JP2006250873A - Ultrasonic flaw detecting method and apparatus for the same - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for reducing multiple reflections between the surface of a phased array probe and the surface of a material to be tested. <P>SOLUTION: An apparatus for ultrasonic flaw detection is provided with a plurality of phased array probes 1-1 for surrounding an outer circumference of a columnar or cylindrical specimen m and forming an arc having the same radius, and detects flaws in the specimen m. In ultrasonic flaw detecting method, the phased array probes 1-1 are a plurality of oscillators 10-10 disposed in an arc, and offset to the specimen m so as to have an eccentric distance d between a bisector (a virtual line) for equally dividing a central angle of the arc, formed by the phased array probes 1-1 and the center of the specimen m on a plane (a virtual plane) for intersecting the axial direction with respect to the material to be tested. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本願発明は、超音波探傷方法及びその装置に関するものである。   The present invention relates to an ultrasonic flaw detection method and an apparatus therefor.

丸棒(円柱)や円筒状の被検査材料(以下被検材と呼ぶ。)の超音波探傷を行うに際して、迅速な探傷を行うために、旧来の物理的なプローブの回転走査(又はプローブを固定しての被検材の回転駆動)を行う手法に代わる方法として、複数の振動子(エレメント)を被検材の外周を取り囲むよう、環状に配列したアレー探触子を用い、一連の振動子を数個シフトして順次振動させ、被検材の外周の各位置に向けて超音波を発するものが提案されている(特許文献1)。
尚、このように環状にエレメントが配列されたアレー探触子では、メンテナンス時、一部のエレメントの不具合により、その全体を交換する必要が生じる。このため、本願の発明者は、複数のエレメントを弧状に配列した弧状のフェーズドアレー探触子を、複数用いて、被検材の外周を取り囲むように配列したものを考えた。即ち、複数の弧状のアレー探触子を用いて、円周をブロック分けして、探傷を行うのである。
また、他においても、円周をブロック分けして探傷を行うものが提案されている(特許文献2及び特許文献3)。
When performing an ultrasonic flaw detection on a round bar (column) or a cylindrical material to be inspected (hereinafter referred to as a material to be inspected), a rotational scan of an old physical probe (or a probe is used for rapid flaw detection). As an alternative to the fixed rotation method, a series of vibrations are used using an array probe in which a plurality of transducers (elements) are arranged around the outer periphery of the test material. There has been proposed one that shifts several pieces and vibrates sequentially to emit ultrasonic waves toward each position on the outer periphery of the specimen (Patent Document 1).
Incidentally, in the array probe in which the elements are arranged in a ring shape as described above, it is necessary to replace the whole element due to a defect of some elements during maintenance. For this reason, the inventor of the present application has considered that a plurality of arc-shaped phased array probes in which a plurality of elements are arranged in an arc shape are used so as to surround the outer periphery of the test material. That is, a plurality of arc-shaped array probes are used to divide the circumference into blocks and perform flaw detection.
Others have also been proposed that perform flaw detection by dividing the circumference into blocks (Patent Documents 2 and 3).

特開昭59−126952号公報JP 59-126952 A 実告平3−11734号公報(特開昭59−63560号公報)Japanese Utility Model Publication No. 3-11734 (Japanese Patent Laid-Open No. 59-63560) 特公平1−43906号公報Japanese Examined Patent Publication No. 1-343906

一方、パイプ(円筒)又はピレット(円柱)の超音波ビーム回転式探傷装置を上記のフェーズドアレープローブ(アレー探触子)で実現しようとすると、上記のブロック分けをする・しないに拘わらず、パルス繰り返し周波数が上がらないという問題があった。
この点について、図9(概念図)を用いて、詳しく述べる。
上記従来の探傷装置では、図9(A)に示す通り、パイプ又はピレットといった円形の断面を有する被検材と弧状の断面を有する(複数の振動子10が弧状に配列された)フェーズドアレープローブ1とプローブ収納ブロックJを同心円(Mは被検材mの中心を示す。)上に配置し、当該被検材mとフェーズドアレープローブ1と含むプローブ収納ブロックJの間をカップリング用の探傷水wで満たす(図9において、図面の煩雑を避けるため、被検材mについて付すべきハッチングを省略してある)。
具体的には、この超音波探傷装置は、被検材mに対して、フェーズドアレープローブ1が呈する弧の中心角φを二等分する二等分線t1上に、被検材mの中心Mが位置するよう、物理的な配置を採る。
On the other hand, if an ultrasonic beam rotating type flaw detector for pipes (cylinders) or pipettes (cylinders) is to be realized with the above-mentioned phased array probe (array probe), the pulse is used regardless of whether or not the blocks are divided. There was a problem that the repetition frequency did not increase.
This point will be described in detail with reference to FIG. 9 (conceptual diagram).
In the conventional flaw detection apparatus, as shown in FIG. 9 (A), a phased array probe having a test material having a circular cross section such as a pipe or a pillet and an arc-shaped cross section (a plurality of transducers 10 are arranged in an arc shape). 1 and the probe storage block J are arranged on a concentric circle (M indicates the center of the test material m), and the flaw detection for coupling between the test material m and the probe storage block J including the phased array probe 1 is performed. Filled with water w (in FIG. 9, hatching to be attached to the test material m is omitted in order to avoid complication of the drawing).
Specifically, this ultrasonic flaw detector is configured so that the center of the specimen m is placed on a bisector t1 that bisects the center angle φ of the arc exhibited by the phased array probe 1 with respect to the specimen m. Physical arrangement is taken so that M is located.

上記従来の超音波探傷装置にあって、図9(B)へ示す通り、アレープローブ1の当該発信用アレーエレメント(振動子10…10)を位相制御されたパルスで超音波励振し、超音波を被検材mに向け発信し、カップリング用の探傷水wを通過させる。被検材mに到着した超音波について、被検材m表面でその一部が被検材m内部に入射し、その他のものが被検材m表面で反射される。入射した超音波は、被検材m内部を伝播し、材料(被検材m)内の欠陥、音響的インピーダンス不整合面で反射又は屈折する(図示しない)。このように反射又は屈折した超音波は再び被検材m表面に戻り、ここで上記超音波の一部がカップリング用の探傷水wに伝播し、超音波は、最終的には当該受信用アレーエレメントに到達する。受信用アレーエレメントでは超音波は電気信号に変換され、信号増幅され、位相遅延され、位相合成されたのち、評価回路に送られる。
発信から受信に到る一連の動作が完了した後、発信用受信用アレーエレメントを適当なエレメント数分シフトさせ、上記と同様な発信受信シーケンスが繰り返される。この繰り返し周期を超音波繰り返し周期といい、この逆数を超音波繰り返し周波数という。この超音波繰り返し周期は、主に残響超音波信号(ゴーストエコーとも呼ばれる)の残存時間で決定される。
残響超音波信号の主要な成分は、カップリング用の探傷水内の、フェーズドアレープローブ表面と被検材m表面との間の多重反射、及び、プローブ収納ブロック表面と被検材m表面との間の多重反射である。
このため、一つの弧状のアレー探触子による超音波の多重反射が、問題となる欠陥エコーを弁別することができるまで減衰するのを待って、次の超音波の発射を行わねばならず、上記の残響時間の長さが探傷の迅速性を阻害していた(次のパルスを早く出せないでいた)。
ここで、プローブ収納ブロック表面と被検材表面との間の多重反射については、プローブ収納ブロックの表面を超音波吸収効果の高い材料で構成したり、乱反射を行わせる楔加工を施したりした対処することができるが、フェーズドアレープローブ表面と被検材表面との間の多重反射については、これまで有効な対策がなかった。
In the conventional ultrasonic flaw detector described above, as shown in FIG. 9B, the transmitting array element (vibrator 10... 10) of the array probe 1 is ultrasonically excited with a phase-controlled pulse to generate ultrasonic waves. Is sent to the test material m, and the flaw detection water w for coupling is passed. Some of the ultrasonic waves that have arrived at the test material m are incident on the surface of the test material m on the surface of the test material m, and others are reflected on the surface of the test material m. The incident ultrasonic wave propagates inside the test material m, and is reflected or refracted by a defect in the material (test material m) and an acoustic impedance mismatching surface (not shown). The reflected or refracted ultrasonic wave returns to the surface of the test material m again, and a part of the ultrasonic wave propagates to the flaw detection water w for coupling, and the ultrasonic wave is finally used for reception. Reach the array element. In the receiving array element, the ultrasonic wave is converted into an electric signal, amplified, phase-delayed, phase-synthesized, and sent to the evaluation circuit.
After a series of operations from sending to receiving is completed, the receiving array element for sending is shifted by an appropriate number of elements, and the same sending and receiving sequence as described above is repeated. This repetition period is called an ultrasonic repetition period, and this reciprocal is called an ultrasonic repetition frequency. This ultrasonic repetition period is mainly determined by the remaining time of a reverberant ultrasonic signal (also called a ghost echo).
The main components of the reverberant ultrasonic signal are multiple reflections between the phased array probe surface and the surface of the test material m in the flaw detection water for coupling, and the probe storage block surface and the surface of the test material m. Multiple reflections between them.
For this reason, it is necessary to wait for the multiple reflections of the ultrasonic waves by one arc-shaped array probe to attenuate until the defective echoes in question can be distinguished, and then fire the next ultrasonic wave. The length of the reverberation time described above hindered the speed of flaw detection (the next pulse could not be emitted quickly).
Here, for multiple reflections between the probe storage block surface and the surface of the test material, the surface of the probe storage block is made of a material having a high ultrasonic absorption effect, or a wedge processing is performed to perform irregular reflection. However, there has been no effective countermeasure for the multiple reflection between the surface of the phased array probe and the surface of the specimen.

上記の残響超音波信号について、計測実験のデータに基いて説明する。
図10へ示す実験機材を用いて多重反射による残響超音波のデータを採取した。この実験機材は、長方形のステンレスの板kの表面k1に、フェーズドアレープローブ1のプローブユニット2と、パイプ状のテスト用被検材m0とを固定したものである。上記の図9(A)に示すように、フェーズドアレープローブ1(の呈する弧)が、被検材m0と間隔を隔てて、被検材m0と同心となるよう、夫々板k表面に配置・固定した。
そして、探傷水(水)の中に被検材mと共に上記板kを浸けて、実験を行った。
尚、このフェーズドアレープローブ1は、弧の半径が52.5mm、弧の中心角が60度であり、その中央部分に0.35mmピッチ間隔で配設された128個の振動子にて構成され、そのうち同時に振動する振動子を32個とした。一連の32個の振動子群が振動して超音波を発し探傷を行った後、数個シフトして次の32個の振動子群が振動し探傷を行う。最も反射エコーが強い振動子群から得た結果を図11(A)、図12(A)及び図13(A)へ示す。
各図に示すグラフにおいて、縦軸は反射エコーの強さを、横軸は被検材中の横波伝播距離(mm)を示している。横波音速を3230m/secとした。音波の到達距離は、到達時間から換算されることから、横軸が示す距離は、時間と考えることができる。
図11(A)が示すデータは、被検材m0を直径34.0mm、肉厚7.0mmのパイプとし、超音波の被検材m0への入射点における屈折角24.6度、フェーズドアレープローブ1の感度を48.8dBとして得た。
図12(A)が示すデータは、被検材m0を直径34.0mm、肉厚7.0mmのパイプとし、超音波の被検材m0への入射点における屈折角45.0度、フェーズドアレープローブ1の感度を50.4dBとして得た。
図13(A)が示すデータは、被検材m0を直径48.6mm、肉厚3.7mmのパイプとし、超音波の被検材m0への入射点における屈折角36.8度、フェーズドアレープローブ1の感度を51.2dBとして得た。尚、上記各感度は、図11(A)及び図13(A)では内面の0.1mmノッチきずのエコー高さ、図12(A)では外面の0.1mmノッチきずのエコー高さが画面縦軸の4/5(80%)になる感度とした。
図11〜図13に示すグラフの波形のピークは、フェーズドアレープローブ表面と被検材表面との間の多重反射、即ち、フェーズドアレープローブ表面と被検材表面との間における反射エコーを示している。
The reverberant ultrasonic signal will be described based on measurement experiment data.
Using the experimental equipment shown in FIG. 10, reverberant ultrasonic data by multiple reflection was collected. In this experimental equipment, a probe unit 2 of a phased array probe 1 and a pipe-shaped test material m0 are fixed to a surface k1 of a rectangular stainless steel plate k. As shown in FIG. 9 (A) above, the phased array probe 1 (the arc presented by the phased array probe 1) is arranged on the surface of the plate k so as to be concentric with the test material m0 at a distance from the test material m0. Fixed.
And it experimented by immersing the said board k with the test material m in flaw detection water (water).
The phased array probe 1 has an arc radius of 52.5 mm and an arc center angle of 60 degrees, and is composed of 128 vibrators arranged at pitch intervals of 0.35 mm at the center. Of these, 32 vibrators vibrate simultaneously. After a series of 32 transducer groups vibrate to emit ultrasonic waves and perform flaw detection, the next 32 transducer groups vibrate and perform flaw detection after shifting several times. The results obtained from the transducer group having the strongest reflection echo are shown in FIGS. 11 (A), 12 (A), and 13 (A).
In the graph shown in each figure, the vertical axis represents the intensity of the reflected echo, and the horizontal axis represents the transverse wave propagation distance (mm) in the test material. The shear wave speed was 3230 m / sec. Since the arrival distance of the sound wave is converted from the arrival time, the distance indicated by the horizontal axis can be considered as time.
The data shown in FIG. 11 (A) shows that the specimen m0 is a pipe having a diameter of 34.0 mm and a wall thickness of 7.0 mm, a refraction angle of 24.6 degrees at the point of incidence of ultrasonic waves on the specimen m0, and a phased array. The sensitivity of probe 1 was obtained as 48.8 dB.
The data shown in FIG. 12 (A) shows that the test object m0 is a pipe having a diameter of 34.0 mm and a wall thickness of 7.0 mm, a refraction angle of 45.0 degrees at the incident point of ultrasonic waves on the test material m0, and a phased array. The sensitivity of probe 1 was obtained as 50.4 dB.
The data shown in FIG. 13 (A) shows that the test object m0 is a pipe having a diameter of 48.6 mm and a wall thickness of 3.7 mm, the refraction angle is 36.8 degrees at the incident point of the ultrasonic wave on the test material m0, and the phased array. The sensitivity of probe 1 was obtained as 51.2 dB. 11A and 13A, the echo height of the 0.1 mm notch flaw on the inner surface and the echo height of the 0.1 mm notch flaw on the outer surface are shown in FIG. The sensitivity was 4/5 (80%) on the vertical axis.
The peaks of the waveforms shown in FIGS. 11 to 13 indicate multiple reflections between the phased array probe surface and the test material surface, that is, reflection echoes between the phased array probe surface and the test material surface. Yes.

S/N比12dBを確保するとして、多重反射エコーのピークが、縦軸の1/5(20%)以下へ減衰するまでの時間(距離)について、図11(A)に示す結果を見ると、概ね350mm(横軸)を要し、図12(A)に示す結果を見ると、概ね250mmを要し、図13(A)に示す結果を見ると概ね300mmを要している。最も大きな数値である350mm(Lとする)の場合、時間に換算すれば218μsec(Tとする)となり(音速V=3230m/secとすれば、T=2*L/Vで示される。)、これが超音波繰り返し周期の上限となる。超音波繰り返し周波数で言えば約4KHzとなる。このような範囲において、欠陥エコーが含まれていても、上記の多重反射エコーに隠れ、弁別することは困難である。
従って、この実験結果が示す通り、実際の探傷において、超音波の多重反射について、欠陥エコーを弁別することができるまで減衰するのを待って、次のパルスを出させねばならず、前述の通り、上記の残響時間の長さが探傷の迅速性を阻害していたのである。
Assuming that the S / N ratio is 12 dB, the time (distance) until the peak of the multiple reflection echo decays to 1/5 (20%) or less of the vertical axis is shown in FIG. 11A. In addition, approximately 350 mm (horizontal axis) is required, and when the result shown in FIG. 12A is viewed, approximately 250 mm is required, and when the result illustrated in FIG. 13A is viewed, approximately 300 mm is required. In the case of 350 mm (L), which is the largest value, when converted to time, it is 218 μsec (T) (if the velocity of sound V = 3230 m / sec, T = 2 * L / V). This is the upper limit of the ultrasonic repetition period. In terms of the ultrasonic repetition frequency, it is about 4 KHz. In such a range, even if a defect echo is included, it is difficult to discriminate because it is hidden by the multiple reflection echo.
Therefore, as shown in the experimental results, in actual flaw detection, it is necessary to wait until the ultrasonic echo multiple reflection is attenuated until the defect echo can be discriminated, and then the next pulse is issued. The length of the reverberation time described above hinders the speed of flaw detection.

本願発明者は、鋭意研究の末、従来のように被検材の中心と弧状のアレー中心とを一致させることが、フェーズドアレープローブ表面と被検材表面との間の多重反射による残響時間(欠陥の探傷が可能とされる程度に振幅が減衰するまでの時間)を、大きくする要因となっていることを発見した。
そこで、本願発明者は、被検材の中心に対し、弧状のアレー探触子の中心を一致させない、即ち偏心させることによって、少なくとも上記のフェーズドアレープローブ表面と被検材表面との間の多重反射(振幅)を軽減し、その残響時間を大幅に低減できることを見出した。
The inventor of the present application, after earnest research, makes the center of the test material coincide with the arc-shaped array center as in the past, and the reverberation time due to multiple reflections between the phased array probe surface and the test material surface ( It was discovered that the time until the amplitude was attenuated to such an extent that a defect could be detected is a factor that increases the time.
Therefore, the inventor of the present application does not make the center of the arc-shaped array probe coincide with the center of the test material, that is, decenters it, so that at least the multiplexing between the phased array probe surface and the test material surface is performed. It was found that reflection (amplitude) can be reduced and the reverberation time can be greatly reduced.

尚、上記の特許文献2及び3において、未探傷領域の回避を目的とし、丸棒である被検材の外周面を取り囲むフェーズドアレープローブの夫々が発する超音波の焦点を、丸棒である被検材の中心(軸)から偏心させたものが見受けられる。例えば、特許文献3において、未探傷領域の発生を防止するために、被検材の中心Oに対して焦点Fを変位させることが記載されている。   In the above Patent Documents 2 and 3, the focus of the ultrasonic wave generated by each of the phased array probes surrounding the outer peripheral surface of the test material, which is a round bar, is used for the purpose of avoiding an undetected area. Some are decentered from the center (axis) of the sample. For example, Patent Document 3 describes that the focus F is displaced with respect to the center O of the test material in order to prevent the occurrence of an undetected area.

しかし、これらの文献に示された手法の何れにおいても、物理的には、個々のフェーズドアレープローブが、被検材と同心となるように配置され、プローブの焦点のみを被検材の中心に対して偏心させたものであり、従って、上記の多重反射の問題は、上記の特許文献2及び3においても依然として、解消されていないのである。   However, in any of the methods shown in these documents, each phased array probe is physically arranged so as to be concentric with the test material, and only the focus of the probe is at the center of the test material. Therefore, the above-mentioned problem of multiple reflection is still not solved in Patent Documents 2 and 3 described above.

そこで、本願発明者は、フェーズドアレープローブ表面と被検材表面との間の多重反射を軽減する方法を提供して、上記の課題を解決した。   Therefore, the inventor of the present application has solved the above problem by providing a method for reducing multiple reflections between the surface of the phased array probe and the surface of the test material.

本願第1の発明は、円柱或いは円筒状の被検材mの外周面を取り囲むように、何れも同一半径の弧を呈する複数のフェーズドアレープローブ1…1を設けて、当該被検材mを探傷するものであり、フェーズドアレープローブ1…1の夫々は、複数の振動子10…10を弧状に配列したものである超音波探傷方法について、次の構成を採るものを提供する。
即ち、個々のフェーズドアレープローブ1…1を、被検材mの軸方向と交差する平面上(仮想面)にて、フェーズドアレープローブ1が呈する弧の中心角を等分する二等分線(仮想線)と、被検材mの中心との間に偏心距離dを持たせるように、被検材mに対しオフセットする。
ここで偏心とは、フェーズドアレープローブ1が呈する弧の中心角を等分する二等分線(仮想線)と、被検材mの中心との間の、ずれをいう。従って、偏心距離とは、当該二等分線(仮想線)に被検材mの中心から降ろした垂線(仮想線)の長さであり、また、オフセットするとは、当該二等分線上が被検材mの中心を通らないように被検材に対しフェーズドアレープローブをずらして配置するということである。
尚、上記の二等分線は、フェーズドアレープローブ1が呈する弧の両端を結ぶ線分を垂直に等分する線でもある。
The first invention of the present application is provided with a plurality of phased array probes 1... 1 each having an arc of the same radius so as to surround the outer peripheral surface of a columnar or cylindrical sample m, Each of the phased array probes 1... 1 provides an ultrasonic flaw detection method in which a plurality of transducers 10.
That is, each phased array probe 1... 1 is bisected to equally divide the central angle of the arc presented by the phased array probe 1 on a plane (virtual plane) intersecting the axial direction of the test object m. An offset is made with respect to the test material m so as to give an eccentric distance d between the virtual line) and the center of the test material m.
Here, the eccentricity refers to a deviation between a bisector (virtual line) that equally divides the central angle of the arc presented by the phased array probe 1 and the center of the material m to be examined. Accordingly, the eccentric distance is the length of a perpendicular line (imaginary line) drawn from the center of the test material m to the bisector (virtual line), and offset means that the bisector is on the bisector. This means that the phased array probe is shifted and arranged with respect to the test material so as not to pass through the center of the test material m.
In addition, said bisector is also a line | wire which equally divides the line segment which connects the both ends of the arc which the phased array probe 1 exhibits.

本願第2の発明では、上記本願第1の発明にあって、上記の偏心距離dは、被検材mの半径より小さく、フェーズドアレープローブ1の呈する弧の半径の1/20〜1/5であることを特徴とする超音波探傷方法を提供する。   In the second invention of the present application, in the first invention of the present application, the eccentric distance d is smaller than the radius of the test material m and is 1/20 to 1/5 of the radius of the arc exhibited by the phased array probe 1. An ultrasonic flaw detection method is provided.

本願第3の発明では、上記本願第1又は2の発明にあって、各フェーズドアレープローブ1…1の上記偏心距離dが、何れも同一の大きさであることを特徴とする超音波探傷方法を提供する。   In the third invention of the present application, the ultrasonic flaw detection method according to the first or second invention of the present application, wherein the eccentric distances d of the phased array probes 1... 1 are all the same. I will provide a.

本願第4の発明では、同一半径の弧を呈する複数のフェーズドアレープローブ1…1を備え、フェーズドアレープローブ1の夫々は、複数の振動子10…10が弧状に配列されたものである超音波探傷装置について次のものを提供する。
即ち、全フェーズドアレープローブ1…1から距離を等しくする中心軸(仮想線)に対し、フェーズドアレープローブ1の夫々は、当該中心軸の周方向に沿って配列され、個々のフェーズドアレープローブ1が呈する弧の中心角を等分する二等分線(仮想線)と上記中心軸との間に偏心距離dを備えるよう、各フェーズドアレープローブ1は、上記の中心軸に対しオフセットされたことを特徴とする。
In the fourth invention of the present application, a plurality of phased array probes 1... 1 exhibiting arcs of the same radius are provided, and each of the phased array probes 1 is an ultrasonic wave in which a plurality of transducers 10. The following are provided for the flaw detector.
That is, each of the phased array probes 1 is arranged along the circumferential direction of the central axis with respect to the central axis (imaginary line) equal in distance from all the phased array probes 1. Each phased array probe 1 is offset with respect to the central axis so as to have an eccentric distance d between the bisector (imaginary line) that equally divides the central angle of the arc to be presented and the central axis. Features.

本願第5の発明では、上記第4の発明にあって、内部に円柱或いは円筒状の被検材を通過させることが可能な筒状体と、通過させる被検材に対して同心となるよう筒状体を支持する支持とを備え、上記の各フェーズドアレープローブ1…1の夫々が、筒状体の内周面にて、筒状体の軸方向の異なる位置に、配設された超音波探傷装置を提供する。   According to a fifth invention of the present application, in the fourth invention, a cylindrical body capable of passing a columnar or cylindrical specimen inside and a specimen to be passed are concentric. Each of the above-described phased array probes 1... 1 is disposed on the inner peripheral surface of the cylindrical body at a different position in the axial direction of the cylindrical body. An acoustic flaw detection apparatus is provided.

本願の各発明は、フェーズドアレープローブ表面と被検材表面との間の多重反射(残響)を、物理的なフェーズドアレープローブの配置の工夫により、簡便に且つ迅速に減衰させた。即ち、プローブから被検材へ超音波を入射させる間について、各フェーズドアレープローブ(の呈する弧が属する円)の中心と被検材の中心との間に、正確にはフェーズドアレープローブが呈する弧の中心角を等分する二等分線と被検材の中心との間に(当該二等分線上に、被検材の中心が来ないよう)、偏心距離を設定することにより、残響時間を短縮させた。
本願発明において、被検材内の探傷条件(例えば、縦波探傷、横波探傷の選択、屈折角、焦点深度等)が同一であっても、各発信信号シーケンスでのフェーズドアレーの緒言データ(例えばエレメント毎の送信パルスデレー量、受信信号デレー量、プローブと被検材の超音波入射点までの超音波伝播距離等)は異なる。しかし、一般のフェーズドアレープローブ表面と被検材表面との間の曲面的平行度(プローブ表面と被検材表面の各部における物理的な距離の一定性)は低減され、多重反射は軽減された(早期に減衰するものとした)。
例えば、従来の方法(フェーズドアレープローブの配置を被検材と同心とする方法と)では、超音波繰り返し周波数は4kHz(材料変形、変心を考慮すると2kHz程度が実用的)程度が限界であるが、この発明の実施によって超音波繰り返し周波数を8kHz程度まで上げることが可能となった。
In each invention of the present application, the multiple reflection (reverberation) between the surface of the phased array probe and the surface of the test material is attenuated easily and quickly by devising the arrangement of the physical phased array probe. That is, between the center of each phased array probe (the circle to which the arc represented) and the center of the material to be measured accurately, the arc exhibited by the phased array probe during the incidence of ultrasonic waves from the probe to the material to be tested. The reverberation time is set by setting an eccentric distance between the bisector that equally divides the center angle of the sample and the center of the specimen (so that the center of the specimen does not come on the bisector) Was shortened.
In the present invention, even when the flaw detection conditions (for example, longitudinal wave flaw detection, transverse wave flaw detection selection, refraction angle, depth of focus, etc.) in the test material are the same, the phased array introductory data (for example, The transmission pulse delay amount, the reception signal delay amount, the ultrasonic propagation distance from the probe to the ultrasonic incident point of the test material, etc. for each element are different. However, the curved parallelism between the general phased array probe surface and the test material surface (constant physical distance at each part of the probe surface and the test material surface) was reduced, and the multiple reflection was reduced. (Assumed to decay early).
For example, in the conventional method (the method of arranging the phased array probe concentrically with the specimen), the ultrasonic repetition frequency is limited to about 4 kHz (about 2 kHz is practical considering material deformation and eccentricity). By implementing this invention, the ultrasonic repetition frequency can be increased to about 8 kHz.

以下、図面を参照しつつ、本願発明の好ましい実施の形態について、説明する。図1〜図8へ本願発明の一実施の形態を示す。図1は、本願発明の一実施の形態を示す略全体縦断面図である。図2は図1に示す探傷装置の要部(第1探傷部100a)の略縦断面図である。図3は図2に示す装置を正面視した状態を示す説明図である。図4は図1に示す探傷装置の要部(第2探傷部100b)の略縦断面図である。図5は図4に示す装置を正面視した状態を示す説明図である。図6(A)は図1〜図5に示す装置に用いられるフェーズドアレープローブ1のプローブユニット2の正面図であり、図6(B)はその側面図である。図7は、図6に示すプローブユニット2を取り付けるリング3の略正面図を示している。図8は図7に示すリング3の説明図である。尚、図3及び図5において、被検材mは省略してある。
説明の便宜上、図面において、適宜、Uは上方を、Sは下方を、Fは前方(被検材mの進行方向)を、Bは後方を示す。
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. 1 to 8 show an embodiment of the present invention. FIG. 1 is a schematic overall longitudinal sectional view showing an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a schematic longitudinal sectional view of a main part (first flaw detection part 100a) of the flaw detection apparatus shown in FIG. FIG. 3 is an explanatory diagram showing a state in which the apparatus shown in FIG. 2 is viewed from the front. FIG. 4 is a schematic longitudinal sectional view of a main part (second flaw detector 100b) of the flaw detector shown in FIG. FIG. 5 is an explanatory view showing a state in which the apparatus shown in FIG. 4 is viewed from the front. 6A is a front view of the probe unit 2 of the phased array probe 1 used in the apparatus shown in FIGS. 1 to 5, and FIG. 6B is a side view thereof. FIG. 7 shows a schematic front view of the ring 3 to which the probe unit 2 shown in FIG. 6 is attached. FIG. 8 is an explanatory diagram of the ring 3 shown in FIG. 3 and 5, the test material m is omitted.
For convenience of explanation, in the drawings, U is appropriately upward, S is downward, F is forward (advancing direction of the test material m), and B is backward.

図1へ示す通り、本願発明に係る超音波探傷装置は、2つの探傷部(第1探傷部100aと第2探傷部100b)を備える。
この探傷装置は、被検材mとなる鋼管(パイプ)又はビレットの、欠陥を探傷するものであり、このような鋼管の製造工程或いは加工工程において、鋼管の移動中に探傷を行う。即ち、鋼管の製造・加工装置が備える送り装置によって移送されて来る鋼管の移送経路の途中に、この探傷装置を配置して、鋼管の探傷を行う。上記の送り装置は、被検材mを軸方向に沿って移送し、被検材mに回転は与えない。即ち、被検材mを、直線的に移動させるのみで、その周方向については変位させない。図1へ示す通り、後方B側から前方Fに向けて、被検材mは、直線的に送られる。
上記の軸方向に対する移送は、探傷装置に対する相対的な移動であり、探傷装置(プローブ)を被検材mの軸方向に沿って直線的に移動させるものとしても実施可能である。
As shown in FIG. 1, the ultrasonic flaw detector according to the present invention includes two flaw detectors (a first flaw detector 100a and a second flaw detector 100b).
This flaw detector detects flaws in a steel pipe (pipe) or billet to be a test material m, and in such a steel pipe manufacturing process or processing process, flaw detection is performed during the movement of the steel pipe. That is, the flaw detection device is arranged in the middle of the transfer path of the steel pipe that is transferred by the feeding device included in the steel pipe manufacturing / processing apparatus, and the flaw detection of the steel pipe is performed. The feeding device transports the test material m along the axial direction, and does not rotate the test material m. That is, the test material m is only moved linearly, and is not displaced in the circumferential direction. As shown in FIG. 1, the test material m is linearly fed from the rear B side toward the front F.
The transfer in the axial direction is a relative movement with respect to the flaw detection apparatus, and can also be implemented as a flaw detection apparatus (probe) that moves linearly along the axial direction of the material to be examined m.

以下、上記探傷装置の各部の構成について、詳述する。
探傷部100a,100bの夫々は、複数のプローブユニット2…2(図6(A)(B))と、複数のリング3…3(図7)と、端部リング4…4(図1、図2及び図4)と、複数のブッシュ5…5と、リング支持体6と、ブッシュ保持体50(図1〜図5)と、係止具7とを備える。
この第1探傷部100a(図2及び図3)と第2探傷部100b(図4及び図5)とは、リング3の数が異なり(図4へ示す通り第2探傷部100bは第1探傷部100aよりも1枚リング3の数が多い。)、また被検材mに対するリング3…3の向きが異なるのみで、他の構成は同一である。従って、以下、第1探傷部100aを両探傷部の代表として説明する。
Hereinafter, the configuration of each part of the flaw detector will be described in detail.
Each of the flaw detection parts 100a, 100b includes a plurality of probe units 2 ... 2 (FIGS. 6A and 6B), a plurality of rings 3 ... 3 (FIG. 7), and end rings 4 ... 4 (FIG. 1, 2 and 4), a plurality of bushes 5... 5, a ring support body 6, a bush holding body 50 (FIGS. 1 to 5), and a locking tool 7.
The first flaw detection part 100a (FIGS. 2 and 3) and the second flaw detection part 100b (FIGS. 4 and 5) differ in the number of rings 3 (as shown in FIG. 4, the second flaw detection part 100b is the first flaw detection part). The number of the single ring 3 is larger than that of the part 100a.) Further, only the direction of the rings 3 ... 3 with respect to the test material m is different, and the other configurations are the same. Therefore, hereinafter, the first flaw detection unit 100a will be described as a representative of both flaw detection units.

プローブユニット2は、図6(A)(B)へ示す既成のユニットを採用することができる。図8へ示す通り、個々のプローブユニット2(以下必要に応じて単にユニット2と呼ぶ。)には、複数の振動子10…10を備えたフェーズドアレープローブ1(以下、必要に応じて単にプローブ1と呼ぶ。)が設けられている。この実施の形態において、1つのプローブ1は、128個の振動子10…10を備える。振動子10…10は、超音波の送信・受信を行うものであり、送信回路、受信回路(図示せず。)に電気的に接続されている。図1〜6において、11は、当該回路との接続を担う導線を示している。送信回路は、振動子10に超音波の発信(振動)に必要なパルス電圧を、所定のタイミングで加える回路である。また、受信回路は、振動子10が受信した超音波(反射波)を電気信号に変換して信号処理する回路である。送信回路と受信回路の何れも、従来周知の回路を採用して実施することができる。
この実施の形態において、個々のプローブ1は、1回の探傷に、128個のうち32個の振動子を振動させる。そして、振動させる振動子を数個づつシフトして、次の32個を振動させる。このシーケンスが繰り返される。
ユニット2は、図6へ示す通り、板状体(立方体)であり、先端にプローブ1が設けられている。即ち、ユニット2の先端は、弧を呈する。
As the probe unit 2, an existing unit shown in FIGS. 6A and 6B can be adopted. As shown in FIG. 8, each probe unit 2 (hereinafter simply referred to as “unit 2” if necessary) includes a phased array probe 1 having a plurality of transducers 10... 1) is provided. In this embodiment, one probe 1 includes 128 transducers 10. The transducers 10... 10 transmit and receive ultrasonic waves and are electrically connected to a transmission circuit and a reception circuit (not shown). In FIGS. 1-6, 11 has shown the conducting wire which bears the connection with the said circuit. The transmission circuit is a circuit that applies a pulse voltage necessary for transmission (vibration) of ultrasonic waves to the vibrator 10 at a predetermined timing. The receiving circuit is a circuit that converts the ultrasonic wave (reflected wave) received by the transducer 10 into an electric signal and performs signal processing. Both the transmission circuit and the reception circuit can be implemented by employing a conventionally known circuit.
In this embodiment, each probe 1 vibrates 32 vibrators out of 128 in one flaw detection. Then, the vibrator to be vibrated is shifted by several, and the next 32 are vibrated. This sequence is repeated.
As shown in FIG. 6, the unit 2 is a plate-like body (cube), and the probe 1 is provided at the tip. That is, the tip of the unit 2 exhibits an arc.

図7へ示す通り、個々のリング3は、その表裏に貫通する中空部分30を備えた円盤、即ち環状体である。
リング3…3同士は、同心となるよう重ねられ、係止具7にて止められる(図1、図2及び図4)。これにて、リング3…3は、1本の筒状体(特許請求の範囲の請求項5の筒状体に対応)を形成する。この実施の形態において、係止具7は、ナットを備えたボルトである(以下ボルト7と呼ぶ)。
As shown in FIG. 7, each ring 3 is a disk, ie, an annular body, having a hollow portion 30 penetrating the front and back.
The rings 3... 3 are overlapped so as to be concentric and are stopped by a locking tool 7 (FIGS. 1, 2, and 4). Thus, the rings 3 ... 3 form one cylindrical body (corresponding to the cylindrical body of claim 5 of the claims). In this embodiment, the locking tool 7 is a bolt provided with a nut (hereinafter referred to as a bolt 7).

リング3…3の夫々は、上記のプローブユニット2を取り付ける受容部21が形成されている。
受容部21は、リング3の端面に形成された凹部である。受容部21は、ユニット2の形状・寸法に対応する内部形状・寸法を備えた凹部であり、受容するユニット2にぴたりと沿うものである。
受容部21に上記のユニット2を嵌め込み、ネジ或いはボルトといった固定具にて、リング3にユニット2を固定する。但し、リング3に対してこのような固定具を用いて固定するのではなく、上記のボルト7によるリング3…3の固定によって、個々のリング3へユニット2を固定するものとしても実施可能である。受容部21は、リング3の中空部分30に連絡しており、取り付けられたユニット2のプローブ1は、リング3の中空部分30を臨む。
1つのリング3に一つの受容部21が形成されることによって、1つのリング3につき、1つのユニット2を設けることができる。但し、1つのリング3に複数の受容部21を設けて、複数のユニット2を設けるものとしても実施可能である。例えば、円盤状のリング3の両面に受容部21を形成するものとしても実施可能である。
この実施の形態では、次の支持体6の支持板62を除き、1つのリング3に一つのユニット2が設けられている。
Each of the rings 3 ... 3 is formed with a receiving portion 21 to which the probe unit 2 is attached.
The receiving portion 21 is a recess formed in the end surface of the ring 3. The receiving portion 21 is a concave portion having an internal shape and size corresponding to the shape and size of the unit 2, and exactly fits the receiving unit 2.
The unit 2 is fitted into the receiving portion 21 and the unit 2 is fixed to the ring 3 with a fixing tool such as a screw or a bolt. However, it is also possible to fix the unit 2 to each ring 3 by fixing the rings 3... 3 with the bolts 7 instead of fixing to the rings 3 using such a fixture. is there. The receiving part 21 communicates with the hollow part 30 of the ring 3, and the probe 1 of the unit 2 attached faces the hollow part 30 of the ring 3.
By forming one receiving portion 21 in one ring 3, one unit 2 can be provided for one ring 3. However, it is also possible to provide a plurality of receiving units 21 in one ring 3 and a plurality of units 2. For example, the present invention can be implemented by forming the receiving portions 21 on both sides of the disk-shaped ring 3.
In this embodiment, one unit 2 is provided in one ring 3 except for the support plate 62 of the next support 6.

図2(図3)へ示す通り、上記のリング支持体6は、地面或いは床面に設置固定される基台61と、基台61上面に立設された支持板62とを備える。支持板62は、上下に伸びる板状体であり、前後に貫通する貫通部63を備える。支持板62は、上記リング3…3に重ねられて、リング3…3と共に上記のボルト7によるボルト止めがなされる。ボルト止めに際して、支持板62の前後が、リング3…3に挟まれた状態に止められる。
上記において、支持板62の貫通部63がリング3…3の中空部分30と対応するように、支持板62は、リング3…3に重ねられて、ボルト止めされる。具体的には、ボルト7…7は、全リング3…3、支持板62、端部リング4,4及びブッシュ保持体50,50を貫くものであり、上記のリング3…3、支持板62、端部リング4,4及びブッシュ保持体50,50を一体に固定する。
これにて、リング3…3(及び端部リング4,4とブッシュ保持体50,50)は、その軸方向を水平にして、リング支持体6に保持される。
この実施の形態において、上記支持板62には、貫通部63の内部を臨むように、プローブ1(ユニット2)が(2つ)取り付けられている。即ち、この支持体62にも、(2つの)ユニット2の受容部21が設けられて、この受容部21にユニット2が取り付けられている。以下、支持板61の貫通部62も、中空部分30の一つとして、他のリング3と同様に説明する。
As shown in FIG. 2 (FIG. 3), the ring support 6 includes a base 61 that is installed and fixed on the ground or floor, and a support plate 62 that is erected on the upper surface of the base 61. The support plate 62 is a plate-like body that extends vertically, and includes a through portion 63 that penetrates in the front-rear direction. The support plate 62 is overlaid on the rings 3... 3 and is bolted together with the bolts 7 together with the rings 3. At the time of bolting, the front and back of the support plate 62 are stopped between the rings 3.
In the above, the support plate 62 is overlapped with the rings 3... 3 and bolted so that the through-hole 63 of the support plate 62 corresponds to the hollow portion 30 of the rings 3. Specifically, the bolts 7... 7 pass through all the rings 3... 3, the support plate 62, the end rings 4 and 4, and the bush holders 50 and 50. The end rings 4 and 4 and the bush holders 50 and 50 are fixed together.
Thus, the rings 3... 3 (and the end rings 4, 4 and the bush holding bodies 50, 50) are held by the ring support 6 with their axial directions being horizontal.
In this embodiment, two probes 1 (units 2) are attached to the support plate 62 so as to face the inside of the penetration part 63. In other words, the receiving portion 21 of the (two) units 2 is also provided on the support body 62, and the unit 2 is attached to the receiving portion 21. Hereinafter, the penetrating portion 62 of the support plate 61 will be described as one of the hollow portions 30 in the same manner as the other rings 3.

上記の通り、リング3…3の上記ボルト止めの際、重ねられたリング3…3が呈する円筒の両端面に、端部リング4,4が一緒にボルト7にて止められ、これにて、リング支持体6と両端部リング4,4との間に、上記のリング3…3の夫々が挟持される(図2、図4)。
図1及び図2(図4)へ示すように、リング3…3及び支持板62の中空部分30、端部リング4,4及び各ブッシュ5…5の中央(中空部分40,50)へ、被検材mが通される。
As described above, when the bolts of the rings 3... 3 are bolted, the end rings 4 and 4 are fastened together with the bolts 7 on both end faces of the cylinder exhibited by the stacked rings 3. Each of the rings 3... 3 is sandwiched between the ring support 6 and the rings 4 and 4 at both ends (FIGS. 2 and 4).
As shown in FIGS. 1 and 2 (FIG. 4), the ring 3... 3 and the hollow portion 30 of the support plate 62, the end rings 4 and 4 and the center of each bush 5... 5 (hollow portions 40 and 50) A test material m is passed.

リング3…3の内周面(中空部分30)の断面形状については、その全体が正円となるものではないが、後述の通り、内周面上において、プローブ1の呈する弧以外の部分に(ユニット2が設けられた部分以外に)正円となる部分(図8)を有する。当該正円となる部分が被検材mと同心となるように、リング 3…3を配置する。支持板62についても同様である。   As for the cross-sectional shape of the inner peripheral surface (hollow portion 30) of the rings 3 ... 3, the entire shape is not a perfect circle. However, as will be described later, on the inner peripheral surface, on the portion other than the arc exhibited by the probe 1 It has a part (FIG. 8) which becomes a perfect circle (in addition to the part where the unit 2 is provided). The rings 3... 3 are arranged so that the portion that becomes a perfect circle is concentric with the test material m. The same applies to the support plate 62.

具体的には、リング3…3は、この実施の形態において、全て同じ外径を備える円盤であり、その厚み(表裏の端面間の幅)も全て同一である(支持板62については、ユニット2を2つ取り付けられるものであるため、その分リング3…3よりも厚みが大きい)。
リング3の内周面からプローブ1がリング3の中空部分30を臨むように、尚且つ、プローブ1が呈する弧が被検材mの軸方向と直交する平面(仮想面)に属するように、ユニット2は、リング3に取り付けられる。
上記の受容部21は、このようなユニット2の外径に合わせて、リング3の端面に設けられた凹部である。
Specifically, in this embodiment, the rings 3... 3 are all disks having the same outer diameter, and the thicknesses (the widths between the front and back end faces) are all the same (for the support plate 62, the unit Since two 2 can be attached, the thickness is larger than that of the rings 3.
The probe 1 faces the hollow portion 30 of the ring 3 from the inner peripheral surface of the ring 3, and the arc that the probe 1 exhibits belongs to a plane (virtual surface) orthogonal to the axial direction of the test object m, The unit 2 is attached to the ring 3.
Said receiving part 21 is a recessed part provided in the end surface of the ring 3 according to the outer diameter of such a unit 2. FIG.

また、ブッシュ5…5の夫々は、環状部材であり、端部リング4…4を挟んで、リング3…3の反対側に配置され、上記ブッシュ保持体50,50に保持される。この実施の形態において、ブッシュ5…5は、リング3…3の前方と後方に夫々3枚づつ合計6枚配設されている。但し、ブッシュ5の枚数は、このような数に限定するものではなく、変更可能である。
上記の端部リング4の中空部分40及びブッシュ5の内周面(中空部分50)の断面形状は、円である。上記において、当該中空部分40,50が、被検材mと同心になるように、端部リング4,4及びブッシュ5,5が、配置され、固定される。即ち、端部リング4,4は、中空部分40を被検材mと同心とするように、リング3,3に対して取り付けられ、ブッシュ保持体50,50は、中空部分50とリング3…3とが同心となるように、ブッシュ5…5を保持する。
各ブッシュ5…5は、送られてくる被検材mを案内(ガイド)する。この実施の形態では、少なくとも一部のブッシュ5a,5aの内径(中空部分50の径)を、他のブッシュ5…5の内径(中空部分50の径)より小さなものとして、ブッシュ5…5の内周面が被検材mの外周に対応する(沿う)ものとし、当該ブッシュ5,5aにより、(移送中撓んで芯ぶれを起そうとする)被検材mに対して芯出し(軸の位置決め)を行う。
特許請求の範囲の請求項5に記載の支持部材は、上記の、リング3…3と、端部リング4…4と、ブッシュ5…5と、ブッシュ保持体50…50と、リング支持体6と、係止具7…7とにて構成されている。
Each of the bushes 5 ... 5 is an annular member, and is disposed on the opposite side of the rings 3 ... 3 with the end rings 4 ... 4 interposed therebetween, and is held by the bush holders 50, 50. In this embodiment, a total of six bushes 5... 5 are disposed in front of and behind the rings 3. However, the number of the bushes 5 is not limited to such a number and can be changed.
The cross-sectional shape of the hollow portion 40 of the end ring 4 and the inner peripheral surface (hollow portion 50) of the bush 5 is a circle. In the above, the end rings 4, 4 and the bushes 5, 5 are arranged and fixed so that the hollow portions 40, 50 are concentric with the specimen m. That is, the end rings 4 and 4 are attached to the rings 3 and 3 so that the hollow portion 40 is concentric with the test material m, and the bush holding bodies 50 and 50 are connected to the hollow portion 50 and the ring 3. The bushes 5... 5 are held so that 3 is concentric.
Each bush 5... 5 guides the material m to be sent. In this embodiment, the inner diameters of at least some of the bushes 5a, 5a (the diameter of the hollow portion 50) are smaller than the inner diameters of the other bushes 5 ... 5 (the diameter of the hollow portion 50). The inner peripheral surface corresponds to (belongs to) the outer periphery of the test material m, and the bushes 5 and 5a are used to center the test material m (which tends to be bent during transfer and cause runout) Positioning).
The support member according to claim 5 includes the rings 3... 3, end rings 4... 4, bushes 5... 5, bush holders 50. And the locking tools 7.

図7へ点線で示す通り、上記の各リング3の内部には、探傷水の給水部32,32が設けられている。この給水部32,32は、外部から中空部分30へ探傷水を導入するための通路である。図7において、図面の煩雑を避けるため、前記の位置決め部31は省略している。また、図1〜図5及び図8において、上記の給水部32,32については省略して描いてある)。給水部32,32によって、探傷中、探傷水が供給される。中空部分30内へ供給された探傷水は、上記のブッシュ5…5と被検材m間のクリアランスから外部に排出される。但し、給水部32を各リング3に設けるのではなく、一部のリング3や支持体62にのみ設けるものとしても実施可能である。また、排水についても、上記のブッシュ5…5と被検材m間のクリアランスに専ら頼るのではなく、一部のリング3又は支持体62へ別途の排水通路を形成して実施することも可能である。   As shown by dotted lines in FIG. 7, flaw detection water supply sections 32 are provided inside each ring 3. The water supply portions 32 and 32 are passages for introducing flaw detection water from the outside to the hollow portion 30. In FIG. 7, the positioning part 31 is omitted in order to avoid complication of the drawing. Moreover, in FIGS. 1-5 and FIG. 8, about the said water supply parts 32 and 32, it has abbreviate | omitted and drawn). The water supply units 32 and 32 supply flaw detection water during flaw detection. The flaw detection water supplied into the hollow portion 30 is discharged outside through the clearance between the bushes 5... 5 and the test material m. However, the water supply unit 32 may be provided not only on each ring 3 but only on a part of the rings 3 and the support 62. Further, the drainage can be carried out by forming a separate drainage passage in a part of the ring 3 or the support body 62 instead of relying exclusively on the clearance between the bushes 5... 5 and the test material m. It is.

ユニット2…2の配置について詳しく説明する。
先ず第1に、全てのユニット2…2間において、次の関係を有する。即ち、被検材mの軸方向において隣接するユニット2,2同士にあって、弧を呈する互いのプローブ1を、被検材mの中心線(仮想線)と直交する平面(仮想平面)において、被検材mの中心に対し、順次、同一の向き(例えば前方側から正面視した状態において時計回り)に所定角度ずらした状態とする(これは、実際にこのように配置してから次の第2の状態に配置し直すという意味ではなく、最終的にプローブ1…1間の配置はこのような基準を満たすものであるという意味である)。即ち、図8へ示す通り、被検材mの軸方向と交差する(仮想)平面において、個々のプローブ1は、被検材mの中心Mを中心として、夫々互いの向きを異にする(図8において被検材mは省略して描いている)。この実施の形態において、プローブ1の呈する弧の中心角は60度である。そして、隣接するプローブ1間において、被検材mの中心Mを中心とし、25.7度のずれ(ずれ角)を有する。
上記のずれ角については、被検材mの軸方向と交差する(仮想)平面において、個々のプローブ1が呈する弧の中心角φを二等分(角度θ)する二等分線同士がなす角度と考えればよい。
このように、所定角度(この実施の形態において25.7度)ずれた状態となるよう、プローブ1…1の向きを決める。
このように各プローブ1…1を所定角度づつずらすことによって、被検材の外周を360度カバーする。
The arrangement of the units 2 ... 2 will be described in detail.
First of all, all the units 2 ... 2 have the following relationship. That is, in the unit (2, 2) adjacent to each other in the axial direction of the test material m, the probes 1 exhibiting an arc are placed on a plane (virtual plane) orthogonal to the center line (virtual line) of the test material m. The center of the test material m is sequentially shifted by a predetermined angle in the same direction (for example, clockwise in a front view from the front side). This means that the arrangement between the probes 1... 1 finally satisfies such a standard). That is, as shown in FIG. 8, in the (virtual) plane that intersects the axial direction of the test material m, the individual probes 1 have different directions from each other around the center M of the test material m ( In FIG. 8, the test material m is not shown. In this embodiment, the central angle of the arc presented by the probe 1 is 60 degrees. And between the adjacent probes 1, it has a shift | offset | difference (deviation angle) of 25.7 degrees centering on the center M of the to-be-tested material m.
Regarding the above-described deviation angle, bisectors that bisect (angle θ) the central angle φ of the arc presented by each probe 1 are formed on a (virtual) plane that intersects the axial direction of the specimen m. Think of it as an angle.
In this way, the orientations of the probes 1... 1 are determined so as to be shifted by a predetermined angle (25.7 degrees in this embodiment).
In this way, by shifting the probes 1... 1 by a predetermined angle, the outer periphery of the test material is covered 360 degrees.

第2に、このように向きを異にするプローブ1…1の夫々について、被検材mの軸方向と直交する上記の(仮想)平面において、個々のプローブ1…1の、上記二等分線を、被検材mの中心に対して、所定間隔(偏心距離d)明けた状態に配置する。   Secondly, for each of the probes 1... 1 having different directions as described above, in the (virtual) plane orthogonal to the axial direction of the test object m, each of the probes 1. The line is arranged in a state with a predetermined interval (eccentric distance d) with respect to the center of the test material m.

各プローブ1…1は、、上記の第1の向き、及び、第2の配置を採るよう、ユニット2…2の夫々が探傷部に固定される。
各プローブ1について、上記の向き・配置を満たすものであれば、特に上記のリング3…3を採用することに限定するものではないが、上記構成を採るリング3…3へ、ユニット2…2を取り付けることによって、容易に上記の向き及び配置を実現することができる。
Each of the probes 1... 1 is fixed to the flaw detection unit so that the probes 1... 1 take the first orientation and the second arrangement.
As long as each probe 1 satisfies the above orientation and arrangement, it is not particularly limited to adopting the above rings 3... 3, but to the rings 3. By attaching, the above orientation and arrangement can be easily realized.

以下、上記のプローブ1…1の設置の方法について、具体的に説明する。
この実施の形態において、リング3…3の受容部21…21を、リング3の端面において、受容するユニット2が次の配置(及び向き)を採る位置・向きに設けておく。
プローブ1の(呈する)上記弧が被検材mの中心と同心に配置されているとした場合、当該弧の中心角を二等する二等分線(仮想線)は、被検材mの中心を通る(以下被検材mの中心を通る上記二等分線を中心包含線t2と呼ぶ。)。プローブ1が呈する上記の弧の二等分線が、この中心包含線t2に対し平行であって、中心包含線t2に対し所定間隔(偏心距離d)離れた平行線(仮想線/以下必要に応じてオフセット線t1と呼ぶ。)となるよう、ユニット2を配置する。ユニット2を嵌めれば、上記の配置を採るように、受容部21を、リング3に形成すればよい。
受容部21の位置は、偏心距離dを採らないプローブ1の位置(プローブ1が被検材mの中心Mと同心の配置)を基準として、即ち、特許請求の範囲の請求項4に記載の全フェーズドアレープローブから距離を等しくする中心軸を基準として、当該位置にあるプローブ1の呈する弧の端p1,p2を結ぶ直線(以下弧端線t3と呼ぶ。)に沿って(当該弧端線t3の延長線上にて)、プローブ1を一方の弧端側へ(偏心距離d分)寄せた位置に来るようユニット2を配置するものであるのが好ましい(偏心距離d設定後も両弧端が上記弧端線t3の延長線上に位置するようにユニット2配置するのが好ましい)。但し、中心包含線t2上に被検材mの中心Mを位置させないものであればよく、このような配置に限定するものではない。即ち、二等分線が偏心距離を有するものであれはよく、弧端線上にプローブの弧端が位置するように移動するものに限定しない。
この探傷装置において、被検材の中心M(中心軸)と、上記の全フェーズドアレープローブから距離を等しくする中心軸とは、一致する。
Hereinafter, a method for installing the probes 1... 1 will be specifically described.
In this embodiment, the receiving portions 21... 21 of the rings 3... 3 are provided on the end face of the ring 3 at positions and orientations where the receiving unit 2 takes the following arrangement (and orientation).
When the arc of the probe 1 (presented) is arranged concentrically with the center of the specimen m, the bisector (virtual line) that bisects the central angle of the arc is that of the specimen m. It passes through the center (hereinafter, the bisector passing through the center of the specimen m is referred to as a center inclusion line t2). The bisector of the arc presented by the probe 1 is parallel to the center inclusion line t2, and is parallel to the center inclusion line t2 by a predetermined distance (eccentric distance d) (virtual line / necessary below) Accordingly, the unit 2 is arranged so as to be referred to as an offset line t1. If the unit 2 is fitted, the receiving portion 21 may be formed in the ring 3 so as to adopt the above arrangement.
The position of the receiving portion 21 is based on the position of the probe 1 that does not take the eccentric distance d (the probe 1 is concentric with the center M of the specimen m), that is, according to claim 4 of the claims. Along a straight line (hereinafter referred to as an arc end line t3) connecting arc ends p1 and p2 of the probe 1 at the position with reference to a central axis equal in distance from all the phased array probes (the arc end line) It is preferable that the unit 2 is arranged so that the probe 1 is positioned closer to one arc end (by an eccentric distance d) (on the extension line of t3) (even after the eccentric distance d is set). It is preferable that the unit 2 is arranged so that is located on the extension line of the arc end line t3). However, the arrangement is not limited to such an arrangement as long as the center M of the specimen m is not positioned on the center inclusion line t2. In other words, any bisector having an eccentric distance is acceptable, and the bisector is not limited to one that moves so that the arc end of the probe is positioned on the arc end line.
In this flaw detection apparatus, the center M (center axis) of the test object coincides with the center axis that equalizes the distance from all the phased array probes.

上記の偏心距離dの大きさは、プローブ1が呈する弧の半径の1/20〜1/5とする。この実施の形態において、プローブ1が呈する弧の半径を52.5mmとし、これに対して、5mmの偏心距離を設定している。
被検材mの先端(前面)を正面視した状態において、上記の中心包含線t2を上下に伸びる(鉛直方向に伸びる)ものとした場合、偏心距離dは、中心包含線t2の右側に設定しても、左側に設定しても、何れでもよい。
上記の通り、一つの探傷装置において、検査の対象とする被検材の寸法は、このような一つの寸法に限らない。即ち、探傷装置に通すことが可能であり、必要な水距離(プローブ1表面と被検材m表面間の距離、即ち介される探傷水の幅)を確保できるものであれば、一つの探傷装置の検査対象となる被検材mの寸法は一義的なものではない。
この実施の形態において、被検材mは、直径(外径)50mmの寸法のものを例示する。尚、偏心距離dを設定することによって、プローブ1の各位置(各振動子10…10)において、水距離は一定とならない(これが多重反射の早期減衰を実現する)。
The magnitude of the eccentric distance d is set to 1/20 to 1/5 of the radius of the arc presented by the probe 1. In this embodiment, the radius of the arc presented by the probe 1 is 52.5 mm, and an eccentric distance of 5 mm is set.
When the center inclusion line t2 extends vertically (extends in the vertical direction) when the front end (front surface) of the test object m is viewed from the front, the eccentric distance d is set to the right of the center inclusion line t2. Alternatively, it may be set to the left side.
As described above, in one flaw detection apparatus, the size of the material to be inspected is not limited to such one size. That is, one flaw detection device can be used as long as it can pass through the flaw detection device and can secure a necessary water distance (distance between the surface of the probe 1 and the surface of the object m, that is, the width of flaw detection water interposed). The dimensions of the material m to be inspected are not unambiguous.
In this embodiment, the sample m is exemplified as having a diameter (outer diameter) of 50 mm. By setting the eccentric distance d, the water distance is not constant at each position (each transducer 10... 10) of the probe 1 (this realizes early attenuation of multiple reflection).

リング3の内周面全体(プローブ1を除く。)の断面形状を正円とすると、上記の通りプローブ1が偏心距離dを有するように配置されることによって、被検材mの軸方向と直交する平面上において、プローブ1(の弧端)とリング3内周面の他の部分との間に段差が生じる。このような段差は、超音波の反射源となるので、好ましくない。
このため、プローブ1とリング3の内周面の他の部位との間に段差ができないように、リング3の内周面の各部を曲線的に形成する。
例えば、リング3の内周面の断面形状は、図8に示す形状を採るのが好ましい(図8において被検材mは省略してある)。この場合、プローブ1の呈する弧の中心は、前述のオフセット線t1上にある。ここで、説明の便宜上、プローブ1の弧端p1,p2を結ぶ弧端線t3と平行であり且つ被検材のmの中心Mを通る線t4(以下平行中心線t4と呼ぶ。)が、被検材mの中心Mを中心とする円(上記の通り、この実施の形態では、必要な水距離を確保するために、直径50mmの被検材に対して半径52.5mmの円)と交差する点を、交点p3,p4とする。
Assuming that the cross-sectional shape of the entire inner peripheral surface of the ring 3 (excluding the probe 1) is a perfect circle, the probe 1 is arranged so as to have an eccentric distance d as described above. On the orthogonal plane, a step is generated between the probe 1 (the arc end thereof) and the other part of the inner peripheral surface of the ring 3. Such a step is not preferable because it becomes a reflection source of ultrasonic waves.
For this reason, each part of the inner peripheral surface of the ring 3 is formed in a curve so that there is no step between the probe 1 and the other part of the inner peripheral surface of the ring 3.
For example, the cross-sectional shape of the inner peripheral surface of the ring 3 is preferably the shape shown in FIG. 8 (the test material m is omitted in FIG. 8). In this case, the center of the arc presented by the probe 1 is on the aforementioned offset line t1. Here, for convenience of explanation, a line t4 (hereinafter referred to as a parallel center line t4) parallel to the arc end line t3 connecting the arc ends p1 and p2 of the probe 1 and passing through the center M of the m of the test material. A circle centered on the center M of the test material m (as described above, in this embodiment, in order to ensure the necessary water distance, a circle with a radius of 52.5 mm for a test material having a diameter of 50 mm) and The intersecting points are defined as intersection points p3 and p4.

平行中心線t4を挟んでプローブ1と反対側について、リング3の内周は、上記の円(中心M)と一致するよう形成する。即ち、平行中心線t4を挟んでプローブ1と反対側についてリング3の内周面は、交点3,p4を弧端とする弧であり、正円の一部となるように形成する(前述の正円となる部分である)。
リング3の内周面の上記弧と反対側において、弧端p1と交点p4との間、及び弧端p2と交点p3との間は、段差のない凹曲線(被検材m側を凹とする)とするのである。この凹曲線については、段差なく湾曲するものであれば、どのような曲線であっても実施可能である。また、正円となる範囲も上記に限定するものではない。また、正円となる部分を持たないものであってもよい。
また、上記の偏心距離dの設定によって、隣接するリング3,3間にて内周面に段差ができるが、プローブ1の厚みx方向(図6(B))については、超音波は広がらない(実際には若干広がるが、当該被検材mの軸方向の段差が問題となる程広がらない) ので無視することができる。
On the opposite side of the probe 1 across the parallel center line t4, the inner periphery of the ring 3 is formed so as to coincide with the circle (center M). In other words, the inner peripheral surface of the ring 3 on the side opposite to the probe 1 across the parallel center line t4 is an arc with the intersections 3 and p4 as arc ends and is formed to be a part of a perfect circle (described above) It is the part that becomes a perfect circle).
On the opposite side of the inner circumferential surface of the ring 3 from the arc, there is a concave curve with no step between the arc end p1 and the intersection point p4 and between the arc end p2 and the intersection point p3. ). Any concave curve can be implemented as long as it is curved without a step. Moreover, the range which becomes a perfect circle is not limited to the above. Moreover, it may not have a part that becomes a perfect circle.
Further, although the eccentric distance d is set as described above, a step is formed on the inner peripheral surface between the adjacent rings 3 and 3, but the ultrasonic wave does not spread in the thickness x direction of the probe 1 (FIG. 6B). (Although it actually spreads slightly, it does not widen to the extent that the level difference in the axial direction of the specimen m becomes a problem), so it can be ignored.

この実施の形態において、ユニット2は既製品を用いた。当該既製品において、プローブ1の呈する弧の中心角φは、前記の通り60度に限定するものではない。しかし、上記の弧端線t3と平行中心線t4とを一致させないようにする必要があり、このような点から、上記の中心角φは、180度より小さいものである必要がある。
より現実的には、上記の弧端線t3は、被検材mに交わらないのが好ましい。通常、このような対象とする被検材mの直径と水距離(プローブと被検材表面との間の距離)とを考慮すると、上記の中心角φは120度以下とするのが好ましい。
使用可能なプローブ1の振動子10の大きさや数を考慮すると、上記の中心角は、8度以上100度以下とするのが好ましい。
但し、プローブ1の中心角φは、上記の数値範囲に限定するものではない。
In this embodiment, the unit 2 is a ready-made product. In the ready-made product, the center angle φ of the arc exhibited by the probe 1 is not limited to 60 degrees as described above. However, it is necessary that the arc end line t3 and the parallel center line t4 do not coincide with each other. From such a point, the center angle φ needs to be smaller than 180 degrees.
More realistically, it is preferable that the arc end line t3 does not intersect the specimen m. In general, the center angle φ is preferably 120 degrees or less in consideration of the diameter and water distance (distance between the probe and the surface of the test material) of the target test material m.
In consideration of the size and number of transducers 10 of the probe 1 that can be used, the central angle is preferably 8 degrees or more and 100 degrees or less.
However, the center angle φ of the probe 1 is not limited to the above numerical range.

この実施の形態において、図3及び図5へ示す通り、少なくとも、ボルト止めされたリング3…3の夫々は、周方向Rについて、隣接するリング3に対し所定の角度ずらした状態に固定される。即ち、個々のリング3に設けられたボルト7を通す孔は、上記の所定角度ずれた位置に夫々設けられて、ボルト7を通して固定することにより、隣接するフェズドアレープローブ1,1間において、上記のずれを持たせることができる。この実施の形態において、上記のずれ角は、前記の通り、25.7度とする。但し、このような数値は変更可能である。
また、図2及び図4へ示す通り、リング3…3夫々の端面に、位置決め部31として凹凸を設け、隣り合うリング3,3同士の当該位置決め部31を嵌め合うことによって、上記のずれを正確に決めることができる。この実施の形態では、上記凹凸の凸部として、ピンをリングへ装着している。
このようにリング3…3をずらして取り付けることにより、個々のリングに設けられたプローブ1(ユニット2)同士が所定の角度をずらされた状態に配置される。
尚、図1、図2及び図4において、図面の煩雑を避けるため、このようなリング3…3間の周方向についての位置関係を考慮して描いていない(支持板62に支持されているユニット2の一部を除き、全て同一の方向に配置されているように描かれているが、実際には、リング3…3において、夫々上記の角度ずらして配置しており、これらの図に描くものと、この点について異なっている。
In this embodiment, as shown in FIGS. 3 and 5, at least each of the bolted rings 3... 3 is fixed in a state shifted by a predetermined angle with respect to the adjacent ring 3 in the circumferential direction R. . That is, the holes through which the bolts 7 provided in the individual rings 3 are respectively provided at the positions shifted from the predetermined angle and fixed through the bolts 7, so that the adjacent fed-array probes 1, 1 are The above deviation can be provided. In this embodiment, the deviation angle is 25.7 degrees as described above. However, such numerical values can be changed.
Moreover, as shown to FIG.2 and FIG.4, unevenness | corrugation is provided as the positioning part 31 in the end surface of each ring 3 ... 3, and the said shift | offset | difference is fitted by fitting the said positioning part 31 of adjacent rings 3 and 3 mutually. Can be determined accurately. In this embodiment, a pin is attached to the ring as the uneven convex portion.
By attaching the rings 3... 3 in a shifted manner in this way, the probes 1 (units 2) provided on the individual rings are arranged in a state where the predetermined angles are shifted.
1, 2, and 4, in order to avoid the complexity of the drawings, such a positional relationship in the circumferential direction between the rings 3... 3 is not drawn (supported by the support plate 62. The unit 2 is drawn except that it is arranged in the same direction except for a part of the unit 2, but in reality, the rings 3 ... 3 are arranged with the above-mentioned angles shifted, This is different from what I draw.

リング3…3夫々について、その中空部分30の形状は、同じで、中空部分30に対するにプローブ1の取り付け位置は同じであるが、夫々、上記の被検材Mの周方向に向きの相違から、ボルト7…7を通す穴の位置が異なる(上記の所定角度ずれている)。   For each of the rings 3... 3, the shape of the hollow portion 30 is the same, and the mounting position of the probe 1 is the same with respect to the hollow portion 30, but each has a difference in orientation in the circumferential direction of the test material M. , The positions of the holes through which the bolts 7...

前述の通り、第1の基準によって、被検材mを中心として被検材mの軸方向と交差する平面においてユニット2…2の夫々は向きが異なるが、(第2の基準を無視し偏心距離を設定しないとすれば)、同平面において、隣接するプローブ1,1間で弧の一部が重複するように配置される(実際には偏心距離が設定されるので、装置の前方F又は後方Bから各プローブ1…1を透視した場合、上記のプローブ1…1の弧同士は、交差することはあっても、重複しない。図3及び図5は、図面の煩雑を避けるため、偏心距離を無視して各ユニット2…2を描いてある)。   As described above, the units 2... 2 have different directions on the plane that intersects the axial direction of the test material m around the test material m according to the first standard. If the distance is not set), it is arranged in the same plane so that a part of the arc overlaps between the adjacent probes 1 and 1 (actually the eccentric distance is set, so the front F or When the probes 1... 1 are seen through from the rear B, the arcs of the probes 1... 1 do not overlap each other even if they intersect each other. Each unit 2 ... 2 is drawn ignoring the distance).

プローブ1の動作について説明する。
通常、1つのプローブ1を構成する振動子の全てを、同時に振動させるのではなく、一部の振動子を順次所定個数シフトさせて振動させる。この実施の形態において、128個の振動子中、同時に振動させるのは、32個である。一連の32個の振動子が振動して超音波を発し探傷を行った後、数個シフトして32個の振動子が振動し探傷を行う。これを繰り返す。
上記のシフト数を5個として、具体的に説明する。
一つのユニット2(プローブ1)の弧状に配列された振動子10…10を、端から1番、2番、…、127番、128番と名前付けすると、最初の送信電圧を受けて1〜32番の振動子10…10が超音波を発し、次に5個シフトした6〜37番の振動子10…10が超音波を発し、そして更に5個シフトした11〜42番の振動子10…10が超音波を発生する。このようなシフトを順次行って、被検材mの各部を探傷する。
偏心距離の設定により、超音波の残響時間を短縮すること(エコーの減衰を早めること)によって、上記のシフトによる次の振動子群の動作開始を早めることができるのである。
即ち、32個の振動子の振動から、次の32個の振動子の振動までの時間が、本願発明の実施によって短縮されたのである。
The operation of the probe 1 will be described.
Usually, not all the vibrators constituting one probe 1 are vibrated at the same time, but some vibrators are sequentially shifted by a predetermined number to vibrate. In this embodiment, 32 of the 128 vibrators are vibrated simultaneously. After a series of 32 vibrators vibrate to emit ultrasonic waves and perform flaw detection, a few shifts occur and 32 vibrators vibrate to perform flaw detection. Repeat this.
A specific description will be given assuming that the number of shifts is five.
When the vibrators 10... 10 arranged in an arc shape of one unit 2 (probe 1) are named as No. 1, No. 2, No. 127, No. 128 from the end, the first transmission voltage is received and 1 to 2. The 32nd vibrator 10... 10 emits an ultrasonic wave, then the 5th to 6th to 37th vibrators 10... 10 emit the ultrasonic wave, and the 5th shifted 11th to 42th vibrators 10. ... 10 generates ultrasonic waves. Such a shift is sequentially performed to detect each part of the specimen m.
By setting the eccentric distance, shortening the reverberation time of the ultrasonic wave (accelerating the attenuation of the echo) can accelerate the start of the operation of the next transducer group due to the shift described above.
That is, the time from the vibration of 32 vibrators to the vibration of the next 32 vibrators has been shortened by implementing the present invention.

プローブ1…1(ユニット2…2)の夫々について、被検材mの軸方向に沿い後方B側から前方F側に向けて、第1、第2、…、第15と名前付けすると、送られてくる被検材mに対し、第1のプローブ1aから、第2のプローブ1b、第3のプローブ1c…、というように、軸方向について順番に探傷を行う(この実施の形態において、第1〜15の15個のプローブ1…1(ユニット2…2)が用いられ、そのうち第1〜7プローブは第1探傷部100aに備えられ、第8〜15プローブは第2探傷部100bに備えられている)。
ユニット2…2間において、第1プローブから順に(後ろから前に)探傷を行う。但し、上記において、振動子のシフトにより第1プローブ1の128番の振動子の動作が済んでから、第2プローブの1〜32番の振動子を動作させるのではなく、第1プローブが動作開始後、第1プローブの最後の振動子が動作する前に第2プローブの振動子を動作させる。他のプローブについても、先行するプローブの動作開始後、当該先行するプローブの最後の振動子が動作する前に、後続のプローブの振動子を動作させる。
但し、プローブ1…1(ユニット2…2)の各々については、軸方向に相当距離離れており、同時に探傷が可能である。従って、上記と異なり、例えば、第1プローブの1〜32番の振動子が超音波を発信するタイミングで、他のプローブの1〜32番の振動子は同時に超音波を発信することが可能である。このとき、第1プローブの発信振動子番号組と、他のプローブの発信振動子番号組とは必ずしも同一である必要は無い。
For each of the probes 1... 1 (units 2... 2), the first, second,..., 15 are named from the rear B side toward the front F side along the axial direction of the test object m. The detected material m is subjected to flaw detection in order in the axial direction from the first probe 1a to the second probe 1b, the third probe 1c,... 1 to 15 probes 1... 1 (unit 2... 2) are used, of which the first to seventh probes are provided in the first flaw detection unit 100a, and the eighth to fifteen probes are provided in the second flaw detection unit 100b. Is).
The flaw detection is performed in order from the first probe (from back to front) between the units 2. However, in the above, after the operation of the 128th transducer of the first probe 1 is completed due to the shift of the transducer, the first probe operates instead of operating the 1-32 transducers of the second probe. After starting, the transducer of the second probe is operated before the last transducer of the first probe is operated. For other probes, the transducer of the subsequent probe is operated after the operation of the preceding probe is started and before the last transducer of the preceding probe is operated.
However, the probes 1... 1 (units 2... 2) are separated from each other by a considerable distance in the axial direction, and flaw detection is possible at the same time. Therefore, unlike the above, for example, at the timing when the transducers 1 to 32 of the first probe transmit ultrasonic waves, the transducers 1 to 32 of the other probes can simultaneously transmit ultrasonic waves. is there. At this time, the transmission vibrator number group of the first probe and the transmission vibrator number group of the other probes are not necessarily the same.

この実施の形態において、第1探傷部100aは、7つのユニット2…2を備え、第2探傷部100bは、8つのユニット2…2を備えるものとした。但し、このようなユニット2の数、即ちプローブ1…1の数は、変更可能である。これに伴い、リング3…3の個数も変更可能である。リング3,3間でずらす角度(ずれ角)についても、上記に限定するものでく、25.7度に以外の角度に、変更可能である。例えば、ずれ角は、プローブ1の呈する弧の中心角やユニットの数の変更に伴って変更することができる。上記において、プローブ1には、弧の中心角が60度の既成品を用いたが、プローブの中心角は、このような角度に限定するものではない。
また、上記において、1つのプローブ1が備える振動子10…10の数は、128個としたが、このような数に限定するものではなく、他の個数にて実施することが可能である。また同時に振動する振動子10…10の数も上記の32個に限定するものではなく、変更可能である。また、振動後、次の振動へシフトする振動子の数も、上記5個に限定するものではなく、変更可能である。
In this embodiment, the first flaw detection unit 100a includes seven units 2... 2 and the second flaw detection unit 100b includes eight units 2. However, the number of such units 2, that is, the number of probes 1 ... 1 can be changed. Accordingly, the number of rings 3... 3 can be changed. The angle shifted between the rings 3 and 3 (shift angle) is not limited to the above, and can be changed to an angle other than 25.7 degrees. For example, the deviation angle can be changed in accordance with the change in the center angle of the arc presented by the probe 1 or the number of units. In the above description, a prefabricated product having an arc center angle of 60 degrees is used as the probe 1, but the center angle of the probe is not limited to such an angle.
In the above description, the number of transducers 10... 10 included in one probe 1 is 128. However, the number is not limited to this number, and other numbers can be used. Further, the number of vibrators 10... 10 that vibrate simultaneously is not limited to the above-mentioned 32, and can be changed. Further, the number of vibrators that shift to the next vibration after the vibration is not limited to the above five but can be changed.

この実施の形態では、第1探傷部100aと第2探傷部100bの2つの探傷部が分担して、被検材mの外周360度をカバーしている。但し、探傷部の数も、2機に限定するものではなく、1つでも、3つ以上でも実施可能である。
上記において、探傷装置のプローブ1…1は、被検材の外周360度全てをカバーする。しかし、このようなものではなく、例えば当該探傷装置のプローブ1…1は、360度より小さい範囲をカバーするものとし、カバーしない範囲については、別途の手段で探傷を行うものとしても実施可能である。
また、上記の360度を超えて(重複して)、プローブ1…1が配置されるものであっても実施可能である。
また、上記の実施の形態において、探傷水は、外部から供給し排出するものとした(流水)としたが、浸水式、即ち装置を水中に浸水させるものとしても実施可能である。
上記の実施の形態において、鋼管(被検材m)の製造・加工装置が備える送り装置によって移送されて来る鋼管(被検材m)の移送経路の途中に、当該探傷装置を配置して、鋼管(被検材m)の探傷を行うものとした。この他、当該探傷装置が送り装置を備えるものとしても実施可能である。その場合、製造・加工の工程とは別に、鋼管(被検材m)の探傷を行うことができる。
In this embodiment, the two flaw detection parts, ie, the first flaw detection part 100a and the second flaw detection part 100b, share the outer periphery 360 degrees of the test object m. However, the number of flaw detection parts is not limited to two, and can be one or three or more.
In the above description, the probes 1... 1 of the flaw detector cover all 360 degrees of the outer periphery of the test material. However, this is not the case. For example, the probes 1... 1 of the flaw detection apparatus can cover a range smaller than 360 degrees, and the range not covered can be implemented by performing flaw detection by a separate means. is there.
Further, the present invention can be carried out even if the probes 1... 1 are arranged beyond the above 360 degrees (overlapping).
In the above embodiment, the flaw detection water is supplied from the outside and discharged (running water). However, it can also be carried out by a submersion type, that is, the apparatus is submerged in water.
In said embodiment, the said flaw detection apparatus is arrange | positioned in the middle of the transfer path | route of the steel pipe (test material m) transferred by the feeder with which the manufacturing and processing apparatus of a steel pipe (test material m) is equipped, The steel pipe (test material m) was to be flaw-detected. In addition, the flaw detection apparatus may be provided with a feeding device. In that case, flaw detection of the steel pipe (test material m) can be performed separately from the manufacturing and processing steps.

前述の図10に示す実験機材について、上記偏心距離を設定して残響超音波の、計測実験を行った。当該実験によって得られたデータを、図11(B)(C)、図12(B)(C)及び図13(B)(C)に示す。
何れも、偏心距離を設定した被検材以外は、前述の図11(A)、図12(A)及び図13(A)に示すものと同じ条件で行った。
即ち、図11(B)(C)が示すデータは、被検材m0を直径34.0mm、肉厚7.0mmのパイプとし、超音波の被検材m0への入射点における屈折角24.6度、フェーズドアレープローブ1の感度を48.8dBとして得られたものである。図12(B)(C)が示すデータは、被検材m0を直径34.0mm、肉厚7.0mmのパイプとし、超音波の被検材m0への入射点における屈折角45.0度、フェーズドアレープローブ1の感度を50.4dBとして得られたものである。図13(B)(C)が示すデータは、被検材m0を直径48.6mm、肉厚3.7mmのパイプとし、超音波の被検材m0への入射点における屈折角36.8度、フェーズドアレープローブ1の感度を51.2dBとして得られたものである。
上記において、前述の(上下に伸びるものとした)中心包含線t2に対して左右何れか一方へのオフセットを+(正)、左右何れか他方へのオフセットを−(負)とした(データを採取した位置特定の便宜上このように正負を設定した)。図11(B)及び図12(B)においては、偏心距離dは、+5mmとした。図11(C)及び図12(C)において、偏心距離dは、−5mmとした。図13(B)において、偏心距離dは、+4mmとした。図13(C)において、偏心距離dは、−4mmとした。
With respect to the experimental equipment shown in FIG. 10 described above, a reverberant ultrasonic measurement experiment was performed with the eccentric distance set. Data obtained by the experiment is shown in FIGS. 11B, 11C, 12B, 13C, and 13C.
All were performed under the same conditions as those shown in FIGS. 11 (A), 12 (A), and 13 (A) except for the test material for which the eccentric distance was set.
That is, in the data shown in FIGS. 11B and 11C, the specimen m0 is a pipe having a diameter of 34.0 mm and a wall thickness of 7.0 mm, and the refraction angle of the ultrasonic incident point on the specimen m0 is 24. The sensitivity of the phased array probe 1 was 68.8 degrees and was obtained as 48.8 dB. The data shown in FIGS. 12B and 12C show that the specimen m0 is a pipe having a diameter of 34.0 mm and a thickness of 7.0 mm, and the refraction angle is 45.0 degrees at the incident point of the ultrasonic wave on the specimen m0. The sensitivity of the phased array probe 1 was obtained at 50.4 dB. The data shown in FIGS. 13B and 13C show that the specimen m0 is a pipe having a diameter of 48.6 mm and a wall thickness of 3.7 mm, and the refraction angle at the incident point of the ultrasonic wave on the specimen m0 is 36.8 degrees. The sensitivity of the phased array probe 1 is 51.2 dB.
In the above, with respect to the center inclusion line t2 (which extends vertically), the offset to either the left or right is + (positive), and the offset to either the left or right is-(negative) (data is The positive and negative are set in this way for the convenience of specifying the collected position). In FIGS. 11B and 12B, the eccentric distance d is +5 mm. In FIGS. 11C and 12C, the eccentric distance d is −5 mm. In FIG. 13B, the eccentric distance d is set to +4 mm. In FIG. 13C, the eccentric distance d is set to -4 mm.

図11(B)(C)を見ると、何れも横軸について150mm以内で、縦軸(5つの升目)の1/5以下(1升以内)にエコーのピークが減衰している(図11(C)では100mm以内で1/5以下に収束している)。多重反射エコーのピークが、縦軸の1/5以下へ減衰するまでに要する時間(距離)について、偏心距離を設けない場合(図11(A))に要した350mmに比して著しい低下が見られる。
同様に 図12(B)(C)を見ると、何れも横軸について150mm以内で、縦軸(5つの升目)の1/5以下(1升以内)にエコーのピークが減衰している(図12(C)では100mm以内で1/5以下に収束している)。多重反射エコーのピークが、縦軸の1/5以下へ減衰するまでに要する時間(距離)について、偏心距離を設けない場合(図12(A))に要した250mmに比して著しい低下が見られる。
また、同様に 図13(B)(C)を見ると、何れも横軸について200mm以内で、縦軸(5つの升目)の1/5以下(1升以内)にエコーのピークが減衰している(図13(C)では100mm以内で1/5以下に収束している)。多重反射エコーのピークが、縦軸の1/5以下へ減衰するまでに要する時間(距離)について、偏心距離を設けない場合(図13(A))に要した300mmに比して著しい低下が見られる。
縦軸1/5以下にエコーのピークが減衰するまでに要する時間の最も大きな数値である200mm(Lとする)の場合、時間に換算すれば124μsec(Tとする)となり(音速V=3230m/secとすれば、T=2*L/Vで示される。)、これが超音波繰り返し周期の上限となる。超音波繰り返し周波数で言えば約8KHzとなる。
このような実験結果から、偏心距離の設定が、多重反射エコーの軽減に極めて有効であることが分かる。
11B and 11C, in both cases, the echo peak is attenuated within 150 mm on the horizontal axis and 1/5 or less (within 1 square) of the vertical axis (5 squares) (FIG. 11). (C) converges to 1/5 or less within 100 mm). The time (distance) required for the peak of the multi-reflection echo to decay to 1/5 or less of the vertical axis is significantly lower than the 350 mm required when no eccentric distance is provided (FIG. 11A). It can be seen.
Similarly, in FIGS. 12B and 12C, in both cases, the echo peak is attenuated within 150 mm on the horizontal axis and 1/5 or less (within 1 square) of the vertical axis (5 squares) ( In FIG. 12C, it converges to 1/5 or less within 100 mm). The time (distance) required for the peak of the multi-reflection echo to attenuate to 1/5 or less of the vertical axis is significantly lower than the 250 mm required when no eccentric distance is provided (FIG. 12A). It can be seen.
Similarly, when looking at FIGS. 13B and 13C, the echo peak is attenuated within 200 mm on the horizontal axis and within 1/5 of the vertical axis (5 squares) (within 1 square). (In FIG. 13C, it converges to 1/5 or less within 100 mm). The time (distance) required until the peak of the multi-reflection echo attenuates to 1/5 or less of the vertical axis is significantly lower than the 300 mm required when no eccentric distance is provided (FIG. 13A). It can be seen.
In the case of 200 mm (L), which is the longest time required for the echo peak to decay below the vertical axis 1/5, when converted to time, it becomes 124 μsec (T) (sound speed V = 3230 m / If it is set to sec, T = 2 * L / V.) This is the upper limit of the ultrasonic repetition period. In terms of the ultrasonic repetition frequency, it is about 8 KHz.
From these experimental results, it can be seen that the setting of the eccentric distance is extremely effective in reducing the multiple reflection echo.

本願発明の一実施の形態を示す略全体縦断面図である。It is a substantially whole longitudinal cross-sectional view which shows one embodiment of this invention. 図1に示す探傷装置の要部(第1探傷部100a)の略縦断面図である。FIG. 2 is a schematic longitudinal sectional view of a main part (first flaw detection unit 100a) of the flaw detection apparatus shown in FIG. 図2に示す装置を正面視した状態を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the state which looked at the apparatus shown in FIG. 2 from the front. 図1に示す探傷装置の要部(第2探傷部100b)の略縦断面図である。It is a schematic longitudinal cross-sectional view of the principal part (2nd flaw detection part 100b) of the flaw detection apparatus shown in FIG. 図4のに示す装置を正面視した状態を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the state which looked at the apparatus shown in FIG. 4 from the front. (A)は図1〜図5に示す装置に用いられるフェーズドアレープローブ1のプローブユニット2の正面図であり、(B)はその側面図であり、(C)はその要部説明図である。(A) is the front view of the probe unit 2 of the phased array probe 1 used for the apparatus shown in FIGS. 1-5, (B) is the side view, (C) is the principal part explanatory drawing. . 図6に示すプローブユニット2を取り付けるリング3の略正面図を示している。The schematic front view of the ring 3 which attaches the probe unit 2 shown in FIG. 6 is shown. 図7に示すリング3の説明図である。It is explanatory drawing of the ring 3 shown in FIG. (A)及び(B)は従来のフェーズドアレープローブ1を用いた探傷方法を示す説明図である。(A) And (B) is explanatory drawing which shows the flaw detection method using the conventional phased array probe 1. FIG. 従来及び本願発明に係る探傷装置の残響エコーを測定する実験機材の正面図である。It is a front view of the experimental equipment which measures the reverberation echo of the conventional flaw detector according to the present invention. (A)は図10に示す機材で得られた従来の結果を示す説明図であり、(B)及び(C)は同様に図10に示す機材で得られた本願発明の効果を示す説明図である。(A) is explanatory drawing which shows the conventional result obtained with the equipment shown in FIG. 10, (B) and (C) is explanatory drawing which shows the effect of this invention similarly obtained with the equipment shown in FIG. It is. (A)は図10に示す機材で得られた従来の結果を示す説明図であり、(B)及び(C)は同様に図10に示す機材で得られた本願発明の効果を示す説明図である。(A) is explanatory drawing which shows the conventional result obtained with the equipment shown in FIG. 10, (B) and (C) is explanatory drawing which shows the effect of this invention similarly obtained with the equipment shown in FIG. It is. (A)は図10に示す機材で得られた従来の結果を示す説明図であり、(B)及び(C)は同様に図10に示す機材で得られた本願発明の効果を示す説明図である。(A) is explanatory drawing which shows the conventional result obtained with the equipment shown in FIG. 10, (B) and (C) is explanatory drawing which shows the effect of this invention similarly obtained with the equipment shown in FIG. It is.

符号の説明Explanation of symbols

1 フェーズドアレープローブ
10 振動子
d 偏心距離
m 被検材
1 Phased array probe 10 Oscillator d Eccentric distance m Test material

Claims (5)

円柱或いは円筒状の被検材の外周面を取り囲むように、何れも同一半径の弧を呈する複数のフェーズドアレープローブを設けて、当該被検材を探傷するものであり、フェーズドアレープローブの夫々は、複数の振動子を弧状に配列したものである超音波探傷方法において、
個々のフェーズドアレープローブを、被検材の軸方向と交差する平面上にて、フェーズドアレープローブが呈する弧の中心角を等分する二等分線と被検材の中心との間に偏心距離を持たせるように、被検材に対しオフセットすることを特徴とする超音波探傷方法。
A plurality of phased array probes each having an arc of the same radius are provided so as to surround the outer peripheral surface of a columnar or cylindrical specimen, and the specimen is inspected. In the ultrasonic flaw detection method in which a plurality of transducers are arranged in an arc shape,
Eccentric distance between the bisector that divides each phased array probe equally in the center angle of the arc that the phased array probe presents on the plane that intersects the axial direction of the test material, and the center of the test material The ultrasonic flaw detection method is characterized by offsetting the test material so that the
上記の偏心距離は、被検材の半径より小さく、フェーズドアレープローブの呈する弧の半径の1/20〜1/5であることを特徴とする請求項1記載の超音波探傷方法。   2. The ultrasonic flaw detection method according to claim 1, wherein the eccentric distance is smaller than the radius of the test material and is 1/20 to 1/5 of the radius of the arc exhibited by the phased array probe. 各フェーズドアレープローブの上記偏心距離は、何れも同一の大きさであることを特徴とする請求項1又は2記載の超音波探傷方法。   The ultrasonic flaw detection method according to claim 1, wherein the eccentric distances of the phased array probes are all the same. 同一半径の弧を呈する複数のフェーズドアレープローブを備え、フェーズドアレープローブの夫々は、複数の振動子が弧状に配列されたものである超音波探傷装置において、
全フェーズドアレープローブから距離を等しくする中心軸に対し、フェーズドアレープローブの夫々は、当該中心軸の周方向に沿って配列され、
個々のフェーズドアレープローブが呈する弧の中心角を等分する二等分線と上記中心軸との間に偏心距離を備えるよう、各フェーズドアレープローブは、上記中心軸に対しオフセットされたことを特徴とする超音波探傷装置。
In the ultrasonic flaw detector comprising a plurality of phased array probes that exhibit an arc of the same radius, each of the phased array probes is a plurality of transducers arranged in an arc shape,
Each of the phased array probes is arranged along the circumferential direction of the central axis with respect to the central axis that is equal in distance from all the phased array probes.
Each phased array probe is offset with respect to the central axis so as to have an eccentric distance between the bisector that equally divides the central angle of the arc presented by each phased array probe and the central axis. Ultrasonic flaw detector.
内部に円柱或いは円筒状の被検材を通過させることが可能な筒状体と、通過させる被検材に対して同心となるよう筒状体を支持する支持部材とを備え、
上記の各フェーズドアレープローブの夫々は、筒状体の内周面にて、筒状体の軸方向の異なる位置に、配設されたものであることを特徴とする請求項4記載の超音波探傷装置。
A cylindrical body capable of passing a columnar or cylindrical specimen inside and a support member that supports the cylindrical body so as to be concentric with the specimen to be passed,
5. The ultrasonic wave according to claim 4, wherein each of the phased array probes is disposed at a different position in the axial direction of the cylindrical body on the inner peripheral surface of the cylindrical body. Flaw detection equipment.
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