JP2006279936A - アナログデジタル変換器 - Google Patents

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Abstract

【課題】AD変換ブロックに入力されるアナログ信号をサンプルして少なくとも保持するための回路に入力される信号のセトリングタイムは、遅延しがちであった。
【解決手段】アナログデジタル変換器3において、AD変換回路18は、アナログ信号をサンプルし、目標ビット数より少ない所定ビット数のデジタル値に変換する。増幅回路16は、AD変換回路18と並列に設けられ、AD変換回路18がサンプルするアナログ信号を保持、または所定の増幅率で増幅する。サンプルホールド回路10の出力側に、増幅回路16用の第1ソースフォロワ回路12と、AD変換回路18用の第2ソースフォロワ回路14を個別に設けた。
【選択図】図3

Description

本発明は、アナログデジタル変換器に関し、特に、パイプライン型など、アナログ信号を複数回に分けてデジタル値に変換するアナログデジタル変換器に関する。
デジタル信号処理技術の進展に応じて、分解能が高く、高速なアナログデジタル変換器が求められている。このようなアナログデジタル変換器(以下、AD変換器という。)として、パイプライン型のアナログデジタル変換器が提案されている。例えば、特許文献1の図1には、4段構成のパイプライン型AD変換器が開示されている。各A/Dコンバータブロックにて、4ビット、3ビット、3ビット、3ビットを出力し、合計10ビットのデジタル値を出力する。
特開平9−275342号公報
上記特許文献1の図13には、複数の電圧比較回路7.3〜7.13を含むフラッシュ型A/Dコンバータ42が開示されており、また、上記特許文献1の図14には、電圧比較回路7.3の構成として、電位比較器55とその入力端子に接続されたキャパシタ51〜54が開示されている。
このようなスイッチトキャパシタ型コンパレータは、容量に電荷を蓄えるための電圧をスイッチにより切り替える必要がある。その構成にて、そのスイッチが切り替わると、上記容量に蓄えられていた電荷の影響で、A/Dコンバータと並列に設けられるサンプル/ホールド回路への入力アナログ信号が変化し、セトリングタイムが遅くなってしまう。上記特許文献1の図2には、A/Dコンバータ12と並列にサンプル/ホールド回路14を設ける回路構成が開示されている。
本発明はこうした状況に鑑みなされたものであり、その目的は、AD変換ブロックに入力されるアナログ信号をサンプルして少なくとも保持するための回路に入力される信号のセトリングタイムの遅れを抑制するアナログデジタル変換器を提供することにある。
上記課題を解決するために、本発明のある態様のアナログデジタル変換器は、アナログ信号を複数回に分けてデジタル値に変換するアナログデジタル変換器であって、所定のアナログ信号をサンプルし、目標ビット数より少ない所定ビット数のデジタル値に変換するAD変換回路と、AD変換回路がサンプルするアナログ信号を少なくとも保持する第1の保持回路と、AD変換回路の入力側と第1の保持回路の入力側とを結ぶ経路に設けられたバッファ回路と、を備える。「バッファ回路」は、ソースフォロワ回路であってもよい。「第1の保持回路」は、サンプルしたアナログ信号を増幅しながら、保持し、サンプルしたアナログ信号の所定倍のアナログ信号を出力してもよい。また、サンプルしたアナログ信号を保持し、そのアナログ信号から、AD変換回路の出力デジタル値をDA変換した信号を減算し、その減算した信号を所定の増幅率で増幅してもよい。この場合、減算回路とは別に「第1の保持回路」があってもよいし、あるいは、減算回路が保持機能を有してもよい。
この態様によると、AD変換回路の入力側と第1の保持回路の入力側とを結ぶ経路にバッファ回路を介在させることにより、AD変換回路から発生するノイズの影響を低減することができ、第1の保持回路への入力信号のセトリングタイムの遅れを抑制することができる。
入力された複数のアナログ信号のそれぞれをサンプルしてホールドする複数の第2の保持回路と、複数の第2の保持回路の出力のいずれかを選択してAD変換回路および第1の保持回路に出力する信号選択部とをさらに備えてもよい。これによれば、バッファ回路により、信号選択部における選択が切り替えられた際に、切替前に生じたAD変換回路のノイズ成分が切替後に第1の保持回路に入力されるアナログ信号に与える影響を低減できる。したがって、アナログデジタル変換器が多チャンネルの入力に対して動作する場合に、チャンネル間においてAD変換回路から発生するノイズの影響が伝わるリスクを低減でき、アナログデジタル変換器の変換精度を向上させることができる。
複数の第2の保持回路のそれぞれは、ホールドしたアナログ信号をAD変換回路用の経路および第1の保持回路用の経路に分岐して出力し、バッファ回路は、AD変換回路用の経路に設けられてもよい。この場合、AD変換回路用の経路に設けられたバッファ回路により、AD変換回路から発生するノイズが第1の保持回路への入力信号に与える影響を低減することができる。
バッファ回路は、AD変換回路用の経路に加えて、第1の保持回路用の経路にも設けられてもよい。この場合、第1の保持回路から発生するノイズがAD変換回路への入力信号に与える影響を低減することができ、アナログデジタル変換器の変換精度が高められる。
アナログ信号の入力側からみてバッファ回路よりも後ろの回路素子の電源電圧を、バッファ回路およびバッファ回路よりも前の回路素子の電源電圧よりも小さくしてもよい。バッファ回路は、入力されたアナログ信号を所定のレベル降圧する電圧変換回路として機能してもよい。この場合、アナログデジタル変換器における消費電力を低減することができる。また、バッファ回路が電圧変換回路として機能することで、別途電圧の変換のための回路を設ける必要がなくなるので、回路規模を抑えつつ消費電力を低減できる。
本発明の別の態様もまた、アナログデジタル変換器である。このアナログデジタル変換器は、アナログ信号を複数回に分けてデジタル値に変換するアナログデジタル変換器であって、アナログ信号を出力する所定の回路素子と、出力されたアナログ信号をサンプルし、目標ビット数より少ない所定ビット数のデジタル値に変換するAD変換回路と、AD変換回路と並列に設けられ、AD変換回路がサンプルするアナログ信号を少なくとも保持する第1の保持回路と、を備える。所定の回路素子の出力側に、第1の保持回路用のバッファ回路と、AD変換回路用のバッファ回路を個別に設けた。「所定の回路素子」は、サンプルホールド回路であってもよい。
この態様によると、第1の保持回路用のバッファ回路と、AD変換回路用のバッファ回路を個別に設けることにより、AD変換回路から発生するノイズの影響を低減することができ、第1の保持回路への入力信号のセトリングタイムの遅れを抑制することができる。また、バッファ回路を一つ設ける場合のそのバッファ回路に流す電流より、各バッファ回路に流す電流の和を低減させることができる。
第1の保持回路用のバッファ回路は、所定の回路素子と第1の保持回路を結ぶ経路に設けられ、AD変換用のバッファ回路は、所定の回路素子と第1の保持回路用のバッファ回路の接続点と、AD変換回路を結ぶ経路に設けられてもよい。この態様によると、AD変換回路からのノイズ成分が少なくとも2つのバッファ回路を通ることになり、そのノイズ成分による第1の保持回路への入力信号への影響を低減させることができる。
AD変換回路は、入力側に接続された容量の一端でアナログ信号を受け、容量の他端に現れるアナログ信号をサンプルする容量結合入力型の電圧比較素子を含んでもよい。この態様によると、AD変換器にスイッチトキャパシタ型コンパレータを含めた場合、その電圧比較素子の入力に接続される容量から流出する電荷に起因するノイズ成分を低減することができる。
第1の保持回路およびAD変換回路は、アナログ信号がデジタル値に最初に変換されるブロックに含まれてもよい。デジタル値への最初の変換は次回以降の変換より高い精度が要求されるが、この態様によると、最初に変換されるブロックに設けられる第1の保持回路の特性劣化を抑制することができ、AD変換器全体の特性劣化を効率よく抑制することができる。
AD変換回路の出力信号をアナログ信号に変換するDA変換回路と、第1の保持回路の出力信号からDA変換回路の出力信号を減算する減算回路と、をさらに備え、第1の保持回路は、サンプルしたアナログ信号を保持期間中に、所定の増幅率で増幅し、減算回路は、増幅率と同一の増幅率で増幅された、DA変換回路の出力信号を減算してもよい。「同一」とは、温度や電圧変動などの環境によって、仕様で決められた値から若干変動する「実質的に同一」の場合を含んでもよい。この態様によると、増幅前の信号の特性劣化を抑制することにより、AD変換器全体の特性劣化を効率よく抑制することができる。
なお、以上の構成要素の任意の組合せ、本発明の表現を方法、装置、システムなどの間で変換したものもまた、本発明の態様として有効である。
本発明によれば、AD変換ブロックに入力されるアナログ信号をサンプルして少なくとも保持するための回路に入力される信号のセトリングタイムの遅れを抑制することができる。
(実施形態1)
実施形態1は、パイプライン型および後述するサイクリック型AD変換器にて、初段のAD変換ブロックから発生するノイズの影響を低減するため、当該AD変換ブロックと、それに入力されるアナログ信号を少なくとも保持するための保持回路として機能する増幅回路とが繋がる経路上にソースフォロワ回路を設ける例を説明する。
図1は、実施形態1におけるAD変換器1の部分回路を示す。この部分回路は、パイプライン型および後述するサイクリック型AD変換器の初段の構成を示す。
サンプルホールド回路10は、外部から入力されるアナログ信号Vin、すなわち、増幅回路16およびAD変換回路18に入力すべきアナログ信号をサンプルし、所定の期間ホールドする。例えば、CCD(Charge Coupled Device)により光電変換され、CDS(Correlated Double Sampling)、可変増幅器などを経たアナログ信号をサンプルする。なお、複数の入力がある場合、それに対応して複数のサンプルホールド回路が設けられ、図示しないスイッチにより一つが選択される。サンプルホールド回路10は、ホールドしているアナログ信号を増幅回路16に出力し、ソースフォロワ回路11を介してAD変換回路18に同じ信号を出力する。
ソースフォロワ回路11は、一般的には、負荷インピーダンスが大きい増幅段が低インピーダンスを駆動する場合、信号電圧の損失が無視できるように、バッファとして挿入される。AD変換器1では、低電流化および後述するノイズ保護のために使用される。
増幅回路16はサンプルホールド回路10の出力アナログ信号を、AD変換回路18はソースフォロワ回路11の出力アナログ信号を、同じタイミングでサンプルする。増幅回路16は、サンプルしたアナログ信号を所定の期間ホールドし、またはサンプルしたアナログ信号を所定の増幅率で増幅し、所定のタイミングで、減算回路22に出力することができる。この所定のタイミングは、並列に設けられるAD変換回路18およびDA変換回路20を含む経路における、AD変換およびDA変換の完了タイミングに対応する。
AD変換回路18は、フラッシュ型を用いることができる。その分解能、即ち変換ビット数は、AD変換器1全体で変換するビット数よりも少ないビット数である。例えば、全体で10または13ビットを変換する場合、4ビットであってもよい。AD変換回路18は、入力されたアナログ信号を変換したデジタル信号を図示しないエンコーダおよびDA変換回路20に出力する。
DA変換回路20は、AD変換回路18により変換されたデジタル値をアナログ値に変換し、減算回路22に出力する。DA変換回路20は、増幅回路16の増幅率に応じて、増幅して、アナログ値を出力する。例えば、増幅回路16が2倍に増幅した場合、DA変換回路20も2倍に増幅する。減算回路22は、増幅回路16の出力からDA変換回路20の出力を減算し、図示しない後段回路に出力する。
ここで、DA変換回路20の出力を2倍に増幅する手法の一例について簡単に説明する。AD変換回路18およびDA変換回路20には、高電位側基準電圧VRTと低電位側基準電圧VRBが供給されている。AD変換回路18は、高電位側基準電圧VRTと低電位側基準電圧VRBとを基に生成される基準電圧レンジを利用してリファレンス電圧を生成する。容量アレイ方式のDA変換を行う場合にて、DA変換回路20は、図示しない複数設けられる各々の容量に高電位側基準電圧VRTと低電位側基準電圧VRBとを、AD変換回路18からの制御により選択的に供給することで、出力電圧を得ている。このように一般的に、DA変換回路20の基準電圧レンジも、高電位側基準電圧VRTと低電位側基準電圧VRBとを基に生成される。このとき、2倍増幅するには、AD変換回路18の基準電圧レンジと、DA変換回路20の基準電圧レンジとの比を1:2に設定すればよい。例えば、AD変換回路18のリファレンス電圧の入力をシングルで行い、DA変換回路20の出力を差動で構成すれば、1:2に設定することができる。
(比較例)
図2は、図1との比較例におけるAD変換器2の部分回路を示す。このAD変換器2の構成は、基本的に図1のAD変換器1の構成と同様である。サンプルホールド回路10とAD変換回路18との間に、ソースフォロワ回路11が設けられない点が異なる。
AD変換回路18に上述したスイッチトキャパシタ型コンパレータを含めて構成した場合、入力されるアナログ信号をチョッパして、所定の時刻のアナログ信号をサンプルするため、その入力端子に接続された容量に電荷が蓄えられる。そして、それをコンパレータに入力するためスイッチをオンすると、その容量から流出した電荷が増幅回路16にも流れ込み、ノイズ成分となる。比較例におけるAD変換器2では、バッファとして機能するソースフォロワ回路11が挿入されておらず、流出した電荷がそのまま、増幅回路16に影響を与える。
比較例におけるAD変換器2の構成にて、上記ノイズ成分の影響を低減するには、増幅回路16を構成するオペアンプに流す電流を大きくする必要がある。しかし、この手法では、消費電流が増大する。
これに対し、実施形態1におけるAD変換器1では、AD変換回路18と増幅回路16とを結ぶ経路に、ソースフォロワ回路11が介される構成としてある。ソースフォロワ回路は高インピーダンスな回路であるため、AD変換回路18から増幅回路16の入力端子に流入するノイズ成分は、ソースフォロワ回路11の入力端子であるMOSのゲート電位にほとんど影響を与えない。したがって、増幅回路16に対する上記ノイズ成分の影響はほとんどなくなり、サンプルホールド回路10から増幅回路16に入力される信号のセトリングタイムへの影響もほとんどなくすことができる。
このように、実施形態1におけるAD変換器1では、ノイズ保護の観点から、増幅回路16に流す電流を大きくする必要がない。したがって、実施形態1におけるAD変換器1と比較例におけるAD変換器2とで、AD変換回路18からのノイズ成分の影響を同程度に抑えようとする場合、増幅回路16に流す電流を、ソースフォロワ回路11に流す電流より小さくすることができる。したがって、実施形態1におけるAD変換器1のほうが、低消費電流で増幅回路16のセトリングタイムの遅れを抑制することができる。
以上説明したように実施形態1によれば、AD変換回路から、それと並列に設けられた増幅回路への経路に流入するノイズ成分の影響を低減し、その増幅回路に入力される信号のセトリングタイムが遅延することを抑制することができる。すなわち、当該AD変換回路と当該増幅回路とを結ぶ経路中に、ソースフォロワ回路を介したことにより、ノイズ成分の影響を低減することができる。すなわち、そのソースフォロワ回路で、当該AD変換回路から発生するノイズ成分を低減するができ、当該増幅回路の入力端子に上記ノイズ成分がほとんど流入しなくなる。よって、当該増幅回路に流す電流を大きくする必要がなく、低電流化とセトリングタイムの遅延防止を両立することができる。当該増幅回路は当該AD変換回路より高い精度を必要とするため、このセトリングタイムの遅延防止の効果は、AD変換器全体の特性維持に大きく貢献する。
(実施形態2)
実施形態2は、パイプライン型および後述するサイクリック型AD変換器にて、初段のAD変換ブロックから発生するノイズの影響を低減するため、アナログ信号を出力するサンプルホールド回路の出力と後段の回路素子との間に接続されるソースフォロワ回路を2つ並列に設ける例を説明する。
図3は、実施形態2におけるAD変換器3の部分回路を示す。この部分回路は、パイプライン型および後述するサイクリック型AD変換器の初段の構成を示す。
サンプルホールド回路10は、外部から入力されるアナログ信号をサンプルし、所定の期間ホールドする。例えば、CCD(Charge Coupled Device)により光電変換され、CDS(Correlated Double Sampling)、可変増幅器などを経たアナログ信号をサンプルする。なお、複数の入力がある場合、それに対応して複数のサンプルホールド回路が設けられ、図示しないスイッチにより一つが選択される。サンプルホールド回路10は、第1ソースフォロワ回路12を介して増幅回路16にホールドしているアナログ信号を出力し、第2ソースフォロワ回路14を介してAD変換回路18に同じ信号を出力する。
第1ソースフォロワ回路12および第2ソースフォロワ回路14は、一般的には、負荷インピーダンスが大きい増幅段が低インピーダンスを駆動する場合、信号電圧の損失が無視できるように、バッファとして挿入される。AD変換器3では、低電流化および後述するノイズ保護のために使用される。以下、第1ソースフォロワ回路12および第2ソースフォロワ回路14の構成例について説明する。
図4は、サンプルホールド回路10内の増幅段102の出力に、第1ソースフォロワ回路12および第2ソースフォロワ回路14を接続した構成を示す。サンプルホールド回路10はオペアンプを含み、そのオペアンプは複数の増幅段で入力信号を増幅する。図4中の増幅段102は、その複数の増幅段の最終段を示す。
図4では、増幅回路16およびAD変換回路18に出力すべきアナログ信号を差動信号でそれらに伝達する例を示す。なお、シングルエンド信号で伝達する場合、図4中で増幅段102を中心に対象形となっている回路の半分のみを使用する。第1ソースフォロワ回路12は、対をなすNチャネルMOS型トランジスタ(以下、単にNMOSという。)122、126を備える。NMOS122、126のドレインは、電源電圧VDDに接続される。そのゲートには、増幅段102の出力電圧が印加される。そして、そのソース電位が出力電圧となり、増幅回路16に出力信号として印加される。
また、NMOS122、126のソースは、定電流源として用いられるNMOS124、128に接続される。入出力特性の精度が余り要求されない場合、NMOS124、128の代わりに抵抗を用いてもよい。このNMOS124、128のドレインは、上記NMOS122、126のソースに接続し、NMOS124、128のソースは接地する。NMOS124、128のゲートには、所定のバイアス電圧が印加される。この回路では、NMOS122、126のゲート電圧に対して、そのソース電位が追従する。
第2ソースフォロワ回路14も、NMOS142、146、144、148を用いて、第1ソースフォロワ回路12と同様の回路構成となる。NMOS142、146のソース電位が出力電圧となり、AD変換回路18に出力信号として印加される。
増幅回路16は第1ソースフォロワ回路12の出力アナログ信号を、AD変換回路18は第2ソースフォロワ回路14の出力アナログ信号を、同じタイミングでサンプルする。増幅回路16は、サンプルしたアナログ信号を所定の期間ホールドし、またはサンプルしたアナログ信号を所定の増幅率で増幅し、所定のタイミングで、減算回路22に出力することができる。この所定のタイミングは、並列に設けられるAD変換回路18およびDA変換回路20を含む経路における、AD変換およびDA変換の完了タイミングに対応する。
AD変換回路18は、フラッシュ型を用いることができる。その分解能、即ち変換ビット数は、AD変換器3全体で変換するビット数よりも少ないビット数である。例えば、全体で10または13ビットを変換する場合、4ビットであってもよい。AD変換回路18は、入力されたアナログ信号を変換したデジタル信号を図示しないエンコーダおよびDA変換回路20に出力する。
DA変換回路20は、AD変換回路18により変換されたデジタル値をアナログ値に変換し、減算回路22に出力する。DA変換回路20は、増幅回路16の増幅率に応じて、増幅して、アナログ値を出力する。例えば、増幅回路16が2倍に増幅した場合、DA変換回路20も2倍に増幅する。減算回路22は、増幅回路16の出力からDA変換回路20の出力を減算し、図示しない後段回路に出力する。
(比較例)
図5は、図3との比較例におけるAD変換器4の部分回路を示す。このAD変換器4の構成は、基本的に図3のAD変換器3の構成と同様である。以下、相違点について説明する。サンプルホールド回路10の出力は、一つの第3ソースフォロワ回路13に接続される。第3ソースフォロワ回路13は、サンプルホールド回路10および増幅回路16に同一のアナログ信号を出力する。
図6は、増幅回路16に入力されるアナログ信号の特性を比較するための図である。図6の上のアナログ波形は、実施形態2におけるAD変換器3の増幅回路16に入力される波形を、図6の下のアナログ波形は、比較例におけるAD変換器4のそれに入力される波形を示す。
AD変換回路18に上述したスイッチトキャパシタ型コンパレータを含めて構成した場合、入力されるアナログ信号をチョッパして、所定の時刻のアナログ信号をサンプルするため、その入力端子に接続された容量に電荷が蓄えられる。そして、それをコンパレータに入力するためスイッチをオンすると、その容量から流出した電荷が増幅回路16への入力経路にも流れ込み、ノイズ成分となる。比較例におけるAD変換器4では、AD変換回路18と増幅回路16とを結ぶ経路に回路素子が挿入されておらず、流出した電荷がそのまま、第3ソースフォロワ回路13の出力信号のノイズ成分となる。図6の下のアナログ波形には、このノイズ成分により大きな歪みa2が発生し、セトリングタイムが遅くなる。
比較例におけるAD変換器4の構成にて、上記ノイズ成分の影響を低減するには、第3ソースフォロワ回路13に流す電流を大きくして、回路動作を速め、当該ノイズ成分の影響を受けた第3ソースフォロワ回路13の出力信号の補正を速める必要がある。しかし、この手法では、消費電流が増大する。
これに対し、実施形態2におけるAD変換器3では、AD変換回路18と増幅回路16とを結ぶ経路に、第1ソースフォロワ回路12および第2ソースフォロワ回路14が介される構成としてある。ソースフォロワ回路は高インピーダンスな回路であるため、AD変換回路18から第2ソースフォロワ回路14の出力端子に流入するノイズ成分は、第2ソースフォロワ回路14の入力端子であるMOSのゲート電位にほとんど影響を与えない。したがって、第1ソースフォロワ回路12に対する上記ノイズ成分の影響はほとんどなくなり、第1ソースフォロワ回路12から増幅回路16に入力される信号のセトリングタイムへの影響もほとんどなくすことができる。図6の上のアナログ波形には、上記歪みa2より小さな歪みa1しか発生しておらず、セトリングタイムへの影響も限定的である。
このように、実施形態2におけるAD変換器3では、ノイズ保護の観点から、第1ソースフォロワ回路12に流す電流を大きくする必要がない。したがって、実施形態2におけるAD変換器3と比較例におけるAD変換器4とで、AD変換回路18からのノイズ成分の影響を同程度に抑えようとする場合、第1ソースフォロワ回路12および第2ソースフォロワ回路14に流す電流の和を、第3ソースフォロワ回路13に流す電流より小さくすることができる。したがって、実施形態2におけるAD変換器3のほうが、低消費電流で増幅回路16のセトリングタイムの遅れを抑制することができる。
以上説明したように実施形態2によれば、AD変換回路から、それと並列に設けられた増幅回路への経路に流入するノイズ成分の影響を低減し、その増幅回路に入力される信号のセトリングタイムが遅延することを抑制することができる。すなわち、当該AD変換回路と当該増幅回路とを結ぶ経路中に、2つのソースフォロワ回路を介したことにより、ノイズ成分の影響を低減することができる。すなわち、AD変換回路側のソースフォロワ回路で、当該AD変換回路から発生するノイズ成分を低減するができ、前段のサンプルホールド回路などの回路素子と当該増幅回路との間に設けられるソースフォロワ回路の入力端子に上記ノイズ成分がほとんど流入しなくなる。よって、当該ソースフォロワ回路に流す電流を大きくする必要がなく、低電流化とセトリングタイムの遅延防止を両立することができる。当該増幅回路は当該AD変換回路より高い精度を必要とするため、このセトリングタイムの遅延防止の効果は、AD変換器全体の特性維持に大きく貢献する。
(実施形態3)
図7は、実施形態3におけるAD変換器5の部分回路を示す。このAD変換器5の構成は、基本的に図3のAD変換器3の構成と同様である。以下、相違点について説明する。サンプルホールド回路10の出力は、第1ソースフォロワ回路12に接続される。第1ソースフォロワ回路12は、増幅回路16および第2ソースフォロワ回路14に同一のアナログ信号を出力する。第2ソースフォロワ回路14は、AD変換回路18にアナログ信号を出力する。
実施形態3によれば、AD変換回路と増幅回路とを結ぶ経路中に、第2ソースフォロワ回路14を介したことにより、実施形態2の比較例より、AD変換回路からのノイズ成分の影響を低減することができ、実施形態2と同等の効果を得ることができる。
(実施形態4)
図8は、実施形態4におけるAD変換器6の部分回路を示す。このAD変換器6の構成は、基本的に図3のAD変換器3の構成と同様である。以下、相違点について説明する。実施形態4におけるAD変換器6は、サンプルホールド回路10と減算回路22との間の増幅回路16を省略した構成である。減算増幅回路26は、サンプルホールド回路10の出力信号からDA変換回路20の出力信号を減算する減算回路22としての機能と、その減算結果を所定の増幅率で増幅する増幅回路24としての機能を備える。この減算増幅回路26は、保持機能を有する。本機能は、タイミングを調整することで実現できる。例えば、減算増幅回路26がサンプルホールド回路10の出力アナログ信号を、AD変換回路18のサンプルタイミングとほぼ同じタイミングでサンプルすればよい。これにより、回路構成の簡略化が可能になる。
実施形態4によれば、AD変換回路と減算増幅回路とを結ぶ経路中に、ソースフォロワ回路11を介したことにより、AD変換回路から、減算増幅回路への経路に流入するノイズ成分の影響を低減し、その減算増幅回路に入力される信号のセトリングタイムが遅延することを抑制することができる。
(実施形態5)
実施形態5は、実施形態2に説明した部分回路をサイクリック型のAD変換器7に適用した例である。このAD変換器7は、非サイクリック型の前段で4ビットを変換し、サイクリック型の後段で2ビットずつ変換し、後段が3周回することにより合計10ビットを出力する。
図9は、実施形態5におけるAD変換器7の構成を示す。このAD変換器7において、サンプルホールド回路10は、外部から入力されるアナログ信号をサンプルし、所定の期間ホールドする。そして、第1ソースフォロワ回路12を介して増幅回路16にホールドしているアナログ信号を出力し、第2ソースフォロワ回路14を介してAD変換回路18に同アナログ信号を出力する。
次に、前段ステージについて説明する。第1AD変換回路18は、フラッシュ型のものであり、その分解能、即ち変換ビット数は4ビットである。第1AD変換回路18は、入力されるアナログ信号をデジタル値に変換し、上位4ビット(D9〜D6)を取り出し、図示しないエンコーダおよび第1DA変換回路20に出力する。第1DA変換回路20は、第1AD変換回路18により変換されたデジタル値をアナログ値に変換する。第1増幅回路16は、入力されたアナログ信号をサンプルし、2倍に増幅して、第1減算回路22に出力する。第1減算回路22は、第1増幅回路16の出力から、第1DA変換回路20の出力を減算する。ここで、第1DA変換回路20の出力は、2倍に増幅されている。第2増幅回路24は、第1減算回路22の出力を2倍に増幅する。第2AD変換回路30は、2ビット変換のため、実質4(2の2乗)倍に増幅しなければならない。なお、第1減算回路22および第2増幅回路24は、一体型の第1減算増幅回路26であってもよい。これによれば、回路を簡素化することができる。
次に、後段ステージについて説明する。第1スイッチSW2および第2スイッチSW4は、交互にオンオフするスイッチである。第1スイッチSW2がオン、第2スイッチSW4がオフの状態において、前段ステージから第1スイッチSW2を介して入力されるアナログ信号は、第3増幅回路28および第2AD変換回路30に入力される。第2AD変換回路30も、フラッシュ型のものであり、その分解能、即ち冗長1ビットを含まないビット数は2ビットである。第2AD変換回路30は、入力されるアナログ信号をデジタル値に変換し、上位から5,6ビット(D5〜D4)、冗長ビットを含めて3ビット分を取り出し、図示しないエンコーダおよび第2DA変換回路32に出力する。第2DA変換回路32は、第2AD変換回路30により変換されたデジタル値をアナログ値に変換する。
第3増幅回路28は、入力されたアナログ信号を2倍に増幅して、第2減算回路34に出力する。第2減算回路34は、第3増幅回路28の出力から第2DA変換回路32の出力を減算して、第4増幅回路36に出力する。第2DA変換回路32の出力は、実質2倍に増幅されている。なお、第2減算回路34および第4増幅回路36は、一体型の第2減算増幅回路38であってもよい。
第4増幅回路36は、第2減算回路34の出力を2倍に増幅する。この段階において、第1スイッチSW2がオフ、第2スイッチSW4がオンの状態に遷移している。第4増幅回路36において増幅されたアナログ信号は、第2スイッチSW4を介して第3増幅回路28および第2AD変換回路30へフィードバックされる。以下、上記の処理が繰り返され、第2AD変換回路30は、上位から7,8ビット(D3〜D2)、冗長ビットを含めて3ビット分および上位から9,10ビット(D1〜D0)、冗長ビットを含めて3ビット分を取り出す。このようにして、10ビットのデジタル値を得ている。上位から5〜10ビットをサイクリック型の後段ステージにより得ている。
以上説明したように実施形態5によれば、前段ステージのAD変換回路から、それと並列に設けられた同ステージの増幅回路への経路に流入するノイズ成分の影響を低減し、その増幅回路に入力される信号のセトリングタイムが遅延することを抑制することができる。この増幅回路のように、最初のステージのAD変換回路と並列に設けられる同ステージの増幅回路は、同ステージのAD変換回路、それ以降のステージの増幅回路およびAD変換回路より高い精度が要求される。実施形態5のAD変換器7では、第1増幅回路16は10ビット精度が要求され、同ステージの第1AD変換回路18は4ビット精度が要求される。また、AD変換回路と並列に設けられる増幅回路がサンプルホールド回路として機能するだけでなく、増幅作用も持つ場合、さらに高い精度が要求される。したがって、このような増幅回路へのノイズ成分を低減する構成を持つ場合、AD変換器全体の特性劣化を抑制する効果が大きい。また、サイクリック型のAD変換器を使用すると、パイプライン型より小型化、省電力化することができる。
(実施形態6)
実施形態6では、図8に示される実施形態4の構成を基本とし、大きさが異なった電圧を供給する2つの電源を用いる。具体的には、アナログ信号Vinの入力側からみて第1ソースフォロワ回路12および第2ソースフォロワ回路14の後ろの回路素子の電源電圧を小さくする。これにより、アナログデジタル変換器における消費電力を低減できる。
図10は、実施形態6にかかるAD変換器6aの構成を示す。図10において、図8と同一または同様の構成要素には同一または同様の符号を付して適宜説明を省略する。
図10のAD変換器6aは、図8のAD変換器6と比較して、第1回路素子群62に高電圧Vdd1を供給する電源と、第2回路素子群64に低電圧Vdd2を供給する電源とが別々に設けられている点において相違する。高電圧Vdd1は、たとえば、3.3V程度である。低電圧Vdd2は、たとえば、1.8V程度である。なお、電源の図示は省略している。
第1回路素子群62は、第1ソースフォロワ回路12および第2ソースフォロワ回路14と、アナログ信号Vinの入力側からみて第1ソースフォロワ回路12および第2ソースフォロワ回路14よりも前にある回路素子により構成される。第2回路素子群64は、アナログ信号Vinの入力側からみて第1ソースフォロワ回路12および第2ソースフォロワ回路14よりも後ろの回路素子により構成される。
本実施の形態も、実施形態4と同様の作用効果を奏する。さらに、本実施の形態によれば、アナログ信号Vinのレンジに合わせて第1回路素子群62の電源電圧を高電圧Vdd1とする。一方、第1ソースフォロワ回路12および第2ソースフォロワ回路14によりトランジスタの閾値電圧以上の一定レベル降圧されたアナログ信号を扱う第2回路素子群64の電源電圧を低電圧Vdd2とする。これにより、第1回路素子群62および第2回路素子群64に同じ大きさの電圧を供給する場合と比較して、第2回路素子群64における消費電力を低減できる。すなわち、AD変換器6aにおける消費電力を低減することができる。また、第2回路素子群64を低電圧Vdd2にて動作させようとする場合に、第1ソースフォロワ回路12および第2ソースフォロワ回路14による降圧を利用できるので、降圧のために特別な電圧変換回路を設ける必要がなくなる。したがって、第2回路素子群64を低電圧Vdd2にて動作させようとする場合の回路規模の増大を抑えることができる。
(実施形態7)
実施形態7では、図10に示される実施形態6の構成を基本とし、多チャンネル入力、すなわち、複数のアナログ信号がひとつのAD変換器に入力される。複数のアナログ信号は、たとえば、直交変調された信号のI成分およびQ成分、あるいは、ダイバーシチ受信装置における複数のアンテナの受信信号のそれぞれである。AD変換器は、同時にサンプルされた複数のアナログ信号を時分割で順次AD変換して出力する。
図11は、実施形態7にかかるAD変換器8の構成を示す。図11において、図10と同一または同様の構成要素には同一または同様の符号を付して適宜説明を省略する。以下、図10との相違点を中心に説明する。
図11のAD変換器8では、m個のアナログ信号Vin1〜Vinmの入力を受ける。サンプルホールド回路10は、第1サンプルホールド回路SH1〜第mサンプルホールド回路SHmを含む。第1サンプルホールド回路SH1〜第mサンプルホールド回路SHmのそれぞれは、アナログ信号Vin1〜Vinmのを同時にサンプルしてホールドする。マルチプレクサ76は、第1サンプルホールド回路SH1〜第mサンプルホールド回路SHmの出力のいずれかを選択して第1減算増幅回路26およびAD変換回路18に出力する。マルチプレクサ76における選択は、たとえば、クロックごとに順次アナログ信号Vin1〜Vinmまで切り替えられ、循環される。
第1サンプルホールド回路SH1は、差動増幅器74と、帰還ソースフォロワ回路66と、第1キャパシタ68と、第2キャパシタ72とを含む。第2キャパシタ72は、アナログ信号Vin1が差動増幅器74の入力端子に至る経路に設けられる。帰還ソースフォロワ回路66および第1キャパシタ68は、差動増幅器74の出力端子と差動増幅器74の入力端子との間に直列に接続される。
第1キャパシタ68および第2キャパシタ72は、同じ大きさの容量を有する。第1サンプルホールド回路SH1は、第1キャパシタ68と並列に設けられたスイッチ(図示せず)がオンからオフに切り替えられた時のアナログ信号Vin1をサンプルする。第1サンプルホールド回路SH1は、サンプルしたアナログ信号Vin1を上記のスイッチがオフである期間ホールドする。
帰還ソースフォロワ回路66は、第1ソースフォロワ回路12および第2ソースフォロワ回路14に対応して設けられる。すなわち、帰還ソースフォロワ回路66は、第1ソースフォロワ回路12および第2ソースフォロワ回路14の出力端子における電圧の大きさと、差動増幅器74の出力から第1キャパシタ68に印加される電圧の大きさとの差を小さくするために設けられる。
本実施の形態も、実施形態6と同様の作用効果を奏する。さらに、本実施の形態によれば、多チャンネルの入力に対して時分割にて動作するAD変換回路18からのノイズ成分が第1減算増幅回路26に入力されるアナログ信号に与える影響を低減することができる。すなわち、マルチプレクサ76における選択が隣接チャンネルに切り替えられた際に、切替前に生じたAD変換回路18のノイズ成分が切替後に第1減算増幅回路26に入力されるアナログ信号に与える影響を低減できる。これにより、隣接チャンネル間でノイズの伝搬してしまうリスクが抑えられる。すなわち、マルチプレクサ76における選択の切替前の変換が切替後の変換に与える影響を抑えることができ、多チャンネルの入力に対して動作するAD変換器8の変換精度を向上させることができる。
また、本実施の形態によれば、第1ソースフォロワ回路12および第2ソースフォロワ回路14の特性と、帰還ソースフォロワ回路66の特性とを揃えることで、第1ソースフォロワ回路12および第2ソースフォロワ回路14の出力端子における電圧の大きさと、差動増幅器74の出力から第1キャパシタ68に印加される電圧の大きさとの差を小さくすることができる。これにより、AD変換器8の変換精度が高められる。また、本実施の形態では、第1ソースフォロワ回路12および第2ソースフォロワ回路14をマルチプレクサ76の後段に設けて多チャンネルの入力に共用する。したがって、回路規模を抑えた構成により、隣接チャンネル間でノイズの伝搬してしまうリスクが抑えられる。
(実施形態8)
実施形態8では、図11に示される実施形態7の構成を基本とし、第1ソースフォロワ回路12および第2ソースフォロワ回路14を、第1サンプルホールド回路SH1〜第mサンプルホールド回路SHmのそれぞれの出力段に設ける場合を説明する。
図12は、実施形態8にかかるAD変換器9の構成を示す。図12において、図11と同一または同様の構成要素には同一または同様の符号を付して適宜説明を省略する。以下、図11との相違点を中心に説明する。
図12のAD変換器9において、第1サンプルホールド回路SH1〜第mサンプルホールド回路SHmのそれぞれは、ホールドしたアナログ信号をAD変換回路18用の経路および第1減算増幅回路26用の経路に分岐し、第1減算増幅回路26用の出力段およびAD変換回路18用の出力段からマルチプレクサ76に出力する。第1ソースフォロワ回路12は、第1サンプルホールド回路SH1〜第mサンプルホールド回路SHmのそれぞれの第1減算増幅回路26用の出力段に設けられる。第2ソースフォロワ回路14は、第1サンプルホールド回路SH1〜第mサンプルホールド回路SHmのそれぞれのAD変換回路18用の出力段に設けられる。
本実施の形態も、実施形態7と同様の作用効果を奏する。さらに、本実施の形態では、第1ソースフォロワ回路12および第2ソースフォロワ回路14は、マルチプレクサ76の前段に設けられる。これにより、第1ソースフォロワ回路12および第2ソースフォロワ回路14がマルチプレクサ76の後段に設けられる場合と比較して、差動増幅器74と第1ソースフォロワ回路12あるいは第2ソースフォロワ回路14とを接続する経路を短くすることができ、その経路にて受けるノイズや配線抵抗による影響を低減できる。よって、第1ソースフォロワ回路12および第2ソースフォロワ回路14に入力される信号と、帰還ソースフォロワ回路66に入力される信号との差を小さくできる。また、第1ソースフォロワ回路12および第2ソースフォロワ回路14は、マルチプレクサ76の前段に設けたことで、第1ソースフォロワ回路12および第2ソースフォロワ回路14の特性と、帰還ソースフォロワ回路66の特性とをより正確に揃えることが可能となる。したがって、第1ソースフォロワ回路12および第2ソースフォロワ回路14の出力端子における電圧の大きさと、差動増幅器74の出力から第1キャパシタ68に印加される電圧の大きさとの差をさらに小さくすることができ、AD変換器9の変換精度がさらに高められる。また、マルチプレクサ76を低電圧Vdd2で動作させているので、AD変換器9の消費電力を低減できる。
上記の実施形態7によれば、多チャンネルの入力に対して回路規模を抑えた構成により、隣接チャンネル間でノイズの伝搬してしまうリスクが抑えられる。一方、本実施の形態によれば、ノイズ伝搬のリスクが抑えられるとともに、さらなる変換精度の向上を実現できる。AD変換器の設計する際には、要求される性能や許容される回路規模を考慮して上記の形態のいずれかを適宜選択することができる。
以上、本発明を実施の形態をもとに説明した。この実施の形態は例示であり、その各構成要素や各処理プロセスの組合せにいろいろな変形例が可能である。また、そうした変形例も本発明の範囲にあることは当業者に理解されるところである。
各実施形態にて、バッファ回路としてソースフォロワ回路を用いた。この点、バイポーラトランジスタで構成されるエミッタフォロワ回路やボルテージフォロワ回路などに代替することも可能である。
実施形態5にて、ソースフォロワ回路を前段ステージに設ける例を説明した。この点、初段ステージ以降の後段ステージのAD変換回路と、それと並列に設けられた増幅回路への入力にそれぞれ、ソースフォロワ回路などのバッファ回路を設けてもよい。これによれば、そのステージの増幅回路へ入力されるアナログ信号のセトリングタイムが遅くなることを抑制することができる。
実施形態7および8において高電圧Vdd1を供給する電源と低電圧Vdd2を供給する電源とを別々に設けたが、電源は、高電圧Vdd1だけあれば足りる。この場合でも、多チャンネルの入力対して動作するAD変換器の変換精度を向上させることができる。また、実施形態7および8において、バッファ回路として第1ソースフォロワ回路12および第2ソースフォロワ回路14の双方を設けたが、バッファ回路は第2ソースフォロワ回路14だけであってもよい。この場合であっても、AD変換回路18によるノイズが第1減算増幅回路26への入力に与える影響を低減することができる。
また、各実施形態に記載したAD変換回路の変換ビット数とその配分、増幅回路の増幅率のパラメータは一例に過ぎず、変形例においてはこれらのパラメータに他の数値を採用してもよい。また、ステージ数は、1段や2段に限るものではなく、3段以上にも適用可能である。そして、それらのステージの1段以上がサイクリック型の構成であってもよい。
実施形態1におけるAD変換器の部分構成を示す図である。 実施形態1の比較例におけるAD変換器の部分構成を示す図である。 実施形態2におけるAD変換器の部分構成を示す図である。 実施形態2におけるサンプルホールド回路内の増幅段の出力に、第1ソースフォロワ回路および第2ソースフォロワ回路を接続した構成を示す図である。 実施形態2の比較例におけるAD変換器の部分構成を示す図である。 増幅回路に入力されるアナログ信号の特性を比較するための図である。 実施形態3におけるAD変換器の部分構成を示す図である。 実施形態4におけるAD変換器の部分構成を示す図である。 実施形態5におけるAD変換器の構成を示す図である。 実施形態6にかかるAD変換器の構成を示す図である。 実施形態7にかかるAD変換器の構成を示す図である。 実施形態8にかかるAD変換器の構成を示す図である。
符号の説明
3 AD変換器、 10 サンプルホールド回路、 12 第1ソースフォロワ回路、 14 第2ソースフォロワ回路、 16 増幅回路、 18 AD変換回路、 20 DA変換回路、 22 減算回路。

Claims (8)

  1. アナログ信号を複数回に分けて所定のビット数のデジタル値に変換するアナログデジタル変換器であって、
    入力されたアナログ信号をサンプルし、前記所定のビット数よりも少ないビット数のデジタル値に変換するAD変換回路と、
    前記入力されたアナログ信号を保持する第1の保持回路と、
    前記AD変換回路の入力側と前記第1の保持回路の入力側とを結ぶ経路に設けられたバッファ回路と、
    を備えることを特徴とするアナログデジタル変換器。
  2. 入力すべき複数のアナログ信号のそれぞれをサンプルしてホールドする複数の第2の保持回路と、
    前記複数の第2の保持回路の出力のいずれかを選択して前記AD変換回路および前記第1の保持回路に出力する信号選択部と、
    をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載のアナログデジタル変換器。
  3. 前記複数の第2の保持回路のそれぞれは、ホールドしたアナログ信号を前記AD変換回路用の経路および前記第1の保持回路用の経路に分岐して出力し、
    前記バッファ回路は、前記AD変換回路用の経路に設けられていることを特徴とする請求項2に記載のアナログデジタル変換器。
  4. 前記バッファ回路は、前記AD変換回路用の経路に加えて、前記第1の保持回路用の経路にも設けられていることを特徴とする請求項3に記載のアナログデジタル変換器。
  5. アナログ信号の入力側からみて前記バッファ回路よりも後ろの回路素子の電源電圧を、前記バッファ回路および前記バッファ回路よりも前の回路素子の電源電圧よりも小さくしたことを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載のアナログデジタル変換器。
  6. 前記バッファ回路は、入力されたアナログ信号を所定のレベル降圧する電圧変換回路として機能することを特徴とする請求項5に記載のアナログデジタル変換器。
  7. アナログ信号を複数回に分けてデジタル値に変換するアナログデジタル変換器であって、
    アナログ信号を出力する所定の回路素子と、
    前記所定の回路素子から出力されたアナログ信号をサンプルし、目標ビット数より少ない所定ビット数のデジタル値に変換するAD変換回路と、
    前記AD変換回路と並列に設けられ、前記AD変換回路がサンプルするアナログ信号を少なくとも保持する第1の保持回路と、
    を備え、
    前記所定の回路素子の出力側に、前記第1の保持回路用のバッファ回路と、前記AD変換回路用のバッファ回路を個別に設けたことを特徴とするアナログデジタル変換器。
  8. 前記AD変換回路の出力信号をアナログ信号に変換するDA変換回路と、
    前記第1の保持回路の出力信号から前記DA変換回路の出力信号を減算する減算回路と、
    をさらに備え、
    前記第1の保持回路は、サンプルしたアナログ信号を保持期間中に、所定の増幅率で増幅し、
    前記減算回路は、前記増幅率と同一の増幅率で増幅された、前記DA変換回路の出力信号を減算することを特徴とする請求項1から7のいずれかに記載のアナログデジタル変換器。
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