JP2006243663A - El display device - Google Patents

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Hiroshi Takahara
博司 高原
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Japan Display Central Inc
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Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an EL display device capable of suppressing display unevenness due to variance in characteristic of a transistor. <P>SOLUTION: A voltage Vx is applied to a source signal line 18 and a cathode current I1 flows from a driving transistor 11a. The cathode current I1 is converted by a pickup resistance R into a voltage, which is measured. The voltage Vx applied to the source signal line 18 is so adjusted that the measured voltage V is I1×R. A pixel 16 is selected by performing ON/OFF control over a switch S. The Vx when the cathode current I1 reaches a designated value is measured by an AD converting circuit 1711 and stored in a memory 351. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、有機または無機エレクトロルミネッセンス(EL)素子などを用いたEL表示パネル(表示装置)などの自発光表示パネルに関するものである。また、これらの表示パネルなどの駆動回路(ICなど)および駆動方法などに関するものである。   The present invention relates to a self-luminous display panel such as an EL display panel (display device) using an organic or inorganic electroluminescence (EL) element. Further, the present invention relates to a driving circuit (such as an IC) and a driving method of these display panels.

電気光学変換物質として有機エレクトロルミネッセンス(EL)材料を用いたアクティブマトリクス型の画像表示装置は画素に書き込まれる電流に応じて発光輝度が変化する。有機EL表示パネルは各画素に発光素子を有する自発光型である。有機EL表示パネルは、液晶表示パネルに比べて画像の視認性が高い、バックライトが不要、応答速度が速い等の利点を有する。   In an active matrix image display device using an organic electroluminescence (EL) material as an electro-optic conversion substance, light emission luminance changes according to a current written to a pixel. The organic EL display panel is a self-luminous type having a light emitting element in each pixel. The organic EL display panel has advantages such as higher image visibility than the liquid crystal display panel, no backlight, and high response speed.

有機EL表示パネルも単純マトリクス方式とアクティブマトリクス方式の構成が可能である。前者は構造が単純であるものの大型かつ高精細の表示パネルの実現が困難である。しかし、安価である。後者は大型、高精細表示パネルを実現できる。しかし、制御方法が技術的に難しい、比較的高価であるという課題がある。現在では、アクティブマトリクス方式の開発が盛んに行われている。アクティブマトリクス方式は、各画素に設けた発光素子に流れる電流を画素内部に設けた薄膜トランジスタ(トランジスタ)によって制御する。   The organic EL display panel can also be configured in a simple matrix system and an active matrix system. Although the former has a simple structure, it is difficult to realize a large and high-definition display panel. However, it is cheap. The latter can realize a large, high-definition display panel. However, there is a problem that the control method is technically difficult and relatively expensive. At present, active matrix systems are actively developed. In the active matrix system, a current flowing through a light emitting element provided in each pixel is controlled by a thin film transistor (transistor) provided in the pixel.

アクティブマトリクス方式の有機EL表示パネルは、例えば、特許文献1に開示されている。この表示パネルの一画素の等価回路を図2に示す。画素16は発光素子であるEL素子15、第1のトランジスタ(駆動用トランジスタ)11a、第2のトランジスタ(スイッチング用トランジスタ)11bおよび蓄積容量(コンデンサ)19からなる。発光素子15は有機エレクトロルミネッセンス(EL)素子である。本明細書では、EL素子15に電流を供給(制御)するトランジスタ11aを駆動用トランジスタ11と呼ぶ。また、図2のトランジスタ11bのように、スイッチとして動作するトランジスタをスイッチ用トランジスタ11と呼ぶ。   An active matrix organic EL display panel is disclosed in Patent Document 1, for example. An equivalent circuit of one pixel of this display panel is shown in FIG. The pixel 16 includes an EL element 15 that is a light emitting element, a first transistor (driving transistor) 11 a, a second transistor (switching transistor) 11 b, and a storage capacitor (capacitor) 19. The light emitting element 15 is an organic electroluminescence (EL) element. In this specification, the transistor 11 a that supplies (controls) current to the EL element 15 is referred to as a driving transistor 11. A transistor that operates as a switch, such as the transistor 11b in FIG.

有機EL素子15は多くの場合、整流性があるため、OLED(有機発光ダイオード)と呼ばれることがある。図1、図2などでは発光素子15としてダイオードの記号を用いている。   Since the organic EL element 15 often has a rectifying property, it is sometimes called an OLED (organic light emitting diode). In FIG. 1, FIG. 2, etc., the symbol of a diode is used as the light emitting element 15.

本発明における発光素子15はOLEDに限るものではなく、素子15に流れる電流量によって輝度が制御されるものであればよい。たとえば、無機EL素子が例示される。その他、半導体で構成される白色発光ダイオードが例示される。また、発光トランジスタでもよい。また、発光素子15は必ずしも整流性が要求されるものではない。双方向性素子であってもよい。   The light-emitting element 15 in the present invention is not limited to the OLED, and any element can be used as long as the luminance is controlled by the amount of current flowing through the element 15. For example, an inorganic EL element is illustrated. In addition, a white light emitting diode made of a semiconductor is exemplified. Further, a light emitting transistor may be used. In addition, the light emitting element 15 is not necessarily required to have rectification. A bidirectional element may be used.

図2の動作について説明する。ゲート信号線17を選択状態とし、ソース信号線18に輝度情報を表す電圧の映像信号を印加する。トランジスタ11aが導通し、映像信号が蓄積容量19に充電される。ゲート信号線17を非選択状態とすると、トランジスタ11aがオフになる。トランジスタ11bは電気的にソース信号線18から切り離される。しかし、トランジスタ11aのゲート端子電位は蓄積容量(コンデンサ)19によって安定に保持される。トランジスタ11aを介して発光素子15に流れる電流は、トランジスタ11aのゲート/ドレイン端子間電圧Vgdに応じた値となる。発光素子15はトランジスタ11aを通って供給される電流量に応じた輝度で発光し続ける。
特開平8−234683号公報
The operation of FIG. 2 will be described. The gate signal line 17 is selected, and a video signal having a voltage representing luminance information is applied to the source signal line 18. The transistor 11 a is turned on, and the video signal is charged in the storage capacitor 19. When the gate signal line 17 is not selected, the transistor 11a is turned off. The transistor 11b is electrically disconnected from the source signal line 18. However, the gate terminal potential of the transistor 11 a is stably held by the storage capacitor (capacitor) 19. The current flowing through the light emitting element 15 through the transistor 11a has a value corresponding to the gate-drain terminal voltage Vgd of the transistor 11a. The light emitting element 15 continues to emit light with a luminance corresponding to the amount of current supplied through the transistor 11a.
JP-A-8-234683

有機EL表示パネルは、低温ポリシリコントランジスタアレイを用いてパネルを構成する。しかし、有機EL素子は、ポリシリコントランジスタアレイのトランジスタ特性にバラツキがあると、表示ムラが発生する。   The organic EL display panel is configured by using a low-temperature polysilicon transistor array. However, display variations occur in organic EL elements when the transistor characteristics of the polysilicon transistor array vary.

図2は電圧プログラム方式の画素構成である。図2に図示する画素構成では、電圧の映像信号をトランジスタ11aで電流信号に変換する。したがって、トランジスタ11aに特性バラツキがあると、変換される電流信号にもバラツキが発生する。通常、トランジスタ11aは50%以上の特性バラツキが発生している。したがって、図2の構成では表示ムラが発生する。   FIG. 2 shows a pixel configuration of a voltage program method. In the pixel configuration shown in FIG. 2, the voltage video signal is converted into a current signal by the transistor 11a. Therefore, if the transistor 11a has a characteristic variation, the current signal to be converted also varies. Normally, the transistor 11a has a characteristic variation of 50% or more. Therefore, display unevenness occurs in the configuration of FIG.

表示ムラは、電流プログラム方式の構成を採用することにより低減することが可能である。電流プログラムを実施するためには、電流駆動方式のドライバ回路が必要である。しかし、電流駆動方式のドライバ回路にも電流出力段を構成するトランジスタ素子にバラツキが発生する。そのため、各出力端子からの階調出力電流にバラツキが発生し、良好な画像表示ができないという課題があった。また、電流プログラム方式は、低階調領域では、駆動電流が小さい。そのため、ソース信号線18の寄生容量により良好に駆動できないという課題があった。   Display unevenness can be reduced by adopting a current program system configuration. In order to implement the current program, a current drive type driver circuit is required. However, variation also occurs in the transistor elements constituting the current output stage in the current drive type driver circuit. For this reason, there is a problem in that the gradation output current from each output terminal varies and a good image display cannot be performed. In the current program method, the drive current is small in the low gradation region. For this reason, there has been a problem that the source signal line 18 cannot be driven satisfactorily due to the parasitic capacitance.

本発明のEL表示装置は、単位電流出力する複数のトランジスタから構成された定電流を発生する定電流回路と、階調電圧を発生する階調電圧回路と、マトリックス状にEL素子が配置された画像表示部と、前記EL素子に前記定電流を供給するソース信号線と、前記ソース信号線の電位を測定する測定手段を具備することを特徴とするものである。   In the EL display device of the present invention, a constant current circuit configured to generate a constant current composed of a plurality of transistors that output unit currents, a gradation voltage circuit that generates gradation voltages, and EL elements are arranged in a matrix. An image display unit, a source signal line that supplies the constant current to the EL element, and a measurement unit that measures the potential of the source signal line are provided.

本発明のソースドライバ回路は、基準電流の発生回路を有し、また、ゲートドライバ回路を制御することにより、電流制御、輝度制御を実現する。また、画素は、複数あるいは単独の駆動用トランジスタを有し、EL素子15に流れる電流バラツキが発生しないように駆動する。また、各端子に接続する単位トランジスタ群を変化させる。したがって、トランジスタのしきい値ばらつきによる表示むらの発生を抑制することが可能となる。駆動用トランジスタ素子の温度依存性も補償する。また、duty比制御などによりダイナミックレンジが広い画像表示を実現できる。   The source driver circuit of the present invention includes a reference current generation circuit, and realizes current control and luminance control by controlling the gate driver circuit. Further, the pixel has a plurality of or single drive transistors, and is driven so as not to cause a variation in current flowing through the EL element 15. Further, the unit transistor group connected to each terminal is changed. Therefore, it is possible to suppress the occurrence of display unevenness due to variations in threshold values of transistors. The temperature dependence of the driving transistor element is also compensated. Also, an image display with a wide dynamic range can be realized by duty ratio control or the like.

本発明は、画素構成は電流駆動型の画素構成であり、この画素にプログラム電圧を印加し、電圧駆動(プログラム電圧を印加)を実施するものである。また、少なくとも1点以上の画素16の駆動用トランジスタ11aの特性カーブの電圧を測定し、この電圧から電圧駆動に対応する特性カーブを発生し、駆動するものである。階調0の電圧を測定あるいは発生し、この階調0の電圧を基準に電圧プログラムデータを発生し、駆動する状態は電圧オフセットキャンセルと同一あるいは類似の電圧方式である。電圧+電流プログラム駆動を実施することにより、あたかも、低階調領域では電圧オフセットキャンセルを実施しているように駆動され、高階調領域では、電流プログラム駆動を実施していることなる。したがって、電圧駆動の効果と電流駆動の効果が補間して実施することできる。   In the present invention, the pixel configuration is a current-driven pixel configuration, and a program voltage is applied to the pixel to perform voltage driving (program voltage application). Further, the voltage of the characteristic curve of the driving transistor 11a of at least one pixel 16 is measured, and a characteristic curve corresponding to voltage driving is generated from this voltage and driven. A voltage of gradation 0 is measured or generated, voltage program data is generated based on the voltage of gradation 0, and the driving state is the same or similar to the voltage offset cancellation. By performing the voltage + current program drive, the drive is performed as if the voltage offset cancellation is performed in the low gradation region, and the current program drive is performed in the high gradation region. Therefore, the effect of voltage driving and the effect of current driving can be interpolated.

本発明の表示パネル、表示装置等は、高画質、良好な動画表示性能、低消費電力、低コスト化、高輝度化等のそれぞれの構成に応じて特徴ある効果を発揮する。   The display panel, display device, and the like of the present invention exhibit distinctive effects according to their respective configurations such as high image quality, good moving image display performance, low power consumption, low cost, and high brightness.

本発明を用いれば、低消費電力の情報表示装置などを構成できるので、電力を消費しない。また、小型軽量化できるので、資源を消費しない。したがって、地球環境、宇宙環境に優しいことになる。   If the present invention is used, an information display device or the like with low power consumption can be configured, and power is not consumed. Moreover, since it can be reduced in size and weight, resources are not consumed. Therefore, it is friendly to the global environment and space environment.

本明細書において、各図面は理解を容易するために、また作図を容易にするため、省略および拡大あるいは縮小した箇所がある。たとえば、図4に図示する表示パネルの断面図では薄膜封止膜41などを十分厚く図示している。一方、図3において、封止フタ40は薄く図示している。また、省略した箇所もある。たとえば、本発明の表示パネルなどでは、反射防止のために円偏光板などの位相フィルム(38、39)が必要である。しかし、本明細書の各図面では円偏光板などを省略している。以上のことは以下の図面に対しても同様である。また、同一番号または、記号等を付した箇所は同一もしくは類似の形態もしくは材料あるいは機能もしくは動作を有する。   In the present specification, each drawing includes parts omitted, enlarged, or reduced for easy understanding and drawing. For example, in the cross-sectional view of the display panel shown in FIG. 4, the thin film sealing film 41 and the like are shown to be sufficiently thick. On the other hand, in FIG. 3, the sealing lid 40 is shown thinly. Also, there are some omitted parts. For example, in the display panel of the present invention, a phase film (38, 39) such as a circularly polarizing plate is necessary for preventing reflection. However, a circularly polarizing plate and the like are omitted in each drawing of this specification. The same applies to the following drawings. Moreover, the part which attached | subjected the same number or the symbol etc. has the same or similar form, material, function, or operation | movement.

本明細書では、駆動用トランジスタ11、スイッチング用トランジスタ11は薄膜トランジスタとして説明するが、これに限定するものではない。薄膜ダイオード(TFD)、リングダイオードなどでも構成することができる。また、薄膜素子に限定するものではなく、シリコンウエハに形成したトランジスタでもよい。もちろん、FET、MOS−FET、MOSトランジスタ、バイポーラトランジスタでもよい。これらも基本的に薄膜トランジスタである。その他、バリスタ、サイリスタ、リングダイオード、ホトダオード、ホトトランジスタ、PLZT素子などでもよいことは言うまでもない。つまり、本発明のトランジスタ11、ゲートドライバ回路12、ソースドライバ回路(IC)14などは、これらのいずれでも使用することができる。   In this specification, the driving transistor 11 and the switching transistor 11 are described as thin film transistors, but the present invention is not limited thereto. A thin film diode (TFD), a ring diode, or the like can also be used. The transistor is not limited to a thin film element, and may be a transistor formed on a silicon wafer. Of course, an FET, a MOS-FET, a MOS transistor, or a bipolar transistor may be used. These are also basically thin film transistors. In addition, it goes without saying that varistors, thyristors, ring diodes, photodiodes, phototransistors, PLZT elements may be used. That is, any of these can be used for the transistor 11, the gate driver circuit 12, the source driver circuit (IC) 14 and the like of the present invention.

ソースドライバ回路(IC)14は、単なるドライバ機能だけでなく、電源回路、バッファ回路(シフトレジスタなどの回路を含む)、データ変換回路、ラッチ回路、コマンドデコーダ、シフト回路、アドレス変換回路、画像メモリなどを内蔵させてもよい。   The source driver circuit (IC) 14 has not only a simple driver function but also a power supply circuit, a buffer circuit (including a circuit such as a shift register), a data conversion circuit, a latch circuit, a command decoder, a shift circuit, an address conversion circuit, and an image memory. Etc. may be incorporated.

基板30はガラス基板として説明をするが、シリコンウエハで形成してもよい。また、基板30は、金属基板、セラミック基板、プラスティックシート(板)などを使用してよい。また、本発明の表示パネルなどを構成するトランジスタ11、ゲートドライバ回路12、ソースドライバ回路(IC)14などは、ガラス基板などに形成し、転写技術により他の基板(プラスチックシート)に移し変えて構成または形成したものでもよいことは言うまでもない。フタ40の材料あるいは構成に関しても基板30と同様である。また、フタ40、基板30は放熱性を良好にするため、サファイアガラスなどを用いてもよいことは言うまでもない。   Although the substrate 30 is described as a glass substrate, it may be formed of a silicon wafer. The substrate 30 may be a metal substrate, a ceramic substrate, a plastic sheet (plate), or the like. Further, the transistor 11, the gate driver circuit 12, the source driver circuit (IC) 14 and the like constituting the display panel of the present invention are formed on a glass substrate and transferred to another substrate (plastic sheet) by a transfer technique. Needless to say, it may be configured or formed. The material or configuration of the lid 40 is the same as that of the substrate 30. Needless to say, sapphire glass or the like may be used for the lid 40 and the substrate 30 to improve heat dissipation.

以下、本発明のEL表示パネルについて図面を参照しながら説明をする。有機EL表示パネルは、図3に示すように、画素電極としての透明電極35が形成されたガラス板30(アレイ基板30)上に、電子輸送層、発光層、正孔輸送層などからなる少なくとも1層の有機機能層(EL層)29、及び金属電極(反射膜)(カソード)36が積層されたものである。透明電極(画素電極)35である陽極(アノード)にプラス、金属電極(反射電極)36の陰極(カソード)にマイナスあるいはグランド電圧を加え、透明電極35及び金属電極36間に直流を印加することにより、有機機能層(EL膜)29が発光する。   Hereinafter, the EL display panel of the present invention will be described with reference to the drawings. As shown in FIG. 3, the organic EL display panel includes at least an electron transport layer, a light emitting layer, a hole transport layer, and the like on a glass plate 30 (array substrate 30) on which a transparent electrode 35 as a pixel electrode is formed. One organic functional layer (EL layer) 29 and a metal electrode (reflective film) (cathode) 36 are laminated. A positive voltage is applied to the anode (anode) which is the transparent electrode (pixel electrode) 35, a negative voltage or a ground voltage is applied to the cathode (cathode) of the metal electrode (reflecting electrode) 36, and a direct current is applied between the transparent electrode 35 and the metal electrode 36. As a result, the organic functional layer (EL film) 29 emits light.

なお、封止フタ40とアレイ基板30との空間には乾燥剤あるいは吸湿材料からなるシートあるいは薄膜(厚膜)37を配置する。これは、有機EL膜29は湿度に弱いためである。乾燥剤37によりシール剤を浸透する水分を吸収し有機EL膜29の劣化を防止する。また、封止フタ40とアレイ基板30とは、周辺部を封止樹脂2511で封止する。乾燥剤37などの水分吸収手段は、封止フタ40などに直接塗布または蒸着することにより形成してもよい。   Note that a sheet or a thin film (thick film) 37 made of a desiccant or a hygroscopic material is disposed in the space between the sealing lid 40 and the array substrate 30. This is because the organic EL film 29 is vulnerable to humidity. The desiccant 37 absorbs moisture penetrating the sealing agent and prevents the organic EL film 29 from deteriorating. Further, the sealing lid 40 and the array substrate 30 are sealed at the periphery with a sealing resin 2511. The moisture absorbing means such as the desiccant 37 may be formed by directly applying or vapor-depositing on the sealing lid 40 or the like.

封止フタ40とは、外部からの水分の浸入を防止あるいは抑制する手段であって、フタの形状に限定されるものではない。たとえば、ガラス板あるいはプラスティック板あるいはフィルムなどでもよい。また、融着ガラス、ステンレスなどの金属などでもよい。また、樹脂あるいは無機材料などの構成体であってもよい。また、蒸着技術などを用いて薄膜状の形成(図4を参照のこと)したものであってもよい。乾燥剤37の表面からEL膜までの距離は、0.2mm以上開けることが好ましい。   The sealing lid 40 is a means for preventing or suppressing entry of moisture from the outside, and is not limited to the shape of the lid. For example, a glass plate, a plastic plate, or a film may be used. Further, it may be a fused glass or a metal such as stainless steel. Moreover, constituents, such as resin or an inorganic material, may be sufficient. Further, it may be formed in a thin film shape (see FIG. 4) using a vapor deposition technique or the like. The distance from the surface of the desiccant 37 to the EL film is preferably 0.2 mm or more.

図3の本発明の有機EL表示パネルは、ガラスのフタ40を用いて封止する構成である。しかし、本発明はこれに限定するものではない。たとえば、図4に図示するようにフィルム41(薄膜でもよい。つまり、薄膜封止膜41である)41を用いた封止構造であってもよい。   The organic EL display panel of the present invention shown in FIG. 3 is configured to be sealed using a glass lid 40. However, the present invention is not limited to this. For example, as shown in FIG. 4, a sealing structure using a film 41 (which may be a thin film, that is, a thin film sealing film 41) 41 may be used.

封止フィルム(薄膜封止膜)41としては電解コンデンサのフィルムにDLC(ダイヤモンド ライク カーボン)を蒸着したものを用いることが例示される。このフィルムは水分浸透性が極めて悪い(防湿性能が高い)。このフィルムを封止膜41として用いる。また、DLC(ダイヤモンド ライク カーボン)膜などを電極36の表面に直接蒸着する構成ものよいことは言うまでもない。その他、樹脂薄膜と金属薄膜を多層に積層して、薄膜封止膜を構成してもよい。   Examples of the sealing film (thin film sealing film) 41 include a film of an electrolytic capacitor on which DLC (diamond-like carbon) is vapor-deposited. This film has extremely poor moisture permeability (high moisture resistance). This film is used as the sealing film 41. Needless to say, a structure in which a DLC (diamond-like carbon) film or the like is directly deposited on the surface of the electrode 36 is preferable. In addition, a thin film sealing film may be configured by laminating a resin thin film and a metal thin film in multiple layers.

薄膜41あるいは封止構造を形成する膜の厚みは、上記干渉領域の膜厚には限定されない。5〜10μm以上あるいは、100μm以上の厚みを有するように構成あるいは形成してもよいことは言うまでもない。また、封止構成の薄膜41などが透過性を有する場合は、図4のA側が光出射側となり、不透過性あるいは光反射性の機能あるいは構造を有する場合は、B側が光出射側となる。   The thickness of the thin film 41 or the film forming the sealing structure is not limited to the thickness of the interference region. Needless to say, the thickness may be 5 to 10 μm or more, or 100 μm or more. In addition, when the sealed thin film 41 or the like has transparency, the A side in FIG. 4 is the light emission side, and when it has an opaque or light reflective function or structure, the B side is the light emission side. .

A側とB側との両方から光が出射されるように構成してもよい。この構成を採用する場合は、A側からEL表示パネルの画像を見る場合と、B側からEL表示パネルの画像を見る場合とでは画像が左右反転する。したがって、A側からEL表示パネルの画像を見る場合と、B側からEL表示パネルの画像を見る場合では、手動であるいはオートマチックに画像の左右を反転させる機能を付加する。この機能の実現は、映像信号の1画素行あるいは複数画素行分をラインメモリに蓄積し、ラインメモリの読み出し方向を反転させればよい。   You may comprise so that light may be radiate | emitted from both A side and B side. In the case of adopting this configuration, the image is reversed horizontally when viewing the image of the EL display panel from the A side and when viewing the image of the EL display panel from the B side. Therefore, when viewing the image of the EL display panel from the A side and when viewing the image of the EL display panel from the B side, a function of inverting the left and right of the image manually or automatically is added. This function can be realized by storing one pixel row or a plurality of pixel rows of the video signal in the line memory and inverting the reading direction of the line memory.

図4のように封止フタ40を用いず、封止膜41で封止する構成を薄膜封止と呼ぶ。基板30側から光を取り出す「下取り出し(図3を参照のこと。光取り出し方向は図3のB矢印方向である)」の場合の薄膜封止41は、EL膜を形成後、EL膜上にカソードとなるアルミ電極を形成する。次にこのアルミ膜上に緩衝層としての樹脂層を形成する。緩衝層としては、アクリル、エポキシなどの有機材料が例示される。また、膜厚は1μm以上10μm以下の厚みが適する。さらに好ましくは、膜厚は2μm以上6μm以下の厚みが適する。この緩衝膜上の封止膜74を形成する。   A configuration in which the sealing lid 40 is not used as shown in FIG. 4 and the sealing film 41 is sealed is called thin film sealing. The thin film sealing 41 in the case of “lower extraction (see FIG. 3; the light extraction direction is the direction indicated by the arrow B in FIG. 3)” for extracting light from the substrate 30 side is the EL film after forming the EL film. An aluminum electrode to be a cathode is formed. Next, a resin layer as a buffer layer is formed on the aluminum film. Examples of the buffer layer include organic materials such as acrylic and epoxy. Further, the film thickness is suitably 1 μm or more and 10 μm or less. More preferably, the film thickness is 2 μm or more and 6 μm or less. A sealing film 74 on the buffer film is formed.

緩衝膜がないと、応力によりEL膜の構造が崩れ、筋状に欠陥が発生する。封止膜41は前述したように、DLC(ダイヤモンド ライク カーボン)、あるいは電界コンデンサの層構造(誘電体薄膜とアルミ薄膜とを交互に多層蒸着した構造)が例示される。   Without the buffer film, the structure of the EL film collapses due to the stress, and a line-like defect occurs. As described above, the sealing film 41 is exemplified by DLC (Diamond Like Carbon) or a layer structure of an electric field capacitor (a structure in which dielectric thin films and aluminum thin films are alternately deposited).

図3などにおいて、有機EL膜29から発生した光の半分は、反射膜(カソード電極)36で反射され、アレイ基板30と透過して出射される。しかし、反射膜(カソード電極)36には外光を反射し写り込みが発生して表示コントラストを低下させる。この対策のために、アレイ基板30にλ/4板(位相フィルム)38および偏光板(偏光フィルム)39を配置している。偏光板39と位相フィルム38を一体したものは円偏光板(円偏光シート)と呼ばれる。   In FIG. 3 and the like, half of the light generated from the organic EL film 29 is reflected by the reflective film (cathode electrode) 36 and transmitted through the array substrate 30 to be emitted. However, external light is reflected on the reflective film (cathode electrode) 36, and reflection occurs to reduce display contrast. For this measure, a λ / 4 plate (phase film) 38 and a polarizing plate (polarizing film) 39 are arranged on the array substrate 30. What united the polarizing plate 39 and the phase film 38 is called a circularly-polarizing plate (circularly polarizing sheet).

なお、位相フィルム38、円偏光板1654は、有機樹脂フィルム、有機樹脂板に限定するものではなく、無機材料(水晶結晶、光学薄膜)などで構成してもよいことは言うまでもない。   Needless to say, the phase film 38 and the circularly polarizing plate 1654 are not limited to organic resin films and organic resin plates, but may be composed of an inorganic material (quartz crystal, optical thin film) or the like.

反射型画素16は、画素電極35を、アルミニウム、クロム、銀などで構成して得られる。また、画素電極35の表面に、凸部(もしくは凹凸部)を設けることで有機EL膜29との界面が広くなり発光面積が大きくなり、また、発光効率が向上する。なお、カソード36(アノード35)となる反射膜を透明電極に形成する、あるいは反射率を30%以下に低減できる場合は、円偏光板は不要である。写り込みが大幅に減少するからである。また、光の干渉も低減し望ましい。   The reflective pixel 16 is obtained by configuring the pixel electrode 35 with aluminum, chromium, silver or the like. Further, by providing a convex portion (or a concave-convex portion) on the surface of the pixel electrode 35, the interface with the organic EL film 29 is widened, the light emission area is increased, and the light emission efficiency is improved. Note that the circularly polarizing plate is not necessary when the reflective film to be the cathode 36 (anode 35) is formed on the transparent electrode, or when the reflectance can be reduced to 30% or less. This is because the reflection is greatly reduced. It is also desirable to reduce light interference.

有機ELは、有機材料であるため、一般的に紫外線により劣化しやすい。この課題に対して、本発明は、図5に図示するように、アレイ基板30または封止基板に紫外線をカットするフィルムあるいは樹脂からなる膜(紫外線カット膜)2971を形成あるいは配置している。紫外線カット膜2971は、画素行あるいは画素列位置に一致するように、ストライプ状あるいはドット状に形成また配置している。もちろん、アレイ基板30また封止基板(フタ)40のうち、少なくとも一方の基板の全面に(シート状に)紫外線カット膜2971を形成または配置してもよい。   Since organic EL is an organic material, it is generally easily deteriorated by ultraviolet rays. In response to this problem, the present invention forms or arranges a film (ultraviolet cut film) 2971 made of a film or resin for cutting ultraviolet rays on the array substrate 30 or the sealing substrate, as shown in FIG. The ultraviolet cut film 2971 is formed or arranged in a stripe shape or a dot shape so as to coincide with the pixel row or pixel column position. Of course, the ultraviolet cut film 2971 may be formed or disposed on the entire surface of at least one of the array substrate 30 and the sealing substrate (lid) 40 (in the form of a sheet).

紫外線カット膜2971は、RGBのEL材料で紫外線に対する耐性が異なる。したがって、紫外線カット膜は画素16のRGBのEL材料に一致するように、ストライプ状などに形成することが好ましい。また、画素16に対応させてストライプ状、ドット状に形成することにより、RGBのEL素子15からの発生しパネルから出射する波長の帯域を制限するあるいは制御することができる。したがって、色純度を向上させることができる。たとえば、紫外線カット膜2971にカラーフィルタなどの機能を持たせる。   The ultraviolet cut film 2971 is an RGB EL material and has different resistance to ultraviolet rays. Therefore, it is preferable to form the ultraviolet cut film in a stripe shape so as to match the RGB EL material of the pixel 16. In addition, by forming stripes or dots corresponding to the pixels 16, it is possible to limit or control the wavelength band generated from the RGB EL element 15 and emitted from the panel. Therefore, color purity can be improved. For example, the ultraviolet cut film 2971 is provided with a function such as a color filter.

紫外線カット膜2971としては、エポキシ系樹脂、ウレタン系樹脂またはアクリル系樹脂等を用いることができる。また、その他、ポリエステル樹脂、PVA樹脂、ポリサルホン樹脂、塩化ビニール樹脂、ゼオネックス樹脂、アクリル樹脂、ポリスチレン樹脂等の有機樹脂板あるいは有機樹脂フィルムなどを用いてもよい。また、紫外線カット膜2971の一部もしくは全体を着色したりしてもよいことは言うまでもない。また、紫外線カット膜2971はITO、酸化アルミニウム(Al2O3)、ジルコニウム(ZrO2)、フッ化マグネシウム(MgF2)、一酸化シリコン(SiO)、酸化イットリウム(Y2O3)などの無機材料からなる薄膜、厚膜を用いて形成あるは配置してもよい。特にITOは導電性があるので、静電気防止にもなり好ましい。   As the ultraviolet cut film 2971, an epoxy resin, a urethane resin, an acrylic resin, or the like can be used. In addition, an organic resin plate or an organic resin film such as a polyester resin, a PVA resin, a polysulfone resin, a vinyl chloride resin, a ZEONEX resin, an acrylic resin, or a polystyrene resin may be used. Needless to say, a part or the whole of the ultraviolet cut film 2971 may be colored. The ultraviolet cut film 2971 is made of an inorganic material such as ITO, aluminum oxide (Al 2 O 3), zirconium (ZrO 2), magnesium fluoride (MgF 2), silicon monoxide (SiO), yttrium oxide (Y 2 O 3), or a thick film. It may be formed using or arranged. In particular, ITO is preferable because it is conductive and prevents static electricity.

図3の構成では、封止基板(フタ)40とアレイ基板30との間隔(図6の空間3002)が狭いほど、ELパネルの厚みは薄くすることができる。しかし、封止フタ40とアレイ基板30との間隔が近いと、封止フタ4側などから押圧した場合に、封止フタ40などがひずみ、封止フタ40の裏面が、EL膜29、カソード膜36などと接触する場合がある。接触するとカソード膜36などが破壊される。   In the configuration of FIG. 3, the EL panel can be made thinner as the distance between the sealing substrate (lid) 40 and the array substrate 30 (the space 3002 in FIG. 6) is narrower. However, if the space between the sealing lid 40 and the array substrate 30 is close, when pressed from the sealing lid 4 side or the like, the sealing lid 40 or the like is distorted, and the back surface of the sealing lid 40 has the EL film 29 or cathode. In some cases, the film 36 may come into contact. When contacted, the cathode film 36 and the like are destroyed.

この課題を解決するため、本発明は、図6に図示するように、アレイ基板30と封止フタ(基板)40間に、スペーサ柱3001を形成している。スペーサ柱3001は開口率を低減しないように、ソース信号線18またはゲート信号線17と垂直方向に重ねるように形成または配置されている。   In order to solve this problem, according to the present invention, spacer columns 3001 are formed between the array substrate 30 and the sealing lid (substrate) 40 as shown in FIG. The spacer column 3001 is formed or arranged so as to overlap the source signal line 18 or the gate signal line 17 in the vertical direction so as not to reduce the aperture ratio.

スペーサ柱300の形成材料としては、エポキシ系樹脂、ウレタン系樹脂またはアクリル系樹脂等を用いることができる。スペーサ柱3001は透明樹脂に限定されるものでなく、酸化アルミニウム、酸化マグネシウム、オパールガラスなどの光拡散物でもよい。   As a material for forming the spacer column 300, an epoxy resin, a urethane resin, an acrylic resin, or the like can be used. The spacer column 3001 is not limited to a transparent resin, and may be a light diffuser such as aluminum oxide, magnesium oxide, or opal glass.

好ましくは、スペーサ柱3001は光吸収材で形成することが好ましい。ハレーションを防止し、コントラストを向上できるからである。光吸収材としては六価クロムなどの黒色の金属薄膜、アクリルにカーボン等を添加した樹脂、複数あるいは単色の色素もしくは染料を添加したカラーフィルタが例示される。これらはアレイ基板30などで発生するハレーションを抑制する。また、カラーフィルタを構成する材料で形成してもよい。   Preferably, the spacer column 3001 is formed of a light absorbing material. This is because halation can be prevented and contrast can be improved. Examples of the light absorbing material include a black metal thin film such as hexavalent chromium, a resin in which carbon or the like is added to acrylic, and a color filter in which a plurality or a single color pigment or dye is added. These suppress halation generated in the array substrate 30 and the like. Moreover, you may form with the material which comprises a color filter.

スペーサ柱3001の形成方法としては、アレイ基板30または封止基板40のうち少なくとも一方に、樹脂材料を塗布し、ドライエッチング技術またはウエットエッチング技術を用いて形成する。また、インクジェット印刷などの技術を用いて染料、色素などを塗布して形成する。また、グラビア印刷技術、オフセット印刷技術、スピンナーで膜を塗布し、現像する半導体パターン形成技術などで形成する。また、基板(30、40)に樹脂板加工技術(インジェクション加工、コンプレクション加工など)を応用すればよい。   The spacer column 3001 is formed by applying a resin material to at least one of the array substrate 30 and the sealing substrate 40 and using a dry etching technique or a wet etching technique. Moreover, it forms by apply | coating dye, a pigment | dye, etc. using techniques, such as inkjet printing. Further, it is formed by a gravure printing technique, an offset printing technique, a semiconductor pattern forming technique in which a film is applied by a spinner and developed. Moreover, what is necessary is just to apply a resin board processing technique (injection processing, a compression process, etc.) to a board | substrate (30, 40).

図7は図6に加えて、パターニングされた乾燥剤3011を形成した構成図である。乾燥剤3011は、封止基板(フタ)40に乾燥剤材料からなる膜を一面に形成し、パターニングして形成する。または、スペーサ柱3001を形成する材料に乾燥剤材料からなる膜を一面に形成し、パターニングする。もちろん、スペーサ柱3001を形成する前にアレイ基板30上に形成または配置してもよい。   FIG. 7 is a configuration diagram in which a patterned desiccant 3011 is formed in addition to FIG. The desiccant 3011 is formed by forming a film made of a desiccant material over the sealing substrate (lid) 40 and patterning it. Alternatively, a film made of a desiccant material is formed over the entire surface of the material for forming the spacer column 3001 and patterned. Of course, it may be formed or arranged on the array substrate 30 before the spacer column 3001 is formed.

EL表示装置のカラー化は、マスク蒸着により行うが、本発明はこれに限定するものではない。たとえば、青色発光のEL層を形成し、発光する青色光を、R、G、Bの色変換層(CCM:カラーチェンジミディアムズ)でR、G、B光に変換してもよい。たとえば、図4において、薄膜封止膜41上あるいは下にカラーフィルタを配置する。もちろん、プレシジェンシャドーマスクを利用したRGB有機材料(EL材料)の打ち分け方式を採用してもよい。本発明のカラーEL表示パネルはこれらのいずれの方式を用いても良い。   The EL display device is colored by mask vapor deposition, but the present invention is not limited to this. For example, a blue light emitting EL layer may be formed, and the emitted blue light may be converted into R, G, B light by an R, G, B color conversion layer (CCM: Color Change Mediums). For example, in FIG. 4, a color filter is disposed on or below the thin film sealing film 41. Of course, an RGB organic material (EL material) placement method using a precision shadow mask may be employed. Any of these methods may be used for the color EL display panel of the present invention.

本発明のEL表示パネル(EL表示装置)の画素16の構造は、図1などに示すように、1つの画素16が4つのトランジスタ11ならびにEL素子15により形成される。画素電極35はソース信号線18と重なるように構成する。ソース信号線18上に絶縁膜あるいはアクリル材料からなる平坦化膜32を形成して絶縁し、平坦化膜32上に画素電極35を形成する。このようにソース信号線18上の少なくとも1部に画素電極35を重ねる構成をハイアパーチャ(HA)構造と呼ぶ。不要な干渉光などが低減し、良好な発光状態が期待できる。当然のことながら、画素電極35は反射電極に構成してもよい。   The structure of the pixel 16 of the EL display panel (EL display device) of the present invention is such that one pixel 16 is formed by four transistors 11 and EL elements 15 as shown in FIG. The pixel electrode 35 is configured to overlap the source signal line 18. A planarization film 32 made of an insulating film or an acrylic material is formed on the source signal line 18 for insulation, and a pixel electrode 35 is formed on the planarization film 32. A configuration in which the pixel electrode 35 is overlaid on at least a part of the source signal line 18 in this way is called a high aperture (HA) structure. Unnecessary interference light and the like are reduced, and a good light emission state can be expected. As a matter of course, the pixel electrode 35 may be configured as a reflective electrode.

有機EL表示パネルに用いられるアクティブマトリックス方式は、特定の画素を選択し、必要な表示情報を与えられること。1フレーム期間を通じてEL素子に電流を流すことができることという2つの条件を満足させなければならない。   The active matrix method used for the organic EL display panel is to select a specific pixel and provide necessary display information. Two conditions must be satisfied that current can flow through the EL element throughout one frame period.

この2つの条件を満足させるため、図2に図示する従来の有機ELの画素構成では、第1のトランジスタ11bは画素を選択するためのスイッチング用トランジスタとして機能させる。また、第2のトランジスタ11aはEL素子15に電流を供給するための駆動用トランジスタとして機能させている。   In order to satisfy these two conditions, in the pixel configuration of the conventional organic EL shown in FIG. 2, the first transistor 11b functions as a switching transistor for selecting a pixel. Further, the second transistor 11 a functions as a driving transistor for supplying current to the EL element 15.

この構成を用いて階調を表示させる場合、駆動用トランジスタ11aのゲート電圧として階調に応じた電圧を印加する必要がある。したがって、駆動用トランジスタ11aのオン電流のばらつきがそのまま表示に現れる。   In the case of displaying gradation using this configuration, it is necessary to apply a voltage corresponding to the gradation as the gate voltage of the driving transistor 11a. Therefore, the variation in the on-state current of the driving transistor 11a appears in the display as it is.

トランジスタのオン電流は単結晶で形成されたトランジスタであれば、きわめて均一であるが、安価なガラス基板に形成することのできる形成温度が450度以下の低温ポリシリ技術で形成した低温多結晶トタンジスタでは、そのしきい値のばらつきが±0.2V〜±0.5Vの範囲でばらつきがある。そのため、駆動用トランジスタ11aを流れるオン電流がこれに対応してばらつき、表示にムラが発生する。これらのムラは、しきい値電圧のばらつきのみならず、トランジスタの移動度、ゲート絶縁膜の厚みなどでも発生する。また、トランジスタ11の劣化によっても特性は変化する。   The on-current of a transistor is very uniform if it is a transistor formed of a single crystal. The threshold value varies within a range of ± 0.2V to ± 0.5V. For this reason, the on-current flowing through the driving transistor 11a varies correspondingly, and the display is uneven. These irregularities are caused not only by variations in threshold voltage, but also by transistor mobility, gate insulating film thickness, and the like. The characteristics also change due to deterioration of the transistor 11.

この現象は、低温ポリシリコン技術に限定されるものではなく、プロセス温度が450度(摂氏)以上の高温ポリシリコン技術でも、固相(CGS)成長させた半導体膜を用いてトランジスタなどを形成したものでも発生する。その他、主として有機材料で形成した有機トランジスタでも発生する。アモルファスシリコントランジスタでも発生する。したがって、本発明は、以上のすべての構成に適用できる方式である。   This phenomenon is not limited to low-temperature polysilicon technology, and transistors and the like are formed using solid-phase (CGS) grown semiconductor films even in high-temperature polysilicon technology with a process temperature of 450 degrees Celsius or higher. Even things can occur. In addition, it also occurs in organic transistors formed mainly from organic materials. It also occurs in amorphous silicon transistors. Therefore, the present invention is a method applicable to all the above configurations.

図2のように、電圧を書き込むことにより、階調を表示させる方法では、均一な表示を得るために、デバイスの特性を厳密に制御する必要がある。しかし、現状の低温多結晶ポリシリコントランジスタなどではこのバラツキを所定範囲以内の抑えることができない。   As shown in FIG. 2, in the method of displaying gradation by writing a voltage, it is necessary to strictly control the device characteristics in order to obtain a uniform display. However, this variation cannot be suppressed within a predetermined range in a current low-temperature polycrystalline polysilicon transistor or the like.

本発明の表示パネルの画素16を構成するトランジスタ11は、p−チャンネルポリシリコン薄膜トランジスタに構成される。また、トランジスタ11bは、デュアルゲート以上であるマルチゲート構造としている。   The transistor 11 constituting the pixel 16 of the display panel of the present invention is configured as a p-channel polysilicon thin film transistor. The transistor 11b has a multi-gate structure that is more than a dual gate.

本発明の表示パネルの画素16を構成するトランジスタ11bは、トランジスタ11aのソース−ドレイン間のスイッチとして作用する。したがって、トランジスタ11bは、できるだけON/OFF比の高い特性が要求される。トランジスタ11bのゲートの構造をデュアルゲート構造以上のマルチゲート構造とすることによりON/OFF比の高い特性を実現できる。   The transistor 11b constituting the pixel 16 of the display panel of the present invention functions as a source-drain switch of the transistor 11a. Therefore, the transistor 11b is required to have as high a ON / OFF ratio as possible. By setting the gate structure of the transistor 11b to a multi-gate structure that is equal to or higher than the dual gate structure, a characteristic with a high ON / OFF ratio can be realized.

図1の画素回路は、1画素内に4つのトランジスタ11を有している。駆動用トランジスタ11aのゲート端子はトランジスタ11bのソース端子に接続されている。トランジスタ11bおよびトランジスタ11cのゲート端子はゲート信号線17aに接続されている。トランジスタ11bのドレイン端子はトランジスタ11cのソース端子ならびにトランジスタ11dのソース端子に接続され、トランジスタ11cのドレイン端子はソース信号線18に接続されている。トランジスタ11dのゲート端子はゲート信号線17bに接続され、トランジスタ11dのドレイン端子はEL素子15のアノード電極に接続されている。   The pixel circuit in FIG. 1 has four transistors 11 in one pixel. The gate terminal of the driving transistor 11a is connected to the source terminal of the transistor 11b. The gate terminals of the transistors 11b and 11c are connected to the gate signal line 17a. The drain terminal of the transistor 11 b is connected to the source terminal of the transistor 11 c and the source terminal of the transistor 11 d, and the drain terminal of the transistor 11 c is connected to the source signal line 18. The gate terminal of the transistor 11d is connected to the gate signal line 17b, and the drain terminal of the transistor 11d is connected to the anode electrode of the EL element 15.

図1ではすべてのトランジスタはPチャンネルで構成している。Pチャンネルは多少Nチャンネルのトランジスタに比較してモビリティが低いが、耐圧が大きくまた劣化も発生しにくいので好ましい。しかし、本発明はEL素子構成をPチャンネルで構成することのみに限定するものではない。Nチャンネルのみで構成してもよい。また、NチャンネルとPチャンネルの両方を用いて構成してもよい。   In FIG. 1, all the transistors are configured by P-channel. The P channel has a lower mobility than an N channel transistor, but is preferable because it has a high breakdown voltage and is less likely to deteriorate. However, the present invention is not limited to the configuration of the EL element with the P channel. You may comprise only N channel. Moreover, you may comprise using both N channel and P channel.

パネルを低コストで作製するためには、画素を構成するトランジスタ11をすべてPチャンネルで形成し、内蔵ゲートドライバ回路12もPチャンネルで形成することが好ましい。このようにアレイをPチャンネルのみのトランジスタで形成することにより、マスク枚数が5枚となり、低コスト化、高歩留まり化を実現できる。   In order to manufacture a panel at low cost, it is preferable that all the transistors 11 constituting the pixel are formed with a P channel and the built-in gate driver circuit 12 is also formed with a P channel. By forming the array with only P-channel transistors in this way, the number of masks becomes five, and cost reduction and high yield can be realized.

ゲート信号線17bに印加するトランジスタ11dのオン電圧は、ゲート信号線17aに印加するトランジスタ11bのオン電圧よりも低くする。具体的にはゲート信号線17aに印加するオン電圧は−9Vであるが、ゲート信号線17bに印加するオン電圧は、−2〜0Vである。ゲート信号線17bに印加するトランジスタ11dのオン電圧を、ゲート信号線17aに印加するトランジスタ11bのオン電圧よりも低くすることにより、トランジスタ11dのリークが減少し良好な黒表示を実現できる。ゲート信号線17aと17bに印加するオフ電圧は同一にする。オフ電圧は8Vである。ゲート信号線17aと17bに印加するオフ電圧は同一にすることにより電源回路の構成が簡略化させる。   The on-voltage of the transistor 11d applied to the gate signal line 17b is set lower than the on-voltage of the transistor 11b applied to the gate signal line 17a. Specifically, the on-voltage applied to the gate signal line 17a is −9V, but the on-voltage applied to the gate signal line 17b is −2 to 0V. By making the on-voltage of the transistor 11d applied to the gate signal line 17b lower than the on-voltage of the transistor 11b applied to the gate signal line 17a, the leakage of the transistor 11d is reduced and a good black display can be realized. The off voltages applied to the gate signal lines 17a and 17b are the same. The off voltage is 8V. By making the off voltages applied to the gate signal lines 17a and 17b the same, the configuration of the power supply circuit is simplified.

図1のように画素16の駆動用トランジスタ11a、選択トランジスタ(11b、11c)がPチャンネルトランジスタの場合は、突き抜け電圧が発生する。これは、ゲート信号線17aの電位変動が、選択トランジスタ(11b、11c)のG−S容量(寄生容量)を介して、コンデンサ19の端子に突き抜けるためである。Pチャンネルトランジスタ11bがオフするときにはVgh電圧となる。そのため、コンデンサ19の端子電圧がVdd側に少しシフトする。そのため、トランジスタ11aのゲート(G)端子電圧は上昇し、より黒表示となる。したがって、良好な黒表示を実現できる。   As shown in FIG. 1, when the driving transistor 11a and the selection transistors (11b, 11c) of the pixel 16 are P-channel transistors, a punch-through voltage is generated. This is because the potential fluctuation of the gate signal line 17a penetrates to the terminal of the capacitor 19 through the GS capacitance (parasitic capacitance) of the selection transistors (11b, 11c). When the P-channel transistor 11b is turned off, the voltage becomes Vgh. Therefore, the terminal voltage of the capacitor 19 is slightly shifted to the Vdd side. For this reason, the gate (G) terminal voltage of the transistor 11a rises, resulting in a black display. Therefore, good black display can be realized.

以上の実施例は、トランジスタ11bのG−S容量(寄生容量)を介して、コンデンサ19の電位を変動させ、コンデンサ19の電位変動により、黒表示を良好にする構成である。しかし、本発明はこれに限定するものではない。たとえば、コンデンサ19bを素子で形成してもよいことは言うまでもない。コンデンサ19bはトランジスタ11のゲート信号線17を構成する電極層と、ソース信号線18を構成(形成)する電極層を2つの電極として形成することが好ましい。コンデンサ19bの容量はコンデンサ19aの容量の1/4以上1/1以下とすることが好ましい。   In the above embodiment, the potential of the capacitor 19 is changed via the GS capacitance (parasitic capacitance) of the transistor 11b, and the black display is improved by the potential change of the capacitor 19. However, the present invention is not limited to this. For example, it goes without saying that the capacitor 19b may be formed of an element. The capacitor 19b is preferably formed with two electrodes, an electrode layer constituting the gate signal line 17 of the transistor 11 and an electrode layer constituting (forming) the source signal line 18. The capacity of the capacitor 19b is preferably not less than 1/4 and not more than 1/1 of the capacity of the capacitor 19a.

コンデンサ19bなどによる突き抜け電圧のシフト量は一定であり、また、Vgh電圧、Vgl電圧が一定値であるからである。電流駆動方式(電流プログラム方式)では、低階調ではプログラム電流が小さくなり、ソース信号線18の寄生容量の充放電が困難である。しかし、コンデンサ19bになどよる突き抜け電圧を利用することにより、ソース信号線18に印加するプログラム電流を比較的大きくでき、駆動用トランジスタ11aがEL素子15に流す電流はプログラム電流よりも小さくすることができる。つまり、微小なプログラム電流を画素16に書き込むことができる。   This is because the amount of shift of the punch-through voltage due to the capacitor 19b or the like is constant, and the Vgh voltage and the Vgl voltage are constant values. In the current drive method (current program method), the program current becomes small at a low gradation, and it is difficult to charge and discharge the parasitic capacitance of the source signal line 18. However, the program current applied to the source signal line 18 can be made relatively large by using the punch-through voltage generated by the capacitor 19b, and the current that the driving transistor 11a passes through the EL element 15 can be made smaller than the program current. it can. That is, a minute program current can be written into the pixel 16.

逆に、突き抜け電圧を可変するには、Vgh電圧またはVgl電圧もしくはVgh電圧とVgl電圧の電位差を変化すればよい。たとえば、点灯率(後に説明する)に応じて、Vgh電圧、Vgl電圧を変化あるいは操作する駆動方法が例示される。また、コンデンサ19bの容量を変化すればよい。また、アノード電圧Vddを変化させればよい。たとえば、点灯率(後に説明する)に応じて、アノード電圧(Vdd)を変化あるいは操作する駆動方法が例示される。これらを変化あるいは変更することにより突き抜け電圧の大きさを制御でき、駆動用トランジスタ11aが流す電流量を制御でき、良好な黒表示を実現できる。   Conversely, in order to vary the punch-through voltage, the Vgh voltage, the Vgl voltage, or the potential difference between the Vgh voltage and the Vgl voltage may be changed. For example, a driving method of changing or operating the Vgh voltage and the Vgl voltage according to the lighting rate (described later) is exemplified. Moreover, what is necessary is just to change the capacity | capacitance of the capacitor | condenser 19b. Further, the anode voltage Vdd may be changed. For example, a driving method of changing or operating the anode voltage (Vdd) according to the lighting rate (described later) is exemplified. By changing or changing these, the magnitude of the punch-through voltage can be controlled, the amount of current flowing through the driving transistor 11a can be controlled, and good black display can be realized.

突き抜け電圧の大きさは階調番号によらず、一定値であるため、低階調領域では、相対的に減少するプログラム電流量の割合が大きくなる。したがって、低階調領域になるほど、良好な黒表示を実現できる。   Since the magnitude of the punch-through voltage is a constant value regardless of the gradation number, the ratio of the program current amount that decreases relatively increases in the low gradation area. Therefore, a better black display can be realized as the gradation is lower.

以下、さらに本発明の理解を容易にするために、本発明のEL素子構成について図8を用いて説明する。本発明のEL素子構成は2つのタイミングにより制御される。図8は図1の画素構成における動作の説明図である。第1のタイミングは必要な電流値を記憶させるタイミングである。このタイミングでトランジスタ11bならびにトランジスタ11cがONすることにより、等価回路として図8(a)となる。ここで、信号線より所定の電流Iwが書き込まれる。これによりトランジスタ11aはゲートとドレインが接続された状態となり、このトランジスタ11aとトランジスタ11cを通じて電流Iwが流れる。したがって、トランジスタ11aのゲート−ソースの電圧はI1が流れるような電圧となる。   Hereinafter, in order to facilitate understanding of the present invention, the EL element configuration of the present invention will be described with reference to FIG. The EL device configuration of the present invention is controlled by two timings. FIG. 8 is an explanatory diagram of the operation in the pixel configuration of FIG. The first timing is a timing for storing a necessary current value. When the transistor 11b and the transistor 11c are turned on at this timing, an equivalent circuit is shown in FIG. Here, a predetermined current Iw is written from the signal line. As a result, the gate and drain of the transistor 11a are connected, and a current Iw flows through the transistor 11a and the transistor 11c. Therefore, the gate-source voltage of the transistor 11a is a voltage at which I1 flows.

第2のタイミングはトランジスタ11aとトランジスタ11cが閉じ、トランジスタ11dが開くタイミングであり、そのときの等価回路は図8(b)となる。トランジスタ11aのソース−ゲート間の電圧は保持されたままとなる。この場合、トランジスタ11aは常に飽和領域で動作するため、Iwの電流は一定となる。   The second timing is a timing at which the transistor 11a and the transistor 11c are closed and the transistor 11d is opened, and the equivalent circuit at that time is shown in FIG. The voltage between the source and gate of the transistor 11a remains held. In this case, since the transistor 11a always operates in the saturation region, the current Iw is constant.

以上の動作を図示すると、図9に図示するようになる。図9(a)の61は、表示画面64における、ある時刻での電流プログラムされている画素(行)(書き込み画素行)を示している。画素(行)61は、非点灯(非表示画素(行))とする。また、スイッチング用トランジスタ11dがクローズし、EL素子15に電流が流れている(ただし、黒表示は流れない)領域は、表示領域63となる。また、スイッチング用トランジスタ11dがオープンの領域は、非表示領域62となる。   The above operation is illustrated in FIG. Reference numeral 61 in FIG. 9A denotes a pixel (row) (write pixel row) in which current is programmed at a certain time on the display screen 64. The pixel (row) 61 is not lit (non-display pixel (row)). Further, a region where the switching transistor 11d is closed and a current flows through the EL element 15 (however, black display does not flow) becomes a display region 63. The region where the switching transistor 11d is open is a non-display region 62.

図1の画素構成の場合は、図8(a)に示すように、電流プログラム時は、プログラム電流Iwがソース信号線18に流れる。この電流Iwが駆動用トランジスタ11aを流れ、プログラム電流Iwを流す電流が保持されるように、コンデンサ19に電圧設定(プログラム)される。または、駆動用トランジスタ11aのゲート端子にプログラム電流Iwを流す電流が流れるように電圧が保持される。このとき、トランジスタ11dはオープン状態(オフ状態)である。   In the case of the pixel configuration of FIG. 1, as shown in FIG. 8A, the program current Iw flows through the source signal line 18 during current programming. The voltage is set (programmed) in the capacitor 19 so that the current Iw flows through the driving transistor 11a and the current through which the program current Iw flows is held. Alternatively, the voltage is held such that a current that flows the program current Iw flows to the gate terminal of the driving transistor 11a. At this time, the transistor 11d is in an open state (off state).

次に、EL素子15に電流を流す期間は図8(b)のように、トランジスタ11c、11bがオフし、トランジスタ11dが動作する。つまり、ゲート信号線17aにオフ電圧(Vgh)が印加され、トランジスタ11b、11cがオフする。一方、ゲート信号線17bにオン電圧(Vgl)が印加され、トランジスタ11dがオンする。   Next, during a period in which a current flows through the EL element 15, the transistors 11c and 11b are turned off and the transistor 11d is operated as shown in FIG. 8B. That is, the off voltage (Vgh) is applied to the gate signal line 17a, and the transistors 11b and 11c are turned off. On the other hand, an on voltage (Vgl) is applied to the gate signal line 17b, and the transistor 11d is turned on.

図9の駆動方法のタイミングチャートを図10に図示する。図10でわかるように、各選択された画素行(選択期間は、1Hとしている)において、ゲート信号線17aにオン電圧(Vgl)が印加されている時(図10(a)を参照)には、ゲート信号線17bにはオフ電圧(Vgh)が印加されている(図10(b)を参照)。この期間は、EL素子15には電流が流れていない(非点灯状態)。   A timing chart of the driving method of FIG. 9 is shown in FIG. As can be seen from FIG. 10, in each selected pixel row (the selection period is 1H), when the on-voltage (Vgl) is applied to the gate signal line 17a (see FIG. 10A). In FIG. 10, an off voltage (Vgh) is applied to the gate signal line 17b (see FIG. 10B). During this period, no current flows through the EL element 15 (non-lighting state).

選択されていない画素行において、ゲート信号線17aにオフ電圧(Vgh)が印加され、ゲート信号線17bにはオン電圧(Vgl)が印加されている。また、この期間は、EL素子15に電流が流れている(点灯状態)。また、点灯状態では、EL素子15は所定のN倍の輝度(N・B)で点灯し、その点灯期間は1F/Nである。したがって、1Fを平均した表示パネルの表示輝度は、(N・B)×(1/N)=B(所定輝度)となる。なお、Nは1以上であればいずれの値でもよい。もちろん、N=1とし、書き込み画素行61以外を表示(点灯)領域63としてもよいことは言うまでもない。   In an unselected pixel row, an off voltage (Vgh) is applied to the gate signal line 17a, and an on voltage (Vgl) is applied to the gate signal line 17b. Further, during this period, a current flows through the EL element 15 (lighting state). In the lighting state, the EL element 15 is lit with a predetermined N times luminance (N · B), and the lighting period is 1 F / N. Therefore, the display luminance of the display panel that averages 1F is (N · B) × (1 / N) = B (predetermined luminance). N may be any value as long as N is 1 or more. Of course, it is needless to say that N = 1 and the display (lighting) region 63 other than the writing pixel row 61 may be used.

つぎに、図11を用いて、本発明のEL表示パネルで使用する電源(電圧)について説明をする。ゲートドライバ回路12は、バッファ回路82とシフトレジスタ回路81で構成される。バッファ回路82はオフ電圧(Vgh)とオン電圧(Vgl)を電源電圧として使用する。一方、シフトレジスタ回路81はシフトレジスタの電源VGDDとグラント(GND)電圧を使用し、また、入力信号(CLK、UD、ST)の反転信号を発生させるためのVREF電圧を使用する。また、ソースドライバ回路(IC)14は、電源電圧Vsとグランド(GND)電圧を使用する。   Next, a power supply (voltage) used in the EL display panel of the present invention will be described with reference to FIG. The gate driver circuit 12 includes a buffer circuit 82 and a shift register circuit 81. The buffer circuit 82 uses the off voltage (Vgh) and the on voltage (Vgl) as power supply voltages. On the other hand, the shift register circuit 81 uses the power supply VGDD and the grant (GND) voltage of the shift register, and also uses the VREF voltage for generating an inverted signal of the input signals (CLK, UD, ST). The source driver circuit (IC) 14 uses a power supply voltage Vs and a ground (GND) voltage.

ゲートドライバ回路12aは、シフトレジスタ回路81aとバッファ回路82を具備している。したがって、ゲートドライバ回路12aはゲート信号線17aをオンオフ制御する。ゲート信号線17bは、用のシフトレジスタ回路81b(図示せず)とバッファ回路82(図示せず)を内蔵する。なお、説明を容易にするため、画素構成は図1を例にあげて説明をする。   The gate driver circuit 12a includes a shift register circuit 81a and a buffer circuit 82. Therefore, the gate driver circuit 12a controls on / off of the gate signal line 17a. The gate signal line 17b incorporates a shift register circuit 81b (not shown) and a buffer circuit 82 (not shown). For ease of explanation, the pixel configuration will be described using FIG. 1 as an example.

各シフトレジスタ回路81は正相と負相のクロック信号CLKx(CLKxP、CLKxN)、スタートパルス(STx)で制御される。なお、xは添え字である。その他、ゲート信号線の出力、非出力を制御するイネーブル(ENBL)信号、シフト方向を上下逆転するアップダウン(UD)信号を付加することが好ましい。他に、スタートパルスがシフトレジスタ回路81にシフトされ、そして出力されていることを確認する出力端子などを設けることが好ましい。   Each shift register circuit 81 is controlled by positive and negative phase clock signals CLKx (CLKxP, CLKxN) and a start pulse (STx). Note that x is a subscript. In addition, it is preferable to add an enable (ENBL) signal for controlling the output and non-output of the gate signal line and an up / down (UD) signal for reversing the shift direction. In addition, it is preferable to provide an output terminal for confirming that the start pulse is shifted to the shift register circuit 81 and output.

シフトレジスタ回路81のシフトタイミングはコントロールIC722(後述する)からの制御信号で制御される。また、外部データのレベルシフトを行うレベルシフト回路81を内蔵する。なお、クロック信号は正相のみとしてもよい。正相のみのクロック信号とすることにより信号線数が削減でき、狭額縁化を実現できる。   The shift timing of the shift register circuit 81 is controlled by a control signal from a control IC 722 (described later). A level shift circuit 81 for shifting the level of external data is also incorporated. Note that the clock signal may have only a positive phase. By using only positive phase clock signals, the number of signal lines can be reduced, and a narrow frame can be realized.

シフトレジスタ回路81のバッファ容量は小さいため、直接にはゲート信号線17を駆動することができない。そのため、シフトレジスタ回路81の出力とゲート信号線17を駆動する出力ゲート間には少なくとも2つ以上のインバータ回路が形成されている。   Since the buffer capacity of the shift register circuit 81 is small, the gate signal line 17 cannot be driven directly. For this reason, at least two or more inverter circuits are formed between the output of the shift register circuit 81 and the output gate for driving the gate signal line 17.

ここで理解を容易にするため、電圧値を規定する。まず、アノード電圧Vddを6(V)とし、カソード電圧Vssを−9(V)とする(図1などを参照のこと)。GND電圧は0(V)とし、ソースドライバ回路のVs電圧はVdd電圧と同一の6(V)とする。Vgh1とVgh2電圧はVddより0.5(V)以上3.0(V)以下とすることが好ましい。ここでは、Vgh1=Vgh2=8(V)とする。   Here, in order to facilitate understanding, a voltage value is defined. First, the anode voltage Vdd is set to 6 (V), and the cathode voltage Vss is set to −9 (V) (see FIG. 1 and the like). The GND voltage is 0 (V), and the Vs voltage of the source driver circuit is 6 (V), which is the same as the Vdd voltage. The Vgh1 and Vgh2 voltages are preferably 0.5 (V) to 3.0 (V) from Vdd. Here, Vgh1 = Vgh2 = 8 (V).

ゲートドライバ回路12のVgl1は、図1のトランジスタ11cのオン抵抗を十分に小さくするため、低くする必要がある。ここでは、回路構成を容易にするため、Vgh1と絶対値が逆であるVgl1=−8(V)にする。VGDD電圧は、Vghよりも低く、GND電圧よりも高くする必要がある。ここでは、発生電圧回路を容易にし、回路コストを低減するため、Vgh電圧の1/2の4(V)にする。一方で、Vgl2電圧は、余り低くすると、トランジスタ11bのリークを発生する危険性があるため、したがって、VGDD電圧とVgl1電圧の中間電圧にすることが好ましい。ここでは、電圧回路を容易にし、回路コストを低減するため、VGDD電圧と絶対値が等しく、また反対極性である−4(V)にする。   Vgl1 of the gate driver circuit 12 needs to be lowered in order to sufficiently reduce the on-resistance of the transistor 11c in FIG. Here, in order to facilitate the circuit configuration, Vgl1 = −8 (V) whose absolute value is opposite to Vgh1 is set. The VGDD voltage needs to be lower than Vgh and higher than the GND voltage. Here, in order to facilitate the generated voltage circuit and reduce the circuit cost, it is set to 4 (V) which is 1/2 of the Vgh voltage. On the other hand, if the Vgl2 voltage is too low, there is a risk of leakage of the transistor 11b. Therefore, it is preferable that the Vgl2 voltage be an intermediate voltage between the VGDD voltage and the Vgl1 voltage. Here, in order to facilitate the voltage circuit and reduce the circuit cost, the VGDD voltage is set to -4 (V) having the same absolute value and the opposite polarity.

以上の実施例は、主としてシリコンチップからなるICでソースドライバ回路(IC)14を構成するものであった。しかし、本発明はこれに限定するものではなく、アレイ基板30に直接にポリシリコン技術(CGS技術、低温ポリシリコン技術、高温ポリシリコン技術など)を用いて出力段回路91など(ポリリシコン電流保持回路92)を形成または構成してもよい。   In the above embodiment, the source driver circuit (IC) 14 is configured by an IC mainly composed of a silicon chip. However, the present invention is not limited to this, and the output stage circuit 91 or the like (polysilicon current holding circuit) using polysilicon technology (CGS technology, low temperature polysilicon technology, high temperature polysilicon technology, etc.) directly on the array substrate 30. 92) may be formed or configured.

図12はその実施例である。R、G、Bの出力段回路91(R用は91R、G用は91G、B用は91B)と、RGBの出力段回路91を選択するスイッチSがポリシリコン技術で形成(構成)されている。スイッチSは1H期間を時分割して動作する。基本的には、スイッチSは、1Hの1/3期間がRの出力段回路91Rに接続され、1Hの1/3期間がGの出力段回路91Gに接続され、残りの1Hの1/3期間がBの出力段回路91Bに接続される。   FIG. 12 shows an embodiment thereof. An output stage circuit 91 for R, G, and B (91R for R, 91G for G, and 91B for B) and a switch S for selecting the RGB output stage circuit 91 are formed (configured) by polysilicon technology. Yes. The switch S operates by time-sharing the 1H period. Basically, the switch S is connected to the R output stage circuit 91R during the 1/3 period of 1H, is connected to the G output stage circuit 91G during the 1/3 period of 1H, and the remaining 1/3 period of 1H. The period is connected to the B output stage circuit 91B.

図12に図示するように、シフトレジスタ回路、サンプリング回路などを有するソースドライバ(回路)14は、出力端子93でソース信号線18と接続される。ポリシリコンからなるスイッチSが時分割で切り換えられ、出力段回路91RGBに接続される。出力段回路91RGBはRGBの映像データからなる電流が保持される。なお、図12ではポリリシコン電流保持回路92は1段分しか図示していないが、実際には2段構成されていることは言うまでもない。   As shown in FIG. 12, a source driver (circuit) 14 having a shift register circuit, a sampling circuit, and the like is connected to a source signal line 18 at an output terminal 93. The switch S made of polysilicon is switched in a time division manner and connected to the output stage circuit 91RGB. The output stage circuit 91RGB holds a current made up of RGB video data. In FIG. 12, only one stage of the polysilicon current holding circuit 92 is shown, but it is needless to say that it is actually composed of two stages.

図12では、スイッチSは、1Hの1/3期間がRの出力段回路91Rに接続され、1Hの1/3期間がGの出力段回路91Gに接続され、残りの1Hの1/3期間がBの出力段回路91Bに接続されると説明したが本発明はこれに限定するものではない。R、G、Bを選択する期間は異なっていてもよい。これは、R、G、Bのプログラム電流Iwの大きさが異なっているためである。R、G、BでEL素子15の効率が異なるため、R、G、Bでプログラム電流の大きさが異なる。プログラム電流の大きさが小さいと、ソース信号線18の寄生容量の影響を受けやすいため、プログラム電流の印加期間を長くし、十分にソース信号線18の寄生容量の充放電期間を確保する必要がある。一方で、ソース信号線18の寄生容量の大きさは、R、G、Bで同一であることが多い。   In FIG. 12, the switch S is connected to the R output stage circuit 91R for the 1/3 period of 1H, the 1/3 period of 1H is connected to the G output stage circuit 91G, and the remaining 1/3 period of 1H. Is connected to the B output stage circuit 91B, but the present invention is not limited to this. The period for selecting R, G, and B may be different. This is because the R, G, and B program currents Iw are different in magnitude. Since the efficiency of the EL element 15 differs between R, G, and B, the magnitude of the program current differs between R, G, and B. If the magnitude of the program current is small, it is likely to be affected by the parasitic capacitance of the source signal line 18. Therefore, it is necessary to lengthen the application period of the program current and sufficiently ensure the charge / discharge period of the parasitic capacitance of the source signal line 18. is there. On the other hand, the parasitic capacitance of the source signal line 18 is often the same for R, G, and B.

以上の実施例では、RGBそれぞれに対応する画素16を同時に走査する構成であった。本発明はこの構成に限定するものではない。フレーム(フィールド)ないで、RGBを個別に選択して画像表示を行っても良い。図12はその実施例である。   In the above embodiment, the configuration is such that the pixels 16 corresponding to RGB are simultaneously scanned. The present invention is not limited to this configuration. An image may be displayed by individually selecting RGB without a frame (field). FIG. 12 shows an embodiment thereof.

図12(a)は1フレーム(1フィールド)期間にR表示領域63R、G表示領域63G、B表示領域63Bを画面の上から下方向(下方向から上方向でもよい)に走査する。RGBの表示領域以外の領域は非表示領域62とする。つまり、間欠駆動を実施する。R、G、Bの表示領域63は個別に間欠表示が実施される。   In FIG. 12A, the R display area 63R, the G display area 63G, and the B display area 63B are scanned from the top to the bottom of the screen (or from the bottom to the top) in one frame (one field) period. An area other than the RGB display area is a non-display area 62. That is, intermittent driving is performed. R, G, and B display areas 63 are individually intermittently displayed.

図12(b)は1フィールド(1フレーム)期間にR、G、B表示領域63を複数発生するように実施した実施例である。図12(b)に示すように表示領域63を複数に分割することにより、フリッカの発生は、低フレームレートでも発生しない。   FIG. 12B shows an embodiment in which a plurality of R, G, and B display areas 63 are generated in one field (one frame) period. By dividing the display area 63 into a plurality of parts as shown in FIG. 12B, flicker does not occur even at a low frame rate.

図14(a)は、各RGBの表示領域63の面積を異ならせたものである。なお、表示領域63の面積は点灯期間に比例することは言うまでもない。図14(a)では、R表示領域63RとG表示領域63Gと面積を同一にしている。G表示領域63GよりB表示領域63Bの面積を大きくしている。   FIG. 14A shows different display areas 63 for each RGB. Needless to say, the area of the display region 63 is proportional to the lighting period. In FIG. 14A, the R display area 63R and the G display area 63G have the same area. The area of the B display area 63B is made larger than that of the G display area 63G.

有機EL表示パネルでは、Bの発光効率が悪い場合が多い。図14(a)のようにB表示領域63Bを他の色の表示領域63よりも大きくすることにより、効率よくホワイトバランスをとることができるようになる。また、R、G、B表示領域63の面積を変化させることにより、ホワイトバランス調整、色温度調整を容易に実現できる。   In organic EL display panels, the light emission efficiency of B is often poor. As shown in FIG. 14A, by making the B display area 63B larger than the display areas 63 of other colors, white balance can be efficiently achieved. Also, white balance adjustment and color temperature adjustment can be easily realized by changing the area of the R, G, B display area 63.

図14(b)は、1フィールド(フレーム)期間で、B表示期間63Bが複数(63B1、63B2)となるようにした実施例である。図14(a)は1つのB表示領域63Bを変化させる方法であった。変化させることによりホワイトバランスを良好に調整できるようにする。図14(b)は、同一面積のB表示領域63Bを複数表示させることにより、ホワイトバランス調整(補正)を良好にする。また、色温度補正(調整)を良好にする。たとえば、屋外と屋内で色温度を変化させることは有効である。たとえば、屋内では、色温度を低下させ、屋外では色温度を高くする。   FIG. 14B shows an example in which the B display period 63B is plural (63B1, 63B2) in one field (frame) period. FIG. 14A shows a method of changing one B display area 63B. By changing it, the white balance can be adjusted well. FIG. 14B improves white balance adjustment (correction) by displaying a plurality of B display regions 63B having the same area. In addition, color temperature correction (adjustment) is improved. For example, it is effective to change the color temperature outdoors and indoors. For example, the color temperature is decreased indoors and the color temperature is increased outdoors.

図14(a)と図14(b)とは組み合わせてもよいことはいうまでもない。たとえば、図14(a)のRGBの表示面積63を変化し、かつ図14(b)のRGBの表示領域63を複数発生させる駆動方法の実施である。   Needless to say, FIG. 14A and FIG. 14B may be combined. For example, a drive method is implemented in which the RGB display area 63 in FIG. 14A is changed and a plurality of RGB display areas 63 in FIG. 14B are generated.

図9では表示領域63を1つにした方式である。しかし、本発明はこれに限定するものではない。たとえば、図15に図示するように、表示領域63と非表示領域62とを複数に分散させてもよい。   In FIG. 9, the display area 63 is integrated into one. However, the present invention is not limited to this. For example, as shown in FIG. 15, the display area 63 and the non-display area 62 may be dispersed in a plurality.

また、図15に図示するように、間欠する間隔(非表示領域62/表示領域63)は等間隔に限定するものではない。たとえば、ランダムでもよい(全体として、表示期間もしくは非表示期間が所定値(一定割合)となればよい)。また、RGBで異なっていてもよい。つまり、白(ホワイト)バランスが最適になるように、R、G、B表示期間もしくは非表示期間が所定値(一定割合)となるように調整(設定)すればよい。   Further, as illustrated in FIG. 15, the intermittent interval (non-display area 62 / display area 63) is not limited to an equal interval. For example, it may be random (as a whole, the display period or the non-display period may be a predetermined value (a constant ratio)). Also, it may be different for RGB. That is, it is only necessary to adjust (set) the R, G, B display period or the non-display period to a predetermined value (a constant ratio) so that the white balance is optimal.

非表示領域62とは、ある時刻において非点灯EL素子15の画素16領域である。表示領域63とは、ある時刻において点灯EL素子15の画素16領域である。非表示領域62、表示領域63は、水平同期信号に同期して、1画素行ずつ位置がシフトしていく。   The non-display area 62 is a pixel 16 area of the non-lighting EL element 15 at a certain time. The display area 63 is the pixel 16 area of the lighting EL element 15 at a certain time. The positions of the non-display area 62 and the display area 63 are shifted by one pixel row in synchronization with the horizontal synchronization signal.

本発明の駆動方法の説明を容易にするため、1/Nとは、1F(1フィールドまたは1フレーム)を基準にしてこの1Fを1/Nにするとして説明する。しかし、1画素行が選択され、電流値がプログラムされる時間(通常、1水平走査期間(1H))があるし、また、走査状態によっては誤差も生じることは言うまでもない。もちろん、ゲート信号線17aからの突き抜け電圧によっても、理想状態から変化する。ここでは説明を容易にするため、理想状態として説明をする。   In order to facilitate the description of the driving method of the present invention, 1 / N is described on the assumption that 1F is set to 1 / N on the basis of 1F (one field or one frame). However, there is a time during which one pixel row is selected and the current value is programmed (usually, one horizontal scanning period (1H)), and it goes without saying that an error may occur depending on the scanning state. Of course, it changes from the ideal state also by the penetration voltage from the gate signal line 17a. Here, in order to facilitate the description, the description will be made in an ideal state.

液晶表示パネルは、1F(1フィールドあるいは1フレーム)の期間の間は、画素に書き込んだ電流(電圧)を保持する。そのため、動画表示を行うと表示画像の輪郭ぼけが発生するという課題が発生する。   The liquid crystal display panel holds the current (voltage) written to the pixel for a period of 1F (one field or one frame). For this reason, when a moving image is displayed, there is a problem that the outline of the display image is blurred.

有機(無機)EL表示パネル(表示装置)も1F(1フィールドあるいは1フレーム)の期間の間は、画素に書き込んだ電流(電圧)を保持する。したがって、液晶表示パネルと同様の課題が発生する。一方、CRTのように電子銃で線表示の集合として画像を表示するディスプレイは、人間の眼の残像特性を用いて画像表示を行うため、動画表示画像の輪郭ぼけは発生しない。   The organic (inorganic) EL display panel (display device) also holds the current (voltage) written in the pixel during the period of 1F (one field or one frame). Therefore, the same problem as the liquid crystal display panel occurs. On the other hand, a display that displays an image as a set of line displays with an electron gun, such as a CRT, displays an image using the afterimage characteristics of the human eye, so that the outline blur of a moving image display image does not occur.

本発明の駆動方法では、1F/Nの期間の間だけ、EL素子15に電流を流し、他の期間(1F(N−1)/N)は電流を流さない。本発明の駆動方式を実施し画面の一点を観測した場合を考える。この表示状態では1Fごとに画像データ表示、黒表示(非点灯)が繰り返し表示される。つまり、画像データ表示状態が時間的に間欠表示状態となる。動画データ表示を、間欠表示状態でみると画像の輪郭ぼけがなくなり良好な表示状態を実現できる。つまり、CRTに近い動画表示を実現することができる。   In the driving method of the present invention, current is passed through the EL element 15 only during the period of 1F / N, and no current is passed during the other period (1F (N-1) / N). Consider a case where the driving method of the present invention is implemented and one point on the screen is observed. In this display state, image data display and black display (non-lighting) are repeatedly displayed every 1F. That is, the image data display state is intermittently displayed over time. When the moving image data display is viewed in the intermittent display state, the outline of the image is not blurred and a good display state can be realized. That is, a moving image display close to a CRT can be realized.

本発明の駆動方法では、図6、図14に図示するように間欠表示実施することができる。しかし、間欠表示を実施するにあたり、トランジスタ11dは最大でも1H周期でオンオフ制御するだけでよい。したがって、回路のメインクロックは従来と変わらないため、回路の消費電力が増加することもない。液晶表示パネルでは、間欠表示を実現するために画像メモリが必要である。本発明は、画像データは各画素16に保持されている。そのため、本発明の駆動方法において、間欠表示を実施するための画像メモリは不要である。   In the driving method of the present invention, intermittent display can be performed as shown in FIGS. However, when performing intermittent display, the transistor 11d only needs to be on / off controlled at a maximum of 1H period. Therefore, the main clock of the circuit is not different from the conventional one, and the power consumption of the circuit does not increase. In the liquid crystal display panel, an image memory is necessary to realize intermittent display. In the present invention, image data is held in each pixel 16. Therefore, in the driving method of the present invention, an image memory for performing intermittent display is unnecessary.

本発明の駆動方法はスイッチングのトランジスタ11d(図1などを参照のこと)などをオンオフさせるだけでEL素子15に流す電流を制御する。つまり、EL素子15に流れる電流Iwをオフしても、画像データはそのまま画素16のコンデンサ19の保持されている。したがって、次のタイミングでスイッチング素子11dなどをオンさせ、EL素子15に電流を流せば、その流れる電流は前に流れていた電流値と同一である。   The driving method of the present invention controls the current passed through the EL element 15 simply by turning on and off the switching transistor 11d (see FIG. 1 and the like). That is, even if the current Iw flowing through the EL element 15 is turned off, the image data is held in the capacitor 19 of the pixel 16 as it is. Therefore, if the switching element 11d and the like are turned on at the next timing and a current flows through the EL element 15, the flowing current is the same as the previously flowing current value.

本発明では黒挿入(黒表示などの間欠表示)を実現する際においても、回路のメインクロックをあげる必要がない。また、時間軸伸張を実施する必要もないための画像メモリも不要である。また、有機EL素子15は電流を印加してから発光するまでの時間が短く、高速に応答する。そのため、動画表示に適し、さらに間欠表示を実施することのより従来のデータ保持型の表示パネル(液晶表示パネル、EL表示パネルなど)の問題である動画表示の問題を解決できる。   In the present invention, it is not necessary to increase the main clock of the circuit even when black insertion (intermittent display such as black display) is realized. Further, there is no need for an image memory because it is not necessary to perform time axis expansion. Further, the organic EL element 15 has a short time from application of current to light emission, and responds at high speed. Therefore, it is suitable for moving image display and can solve the problem of moving image display, which is a problem of conventional data retention type display panels (liquid crystal display panel, EL display panel, etc.) by performing intermittent display.

さらに、大型の表示装置でソース信号線18の配線長が長くなり、ソース信号線18の寄生容量が大きくなる場合は、N値を大きくすることのより対応できる。ソース信号線18に印加するプログラム電流値をN倍にした場合、ゲート信号線17b(トランジスタ11d)の導通期間を1F/Nとすればよい。これによりテレビ、モニターなどの大型表示装置などにも適用が可能である。   Further, when the wiring length of the source signal line 18 is increased and the parasitic capacitance of the source signal line 18 is increased in a large display device, it is possible to cope with the problem by increasing the N value. When the program current value applied to the source signal line 18 is increased N times, the conduction period of the gate signal line 17b (transistor 11d) may be set to 1 F / N. Accordingly, the present invention can be applied to large display devices such as televisions and monitors.

電流駆動では特に黒レベルの画像表示では20nA以下の微小電流で画素のコンデンサ19をプログラムする必要がある。したがって、寄生容量が所定値以上の大きさで発生すると、1画素行にプログラムする時間(基本的には1H以内である。ただし、本発明は2画素行などの複数画素を同時に書き込む場合もあるので1H以内に限定されるものではない。)内に寄生容量を充放電することができない。1H期間で充放電できなれば、画素への書き込み不足となり、解像度がでない。   In current driving, it is necessary to program the capacitor 19 of the pixel with a very small current of 20 nA or less, particularly for black level image display. Accordingly, when the parasitic capacitance is generated with a magnitude greater than a predetermined value, the time for programming to one pixel row (basically within 1H. However, in the present invention, a plurality of pixels such as two pixel rows may be written simultaneously. Therefore, it is not limited to within 1H.) The parasitic capacitance cannot be charged and discharged within. If charging / discharging is not possible in the 1H period, writing into the pixel is insufficient and the resolution is not high.

図1の画素構成の場合、図5(a)に示すように、電流プログラム時は、プログラム電流Iwがソース信号線18に流れる。この電流Iwがトランジスタ11aを流れ、Iwを流す電流が保持されるように、コンデンサ19に電圧設定(プログラム)される。このとき、トランジスタ11dはオープン状態(オフ状態)である。   In the case of the pixel configuration of FIG. 1, as shown in FIG. 5A, the program current Iw flows through the source signal line 18 during current programming. The voltage is set (programmed) in the capacitor 19 so that the current Iw flows through the transistor 11a and the current flowing through Iw is maintained. At this time, the transistor 11d is in an open state (off state).

次に、EL素子15に電流を流す期間は図5(b)のように、トランジスタ11c、11bがオフし、トランジスタ11dが動作する。つまり、ゲート信号線17aにオフ電圧(Vgh)が印加され、トランジスタ11b、11cがオフする。一方、ゲート信号線17bにオン電圧(Vgl)が印加され、トランジスタ11dがオンする。   Next, during a period in which a current flows through the EL element 15, the transistors 11c and 11b are turned off and the transistor 11d is operated as shown in FIG. That is, the off voltage (Vgh) is applied to the gate signal line 17a, and the transistors 11b and 11c are turned off. On the other hand, an on voltage (Vgl) is applied to the gate signal line 17b, and the transistor 11d is turned on.

なお、本発明は、画素構成が電流プログラム方式のみに限定されない。たとえば、図2のような電圧プログラム方式の画素構成にも適用できる。1フレーム(フィールド)の所定期間を高い輝度で表示し、他の期間を非点灯状態にすることが、電圧駆動方式においても、動画表示性能の向上などに有効だからである。また、電圧駆動方式においても、ソース信号線18の寄生容量の影響は無視できない。特に大型EL表示パネルにおいて、寄生容量が大きいため、本発明の駆動方法を実施することは効果がある。以上の事項は、本発明の他の実施例においても同様である。   In the present invention, the pixel configuration is not limited to the current program method. For example, the present invention can also be applied to a voltage-programmed pixel configuration as shown in FIG. This is because displaying a predetermined period of one frame (field) with high luminance and turning off the other period is effective in improving the moving image display performance even in the voltage driving method. Even in the voltage drive system, the influence of the parasitic capacitance of the source signal line 18 cannot be ignored. Particularly in a large EL display panel, since the parasitic capacitance is large, it is effective to implement the driving method of the present invention. The above matters also apply to other embodiments of the present invention.

図6(b)に図示するように、書き込み画素行61aを含む画素行が非点灯領域62とし、書き込み画素行61aよりも上画面のS/N(時間的には1F/N)の範囲を表示領域63とする(書き込み走査が画面の上から下方向の場合、画面を下から上に走査する場合は、その逆となる)。画像表示状態は、表示領域63が帯状になって、画面の上から下に移動する。   As shown in FIG. 6B, the pixel row including the writing pixel row 61a is a non-lighting region 62, and the S / N (1F / N in terms of time) range of the upper screen from the writing pixel row 61a is set. The display area 63 is used (when the writing scan is from the top to the bottom of the screen, the opposite is true when the screen is scanned from the bottom to the top). In the image display state, the display area 63 has a band shape and moves from the top to the bottom of the screen.

図6の表示では、1つの表示領域63が画面の上から下方向に移動する。フレームレートが低いと、表示領域63が移動するのが視覚的に認識される。特に、まぶたを閉じた時、あるいは顔を上下に移動させた時などに認識されやすくなる。   In the display of FIG. 6, one display area 63 moves downward from the top of the screen. When the frame rate is low, it is visually recognized that the display area 63 moves. In particular, it becomes easier to recognize when the eyelid is closed or when the face is moved up and down.

この課題に対しては、図15に図示するように、表示領域63を複数に分割するとよい。この分割された総和がS(N−1)/Nの面積となれば、図6の明るさと同等になる。なお、分割された表示領域63は等しく(等分に)する必要はない。また、分割された非表示領域62も等しくする必要はない。   For this problem, the display area 63 may be divided into a plurality of parts as shown in FIG. If the divided sum is an area of S (N-1) / N, it is equivalent to the brightness of FIG. Note that the divided display areas 63 do not have to be equal (equally divided). Further, the divided non-display areas 62 need not be equal.

以上のように、表示領域63を複数に分割することにより画面のちらつきは減少する。したがって、フリッカの発生はなく、良好な画像表示を実現できる。なお、分割はもっと細かくしてもよい。しかし、分割するほど動画表示性能は低下する。   As described above, screen flickering is reduced by dividing display area 63 into a plurality of parts. Therefore, no flicker occurs and a good image display can be realized. The division may be made finer. However, the moving image display performance decreases as it is divided.

図6のように、非表示領域62を一括で挿入する方式では、外光との干渉によるフリッカが発生しやすい。たとえば、外光の蛍光灯の周波数が60Hzで、表示パネルの1フレームが60Hzのように、一致あるいは近似するときに、干渉が発生する。また、カソード電極36での外光反射による干渉も問題となる。この課題は、以下に説明するように、表示パネルの非表示領域62もしくは表示領域63の1サイクルが、外光(蛍光灯)の点滅サイクルに一致しないようにすることで解決する。表示パネルの非表示領域の1サイクルが、外光(蛍光灯)の点滅サイクルに一致しないようにすることで解決する。   As shown in FIG. 6, in the method of inserting the non-display area 62 in a lump, flicker due to interference with external light tends to occur. For example, interference occurs when the frequency of a fluorescent lamp of external light is 60 Hz and one frame of the display panel is matched or approximated to 60 Hz. Further, interference due to external light reflection at the cathode electrode 36 also becomes a problem. As described below, this problem is solved by making one cycle of the non-display area 62 or the display area 63 of the display panel not coincide with the blinking cycle of external light (fluorescent lamp). The problem is solved by making one cycle of the non-display area of the display panel not coincide with the blinking cycle of the external light (fluorescent lamp).

本発明は、非表示または表示領域制御を、画素行に映像データを書き込む書きこみ周期と独立制御することにより実現できる。つまり、画素行に映像データを書き込むゲートドライバ12aと、非表示または表示領域制御するゲートドライバ12bとを具備することにより実現できる。もしくは、EL素子15と駆動用トランジスタ11a間に供給電流をオンオフ制御できるスイッチ用トランジスタ11dなどを具備することにより実現できる。   According to the present invention, non-display or display area control can be realized by independently controlling the writing cycle in which video data is written in a pixel row. That is, it can be realized by including a gate driver 12a for writing video data in a pixel row and a gate driver 12b for non-display or display area control. Alternatively, this can be realized by providing a switching transistor 11d or the like that can control the supply current between the EL element 15 and the driving transistor 11a.

したがって、電流プログラム方式の1つであるカレントミラー方式であっても、図16に図示するように、駆動用トランジスタ11bとEL素子15間にスイッチング素子としてのトランジスタ11eを形成または配置することにより、EL素子15に流れる電流をオンオフすることができる。したがって、前述の駆動方式を実現できる。また、図17(a)(b)(c)にも適用できることは言うまでもない。図17(a)ではスイッチング用トランジスタ11dをオンオフ制御する。図17(b)ではスイッチング用トランジスタ11e、11fのうち少なくとも一方をオンオフ制御する。図17(c)ではインバータ回路6061をオンオフ制御(Hレベル、Lレベル制御)する。また、図1の画素構成の変形である図18にも適用できることはいうまでもない。スイッチング用トランジスタ11dをオンオフ制御する。   Therefore, even in the current mirror method which is one of the current programming methods, as shown in FIG. 16, by forming or arranging the transistor 11e as a switching element between the driving transistor 11b and the EL element 15, The current flowing through the EL element 15 can be turned on / off. Therefore, the above driving method can be realized. Needless to say, the present invention can also be applied to FIGS. 17 (a), 17 (b), and 17 (c). In FIG. 17A, the switching transistor 11d is on / off controlled. In FIG. 17B, at least one of the switching transistors 11e and 11f is on / off controlled. In FIG. 17C, the inverter circuit 6061 is on / off controlled (H level and L level control). Needless to say, the present invention can also be applied to FIG. 18, which is a modification of the pixel configuration of FIG. The on / off control of the switching transistor 11d is performed.

図1などで説明した画素構成では、駆動用トランジスタ11aは各画素16に1つの構成である。しかし、本発明において、駆動用トランジスタ11aは1つに限定されるものでなない。たとえば、図19の画素構成が例示される。   In the pixel configuration described with reference to FIG. 1 and the like, the driving transistor 11 a has one configuration for each pixel 16. However, in the present invention, the driving transistor 11a is not limited to one. For example, the pixel configuration of FIG. 19 is illustrated.

図19は画素16を構成するトランジスタ数を6個とし、プログラム用トランジスタ11anはトランジスタ11b2とトランジスタ11cの2個のトランジスタを経由してソース信号線18に接続されるように構成し、駆動用トランジスタ11a1はトランジスタ11b1とトランジスタ11cの2個のトランジスタを経由してソース信号線18に接続されるように構成した実施例である。   In FIG. 19, the number of transistors constituting the pixel 16 is six, and the program transistor 11an is configured to be connected to the source signal line 18 via the two transistors 11b2 and 11c. 11a1 is an embodiment configured to be connected to the source signal line 18 via two transistors 11b1 and 11c.

図19において、駆動用トランジスタ11a1のゲート端子とプログラム用トランジスタ11anのゲート端子とを共通にしている。トランジスタ11b1は電流プログラム時に駆動用トランジスタ11a1のドレイン端子とゲート端子とを短絡するように動作する。トランジスタ11b2は電流プログラム時にプログラム用トランジスタ11anのドレイン端子とゲート端子とを短絡するように動作する。   In FIG. 19, the gate terminal of the driving transistor 11a1 and the gate terminal of the programming transistor 11an are made common. The transistor 11b1 operates so as to short-circuit the drain terminal and the gate terminal of the driving transistor 11a1 during current programming. The transistor 11b2 operates so as to short-circuit the drain terminal and the gate terminal of the programming transistor 11an during current programming.

なお、図19において、駆動用トランジスタ11a1、トランジスタ11anと各1個のように図示しているが、本発明はこれに限定するものではない。たとえば、駆動用トランジスタ11a1を2個以上に形成してもよい。また、トランジスタ11anを2個以上形成してもよい。また、トランジスタ11a1、11anの双方を複数個で形成してもよいことはいうまでもない。以上の事項は図1、図16、図17、図18、図21などの画素構成に対しても適用できることは言うまでもない。   In FIG. 19, the driving transistor 11a1 and the transistor 11an are illustrated as one each, but the present invention is not limited to this. For example, two or more driving transistors 11a1 may be formed. Two or more transistors 11an may be formed. Needless to say, a plurality of transistors 11a1 and 11an may be formed. Needless to say, the above items can also be applied to the pixel configurations of FIG. 1, FIG. 16, FIG. 17, FIG. 18, FIG.

トランジスタ11cは駆動用トランジスタ11a1のゲート端子に接続されており、トランジスタ11dは駆動用トランジスタ11a1とEL素子15間に形成または配置され、EL素子15に流れる電流を制御する。また、駆動用トランジスタ11a1のゲート端子とアノード(Vdd)端子間には付加コンデンサ19が形成または配置されており、駆動用トランジスタ11a1とプログラム用トランジスタ11anのソース端子はアノード(Vdd)端子に接続されている。   The transistor 11c is connected to the gate terminal of the driving transistor 11a1, and the transistor 11d is formed or arranged between the driving transistor 11a1 and the EL element 15, and controls the current flowing through the EL element 15. An additional capacitor 19 is formed or disposed between the gate terminal and the anode (Vdd) terminal of the driving transistor 11a1, and the source terminals of the driving transistor 11a1 and the programming transistor 11an are connected to the anode (Vdd) terminal. ing.

以上のように、駆動用トランジスタ11a1とプログラム用トランジスタ11anが同一数のトランジスタを通過するように構成することにより、精度を向上させることができる。つまり、駆動用トランジスタ11a1を流れる電流は、トランジスタ11b1、トランジスタ11cを通じてソース信号線18に流れる。また、プログラム用トランジスタ11anを流れる電流は、トランジスタ11b2、トランジスタ11cを通じてソース信号線18に流れる。したがって、駆動用トランジスタ11a1の電流と、プログラム用トランジスタ11anの電流は、同数の2つのトランジスタを通過してソース信号線18に流れるように構成されている。   As described above, by configuring the driving transistor 11a1 and the programming transistor 11an to pass through the same number of transistors, the accuracy can be improved. That is, the current flowing through the driving transistor 11a1 flows to the source signal line 18 through the transistors 11b1 and 11c. The current flowing through the programming transistor 11an flows to the source signal line 18 through the transistor 11b2 and the transistor 11c. Therefore, the current of the driving transistor 11a1 and the current of the programming transistor 11an pass through the same number of two transistors and flow to the source signal line 18.

図19では、駆動用トランジスタ11anを1つのトランジスタとして図示しているが、これに限定するものではない。駆動用トランジスタ11anは、同一チャンネル幅W、同一チャンネル長Lあるいは同一WL比の複数のトランジスタから構成してもよい。また、駆動用トランジスタ11a1の駆動用トランジスタ11anと、同一チャンネル幅W、同一チャンネル長Lあるいは同一WL比にすることが好ましい。同一WLあるいはWL比のトランジスタを複数形成する方が、各トランジスタ11aの出力バラツキが小さくなり、また画素16間のばらつきも少なくなり好ましい。   In FIG. 19, the driving transistor 11an is illustrated as one transistor, but the present invention is not limited to this. The driving transistor 11an may be composed of a plurality of transistors having the same channel width W, the same channel length L, or the same WL ratio. Further, it is preferable that the drive transistor 11an of the drive transistor 11a1 has the same channel width W, the same channel length L, or the same WL ratio. It is preferable to form a plurality of transistors having the same WL or WL ratio because the output variation of each transistor 11a is reduced and the variation between the pixels 16 is reduced.

ゲート信号線17aに選択電圧(オン電圧)が印加されると、トランジスタ11anとトランジスタ11a1からの電流が合成されたものがプログラム電流Iwとなる。このプログラム電流Iwを、駆動用トランジスタ11a1からEL素子15に流れる電流Ieの所定倍率にする。   When a selection voltage (ON voltage) is applied to the gate signal line 17a, a combination of currents from the transistors 11an and 11a1 becomes the program current Iw. The program current Iw is set to a predetermined magnification of the current Ie flowing from the driving transistor 11a1 to the EL element 15.

Iw=n・Ie(nは1以上の整数、ただし、トランジスタ11anのサイズが均等でないときは1.25などの小数点を有する数値となることは言うまでもない)。   Iw = n · Ie (n is an integer of 1 or more, but it goes without saying that when the sizes of the transistors 11an are not uniform, the numerical value has a decimal point such as 1.25).

上式において、表示パネルの最大白ラスターでの表示輝度B(nt)、表示パネルの画素面積S(平方ミリメートル)(画素面積は、RGBを1単位として取り扱う。したがって、各R、G、Bの絵素が縦0.1mm、横0.05mmであれば、S=0.1×(0.05×3)(平方ミリメートル)である)、表示パネルの1画素行選択期間(1水平走査(1H)期間)をH(ミリ秒)としたとき、以下の条件を満足するようにする。なお、表示輝度Bは、パネル仕様に規定する表示できる最大輝度である。なお、以下に示す222、100などの数値は、多くの実験を実施し、見つけ出した値である。   In the above formula, the display brightness B (nt) at the maximum white raster of the display panel, the pixel area S (square millimeter) of the display panel (the pixel area is treated with RGB as one unit. Therefore, each of R, G, B If the picture element is 0.1 mm long and 0.05 mm wide, S = 0.1 × (0.05 × 3) (square millimeter)), one pixel row selection period (one horizontal scanning ( 1H) When the period) is H (milliseconds), the following conditions are satisfied. Note that the display brightness B is the maximum displayable brightness specified in the panel specification. The numerical values such as 222 and 100 shown below are values obtained through many experiments.

5 ≦ (B・S)/(n・H) ≦ 222
さらに好ましくは、以下の条件と満足するようにする。
5 ≦ (B · S) / (n · H) ≦ 222
More preferably, the following conditions are satisfied.

10 ≦ (B・S)/(n・H) ≦ 100
Iwはソースドライバ回路(IC)14が出力するプログラム電流であり、このプログラム電流に対応する電圧が、画素16のコンデンサ19にホールドされる。また、Ieは駆動用トランジスタ11a1がEL素子15に流す電流である。
10 ≦ (B · S) / (n · H) ≦ 100
Iw is a program current output from the source driver circuit (IC) 14, and a voltage corresponding to the program current is held in the capacitor 19 of the pixel 16. Ie is a current that the driving transistor 11a1 passes through the EL element 15.

トランジスタ11a1、トランジスタ11anの出力ばらつきに関しては、トランジスタ11anと駆動用トランジスタ11a1を近接させて形成または配置することにより改善できる。また、トランジスタ11an、トランジスタ11a1の特性は形成方向によっても特性が異なる場合がある。したがって、同一方向に形成することが好ましい。   The output variations of the transistors 11a1 and 11an can be improved by forming or arranging the transistors 11an and the driving transistor 11a1 close to each other. Further, the characteristics of the transistor 11an and the transistor 11a1 may differ depending on the formation direction. Therefore, it is preferable to form in the same direction.

ゲート信号線17aが選択されると、駆動用トランジスタ11a1およびプログラム用トランジスタ11anの両方がオンする。駆動用トランジスタ11a1が流す電流Iw1と、プログラム用トランジスタ11a1が流す電流Iw2とは、略一致させることが好ましい。最もこのましくは、プログラム用トランジスタ11anと駆動用トランジスタ11a1のサイズ(W、L)を一致させることである。つまり、Iw1=Iw2、Iw=2Ieの関係を満足させることが好ましい。もちろん、Iw1=Iw2の関係を満足させるには、トランジスタサイズ(W、L)を一致させることに限定されるものではなく、サイズを変化することにより一致させてもよい。これは、トランジスタのWLを調整することにより容易に実現できる。略Iw2/Iw1=1であれば、トランジスタ11b1とトランジスタ11b1のサイズは略一致して構成あるいは形成することができる。   When the gate signal line 17a is selected, both the driving transistor 11a1 and the programming transistor 11an are turned on. It is preferable that the current Iw1 flowing through the driving transistor 11a1 and the current Iw2 flowing through the programming transistor 11a1 are substantially matched. Most preferably, the sizes (W, L) of the programming transistor 11an and the driving transistor 11a1 are matched. That is, it is preferable to satisfy the relationship of Iw1 = Iw2 and Iw = 2Ie. Of course, satisfying the relationship of Iw1 = Iw2 is not limited to matching the transistor sizes (W, L), but may be matched by changing the size. This can be easily realized by adjusting the WL of the transistor. If approximately Iw2 / Iw1 = 1, the sizes of the transistors 11b1 and 11b1 can be configured or formed to be substantially the same.

なお、Iw2/Iw1は、1以上10以下の関係を満足させておくことが好ましい。Iw2/Iw1は、1以上10以下の関係を満足させておくことが好ましい。さらに好ましくは、1.5以上5以下の関係を満足させておくことが好ましい
Iw2/Iw1が1以下では、ほとんど、ソース信号線18の寄生容量の影響を改善する効果は見込めない。一方Iw2/Iwが10以上となると、Iwに対するIeの関係に画素ごとにばらつきが発生し、均一な画像表示が実現できない。また、トランジスタ11bのオン抵抗の影響を大きく受けるようになり、画素設計も困難になる。
It should be noted that Iw2 / Iw1 preferably satisfies the relationship of 1 or more and 10 or less. Iw2 / Iw1 preferably satisfies a relationship of 1 or more and 10 or less. More preferably, the relationship of 1.5 or more and 5 or less is preferably satisfied. When Iw2 / Iw1 is 1 or less, the effect of improving the influence of the parasitic capacitance of the source signal line 18 is hardly expected. On the other hand, if Iw2 / Iw is 10 or more, the relationship between Ie and Iw varies from pixel to pixel, and a uniform image display cannot be realized. In addition, the transistor 11b is greatly affected by the on-resistance, and pixel design becomes difficult.

プログラム用トランジスタ11anが流す電流Iw2が、駆動用トランジスタ11a1が流す電流Iw1に比較して一定以上大きい場合は(Iw2 > Iw1)、スイッチング用トランジスタ11b2のオン抵抗を、スイッチング用トランジスタ11b1のオン抵抗よりも小さくする必要がある。スイッチング用トランジスタ11b2は、トランジスタ11b1よりも大きな電流を、同一のゲート信号線17aの電圧にたいして流すように構成する必要があるからである。   When the current Iw2 flowing through the programming transistor 11an is larger than the current Iw1 flowing through the driving transistor 11a1 (Iw2> Iw1), the on-resistance of the switching transistor 11b2 is set higher than the on-resistance of the switching transistor 11b1. Need to be smaller. This is because the switching transistor 11b2 needs to be configured so that a current larger than that of the transistor 11b1 flows to the voltage of the same gate signal line 17a.

つまり、駆動用トランジスタ11a1の出力電流の大きさに対するトランジスタ11b1の大きさと、プログラム用トランジスタ11anの出力電流の大きさに対するトランジスタ11b2の大きさをマッチングさせる必要がある。   That is, it is necessary to match the magnitude of the transistor 11b1 with respect to the magnitude of the output current of the driving transistor 11a1 and the magnitude of the transistor 11b2 with respect to the magnitude of the output current of the programming transistor 11an.

言い換えれば、プログラム電流Iw2、プログラム電流Iw1に対して、トランジスタ11bのオン抵抗を変化させる必要がある。また、プログラム電流Iw2、プログラム電流Iw1に対して、トランジスタ11b1と11b2のサイズを変化させる必要がある。   In other words, it is necessary to change the on-resistance of the transistor 11b with respect to the program current Iw2 and the program current Iw1. Further, it is necessary to change the sizes of the transistors 11b1 and 11b2 with respect to the program current Iw2 and the program current Iw1.

プログラム電流Iw2がプログラム電流Iw1よりも大きければ、トランジスタ11b2のオン抵抗はトランジスタ11b1のオン抵抗よりも小さくする必要がある(トランジスタ11b1とトランジスタ11b2のゲート端子電圧が同一の場合である)。プログラム電流Iw2がプログラム電流Iw1よりも大きければ、トランジスタ11b2のオン電流(Iw2)はトランジスタ11b1のオン電流(Iw1)よりも大きくする必要がある(トランジスタ11b1とトランジスタ11b2のゲート端子電圧が同一の場合である)。   If the program current Iw2 is larger than the program current Iw1, the on-resistance of the transistor 11b2 needs to be smaller than the on-resistance of the transistor 11b1 (in the case where the gate terminal voltages of the transistor 11b1 and the transistor 11b2 are the same). If the program current Iw2 is larger than the program current Iw1, the on-current (Iw2) of the transistor 11b2 needs to be larger than the on-current (Iw1) of the transistor 11b1 (when the gate terminal voltages of the transistor 11b1 and the transistor 11b2 are the same) Is).

Iw2:Iw1=n:1とし、ゲート信号線17aにオン電圧が印加され、トランジスタ11b1とトランジスタ11b2がオンしたときのトランジスタ11b2のオン抵抗をR2、トランジスタ11b1のオン抵抗をR1とする。この時、R2は、R1/(n+5)以上、R1/(n)以下の関係を満足するように構成する。構成するとは、トランジスタ11bの所定のサイズに形成するあるいは配置するもしくは動作させる意味である。ただし、nは1よりも大きな値である。   When Iw2: Iw1 = n: 1, an on-voltage is applied to the gate signal line 17a, and when the transistor 11b1 and the transistor 11b2 are turned on, the on-resistance of the transistor 11b2 is R2, and the on-resistance of the transistor 11b1 is R1. At this time, R2 is configured to satisfy the relationship of R1 / (n + 5) or more and R1 / (n) or less. To configure means to form, arrange or operate the transistor 11b in a predetermined size. However, n is a value larger than 1.

上記事項は、トランジスタ11b1とトランジスタ11b2のオン抵抗Rあるいは、プログラム電流Iwの説明である。したがって、上記条件を満足するように画素構成を実現すればいずれの構成でもよい。たとえば、トランジスタ11b1のゲート端子に接続されたゲート信号線17と、トランジスタ11b2のゲート端子に接続されたゲート信号線17とが異なる信号線の場合は、各ゲート信号線に印加する電圧を変化させれば、オン抵抗などを変化でき、本発明の条件を満足させることできる。   The above item is an explanation of the on-resistance R of the transistor 11b1 and the transistor 11b2 or the program current Iw. Accordingly, any configuration is possible as long as the pixel configuration is realized so as to satisfy the above-described conditions. For example, when the gate signal line 17 connected to the gate terminal of the transistor 11b1 and the gate signal line 17 connected to the gate terminal of the transistor 11b2 are different signal lines, the voltage applied to each gate signal line is changed. As a result, the on-resistance and the like can be changed, and the conditions of the present invention can be satisfied.

図20は図19の画素構成の動作の説明図である。図20(a)は電流プログラム状態であり、図19(b)はEL素子15に電流を供給している状態である。なお、図20(b)の状態で、トランジスタ11dをオンオフさせて間欠表示を実施してもよいことは言うまでもない。   FIG. 20 is an explanatory diagram of the operation of the pixel configuration of FIG. FIG. 20A shows a current program state, and FIG. 19B shows a state in which current is supplied to the EL element 15. Needless to say, intermittent display may be performed by turning on and off the transistor 11d in the state of FIG.

図20(a)では、ゲート信号線17aにオン電圧が印加され、トランジスタ11b1、11b2、11cがオンする。トランジスタ11a1は電流Ieを供給し、トランジスタ11anは電流Iw−Ieを供給し、合成した電流IwがソースドライバIcにプログラム電流となる。以上の動作により、プログラム電流Iwに対応する電圧がコンデンサ19に保持される。電流プログラム時にはトランジスタ11dはオフ状態に保持される(ゲート信号線17bにはオフ電圧が印加されている)。   In FIG. 20A, an on voltage is applied to the gate signal line 17a, and the transistors 11b1, 11b2, and 11c are turned on. The transistor 11a1 supplies a current Ie, the transistor 11an supplies a current Iw-Ie, and the combined current Iw becomes a program current for the source driver Ic. With the above operation, a voltage corresponding to the program current Iw is held in the capacitor 19. During current programming, the transistor 11d is held in the off state (the off voltage is applied to the gate signal line 17b).

EL素子15に電流を流す場合が、図20(b)の動作状態にされる。ゲート信号線17aにオフ電圧が印加され、ゲート信号線17bにオン電圧が印加される。この状態では、トランジスタ11b1、11b2、11cがオフ状態になり、トランジスタ11dがオン状態になる。EL素子15にIe電流が供給される。   The case where a current is passed through the EL element 15 is set to the operation state shown in FIG. An off voltage is applied to the gate signal line 17a, and an on voltage is applied to the gate signal line 17b. In this state, the transistors 11b1, 11b2, and 11c are turned off, and the transistor 11d is turned on. An Ie current is supplied to the EL element 15.

以上の実施例は、主として図1の変形例の実施例であった。本発明はこれに限定するものではなく、図16などのカレントミラーの画素構成にも適用することができる。また、図17(a)(b)(c)にも適用できることは言うまでもない。   The above embodiment is mainly an embodiment of the modification of FIG. The present invention is not limited to this, and can also be applied to a pixel configuration of a current mirror as shown in FIG. Needless to say, the present invention can also be applied to FIGS. 17 (a), 17 (b), and 17 (c).

また、図1などの画素構成は、トランジスタ11dによりEL素子15に流す電流をトランジスタ11dにより制御するものであったが、本発明はこれに限定するものではない。たとえば、図20に図示するように、トランジスタ11dがなくともEL素子15に印加する電流をオンオフ制御することができる。   In the pixel configuration shown in FIG. 1 and the like, the current flowing through the EL element 15 by the transistor 11d is controlled by the transistor 11d. However, the present invention is not limited to this. For example, as shown in FIG. 20, the current applied to the EL element 15 can be controlled on and off without the transistor 11d.

図20では、ゲートドライバ回路12bは、ゲート信号線17bを制御し、ゲート信号線17bの電位は、Vdd電圧と、それより低い電圧であるEL素子15に電流が流れない電圧Vgで駆動される。つまり、ゲート信号線17bには、Vdd電圧とVg電圧が出力される。ゲート信号線17bにVdd電圧が印加されたときは、EL素子15に電流が流れ、ゲート信号線17bにVg電圧が印加されたときには、EL素子15には電流が流れない。図20の画素構成では、トランジスタ11dがなくとも、ゲートドライバ11bの制御によりDuty比制御、基準電流比制御、点灯率制御が実現できる。   In FIG. 20, the gate driver circuit 12b controls the gate signal line 17b, and the potential of the gate signal line 17b is driven by the Vdd voltage and the voltage Vg at which no current flows to the EL element 15 which is a lower voltage. . That is, the Vdd voltage and the Vg voltage are output to the gate signal line 17b. When the Vdd voltage is applied to the gate signal line 17b, current flows through the EL element 15, and when the Vg voltage is applied to the gate signal line 17b, no current flows through the EL element 15. In the pixel configuration of FIG. 20, even without the transistor 11d, the duty ratio control, the reference current ratio control, and the lighting rate control can be realized by the control of the gate driver 11b.

理解を容易にするため、映像データとプログラム電流は比例の関係で変換されるとして説明する。実際はさらに容易に、映像データとプログラム電流とを変換できる。図22に図示するように本発明は単位トランジスタ224の単位電流が、映像データの1に該当するからである。さらに、単位電流は基準電流回路を調整することにより、容易に任意の値に調整できるからである。また、基準電流はR、G、B回路ごとに設けられており、RGB回路に基準電流回路を調整することにより全階調範囲にわたりホワイトバランスをとることができるからである。このことは電流プログラム方式で、かつ本発明のソースドライバ回路(IC)14、表示パネル構成の相乗効果である。以下、本発明のソースドライバ回路(IC)14について説明をする。   In order to facilitate understanding, description will be made assuming that the video data and the program current are converted in a proportional relationship. Actually, video data and program current can be converted more easily. This is because the unit current of the unit transistor 224 corresponds to 1 of the video data as shown in FIG. Furthermore, the unit current can be easily adjusted to an arbitrary value by adjusting the reference current circuit. This is because the reference current is provided for each of the R, G, and B circuits, and white balance can be achieved over the entire gradation range by adjusting the reference current circuit to the RGB circuit. This is a synergistic effect of the current program method and the configuration of the source driver circuit (IC) 14 and the display panel of the present invention. Hereinafter, the source driver circuit (IC) 14 of the present invention will be described.

なお、以下の実施例では、単位トランジスタ群251cなどはソースドライバ回路(IC)14に形成あるいは構成するとして説明するが、本発明はこれに限定するものではない。たとえば、図12では、単位トランジスタ群251cなどはアレイ基板30に形成している。つまり、画素16と単位トランジスタ群251c、ゲートドライバ回路12をアレイ基板30に形成し、他の部分をソースドライバ回路(IC)14に形成した実施例である。   In the following embodiments, the unit transistor group 251c and the like are described as being formed or configured in the source driver circuit (IC) 14, but the present invention is not limited to this. For example, in FIG. 12, the unit transistor group 251 c and the like are formed on the array substrate 30. That is, in this embodiment, the pixel 16, the unit transistor group 251 c, and the gate driver circuit 12 are formed on the array substrate 30, and the other part is formed on the source driver circuit (IC) 14.

EL表示パネルでは、プログラム電流とEL素子15の発光輝度が線形の関係にあるという特徴がある。このことは電流プログラム方式の大きな特徴である。つまり、プログラム電流の大きさを制御すれば、リニアにEL素子15の発光輝度を調整できる。   The EL display panel is characterized in that the program current and the light emission luminance of the EL element 15 have a linear relationship. This is a major feature of the current programming method. That is, the emission luminance of the EL element 15 can be adjusted linearly by controlling the magnitude of the program current.

駆動用トランジスタ11aはゲート端子に印加した電圧と、駆動用トランジスタ11aが流す電流とは非線形である(2乗カーブになることが多い)。したがって、電圧プログラム方式では、プログラム電圧と発光輝度とは非線形の関係にあり、きわめて発光制御が困難である。電圧プログラムに比較して電流プログラム方式では極めて発光制御が容易である。   In the driving transistor 11a, the voltage applied to the gate terminal and the current flowing through the driving transistor 11a are nonlinear (often a square curve). Therefore, in the voltage program method, the program voltage and the light emission luminance are in a non-linear relationship, and the light emission control is extremely difficult. Compared with the voltage program, the light emission control is extremely easy in the current program method.

以下、図22、図23などを参照しながら、本発明のソースドライバ回路(IC)14について説明をする。ソースドライバ回路(IC)14は、出力端子数に対応する出力段(トランジスタ群)251cが形成または配置されている。各出力段251cには、映像信号のビット数に対応するトランジスタ(電流源(1単位)電流)224が形成または配置されている。たとえば、基本的には映像信号が6ビット(D0〜D5)の場合は、2の6乗−1=63個のトランジスタ224が形成される。映像信号が8ビット(D0〜D7)の場合は、2の8乗−1=255個のトランジスタ224が形成される。図24は、この基本を変形した実施例である。図24に関しては後に説明をする。   Hereinafter, the source driver circuit (IC) 14 of the present invention will be described with reference to FIGS. In the source driver circuit (IC) 14, output stages (transistor groups) 251c corresponding to the number of output terminals are formed or arranged. In each output stage 251c, a transistor (current source (one unit) current) 224 corresponding to the number of bits of the video signal is formed or arranged. For example, basically, when the video signal is 6 bits (D0 to D5), 2 6 −1 = 63 transistors 224 are formed. When the video signal is 8 bits (D0 to D7), 2 8 −1 = 255 transistors 224 are formed. FIG. 24 shows an embodiment in which this basic is modified. 24 will be described later.

以下、説明を容易にするため、ソースドライバ回路(IC)14は6ビットであるとして説明をする。図22において、各トランジスタ224は、映像データビット(D0〜D5)ごとに配置される。D0ビットには1つのトランジスタ224が配置される。D1ビットには2つのトランジスタ224が配置される。D2ビットには4つのトランジスタ224が配置され、D3ビットには8つのトランジスタ224が配置され、D4ビットには16つのトランジスタ224が配置される。同様に、D5ビットには32つのトランジスタ224が配置されている。   Hereinafter, for ease of explanation, the source driver circuit (IC) 14 is assumed to be 6 bits. In FIG. 22, each transistor 224 is arranged for each video data bit (D0 to D5). One transistor 224 is arranged for the D0 bit. Two transistors 224 are arranged in the D1 bit. Four transistors 224 are arranged for the D2 bit, eight transistors 224 are arranged for the D3 bit, and sixteen transistors 224 are arranged for the D4 bit. Similarly, 32 transistors 224 are arranged for the D5 bit.

各ビットのトランジスタ224の出力電流が出力端子93に出力されるか否かは、アナログスイッチ221(221a〜221f)によるオンオフ制御で実現される。アナログスイッチ221a〜221fは映像信号の各ビット(一例として6ビット)に対応する。D0ビットに対応するスイッチ221aが閉じると、1単位電流が出力端子93から出力(入力)される。出力端子93には、ソース信号線18が接続されている。同様に、D1ビットに対応するスイッチ221bが閉じると、2単位電流が出力端子93から出力(入力)される。以下、D2ビットに対応するスイッチ221cが閉じると、4単位電流が出力端子93から出力(入力)され、D3ビットに対応するスイッチ221cが閉じると、8単位電流が出力端子93から出力(入力)され、D4ビットに対応するスイッチ221dが閉じると、16単位電流が出力端子93から出力(入力)され、D5ビットに対応するスイッチ221cが閉じると、32単位電流が出力端子93から出力(入力)される。以上のように、映像信号のビットに対応して、デジタル的にスイッチ221がクローズまたはオープンし、映像信号に応じて電流(プログラム電流)が出力端子93から出力される。   Whether or not the output current of the transistor 224 of each bit is output to the output terminal 93 is realized by on / off control by the analog switch 221 (221a to 221f). The analog switches 221a to 221f correspond to each bit (6 bits as an example) of the video signal. When the switch 221a corresponding to the D0 bit is closed, one unit current is output (input) from the output terminal 93. A source signal line 18 is connected to the output terminal 93. Similarly, when the switch 221b corresponding to the D1 bit is closed, 2 unit currents are output (input) from the output terminal 93. Hereinafter, when the switch 221c corresponding to the D2 bit is closed, 4 unit current is output (input) from the output terminal 93, and when the switch 221c corresponding to the D3 bit is closed, 8 unit current is output (input) from the output terminal 93. When the switch 221d corresponding to the D4 bit is closed, 16 unit current is output (input) from the output terminal 93, and when the switch 221c corresponding to the D5 bit is closed, 32 unit current is output (input) from the output terminal 93. Is done. As described above, the switch 221 is digitally closed or opened corresponding to the bit of the video signal, and a current (program current) is output from the output terminal 93 according to the video signal.

また、プログラム電流は内部配線222を流れる。内部配線222の電位Vwは、ソース信号線18の電位となる。ソース信号線18の電位は、電流プログラム時は、画素16の駆動用トランジスタ11aのゲート電圧である。   The program current flows through the internal wiring 222. The potential Vw of the internal wiring 222 becomes the potential of the source signal line 18. The potential of the source signal line 18 is the gate voltage of the driving transistor 11a of the pixel 16 during current programming.

単位トランジスタ224はトランジスタ228bとカレントミラー回路を構成している。なお、図22、図23では、トランジスタ228bを1つと図示しているが、実際は、複数のトランジスタ(トランジスタ群)で構成(形成)される。トランジスタ228bとトランジスタ群251cとは所定のカレントミラー比でカレントミラー回路を構成する。つまり、トランジスタ228bも多数の単位トランジスタを有する群として構成されている。ただし、トランジスタ群251cを構成する単位トランジスタ224とトランジスタ228bを構成する単位トランジスタのサイズ、特定は異ならせてもよいことはいうまでもない。また、トランジスタ228aも複数のトランジスタで形成あるいは構成してもよいことは言うまでもない。以上のように、1つの動作を行うトランジスタを複数の同一特性のトランジスタからなるトランジスタ群で形成することにより、特性バラツキが少なくなり、良好な動作を実現できる。   The unit transistor 224 forms a current mirror circuit with the transistor 228b. 22 and FIG. 23, the transistor 228b is illustrated as one, but actually, it is configured (formed) by a plurality of transistors (transistor groups). The transistor 228b and the transistor group 251c constitute a current mirror circuit with a predetermined current mirror ratio. That is, the transistor 228b is also configured as a group having a large number of unit transistors. However, needless to say, the size and specification of the unit transistors 224 constituting the transistor group 251c and the unit transistors constituting the transistor 228b may be different. Needless to say, the transistor 228a may be formed or constituted by a plurality of transistors. As described above, when a transistor that performs one operation is formed of a transistor group including a plurality of transistors having the same characteristics, variation in characteristics is reduced, and favorable operation can be realized.

トランジスタ228bには基準電流Icが流れ、この基準電流Icのカレントミラー比に応じた電流が単位トランジスタ224に流れる。図22の63個の単位トランジスタ224はすべて同一の単位電流を出力する。単位電流が流れるためには、該当のスイッチ221が閉じ、電流経路を構成する必要がある。   A reference current Ic flows through the transistor 228b, and a current corresponding to the current mirror ratio of the reference current Ic flows through the unit transistor 224. All the 63 unit transistors 224 in FIG. 22 output the same unit current. In order for the unit current to flow, it is necessary to close the corresponding switch 221 and configure a current path.

基準電流Icはオペアンプ231aと抵抗R1からなる定電流回路で発生する。基準電流Icは基準電圧Vsを安定化かつ高精度化することにより一定化する。基準電流Icを設定する電圧ViとVsが抵抗R1の両端に印加される。したがって、基準電流Ic=(Vs−Vi)/R1となる。基準電流IcはRGBごとに設定することができる。つまり、RGBごとにトランジスタ群251cが構成(形成)されている。前記トランジスタ群251cのトランジスタ228bに流れる電流Icを設定(調整)できる。抵抗R1は、ソースドライバ回路(IC)14外に配置されており、抵抗R1の値をRGBで調整することにより、良好にホワイトバランスを調整あるいは設定できる。   The reference current Ic is generated by a constant current circuit including an operational amplifier 231a and a resistor R1. The reference current Ic is made constant by stabilizing and increasing the accuracy of the reference voltage Vs. The voltages Vi and Vs that set the reference current Ic are applied across the resistor R1. Therefore, the reference current Ic = (Vs−Vi) / R1. The reference current Ic can be set for each RGB. That is, a transistor group 251c is configured (formed) for each RGB. A current Ic flowing through the transistor 228b of the transistor group 251c can be set (adjusted). The resistor R1 is disposed outside the source driver circuit (IC) 14, and the white balance can be adjusted or set satisfactorily by adjusting the value of the resistor R1 with RGB.

図23(a)は基準電流Icを、Vs電圧を用いて発生する回路構成である。図23(b)はGNDとオペアンプ231aの−端子間に配置(挿入)された抵抗R1を用いて基本的な電流を発生させ、トランジスタ232bとトランジスタ228aからなるカレントミラー回路で折り返し、トランジスタ228bに基準電流Icを流す構成である。図23(b)の方が、基準電流のIcの大きさを調整しやすい。しかし、トランジスタ232bとトランジスタ228aからなるカレントミラー回路で折り返すために、バラツキが発生しやすい。   FIG. 23A shows a circuit configuration for generating the reference current Ic using the Vs voltage. In FIG. 23B, a basic current is generated by using a resistor R1 disposed (inserted) between GND and the negative terminal of the operational amplifier 231a, and is turned back by a current mirror circuit including a transistor 232b and a transistor 228a. In this configuration, the reference current Ic is supplied. In FIG. 23B, it is easier to adjust the magnitude of the reference current Ic. However, since the current mirror circuit composed of the transistor 232b and the transistor 228a is folded back, variations tend to occur.

本発明は図24(a)に図示するように、各ビットに1つまたは複数の単位トランジスタ224を形成または配置するとした。しかし、本発明はこれに限定するものではない。たとえば、各ビットに、各ビットに応じた電流を出力する1つのトランジスタ224を形成または配置してもよいことは言うまでもない。たとえば、1ビット目のトランジスタは、0ビット目のトランジスタの2倍の電流を出力するトランジスタを1個形成または配置する。2ビット目のトランジスタは、0ビット目のトランジスタの4倍の電流を出力するトランジスタを1個形成または0ビット目のトランジスタの42の電流を出力するトランジスタを2個形成または配置する。   In the present invention, as shown in FIG. 24A, one or more unit transistors 224 are formed or arranged for each bit. However, the present invention is not limited to this. For example, it goes without saying that one transistor 224 that outputs a current corresponding to each bit may be formed or arranged in each bit. For example, as the first bit transistor, one transistor that outputs a current twice as large as that of the zeroth bit transistor is formed or arranged. For the second bit transistor, one transistor that outputs four times the current of the zeroth bit transistor is formed, or two transistors that output the current 42 of the zeroth bit transistor are formed or arranged.

図24(a)に図示するように、64階調(RGB各6ビット)の場合は、63個の単位トランジスタ224を形成するとした。したがって、256階調(RGB各8ビット)の場合、255個の単位トランジスタ224が必要になることになる。   As shown in FIG. 24A, in the case of 64 gradations (RGB each 6 bits), 63 unit transistors 224 are formed. Therefore, in the case of 256 gradations (8 bits for each of RGB), 255 unit transistors 224 are required.

電流駆動方式では、電流の加算ができるという特徴ある効果がある。また、単位トランジスタ224において、チャンネル長Lを一定にし、チャンネル幅Wを1/2にすれば、単位トランジスタ224が流す電流がおよそ1/2になるという特徴ある性質がある。同様に、チャンネル長Lを一定にし、チャンネル幅Wを1/4にすれば、単位トランジスタ224が流す電流がおよそ1/4になるという特徴ある性質がある。   The current driving method has a characteristic effect that current can be added. Further, the unit transistor 224 has a characteristic property that if the channel length L is made constant and the channel width W is halved, the current flowing through the unit transistor 224 is approximately halved. Similarly, if the channel length L is constant and the channel width W is ¼, the current flowing through the unit transistor 224 is about ¼.

図24(a)は、各ビットに対して同一のサイズの単位トランジスタ224を配置したトランジスタ群251cの構成である。説明を容易にするため、図24(a)は63個の単位トランジスタ224が構成され、6ビットのトランジスタ群251cを構成(形成)しているとする。また、図24(b)は8ビットであるとする。   FIG. 24A shows a configuration of a transistor group 251c in which unit transistors 224 having the same size are arranged for each bit. For ease of explanation, it is assumed in FIG. 24A that 63 unit transistors 224 are configured and a 6-bit transistor group 251c is configured (formed). Further, FIG. 24B is assumed to be 8 bits.

図24(b)では、下位2ビット(Aで示す)は、単位トランジスタ224よりも小さいサイズのトランジスタで構成している。最小ビット目の第0ビット目は、単位トランジスタ224のチャンネル幅Wの1/4で形成している(単位トランジスタ224bで示す)。また、第1ビット目は、単位トランジスタ224のチャンネル幅Wの1/2で形成している(単位トランジスタ224aで示す)。なお、単位トランジスタ224aは、単位トランジスタ224のチャンネル幅Wの1/4である単位トランジスタ224bを2個で形成してもよい。   In FIG. 24B, the lower 2 bits (indicated by A) are composed of transistors having a size smaller than that of the unit transistor 224. The 0th bit of the minimum bit is formed by 1/4 of the channel width W of the unit transistor 224 (indicated by the unit transistor 224b). The first bit is formed with a half of the channel width W of the unit transistor 224 (indicated by the unit transistor 224a). The unit transistor 224a may be formed of two unit transistors 224b that are ¼ of the channel width W of the unit transistor 224.

以上の実施例では、単位トランジスタ224bのWは、単位トランジスタ224のWの1/4であるとした。たとえば、単位トランジスタ224のWが6μmであれば、単位トランジスタ224bのWは1/4の1.5μmとなる。しかし、これは理想的な特性を示す場合である。本発明では、1.5μmより大きくしている。つまり、2.0μmなど大きくしている。大きくすることにより、単位トランジスタ224bの4倍の電流が単位トランジスタ224の電流と一致するように構成することができる。以上の事項は後にさらに詳しく説明をする。   In the above embodiment, the W of the unit transistor 224b is ¼ of the W of the unit transistor 224. For example, if the W of the unit transistor 224 is 6 μm, the W of the unit transistor 224b is 1/4 of 1.5 μm. However, this is a case where ideal characteristics are exhibited. In the present invention, it is larger than 1.5 μm. That is, it is increased to 2.0 μm or the like. By increasing the size, a current that is four times that of the unit transistor 224b matches the current of the unit transistor 224. The above items will be described in more detail later.

単位トランジスタ224a、224b、224のゲート端子は同一のゲート配線222に接続される。ゲート配線223はトランジスタ228bのゲート端子と接続されている。   The gate terminals of the unit transistors 224a, 224b, and 224 are connected to the same gate wiring 222. The gate wiring 223 is connected to the gate terminal of the transistor 228b.

以上のように、下位2ビットは上位の単位トランジスタ224よりも小さいサイズの単位トランジスタ(224a、224b)で形成している。また、正規の単位トランジスタ224の個数は63個で変化がない。したがって、6ビットから8ビットに変更しても、トランジスタ群251cの形成面積は図24(a)と図24(b)で大差はない。   As described above, the lower 2 bits are formed by unit transistors (224a, 224b) having a size smaller than that of the upper unit transistor 224. Further, the number of regular unit transistors 224 is 63, which is not changed. Therefore, even if the bit number is changed from 6 bits to 8 bits, the formation area of the transistor group 251c is not significantly different between FIG. 24 (a) and FIG. 24 (b).

図24(b)に図示するように、6ビットから8ビット仕様に変化させても出力段のトランジスタ群251cのサイズが大きくならないのは、電流の加算ができるという点、単位トランジスタ224において、チャンネル長Lを一定にし、チャンネル幅Wを1/nにすれば、単位トランジスタ224が流す電流がおよそ1/nになるという点をうまく利用しているからである。   As shown in FIG. 24B, the size of the transistor group 251c in the output stage does not increase even when the 6-bit specification is changed to the 8-bit specification because the current can be added. This is because if the length L is kept constant and the channel width W is 1 / n, the current flowing through the unit transistor 224 is approximately 1 / n.

また、図24(b)に図示するように、単位トランジスタ224a、224bのようにトランジスタサイズが小さくなると、出力電流バラツキも大きくなる。しかし、いかにバラツキが大きくとも、単位トランジスタ224aまたは224bの出力電流は加算される。したがって、図24(a)の6ビット仕様より、図24(b)の8ビット仕様のほうが高階調出力を実現できる。   Further, as illustrated in FIG. 24B, when the transistor size is reduced as in the unit transistors 224a and 224b, the output current variation is also increased. However, no matter how large the variation is, the output currents of the unit transistors 224a or 224b are added. Therefore, the 8-bit specification of FIG. 24B can realize higher gradation output than the 6-bit specification of FIG.

実際にはチャンネル幅Wを1/2にしても出力電流は正確には1/2にはならない。多少の補正が必要である。本発明に説明する。チャンネル幅W1/2にすることに大きな意味を持つものではなく、トランジスタ24aの出力電流を単位トランジスタ224の出力電流を1/2にすることに技術的意味がある。したがって、チャンネル幅Wだけでなく、チャンネル長Lを変化させて出力電流を1/2あるいは1/4のように、略整数分の1に構成すれはよい。また、図24(b)で図示した単位トランジスタ224、224a、224bは同一ゲート電圧で動作させる。これは図22に図示するように、ゲート配線223にすべての単位トランジスタのゲート端子を接続することにより容易に実現できる。また、すべての単位トランジスタ(224、224a、224b)はトランジスタ228bとカレントミラー回路を構成させればよい。   Actually, even if the channel width W is halved, the output current is not exactly halved. Some correction is required. The present invention will be described. It does not have a great meaning to make the channel width W1 / 2, but it has a technical meaning to make the output current of the transistor 24a ½ the output current of the unit transistor 224. Therefore, not only the channel width W but also the channel length L may be changed so that the output current is reduced to substantially a fraction of an integer such as 1/2 or 1/4. Further, the unit transistors 224, 224a, and 224b illustrated in FIG. 24B are operated with the same gate voltage. This can be easily realized by connecting the gate terminals of all the unit transistors to the gate wiring 223 as shown in FIG. Further, all the unit transistors (224, 224a, 224b) may form a current mirror circuit with the transistor 228b.

チャンネル幅Wを1/2にすると、トランジスタのゲート端子電圧を同一とした場合、出力電流は、1/2以下となる。そのため、本発明は、下位ビットを構成するトランジスタと、上位ビットを構成するトランジスタのサイズと変化させる場合、以下のようにトランジスタサイズを設定している。   When the channel width W is halved, the output current is ½ or less when the gate terminal voltages of the transistors are the same. Therefore, in the present invention, when changing the size of the transistor constituting the lower bit and the size of the transistor constituting the upper bit, the transistor size is set as follows.

まず、ソースドライバ回路(IC)14の単位トランジスタ224を2種類のサイズのように、少ない形状で構成する。複数の単位トランジスタ224のチャンネル長Lは同一にする。つまり、チャンネル幅Wのみを変化させる。第1の単位トランジスタの第1の単位出力電流と、第2の単位トランジスタの第2の単位出力電流の比をn(第1の単位出力電流:第2の単位出力電流=1:n、ただし、nは1より小さい値)とするとき、第1の単位トランジスタのチャンネル幅W1 < 第2の単位トランジスタのチャンネル幅W2×n×aの関係となるように構成する。   First, the unit transistor 224 of the source driver circuit (IC) 14 is configured with a small shape such as two types of sizes. The channel lengths L of the plurality of unit transistors 224 are the same. That is, only the channel width W is changed. The ratio of the first unit output current of the first unit transistor to the second unit output current of the second unit transistor is n (first unit output current: second unit output current = 1: n, where , N is a value smaller than 1), the first unit transistor channel width W1 <the second unit transistor channel width W2 × n × a.

W1×n×a=W2とした場合、1.05< a <1.3の関係が成り立つようにすることが好ましい。補正aは、テストトランジスタを形成し、測定することにより補正係数を容易に把握することができる。   When W1 × n × a = W2, it is preferable that the relationship of 1.05 <a <1.3 is satisfied. In the correction a, a correction coefficient can be easily grasped by forming and measuring a test transistor.

本発明は、下位のビットを作製(構成)するために、上位のビットの単位トランジスタ224に比較して小さい小単位トランジスタを形成または配置するものである。この小さいという概念は、上位ビットを構成する単位トランジスタ224の出力電流よりも小さいという意味である。したがって、単位トランジスタ224に比較してチャンネル幅Wが小さいだけでなく、同時にチャンネル長Lも小さい場合も含まれる。また、他の形状も含まれる。また、たとえば、単位トランジスタ224aの出力電流が単位トランジスタ224の1/2とは精度が要求されるものではない。したがって、各ビットでの出力電流が反転しないように、60%〜140%の範囲で設定できればよい。つまり、略1/2、略1/4であればよい。   In the present invention, a small unit transistor smaller than the unit transistor 224 of the upper bit is formed or arranged in order to produce (configure) the lower bit. This concept of small means that it is smaller than the output current of the unit transistor 224 constituting the upper bit. Therefore, not only the channel width W is smaller than that of the unit transistor 224, but also the case where the channel length L is also small is included. Other shapes are also included. For example, the output current of the unit transistor 224a is ½ that of the unit transistor 224, and accuracy is not required. Therefore, it may be set within a range of 60% to 140% so that the output current at each bit is not inverted. That is, it may be approximately 1/2 or approximately 1/4.

図24(b)はトランジスタ群251cを構成する単位トランジスタ224のサイズを複数種類とするものであった。図24(b)では3種類(224、224a、224b)としている。この理由は、先に説明したように、単位トランジスタ224のサイズが異なると出力電流の大きさが形状に比例しないため、設計が難しくなるからである。したがって、トランジスタ251cを構成する単位トランジスタ224のサイズは低階調用と高階調用の2種類とすることが好ましい。たとえば、図24(b)において、低階調の単位トランジスタである0ビット目の単位トランジスタ224bを2個用いて、1ビット目を構成すればよい。つまり、高階調用の単位トランジスタ224で2ビット目から7ビット目を形成し、低階調の単位トランジスタ224bを用いて0ビット目と1ビット目を形成する。しかし、本発明はこれに限定するものではない。3種類以上であってもよいことは言うまでもない。   FIG. 24B shows a plurality of types of unit transistors 224 constituting the transistor group 251c. In FIG. 24B, there are three types (224, 224a, 224b). This is because, as described above, when the size of the unit transistor 224 is different, the magnitude of the output current is not proportional to the shape, so that the design becomes difficult. Therefore, the size of the unit transistor 224 included in the transistor 251c is preferably two types for low gradation and high gradation. For example, in FIG. 24B, the first bit may be configured by using two 0-bit unit transistors 224b which are low-gradation unit transistors. That is, the second to seventh bits are formed by the high gradation unit transistor 224, and the 0th bit and the first bit are formed by using the low gradation unit transistor 224b. However, the present invention is not limited to this. Needless to say, there may be three or more types.

図26でも図示しているように、トランジスタ群251cを構成する単位トランジスタ224のゲート端子は、1つのゲート配線223で接続されている。ゲート配線223に印加された電圧により単位トランジスタ224の出力電流が決定される。したがって、トランジスタ群251c内の単位トランジスタ224の形状が同一であれば、各単位トランジスタ224は同一の単位電流を出力する。   As shown in FIG. 26, the gate terminals of the unit transistors 224 constituting the transistor group 251c are connected by one gate wiring 223. The output current of the unit transistor 224 is determined by the voltage applied to the gate wiring 223. Therefore, if the unit transistors 224 in the transistor group 251c have the same shape, each unit transistor 224 outputs the same unit current.

本発明は、トランジスタ群251cを構成する単位トランジスタ224のゲート配線223を共通にすることには限定されない。たとえば、図25(a)のように構成してもよい。なお、トランジスタ群251bとはトランジスタ228bが対応する。つまり、トランジスタ群251cによりトランジスタ228bが構成されている。図25(a)において、トランジスタ群251b1とカレントミラー回路を構成する単位トランジスタ224と、トランジスタ群251b2とカレントミラー回路を構成する単位トランジスタ224とが配置されている。   The present invention is not limited to the common gate wiring 223 of the unit transistors 224 constituting the transistor group 251c. For example, it may be configured as shown in FIG. Note that the transistor group 251b corresponds to the transistor 228b. That is, the transistor group 251c constitutes the transistor 228b. In FIG. 25A, a transistor group 251b1 and a unit transistor 224 constituting a current mirror circuit, and a transistor group 251b2 and a unit transistor 224 constituting a current mirror circuit are arranged.

トランジスタ群251b1はゲート配線223aで接続されている。トランジスタ群251b2はゲート配線223bで接続されている。図25(a)の一番上の1個の単位トランジスタ224はLSB(0ビット目)であり、2段目の2個の単位トランジスタ224は1ビット目、3段目の4個の単位トランジスタ224は2ビット目である。また、4段目の組の8個の単位トランジスタ224は3ビット目である。   The transistor group 251b1 is connected by a gate wiring 223a. The transistor group 251b2 is connected by a gate wiring 223b. In FIG. 25A, the uppermost unit transistor 224 is LSB (0th bit), and the second stage two unit transistors 224 are the first bit and the third stage four unit transistors. 224 is the second bit. The eight unit transistors 224 in the fourth stage set are the third bit.

図25(a)において、ゲート配線223aとゲート配線223bの印加電圧を変化させることにより、各単位トランジスタ224のサイズ、形状が同一であっても、各単位トランジスタ224の出力電流をゲート配線223の印加電圧により変化(変更)することができる。   In FIG. 25A, by changing the voltage applied to the gate wiring 223a and the gate wiring 223b, the output current of each unit transistor 224 is supplied to the gate wiring 223 even if the size and shape of each unit transistor 224 are the same. It can be changed (changed) by the applied voltage.

図25(a)において、単位トランジスタ224のサイズなどを同一にして、ゲート配線223a、223bの電圧を異ならせるとしたが、本発明はこれに限定するものではない。単位トランジスタ224のサイズなどを異ならせ、印加するゲート配線223a、223bの電圧を調整することにより、異なる形状の単位トランジスタ224の出力電流を同一となるようにしてもよい。   In FIG. 25A, the unit transistors 224 have the same size and the like, and the voltages of the gate wirings 223a and 223b are different. However, the present invention is not limited to this. The unit transistors 224 may have the same output current by changing the sizes of the unit transistors 224 and adjusting the voltages of the gate wirings 223a and 223b to be applied.

図24では、低階調のビットを構成する単位トランジスタ224サイズは、高階調を構成する単位トランジスタ224よりも小さくした。単位トランジスタ224のサイズが小さくなると、出力バラツキが大きくなる。この課題を解決するため、実際には、低階調の単位トランジスタ224はチャンネル長Lを高階調よりも大きくし、単位トランジスタ224の面積を小さくならないようにしてバラツキを抑制している。たとえば、単位トランジスタ224aのチャンネル幅Wbは単位トランジスタ224のチャンネル幅Wと同一に、単位トランジスタ224aのチャンネル長Lbは単位トランジスタ224のチャンネル長Lの2倍に形成する。   In FIG. 24, the size of the unit transistor 224 constituting the low gradation bit is made smaller than that of the unit transistor 224 constituting the high gradation. As the size of the unit transistor 224 decreases, the output variation increases. In order to solve this problem, the unit transistor 224 having a low gradation actually has a channel length L larger than that of the high gradation, so that the area of the unit transistor 224 is not reduced, thereby suppressing variations. For example, the channel width Wb of the unit transistor 224a is the same as the channel width W of the unit transistor 224, and the channel length Lb of the unit transistor 224a is formed to be twice the channel length L of the unit transistor 224.

ソースドライバ回路(IC)14の単位トランジスタ224の最小出力電流は0.5nA以上10nAにしている。特に単位トランジスタ224の最小出力電流は2nA以上20nAにすることがよい。ドライバIC14内の単位トランジスタ群251cを構成する単位トランジスタ224の精度を確保するためである。   The minimum output current of the unit transistor 224 of the source driver circuit (IC) 14 is 0.5 nA or more and 10 nA. In particular, the minimum output current of the unit transistor 224 is preferably 2 nA or more and 20 nA. This is to ensure the accuracy of the unit transistors 224 constituting the unit transistor group 251c in the driver IC 14.

以上のように構成することにより、各出力端子93の出力バラツキを低減することができる。特に、各端子間の隣接バラツキを低減することができる。さらに、出力バラツキを低減するためには、図27のように構成する。   By configuring as described above, the output variation of each output terminal 93 can be reduced. In particular, the adjacent variation between the terminals can be reduced. Further, in order to reduce the output variation, the configuration is as shown in FIG.

図27と、図26との差異は、出力段251cの出力側に、出力選択回路1531を有する構成である。出力選択回路は1531、主として選択回路とアナログスイッチから構成される。出力選択回路1531は、任意の出力段251cの出力電流を、任意の出力端子93から出力させることができる。つまり、シャッフル回路である。   The difference between FIG. 27 and FIG. 26 is that the output selection circuit 1531 is provided on the output side of the output stage 251c. The output selection circuit 1531 mainly comprises a selection circuit and an analog switch. The output selection circuit 1531 can output the output current of an arbitrary output stage 251c from an arbitrary output terminal 93. That is, it is a shuffle circuit.

たとえば、出力段251c1の出力電流は、出力端子93aに出力することができるし、出力端子93c、93nにも出力することができる。つまり、出力段251c1のプログラム電流をどの出力端子93にでも出力させることができる。出力選択回路1531の切り換えタイミング(動作タイミング)は、コントローラ722により制御される。たとえば、出力選択回路1531の制御により、出力段251aの出力信号を、1水平走査期間の前半に出力端子93aに出力し、後半に出力端子93bに出力することができる。また、出力選択回路1531は、出力段251cに設定される階調番号により動作を変化させることができる。   For example, the output current of the output stage 251c1 can be output to the output terminal 93a, and can also be output to the output terminals 93c and 93n. That is, the program current of the output stage 251c1 can be output to any output terminal 93. The switching timing (operation timing) of the output selection circuit 1531 is controlled by the controller 722. For example, the output selection circuit 1531 can control the output signal of the output stage 251a to be output to the output terminal 93a in the first half of one horizontal scanning period and to the output terminal 93b in the second half. Further, the output selection circuit 1531 can change the operation according to the gradation number set in the output stage 251c.

出力選択回路1531は、1つまたは複数の出力段251cからの出力信号(電圧または電流)を1つまたは複数の出力端子93から出力されるように動作させることができることは言うまでもない。たとえば、出力段251c1、251c3、251c5の出力電流を合成して、出力端子93aに出力することができる。また、出力段251c1、251c3、251c5の出力電流を合成して、出力端子93aと出力端子93bの両方に出力することができる。また、出力段251c1の出力電流を合成して、出力端子93aと出力端子93bの両方に出力することができる。   It goes without saying that the output selection circuit 1531 can be operated so that an output signal (voltage or current) from one or more output stages 251c is output from one or more output terminals 93. For example, the output currents of the output stages 251c1, 251c3, and 251c5 can be combined and output to the output terminal 93a. Further, the output currents of the output stages 251c1, 251c3, and 251c5 can be combined and output to both the output terminal 93a and the output terminal 93b. Further, the output current of the output stage 251c1 can be combined and output to both the output terminal 93a and the output terminal 93b.

本発明の出力選択回路1531の説明は、出力段251cが電流出力であるとして説明するが、これに限定するものではない。たとえば、出力段251cが電圧出力であってもよい。つまり、ソースドライバ回路(IC)14が液晶表示パネルのように、電圧駆動を実施する場合が例示される。なお、EL表示パネルが電圧駆動である場合も同様に適用される。また、出力選択回路1531は、ソースドライバ回路(IC)14がシリコンチップとして構成され、前記チップ14に内蔵されているとして説明するが、これに限定するものではない。たとえば、出力選択回路1531を、ポリシリコン技術などでガラス基板30に直接形成してもよい。また、別チップに形成または構成してもよい。   The output selection circuit 1531 of the present invention will be described assuming that the output stage 251c is a current output, but the present invention is not limited to this. For example, the output stage 251c may be a voltage output. That is, a case where the source driver circuit (IC) 14 performs voltage driving like a liquid crystal display panel is exemplified. The same applies when the EL display panel is voltage driven. Further, the output selection circuit 1531 is described assuming that the source driver circuit (IC) 14 is configured as a silicon chip and is built in the chip 14, but is not limited thereto. For example, the output selection circuit 1531 may be directly formed on the glass substrate 30 by polysilicon technology or the like. Moreover, you may form or comprise in another chip | tip.

出力段251cは単位トランジスタ224で構成されるため、各出力段251の出力電流バラツキは小さい。しかし、ソースドライバ回路(IC)のチップには、穏やかなモビリティ特性、Vt特性のうねりがある。このうねりにより出力段251cから出力電流は変化する。   Since the output stage 251c includes the unit transistor 224, the output current variation of each output stage 251 is small. However, a source driver circuit (IC) chip has gentle mobility characteristics and undulations of Vt characteristics. This undulation changes the output current from the output stage 251c.

このうねりの影響がない様にするには、1つの出力段251cを構成する単位トランジスタ224の形成領域をうねりの周期にまたがる大きさ(範囲あるいは面積)に形成すればよい。しかし、この場合は、単位トランジスタ224の形成面積が大きく、巨大なチップサイズとなってしまう。本発明はこの課題に対して、1つに出力端子93に出力する電流を、チップ14内の比較的広い領域から選択肢、選択する領域を一定条件で変化させることにより形成(発生)させる。たとえば、出力端子93aに、38階調目のプログラム電流を出力させ、ある画素16に32階調目のプログラム電流を書き込む場合を例示する。1フィールド(フレーム)目では、出力選択回路1531は、出力段251c1から、38階調目のプログラム電流を出力されるように制御し、この出力段251c1からプログラム電流を出力端子93aから出力する。   In order to prevent the influence of this undulation, the formation region of the unit transistor 224 constituting one output stage 251c may be formed in a size (range or area) that spans the undulation period. However, in this case, the unit transistor 224 is formed in a large area, resulting in a huge chip size. In the present invention, the current to be output to the output terminal 93 is selected (selected) from a relatively wide area in the chip 14 and formed (generated) by changing the selected area under a certain condition. For example, a case where a 38th gradation program current is output to the output terminal 93a and a 32nd gradation program current is written to a certain pixel 16 is exemplified. In the first field (frame), the output selection circuit 1531 controls the output stage 251c1 to output the 38th gradation program current, and the output stage 251c1 outputs the program current from the output terminal 93a.

次のフィールド(フレーム)では、出力段251c2から、38階調目のプログラム電流を出力されるように制御し、この出力段251c2からプログラム電流を出力端子93aから出力する。さらに次のフィールド(フレーム)では、出力選択回路1531は、出力段251c3から、38階調目のプログラム電流を出力されるように制御し、この出力段251c3からプログラム電流を出力端子93aから出力する。以降、この動作を順次繰り返す。また、各出力端子93からは、対応する(書き込む)画素に応じて各出力段251cの階調設定がなされ、プログラム電流がソース信号線18に出力される。   In the next field (frame), control is performed so that the program current of the 38th gradation is output from the output stage 251c2, and the program current is output from the output stage 251c2 from the output terminal 93a. In the next field (frame), the output selection circuit 1531 controls the output stage 251c3 to output the 38th gradation program current, and outputs the program current from the output stage 251c3 from the output terminal 93a. . Thereafter, this operation is sequentially repeated. Also, from each output terminal 93, the gradation of each output stage 251 c is set according to the corresponding (written) pixel, and a program current is output to the source signal line 18.

図28は以上の動作を表にまとめたものである。図28は、出力端子93と、水平走査期間(H)の関係を示している。ただし、理解を容易にするため、階調に関する記載は省略している。つまり、単に出力端子93には、各Hにどの出力段251cからのプログラム電流が出力されているかを示している。   FIG. 28 summarizes the above operations in a table. FIG. 28 shows the relationship between the output terminal 93 and the horizontal scanning period (H). However, in order to facilitate understanding, description regarding gradation is omitted. That is, the output terminal 93 simply indicates from which output stage 251 c the program current is output to each H.

図28において、出力端子93aには、出力選択回路1531により、1H目に出力段251c1が選択される。なお、表では出力段251c1の1を図示している。2H目に出力段251c2が選択され(表では2と図示している)、3H目に出力段251c3(図28の表では3と図示している)が選択される。さらに、次の4H目では出力段251c4が選択され(図28の表では4を図示している)、5H目では、出力段251c5が選択される。   In FIG. 28, the output stage 251c1 is selected at the 1H level by the output selection circuit 1531 for the output terminal 93a. In the table, 1 of the output stage 251c1 is illustrated. The output stage 251c2 is selected at 2H (shown as 2 in the table), and the output stage 251c3 (shown at 3 in the table of FIG. 28) is selected at 3H. Further, in the next 4H, the output stage 251c4 is selected (4 is shown in the table of FIG. 28), and in the 5H, the output stage 251c5 is selected.

同様に、出力端子93bには、出力選択回路1531により、1H目に出力段251cn(最終段の出力段)が選択される。なお、表では出力段251cnのnを図示している。2H目に出力段251c1が選択され(表では1と図示している)、3H目に出力段251c2(図28の表では2と図示している)が選択される。さらに、次の4H目では出力段251c3が選択され(図28の表では3を図示している)、5H目では、出力段251c4が選択される。以下、同様である。   Similarly, for the output terminal 93b, the output stage 251cn (the final output stage) is selected at the 1H level by the output selection circuit 1531. In the table, n of the output stage 251cn is illustrated. Output stage 251c1 is selected at 2H (shown as 1 in the table), and output stage 251c2 (shown at 2 in the table of FIG. 28) is selected at 3H. Further, in the next 4H, the output stage 251c3 is selected (3 is shown in the table of FIG. 28), and in the 5H, the output stage 251c4 is selected. The same applies hereinafter.

同様に出力端子93cには、出力選択回路1531により、1H目に出力段251cn−1が選択される。なお、表ではn−1と図示している。2H目に出力段251cnが選択され(表ではnと図示している)、3H目に出力段251c1(図28の表では1と図示している)が選択される。さらに、次の4H目では出力段251c2が選択され(図28の表では2を図示している)、5H目では、出力段251c3が選択される。以下同様である。   Similarly, for the output terminal 93c, the output stage 251cn-1 is selected at the 1H level by the output selection circuit 1531. In the table, n-1 is illustrated. The output stage 251cn is selected at 2H (shown as n in the table), and the output stage 251c1 (shown at 1 in the table of FIG. 28) is selected at 3H. Further, in the next 4H, the output stage 251c2 is selected (2 is shown in the table of FIG. 28), and in the 5H, the output stage 251c3 is selected. The same applies hereinafter.

以上のように、たとえば、出力端子93aには、Hごとに異なる出力段251cからのプログラム電流が出力され、ソース信号線18を介して画素に順次印加される。   As described above, for example, the program current from the output stage 251 c different for each H is output to the output terminal 93 a and sequentially applied to the pixels via the source signal line 18.

さらに理解を容易にするため、出力端子93aを例示して説明する。1H目ではソース信号線18a(出力端子93aに接続されたソース信号線)に印加される(出力される)出力段は251c1である。1H目では、第1画素行目で、かつソース信号線18aに接続された画素に出力段251c1からの信号が印加される。2H目ではソース信号線18a(出力端子93aに接続されたソース信号線)に印加される(出力される)出力段は251c2である。2H目では、第2画素行目で、かつソース信号線18aに接続された画素に出力段251c2からの信号が印加される。同様に、3H目ではソース信号線18a(出力端子93aに接続されたソース信号線)に印加される(出力される)出力段は251c3である。3H目では、第3画素行目で、かつソース信号線18aに接続された画素に出力段251c3からの信号が印加される。以上の動作を順次最終のm画素行(mは最終の画素行番号)の画素に実施していく。画素の選択はゲートドライバ回路17aにより選択される。   For easier understanding, the output terminal 93a will be described as an example. At 1H, the output stage applied (output) to the source signal line 18a (source signal line connected to the output terminal 93a) is 251c1. At 1H, the signal from the output stage 251c1 is applied to the pixel in the first pixel row and connected to the source signal line 18a. At 2H, the output stage applied (output) to the source signal line 18a (source signal line connected to the output terminal 93a) is 251c2. In 2H, the signal from the output stage 251c2 is applied to the pixel in the second pixel row and connected to the source signal line 18a. Similarly, the output stage applied to (output to) the source signal line 18a (the source signal line connected to the output terminal 93a) is 251c3 at the 3rd H. In 3H, the signal from the output stage 251c3 is applied to the pixel in the third pixel row and connected to the source signal line 18a. The above operation is sequentially performed on the pixels in the final m pixel row (m is the final pixel row number). The pixel is selected by the gate driver circuit 17a.

最終画素行まで以上の動作を実施すると、また、第1画素行に対して以上の動作を行う。ただし、第1画素行の画素には、出力段251c1以外の出力信号が印加される。たとえば、出力段251c2の出力信号が印加される。つまり、フィールド(フレーム)ごとに異なる出力段251cの出力信号が印加されるようにし、各画素16に書き込まれる信号を平均化し出力段251cの出力ムラ分布が反映されないようにしている。各画素16に書き込まれる出力段251cからの信号はランダム化することが好ましいが、これが不可能な場合は、少なくとも2つの出力段251cの出力が書き込まれて平均化されるように制御する。以上の事項は、第2画素行の画素以降にも同様に適用される。また、出力端子93a以外(93b〜93n)に対しても同様の動作が実施される。   When the above operation is performed up to the final pixel row, the above operation is performed on the first pixel row. However, an output signal other than the output stage 251c1 is applied to the pixels in the first pixel row. For example, the output signal of the output stage 251c2 is applied. That is, the output signal of the output stage 251c that is different for each field (frame) is applied, and the signal written to each pixel 16 is averaged so that the output unevenness distribution of the output stage 251c is not reflected. The signal from the output stage 251c written to each pixel 16 is preferably randomized, but if this is not possible, control is performed so that the outputs of at least two output stages 251c are written and averaged. The above matters are similarly applied to the pixels after the pixel in the second pixel row. In addition, the same operation is performed for other than the output terminal 93a (93b to 93n).

以上のように、基本的には1つの出力段251cの出力と1つの出力端子とが、出力選択回路1531により選択され、各出力段251cの出力がソース信号線18に印加される。ソース信号線18から出力される信号は、正規の(正常な)画像表示となるように、ラッチ回路351にラッチ保持される。   As described above, basically, the output of one output stage 251 c and one output terminal are selected by the output selection circuit 1531, and the output of each output stage 251 c is applied to the source signal line 18. The signal output from the source signal line 18 is latched and held in the latch circuit 351 so that a normal (normal) image display is obtained.

1画面あるいは一定の表示周期が終了すると、出力端子93から出力される出力段521cの順番を入れ替えることが好ましい。たとえば、図28の表の状態が、1フレーム目とする。次の2フレーム目では、図28の表の出力端子93aの出力段251cの選択状態(251c1、251c2、251c3、251c4・・・・・・)を、出力端子93bの出力段251cの選択状態(251cn、251c1、251c2、251c3、251c4・・・・・・)とする。図28の表の出力端子93bの出力段251cの選択状態(251cn、251c1、251c2、251c3、251c4・・・・・・)を、出力端子93cの出力段251cの選択状態(251cn−1、251cn、251c1、251c2、251c3、251c4・・・・・・)とする。図28の表の出力端子93cの出力段251cの選択状態(251cn−1、251cn、251c1、251c2、251c3、251c4・・・・・・)を、出力端子93dの出力段251cの選択状態(251cn−2、251cn−1、251cn、251c1、251c2、251c3、251c4・・・・・・)とする。以後同様にシフトさせる。   When one screen or a fixed display cycle is completed, the order of the output stage 521c output from the output terminal 93 is preferably changed. For example, the state of the table in FIG. 28 is the first frame. In the next second frame, the selection state (251c1, 251c2, 251c3, 251c4,...) Of the output stage 251c of the output terminal 93a in the table of FIG. 251cn, 251c1, 251c2, 251c3, 251c4. The selection state (251cn, 251c1, 251c2, 251c3, 251c4,...) Of the output stage 251c of the output terminal 93b in the table of FIG. 28 is changed to the selection state (251cn-1, 251cn) of the output stage 251c of the output terminal 93c. , 251c1, 251c2, 251c3, 251c4,. The selection state (251cn-1, 251cn, 251c1, 251c2, 251c3, 251c4,...) Of the output stage 251c of the output terminal 93c in the table of FIG. 28 is the selection state (251cn) of the output stage 251c of the output terminal 93d. -2, 251cn-1, 251cn, 251c1, 251c2, 251c3, 251c4. Thereafter, the same shift is performed.

次の3フレーム目では、出力端子93aの出力段251cの選択状態(251cn、251c1、251c2、251c3、251c4・・・・・・)を、出力端子93bの出力段251cの選択状態(251cn−1、251cn、251c1、251c2、251c3、251c4・・・・・・)とする。出力端子93bの出力段251cの選択状態(251cn−1、251cn、251c1、251c2、251c3、251c4・・・・・・)を、出力端子93cの出力段251cの選択状態(251cn−1、251cn−1、251cn、251c1、251c2、251c3、251c4・・・・・・)とする。出力端子93cの出力段251cの選択状態(251cn−2、251cn−1、251cn、251c1、251c2、251c3、251c4・・・・・・)を、出力端子93dの出力段251cの選択状態(251c−3、251cn−2、251cn−1、251cn、251c1、251c2、251c3、251c4・・・・・・)とする。以後同様にシフトさせる。   In the next third frame, the selection state (251cn, 251c1, 251c2, 251c3, 251c4,...) Of the output stage 251c of the output terminal 93a is changed to the selection state (251cn-1) of the output stage 251c of the output terminal 93b. , 251cn, 251c1, 251c2, 251c3, 251c4,. The selection state of the output stage 251c of the output terminal 93b (251cn-1, 251cn, 251c1, 251c2, 251c3, 251c4,...) And the selection state of the output stage 251c of the output terminal 93c (251cn-1, 251cn− 1, 251cn, 251c1, 251c2, 251c3, 251c4. The selection state of the output stage 251c of the output terminal 93c (251cn-2, 251cn-1, 251cn, 251c1, 251c2, 251c3, 251c4,...) And the selection state of the output stage 251c of the output terminal 93d (251c− 3, 251cn-2, 251cn-1, 251cn, 251c1, 251c2, 251c3, 251c4. Thereafter, the same shift is performed.

なお、本発明では説明を容易にするため、1フレームまたは1フィールドで出力端子93から出力される状態を入れ替えるとして説明するが、これに限定するものではない。複数フレームまたはフィールドで入れ替えてもよい。また、複数画素行(複数水平走査期間)ごとに入れ替えてもよい。また、フレームまたは画素行(水平走査期間)に限定されるものではなく、一定周期もしくはランダム周期で入れ替えてもよい。以上の事項は本発明の他の実施例にも適用されることは言うまでもない。   In the present invention, for ease of explanation, the state output from the output terminal 93 in one frame or one field is described as being replaced, but the present invention is not limited to this. It may be replaced by a plurality of frames or fields. Moreover, you may replace every several pixel rows (multiple horizontal scanning periods). Moreover, it is not limited to a frame or a pixel row (horizontal scanning period), and may be exchanged at a constant cycle or a random cycle. It goes without saying that the above matters also apply to other embodiments of the present invention.

シフトさせることにより、画面94の表示状態は、出力段251cの特性の影響を受けず、均一な表示を実現できる。シフトの方式には他の方法も例示される。   By shifting, the display state of the screen 94 is not affected by the characteristics of the output stage 251c, and a uniform display can be realized. Other methods are also exemplified for the shift method.

たとえば、フレームごとに、出力端子93aと出力端子93nの状態を入れ替える。出力端子93bと出力端子93n−1の状態を入れ替える。出力端子93cと出力端子93n−2の状態を入れ替える。以下同様で入れ替える。つまり、画面の左右を入れ替える。   For example, the states of the output terminal 93a and the output terminal 93n are switched for each frame. The states of the output terminal 93b and the output terminal 93n-1 are switched. The states of the output terminal 93c and the output terminal 93n-2 are switched. The same applies to the following. That is, the left and right sides of the screen are switched.

また、他の方法も例示される。たとえば、フレームごとに、奇数番目の出力端子93と偶数番目の出力端子93の状態とを入れ替える。もちろん、ランダムに入れ替えてもよい。   Other methods are also exemplified. For example, the states of the odd-numbered output terminals 93 and the even-numbered output terminals 93 are switched for each frame. Of course, you may replace at random.

また、第1のフレームでは、出力端子93aと出力端子93bの状態とを入れ替える。次の第2のフレームでは、出力端子93aと出力端子93cの状態とを入れ替える。次の第3のフレームでは、出力端子93aと出力端子93dの状態とを入れ替える。次の第4のフレームでは、出力端子93aと出力端子93ce状態とを入れ替える。以下、他の出力端子も同様に入れ替える方法が例示される。   In the first frame, the states of the output terminal 93a and the output terminal 93b are switched. In the next second frame, the states of the output terminal 93a and the output terminal 93c are switched. In the next third frame, the states of the output terminal 93a and the output terminal 93d are switched. In the next fourth frame, the output terminal 93a and the output terminal 93ce state are switched. Hereinafter, a method of replacing other output terminals in the same manner is exemplified.

また、第1、第3のフレームなどの奇数番目のフレームでは、奇数番目の出力端子93間で入れ替え、偶数番目の出力端子93間で入れ替える。第2、第4のフレームなどの偶数番目のフレームでは、隣接した奇数番目と偶数番目の出力端子93間で入れ替える方式が例示される。   In odd-numbered frames such as the first and third frames, the odd-numbered output terminals 93 are switched and the even-numbered output terminals 93 are switched. In the even-numbered frames such as the second and fourth frames, a method of switching between adjacent odd-numbered and even-numbered output terminals 93 is exemplified.

また、ソースドライバ回路(IC)14では、4mm〜8mmの周期で特性周期が分布する。これは、IC製造時の拡散工程により発生する。したがって、出力端子93の入れ替え範囲は、4mm以上の範囲で実施する。たとえば、出力段251a〜251nの形成長さが20mmあり、4mm周期で特性分布が発生する恐れがある場合は、少なくとも20/5=5ブロック以下の範囲内で出力端子93と出力段251cとの接続を出力選択回路1351により入れ替えることが好ましい。   In the source driver circuit (IC) 14, the characteristic period is distributed with a period of 4 mm to 8 mm. This occurs due to a diffusion process during IC manufacturing. Therefore, the replacement range of the output terminal 93 is performed in a range of 4 mm or more. For example, when the formation length of the output stages 251a to 251n is 20 mm and there is a possibility that the characteristic distribution may occur at a cycle of 4 mm, the output terminal 93 and the output stage 251c are at least within a range of 20/5 = 5 blocks or less. It is preferable to replace the connection by the output selection circuit 1351.

また、先の説明では、最終画素行まで以上の動作を実施すると、また、第1画素行に対して同一の動作を行うとしたが、これに限定されるものではない。たとえば、最終画素行−1画素行までに1周期を完了させ、最終画素行から次の周期を開始してもよい。つまり、出力端子93aを例示すれば、1画素行目の画素には、出力段251c1からの信号が印加される。2画素行目の画素には、出力段251c2からの信号が印加され、3画素行目の画素には、出力段251c3からの信号が印加され、4画素行目の画素には、出力段251c4からの信号が印加される。以上の動作を順次行い、最終の画素行から1つ前の画素行に、たとえば、出力段251nの信号が印加されたとすると、最終の画素行には、出力段251c1の信号が印加される。したがって、次のフレームである1画素行目の画素には、出力段251c2からの信号が印加される。2画素行目の画素には、出力段251c3からの信号が印加され、3画素行目の画素には、出力段251c4からの信号が印加される。このように駆動することにより、フレーム(フィールド)周期では、1画素行あるいはそれ以上がずれて、出力段251c選択が行われることになり、各画素に印加する出力段251cが長期間で変化させることができる。したがって、各画素16は多数の出力段251cからの信号で駆動されることになり、画像表示は均一化される。なお、他の出力端子93においても同様の制御が実施される。   In the above description, when the above operation is performed up to the last pixel row, and the same operation is performed on the first pixel row, the present invention is not limited to this. For example, one cycle may be completed before the last pixel row minus one pixel row, and the next cycle may be started from the last pixel row. That is, if the output terminal 93a is exemplified, a signal from the output stage 251c1 is applied to the pixels in the first pixel row. A signal from the output stage 251c2 is applied to the pixels in the second pixel row, a signal from the output stage 251c3 is applied to the pixels in the third pixel row, and an output stage 251c4 is applied to the pixels in the fourth pixel row. The signal from is applied. If the above operation is sequentially performed and a signal of the output stage 251n is applied to the pixel line immediately before the last pixel line, for example, the signal of the output stage 251c1 is applied to the final pixel line. Therefore, the signal from the output stage 251c2 is applied to the pixels in the first pixel row which is the next frame. A signal from the output stage 251c3 is applied to the pixels in the second pixel row, and a signal from the output stage 251c4 is applied to the pixels in the third pixel row. By driving in this manner, the output stage 251c is selected with a shift of one pixel row or more in the frame (field) cycle, and the output stage 251c applied to each pixel is changed over a long period of time. be able to. Therefore, each pixel 16 is driven by signals from a number of output stages 251c, and the image display is made uniform. Note that the same control is performed on the other output terminals 93.

また、画面の第1画素行から最終画素行まで選択された後、今度は、最終画素行から第1画素行の方向に選択される出力段251cを変化させてもよい。つまり、出力端子93aを例示すれば、1画素行目の画素には、出力段251c1からの信号が印加される。2画素行目の画素には、出力段251c2からの信号が印加され、3画素行目の画素には、出力段251c3からの信号が印加され、4画素行目の画素には、出力段251c4からの信号が印加される。以上の動作を順次行い、最終の画素行に、たとえば、出力段251nの信号が印加されたとすると、次のフレームである1画素行目の画素には、出力段251cnからの信号が印加される。2画素行目の画素には、出力段251cn−1からの信号が印加され、3画素行目の画素には、出力段251cn−3からの信号が印加される。このように駆動することにより、フレーム(フィールド)周期で、各画素に印加する出力段251cが長期間で変化させることができる。したがって、各画素16は多数の出力段251cからの信号で駆動されることになり、画像表示は均一化される。なお、他の出力端子93においても同様の制御が実施される。   Further, after the selection from the first pixel row to the last pixel row on the screen, the output stage 251c selected in the direction from the last pixel row to the first pixel row may be changed. That is, if the output terminal 93a is exemplified, a signal from the output stage 251c1 is applied to the pixels in the first pixel row. A signal from the output stage 251c2 is applied to the pixels in the second pixel row, a signal from the output stage 251c3 is applied to the pixels in the third pixel row, and an output stage 251c4 is applied to the pixels in the fourth pixel row. The signal from is applied. If the above operation is sequentially performed and the signal of the output stage 251n is applied to the final pixel row, for example, the signal from the output stage 251cn is applied to the pixel of the first pixel row which is the next frame. . A signal from the output stage 251cn-1 is applied to the pixels in the second pixel row, and a signal from the output stage 251cn-3 is applied to the pixels in the third pixel row. By driving in this way, the output stage 251c applied to each pixel can be changed over a long period in a frame (field) cycle. Therefore, each pixel 16 is driven by signals from a number of output stages 251c, and the image display is made uniform. Note that the same control is performed on the other output terminals 93.

出力端子93を順次選択する出力段251cの順番をランダム化してもよい。また、2とばしや、3以上とばしで出力段251cを選択してもよい。   The order of the output stage 251c that sequentially selects the output terminals 93 may be randomized. Further, the output stage 251c may be selected by skipping 2 or skipping 3 or more.

なお、出力段251の個数は、行方向のドット数(ソース信号線18の本数)以上の個数を形成または構成しておき、そのうち、必要な個数(基本的にはソース信号線18の本数)を選択して各ソース信号線18に出力段251cからの出力信号を印加してもよい。   Note that the number of output stages 251 is equal to or greater than the number of dots in the row direction (number of source signal lines 18), and the required number (basically the number of source signal lines 18). And an output signal from the output stage 251c may be applied to each source signal line 18.

以上の実施例では、R、G、Bの各出力段251については、説明していないが、R、G、Bの各出力段251cの出力にも出力選択回路1531が形成または構成されている。R、G、Bの各出力選択回路1531の制御により、各出力端子93から出力される信号が、出力段251cを選択して出力される。本発明はこれに限定するものではなく、R、G、Bで共通の出力選択回路1531を形成または構成し、出力段251cがRGBの区別なく選択されて各出力端子93から出力されるように構成しても良いことは言うまでもない。   In the above embodiment, the output stages 251 for R, G, and B are not described, but an output selection circuit 1531 is also formed or configured for the output of each output stage 251c for R, G, and B. . Under the control of the R, G, and B output selection circuits 1531, signals output from the output terminals 93 are selected and output from the output stage 251c. The present invention is not limited to this, and an output selection circuit 1531 common to R, G, and B is formed or configured so that the output stage 251c is selected without discrimination between RGB and output from each output terminal 93. Needless to say, it may be configured.

以上の実施例では、選択する出力段251cを変化させることにより、出力段251cの特性バラツキを平均化し、均一な画像表示を実現するという駆動方式であった。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。   In the above-described embodiment, the driving method is such that by changing the output stage 251c to be selected, the characteristic variation of the output stage 251c is averaged and a uniform image display is realized. However, the present invention is not limited to this.

均一の方式として、基準電流を変化させるという方法がある。図27などに図示する基準電流Icにより出力段251cの特性が変化するからである。複数の基準電流Icにより、出力段251cの信号(出力電流または出力電圧)を変化させることにより、より均一が画像表示を実現できる。なお、この方式では、出力選択回路1531は必要ないが、出力選択回路1531により、選択する出力段251cを変化させることにより、より均一な画像表示を実現できることは言うまでもない。   As a uniform method, there is a method of changing the reference current. This is because the characteristics of the output stage 251c change depending on the reference current Ic illustrated in FIG. By changing the signal (output current or output voltage) of the output stage 251c with a plurality of reference currents Ic, more uniform image display can be realized. In this method, the output selection circuit 1531 is not necessary, but it goes without saying that a more uniform image display can be realized by changing the output stage 251c to be selected by the output selection circuit 1531.

基準電流Icの大きさと出力段251cから出力されるプログラム電流は基本的には比例する。しかし、選択される単位トランジスタ数などによりプログラム電流Icは変化する。以上のことから、基準電流を変化させ、画素16に書き込まれるプログラム電流が平均的に目標値となるように駆動することにより、均一は画像表示を実現できる。   The magnitude of the reference current Ic is basically proportional to the program current output from the output stage 251c. However, the program current Ic varies depending on the number of unit transistors selected. From the above, uniform image display can be realized by changing the reference current and driving the program current written in the pixels 16 to have an average target value.

図29はその実施例である。図29の実施例では、一例として基準電流Ic1とIc2で駆動する場合を例示している。また、図29では、水平走査期間ごとに基準電流Ic1とIc2とを変化させている。なお、目標の基準電流IcとIc1、Ic2とは、Ic=(Ic1+Ic2)/2の関係に調整されている。   FIG. 29 shows an example thereof. In the example of FIG. 29, the case of driving with reference currents Ic1 and Ic2 is illustrated as an example. In FIG. 29, the reference currents Ic1 and Ic2 are changed every horizontal scanning period. Note that the target reference current Ic and Ic1 and Ic2 are adjusted to a relationship of Ic = (Ic1 + Ic2) / 2.

なお、以下の実施例では、基準電流を一定の周期で変化させるとして説明している。基準電流の変化させるのは、図30などの電子ボリウム291を変化させる方法がある。他にも、カスケード接続を行う場合に、マスターチップ(ソースドライバ回路(IC)14)からスレーブチップ(ソースドライバ回路(IC)14)に基準電流(この場合はカスケード電流)を受け渡す構成がある。基準電流(カスケード電流)はトランジスタ群251bに印加され、このカスケード電流に対応して出力段251cからプログラム電流が出力される。したがって、基準電流を変化することは、カスケード電流が変化することと同義である。   In the following embodiments, it is described that the reference current is changed at a constant cycle. The reference current can be changed by a method of changing the electronic volume 291 shown in FIG. In addition, when performing cascade connection, there is a configuration in which a reference current (in this case, cascade current) is transferred from the master chip (source driver circuit (IC) 14) to the slave chip (source driver circuit (IC) 14). . A reference current (cascade current) is applied to the transistor group 251b, and a program current is output from the output stage 251c corresponding to the cascade current. Therefore, changing the reference current is synonymous with changing the cascade current.

1つの表示領域94を構成するのに、3つ以上のソースドライバ回路(IC)14を用いる場合は、カスケード接続において、スレーブチップが複数のマスターチップから基準電流(カスケード電流)を受け取る構成が実施される。この場合は、基準電流(カスケード電流)を発生するマスターチップが複数存在することになる。したがって、スレーブチップは、複数のマスターチップからの基準電流(カスケード電流)が入力されることになる。つまり、基準電流は複数になる。スレーブチップでは、入力される複数の基準電流を平均化することにより、良好なカスケード接続を実現する。つまり、スレーブチップは、画像表示に基準電流を切り換えるという動作を行う。この動作は以下に説明する基準電流を変化させる実施例で実現する。   When three or more source driver circuits (ICs) 14 are used to form one display region 94, a configuration in which a slave chip receives reference currents (cascade currents) from a plurality of master chips in cascade connection is implemented. Is done. In this case, there are a plurality of master chips that generate a reference current (cascade current). Therefore, the slave chip receives the reference current (cascade current) from the plurality of master chips. That is, there are a plurality of reference currents. The slave chip realizes a good cascade connection by averaging a plurality of input reference currents. That is, the slave chip performs an operation of switching the reference current for image display. This operation is realized in an embodiment in which the reference current described below is changed.

図29において、第1F(フレームまたはフィールド)では、最初の1H(第1画素行目)は、基準電流Ic1(第1のマスターチップからのカスケード電流と考えてもよい)を印加し、出力端子93から基準電流Ic1に対応するプログラム電流が各ソース信号線18に出力される。次の2H(第2画素行目)は、基準電流Ic2(第2のマスターチップからのカスケード電流と考えてもよい)を印加し、出力端子93から基準電流Ic2に対応するプログラム電流が各ソース信号線18に出力される。以下同様に、3H(第3画素行目)は、基準電流Ic1を印加し、出力端子93から基準電流Ic1に対応するプログラム電流が各ソース信号線18に出力される。第4画素行目)は、基準電流Ic2を印加し、出力端子93から基準電流Ic2に対応するプログラム電流が各ソース信号線18に出力される。   In FIG. 29, in the first F (frame or field), the first 1H (first pixel row) applies the reference current Ic1 (which may be considered as a cascade current from the first master chip), and the output terminal A program current corresponding to the reference current Ic 1 is output from the source signal line 18 to the source signal line 18. In the next 2H (second pixel row), a reference current Ic2 (which may be considered as a cascade current from the second master chip) is applied, and a program current corresponding to the reference current Ic2 is output from the output terminal 93 to each source. It is output to the signal line 18. Similarly, 3H (third pixel row) applies the reference current Ic1, and the program current corresponding to the reference current Ic1 is output from the output terminal 93 to each source signal line 18. In the fourth pixel row), the reference current Ic2 is applied, and a program current corresponding to the reference current Ic2 is output from the output terminal 93 to each source signal line 18.

第1F(フレームまたはフィールド)の次の第2Fは、基準電流が平均化されて目標の基準電流Icとなるように、最初の1H(第1画素行目)は、基準電流Ic2を印加し、出力端子93から基準電流Ic2に対応するプログラム電流が各ソース信号線18に出力される。次の2H(第2画素行目)は、基準電流Ic1を印加し、出力端子93から基準電流Ic1に対応するプログラム電流が各ソース信号線18に出力される。以下同様に、3H(第3画素行目)は、基準電流Ic2を印加し、出力端子93から基準電流Ic2に対応するプログラム電流が各ソース信号線18に出力される。第4画素行目)は、基準電流Ic1を印加し、出力端子93から基準電流Ic1に対応するプログラム電流が各ソース信号線18に出力される。   The first 2H (first pixel row) applies the reference current Ic2 so that the reference current is averaged to the target reference current Ic in the second F after the first F (frame or field), A program current corresponding to the reference current Ic 2 is output from the output terminal 93 to each source signal line 18. In the next 2H (second pixel row), the reference current Ic1 is applied, and the program current corresponding to the reference current Ic1 is output from the output terminal 93 to each source signal line 18. Similarly, 3H (third pixel row) applies the reference current Ic2, and the program current corresponding to the reference current Ic2 is output from the output terminal 93 to each source signal line 18. In the fourth pixel row), the reference current Ic1 is applied, and a program current corresponding to the reference current Ic1 is output from the output terminal 93 to each source signal line 18.

なお、基準電流の変化は2つに限定するものではなく、3以上としてもよいことは言うまでもない。また、基準電流は1Hごとに限定するものではなく、複数H(複数水平走査期間)ごとに変化させてもよい。また、水平走査期間に限定するものではなく、F(フレームまたはフィールド)周期で基準電流を変化させてもよい。また、1Hあるいは1F単位の変化に限定するものではない。1.5Hや1.5Fなどで、基準電流を変化させてもよい。   Needless to say, the change in the reference current is not limited to two and may be three or more. Further, the reference current is not limited to every 1H, but may be changed every plural H (multiple horizontal scanning periods). Further, the reference current is not limited to the horizontal scanning period, and the reference current may be changed in an F (frame or field) cycle. Moreover, it is not limited to the change of 1H or 1F unit. The reference current may be changed at 1.5H or 1.5F.

以上の実施例は、図27に図示するトランジスタ228bを構成するトランジスタ群251bに印加される基準電流Icを変化させるものであった。本発明はこれに限定するものでない。たとえば、図26に図示するように、トランジスタ群251c(出力段251c)の両側にトランジスタ群251b(チップの左端にトランジスタ228b1を構成するトランジスタ群251b1、チップの右端にトランジスタ228b2を構成するトランジスタ群251b2)を配置または形成し、トランジスタ群251b1に基準電流Ic1を印加し、トランジスタ群251b2に基準電流Ic2を印加する構成としてもよい。   In the above embodiment, the reference current Ic applied to the transistor group 251b constituting the transistor 228b shown in FIG. 27 is changed. The present invention is not limited to this. For example, as shown in FIG. 26, a transistor group 251b (a transistor group 251b1 that forms a transistor 228b1 on the left end of the chip and a transistor group 251b2 that forms a transistor 228b2 on the right end of the chip) on both sides of a transistor group 251c (output stage 251c). ) Are arranged or formed, the reference current Ic1 is applied to the transistor group 251b1, and the reference current Ic2 is applied to the transistor group 251b2.

図31の実施例で示すように基準電流Ic1を選択するか、基準電流Ic2を選択するかは、基準電流を伝送する配線途中に形成されたスイッチS1とスイッチS2を制御することにより実現する。スイッチS1をクローズし、スイッチS2をオープンすれば、出力段251cからは、基準電流Ic1に対応するプログラム電流が出力される。スイッチS2をクローズし、スイッチS1をオープンすれば、出力段251cからは、基準電流Ic2に対応するプログラム電流が出力される。   As shown in the embodiment of FIG. 31, whether the reference current Ic1 or the reference current Ic2 is selected is realized by controlling the switches S1 and S2 formed in the middle of the wiring for transmitting the reference current. If the switch S1 is closed and the switch S2 is opened, a program current corresponding to the reference current Ic1 is output from the output stage 251c. If the switch S2 is closed and the switch S1 is opened, a program current corresponding to the reference current Ic2 is output from the output stage 251c.

図29の実施例のように、第1F(フレームまたはフィールド)の次の第2Fは、基準電流が平均化されて目標の基準電流Icとなるように、最初の1H(第1画素行目)は、基準電流Ic2を印加し、出力端子93から基準電流Ic2に対応するプログラム電流が各ソース信号線18に出力される。次の2H(第2画素行目)は、基準電流Ic1を印加し、出力端子93から基準電流Ic1に対応するプログラム電流が各ソース信号線18に出力される。以下同様に、3H(第3画素行目)は、基準電流Ic2を印加し、出力端子93から基準電流Ic2に対応するプログラム電流が各ソース信号線18に出力される。第4画素行目)は、基準電流Ic1を印加し、出力端子93から基準電流Ic1に対応するプログラム電流が各ソース信号線18に出力される。   As in the embodiment of FIG. 29, the second F after the first F (frame or field) is the first 1H (first pixel row) so that the reference current is averaged to become the target reference current Ic. Applies a reference current Ic 2, and a program current corresponding to the reference current Ic 2 is output from the output terminal 93 to each source signal line 18. In the next 2H (second pixel row), the reference current Ic1 is applied, and the program current corresponding to the reference current Ic1 is output from the output terminal 93 to each source signal line 18. Similarly, 3H (third pixel row) applies the reference current Ic2, and the program current corresponding to the reference current Ic2 is output from the output terminal 93 to each source signal line 18. In the fourth pixel row), the reference current Ic1 is applied, and a program current corresponding to the reference current Ic1 is output from the output terminal 93 to each source signal line 18.

なお、基準電流の変化は2つに限定するものではなく、3以上としてもよいことは言うまでもない。この場合は、トランジスタ251bの個数を増加させればよい。基準電流は1Hごとに限定するものではなく、複数H(複数水平走査期間)ごとに変化させてもよい。また、水平走査期間に限定するものではなく、F(フレームまたはフィールド)周期で基準電流を変化させてもよい。   Needless to say, the change in the reference current is not limited to two and may be three or more. In this case, the number of transistors 251b may be increased. The reference current is not limited to every 1H, and may be changed every plural H (multiple horizontal scanning periods). Further, the reference current is not limited to the horizontal scanning period, and the reference current may be changed in an F (frame or field) cycle.

ソースドライバ回路(IC)14は、ソース信号線18の電荷を強制的に放出または充電するプリチャージ回路を内蔵する。ソース信号線18の電荷を強制的に放出または充電するプリチャージあるいはディスチャージ回路の電圧(電流)出力値は、R、G、Bで独立に設定できるように構成することが好ましい。EL素子15の閾値がRGBで異なるからである。   The source driver circuit (IC) 14 includes a precharge circuit that forcibly releases or charges the source signal line 18. The voltage (current) output value of the precharge or discharge circuit that forcibly releases or charges the source signal line 18 is preferably configured to be set independently by R, G, and B. This is because the threshold value of the EL element 15 differs between RGB.

図32はプリチャージ部の構成図である。Vpはプリチャージ電圧である。プリチャージ電圧は映像データD0〜D5により出力期間範囲が決定される。プリチャージ電圧は、クロックCLKに同期して出力される。プリチャージ電圧を出力する時間は、水平同期信号HDを基点としてカウンタ332の設定値で決定される。カウンタ332はクロックCLK信号に同期してカウントアップされる。プリチャージ電圧出力期間は、HDの最初から開始される。カウンタ332はカウントしたカウント値と設定値が一致すると、プリチャージ電圧の出力期間が終了する。カウンタ回路332の出力はアンド(AND)回路333のa端子入力となる。なお、説明を容易にするため、映像データは6ビットであるとして説明をする。   FIG. 32 is a configuration diagram of the precharge unit. Vp is a precharge voltage. The output period range of the precharge voltage is determined by the video data D0 to D5. The precharge voltage is output in synchronization with the clock CLK. The time for outputting the precharge voltage is determined by the set value of the counter 332 with the horizontal synchronization signal HD as a base point. The counter 332 is counted up in synchronization with the clock CLK signal. The precharge voltage output period starts from the beginning of HD. When the count value counted by the counter 332 matches the set value, the precharge voltage output period ends. The output of the counter circuit 332 becomes the a terminal input of the AND circuit 333. For ease of explanation, the video data is assumed to be 6 bits.

図33の構成では、どの電圧範囲までプリチャージするかは、一致回路331で決定される。一致回路331には、映像データD0〜D5が印加される。一致回路はプリチャージ範囲がメモリされている。メモリされた値よりも、映像データD0〜D5が小さい時、プリチャージ電圧が出力される。一致回路331はクロックCLKで同期して動作する。また、イネーブル信号ENがHの時、プリチャージ電圧は出力され、Lの時は映像データの値によらず、プリチャージ電圧は出力されない。一致回路331の出力はアンド回路333のb端子入力となる。   In the configuration of FIG. 33, the voltage range to be precharged is determined by the matching circuit 331. Video data D0 to D5 are applied to the matching circuit 331. The coincidence circuit stores a precharge range. When the video data D0 to D5 is smaller than the stored value, a precharge voltage is output. The coincidence circuit 331 operates in synchronization with the clock CLK. When the enable signal EN is H, the precharge voltage is output. When the enable signal EN is L, the precharge voltage is not output regardless of the value of the video data. The output of the coincidence circuit 331 becomes the b terminal input of the AND circuit 333.

アンド回路333のa端子入力がHで、b端子入力がHの時、スイッチ221aが閉じ、プリチャージ電圧Vpが内部配線222に印加され、かつHI信号がHの時、スイッチ221bが閉じて出力端子93からプリチャージ電圧が出力される。   When the a terminal input of the AND circuit 333 is H and the b terminal input is H, the switch 221a is closed, the precharge voltage Vp is applied to the internal wiring 222, and when the HI signal is H, the switch 221b is closed and output. A precharge voltage is output from the terminal 93.

電流出力回路334は、映像データD0〜D5に基づく、プログラム電流を出力する。本発明では、プリチャージ電圧とプログラム電流を同時に出力する。ただし、プリチャージ電圧はHDの最初から一定の期間である。   The current output circuit 334 outputs a program current based on the video data D0 to D5. In the present invention, the precharge voltage and the program current are output simultaneously. However, the precharge voltage is a certain period from the beginning of HD.

プリチャージ電圧は、駆動用トランジスタ11aのゲート(G)端子に立ち上がり電圧あるいは立ち上がり電圧以下の電圧を印加する方法とも考えることができる。つまり、駆動用トランジスタ11aをオフ状態にすることによりプログラム電流Iwが0になる状態を発生させ、EL素子15に電流が流れないようにする。   The precharge voltage can be considered as a method of applying a rising voltage or a voltage equal to or lower than the rising voltage to the gate (G) terminal of the driving transistor 11a. That is, by turning off the driving transistor 11a, a state in which the program current Iw becomes 0 is generated, so that no current flows through the EL element 15.

プリチャージ電圧(電流)の設定あるいは調整は、図33のようにして行う。まず、プリチャージ電圧を印加しない状態で、階調0番目の電圧V0を表示領域64の各画素に印加し、図33(a)に図示するように、カソード端子に流れる電流I1を測定する。次に、図33(b)に図示するように、各プリチャージ電圧(電流)を印加し、各プリチャージ電圧(電流)を印加した時のカソード電流I2を測定して、各プリチャージ電圧(電流)に対するカソード電流が規定値あるいは規定の範囲となるように調整してする。プリチャージ電圧が階調に対応して、複数ある場合は複数のプリチャージ電圧(電流)に対応して実施する。   Setting or adjustment of the precharge voltage (current) is performed as shown in FIG. First, in a state where no precharge voltage is applied, the 0th gradation voltage V0 is applied to each pixel in the display region 64, and the current I1 flowing through the cathode terminal is measured as shown in FIG. Next, as shown in FIG. 33B, each precharge voltage (current) is applied, the cathode current I2 when each precharge voltage (current) is applied is measured, and each precharge voltage (current) is measured. The cathode current with respect to (current) is adjusted to a specified value or a specified range. In the case where there are a plurality of precharge voltages corresponding to the gradation, the processing is performed corresponding to a plurality of precharge voltages (currents).

図34は、ソースドライバ回路(IC)14のプリチャージ回路(プリチャージ電圧を出力する回路構成部)353を中心とするブロック図である。プリチャージ回路353とは、プリチャージ制御回路によりプリチャージ制御信号PC信号(赤(RPC)、緑(GPC)、青(BPC))が出力される。なお、プリチャージ電圧を印加するとは、電圧プログラムを実施すると同義あるいは類似の技術である。   FIG. 34 is a block diagram centering on a precharge circuit (circuit configuration unit for outputting a precharge voltage) 353 of the source driver circuit (IC) 14. The precharge circuit 353 outputs a precharge control signal PC signal (red (RPC), green (GPC), blue (BPC)) by the precharge control circuit. Note that the application of the precharge voltage is synonymous or similar technology when the voltage program is executed.

セレクタ回路352は、メインクロックに同期して出力段に対応するラッチ回路351に順次ラッチしていく。ラッチ回路351はラッチ回路351aとラッチ回路351bの2段構成である。ラッチ回路351bは水平走査クロック(1H)に同期してプリチャージ回路353にデータを送出する。つまり、セレクタは、1画素行分の画像データおよびPCデータを順次ラッチしていき、水平走査クロック(1H)に同期して、ラッチ回路351bでデータをストアする。   The selector circuit 352 sequentially latches in the latch circuit 351 corresponding to the output stage in synchronization with the main clock. The latch circuit 351 has a two-stage configuration of a latch circuit 351a and a latch circuit 351b. The latch circuit 351b sends data to the precharge circuit 353 in synchronization with the horizontal scanning clock (1H). That is, the selector sequentially latches the image data and PC data for one pixel row, and stores the data in the latch circuit 351b in synchronization with the horizontal scanning clock (1H).

なお、図34では、ラッチ回路351のR、G、BはRGBの画像データ6ビットのラッチ回路であり、Pはプリチャージ信号(RPC、GPC、BPC)の3ビットをラッチするラッチ回路である。   In FIG. 34, R, G, and B of the latch circuit 351 are RGB image data 6-bit latch circuits, and P is a latch circuit that latches 3 bits of the precharge signal (RPC, GPC, BPC). .

プリチャージ回路353は、ラッチ回路351bの出力がHレベルの時、スイッチ221aをオンさせ、ソース信号線18にプリチャージ電圧を出力する。電流出力回路334は画像データに応じて、プログラム電流をソース信号線18に出力する。   The precharge circuit 353 turns on the switch 221a and outputs a precharge voltage to the source signal line 18 when the output of the latch circuit 351b is at the H level. The current output circuit 334 outputs a program current to the source signal line 18 according to the image data.

図34の構成では、各RGB画像データに対応して、プリチャージコントロール(PC)信号を発生させている。プリチャージの印加は、以上のようにRGBごとに行うことが好ましい。しかし、動画表示、自然画表示では、RGBごとにプリチャージするかしないかを判断する必要がない場合が多い。つまり、RGBを輝度信号に変換し(換算し)、輝度によりプリチャージをするかしないかを判断してもよい。   In the configuration of FIG. 34, a precharge control (PC) signal is generated corresponding to each RGB image data. The precharge is preferably applied for each RGB as described above. However, in moving image display and natural image display, it is often unnecessary to determine whether or not to precharge for each RGB. That is, RGB may be converted (converted) into a luminance signal, and it may be determined whether or not to precharge based on the luminance.

以上の本発明の構成は、コントローラ回路(IC)が画像データに基づいてPC信号(プリチャージ制御信号)を発生する点、ソースドライバIC14がPC信号をラッチし1Hの同期信号に同期してソース信号線18に印加する点に特徴がある。プリチャージモード(PMODE)信号により、プリチャージ信号の発生を容易に変更することができる。   In the configuration of the present invention described above, the controller circuit (IC) generates the PC signal (precharge control signal) based on the image data, and the source driver IC 14 latches the PC signal and synchronizes with the 1H synchronization signal. It is characterized in that it is applied to the signal line 18. The generation of the precharge signal can be easily changed by the precharge mode (PMODE) signal.

たとえば、PMODEとは、階調0のみをプリチャージするモード、階調0−7など一定の階調範囲をプリチャージするモード、画像データが明るい画像データから暗い画像データに変化する時にプリチャージするモード、一定のフレームで連続して低階調表示となる時に、プリチャージするモードなどが例示される。   For example, PMODE is a mode in which only gradation 0 is precharged, a mode in which a certain gradation range such as gradation 0-7 is precharged, and precharge when image data changes from bright image data to dark image data. Examples include a mode for precharging when low gradation display is continuously performed in a certain frame.

1画素のデータについてプリチャージするかしないかを判断することに限定するものではない。たとえば、複数画素行の画像データにもとづいてプリチャージ判断をおこなってもよい。また、プリチャージを行う周辺画素の画像データを勘案して(たとえば、重み付け処理など)プリチャージ判断を行っても良い。また、動画と静止画でプリチャージ判断を変化する方法も例示される。以上事項は、画像データに基づき、コントローラがプリチャージ信号を発生することにより、良好な汎用性が発揮される点が重要である。以降、このプリチャージ判断とプリチャージモードを中心に説明をする。   It is not limited to determining whether or not to precharge data for one pixel. For example, the precharge determination may be performed based on the image data of a plurality of pixel rows. In addition, the precharge determination may be performed in consideration of the image data of the surrounding pixels to be precharged (for example, weighting processing). Further, a method of changing the precharge judgment between a moving image and a still image is also exemplified. The above matter is important in that good versatility is exhibited when the controller generates a precharge signal based on image data. Hereinafter, the precharge determination and the precharge mode will be mainly described.

プリチャージをするかしないかの判定は、1画素行前の画像データ(あるいは、直前にソース信号線に印加された画像データ)にもとづいて行っても良い。たとえば、あるソース信号線18に印加される画像データが白→黒→黒であれば、白から黒になる時は、プリチャージ電圧を印加する。黒階調は書込みにくいからである。黒から黒の場合は、プリチャージ電圧を印加しない。先に黒表示でソース信号線18の電位が次に書き込む黒表示の電位となっているからである。以上の動作は、コントローラ81に1画素行分(FIFOのため2ラインのメモリが必要)のラインメモリを形成(配置)することのより容易に実現できる。   The determination as to whether or not to precharge may be performed based on the image data of the previous pixel row (or the image data applied to the source signal line immediately before). For example, if the image data applied to a certain source signal line 18 is white-> black-> black, a precharge voltage is applied when changing from white to black. This is because black gradation is difficult to write. In the case of black to black, no precharge voltage is applied. This is because the potential of the source signal line 18 in the black display first is the black display potential to be written next. The above operation can be realized more easily by forming (arranging) a line memory for one pixel row (requires two lines of memory for FIFO) in the controller 81.

なお、ソースドライバ回路(IC)14を1パネルに複数個使用するときは、図35に図示するように配線接続する。   When a plurality of source driver circuits (ICs) 14 are used in one panel, wiring connection is made as shown in FIG.

本発明において、プリチャージ駆動では、プリチャージ電圧を出力するとして説明をするが、これに限定するものではない。1水平走査期間よりも短く、プログラム電流よりも大きい電流をソース信号線18に書き込む方式でもよい。つまり、プリチャージ電流をソース信号線18に書込み、その後にプログラム電流をソース信号線18に書き込む方式でもよい。プリチャージ電流も物理的には電圧変化を引き起こしていることには差異はない。プリチャージをプリチャージ電流で行う方式も本発明のプリチャージ駆動の技術的範疇である(本発明の範囲内である)。   In the present invention, the precharge drive is described as outputting a precharge voltage, but the present invention is not limited to this. A method of writing a current shorter than one horizontal scanning period and larger than the program current to the source signal line 18 may be used. That is, a method of writing the precharge current to the source signal line 18 and then writing the program current to the source signal line 18 may be used. There is no difference in that the precharge current also physically causes a voltage change. A method of performing precharge with a precharge current is also within the technical category of precharge driving of the present invention (within the scope of the present invention).

本発明のプリチャージ駆動では所定電圧をソース信号線18に印加する。また、ソースドライバICはプログラム電流を出力するとした。しかし、本発明は、プリチャージ駆動を階調に応じて出力電圧を変化させてもよい。つまり、ソース信号線18に出力するプリチャージ電圧はプログラム電圧をなる。ソースドライバIC内にこのプリチャージ電圧のプログラム電圧回路371を導入した回路構成が図36である。   In the precharge drive of the present invention, a predetermined voltage is applied to the source signal line 18. The source driver IC outputs a program current. However, in the present invention, the output voltage may be changed in accordance with the gradation in the precharge driving. That is, the precharge voltage output to the source signal line 18 is a program voltage. FIG. 36 shows a circuit configuration in which the program voltage circuit 371 for the precharge voltage is introduced in the source driver IC.

図36は主として1つのソース信号線18に対応する1出力回路ブロック図である。階調に応じてプログラム電流を出力する電流階調回路334と、階調に応じたプリチャージ電圧を出力する電圧階調回路371で構成される。電流階調回路334と電圧階調回路371には映像データが印加される。電圧階調回路371の出力はスイッチ221a、221bがオンすることによりソース信号線18に印加される。スイッチ221aはプリチャージイネーブル(プリチャージENBL)信号と、プリチャージ信号(プリチャージSIG)で制御される。   FIG. 36 is a block diagram of one output circuit mainly corresponding to one source signal line 18. The current gradation circuit 334 outputs a program current according to the gradation, and a voltage gradation circuit 371 outputs a precharge voltage according to the gradation. Video data is applied to the current gradation circuit 334 and the voltage gradation circuit 371. The output of the voltage gradation circuit 371 is applied to the source signal line 18 when the switches 221a and 221b are turned on. The switch 221a is controlled by a precharge enable (precharge ENBL) signal and a precharge signal (precharge SIG).

電圧階調回路371は、サンプルホールド回路、DA回路などで構成される(図35を参照のこと)。デジタルの映像データに基づいて、DA回路によりプリチャージ電圧に変換される。この変換されたプリチャージ電圧は、サンプルホールド回路381によりサンプルホールドされ、オペアンプを介してスイッチ221aの一端子に印加される。なお、DA回路は電圧階調回路371ごとに構成または形成する必要がなく、ソースドライバ回路(IC)14の外部にDA回路を構成し、このDA回路の出力を電圧階調回路371内でサンプルホールドしてもよい。また、ポリシリコン技術で形成してもよい。   The voltage gradation circuit 371 includes a sample hold circuit, a DA circuit, and the like (see FIG. 35). Based on the digital video data, the DA circuit converts the precharge voltage. The converted precharge voltage is sampled and held by the sample and hold circuit 381 and applied to one terminal of the switch 221a via the operational amplifier. The DA circuit does not need to be configured or formed for each voltage gradation circuit 371. The DA circuit is configured outside the source driver circuit (IC) 14, and the output of the DA circuit is sampled in the voltage gradation circuit 371. You may hold it. Further, it may be formed by polysilicon technology.

図37に図示するように、8ビットの映像DATAに対応する電圧(プログラム電圧)が、映像クロックに同期して電子ボリウム291から出力される。プログラム電圧は、駆動用トランジスタ11aにプリチャージ電圧として印加される電圧である。また、プログラム電圧は、この電圧を印加することにより、階調にほぼ対応した電流がEL素子15に印加されるように駆動用トランジスタ11aのゲート端子に保持される電圧である。   As shown in FIG. 37, a voltage (program voltage) corresponding to 8-bit video DATA is output from the electronic volume 291 in synchronization with the video clock. The program voltage is a voltage applied as a precharge voltage to the driving transistor 11a. The program voltage is a voltage that is held at the gate terminal of the driving transistor 11a so that by applying this voltage, a current substantially corresponding to the gradation is applied to the EL element 15.

プログラム電圧はCc容量に一時的に保持され、バッファアンプ231aから出力される。出力だれた電圧は、サンプルホールド回路(この実施例では切り換え回路のように図示している)381により、各出力端子93に順次振り分けられる(出力端子93a、93b、93c、93d・・・・・、93n、93a、93b、93c、・・・・・・・93n・・・・・・)。振り分けはクロックCLKに同期して実施される。なお、本発明では、8ビットのアドレス信号PADRSにより、任意の端子にプログラム電圧を振り分けできるように構成されている。このように、アドレス信号PADRSにより任意の出力端子93に振り分け(8ビットであるから256本の端子のいずれかに振り分け可能である)できるように構成することにより、プログラム電圧を書き換えが必要な端子のみ新規のプログラム電圧を印加することができる。また、プログラム電圧の振り分けをランダム化することができる。プログラム電圧は容量Cに保持され(サンプリングされ)、バッファ回路231bの出力は、スイッチSpの制御により出力端子93に印加されたり、遮断されたりする。スイッチSpは図36では、スイッチ221aが該当する。   The program voltage is temporarily held in the Cc capacity and output from the buffer amplifier 231a. The output voltage is sequentially distributed to each output terminal 93 by a sample and hold circuit (illustrated as a switching circuit in this embodiment) 381 (output terminals 93a, 93b, 93c, 93d... , 93n, 93a, 93b, 93c,... 93n,. The distribution is performed in synchronization with the clock CLK. In the present invention, a program voltage can be distributed to an arbitrary terminal by an 8-bit address signal PADRS. In this way, the address signal PADRS is configured so that it can be distributed to any output terminal 93 (because it is 8 bits, it can be distributed to any of 256 terminals), so that the program voltage needs to be rewritten. Only a new program voltage can be applied. In addition, program voltage distribution can be randomized. The program voltage is held in the capacitor C (sampled), and the output of the buffer circuit 231b is applied to the output terminal 93 or cut off by the control of the switch Sp. The switch Sp corresponds to the switch 221a in FIG.

電流階調回路334は、具体的には図22の回路構成が該当する。電流階調回路334のプログラム電流出力はスイッチSiにより制御される。以上のように、電流階調回路334と電圧階調回路371の出力はスイッチSi、Spにより制御され、プリチャージ駆動(電圧プログラム)+電流プログラミングが実現される。以上の信号は、出力端子93からソース信号線端子382に印加される。プログラム電圧はソース信号線18の寄生容量Caを短期間で充放電させる。   Specifically, the current gradation circuit 334 corresponds to the circuit configuration of FIG. The program current output of the current gradation circuit 334 is controlled by the switch Si. As described above, the outputs of the current gradation circuit 334 and the voltage gradation circuit 371 are controlled by the switches Si and Sp, and precharge driving (voltage program) + current programming is realized. The above signals are applied from the output terminal 93 to the source signal line terminal 382. The program voltage charges and discharges the parasitic capacitance Ca of the source signal line 18 in a short period.

電圧階調回路371の出力は、図38に図示するように、1Hの最初に印加される(記号Aで示す)。その後、電流出力回路334によりソース信号線にプログラム電流が供給される(記号Bで示す)。つまり、プリチャージ電圧により概略のソース信号線電位まで電圧設定される。したがって、駆動用トランジスタ11aは目的電流に近い値まで、高速に設定される。その後、電流階調回路334が出力するプログラム電流により駆動用トランジスタ11aの特性バラツキを補償する目的電流(=プログラム電流)まで設定される。   The output of the voltage gradation circuit 371 is applied at the beginning of 1H (indicated by symbol A) as shown in FIG. Thereafter, a program current is supplied to the source signal line by the current output circuit 334 (indicated by symbol B). That is, the voltage is set to the approximate source signal line potential by the precharge voltage. Therefore, the driving transistor 11a is set at a high speed up to a value close to the target current. Thereafter, the target current (= program current) for compensating for the characteristic variation of the driving transistor 11a is set by the program current output from the current gradation circuit 334.

プリチャージ電圧信号が印加されるA期間は、1Hの1/100以上1/5以下の期間が好ましい。または、0.2μsec以上10μsec以下の期間に設定することが好ましい。したがって、A期間以外がB期間のプログラム電流の印加期間である。A期間が短いとソース信号線18の電荷の充放電が十分に行われないため、書き込み不足が発生する。一方、長すぎると電流印加期間(B)が短くなり十分にプログラム電流を印加することができない。したがって、駆動用トランジスタ11aの電流補正不足となる。   The period A during which the precharge voltage signal is applied is preferably a period of 1/100 to 1/5 of 1H. Alternatively, it is preferably set to a period of 0.2 μsec to 10 μsec. Therefore, a period other than the A period is a program current application period of the B period. If the A period is short, charge and discharge of the source signal line 18 are not sufficiently performed, and thus insufficient writing occurs. On the other hand, if it is too long, the current application period (B) is shortened, and the program current cannot be sufficiently applied. Therefore, the current correction of the driving transistor 11a is insufficient.

電圧印加期間(A期間)は、1Hの最初から実施することが好ましいが、これに限定されない。たとえば、1Hの終わりのブランキング期間から開始してもよい。また、1H(水平走査期間)の途中にA期間を実施してもよい。つまり、1Hのいずれかの期間に電圧印加期間を実施すれはよい。しかし、好ましくは、電圧印加期間は、1Hの最初から1/4H(0.25H)の期間内に実施することが好ましい。   The voltage application period (A period) is preferably implemented from the beginning of 1H, but is not limited thereto. For example, the blanking period at the end of 1H may be started. Further, the A period may be implemented in the middle of 1H (horizontal scanning period). That is, the voltage application period may be performed in any period of 1H. However, it is preferable that the voltage application period be implemented within a period of 1 / 4H (0.25H) from the beginning of 1H.

図38の実施例では、電圧プリチャージ(A)の期間後、電流を印加(B期間)するとしたがこれに限定するものではない。たとえば、図39(a)に図示するように、1Hの期間のすべてを(あるいは大半を、あるいは過半数を)電圧プリチャージ(*A)期間としてもよい。   In the embodiment of FIG. 38, the current is applied (B period) after the voltage precharge (A) period, but the present invention is not limited to this. For example, as shown in FIG. 39A, all (or most or most) of the 1H periods may be voltage precharge (* A) periods.

図39(a)でも理解できるように、ソース信号線18の電位がアノード電位(Vdd)に近い場合に、1Hの期間のすべてに(大半に)電圧が印加される。ソース信号線18の電位が0(V)に近くなると、電圧プログラム(A期間)と電流プログラム(B)が1Hの期間内に実施される。なお、ソース信号線18の電位が0(V)に近い場合(高階調領域)では、1Hの期間中のすべての期間にわたり、電流プログラムを実施してもよい。   As can be understood from FIG. 39A, when the potential of the source signal line 18 is close to the anode potential (Vdd), the voltage is applied to all (most) of the 1H period. When the potential of the source signal line 18 becomes close to 0 (V), the voltage program (A period) and the current program (B) are executed within the period of 1H. Note that in the case where the potential of the source signal line 18 is close to 0 (V) (high gradation region), the current program may be performed over the entire period of 1H.

図39(a)の*A以外の期間は、1Hの一定期間(Aで示す)に電圧プログラムによる電圧をソース信号線18に印加し、その後、Bの期間に電流プログラムによる電流を印加している。以上のようにA期間の電圧の印加により画素16のTFT11aのゲート電位に所定電圧を印加し、概略EL素子15に流す電流が所望値になるようにしている。その後、B期間のプログラム電流により、EL素子15に流れる電流が所定値となるようにしている。*A期間は、1H期間の全般にわたり電圧プログラムが実施されている(電圧が印加されている)。   In a period other than * A in FIG. 39A, a voltage according to a voltage program is applied to the source signal line 18 during a fixed period of 1H (indicated by A), and then a current according to a current program is applied during a period B. Yes. As described above, a predetermined voltage is applied to the gate potential of the TFT 11a of the pixel 16 by applying the voltage during the period A, so that the current flowing through the EL element 15 becomes a desired value. Thereafter, the current flowing through the EL element 15 is set to a predetermined value by the program current during the B period. * In the period A, the voltage program is executed throughout the period of 1H (voltage is applied).

図39(a)は、画素16のTFT11a(駆動用トランジスタ)がPチャンネルの場合のソース信号線18への印加信号波形である。しかし、本発明はこれに限定するものではない。画素16のTFT11aがNチャンネルであってもよい。この場合は、図39(b)に図示するように、ソース信号線18の電位が0(V)に近い場合に、1Hの期間のすべてに(大半に)電圧が印加される。ソース信号線18の電位がアノード電圧(Vdd)に近くなると、電圧プログラム(A期間)と電流プログラム(B)が1Hの期間に実施される。   FIG. 39A shows a waveform of a signal applied to the source signal line 18 when the TFT 11a (driving transistor) of the pixel 16 is a P channel. However, the present invention is not limited to this. The TFT 11a of the pixel 16 may be an N channel. In this case, as shown in FIG. 39B, when the potential of the source signal line 18 is close to 0 (V), the voltage is applied to all (most) of the 1H period. When the potential of the source signal line 18 becomes close to the anode voltage (Vdd), the voltage program (A period) and the current program (B) are executed during the 1H period.

なお、ソース信号線18の電位がVddに近い場合(高階調領域)では、1Hの期間中のすべての期間にわたり、電流プログラムを実施してもよい。   Note that in the case where the potential of the source signal line 18 is close to Vdd (high gradation region), the current program may be executed over the entire period of 1H.

本発明では、駆動用トランジスタ11aはPチャンネルとして説明するがこれに限定するものではなく、駆動用トランジスタ11aはNチャンネルであってもよいことはいうまでもない。説明を容易にするために、駆動用トランジスタ11aがPチャンネルトランジスタであるとして説明を行うだけである。   In the present invention, the driving transistor 11a is described as a P-channel, but the present invention is not limited to this, and it goes without saying that the driving transistor 11a may be an N-channel. For ease of explanation, the explanation is made only assuming that the driving transistor 11a is a P-channel transistor.

図42などの本発明の実施例では、主として低階調領域は電圧プログラムが主で画素に書き込みがされる。中高階調領域は、電流プログラムが主で書き込みが行われる。つまり、電流と電圧駆動の両方のよいところの融合を実現できる。なぜなら、低階調領域は、電圧により所定階調表示される。これは、電流駆動では書き込み電流が微小のため、1H最初に印加した電圧(電圧駆動あるいはプリチャージ駆動による。プリチャージ駆動と電圧駆動は概念的には同一である。大きく差別化するならば、プリチャージ駆動は印加する電圧に種類が比較的少なく、電圧駆動は印加する電圧の種類が多いと言うべきである)が支配的となるからである。   In the embodiment of the present invention such as FIG. 42, the voltage program is mainly written in the low gradation region, and the pixel is written. In the middle / high gradation region, the current program is mainly used for writing. In other words, it is possible to realize a good fusion of both current and voltage driving. This is because the low gradation region is displayed with a predetermined gradation by the voltage. This is because the write current is very small in current drive, and the voltage applied first for 1H (by voltage drive or precharge drive. Precharge drive and voltage drive are conceptually the same. If greatly differentiated, This is because precharge driving has a relatively small number of types of applied voltage, and voltage driving has a large number of types of applied voltage).

中階調領域は、電圧により書き込んだ後、電圧のずれ量を、プログラム電流で補償する。つまり、プログラム電流が支配的となる(電流駆動が支配的である)。高階調領域は、プログラム電流で書き込む。プログラム電圧印加は不要である。印加した電圧がプログラム電流で書き換えられるからである。つまり、電流駆動が圧倒的に支配的である。もちろん、電圧を印加してもよいことは言うまでもない。   In the middle gradation area, after writing by voltage, the amount of voltage deviation is compensated by the program current. That is, the program current is dominant (current drive is dominant). The high gradation region is written with a program current. No program voltage application is required. This is because the applied voltage is rewritten by the program current. That is, current driving is overwhelmingly dominant. Of course, it goes without saying that a voltage may be applied.

電圧階調回路の出力と電流階調回路(プリチャージ回路も含む)の出力とを出力端子93でショートして構成することができるのは、電流階調回路は高インピーダンスであることによる。つまり、電流階調回路は高インピーダンスのため、電圧階調回路からの電圧が電流階調回路に印加されても、回路に問題点(短絡で過電流が流れるなど)が発生することがない。   The reason why the output of the voltage gradation circuit and the output of the current gradation circuit (including the precharge circuit) can be short-circuited at the output terminal 93 is that the current gradation circuit has a high impedance. In other words, since the current gray scale circuit has high impedance, even if the voltage from the voltage gray scale circuit is applied to the current gray scale circuit, a problem (such as an overcurrent flowing due to a short circuit) does not occur in the circuit.

したがって、本発明で電圧出力と電流出力状態とを切り換えるとしたがこれに限定するものではない。電流階調回路334からプログラム電流の出力した状態で、スイッチ221(図36を参照のこと)をオンして、電圧階調回路371の電圧を出力端子93に印加してもよいことは言うまでもない。   Therefore, although the voltage output and the current output state are switched in the present invention, the present invention is not limited to this. It goes without saying that the switch 221 (see FIG. 36) may be turned on and the voltage of the voltage gradation circuit 371 may be applied to the output terminal 93 while the program current is output from the current gradation circuit 334. .

スイッチ221を閉じて出力端子93に電圧と印加した状態で、電流階調回路334からプログラム電流を出力してもよい。電流階調回路334は高インピーダンスであるので回路的には問題がない。以上の状態も本発明は電圧駆動状態と電流駆動状態とを切り換えているという動作の範疇である。本発明は電流回路と電圧回路の性質をうまく利用している。このことは、他のドライバ回路にない特徴ある構成である。   The program current may be output from the current gradation circuit 334 in a state where the switch 221 is closed and a voltage is applied to the output terminal 93. Since the current gradation circuit 334 has a high impedance, there is no problem in the circuit. The above state is also an operation category in which the present invention switches between the voltage drive state and the current drive state. The present invention takes advantage of the nature of current and voltage circuits. This is a characteristic configuration not found in other driver circuits.

図40に図示するように、1H期間に印加するプログラムを電圧または電流の一方にしてもよいことは言うまでもない。図40において、Aの期間は電圧プログラムが実施された1H期間であり、Bの期間は電流プログラムが実施されている1H期間である。主として低階調領域では電圧プログラムが実施され(Aで示す)、中間調以上の領域では電流プログラムが実施される(Bで示す)。以上のように、階調あるいはプログラム電流の大きさに応じて、電圧駆動を選択するか電流駆動を選択するかを切り換えても良い。   As shown in FIG. 40, it goes without saying that the program applied in the 1H period may be either voltage or current. In FIG. 40, period A is a 1H period in which voltage programming is performed, and period B is a 1H period in which current programming is performed. The voltage program is mainly executed in the low gradation region (indicated by A), and the current program is executed in the region of halftone or higher (indicated by B). As described above, switching between voltage driving and current driving may be switched according to the gradation or the magnitude of the program current.

図36の本発明の実施例では、電圧階調回路371と電流階調回路334には、同一の映像DATAが入力されている。したがって、映像DATAのラッチ回路は電圧階調回路371と電流階調回路334と共通でよい。つまり、映像DATAのラッチ回路は電圧階調回路371と電流階調回路334とに独立に設ける必要はない。共通の映像DATAのラッチ回路からのデータに基づき、電流階調回路334または(および)電圧階調回路371がデータを出力端子93に出力される。   In the embodiment of the present invention of FIG. 36, the same video DATA is input to the voltage gradation circuit 371 and the current gradation circuit 334. Therefore, the latch circuit for the video DATA may be common to the voltage gradation circuit 371 and the current gradation circuit 334. That is, it is not necessary to provide the video DATA latch circuit independently for the voltage gradation circuit 371 and the current gradation circuit 334. Based on the data from the common video DATA latch circuit, the current gradation circuit 334 or / and the voltage gradation circuit 371 outputs the data to the output terminal 93.

図42は本発明の駆動方法のタイミングチャートである。図42において、(a)のDATAは画像データである。(b)のCLKは回路クロックである。(c)のPcntlは、プリチャージのコントロール信号である。Pcntl信号がHレベルの時は、電圧駆動のみモード状態になり、Lレベルの時、電圧+電流駆動モードになる。(d)のPtcはプリチャージ電圧あるいは電圧階調回路371からの出力の切り換え信号である。Ptc信号がHレベルの時は、プリチャージ電圧などの電圧出力がソース信号線18に印加される。Ptc信号がLレベルの時は、電流階調回路334からのプログラム電流がソース信号線に出力される。   FIG. 42 is a timing chart of the driving method of the present invention. In FIG. 42, DATA in (a) is image data. CLK in (b) is a circuit clock. Pcntl in (c) is a precharge control signal. When the Pcntl signal is at the H level, only the voltage driving mode is set, and when it is at the L level, the voltage + current driving mode is set. Ptc in (d) is a precharge voltage or output switching signal from the voltage gradation circuit 371. When the Ptc signal is at the H level, a voltage output such as a precharge voltage is applied to the source signal line 18. When the Ptc signal is at the L level, the program current from the current gradation circuit 334 is output to the source signal line.

たとえば、データD(2)、D(3)、D(8)の時は、Pcntl信号がHレベルであるから、ソース信号線18に電圧階調回路371から電圧が出力される(A期間)。PcntlがLレベルの時は、ソース信号線18にはまず、電圧が出力され、その後、プログラム電流が出力される。電圧が出力される期間をAで示し、電流が出力される期間をBで示す。電圧を出力する期間Aは、Ptc信号で制御される。Ptc信号は、図36のスイッチ221のオンオフを制御する信号である。   For example, in the case of data D (2), D (3), and D (8), since the Pcntl signal is at the H level, a voltage is output from the voltage gradation circuit 371 to the source signal line 18 (A period). . When Pcntl is at L level, a voltage is first output to the source signal line 18 and then a program current is output. A period in which the voltage is output is indicated by A, and a period in which the current is output is indicated by B. The period A during which the voltage is output is controlled by the Ptc signal. The Ptc signal is a signal for controlling on / off of the switch 221 in FIG.

Pcntl信号がHレベルの時は、電圧駆動のみモード状態になり、Lレベルの時、電圧+電流駆動モードになると説明した。電圧を印加する期間は、点灯率あるいは階調に応じて変化させることが好ましい。低階調の時は、電流駆動では画素にプログラム電流を完全に書き込むことができない。したがって、電圧駆動を実施することが好ましい。電圧を印加する期間を長くすることによって、電圧+電流駆動モードであっても、電圧駆動モードが支配的になり、良好に画素に低階調状態を書き込むことができる。低点灯率の場合は、低階調状態の画素が多い。したがって、低階調状態(低点灯率)の場合も、電圧を印加する期間を長くすることによって、電圧+電流駆動モードであっても、電圧駆動モードが支配的になり、良好に画素に低階調状態を書き込むことができる。   It has been described that when the Pcntl signal is at the H level, only the voltage driving mode is set, and when the Pcntl signal is at the L level, the voltage + current driving mode is set. The period during which the voltage is applied is preferably changed according to the lighting rate or gradation. When the gradation is low, the program current cannot be completely written to the pixel by current driving. Therefore, it is preferable to implement voltage driving. By extending the voltage application period, even in the voltage + current driving mode, the voltage driving mode becomes dominant, and a low gradation state can be satisfactorily written in the pixel. In the case of a low lighting rate, there are many pixels in a low gradation state. Therefore, even in the low gradation state (low lighting rate), by extending the voltage application period, the voltage driving mode becomes dominant even in the voltage + current driving mode, and the pixel is satisfactorily reduced. The gradation state can be written.

以上のように、電圧+電流駆動モードであっても、点灯率あるいは画素に書き込む階調データ(映像データ)に応じて、電圧駆動状態の期間を変化させることが好ましい。つまり、EL素子15に流す電流を小さくするときは(本発明では低点灯率範囲)、電圧駆動モード期間を長くし、EL素子15に流す電流を大きくするときは(本発明では高点灯率範囲)、電圧駆動モード期間を短くするか、もしくは’なし’にするように制御あるいは調整もしくは装置を構成する。なお、点灯率の意味あるいは点灯率状態に関しては、本明細書内で詳細に説明しているので省略する。また、電圧+電流駆動モードにおいて電圧駆動モードに印加(動作)期間を、duty比、基準電流比などを制御あるいは調整もしくは装置を構成してもよいことは言うまでもない。以上の事項は本発明の他の実施例においても適用できることは言うまでもない。   As described above, even in the voltage + current drive mode, it is preferable to change the period of the voltage drive state according to the lighting rate or the gradation data (video data) written to the pixel. That is, when the current flowing through the EL element 15 is reduced (in the present invention, the low lighting rate range), the voltage drive mode period is lengthened, and when the current flowing through the EL element 15 is increased (in the present invention, the high lighting rate range). ), Or control or adjust or configure the device to shorten the voltage drive mode period or make it “none”. Note that the meaning of the lighting rate or the lighting rate state has been described in detail in the present specification, and will be omitted. In addition, it goes without saying that the device may be configured or configured to control or adjust the duty ratio, reference current ratio, etc., in the voltage + current drive mode in the voltage drive mode (operation) period. It goes without saying that the above matters can be applied to other embodiments of the present invention.

図42において、電圧出力期間Aと電流出力期間Bとを切り換えるとしたが、これに限定するものではない。プログラム電流の出力した状態で、スイッチ221(図36を参照)をオンして、電圧階調回路371の電圧を出力端子93に印加してもよいことは言うまでもない。また、スイッチ221を閉じて出力端子93に電圧と印加した状態で、電流階調回路334からプログラム電流を出力してもよい。A期間後にスイッチ221をオープンにする。以上のように電流階調回路334は高インピーダンスであるので電圧回路と短絡状態にしても回路的には問題がない。   In FIG. 42, the voltage output period A and the current output period B are switched, but the present invention is not limited to this. Needless to say, the switch 221 (see FIG. 36) may be turned on and the voltage of the voltage gradation circuit 371 may be applied to the output terminal 93 while the program current is being output. Alternatively, the program current may be output from the current gradation circuit 334 in a state where the switch 221 is closed and a voltage is applied to the output terminal 93. The switch 221 is opened after the period A. As described above, since the current gradation circuit 334 has high impedance, there is no problem in terms of circuit even if it is short-circuited with the voltage circuit.

図43は、図36などの電流階調回路334と電圧階調回路371の構成部分をさらに詳細に記載したブロック図である。シフトレジスタ回路(セレクタ回路)352はスタート信号(ST1)、クロック(CLK1)により順次シフト動作する。シフト動作により、第1のラッチ回路(保持回路)351aに、DATA9ビットの保持位置を指定する。DATA9ビットとは、映像信号8ビットとプリチャージ信号1ビットの計9ビットである。ラッチ回路351aは1水平期間に順次DATAを保持していく。   FIG. 43 is a block diagram showing in more detail the components of the current gradation circuit 334 and the voltage gradation circuit 371 shown in FIG. The shift register circuit (selector circuit) 352 sequentially shifts in response to a start signal (ST1) and a clock (CLK1). The 9-bit holding position of DATA is designated to the first latch circuit (holding circuit) 351a by the shift operation. The DATA 9 bits are a total of 9 bits including an image signal 8 bits and a precharge signal 1 bit. The latch circuit 351a sequentially holds DATA in one horizontal period.

第1のラッチ回路に保持されたDATAは、ロード信号(LD)により2段目の第2のラッチ回路351bにロードされる。ラッチ回路351bに保持されたDATAは、電圧階調回路371の入力と、電流階調回路334の入力となる。プリチャージ信号の1ビットは、電圧階調回路371のプログラム電圧と、電流階調回路334のプログラム電流の切り換え信号である。プリチャージ信号は、切り換え回路(図36のスイッチ221などが該当する)391を時間的に制御し、出力端子93からプリチャージ信号がオンのときはまずプリチャージ電圧を出力し、その後プログラム電流を出力する。   DATA held in the first latch circuit is loaded into the second latch circuit 351b in the second stage by the load signal (LD). DATA held in the latch circuit 351b becomes an input of the voltage gradation circuit 371 and an input of the current gradation circuit 334. One bit of the precharge signal is a switching signal between the program voltage of the voltage gradation circuit 371 and the program current of the current gradation circuit 334. The precharge signal temporally controls the switching circuit (corresponding to the switch 221 in FIG. 36) 391. When the precharge signal is turned on from the output terminal 93, the precharge voltage is first output, and then the program current is output. Output.

なお、電圧階調回路のサンプルホールド回路は比較的低速でしか動作しないため、電圧階調回路のサンプルホールド用として1段のラッチ回路を追加し、3段のラッチ回路で構成してもよいことは言うまでもない。また、切り換え回路391は基板30にポリシリコン技術で形成してもよい。   In addition, since the sample and hold circuit of the voltage gradation circuit operates only at a relatively low speed, a one-stage latch circuit may be added for the sample and hold of the voltage gradation circuit and may be configured by a three-stage latch circuit. Needless to say. The switching circuit 391 may be formed on the substrate 30 by polysilicon technology.

図44はプリチャージ電圧発生回路からの出力(一例としてVpa、Vpb、Vpc)をICチップ15の配線で伝達した構成である。配線は、ICチップの長手方向に形成される(各出力段251と垂直)。プリチャージ電圧(プログラム電圧と同義あるいは類似)Vp(Vpa、Vpb、Vpc、open)を伝達するプリチャージ電圧(プログラム電圧と同義あるいは類似)配線PS(PSa、PSb、PSc、PSd)がソース信号線18に直交するように配線される。プリチャージ電圧(プログラム電圧と同義あるいは類似)配線PSと内部配線222とは直交し、各交点にスイッチSpが配置されている。スイッチSpはSEL信号(プリチャージ電圧の選択信号、openを含む)で切り換えられる。openがスイッチSp0aで選択された場合は、プリチャージ電圧は出力されない。スイッチSpは出力端子93ごとに自由に設定できる。スイッチSpは映像信号の大きさ、変化などにより適切なものが選択され制御される。   FIG. 44 shows a configuration in which outputs from the precharge voltage generation circuit (for example, Vpa, Vpb, Vpc) are transmitted through the wiring of the IC chip 15. The wiring is formed in the longitudinal direction of the IC chip (perpendicular to each output stage 251). Precharge voltage (synonymous with or similar to program voltage) Vp (Vpa, Vpb, Vpc, open) precharge voltage (synonymous with or similar to program voltage) wiring PS (PSa, PSb, PSc, PSd) is a source signal line 18 is wired so as to be orthogonal to 18. The precharge voltage (synonymous with or similar to the program voltage) wiring PS and the internal wiring 222 are orthogonal to each other, and a switch Sp is disposed at each intersection. The switch Sp is switched by a SEL signal (including a precharge voltage selection signal and open). When open is selected by the switch Sp0a, the precharge voltage is not output. The switch Sp can be freely set for each output terminal 93. An appropriate switch Sp is selected and controlled depending on the magnitude and change of the video signal.

図43と図44との差異は、図43が映像信号ごとに対応するプリチャージ電圧をサンプルホールドして発生させる構成である。サンプルホールドしたプリチャージ電圧は、出力端子ごとに、プリチャージビット(プリチャージ電圧を印加するか否かの判断ビット)により判断され印加される。図44は複数のプリチャージ電圧を発生させておき、1つのプリチャージ電圧を選択する構成である。選択するプリチャージ電圧は、プリチャージビット(SEL信号:どのプリチャージ電圧を印加するかの指定ビット。ただし、プリチャージ電圧を印加しない(open)場合もある)により判断され、ソース信号線18に印加される。   The difference between FIG. 43 and FIG. 44 is the configuration in which FIG. 43 samples and holds a precharge voltage corresponding to each video signal. The sampled and held precharge voltage is determined and applied for each output terminal by a precharge bit (a bit for determining whether to apply a precharge voltage). FIG. 44 shows a configuration in which a plurality of precharge voltages are generated and one precharge voltage is selected. The precharge voltage to be selected is determined by a precharge bit (SEL signal: a bit for specifying which precharge voltage is applied. However, there is a case where the precharge voltage is not applied (open) in some cases). Applied.

なお、プリチャージ電圧(プログラム電圧と同義あるいは類似)は1Hの最初の期間に全ソース信号線18に一斉に印加される。したがって、SEL信号もラッチして保持しておく必要がある。   Note that the precharge voltage (synonymous with or similar to the program voltage) is applied to all the source signal lines 18 simultaneously in the first period of 1H. Therefore, it is necessary to latch and hold the SEL signal.

以上の実施例は、ソースドライバIC14を介して、プリチャージ電圧(プログラム電圧と同義あるいは類似)を印加するものであったが、本発明はこれに限定するものではない。たとえば、アレイ30基板に形成したプリチャージ電圧(プログラム電圧と同義あるいは類似)用トランジスタ素子を形成し、このトランジスタ素子をオンオフ制御することにより、プリチャージ電圧(プログラム電圧と同義あるいは類似)線に印加されたプリチャージ電圧(プログラム電圧と同義あるいは類似)をソース信号線18に印加するように構成してもよいことは言うまでもない。   In the above embodiment, the precharge voltage (synonymous with or similar to the program voltage) is applied via the source driver IC 14, but the present invention is not limited to this. For example, a precharge voltage (synonymous or similar to program voltage) transistor element formed on the array 30 substrate is formed, and this transistor element is turned on / off to be applied to a precharge voltage (synonymous or similar to program voltage) line. It goes without saying that the precharge voltage (synonymous with or similar to the program voltage) applied may be applied to the source signal line 18.

図44などで、オープン機能(openの選択、つまりプリチャージを実施しない)を設けている。しかし、これは説明を容易にするためであって、必ずしも構成あるいは形成することに限定するものではない。   In FIG. 44 and the like, an open function (open selection, that is, precharge is not performed) is provided. However, this is for ease of explanation, and is not necessarily limited to the configuration or formation.

以上の実施例では、プリチャージ電圧(プログラム電圧と同義あるいは類似)はアノード電圧に近い電圧であるとして説明をした、しかし、画素構成によっては、プリチャージ電圧(プログラム電圧と同義あるいは類似)がカソード電圧に近い場合がある。たとえば、駆動用トランジスタ11aがNチャンネルトランジスタで形成している場合、駆動用トランジスタ11aが、Pチャンネルトランジスタで吐き出し電流(図1の画素構成は吸い込み(シンク)電流)で電流プログラムが実施される場合である。この場合は、プリチャージ電圧(プログラム電圧と同義あるいは類似)はカソード電圧に近い電圧とする必要がある。   In the above embodiments, the precharge voltage (synonymous with or similar to the program voltage) is described as being close to the anode voltage. However, depending on the pixel configuration, the precharge voltage (synonymous with or similar to the program voltage) is the cathode. May be close to voltage. For example, when the driving transistor 11a is formed of an N channel transistor, the current transistor is executed by the driving transistor 11a being discharged by the P channel transistor (the pixel configuration in FIG. 1 is a sink (sink) current). It is. In this case, the precharge voltage (synonymous with or similar to the program voltage) needs to be a voltage close to the cathode voltage.

図45では、プリチャージ電圧Vpcを電子ボリウム291で発生させている。プリチャージ電圧VpcはVDATAによりスイッチSx(x=1〜7)が選択されて出力される。また、電圧V1は8ビットのSDATAがDA変換回路511でDA変換されて印加される。各プリチャージ電圧Vpcは、V0電圧をV1電圧を外付け抵抗Rx(x=1〜6)で発生される。   In FIG. 45, the precharge voltage Vpc is generated by the electronic volume 291. The precharge voltage Vpc is output when the switch Sx (x = 1 to 7) is selected by VDATA. Further, 8-bit SDATA is DA-converted by the DA conversion circuit 511 and applied to the voltage V1. Each precharge voltage Vpc is generated by an external resistor Rx (x = 1 to 6) with a V0 voltage and a V1 voltage.

スイッチS(図42ではS1〜S7)はVDATAをデコードすることにより指定される。なお、選択できるVpcの電圧の個数は、表示装置が6インチ以上の場合は、表示装置の階調数の1/8以上にすることが好ましい(256階調の場合は、32階調以上)。特に、1/4以上とすることが好ましい(256階調の場合は、64階調以上)。比較的高階調領域までプログラム電流の書き込み不足が発生するからである。6インチ以下の比較的小型の表示パネル(表示装置)では、選択できるVpcの電圧の個数は、2以上にすることが好ましい。VpcがV0の1つであっても良好な黒表示を実現できるが、低階調領域で階調表示することが困難な場合があるからである。Vpcが2以上であれば、FRC制御により複数の階調を発生することができ、良好な画像表示を実現できる。   The switch S (S1 to S7 in FIG. 42) is designated by decoding VDATA. Note that the number of selectable Vpc voltages is preferably 1/8 or more of the number of gradations of the display device when the display device is 6 inches or more (32 gradations or more in the case of 256 gradations). . In particular, it is preferably 1/4 or more (in the case of 256 gradations, 64 gradations or more). This is because the program current is insufficiently written to a relatively high gradation region. In a relatively small display panel (display device) of 6 inches or less, the number of selectable Vpc voltages is preferably 2 or more. This is because even if Vpc is one of V0, good black display can be realized, but it may be difficult to perform gradation display in a low gradation region. If Vpc is 2 or more, a plurality of gradations can be generated by FRC control, and good image display can be realized.

図46の実施例のように、V2電圧、V8電圧、V32電圧、V128電圧と、4倍の階調に対応するように電圧端子を構成すると、折れ線ガンマのプリチャージ電圧回路を構成することができる。V2電圧とV8電圧との電位差、V8電圧とV32電圧との電位差、V32電圧とV128電圧との電位差、V128電圧とV255電圧との電位差はほぼ等しくなる。折れ線ガンマは駆動用トランジスタ11aのV−I特性と一致させる。   As in the embodiment of FIG. 46, if the voltage terminals are configured to correspond to the V2 voltage, the V8 voltage, the V32 voltage, and the V128 voltage and four times the gradation, a polygonal line gamma precharge voltage circuit can be configured. it can. The potential difference between the V2 voltage and the V8 voltage, the potential difference between the V8 voltage and the V32 voltage, the potential difference between the V32 voltage and the V128 voltage, and the potential difference between the V128 voltage and the V255 voltage are substantially equal. The broken line gamma is matched with the VI characteristic of the driving transistor 11a.

図46の構成は、電圧端子はV0、V1、V2、V8、V32、V128、V255の7端子の実施例である。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。たとえば、端子位置を0、8、32、128、512としてもよい。つまり、V0電圧端子、V8電圧端子、V32電圧端子、V128電圧端子、V512電圧端子を形成した実施例である。また、端子位置を0、1、2、8、32、128としてもよい。つまり、V0電圧端子、V1電圧端子、V2電圧端子、V8電圧端子、V32電圧端子、V128電圧端子を形成してもよい。もちろん、近傍であればよく、たとえば、V0電圧端子、V1電圧端子、V3電圧端子、V7電圧端子、V31電圧端子、V127電圧端子などであってもよい。   The configuration of FIG. 46 is an example in which the voltage terminals are seven terminals of V0, V1, V2, V8, V32, V128, and V255. However, the present invention is not limited to this. For example, the terminal positions may be 0, 8, 32, 128, 512. That is, this is an embodiment in which a V0 voltage terminal, a V8 voltage terminal, a V32 voltage terminal, a V128 voltage terminal, and a V512 voltage terminal are formed. The terminal positions may be 0, 1, 2, 8, 32, and 128. That is, a V0 voltage terminal, a V1 voltage terminal, a V2 voltage terminal, a V8 voltage terminal, a V32 voltage terminal, and a V128 voltage terminal may be formed. Of course, it may be in the vicinity, and may be, for example, a V0 voltage terminal, a V1 voltage terminal, a V3 voltage terminal, a V7 voltage terminal, a V31 voltage terminal, a V127 voltage terminal, or the like.

以上のように、本発明は、少なくとも電圧端子の1組が4の倍数あるいはその近傍にしたものが本発明である。なお、4倍といっても、0階調から開始されるか、1階調から開始されるかにより異なる。たとえば、V0、V1、V2、V8、V32、V128としても、V1、V2、V7、V31、V127などであってもよい。つまり、Vn/Vn−1が4近傍になればよい。たとえば、V127/V31も4近傍であるので本発明の技術的範疇である。V1、V3、V12、V31、V255などであっても1つの組み合わせであるV12とV3の関係、つまりV12/V3が4であるから本発明の技術的範疇である。   As described above, according to the present invention, at least one set of voltage terminals is a multiple of 4 or the vicinity thereof. Even if it is 4 times, it differs depending on whether it starts from 0 gradation or 1 gradation. For example, V0, V1, V2, V8, V32, and V128 may be V1, V2, V7, V31, V127, and the like. That is, Vn / Vn-1 only needs to be in the vicinity of 4. For example, V127 / V31 is also in the vicinity of 4, which is a technical category of the present invention. Even in the case of V1, V3, V12, V31, V255, etc., the relationship between V12 and V3, which is one combination, that is, V12 / V3 is 4, which is a technical category of the present invention.

電流駆動方式では、低階調領域においてプログラム電流が小さくなり、書き込み不足が発生することが課題である。この課題の対策のために本発明では、プリチャージ駆動、電圧+電流駆動、基準電流比制御などを実施する。   In the current driving method, the problem is that the program current becomes small in the low gradation region, resulting in insufficient writing. In order to counter this problem, the present invention implements precharge driving, voltage + current driving, reference current ratio control, and the like.

電流駆動で書き込み不足が発生する原因は、図47に図示するようにソース信号線18の寄生容量Csによる影響が大きい。寄生容量Csはゲート信号線17とソース信号線18との交差部などで発生する。   The cause of insufficient writing in current driving is greatly affected by the parasitic capacitance Cs of the source signal line 18 as shown in FIG. The parasitic capacitance Cs is generated at the intersection of the gate signal line 17 and the source signal line 18.

以下の説明は説明を容易にするために、画素16の駆動用トランジスタ11aがPチャンネルトランジスタで、かつ吸い込み電流(ソースドライバ回路(IC)14に吸い込む電流)で電流プログラムを実施する場合であるとして説明をする。画素16の駆動用トランジスタ11aがNチャンネルトランジスタの場合あるいは駆動用トランジスタ11aを吐き出し電流(ソースドライバIC14から吐き出す電流)で電流プログラムを実施する場合は逆の関係にする。逆の関係に変更あるいは読み変えることは当業者であれば容易であるので説明を省略する。   In the following description, for ease of explanation, it is assumed that the driving transistor 11a of the pixel 16 is a P-channel transistor and that current programming is performed with a sink current (a current sucked into the source driver circuit (IC) 14). Explain. When the driving transistor 11a of the pixel 16 is an N-channel transistor or when the current program is executed with the discharging current (current discharged from the source driver IC 14) from the driving transistor 11a, the relation is reversed. Since it is easy for those skilled in the art to change or read the reverse relationship, the description is omitted.

以下の説明は画素16の駆動用トランジスタ11aがPチャンネルに限定されるものではない。また、画素構成は図1の画素構成を例示して説明をするが、これに限定するものではなく、他の電流駆動の画素構成であればいずれでもよいことも言うまでもない。なお、以上の事項は、以前あるいはこれ以降に記載する本発明に適用されることはいうまでもない。   In the following description, the driving transistor 11a of the pixel 16 is not limited to the P channel. Further, the pixel configuration will be described by exemplifying the pixel configuration in FIG. 1, but the pixel configuration is not limited to this, and it is needless to say that any other current-driven pixel configuration may be used. Needless to say, the above matters are applied to the present invention described before or after.

図47(a)に図示するように、黒表示(低階調表示)から白表示(高階調表示)に変化する時は、ソースドライバ回路(IC)14がシンク電流で駆動することが主体である。ソースドライバ回路(IC)14がプログラム電流Id1(Iw)で寄生容量Csの電荷を吸い込む。電流を吸い込むことにより、寄生容量Csの電荷を放電し、ソース信号線18の電位が低下する。したがって、画素16の駆動用トランジスタ11aのゲート端子電位が低下し、プログラム電流Iwを流すように電流プログラムが行われる。   As shown in FIG. 47A, when changing from black display (low gradation display) to white display (high gradation display), the source driver circuit (IC) 14 is mainly driven by a sink current. is there. The source driver circuit (IC) 14 absorbs the charge of the parasitic capacitance Cs with the program current Id1 (Iw). By sinking the current, the charge of the parasitic capacitance Cs is discharged, and the potential of the source signal line 18 is lowered. Accordingly, the gate terminal potential of the driving transistor 11a of the pixel 16 is lowered, and current programming is performed so that the program current Iw flows.

白表示(高階調表示)から黒表示(低階調表示)に変化する時は、画素16の駆動用トランジスタ11aの動作が主体である。ソースドライバ回路(IC)14は黒表示の電流を出力するが、微小であるため実効的に動作しない。駆動用トランジスタ11aが動作し、プログラム電流Id2(Iw)の電位に一致するように寄生容量Csを充電する。寄生容量Csに電荷を充電することにより、ソース信号線18の電位が上昇する。したがって、画素16の駆動用トランジスタ11aのゲート端子電位が上昇し、プログラム電流Iwを流すように電流プログラムが行われる。   When the white display (high gradation display) is changed to the black display (low gradation display), the operation of the driving transistor 11a of the pixel 16 is mainly performed. The source driver circuit (IC) 14 outputs a black display current, but does not operate effectively because it is very small. The driving transistor 11a operates and charges the parasitic capacitance Cs so as to match the potential of the program current Id2 (Iw). By charging the parasitic capacitance Cs with a charge, the potential of the source signal line 18 rises. Therefore, the gate terminal potential of the driving transistor 11a of the pixel 16 rises and current programming is performed so that the program current Iw flows.

しかし、図47(a)の駆動は低階調領域では電流Id1が小さく、また、定電流動作のため、寄生容量Csの電荷の放電に非常に長時間を必要とする。特に白輝度に到達するまでの時間が長いため白ウインドウ表示で上辺の輝度が所定輝度より低い。そのため、視覚的にめだつ。図47(b)は駆動用トランジスタ11aが非線形動作するため、比較的電流Id2が大きい。そのため、Csの受電時間が比較的はやい。また、特に黒輝度に到達するまでの時間が短いため白ウインドウ表示で下辺の輝度が低下しやすく、視覚的にめだたない。   However, in the driving of FIG. 47A, the current Id1 is small in the low gradation region, and because of the constant current operation, a very long time is required for discharging the charge of the parasitic capacitance Cs. In particular, since it takes a long time to reach the white luminance, the luminance of the upper side in the white window display is lower than the predetermined luminance. Therefore, it is visually noticeable. In FIG. 47B, since the driving transistor 11a operates nonlinearly, the current Id2 is relatively large. For this reason, the power reception time of Cs is relatively short. In particular, since the time until the black luminance is reached is short, the luminance of the lower side tends to be lowered in the white window display, which is visually inconspicuous.

プログラム電流の書き込み不足の課題を解決するために、電圧+電流駆動、突き抜け電圧駆動、duty駆動、プリチャージ駆動を実施する。しかし、この方法だけでは、パネルが大型になれば、図47(a)の黒から白表示の実現が困難になる場合がある。この対策として、本発明では、1Hの前半にソースドライバ回路(IC)14からのプログラム電流を増加させる。なお、後半は正規のプログラム電流Iwを出力する。つまり、所定条件の時は、1Hの最初に所定のプログラム電流よりも大きな電流をソース信号線18に流し、後半に正規のプログラム電流をソース信号線18に流す。以下この実施例について説明をする。   In order to solve the problem of insufficient programming current writing, voltage + current driving, punch-through voltage driving, duty driving, and precharge driving are performed. However, with this method alone, if the panel becomes large, it may be difficult to realize black to white display in FIG. As a countermeasure, in the present invention, the program current from the source driver circuit (IC) 14 is increased in the first half of 1H. In the second half, the regular program current Iw is output. That is, under a predetermined condition, a current larger than a predetermined program current is supplied to the source signal line 18 at the beginning of 1H, and a regular program current is supplied to the source signal line 18 in the second half. This embodiment will be described below.

以下に説明する駆動方法(駆動装置あるいは駆動方式)を過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)駆動と呼ぶ。また、過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)駆動は本発明の他の駆動方式あるいは駆動装置(電圧+電流駆動、突き抜け電圧駆動、duty駆動、プリチャージ駆動など)と組み合すことができることは言うまでもない。   The drive method (drive device or drive system) described below is called overcurrent (precharge current or discharge current) drive. In addition, overcurrent (precharge current or discharge current) driving can be combined with other driving methods or driving devices (voltage + current driving, punch-through voltage driving, duty driving, precharge driving, etc.) of the present invention. Needless to say.

図48は本発明の過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)駆動方式を実施したソースドライバ回路(IC)14の説明図である。図示を容易とするため、単位トランジスタ224が1個の電流回路はトランジスタ群841aとし、’1’で図示している。以下同様に、単位トランジスタ224が2個の電流回路はトランジスタ群841bとし、’2’で図示している。また、単位トランジスタ224が4個の電流回路はトランジスタ群841cとし、’4’で図示している。単位トランジスタ224が8個の電流回路はトランジスタ群841dとし、’8’で図示している。また、これらのトランジスタ群841の1出力段が電流出力回路251cである。なお、作図を容易にするため、RGBは各6ビットとしている。   FIG. 48 is an explanatory diagram of a source driver circuit (IC) 14 that implements the overcurrent (precharge current or discharge current) driving method of the present invention. For ease of illustration, a current circuit having one unit transistor 224 is referred to as a transistor group 841a and is indicated by '1'. Similarly, a current circuit having two unit transistors 224 is referred to as a transistor group 841b and is indicated by '2'. Further, a current circuit having four unit transistors 224 is a transistor group 841c and is indicated by '4'. A current circuit having eight unit transistors 224 is referred to as a transistor group 841d and is indicated by '8'. One output stage of the transistor group 841 is a current output circuit 251c. In order to facilitate drawing, RGB has 6 bits each.

図48の構成は、過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)のプログラム電流を流すトランジスタ群はトランジスタ群841fとしている。つまり、階調データの最上位ビットのスイッチD5をオンオフ制御することにより、過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)をソース信号線18に流す。過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)を流すことにより寄生容量Csの電荷を短時間で放電させることができる。   In the configuration of FIG. 48, the transistor group 841f is a transistor group that supplies an overcurrent (precharge current or discharge current) program current. That is, an overcurrent (pre-charge current or discharge current) is caused to flow through the source signal line 18 by turning on / off the switch D5 of the most significant bit of the gradation data. By flowing an overcurrent (precharge current or discharge current), the charge of the parasitic capacitance Cs can be discharged in a short time.

最上位ビットを過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)制御に使用するのは、以下の理由による。まず、説明を容易にするため、1階調から4階調に変化させるとする。また、階調数は256階調(RGB各8ビット)とする。   The most significant bit is used for overcurrent (precharge current or discharge current) control for the following reason. First, for ease of explanation, it is assumed that the gradation is changed from 1 gradation to 4 gradations. The number of gradations is 256 gradations (8 bits for each RGB).

1階調から白階調に変化させる場合であっても、1階調から中間調以上(128階調以上)に変化させる場合は、プログラム電流の書き込み不足は発生しない。プログラム電流が比較的大きく、寄生容量Csの充放電が比較的早いからである。   Even when the gradation is changed from one gradation to the white gradation, when the gradation is changed from one gradation to a halftone or more (128 gradations or more), the program current is not insufficiently written. This is because the program current is relatively large and the parasitic capacitance Cs is charged and discharged relatively quickly.

しかし、1階調から中間調以下に変化する場合は、プログラム電流が小さく、1H期間に寄生容量Csを十分に充放電させることができない。したがって、1階調から4階調などのように、中間調以下に階調変化させることを改善させる必要がある。この場合に、本発明の過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)駆動を実施する。   However, when the gradation level changes from 1 gradation to halftone or less, the program current is small, and the parasitic capacitance Cs cannot be sufficiently charged / discharged during the 1H period. Therefore, it is necessary to improve the gradation change to a halftone or less, such as 1 gradation to 4 gradations. In this case, the overcurrent (precharge current or discharge current) driving of the present invention is performed.

以上のように変化する階調が中間調以下であるから、プログラム電流の指定に最上位ビットは使用しない。つまり、1階調から変化させる場合、目標の階調は、’011111’以下である(最上位ビットのスイッチD5は絶えずオフ状態である。本発明はたえず、オフ状態の最上位ビットを制御して過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)駆動を実施する。   Since the gradation changing as described above is equal to or lower than the halftone, the most significant bit is not used to specify the program current. In other words, when changing from one gradation, the target gradation is '011111' or less (the most significant bit switch D5 is constantly in the off state. The present invention constantly controls the most significant bit in the off state. Overcurrent (pre-charge current or discharge current) drive is performed.

最初の階調(変化前の階調)が1であれば、スイッチD0がオンで単位トランジスタ224が1個動作する。目標の階調が4であれば、スイッチD2が動作し、単位トランジスタ224が4個動作する。しかし、単位トランジスタ224が4個では十分に寄生容量Csの電荷を目標値まで放電させることができない。そこで、スイッチD5を閉じトランジスタ群841fを動作させる。なお、D5スイッチの動作は、D2スイッチの動作に加えて実施してもよいし(1Hの前半をD5とD2スイッチをオンさせ、後半はD2スイッチのみをオンさせる)、1Hの前半はスイッチD5のみをオンさせ、後半はスイッチD2のみをオンさせてもよい。   If the first gradation (gradation before change) is 1, the switch D0 is turned on and one unit transistor 224 operates. If the target gradation is 4, the switch D2 operates and four unit transistors 224 operate. However, if the number of unit transistors 224 is four, the charge of the parasitic capacitance Cs cannot be sufficiently discharged to the target value. Therefore, the switch D5 is closed and the transistor group 841f is operated. The operation of the D5 switch may be performed in addition to the operation of the D2 switch (the first half of 1H turns on the D5 and D2 switches and the second half turns on only the D2 switch), and the first half of 1H takes the switch D5. Only the switch D2 may be turned on in the latter half.

スイッチD5がオンすれば、単位トランジスタ224が32個動作する。したがって、D2スイッチのみの動作に比較して32/4=8であるから8倍の速度で寄生容量Csの電荷を放電させることができる。したがって、プログラム電流の書き込み改善が可能である。   When the switch D5 is turned on, 32 unit transistors 224 operate. Therefore, 32/4 = 8 compared to the operation of only the D2 switch, so that the charge of the parasitic capacitance Cs can be discharged at a speed eight times higher. Therefore, the programming current can be improved.

スイッチD5をオンさせるか否かは、RGBの映像データごとにコントローラ回路(IC)で判断する。コントローラ回路(IC)からは判断ビットKDATAがソースドライバ回路(IC)14に印加される。KDATAは一例として4ビットである。KDATA=0の時は、過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)駆動は実施しない。KDATA=1の時はプリチャージ駆動(電圧+電流駆動)を実施する。KDATA=2〜15が過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)駆動を実施し、KDATAの大きさは、D5ビットをオンさせる時間を示す。   Whether or not the switch D5 is turned on is determined by a controller circuit (IC) for each RGB video data. A judgment bit KDATA is applied to the source driver circuit (IC) 14 from the controller circuit (IC). KDATA is 4 bits as an example. When KDATA = 0, overcurrent (precharge current or discharge current) driving is not performed. When KDATA = 1, precharge driving (voltage + current driving) is performed. When KDATA = 2 to 15 performs overcurrent (precharge current or discharge current) driving, the magnitude of KDATA indicates a time for turning on the D5 bit.

KDATAはラッチ回路331で1H期間保持される。カウンタ回路332はHD(1Hの同期信号)でリセットされ、クロックCLKでカウントされる。カウンタ回路332とラッチ回路331のデータが比較され、カウンタ回路332のカウント値が、ラッチ回路331のデータ値(KDATA)よりも小さいとき、AND回路333は内部配線222bにオン電圧を出力しつづけ、スイッチD5のオン状態が維持される。したがって、トランジスタ群841fの単位トランジスタ224の電流が内部配線222aおよびソース信号線18に流れる。なお、電流プログラム時はスイッチ222bが閉じ、プリチャージ駆動時は、スイッチ221aが閉じ、スイッチ221bがオープン状態となる。   KDATA is held in the latch circuit 331 for 1H period. The counter circuit 332 is reset by HD (1H synchronization signal) and counted by the clock CLK. The data of the counter circuit 332 and the latch circuit 331 are compared, and when the count value of the counter circuit 332 is smaller than the data value (KDATA) of the latch circuit 331, the AND circuit 333 continues to output the ON voltage to the internal wiring 222b. The on state of the switch D5 is maintained. Therefore, the current of the unit transistor 224 of the transistor group 841f flows through the internal wiring 222a and the source signal line 18. Note that the switch 222b is closed during current programming, and the switch 221a is closed and the switch 221b is open during precharge driving.

図49はコントローラIC(回路)の動作の説明図である。ただし、1画素列(RGBの組)の処理の説明図である。映像データDATA(8ビット×RGB)は内部クロックに同期してラッチ回路351aと351bに2段ラッチされる。したがって、ラッチ回路351bには、1H前の映像データが保持され、ラッチ回路351aには現在の映像データが保持される。   FIG. 49 is an explanatory diagram of the operation of the controller IC (circuit). However, it is explanatory drawing of the process of 1 pixel row (RGB group). Video data DATA (8 bits × RGB) is latched in two stages in latch circuits 351a and 351b in synchronization with the internal clock. Therefore, the previous 1H video data is held in the latch circuit 351b, and the current video data is held in the latch circuit 351a.

比較回路911は1H前の映像データと現在の映像データを比較し、KDATAの値を導出する。また、映像データDATAはソースドライバ回路(IC)14に転送される。また、コントローラIC(回路)はカウンタ332の上限カウント値CNTをソースドライバ回路(IC)14に転送する。   The comparison circuit 911 compares the video data before 1H with the current video data, and derives the value of KDATA. The video data DATA is transferred to the source driver circuit (IC) 14. Further, the controller IC (circuit) transfers the upper limit count value CNT of the counter 332 to the source driver circuit (IC) 14.

KDATAは比較回路911で決定される。決定は、変化前の映像データ(1H前のデータ)と変化後の映像データ(現在のデータ)から決定される。1H前のデータとは、現在のソース信号線18の電位を示す。現在のデータとは、変化させるソース信号線18の目標電位を示す。   KDATA is determined by the comparison circuit 911. The determination is made based on the video data before the change (data before 1H) and the video data after the change (current data). The data before 1H indicates the current potential of the source signal line 18. The current data indicates the target potential of the source signal line 18 to be changed.

図47に図示して説明したように、プログラム電流の書き込みは、ソース信号線18の電位を考慮して行うことが重要である。書き込み時間tは、T=ACV/I(A:比例定数、C:寄生容量の大きさ、V:変化する電位差、I:プログラム電流)で表すことができる。したがって、変化する電位差Vが大きければ書き込み時間が長くなる。一方、プログラム電流I=Iwが大きくすれば書き込み時間は短くなる。   As shown in FIG. 47, it is important to write the program current in consideration of the potential of the source signal line 18. The write time t can be expressed by T = ACV / I (A: proportionality constant, C: magnitude of parasitic capacitance, V: changing potential difference, I: program current). Therefore, if the potential difference V that changes is large, the writing time becomes long. On the other hand, if the program current I = Iw is increased, the write time is shortened.

本発明では、過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)駆動でIを大きくする。しかし、いずれの場合でもIを大きくすると、目標のソース信号線18電位を越える場合が発生する。したがって、過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)駆動を実施する場合には、電位差Vを考慮する必要がある。現在のソース信号線18の電位と、次の映像データ(現在の映像データ(次に印加する映像データ=(変化後:図50の縦方向))から決定される目標のソース信号線18電位から、KDATAを求める。   In the present invention, I is increased by overcurrent (precharge current or discharge current) driving. However, in any case, if I is increased, the target source signal line 18 potential may be exceeded. Accordingly, when overcurrent (precharge current or discharge current) driving is performed, it is necessary to consider the potential difference V. From the current potential of the source signal line 18 and the next video data (current video data (video data to be applied next = (after change: vertical direction in FIG. 50)), the target source signal line 18 potential. Find KDATA.

KDATAはD5スイッチをオンさせる時間の場合もあるが、過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)駆動での電流の大きさでもよい。また、D5スイッチのオン時間(時間が長いほどソース信号線18に印加する過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)印加時間が長くなり、過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)の実効値が大きくなる)と、過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)の大きさ(大きさが大きいほどソース信号線18に印加する過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)の実効値が大きくなる)の両方を組み合わせてもよい。説明を容易にするため、最初、KDATAはD5スイッチのオン時間であるとして説明をする。   KDATA may be the time to turn on the D5 switch, but it may be the magnitude of current in overcurrent (precharge current or discharge current) driving. Further, the ON time of the D5 switch (the longer the time is, the longer the overcurrent (precharge current or discharge current) application time applied to the source signal line 18 is, and the effective value of the overcurrent (precharge current or discharge current) is larger. And the magnitude of the overcurrent (precharge current or discharge current) (the larger the magnitude, the larger the effective value of the overcurrent (precharge current or discharge current) applied to the source signal line 18). You may combine. For ease of explanation, KDATA is first described as being the D5 switch on time.

比較回路911は1H前と変化後(図50を参照のこと)の映像データを比較してKDATAの大きさを決定する。KDATAに0以上のデータが設定される場合は以下の条件に合致する場合である。   The comparison circuit 911 compares the video data before 1H and after the change (see FIG. 50) to determine the size of KDATA. The case where 0 or more data is set in KDATA is the case where the following conditions are met.

1H前の映像データが低階調領域である場合(0階調以上全階調の1/8以下の領域であることが好ましい。たとえば、64階調の場合は、0階調以上8階調以下である。)で、かつ、変化後の映像データが中間調領域以下である場合(1階調以上全階調の1/2以下の領域であることが好ましい。   When the video data before 1H is in a low gradation region (preferably in the region of 0 gradation or more and 1/8 or less of all gradations. For example, in the case of 64 gradations, 0 gradation or more and 8 gradations. And the video data after the change is less than or equal to the halftone area (preferably an area that is greater than or equal to 1 gradation and less than or equal to 1/2 of all gradations).

たとえば、64階調の場合は、1階調以上32階調以下の領域である。)にKDATAを設定する。設定するデータは、駆動用トランジスタ11aのVI特性カーブを考慮して決定する。ソース信号線18のVdd電圧から、0階調目の電圧であるV0(完全黒表示)までの電位差は大きい。また、V0電圧から、1階調目のV1までの電位差は大きい。次の2階調目であるV2電圧とV1電圧までの電位差は、V0電圧からV1電圧までの電位差よりもかなり小さい。以降、V3とV2、V4とV3になるにつれて電位差は小さくなる。以上のように高階調側になるにしたがって、電位差が小さくなるのは、駆動用トランジスタ11aのVI特性が非線形であることにほかならない。   For example, in the case of 64 gradations, the area is from 1 gradation to 32 gradations. ) Is set to KDATA. The data to be set is determined in consideration of the VI characteristic curve of the driving transistor 11a. The potential difference from the Vdd voltage of the source signal line 18 to V0 (complete black display) which is the voltage of the 0th gradation is large. Further, the potential difference from the V0 voltage to V1 of the first gradation is large. The potential difference between the V2 voltage and the V1 voltage, which is the next second gradation, is considerably smaller than the potential difference from the V0 voltage to the V1 voltage. Thereafter, the potential difference decreases as V3 and V2, and V4 and V3. As described above, the potential difference becomes smaller as the gray scale level is increased. This is because the VI characteristic of the driving transistor 11a is nonlinear.

階調間の電位差は、寄生容量Csの電荷の放電量に比例する。したがって、プログラム電流の印加時間つまり、過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)駆動では過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)Idの印加時間と大きさに連動する。たとえば、1H前のV0(階調0)と変化後のV1(階調1)の階調差が小さいからといって、過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)Idの印加時間を短くすることはできない。電位差が大きいからである。   The potential difference between the gradations is proportional to the amount of discharge of the parasitic capacitance Cs. Accordingly, the application time of the program current, that is, the overcurrent (precharge current or discharge current) driving is linked to the application time and magnitude of the overcurrent (precharge current or discharge current) Id. For example, the application time of the overcurrent (precharge current or discharge current) Id is shortened just because the gradation difference between V0 (gradation 0) before 1H and V1 (gradation 1) after the change is small. I can't. This is because the potential difference is large.

逆に、階調差が大きくとも過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)を大きくする必要がない場合もある。たとえば、階調10と階調32では、階調10の電位V10と階調32の電位32の電位差も小さく、階調32のプログラム電流Iwも大きいため、寄生容量Csを短時間で充放電できるからである。   On the contrary, there are cases where it is not necessary to increase the overcurrent (pre-charge current or discharge current) even if the gradation difference is large. For example, in the gradation 10 and the gradation 32, the potential difference between the potential V10 of the gradation 10 and the potential 32 of the gradation 32 is small and the program current Iw of the gradation 32 is also large, so that the parasitic capacitance Cs can be charged and discharged in a short time. Because.

図50は横軸に1H前(変化前、つまり現在のソース信号線18電位を示す)の映像データの階調番号を示している。また、縦軸に現在の映像データの階調番号(変化後、つまり変化させる目標のソース信号線18電位を示す)を示している。   In FIG. 50, the horizontal axis indicates the gradation number of the video data before 1H (before the change, that is, the current potential of the source signal line 18). The vertical axis indicates the gradation number of the current video data (after the change, that is, the target source signal line 18 potential to be changed).

0階調目(1H前)から0階調目(変化後)に変化させるのは、電位変化がないため、KDATAは0でよい。ソース信号線18の電位変化がないからである。0階調目(1H前)から1階調目(変化後)に変化させるのは、V0電位からV1電位に変化させる必要がある。V1−V0電圧は大きいから、KDATAは最高値の15(例である)に設定する。ソース信号線18の電位変化が大きいからである。1階調目(1H前)から2階調目(変化後)に変化させるのは、V1電位からV2電位に変化させる必要があり、V2−V1電圧は比較的大きいから、KDATAは最高値近傍の12(一例である)に設定する。ソース信号線18の電位変化が大きいからである。3階調目(1H前)から4階調目(変化後)に変化させるのは、V3電位からV4電位に変化させる必要がある。しかし、V4−V3電圧は比較的小さいため、KDATAは小さい値の2に設定する。ソース信号線18の電位変化が小さくてすみ、寄生容量Csの充放電が短時間で実施でき、目標のプログラム電流を画素16に書き込むことができるからである。   The change from the 0th gradation (1H before) to the 0th gradation (after the change) has no potential change, so KDATA may be zero. This is because the potential of the source signal line 18 does not change. The change from the 0th gradation (1H before) to the 1st gradation (after the change) needs to be changed from the V0 potential to the V1 potential. Since the V1-V0 voltage is large, KDATA is set to a maximum value of 15 (example). This is because the potential change of the source signal line 18 is large. To change from the first gradation (before 1H) to the second gradation (after change), it is necessary to change from the V1 potential to the V2 potential. Since the V2-V1 voltage is relatively large, KDATA is near the maximum value. 12 (which is an example). This is because the potential change of the source signal line 18 is large. To change from the third gradation (before 1H) to the fourth gradation (after change), it is necessary to change from the V3 potential to the V4 potential. However, since the V4-V3 voltage is relatively small, KDATA is set to a small value of 2. This is because the potential change of the source signal line 18 is small, charging / discharging of the parasitic capacitance Cs can be performed in a short time, and a target program current can be written into the pixel 16.

変化前が低階調領域であっても、変化後の階調が中間調以上の場合は、KDATAの値は0である。変化後の階調に対応するプログラム電流が大きく、1H期間内にソース信号線18の電位を目標電位または近傍の電位まで変化させることができるからである。たとえば、2階調から38階調目に変化させる場合は、KDATA=0である。   Even if the gradation before the change is a low gradation area, the value of KDATA is 0 when the gradation after the change is halftone or higher. This is because the program current corresponding to the changed gradation is large, and the potential of the source signal line 18 can be changed to the target potential or a nearby potential within the 1H period. For example, when changing from the second gradation to the 38th gradation, KDATA = 0.

変化後が変化前より低階調の場合において、過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)駆動は実施しない。38階調から2階調目に変化させる場合は、KDATA=0である。この場合は、図47(b)が該当し、主として画素16の駆動用トランジスタからプログラム電流Idが寄生容量Csに供給されるからである。図47(b)の場合は、過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)駆動方式は実施せず、電圧+電流駆動方式あるいはプリチャージ電圧駆動を実施することが好ましい。   When the gradation after the change is lower than that before the change, overcurrent (pre-charge current or discharge current) driving is not performed. When changing from the 38th gradation to the second gradation, KDATA = 0. This is because FIG. 47B corresponds to this case, and the program current Id is mainly supplied from the driving transistor of the pixel 16 to the parasitic capacitance Cs. In the case of FIG. 47 (b), it is preferable not to implement the overcurrent (precharge current or discharge current) drive method, but to implement the voltage + current drive method or the precharge voltage drive.

本発明の過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)駆動方式において、基準電流を増加させる駆動方式あるいは基準電流比とdutyを制御する駆動方式と組み合わせることは効果がある。基準電流の増加により、図48の構成では過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)も増加させることができるからである。したがって、寄生容量Csの充放電時間も短くなる。基準電流の大きさあるいは基準電流比の制御により、過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)駆動方式の過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)の大きさを制御することができる点も本発明の特徴ある構成である。   In the overcurrent (precharge current or discharge current) driving method of the present invention, it is effective to combine with a driving method for increasing the reference current or a driving method for controlling the reference current ratio and duty. This is because the overcurrent (pre-charge current or discharge current) can be increased in the configuration of FIG. 48 due to the increase in the reference current. Therefore, the charge / discharge time of the parasitic capacitance Cs is also shortened. It is also possible to control the magnitude of the overcurrent (precharge current or discharge current) of the overcurrent (precharge current or discharge current) driving method by controlling the magnitude of the reference current or the reference current ratio. It is a characteristic configuration.

以上のように、KDATAがコントロールIC(回路)で決定され、KDATAがソースドライバ回路(IC)14に差動信号で伝送される。伝送されたKDATAは図48のラッチ回路331で保持され、D5スイッチが制御される。   As described above, KDATA is determined by the control IC (circuit), and KDATA is transmitted to the source driver circuit (IC) 14 as a differential signal. The transmitted KDATA is held by the latch circuit 331 in FIG. 48, and the D5 switch is controlled.

図50の表の関係は、マトリックスROMテーブルまたはルックアップテーブルを用いてKDATAを設定してもよいが、計算式を用いてコントローラIC(回路)の乗算器を用いてKDATAの算出(導出)を行ってもよい。その他、コントローラIC(回路)の外部電圧の変化によりKDATAを定めてもよい。また、コントローラIC(回路)で実施することに限定されるものではなく、ソースドライバ回路(IC)14で実施してもよいことは言うまでもない。   50, the KDATA may be set using a matrix ROM table or a lookup table, but the calculation (derivation) of KDATA using a multiplier of the controller IC (circuit) using a calculation formula. You may go. In addition, KDATA may be determined by a change in the external voltage of the controller IC (circuit). Moreover, it is not limited to implementing with controller IC (circuit), and it cannot be overemphasized that it may implement with source driver circuit (IC) 14.

本発明は、基準電流の大きさによりプログラム電流Iwの大きさが基準電流に比例して変化する。したがって、図48などの過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)駆動の過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)の大きさも基準電流の大きさに比例して変化する。図50で説明したKDATAの大きさも基準電流の大きさの変化に連動させる必要があることは言うまでもない。つまり、KDATAの大きさは、基準電流の大きさに連動させるあるいは基準電流の大きさを考慮することが好ましい。   In the present invention, the magnitude of the program current Iw varies in proportion to the reference current depending on the magnitude of the reference current. Therefore, the magnitude of the overcurrent (precharge current or discharge current) for driving the overcurrent (precharge current or discharge current) shown in FIG. 48 also changes in proportion to the magnitude of the reference current. It goes without saying that the magnitude of KDATA described in FIG. 50 must also be linked to the change in the magnitude of the reference current. That is, it is preferable that the magnitude of KDATA is linked to the magnitude of the reference current or the magnitude of the reference current is taken into consideration.

本発明の過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)駆動方式の技術的思想は、プログラム電流の大きさ、駆動用トランジスタ11aからの出力電流などに対応して過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)の大きさ、印加時間、実効値を設定するものである。   The technical idea of the overcurrent (precharge current or discharge current) driving method of the present invention is that the overcurrent (precharge current or discharge current) corresponds to the magnitude of the program current, the output current from the driving transistor 11a, etc. The size, the application time, and the effective value are set.

比較回路911または比較手段などではRGBの映像データごとに比較を実施するが、RGBデータから輝度(Y値)を求めて、KDATAを算出してもよいことは言うまでもない。つまり、単に、各RGBで比較するのではなく、色度変化、輝度変化を考慮し、また、階調データの連続性、周期性、変化割合を考慮してKDATAを算出あるいは決定もしくは演算する。また、1画素単位でなく、周辺の画素の映像データもしくは映像データに類するデータを考慮してKDATAを導出してもよいことは言うまでもない。たとえば、画面64を複数のブロックに分割し、各ブロック内の映像データなどを考慮してKDATAを決定する方式が例示される。   The comparison circuit 911 or the comparison means performs comparison for each RGB video data, but it goes without saying that KDATA may be calculated by obtaining the luminance (Y value) from the RGB data. That is, instead of simply comparing each RGB, KDATA is calculated, determined, or calculated in consideration of chromaticity change and luminance change, and in consideration of continuity, periodicity, and change rate of gradation data. Needless to say, KDATA may be derived in consideration of video data of peripheral pixels or data similar to video data, not in units of pixels. For example, there is exemplified a method in which the screen 64 is divided into a plurality of blocks, and KDATA is determined in consideration of video data in each block.

図48などにおいて、D5スイッチが選択される時間は、1H(1水平走査期間)の3/4期間以下1/32期間以上に設定することが好ましい。さらに好ましくは1H(1水平走査期間)の1/2期間以下1/16期間以上に設定することが好ましい。過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)を印加する期間が長いと、正規のプログラム電流を印加する期間が短くなり、電流補償が良好にならない場合がある。   In FIG. 48 and the like, it is preferable that the time for selecting the D5 switch is set to 3/4 period or less of 1H (one horizontal scanning period) and 1/32 period or more. More preferably, it is set to be not more than 1/2 period of 1H (one horizontal scanning period) and not less than 1/16 period. If the period for applying the overcurrent (pre-charge current or discharge current) is long, the period for applying the regular program current is shortened, and current compensation may not be good.

過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)を印加する期間が短いと、目標のソース信号線18の電位まで到達することができない。過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)駆動では、目標の階調のソース信号線18電位まで行うことが好ましいのは言うまでもない。しかし、過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)駆動ののみで完全に目標のソース信号線電位にする必要はない。1Hの前半の過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)駆動後に、正規の電流駆動を実施し、過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)駆動により生じた誤差は、正規の電流駆動によるプログラム電流で補償されるからである。   If the period during which the overcurrent (precharge current or discharge current) is applied is short, the target potential of the source signal line 18 cannot be reached. In overcurrent (pre-charge current or discharge current) driving, it goes without saying that it is preferable to perform up to the potential of the source signal line 18 of the target gradation. However, it is not necessary to completely set the target source signal line potential only by overcurrent (precharge current or discharge current) driving. After the first half overcurrent (precharge current or discharge current) drive, normal current drive is performed, and the error caused by overcurrent (precharge current or discharge current) drive is the program current due to normal current drive. This is because it is compensated.

図51は、過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)駆動方式を実施した場合の、ソース信号線18の電位変化を図示している。図51(a)はD5スイッチを1/(2H)期間オン状態にした場合である。1水平走査期間(1H)の最初であるt1よりD5スイッチをオンし、32個分の単位トランジスタ224の単位電流が出力端子93から吸い込まれる。D5スイッチは1/(2H)のt2期間までの間、オン状態が維持され、過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)Id2がソース信号線18に流れる。したがって、ソース信号線18の電位は目標電位のVn電位近傍のVm電位まで低下する。その後(t2後)、D5スイッチはオフ状態となり、正規のプログラム電流Iwが1Hの終了(t3)まで、ソース信号線18に流れて、ソース信号線18電位は目標のVn電位となる。   FIG. 51 illustrates the potential change of the source signal line 18 when the overcurrent (precharge current or discharge current) driving method is implemented. FIG. 51A shows a case where the D5 switch is turned on for 1 / (2H) period. The D5 switch is turned on from t1 which is the first of one horizontal scanning period (1H), and unit currents of 32 unit transistors 224 are sucked from the output terminal 93. The D5 switch is kept on until 1 / (2H) t2, and an overcurrent (pre-charge current or discharge current) Id2 flows to the source signal line 18. Therefore, the potential of the source signal line 18 is lowered to the Vm potential in the vicinity of the target potential Vn potential. Thereafter (after t2), the D5 switch is turned off, and the normal program current Iw flows to the source signal line 18 until the end of 1H (t3), and the potential of the source signal line 18 becomes the target Vn potential.

ソースドライバ回路(IC)14は定電流動作する。したがって、t2〜t3期間には定電流のプログラム電流Iwが流れる。このプログラム電流Iwにより、寄生容量Csが目標電位になるまで充放電されると、画素16の駆動用トランジスタ11aから電流Iが流れ、ソース信号線18の電位は目標プログラム電流Iwが流れるように保持される。したがって、駆動用トランジスタ11aは所定プログラム電流Iwが流れるように保持される。以上のように、過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)駆動の過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)の精度は必要ない。精度がなくとも、画素16の駆動用トランジスタ11aにより補正される。   The source driver circuit (IC) 14 operates at a constant current. Therefore, a constant program current Iw flows during the period from t2 to t3. When the program current Iw is charged / discharged until the parasitic capacitance Cs reaches the target potential, the current I flows from the driving transistor 11a of the pixel 16, and the potential of the source signal line 18 is maintained so that the target program current Iw flows. Is done. Therefore, the driving transistor 11a is held so that the predetermined program current Iw flows. As described above, the accuracy of overcurrent (precharge current or discharge current) for driving overcurrent (precharge current or discharge current) is not required. Even if there is no accuracy, it is corrected by the driving transistor 11a of the pixel 16.

図51(b)はD5スイッチを1/(4H)期間オン状態にした場合である。1水平走査期間(1H)の最初であるt1よりD5スイッチをオンし、32個分の単位トランジスタ224の単位電流が出力端子93から吸い込まれる。D5スイッチは1/(4H)のt4期間までの間、オン状態が維持され、過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)Id2がソース信号線18に流れる。したがって、ソース信号線18の電位は目標電位のVn電位近傍のVm電位まで低下する。その後(t4後)、D5スイッチはオフ状態となり、正規のプログラム電流Iwが1Hの終了(t3)まで、ソース信号線18に流れて、ソース信号線18電位は目標のVn電位となる。   FIG. 51B shows the case where the D5 switch is turned on for 1 / (4H). The D5 switch is turned on from t1 which is the first of one horizontal scanning period (1H), and unit currents of 32 unit transistors 224 are sucked from the output terminal 93. The D5 switch is kept on until 1 / (4H) t4, and an overcurrent (pre-charge current or discharge current) Id2 flows through the source signal line 18. Therefore, the potential of the source signal line 18 is lowered to the Vm potential in the vicinity of the target potential Vn potential. Thereafter (after t4), the D5 switch is turned off, and the normal program current Iw flows to the source signal line 18 until the end of 1H (t3), and the potential of the source signal line 18 becomes the target Vn potential.

ソースドライバ回路(IC)14は定電流動作する。したがって、t4〜t3期間には定電流のプログラム電流Iwが流れる。このプログラム電流Iwにより、寄生容量Csが目標電位になるまで充放電されると、画素16の駆動用トランジスタ11aから電流Iが流れ、ソース信号線18の電位は目標プログラム電流Iwが流れるように保持される。したがって、駆動用トランジスタ11aは所定プログラム電流Iwが流れるように保持される。以上のように、過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)駆動の過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)の精度は必要ない。精度がなくとも、画素16の駆動用トランジスタ11aにより補正される。   The source driver circuit (IC) 14 operates at a constant current. Therefore, a constant program current Iw flows during the period from t4 to t3. When the program current Iw is charged / discharged until the parasitic capacitance Cs reaches the target potential, the current I flows from the driving transistor 11a of the pixel 16, and the potential of the source signal line 18 is maintained so that the target program current Iw flows. Is done. Therefore, the driving transistor 11a is held so that the predetermined program current Iw flows. As described above, the accuracy of overcurrent (precharge current or discharge current) for driving overcurrent (precharge current or discharge current) is not required. Even if there is no accuracy, it is corrected by the driving transistor 11a of the pixel 16.

図51(c)はD5スイッチを1/(8H)期間オン状態にした場合である。1水平走査期間(1H)の最初であるt1よりD5スイッチをオンし、32個分の単位トランジスタ224の単位電流が出力端子93から吸い込まれる。D5スイッチは1/(8H)のt5期間までの間、オン状態が維持され、過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)Id2がソース信号線18に流れる。したがって、ソース信号線18の電位は目標電位のVn電位近傍のVm電位まで低下する。その後(t5後)、D5スイッチはオフ状態となり、正規のプログラム電流Iwが1Hの終了(t3)まで、ソース信号線18に流れて、ソース信号線18電位は目標のVn電位となる。   FIG. 51C shows the case where the D5 switch is turned on for 1 / (8H). The D5 switch is turned on from t1 which is the first of one horizontal scanning period (1H), and unit currents of 32 unit transistors 224 are sucked from the output terminal 93. The D5 switch is kept on until 1 / (8H) t5, and an overcurrent (pre-charge current or discharge current) Id2 flows to the source signal line 18. Therefore, the potential of the source signal line 18 is lowered to the Vm potential in the vicinity of the target potential Vn potential. Thereafter (after t5), the D5 switch is turned off, and the normal program current Iw flows to the source signal line 18 until the end of 1H (t3), and the potential of the source signal line 18 becomes the target Vn potential.

以上のように、単位トランジスタ224の動作個数と、1つの単位トランジスタ224の単位電流の大きさが固定値である。したがって、D5スイッチのオン時間により、比例して寄生容量Csの充放電時間を操作することができ、ソース信号線18の電位を操作することができる。なお、説明を容易にするため、寄生容量Csを過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)により充放電させるとしているが、画素16のスイッチトランジスタなどのリークもあるから、Csの充放電に限定されるものではない。   As described above, the number of operating unit transistors 224 and the unit current of one unit transistor 224 are fixed values. Therefore, the charge / discharge time of the parasitic capacitance Cs can be proportionally controlled by the ON time of the D5 switch, and the potential of the source signal line 18 can be controlled. For ease of explanation, the parasitic capacitance Cs is charged / discharged by an overcurrent (pre-charge current or discharge current). However, since there is a leak of the switch transistor of the pixel 16, the parasitic capacitance Cs is limited to charging / discharging of Cs. It is not something.

以上のように、過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)の大きさが単位トランジスタ224の動作個数により把握できる点が本発明の特徴ある構成である。書き込み時間tは、T=ACV/I(A:比例定数、C:寄生容量の大きさ、V:変化する電位差、I:プログラム電流)で表すことができるから、KDATAも値も、寄生容量(アレイ設計時に把握できる)、駆動用トランジスタ11aのVI特性(アレイ設計時に把握できる)などから理論値にKDATAの値を決定できる。   As described above, the characteristic feature of the present invention is that the magnitude of the overcurrent (precharge current or discharge current) can be grasped by the number of operation of the unit transistors 224. The write time t can be expressed by T = ACV / I (A: proportionality constant, C: magnitude of parasitic capacitance, V: potential difference that changes, I: program current), so that KDATA and value are both parasitic capacitance ( The value of KDATA can be determined as a theoretical value from the VI characteristics of the driving transistor 11a (which can be grasped at the time of array design).

図48の実施例は、最上位ビットD5スイッチを操作することにより、過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)駆動の過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)Idの大きさ、印加時間を制御するものであった。本発明はこれに限定するものではない。最上位ビット以外のスイッチを操作あるいは制御してもよいことは言うまでもない。   In the embodiment of FIG. 48, the magnitude and application time of overcurrent (precharge current or discharge current) Id for overcurrent (precharge current or discharge current) driving are controlled by operating the most significant bit D5 switch. It was a thing. The present invention is not limited to this. Needless to say, switches other than the most significant bit may be operated or controlled.

図52は、ソースドライバ回路(IC)14が各RGB8ビット構成である場合において、最上位ビットのスイッチD7と最上位ビットから2番目のスイッチD6をKDATAにより制御した構成である。なお、説明を容易にするため、D7ビットには128個の単位トランジスタ224が形成または配置されているとし、D6ビットには64個の単位トランジスタ224が形成または配置されているとする。   FIG. 52 shows a configuration in which the most significant bit switch D7 and the second most significant bit switch D6 are controlled by KDATA when the source driver circuit (IC) 14 has an RGB 8-bit configuration. For ease of explanation, it is assumed that 128 unit transistors 224 are formed or arranged in the D7 bit, and 64 unit transistors 224 are formed or arranged in the D6 bit.

図52(a1)はD7スイッチの動作を示している。図52(a2)はD6スイッチの動作を示している。図52(a3)はソース信号線18の電位変化を示している。図52(a)ではD7、D6のスイッチを同時に動作するため、単位トランジスタ224は128+64個が同時に動作し、出力端子93からソースドライバ回路(IC)14に流れ込む。したがって、階調0のV0電圧から階調3のV3電圧まで高速にソース信号線18電位を変化させることができる。なお、t2後は、正規のスイッチDが閉じ、正規のプログラム電流Iwが出力端子93からソースドライバ回路(IC)14に吸い込まれる。   FIG. 52 (a1) shows the operation of the D7 switch. FIG. 52 (a2) shows the operation of the D6 switch. FIG. 52 (a3) shows the potential change of the source signal line. In FIG. 52A, since the switches D7 and D6 are simultaneously operated, 128 + 64 unit transistors 224 are simultaneously operated and flow into the source driver circuit (IC) 14 from the output terminal 93. Therefore, the potential of the source signal line 18 can be changed at high speed from the V0 voltage of gradation 0 to the V3 voltage of gradation 3. After t2, the normal switch D is closed, and the normal program current Iw is sucked into the source driver circuit (IC) 14 from the output terminal 93.

同様に、図52(b1)はD7スイッチの動作を示している。図52(b2)はD6スイッチの動作を示している。図52(b3)はソース信号線18の電位変化を示している。図52(b)ではD7スイッチのみが動作するため、単位トランジスタ224は128個が同時に動作し、出力端子93からソースドライバ回路(IC)14に流れ込む。したがって、階調0のV0電圧から階調2のV2電圧まで高速にソース信号線18電位を変化させることができる。図52(a)より変化速度は小さい。しかし、変化する電位がV0からV2であるから、適正である。なお、t2後は、正規のスイッチDが閉じ、正規のプログラム電流Iwが出力端子93からソースドライバ回路(IC)14に吸い込まれる。   Similarly, FIG. 52 (b1) shows the operation of the D7 switch. FIG. 52 (b2) shows the operation of the D6 switch. FIG. 52 (b 3) shows the potential change of the source signal line 18. In FIG. 52B, since only the D7 switch operates, 128 unit transistors 224 operate simultaneously and flow from the output terminal 93 into the source driver circuit (IC) 14. Therefore, the potential of the source signal line 18 can be changed at high speed from the V0 voltage of gradation 0 to the V2 voltage of gradation 2. The rate of change is smaller than in FIG. However, since the changing potential is from V0 to V2, it is appropriate. After t2, the normal switch D is closed, and the normal program current Iw is sucked into the source driver circuit (IC) 14 from the output terminal 93.

同様に、図52(c1)はD7スイッチの動作を示している。図52(c2)はD6スイッチの動作を示している。図52(c3)はソース信号線18の電位変化を示している。図52(c)ではD6スイッチのみが動作するため、単位トランジスタ224は64個が同時に動作し、出力端子93からソースドライバ回路(IC)14に流れ込む。したがって、階調0のV0電圧から階調1のV1電圧まで高速にソース信号線18電位を変化させることができる。図52(b)より変化速度は小さい。しかし、変化する電位がV0からV1であるから、適正である。なお、t2後は、正規のスイッチDが閉じ、正規のプログラム電流Iwが出力端子93からソースドライバ回路(IC)14に吸い込まれる。   Similarly, FIG. 52 (c1) shows the operation of the D7 switch. FIG. 52 (c2) shows the operation of the D6 switch. FIG. 52 (c <b> 3) shows the potential change of the source signal line 18. In FIG. 52C, since only the D6 switch operates, 64 unit transistors 224 operate simultaneously and flow from the output terminal 93 to the source driver circuit (IC) 14. Therefore, the potential of the source signal line 18 can be changed at high speed from the V0 voltage of gradation 0 to the V1 voltage of gradation 1. The rate of change is smaller than in FIG. However, since the changing potential is from V0 to V1, it is appropriate. After t2, the normal switch D is closed, and the normal program current Iw is sucked into the source driver circuit (IC) 14 from the output terminal 93.

以上のようにKDATAにより、スイッチのオン期間だけでなく、複数のスイッチを操作あるいは動作させ、動作させる単位トランジスタ224個数を変化させることにより、適正なソース信号線電位を達成できる。   As described above, by KDATA, not only the switch ON period but also a plurality of switches are operated or operated to change the number of unit transistors 224 to be operated, thereby achieving an appropriate source signal line potential.

図52では、過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)駆動によるスイッチD(D6、D7)をt1からt2の期間に動作させるとしたが、これに限定するものではなく、図42に図示あるいは説明したように、t2、t3、t4などのようにKDATAの値によって変化あるいは変更してもよいことは言うまでもない。また、過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)を印加している期間に基準電流あるいは基準電流の大きさを制御あるいは変更し、過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)の大きさを調整してもよい。なお、正規のプログラム電流を印加している期間は基準電流あるいは基準電流の大きさは正規の値にする。   In FIG. 52, the switch D (D6, D7) driven by the overcurrent (pre-charge current or discharge current) is operated during the period from t1 to t2. However, the present invention is not limited to this, and is illustrated or described in FIG. As described above, it goes without saying that it may be changed or changed according to the value of KDATA, such as t2, t3, t4. Also, control or change the size of the reference current or reference current while applying the overcurrent (precharge current or discharge current), and adjust the size of the overcurrent (precharge current or discharge current). Also good. Note that the reference current or the magnitude of the reference current is set to a normal value during the period in which the normal program current is applied.

操作するスイッチはD7、D6に限定するものではなく、D5など他のスイッチも同時にあるいは選択して動作あるいは制御してもよいことは言うまでもない。a期間の例では、過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)駆動として1/(2H)の期間D7スイッチをオン状態にして、128個の単位電流からなる過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)をソース信号線18に印加している。   The switches to be operated are not limited to D7 and D6, but it goes without saying that other switches such as D5 may be operated or controlled simultaneously or selected. In the example of the period a, overcurrent (precharge current or discharge current) is driven, and the D7 switch is turned on for a period of 1 / (2H), and the overcurrent (precharge current or discharge current) is made up of 128 unit currents. Is applied to the source signal line 18.

b期間の例では、過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)駆動として1/(2H)の期間D7、D6スイッチをオン状態にして、128+64個の単位電流からなる過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)をソース信号線18に印加している。   In the example of period b, the overcurrent (precharge current or discharge current) is driven, and the switches D7 and D6 are turned on for 1 / (2H) and the overcurrent (precharge current or discharge current) consisting of 128 + 64 unit currents is turned on. Current) is applied to the source signal line 18.

c期間の例では、過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)駆動として1/(2H)の期間D7、D6、D5スイッチをオン状態にして、128+64+32個の単位電流からなる過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)をソース信号線18に印加している。   In the example of the period c, the overcurrent (precharge current or discharge current) driving is performed by turning on the switches D7, D6, and D5 of 1 / (2H) and turning on the overcurrent (precharge current) of 128 + 64 + 32 unit currents. Alternatively, a discharge current) is applied to the source signal line 18.

d期間の例では、過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)駆動として1/(2H)の期間D7、D6、D5スイッチと前記スイッチに該当しない映像データのスイッチ(たとえば、映像データが4であれいば、D2スイッチ)をオン状態にして、128+64+32+α個の単位電流からなる過電流(プリチャージ電流もしくはディスチャージ電流)をソース信号線18に印加している。   In the example of the d period, the overcurrent (precharge current or discharge current) drive is a 1 / (2H) period D7, D6, D5 switch and a switch of video data not corresponding to the switch (for example, if the video data is 4) In other words, the D2 switch) is turned on, and an overcurrent (precharge current or discharge current) consisting of 128 + 64 + 32 + α unit currents is applied to the source signal line 18.

各電圧端子間の電位差は、基準電流比などにより変化できるように構成することが好ましい。図71は各電圧端子間をボリウムVRで可変できるように構成した実施例である。もちろん、VRの替わりにDAコンバータで可変してもよい。電圧VddとGND間に抵抗R0〜R6が配置されている。基準電流比の変化に伴い、抵抗R6の端子電圧は、ボリウムVRで変化させる。ボリウムVRによりR0〜R6の各抵抗端子の電圧は変化し、この変化は、電圧端子V1〜V256の電圧を変化させる。V0電圧は階調0の電圧であるため、所定電圧Vaに固定している。電圧端子V1〜V256の電位は、複数のソースドライバ回路(IC)14に共通に印加される。   It is preferable that the potential difference between the voltage terminals can be changed according to a reference current ratio or the like. FIG. 71 shows an embodiment in which the voltage terminals can be varied with a volume VR. Of course, a DA converter may be used instead of VR. Resistors R0 to R6 are arranged between the voltage Vdd and GND. Along with the change of the reference current ratio, the terminal voltage of the resistor R6 is changed by the volume VR. The voltage at each of the resistance terminals R0 to R6 is changed by the volume VR, and this change changes the voltage at the voltage terminals V1 to V256. Since the V0 voltage is a voltage of gradation 0, it is fixed at a predetermined voltage Va. The potentials of the voltage terminals V <b> 1 to V <b> 256 are commonly applied to a plurality of source driver circuits (IC) 14.

以上の実施例は、電圧端子V1〜V256基準電流比に対応して変化させるとしたが、点灯率など他の変動により変化させてもよいことは言うまでもない。   In the above embodiment, the voltage terminals V1 to V256 are changed corresponding to the reference current ratio, but it is needless to say that the voltage terminals V1 to V256 may be changed due to other fluctuations such as the lighting rate.

図71の実施例は、ソースドライバ回路(IC)14の外づけ抵抗R(R0〜R6)により電圧端子に印加する電圧を変化させる構成である。しかし、本発明はこれに限定するものではない。たとえば、図67に図示するように、ソースドライバ回路(IC)14の内蔵抵抗Raにより、電圧端子間(V2電圧とV8電圧間、V8電圧とV32電圧間、V32電圧とV128電圧間)に所定電圧が印加されるように構成してもよい。   The embodiment of FIG. 71 has a configuration in which the voltage applied to the voltage terminal is changed by the external resistor R (R0 to R6) of the source driver circuit (IC) 14. However, the present invention is not limited to this. For example, as shown in FIG. 67, the internal resistance Ra of the source driver circuit (IC) 14 is predetermined between the voltage terminals (between the V2 voltage and the V8 voltage, between the V8 voltage and the V32 voltage, and between the V32 voltage and the V128 voltage). You may comprise so that a voltage may be applied.

図67などでは、V1電圧とV2電圧とを分離しているが、図68に図示するように、V1電圧をプリチャージ電圧Vpc1とし、また、オペアンプ231cを介してプリチャージ電圧Vpc2以降を発生するように構成してもうよいことは言うまでもない。   In FIG. 67 and the like, the V1 voltage and the V2 voltage are separated, but as shown in FIG. 68, the V1 voltage is used as the precharge voltage Vpc1, and the precharge voltage Vpc2 and subsequent voltages are generated via the operational amplifier 231c. Needless to say, it may be configured as above.

図66などでは、電子ボリウム291の抵抗Rは同一として説明している。抵抗Rの抵抗値を同一にすることによりICチップを小サイズ化できる。しかし、本発明はこれに限定するものではない。抵抗Rは変化させてもよい。たとえば、低階調側の抵抗値を大きくし(図65に図示するように、V0〜低階調領域では、階調に対応する電位の電位差が大きいからである)、高階調側の抵抗値を相対的にあるいは絶対値的に小さくしてもよい。また、抵抗の抵抗値は、低階調側と高階調側の2種類あるいは複数種類で構成してもよい。   In FIG. 66 and the like, the description is made assuming that the resistance R of the electronic volume 291 is the same. By making the resistance value of the resistor R the same, the size of the IC chip can be reduced. However, the present invention is not limited to this. The resistance R may be changed. For example, the resistance value on the low gradation side is increased (as shown in FIG. 65, the potential difference of the potential corresponding to the gradation is large in the V0 to low gradation region), and the resistance value on the high gradation side. May be relatively small or absolute. Further, the resistance value of the resistor may be composed of two types or a plurality of types of low gradation side and high gradation side.

たとえば、図65に図示するガンマカーブを発生するためには、プリチャージ電圧Vpc端子間に配置する抵抗値を2乗特性にする。この実施例を図69に図示する。プリチャージ電圧Vpc端子間電圧は、1、3、5、7、9・・・・・・・と抵抗値を変化させている。   For example, in order to generate the gamma curve shown in FIG. 65, the resistance value arranged between the precharge voltage Vpc terminals is set to a square characteristic. This embodiment is illustrated in FIG. The precharge voltage Vpc terminal voltage changes the resistance value to 1, 3, 5, 7, 9,...

図69などにおいて、V1電圧、V2電圧などを変化させることにより、適切なプリチャージ電圧Vpcを発生することができる。電圧の変化は、DA回路を用いてもよい。DA回路は、コントローラ回路(IC)が出力する8ビットデータIDで制御する。   In FIG. 69 and the like, an appropriate precharge voltage Vpc can be generated by changing the V1 voltage, the V2 voltage, and the like. A DA circuit may be used to change the voltage. The DA circuit is controlled by the 8-bit data ID output from the controller circuit (IC).

以上の実施例は、プリチャージ駆動方式の実施例として説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。電圧駆動方式(たとえば、図2などの画素構成を有するEL表示パネルの駆動方法)にも適用できることは言うまでもない。電圧駆動では、RGBのEL素子のガンマカーブが異なるため、RGB独立のガンマ回路が必要である。   Although the above embodiment has been described as an embodiment of the precharge driving system, the present invention is not limited to this. Needless to say, the present invention can also be applied to a voltage driving method (for example, a driving method of an EL display panel having a pixel configuration shown in FIG. 2). In the voltage drive, the gamma curves of the RGB EL elements are different, so that an RGB independent gamma circuit is required.

図46の構成と、図69の構成とを組み合わせて構成してもよい。図46は、たとえば、V1電圧とV2電圧間のタップ間の抵抗値を一定の抵抗ではなく、4R、2R、Rなど変化させている。変化することにより、図65のカーブが、曲線状となり、より駆動用トランジスタ11aのV−I特性と一致するようになる。   The configuration of FIG. 46 and the configuration of FIG. 69 may be combined. In FIG. 46, for example, the resistance value between taps between the V1 voltage and the V2 voltage is not a constant resistance, but 4R, 2R, R, and the like are changed. As a result of the change, the curve of FIG. 65 becomes a curve and more closely matches the VI characteristic of the driving transistor 11a.

以上のように、本発明のソースドライバ回路(IC)14において、プリチャージ電圧Vpcを発生する回路構成は、多種多様な構成が含まれる。また、以上の事項は、プリチャージ電流あるいは過電圧Idを発生する回路構成にも適用できることは言うまでもない。   As described above, in the source driver circuit (IC) 14 of the present invention, the circuit configuration for generating the precharge voltage Vpc includes various configurations. Further, it goes without saying that the above matters can be applied to a circuit configuration for generating a precharge current or an overvoltage Id.

図72は、以前に説明した本発明のプリチャージ電圧Vpc回路を電圧駆動方式に適用した実施例である。RGBのV0電圧(Vpc=V0)はRGBで共通である。電子ボリウム291RはRの電圧発生回路である。また、電子ボリウム291GはGの電圧発生回路である。電子ボリウム291BはBの電圧発生回路である。V1R〜VnR、V1G〜VnG、V1B〜VnBは、各RGBで独立に設定することができる。したがって、Vpc1r〜Vpcnr、Vpc1g〜Vpcng、Vpc1b〜Vpcnbを各RGBで独立に設定することができる。図72において、V0電圧もRGBで独立の値に形成あるいは設定してもよい。また、電子ボリウム291の内部抵抗Rの値も各RGBで独立に形成あるいは構成してもよい。図72に構成することによりRGB独立ガンマカーブを発生することができ、良好なホワイトバランスを実現することができる。   FIG. 72 shows an embodiment in which the previously described precharge voltage Vpc circuit of the present invention is applied to a voltage drive system. RGB V0 voltage (Vpc = V0) is common to RGB. The electronic volume 291R is an R voltage generation circuit. The electronic volume 291G is a G voltage generation circuit. The electronic volume 291B is a B voltage generation circuit. V1R to VnR, V1G to VnG, and V1B to VnB can be set independently for each RGB. Therefore, Vpc1r to Vpcnr, Vpc1g to Vpcng, and Vpc1b to Vpcnb can be set independently for each RGB. In FIG. 72, the V0 voltage may also be formed or set to an independent value in RGB. Also, the value of the internal resistance R of the electronic volume 291 may be formed or configured independently for each RGB. With the configuration shown in FIG. 72, an RGB independent gamma curve can be generated, and a good white balance can be realized.

以上のように、プリチャージ電圧Vpcを発生する本発明の回路構成、駆動方式は電圧駆動方式にも適用できることは言うまでもない。たとえば、図2の画素構成においても、V0電圧を各RGBに共通にし、図72の電子ボリウム291などの構成を適用してもよい。つまり、電圧+電流駆動に限定されるものではない。   As described above, it goes without saying that the circuit configuration and driving method of the present invention for generating the precharge voltage Vpc can also be applied to the voltage driving method. For example, also in the pixel configuration of FIG. 2, the V0 voltage may be made common to each RGB, and the configuration such as the electronic volume 291 of FIG. 72 may be applied. That is, the present invention is not limited to voltage + current driving.

図66では、全階調範囲において、プリチャージ電圧Vpcを対応させるとしているが、本発明はこれに限定するものではない。書き込み電流あるいは書き込み電圧が不足する領域に限定してプリチャージ電圧Vpc発生回路を構成または配置してもよい。たとえば、図66では、電流駆動であり、低階調領域で書き込み不足が発生する(と想定する)。したがって、256階調の低階調の該当するV0〜V128までプリチャージ電圧発生回路を構成し、それ以上は、省略してもよいことは言うまでもない。また、0階調目と偶数階調目のみにプリチャージ発生回路を構成したりするように、対応する階調を間欠にしてもよいことは言うまでもない。また、階調128以上のプリチャージ電圧VpcはVpc255のみであってもよい。プログラム電流が支配的に動作するからである。以上の事項は本発明の他の実施例においても適用できることは言うまでもない。   In FIG. 66, the precharge voltage Vpc is made to correspond in the entire gradation range, but the present invention is not limited to this. The precharge voltage Vpc generation circuit may be configured or arranged only in a region where the write current or the write voltage is insufficient. For example, in FIG. 66, current driving is performed, and writing shortage occurs in the low gradation region (assumed to be). Therefore, it goes without saying that the precharge voltage generation circuit is configured from V0 to V128 corresponding to the low gradation of 256 gradations, and the rest can be omitted. Needless to say, the corresponding gradation may be intermittent so that the precharge generation circuit is configured only for the 0th gradation and the even gradation. Further, the precharge voltage Vpc of gradation 128 or higher may be only Vpc255. This is because the program current operates dominantly. It goes without saying that the above matters can be applied to other embodiments of the present invention.

図66に図示するように構成することも好ましい。図66は3点折れガンマ(折れ点位置は、V1、V2,V3)の実施例であるが、これは説明を容易にするためであって、2点折れガンマ以下であっても、4点折れガンマ以下以上であってもよい。   It is also preferable to configure as shown in FIG. FIG. 66 shows an example of a three-point broken gamma (the positions of the broken points are V1, V2, and V3). However, this is for ease of explanation. It may be greater than or equal to the bending gamma.

図66の特徴は、V0〜V1、V1〜V2、V2〜V4間のプリチャージ電圧Vpc数が一定でないことである。一例としてV0〜V1はVpc0とVpc1の2個、V1〜V2は32−1=31個のプリチャージ電圧Vpc、V2〜V3は128−32=96個のプリチャージ電圧Vpc、V3〜V4は255−32=223個のプリチャージ電圧Vpcとしている。つまり、高階調になるにしたがって、プリチャージ電圧Vpc数を多くしている。   The feature of FIG. 66 is that the number of precharge voltages Vpc between V0 to V1, V1 to V2, and V2 to V4 is not constant. As an example, V0 to V1 are two of Vpc0 and Vpc1, V1 to V2 are 32-1 = 31 precharge voltages Vpc, V2 to V3 are 128-32 = 96 precharge voltages Vpc, and V3 to V4 are 255. −32 = 223 precharge voltages Vpc. That is, the number of precharge voltages Vpc is increased as the gray level is increased.

階調0対応するプリチャージ電圧V0はRGBで共通であり、アノード電圧Vddに近い(駆動用トランジスタ11aがPチャンネルの場合である。Nチャンネルトランジスタの場合は逆になる)。また、階調1対応するプリチャージ電圧V1はRGBで異なり、V1とV0電圧の電位差は大きい。また、V1電圧は低階調であるため、電流プログラム方法において書き込み不足が発生しやすく、EL素子の発光効率も低いため、電圧駆動を支配的にする必要がある。この理由から、図66では、V0電圧とV1電圧とをソースドライバ回路(IC)14の外部より入力している。   The precharge voltage V0 corresponding to gradation 0 is common to RGB and is close to the anode voltage Vdd (when the driving transistor 11a is a P-channel, the opposite is true when an N-channel transistor is used). Further, the precharge voltage V1 corresponding to the gradation 1 is different for RGB, and the potential difference between the V1 and V0 voltages is large. In addition, since the V1 voltage has a low gradation, writing deficiency is likely to occur in the current programming method, and the light emission efficiency of the EL element is low, so that the voltage drive needs to be dominant. For this reason, in FIG. 66, the V0 voltage and the V1 voltage are input from the outside of the source driver circuit (IC) 14.

一方、V3電圧からV4電圧の範囲は、グランド(GND)電圧に近い。また、プログラム電流も大きいため、電流駆動が支配的となるため、基本的には、プリチャージ電圧Vpcの印加は必要でない。また、高階調側では、ソース信号線電位(駆動用トランジスタ11aのゲート電位)に対する出力電流は直線的な関係になり、少しの電位変化で出力電流は大きくなる。また、電流値も大きい。したがって、プリチャージ電圧Vpcの精度は必要ない。この理由から、V3電圧とV4電圧の間に対応する階調数を多くしても問題ない。   On the other hand, the range from the V3 voltage to the V4 voltage is close to the ground (GND) voltage. Further, since the program current is large, the current drive becomes dominant, and therefore it is basically not necessary to apply the precharge voltage Vpc. On the high gradation side, the output current with respect to the source signal line potential (the gate potential of the driving transistor 11a) has a linear relationship, and the output current increases with a slight potential change. Also, the current value is large. Therefore, the accuracy of the precharge voltage Vpc is not necessary. For this reason, there is no problem even if the number of gradations corresponding to the V3 voltage and the V4 voltage is increased.

好ましくは、V0〜V1の電位差、V1〜V2の電位差、V2〜V3の電位差、V3〜V4の電位差は同一あるいは近傍の電圧差にすることが好ましい。近傍の電位差とは、0.3V以上1.2V以下である。このように近傍の電位差にすることにより、電圧V0〜V4の発生回路が容易になり、電子ボリウム291の構成も簡略化することができる。   Preferably, the potential difference between V0 and V1, the potential difference between V1 and V2, the potential difference between V2 and V3, and the potential difference between V3 and V4 are preferably the same or in the vicinity. The potential difference in the vicinity is 0.3 V or more and 1.2 V or less. By setting the potential difference in the vicinity in this way, the circuit for generating the voltages V0 to V4 can be facilitated, and the configuration of the electronic volume 291 can be simplified.

以上のように、本発明は、外部から(内部で発生してもよいことは言うまでもない)印加する電圧V0〜V4のそれぞれ間に対応するプリチャージ電圧数が異なっていることに特徴がある。ガンマカーブの折れ曲がり位置のそれぞれ間の階調数が異なっている。特に階調の中央(256階調であれば128階調目)以下と以上で変化させている。   As described above, the present invention is characterized in that the number of precharge voltages corresponding to each of the voltages V0 to V4 applied from the outside (which may be generated inside) is different. The number of gradations between the bent positions of the gamma curve is different. In particular, it is changed below the center of the gradation (128th gradation for 256 gradations) and above.

V0電圧は、基準電流比(Ic:図22、図23などを参照のこと)が変化しても変動することはないから固定値でよい。しかし、V1電圧位置は、基準電流(Ic)比の変化に大きく依存する。画素16の駆動用トランジスタ11aの立ち上がり電流が小さいため、基準電流比に対応して駆動用トランジスタ11aのゲート端子電位(プログラム時のソース信号線18電位)を大きく変化させる必要があるからである。駆動用トランジスタ11aがPチャンネルトランジスタの場合は、基準電流比が大きくするにしたがって、ソース信号線18電位を低下させる必要がある。また、基準電流比による電圧の変化は、V2電圧よりもV4電圧の方を大きくする必要がある。   The V0 voltage may be a fixed value because it does not fluctuate even if the reference current ratio (Ic: see FIGS. 22, 23, etc.) changes. However, the V1 voltage position greatly depends on the change in the reference current (Ic) ratio. This is because since the rising current of the driving transistor 11a of the pixel 16 is small, it is necessary to largely change the gate terminal potential (the source signal line 18 potential during programming) of the driving transistor 11a in accordance with the reference current ratio. When the driving transistor 11a is a P-channel transistor, it is necessary to lower the potential of the source signal line 18 as the reference current ratio increases. In addition, the voltage change due to the reference current ratio needs to be larger for the V4 voltage than for the V2 voltage.

以上のように本発明は、基準電流比を変化させる駆動を実施する場合は、V0電圧を固定または、所定電圧近傍の電位を維持したまま、V1電圧以降あるいはV2電圧以降の電位を変化させることに特徴がある。なお、駆動用トランジスタ11aがNチャンネルトランジスタの場合は、GND電位側にV0電圧(立ち上がり電圧)が位置する。   As described above, in the present invention, when driving to change the reference current ratio, the V0 voltage is fixed or the potential after the V1 voltage or the V2 voltage is changed while the potential near the predetermined voltage is maintained. There is a feature. When the driving transistor 11a is an N-channel transistor, the V0 voltage (rising voltage) is located on the GND potential side.

したがって、図66の電位関係をNチャンネル用に変更すればよい。変更は当業者であれば容易であるので説明を省略する。以上のように、本発明は、駆動用トランジスタ11aがPチャンネルトランジスタであるとして説明をするがこれに限定するものではない。Nチャンネルトランジスタであってもよいことは言うまでもない。   Therefore, the potential relationship in FIG. 66 may be changed for the N channel. Since the change is easy for those skilled in the art, the description is omitted. As described above, the present invention will be described assuming that the driving transistor 11a is a P-channel transistor, but the present invention is not limited to this. Needless to say, it may be an N-channel transistor.

図66はV0とV1電圧間にソースドライバ回路(IC)14の内蔵抵抗を形成または配置した構成である。もちろん、抵抗Rは外づけ抵抗であってもよい。また、抵抗Rの抵抗値はトリミングにより調整してもよい。   FIG. 66 shows a configuration in which a built-in resistor of the source driver circuit (IC) 14 is formed or arranged between the voltages V0 and V1. Of course, the resistor R may be an external resistor. Further, the resistance value of the resistor R may be adjusted by trimming.

V0電圧は固定であり、V1あるいはV2電圧と連動しないのであれば、図46に図示するように、抵抗Rを形成する必要がない。また、V0電圧とV1電圧とは比較的電位差が大きいため、V0電圧とV1電圧間には大きな抵抗を形成する必要がある。大きな抵抗は、抵抗のパーツ数が増大し、ソースドライバ回路(IC)14チップのサイズ拡大に直結する。   If the V0 voltage is fixed and does not interlock with the V1 or V2 voltage, it is not necessary to form the resistor R as shown in FIG. Further, since the potential difference between the V0 voltage and the V1 voltage is relatively large, it is necessary to form a large resistance between the V0 voltage and the V1 voltage. A large resistor increases the number of parts of the resistor and directly leads to an increase in the size of the source driver circuit (IC) 14 chip.

図46はこの課題を解決するため、V0電圧とV1電圧とを独立させている。つまり、V0電圧端子とV1電圧端子間に抵抗を形成していない。また、V1電圧端子とV2電圧端子間にも抵抗を形成していない。一方、V2電圧端子とV8電圧端子間には抵抗Rを配置し、Vpc2とVpc3間、Vpc3とVpc4間、Vpc4とVpc5間など1つのプリチャージ電圧端子間には、抵抗Rの8倍の抵抗(8R)を形成している。これは、V2電圧端子とV3電圧端子間は比較的電位差が大きく、抵抗Rの形成数が少ないと貫通電流が多く流れ消費電力が大きくなるからである。   In FIG. 46, in order to solve this problem, the V0 voltage and the V1 voltage are made independent. That is, no resistor is formed between the V0 voltage terminal and the V1 voltage terminal. Further, no resistor is formed between the V1 voltage terminal and the V2 voltage terminal. On the other hand, a resistor R is arranged between the V2 voltage terminal and the V8 voltage terminal, and a resistance of 8 times the resistance R is provided between one precharge voltage terminal such as between Vpc2 and Vpc3, between Vpc3 and Vpc4, and between Vpc4 and Vpc5. (8R) is formed. This is because there is a relatively large potential difference between the V2 voltage terminal and the V3 voltage terminal, and if the number of resistors R is small, a large amount of through current flows and power consumption increases.

V8電圧端子とV32電圧端子間には抵抗Rを配置し、Vpc8とVpc9間、Vpc9とVpc10間、Vpc10とVpc11間など1つのプリチャージ電圧端子間には、抵抗Rの4倍の抵抗(8R)を形成している。これは、V8電圧端子とV32電圧端子間も比較的電位差が大きく、抵抗Rの形成数が少ないと貫通電流が多く流れ消費電力が大きくなるからである。V32電圧端子とV128電圧端子間のVpc端子間には抵抗Rを配置している。1パーツの抵抗で構成できるのは、V32電圧端子とV128電圧端子間に形成されるプリチャージ電圧端子数が多いため、抵抗Rの構成数も多く、貫通電流が流れないからである。以上の事項は、V128電圧端子とV255電圧端子間も同様である。   A resistor R is arranged between the V8 voltage terminal and the V32 voltage terminal, and a resistance four times the resistance R (8R) is provided between one precharge voltage terminal such as between Vpc8 and Vpc9, between Vpc9 and Vpc10, between Vpc10 and Vpc11. ) Is formed. This is because there is a relatively large potential difference between the V8 voltage terminal and the V32 voltage terminal, and if the number of resistors R is small, a large amount of through current flows and power consumption increases. A resistor R is arranged between the Vpc terminal between the V32 voltage terminal and the V128 voltage terminal. The reason why it can be configured by one part of the resistor is that the number of precharge voltage terminals formed between the V32 voltage terminal and the V128 voltage terminal is large, so that the number of the resistors R is large and no through current flows. The above matters are the same between the V128 voltage terminal and the V255 voltage terminal.

各電圧端子間の電位差は、基準電流比などにより変化できるように構成することが好ましい。図71は各電圧端子間をボリウムVRで可変できるように構成した実施例である。もちろん、VRの替わりにDAコンバータ291で可変してもよい。電圧VddとGND間に抵抗R0〜R6が配置されている。基準電流比の変化に伴い、抵抗R6の端子電圧は、ボリウムVRで変化させる。ボリウムVRによりR0〜R6の各抵抗端子の電圧は変化し、この変化は、電圧端子V1〜V256の電圧を変化させる。V0電圧は階調0の電圧であるため、所定電圧Vaに固定している。電圧端子V1〜V256の電位は、複数のソースドライバ回路(IC)14に共通に印加される。   It is preferable that the potential difference between the voltage terminals can be changed according to a reference current ratio or the like. FIG. 71 shows an embodiment in which the voltage terminals can be varied with a volume VR. Of course, the DA converter 291 may be used instead of VR. Resistors R0 to R6 are arranged between the voltage Vdd and GND. Along with the change of the reference current ratio, the terminal voltage of the resistor R6 is changed by the volume VR. The voltage at each of the resistance terminals R0 to R6 is changed by the volume VR, and this change changes the voltage at the voltage terminals V1 to V256. Since the V0 voltage is a voltage of gradation 0, it is fixed at a predetermined voltage Va. The potentials of the voltage terminals V <b> 1 to V <b> 256 are commonly applied to a plurality of source driver circuits (IC) 14.

以上の実施例は、電圧端子V1〜V256基準電流比に対応して変化させるとしたが、点灯率など他の変動により変化させてもよいことは言うまでもない。   In the above embodiment, the voltage terminals V1 to V256 are changed corresponding to the reference current ratio, but it is needless to say that the voltage terminals V1 to V256 may be changed due to other fluctuations such as the lighting rate.

図71の実施例は、ソースドライバ回路(IC)14の外づけ抵抗Rにより電圧端子に印加する電圧を変化させる構成である。しかし、本発明はこれに限定するものではない。たとえば、図67に図示するように、ソースドライバ回路(IC)14の内蔵抵抗Raにより、電圧端子間(V2電圧とV8電圧間、V8電圧とV32電圧間、V32電圧とV128電圧間)に所定電圧が印加されるように構成してもよい。   The embodiment of FIG. 71 has a configuration in which the voltage applied to the voltage terminal is changed by the external resistor R of the source driver circuit (IC) 14. However, the present invention is not limited to this. For example, as shown in FIG. 67, the internal resistance Ra of the source driver circuit (IC) 14 is predetermined between the voltage terminals (between the V2 voltage and the V8 voltage, between the V8 voltage and the V32 voltage, and between the V32 voltage and the V128 voltage). You may comprise so that a voltage may be applied.

図67などでは、V1電圧とV2電圧とを分離しているが、図68に図示するように、V1電圧をプリチャージ電圧Vpc1とし、また、オペアンプ231cを介してプリチャージ電圧Vpc2以降を発生するように構成してもうよいことは言うまでもない。   In FIG. 67 and the like, the V1 voltage and the V2 voltage are separated, but as shown in FIG. 68, the V1 voltage is used as the precharge voltage Vpc1, and the precharge voltage Vpc2 and subsequent voltages are generated via the operational amplifier 231c. Needless to say, it may be configured as above.

図66などでは、電子ボリウム291の抵抗Rは同一として説明している。抵抗Rの抵抗値を同一にすることによりICチップを小サイズ化できる。しかし、本発明はこれに限定するものではない。抵抗Rは変化させてもよい。たとえば、低階調側の抵抗値を大きくし、高階調側の抵抗値を相対的にあるいは絶対値的に小さくしてもよい。また、抵抗の抵抗値は、低階調側と高階調側の2種類あるいは複数種類で構成してもよい。   In FIG. 66 and the like, the description is made assuming that the resistance R of the electronic volume 291 is the same. By making the resistance value of the resistor R the same, the size of the IC chip can be reduced. However, the present invention is not limited to this. The resistance R may be changed. For example, the resistance value on the low gradation side may be increased and the resistance value on the high gradation side may be decreased relatively or in absolute value. Further, the resistance value of the resistor may be composed of two types or a plurality of types of low gradation side and high gradation side.

たとえば、図65に図示するガンマカーブを発生するためには、プリチャージ電圧Vpc端子間に配置する抵抗値を2乗特性にする。この実施例を図69に図示する。プリチャージ電圧Vpc端子間電圧は、1、3、5、7、9・・・・・・・と抵抗値を変化させている。   For example, in order to generate the gamma curve shown in FIG. 65, the resistance value arranged between the precharge voltage Vpc terminals is set to a square characteristic. This embodiment is illustrated in FIG. The precharge voltage Vpc terminal voltage changes the resistance value to 1, 3, 5, 7, 9,...

以上の実施例は、プリチャージ駆動方式の実施例として説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。電圧駆動方式(たとえば、図2などの画素構成を有するEL表示パネルの駆動方法)にも適用できることは言うまでもない。電圧駆動では、RGBのEL素子のガンマカーブが異なるため、RGB独立のガンマ回路が必要である。ただし、本発明のように電圧+電流駆動を実施する構成ではガンマカーブの精度は必要ない。電圧駆動で発生したガンマカーブのずれは、プリチャージ電圧Vpcの印加後に印加するプログラム電流により補正されるからである。この点は本発明の大きな特徴である。したがって、RGBのガンマカーブの差異が比較的小さいときは、RGBで共通のガンマカーブを実現できる。たとえば、図72では、RGBで1つの電子ボリウム291を形成または配置するだけでよい。   Although the above embodiment has been described as an embodiment of the precharge driving system, the present invention is not limited to this. Needless to say, the present invention can also be applied to a voltage driving method (for example, a driving method of an EL display panel having a pixel configuration shown in FIG. 2). In the voltage drive, the gamma curves of the RGB EL elements are different, so that an RGB independent gamma circuit is required. However, in the configuration in which voltage + current driving is performed as in the present invention, the accuracy of the gamma curve is not necessary. This is because the deviation of the gamma curve generated by the voltage drive is corrected by the program current applied after the application of the precharge voltage Vpc. This is a major feature of the present invention. Therefore, when the difference between the RGB gamma curves is relatively small, a common gamma curve can be realized for RGB. For example, in FIG. 72, only one electronic volume 291 may be formed or arranged in RGB.

以上のように、本発明のソースドライバ回路(IC)14において、プリチャージ電圧Vpcを発生する回路構成は、多種多様な構成が含まれる。また、以上の事項は、プリチャージ電流あるいは過電圧Idを発生する回路構成(図48などを参照のこと)にも適用できることは言うまでもない。   As described above, in the source driver circuit (IC) 14 of the present invention, the circuit configuration for generating the precharge voltage Vpc includes various configurations. Further, it goes without saying that the above items can be applied to a circuit configuration (see FIG. 48 and the like) that generates a precharge current or an overvoltage Id.

図72は、以前に説明した本発明のプリチャージ電圧回路を電圧駆動方式に適用した実施例である。RGBのV0電圧は共通である。電子ボリウム291RはRの電圧発生回路である。また、電子ボリウム291GはGの電圧発生回路である。電子ボリウム291BはBの電圧発生回路である。図72に構成することによりRGB独立ガンマカーブを発生することができ、良好なホワイトバランスを実現することができる。   FIG. 72 shows an embodiment in which the previously described precharge voltage circuit of the present invention is applied to a voltage drive system. The RGB V0 voltage is common. The electronic volume 291R is an R voltage generation circuit. The electronic volume 291G is a G voltage generation circuit. The electronic volume 291B is a B voltage generation circuit. With the configuration shown in FIG. 72, an RGB independent gamma curve can be generated, and a good white balance can be realized.

以上のように、プリチャージ電圧Vpcを発生する本発明の回路構成、駆動方式は電圧駆動方式にも適用できることは言うまでもない。つまり、電圧+電流駆動(図38などを参照のこと)に限定されるものではない。   As described above, it goes without saying that the circuit configuration and driving method of the present invention for generating the precharge voltage Vpc can also be applied to the voltage driving method. That is, the present invention is not limited to voltage + current driving (see FIG. 38 and the like).

図66では、全階調範囲において、プリチャージ電圧Vpcを対応させるとしているが、本発明はこれに限定するものではない。書き込み電流あるいは書き込み電圧が不足する領域に限定してプリチャージ電圧Vpc発生回路を構成または配置してもよい。たとえば、図66では、電流駆動であり、低階調領域で書き込み不足が発生する(と想定する)。したがって、低階調の該当するV0〜V128までプリチャージ電圧発生回路を構成し、それ以上は、省略してもよいことは言うまでもない。また、0階調目と偶数階調目のみにプリチャージ発生回路を構成したりするように、対応する階調を間欠にしてもよいことは言うまでもない。また、階調128以上のプリチャージ電圧VpcはVpc255のみであってもよい。プログラム電流が支配的に動作するからである。以上の事項は本発明の他の実施例においても適用できることは言うまでもない。   In FIG. 66, the precharge voltage Vpc is made to correspond in the entire gradation range, but the present invention is not limited to this. The precharge voltage Vpc generation circuit may be configured or arranged only in a region where the write current or the write voltage is insufficient. For example, in FIG. 66, current driving is performed, and writing shortage occurs in the low gradation region (assumed to be). Therefore, it goes without saying that the precharge voltage generation circuit is configured from V0 to V128 corresponding to the low gradation, and the rest can be omitted. Needless to say, the corresponding gradation may be intermittent so that the precharge generation circuit is configured only for the 0th gradation and the even gradation. Further, the precharge voltage Vpc of gradation 128 or higher may be only Vpc255. This is because the program current operates dominantly. It goes without saying that the above matters can be applied to other embodiments of the present invention.

図71の実施例は、ソースドライバ回路(IC)14の外づけ抵抗Rにより電圧端子に印加する電圧を変化させる構成である。しかし、本発明はこれに限定するものではない。たとえば、図70に図示するように、ソースドライバ回路(IC)14の内蔵抵抗Raにより、電圧端子間(V2電圧とV8電圧間、V8電圧とV32電圧間、V32電圧とV128電圧間)に所定電圧が印加されるように構成してもよい。   The embodiment of FIG. 71 has a configuration in which the voltage applied to the voltage terminal is changed by the external resistor R of the source driver circuit (IC) 14. However, the present invention is not limited to this. For example, as shown in FIG. 70, the internal resistance Ra of the source driver circuit (IC) 14 is predetermined between the voltage terminals (between the V2 voltage and the V8 voltage, between the V8 voltage and the V32 voltage, and between the V32 voltage and the V128 voltage). You may comprise so that a voltage may be applied.

図70などでは、V1電圧とV2電圧とを分離しているが、V1電圧をプリチャージ電圧Vpc1とし、また、オペアンプ231cを介してプリチャージ電圧Vpc2以降を発生するように構成してもうよいことは言うまでもない。   In FIG. 70 and the like, the V1 voltage and the V2 voltage are separated, but the V1 voltage may be set as the precharge voltage Vpc1, and the precharge voltage Vpc2 and the subsequent voltages may be generated via the operational amplifier 231c. Needless to say.

図73に図示するプリチャージ電圧Vpc(V0、V1・・・・)は、表示パネルの温度により変化させることが好ましい。駆動用トランジスタ11aが駆動電圧に対して温度依存性があるからである。この温度依存性に対応するには、図73に図示するように、温度により変化する素子(ポジスタ、サーミスタ)Rb、Rb2、Rc2などを付加し、温度によりV0、V1、V2電圧が適正な電圧に変化するように構成すればよい。   The precharge voltage Vpc (V0, V1,...) Shown in FIG. 73 is preferably changed according to the temperature of the display panel. This is because the driving transistor 11a has temperature dependency on the driving voltage. In order to cope with this temperature dependency, as shown in FIG. 73, elements (posisters, thermistors) Rb, Rb2, Rc2, etc. that change with temperature are added, and the voltages V0, V1, and V2 are appropriate voltages depending on the temperature. What is necessary is just to comprise so that it may change.

以上の実施例は、主としてプリチャージ電圧Vpcを外部から設定する(印加する)ものであった。以下の実施例は、プリチャージ電圧Vpcをパネル内部で発生させるものである。以前にも説明したように、アレイは、アレイごとにレーザーアニール条件の差異により駆動用トランジスタ11aなどのVt特性がばらつく。Vt特性が異なれば、電圧駆動であるプリチャージ電圧Vpcも変化する。したがって、プリチャージ電圧Vpcを外部から印加するようにした構成では、パネルごと(アレイごと)にプリチャージ電圧Vpcを調整して設定しなければならない。   In the above embodiment, the precharge voltage Vpc is mainly set (applied) from the outside. In the following embodiment, the precharge voltage Vpc is generated inside the panel. As described before, the Vt characteristics of the driving transistor 11a and the like vary depending on the laser annealing condition for each array. If the Vt characteristics are different, the precharge voltage Vpc which is voltage drive also changes. Therefore, in the configuration in which the precharge voltage Vpc is applied from the outside, the precharge voltage Vpc must be adjusted and set for each panel (for each array).

電流駆動方式では、駆動用トランジスタ11aにプログラム電流を印加する。一例として図1の画素構成では、プログラム電流はアノード端子から駆動用トランジスタ11aをとおって、ソース信号線18に流れ込む。プログラム電流によりソース信号線18電位は変化する。ソース信号線18の電位は、駆動用トランジスタ11aのゲート端子電位と同一である。たとえば、駆動用トランジスタ11aに階調10に対応するプログラム電流が流れれば、ソース信号線18の電位(駆動用トランジスタ11aのゲート端子電位)は、階調10に対応するプログラム電流が流れるように変化する。たとえば、この電位をV10とすれば、V10の電圧をプリチャージ電圧Vpcとしてソース信号線18に印加すれば、駆動用トランジスタ11aは、階調10の電流を流すようにプログラムされることになる。   In the current driving method, a program current is applied to the driving transistor 11a. As an example, in the pixel configuration of FIG. 1, the program current flows from the anode terminal to the source signal line 18 through the driving transistor 11a. The potential of the source signal line 18 changes with the program current. The potential of the source signal line 18 is the same as the gate terminal potential of the driving transistor 11a. For example, if a program current corresponding to gradation 10 flows through the driving transistor 11a, the potential of the source signal line 18 (the gate terminal potential of the driving transistor 11a) flows so that the program current corresponding to gradation 10 flows. Change. For example, if this potential is V10, if the voltage V10 is applied to the source signal line 18 as the precharge voltage Vpc, the driving transistor 11a is programmed to pass the current of gradation 10.

本発明では、ソースドライバ回路(IC)14内にトランジスタ群251cを有し、このトランジスタ群251cは階調の対応した単位電流(プログラム電流)を出力できる。したがって、トランジスタ群251cから所定の階調に該当するプログラム電流を出力し、駆動用トランジスタ11aを動作させて、前記プリチャージ電圧Vpcに該当するプログラム電流が流れるように動作させ、この時のソース信号線18の電位を測定することにより、前記所定の階調に該当するプリチャージ電圧Vpcを取得することができる。つまり、プリチャージ電圧Vpcの設定に必要な階調に該当するプログラム電流をソースドライバ回路(IC)14から出力し、アレイ特性が反映された駆動用トランジスタ(テストトランジスタ)のゲート端子電圧を変化させる。このゲート端子電圧を測定してプリチャージ電圧Vpcとしてフィードバックするのである。このように動作あるいは設定させることにより、ソースドライバ回路(IC)14の特性とアレイの特性をフィードバックして精度のよいプリチャージ電圧Vpcを設定することができる。   In the present invention, the source driver circuit (IC) 14 includes a transistor group 251c, and the transistor group 251c can output a unit current (program current) corresponding to a gradation. Therefore, a program current corresponding to a predetermined gradation is output from the transistor group 251c, and the driving transistor 11a is operated so that the program current corresponding to the precharge voltage Vpc flows, and the source signal at this time By measuring the potential of the line 18, the precharge voltage Vpc corresponding to the predetermined gradation can be obtained. That is, a program current corresponding to the gradation necessary for setting the precharge voltage Vpc is output from the source driver circuit (IC) 14 to change the gate terminal voltage of the driving transistor (test transistor) reflecting the array characteristics. . This gate terminal voltage is measured and fed back as a precharge voltage Vpc. By operating or setting in this manner, it is possible to feed back the characteristics of the source driver circuit (IC) 14 and the characteristics of the array and set the precharge voltage Vpc with high accuracy.

以上の動作には、アレイなどの特性だけでなく、温度特性も補償している。したがって、プリチャージ電圧Vpcを外部設定する必要がないし、温度補償を実施する必要もない。   In the above operation, not only the characteristics of the array but also the temperature characteristics are compensated. Therefore, it is not necessary to set the precharge voltage Vpc externally, and it is not necessary to perform temperature compensation.

以上の実施例は、プリチャージ電圧Vpcをソースドライバ回路(IC)14に印加し、電子ボリウム291により、各階調に対応するプリチャージ電圧Vpcを発生するとして説明をした。基本的には、プリチャージ電圧Vpcは全階調に対応する電圧をソースドライバ回路(IC)14に入力すること好ましいが、このように構成すると、配線数が膨大とあるため、ガンマカーブの折れ点位置に対応するプリチャージ電圧Vpc(たとえば、V0、V1、V4、V8・・・・・)を印加し、その間のプリチャージ電圧Vpcは内蔵抵抗など発生させる。   In the above embodiments, the precharge voltage Vpc is applied to the source driver circuit (IC) 14 and the electronic regulator 291 generates the precharge voltage Vpc corresponding to each gradation. Basically, it is preferable to input a voltage corresponding to all gradations to the source driver circuit (IC) 14 as the precharge voltage Vpc. However, with this configuration, since the number of wirings is enormous, the gamma curve breaks. A precharge voltage Vpc (for example, V0, V1, V4, V8...) Corresponding to the point position is applied, and the precharge voltage Vpc during that period generates a built-in resistor or the like.

プリチャージ電圧Vpcが正規の値からずれていると補正量が大きくなり好ましくない。したがって、プリチャージ電圧Vpcは極力精度を高くして印加する必要がある。以下、図面を参照しながら、プリチャージ電圧Vpcを精度よく取得する方法について説明をする。なお、プリチャージ電圧Vpcとはプログラム電圧であり、駆動用トランジスタ11aのゲート端子電圧であるとして説明をする。プログラム電圧の印加によりEL素子15に目標電流を供給するものである。   If the precharge voltage Vpc deviates from the normal value, the correction amount becomes large, which is not preferable. Therefore, it is necessary to apply the precharge voltage Vpc with the highest possible accuracy. Hereinafter, a method for accurately obtaining the precharge voltage Vpc will be described with reference to the drawings. The precharge voltage Vpc is a program voltage and will be described as being the gate terminal voltage of the driving transistor 11a. A target current is supplied to the EL element 15 by applying a program voltage.

図75(a)は、説明を容易にするため、階調に対応するプリチャージ電圧Vpcの関係を示している。図75(a)に図示するように、一例として、階調0に対応するプリチャージ電圧VpcをV0とする。階調1に対応するプリチャージ電圧VpcをV1、階調8に対応するプリチャージ電圧VpcをV2、階調32に対応するプリチャージ電圧VpcをV3、階調128に対応するプリチャージ電圧VpcをV4、階調255に対応するプリチャージ電圧VpcをV5とする。もちろん、他の階調をV0〜V5に設定してもよい。また、V0〜V5の6つに限定するものではなく、6つ以上であってもよいし、6つ以下でもよい。   FIG. 75 (a) shows the relationship of the precharge voltage Vpc corresponding to the gradation for ease of explanation. As shown in FIG. 75A, as an example, the precharge voltage Vpc corresponding to the gradation 0 is set to V0. The precharge voltage Vpc corresponding to gradation 1 is V1, the precharge voltage Vpc corresponding to gradation 8 is V2, the precharge voltage Vpc corresponding to gradation 32 is V3, and the precharge voltage Vpc corresponding to gradation 128 is A precharge voltage Vpc corresponding to V4 and gradation 255 is set to V5. Of course, other gradations may be set to V0 to V5. Moreover, it is not limited to six of V0-V5, Six or more may be sufficient and six or less may be sufficient.

図75(b)は、プリチャージ電圧Vpcを発生するための駆動用トランジスタ11aを有する測定画素16sを示している。測定画素16sは、プログラム電流を発生させるものであるから、EL素子15を形成する必要はない。したがって、図1におけるトランジスタ11dは不要であり、また、ゲート信号線17bも必要ない。プログラム電流が流れれば目的を達するからである。もちろん、画像を表示する画素16と同様に、EL素子15を形成してもよい。寄生容量などが画素16と同一をなり、プリチャージ電圧Vpcの測定が良好になるからである。なお、プリチャージ電圧Vpcを測定するために用いる測定画素16sを測定画素16sと呼ぶ。   FIG. 75B shows a measurement pixel 16s having a driving transistor 11a for generating the precharge voltage Vpc. Since the measurement pixel 16 s generates a program current, it is not necessary to form the EL element 15. Therefore, the transistor 11d in FIG. 1 is not necessary, and the gate signal line 17b is not necessary. This is because the purpose is achieved if the program current flows. Of course, the EL element 15 may be formed similarly to the pixel 16 for displaying an image. This is because the parasitic capacitance is the same as that of the pixel 16 and the measurement of the precharge voltage Vpc is good. The measurement pixel 16s used for measuring the precharge voltage Vpc is referred to as a measurement pixel 16s.

測定画素16sは、ゲート信号線17aにオン電圧が印加され、ソース信号線18にプログラム電流が印加されることにより、駆動用トランジスタ11aが動作し、駆動用トランジスタ11aのゲート端子電圧が変化する。この時のソース信号線18電位を読み取ることにより、プリチャージ電圧Vpcが取得することができる。   In the measurement pixel 16s, when the ON voltage is applied to the gate signal line 17a and the program current is applied to the source signal line 18, the driving transistor 11a operates, and the gate terminal voltage of the driving transistor 11a changes. By reading the potential of the source signal line 18 at this time, the precharge voltage Vpc can be obtained.

たとえば、階調1のプリチャージ電圧V1を取得する場合には、階調1に該当するプログラム電流(通常、1個の単位トランジスタからの出力電流)をソース信号線18に印加し、測定画素16sの駆動用トランジスタ11aを動作させる。この動作が完了時のソース信号線18の電位を測定すれば、プリチャージ電圧V1を取得することができる。   For example, when acquiring the precharge voltage V1 of gradation 1, a program current corresponding to gradation 1 (usually an output current from one unit transistor) is applied to the source signal line 18, and the measurement pixel 16s. The driving transistor 11a is operated. By measuring the potential of the source signal line 18 when this operation is completed, the precharge voltage V1 can be obtained.

なお、電圧を測定するとしたが、測定の概念は、電圧を保持するあるいは、得る、を含む概念である。つまり、取得したソース信号線電位をプリチャージ電圧Vpcとして活用できる方式であれば、いずれの構成、形式、方法であってもよい。たとえば、ソース信号線18sの電位をサンプルホールドして活用する構成が例示される。また、ソース信号線18sのアナログ電位をアナログ−デジタル変換(AD変換)し、デジタルデータをそのまま、プリチャージ電圧V0〜V5として活用する構成あるいはアナログ変換してV0〜V5として活用する構成が例示される。また、単に、ソース信号線18sの電位をそのまま、フィードバックし、V0〜V5として活用する構成が例示される。また、取得または測定したソース信号線18sの電位あるいは電圧もしくは電位変化をかさ上げしたり、一定の比率と演算したり、重み付け処理をしたり、レベルシフトしたり、また、所定の加工あるいは他の電圧値と、加算あるいは減算などをしてもよいことはいうまでもない。また、複数回の測定値を平均して所望値を得てもよいことは言うまでもない。また、ソース信号線18sの電位変化から目的電圧を予測あるいは推測する動作あるいは処理を含む。本明細書では、説明を容易にするため、これらの概念、方式あるいは構成を含む概念として’測定’として説明する。   Although the voltage is measured, the concept of measurement is a concept including holding or obtaining the voltage. That is, any configuration, format, and method may be used as long as the acquired source signal line potential can be used as the precharge voltage Vpc. For example, a configuration in which the potential of the source signal line 18s is sampled and held is used. Further, a configuration in which the analog potential of the source signal line 18s is converted from analog to digital (AD conversion) and the digital data is used as it is as the precharge voltages V0 to V5 or a configuration in which the analog conversion is used as V0 to V5 by analog conversion is exemplified. The Further, a configuration in which the potential of the source signal line 18s is simply fed back and used as V0 to V5 is exemplified. Further, the acquired potential or the voltage or potential change of the source signal line 18s is increased, is calculated as a constant ratio, is subjected to a weighting process, is level-shifted, or is subjected to predetermined processing or other processing. Needless to say, the voltage value may be added or subtracted. Needless to say, a desired value may be obtained by averaging a plurality of measured values. Further, an operation or process for predicting or estimating the target voltage from the potential change of the source signal line 18s is included. In this specification, for the sake of easy explanation, it will be described as 'measurement' as a concept including these concepts, methods, or configurations.

プリチャージ電圧V0〜V5は、プリチャージ電圧Vpcの発生だけではなく、電圧駆動あるいは、ガンマ曲線を発生することにも用いることができる。したがって、本発明の技術的思想は、電流プログラム方式(駆動)だけではなく、電圧プログラム方式(駆動)としても適用することができるものである。   The precharge voltages V0 to V5 can be used not only for generation of the precharge voltage Vpc but also for voltage driving or generating a gamma curve. Therefore, the technical idea of the present invention can be applied not only to the current program method (drive) but also to the voltage program method (drive).

図75(b)において、コンデンサ19bを付加することにより、駆動用トランジスタ11aが流す電流をレベルシフトすることができる。また、ゲート信号線12aの電位の振幅値を変化させることにより、駆動用トランジスタ11aが流す電流をレベルシフトすることができる。以上の事項は、図1で説明を行ったので説明を省略する。コンデンサ19bの大きさなどの画像を表示する画素16と異ならせることにより、プリチャージ電圧Vpcを適正な値にアナログ的に変化させることができる。   In FIG. 75B, by adding the capacitor 19b, the level of the current flowing through the driving transistor 11a can be shifted. Further, by changing the amplitude value of the potential of the gate signal line 12a, the level of the current flowing through the driving transistor 11a can be shifted. The above items have been described with reference to FIG. The precharge voltage Vpc can be changed to an appropriate value in an analog manner by making it different from the pixel 16 that displays an image such as the size of the capacitor 19b.

図74は本発明のプリチャージ電圧Vpcの測定回路の説明図である。プリチャージ電圧Vpcの電圧測定回路1701はソースドライバIC14内に形成または構成されている。もちろん、ポリシリコン技術を用いてアレイ基板30に直接に形成または構成してよいことは言うまでのない。ソースドライバIC14内に電圧測定回路を構成することにより、ソース信号線18sに接続された端子93sからプリチャージ電圧Vpcを取得することができる。したがって、プリチャージ電圧Vpcを測定するために新たな端子93の形成は不要である。また、ソースドライバIC14では、サンプルホールド回路、オペアンプ、アナログスイッチなどプリチャージ電圧Vpcを測定するための回路が小面積で高精度に作製あるいは形成もしくは構成することができる。   FIG. 74 is an explanatory diagram of a precharge voltage Vpc measuring circuit according to the present invention. The voltage measurement circuit 1701 for the precharge voltage Vpc is formed or configured in the source driver IC 14. Needless to say, the array substrate 30 may be directly formed or configured using polysilicon technology. By configuring a voltage measurement circuit in the source driver IC 14, the precharge voltage Vpc can be acquired from the terminal 93s connected to the source signal line 18s. Therefore, it is not necessary to form a new terminal 93 in order to measure the precharge voltage Vpc. In the source driver IC 14, a circuit for measuring the precharge voltage Vpc such as a sample hold circuit, an operational amplifier, and an analog switch can be manufactured, formed, or configured with a small area and high accuracy.

プリチャージ電圧Vpcを測定するために出力するプログラム電流の発生回路は、プログラム電流を出力する電流階調回路334の構成と同様である。電流階調回路は図22、図23、図36などで説明しているので説明を省略する。   The program current generating circuit that is output for measuring the precharge voltage Vpc has the same configuration as that of the current gradation circuit 334 that outputs the program current. Since the current gradation circuit has been described with reference to FIGS. 22, 23, 36, etc., description thereof will be omitted.

ゲートドライバ回路12aは、測定画素16sを選択するゲート信号線17a1と、画像を表示する画素16を順次選択するゲート信号線17a2(図1などでは、ゲート信号線17aが該当する)を制御する。ゲート信号線17a1は画像表示に関係なく、選択あるいは非選択動作にされる。プリチャージ電圧Vpcを測定する時は、ゲート信号線17a1が選択される。それ以外の期間は、非選択とされる。   The gate driver circuit 12a controls a gate signal line 17a1 for selecting the measurement pixel 16s and a gate signal line 17a2 for sequentially selecting the pixels 16 for displaying an image (in FIG. 1 and the like, the gate signal line 17a corresponds). The gate signal line 17a1 is selected or deselected regardless of the image display. When measuring the precharge voltage Vpc, the gate signal line 17a1 is selected. Other periods are not selected.

電流階調回路334は、階調0に対応するプログラム電流を出力する。ただし、階調0に対応するプログラム電流は0である。したがって、スイッチ221b(図32を参照のこと)はオープン状態と同一である。つまり、ソース信号線18sにはプログラム電流は供給されず、ゲート信号線17a1が選択される。測定画素16sの駆動用トランジスタ11aはソース信号線18sに電流が流れない状態まで、ソース信号線18sに電荷を充電あるいは放電させる。ソース信号線18sの電位が一定値に落ち着くと、電圧測定回路1701を動作させて、ソース信号線18sの電位を測定する。ソース信号線18sの電位は、画素16sの駆動用トランジスタ11aのゲート端子の電位である。もちろん、電圧測定回路1701はたえず、動作させておき、ソース信号線18sの電位を安定した後、プリチャージ電圧Vpcとしてもよいことは言うまでもない。   The current gradation circuit 334 outputs a program current corresponding to gradation 0. However, the program current corresponding to gradation 0 is zero. Therefore, the switch 221b (see FIG. 32) is the same as the open state. That is, no program current is supplied to the source signal line 18s, and the gate signal line 17a1 is selected. The driving transistor 11a of the measurement pixel 16s charges or discharges the source signal line 18s until the current does not flow through the source signal line 18s. When the potential of the source signal line 18s settles to a constant value, the voltage measuring circuit 1701 is operated to measure the potential of the source signal line 18s. The potential of the source signal line 18s is the potential of the gate terminal of the driving transistor 11a of the pixel 16s. Of course, it goes without saying that the voltage measurement circuit 1701 may be operated continuously and the potential of the source signal line 18s may be stabilized before the precharge voltage Vpc is used.

電圧測定回路1701は、ソース信号線18sの電圧を測定し、電圧階調回路371に保持する。もしくはメモリのその値を記憶する。保持されたプリチャージ電圧V0は、図66〜図73などのV0電圧となる。   The voltage measurement circuit 1701 measures the voltage of the source signal line 18 s and holds it in the voltage gradation circuit 371. Or the value of the memory is stored. The held precharge voltage V0 is the V0 voltage shown in FIGS.

同様に、電流階調回路334は、階調1に対応するプログラム電流を出力する。階調1に対応するプログラム電流は1個の単位トランジスタ224の出力電流(1単位電流)である。ソース信号線18sには1単位のプログラム電流が供給され、ゲート信号線17a1が選択される。ただし、プリチャージ電圧V0〜V5を連続して測定する場合は、ゲート信号線17a1は連続して選択状態を維持してもよい。測定画素16sの駆動用トランジスタ11aはソース信号線18sに1単位のプログラム電流が定常的に流れるように動作する。定常の単位電流が流れることにより、また、定常の単位電流が流れるように、ソース信号線18sの電位が変化する。また、駆動用トランジスタ11aは、1単位電流が安定して流れるように状態に、ソース信号線18sに電荷を充電あるいは放電させる。   Similarly, the current gradation circuit 334 outputs a program current corresponding to gradation 1. The program current corresponding to gradation 1 is the output current (one unit current) of one unit transistor 224. One source of program current is supplied to the source signal line 18s, and the gate signal line 17a1 is selected. However, when the precharge voltages V0 to V5 are continuously measured, the gate signal line 17a1 may continuously maintain the selected state. The driving transistor 11a of the measurement pixel 16s operates so that one unit of program current constantly flows through the source signal line 18s. When the steady unit current flows, the potential of the source signal line 18s changes so that the steady unit current flows. The driving transistor 11a charges or discharges the charge on the source signal line 18s so that one unit current flows stably.

ソース信号線18sの電位が一定値に落ち着くと、電圧測定回路1701を動作させて、ソース信号線18sの電位V1を測定する。もちろん、電圧測定回路1701はたえず、動作させておき、ソース信号線18sの電位を安定後した後に測定した電圧V1を、プリチャージ電圧Vpcとしてもよいことは言うまでもない。   When the potential of the source signal line 18s settles down to a constant value, the voltage measuring circuit 1701 is operated to measure the potential V1 of the source signal line 18s. Of course, it goes without saying that the voltage measurement circuit 1701 is continuously operated and the voltage V1 measured after the potential of the source signal line 18s is stabilized may be used as the precharge voltage Vpc.

電圧測定回路1701が電圧V1を測定している時は、ゲート信号線17a1を非選択状態として説明するが、たえず、ゲート信号線17a1を選択状態としてもよいことは言うまでもない。電圧測定回路1701は、ソース信号線18sの電圧V1を測定し、電圧階調回路371に保持する、またはメモリに記憶する。測定されたV1電圧は、図66〜図73などのV1電圧となる。   When the voltage measurement circuit 1701 measures the voltage V1, the gate signal line 17a1 is described as being in a non-selected state. However, it goes without saying that the gate signal line 17a1 may be in a selected state. The voltage measurement circuit 1701 measures the voltage V1 of the source signal line 18s and holds it in the voltage gradation circuit 371 or stores it in the memory. The measured V1 voltage is the V1 voltage shown in FIGS.

プリチャージ電圧V2も同様である。電流階調回路334は、階調8に対応するプログラム電流を出力する(図75(a)を参照のこと。図75では説明を容易にするため、V2電圧は階調8番目に対応するとしている)。階調2に対応するプログラム電流は8個の単位トランジスタ224の出力電流(8単位電流)である。図22では図示していないが、スイッチ221dがクローズし、他のスイッチ221はオープン状態に制御される。   The same applies to the precharge voltage V2. The current gradation circuit 334 outputs a program current corresponding to the gradation 8 (see FIG. 75 (a). In FIG. 75, for ease of explanation, it is assumed that the V2 voltage corresponds to the eighth gradation. ) The program current corresponding to the gradation 2 is the output current (eight unit current) of the eight unit transistors 224. Although not shown in FIG. 22, the switch 221d is closed and the other switches 221 are controlled to be in the open state.

ソース信号線18sには8単位のプログラム電流が供給され、ゲート信号線17a1が選択される。測定画素16sの駆動用トランジスタ11aはソース信号線18sに8単位のプログラム電流が定常的に流れるように動作する。定常の単位電流が流れることにより、また、定常の単位電流が流れるように、ソース信号線18sの電位が変化する。   A program current of 8 units is supplied to the source signal line 18s, and the gate signal line 17a1 is selected. The driving transistor 11a of the measurement pixel 16s operates so that a program current of 8 units constantly flows through the source signal line 18s. When the steady unit current flows, the potential of the source signal line 18s changes so that the steady unit current flows.

ソース信号線18sの電位が一定値に落ち着く、あるいは、一定値をなることが推定される時間後に、電圧測定回路1701を動作させて、ソース信号線18sの電位を測定する。もちろん、電圧測定回路1701はたえず、動作させておき、ソース信号線18sの電位を安定した後、あるいは安定すると推定される時間経過後に測定してもよい。測定した電圧は、プリチャージ電圧Vpc=V2となる。電圧測定回路1701は、ソース信号線18sの電圧(プリチャージ電圧V2)を測定し、電圧階調回路371に保持する。   After a time when the potential of the source signal line 18s settles down or is assumed to be a constant value, the voltage measurement circuit 1701 is operated to measure the potential of the source signal line 18s. Of course, the voltage measurement circuit 1701 may be continuously operated and measured after the potential of the source signal line 18s is stabilized or after a time estimated to be stable. The measured voltage is the precharge voltage Vpc = V2. The voltage measurement circuit 1701 measures the voltage (precharge voltage V2) of the source signal line 18s and holds it in the voltage gradation circuit 371.

同様の操作あるいは動作または駆動を、階調32に対応するプリチャージ電圧VpcをV3、階調128に対応するプリチャージ電圧VpcをV4、階調255に対応するプリチャージ電圧VpcをV5として実施する。   The same operation or operation or drive is performed with the precharge voltage Vpc corresponding to the gradation 32 as V3, the precharge voltage Vpc corresponding to the gradation 128 as V4, and the precharge voltage Vpc corresponding to the gradation 255 as V5. .

以上の実施例では、プリチャージ電圧VpcはV0からV5まで順次測定するとしたが、この順序に限定するものではない、プリチャージ電圧V5からV0に順次測定してもよい。また、ランダムに測定してもよい。また、ソース信号線18sに一定の電圧(黒電圧あるいはリセット電圧)を印加し、ソース信号線18sの電位を所定電位にしてから、各プリチャージ電圧Vpcに対応する単位電流をソース信号線18sに印加してもよい。また、プリチャージ電圧V0〜V5の測定は複数回行って平均化してもよい。   In the above embodiment, the precharge voltage Vpc is measured sequentially from V0 to V5. However, the precharge voltage Vpc is not limited to this order, and may be measured sequentially from the precharge voltage V5 to V0. Moreover, you may measure at random. In addition, a constant voltage (black voltage or reset voltage) is applied to the source signal line 18s, the potential of the source signal line 18s is set to a predetermined potential, and a unit current corresponding to each precharge voltage Vpc is applied to the source signal line 18s. You may apply. Further, the precharge voltages V0 to V5 may be measured and averaged a plurality of times.

また、プリチャージ電圧V0を測定する時間を長くし、プリチャージ電圧V5を測定する時間を短くするなど、各プリチャージ電圧Vpc測定に、設定する測定時間を可変してもよい。プリチャージ電圧V1などは、ソース信号線18sに流れ込む電流が小さく、ソース信号線18sの電位変化が遅いからである。一方、プリチャージ電圧V5などは、ソース信号線18sに流れ込む電流が大きく、ソース信号線18sの電位変化が速いからである。   Further, the measurement time set for each precharge voltage Vpc measurement may be varied, for example, the time for measuring the precharge voltage V0 is lengthened and the time for measuring the precharge voltage V5 is shortened. This is because the precharge voltage V1 or the like has a small current flowing into the source signal line 18s, and the potential change of the source signal line 18s is slow. On the other hand, the precharge voltage V5 or the like has a large current flowing into the source signal line 18s, and the potential change of the source signal line 18s is fast.

ポイントとなるプリチャージ電圧Vpcは、ソースドライバ回路(IC)14の外部で発生し、もしくは、ソースドライバ回路(IC)14に印加された基準電圧などを分圧して発生することを想定して説明をした。この場合、アレイ基板30のロットが異なれば、駆動用トランジスタ11aの特性が異なり、プリチャージ電圧V0〜V5の値を調整する必要があった。また、アレイ30(駆動用トランジスタ11a)の温度依存性により、プリチャージ電圧V0〜V5を再調整あるいは設定する必要があった。   The precharge voltage Vpc that is a point is generated outside the source driver circuit (IC) 14 or is assumed to be generated by dividing a reference voltage applied to the source driver circuit (IC) 14. Did. In this case, if the lot of the array substrate 30 is different, the characteristics of the driving transistor 11a are different, and it is necessary to adjust the values of the precharge voltages V0 to V5. Further, it is necessary to readjust or set the precharge voltages V0 to V5 due to the temperature dependence of the array 30 (the driving transistor 11a).

図74の本発明では、画素16の駆動用トランジスタ11aの特性を反映する測定画素16sの駆動用トランジスタ11aはアレイ基板30内に形成されている。つまり、測定画素16sの駆動用トランジスタ11aはアレイ基板30のトランジスタの特性バラツキを反映している。この測定画素16sの駆動用トランジスタ11aに、ソースドライバ回路(IC)14からプログラム電流を供給し、プリチャージ電圧Vpcを測定する。したがって、電子ボリウム291に供給するプリチャージ電圧V0〜V5はアレイ基板30の画素16の駆動用トランジスタ11aの特性バラツキを反映したものとなっている。また、温度依存に関しても、本発明の表示パネルを駆動している温度を反映したものとなっている。したがって、プリチャージ電圧V0〜V5は再調整あるいは、ロットごとに設定する必要がない。   In the present invention of FIG. 74, the driving transistor 11 a of the measurement pixel 16 s reflecting the characteristics of the driving transistor 11 a of the pixel 16 is formed in the array substrate 30. That is, the driving transistor 11a of the measurement pixel 16s reflects the characteristic variation of the transistors of the array substrate 30. A program current is supplied from the source driver circuit (IC) 14 to the driving transistor 11a of the measurement pixel 16s, and the precharge voltage Vpc is measured. Accordingly, the precharge voltages V0 to V5 supplied to the electronic volume 291 reflect the characteristic variation of the driving transistor 11a of the pixel 16 of the array substrate 30. The temperature dependence also reflects the temperature at which the display panel of the present invention is driven. Therefore, the precharge voltages V0 to V5 do not need to be readjusted or set for each lot.

以上のように、本発明は、ソースドライバIC14から、精度のよいプログラム電流を発生し(このプログラム電流を実際に表示装置の画像表示するための階調に対応する電流である)させる。したがって、全体としてソースドライバ回路(IC)14の小型化、低コスト化を実現できる。また、測定画素16sは、画素16を形成するアレイ基板30に作製あるいは形成する。測定画素16sは画像を表示する画素16と同時に形成する(同一プロセスあるいは工程)。また、同一のプログラム電流を画素16と、測定画素16sに印加したとき、ソース信号線18とソース信号線18sの電位は略同一になるようにする。   As described above, according to the present invention, an accurate program current is generated from the source driver IC 14 (this program current is a current corresponding to a gradation for actually displaying an image on the display device). Therefore, the size and cost of the source driver circuit (IC) 14 can be reduced as a whole. In addition, the measurement pixel 16s is manufactured or formed on the array substrate 30 on which the pixel 16 is formed. The measurement pixel 16s is formed simultaneously with the pixel 16 that displays an image (the same process or process). Further, when the same program current is applied to the pixel 16 and the measurement pixel 16s, the potentials of the source signal line 18 and the source signal line 18s are made substantially the same.

画素16の駆動用トランジスタ11aと測定画素16sの駆動用トランジスタ11aとは、同一特性になるように構成あるいは形成する。同一特性にするには、基本的には、画素16と画素16sを同一構成あるいはレイアウトにすればよい。駆動用トランジスタ11aのチャンネル幅W、チャンネル長Lに構成するのが最も簡単である。   The driving transistor 11a of the pixel 16 and the driving transistor 11a of the measurement pixel 16s are configured or formed to have the same characteristics. In order to achieve the same characteristics, basically, the pixel 16 and the pixel 16s may have the same configuration or layout. It is simplest to configure the channel width W and channel length L of the driving transistor 11a.

図76は、アナログ−デジタル(AD)変換回路1711を用いた構成である。電流階調回路334内のトランジスタ群251s(図22、図26などで説明したトランジスタ群251cと同一の構成である)から、プログラム電流がソース信号線18sに出力される。   FIG. 76 shows a configuration using an analog-digital (AD) conversion circuit 1711. A program current is output to the source signal line 18s from the transistor group 251s in the current gradation circuit 334 (having the same configuration as the transistor group 251c described in FIG. 22, FIG. 26, etc.).

なお、プログラム電流は、吸い込み電流であるが、本発明はこれに限定するものではない。画素16の駆動用トランジスタ11aがNチャンネルトランジスタなどの場合は、吐き出し電流にする。もの場合は、トランジスタ群251cを構成する単位トランジスタ224はPチャンネルトランジスタで構成する。   The program current is a sink current, but the present invention is not limited to this. When the driving transistor 11a of the pixel 16 is an N-channel transistor or the like, the discharge current is set. In this case, the unit transistors 224 constituting the transistor group 251c are P channel transistors.

測定画素16sの駆動用トランジスタ11aは、プログラム電流により動作し、ソース信号線18sの電位が変化する。プログラム電流に対応するソース信号線18の電位をVsとする。Vs電圧は電圧測定回路1701により測定される。この電圧はAD変換回路1711でデジタルデータに変換され、メモリあるいは保持回路(ラッチ回路など)により蓄積または保持される。保持されたデータはデジタルデータのVsとして、電圧階調回路371に印加される。他の構成などは、図74、図75などと同様であるので説明を省略する。   The driving transistor 11a of the measurement pixel 16s operates by a program current, and the potential of the source signal line 18s changes. The potential of the source signal line 18 corresponding to the program current is set to Vs. The Vs voltage is measured by a voltage measurement circuit 1701. This voltage is converted into digital data by the AD conversion circuit 1711 and stored or held by a memory or a holding circuit (such as a latch circuit). The held data is applied to the voltage gradation circuit 371 as Vs of digital data. Other configurations and the like are the same as those in FIGS.

なお、ソース信号線18に出力された測定プリチャージ電圧Vpc=Vsは、電圧測定回路1701を介さず、直接にAD変換回路1711によりデジタルデータに変換してもよい。つまり、本発明では、電圧測定回路1701を形成または配置し、この回路1701を使用あるいは動作させるとしたが、何らかの構成あるいは手段あるいは方法により、ソース信号線18sあるいはソース信号線18の電圧を取得できるものあればいずれの構成あるいは手段でもよい。   Note that the measurement precharge voltage Vpc = Vs output to the source signal line 18 may be directly converted into digital data by the AD conversion circuit 1711 without going through the voltage measurement circuit 1701. That is, in the present invention, the voltage measurement circuit 1701 is formed or arranged, and the circuit 1701 is used or operated. However, the voltage of the source signal line 18s or the source signal line 18 can be acquired by some configuration, means, or method. Any configuration or means may be used.

また、ソース信号線18sにプログラム電流を流すトランジスタ群251s、電圧測定回路1701などは、ソースドライバ回路(IC)14と分離し、別チップ(IC)としてもよい。この別チップ(IC)をアレイ基板30にCOG技術で実装する。また、TAB技術で実装してもよい。   In addition, the transistor group 251 s that supplies a program current to the source signal line 18 s, the voltage measurement circuit 1701, and the like may be separated from the source driver circuit (IC) 14 and may be formed as another chip (IC). This separate chip (IC) is mounted on the array substrate 30 by COG technology. Moreover, you may mount by a TAB technique.

図74の実施例では、測定画素16sは1つの場合と図示した。しかし、本発明はこれに限定するものではない。たとえば、図77に図示するように、複数の測定画素16s(16s1、16s2、16s3、16s4、・・・・・・・)を形成又は構成し、測定画素16sをゲート信号線17a(17a1、17a2、17a3、17s4、・・・・・・・・)で順次選択する。各測定画素16sはそれぞれプリチャージ電圧V0〜V5を測定する。複数の測定画素16sで測定したプリチャージ電圧V0〜V5を平均化し、平均値としてのV0〜V5を求めることにより、より精度のよいプリチャージ電圧Vpcを求めることができる。   In the example of FIG. 74, the case where there is one measurement pixel 16s is illustrated. However, the present invention is not limited to this. For example, as shown in FIG. 77, a plurality of measurement pixels 16s (16s1, 16s2, 16s3, 16s4,...) Are formed or configured, and the measurement pixels 16s are connected to the gate signal lines 17a (17a1, 17a2). , 17a3, 17s4,... Each measurement pixel 16s measures precharge voltages V0 to V5. By averaging the precharge voltages V0 to V5 measured by the plurality of measurement pixels 16s and obtaining V0 to V5 as average values, a more accurate precharge voltage Vpc can be obtained.

測定画素16s1はプリチャージ電圧V0を測定する画素とし、測定画素16s2はプリチャージ電圧V1を測定する画素をし、測定画素16s3はプリチャージ電圧V2を測定する画素をし、・・・・・・・・・、測定画素16s6はプリチャージ電圧V5を測定する画素とする、というように、各測定画素16sが受け持つプリチャージ電圧Vpcを設定してもよい。   The measurement pixel 16s1 is a pixel that measures the precharge voltage V0, the measurement pixel 16s2 is a pixel that measures the precharge voltage V1, the measurement pixel 16s3 is a pixel that measures the precharge voltage V2, The precharge voltage Vpc that each measurement pixel 16s is responsible for may be set such that the measurement pixel 16s6 is a pixel that measures the precharge voltage V5.

各測定画素16sが受け持つプリチャージ電圧Vpcは、一定の周期で変更してもよい。たとえば、1周期目は、測定画素16s1はプリチャージ電圧V0を測定する画素とし、測定画素16s2はプリチャージ電圧V1を測定する画素をし、測定画素16s3はプリチャージ電圧V2を測定する画素をし、・・・・・・・・・、測定画素16s6はプリチャージ電圧V5を測定する画素とする。   The precharge voltage Vpc handled by each measurement pixel 16s may be changed at a constant cycle. For example, in the first period, the measurement pixel 16s1 is a pixel that measures the precharge voltage V0, the measurement pixel 16s2 is a pixel that measures the precharge voltage V1, and the measurement pixel 16s3 is a pixel that measures the precharge voltage V2. The measurement pixel 16s6 is a pixel for measuring the precharge voltage V5.

2周期目は、測定画素16s1はプリチャージ電圧V5を測定する画素とし、測定画素16s2はプリチャージ電圧V4を測定する画素をし、測定画素16s3はプリチャージ電圧V3を測定する画素をし、・・・・・・・・・、測定画素16s6はプリチャージ電圧V0を測定する画素とする、というように制御する。   In the second period, the measurement pixel 16s1 is a pixel that measures the precharge voltage V5, the measurement pixel 16s2 is a pixel that measures the precharge voltage V4, the measurement pixel 16s3 is a pixel that measures the precharge voltage V3, ... Control is performed so that the measurement pixel 16s6 is a pixel for measuring the precharge voltage V0.

周期は、1フレーム周期でもよいし、それ以上あるいはそれ以下でもよい。また、ゲート信号線17bの走査と同期を取って、ゲート信号線17aを順次選択してもよい。つまり、1つのゲート信号線17aの選択期間は、1水平走査期間となる。   The period may be one frame period, more or less. Alternatively, the gate signal lines 17a may be sequentially selected in synchronization with the scanning of the gate signal lines 17b. That is, the selection period of one gate signal line 17a is one horizontal scanning period.

図78に図示するように、電圧測定回路1701は測定信号に同期してプリチャージ電圧Vpcを測定する。図78では、Hレベルの時にプリチャージ電圧Vpcを測定し、Lレベルの時には、プリチャージ電圧Vpcは測定しない。図78では、上段は、トランジスタ群251sが出力する単位電流の大きさを示している。0は、すべての単位トランジスタ224が選択されていない状態である(階調0)。1は単位トランジスタ224が1個選択された状態である(階調1)。2は単位トランジスタ224が2個選択された状態である(階調2)。以下同様に、4は単位トランジスタ224が4個選択された状態である(階調4)であり、・・・・・・・32は単位トランジスタ224が32個選択された状態である(階調32)。   As shown in FIG. 78, the voltage measurement circuit 1701 measures the precharge voltage Vpc in synchronization with the measurement signal. In FIG. 78, the precharge voltage Vpc is measured at the H level, and the precharge voltage Vpc is not measured at the L level. In FIG. 78, the upper part shows the magnitude of the unit current output from the transistor group 251s. 0 is a state where all the unit transistors 224 are not selected (gradation 0). 1 is a state in which one unit transistor 224 is selected (gradation 1). Reference numeral 2 denotes a state where two unit transistors 224 are selected (gradation 2). Similarly, 4 is a state in which four unit transistors 224 are selected (gradation 4), and... 32 is a state in which 32 unit transistors 224 are selected (gradation). 32).

図78の実施例では、出力電流は、1、2、4、8、16、・・・・・・・と2の乗数で変化させている。つまり、図22において、スイッチ221a、221b、221c、221d・・・・・・・と順次クローズしていく方式である。プリチャージ電圧Vpcの階調の2の乗数で測定し取得される。図78の構成では、トランジスタ群251sの制御が容易であり、プリチャージ電圧Vpcの測定精度も高い。   In the embodiment of FIG. 78, the output current is changed by a multiplier of 2, such as 1, 2, 4, 8, 16,. That is, in FIG. 22, the switches 221a, 221b, 221c, 221d,. It is obtained by measuring with a multiplier of 2 of the gradation of the precharge voltage Vpc. In the configuration of FIG. 78, the control of the transistor group 251s is easy, and the measurement accuracy of the precharge voltage Vpc is high.

トランジスタ群251sからの出力電流により、駆動用トランジスタ11aなどが動作して、ソース信号線18sの電位が変化する。本発明の構成では、単位電流の大きさ(プログラム電流の大きさ)が大きくなるにつれてソース信号線18sの電位は低下する。   Due to the output current from the transistor group 251s, the driving transistor 11a and the like operate, and the potential of the source signal line 18s changes. In the configuration of the present invention, the potential of the source signal line 18s decreases as the unit current (program current) increases.

プログラム電流の大きさが変化すると、ソース信号線18sの電位は変化する。ソース信号線18sには寄生容量があるため、目標電位まで変化するのに一定の期間が必要である。図78ではこの期間は、測定信号はLレベルであり、電圧測定回路1701は動作しない。ソース信号線18sの寄生容量を充放電し、目標電位まで変化すると、測定信号はHレベルとなり、プリチャージ電圧Vpc(ソース信号線18sの電位)が測定される。以上の測定がソース信号線18sに印加されるプログラム電流に対応して順次繰り返され、プリチャージ電圧Vpcが測定し保持される。   When the magnitude of the program current changes, the potential of the source signal line 18s changes. Since the source signal line 18s has a parasitic capacitance, a certain period is required to change to the target potential. In FIG. 78, during this period, the measurement signal is at the L level, and the voltage measurement circuit 1701 does not operate. When the parasitic capacitance of the source signal line 18s is charged and discharged and changed to the target potential, the measurement signal becomes H level, and the precharge voltage Vpc (the potential of the source signal line 18s) is measured. The above measurement is sequentially repeated corresponding to the program current applied to the source signal line 18s, and the precharge voltage Vpc is measured and held.

図78はプログラム電流を2の乗数倍で変化させ、プリチャージ電圧Vpcを測定するものである(取得するものである)。図79は、図75で説明したように、プリチャージ電圧V0、V1、V2、V3、V4、V5を測定(取得)する方法である。トランジスタ群251sから、プログラム電流、0、1、8、32、128、255が順次ソース信号線18sに印加される。このプログラム電流に対応して、ソース信号線18sの電位が変化する。電圧測定回路1701は変化後のソース信号線18sの電位を測定する。   In FIG. 78, the program current is changed by a multiplier of 2 and the precharge voltage Vpc is measured (obtained). FIG. 79 shows a method of measuring (acquiring) the precharge voltages V0, V1, V2, V3, V4, and V5 as described in FIG. Program currents 0, 1, 8, 32, 128, and 255 are sequentially applied to the source signal line 18s from the transistor group 251s. Corresponding to this program current, the potential of the source signal line 18s changes. The voltage measurement circuit 1701 measures the potential of the source signal line 18s after the change.

なお、プリチャージ電圧Vpcは、決められた階調に対応して測定あるいは取得するとしたが、本発明はこれに限定するものではない。すべての階調(たとえば、256階調の場合は、0階調目から255階調目)に対してプリチャージ電圧Vpcを測定(取得)してもよい。このプリチャージ電圧Vpcを階調信号として使用すれば、良好な電圧駆動を実現できる。   Note that although the precharge voltage Vpc is measured or acquired in accordance with the determined gradation, the present invention is not limited to this. The precharge voltage Vpc may be measured (acquired) for all gradations (for example, in the case of 256 gradations, the 0th gradation to the 255th gradation). If this precharge voltage Vpc is used as a gradation signal, good voltage driving can be realized.

以上の実施例では、3つ以上のプリチャージ電圧Vpcを測定するものであった。しかし、最大階調の階調255(256階調の時)と、最低階調の階調0を測定し、この両者から中間のプリチャージ電圧Vpcを発生させてもよい。   In the above embodiment, three or more precharge voltages Vpc are measured. However, it is possible to measure the maximum gradation 255 (at 256 gradations) and the lowest gradation 0 and generate an intermediate precharge voltage Vpc from both.

図81は、プリチャージ電圧V0と、V255を電圧測定回路1701で測定し、測定したプリチャージ電圧Vpcを切り換え回路(V0電圧をV255電圧の振り分け回路)1761で、V0電圧を平均化回路1762aに入力する。また、測定したプリチャージ電圧Vpcを切り換え回路(V0電圧をV255電圧の振り分け回路)1761で、V255電圧を平均化回路1762bに入力する。平均化回路1762aは交互にあるいは連続して測定されたプリチャージ電圧V0、プリチャージ電圧V255を平均化し、安定したプリチャージ電圧V0、プリチャージ電圧V255とするものである。   In FIG. 81, the precharge voltage V0 and V255 are measured by the voltage measurement circuit 1701, the measured precharge voltage Vpc is switched by a switching circuit (V0 voltage is distributed to the V255 voltage) 1761, and the V0 voltage is input to the averaging circuit 1762a. input. Further, the measured precharge voltage Vpc is input to the switching circuit (V0 voltage to V255 voltage distribution circuit) 1761 and the V255 voltage is input to the averaging circuit 1762b. The averaging circuit 1762a averages the precharge voltage V0 and the precharge voltage V255 measured alternately or continuously to obtain a stable precharge voltage V0 and precharge voltage V255.

平均化回路1762の出力はオペアンプ231に入力され、インピーダンスを低減して、電子ボリウム291に入力される。電子ボリウム291では、抵抗Rで分圧され、階調に対応するプリチャージ電圧(V0〜V255)が発生させられる。   The output of the averaging circuit 1762 is input to the operational amplifier 231 and the impedance is reduced and input to the electronic volume 291. In the electronic volume 291, voltage is divided by the resistor R, and a precharge voltage (V0 to V255) corresponding to the gradation is generated.

図80に図示するように、トランジスタ群251sからの出力電流(0または255)により、駆動用トランジスタ11aなどが動作して、ソース信号線18sの電位が変化する。プログラム電流の大きさが変化すると、ソース信号線18sの電位は変化する。ソース信号線18sには寄生容量があるため、目標電位まで変化するのに一定の期間が必要である。そのため、ソース信号線18sの電位変化は曲線を描く。階調に対するプリチャージ電圧Vpc(ソース信号線18sの電位)と、階調255に対するプリチャージ電圧Vpcが、電圧測定回路1701により測定される。以上の測定がソース信号線18sに印加されるプログラム電流に対応して順次繰り返され、測定された、プリチャージ電圧V0とV255が図81に図示する切り換え回路1761に伝送(伝達)される。   As shown in FIG. 80, the output transistor (0 or 255) from the transistor group 251s operates the driving transistor 11a and the like, and the potential of the source signal line 18s changes. When the magnitude of the program current changes, the potential of the source signal line 18s changes. Since the source signal line 18s has a parasitic capacitance, a certain period is required to change to the target potential. Therefore, the potential change of the source signal line 18s draws a curve. The voltage measurement circuit 1701 measures the precharge voltage Vpc (the potential of the source signal line 18 s) for the gradation and the precharge voltage Vpc for the gradation 255. The above measurement is sequentially repeated corresponding to the program current applied to the source signal line 18s, and the measured precharge voltages V0 and V255 are transmitted (transmitted) to the switching circuit 1761 shown in FIG.

図80は、プリチャージ電圧V0とV255の場合であった。本発明はこれに限定するものではない。図82に図示するように、プリチャージ電圧V0〜V5を順次、電圧測定回路1701で測定し、順次、切り換え回路1761に伝送する。切り換え回路1761は受信したプリチャージ電圧V0〜V5を平均化回路1762に振り分ける。平均化回路1762はそれぞれのプリチャージ電圧Vpcを平均化する。V0〜V5電圧は、V0(A)〜V5(A)として安定化され、電子ボリウム291などに印加される。   FIG. 80 shows the case of precharge voltages V0 and V255. The present invention is not limited to this. As shown in FIG. 82, the precharge voltages V0 to V5 are sequentially measured by the voltage measurement circuit 1701, and are sequentially transmitted to the switching circuit 1761. The switching circuit 1761 distributes the received precharge voltages V0 to V5 to the averaging circuit 1762. An averaging circuit 1762 averages the respective precharge voltages Vpc. The V0 to V5 voltages are stabilized as V0 (A) to V5 (A) and applied to the electronic volume 291 or the like.

図75(b)で説明したように、EL素子15を有しない測定画素16sを形成し、プリチャージ電圧Vpcを測定するとした。しかし、もっと簡単には、図83に図示するように、駆動用トランジスタ11aからなる測定画素16sを形成し、この測定画素16sを動作させてプリチャージ電圧Vpcを測定してもよい。図83の測定画素16sのゲート端子とドレイン端子は短絡して形成されている。ソース端子は画素16の駆動用トランジスタと同様にアノード電圧Vddに接続されている。   As described with reference to FIG. 75B, it is assumed that the measurement pixel 16s not including the EL element 15 is formed and the precharge voltage Vpc is measured. However, more simply, as shown in FIG. 83, a measurement pixel 16s formed of the driving transistor 11a may be formed, and the measurement pixel 16s may be operated to measure the precharge voltage Vpc. The gate terminal and the drain terminal of the measurement pixel 16s in FIG. 83 are formed by short-circuiting. The source terminal is connected to the anode voltage Vdd similarly to the driving transistor of the pixel 16.

測定画素16sは、図84に図示するように、アレイ基板30の複数箇所に形成し、複数箇所に形成された測定画素16sの駆動用トランジスタ11aを動作させてプリチャージ電圧Vpcを測定することが好ましい。アレイ基板30内の各部分で作製された駆動用トランジスタ11aの特性バラツキがあるからである。複数箇所の測定画素16sで測定されたプリチャージ電圧Vpcは平均化して、所望のプリチャージ電圧V0〜V5を取得する。また、複数箇所に測定画素16sを形成しておけば、そのうち1つの測定画素16sが不良であっても、他の測定画素16sからプリチャージ電圧V0〜V5を取得することができる。   As shown in FIG. 84, the measurement pixel 16s is formed at a plurality of locations on the array substrate 30, and the driving transistor 11a of the measurement pixel 16s formed at the plurality of locations is operated to measure the precharge voltage Vpc. preferable. This is because there is a variation in the characteristics of the driving transistor 11a produced in each part in the array substrate 30. The precharge voltages Vpc measured at the measurement pixels 16s at a plurality of locations are averaged to obtain desired precharge voltages V0 to V5. Further, if the measurement pixels 16s are formed at a plurality of locations, even if one of the measurement pixels 16s is defective, the precharge voltages V0 to V5 can be acquired from the other measurement pixels 16s.

図85に図示するように、画像を表示するためのトランジスタ群251cと同様に、プリチャージ電圧Vpcを測定するためのトランジスタ群251sを形成し、トランジスタ群251sの単位トランジスタ224数を選択して、測定画素16sに印加してもよい。なお、図85などのトランジスタ群251c(251s)の数字は、単位トランジスタ224の個数を示している。つまり、1は単位トランジスタ224が1個であり、2は単位トランジスタ224が2個であり、4は単位トランジスタ224が4個であり、8は単位トランジスタ224が8個・・・・・・・128は単位トランジスタ224が128個である。単位トランジスタ224の個数をスイッチ221で切り換え、各単位トランジスタ224の個数に対する(階調に対する)プリチャージ電圧Vpcを測定する。   As shown in FIG. 85, similarly to the transistor group 251c for displaying an image, a transistor group 251s for measuring the precharge voltage Vpc is formed, and the number of unit transistors 224 in the transistor group 251s is selected. You may apply to the measurement pixel 16s. The numbers in the transistor group 251c (251s) in FIG. 85 and the like indicate the number of unit transistors 224. That is, 1 has one unit transistor 224, 2 has two unit transistors 224, 4 has four unit transistors 224, 8 has eight unit transistors 224, and so on. 128 includes 128 unit transistors 224. The number of unit transistors 224 is switched by the switch 221, and the precharge voltage Vpc (with respect to the gradation) with respect to the number of unit transistors 224 is measured.

図85などの構成では、ソース信号線18にプログラム電流を出力するトランジスタ群251cと、ソース信号線18sにプログラム電流を出力するトランジスタ群251sとは、同一の構成である
(図22、図26などを参照のこと)。したがって、トランジスタ群251sとトランジスタ251cの単位トランジスタが出力する単位電流は同一である。しかし、本発明はこれに限定するものではない。たとえば、図86に図示するように、トランジスタ群251sとカレントミラー回路を構成するトランジスタ群またはトランジスタ228bに流れる基準電流を、トランジスタ群251cとは別に発生させてもよい。
In the configuration of FIG. 85 and the like, the transistor group 251c that outputs the program current to the source signal line 18 and the transistor group 251s that outputs the program current to the source signal line 18s have the same configuration (FIGS. 22, 26, and the like). checking). Therefore, the unit currents output from the unit transistors of the transistor group 251s and the transistor 251c are the same. However, the present invention is not limited to this. For example, as illustrated in FIG. 86, a reference current that flows through a transistor group 251s and a transistor group that forms a current mirror circuit or a transistor 228b may be generated separately from the transistor group 251c.

図86の電子ボリウム291は、電圧Vを変化させる8ビットのDATAにより制御される。DATAは、コントローラ722で制御される。この電圧Vと抵抗R1によりトランジスタ228bに流れる基準電流Icを変更(可変)することができる。トランジスタ228bはトランジスタ群228bとカレントミラー回路を構成する。なお、以上の構成あるいは動作は、図22、図26などと同様であるので、説明を省略する。   The electronic volume 291 in FIG. 86 is controlled by 8-bit DATA that changes the voltage V. DATA is controlled by the controller 722. The reference current Ic flowing through the transistor 228b can be changed (variable) by the voltage V and the resistor R1. The transistor 228b forms a current mirror circuit with the transistor group 228b. The configuration or operation described above is the same as that shown in FIGS.

図87は、ソースドライバ回路(IC)14にスイッチS(S1、S2、S3、・・・・・・・)が形成されている。1つのスイッチSが選択されることにより、選択されたスイッチSに接続された端子93のソース信号線18の電位が、ソース信号線電位検出線2121に印加される。   87, switches S (S1, S2, S3,...) Are formed in the source driver circuit (IC) 14. In FIG. By selecting one switch S, the potential of the source signal line 18 of the terminal 93 connected to the selected switch S is applied to the source signal line potential detection line 2121.

図87では、各端子93に接続されたトランジスタ群251cからプログラム電流I0(階調0に対応する)が出力される。すると、各ソース信号線18の電位は、プログラム電流I0に対応する電位に変化する。この状態でスイッチS0からSn(nは端子93の最大番号値)まで、順次クローズし、各ソース信号線18の電位がソース電位検出線2121に印加され、この電圧はVsdとして測定されてコントローラ722に伝送される。コントローラ722では、プログラム電流I0に対する各ソース信号線18の電位は、Vst0電圧として、メモリ2122に記憶される。このVst0がプリチャージ電圧V0に該当する。   In FIG. 87, a program current I0 (corresponding to gradation 0) is output from the transistor group 251c connected to each terminal 93. Then, the potential of each source signal line 18 changes to a potential corresponding to the program current I0. In this state, the switches S0 to Sn (n is the maximum number value of the terminal 93) are sequentially closed, and the potential of each source signal line 18 is applied to the source potential detection line 2121. This voltage is measured as Vsd and is measured by the controller 722. Is transmitted. In the controller 722, the potential of each source signal line 18 with respect to the program current I0 is stored in the memory 2122 as the Vst0 voltage. This Vst0 corresponds to the precharge voltage V0.

なお、ソース信号線18の電位検出は、図88に図示するように、第1画素行目あるは第1画素列などのように特定の画素行あるいは画素列を指定して検出してもよいことは言うまでもない。   The potential detection of the source signal line 18 may be detected by designating a specific pixel row or pixel column such as the first pixel row or the first pixel column as shown in FIG. Needless to say.

また、プリチャージ電圧V1に対しては、各端子93に接続されたトランジスタ群251cからプログラム電流I1が出力される。すると、各ソース信号線18の電位は、プログラム電流I1に対応する電位に変化する。この状態でスイッチS0からSn(nは端子93の最大番号値)まで、順次クローズし、各ソース信号線18の電位がソース電位検出線2121に印加され、この電圧はVsd1として測定されてコントローラ722に伝送される。コントローラ722では、プログラム電流I1に対する各ソース信号線18の電位Vst1として、メモリ(SRAM、EEPROM)2122に記憶される。このVst1がプリチャージ電圧V1に該当する。   For the precharge voltage V1, a program current I1 is output from the transistor group 251c connected to each terminal 93. Then, the potential of each source signal line 18 changes to a potential corresponding to the program current I1. In this state, the switches S0 to Sn (n is the maximum number value of the terminal 93) are sequentially closed, and the potential of each source signal line 18 is applied to the source potential detection line 2121. This voltage is measured as Vsd1 and is measured by the controller 722. Is transmitted. In the controller 722, the potential (Vst1) of each source signal line 18 with respect to the program current I1 is stored in the memory (SRAM, EEPROM) 2122. This Vst1 corresponds to the precharge voltage V1.

プリチャージ電圧V2に対しては、各端子93に接続されたトランジスタ群251cからプログラム電流I2が出力され、この状態でスイッチS0からSn(nは端子93の最大番号値)まで、順次クローズし、各ソース信号線18の電位がソース電位検出線2121に印加され、この電圧はVsd2として測定されてコントローラ722に伝送される。以下同様である。   For the precharge voltage V2, a program current I2 is output from the transistor group 251c connected to each terminal 93, and in this state, switches S0 to Sn (n is the maximum number value of the terminal 93) are sequentially closed, The potential of each source signal line 18 is applied to the source potential detection line 2121, and this voltage is measured as Vsd 2 and transmitted to the controller 722. The same applies hereinafter.

以上のように測定されたプリチャージ電圧V0〜V5は、プリチャージ電圧Vpcの設定値Vstとして、必要に応じて、ソースドライバ回路(IC)14に伝送され、電子ボリウム291などの設定値として使用される
以上のように構成すれば、プリチャージ電圧Vpcを測定するためのプログラム電流を、トランジスタ群251cと変化させることができる。したがって、より柔軟にかつ適正なプリチャージ電圧Vpcを測定することができる。
The precharge voltages V0 to V5 measured as described above are transmitted to the source driver circuit (IC) 14 as necessary as the set value Vst of the precharge voltage Vpc and used as set values for the electronic volume 291 and the like. If configured as described above, the program current for measuring the precharge voltage Vpc can be changed with the transistor group 251c. Therefore, the precharge voltage Vpc can be measured more flexibly and appropriately.

プリチャージ電圧Vpcの測定回路は、図89に図示するように、ソースドライバ回路(IC)14と別回路またはICとしてもよい。図89では、電圧測定回路機能を有する電圧測定回路IC1821をアレイ基板30にCOG実装した実施例である。また、図90は3つのソースドライバ回路(IC)14に電圧測定回路1701からの出力を印加した構成である。また、図145は3つのソースドライバ回路(IC)14にAD変換回路からのデジタル信号にされたプリチャージ電圧Vpcを印加した構成である。   As shown in FIG. 89, the measurement circuit for the precharge voltage Vpc may be a circuit separate from the source driver circuit (IC) 14 or an IC. FIG. 89 shows an embodiment in which a voltage measurement circuit IC 1821 having a voltage measurement circuit function is mounted on the array substrate 30 by COG. FIG. 90 shows a configuration in which the output from the voltage measurement circuit 1701 is applied to three source driver circuits (IC) 14. FIG. 145 shows a configuration in which a precharge voltage Vpc converted into a digital signal from the AD converter circuit is applied to three source driver circuits (IC) 14.

複数のソースドライバ回路(IC)14を用いる場合は、各ソースドライバ回路(IC)14内に電圧測定回路1701を構成あるいは形成し、複数のソースドライバ回路(IC)14のうち、1つの電圧測定回路1701を動作させ、この電圧測定回路1701からのプリチャージ電圧Vpcを他のソースドライバ回路(IC)14に供給あるいは印加すればよい。図144はこの構成の説明図である。3つのソースドライバ回路(IC)14は、マスタースレーブ選択端子(M/S)により、マスターとスレーブ設定がロジック的に設定される。マスターモードの時は、M/S端子はロジックレベル1とされ、スレーブモードの時は、M/S端子はロジックレベル0と設定される。   When a plurality of source driver circuits (IC) 14 are used, a voltage measurement circuit 1701 is configured or formed in each source driver circuit (IC) 14, and one voltage measurement is performed among the plurality of source driver circuits (IC) 14. The circuit 1701 is operated, and the precharge voltage Vpc from the voltage measurement circuit 1701 may be supplied or applied to another source driver circuit (IC) 14. FIG. 144 is an explanatory diagram of this configuration. In the three source driver circuits (ICs) 14, master and slave settings are logically set by a master / slave selection terminal (M / S). In the master mode, the M / S terminal is set to logic level 1, and in the slave mode, the M / S terminal is set to logic level 0.

図144ではソースドライバ回路(IC)14aがマスターモードに設定され、ソースドライバ回路(IC)14bと14cがスレーブモードに設定されている。マスターモードでは、ソースドライバ回路(IC)14a内の電圧測定回路1701が動作し、ソース信号線18sの電位を測定してプリチャージ電圧V0〜V5を出力する。出力されたプリチャージ電圧V0〜V5はスレーブモードのソースドライバ回路(IC)14(14b、14c)の電子ボリウム回路などに印加される。スレーブモードに設定されたソースドライバ回路(IC)14(14b、14c)の電圧測定回路1701は動作しないように構成されている。   In FIG. 144, the source driver circuit (IC) 14a is set to the master mode, and the source driver circuits (IC) 14b and 14c are set to the slave mode. In the master mode, the voltage measurement circuit 1701 in the source driver circuit (IC) 14a operates to measure the potential of the source signal line 18s and output the precharge voltages V0 to V5. The output precharge voltages V0 to V5 are applied to an electronic volume circuit of the source driver circuit (IC) 14 (14b, 14c) in the slave mode. The voltage measurement circuit 1701 of the source driver circuit (IC) 14 (14b, 14c) set to the slave mode is configured not to operate.

以上のように、マスターモードとスレーブモードがソースドライバ回路(IC)14に設定されるのは、プリチャージ電圧Vpcを測定するソース信号線18sまたは測定画素16sが表示領域64以外の箇所に形成されるためである。したがって、これらは、表示領域64の端に構成されることになる。したがって、プリチャージ電圧Vpcを測定するソースドライバ回路(IC)14は、表示画面64の端に位置するものが選択されることになる(図144ではソースドライバ回路(IC)14aが該当する)。この選択をM/S端子で設定する。   As described above, the master mode and the slave mode are set in the source driver circuit (IC) 14 because the source signal line 18s for measuring the precharge voltage Vpc or the measurement pixel 16s is formed at a place other than the display area 64. Because. Therefore, these are configured at the end of the display area 64. Therefore, the source driver circuit (IC) 14 for measuring the precharge voltage Vpc is selected at the end of the display screen 64 (in FIG. 144, the source driver circuit (IC) 14a corresponds). This selection is set at the M / S terminal.

表示領域64の両端にソース信号線18s、測定画素16sが形成できる場合は、図91に図示するように、画面64の両端に位置するソースドライバ回路(IC)14(14a、14d)をマスターモードに設定する。ソースドライバ回路(IC)14aが出力するプリチャージ電圧Vpcを選択するか、ソースドライバ回路(IC)14dが出力するプリチャージ電圧Vpcを選択してスレーブモードのソースドライバ回路(IC)14に印加するかは、スイッチSaとSbにより行う。   When the source signal line 18s and the measurement pixel 16s can be formed at both ends of the display area 64, as shown in FIG. 91, the source driver circuits (IC) 14 (14a, 14d) located at both ends of the screen 64 are set in the master mode. Set to. The precharge voltage Vpc output from the source driver circuit (IC) 14a is selected, or the precharge voltage Vpc output from the source driver circuit (IC) 14d is selected and applied to the source driver circuit (IC) 14 in the slave mode. This is done by the switches Sa and Sb.

ソースドライバ回路(IC)14aをマスターモードにする時は、スイッチSaをクローズし、ソースドライバ回路(IC)14dをスレーブモードにして、スイッチSbをオープンにする。他のソースドライバ回路(IC)14(14b、14c)はスレーブモードとして使用する。ソースドライバ回路(IC)14dをマスターモードにする時は、スイッチSbをクローズし、ソースドライバ回路(IC)14aをスレーブモードにして、スイッチSaをオープンにする。他のソースドライバ回路(IC)14(14b、14c)は常時スレーブモードとして使用する。   When the source driver circuit (IC) 14a is set to the master mode, the switch Sa is closed, the source driver circuit (IC) 14d is set to the slave mode, and the switch Sb is opened. Other source driver circuits (IC) 14 (14b, 14c) are used in the slave mode. When the source driver circuit (IC) 14d is set to the master mode, the switch Sb is closed, the source driver circuit (IC) 14a is set to the slave mode, and the switch Sa is opened. The other source driver circuits (IC) 14 (14b, 14c) are always used as a slave mode.

ソースドライバ回路(IC)14aを常時マスターモードするか、もしくはソースドライバ回路(IC)14dを常時マスターモードするかを固定する方法も例示されるが、ソースドライバ回路(IC)14aとソースドライバ回路(IC)14dを交互にマスターモードにして使用するほうが、プリチャージ電圧Vpcが平均化され、良好な結果が得られる。切り換えは、1フィールドあるいは1フレームなど周期的に行う。もちろん、1水平走査期間などの周期で切り換えてもよい。また、マスターモードにするソースドライバ回路(IC)14は、2つ以上であってもよい。たとえば、4つであれば、4つのソースドライバ回路(IC)14から1つのスイッチSを制御してプリチャージ電圧Vpcを他のソースドライバ回路(IC)14に印加すればよい。   A method of fixing whether the source driver circuit (IC) 14a is always in the master mode or whether the source driver circuit (IC) 14d is always in the master mode is exemplified, but the source driver circuit (IC) 14a and the source driver circuit ( IC) 14d alternately in the master mode is used, the precharge voltage Vpc is averaged and a good result is obtained. Switching is performed periodically, such as one field or one frame. Of course, switching may be performed in a cycle such as one horizontal scanning period. Further, the number of source driver circuits (ICs) 14 to be set to the master mode may be two or more. For example, if there are four, it is only necessary to control one switch S from four source driver circuits (IC) 14 and apply the precharge voltage Vpc to the other source driver circuits (IC) 14.

たとえば、第1フレームで、ソースドライバ回路(IC)14aをマスターモードにし、スイッチSaをクローズし、ソースドライバ回路(IC)14dをスレーブモードにし、スイッチSbをオープンにする。他のソースドライバ回路(IC)14(14b、14c)はスレーブモードとして使用する。第1フレームの次の第2フレームでは、ソースドライバ回路(IC)14dをマスターモードにし、スイッチSbをクローズし、ソースドライバ回路(IC)14aをスレーブモードにし、スイッチSaをオープンにする。同様に、第2フレームの次の第3フレームでは、ソースドライバ回路(IC)14aをマスターモードにし、スイッチSaをクローズし、ソースドライバ回路(IC)14dをスレーブモードにし、スイッチSbをオープンにする。他のソースドライバ回路(IC)14(14b、14c)はスレーブモードとして使用する。   For example, in the first frame, the source driver circuit (IC) 14a is set to the master mode, the switch Sa is closed, the source driver circuit (IC) 14d is set to the slave mode, and the switch Sb is opened. Other source driver circuits (IC) 14 (14b, 14c) are used in the slave mode. In the second frame following the first frame, the source driver circuit (IC) 14d is set to the master mode, the switch Sb is closed, the source driver circuit (IC) 14a is set to the slave mode, and the switch Sa is opened. Similarly, in the third frame following the second frame, the source driver circuit (IC) 14a is set to the master mode, the switch Sa is closed, the source driver circuit (IC) 14d is set to the slave mode, and the switch Sb is opened. . Other source driver circuits (IC) 14 (14b, 14c) are used in the slave mode.

また、図92に図示するように、2ビットのセレクタ信号(CS)で切り換える。たとえば、図92において、CS=1の時は、チップ14aの左側のトランジスタ群251Saが動作する。チップ14cは、CS=2であり、CS=2の時は、チップ14cの右側のトランジスタ群251Saが動作する。チップ14bは、CS=0であり、CS=0の時は、チップ14bの両方のトランジスタ群251Sは選択されない。   Also, as shown in FIG. 92, switching is performed by a 2-bit selector signal (CS). For example, in FIG. 92, when CS = 1, the transistor group 251Sa on the left side of the chip 14a operates. The chip 14c has CS = 2, and when CS = 2, the transistor group 251Sa on the right side of the chip 14c operates. The chip 14b has CS = 0, and when CS = 0, both transistor groups 251S of the chip 14b are not selected.

電圧測定回路IC1821は、トランジスタ群251sを内部に有してもよい。また、AD変換回路1711を内部に有してもよい。電圧測定回路IC1821が測定したプリチャージ電圧V0〜V5は、アナログデータあるいはデジタルデータとして、ソースドライバ回路(IC)14に供給(印加)される。ソースドライバ回路(IC)14が複数ある場合は、複数のソースドライバ回路(IC)14に共通に印加される。   The voltage measurement circuit IC1821 may have a transistor group 251s inside. Further, an AD conversion circuit 1711 may be included therein. The precharge voltages V0 to V5 measured by the voltage measurement circuit IC1821 are supplied (applied) to the source driver circuit (IC) 14 as analog data or digital data. In the case where there are a plurality of source driver circuits (IC) 14, they are commonly applied to the plurality of source driver circuits (IC) 14.

以上の実施例は、1つのトランジスタ群251sからのプログラム電流を1つの測定画素16sに印加し、複数のプリチャージ電圧Vpcを取得する方式であった。本発明はこれに限定するものではない。図93に図示するように、1つのトランジスタ群251sからのプログラム電流を複数の測定画素16sに印加し、プリチャージ電圧Vpcを取得してもよい。   In the above embodiment, a program current from one transistor group 251s is applied to one measurement pixel 16s to obtain a plurality of precharge voltages Vpc. The present invention is not limited to this. As shown in FIG. 93, a precharge voltage Vpc may be obtained by applying a program current from one transistor group 251s to a plurality of measurement pixels 16s.

図93の構成では、トランジスタ群251sのプリチャージ電圧V0〜V5に対応する単位トランジスタ224から構成されている。図93において、トランジスタ群251sの1は、プリチャージ電圧V0を発生させる0個の単位トランジスタ(単位トランジスタ群0)を意味している(実際にはトランジスタ224はない)。トランジスタ群251sの1は、プリチャージ電圧V1を発生させる1個の単位トランジスタ(単位トランジスタ群1)を意味している。同様に、トランジスタ群251sの8は、プリチャージ電圧V2を発生させる8個の単位トランジスタ(単位トランジスタ群8)を意味している。以下同様に、トランジスタ群251sの32は、プリチャージ電圧V3を発生させる32個の単位トランジスタの集合(単位トランジスタ群32)を意味し、トランジスタ群251sの128は、プリチャージ電圧V4を発生させる128個の単位トランジスタの集合(単位トランジスタ群128)を意味し、トランジスタ群251sの255は、プリチャージ電圧V5を発生させる255個の単位トランジスタの集合(単位トランジスタ群255)を意味する。   93 includes unit transistors 224 corresponding to precharge voltages V0 to V5 of the transistor group 251s. In FIG. 93, 1 in the transistor group 251s means 0 unit transistors (unit transistor group 0) that generate the precharge voltage V0 (actually, there is no transistor 224). 1 in the transistor group 251s means one unit transistor (unit transistor group 1) that generates the precharge voltage V1. Similarly, 8 in the transistor group 251s means eight unit transistors (unit transistor group 8) that generate the precharge voltage V2. Similarly, the transistor group 251 s 32 means a group of 32 unit transistors (unit transistor group 32) that generates the precharge voltage V 3, and the transistor group 251 s 128 generates the precharge voltage V 4. This means a set of unit transistors (unit transistor group 128), and 255 in the transistor group 251s means a set of 255 unit transistors (unit transistor group 255) that generates the precharge voltage V5.

トランジスタ群251s1はプログラム電流I1を出力する。トランジスタ群251s8はプログラム電流I8を出力する。同様に、トランジスタ群251s32はプログラム電流I32を出力し、 トランジスタ群251s128はプログラム電流I128を出力し、トランジスタ群251s255はプログラム電流I255を出力する。   The transistor group 251s1 outputs a program current I1. The transistor group 251s8 outputs a program current I8. Similarly, the transistor group 251s32 outputs a program current I32, the transistor group 251s128 outputs a program current I128, and the transistor group 251s255 outputs a program current I255.

単位トランジスタ群0だけは特殊で、単位トランジスタは配置されておらず、プリチャージ電圧V0を測定する電圧測定回路1701aがソース信号線18s0に接続されている。また、測定画素16s0が接続されている。測定画素16s0はプリチャージ電圧V0に対応する電圧をソース信号線18s0に設定し、電圧測定回路1701aはプリチャージ電圧V0を測定し出力する。   Only the unit transistor group 0 is special, no unit transistor is arranged, and a voltage measurement circuit 1701a for measuring the precharge voltage V0 is connected to the source signal line 18s0. A measurement pixel 16s0 is connected. The measurement pixel 16s0 sets a voltage corresponding to the precharge voltage V0 to the source signal line 18s0, and the voltage measurement circuit 1701a measures and outputs the precharge voltage V0.

単位トランジスタ群1は、単位トランジスタが1個形成または配置されている。もしくは、階調1に該当するプログラム電流が出力できるように構成されている。単位トランジスタ群1には、プリチャージ電圧V1を測定する電圧測定回路1701bがソース信号線18s1に接続されている。また、測定画素16s1が接続されている。測定画素16s1は、階調1に対応するプログラム電流の印加により、プリチャージ電圧V1に対応する電圧をソース信号線18s1に設定あるいは調整あるいは動作し、電圧測定回路1701bはプリチャージ電圧V1を測定し出力する。   In the unit transistor group 1, one unit transistor is formed or arranged. Alternatively, a program current corresponding to gradation 1 can be output. In the unit transistor group 1, a voltage measurement circuit 1701b for measuring the precharge voltage V1 is connected to the source signal line 18s1. A measurement pixel 16s1 is connected. The measurement pixel 16s1 sets, adjusts, or operates the voltage corresponding to the precharge voltage V1 on the source signal line 18s1 by applying the program current corresponding to the gradation 1, and the voltage measurement circuit 1701b measures the precharge voltage V1. Output.

単位トランジスタ群8は、単位トランジスタが8個形成または配置されている。もしくは、階調8に該当するプログラム電流が出力できるように構成されている。たとえば、単位トランジスタの8倍のチャンネル幅を有するトランジスタが1個形成されている。ただし、トランジスタ群251sもトランジスタ251cと同様に同一の単位トランジスタの集合で構成するほうが、バラツキが少なく遊離である。   In the unit transistor group 8, eight unit transistors are formed or arranged. Alternatively, a program current corresponding to gradation 8 can be output. For example, one transistor having a channel width eight times that of a unit transistor is formed. However, similarly to the transistor 251c, the transistor group 251s is configured with the same set of unit transistors with less variation and is free.

単位トランジスタ群8には、プリチャージ電圧V2を測定する電圧測定回路1701cがソース信号線18s2に接続されている。また、測定画素16s2が接続されている。測定画素16s2は、階調8に対応するプログラム電流の印加により、プリチャージ電圧V2に対応する電圧をソース信号線18s2に設定あるいは調整あるいは動作し、電圧測定回路1701cはプリチャージ電圧V2を測定し出力する。   In the unit transistor group 8, a voltage measurement circuit 1701c for measuring the precharge voltage V2 is connected to the source signal line 18s2. A measurement pixel 16s2 is connected. The measurement pixel 16s2 sets, adjusts or operates a voltage corresponding to the precharge voltage V2 on the source signal line 18s2 by applying a program current corresponding to the gradation 8, and the voltage measurement circuit 1701c measures the precharge voltage V2. Output.

同様に、単位トランジスタ群32には、プリチャージ電圧V3を測定する電圧測定回路1701dがソース信号線18s3に接続されている。また、測定画素16s3が接続されている。測定画素16s3は、階調32に対応するプログラム電流の印加により、プリチャージ電圧V3に対応する電圧をソース信号線18s3に設定あるいは調整あるいは動作し、電圧測定回路1701dはプリチャージ電圧V3を測定し出力する。   Similarly, in the unit transistor group 32, a voltage measurement circuit 1701d for measuring the precharge voltage V3 is connected to the source signal line 18s3. A measurement pixel 16s3 is connected. The measurement pixel 16s3 sets, adjusts or operates the voltage corresponding to the precharge voltage V3 on the source signal line 18s3 by applying the program current corresponding to the gradation 32, and the voltage measurement circuit 1701d measures the precharge voltage V3. Output.

同様に、単位トランジスタ群32には、プリチャージ電圧V3を測定する電圧測定回路1701dがソース信号線18s3に接続されている。また、測定画素16s3が接続されている。測定画素16s3は、階調32に対応するプログラム電流の印加により、プリチャージ電圧V3に対応する電圧をソース信号線18s3に設定あるいは調整あるいは動作し、電圧測定回路1701dはプリチャージ電圧V3を測定し出力する。   Similarly, in the unit transistor group 32, a voltage measurement circuit 1701d for measuring the precharge voltage V3 is connected to the source signal line 18s3. A measurement pixel 16s3 is connected. The measurement pixel 16s3 sets, adjusts or operates the voltage corresponding to the precharge voltage V3 on the source signal line 18s3 by applying the program current corresponding to the gradation 32, and the voltage measurement circuit 1701d measures the precharge voltage V3. Output.

単位トランジスタ群128には、プリチャージ電圧V4を測定する電圧測定回路1701eがソース信号線18s4に接続されている。また、測定画素16s4が接続されている。測定画素16s4は、階調128に対応するプログラム電流I128の印加により、プリチャージ電圧V4に対応する電圧をソース信号線18s4に設定あるいは調整あるいは動作し、電圧測定回路1701eはプリチャージ電圧V4を測定し出力する。   In the unit transistor group 128, a voltage measurement circuit 1701e for measuring the precharge voltage V4 is connected to the source signal line 18s4. A measurement pixel 16s4 is connected. The measurement pixel 16s4 sets, adjusts, or operates the voltage corresponding to the precharge voltage V4 on the source signal line 18s4 by applying the program current I128 corresponding to the gradation 128, and the voltage measurement circuit 1701e measures the precharge voltage V4. And output.

同様に、単位トランジスタ群255には、プリチャージ電圧V5を測定する電圧測定回路1701fがソース信号線18s5に接続されている。また、測定画素16s5が接続されている。測定画素16s5は、階調255に対応するプログラム電流I255の印加により、プリチャージ電圧V5に対応する電圧をソース信号線18s5に設定あるいは調整あるいは動作し、電圧測定回路1701fはプリチャージ電圧V5を測定し出力する。   Similarly, in the unit transistor group 255, a voltage measurement circuit 1701f for measuring the precharge voltage V5 is connected to the source signal line 18s5. A measurement pixel 16s5 is connected. The measurement pixel 16s5 sets, adjusts or operates the voltage corresponding to the precharge voltage V5 on the source signal line 18s5 by applying the program current I255 corresponding to the gradation 255, and the voltage measurement circuit 1701f measures the precharge voltage V5. And output.

図93は、プリチャージ電圧V0〜V5の場合であったが、本発明はV0〜V5に限定するものではない。図94に図示するようにプリチャージ電圧V0〜V8としてもよい。他の構成は、図93と同様であるので説明を省略する。   FIG. 93 shows the case of precharge voltages V0 to V5, but the present invention is not limited to V0 to V5. As shown in FIG. 94, precharge voltages V0 to V8 may be used. Other configurations are the same as those in FIG.

以上の実施例では、ソース信号線18sおよび測定画素16sを形成し、ソース信号線18sにプログラム電流を印加して、ソース信号線18sの電位を電圧測定回路1701で測定するものであった。しかし、本発明はこれに限定するものではない。たとえば、表示領域64に形成されたソース信号線18および画素16にプログラム電流を印加し、ソース信号線18の電位を測定してプリチャージ電圧Vpcを取得してよい。   In the above embodiment, the source signal line 18s and the measurement pixel 16s are formed, the program current is applied to the source signal line 18s, and the potential of the source signal line 18s is measured by the voltage measurement circuit 1701. However, the present invention is not limited to this. For example, a precharge voltage Vpc may be obtained by applying a program current to the source signal line 18 and the pixel 16 formed in the display region 64 and measuring the potential of the source signal line 18.

この回路構成などを図95に示している。基本的な構成は、以前に説明した構成と同一であり、動作も同一である。単にソース信号線18sをソース信号線18に、測定画素18sを画素16に置き換えればよい。したがって、構成、動作は以前に説明した内容と同一あるいは類似であるため説明は省略する。   FIG. 95 shows this circuit configuration. The basic configuration is the same as the configuration described previously, and the operation is also the same. The source signal line 18s may simply be replaced with the source signal line 18 and the measurement pixel 18s may be replaced with the pixel 16. Therefore, since the configuration and operation are the same as or similar to the contents described previously, the description thereof is omitted.

図95は、これらの構成に加えて、各ソース信号線18から測定されるプリチャージ電圧VpcをスイッチS(Sa、Sb、Sc、・・・・・・・・Sn)により選択する。たとえば、トランジスタ群251c1からプリチャージ電圧Vpcを測定のためのプログラム電流を出力した場合は、スイッチSaを選択し、電圧測定回路1701に印加する。トランジスタ群251c2からプリチャージ電圧Vpcを測定のためのプログラム電流を出力した場合は、スイッチSbを選択し、電圧測定回路1701に印加する。   In FIG. 95, in addition to these configurations, the precharge voltage Vpc measured from each source signal line 18 is selected by a switch S (Sa, Sb, Sc,... Sn). For example, when a program current for measuring the precharge voltage Vpc is output from the transistor group 251c1, the switch Sa is selected and applied to the voltage measurement circuit 1701. When a program current for measuring the precharge voltage Vpc is output from the transistor group 251c2, the switch Sb is selected and applied to the voltage measurement circuit 1701.

もちろん、すべてのソース信号線18あるいは、複数のソース信号線18にプリチャージ電圧Vpcを測定するためのプログラム電流を印加した場合は、該当するソース信号線に接続さえたスイッチSを選択してあるいは、順次選択して電圧測定回路1701に印加する。   Of course, when a program current for measuring the precharge voltage Vpc is applied to all the source signal lines 18 or a plurality of source signal lines 18, the switch S connected to the corresponding source signal line is selected or Are sequentially selected and applied to the voltage measuring circuit 1701.

スイッチSの選択は1つに限定されるものではない。複数のスイッチSを同時に選択し、電圧測定回路1701に印加してもよい。たとえば、すべてのトランジスタ群251cから階調1に対応するプログラム電流を出力し、ゲート信号線17aを選択して、階調1のプログラム電流を印加したソース信号線18に接続された画素16の駆動用トランジスタ11aを動作させる。各画素16の駆動用トランジスタ11aは各ソース信号線18に階調1に対応するプログラム電流を出力する。このとき、階調1のプログラム電流を印加したソース信号線18に接続されたスイッチをクローズする。すると、各ソース信号線は電圧配線1851で短絡される。したがって、各ソース信号線18の電位は同一電圧になる。この同一電圧となった電圧V1は、各ソース信号線18の階調1のプリチャージ電圧Vpcを平均化した値となる。したがって、電圧配線1851のプリチャージ電圧V1を電圧測定回路17101で測定すれば、良好なプリチャージ電圧V1を取得することができる。他の階調のプリチャージ電圧Vpcの測定にあっても同様である。   The selection of the switch S is not limited to one. A plurality of switches S may be selected simultaneously and applied to the voltage measurement circuit 1701. For example, the program current corresponding to the gradation 1 is output from all the transistor groups 251c, the gate signal line 17a is selected, and the pixel 16 connected to the source signal line 18 to which the gradation 1 program current is applied is driven. The transistor 11a is operated. The driving transistor 11 a of each pixel 16 outputs a program current corresponding to the gradation 1 to each source signal line 18. At this time, the switch connected to the source signal line 18 to which the program current of gradation 1 is applied is closed. Then, each source signal line is short-circuited by the voltage wiring 1851. Therefore, the potential of each source signal line 18 becomes the same voltage. The voltage V1 having the same voltage is a value obtained by averaging the precharge voltage Vpc of gradation 1 of each source signal line 18. Therefore, if the precharge voltage V1 of the voltage wiring 1851 is measured by the voltage measurement circuit 17101, a good precharge voltage V1 can be obtained. The same applies to the measurement of the precharge voltage Vpc of other gradations.

以上の実施例では、すべてのソース信号線18に階調に対応するプログラム電流を印加し、すべてのスイッチSをクローズさせてプリチャージ電圧Vpcを取得するとしたが、これに限定するものではない。任意の複数のソース信号線18に階調に対応するプログラム電流を印加し、前記選択した任意のスイッチSをクローズさせてプリチャージ電圧Vpcを取得してもよいことは言うまでもない。   In the above embodiment, the program current corresponding to the gradation is applied to all the source signal lines 18 and all the switches S are closed to acquire the precharge voltage Vpc. However, the present invention is not limited to this. Needless to say, the program current corresponding to the gradation may be applied to any of the plurality of source signal lines 18, and the selected switch S may be closed to obtain the precharge voltage Vpc.

すべてのソース信号線18に同一の階調に対応するプログラム電流を印加する必要はない。たとえば、奇数番目に位置するトランジスタ群251には、階調1に対応するプログラム電流を印加し、偶数番目に位置するトランジスタ群251には、階調32に対応するプログラム電流を印加し、奇数番目に位置するソース信号線18に接続されたスイッチをクローズして、階調1に対応するプリチャージ電圧V1を測定し、偶数番目に位置するソース信号線18に接続されたスイッチをクローズして、階調32に対応するプリチャージ電圧V3を測定するとしてもよい。   It is not necessary to apply a program current corresponding to the same gradation to all the source signal lines 18. For example, a program current corresponding to gradation 1 is applied to the odd-numbered transistor group 251, and a program current corresponding to gradation 32 is applied to the even-numbered transistor group 251. The switch connected to the source signal line 18 located at is closed, the precharge voltage V1 corresponding to the gradation 1 is measured, the switch connected to the even numbered source signal line 18 is closed, The precharge voltage V3 corresponding to the gradation 32 may be measured.

ソース信号線18の選択数と、選択するスイッチの個数とが一致している必要はない。プログラム電流を印加するソース信号線18が32本であっても、そのうち、16本のソース信号線18に接続されたスイッチを選択してクローズ動作させてもよい。   It is not necessary that the number of source signal lines 18 selected matches the number of switches to be selected. Even if there are 32 source signal lines 18 to which a program current is applied, a switch connected to 16 source signal lines 18 may be selected and closed.

また、各ソース信号線18に印加する階調に対応するプログラム電流は、順次変化させ、順次プリチャージ電圧Vpcを測定していってもよいことは言うまでもない。また、1つのソース信号線18を固定して特定の階調のプリチャージ電圧Vpcを測定するよりは、周期的に変化させて各プリチャージ電圧Vpcを測定するように構成あるいは動作させることが好ましい。   Needless to say, the program current corresponding to the gradation applied to each source signal line 18 may be sequentially changed and the precharge voltage Vpc may be measured sequentially. Rather than measuring one precharge voltage Vpc of a specific gradation with one source signal line 18 fixed, it is preferable to configure or operate each precharge voltage Vpc by changing it periodically. .

また、測定するプリチャージ電圧Vpcは、階調ごとに測定期間あるいはウエイト期間を異なられることが好ましい。V1電圧は、プログラム電流が小さいためソース信号線18の電位変化が完了するのに時間を必要とするからである。階調255に対応するV5電圧は、プログラム電流が大きいためソース信号線18の電位変化は短時間で完了するので、ウエイト時間はほとんど必要ない。   Further, it is preferable that the precharge voltage Vpc to be measured has a different measurement period or wait period for each gradation. This is because the V1 voltage requires time to complete the potential change of the source signal line 18 because the program current is small. Since the V5 voltage corresponding to the gradation 255 has a large program current, the potential change of the source signal line 18 is completed in a short time, so that almost no wait time is required.

図95の実施例では、表示領域64の画素16を用いて、プリチャージ電圧Vpcを測定する。したがって、画像表示させている期間には、プリチャージ電圧Vpcを測定できない。ただし、表示画像の階調のプログラム電流が、プリチャージ電圧Vpcを取得するためのプログラム電流と一致している時は、プリチャージ電圧Vpcを取得できることは言うまでもない。   In the embodiment of FIG. 95, the precharge voltage Vpc is measured using the pixels 16 in the display area 64. Therefore, the precharge voltage Vpc cannot be measured during the image display period. However, it goes without saying that the precharge voltage Vpc can be acquired when the program current of the gradation of the display image matches the program current for acquiring the precharge voltage Vpc.

基本的は、プリチャージ電圧Vpcの取得は、図96に図示するように、1フィールドまたは1フレームのブランキング期間あるいは、1水平走査期間のブランキング期間に実施する。ブランキング期間に、プリチャージ電圧Vpcに該当するプログラム電流をソース信号線18に印加し、電圧測定回路1710でプリチャージ電圧Vpcを測定する。   Basically, the precharge voltage Vpc is acquired in a blanking period of one field or one frame or a blanking period of one horizontal scanning period as shown in FIG. In the blanking period, a program current corresponding to the precharge voltage Vpc is applied to the source signal line 18 and the voltage measurement circuit 1710 measures the precharge voltage Vpc.

また、図97に図示するように、画像表示を行う前、つまり、表示装置の電源をオンし、画像表示を行うまえに、リチャージ電圧に該当するプログラム電流をソース信号線18に印加し、電圧測定回路1710でプリチャージ電圧Vpcを測定する。また、一度測定した、プリチャージ電圧Vpcはデジタル化して表示装置のメモリに格納し、次回からはこの格納したデジタルデータを用いてプリチャージ電圧Vpcを発生させてもよい。   In addition, as shown in FIG. 97, before the image display is performed, that is, before the display device is turned on and the image display is performed, the program current corresponding to the recharge voltage is applied to the source signal line 18 to The precharge voltage Vpc is measured by the measurement circuit 1710. Alternatively, the precharge voltage Vpc measured once may be digitized and stored in the memory of the display device, and the precharge voltage Vpc may be generated from the next time using the stored digital data.

図97の実施例では、画像表示を行う前に、プリチャージ電圧Vpcを測定するとしたが、これに限定するものではない。たとえば、表示装置の電源をオフする前に、プリチャージ電圧Vpcを測定し、測定したデータをフラシュメモリに書き込んで保持してよい。つまり、本発明はプリチャージ電圧Vpcの測定は、何らかのタイミングにおいて測定し、測定したプリチャージ電圧Vpcを使用するものであればいずれでもよい。   In the embodiment of FIG. 97, the precharge voltage Vpc is measured before image display, but the present invention is not limited to this. For example, before turning off the power of the display device, the precharge voltage Vpc may be measured, and the measured data may be written and held in the flash memory. In other words, in the present invention, the precharge voltage Vpc may be measured as long as it is measured at some timing and the measured precharge voltage Vpc is used.

なお、以上の事項は、図75から図94で説明した構成などにも適用できることは言うまでもない。また、図75から図94で説明した事項は図95にも適用できることは言うまでもない。   Needless to say, the above items can also be applied to the configuration described with reference to FIGS. Needless to say, the items described in FIGS. 75 to 94 can be applied to FIG.

本発明の実施例において、電圧測定回路1701は、ソース信号線18の電圧を測定するとした。しかし、本発明はこれに限定するものではない。ソース信号線18に限定されず、擬似的にソース信号線18のように電位変化を発生できるものであればいずれのものでもよい。たとえば、別途形成した配線でもよい。また、測定画素16sの駆動用トランジスタ11aのゲート端子と電圧測定回路1710とを直接結線するように構成してもよい。   In the embodiment of the present invention, the voltage measurement circuit 1701 measures the voltage of the source signal line 18. However, the present invention is not limited to this. The source signal line 18 is not limited, and any source signal line 18 that can generate a potential change in a pseudo manner may be used. For example, wiring formed separately may be used. Further, the gate terminal of the driving transistor 11a of the measurement pixel 16s and the voltage measurement circuit 1710 may be directly connected.

また、ソース信号線18などの電位を測定することに限定するものではなく、ソース信号線18の電荷、あるいは電界からプリチャージ電圧Vpcを求めるものであってもよい。あるいは、これらの変化速度からプリチャージ電圧Vpcを求めるものであってもよい。   Further, the present invention is not limited to measuring the potential of the source signal line 18 or the like, and the precharge voltage Vpc may be obtained from the charge of the source signal line 18 or the electric field. Alternatively, the precharge voltage Vpc may be obtained from these change rates.

以上の実施例では、1つの測定画素16sにプログラム電流を印加し、ソース信号線18の電位を電圧測定回路1701で測定するものであった。本発明はこれに限定するものでなない。たとえば、図98に図示するように、複数の画素16(16a〜16n)を動作させ、各ソース信号線18の電圧を電圧測定回路1701で測定させてもよい。   In the above embodiment, the program current is applied to one measurement pixel 16 s and the potential of the source signal line 18 is measured by the voltage measurement circuit 1701. The present invention is not limited to this. For example, as shown in FIG. 98, a plurality of pixels 16 (16a to 16n) may be operated, and the voltage of each source signal line 18 may be measured by the voltage measurement circuit 1701.

図98では、表示画素16に各トランジスタ群251cからプログラム電流を印加し、また、表示画素16の駆動用トランジスタ11aを動作させる。たとえば、トランジスタ群251caは、画素16aに所定の測定すべきプリチャージ電圧Vpcに対応するプログラム電流を印加する。画素16aの駆動用トランジスタ11aはプリチャージ電流を流し、ソース信号線18aはプログラム電流に該当する電圧に充電または放電される。   In FIG. 98, a program current is applied to the display pixel 16 from each transistor group 251c, and the driving transistor 11a of the display pixel 16 is operated. For example, the transistor group 251ca applies a program current corresponding to a predetermined precharge voltage Vpc to be measured to the pixel 16a. The driving transistor 11a of the pixel 16a passes a precharge current, and the source signal line 18a is charged or discharged to a voltage corresponding to the program current.

また、トランジスタ群251cbは、画素16bに所定の測定すべきプリチャージ電圧Vpcに対応するプログラム電流を印加する。画素16bの駆動用トランジスタ11aはプリチャージ電流を流し、ソース信号線18bはプログラム電流に該当する電圧に充電または放電される。以下、同様に、トランジスタ群251ccは、画素16cに所定の測定すべきプリチャージ電圧Vpcに対応するプログラム電流を印加する。画素16cの駆動用トランジスタ11aはプリチャージ電流を流し、ソース信号線18cはプログラム電流に該当する電圧に充電または放電される。   The transistor group 251cb applies a program current corresponding to a predetermined precharge voltage Vpc to be measured to the pixel 16b. The driving transistor 11a of the pixel 16b passes a precharge current, and the source signal line 18b is charged or discharged to a voltage corresponding to the program current. Similarly, the transistor group 251cc applies a program current corresponding to a predetermined precharge voltage Vpc to be measured to the pixel 16c. The driving transistor 11a of the pixel 16c passes a precharge current, and the source signal line 18c is charged or discharged to a voltage corresponding to the program current.

電圧測定回路1701は、スイッチSaをクローズすることにより、ソース信号線18aに保持されたプリチャージ電圧Vpcを測定する。また、スイッチSbをクローズすることにより、ソース信号線18bに保持されたプリチャージ電圧Vpcを測定する。以下、同様に、スイッチScをクローズすることにより、ソース信号線18cに保持されたプリチャージ電圧Vpcを測定する。   The voltage measurement circuit 1701 measures the precharge voltage Vpc held in the source signal line 18a by closing the switch Sa. Further, the precharge voltage Vpc held in the source signal line 18b is measured by closing the switch Sb. Hereinafter, similarly, the precharge voltage Vpc held in the source signal line 18c is measured by closing the switch Sc.

また、電圧測定回路1701は、同時に複数のスイッチS(Sa〜Sn)のいずれかを選択する。複数のスイッチSを選択することにより、選択された複数のソース信号線18に保持されたプリチャージ電圧Vpcが平均化し、表示領域の駆動用トランジスタ11aの特性を反映したプリチャージ電圧Vpcを測定できるようになる。   In addition, the voltage measurement circuit 1701 selects any one of the plurality of switches S (Sa to Sn) at the same time. By selecting the plurality of switches S, the precharge voltage Vpc held in the selected plurality of source signal lines 18 is averaged, and the precharge voltage Vpc reflecting the characteristics of the driving transistor 11a in the display region can be measured. It becomes like this.

以上のように、本発明は、複数の画素16を選択し、各ソース信号線18に保持されたプリチャージ電圧Vpcを測定してもよい。また、複数のソース信号線18を選択してプリチャージ電圧Vpcを測定してもよい。また、1つあるいは複数の画素16にn倍(nは1以上の整数)のプログラム電流を印加し、前記画素16の駆動用トランジスタ11aを動作させて、ソース信号線18を充放電させ、このソース信号線18の電位を測定してもよい。測定したソース信号線18の電位は、演算処理などによりプリチャージ電圧Vpcを取得する。   As described above, the present invention may select a plurality of pixels 16 and measure the precharge voltage Vpc held in each source signal line 18. Further, the precharge voltage Vpc may be measured by selecting a plurality of source signal lines 18. Further, a program current of n times (n is an integer of 1 or more) is applied to one or a plurality of pixels 16 to operate the driving transistor 11a of the pixels 16 to charge / discharge the source signal line 18. The potential of the source signal line 18 may be measured. The measured potential of the source signal line 18 obtains the precharge voltage Vpc by arithmetic processing or the like.

本発明は、ソース信号線18の電位(内部配線222の電位)を測定することにより、プリチャージ電圧Vpcを取得する。しかし、電圧測定回路1710で測定された(取得された)プリチャージ電圧Vpcはそのままプリチャージ電圧Vpcとして、使用できない場合がある。たとえば、0階調あるいは1階調に該当するプリチャージ電圧Vpcは、完全な黒表示を実現するため、トランジスタ群251から0階調または1階調に該当するプリチャージ電流を印加して取得したプリチャージ電圧Vpcよりもアノード側に寄せる(アノード電圧に近い方にシフトさせる)必要がある(駆動用トランジスタ11aがPチャンネルトランジスタの場合で、前記トランジスタのソース端子がアノード端子に接続されている場合)。   In the present invention, the precharge voltage Vpc is obtained by measuring the potential of the source signal line 18 (the potential of the internal wiring 222). However, the precharge voltage Vpc measured (obtained) by the voltage measurement circuit 1710 may not be used as it is as the precharge voltage Vpc. For example, the precharge voltage Vpc corresponding to 0 gradation or 1 gradation is obtained by applying a precharge current corresponding to 0 gradation or 1 gradation from the transistor group 251 in order to realize complete black display. When the precharge voltage Vpc needs to be closer to the anode side (shifted closer to the anode voltage) (when the driving transistor 11a is a P-channel transistor and the source terminal of the transistor is connected to the anode terminal) ).

以上の課題を解決する方式を、図99に図示している。電圧測定回路1701で測定されたプリチャージ電圧Vpcは、AD変換回路1711でデジタルデータMDATAに変換される。一方、どの程度アノード電圧側に電位シフトするかであるデータHDATAはラッチ回路351に保持されている。   A system for solving the above problems is shown in FIG. The precharge voltage Vpc measured by the voltage measurement circuit 1701 is converted into digital data MDATA by the AD conversion circuit 1711. On the other hand, data HDATA indicating how much the potential is shifted to the anode voltage side is held in the latch circuit 351.

演算回路1931はHDATAとMDATAとを加算し、目標のVDATAが得られる。VDATAがDA変換されて、アナログデータとなり、電子ボリウム291などに印加される。なお、HDATAとMDATAとを加算するとしたが、場合によっては減算により、VDATAを求める場合もある。また、HDATAあるいはMDATAに一定の割合で重み付け処理をしてVDATAを求めてもよいことは言うまでもない。以上の事項は本発明の他の実施例にも適用されることはいうまでもない。   The arithmetic circuit 1931 adds HDATA and MDATA to obtain a target VDATA. VDATA is D / A converted into analog data and applied to the electronic volume 291 or the like. Note that although HDATA and MDATA are added, VDATA may be obtained by subtraction in some cases. It goes without saying that VDATA may be obtained by weighting HDATA or MDATA at a constant rate. It goes without saying that the above matters also apply to other embodiments of the present invention.

以上の場合は、測定データなどをデジタル信号処理する方法である。しかし、本発明はこれに限定するものではない。図100に図示するようにアナログ的に処理を実施してもよい。電圧測定回路1701で測定されたプリチャージ電圧Vpcは、アナログデータMDATAとして演算回路1931に印加される。一方、どの程度アノード電圧側に電位シフトするかを示すデータHDATAは、可変抵抗VRで発生される。この場合、HDATAはアナログ値である。演算回路1931はHDATAとMDATAとを加算し、目標のVDATAが得られる。VDATAがDA変換されて、アナログデータとなり、電子ボリウム291などに印加される。   In the above case, the method is a method of digitally processing measurement data and the like. However, the present invention is not limited to this. As shown in FIG. 100, the processing may be performed in an analog manner. The precharge voltage Vpc measured by the voltage measurement circuit 1701 is applied to the arithmetic circuit 1931 as analog data MDATA. On the other hand, data HDATA indicating how much the potential is shifted to the anode voltage side is generated by the variable resistor VR. In this case, HDATA is an analog value. The arithmetic circuit 1931 adds HDATA and MDATA to obtain a target VDATA. VDATA is D / A converted into analog data and applied to the electronic volume 291 or the like.

図99、図100などのHDATA、VDATAは温度により可変してもよい。また、パネルの表示輝度に応じて変化させてもよい。温度は温度センサで検出し、表示輝度は、アノードに流れる電流により検出する。   HDATA and VDATA shown in FIGS. 99 and 100 may be varied depending on the temperature. Moreover, you may change according to the display brightness | luminance of a panel. The temperature is detected by a temperature sensor, and the display brightness is detected by a current flowing through the anode.

プリチャージ電圧V0〜V5は、対応するプログラム電流を、画素16に印加することにより取得する。図101では、トランジスタ群251cbよりプログラム電流を出力し、画素16が動作する。プログラム電流は、電圧V0に相当する電流を出力し、電圧測定回路1701は電圧V0を測定し、出力する。次にトランジスタ群251cbは、電圧V1に相当するプログラム電流を出力し、電圧測定回路1701は電圧V1を測定し出力する。同様に、トランジスタ群251cbは、電圧V2に相当するプログラム電流を出力し、電圧測定回路1701は電圧V2を測定し出力する。以上の動作をV5まで繰り返し、V5まで実施すると、再びV0より実施する。   The precharge voltages V0 to V5 are acquired by applying a corresponding program current to the pixel 16. In FIG. 101, a program current is output from the transistor group 251cb, and the pixel 16 operates. As the program current, a current corresponding to the voltage V0 is output, and the voltage measuring circuit 1701 measures and outputs the voltage V0. Next, the transistor group 251cb outputs a program current corresponding to the voltage V1, and the voltage measurement circuit 1701 measures and outputs the voltage V1. Similarly, the transistor group 251cb outputs a program current corresponding to the voltage V2, and the voltage measurement circuit 1701 measures and outputs the voltage V2. When the above operation is repeated up to V5 and executed up to V5, the operation is executed again from V0.

図101は、電圧測定回路1701は端子93bと接続されている。トランジスタ群251cbは端子93bと接続されている。端子93bはアレイ基板30の電極382aと接触し、電気的接続が取られている。端子93bはアレイ基板30の電極382bと接触し、電気的接続が取られている。図85などでは、電圧測定回路1701の端子とトランジスタ群251の端子93sは共通である。図101ではトランジスタ群251cの端子93bと、電圧測定回路1701の端子93bは分離されている。図101のように構成すれば、端子数93は増加するが、電圧測定回路1701とトランジスタ群251cとを分離して検査を行うことができる。   In FIG. 101, the voltage measurement circuit 1701 is connected to the terminal 93b. The transistor group 251cb is connected to the terminal 93b. The terminal 93b is in contact with the electrode 382a of the array substrate 30 and is electrically connected. The terminal 93b is in contact with the electrode 382b of the array substrate 30 and is electrically connected. In FIG. 85 and the like, the terminal of the voltage measurement circuit 1701 and the terminal 93s of the transistor group 251 are common. In FIG. 101, the terminal 93b of the transistor group 251c and the terminal 93b of the voltage measurement circuit 1701 are separated. If the configuration is as shown in FIG. 101, the number of terminals 93 increases, but the voltage measurement circuit 1701 and the transistor group 251c can be separated and inspected.

以上の実施例は、電圧測定手段1701でプリチャージ電圧Vpcを測定するものであった。電圧測定回路1701の概念には、図102で図示するように、サンプルホールド回路も含まれる。一例としてのサンプルホールド回路は、スイッチS1、S2、コンデンサC、オペアンプ231で構成されている。   In the above embodiment, the precharge voltage Vpc is measured by the voltage measuring means 1701. The concept of the voltage measurement circuit 1701 includes a sample and hold circuit as illustrated in FIG. The sample hold circuit as an example includes switches S 1 and S 2, a capacitor C, and an operational amplifier 231.

図102に図示するように、トランジスタ251cから出力されたプログラム電流は、内部配線222、端子93を通じてソース信号線18に印加され、画素16に供給される。ソース信号線18にプログラム電流に対応したプリチャージ電圧Vpcが出力され、プリチャージ電圧Vpcは内部配線222に印加させる。スイッチS2が閉じることによりプリチャージ電圧VpcはコンデンサCに印加され、その後、スイッチS2が閉じてもプリチャージ電圧Vpcは保持される。プリチャージ電圧Vpcはオペアンプ231により低インピーダンス化されて出力される。スイッチS1が閉じることによりプリチャージ電圧VpcはCnに保持される。保持されたプリチャージ電圧Vpcは電子ボリウム291などに印加される。以上のような構成あるいは方式も電圧測定回路である。   As shown in FIG. 102, the program current output from the transistor 251 c is applied to the source signal line 18 through the internal wiring 222 and the terminal 93 and is supplied to the pixel 16. A precharge voltage Vpc corresponding to the program current is output to the source signal line 18, and the precharge voltage Vpc is applied to the internal wiring 222. When the switch S2 is closed, the precharge voltage Vpc is applied to the capacitor C. Thereafter, even when the switch S2 is closed, the precharge voltage Vpc is maintained. The precharge voltage Vpc is reduced in impedance by the operational amplifier 231 and output. By closing the switch S1, the precharge voltage Vpc is held at Cn. The held precharge voltage Vpc is applied to the electronic volume 291 or the like. The above configuration or method is also a voltage measurement circuit.

以上の構成は、トランジスタ群251sなどを半導体チップとして構成したものである。しかし、図103に図示するように、トランジスタ群251c、電圧測定回路1701をアレイ基板30に直接に構成あるいは形成してもよい。また、図103に図示するように画素16あるいは測定画素16sの駆動用トランジスタ11aはPチャンネルトランジスタではなく、Nチャンネルトランジスタであってもよい。   In the above configuration, the transistor group 251s and the like are configured as a semiconductor chip. However, as illustrated in FIG. 103, the transistor group 251 c and the voltage measurement circuit 1701 may be configured or formed directly on the array substrate 30. As shown in FIG. 103, the driving transistor 11a of the pixel 16 or the measurement pixel 16s may be an N-channel transistor instead of a P-channel transistor.

図103に図示するように、トランジスタ群251cから出力されてプリチャージ電流Iにより駆動用トランジスタ11aが動作する。ソース信号線18はプリチャージ電圧Vpcに相当する電圧が印加され、この電圧が、アレイ基板30に形成された電圧測定回路1701により測定される。もちろん、トランジスタ群251cをアレイ基板30に直接形成し、電圧測定回路1701を半導体チップとして構成し、アレイ基板30に実装してもよい。   As shown in FIG. 103, the driving transistor 11a is operated by the precharge current I output from the transistor group 251c. A voltage corresponding to the precharge voltage Vpc is applied to the source signal line 18, and this voltage is measured by a voltage measurement circuit 1701 formed on the array substrate 30. Of course, the transistor group 251c may be formed directly on the array substrate 30, and the voltage measurement circuit 1701 may be configured as a semiconductor chip and mounted on the array substrate 30.

表示パネルでは、RGBのトランジスタ群251cを形成する。プリチャージ電圧VpcもV0は、RGBで共通にできるが、V1〜Vnは別のプリチャージ電圧Vpcに設定する。RGBでプログラム電流に対する発光効率が異なるからである。もちろん、RGBのプログラム電流が同一の時あるいは略一致する場合に、ホワイトバランスがとれるときは、プリチャージ電圧VpcはRGBで共通としてもよい。   In the display panel, an RGB transistor group 251c is formed. As for the precharge voltage Vpc, V0 can be commonly used for RGB, but V1 to Vn are set to different precharge voltages Vpc. This is because the light emission efficiency with respect to the program current differs between RGB. Of course, when the RGB program currents are the same or substantially coincide with each other and the white balance can be achieved, the precharge voltage Vpc may be common to RGB.

RGBでプリチャージ電圧Vpcを異ならせる場合は、図104のように構成する。トランジスタ群251c(251cR、251cG、251cB)はスイッチSa(SaR、SaG、SaB)により選択させて、内部配線222に接続される。スイッチSa、Sbはアナログスイッチやトランジスタが例示される。スイッチSa、Sbは選択手段である。内部配線222は端子93により測定画素16Sに接続されている。したがって、スイッチSa(SaR、SaG、SaB)によりトランジスタ群251c(251cR、251cG、251cB)が選択されて、各トランジスタ群251cからのプログラム電流Iが電圧測定画素16S(または画素16)に印加される。   When different precharge voltages Vpc are used for RGB, the configuration is as shown in FIG. The transistor group 251c (251cR, 251cG, 251cB) is selected by the switch Sa (SaR, SaG, SaB) and connected to the internal wiring 222. The switches Sa and Sb are exemplified by analog switches and transistors. The switches Sa and Sb are selection means. The internal wiring 222 is connected to the measurement pixel 16S by a terminal 93. Therefore, the transistor group 251c (251cR, 251cG, 251cB) is selected by the switch Sa (SaR, SaG, SaB), and the program current I from each transistor group 251c is applied to the voltage measurement pixel 16S (or pixel 16). .

トランジスタ群251cRからのプログラム電流はスイッチSaRがクローズすることにより、測定画素16Sに印加される。スイッチSaRがクローズする時は、スイッチSbRがクローズし、ソース信号線18の電位がRの電圧測定回路1701Rに印加され、電圧測定回路1701Rはプリチャージ電圧V0R〜VmR(mはプリチャージ電圧Vpcの最大番号値)を測定あるいは取得する。   The program current from the transistor group 251cR is applied to the measurement pixel 16S when the switch SaR is closed. When the switch SaR is closed, the switch SbR is closed and the potential of the source signal line 18 is applied to the voltage measurement circuit 1701R of R, and the voltage measurement circuit 1701R is precharge voltages V0R to VmR (m is the precharge voltage Vpc). Measure or get the maximum number).

トランジスタ群251cGからのプログラム電流はスイッチSaGがクローズすることにより、測定画素16Sに印加される。スイッチSaGがクローズする時は、スイッチSbGがクローズし、ソース信号線18の電位がGの電圧測定回路1701Gに印加され、電圧測定回路1701Gはプリチャージ電圧V0G〜VmGを測定あるいは取得する。   The program current from the transistor group 251cG is applied to the measurement pixel 16S when the switch SaG is closed. When the switch SaG is closed, the switch SbG is closed and the potential of the source signal line 18 is applied to the G voltage measurement circuit 1701G, and the voltage measurement circuit 1701G measures or acquires the precharge voltages V0G to VmG.

トランジスタ群251cBからのプログラム電流はスイッチSaBがクローズすることにより、測定画素16Sに印加される。スイッチSaBがクローズする時は、スイッチSbBがクローズし、ソース信号線18の電位がBの電圧測定回路1701Bに印加され、電圧測定回路1701Bはプリチャージ電圧V0B〜VmBを測定あるいは取得する。   The program current from the transistor group 251cB is applied to the measurement pixel 16S when the switch SaB is closed. When the switch SaB is closed, the switch SbB is closed, the potential of the source signal line 18 is applied to the voltage measurement circuit 1701B of B, and the voltage measurement circuit 1701B measures or acquires the precharge voltages V0B to VmB.

なお、電圧測定回路1701R、1701G、1701Bは、共通にして、1つの電圧測定回路1701で兼用してもよい。また、内部配線222、測定画素16SもRGBごとに分離してもよい。また、図105に図示するように、スイッチSbを形成しなくともよい。   Note that the voltage measurement circuits 1701R, 1701G, and 1701B may be shared and may be shared by one voltage measurement circuit 1701. Further, the internal wiring 222 and the measurement pixel 16S may be separated for each RGB. Also, as shown in FIG. 105, the switch Sb need not be formed.

図106は、RGBでプリチャージ電圧Vpcを異ならせた場合の構成図である。電子ボリウム291にはデジタル化されたプリチャージ電圧Vpcが印加される。電子ボリウム291Rには、プリチャージ電圧V0R〜V5Rが印加される。電子ボリウム291Gには、プリチャージ電圧V0G〜V5Gが印加される。電子ボリウム291Bには、プリチャージ電圧V0B〜V5Bが印加される。なお、プリチャージ電圧Vpcとその構成については、図72などでも説明しているので参照されたい。   FIG. 106 is a configuration diagram in the case where the precharge voltage Vpc is made different between RGB. A digitized precharge voltage Vpc is applied to the electronic volume 291. Precharge voltages V0R to V5R are applied to the electronic volume 291R. Precharge voltages V0G to V5G are applied to the electronic volume 291G. Precharge voltages V0B to V5B are applied to the electronic volume 291B. Note that the precharge voltage Vpc and its configuration are also described in FIG.

トランジスタ群251sから出力するプログラム電流Iはn倍にして出力してもよい。n倍にすることは図9などで説明している。n倍のプログラム電流を印加し、プリチャージ電圧Vpcを取得する場合は、図107に図示するように、測定画素16sも駆動用トランジスタ11aをn個形成する。もしくは、n倍のプログラム電流で、既定のプリチャージ電圧Vpc(画素16が1つの駆動用トランジスタ11aで構成されている場合に取得されるプリチャージ電圧Vpc)が得られるように構成または形成する。   The program current I output from the transistor group 251s may be output after being multiplied by n. The increase to n times is described with reference to FIG. When an n-fold program current is applied and the precharge voltage Vpc is acquired, as shown in FIG. 107, the measurement pixel 16s also forms n driving transistors 11a. Alternatively, a predetermined precharge voltage Vpc (a precharge voltage Vpc acquired when the pixel 16 is configured by one driving transistor 11a) can be obtained by n times the program current.

図107に図示するように、プリチャージ電圧Vpcを測定するための画素16sをn個の駆動用トランジスタ11aで構成することにより、駆動用トランジスタ11aの特性バラツキによるプリチャージ電圧Vpcのバラツキを低減することができる。つまり、プリチャージ電圧Vpcの精度を向上できる。   As shown in FIG. 107, the pixel 16s for measuring the precharge voltage Vpc is configured by n drive transistors 11a, thereby reducing variations in the precharge voltage Vpc due to variations in characteristics of the drive transistors 11a. be able to. That is, the accuracy of the precharge voltage Vpc can be improved.

図107において、トランジスタ251sから出力されたプログラム電流は、内部配線222、端子93を通じてソース信号線18に印加され、画素16sに供給される。画素16sのn個の駆動用トランジスタ11aからソース信号線18にプログラム電流nIに対応したプリチャージ電圧Vpcが出力され、プリチャージ電圧Vpcは内部配線222に印加される。なお、図107ではn=4とし、画素16sには4つの駆動用トランジスタ11aを形成している。   In FIG. 107, the program current output from the transistor 251s is applied to the source signal line 18 through the internal wiring 222 and the terminal 93, and is supplied to the pixel 16s. A precharge voltage Vpc corresponding to the program current nI is output from the n driving transistors 11 a of the pixel 16 s to the source signal line 18, and the precharge voltage Vpc is applied to the internal wiring 222. In FIG. 107, n = 4, and four driving transistors 11a are formed in the pixel 16s.

図107では、4Iのプログラム電流が印加させ、4個の駆動用トランジスタ11aが動作する。したがって、個々の駆動用トランジスタ11aはIの大きさのプログラム電流を流すことになる。トランジスタ群251cからは4Iのプログラム電流を出力するが、1つの駆動用トランジスタ11aはIのプログラム電流を流すことになり、結局、画素16が1個の駆動用トランジスタ11aで構成されている場合に、トランジスタ251cからIのプログラム電流を流し、画素16の駆動用トランジスタ11aがIの電流を流す場合と同一になる。しかし、画素11sには駆動用トランジスタ11aが複数形成されているため、多少駆動用トランジスタ11aにバラツキが発生していても、精度のよりプリチャージ電圧Vpcを取得することができる。他の構成あるいは動作は、本発明の他の実施例と同様であるので説明を省略する。   In FIG. 107, a 4I program current is applied, and the four driving transistors 11a operate. Accordingly, each of the driving transistors 11a passes a program current having a magnitude of I. The transistor group 251c outputs a 4I program current, but one drive transistor 11a passes an I program current. Eventually, when the pixel 16 is composed of one drive transistor 11a. This is the same as the case where the I program current is supplied from the transistor 251c and the drive transistor 11a of the pixel 16 supplies the I current. However, since the plurality of driving transistors 11a are formed in the pixel 11s, the precharge voltage Vpc can be obtained with high accuracy even if the driving transistor 11a has some variation. Other configurations or operations are the same as those of the other embodiments of the present invention, and thus description thereof is omitted.

以上のように本発明は測定画素16sまたは画素16を用いてプリチャージ電圧Vpcを取得する方式である。しかし、課題はプリチャージ電圧Vpcを取得する画素16などに欠陥が発生している場合である。欠陥が発生した画素は正常なプリチャージ電圧Vpcを出力しない。また、プリチャージ電圧Vpcを取得する駆動用トランジスタ11aの特性が異常の場合も問題となる。   As described above, the present invention is a method of acquiring the precharge voltage Vpc using the measurement pixel 16s or the pixel 16. However, the problem is when a defect has occurred in the pixel 16 or the like that obtains the precharge voltage Vpc. A pixel in which a defect has occurred does not output a normal precharge voltage Vpc. Another problem arises when the characteristics of the driving transistor 11a for obtaining the precharge voltage Vpc are abnormal.

本発明はこの課題に対して、プリチャージ電圧Vpcを取得する画素16sを複数個形成し、この複数個の画素16sから正常な画素を選択することにより解決している。図108はその説明図である。図108において、プリチャージ電圧Vpcを取得する測定画素16sが4個形成されている。どの測定画素16sを選択するかは、スイッチS(S1〜S4)により決定される。図108では、スイッチS1がクローズされ、他のスイッチS2〜S4をオープンにすることにより、測定画素16s1が選択される。したがって、トランジスタ群251cからのプログラム電流は測定画素16s1に印加される。   The present invention solves this problem by forming a plurality of pixels 16s for obtaining the precharge voltage Vpc and selecting a normal pixel from the plurality of pixels 16s. FIG. 108 is an explanatory diagram thereof. In FIG. 108, four measurement pixels 16s for obtaining the precharge voltage Vpc are formed. Which measurement pixel 16s is selected is determined by the switch S (S1 to S4). In FIG. 108, the switch S1 is closed and the other switches S2 to S4 are opened, thereby selecting the measurement pixel 16s1. Therefore, the program current from the transistor group 251c is applied to the measurement pixel 16s1.

どの測定画素16sを選択するかは、事前に複数の画素16sの特性を測定し選択しておく。選択した情報はスイッチSのクローズ情報として不揮発性のメモリに保持する。また、デフォルトで選択するスイッチSを決めておく。   Which measurement pixel 16s is selected is determined by measuring the characteristics of the plurality of pixels 16s in advance. The selected information is stored in the nonvolatile memory as the closing information of the switch S. Also, a switch S to be selected by default is determined.

なお、図107のように、n個のスイッチSをクローズさせ、n倍のプログラム電流を印加してもよいことは言うまでもない。また、複数の測定画素16sが正常の場合は、正常な測定画素16sが接続されたスイッチSを順次切り換えてプリチャージ電圧Vpcを取得してもよい。   It goes without saying that n switches S may be closed and n times the program current may be applied as shown in FIG. When the plurality of measurement pixels 16s are normal, the precharge voltage Vpc may be acquired by sequentially switching the switches S to which the normal measurement pixels 16s are connected.

測定画素16sは図109に図示するようにマトリックス状に形成してもよい。また、1画素列あるいは1画素行として形成してもよい。図109は4画素行、6画素列のマトリックス状に測定画素16sを形成した場合を示している。マトリックス状に形成された測定画素16sの構成は、表示領域64の構成と同様である。測定画素16sの画素行方向には、ゲートドライバ回路12sが接続または形成され、測定画素16sの画素列方向には、ソースドライバ回路(IC)14のトランジスタ群251sが接続または形成されている。どの測定画素16sを選択するかは、選択するソース信号線18とゲートドライバ12sの制御により決定される。また、どのソース信号線18のプリチャージ電圧Vpcを測定するかは、電圧測定回路1701の制御により決定される。   The measurement pixels 16s may be formed in a matrix as shown in FIG. Further, it may be formed as one pixel column or one pixel row. FIG. 109 shows a case where the measurement pixels 16s are formed in a matrix of 4 pixel rows and 6 pixel columns. The configuration of the measurement pixels 16 s formed in a matrix is the same as the configuration of the display area 64. A gate driver circuit 12s is connected or formed in the pixel row direction of the measurement pixel 16s, and a transistor group 251s of the source driver circuit (IC) 14 is connected or formed in the pixel column direction of the measurement pixel 16s. Which measurement pixel 16s is selected is determined by the control of the source signal line 18 and the gate driver 12s to be selected. Further, which source signal line 18 is measured for the precharge voltage Vpc is determined by control of the voltage measurement circuit 1701.

ゲートドライバ回路12sがどの測定画素行を選択するかは、ゲートドライバ回路12のST1、CLK1(図11も参照のこと)の制御と同様に、ST3とCLK3により実施される。ゲートドライバ回路12sはゲート信号線17s(ゲート信号線17aと同様の機能を有する)を順次選択し、選択した画素行の駆動用トランジスタ11aを動作させる。   Which measurement pixel row the gate driver circuit 12s selects is implemented by ST3 and CLK3, similarly to the control of ST1 and CLK1 (see also FIG. 11) of the gate driver circuit 12. The gate driver circuit 12s sequentially selects the gate signal line 17s (having the same function as the gate signal line 17a), and operates the driving transistor 11a in the selected pixel row.

もしくは、ゲートドライバ回路12sはあらかじめ指定(決定)されたゲート信号線17s(ゲート信号線17aと同様の機能を有する)を選択し、選択した画素行の駆動用トランジスタ11aを動作させる。この場合はどの測定画素行を選択し、また、どの測定画素を選択するかは、事前に複数の画素16sの特性を測定し選択しておく。選択した情報は不揮発性のメモリに保持する。また、デフォルトで測定画素行あるいは測定画素16sを決めておく。また、ソースドライバ回路(IC)14の制御により、測定画素行にプログラム電流を印加する。   Alternatively, the gate driver circuit 12s selects a gate signal line 17s (having the same function as the gate signal line 17a) designated (determined) in advance, and operates the driving transistor 11a in the selected pixel row. In this case, which measurement pixel row is selected and which measurement pixel is selected are determined by measuring the characteristics of the plurality of pixels 16s in advance. The selected information is held in a nonvolatile memory. In addition, a measurement pixel row or a measurement pixel 16s is determined by default. Further, a program current is applied to the measurement pixel row under the control of the source driver circuit (IC) 14.

図107と同様に、n個の測定画素16sを選択し、n倍のプログラム電流を印加してもよいことは言うまでもない。また、ゲートドライバ12sを走査し、プリチャージ電圧Vpcを測定する測定画素16sを順次切り換えてプリチャージ電圧Vpcを取得してもよい。また、図109において、ゲートドライバ回路12sとゲートドライバ12は別回路のように図示したが、これに限定するものではなく、1つの回路として構成してもよい。この1つのゲートドライバ回路の走査により、たとえば、1Fの最初のブランキング時間にゲートドライバ回路により測定画素行を選択し、その後、表示領域64の画素行を選択するように構成してもよい。また、図109において、ソースドライバ回路(IC)14の測定画素用と表示領域用の2つを別回路のように図示したが、これに限定するものではなく、1つの回路として構成し、この1つのソースドライバ回路(IC)14の制御により、たとえば、1Fの最初のブランキング時間にソースドライバ回路(IC)14により測定画素行にプログラム電流を印加し、その後、表示領域64の画素行にプログラム電流を印加するように構成してもよい。   Of course, as in FIG. 107, n measurement pixels 16s may be selected and n times the program current may be applied. Alternatively, the precharge voltage Vpc may be acquired by scanning the gate driver 12s and sequentially switching the measurement pixels 16s that measure the precharge voltage Vpc. In FIG. 109, the gate driver circuit 12s and the gate driver 12 are illustrated as separate circuits. However, the present invention is not limited to this and may be configured as one circuit. By scanning with this one gate driver circuit, for example, the measurement pixel row may be selected by the gate driver circuit at the first blanking time of 1F, and then the pixel row in the display region 64 may be selected. In FIG. 109, the source driver circuit (IC) 14 for the measurement pixel and the display region are shown as two separate circuits. However, the present invention is not limited to this and is configured as one circuit. Under the control of one source driver circuit (IC) 14, for example, a program current is applied to the measurement pixel row by the source driver circuit (IC) 14 during the first blanking time of 1F, and then the pixel row in the display region 64 is applied. A program current may be applied.

図110は、プリチャージ電圧V0〜V5を測定する測定画素16sと電圧測定回路1701とを形成または配置して構成である。また、プリチャージ電圧Vpcを取得するトランジスタ群251sと画像を表示するトランジスタ群251cと、共通のトランジスタ群251bとでカレントミラー回路を構成した実施例である。   FIG. 110 shows a configuration in which a measurement pixel 16s for measuring precharge voltages V0 to V5 and a voltage measurement circuit 1701 are formed or arranged. Further, in this embodiment, a current mirror circuit is configured by a transistor group 251s for obtaining the precharge voltage Vpc, a transistor group 251c for displaying an image, and a common transistor group 251b.

図110において、トランジスタ群251sは、プリチャージ電圧V0〜V5に対応するプログラム電流を順次出力する。プリチャージ電圧V0に対応するプログラム電流がソース信号線18sに印加させたときは、測定画素16s0が選択され、電圧測定回路1701aでプリチャージ電圧V0が測定され、電子ボリウム291などに印加される。   In FIG. 110, the transistor group 251s sequentially outputs program currents corresponding to the precharge voltages V0 to V5. When the program current corresponding to the precharge voltage V0 is applied to the source signal line 18s, the measurement pixel 16s0 is selected, the precharge voltage V0 is measured by the voltage measurement circuit 1701a, and applied to the electronic volume 291 and the like.

プリチャージ電圧V1に対応するプログラム電流がソース信号線18sに印加させたときは、測定画素16s1が選択され、電圧測定回路1701bでプリチャージ電圧V1が測定され、電子ボリウム291などに印加される。同様に、プリチャージ電圧V2に対応するプログラム電流がソース信号線18sに印加させたときは、測定画素16s2が選択され、電圧測定回路1701cでプリチャージ電圧V2が測定される。プリチャージ電圧V3に対応するプログラム電流がソース信号線18sに印加させたときは、測定画素16s3が選択され、電圧測定回路1701dでプリチャージ電圧V3が測定される。プリチャージ電圧V4に対応するプログラム電流がソース信号線18sに印加させたときは、測定画素16s4が選択され、電圧測定回路1701eでプリチャージ電圧V4が測定される。プリチャージ電圧V5に対応するプログラム電流がソース信号線18sに印加させたときは、測定画素16s5が選択され、電圧測定回路1701fでプリチャージ電圧V5が測定され、電子ボリウム291などに印加される。   When the program current corresponding to the precharge voltage V1 is applied to the source signal line 18s, the measurement pixel 16s1 is selected, the precharge voltage V1 is measured by the voltage measurement circuit 1701b, and applied to the electronic volume 291 and the like. Similarly, when a program current corresponding to the precharge voltage V2 is applied to the source signal line 18s, the measurement pixel 16s2 is selected, and the voltage measurement circuit 1701c measures the precharge voltage V2. When a program current corresponding to the precharge voltage V3 is applied to the source signal line 18s, the measurement pixel 16s3 is selected, and the voltage measurement circuit 1701d measures the precharge voltage V3. When the program current corresponding to the precharge voltage V4 is applied to the source signal line 18s, the measurement pixel 16s4 is selected, and the precharge voltage V4 is measured by the voltage measurement circuit 1701e. When the program current corresponding to the precharge voltage V5 is applied to the source signal line 18s, the measurement pixel 16s5 is selected, the precharge voltage V5 is measured by the voltage measurement circuit 1701f, and applied to the electronic volume 291 and the like.

当然であるが、図110の構成に本発明が限定されるものではなく、図111のように、電圧測定回路1701は1つで構成してもよい。また、図112に図示するように、RGBごとにトランジスタ群261s、電圧測定回路1701を構成してもよいことは言うまでもない。   As a matter of course, the present invention is not limited to the configuration of FIG. 110, and the voltage measurement circuit 1701 may be configured by one as shown in FIG. Needless to say, a transistor group 261s and a voltage measurement circuit 1701 may be configured for each of RGB as shown in FIG.

以上の実施例ではプリチャージ電圧Vpcは、測定画素16sまたは画素16を動作させて取得するとした。しかし、プリチャージ電圧Vpcはパネル外部で発生して印加してもよい。たとえば、図113に図示するように、外部で発生したプリチャージ電圧V0b〜V5bと、測定画素16sまたは画素16を動作させて取得したプリチャージ電圧V0a〜V5aとをスイッチSで選択または切り換えできるように構成する。外部で発生したプリチャージ電圧V0b〜V5bを選択する場合はスイッチをb側に切り換える。測定画素16sまたは画素16を動作させて取得したプリチャージ電圧V0a〜V5a(内部で発生したプリチャージ電圧Vpc)を選択する場合はスイッチSをa側に切り換える。スイッチSの切り換えは、ユーザーが手動で切り換えてもよいし、外光センサ、温度センサなどの出力結果により自動で切り換えてもよい。   In the above embodiment, the precharge voltage Vpc is obtained by operating the measurement pixel 16s or the pixel 16. However, the precharge voltage Vpc may be generated and applied outside the panel. For example, as shown in FIG. 113, the precharge voltages V0b to V5b generated externally and the precharge voltages V0a to V5a acquired by operating the measurement pixel 16s or the pixel 16 can be selected or switched by the switch S. Configure. When selecting an externally generated precharge voltage V0b to V5b, the switch is switched to the b side. When the precharge voltages V0a to V5a (precharge voltage Vpc generated internally) acquired by operating the measurement pixel 16s or the pixel 16 are selected, the switch S is switched to the a side. The switch S may be switched manually by the user, or may be automatically switched according to the output result of an external light sensor, a temperature sensor, or the like.

プリチャージ電圧Vpcを測定するタイミング、測定時間、測定画素16sの指定、プリチャージ電圧Vpcの印加期間、タイミングなどの制御は図114に図示するようにコントローラ722で実施する。図114において、RDATAは赤の映像データ、GDATAは緑の映像データ、BDATAは青の映像データである。PCはプリチャージをするしないを制御する信号、PTはプリチャージ期間信号、VCは、プリチャージ電圧Vpcの測定信号、VNOはV0〜V5のどのプリチャージ電圧Vpcを測定するかの指定信号、VTはプリチャージ電圧Vpcの測定期間を指定する信号である。   Control of the timing for measuring the precharge voltage Vpc, the measurement time, the designation of the measurement pixel 16s, the application period of the precharge voltage Vpc, the timing, etc. is performed by the controller 722 as shown in FIG. In FIG. 114, RDATA is red video data, GDATA is green video data, and BDATA is blue video data. PC is a signal for controlling whether to precharge, PT is a precharge period signal, VC is a measurement signal for the precharge voltage Vpc, VNO is a designation signal for determining which precharge voltage Vpc from V0 to V5, VT Is a signal for designating the measurement period of the precharge voltage Vpc.

なお、本発明の実施例において、プリチャージ電流を画素16に印加して、プリチャージ電圧Vpcを測定するとした。しかし、本発明は、プリチャージ電圧Vpcを求めるものであるから、プリチャージ電流を印加する対象は、画素16の駆動用トランジスタ11aだけに限定されるものではない。たとえば、プリチャージ電流の印加により、所定の電流を供給できるトランジスタをアレイ30に形成または配置し、このトランジスタを用いてプリチャージ電圧Vpcを取得してもよい。本発明において、重要な点は、画素16の駆動用トランジスタ11aをアレイ基板30に形成し、同一のアレイ基盤30にプリチャージ電圧Vpcを取得(測定)するトランジスタを形成又は配置することが構成の条件である。さらには、駆動用トランジスタ11aにプログラム電流を供給するあるいは、プログラム電流に近いまたは類似する電流を供給するトランジスタ(群)で、画素16に電流を印加し、プリチャージ電圧Vpcを測定するものである。   In the embodiment of the present invention, a precharge current is applied to the pixel 16 to measure the precharge voltage Vpc. However, since the present invention determines the precharge voltage Vpc, the target to which the precharge current is applied is not limited to the driving transistor 11a of the pixel 16. For example, a transistor capable of supplying a predetermined current by applying a precharge current may be formed or arranged in the array 30, and the precharge voltage Vpc may be obtained using this transistor. In the present invention, the important point is that the driving transistor 11a of the pixel 16 is formed on the array substrate 30, and the transistor for obtaining (measuring) the precharge voltage Vpc is formed or arranged on the same array substrate 30. It is a condition. Furthermore, a transistor (group) that supplies a program current to the driving transistor 11a, or supplies a current close to or similar to the program current, applies a current to the pixel 16 and measures the precharge voltage Vpc. .

0階調に該当するV0電圧は、画素16の駆動用トランジスタ11aによって決定される。通常、駆動用トランジスタ11aは、RGBで共通のサイズあるいは大きさである。したがって、RGBではV0電圧は一致している。寄生容量Csの充放電はV0電圧を基準になる場合が多い。したがって、V0電圧は電流駆動あるいは電圧駆動方式において原点の位置づけとなる。V0電圧の取得は、図115から図120でも取得できる。   The V0 voltage corresponding to the 0th gradation is determined by the driving transistor 11a of the pixel 16. Usually, the driving transistor 11a has the same size or size for RGB. Therefore, the V0 voltages are the same in RGB. The charge / discharge of the parasitic capacitance Cs is often based on the V0 voltage. Therefore, the V0 voltage is the position of the origin in the current drive or voltage drive system. The acquisition of the V0 voltage can also be acquired from FIGS. 115 to 120.

図115は、カソード電流を測定することにより取得する方法である。図115は各ソース信号線18を短絡し、短絡した状態でソース信号線に設定するV0’電圧を印加する。この状態で、ゲートドライバ12a、12bを走査し、ソース信号線18に印加されたV0’電圧を画素16に書きこむ。一方、抵抗Rm18電位を電圧測定手段1701で測定する。なお、図115では、電圧測定手段1701を用いて、カソード端子に直列接続した抵抗R0に分流抵抗Rmを接続し、前記抵抗Rmの端子電圧を測定するとしたが、本発明の目的は、カソードに流れる電流を測定するものである。したがって、カソード端子に直接電流測定手段を配置して測定してもよい。また、電流の測定は、アノード端子側でもよい。   FIG. 115 shows a method of obtaining by measuring the cathode current. In FIG. 115, each source signal line 18 is short-circuited, and a V0 'voltage set to the source signal line is applied in the short-circuited state. In this state, the gate drivers 12 a and 12 b are scanned, and the V 0 ′ voltage applied to the source signal line 18 is written into the pixel 16. On the other hand, the resistance Rm18 potential is measured by the voltage measuring means 1701. In FIG. 115, the voltage measuring means 1701 is used to connect the shunt resistor Rm to the resistor R0 connected in series with the cathode terminal, and the terminal voltage of the resistor Rm is measured. It measures the flowing current. Therefore, the current measuring means may be arranged directly on the cathode terminal for measurement. Further, the current may be measured on the anode terminal side.

ソース信号線18に印加されたV0’電圧を画素16に書きこむ。V0’電圧は、Im(つまりI0)の値が目標値(以下)となるように調整する。I0が目標値となったときのソース信号線18に印加するV0’電圧をV0電圧とする。図115の画素構成では、V0’電圧をアノード端子側にすれば、I0電流は減少する。しかし、V0’電圧を必要以上にアノード電圧よりにすると、階調0に対応するV0電圧を印加したときは、良好な黒表示を実現できるが、階調0電位が深すぎ、階調0から階調1などに変化する時に、階調1が書き込みにくくなる。   The voltage V 0 ′ applied to the source signal line 18 is written into the pixel 16. The V0 ′ voltage is adjusted so that the value of Im (that is, I0) becomes a target value (below). The V0 ′ voltage applied to the source signal line 18 when I0 reaches the target value is defined as the V0 voltage. In the pixel configuration of FIG. 115, if the voltage V0 ′ is set to the anode terminal side, the I0 current decreases. However, if the V0 ′ voltage is made higher than the anode voltage more than necessary, a good black display can be realized when the V0 voltage corresponding to the gradation 0 is applied, but the gradation 0 potential is too deep and the gradation 0 When changing to gradation 1, etc., gradation 1 becomes difficult to write.

適正なV0電圧が得られるI0電流は、表示パネルの表示領域の対角長をd(インチ)とし、I0(mA)するとき、K=I0/dとした時、Kは0.2以上2以下とすることが好ましい。さらに好ましくは、Kは、0.3以上1.0以下とすることが好ましい。良好な黒表示を実現でき、かつ0階調から他の階調にプリチャージ駆動(過電流駆動)を実施する場合でも良好な階調変化を実現できるからである。   The I0 current at which an appropriate V0 voltage can be obtained is such that when the diagonal length of the display area of the display panel is d (inch) and I0 (mA), and K = I0 / d, K is 0.2 or more and 2 The following is preferable. More preferably, K is preferably 0.3 or more and 1.0 or less. This is because good black display can be realized and good gradation change can be realized even when precharge driving (overcurrent driving) is performed from 0 gradation to another gradation.

以上のように、V0’電圧を変化させ、変化に対応して、I0電流を測定する。I0電流がKの範囲を満足した時点で、ソース信号線18に印加しているV0’電圧をプリチャージ電圧V0とする、
プリチャージ電圧V0は図116で取得することも好ましい。図116では、複数のソース信号線18は、短絡配線2171で短絡されている。短絡配線2171は黒電圧(プリチャージ電圧V0)を測定した後、a−a’線で割断される。
As described above, the V0 ′ voltage is changed, and the I0 current is measured in response to the change. When the I0 current satisfies the range of K, the V0 ′ voltage applied to the source signal line 18 is set as the precharge voltage V0.
It is also preferable to acquire the precharge voltage V0 in FIG. In FIG. 116, the plurality of source signal lines 18 are short-circuited by a short-circuit wiring 2171. The short-circuit wiring 2171 is cleaved by the aa ′ line after measuring the black voltage (precharge voltage V0).

図116においては、すべてのソース信号線18は短絡配線2171で短絡されている。したがって、各ソース信号線18はフローティング状態である。短絡配線2171には端子電極2172が形成または配置されている。端子電極2172にはプローブ2173が圧接されている。プローブ2173には、配線2175を介して定電流源2174が接続されている。定電流源2174はプリチャージ電圧V0の場合は、出力する電流は0である。   In FIG. 116, all source signal lines 18 are short-circuited by a short-circuit wiring 2171. Therefore, each source signal line 18 is in a floating state. A terminal electrode 2172 is formed or arranged on the short-circuit wiring 2171. A probe 2173 is in pressure contact with the terminal electrode 2172. A constant current source 2174 is connected to the probe 2173 via a wiring 2175. The constant current source 2174 outputs 0 when the precharge voltage V0.

配線2175には、配線2175の電位を測定する電圧測定手段1701が接続されている。電圧測定手段1701はプローブ2173を介してソース信号線18の電位を測定していることになる。今、定電流源2174の出力電流は0であるから、ソース信号線18には電流が印加されていない。つまり、ソース信号線18はプリチャージ電圧V0(階調0)の状態である。   Voltage measurement means 1701 for measuring the potential of the wiring 2175 is connected to the wiring 2175. The voltage measuring means 1701 measures the potential of the source signal line 18 via the probe 2173. Now, since the output current of the constant current source 2174 is 0, no current is applied to the source signal line 18. That is, the source signal line 18 is in the state of the precharge voltage V0 (gradation 0).

図116はあらかじめ配線2171で複数のソース信号線18を短絡する方式であった。図77のように、ソース信号線18が配線2171で短絡されていない構成の場合は、図118に図示するように、導電体を用いて短絡すればよい。   FIG. 116 is a system in which a plurality of source signal lines 18 are short-circuited by wiring 2171 in advance. In the case where the source signal line 18 is not short-circuited by the wiring 2171 as shown in FIG. 77, it is only necessary to short-circuit using a conductor as shown in FIG.

図116、図121、図120に説明するように、プログラム電流、検査電流など1mA以下の比較的小さな電流を、アレイ30もしくは表示パネルに印加/供給して検査あるいは評価を実施する場合、アレイ30もしくは表示パネルから1mA以下の比較的小さな出力電流を受け取り検査あるいは評価を実施する場合は、図117に図示するように、端子382(2172)と接触するプローブ2173に電圧を印加することが好ましい。特に、端子382(2172)がITOで形成あるいは構成されている場合に必須である。ITO表面は接触抵抗が高く、わずかな酸化物あるいは無機物、有機物によるバリアにより接触が不完全となるからである。   116, 121, and 120, when performing inspection or evaluation by applying / supplying a relatively small current of 1 mA or less such as a program current and an inspection current to the array 30 or the display panel, the array 30 Alternatively, when a relatively small output current of 1 mA or less is received from the display panel and inspection or evaluation is performed, it is preferable to apply a voltage to the probe 2173 in contact with the terminal 382 (2172) as shown in FIG. In particular, it is indispensable when the terminal 382 (2172) is formed or configured of ITO. This is because the ITO surface has a high contact resistance, and the contact is incomplete due to a barrier caused by a slight amount of oxide, inorganic material, or organic material.

交流電圧発生器2481は、GNDに対して正、負電圧印加手段である。交流電圧発生器(電圧印加手段)2481で、ゲートドライバ回路12の出力オン電圧、出力オフ電圧あるいは近似する電圧を1周期以上の期間印加する。具体的には、±5V〜±15Vの電圧を印加する。1周期以上好ましくは10周期以上の電圧印加により、端子382(2172)表面の障害物(酸化物あるいは無機物、有機物によるバリア)がやぶれ、あるいは除去される。除去などにより接触を完全にした後、検査あるいは評価を実施する。電圧の印加により不要な酸化膜が除去されるからである。   The AC voltage generator 2481 is a positive / negative voltage applying unit with respect to GND. An AC voltage generator (voltage applying means) 2481 applies the output on voltage, output off voltage, or approximate voltage of the gate driver circuit 12 for a period of one cycle or more. Specifically, a voltage of ± 5V to ± 15V is applied. When a voltage is applied for one cycle or more, preferably 10 cycles or more, an obstacle (a barrier due to an oxide, an inorganic material, or an organic material) on the surface of the terminal 382 (2172) is shaken or removed. After contact is complete by removal, etc., inspection or evaluation is performed. This is because an unnecessary oxide film is removed by applying a voltage.

なお、電圧を印加するとしたが、これに限定するものではない。電流を印加してもよい。たとえば、10μA程度の定電流源を端子382(2172)に接続し、この電流が流れるようになるまで、継続させて印加する。電流の印加はパルス的でも、連続的でもよい。また、±5V〜±15Vの電圧を、1周期以上好ましくは10周期以上印加するとしたが、これに限定するものではない。+5V〜+15Vの電圧を継続させて印加してもよい。もちろん、電圧の印加はパルス的でも、連続的でもよい。   Although a voltage is applied, the present invention is not limited to this. A current may be applied. For example, a constant current source of about 10 μA is connected to the terminal 382 (2172) and applied continuously until this current flows. The application of current may be pulsed or continuous. In addition, the voltage of ± 5 V to ± 15 V is applied for 1 cycle or more, preferably 10 cycles or more, but is not limited thereto. A voltage of + 5V to + 15V may be applied continuously. Of course, the voltage application may be pulsed or continuous.

図117に図示するように、まず、電圧印加手段2481などにより、端子382(2172)にに電流/電圧を印加し(SWはa端子に接続する)、接続酸化物あるいは無機物、有機物によるバリアを除去してから、SWをb端子に切り換え、定電流源2174に接続して、パネルの評価/検査などを実施する。   As shown in FIG. 117, first, current / voltage is applied to the terminal 382 (2172) by the voltage applying means 2481 (SW is connected to the a terminal), and a barrier made of connecting oxide, inorganic material, or organic material is formed. After the removal, the SW is switched to the b terminal and connected to the constant current source 2174 to perform panel evaluation / inspection and the like.

図118のようにバンプ664で端子382と接触をとる場合でも同様に、図117で説明したように、バンプ664に交流電圧波形を印加し、完全な接触を取ることが好ましいことは言うまでもない。   Similarly, in the case where the bump 664 makes contact with the terminal 382 as shown in FIG. 118, similarly, as described with reference to FIG.

以上のように、本発明は、プログラム電流、検査電流など1mA以下の比較的小さな電流を、アレイ30もしくは表示パネルに印加/供給して検査あるいは評価を実施する場合、アレイ30もしくは表示パネルから1mA以下の比較的小さな出力電流を受け取り検査あるいは評価を実施する場合においてアレイ30などの端子と電気接触が必要な場合は、電圧印加手段2481で、ゲートドライバ回路12の出力オン電圧、出力オフ電圧あるいは近似する電圧を1周期以上の期間印加する。1周期以上好ましくは10周期以上の電圧印加により、端子382(2172)と接触を完全にした後、検査あるいは評価を実施する。特に、端子382(2172)にITOなどの酸化物が形成されている場合に実施することが好ましい。電圧の印加により不要な酸化膜が除去されるからである。また、接触を実施する前に、ごく薄いふっ酸、アルコールなどで、端子382(2172)上の有機物を除去することが好ましい。   As described above, according to the present invention, when inspection or evaluation is performed by applying / supplying a relatively small current of 1 mA or less, such as a program current and an inspection current, to the array 30 or the display panel, 1 mA is applied from the array 30 or the display panel. When the following relatively small output current is received and inspection or evaluation is performed and the electrical contact with the terminals such as the array 30 is necessary, the voltage applying unit 2481 uses the output on voltage, the output off voltage, or the gate driver circuit 12. An approximate voltage is applied for a period of one cycle or more. After completing contact with the terminal 382 (2172) by applying voltage for one cycle or more, preferably 10 cycles or more, inspection or evaluation is performed. In particular, it is preferable to carry out when an oxide such as ITO is formed on the terminal 382 (2172). This is because an unnecessary oxide film is removed by applying a voltage. In addition, it is preferable to remove organic substances on the terminal 382 (2172) with very thin hydrofluoric acid, alcohol, or the like before performing the contact.

図118はソース信号線18の各端子電極382に、バンプ664を介して短絡チップ14cで短絡し、ソース信号線18の電位からV0電圧を得る方法である。短絡チップ14cの端子配置はソースドライバIC14と同一である。短絡チップ14cは導電体で構成されている。したがって、短絡チップ14cによりアレイ30上のソース信号線18は共通電位に設定される。したがって、図116と同様に短絡チップ14cの電位を電圧測定手段1701で測定することにより、V0電圧を測定できる。   FIG. 118 shows a method in which each terminal electrode 382 of the source signal line 18 is short-circuited by the short-circuit chip 14 c via the bump 664 and the V 0 voltage is obtained from the potential of the source signal line 18. The terminal arrangement of the short-circuit chip 14c is the same as that of the source driver IC 14. The short-circuit chip 14c is made of a conductor. Therefore, the source signal line 18 on the array 30 is set to a common potential by the short-circuit chip 14c. Therefore, the voltage V0 can be measured by measuring the potential of the short-circuited chip 14c with the voltage measuring means 1701 as in FIG.

図119は、ソース信号線18を配線2171で共通にし、アノード配線2101にアノード電圧Vddを印加し、カソード配線2102に電流測定手段2201を接続した構成である。図119では、図115と同様に、配線2171でV0’電圧と印加し、電流測定手段2201で電流I0を測定する。印加する電圧V0’は電圧測定手段1701で測定する。他の構成あるいは方式は、図115または図116と同様である。   FIG. 119 shows a configuration in which the source signal line 18 is shared by the wiring 2171, the anode voltage Vdd is applied to the anode wiring 2101, and the current measuring unit 2201 is connected to the cathode wiring 2102. In FIG. 119, similarly to FIG. 115, the voltage V 0 ′ is applied through the wiring 2171, and the current I 0 is measured by the current measuring unit 2201. The applied voltage V 0 ′ is measured by the voltage measuring means 1701. Other configurations or methods are the same as those in FIG. 115 or FIG.

図120は、RGBごとにV0電圧を取得する方法である。図116と同様に、R用のソース信号線を短絡する配線2171Rを形成している。また、図118で説明したように短絡チップ14cを用いても良い。また、Gに関しても図116と同様に、G用のソース信号線を短絡する配線2171Gを形成している。同様に、Bについても、B用のソース信号線を短絡する配線2171Bを形成している。   FIG. 120 shows a method for acquiring the V0 voltage for each of RGB. Similarly to FIG. 116, a wiring 2171R for short-circuiting the source signal line for R is formed. Also, as described with reference to FIG. 118, the short-circuit chip 14c may be used. Also for G, as in FIG. 116, a wiring 2171G for short-circuiting the G source signal line is formed. Similarly, for B, a wiring 2171B for short-circuiting the source signal line for B is formed.

図120においても、同様に、V0’電圧をソース信号線18に印加し、I0電流が目標電流となるように調整してV0電圧を得る。図119との差異は、V0電圧をRGBごとに得る点である。つまり、R用のソース信号線18を配線2171Rで共通にし、アノード配線2101にアノード電圧Vddを印加し、カソード配線2102に電流測定手段2201を接続する。この時、G用とB用のソース信号線18はオープン状態にする。図120では、図115と同様に、配線2171RでV0’電圧と印加し、電流測定手段2201(図示せず)で電流I0を測定する。印加する電圧V0’は電圧測定手段1701Rで測定する。他の構成あるいは方式は、図115または図116と同様である。以上の動作を行うことにより、R用のプリチャージ電圧V0を得ることができる。   Similarly, in FIG. 120, the V0 ′ voltage is applied to the source signal line 18 and adjusted so that the I0 current becomes the target current to obtain the V0 voltage. The difference from FIG. 119 is that the V0 voltage is obtained for each RGB. That is, the R source signal line 18 is shared by the wiring 2171 R, the anode voltage Vdd is applied to the anode wiring 2101, and the current measuring means 2201 is connected to the cathode wiring 2102. At this time, the G and B source signal lines 18 are opened. In FIG. 120, as in FIG. 115, the voltage V0 ′ is applied by the wiring 2171R, and the current I0 is measured by the current measuring means 2201 (not shown). The applied voltage V0 'is measured by the voltage measuring means 1701R. Other configurations or methods are the same as those in FIG. 115 or FIG. By performing the above operation, the R precharge voltage V0 can be obtained.

Gに対しても同様である。G用のソース信号線18を配線2171Gで共通にし、アノード配線2101にアノード電圧Vddを印加し、カソード配線2102に電流測定手段2201を接続する。この時、R用とB用のソース信号線18はオープン状態にする。図120では、配線2171GでV0’電圧と印加し、電流測定手段2201(図示せず)で電流I0を測定する。印加する電圧V0’は電圧測定手段1701Gで測定する。以上の動作を行うことにより、G用のプリチャージ電圧V0を得ることができる。   The same applies to G. The source signal line 18 for G is shared by the wiring 2171 G, the anode voltage Vdd is applied to the anode wiring 2101, and the current measuring means 2201 is connected to the cathode wiring 2102. At this time, the R and B source signal lines 18 are opened. In FIG. 120, the voltage V0 ′ is applied by the wiring 2171G, and the current I0 is measured by the current measuring means 2201 (not shown). The applied voltage V0 'is measured by the voltage measuring means 1701G. By performing the above operation, the G precharge voltage V0 can be obtained.

Bの場合は、B用のソース信号線18を配線2171Bで共通にし、アノード配線2101にアノード電圧Vddを印加し、カソード配線2102に電流測定手段2201を接続する。この時、R用とG用のソース信号線18はオープン状態にする。配線2171BでV0’電圧と印加し、電流測定手段2201(図示せず)で電流I0を測定する。印加する電圧V0’は電圧測定手段1701Bで測定する。以上の動作を行うことにより、B用のプリチャージ電圧V0を得ることができる。   In the case of B, the source signal line 18 for B is shared by the wiring 2171 B, the anode voltage Vdd is applied to the anode wiring 2101, and the current measuring means 2201 is connected to the cathode wiring 2102. At this time, the R and G source signal lines 18 are opened. A voltage V0 'is applied by the wiring 2171B, and the current I0 is measured by the current measuring means 2201 (not shown). The applied voltage V0 'is measured by the voltage measuring means 1701B. By performing the above operation, the B precharge voltage V0 can be obtained.

各階調(プログラム電流)に対するプリチャージ電圧Vpcの測定は、図120において、電流設定手段2174で実施できる。電流設定手段は、各階調に対応するプログラム電流Iを出力できる。ただし、n本のソース信号線18が配線2171で短絡されている場合は、プログラム電流Iは、I×nである。   The measurement of the precharge voltage Vpc for each gradation (program current) can be performed by the current setting means 2174 in FIG. The current setting means can output a program current I corresponding to each gradation. However, when n source signal lines 18 are short-circuited by the wiring 2171, the program current I is I × n.

電流設定手段2174RはR用のプログラム電流を出力するものである。電流設定手段2174GはG用のプログラム電流を出力するものである。電流設定手段2174BはB用のプログラム電流を出力するものである。   The current setting means 2174R outputs an R program current. The current setting means 2174G outputs a G program current. The current setting means 2174B outputs a program current for B.

Rのプリチャージ電圧V0〜V5を得る場合は、電流設定手段2174Rからプリチャージ電圧V0〜V5に対応するプログラム電流×nをRのn本のソース信号線18に印加する。Gのプリチャージ電圧V0〜V5を得る場合は、電流設定手段2174Gからプリチャージ電圧V0〜V5に対応するプログラム電流×nをGのn本のソース信号線18に印加する。Bのプリチャージ電圧V0〜V5を得る場合は、電流設定手段2174Bからプリチャージ電圧V0〜V5に対応するプログラム電流×nをBのn本のソース信号線18に印加する。以上の動作あるいは処理により、RGBごとにプリチャージ電圧V0〜V5を得ることができる。   In order to obtain the R precharge voltages V0 to V5, the program current × n corresponding to the precharge voltages V0 to V5 is applied to the R n source signal lines 18 from the current setting unit 2174R. In order to obtain the G precharge voltages V0 to V5, the program current xn corresponding to the precharge voltages V0 to V5 is applied from the current setting means 2174G to the n source signal lines 18 of G. In order to obtain the B precharge voltages V0 to V5, the program current xn corresponding to the precharge voltages V0 to V5 is applied from the current setting means 2174B to the n source signal lines 18 of B. Through the above operation or processing, precharge voltages V0 to V5 can be obtained for each of RGB.

図121は、取得されたV0電圧から補正し、正規のV0電圧を得る方法の説明図である。得られたプリチャージ電圧V0は一定の補正をすることが好ましい。たとえば、より黒表示を実現したいと言う場合である。   FIG. 121 is an explanatory diagram of a method of obtaining a normal V0 voltage by correcting the acquired V0 voltage. The obtained precharge voltage V0 is preferably corrected to a certain level. For example, this is a case where it is desired to realize a black display.

図121において、プローブ2173などの構成は、図116などが該当する。つまり、図121のプローブ2173が端子2172に接続される。配線2171の電位は電圧測定手段1701で8ビットのデジタルデータに変換される。一方補正する大きさはROM2122に保持されている。ROMデータは、RDaTaとして、外部より書き換えることができる。   In FIG. 121, the configuration of the probe 2173 and the like corresponds to FIG. That is, the probe 2173 in FIG. 121 is connected to the terminal 2172. The potential of the wiring 2171 is converted into 8-bit digital data by the voltage measuring means 1701. On the other hand, the magnitude to be corrected is held in the ROM 2122. ROM data can be rewritten from the outside as RDaTa.

ROM2122に保持されたデータも8ビットである。このROMデータと電圧測定手段1701のデータが加算(減算の場合もある)回路1931で加算される。一般的に加算データにより、アノード電圧側にデータはシフトされる。   The data held in the ROM 2122 is also 8 bits. The ROM data and the data of the voltage measuring means 1701 are added by an addition (may be subtracted) circuit 1931. In general, the data is shifted to the anode voltage side by the addition data.

加算されたデータは9ビットになる。このデータはDA(デジタルーアナログ変換)回路1711でアナログデータに変換され、パネル温度を検出する温度補償回路2191で温度補償されて、ソースドライバ回路(IC)14に印加される。温度補償回路2191を必要とするのは、プリチャージ電圧Vpcは電圧駆動であるため、温度依存性があるからである。   The added data becomes 9 bits. This data is converted into analog data by a DA (digital-to-analog conversion) circuit 1711, temperature-compensated by a temperature compensation circuit 2191 that detects a panel temperature, and applied to a source driver circuit (IC) 14. The reason why the temperature compensation circuit 2191 is required is that the precharge voltage Vpc is voltage driven and thus has temperature dependency.

なお、図121ではV0電圧を補正するとしたが、他のプリチャージ電圧Vpcにおいても同様の処理を実施すればよいことは言うまでもない。   In FIG. 121, the V0 voltage is corrected, but it goes without saying that the same processing may be performed for other precharge voltages Vpc.

図122はソース信号線18の信号波形である。図122(a)の電流駆動の場合はプログラム電流が微弱であるため、寄生容量により信号波形はなまってしまう。図122(b)の電圧駆動の場合は、ソースドライバ回路(IC)14の出力インピーダンスが小さいため、ソース信号線18に印加される信号波形は、ほとんど、なまることがない。したがって、駆動信号を確実に画素16に書き込める方法としては電圧駆動方式が良好である。しかし、電圧駆動方式では画素16に駆動用トランジスタ11aのバラツキを補償することができない。電流駆動では画素16の駆動用トランジスタ11aを良好に補償することができる。   FIG. 122 shows a signal waveform of the source signal line 18. In the case of current driving in FIG. 122 (a), the program current is weak, so the signal waveform is distorted due to parasitic capacitance. In the case of voltage driving in FIG. 122B, the output impedance of the source driver circuit (IC) 14 is small, so that the signal waveform applied to the source signal line 18 is hardly rounded. Therefore, the voltage driving method is a good method for reliably writing the driving signal to the pixel 16. However, the voltage driving method cannot compensate for variations in the driving transistor 11a in the pixel 16. In current driving, the driving transistor 11a of the pixel 16 can be compensated well.

以下に本発明の他の実施例について説明する。以下の実施例は、主として図83から図101の本発明の駆動方式と類似または発展あるいは改良あるいは変更したものである。あるいは追加をしたものである。また、類似あるいは組み合わせたものである。したがって、図83から図101などあるいは以前の本発明の実施で説明した事項は、以下に説明する本発明に適用することができることは言うまでもない。また、組み合わせることもできることは言うまでもない。   Other embodiments of the present invention will be described below. The following embodiments are mainly similar to, developed, improved, or changed from the drive system of the present invention shown in FIGS. Or it is an addition. They are similar or combined. Therefore, it goes without saying that the matters described in the implementation of the present invention, such as FIG. 83 to FIG. 101, can be applied to the present invention described below. Needless to say, they can also be combined.

特に、ソースドライバ回路(IC)14から所定の電流をソース信号線18に印加し、ソース信号線18の電位を測定して、測定したデータを記憶し、また、電圧階調に対応するデータを発生する点は基本的には同一である。たとえば、図36〜図39、図43、図44、図45、図46、図87の構成と図123の構成は同一または類似する。したがって、以上の構成は以下の本発明の実施例に適用される。   In particular, a predetermined current is applied from the source driver circuit (IC) 14 to the source signal line 18, the potential of the source signal line 18 is measured, the measured data is stored, and the data corresponding to the voltage gradation is stored. The points that occur are basically the same. For example, the configurations of FIGS. 36 to 39, 43, 44, 45, 46, and 87 and the configuration of FIG. 123 are the same or similar. Therefore, the above configuration is applied to the following embodiments of the present invention.

以下、図123などを参照しながら、本発明の駆動方式を説明する。定電流出力回路334は所定の階調番号に対応する電流を出力する。説明を容易にするため、一例として出力する階調電流I1は、256階調の128階調目であり、その値がI1=1μAであるとする。なお、定電流出力回路334はすべての階調に対応するプログラム電流を出力する必要はなく、128階調目、64階調目、0階調目、1階調目、255階調目など特定の階調の電流を出力できればよい。もちろん、全階調電圧を出力できる電圧階調回路371に構成することが望ましいことは言うまでもない。また、低階調(127階調以下)のプログラム電圧を出力できるものであればよいことは言うまでもない。   Hereinafter, the driving method of the present invention will be described with reference to FIG. 123 and the like. The constant current output circuit 334 outputs a current corresponding to a predetermined gradation number. For ease of explanation, it is assumed that the gradation current I1 output as an example is the 128th gradation of 256 gradations, and the value is I1 = 1 μA. Note that the constant current output circuit 334 does not need to output program currents corresponding to all the gradations, and the 128th gradation, the 64th gradation, the 0th gradation, the 1st gradation, the 255th gradation, etc. are specified. It is only necessary to output a current of the gray scale. Of course, it is needless to say that it is desirable to configure the voltage gradation circuit 371 that can output all gradation voltages. Needless to say, any program voltage that can output a low gradation (127 gradations or less) program voltage may be used.

なお、説明を容易にするため、定電流出力回路334はソースドライバ回路(IC)14内に形成あるいは構成するとしたが、これに限定するものではない。たとえば、ソースドライバ回路(IC)14外に定電流I1を発生する回路を設け、この定電流I1はスイッチ回路を介して、ソース信号線18に供給し、画素16の駆動用トランジスタ11aのゲート端子電圧(ソース信号線18)V1を測定してもよい。また、測定した電圧は、ソースドライバ回路(IC)14の外部に配置したEEPROMに書き込み、書き込んだデータから画素16の駆動用トランジスタ11aV−Iカーブを発生させてもよい。以上の測定はパネル出荷前のパネル調整工程で実施してもよいことは言うまでもない。   For ease of explanation, the constant current output circuit 334 is formed or configured in the source driver circuit (IC) 14, but the present invention is not limited to this. For example, a circuit that generates a constant current I1 is provided outside the source driver circuit (IC) 14, and this constant current I1 is supplied to the source signal line 18 via the switch circuit, and the gate terminal of the driving transistor 11a of the pixel 16 The voltage (source signal line 18) V1 may be measured. Further, the measured voltage may be written in an EEPROM arranged outside the source driver circuit (IC) 14, and the driving transistor 11aV-I curve of the pixel 16 may be generated from the written data. It goes without saying that the above measurement may be carried out in the panel adjustment process before panel shipment.

まず、駆動用の電圧データを測定あるいは発生する測定段階について説明をする。測定段階は、電源投入時など、画像表示を行っていない状態で実施する。または、画像表示に影響を与えない状態で実施する。   First, a measurement stage for measuring or generating driving voltage data will be described. The measurement stage is performed in a state where no image is displayed, such as when the power is turned on. Alternatively, the image display is performed without affecting the image display.

なお、説明を容易にするため画素16構成は、図1、図16、図17、図18、図19、図21などの電流駆動型であるとする。図123の実施例である本発明の駆動方式は、ソースドライバ回路(IC)14から印加する定電流を、該当駆動用トランジスタ11aなどに流し、駆動用トランジスタ11aのゲート端子の電位を変化させ、ソース信号線18の電位を測定する必要があるからである。つまり、駆動用トランジスタ11aから流れる電流がソース信号線18に流入あるいは流出するように画素16が構成されている必要がある。電圧駆動型の画素(たとえば、図2の画素構成)では、駆動用トランジスタ11aからの出力電流はソース信号線18には流れ込まない。また、電圧オフセットキャンセル型の画素構成では、ソース信号線18と駆動用トランジスタ11a間はコンデンサでDC電流のカットが行われている。したがって、本発明のEL表示パネルには採用できない。しかし、駆動用トランジスタ11aあるいはEL素子15に流す電流を規定するトランジスタ(図111など)に電流を流し、そのゲート端子の電圧を測定あるいは把握できる構成であれば採用できる。また、後に説明する本発明の実施例を適用することにより、以下の本発明の駆動方式を実現することができる。   For ease of explanation, it is assumed that the configuration of the pixel 16 is a current-driven type as shown in FIG. 1, FIG. 16, FIG. 17, FIG. 18, FIG. In the driving method of the present invention which is the embodiment of FIG. 123, a constant current applied from the source driver circuit (IC) 14 is passed through the corresponding driving transistor 11a and the like, and the potential of the gate terminal of the driving transistor 11a is changed. This is because it is necessary to measure the potential of the source signal line 18. That is, the pixel 16 needs to be configured so that the current flowing from the driving transistor 11 a flows into or out of the source signal line 18. In a voltage-driven pixel (for example, the pixel configuration in FIG. 2), the output current from the driving transistor 11 a does not flow into the source signal line 18. In the voltage offset cancel type pixel configuration, a DC current is cut between the source signal line 18 and the driving transistor 11a by a capacitor. Therefore, it cannot be employed in the EL display panel of the present invention. However, any configuration can be adopted as long as a current is passed through a transistor (such as FIG. 111) that regulates the current passed through the driving transistor 11a or the EL element 15 and the voltage at the gate terminal can be measured or grasped. Further, by applying an embodiment of the present invention described later, the following driving system of the present invention can be realized.

以上のように、本発明は、画素構成は電流駆動型の画素構成であり、この画素にプログラム電圧を印加し、電圧駆動(プログラム電圧を印加)を実施するものである。また、少なくとも1点以上の画素16の駆動用トランジスタ11aの特性カーブの電圧を測定し、この電圧から電圧駆動に対応する特性カーブを発生し、駆動するものである。階調0の電圧を測定あるいは発生し、この階調0の電圧を基準に電圧プログラムデータを発生し、駆動する状態は電圧オフセットキャンセルと同一あるいは類似の電圧方式である。もちろん、階調0に限定するものではない。ただし、階調0の測定電圧値を精度よく求めることにより、精度のより電圧オフセットを実施することができ好ましい。また、階調0以外であれば、中間階調(最大階調の1/8以上1/2以下の階調)で測定あるいは求めた電圧値を用いて特性カーブを求めることが好ましい。この範囲での駆動用トランジスタの特性バラツキがめだつからである。   As described above, according to the present invention, the pixel configuration is a current-driven pixel configuration, and a program voltage is applied to the pixel to perform voltage driving (application of the program voltage). Further, the voltage of the characteristic curve of the driving transistor 11a of at least one pixel 16 is measured, and a characteristic curve corresponding to voltage driving is generated from this voltage and driven. A voltage of gradation 0 is measured or generated, voltage program data is generated based on the voltage of gradation 0, and the driving state is the same or similar to the voltage offset cancellation. Of course, it is not limited to gradation 0. However, it is preferable that the voltage offset can be more accurately performed by obtaining the measurement voltage value of gradation 0 with high accuracy. For gradations other than 0, it is preferable to obtain a characteristic curve using a voltage value measured or obtained in an intermediate gradation (a gradation of 1/8 to 1/2 of the maximum gradation). This is because the characteristic variation of the driving transistor in this range is conspicuous.

駆動用トランジスタ(EL素子15に電流を供給するトランジスタまたは前記トランジスタに流れる電流を規定するトランジスタ)の特性カーブは、多項式を演算することにより、あるいはマトリックステーブルあるいはルックアップテーブルを参照することにより、発生することができる。前記処理は、映像信号データに対応して逐次求めてもよいし、あらかじめ求めておいてもよい。また、すべての映像信号データに対応して求める必要はなく、間欠あるいは飛び飛びにもとめてもよい。近傍の画素の映像信号データは近似しており、また、アレイ30の駆動用トランジスタなどの特性も近傍の画素では近似しているからである。   The characteristic curve of the driving transistor (the transistor that supplies current to the EL element 15 or the transistor that defines the current flowing through the transistor) is generated by calculating a polynomial, or by referring to a matrix table or a lookup table can do. The processing may be sequentially obtained corresponding to the video signal data or may be obtained in advance. Further, it is not necessary to obtain all video signal data, and it may be intermittent or skipped. This is because the video signal data of the neighboring pixels are approximate, and the characteristics of the driving transistors of the array 30 are also approximated by the neighboring pixels.

以上のように構成することにより、本発明のEL表示装置は電圧駆動と電流駆動の両方が実施できることになる。したがって、電圧+電流駆動を実施することができる(図36などを参照のこと)。特に、プログラム電流の小さい低階調領域では、精度のよい電圧駆動を実施するとができ、プログラム電流が大きい高階調領域では、精度のよい電流駆動を実施することができ、また、電圧駆動と電流駆動とを双方を補完した駆動方式を実施することができる。   With the configuration as described above, the EL display device of the present invention can perform both voltage driving and current driving. Therefore, voltage + current driving can be performed (see FIG. 36 and the like). In particular, accurate voltage driving can be performed in a low gradation region where the program current is small, and accurate current driving can be performed in a high gradation region where the program current is large. It is possible to implement a driving method that complements both of driving.

図123の構成は、図36、図37、図43、図44、図45、図48、図49などの本発明のソースドライバ回路(IC)14に、ソース信号線18に発生している電位を順次選択して出力するか、あるいは複数のソース信号線18を選択してその電位を出力するスイッチSx(x=1〜n:nはソース信号線18の形成数)を付加した構成である。なお、ソース信号線18の電位を測定するとしたが、これに限定するものではない。たとえば、電荷の移動を検出したり、電界の強度を測定したりして、近似的にソース信号線18の電位を測定あるいは推定するものであればよい。また、ソース信号線18の電位に限定するものではなく、画素16の駆動用トランジスタ11のゲート端子電圧を直接にあるいは間接的に測定できるものであればいずれの構成であってもよい。   The configuration of FIG. 123 is the same as the potential generated in the source signal line 18 in the source driver circuit (IC) 14 of the present invention shown in FIGS. 36, 37, 43, 44, 45, 48, 49, etc. Are sequentially selected and output, or a switch Sx (x = 1 to n: n is the number of source signal lines 18 formed) for selecting a plurality of source signal lines 18 and outputting their potentials is added. . Although the potential of the source signal line 18 is measured, the present invention is not limited to this. For example, what is necessary is just to measure or estimate the potential of the source signal line 18 approximately by detecting the movement of charges or measuring the strength of the electric field. Further, the configuration is not limited to the potential of the source signal line 18, and any configuration may be employed as long as the gate terminal voltage of the driving transistor 11 of the pixel 16 can be measured directly or indirectly.

また、本発明は、ゲートドライバ回路12aを制御し、順次ゲート信号線17aを順次選択し、選択した画素行の駆動用トランジスタ11aのゲート端子電圧を順次測定する点にも特徴がある。つまり、画素行を選択し、規定の定電流をソース信号線18に印加し、選択した画素行の駆動用トランジスタのゲート端子電圧を測定する。測定は十分時間をかけて行われる。測定したゲート端子電圧から前記駆動用トランジスタのV−I特性を推定する。映像信号は、推定されたV−Iカーブからプログラム電圧に変換さえ、前記プログラム電圧が画像表示時にソース信号線に印加される。   The present invention is also characterized in that the gate driver circuit 12a is controlled, the gate signal lines 17a are sequentially selected, and the gate terminal voltages of the driving transistors 11a in the selected pixel rows are sequentially measured. That is, a pixel row is selected, a specified constant current is applied to the source signal line 18, and the gate terminal voltage of the driving transistor in the selected pixel row is measured. The measurement takes a long time. The VI characteristic of the driving transistor is estimated from the measured gate terminal voltage. The video signal is even converted from the estimated VI curve to the program voltage, and the program voltage is applied to the source signal line during image display.

スイッチSx(x=1〜n)は、各ソース信号線18に形成され、スイッチSxは主としてアナログスイッチで形成される。スイッチSxは、電圧の検出だけであり、電流はほとんど流さないから小さな高インピーダンスのもので十分である。   The switch Sx (x = 1 to n) is formed on each source signal line 18, and the switch Sx is mainly formed of an analog switch. The switch Sx only detects voltage and hardly flows current, so that a small high impedance is sufficient.

スイッチSxは、図127、図124に図示するように、A端子から各ソース信号線18に電位を入力あるいは出力できるように構成してもよい。また、スイッチSxで入出力するのは電圧だけでなく、電流、電荷であってもよいことは言うまでもない。また、スイッチSxはソースドライバ回路(IC)14内に形成すること限定されるものではなく、ソースドライバ回路(IC)14外に形成してもよい。たとえば、プローブ針を各ソース信号線18に接続し、各プローブ針をリレー回路などにより選択することにより、各ソース信号線18に電圧を印加したり、電圧を出力したり、また、電流を印加したり、電流を取り出したりする構成が例示される。   The switch Sx may be configured such that a potential can be input or output from the A terminal to each source signal line 18 as illustrated in FIGS. 127 and 124. Needless to say, the input / output of the switch Sx may be not only voltage but also current and charge. The switch Sx is not limited to be formed in the source driver circuit (IC) 14 and may be formed outside the source driver circuit (IC) 14. For example, by connecting a probe needle to each source signal line 18 and selecting each probe needle by a relay circuit or the like, a voltage is applied to each source signal line 18, a voltage is output, or a current is applied. And a configuration for taking out current is exemplified.

スイッチSxは各ソース信号線18に形成するとしたが、これに限定するものではなく、たとえば、奇数番目のソース信号線18のみに形成してもよい。また、4の倍数に位置するソース信号線18に形成してもよい。また、表示パネルの構成によっては、ゲート信号線17にスイッチあるいはそれに類するものを形成もしくは接続してもよい。   Although the switch Sx is formed on each source signal line 18, the present invention is not limited to this. For example, the switch Sx may be formed only on the odd-numbered source signal line 18. Alternatively, it may be formed on the source signal line 18 located at a multiple of four. Further, depending on the configuration of the display panel, a switch or the like may be formed or connected to the gate signal line 17.

スイッチSxは図125で説明するように、各カソード線(アノード線)を選択するように形成してもよいことは言うまでもない。つまり、本発明の構成は、各画素16あるいは選択した画素16に印加する電圧あるいは出力される電圧もしくは電流(EL素子15に流れる電流、EL素子15に流れ込む電流など)もしくはこれらに類する電流あるいは電圧を、検出あるいは出力もしくは選択して処理できるように構成するものであればいずれの構成であってもよい。   It goes without saying that the switch Sx may be formed so as to select each cathode line (anode line), as will be described with reference to FIG. In other words, the configuration of the present invention is such that the voltage applied to each pixel 16 or the selected pixel 16 or the output voltage or current (current flowing through the EL element 15, current flowing into the EL element 15) or similar current or voltage. Any configuration may be used as long as it can be detected, output, or selected and processed.

なお、図123の構成図は、ソースドライバ回路(IC)14内にAD変換(アナログーデジタル変換回路)、メモリ(フラッシュメモリなど)351などを形成または配置するとしたが、これに限定するものではない。たとえば、図127に図示するように、ソースドライバ回路(IC)14に端子Aを設け、ここからソース信号線18に印加あるいは出力されている電圧を出力し、この電圧を外部に配置または構成したAD変換回路1711に印加するように構成してもよい。また、図127に図示するようにメモリ351も外付け部品を用いてもよい。また、図124に図示するように、定電流出力回路334(もしくは電流階調回路)もソースドライバ回路(IC)14外に形成または配置し、この定電流出力回路334からの出力電流を各ソース信号線18に印加できるように構成してもよいことは言うまでもない。   In the configuration diagram of FIG. 123, AD conversion (analog-digital conversion circuit), memory (flash memory, etc.) 351 and the like are formed or arranged in the source driver circuit (IC) 14, but the present invention is not limited to this. Absent. For example, as shown in FIG. 127, a terminal A is provided in the source driver circuit (IC) 14, a voltage applied or output from the source signal line 18 is output therefrom, and this voltage is arranged or configured outside. You may comprise so that it may apply to AD conversion circuit 1711. Further, as shown in FIG. 127, the memory 351 may also use external parts. As shown in FIG. 124, a constant current output circuit 334 (or current gradation circuit) is also formed or arranged outside the source driver circuit (IC) 14, and the output current from the constant current output circuit 334 is supplied to each source. Needless to say, the signal line 18 may be applied.

図123のブロック図は本発明のソースドライバ回路(IC)14を説明するブロック図である。端子93はアレイ基板のソース信号線18の端子と接続する。定電流出力回路334は電流階調回路である。電圧出力回路371は電圧階調回路であり、プログラム電圧を出力する。シフトレジスタ352は外部クロックによりスイッチ回路S(S1〜Sn、nは画素行数)を順次選択し、端子93に印加されている電圧をアナログ−デジタル変換回路(A/D回路)1711と接続する。   The block diagram of FIG. 123 is a block diagram for explaining the source driver circuit (IC) 14 of the present invention. The terminal 93 is connected to the terminal of the source signal line 18 of the array substrate. The constant current output circuit 334 is a current gradation circuit. The voltage output circuit 371 is a voltage gradation circuit and outputs a program voltage. The shift register 352 sequentially selects the switch circuit S (S1 to Sn, n is the number of pixel rows) by an external clock, and connects the voltage applied to the terminal 93 to the analog-digital conversion circuit (A / D circuit) 1711. .

A/D回路1711は各ソース信号線18に印加された電圧(端子93に印加された電圧)をデジタル化して、ソースドライバ回路(IC)14のメモリ351に保持する。各メモリのビット数は8ビットであり、メモリ351は、画素数分が作製または形成されている。A/D回路1711により、端子93に印加されている電圧(ソース信号線18の電位=駆動用トランジスタ11aのゲート端子電圧)をデジタル化するとしたが、これに限定するものではない。アナログ信号をサンプルホールドし、アナログ信号から電圧階調データを生成できる場合は、A/D回路1711は不要である。なお、説明に不要な箇所は省略している。また、本発明の他の実施例と組みあせることができることもいうまでもない。   The A / D circuit 1711 digitizes the voltage applied to each source signal line 18 (voltage applied to the terminal 93), and holds it in the memory 351 of the source driver circuit (IC) 14. The number of bits of each memory is 8 bits, and the memory 351 is produced or formed for the number of pixels. Although the A / D circuit 1711 digitizes the voltage applied to the terminal 93 (the potential of the source signal line 18 = the gate terminal voltage of the driving transistor 11a), the present invention is not limited to this. When the analog signal can be sampled and held and voltage gradation data can be generated from the analog signal, the A / D circuit 1711 is not necessary. Note that portions unnecessary for the description are omitted. Moreover, it cannot be overemphasized that it can combine with the other Example of this invention.

図123をさらに主要部を取り出すと、図126の構成となる。スイッチSvをクローズすることによりプログラム電圧が出力される。スイッチSiをクローズすることにより定電流が出力される。定電流回路334は単位トランジスタで構成される。また、1μA、0.5μAなど規定の電流を選択して出力される構成が例示される。   If the main part of FIG. 123 is further extracted, the configuration of FIG. 126 is obtained. A program voltage is output by closing the switch Sv. A constant current is output by closing the switch Si. The constant current circuit 334 is composed of unit transistors. Further, a configuration in which a predetermined current such as 1 μA or 0.5 μA is selected and output is exemplified.

本発明のEL表示パネル(表示装置)は、本発明のソースドライバ回路(IC)14を用いる。図123において、定電流出力回路334は所定の定電流I1をソース信号線18に供給する。ゲートドライバ回路12は順次画素行を選択する。図128(a)に図示するように、画素16は駆動用トランジスタ11aを介してソース信号線18に定電流I1を供給する。駆動用トランジスタ11aのゲート端子は、定電流I1を流せるように電位が変化する(図128(b)を参照のこと)。駆動用トランジスタ11aのゲート端子電位はスイッチ用トランジスタ11cを介してソース信号線18と接続されている。したがって、ソース信号線18の電位をA/D回路で測定すれば、定電流I1を流す場合の駆動用トランジスタ11aのゲート端子電圧を測定あるいは把握することができる。   The EL display panel (display device) of the present invention uses the source driver circuit (IC) 14 of the present invention. In FIG. 123, the constant current output circuit 334 supplies a predetermined constant current I1 to the source signal line 18. The gate driver circuit 12 sequentially selects pixel rows. As shown in FIG. 128A, the pixel 16 supplies a constant current I1 to the source signal line 18 through the driving transistor 11a. The potential of the gate terminal of the driving transistor 11a changes so that the constant current I1 can flow (see FIG. 128 (b)). The gate terminal potential of the driving transistor 11a is connected to the source signal line 18 through the switching transistor 11c. Therefore, if the potential of the source signal line 18 is measured by an A / D circuit, the gate terminal voltage of the driving transistor 11a when the constant current I1 is passed can be measured or grasped.

以上のことから、定電流I1を流すプログラム電圧V1を測定できることになる。前記プログラム電圧V1は駆動用トランジスタ11aの特性カーブ(ゲート電圧−出力電流(V−I)カーブ)の一点である。このV1から、特性カーブを推定できることになる。なお、プログラム電圧V1は特性カーブの任意の一点でよい。階調0番目の電圧V0であってもよい。ただし、階調0番目の定電流は0である。V0は電流0のときの駆動用トランジスタ11aのゲート端子電圧である。   From the above, it is possible to measure the program voltage V1 through which the constant current I1 flows. The program voltage V1 is one point of a characteristic curve (gate voltage-output current (VI) curve) of the driving transistor 11a. The characteristic curve can be estimated from this V1. The program voltage V1 may be an arbitrary point on the characteristic curve. It may be the 0th gradation voltage V0. However, the constant current at the 0th gradation is 0. V0 is the gate terminal voltage of the driving transistor 11a when the current is zero.

表示領域64の画素16はレーザーアニ−ル特性ムラなどにより特性がばらついている。しかし、定電流I1を流し、V1電圧を測定し、V1電圧の大きさから各画素の特性を把握することができる。したがって、V1電圧の大きさから各画素16の特性カーブを求めることができる。特性カーブは、V1データからマトリックステーブルあるいはルックアップテーブル変換によりリアルタイムに求める。また、単項あるいは多項の演算式により求めることもできる。   The characteristics of the pixels 16 in the display area 64 vary due to unevenness of laser annealing characteristics. However, the constant current I1 is allowed to flow, the V1 voltage is measured, and the characteristics of each pixel can be grasped from the magnitude of the V1 voltage. Therefore, the characteristic curve of each pixel 16 can be obtained from the magnitude of the V1 voltage. The characteristic curve is obtained in real time from the V1 data by matrix table or lookup table conversion. It can also be obtained by a single or multiple arithmetic expression.

ルックアップテーブル1551による変換を図155に図示している。8ビットの映像データDATAはルックアップテーブル1551に入力される。測定された8ビットのV0x(V1x)データもルックアップテーブル1551に入力される。V0x(V1x)データがアドレスとなり、ルックアップテーブル1551の1つの階調特性データを指定する。また、映像データDATAにより前記指定された階調特性データより、映像データDATAに対応する階調VDATAが選択される。VDATAは9ビットで出力される。VDATAは図142に図示するように、電子ボリウム291に入力され、電子ボリウム291は、VbbとVdd間の電圧を複数にきざんで出力する。電子ボリウム291の出力は電圧階調回路371に入力される。   The conversion by the lookup table 1551 is shown in FIG. The 8-bit video data DATA is input to the lookup table 1551. The measured 8-bit V0x (V1x) data is also input to the lookup table 1551. V0x (V1x) data becomes an address, and designates one gradation characteristic data of the lookup table 1551. Further, the gradation VDATA corresponding to the video data DATA is selected from the gradation characteristic data designated by the video data DATA. VDATA is output in 9 bits. As shown in FIG. 142, VDATA is input to the electronic volume 291. The electronic volume 291 outputs a plurality of voltages between Vbb and Vdd. The output of the electronic volume 291 is input to the voltage gradation circuit 371.

以上により電圧階調プログラムデータが求まる。つまり、映像階調データは推定あるいは求められたV−Iカーブで電圧階調プログラムデータに変換される。変換は画素16ごとに行われる。電圧階調データの精度を高めるためには、定電流出力回路334から複数の定電流を発生させ、各定電流を各表示領域64の画素16に流し、ソース信号線18の電位を測定すればよい。   Thus, the voltage gradation program data is obtained. That is, the video gradation data is converted into voltage gradation program data by the estimated or obtained VI curve. Conversion is performed for each pixel 16. In order to increase the accuracy of the voltage gradation data, a plurality of constant currents are generated from the constant current output circuit 334, each constant current is passed through the pixel 16 in each display region 64, and the potential of the source signal line 18 is measured. Good.

電圧V1を測定するときは、出力端子93a〜93nから定電流I1を流し、ゲートドライバ回路12aを選択し、選択された画素16行の駆動用トランジスタ11aからI1電流を供給する。前記状態で、シフトレジスタ回路352は、スイッチS1からSnを順次選択し、A/D回路1711でソース信号線18の電位を測定する。A/D回路1711でデジタル変換された8ビットの電圧データは図129(a)に図示するように、マトリックス状の配置されたSRAMに格納される。なお、8ビットに限定されるものではない。少なくとも4ビット以上あればいずれのビット数であってもよい。   When measuring the voltage V1, the constant current I1 is supplied from the output terminals 93a to 93n, the gate driver circuit 12a is selected, and the I1 current is supplied from the driving transistors 11a in the selected 16 rows of pixels. In the above state, the shift register circuit 352 sequentially selects the switches S1 to Sn, and measures the potential of the source signal line 18 with the A / D circuit 1711. The 8-bit voltage data digitally converted by the A / D circuit 1711 is stored in a matrix-arranged SRAM as shown in FIG. 129 (a). It is not limited to 8 bits. Any number of bits may be used as long as it is at least 4 bits.

図129において、a、b、c、d、・・・・は画素列を示している。1、2、3、4、・・・・・は画素行を示している。スイッチS1〜snを順次選択し、1画素行の画素16の駆動用トランジスタ11aの特性の測定を完了すると、ゲートドライバ回路12aを制御して選択位置を1画素行シフトさせ、次の画素行の画素16の特性を測定する。   In FIG. 129, a, b, c, d,... Indicate pixel columns. 1, 2, 3, 4,... Indicate pixel rows. When the switches S1 to sn are sequentially selected and the measurement of the characteristics of the driving transistor 11a of the pixel 16 in one pixel row is completed, the gate driver circuit 12a is controlled to shift the selected position by one pixel row, and the next pixel row The characteristic of the pixel 16 is measured.

図130は、図123をさらに詳細に記載したブロック図である。図32、図34、図36、図43などにA/D回路1711、メモリ351を付加した構成となっている。VDATAにより、電圧プログラムデータが発生させられる。プリチャージ電圧Vpcを印加するときは、OR回路2861のPCHG端子にHレベル信号が印加され、スイッチ221aがクローズする。また、プリチャージ電圧VpcのデータPDATAにより電子ボリウム291はプリチャージ電圧Vpcを発生させ、スイッチ221cはa端子を選択し、端子93からプリチャージ電圧Vpcが出力される。ソース信号線18の電位を測定(V1電圧を測定)するときは、シフトレジスタ回路352によりOR回路を介して、順次スイッチ221aをクローズし、またスイッチ221cはb端子側に切り替えられ、A/D回路1711と接続される。測定されたV1データはメモリ351に格納され、格納されたデータは電圧出力回路371で各映像データに対応する階調データVDATAに変換され、画像表示期間に端子93から出力される。   FIG. 130 is a block diagram illustrating FIG. 123 in more detail. 32, 34, 36, 43, etc., an A / D circuit 1711 and a memory 351 are added. With VDATA, voltage program data is generated. When the precharge voltage Vpc is applied, an H level signal is applied to the PCHG terminal of the OR circuit 2861, and the switch 221a is closed. Further, the electronic volume 291 generates the precharge voltage Vpc by the data PDATA of the precharge voltage Vpc, the switch 221c selects the a terminal, and the precharge voltage Vpc is output from the terminal 93. When measuring the potential of the source signal line 18 (measuring V1 voltage), the shift register circuit 352 sequentially closes the switch 221a via the OR circuit, and the switch 221c is switched to the b terminal side, and the A / D Connected to the circuit 1711. The measured V1 data is stored in the memory 351, and the stored data is converted into gradation data VDATA corresponding to each video data by the voltage output circuit 371 and output from the terminal 93 during the image display period.

電圧データはすべての画素16に対して格納する必要はない。たとえば、図129(b)に図示するように、間引いて格納してもよい。図129(b)において、画素列は、a、c、e、g、i・・・・と格納し、画素行は8画素行置きの8、16、24、32、40・・・・と格納している。近傍の各画素16の特性は近似しているから、間引いて取得した画素16の特性からSRAMに格納しなかった画素16の特性を求めることができるからである。   The voltage data need not be stored for every pixel 16. For example, as shown in FIG. 129 (b), the data may be thinned out and stored. In FIG. 129 (b), the pixel columns are stored as a, c, e, g, i..., And the pixel rows are 8, 16, 24, 32, 40. Storing. This is because the characteristics of the neighboring pixels 16 are approximate, and the characteristics of the pixels 16 not stored in the SRAM can be obtained from the characteristics of the pixels 16 obtained by thinning.

以上の実施例では、ソースドライバ回路(IC)14から1μA、0.5μAなどの定電流I1をソース信号線18または駆動用トランジスタ11aに供給し、ソース信号線18の電位V1を測定する。あるいは電位を推定する。もしくは、該当の画素16の駆動用トランジスタ11aのゲート端子電圧を測定する。また、定電流を流さない時のソース信号線18の電位V0を測定するとした(図131(a)を参照のこと)。この測定したV1とV0から駆動用トランジスタ11aの特性カーブを求め、各階調に対応する電圧プログラムデータを作成する。特性カーブは略2乗カーブである。したがって、V0を基点とし、一定の刻みを加算して各階調に対する電圧値を求める。また、V0を基点とし、V0とV1から特性カーブを想定し、各階調に対する電圧値を求める。   In the above embodiment, a constant current I1 such as 1 μA or 0.5 μA is supplied from the source driver circuit (IC) 14 to the source signal line 18 or the driving transistor 11a, and the potential V1 of the source signal line 18 is measured. Alternatively, the potential is estimated. Alternatively, the gate terminal voltage of the driving transistor 11a of the corresponding pixel 16 is measured. Further, it is assumed that the potential V0 of the source signal line 18 when a constant current is not passed is measured (see FIG. 131 (a)). A characteristic curve of the driving transistor 11a is obtained from the measured V1 and V0, and voltage program data corresponding to each gradation is created. The characteristic curve is a substantially square curve. Therefore, the voltage value for each gradation is obtained by using V0 as a base point and adding a certain increment. Further, assuming a characteristic curve from V0 and V1 with V0 as a base point, a voltage value for each gradation is obtained.

ソースドライバ回路(IC)14には、各画素16のV0データ、もしくは各画素16のV0とV1データをメモリする。他の階調に対する電圧値は、メモリしたV0データ、V0とV1データから映像信号データに対応して、その都度、発生し、発生したプログラム電圧をソース信号線18に印加する。印加したプログラム電圧はゲートドライバ回路12aと同期して、各画素16の駆動用トランジスタ11aのゲート端子に印加され、1フィールド(フレーム)の期間、保持される。   The source driver circuit (IC) 14 stores V0 data of each pixel 16 or V0 and V1 data of each pixel 16. Voltage values for other gradations are generated each time corresponding to the video signal data from the stored V0 data, V0 and V1 data, and the generated program voltage is applied to the source signal line 18. The applied program voltage is applied to the gate terminal of the driving transistor 11a of each pixel 16 in synchronization with the gate driver circuit 12a and held for one field (frame) period.

また、V0のみを測定し、特性カーブを想定して電圧階調を求めてもよい。また、図131(b)に図示するように、定電流I2をソース信号線18に印加し、画素16の駆動用トランジスタ11aからI2電流を供給し、I2電流に対するソース信号線18の電位V2を求め、V0、V2、V1から階調電圧を求めてもよい。つまり、本発明の駆動方式は、少なくとも1つの定電流(電流0を含む)からソース信号線18の電位を測定し、測定した電位から、階調に対応する電圧(プログラム電圧)を求めるものである。   Alternatively, only the voltage V0 may be measured and the voltage gradation may be obtained assuming a characteristic curve. Further, as shown in FIG. 131B, a constant current I2 is applied to the source signal line 18, an I2 current is supplied from the driving transistor 11a of the pixel 16, and a potential V2 of the source signal line 18 with respect to the I2 current is set. The gradation voltage may be obtained from V0, V2, and V1. That is, the driving method of the present invention measures the potential of the source signal line 18 from at least one constant current (including current 0), and obtains a voltage (program voltage) corresponding to the gradation from the measured potential. is there.

また、V0電圧などから特性カーブを求める場合は、V0電圧から特性カーブ(V−Iカーブ)の傾きが固定であるとしてもよい。図132(a)はその実施例である。ある画素16の0階調目の電圧値がV0aとし、他の画素16の0階調目の電圧値がV0bとする。V0aを用いて点線の特性カーブを発生する。V0bを用いて実線の特性カーブを発生する。点線の特性カーブと実線の特性カーブの傾きは同一であるとして、特性カーブを発生させる。つまり、基点のV0aとV0bがシフトしたとして特性カーブを発生させる。   When the characteristic curve is obtained from the V0 voltage or the like, the slope of the characteristic curve (VI curve) from the V0 voltage may be fixed. FIG. 132 (a) shows an example thereof. The voltage value of the 0th gradation of a certain pixel 16 is V0a, and the voltage value of the 0th gradation of another pixel 16 is V0b. A dotted characteristic curve is generated using V0a. A solid characteristic curve is generated using V0b. The characteristic curve is generated on the assumption that the slopes of the dotted characteristic curve and the solid characteristic curve are the same. That is, the characteristic curve is generated assuming that the base points V0a and V0b are shifted.

図132(b)は特性カーブの傾きを変化させている。立ち上がり電圧が高い場合(図132(b)のV0bはV0aよりも立ち上がり電圧が高い)は、特性カーブの傾きを小さくする(図132(b)の実線は点線よりも傾きが小さい)。立ち上がり電圧が高い場合は、駆動用トランジスタ11aのモビリティが悪い場合が多いからである。立ち上がり電圧が低い場合は、特性カーブの傾きを大きくする。立ち上がり電圧が低い場合は、駆動用トランジスタ11aのモビリティが良好な場合が多いからである。   FIG. 132B changes the slope of the characteristic curve. When the rising voltage is high (V0b in FIG. 132 (b) has a higher rising voltage than V0a), the slope of the characteristic curve is made smaller (the solid line in FIG. 132 (b) has a smaller slope than the dotted line). This is because when the rising voltage is high, the mobility of the driving transistor 11a is often poor. When the rising voltage is low, the slope of the characteristic curve is increased. This is because when the rising voltage is low, the mobility of the driving transistor 11a is often good.

図133の実線と点線に一例として図示するように、駆動用トランジスタ11aのV−I(ゲート電圧−ドレイン電流)特性は、レーザーアニ−ル条件などにより特性がばらつく。しかし、一例としてI1=1μAを流し、そのときの駆動用トランジスタ11aのゲート電圧V(実線の駆動用トランジスタ11aはV1、点線で示す駆動用トランジスタ用11aはV2)を測定できれば、ゲート電圧Vに対する出力電流Iが推定できる。また、V1あるいはV2に対する出力電流Iが精度よく1μAであることがわかっているから、各階調に対する出力電流(=EL素子15に流れる電流)をほほ精度よく決定できる。以上の実施例は、I=1μAを測定してV−Iカーブを推測し、各階調電流を算出するものである。Iを0μA(階調0が該当)、2μA、0.5μAと複数点にわたって測定し、各電流値に対する駆動用トランジスタ11aのゲート端子電圧を測定できれば、さらに良好なV−Iカーブを決定でき、特性ムラのない良好な画像表示を実現できる。   As illustrated in the solid and dotted lines in FIG. 133 as an example, the VI (gate voltage-drain current) characteristics of the driving transistor 11a vary depending on the laser annealing conditions and the like. However, as an example, if I1 = 1 μA is passed and the gate voltage V of the driving transistor 11a at that time (V1 for the solid driving transistor 11a and V2 for the driving transistor 11a indicated by the dotted line) can be measured, The output current I can be estimated. Further, since it is known that the output current I for V1 or V2 is 1 μA with high accuracy, the output current (= current flowing through the EL element 15) for each gradation can be determined with high accuracy. In the above embodiment, I = 1 μA is measured, a VI curve is estimated, and each gradation current is calculated. If I is measured over a plurality of points, such as 0 μA (gray scale 0), 2 μA, 0.5 μA, and the gate terminal voltage of the driving transistor 11a for each current value can be measured, a better VI curve can be determined. Good image display without characteristic unevenness can be realized.

図123〜図131などで説明した本発明の駆動方法および表示パネルおよび表示装置とそれを用いた平面表示装置では、V0、V1電圧もしくはI1電流を測定あるいは対応するデータを求め、測定あるいは求めたデータより駆動用トランジスタ11aなどのV−Iカーブを想定あるいは発生さえるとした。もちろん、あらかじめ、データからV−Iカーブを求め、あるいは推定し、各階調に対するプログラム電流あるいはプログラム電圧をメモリなどに蓄積しておき、このメモリ(記憶手段)から各階調に対するプログラム電圧またはプログラム電流に対応するデータを読み出し画素16に印加する。   In the driving method, display panel and display device of the present invention described with reference to FIGS. 123 to 131 and the flat display device using the same, V0, V1 voltage or I1 current is measured or corresponding data is obtained and measured or obtained. It is assumed that the VI curve of the driving transistor 11a or the like is assumed or even generated from the data. Of course, the V-I curve is obtained or estimated from the data in advance, the program current or program voltage for each gradation is stored in a memory or the like, and the program voltage or program current for each gradation is stored in this memory (storage means). Corresponding data is applied to the readout pixel 16.

しかし、本発明は、求めたプログラム電流あるいはプログラム電圧のみで駆動するものに限定されるものではない。好ましくは、図38で説明した電圧+電流駆動を実施することが好ましい。図133、図123〜図131で説明した本発明の駆動方式V−Iカーブを求め、あるいは対応する階調電圧データを求める。この求めたあるいは得られた階調電圧データが図38のAの期間(電圧書き込み期間)に印加する電圧データ、図48の過電流データとする。B期間は、図36などで説明したように、電流階調回路334から階調電流データ(プログラム電流)を各ソース信号線18に印加する(図123とその説明も参照のこと)。   However, the present invention is not limited to driving with only the obtained program current or program voltage. Preferably, the voltage + current driving described with reference to FIG. 38 is preferably performed. The driving method VI curve of the present invention described with reference to FIGS. 133 and 123 to 131 is obtained, or the corresponding gradation voltage data is obtained. The obtained or obtained gradation voltage data is the voltage data applied during the period A (voltage writing period) in FIG. 38 and the overcurrent data in FIG. In the period B, as described with reference to FIG. 36 and the like, gradation current data (program current) is applied from the current gradation circuit 334 to each source signal line 18 (see also FIG. 123 and its description).

本発明の表示パネルは、表示期間以外の期間に、電流階調回路334などから所定定電流を各画素16に印加し、定電流に対する駆動用トランジスタ11aなどのEL素子15に電流を供給するトランジスタあるいはそれと同様の動作をするトランジスタのゲート電圧Vを取得する。この取得する電圧Vは1つ以上の電圧データである。この電圧データを用いて電圧階調回路371が発生する映像信号に対応する階調電圧データを求める。あるいは取得した電圧Vを用いる。なお所定定電流は、ソースドライバ回路(IC)14の外部で発生し、各ソース信号線18に供給してもよいことは言うまでもない。   The display panel of the present invention is a transistor that applies a predetermined constant current to each pixel 16 from the current gradation circuit 334 or the like during a period other than the display period, and supplies current to the EL element 15 such as the driving transistor 11a for the constant current. Alternatively, the gate voltage V of a transistor that operates in the same manner is acquired. The acquired voltage V is one or more voltage data. Using this voltage data, gradation voltage data corresponding to the video signal generated by the voltage gradation circuit 371 is obtained. Alternatively, the acquired voltage V is used. Needless to say, the predetermined constant current may be generated outside the source driver circuit (IC) 14 and supplied to each source signal line 18.

この階調電圧データを図38のA期間に印加する。なお、必ずしもA期間が必要でないことは以前に説明した。階調が大きい時は、電流階調回路334のデータで十分駆動できるからである。A期間に印加して電圧により、まず目標値に近い輝度まで駆動用トランジスタなどはプログラムされる。さらに、B期間に印加する電流階調回路371から階調電流(プログラム電流)により駆動用トランジスタ11aは目標値に近くプログラムされる。図123などと図38、図36、図48などの組み合わせによる駆動方法は、低階調領域は測定したV0、V1から求めた駆動用トランジスタのV−Iカーブにもとづいた電圧プログラムを主として実施し、高階調領域は、電流プログラムを実施することにより、低階調から高階調の全範囲にわたり良好な画像表示を実現できる。   This gradation voltage data is applied during period A in FIG. As described above, the period A is not necessarily required. This is because the data of the current gradation circuit 334 can be sufficiently driven when the gradation is large. The driving transistor and the like are programmed to a luminance close to the target value by applying a voltage during the period A. Further, the driving transistor 11a is programmed close to the target value by the gradation current (program current) from the current gradation circuit 371 applied in the B period. The driving method based on a combination of FIG. 123 and the like, FIG. 38, FIG. 36, FIG. 48, etc. mainly implements a voltage program based on the V-I curve of the driving transistor obtained from the measured V0 and V1 in the low gradation region. In the high gradation region, by executing the current program, a good image display can be realized over the entire range from the low gradation to the high gradation.

なお、以上の実施例においても、本明細書で記載された画素16構成、ソースドライバ回路(IC)14構成、ゲートドライバ回路12構成、他の駆動方式などを組みあわせて適用できることは言うまでもない。また、本発明の駆動方式を採用して、図53〜図64等に記載する表示装置などを構成できることは言うまでもない。   Needless to say, the pixel 16 configuration, the source driver circuit (IC) 14 configuration, the gate driver circuit 12 configuration, other driving methods, and the like described in this specification can also be applied to the above-described embodiments. Further, it goes without saying that the display device described in FIGS. 53 to 64 can be configured by adopting the driving method of the present invention.

以上のことから、図123〜図131などで説明した本発明の駆動方法は、図34、図36、図48などで説明した駆動方式と組み合わせることにより、すぐれた効果を発揮できる。   From the above, the driving method of the present invention described with reference to FIGS. 123 to 131 and the like can exhibit excellent effects when combined with the driving method described with reference to FIGS. 34, 36, and 48.

以上の事項は、V0、V1あるいはそれ以上の電圧値を測定した場合も同様である。なお、測定したV0、V1電圧から特性カーブを発生させるとしたが、ソース信号線18から測定した電圧データをそのまま使用するものでない。たとえば、図1などの画素構成において、ゲート信号線17aにオフ電圧が印加される際に発生する駆動用トランジスタ11aのゲート端子への突き抜け電圧の大きさ、影響を考慮して階調電圧を発生させる。つまり、測定された電圧から前述の影響を考慮してV−Iカーブを作成する。   The same applies to the case where voltage values of V0, V1, or higher are measured. Although the characteristic curve is generated from the measured V0 and V1 voltages, the voltage data measured from the source signal line 18 is not used as it is. For example, in the pixel configuration shown in FIG. 1 and the like, a gradation voltage is generated in consideration of the magnitude and influence of the penetration voltage to the gate terminal of the driving transistor 11a that is generated when an off voltage is applied to the gate signal line 17a. Let That is, a VI curve is created from the measured voltage in consideration of the above-described influence.

ソース信号線18電圧の測定と、測定された電位から階調電圧を求めるのは、電源オン時に実施する。つまり、画像表示前に行う。図134(a)は電源の立ち上げ波形である。Aの期間はVddまで到達する期間である。この期間は、EL表示装置の回路全体が不安定状態である。したがって、ソース信号線の電圧測定を行うことはできない。Bの期間は電源が立ち上がり安定している。画像表示状態ではない。このBの期間を1フィールド(フレーム)期間以上とり、このBの期間に定電流に対するソース信号線18の電位を測定するとともに、階調電圧値を発生させる。その後、C期間に入り、EL表示パネルに画像表示を行う(図134(b)を参照のこと)。   The measurement of the source signal line 18 voltage and the determination of the gradation voltage from the measured potential are performed when the power is turned on. That is, it is performed before image display. FIG. 134 (a) shows a power-up waveform. The period A is a period for reaching Vdd. During this period, the entire circuit of the EL display device is in an unstable state. Therefore, the voltage measurement of the source signal line cannot be performed. During the period B, the power supply rises and is stable. The image is not displayed. This B period is set to one field (frame) period or more, and during this B period, the potential of the source signal line 18 with respect to a constant current is measured and a gradation voltage value is generated. Thereafter, the period C is entered, and an image is displayed on the EL display panel (see FIG. 134B).

ソース信号線18電圧の測定と、測定された電位から階調電圧を求めるのは、垂直ブランキング期間あるいは水平ブランキング期間に実施してもよい。図135(a)は水平ブランキング時間に実施した実施例である。映像信号は図135のBの期間にソース信号線18に印加される。Aの期間はブランキング時間であり、ソース信号線18には映像信号は印加されない。このAの期間にソースドライバ回路(IC)14から定電流を出力し、該当の画素行から電流I1を供給するとともに、ソース信号線18の電位を測定し、測定した電位から階調電圧を求める。水平ブランキング時間では、すべての表示領域64の階調電圧を求めることはできない。図135(b)に図示するように、bの期間に区分された領域(1、2、3、4、5・・・・・)ごとに実施する。   The measurement of the source signal line 18 voltage and the determination of the gradation voltage from the measured potential may be performed during the vertical blanking period or the horizontal blanking period. FIG. 135 (a) shows an embodiment implemented during the horizontal blanking time. The video signal is applied to the source signal line 18 during the period B in FIG. The period A is blanking time, and no video signal is applied to the source signal line 18. During this period A, a constant current is output from the source driver circuit (IC) 14, the current I 1 is supplied from the corresponding pixel row, the potential of the source signal line 18 is measured, and the gradation voltage is obtained from the measured potential. . In the horizontal blanking time, the gray scale voltages of all the display areas 64 cannot be obtained. As shown in FIG. 135 (b), the process is performed for each area (1, 2, 3, 4, 5,...) Divided into periods b.

0階調目に対応するV0電圧を図134のように電源オン時に測定し、中間あるいは最大階調に対応するV1電圧を図135のようにブランキング時間に測定してもよい。   The V0 voltage corresponding to the 0th gradation may be measured when the power is turned on as shown in FIG. 134, and the V1 voltage corresponding to the intermediate or maximum gradation may be measured during the blanking time as shown in FIG.

V0電圧などの低階調部に対応する電圧は、微小定電流(プログラム電流)をソース信号線18に印加して測定する。したがって、ソース信号線18の寄生容量の影響を受け、時定数が長い。したがって、ゲートドライバ回路12aのクロックを遅くし、十分な時間をかけて低階調部に該当する電圧を測定する。したがって、低階調部の電圧を測定するときは、電源オン時などに測定することが好ましい。   The voltage corresponding to the low gradation portion such as the V0 voltage is measured by applying a minute constant current (program current) to the source signal line 18. Therefore, the time constant is long due to the influence of the parasitic capacitance of the source signal line 18. Therefore, the clock corresponding to the low gradation part is measured by delaying the clock of the gate driver circuit 12a and taking a sufficient time. Therefore, when measuring the voltage of the low gradation part, it is preferable to measure it when the power is turned on.

なお、以上の実施例では、表示領域64のすべての画素に対応する定電流を流し、それぞれの画素のソース信号線18の電位(各画素16の駆動用トランジスタ11aのゲート端子電圧)を測定するとしたが、これに限定するものではない。すべての画素を測定せずとも、任意の画素の周辺の画素の特性は類似しているからである。   In the above embodiment, when a constant current corresponding to all the pixels in the display region 64 is passed, the potential of the source signal line 18 of each pixel (the gate terminal voltage of the driving transistor 11a of each pixel 16) is measured. However, the present invention is not limited to this. This is because the characteristics of pixels around an arbitrary pixel are similar without measuring all the pixels.

たとえば、図136(a)に1画素置きの画素(斜線部に対応する画素)16を測定し、測定していない画素16は隣接した画素から作成する。図136(b)で図示するように、画素16cの駆動電圧を求めるには、隣接した画素16aと画素16bに定電流を流し、対応するソース信号線18の電位を測定する。今、測定されたデータが画素16aは8、画素16bは12であるとする。画素16cは(8+12)/2=10として求まる。以上のように定電流に対する画素16はすべてを測定する必要はない。   For example, in FIG. 136 (a), every other pixel (pixel corresponding to the shaded portion) 16 is measured, and the pixel 16 not measured is created from adjacent pixels. As shown in FIG. 136B, in order to obtain the drive voltage of the pixel 16c, a constant current is passed through the adjacent pixels 16a and 16b, and the potential of the corresponding source signal line 18 is measured. It is assumed that the measured data is 8 for the pixel 16a and 12 for the pixel 16b. The pixel 16c is obtained as (8 + 12) / 2 = 10. As described above, it is not necessary to measure all the pixels 16 for the constant current.

また、画素16は1画素ずつ測定する必要はない。たとえば、図137(a)に図示するように、2画素行(複数画素行)を同時に選択して、定電流を流してもよい。図137に図示するように、2画素行を同時に選択する場合は、定電流I1は2倍(つまり、I1×2)をソースドライバ回路(IC)14からソース信号線18に供給する。図137(a)は2番目と3番目の画素行が選択されている状態を示している。次のクロックでは、画素(3)と画素(4)を選択する駆動でもよいし、画素(4)と画素(5)を選択する駆動のいずれでもよい。   Further, the pixel 16 does not need to be measured pixel by pixel. For example, as shown in FIG. 137 (a), two pixel rows (a plurality of pixel rows) may be simultaneously selected and a constant current may flow. As shown in FIG. 137, when two pixel rows are simultaneously selected, the constant current I1 is supplied twice (that is, I1 × 2) from the source driver circuit (IC) 14 to the source signal line 18. FIG. 137 (a) shows a state in which the second and third pixel rows are selected. In the next clock, driving for selecting the pixel (3) and the pixel (4) or driving for selecting the pixel (4) and the pixel (5) may be performed.

ソースドライバ回路(IC)14から2・I1の電流を画素16(2)と画素16(3)に供給する。画素16(2)が出力する電流と、画素16(3)が出力する電流とを加算した電流は2・I1であるが、画素16(2)が出力する電流と、画素16(3)が出力する電流とは異なっていてもよい。ソース信号線18の電位は、画素16(2)の駆動用トランジスタ11aのゲート端子電位と画素16(3)の駆動用トランジスタ11aのゲート端子電位が釣り合った電位となる。しかし、隣接した画素の特性は近似するため、AD回路1711で測定される電位から求められた電圧階調データは実用上問題ない。   A current of 2 · I1 is supplied from the source driver circuit (IC) 14 to the pixels 16 (2) and 16 (3). The current obtained by adding the current output from the pixel 16 (2) and the current output from the pixel 16 (3) is 2 · I1, but the current output from the pixel 16 (2) and the current from the pixel 16 (3) are It may be different from the output current. The potential of the source signal line 18 is a potential in which the gate terminal potential of the driving transistor 11a of the pixel 16 (2) and the gate terminal potential of the driving transistor 11a of the pixel 16 (3) are balanced. However, since the characteristics of adjacent pixels are approximate, the voltage gradation data obtained from the potential measured by the AD circuit 1711 has no practical problem.

複数画素行を選択する場合は、図137(b)に図示するように隣接する必要はない。図137(b)は隣接しない画素行を複数選択している。また、連続した10画素行程度(つまり、ブロック的)にゲート信号線17aを選択し、ソース信号線18の電位を測定してもよい。   When selecting a plurality of pixel rows, it is not necessary to be adjacent as shown in FIG. In FIG. 137 (b), a plurality of non-adjacent pixel rows are selected. Alternatively, the gate signal line 17a may be selected in about 10 consecutive pixel rows (that is, in a block manner), and the potential of the source signal line 18 may be measured.

なお、以上の実施例では、駆動用トランジスタ11aに電流を流し、前記電流を流したときの駆動用トランジスタ11aのゲート端子電圧を測定するとした。しかし、本発明はこれに限定するものではない。たとえば、画素列ごとに配線あるいは形成されたVss端子(カソード端子)に電流計2201を接続する。つぎに、0階調目に対応するV0電圧を印加し、V0電圧を印加したときに、電流計2201に流れる電流を0あるいは微小な値となるように、印加するV0を調整すれば、階調0に対するプログラム電圧V0が精度よく求めることができる。その他、前記電流計2201で測定される電流が1μAとなるように、駆動用トランジスタ11aに印加する電圧を調整すれば1μAを流す電圧を測定することができる。複数点の電圧と電流の関係を測定すれば、さらに精度のよいV−Iカーブを推定あるいは求めることができる。   In the above embodiment, a current is supplied to the driving transistor 11a, and the gate terminal voltage of the driving transistor 11a when the current is supplied is measured. However, the present invention is not limited to this. For example, the ammeter 2201 is connected to a Vss terminal (cathode terminal) that is wired or formed for each pixel column. Next, by applying a V0 voltage corresponding to the 0th gradation and adjusting the applied V0 so that the current flowing through the ammeter 2201 becomes 0 or a minute value when the V0 voltage is applied, The program voltage V0 for the key 0 can be obtained with high accuracy. In addition, if the voltage applied to the driving transistor 11a is adjusted so that the current measured by the ammeter 2201 is 1 μA, the voltage flowing 1 μA can be measured. By measuring the relationship between voltage and current at a plurality of points, a more accurate VI curve can be estimated or obtained.

また、図2に図示するような電圧駆動方式の画素構成であっても、本発明を実施できる。この説明を図125に図示している。なお、図125では画素16はマトリックス状に形成または配置されるが、説明を容易にするため2画素分の画素16のみ図示している。なお、各画素16に流れるカソード電流(アノード電流)を選択するスイッチSxを各カソード(アノード)電流を取り出す位置に形成または構成もしくは配置してもよいことは言うまでもない。この構成は、たとえば、図123を応用することにより容易に構成できるので説明を省略する。   Further, the present invention can be implemented even with a voltage-driven pixel configuration as shown in FIG. This description is illustrated in FIG. In FIG. 125, the pixels 16 are formed or arranged in a matrix, but only the pixels 16 for two pixels are shown for ease of explanation. Needless to say, the switch Sx for selecting the cathode current (anode current) flowing through each pixel 16 may be formed, configured, or arranged at a position where each cathode (anode) current is extracted. Since this configuration can be easily configured by applying FIG. 123, for example, the description is omitted.

電圧駆動の場合は、駆動用トランジスタ11aに電圧V1を印加する必要がある。また、前記電圧V1により流れる電流IはVss端子で測定する。たとえば、画素列ごとに配線あるいは形成されたVss端子(カソード端子)に電流計2201を接続する。または、図125に図示するように、カソード電流が流れる経路にピックアップ抵抗Rを接続し、電圧計(電圧測定手段)2201で抵抗Rなお、カソード端子に限定されるものではなく、アノード端子でもよい。また、電流はカソード端子とアノード端子で測定してもよい。また、電流I1を直接測定することに限定されるものではなく、ピックアップコイルなどで測定してもよい。また、電気力線を測定してもよい。特に精度が必要でないときは、複数あるいはすべてのカソード端子もしくはアノード端子を短絡し、短絡した箇所に電流計2201を接続してもよい。   In the case of voltage driving, it is necessary to apply the voltage V1 to the driving transistor 11a. The current I flowing by the voltage V1 is measured at the Vss terminal. For example, the ammeter 2201 is connected to a Vss terminal (cathode terminal) that is wired or formed for each pixel column. Or, as shown in FIG. 125, a pick-up resistor R is connected to the path through which the cathode current flows, and the resistance R is set by a voltmeter (voltage measuring means) 2201. The present invention is not limited to the cathode terminal, and may be an anode terminal. . The current may be measured at the cathode terminal and the anode terminal. Further, the current I1 is not limited to direct measurement, and may be measured with a pickup coil or the like. Moreover, you may measure a line of electric force. When accuracy is not particularly required, a plurality or all of the cathode terminals or anode terminals may be short-circuited, and the ammeter 2201 may be connected to the short-circuited portion.

以上のように、駆動用トランジスタ11aに電圧階調回路371により各ソース信号線18に既知の電圧V1を印加し、その電圧に対する出力電流I1を測定する。もちろん、1つまたは複数のソース信号線18を選択して既知の電圧を印加してもよい。したがって、図128(b)の逆の関係になる。つまり、V1印加によりI1を測定し、このV1とI1との関係から、図128(b)の実線で示す駆動用トランジスタ11aのV−I特性を求める。V1の他、0階調目に対応するV0電圧を印加し、V0電圧を印加したときに、電流計2201に流れる電流を0あるいは微小な値となるように、印加するV0を調整すれば、階調0に対するプログラム電圧V0が精度よく求めることができる。そのときは、電圧階調回路371の出力電圧を変化させて0になるように調整する。その他、たとえば1μAが流れるように、駆動用トランジスタ11aに印加する電圧Vxを調整する。複数点の電圧Vと電流の関係を測定すれば、さらに精度のよいV−Iカーブを推定あるいは求めることができる。   As described above, the voltage gradation circuit 371 applies the known voltage V1 to each source signal line 18 to the driving transistor 11a, and the output current I1 with respect to the voltage is measured. Of course, one or a plurality of source signal lines 18 may be selected and a known voltage may be applied. Therefore, the relationship is the reverse of FIG. That is, I1 is measured by applying V1, and the VI characteristic of the driving transistor 11a indicated by the solid line in FIG. 128B is obtained from the relationship between V1 and I1. In addition to V1, by applying the V0 voltage corresponding to the 0th gradation and adjusting the applied V0 so that the current flowing through the ammeter 2201 becomes 0 or a minute value when the V0 voltage is applied, The program voltage V0 for gradation 0 can be obtained with high accuracy. At that time, the output voltage of the voltage gradation circuit 371 is changed to be adjusted to zero. In addition, for example, the voltage Vx applied to the driving transistor 11a is adjusted so that 1 μA flows. By measuring the relationship between the voltage V and current at a plurality of points, a more accurate VI curve can be estimated or obtained.

図125の実施例では、スイッチSをシフトレジスタ352により、クロックに同期させて順次クローズさせている。スイッチSx(x=1〜n)により各ソース信号線18に接続された画素16が選択される。また、選択する画素行の画素16はゲートドライバ12aにより選択され、選択画素行位置は順次シフトされる。   In the embodiment of FIG. 125, the switch S is sequentially closed by the shift register 352 in synchronization with the clock. The pixel 16 connected to each source signal line 18 is selected by the switch Sx (x = 1 to n). Further, the pixels 16 in the pixel row to be selected are selected by the gate driver 12a, and the selected pixel row position is sequentially shifted.

各スイッチSが選択されることにより、選択された画素16のカソード電流I1(あるいはアノード電流)は抵抗Rに流れ込む。カソード電流などにより抵抗Rの両端に発生する電圧はA/D変換回路1711により、デジタル化され、メモリ351に蓄えられる。蓄えられたデータによりプログラム電圧に対応する階調電圧が算出あるいは求められる。もちろん、カソード電流I1などは電流計により測定してもよいことは言うまでもない。なお、階調0の場合は、抵抗Rの両端に発生する電圧は0であることは言うまでもない。また、カソード電流の方向は吐き出し方向の場合もある。   By selecting each switch S, the cathode current I1 (or anode current) of the selected pixel 16 flows into the resistor R. The voltage generated across the resistor R due to the cathode current or the like is digitized by the A / D conversion circuit 1711 and stored in the memory 351. A gray scale voltage corresponding to the program voltage is calculated or obtained from the stored data. Of course, it goes without saying that the cathode current I1 and the like may be measured by an ammeter. In the case of gradation 0, it goes without saying that the voltage generated across the resistor R is 0. The direction of the cathode current may be the discharge direction.

以上のように、本発明は、駆動用トランジスタ11aに電圧あるいは電流を印加あるいは供給し、この印加した電圧あるいは電流に対して駆動用トランジスタなど(図16のカレントミラーの画素構成ではトランジスタ11b)から出力される電流あるいは測定することにより、駆動用トランジスタのV−Iカーブを求め、この求めたV−Iカーブから各階調に対応するプログラム電圧あるいはプログラム電流を求めるものである。つまり、既知の電圧あるいは電流を各ソース信号線18に印加し、出力される電流あるいは電圧を測定し、もしくは、出力される電流あるいは電圧が所定の値となるように、ソース信号線18に印加する電圧または電流を調整することにより、EL素子15に電流を供給する駆動用トランジスタのV−Iカーブを求め、あるいは類推し、各階調に対するプログラム電圧あるいはプログラム電流を決定するものである。   As described above, the present invention applies or supplies a voltage or current to the driving transistor 11a, and from the applied voltage or current from the driving transistor or the like (transistor 11b in the pixel configuration of the current mirror in FIG. 16). The output current or measurement is performed to obtain the VI curve of the driving transistor, and the program voltage or program current corresponding to each gradation is obtained from the obtained VI curve. That is, a known voltage or current is applied to each source signal line 18 and the output current or voltage is measured or applied to the source signal line 18 so that the output current or voltage becomes a predetermined value. By adjusting the voltage or current to be obtained, the V-I curve of the driving transistor that supplies current to the EL element 15 is obtained or analogized to determine the program voltage or program current for each gradation.

図138は電圧プログラムの画素構成における本発明の第2の実施例での適用例である。画素16の駆動用トランジスタ11aはPチャンネルトランジスタで形成されている。また、電流I1はアノード端子Vdd側に供給される。   FIG. 138 shows an application example of the pixel configuration of the voltage program in the second embodiment of the present invention. The driving transistor 11a of the pixel 16 is formed of a P-channel transistor. The current I1 is supplied to the anode terminal Vdd side.

電圧駆動の場合は、駆動用トランジスタ11aに電圧V1を印加する必要がある。また、前記電圧V1により流れる電流I1はVdd端子側で測定する。たとえば、図138に図示するように、アノード電流が流れる経路にピックアップ抵抗Rを接続し、電圧計(A/D変換回路1711)などRの両端の電圧を測定する。   In the case of voltage driving, it is necessary to apply the voltage V1 to the driving transistor 11a. Further, the current I1 flowing by the voltage V1 is measured on the Vdd terminal side. For example, as shown in FIG. 138, a pickup resistor R is connected to the path through which the anode current flows, and the voltage across R, such as a voltmeter (A / D conversion circuit 1711), is measured.

以上のように、駆動用トランジスタ11aに電圧階調回路371により各ソース信号線18に既知の電圧V1を印加し、その電圧に対する出力(入力)電流I1を測定する。もちろん、1つまたは複数のソース信号線18を選択して既知の電圧を印加してもよい。したがって、図128(b)の逆の関係になる。つまり、V1印加によりI1を測定し、このV1とI1との関係から、図128(b)の実線で示す駆動用トランジスタ11aのV−I特性を求める。V1の他、0階調目に対応するV0電圧を印加してもよい。V0電圧の場合はV0電圧を印加したときに、電流計2201に流れる電流を0あるいは微小な値となるように、印加するV0を調整すれば、階調0に対するプログラム電圧V0が精度よく求めることができる。そのときは、電圧階調回路371の出力電圧を変化させて0になるように調整する。その他、たとえば1μAが流れるように、駆動用トランジスタ11aに印加する電圧Vxを調整する。複数点の電圧Vと電流の関係を測定すれば、さらに精度のよいV−Iカーブを推定あるいは求めることができる。   As described above, the voltage gradation circuit 371 applies the known voltage V1 to each source signal line 18 to the driving transistor 11a, and the output (input) current I1 corresponding to the voltage is measured. Of course, one or a plurality of source signal lines 18 may be selected and a known voltage may be applied. Therefore, the relationship is the reverse of FIG. That is, I1 is measured by applying V1, and the VI characteristic of the driving transistor 11a indicated by the solid line in FIG. 128B is obtained from the relationship between V1 and I1. In addition to V1, a V0 voltage corresponding to the 0th gradation may be applied. In the case of the V0 voltage, if the applied V0 is adjusted so that the current flowing through the ammeter 2201 becomes 0 or a minute value when the V0 voltage is applied, the program voltage V0 for the gradation 0 can be obtained with high accuracy. Can do. At that time, the output voltage of the voltage gradation circuit 371 is changed to be adjusted to zero. In addition, for example, the voltage Vx applied to the driving transistor 11a is adjusted so that 1 μA flows. By measuring the relationship between the voltage V and current at a plurality of points, a more accurate VI curve can be estimated or obtained.

図138の実施例でも図125と同様に、スイッチSをシフトレジスタ352により、クロックに同期させて順次クローズさせている。スイッチSx(x=1〜n)により各ソース信号線18に接続された画素16が選択される。また、選択する画素行の画素16はゲートドライバ12aにより選択され、選択画素行位置は順次シフトされる。   In the embodiment of FIG. 138, as in FIG. 125, the switches S are sequentially closed by the shift register 352 in synchronization with the clock. The pixel 16 connected to each source signal line 18 is selected by the switch Sx (x = 1 to n). Further, the pixels 16 in the pixel row to be selected are selected by the gate driver 12a, and the selected pixel row position is sequentially shifted.

各スイッチSが選択されることにより、選択された画素16にアノード電流が流れ込む。アノード電流により抵抗Rの両端に電圧が発生する。発生する電圧はA/D変換回路1711により、デジタル化され、メモリ351に蓄えられる。蓄えられたデータによりプログラム電圧に対応する階調電圧が算出あるいは求められる。もちろん、カソード電流I1などは電流計により測定してもよいことは言うまでもない。なお、階調0の場合は、抵抗Rの両端に発生する電圧は0であることは言うまでもない。また、カソード電流の方向は吐き出し方向の場合もある。   By selecting each switch S, an anode current flows into the selected pixel 16. A voltage is generated across the resistor R by the anode current. The generated voltage is digitized by the A / D conversion circuit 1711 and stored in the memory 351. A gray scale voltage corresponding to the program voltage is calculated or obtained from the stored data. Of course, it goes without saying that the cathode current I1 and the like may be measured by an ammeter. In the case of gradation 0, it goes without saying that the voltage generated across the resistor R is 0. The direction of the cathode current may be the discharge direction.

図125、図138では、ソース信号線18に電圧Vxを印加し、そのときに流れる電流I1を測定して、V−I特性を求めるとしたが、本発明はこれに限定するものではない。たとえば、図154に図示するように、ピックアップ抵抗Rの電圧が所定電圧(V1、V0、つまり電流I1を測定)となるように、ソース信号線18に印加する電圧Vxを調整してもよい。つまり、I1電流になるときのソース信号線18に印加した電圧Vxを調整する。このVx−I1の関係からV−I特性を決定する。   In FIGS. 125 and 138, the voltage Vx is applied to the source signal line 18 and the current I1 flowing at that time is measured to obtain the VI characteristic. However, the present invention is not limited to this. For example, as shown in FIG. 154, the voltage Vx applied to the source signal line 18 may be adjusted so that the voltage of the pickup resistor R becomes a predetermined voltage (V1, V0, that is, the current I1 is measured). That is, the voltage Vx applied to the source signal line 18 when the current becomes I1 is adjusted. The VI characteristic is determined from the relationship of Vx-I1.

ソース信号線18に電圧Vxを印加することにより、駆動用トランジスタ11aからのカソード電流I1が流れる。カソード電流I1はピックアップ抵抗Rで電圧に変換されて測定される。測定される電圧V=I1×Rとなるように、ソース信号線18に印加する電圧Vxを調整する。   By applying the voltage Vx to the source signal line 18, the cathode current I1 from the driving transistor 11a flows. The cathode current I1 is converted into a voltage by the pickup resistor R and measured. The voltage Vx applied to the source signal line 18 is adjusted so that the measured voltage V = I1 × R.

図154の実施例でも図125と同様に、スイッチSをシフトレジスタ352により、クロックに同期させて順次クローズさせている。スイッチSx(x=1〜n)により各ソース信号線18に接続された画素16が選択される。また、選択する画素行の画素16はゲートドライバ12aにより選択され、選択画素行位置は順次シフトされる。   In the embodiment of FIG. 154 as well as in FIG. 125, the switch S is sequentially closed by the shift register 352 in synchronization with the clock. The pixel 16 connected to each source signal line 18 is selected by the switch Sx (x = 1 to n). Further, the pixels 16 in the pixel row to be selected are selected by the gate driver 12a, and the selected pixel row position is sequentially shifted.

各スイッチSが選択されることにより、選択された画素16にアノード電流が流れ込む。アノード電流により抵抗Rの両端に電圧が発生する。ソース信号線18に印加した電圧はA/D変換回路1711により、デジタル化され、メモリ351に蓄えられる。蓄えられたデータによりプログラム電圧に対応する階調電圧が算出あるいは求められる。他の構成は図125、図138と同様あるいは類似であるので説明を省略する。   By selecting each switch S, an anode current flows into the selected pixel 16. A voltage is generated across the resistor R by the anode current. The voltage applied to the source signal line 18 is digitized by the A / D conversion circuit 1711 and stored in the memory 351. A gray scale voltage corresponding to the program voltage is calculated or obtained from the stored data. Other configurations are the same as or similar to those shown in FIGS.

本発明は測定した電圧あるいは電流はフラッシュメモリなどに記憶させ、この記憶したデータに基づいて、映像信号にたいするプログラム電圧またはプログラム電流を求め画素16に印加するものである。したがって、画素構成は、図1、図2、図16、図17、図18、図19、図21などの電流プログラム、電圧プログラムのいずれであっても本発明の実施例を適用することができる。   In the present invention, the measured voltage or current is stored in a flash memory or the like, and a program voltage or a program current for the video signal is obtained and applied to the pixel 16 based on the stored data. Therefore, the embodiment of the present invention can be applied to the pixel configuration of any one of the current program and the voltage program shown in FIGS. 1, 2, 16, 17, 18, 19, and 21. .

測定あるいは取得した電圧データVは、フラッシュメモリなどに格納し、フラッシュメモリからデータをコントローラIC722のメモリに転送して映像データに対応するプログラム電圧またはプログラム電流を発生させる。しかし、フラッシュメモリの読み出し速度は低速である。本発明では、図139に図示するように、フラッシュメモリ3191を複数個、表示装置に実装する。実装したフラッシュメモリ3191からコントローラ722の制御により、対応するソースドライバ回路(IC)14に電圧データを転送している。各ソースドライバ回路(IC)14は転送された電圧データによりV−Iカーブを発生させ、映像データに対応するプログラム電圧またはプログラム電流をソース信号線18出力し、対応する画素16に駆動用トランジスタ11aに印加する。   The measured or acquired voltage data V is stored in a flash memory or the like, and the data is transferred from the flash memory to the memory of the controller IC 722 to generate a program voltage or a program current corresponding to the video data. However, the reading speed of the flash memory is low. In the present invention, as shown in FIG. 139, a plurality of flash memories 3191 are mounted on a display device. Voltage data is transferred from the mounted flash memory 3191 to the corresponding source driver circuit (IC) 14 under the control of the controller 722. Each source driver circuit (IC) 14 generates a VI curve based on the transferred voltage data, outputs a program voltage or a program current corresponding to the video data to the source signal line 18, and drives the transistor 11 a to the corresponding pixel 16. Apply to.

以上に説明した本発明の技術的思想は、本発明の他の実施例と組み合わせることができることはいうまでもない。また、以上の本発明の技術的思想を用いて、ソースドライバ回路(IC)14などの半導体、表示パネル、表示装置を構成できることは言うまでもない。   Needless to say, the technical idea of the present invention described above can be combined with other embodiments of the present invention. Further, it goes without saying that a semiconductor such as the source driver circuit (IC) 14, a display panel, and a display device can be configured using the above technical idea of the present invention.

以上のように実施することにより、V−Iカーブを精度よく求めることができる。求められた電圧はプログラム電圧となり、また、プログラム電流となる。各プログラム電流、プログラム電圧は映像信号に対応する。   By implementing as mentioned above, a VI curve can be calculated | required accurately. The obtained voltage becomes a program voltage and a program current. Each program current and program voltage correspond to a video signal.

図140に図示するように、電圧データは、求められたV−Iカーブより映像信号データに対応するように変換されて9ビットのデータとなる。8ビット以上の9ビットとしているのは、立ち上がり電圧Vt以下の電圧を発生させるためである。つまり、プログラム電流の範囲よりのプログラム電圧範囲が広く必要である。   As shown in FIG. 140, the voltage data is converted to 9-bit data by corresponding to the video signal data from the obtained VI curve. The reason why the number of bits is not less than 8 bits and 9 bits is to generate a voltage not higher than the rising voltage Vt. That is, a wider program voltage range than the program current range is required.

映像信号に対応するVDATAは、電圧階調回路371に入力され、図38のA期間(電圧)にソース信号線18にプログラム電圧として印加される。このプログラム電圧は、V−Iカーブで補正されているから、各画素16の駆動用トランジスタ11aの特性バラツキを反映している。つまり、電圧オフセットキャンセルされた値となっている。A期間のこのプログラム電圧により、ソース信号線18は、目標の電流が精度よくEL素子15に流れるように充放電される。次に、IDATAは、電流階調回路334でプログラム電流に変換され、ソース信号線18に供給される。供給期間は、図38のB期間である。図38などでも説明したように、プログラム電流は非常に精度が高いものである。したがって、精度のよいA期間のプログラム電圧とB期間のプログラム電圧により、画素16のコンデンサ19には、目標の電流がEL素子15に流れるようにプログラムされる。つまり、電圧+電流プログラムを実施できる。   VDATA corresponding to the video signal is input to the voltage gradation circuit 371 and applied as a program voltage to the source signal line 18 in the period A (voltage) of FIG. Since this program voltage is corrected by the VI curve, it reflects the characteristic variation of the driving transistor 11a of each pixel 16. That is, the voltage offset is canceled. With this program voltage during the A period, the source signal line 18 is charged and discharged so that the target current flows through the EL element 15 with high accuracy. Next, IDATA is converted into a program current by the current gradation circuit 334 and supplied to the source signal line 18. The supply period is period B in FIG. As described in FIG. 38 and the like, the program current has a very high accuracy. Therefore, the capacitor 19 of the pixel 16 is programmed so that the target current flows through the EL element 15 by the program voltage in the A period and the program voltage in the B period with high accuracy. That is, a voltage + current program can be implemented.

なお、図140では、A期間の電圧印加と、B期間の電流印加の両方を1H期間(1水平走査期間)に実施するとしたが、これに限定するものではない。たとえば、低階調領域では1Hのすべての期間をA期間としてもよい。また、高階調領域では1Hのすべての期間をB期間としてもよい。低階調領域では、プログラム電流は微小でありほとんどソース信号線18の充放電には影響を与えないからである。また、低階調領域では、プログラム電圧が支配的となるからである。   In FIG. 140, both the voltage application in the A period and the current application in the B period are performed in the 1H period (one horizontal scanning period), but the present invention is not limited to this. For example, in the low gradation region, all periods of 1H may be set as the A period. In the high gradation region, all periods of 1H may be set as the B period. This is because, in the low gradation region, the program current is very small and hardly affects the charging / discharging of the source signal line 18. In addition, the program voltage is dominant in the low gradation region.

以上の実施例では、電圧+電流プログラム駆動を実施することにより、あたかも、低階調領域では電圧オフセットキャンセルを実施しているように駆動され、高階調領域では、電流プログラム駆動を実施していることなる。したがって、電圧駆動の効果と電流駆動の効果が補間して実施することできる。   In the above embodiment, by performing voltage + current program driving, it is driven as if voltage offset cancellation is performed in the low gradation region, and current program driving is performed in the high gradation region. It will be different. Therefore, the effect of voltage driving and the effect of current driving can be interpolated.

図140における電流データIDATAと、電圧データVDATAの関係は、図141のように示される。図140において、Vtとは駆動用トランジスタの立ち上がり電圧であり、Vt電圧以下では、EL素子15には電流が供給されない。Vt電圧は駆動用トランジスタの特性バラツキにより各駆動用トランジスタで異なっている。したがって、VDATAはすべての駆動用トランジスタをオフ状態(電流が流れない)にする電圧Vbbを原点とする必要がある。つまり、VDATAはVbb電圧を0とし、9ビット(512)きざみとしている。一方、プログラム電流であるIDATAは、EL素子15に電流が流れないときは、0であるから、0を限定とし、8ビット(256きざみ)としている。   The relationship between the current data IDATA and the voltage data VDATA in FIG. 140 is as shown in FIG. In FIG. 140, Vt is the rising voltage of the driving transistor, and no current is supplied to the EL element 15 below the Vt voltage. The Vt voltage is different for each driving transistor due to characteristic variations of the driving transistor. Therefore, VDATA needs to have the origin at the voltage Vbb that turns off all the driving transistors (no current flows). That is, VDATA sets the Vbb voltage to 0 and has 9 bits (512) increments. On the other hand, IDATA, which is a program current, is 0 when no current flows through the EL element 15, so 0 is limited to 8 bits (256 increments).

図140の構成を図36に適用し、さらに詳しく図示すれば図142となる。VDATAは電子ボリウム291に入力され、電子ボリウム291は、VbbとVdd間の電圧を複数にきざんで出力する。電子ボリウム291の出力は電圧階調回路371に入力される。なお、電圧階調回路371は電子ボリウム291を含むと考えてもよい。他の構成は、図36と同様であるので説明を省略する。   If the configuration of FIG. 140 is applied to FIG. 36 and shown in more detail, FIG. 142 is obtained. VDATA is input to the electronic volume 291, and the electronic volume 291 outputs a plurality of voltages between Vbb and Vdd. The output of the electronic volume 291 is input to the voltage gradation circuit 371. Note that the voltage gradation circuit 371 may be considered to include the electronic volume 291. Other configurations are the same as those in FIG.

図140、図142に図示するように、1つの画素16には、プログラム電流データ(IDATA)とプログラム電圧データ(VDATA)が必要である。したがって、図149(a)に図示するように倍速でIDATA、VDATAを伝送している。しかし、倍速伝送は回路系の負担が大きい。この課題を解決するために、まず、アレイ30の作製方法などについて説明をする。   As shown in FIGS. 140 and 142, one pixel 16 requires program current data (IDATA) and program voltage data (VDATA). Therefore, as shown in FIG. 149 (a), IDATA and VDATA are transmitted at double speed. However, double-speed transmission places a heavy burden on the circuit system. In order to solve this problem, first, a method for manufacturing the array 30 will be described.

画素16のトランジスタ11を構成する半導体膜は、低温ポリシリコン技術において、レーザーアニ−ルにより形成するのが一般的である。このレーザーアニ−ルの条件のバラツキがトランジスタ11特性のバラツキとなる。しかし、1画素16内のトランジスタ11の特性が一致していれば、図1の画素構成で電流プログラムを行う方式では、所定の電流がEL素子15に流れるように駆動することができる。この点は、電圧プログラムにない利点である。レーザーとしてはエキシマレーザーを用いることが好ましい。   The semiconductor film constituting the transistor 11 of the pixel 16 is generally formed by laser annealing in the low temperature polysilicon technology. Variations in the laser annealing conditions result in variations in transistor 11 characteristics. However, if the characteristics of the transistors 11 in one pixel 16 match, the current programming with the pixel configuration in FIG. 1 can be driven so that a predetermined current flows through the EL element 15. This is an advantage not found in voltage programming. An excimer laser is preferably used as the laser.

なお、本発明において、アレイ30の半導体膜の形成は、レーザーアニール方法に限定するものではなく、熱アニ-ル方法、固相(CGS)成長による方法でもよい。その他、低温ポリシリコン技術に限定するものではなく、高温ポリシリコン技術を用いても良いことはいうまでもない。
本発明では図148に示すように、アニ−ルの時のレーザー照射スポット(レーザー照射範囲)72をソース信号線18に平行に照射する。また、1画素列に一致するようにレーザー照射スポット72を移動させる。もちろん、1画素列に限定するものではなく、たとえば、RGBを1画素16という単位でレーザーを照射してもよい(この場合は、3画素列ということになる)。また、複数の画素に同時に照射してもよい。また、レーザーの照射範囲の移動がオーバーラップしてもよいことは言うまでもない(通常、移動するレーザー光の照射範囲はオーバーラップするのが普通である)。
画素はRGBの3画素で正方形の形状となるように作製されている。したがって、R、G、Bの各画素は縦長の画素形状となる。したがって、レーザー照射スポット72を縦長にしてアニ−ルすることにより、1画素内ではトランジスタ11の特性バラツキが発生しないようにすることができる。また、1つのソース信号線18に接続されたトランジスタ11の特性(モビリティ、Vt、S値など)を均一にすることができる(つまり、隣接したソース信号線18のトランジスタ11とは特性が異なる場合があるが、1つのソース信号線に接続されたトランジスタ11の特性はほぼ等しくすることができる)。
In the present invention, the formation of the semiconductor film of the array 30 is not limited to the laser annealing method, but may be a thermal annealing method or a method by solid phase (CGS) growth. In addition, the present invention is not limited to the low temperature polysilicon technology, and it goes without saying that the high temperature polysilicon technology may be used.
In the present invention, as shown in FIG. 148, a laser irradiation spot (laser irradiation range) 72 at the time of annealing is irradiated in parallel to the source signal line 18. Further, the laser irradiation spot 72 is moved so as to coincide with one pixel column. Of course, the present invention is not limited to one pixel column. For example, RGB may be irradiated with a unit of 16 pixels (in this case, it is a 3 pixel column). In addition, a plurality of pixels may be irradiated simultaneously. Further, it goes without saying that the movement of the laser irradiation range may overlap (usually, the irradiation range of the moving laser light is usually overlapped).
The pixels are made of three pixels of RGB and have a square shape. Accordingly, each of the R, G, and B pixels has a vertically long pixel shape. Therefore, by making the laser irradiation spot 72 vertically long and annealing, it is possible to prevent the characteristic variation of the transistor 11 from occurring within one pixel. Further, the characteristics (mobility, Vt, S value, etc.) of the transistor 11 connected to one source signal line 18 can be made uniform (that is, the characteristics are different from those of the transistor 11 of the adjacent source signal line 18). However, the characteristics of the transistor 11 connected to one source signal line can be made substantially equal).

一般的にレーザー照射スポット72の長さは10インチというように固定値である。このレーザー照射スポット72を移動させるのであるから、1つのレーザー照射スポット72を移動できる範囲内におさまるようにパネルを配置する必要がある(つまり、パネルの表示領域64の中央部でレーザー照射スポット72が重ならないよういする)。   In general, the length of the laser irradiation spot 72 is a fixed value such as 10 inches. Since this laser irradiation spot 72 is moved, it is necessary to arrange the panel so that one laser irradiation spot 72 is within the movable range (that is, the laser irradiation spot 72 at the center of the display area 64 of the panel). So that they do n’t overlap.)

図148の構成では、レーザー照射スポット72の長さの範囲内に3つのパネルが縦に配置されるように形成されている。レーザー照射スポット72を照射するアニ−ル装置はガラス基板74の位置決めマーカー73a、73bを認識(パターン認識による自動位置決め)してレーザー照射スポット72を移動させる。位置決めマーカー73の認識はパターン認識装置で行う。アニ−ル装置(図示せず)は位置決めマーカー73を認識し、画素列の位置をわりだす(レーザー照射範囲72がソース信号線18と平行になるようにする)。画素列位置に重なるようにレーザー照射スポット72を照射してアニ−ルを順次行う。   In the configuration of FIG. 148, three panels are formed vertically within the range of the length of the laser irradiation spot 72. The annealing device that irradiates the laser irradiation spot 72 recognizes the positioning markers 73a and 73b of the glass substrate 74 (automatic positioning by pattern recognition) and moves the laser irradiation spot 72. The positioning marker 73 is recognized by a pattern recognition device. An annealing device (not shown) recognizes the positioning marker 73 and determines the position of the pixel column (makes the laser irradiation range 72 parallel to the source signal line 18). Annealing is sequentially performed by irradiating the laser irradiation spot 72 so as to overlap the pixel row position.

図148で説明したレーザーアニ−ル方法(ソース信号線18に平行にライン状のレーザースポットを照射する方式)は、有機EL表示パネルの電流プログラム方式の時に特に採用することが好ましい。なぜならば、ソース信号線に平行方向にトランジスタ11の特性が一致しているためである(縦方向に隣接した画素トランジスタの特性が近似している)。そのため、電流駆動時にソース信号線の電圧レベルの変化が少なく、電流書き込み不足が発生しにくい。駆動用トランジスタ11aの特性が一致するとは、たとえば図141においてVt電圧が一致あるいは類似していることである。したがって、ソース信号線18に沿った画素の駆動用トランジスタ11aのVtに対するプログラム電圧は略一致してことになる。ソース信号線18に平行にレーザーを照射し、そのレーザー照射範囲72をソース信号線18に垂直に移動させているからである。   The laser annealing method (method of irradiating a line-shaped laser spot parallel to the source signal line 18) described with reference to FIG. 148 is particularly preferably used in the current programming method of the organic EL display panel. This is because the characteristics of the transistor 11 match in the direction parallel to the source signal line (the characteristics of the pixel transistors adjacent in the vertical direction are approximate). Therefore, there is little change in the voltage level of the source signal line at the time of current driving, and current writing shortage hardly occurs. That the characteristics of the driving transistor 11a are identical means that the Vt voltages are identical or similar in FIG. 141, for example. Therefore, the program voltage with respect to Vt of the driving transistor 11a of the pixel along the source signal line 18 is substantially the same. This is because the laser is irradiated in parallel with the source signal line 18 and the laser irradiation range 72 is moved vertically to the source signal line 18.

1つのソース信号線18に接続された駆動用トランジスタ11aの特性が一致していることは電流駆動において以下の利点がある。たとえば、白ラスター表示であれば、隣接した各画素のトランジスタ11aに流す電流はほぼ同一のため、ソースドライバIC14から出力する電流振幅の変化が少ない。もし、図1のトランジスタ11aの特性が同一であり、各画素に電流プログラムする電流値が画素列で等しいのであれば、電流プログラム時のソース信号線18の電位は一定である。したがって、ソース信号線18の電位変動は発生しない。また、電圧+電流駆動を実施する場合においても、印加する電圧(プログラム電圧)は変化させる必要がないということになる。また、1つのソース信号線18に接続されたトランジスタ11aの特性がほぼ同一であれば、ソース信号線18の電位変動は小さいことになる。このことは、ソース信号線18に沿った画素のV0電圧は略同一の値としてもよいことを意味する。また、V−I特性も略一致しているため、V1電圧なども同一でよい。つまり、ソース信号線18に沿った画素のV−I特性は略一致していると考えてよい。   The matching of the characteristics of the driving transistor 11a connected to one source signal line 18 has the following advantages in current driving. For example, in the case of white raster display, the current flowing through the transistor 11a of each adjacent pixel is almost the same, so the change in the current amplitude output from the source driver IC 14 is small. If the characteristics of the transistor 11a in FIG. 1 are the same and the current values to be programmed in each pixel are the same in the pixel columns, the potential of the source signal line 18 at the time of current programming is constant. Therefore, the potential fluctuation of the source signal line 18 does not occur. Even when voltage + current driving is performed, it is not necessary to change the applied voltage (program voltage). If the characteristics of the transistors 11a connected to one source signal line 18 are substantially the same, the potential fluctuation of the source signal line 18 is small. This means that the V0 voltages of the pixels along the source signal line 18 may have substantially the same value. In addition, since the V-I characteristics also substantially match, the V1 voltage and the like may be the same. That is, it can be considered that the VI characteristics of the pixels along the source signal line 18 are substantially the same.

なお、ゲート信号線18に平行にレーザーを照射し、そのレーザー照射範囲72をゲート信号線18に垂直に移動させル場合は、ゲート信号線18に沿った画素のV0電圧は略同一の値としてもよいことを意味する。また、V−I特性も略一致しているため、V1電圧なども同一でよい。つまり、ゲート信号線18に沿った画素のV−I特性は略一致していると考えて以下の実施例を適用することは言うまでもない。   When laser is irradiated in parallel to the gate signal line 18 and the laser irradiation range 72 is moved vertically to the gate signal line 18, the V0 voltages of the pixels along the gate signal line 18 are set to substantially the same value. Means good. In addition, since the V-I characteristics also substantially match, the V1 voltage and the like may be the same. That is, it is needless to say that the following embodiments are applied on the assumption that the VI characteristics of the pixels along the gate signal line 18 are substantially matched.

図148のようにアレイを作製することにより、ソース信号線18に沿って駆動用トランジスタ11aのV0特性などのプログラム電圧が略一致している。したがって、複数画素のV0電圧などが同一であってもよい。   By producing the array as shown in FIG. 148, the program voltages such as the V0 characteristics of the driving transistor 11 a are substantially the same along the source signal line 18. Accordingly, the V0 voltages of the plurality of pixels may be the same.

図150はソース信号線18に沿った2画素のV0電圧を同一にした実施例である。V0電圧は駆動用トランジスタ11aで異なる。図150などの以下で示す実施例では、異なるV0電圧をV0xとし、xの添え字をつけて示している(V01、V02など)。なお、V0などのVDATAは複数画素で共通にするが、IDATAが各画素で映像信号に対応して異ならせている。もちろん、画像の解像度が必要でない場合は、IDATAも複数画素で共通にしてもよいことは言うまでもない。   FIG. 150 shows an embodiment in which the V0 voltages of two pixels along the source signal line 18 are the same. The V0 voltage varies depending on the driving transistor 11a. In the embodiment shown below such as FIG. 150, different V0 voltages are represented by V0x, and suffixed with x (V01, V02, etc.). Note that VDATA such as V0 is common to a plurality of pixels, but IDATA is different for each pixel corresponding to the video signal. Of course, if the image resolution is not required, it goes without saying that IDATA may be shared by a plurality of pixels.

図150(a)は第1F(フィールド(フレーム))の状態である。図150(a)の点線で示すように奇数画素行と偶数画素行でV0電圧を共通にしている。このように構成することにより、2つのIDATAに対して1つのVDATAを伝送することだけでよい。したがって、図149のIDATA、VDATAの伝送速度は、1.5倍速で済むことになる。   FIG. 150A shows the state of the first F (field (frame)). As indicated by the dotted line in FIG. 150A, the odd-numbered pixel row and the even-numbered pixel row share the V0 voltage. With this configuration, it is only necessary to transmit one VDATA to two IDATA. Therefore, the transmission rate of IDATA and VDATA in FIG. 149 can be 1.5 times faster.

しかし、図150のように、2画素に共通のVDATAにすると、解像度が低下する可能がある。この課題に対しては、図150(b)に図示するように、第1F(フィールド(フレーム))の次の第2F(フィールド(フレーム))では、偶数画素行と奇数画素行で共通にしている(点線で示している)。第3F(フィールド(フレーム))では、図150(a)のようにVDATAを共通にする(V−Iカーブを共通にする)。   However, as shown in FIG. 150, when VDATA common to two pixels is used, the resolution may be lowered. To solve this problem, as shown in FIG. 150B, in the second F (field (frame)) next to the first F (field (frame)), the even pixel rows and the odd pixel rows are made common. Yes (indicated by a dotted line). In the third F (field (frame)), VDATA is made common (V-I curve is made common) as shown in FIG.

図151では、ソース信号線18に沿った画素16のV0データ(V−Iカーブ)を共通にした実施例である。図148の実施例のようにアレイを形成する場合に有効である。V0電圧は、1つの画素列のV0、V1、V−Iカーブなどを平均化してものを用いる。   FIG. 151 shows an example in which V0 data (VI curve) of the pixels 16 along the source signal line 18 is shared. This is effective when an array is formed as in the embodiment of FIG. The V0 voltage is obtained by averaging the V0, V1, and V-I curves of one pixel column.

平均化の方法としては各画素列のソース信号線18に定電流(0電流を含む)を印加し、第1番目の画素行から最後の画素行まで順次選択し、選択するごとにソース信号線18のV0あるいはV1電圧を測定する。測定後、得られたV1またはV0電圧を平均化して、プログラム電圧V0、V1を求める。   As an averaging method, a constant current (including zero current) is applied to the source signal line 18 of each pixel column, and the first pixel row to the last pixel row are sequentially selected, and each time the source signal line is selected, the source signal line is selected. Measure 18 V0 or V1 voltage. After the measurement, the obtained V1 or V0 voltage is averaged to obtain program voltages V0 and V1.

図152は、RGBの画素でV0電圧などを共通にした実施例である。近接したV0電圧は略一致しているからである。図152のようにRGBで共通にする場合は、IDATA、VDATAの伝送は、図149(b)のようになる。RGBで共通のVDATAを伝送し、次に各RGB画素のIDATAを伝送する。以上のように構成すれば、伝送速度はほとんど高くならない。   FIG. 152 shows an embodiment in which V0 voltage and the like are shared by RGB pixels. This is because the adjacent V0 voltages substantially match. When common to RGB as shown in FIG. 152, transmission of IDATA and VDATA is as shown in FIG. 149 (b). RGB common VDATA is transmitted, and then IDATA of each RGB pixel is transmitted. If configured as described above, the transmission speed hardly increases.

当然のことながら、図153に図示するようにマトリックス状(ブロック状)にV0電圧などを共通にしてもよいことは言うまでもない。   Of course, as shown in FIG. 153, it is needless to say that the V0 voltage or the like may be shared in a matrix (block).

なお、図150などの実施例では、複数画素においてV0電圧を共通にするとしたが、これに限定するものではなく、複数画素のV1電圧などを一致させてもよい。また、本発明は複数画素でV−I特性を共通にするという技術的思想である。したがって、V0、V1電圧を複数画素で共通にすることに限定されるものではない。V−Iカーブを共通にするとしてよい。また、2画素に限定されるものではないことも言うまでもない。   In the embodiment shown in FIG. 150 and the like, the V0 voltage is made common to a plurality of pixels. However, the present invention is not limited to this, and the V1 voltages of the plurality of pixels may be matched. Further, the present invention is a technical idea that a plurality of pixels share a VI characteristic. Therefore, the present invention is not limited to making the V0 and V1 voltages common to a plurality of pixels. The VI curve may be shared. Needless to say, the number of pixels is not limited to two.

以上の実施例は、定電流をソース信号線18に印加し、V0電圧を測定するとした。この動作を実施することによりV−Iカーブを求める。同時に、本発明では、画素16の欠陥などを検出することができる。以下その実施例について説明をする。   In the above embodiment, a constant current is applied to the source signal line 18 and the V0 voltage is measured. By performing this operation, the VI curve is obtained. At the same time, in the present invention, a defect or the like of the pixel 16 can be detected. The embodiment will be described below.

図143に図示するように、ソースドライバ回路14から定電流I1を流す。定電流I1は画素16の駆動用トランジスタ11aから流れ込んでくる。駆動用トランジスタ11aはI1の電流を流すようにゲート端子電位を変化させる。AD変化回路1711はゲート端子電位を測定する。図143に図示するように、駆動用トランジスタ11aにSDショート(チャンネルショート)が発生すると、Vdd端子電位がソース信号線18に印加させる。したがって、AD変換回路1711が測定する電位は、Vdd電位となる。つまり、AD変換回路1711でSDショートを検出できる。   As illustrated in FIG. 143, a constant current I1 is supplied from the source driver circuit 14. The constant current I1 flows from the driving transistor 11a of the pixel 16. The driving transistor 11a changes the gate terminal potential so that the current I1 flows. The AD change circuit 1711 measures the gate terminal potential. As shown in FIG. 143, when an SD short (channel short) occurs in the driving transistor 11a, the Vdd terminal potential is applied to the source signal line 18. Therefore, the potential measured by the AD conversion circuit 1711 is the Vdd potential. That is, the SD short circuit can be detected by the AD conversion circuit 1711.

図123などの回路構成によれば、ソース信号線18に定電流I1が流れるから、ゲート信号線17a(G1、G2、G3、・・・・・・・・・、Gn 1は画面最初の画素行番号、nは画面最後の画素行番号)を順次シフトしていくと(図146(b)を参照のこと)、図146(a)の電圧(電流)波形を測定することができる。AD変換回路1711は図146(c)の取り込み信号に同期してソース信号線18の電位を取り込む。この電圧波形をパーソナルコンピュータ(PC)などのデータ収集手段および制御手段に取り込む。   According to the circuit configuration of FIG. 123 and the like, since the constant current I1 flows through the source signal line 18, the gate signal line 17a (G1, G2, G3,..., Gn1 is the first pixel on the screen. When the row number, n is the pixel row number at the end of the screen) is sequentially shifted (see FIG. 146 (b)), the voltage (current) waveform in FIG. 146 (a) can be measured. The AD conversion circuit 1711 captures the potential of the source signal line 18 in synchronization with the capture signal in FIG. 146 (c). This voltage waveform is taken into data collection means and control means such as a personal computer (PC).

図146がソース信号線18の電位(出力される電流または電圧)を測定する回路(検査回路)のタイミングチャートである。図146(a)は1Hに同期したソース信号線18の電位(電圧または電流)変化を示している。図146(b)はゲート信号線17bの電位を図示している。つまり、1画素行ずつオン電圧位置がシフトされていることを示している。この選択画素行に同期して、選択された画素行のトランジスタ11aが動作し、ソース信号線18の電位が変化する。   FIG. 146 is a timing chart of a circuit (inspection circuit) that measures the potential (output current or voltage) of the source signal line 18. FIG. 146 (a) shows the potential (voltage or current) change of the source signal line 18 synchronized with 1H. FIG. 146 (b) illustrates the potential of the gate signal line 17b. That is, the on-voltage position is shifted by one pixel row. In synchronization with the selected pixel row, the transistor 11a in the selected pixel row operates, and the potential of the source signal line 18 changes.

図146(c)はAD変換回路1711へのデータ取り込み信号である。なお、取り込み信号は、説明を容易にするため、また作図を容易にするため1画素列分について記載している。実際には、図123のスイッチSx(x=1〜n nは最大画素列番号)があるから、このxの個数分の取り込み信号が必要である。このデータ取り込み信号の立ち上がりでデータ入力手段にデータが取り込まれる。   FIG. 146 (c) shows a data capture signal to the AD conversion circuit 1711. Note that the capture signal is described for one pixel column for ease of explanation and easy drawing. Actually, since there are the switches Sx (x = 1 to nn are the maximum pixel column numbers) in FIG. Data is taken into the data input means at the rising edge of this data take-in signal.

PCでは取り込まれたデータの値を評価/判断する。また、データの値を蓄積する。この結果により、アレイあるいはパネルの欠陥状態、欠陥位置、欠陥モード、不良状態などを検出あるいは検査する。   The PC evaluates / determines the value of the captured data. In addition, data values are accumulated. Based on this result, the defect state, defect position, defect mode, defect state, etc. of the array or panel are detected or inspected.

図143の画素構成で、ゲート信号線17aにオン電圧を印加し、ゲート信号線17bにオフ電圧を印加した状態では、Vdd端子→トランジスタ11aのSDショート→トランジスタ11c→ソース信号線18への電流経路が生じる。   In the pixel configuration of FIG. 143, in a state where an on voltage is applied to the gate signal line 17a and an off voltage is applied to the gate signal line 17b, the Vdd terminal → SD short of the transistor 11a → the current to the transistor 11c → the source signal line A route is created.

トランジスタ11aにソース端子S−ドレイン端子D間ショート(SDショートまたはチャンネルショートと呼ぶ)が発生していると、ソース信号線18にはVdd電圧が出力される。したがって、トランジスタ11aのSDショート(画素欠陥)を電気的に検出できる(図147(a)を参照のこと)。   When a short-circuit between the source terminal S and the drain terminal D (referred to as an SD short or a channel short) occurs in the transistor 11a, a Vdd voltage is output to the source signal line 18. Therefore, the SD short (pixel defect) of the transistor 11a can be electrically detected (see FIG. 147 (a)).

ゲート信号線17aが断線していれば、プログラム電流I1の経路は発生しないので、ソース信号線18の電位がグランド電位に近くなる(図147(b)のゲート断線を参照のこと)。したがって、ゲート信号線17aの断線などの線欠陥も検出できる(検査できる)。もちろん、ソース信号線が断線していれば、出力が全くでないのでソース信号線18の断線を検出できる。   If the gate signal line 17a is disconnected, the path of the program current I1 is not generated, so that the potential of the source signal line 18 is close to the ground potential (see the gate disconnection in FIG. 147 (b)). Accordingly, line defects such as disconnection of the gate signal line 17a can be detected (inspected). Of course, if the source signal line is disconnected, the output is not at all, so that the disconnection of the source signal line 18 can be detected.

また、すべてのゲート信号線17aにオフ電圧を印加した状態で、規定以外の電圧がソース信号線18に出力されていれば、いずれかの画素16のトランジスタ11cあるいはトランジスタ11bに欠陥が発生しているということを検出もできる。また、Vdd端子にVdd電圧(アノード電圧)を印加するか、Vdd端子をオープンにするかを変化させることにより、ソース信号線18に出力される信号が変化する。この変化により画素16内で発生している欠陥を詳細に検討、検査することができる。また、カソード電極に対しても、信号印加状態でより、ソース信号線18に出力される信号が変化するから、画素16の欠陥を検出できる。   In addition, if a voltage other than the specified voltage is output to the source signal line 18 in a state where the off voltage is applied to all the gate signal lines 17a, a defect occurs in the transistor 11c or the transistor 11b of any one of the pixels 16. It can also be detected. Further, the signal output to the source signal line 18 is changed by changing whether the Vdd voltage (anode voltage) is applied to the Vdd terminal or whether the Vdd terminal is opened. Due to this change, defects occurring in the pixel 16 can be examined and inspected in detail. Further, since the signal output to the source signal line 18 also changes with respect to the cathode electrode in the signal application state, the defect of the pixel 16 can be detected.

逆に、ソース信号線18に信号を印加し、カソード電極に出力される信号を検出することにより画素16の欠陥などを検出できることは言うまでもない。この場合も、画素行を選択するオン電圧位置を順次走査することにより実施すればよい。   On the contrary, it goes without saying that a defect or the like of the pixel 16 can be detected by applying a signal to the source signal line 18 and detecting a signal output to the cathode electrode. In this case as well, the on-voltage position for selecting the pixel row may be sequentially scanned.

ゲートドライバ回路12により選択する画素行位置を順次シフトし、シフト動作と同期してソース信号線18の電位を順次測定している。以上の動作を画面64の上から下まで実施する(1画素列の検査が完了する)ことにより表示パネル(アレイ基板30)の検査を行うことができる。   The pixel row position selected by the gate driver circuit 12 is sequentially shifted, and the potential of the source signal line 18 is sequentially measured in synchronization with the shift operation. The display panel (array substrate 30) can be inspected by performing the above operation from the top to the bottom of the screen 64 (the inspection of one pixel column is completed).

以上のように構成あるいは動作させることにより、V−Iカーブの発生のためのV1、V0電圧の測定と同時にアレイ30の画素欠陥などの検査も同時に実施することができる。   By configuring or operating as described above, it is possible to simultaneously inspect the pixel defects and the like of the array 30 simultaneously with the measurement of the V1 and V0 voltages for generating the VI curve.

なお、本発明の実施例において、各画素でV0電圧などを測定するとしたが、これに限定するものでない。たとえば、図148などのように、アレイ30が形成される場合は、ソース信号線18に沿った画素列(レーザー照射範囲に沿った画素領域)で共通のV0、V1、V−Iカーブとしてもよいことは言うまでもない。たとえば、画素列でV0電圧を共通にする場合は、V0電圧は画素列ごとに1つだけ測定するだけでよいことは言うまでもない。また、図150〜図153のようにV−Iカーブ、プログラム電圧V0、V1などを設定してもよい。   In the embodiment of the present invention, the V0 voltage and the like are measured at each pixel, but the present invention is not limited to this. For example, as shown in FIG. 148, when the array 30 is formed, V0, V1, and VI curves common to the pixel columns along the source signal lines 18 (pixel regions along the laser irradiation range) may be used. It goes without saying that it is good. For example, when the V0 voltage is made common in the pixel columns, it goes without saying that only one V0 voltage needs to be measured for each pixel column. Also, as shown in FIGS. 150 to 153, a VI curve, program voltages V0, V1, etc. may be set.

以下、本発明のEL表示パネルまたはEL表示装置もしくはその駆動方法などを用いた装置などについて説明をする。以下の装置は、以前に説明した本発明の装置または方法を実施する。図53は情報端末装置の一例としての携帯電話の平面図である。筐体1333にアンテナ1331、テンキー1332などが取り付けられている。1332などが表示色切換キーあるいは電源オンオフ、フレームレート切り換えキーである。   Hereinafter, an EL display panel or an EL display device of the present invention or a device using the driving method thereof will be described. The following apparatus implements the previously described apparatus or method of the present invention. FIG. 53 is a plan view of a mobile phone as an example of an information terminal device. An antenna 1331, a numeric keypad 1332, and the like are attached to the housing 1333. 1332 and the like are display color switching keys, power on / off, and frame rate switching keys.

キー1332を1度押さえると表示色は8色モードに、つづいて同一キー1332を押さえると表示色は4096色モード、さらにキー1332を押さえると表示色は26万色モードとなるようにシーケンスを組んでもよい。キーは押さえるごとに表示色モードが変化するトグルスイッチとする。   If the key 1332 is pressed once, the display color is set to the 8-color mode, then the same key 1332 is pressed, the display color is set to 4096 color mode, and if the key 1332 is pressed, the display color is set to the 260,000 color mode. But you can. The key is a toggle switch that changes the display color mode each time it is pressed.

図54は本発明の実施の形態におけるビューファインダの断面図である。但し、説明を容易にするため模式的に描いている。また一部拡大あるいは縮小した箇所が存在し、また、省略した箇所もある。たとえば、図54において、接眼カバーを省略している。以上のことは他の図面においても該当する。   FIG. 54 is a cross-sectional view of the viewfinder in the embodiment of the present invention. However, it is schematically drawn for easy explanation. In addition, there are parts that are partially enlarged or reduced, and some parts are omitted. For example, in FIG. 54, the eyepiece cover is omitted. The above also applies to other drawings.

ボデー1333の裏面は暗色あるいは黒色にされている。これは、EL表示パネル(表示装置)1334から出射した迷光がボデー1333の内面で乱反射し表示コントラストの低下を防止するためである。また、表示パネルの光出射側には位相板(λ/4板など)38、偏光板39などが配置されている。このことは図3、図4でも説明している。   The back surface of the body 1333 is dark or black. This is because stray light emitted from the EL display panel (display device) 1334 is diffusely reflected on the inner surface of the body 1333 to prevent a decrease in display contrast. Further, a phase plate (λ / 4 plate or the like) 38, a polarizing plate 39, or the like is disposed on the light emission side of the display panel. This is also explained in FIG. 3 and FIG.

接眼リング1341には拡大レンズ1342が取り付けられている。観察者は接眼リング1341をボデー1333内での挿入位置を可変して、表示パネル1334の表示画面64にピントがあうように調整する。   A magnifying lens 1342 is attached to the eyepiece ring 1341. The observer adjusts the eyepiece ring 1341 so that the display screen 64 of the display panel 1334 is in focus by changing the insertion position of the eyepiece ring 1341 in the body 1333.

また、必要に応じて表示パネル1334の光出射側に正レンズ1343を配置すれば、拡大レンズ1342に入射する主光線を収束させることができる。そのため、拡大レンズのレンズ径を小さくすることができ、ビューファインダを小型化することができる。   Further, if a positive lens 1343 is disposed on the light exit side of the display panel 1334 as necessary, the principal ray incident on the magnifying lens 1342 can be converged. Therefore, the lens diameter of the magnifying lens can be reduced, and the viewfinder can be miniaturized.

図55はビデオカメラの斜視図である。ビデオカメラは撮影(撮像)レンズ部1352とビデオかメラ本体1333と具備し、撮影レンズ部1352とビューファインダ部1333とは背中合わせとなっている。また、ビューファインダ(図54も参照)1333には接眼カバーが取り付けられている。観察者(ユーザー)はこの接眼カバー部から表示パネル1334の表示画面64を観察する。   FIG. 55 is a perspective view of the video camera. The video camera includes a photographing (imaging) lens unit 1352 and a video or melody body 1333, and the photographing lens unit 1352 and the viewfinder unit 1333 are back to back. An eyepiece cover is attached to the viewfinder (see also FIG. 54) 1333. An observer (user) observes the display screen 64 of the display panel 1334 from the eyepiece cover portion.

本発明のEL表示パネルは表示モニターとしても使用されている。表示部64は支点1351で角度を自由に調整できる。表示部64を使用しない時は、格納部1353に格納される。   The EL display panel of the present invention is also used as a display monitor. The display unit 64 can freely adjust the angle at a fulcrum 1351. When the display unit 64 is not used, it is stored in the storage unit 1353.

本実施の形態のEL表示装置などはビデオカメラだけでなく、図56に示すような電子カメラ、スチルカメラなどにも適用することができる。表示装置はカメラ本体1361に付属されたモニター64として用いる。カメラ本体1361にはシャッタ1363の他、スイッチ1354が取り付けられている。   The EL display device and the like in this embodiment can be applied not only to a video camera but also to an electronic camera, a still camera, or the like as shown in FIG. The display device is used as a monitor 64 attached to the camera body 1361. In addition to the shutter 1363, a switch 1354 is attached to the camera body 1361.

本発明のEL表示パネルは、3D(立体)表示装置にも採用できる。図58は本発明の3D表示装置の説明図である。図58に図示するように、2枚のEL表示パネル(EL表示アレイ)30a、30bは対面して配置されている。また、表示パネル30aの画素電極15aと、表示パネル30bの画素電極15bとは対面する位置に配置されている。2枚のEL表示パネルの間隔は隔離柱1411で保持されている。隔離柱1411は表示領域64の周囲に配置され、リング状の形状をしている。ガラスなどの無機材料で構成されている。隔離柱1411(高さ)は圧膜技術、塗布技術、印刷技術などで形成または構成してもよい。また、アレイ基板30をエッチング技術あるいは研磨技術を用いて表示領域64などを掘り下げることにより形成してもよい。   The EL display panel of the present invention can also be employed in a 3D (stereoscopic) display device. FIG. 58 is an explanatory diagram of the 3D display device of the present invention. As shown in FIG. 58, the two EL display panels (EL display arrays) 30a and 30b are arranged facing each other. Further, the pixel electrode 15a of the display panel 30a and the pixel electrode 15b of the display panel 30b are arranged at facing positions. The distance between the two EL display panels is held by a separation column 1411. The isolation column 1411 is disposed around the display area 64 and has a ring shape. It is composed of an inorganic material such as glass. The isolation column 1411 (height) may be formed or configured by a pressure film technique, a coating technique, a printing technique, or the like. Alternatively, the array substrate 30 may be formed by digging up the display region 64 or the like using an etching technique or a polishing technique.

隔離柱1411は1mm以上8mm以下の厚みである。特に、隔離柱1411は3mm以上7mm以下の厚みにすることが好ましい(図60のdが該当する)。隔離柱1411は封止樹脂6332でパネル30a、30bに貼り付けられている。空間6333には必要に応じて乾燥剤が配置あるいは形成または構成される。   The isolation column 1411 has a thickness of 1 mm or more and 8 mm or less. In particular, it is preferable that the isolation column 1411 has a thickness of 3 mm to 7 mm (corresponding to d in FIG. 60). The isolation column 1411 is attached to the panels 30 a and 30 b with a sealing resin 6332. In the space 6333, a desiccant is disposed, formed, or configured as necessary.

なお、図58では、表示パネル30aと30bは2枚の基板で一体化されているように図示したがこれに限定するものではない。表示パネル30aと30bはそれぞれアレイ基板と対向基板(封止基板)を有するように構成してもよい。つまり、独立した表示パネル30aと30bを隔離柱1411などの隔離手段(一定間隔を保持する手段)を用いて配置してもよい。   In FIG. 58, the display panels 30a and 30b are illustrated as being integrated by two substrates, but the present invention is not limited to this. The display panels 30a and 30b may each be configured to have an array substrate and a counter substrate (sealing substrate). In other words, the independent display panels 30a and 30b may be arranged using an isolation means (a means for maintaining a constant interval) such as the isolation column 1411.

表示パネル30aの画素電極15aと、表示パネル30bの画素電極15bとは、異なる画像あるいは同一の画像を表示する。画像はA方向から観察する。したがって、EL表示パネル30aは透過型である必要がある。画素電極15aを介して表示パネル30bの画素電極15bに表示される画像を観察する必要があるからである。表示パネル30bのEL素子15の両電極は透過性を有する必要がある。液晶表示装置では画像表示にバックライトが必要である。したがって、透過型に構成することはできない。EL表示パネルは自己発光パネルであるので、表示画像を両面から見えるように構成することができる。つまり、A側から表示パネル30aの画像を観察することができる。かつ、表示パネルはA側から表示パネル30bの画像を観察できるように構成する必要がある。表示パネル30bは透過型であっても、反射型であってもよい。   The pixel electrode 15a of the display panel 30a and the pixel electrode 15b of the display panel 30b display different images or the same image. The image is observed from the A direction. Therefore, the EL display panel 30a needs to be a transmissive type. This is because it is necessary to observe an image displayed on the pixel electrode 15b of the display panel 30b via the pixel electrode 15a. Both electrodes of the EL element 15 of the display panel 30b need to have transparency. A liquid crystal display device requires a backlight for image display. Therefore, it cannot be configured as a transmission type. Since the EL display panel is a self-luminous panel, the display image can be configured to be seen from both sides. That is, the image of the display panel 30a can be observed from the A side. In addition, the display panel needs to be configured so that the image of the display panel 30b can be observed from the A side. The display panel 30b may be a transmissive type or a reflective type.

表示パネル30bは液晶表示パネルで構成してもよい。その場合は、図58に図示するようにバックライト1414を配置し、表示パネル30bの画像がA側から観察できるように構成する。表示パネル30aと30bの画面サイズは一致されることが好ましいが、これに限定するものではない。一方の表示パネル30の画面サイズを大小させてもよい。   The display panel 30b may be a liquid crystal display panel. In that case, a backlight 1414 is arranged as shown in FIG. 58 so that an image on the display panel 30b can be observed from the A side. The screen sizes of the display panels 30a and 30b are preferably matched, but the present invention is not limited to this. The screen size of one display panel 30 may be increased or decreased.

表示パネル30aと30bに映像信号を供給する映像処理回路は共通にすれば低コスト化が望める。また、表示パネル30aと30bの表示画像の明るさうち、一方の明るさを他方の明るさに対して変化ありは変更できるように構成することが好ましい。   If the video processing circuits for supplying video signals to the display panels 30a and 30b are made common, cost reduction can be expected. Further, it is preferable that the brightness of one of the display images of the display panels 30a and 30b can be changed or changed with respect to the brightness of the other.

表示パネル30aの表示画像64aは、表示パネル30bの表示画層64bよりも明るく(輝度を高く)表示させる。表示画像64aと表示画像64bとの輝度差を発生させることにより、A側から見た画像が立体的に見える。輝度差は、10%以上80%以下にするとよい。特に、20%以上60%以下にするとよい。   The display image 64a of the display panel 30a is displayed brighter (higher brightness) than the display image layer 64b of the display panel 30b. By generating a luminance difference between the display image 64a and the display image 64b, the image viewed from the A side can be seen three-dimensionally. The luminance difference is preferably 10% or more and 80% or less. In particular, it should be 20% or more and 60% or less.

図59は、2つの表示パネル30の画像表示状態の説明図である。コントローラIC(回路)は表示パネル30aのソースドライバ回路(IC)14aなどと、表示パネル30bのソースドライバ回路(IC)14bなどを制御して画像を制御し、表示画像64aと64bとで3D表示を実現する。   FIG. 59 is an explanatory diagram of image display states of the two display panels 30. The controller IC (circuit) controls the image by controlling the source driver circuit (IC) 14a and the like of the display panel 30a and the source driver circuit (IC) 14b and the like of the display panel 30b, and 3D display is performed with the display images 64a and 64b. Is realized.

図60は、透過型の自発光型表示パネル30aと、非発光型の液晶表示パネル1653とを組み合わせた実施例である。液晶表示パネル1653の背面にはバックライト1651が配置されている。バックライト1651と液晶表示パネル1653間には偏光板(偏光フィルム)39aが配置されており、液晶表示パネル1653の光出射面側にも偏光板(偏光フィルム)39bが配置されている。液晶表示パネル1653はノーマリホワイトモードであり、偏光板39aと偏光板39bの偏光軸は直交している。液晶表示パネル1653、バックライト1651、EL表示パネル30aは保持具(筐体)1652に一体となるように取り付けられている。したがって、液晶表示パネル1653の画像表示位置と、EL表示パネル30aの画像表示位置間距離dは精度よく一定に保たれている。   FIG. 60 shows an embodiment in which a transmissive self-luminous display panel 30a and a non-luminous liquid crystal display panel 1653 are combined. A backlight 1651 is disposed on the back surface of the liquid crystal display panel 1653. A polarizing plate (polarizing film) 39 a is disposed between the backlight 1651 and the liquid crystal display panel 1653, and a polarizing plate (polarizing film) 39 b is also disposed on the light exit surface side of the liquid crystal display panel 1653. The liquid crystal display panel 1653 is in a normally white mode, and the polarizing axes of the polarizing plate 39a and the polarizing plate 39b are orthogonal to each other. The liquid crystal display panel 1653, the backlight 1651, and the EL display panel 30a are attached to a holder (housing) 1652 so as to be integrated. Therefore, the image display position of the liquid crystal display panel 1653 and the distance d between the image display positions of the EL display panel 30a are kept constant with high accuracy.

なお、ここでいう直交とは、液晶表示パネルの液晶層に電圧が印加されていない時、偏光板39aに入射した光が、液晶表示パネル1653を透過し、偏光板39bに入射した際に、偏光板39bで吸収されて、偏光板39bから透過しない状態(最も光を透過しない状態)に構成または配置することを意味する。   The term “orthogonal” as used herein means that when no voltage is applied to the liquid crystal layer of the liquid crystal display panel, light incident on the polarizing plate 39a passes through the liquid crystal display panel 1653 and enters the polarizing plate 39b. It means that it is configured or arranged so as to be absorbed by the polarizing plate 39b and not to be transmitted through the polarizing plate 39b (a state in which light is hardly transmitted).

一方、EL表示パネル30aと液晶表示パネル1651間には、円偏光板1654aが配置されている。円偏光板1654はλ/4板(λ/4フィルム)38と偏光板(偏光フィルム)39から構成される。EL表示パネル30aの光出射面にも、円偏光板1654bが配置されている。円偏光板1654aの偏光板39cの偏光軸と、円偏光板1654bの偏光板39dの偏光軸とは、直交するように配置されている。   On the other hand, a circularly polarizing plate 1654a is disposed between the EL display panel 30a and the liquid crystal display panel 1651. The circularly polarizing plate 1654 includes a λ / 4 plate (λ / 4 film) 38 and a polarizing plate (polarizing film) 39. A circularly polarizing plate 1654b is also disposed on the light exit surface of the EL display panel 30a. The polarizing axis of the polarizing plate 39c of the circularly polarizing plate 1654a and the polarizing axis of the polarizing plate 39d of the circularly polarizing plate 1654b are arranged so as to be orthogonal to each other.

なお、ここでいう直交とは、偏光板39cに入射した直線偏光が、λ/4板(λ/4フィルム)38cで円偏光に変換され、EL表示パネル30aを透過し、円偏光板38dで先の直線偏光と90度位相が異なる直線偏光に変換され、偏光板39dを透過する状態(最も光を透過する状態)に構成または配置することを意味する。   The term “orthogonal” as used herein means that linearly polarized light incident on the polarizing plate 39c is converted into circularly polarized light by the λ / 4 plate (λ / 4 film) 38c, passes through the EL display panel 30a, and is transmitted by the circularly polarizing plate 38d. This means that the light is converted to linearly polarized light having a phase difference of 90 degrees from that of the previous linearly polarized light, and is configured or arranged in a state of transmitting the polarizing plate 39d (a state of transmitting the most light).

以上の関係を図61に図示している。図61の偏光板39上に示す矢印は、偏光軸を示している。バックライト1651からの光は、偏光板39aに入射し、直線偏光に変換される。直線偏光は、液晶表示パネル1653に入射し、液晶表示パネル1653は直線偏光を印加される映像信号に応じて変調する。変調された直線偏光は、変調の割合に応じて偏光板39bで吸収または透過する。偏光板39bを透過する直線偏光は、偏光板39aを透過する直線偏光を90度位相が回転している。   The above relationship is illustrated in FIG. The arrow shown on the polarizing plate 39 in FIG. 61 indicates the polarization axis. Light from the backlight 1651 enters the polarizing plate 39a and is converted into linearly polarized light. The linearly polarized light enters the liquid crystal display panel 1653, and the liquid crystal display panel 1653 modulates the linearly polarized light according to the video signal to which the linearly polarized light is applied. The modulated linearly polarized light is absorbed or transmitted by the polarizing plate 39b in accordance with the modulation rate. The linearly polarized light transmitted through the polarizing plate 39b has a phase rotated by 90 degrees with respect to the linearly polarized light transmitted through the polarizing plate 39a.

偏光板39bを透過した直線偏光は、そのまま、偏光板39cを透過する(一部減衰する)。偏光板39cに入射した直線偏光が、λ/4板(λ/4フィルム)38cで円偏光に変換され、EL表示パネル30a透過し、円偏光板38dで先の直線偏光と90度位相が異なる直線偏光に変換され、偏光板39dを透過する。したがって、液晶表示パネル1653の表示画像は、EL表示パネル30aを透過して、観察することができる。もちろん、EL表示パネル30aは自己発光であるから、円偏光板1654bを介して、EL表示パネルの表示画像も観察することができる。以上の構成により、図46で説明したように、A側から見た画像が立体的に見える。   The linearly polarized light that has passed through the polarizing plate 39b passes through the polarizing plate 39c as it is (partially attenuated). The linearly polarized light incident on the polarizing plate 39c is converted into circularly polarized light by the λ / 4 plate (λ / 4 film) 38c, passes through the EL display panel 30a, and the circularly polarizing plate 38d has a phase difference of 90 degrees from the previous linearly polarized light. It is converted into linearly polarized light and transmitted through the polarizing plate 39d. Therefore, the display image on the liquid crystal display panel 1653 can be observed through the EL display panel 30a. Of course, since the EL display panel 30a is self-luminous, the display image of the EL display panel can also be observed through the circularly polarizing plate 1654b. With the above configuration, as described with reference to FIG. 46, the image viewed from the A side looks three-dimensional.

図62は、外光の抑制を説明する説明図である。外光BはEL表示パネル30a側から入射する。外光Bは 偏光板39dに入射し、直線偏光となる。この直線偏光は、λ/4板(λ/4フィルム)38dで円偏光に変換され、EL表示パネル30aに入射する。外光は、主としてカソード電極30で反射される。反射された光Cは、再び、λ/4板(λ/4フィルム)38dに入射する。入射した反射光Cは、λ/4板(λ/4フィルム)38dで直線偏光に変換される。この直線偏光は、外光Bが偏光板39dを透過した直線偏光と90度位相が異なっている。したがって、光Cは偏光板39dで吸収される。そのため、本発明は、外光Bの影響を受けず、良好なコントラスト表示を実現できる。   FIG. 62 is an explanatory diagram for explaining suppression of external light. External light B enters from the EL display panel 30a side. External light B enters the polarizing plate 39d and becomes linearly polarized light. This linearly polarized light is converted into circularly polarized light by a λ / 4 plate (λ / 4 film) 38d and enters the EL display panel 30a. External light is mainly reflected by the cathode electrode 30. The reflected light C again enters the λ / 4 plate (λ / 4 film) 38d. The incident reflected light C is converted into linearly polarized light by a λ / 4 plate (λ / 4 film) 38d. This linearly polarized light is 90 degrees out of phase with the linearly polarized light in which external light B is transmitted through the polarizing plate 39d. Therefore, the light C is absorbed by the polarizing plate 39d. Therefore, the present invention is not affected by the external light B and can realize a good contrast display.

図60などにおいて、表示パネル30aはEL表示パネルとして説明したが、表示パネル30aは、自己発光表示パネルであり、光透過性を有するものであればいずれの表示パネルであればよいことは言うまでもない。また、1653は、液晶表示パネルに限定するものではなく、画像を表示する表示パネル(有機および無機EL表示パネル、SED、FEDなど)であればいずれでもよい。   In FIG. 60 and the like, the display panel 30a has been described as an EL display panel. However, it is needless to say that the display panel 30a is a self-luminous display panel and may be any display panel as long as it has light transmission. . Further, 1653 is not limited to a liquid crystal display panel, and any display panel (organic and inorganic EL display panel, SED, FED, etc.) that displays an image may be used.

なお、図60、図61、図62などにおいて、液晶表示パネル1653とEL表示パネル(自己発光パネル)30aとの位置関係は入れ替えてもよい。たとえば、図60において、液晶表示パネル1653および偏光板39などをEL表示パネル(自己発光パネル)30aおよび円偏光板1654を入れ替えてもよい。また、自己発光パネル30aは本発明の駆動方式、構造、構成などを採用することにより、より良好な3D(立体)表示を実現できる。   60, 61, 62, etc., the positional relationship between the liquid crystal display panel 1653 and the EL display panel (self-emitting panel) 30a may be interchanged. For example, in FIG. 60, the liquid crystal display panel 1653 and the polarizing plate 39 may be replaced with the EL display panel (self-luminous panel) 30a and the circular polarizing plate 1654. Further, the self-luminous panel 30a can realize a better 3D (stereoscopic) display by adopting the driving system, structure, configuration, and the like of the present invention.

以上は表示パネルの表示領域が比較的小型の場合であるが、30インチ以上と大型となると表示画面64がたわみやすい。その対策のため、本発明では図57に示すように表示パネルに外枠1371をつけ、外枠1371をつりさげられるように固定部材1374で取り付けている。この固定部材1374を用いて、壁などに取り付ける。   The above is the case where the display area of the display panel is relatively small, but the display screen 64 tends to bend when the display area is larger than 30 inches. As a countermeasure, in the present invention, an outer frame 1371 is attached to the display panel as shown in FIG. 57, and the outer frame 1371 is attached by a fixing member 1374 so that it can be suspended. The fixing member 1374 is used to attach to a wall or the like.

しかし、表示パネルの画面サイズが大きくなると重量も重たくなる。そのため、表示パネルの下側に脚取り付け部1373を配置し、複数の脚1372で表示パネルの重量を保持できるようにしている。   However, as the screen size of the display panel increases, the weight increases. Therefore, a leg mounting portion 1373 is disposed on the lower side of the display panel so that the weight of the display panel can be held by the plurality of legs 1372.

脚1372はAに示すように左右に移動でき、また、脚1372はBに示すように収縮できるように構成されている。そのため、狭い場所であっても表示装置を容易に設置することができる。   The leg 1372 can move left and right as shown in A, and the leg 1372 can be contracted as shown in B. Therefore, the display device can be easily installed even in a narrow place.

図57のテレビでは、画面の表面を保護フィルム(保護板でもよい)で被覆している。これは、表示パネルの表面に物体があたって破損することを防止することが1つの目的である。保護フィルムの表面にはAIRコートが形成されており、また、表面をエンボス加工することにより表示パネルに外の状況(外光)が写り込むことを抑制している。   In the television shown in FIG. 57, the surface of the screen is covered with a protective film (or a protective plate). This is for the purpose of preventing an object from hitting the surface of the display panel and damaging it. An AIR coat is formed on the surface of the protective film, and the surface is embossed to prevent external conditions (external light) from appearing on the display panel.

保護フィルムと表示パネル間にビーズなどを散布することにより、一定の空間が配置されるように構成されている。また、保護フィルムの裏面に微細な凸部を形成し、この凸部で表示パネルと保護フィルム間に空間を保持させる。このように空間を保持することにより保護フィルムからの衝撃が表示パネルに伝達することを抑制する。   A certain space is arranged by dispersing beads or the like between the protective film and the display panel. Moreover, a fine convex part is formed in the back surface of a protective film, and space is hold | maintained between a display panel and a protective film with this convex part. By holding the space in this way, the impact from the protective film is suppressed from being transmitted to the display panel.

また、保護フィルムと表示パネル間にアルコール、エチレングリコールなど液体あるいはゲル状のアクリル樹脂あるいはエポキシなどの固体樹脂などの光結合剤を配置または注入することも効果がある。界面反射を防止できるとともに、前記光結合剤が緩衝材として機能するからである。   It is also effective to place or inject an optical binder such as a liquid such as alcohol or ethylene glycol or a solid resin such as an epoxy resin between the protective film and the display panel. This is because interface reflection can be prevented and the optical binder functions as a buffer material.

保護フィルムをしては、ポリカーボネートフィルム(板)、ポリプロピレンフィルム(板)、アクリルフィルム(板)、ポリエステルフィルム(板)、PVAフィルム(板)などが例示される。その他エンジニアリング樹脂フィルム(ABSなど)を用いることができることは言うまでもない。また、強化ガラスなど無機材料からなるものでもよい。保護フィルムを配置するかわりに、表示パネルの表面をエポキシ樹脂、フェノール樹脂、アクリル樹脂で0.5mm以上2.0mm以下の厚みでコーティングすることも同様の効果がある。また、これらの樹脂表面にエンボス加工などをすることも有効である。   Examples of the protective film include a polycarbonate film (plate), a polypropylene film (plate), an acrylic film (plate), a polyester film (plate), and a PVA film (plate). Needless to say, other engineering resin films (ABS and the like) can be used. Moreover, what consists of inorganic materials, such as tempered glass, may be used. The same effect can be obtained by coating the surface of the display panel with an epoxy resin, a phenol resin, or an acrylic resin with a thickness of 0.5 mm or more and 2.0 mm or less instead of arranging the protective film. It is also effective to emboss the surface of these resins.

また、保護フィルムあるいはコーティング材料の表面をフッ素コートすることも効果がある。表面についた汚れを洗剤などで容易にふき落とすことができるからである。また、保護フィルムを厚く形成し、フロントライトと兼用してもよい。   It is also effective to coat the surface of the protective film or coating material with fluorine. This is because the dirt on the surface can be easily wiped off with a detergent or the like. Further, the protective film may be formed thick and may also be used as a front light.

以上の実施例は、本発明の表示パネルなどを表示装置として用いるものであった。しかし、本発明はこれに限定するものではない。図64は、情報発生装置として用いるものである。図11などで説明したように、ゲートドライバ回路12に入力する信号(特にST信号)により、非点灯領域62と点灯領域63を発生することができる。点灯領域63は該当画素16のEL素子15が発光している領域である。つまり、ゲート信号線17bにオン電圧が印加され、図1の画素構成では、トランジスタ11dがオン状態となっている領域である。非点灯領域62は該当画素16のEL素子15に電流が流れていない領域である。つまり、ゲート信号線17bにオフ電圧が印加され、図1の画素構成では、トランジスタ11dがオフ状態となっている領域である。   In the above embodiments, the display panel of the present invention is used as a display device. However, the present invention is not limited to this. FIG. 64 is used as an information generating apparatus. As described with reference to FIG. 11 and the like, the non-lighting area 62 and the lighting area 63 can be generated by a signal (particularly an ST signal) input to the gate driver circuit 12. The lighting region 63 is a region where the EL element 15 of the corresponding pixel 16 emits light. In other words, the ON voltage is applied to the gate signal line 17b, and in the pixel configuration of FIG. 1, the transistor 11d is in the ON state. The non-lighting area 62 is an area where no current flows through the EL element 15 of the pixel 16. That is, the off voltage is applied to the gate signal line 17b, and in the pixel configuration of FIG. 1, the transistor 11d is in the off state.

ソースドライバ回路(IC)14から表示領域64に白ラスター表示の信号が印加されているとする。ゲートドライバ12bを制御することにより、表示領域64にストライプ状(画素行単位で点灯、非点灯制御されるため)に点灯領域63と非点灯領域62を発生させることができる。図64に図示するように、ゲートドライバ回路12bの制御によりバーコード表示を実現できる。   It is assumed that a white raster display signal is applied from the source driver circuit (IC) 14 to the display area 64. By controlling the gate driver 12b, it is possible to generate the lighting region 63 and the non-lighting region 62 in the display region 64 in a stripe shape (because lighting and non-lighting control are performed in units of pixel rows). As shown in FIG. 64, barcode display can be realized by controlling the gate driver circuit 12b.

ゲートドライバ回路12aのST1端子には、1フレームに1回のスタートパルスが印加される。ゲートドライバ回路12bのST2端子には、バーコード表示に対応させてスタートパルスが印加される。通常の印刷物のバーコードと異なる点は、表示領域64の各バーコード表示位置が水平走査信号に同期して移動する点である。   A start pulse is applied once per frame to the ST1 terminal of the gate driver circuit 12a. A start pulse is applied to the ST2 terminal of the gate driver circuit 12b in correspondence with the bar code display. The difference from the bar code of a normal printed matter is that each bar code display position of the display area 64 moves in synchronization with the horizontal scanning signal.

したがって、図63に図示するように、EL表示パネルの表示領域64に、1画素行の点灯状態を検出できるホトセンサ1391を配置または形成すれば、ホトセンサ1391を固定した状態で、1/(1秒間のフレーム数・画素行数)のレートでバーコードの表示状態を検出できる。ホトセンサ1391で検出したデータはデコーダ(バーコード解読器)1392により電気信号に変換され解読されて情報になる。EL表示パネルは応答性が速いため、高速の情報を表示することができる。   Therefore, as shown in FIG. 63, if the photosensor 1391 capable of detecting the lighting state of one pixel row is arranged or formed in the display area 64 of the EL display panel, the photosensor 1391 is fixed and 1 / (1 second. Barcode display state can be detected at a rate of (frame number / pixel row number). Data detected by the photosensor 1391 is converted into an electrical signal by a decoder (barcode decoder) 1392 and decoded to become information. Since the EL display panel has high responsiveness, high-speed information can be displayed.

本発明の実施例で説明した表示装置あるいは駆動方法あるいは制御方法あるいは方式などの技術的思想は、ビデオカメラ、プロジェクター、立体(3D)テレビ、プロジェクションテレビ、フィールドエミッションディスプレイ(FED)、SED(キャノンと東芝が開発したディスプレイ)、PDP(プラズマディスプレイパネル)などに適用できる。   The technical ideas such as the display device, the driving method, the control method, or the method described in the embodiments of the present invention include a video camera, a projector, a stereoscopic (3D) television, a projection television, a field emission display (FED), and an SED (cannon and It can be applied to displays developed by Toshiba) and PDPs (plasma display panels).

また、ビューファインダ、携帯電話のメインモニターおよびサブモニターあるいは時計表示部、PHS、携帯情報端末およびそのモニター、デジタルカメラ、衛星テレビ、衛星モバイルテレビおよびそのモニターにも適用できる。   The present invention can also be applied to a viewfinder, a main monitor and a sub monitor of a mobile phone, a clock display unit, a PHS, a portable information terminal and its monitor, a digital camera, a satellite TV, a satellite mobile TV and a monitor thereof.

また、電子写真システム、ヘッドマウントディスプレイ、直視モニターディスプレイ、ノートパーソナルコンピュータ、ビデオカメラ、デジタルスチルカメラ、電子スチルカメラにも適用できる。   The present invention can also be applied to an electrophotographic system, a head mounted display, a direct view monitor display, a notebook personal computer, a video camera, a digital still camera, and an electronic still camera.

また、現金自動引き出し機のモニター、公衆電話、テレビ電話、パーソナルコンピュータ、腕時計およびその表示装置などにも適用できる。また、バーコードなどの情報の発生機器にも適用することができる。これらの技術的思想などは、一部あるいは全部を問わず相互に組み合わせることができる。   Further, the present invention can be applied to a monitor of an automatic cash drawer, a public telephone, a videophone, a personal computer, a wristwatch and a display device thereof. The present invention can also be applied to a device that generates information such as a barcode. These technical ideas and the like can be combined with each other regardless of part or all of them.

本発明は、炊飯器などの家庭電器機器の表示モニター、カーオーディオの表示部、車のスピードメーター、ひげそりの表示部、ポケットゲーム機器およびそのモニター、電話器の番号、工場の計測器のインジケーターなどの表示モニター、電車の行き先表示モニター、ネオン表示装置の置き換え、表示パネル用バックライトあるいは家庭用もしくは業務用の照明装置、天井灯、窓ガラス、車のヘッドライトなどの照明装置などにも適用あるいは応用展開できることは言うまでもない。照明装置は色温度を可変できるように構成することが好ましい。これは、RGBの画素をストライプ状あるいはドットマトリックス状に形成し、これらに流す電流を調整することにより色温度を変更できる。   The present invention includes a display monitor for home appliances such as a rice cooker, a display unit for car audio, a car speedometer, a shaving display unit, a pocket game device and its monitor, a telephone number, an indicator of a factory measuring instrument, etc. Applicable to display monitors, train destination display monitors, replacement of neon display devices, backlights for display panels or lighting devices for home or business use, ceiling lights, window glass, car headlights, etc. Needless to say, it can be applied. The lighting device is preferably configured so that the color temperature can be varied. In this case, the color temperature can be changed by forming RGB pixels in a stripe or dot matrix and adjusting the current flowing through them.

また、広告あるいはポスターなどの表示装置、RGBの信号器、警報表示灯などにも応用できる。これらの技術的思想などは、一部あるいは全部を問わず相互に組み合わせることができる。   It can also be applied to display devices such as advertisements or posters, RGB traffic lights, warning indicator lights, and the like. These technical ideas and the like can be combined with each other regardless of part or all of them.

また、スキャナの光源としても本発明の自己発光素子もしくは表示装置あるいは有機EL表示パネルは有効である。RGBのドットマトリックスを光源として、対象物に光を照射し、画像を読み取る。もちろん、単色でもよいことは言うまでもない。また、本発明の表示装置から出力される光を単一波長あるいは狭帯域の波長がでるように構成し、レーザー表示装置またはその応用として用いても良いことは言うまでもない。狭帯域化は、干渉効果あるいは光学フィルタなどを用いることにより実現できる。   Further, the self-luminous element, the display device or the organic EL display panel of the present invention is also effective as a light source for the scanner. Using an RGB dot matrix as a light source, the object is irradiated with light to read an image. Of course, it goes without saying that it may be monochromatic. Further, it goes without saying that the light output from the display device of the present invention may be configured to emit a single wavelength or a narrow-band wavelength and used as a laser display device or its application. The band narrowing can be realized by using an interference effect or an optical filter.

なお、本発明は上記各実施形態に限定されるものではなく、その実施の段階ではその要旨を逸脱しない範囲で種々な変形・変更が可能である。また、各実施形態は可能な限り適宜組み合わせて実施されてもよく、その場合は、その組み合わせによる特徴ある効果が得られる。   The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications and changes can be made without departing from the scope of the invention when it is practiced. Moreover, each embodiment may be implemented in combination as appropriate as possible, and in that case, a characteristic effect by the combination can be obtained.

本発明のソースドライバ回路は、基準電流の発生回路を有し、また、ゲートドライバ回路を制御することにより、電流制御、輝度制御を実現する。また、画素は、複数あるいは単独の駆動用トランジスタを有し、EL素子15に流れる電流バラツキが発生しないように駆動する。また、各端子に接続する単位トランジスタ群を変化させる。したがって、トランジスタのしきい値ばらつきによる表示むらの発生を抑制することが可能となる。駆動用トランジスタ素子の温度依存性も補償する。また、duty比制御などによりダイナミックレンジが広い画像表示を実現できる。   The source driver circuit of the present invention includes a reference current generation circuit, and realizes current control and luminance control by controlling the gate driver circuit. Further, the pixel has a plurality of or single drive transistors, and is driven so as not to cause a variation in current flowing through the EL element 15. Further, the unit transistor group connected to each terminal is changed. Therefore, it is possible to suppress the occurrence of display unevenness due to variations in threshold values of transistors. The temperature dependence of the driving transistor element is also compensated. Also, an image display with a wide dynamic range can be realized by duty ratio control or the like.

本発明の表示パネル、表示装置等は、高画質、良好な動画表示性能、低消費電力、低コスト化、高輝度化等のそれぞれの構成に応じて特徴ある効果を発揮する。   The display panel, display device, and the like of the present invention exhibit distinctive effects according to their respective configurations such as high image quality, good moving image display performance, low power consumption, low cost, and high brightness.

本発明を用いれば、低消費電力の情報表示装置などを構成できるので、電力を消費しない。また、小型軽量化できるので、資源を消費しない。したがって、地球環境、宇宙環境に優しいことになる。   If the present invention is used, an information display device or the like with low power consumption can be configured, and power is not consumed. Moreover, since it can be reduced in size and weight, resources are not consumed. Therefore, it is friendly to the global environment and space environment.

本発明にかかるEL表示装置は、上記効果を有し、有機または無機エレクトロルミネッセンス(EL)素子などを用いたEL表示パネル(表示装置)などの自発光表示パネル、また、これらの表示パネルなどの駆動回路(ICなど)および駆動方法等として有用である。   The EL display device according to the present invention has the above-described effects, and is a self-luminous display panel such as an EL display panel (display device) using an organic or inorganic electroluminescence (EL) element or the like. It is useful as a drive circuit (IC etc.) and a drive method.

本発明の表示パネルの画素の構成図である。It is a block diagram of a pixel of a display panel of the present invention. 従来の表示パネルの画素の構成図である。It is a block diagram of the pixel of the conventional display panel. 本発明の表示パネルの構成図である。It is a block diagram of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの構成図である。It is a block diagram of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの構成図である。It is a block diagram of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの構成図である。It is a block diagram of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの構成図である。It is a block diagram of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの構成図である。It is a block diagram of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの構成図である。It is a block diagram of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの画素の構成図である。It is a block diagram of a pixel of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの画素の構成図である。It is a block diagram of a pixel of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの画素の構成図である。It is a block diagram of a pixel of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの画素の構成図である。It is a block diagram of a pixel of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の構成図である。It is a block diagram of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の構成図である。It is a block diagram of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の構成図である。It is a block diagram of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の構成図である。It is a block diagram of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の構成図である。It is a block diagram of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の構成図である。It is a block diagram of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の説明図である。It is explanatory drawing of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の説明図である。It is explanatory drawing of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の構成図である。It is a block diagram of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の構成図である。It is a block diagram of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の構成図である。It is a block diagram of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の説明図である。It is explanatory drawing of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の構成図である。It is a block diagram of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の構成図である。It is a block diagram of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の構成図である。It is a block diagram of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の構成図である。It is a block diagram of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の構成図である。It is a block diagram of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の構成図である。It is a block diagram of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の構成図である。It is a block diagram of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の構成図である。It is a block diagram of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の構成図である。It is a block diagram of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の説明図である。It is explanatory drawing of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の構成図である。It is a block diagram of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の構成図である。It is a block diagram of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の説明図である。It is explanatory drawing of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示装置の構成図である。It is a block diagram of the display apparatus of this invention. 本発明の表示装置の構成図である。It is a block diagram of the display apparatus of this invention. 本発明の表示装置の構成図である。It is a block diagram of the display apparatus of this invention. 本発明の表示装置の構成図である。It is a block diagram of the display apparatus of this invention. 本発明の表示装置の構成図である。It is a block diagram of the display apparatus of this invention. 本発明の表示装置の構成図である。It is a block diagram of the display apparatus of this invention. 本発明の表示装置の構成図である。It is a block diagram of the display apparatus of this invention. 本発明の表示装置の構成図である。It is a block diagram of the display apparatus of this invention. 本発明の表示装置の構成図である。It is a block diagram of the display apparatus of this invention. 本発明の表示装置の構成図である。It is a block diagram of the display apparatus of this invention. 本発明の表示装置の構成図である。It is a block diagram of the display apparatus of this invention. 本発明の表示装置の説明図である。It is explanatory drawing of the display apparatus of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の構成図である。It is a block diagram of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の構成図である。It is a block diagram of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の構成図である。It is a block diagram of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の構成図である。It is a block diagram of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の構成図である。It is a block diagram of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の構成図である。It is a block diagram of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の構成図である。It is a block diagram of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明のソースドライバ回路(IC)の構成図である。It is a block diagram of the source driver circuit (IC) of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの説明図である。FIG. 46 is an explanatory diagram of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの説明図である。FIG. 46 is an explanatory diagram of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの説明図である。FIG. 46 is an explanatory diagram of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの説明図である。FIG. 46 is an explanatory diagram of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの構成図である。It is a block diagram of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの構成図である。It is a block diagram of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの構成図である。It is a block diagram of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの構成図である。It is a block diagram of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの構成図である。It is a block diagram of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動回路の説明図である。It is an explanatory diagram of a drive circuit of a display panel of the present invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention. 本発明の表示パネルの駆動方法の説明図である。It is explanatory drawing of the drive method of the display panel of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

11 TFT(薄膜トランジスタ)
12 ゲートドライバIC(回路)
14 ソースドライバ回路(IC)
15 EL(素子)(発光素子)
16 画素
17 ゲート信号線
18 ソース信号線
19 蓄積容量(付加コンデンサ、付加容量)
29 EL膜
30 アレイ基板(自発光表示パネル)
31 土手(リブ)
32 層間絶縁膜
34 コンタクト
35 画素電極
36 カソード電極
37 乾燥剤
38 λ/4板(λ/4フィルム、位相板、位相フィルム)
39 偏光板
40 封止フタ
41 薄膜封止膜
61 書き込み行
62 非表示領域(非点灯領域、黒表示領域)
63 表示領域(点灯領域、画像表示領域)
72 レーザー照射範囲(エキシマレーザースポット)
73 位置決めマーカー
74 ガラス基板
81 シフトレジスタ回路
82 バッファ回路
91 電流保持回路
92 ポリシリコン電流保持回路(内蔵電流保持回路)
93 出力端子
221 スイッチ(オンオフ手段)
222 内部配線(出力配線)
223 ゲート配線
224 単位トランジスタ
228 トランジスタ
232 トランジスタ
231 オペアンプ
251 トランジスタ群
291 電子ボリウム
331 一致回路
332 カウンタ
333 AND回路
334 電流出力回路
351 ラッチ回路
352 セレクタ回路
353 プリチャージ回路
371 電圧階調回路
381 サンプルホールド回路(電圧保持手段)
382 ソース信号線端子
391 切り換え回路
841 単位トランジスタ(単位電流出力回路)
911 比較回路
1331 アンテナ
1332 キー
1333 筐体
1334 表示パネル
1341 接眼リング
1342 拡大レンズ(正レンズ)
1343 凸レンズ(正レンズ)
1351 支点(回転部)
1352 撮影レンズ(撮影手段)
1353 格納部
1354 スイッチ
1361 本体
1362 撮影部
1363 シャッタスイッチ
1371 取り付け枠
1372 脚
1373 取り付け台
1374 固定部
1391 ホトセンサ
1392 デコーダ(バーコード解読器)
1393 EL表示パネル(自発光表示パネル(装置))
1411 隔離柱(隔離壁(リング))
1412 封止樹脂(封止手段)
1413 空間
1414 バックライト
1531 出力選択回路
1551 ルックアップテーブル(マトリックスROMテーブル)
1651 バックライト
1652 保持具(筐体)
1653 液晶表示パネル(非発光表示パネル)
1654 円偏光板
1701 電圧測定回路
1711 AD変換回路(アナログ−デジタル変換回路)
1761 切り替え回路
1762 平均化回路
1821 電圧測定回路(IC)
1851 電圧配線
1931 演算回路(処理回路)
2191 温度補償回路
2201 電流計(電流測定手段)
2121 ソース(信号線)電位検出線
2122 メモリ(記憶手段)
2171 短絡配線
2172 端子電極
2173 プローブ
2174 定電流源
2175 配線
2481 交流電圧発生器
2861 OR回路
2971 紫外線カット膜
3001 スペーサ柱
3002 空間
3011 乾燥材
3191 フラシュメモリ(書き換え可能なROM)
11 TFT (Thin Film Transistor)
12 Gate driver IC (circuit)
14 Source Driver Circuit (IC)
15 EL (element) (light emitting element)
16 pixels 17 gate signal line 18 source signal line 19 storage capacity (additional capacitor, additional capacity)
29 EL film 30 Array substrate (Self-luminous display panel)
31 Bank (rib)
32 Interlayer insulating film 34 Contact 35 Pixel electrode 36 Cathode electrode 37 Desiccant 38 λ / 4 plate (λ / 4 film, phase plate, phase film)
39 Polarizing plate 40 Sealing lid 41 Thin film sealing film 61 Writing row 62 Non-display area (non-lighting area, black display area)
63 Display area (lighting area, image display area)
72 Laser irradiation range (excimer laser spot)
73 Positioning Marker 74 Glass Substrate 81 Shift Register Circuit 82 Buffer Circuit 91 Current Holding Circuit 92 Polysilicon Current Holding Circuit (Built-in Current Holding Circuit)
93 Output terminal 221 Switch (on / off means)
222 Internal wiring (Output wiring)
223 Gate wiring 224 Unit transistor 228 Transistor 232 Transistor 231 Operational amplifier 251 Transistor group 291 Electronic volume 331 Matching circuit 332 Counter 333 AND circuit 334 Current output circuit 351 Latch circuit 352 Selector circuit 353 Precharge circuit 371 Voltage gradation circuit 381 Sample hold circuit ( Voltage holding means)
382 Source signal line terminal 391 switching circuit 841 unit transistor (unit current output circuit)
911 Comparison circuit 1331 Antenna 1332 Key 1333 Case 1334 Display panel 1341 Eyepiece ring 1342 Magnifying lens (positive lens)
1343 Convex lens (positive lens)
1351 Support point (rotating part)
1352 Photography lens (imaging means)
1353 Storage Unit 1354 Switch 1361 Main Body 1362 Shooting Unit 1363 Shutter Switch 1371 Mounting Frame 1372 Leg 1373 Mounting Base 1374 Fixing Unit 1391 Photosensor 1392 Decoder (Barcode Decoder)
1393 EL display panel (Self-luminous display panel (device))
1411 Isolation pillar (Isolation wall (ring))
1412 Sealing resin (sealing means)
1413 Space 1414 Backlight 1531 Output selection circuit 1551 Look-up table (matrix ROM table)
1651 Backlight 1652 Holder (housing)
1653 Liquid crystal display panel (non-luminous display panel)
1654 Circularly polarizing plate 1701 Voltage measurement circuit 1711 AD conversion circuit (analog-digital conversion circuit)
1761 switching circuit 1762 averaging circuit 1821 voltage measurement circuit (IC)
1851 voltage wiring 1931 arithmetic circuit (processing circuit)
2191 Temperature compensation circuit 2201 Ammeter (current measuring means)
2121 Source (signal line) potential detection line 2122 Memory (storage means)
2171 Short-circuit wiring 2172 Terminal electrode 2173 Probe 2174 Constant current source 2175 Wiring 2481 AC voltage generator 2861 OR circuit 2971 UV cut film 3001 Spacer column 3002 Space 3011 Drying material 3191 Flash memory (rewritable ROM)

Claims (3)

定電流を発生する定電流回路と、
階調電流を発生する階調電流回路と、
階調電圧を発生する階調電圧回路と、
マトリックス状にEL素子が配置された画像表示部と、
前記EL素子に前記定電流を供給するソース信号線と、
前記ソース信号線の電位を測定する測定手段を具備することを特徴とする、EL表示装置。
A constant current circuit for generating a constant current;
A gradation current circuit for generating a gradation current;
A gradation voltage circuit for generating gradation voltages;
An image display unit in which EL elements are arranged in a matrix;
A source signal line for supplying the constant current to the EL element;
An EL display device comprising measurement means for measuring the potential of the source signal line.
測定手段が測定した電圧から、画素の電圧−電流特性を求める演算回路を具備することを特徴とする、請求項1記載のEL表示装置。   2. The EL display device according to claim 1, further comprising an arithmetic circuit for obtaining a voltage-current characteristic of the pixel from the voltage measured by the measuring means. 前記EL素子に流れる電流を測定する電流測定手段を具備することを特徴とする、請求項1記載のEL表示装置。   2. The EL display device according to claim 1, further comprising current measuring means for measuring a current flowing through the EL element.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008091069A (en) * 2006-09-29 2008-04-17 Seiko Epson Corp Light-emitting device and electronic apparatus
JP2017151443A (en) * 2017-03-15 2017-08-31 株式会社半導体エネルギー研究所 Liquid crystal display device
CN110634447A (en) * 2014-10-27 2019-12-31 三星显示有限公司 Organic light emitting diode display device

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