without obstructing the movement of the substrate by vibrating the substrate through the medium transmitting vibration.

さらに、本発明の基板洗浄装置及び基板洗浄方法によれば、洗浄液を基板の両面へ供給し、ブラシを基板の両面に接触させることにより、1つの振動手段で基板の両面を均一に洗浄することができる。   Furthermore, according to the substrate cleaning apparatus and the substrate cleaning method of the present invention, the cleaning liquid is supplied to both surfaces of the substrate, and the brush is brought into contact with both surfaces of the substrate, thereby uniformly cleaning both surfaces of the substrate with one vibration means. Can do.

さらに、本発明の基板洗浄装置及び基板洗浄方法によれば、基板を水平に対して所定の角度傾斜した状態で移動することにより、汚れや異物が基板に再付着するのをさらに抑制し、洗浄効果をさらに向上させることができる。   Furthermore, according to the substrate cleaning apparatus and the substrate cleaning method of the present invention, the substrate is moved while being inclined at a predetermined angle with respect to the horizontal, thereby further suppressing the reattachment of dirt and foreign matter to the substrate, and cleaning. The effect can be further improved.

本発明の基板の製造方法によれば、基板を高い洗浄効果で均一に洗浄して、基板上にカラーフィルタや回路パターン等を良好に形成することができる。従って、品質の高い基板を製造することができる。   According to the substrate manufacturing method of the present invention, the substrate can be uniformly cleaned with a high cleaning effect, and a color filter, a circuit pattern, and the like can be favorably formed on the substrate. Therefore, a high quality substrate can be manufactured.

図1は、本発明の一実施の形態による基板洗浄装置の概略構成を示す図である。基板洗浄装置は、ローラ10、ブラシ11a、ノズル12a、媒質溜め13、超音波振動子14、及び高周波発振器15を含んで構成されている。   FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a substrate cleaning apparatus according to an embodiment of the present invention. The substrate cleaning apparatus includes a roller 10, a brush 11 a, a nozzle 12 a, a medium reservoir 13, an ultrasonic vibrator 14, and a high frequency oscillator 15.

基板1は、複数のローラ10上に搭載され、ローラ10の回転により矢印で示す基板移動方向へ移動される。各ローラ10は、基板移動方向に所定の間隔で設置されており、図示しない駆動手段により所定の速度で回転する。   The substrate 1 is mounted on a plurality of rollers 10 and is moved in the substrate movement direction indicated by an arrow by the rotation of the rollers 10. Each roller 10 is installed at a predetermined interval in the substrate moving direction, and is rotated at a predetermined speed by a driving means (not shown).

ローラ10に搭載された基板1の上方には、基板1の基板移動方向と直交する方向(図面奥行き方向)の幅に渡って、ブラシ11aが設置されている。ブラシ11aは、ブラシ毛と、ブラシ毛を保持するホルダとを含んで構成されている。ブラシ11aのブラシ毛が、基板1の基板移動方向と直交する方向(図面奥行き方向)の幅に渡って、基板1の上面にほぼ同じ圧力で接触する様に、ブラシ11aのホルダは、所定の高さに取り付けられ、調整される。   Above the substrate 1 mounted on the roller 10, a brush 11 a is installed over a width in a direction (drawing depth direction) orthogonal to the substrate moving direction of the substrate 1. The brush 11a includes brush hairs and a holder that holds the brush hairs. The holder of the brush 11a has a predetermined width so that the brush bristles of the brush 11a are in contact with the upper surface of the substrate 1 with substantially the same pressure over the width in the direction orthogonal to the substrate movement direction of the substrate 1 (the depth direction in the drawing). Attached to height and adjusted.

さらに、ローラ10に搭載された基板1の上方には、基板1の基板移動方向と直交する方向(図面奥行き方向)の幅に渡って、ノズル12aが設置されている。ノズル12aは、例えば、長尺の管にノズル口を図面奥行き方向に所定の間隔で、またはスリット状に設けて構成されている。ノズル12aには、図示しない洗浄液通路から純水等の洗浄液が供給される。ノズル12aは、ノズル口から破線で示す洗浄液2を基板1の上面へ供給する。ノズル12aからの洗浄液2は、ブラシ11aのブラシ毛が基板1に接触する付近へ供給される。   Further, a nozzle 12 a is installed above the substrate 1 mounted on the roller 10 over a width in a direction (drawing depth direction) orthogonal to the substrate moving direction of the substrate 1. The nozzle 12a is configured, for example, by providing nozzle openings in a long tube at predetermined intervals in the drawing depth direction or in a slit shape. A cleaning liquid such as pure water is supplied to the nozzle 12a from a cleaning liquid passage (not shown). The nozzle 12 a supplies the cleaning liquid 2 indicated by the broken line from the nozzle opening to the upper surface of the substrate 1. The cleaning liquid 2 from the nozzle 12 a is supplied to the vicinity where the brush bristles of the brush 11 a come into contact with the substrate 1.

一方、ローラ10に搭載された基板1の下方には、基板1の基板移動方向と直交する方向(図面奥行き方向)の幅に渡って、媒質溜め13が設置されている。媒質溜め13には、図面奥行き方向に伸びる凹部が形成されており、図1では凹部を形成する側壁が断面で示されている。媒質溜め13の凹部には、図示しない媒質通路から振動を伝達する媒質3が供給されて溜まり、溜まった媒質3は凹部の上端から溢れ出る。媒質3としては、一例として、純水等の洗浄液を用いる。媒質溜め13は、凹部の上端が基板1の下面に極めて接近する様に配置され、凹部の上端から溢れ出た媒質3を基板1の下面へ供給する。   On the other hand, below the substrate 1 mounted on the roller 10, a medium reservoir 13 is installed over a width in a direction (drawing depth direction) orthogonal to the substrate moving direction of the substrate 1. The medium reservoir 13 is formed with a recess extending in the depth direction of the drawing, and in FIG. 1, the side wall forming the recess is shown in cross section. The medium 3 that transmits vibration is supplied to and stored in the recess of the medium reservoir 13 from the medium passage (not shown), and the accumulated medium 3 overflows from the upper end of the recess. As the medium 3, for example, a cleaning liquid such as pure water is used. The medium reservoir 13 is arranged so that the upper end of the recess is very close to the lower surface of the substrate 1, and supplies the medium 3 overflowing from the upper end of the recess to the lower surface of the substrate 1.

媒質溜め13の凹部の底面には、超音波振動子14が設けられている。超音波振動子14には、高周波発振器15から高周波電圧が印加される。高周波電圧が印加された超音波振動子14は超音波振動を発生し、この超音波振動が媒質3を介して基板1へ伝達されることによって、基板1が超音波振動する。   An ultrasonic transducer 14 is provided on the bottom surface of the concave portion of the medium reservoir 13. A high frequency voltage is applied to the ultrasonic transducer 14 from the high frequency oscillator 15. The ultrasonic vibrator 14 to which the high-frequency voltage is applied generates ultrasonic vibration, and the ultrasonic vibration is transmitted to the substrate 1 through the medium 3, so that the substrate 1 is ultrasonically vibrated.

基板1が超音波振動すると、基板1の上面に汚れや異物が存在する場合、汚れや異物が基板1と一緒に振動する。振動する汚れや異物は、基板1の移動に従って、基板1の上面に接触させたブラシ11aのブラシ毛に衝突する。このとき、汚れや異物は、振動しているので、ブラシ毛との衝突によって基板1の上面から剥離しやすい。基板1の上面から剥離した汚れや異物は、ノズル12aから供給された洗浄液2で洗い流されて除去される。このとき、基板1が振動しているので、洗浄液2中の汚れや異物が基板1に再付着しにくい。   When the substrate 1 is ultrasonically vibrated, if dirt or foreign matter exists on the upper surface of the substrate 1, the dirt or foreign matter vibrates together with the substrate 1. The vibrating dirt and foreign matter collide with the brush bristles of the brush 11 a brought into contact with the upper surface of the substrate 1 as the substrate 1 moves. At this time, since dirt and foreign matter vibrate, they easily peel off from the upper surface of the substrate 1 due to collision with the brush hair. Dirt and foreign matter peeled off from the upper surface of the substrate 1 are washed away with the cleaning liquid 2 supplied from the nozzle 12a and removed. At this time, since the substrate 1 is vibrating, dirt and foreign matter in the cleaning liquid 2 are difficult to reattach to the substrate 1.

図2は、本発明の他の実施の形態による基板洗浄装置の概略構成を示す図である。本実施の形態は、図1に示した実施の形態に、ブラシ11b及びノズル12bを追加したものである。その他の構成要素は、図1に示した実施の形態と同様である。   FIG. 2 is a diagram showing a schematic configuration of a substrate cleaning apparatus according to another embodiment of the present invention. In the present embodiment, a brush 11b and a nozzle 12b are added to the embodiment shown in FIG. Other components are the same as those of the embodiment shown in FIG.

ローラ10に搭載された基板1の下方には、媒質溜め13の前後に、基板1の基板移動方向と直交する方向(図面奥行き方向)の幅に渡って、ブラシ11bが設置されている。ブラシ11bの構成は、ブラシ11aと同様である。ブラシ11bのブラシ毛が、基板1の基板移動方向と直交する方向(図面奥行き方向)の幅に渡って、基板1の下面にほぼ同じ圧力で接触する様に、ブラシ11bのホルダは、所定の高さに取り付けられ、調整される。   Below the substrate 1 mounted on the roller 10, a brush 11 b is installed in front of and behind the medium reservoir 13 over a width in a direction orthogonal to the substrate movement direction of the substrate 1 (the depth direction in the drawing). The configuration of the brush 11b is the same as that of the brush 11a. The holder of the brush 11b has a predetermined width so that the brush bristles of the brush 11b are in contact with the lower surface of the substrate 1 with substantially the same pressure over the width in the direction perpendicular to the substrate movement direction of the substrate 1 (the depth direction in the drawing). Attached to height and adjusted.

さらに、ローラ10に搭載された基板1の下方には、基板1の基板移動方向と直交する方向(図面奥行き方向)の幅に渡って、ノズル12bが設置されている。ノズル12bの構成は、ノズル12aと同様である。ノズル12bには、図示しない洗浄液通路から純水等の洗浄液が供給される。ノズル12bは、ノズル口から破線で示す洗浄液2を基板1の下面へ供給する。ノズル12bからの洗浄液2は、ブラシ11bのブラシ毛が基板1に接触する付近へ供給される。   Further, below the substrate 1 mounted on the roller 10, a nozzle 12 b is installed over a width in a direction (drawing depth direction) orthogonal to the substrate moving direction of the substrate 1. The configuration of the nozzle 12b is the same as that of the nozzle 12a. A cleaning liquid such as pure water is supplied to the nozzle 12b from a cleaning liquid passage (not shown). The nozzle 12 b supplies the cleaning liquid 2 indicated by a broken line from the nozzle opening to the lower surface of the substrate 1. The cleaning liquid 2 from the nozzle 12 b is supplied to the vicinity where the brush bristles of the brush 11 b come into contact with the substrate 1.

基板1が超音波振動すると、基板1の下面に汚れや異物が存在する場合、汚れや異物が基板1と一緒に振動する。振動する汚れや異物は、基板1の移動に従って、基板1の下面に接触させたブラシ11bのブラシ毛に衝突する。このとき、汚れや異物は、振動しているので、ブラシ毛との衝突によって基板1の下面から剥離しやすい。基板1の下面から剥離した汚れや異物は、ノズル12bから供給された洗浄液2で洗い流されて除去される。このとき、基板1が振動しているので、洗浄液2中の汚れや異物が基板1に再付着しにくい。   When the substrate 1 is ultrasonically vibrated, if dirt or foreign matter exists on the lower surface of the substrate 1, the dirt or foreign matter vibrates together with the substrate 1. The vibrating dirt and foreign matter collide with the bristles of the brush 11b brought into contact with the lower surface of the substrate 1 as the substrate 1 moves. At this time, since dirt and foreign matter vibrate, they easily peel off from the lower surface of the substrate 1 due to collision with the brush hair. Dirt and foreign matter peeled off from the lower surface of the substrate 1 are washed away with the cleaning liquid 2 supplied from the nozzle 12b and removed. At this time, since the substrate 1 is vibrating, dirt and foreign matter in the cleaning liquid 2 are difficult to reattach to the substrate 1.

本発明では、ブラシと別個の手段を用いて基板を振動させるので、基板の両面を洗浄する際も、振動手段が1つで済む。従って、本実施の形態によれば、洗浄液を基板の両面へ供給し、ブラシを基板の両面に接触させることにより、1つの振動手段で基板の両面を均一に洗浄することができる。   In the present invention, since the substrate is vibrated using a means separate from the brush, only one vibration means is required when cleaning both surfaces of the substrate. Therefore, according to the present embodiment, both surfaces of the substrate can be uniformly cleaned with one vibration means by supplying the cleaning liquid to both surfaces of the substrate and bringing the brush into contact with both surfaces of the substrate.

図3は、本発明のさらに他の実施の形態による基板洗浄装置の概略構成を示す図である。本実施の形態は、図1に示した実施の形態において、媒質溜め13及び超音波振動子14の代わりに、媒質溜め16及び超音波振動装置17を用いたものである。その他の構成要素は、図1に示した実施の形態と同様である。   FIG. 3 is a diagram showing a schematic configuration of a substrate cleaning apparatus according to still another embodiment of the present invention. In the present embodiment, a medium reservoir 16 and an ultrasonic vibration device 17 are used instead of the medium reservoir 13 and the ultrasonic transducer 14 in the embodiment shown in FIG. Other components are the same as those of the embodiment shown in FIG.

ローラ10に搭載された基板1の下方には、基板1の基板移動方向と直交する方向(図面奥行き方向)の幅に渡って、超音波振動装置17が設置されている。超音波振動装置17は、超音波振動子と、断面が山型の振動伝達部材とを含んで構成されている。   Below the substrate 1 mounted on the roller 10, an ultrasonic vibration device 17 is installed over a width in a direction (drawing depth direction) orthogonal to the substrate moving direction of the substrate 1. The ultrasonic vibration device 17 includes an ultrasonic vibrator and a vibration transmission member having a mountain-shaped cross section.

さらに、ローラ10に搭載された基板1の下方には、超音波振動装置17の前後に、基板1の基板移動方向と直交する方向(図面奥行き方向)の幅に渡って、媒質溜め16が設置されている。媒質溜め16には、図面奥行き方向に伸びる凹部が形成されており、図3では凹部を形成する側壁及び底が断面で示されている。媒質溜め16の凹部には、図示しない媒質通路から振動を伝達する媒質3が供給されて溜まり、溜まった媒質3は凹部の上端から溢れ出る。媒質3としては、一例として、純水等の洗浄液を用いる。媒質溜め16は、凹部の上端が基板1の下面にきわめて接近する様に配置され、凹部の上端から溢れ出た媒質3を基板1の下面へ供給する。   Further, below the substrate 1 mounted on the roller 10, a medium reservoir 16 is installed before and after the ultrasonic vibration device 17 over a width in a direction (depth direction in the drawing) perpendicular to the substrate moving direction of the substrate 1. Has been. A concave portion extending in the depth direction of the drawing is formed in the medium reservoir 16, and in FIG. 3, the side wall and the bottom forming the concave portion are shown in cross section. The medium 3 for transmitting vibration is supplied to and stored in the concave portion of the medium reservoir 16 from the medium passage (not shown), and the accumulated medium 3 overflows from the upper end of the concave portion. As the medium 3, for example, a cleaning liquid such as pure water is used. The medium reservoir 16 is arranged so that the upper end of the recess is very close to the lower surface of the substrate 1, and supplies the medium 3 overflowing from the upper end of the recess to the lower surface of the substrate 1.

超音波振動装置17は、振動伝達部材の上端が基板1の下面に供給された媒質3に接触する様に配置されている。超音波振動装置17には、高周波発振器15から高周波電圧が印加される。高周波電圧が印加された超音波振動装置17は、超音波振動子により超音波振動を発生し、振動伝達部材が超音波振動する。振動伝達部材の超音波振動が媒質3を介して基板1へ伝達されることよって、基板1が超音波振動する。   The ultrasonic vibration device 17 is arranged so that the upper end of the vibration transmitting member is in contact with the medium 3 supplied to the lower surface of the substrate 1. A high frequency voltage is applied from the high frequency oscillator 15 to the ultrasonic vibration device 17. The ultrasonic vibration device 17 to which the high frequency voltage is applied generates ultrasonic vibration by the ultrasonic vibrator, and the vibration transmitting member vibrates ultrasonically. The ultrasonic vibration of the vibration transmitting member is transmitted to the substrate 1 through the medium 3, so that the substrate 1 is ultrasonically vibrated.

以上説明した実施の形態によれば、ブラシと別個の手段を用いて基板を所定の周波数で振動させることにより、ブラシの構成を簡素化し、かつ基板を均一に洗浄することができる。ブラシの構成が簡素化されるので、ブラシの取り付け、調整、取り外し等が容易となる。また、基板を所定の周波数で振動させることにより、汚れや異物が基板に再付着するのを抑制し、洗浄効果を向上させることができる。   According to the embodiment described above, the structure of the brush can be simplified and the substrate can be uniformly cleaned by vibrating the substrate at a predetermined frequency using means different from the brush. Since the configuration of the brush is simplified, it is easy to attach, adjust, and remove the brush. Further, by vibrating the substrate at a predetermined frequency, it is possible to suppress dirt and foreign matter from adhering again to the substrate and improve the cleaning effect.

さらに、振動を伝達する媒質を介して基板を振動させることにより、基板の移動を阻害することなく基板を振動させることができる。   Furthermore, the substrate can be vibrated without hindering the movement of the substrate by vibrating the substrate through a medium that transmits vibration.

図4は、本発明のさらに他の実施の形態による基板洗浄装置の概略構成を示す図である。本実施の形態は、図3に示した実施の形態が基板1をほぼ水平に移動するのに対し、基板1を水平に対して所定の角度傾斜した状態で移動するものである。基板洗浄装置は、ローラ20、ブラシ21a、ノズル22a、媒質溜め26、超音波振動装置27、及び高周波発振器15を含んで構成されている。   FIG. 4 is a diagram showing a schematic configuration of a substrate cleaning apparatus according to still another embodiment of the present invention. In the present embodiment, the substrate 1 is moved substantially horizontally while the embodiment shown in FIG. 3 is moved in a state where the substrate 1 is inclined at a predetermined angle with respect to the horizontal. The substrate cleaning apparatus includes a roller 20, a brush 21 a, a nozzle 22 a, a medium reservoir 26, an ultrasonic vibration device 27, and a high frequency oscillator 15.

基板1は、複数のローラ20上に搭載され、ローラ20の回転により矢印で示す基板移動方向へ移動される。各ローラ20は、基板移動方向に所定の間隔で設置されており、図示しない駆動手段により所定の速度で回転する。各ローラ20は、その一端が他端より高くなる様に傾けて設置されており、これにより複数のローラ20は、基板1を水平に対して基板移動方向と直交する方向に所定の角度θだけ傾斜した状態で移動する。   The substrate 1 is mounted on a plurality of rollers 20 and is moved in the substrate moving direction indicated by the arrow by the rotation of the rollers 20. Each roller 20 is installed at a predetermined interval in the substrate moving direction, and is rotated at a predetermined speed by a driving means (not shown). Each roller 20 is installed so as to be inclined so that one end thereof is higher than the other end. Thus, the plurality of rollers 20 allows the substrate 1 to be moved by a predetermined angle θ in a direction perpendicular to the substrate moving direction with respect to the horizontal. Move in an inclined state.

ローラ20に搭載された基板1の上方には、基板1の基板移動方向と直交する方向の幅に渡って、ブラシ21aが設置されている。ブラシ21aは、基板1の傾斜に合わせて水平に対して所定の角度θだけ傾けて設置されている以外、図3のブラシ11aと同様である。   Above the substrate 1 mounted on the roller 20, a brush 21 a is installed over a width in a direction orthogonal to the substrate moving direction of the substrate 1. The brush 21a is the same as the brush 11a in FIG. 3 except that the brush 21a is installed at a predetermined angle θ with respect to the horizontal in accordance with the inclination of the substrate 1.

さらに、ローラ20に搭載された基板1の上方には、基板1の基板移動方向と直交する方向の幅に渡って、ノズル22aが設置されている。ノズル22aは、基板1の傾斜に合わせて水平に対して所定の角度θだけ傾けて設置されている以外、図3のノズル12aと同様である。   Further, a nozzle 22 a is installed above the substrate 1 mounted on the roller 20 over a width in a direction orthogonal to the substrate movement direction of the substrate 1. The nozzle 22a is the same as the nozzle 12a of FIG. 3 except that it is installed at a predetermined angle θ with respect to the horizontal in accordance with the inclination of the substrate 1.

一方、ローラ20に搭載された基板1の下方には、基板1の基板移動方向と直交する方向の幅に渡って、超音波振動装置27が設置されている。超音波振動装置27は、基板1の傾斜に合わせて水平に対して所定の角度θだけ傾けて設置されている以外、図3の超音波振動装置17と同様である。   On the other hand, an ultrasonic vibration device 27 is installed below the substrate 1 mounted on the roller 20 over a width in a direction perpendicular to the substrate movement direction of the substrate 1. The ultrasonic vibration device 27 is the same as the ultrasonic vibration device 17 of FIG. 3 except that the ultrasonic vibration device 27 is installed at a predetermined angle θ with respect to the horizontal in accordance with the inclination of the substrate 1.

さらに、ローラ20に搭載された基板1の下方には、超音波振動装置27の前後に、基板1の基板移動方向と直交する方向の幅に渡って、媒質溜め26が設置されている。媒質溜め26は、基板1の傾斜に合わせて水平に対して所定の角度θだけ傾けて設置されている以外、図3の媒質溜め16と同様である。   Further, below the substrate 1 mounted on the roller 20, a medium reservoir 26 is installed across the width in the direction orthogonal to the substrate movement direction of the substrate 1 before and after the ultrasonic vibration device 27. The medium reservoir 26 is the same as the medium reservoir 16 in FIG. 3 except that the medium reservoir 26 is installed at a predetermined angle θ with respect to the horizontal in accordance with the inclination of the substrate 1.

基板1の上面の汚れや異物は、基板1の上面に接触させたブラシ21aのブラシ毛に衝突して基板1の上面から剥離する。基板1の上面から剥離した汚れや異物は、ノズル22aから供給された洗浄液2で洗い流されて除去される。このとき、基板1が傾斜しているので、ノズル22aから基板1へ供給した洗浄液2が基板1の外部へ流れ出やすくなる。従って、図3に示した実施の形態に比べて、洗浄液2中の汚れや異物がさらに基板1に再付着しにくくなる。   Dirt and foreign matter on the upper surface of the substrate 1 collide with the brush bristles of the brush 21 a brought into contact with the upper surface of the substrate 1 and are peeled off from the upper surface of the substrate 1. Dirt and foreign matter peeled off from the upper surface of the substrate 1 are washed away with the cleaning liquid 2 supplied from the nozzle 22a and removed. At this time, since the substrate 1 is inclined, the cleaning liquid 2 supplied from the nozzle 22 a to the substrate 1 is likely to flow out of the substrate 1. Therefore, as compared with the embodiment shown in FIG. 3, dirt and foreign matters in the cleaning liquid 2 are more difficult to reattach to the substrate 1.

本実施の形態によれば、基板を水平に対して所定の角度傾斜した状態で移動することにより、汚れや異物が基板に再付着するのをさらに抑制し、洗浄効果をさらに向上させることができる。   According to the present embodiment, by moving the substrate in a state inclined at a predetermined angle with respect to the horizontal, it is possible to further suppress the reattachment of dirt and foreign matter to the substrate and further improve the cleaning effect. .

なお、本実施の形態では、基板を水平に対して基板移動方向と直交する方向に所定の角度傾斜した状態で移動しているが、基板を水平に対して基板移動方向に所定の角度傾斜した状態で移動してもよい。   In this embodiment, the substrate is moved at a predetermined angle in the direction orthogonal to the substrate movement direction with respect to the horizontal, but the substrate is inclined at a predetermined angle with respect to the horizontal in the substrate movement direction. You may move in a state.

以上説明した実施の形態では基板を超音波振動させていたが、汚れの種類や異物の大きさに応じて、基板を超音波より低い周波数で振動させてもよい。また、振動を伝達する媒質は、純水等の洗浄液に限らず、振動の周波数に応じて伝達に適した粘度の液体を使用すればよい。   In the embodiment described above, the substrate is vibrated ultrasonically. However, the substrate may be vibrated at a frequency lower than that of the ultrasonic wave depending on the type of dirt and the size of foreign matter. The medium for transmitting vibrations is not limited to a cleaning liquid such as pure water, and a liquid having a viscosity suitable for transmission according to the frequency of vibration may be used.

本発明の基板洗浄装置又は基板洗浄方法を用いて基板を洗浄した後、所定の薬液処理を行うことにより、基板を高い洗浄効果で均一に洗浄して、基板上にカラーフィルタや回路パターン等を良好に形成することができる。従って、品質の高い基板を製造することができる。   After cleaning the substrate using the substrate cleaning apparatus or the substrate cleaning method of the present invention, the substrate is uniformly cleaned with a high cleaning effect by performing a predetermined chemical treatment, and a color filter, a circuit pattern, or the like is formed on the substrate. It can be formed satisfactorily. Therefore, a high quality substrate can be manufactured.

本発明の一実施の形態による基板洗浄装置の概略構成を示す図である。It is a figure which shows schematic structure of the board | substrate cleaning apparatus by one embodiment of this invention. 本発明の他の実施の形態による基板洗浄装置の概略構成を示す図である。It is a figure which shows schematic structure of the board | substrate cleaning apparatus by other embodiment of this invention. 本発明のさらに他の実施の形態による基板洗浄装置の概略構成を示す図である。It is a figure which shows schematic structure of the board | substrate cleaning apparatus by further another embodiment of this invention. 本発明のさらに他の実施の形態による基板洗浄装置の概略構成を示す図である。It is a figure which shows schematic structure of the board | substrate cleaning apparatus by further another embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 基板
2 洗浄液
3 媒質
10,20 ローラ
11a,11b,21a ブラシ
12a,12b,22a ノズル
13,16,26 媒質溜め
14 超音波振動子
15 高周波発振器
17,27 超音波振動装置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate 2 Cleaning liquid 3 Medium 10, 20 Roller 11a, 11b, 21a Brush 12a, 12b, 22a Nozzle 13, 16, 26 Medium reservoir 14 Ultrasonic vibrator 15 High frequency oscillator 17, 27 Ultrasonic vibration apparatus

Claims (12)

基板を移動する基板移動手段と、
洗浄液を前記基板移動手段により移動される基板へ供給する洗浄液供給手段と、
前記基板移動手段により移動される基板の移動方向と直交する方向の幅に渡って配置され、前記基板移動手段により移動される基板に接触するブラシと、
前記ブラシと別個に設けられ、前記基板移動手段により移動される基板を所定の周波数で振動させる基板振動手段とを備えたことを特徴とする基板洗浄装置。
A substrate moving means for moving the substrate;
Cleaning liquid supply means for supplying a cleaning liquid to the substrate moved by the substrate moving means;
A brush that is arranged over a width in a direction orthogonal to the moving direction of the substrate moved by the substrate moving means, and that contacts the substrate moved by the substrate moving means;
A substrate cleaning apparatus, comprising: a substrate vibration unit provided separately from the brush and configured to vibrate a substrate moved by the substrate movement unit at a predetermined frequency.
前記基板振動手段は、振動を伝達する媒質を前記基板移動手段により移動される基板へ供給する媒質供給手段と、振動を伝達する媒質に接触する振動発生源とを有することを特徴とする請求項1に記載の基板洗浄装置。   The substrate vibration means includes medium supply means for supplying a medium for transmitting vibration to a substrate moved by the substrate moving means, and a vibration generation source in contact with the medium for transmitting vibration. 2. The substrate cleaning apparatus according to 1. 前記媒質供給手段は洗浄液を前記基板移動手段により移動される基板へ供給し、前記振動発生源は超音波振動子を含むことを特徴とする請求項2に記載の基板洗浄装置。   The substrate cleaning apparatus according to claim 2, wherein the medium supply unit supplies a cleaning liquid to the substrate moved by the substrate moving unit, and the vibration generation source includes an ultrasonic transducer. 前記洗浄液供給手段及び前記ブラシを前記基板移動手段により移動される基板の上方及び下方に備えたことを特徴とする請求項1に記載の基板洗浄装置。   The substrate cleaning apparatus according to claim 1, wherein the cleaning liquid supply unit and the brush are provided above and below the substrate moved by the substrate moving unit. 前記基板移動手段は、基板を水平に対して所定の角度傾斜した状態で移動することを特徴とする請求項1に記載の基板洗浄装置。   The substrate cleaning apparatus according to claim 1, wherein the substrate moving unit moves the substrate while being inclined at a predetermined angle with respect to the horizontal. 基板を移動しながら、
洗浄液を基板へ供給し、
基板の移動方向と直交する方向の幅に渡って、ブラシを基板に接触させ、
ブラシと別個の手段を用いて基板を所定の周波数で振動させることを特徴とする基板洗浄方法。
While moving the board
Supply cleaning liquid to the substrate,
The brush is brought into contact with the substrate over the width in the direction perpendicular to the moving direction of the substrate,
A substrate cleaning method, wherein a substrate is vibrated at a predetermined frequency using a means different from a brush.
振動を伝達する媒質を基板へ供給し、
振動を伝達する媒質に振動発生源を接触させて基板を振動させることを特徴とする請求項6に記載の基板洗浄方法。
Supplying a substrate that transmits vibration to the substrate,
The substrate cleaning method according to claim 6, wherein the substrate is vibrated by bringing a vibration generation source into contact with a medium transmitting vibration.
振動を伝達する媒質に洗浄液を用い、振動発生源に超音波振動子を含むものを用いることを特徴とする請求項7に記載の基板洗浄方法。   8. The substrate cleaning method according to claim 7, wherein a cleaning liquid is used as a medium for transmitting vibration, and a vibration generation source including an ultrasonic vibrator is used. 洗浄液を基板の両面へ供給し、ブラシを基板の両面に接触させることを特徴とする請求項6に記載の基板洗浄方法。   The substrate cleaning method according to claim 6, wherein the cleaning liquid is supplied to both surfaces of the substrate, and the brush is brought into contact with both surfaces of the substrate. 基板を水平に対して所定の角度傾斜した状態で移動することを特徴とする請求項6に記載の基板洗浄方法。   The substrate cleaning method according to claim 6, wherein the substrate is moved in a state inclined at a predetermined angle with respect to the horizontal. 請求項1乃至請求項5のいずれか1項に記載の基板洗浄装置を用いて基板を洗浄した後、所定の薬液処理を行うことを特徴とする基板の製造方法。   6. A substrate manufacturing method, comprising: cleaning a substrate using the substrate cleaning apparatus according to claim 1, and performing a predetermined chemical treatment. 請求項6乃至請求項10のいずれか1項に記載の基板洗浄方法を用いて基板を洗浄した後、所定の薬液処理を行うことを特徴とする基板の製造方法。   A method for manufacturing a substrate, comprising: cleaning a substrate using the substrate cleaning method according to claim 6, and performing a predetermined chemical treatment.
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