JP2006234609A - 分子配向温度計 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】Nd:YAGレーザー1のようなナノ秒レーザーおよび飛行時間型質量分析計2を備えた分子配向温度計。また、レーザーの多光子吸収による分子イオン化とその分解反応を用いて、1台のレーザーにより分子配向とイオン化を同時に行い、分子の温度を測定する分子の温度計測方法。さらに、飛行時間型質量分析計で得られたマススペクトルを用いて算出する分子の温度計測方法。
【選択図】図1
Description
一方、非共鳴レーザー光の高強度電場により分子を配向させることが可能なこと、また、この配向の程度は分子の回転温度に依存することから、配向の程度を測定することにより温度の測定が可能である。しかし、この分子配向を応用した手法では、従来、電場で配向した分子を検出するため第2のレーザーを用いて測定する必要があるとされていた。この第2のレーザーは、配向レーザーの邪魔をしない必要があるため、超高速レーザー(通常、高価な超高速のフェムト秒レーザー)が考えられるが、コストがかかりすぎるためこの方法は実用化はされていなかった。
すなわち、本発明は、
(1)ナノ秒レーザーおよび飛行時間型質量分析計を備えたことを特徴とする分子配向温度計、
(2)レーザーの多光子吸収による分子イオン化とその分解反応を用いて、1台のレーザーにより分子配向とイオン化を同時に行い、分子の温度を測定することを特徴とする分子の温度計測方法、
(3)飛行時間型質量分析計で得られたマススペクトルを用いて算出することを特徴とする(2)項記載の分子の温度計測方法
を提供するものである。
本発明の温度計および温度計測方法は、クラスタービームなどを用いた表面分析装置のビームモニター、分子線エピタキシーの分子線モニター、クラスタービームエピタキシーのビームモニターなどのビーム管理ツールとして好適である。
本発明では、レーザーの多光子吸収による分子イオン化とその分解反応を用いて、1つのレーザーにより分子配向とイオン化を同時に行い、分子の温度を測定するものである。また、好ましくは飛行時間型質量分析計で得られたマススペクトルを用いて算出するものである。この方法により分子の温度を計測できるのは次の理由によると考えられる。
分子に光電場を作用させると電場と双極子の相互作用H=Eμのため影響を受ける。実際には光は振動電場E=E0sin(wt)のため永久双極子モーメントμ0の寄与はなく、電場によって誘起された誘起双極子モーメントμ1=E0sin(ωt)αと電場との相互作用が効いてくる。ここにαは測定対象分子の分極率である。実際には分極率は3次元テンソルであり、その異方性をΔαとしたとき配向のエネルギー、すなわち相互作用のエネルギーは
以下にヨウ化メチルに適用した例を示す。マス(質量)スペクトル上に分子イオンが存在すること、ヨウ素イオンとメチルイオンがほぼ同量発生していることから、分子イオン化が起こり、さらに分子が回転するよりは長い時間経過した後に分解する。この場合でも、ナノ秒レーザーという比較的遅いレーザーであるため分解が完了した時点でもイオンを配向させるために充分強い光電場が存在している。多光子吸収の第一段階は少なくとも3、ないし、4光子の真の多光子吸収である必要があり、分子イオン化が起こるのはレーザーが最も強い限られた時間範囲である。
本発明は、分子イオンの分解がナノ秒以下の時間スケールで起こるが、分子回転(〜1ps)と比較しては十分遅いという特徴を持っていることを利用している。装置的には第2のレーザーが不要となるが、それに加え、マススペクトルを用いた算出(以下、シミュレーションという)に必要なパラメーターが少なくなり、以下に示す工夫により、温度を決定することが可能となる。図2に測定例、シミュレーション例、決定された温度を示す。温度決定には当初は3つの条件でスペクトルを測定する必要があるが、いったん条件が決まれば平行偏光を用いた測定のみで温度決定が可能である。
円偏光の場合分子が配向していないため直線偏光と比較して反応効率が低い。これが原因で上記の速度分布を用いても直線偏光で測定したシグナルを完全に再現することは出来ない。そこで速度分布の形はf(cV)であると仮定し、温度とcをパラメーターとして垂直偏光、平行偏光で実測したスペクトルのピーク形状を再現するようにした。その結果、図2の右側に示す計算スペクトルを得た。温度パラメーターはH/kBT=3.8である。J. Chem. Phys. 122, 2164-2167(2000)の記載に基づき、レーザー強度は2.43x109V/m、ヨウ化メチルの分極率異方性はΔα=1.43x10−30m3なので、分子線の温度は27K(−246℃)となる。
上記手法で決定される温度の誤差はレーザー電場の見積精度できまるが、容器中の残留ガスの温度を用いて校正することが可能である。
図1に示す装置において、飛行管の長さ、すなわち飛行距離は39.9cmとした。この装置の飛行時間型質量分析計2部分の詳細説明図を図3に示す。なお、引き出し電極6は拡大して併せて記載されている。引き出し電極6の高圧部は2000V、中圧部は1920Vとし、電極間隔は5mmとした。また、分子ビームスキマー10は1mmφを用いた。また、図3中、5はパルスバルブ、9はMCP検出器である。
また、MCP検出器の出力はデジタルオシロスコープで積算し、コンピュータに取り込んだ。このとき、正確な質量スペクトルのシグナルを得るため、500MHzの周波数応答のあるオシロスコープを使用した。
これをもとに以下の種々の条件で温度を計測した。
レーザー強度を282mJ、210mJ、136mJにおいて、図7の上段に示すヨウ素イオンの質量スペクトルを得た。これをシグナル強度の飛行時間に関する微分を計算し、センターシグナルからのずれを乗ずることによって算出し、図7の下段に示すスペクトルを得た。それぞれ温度は、46K、43K、37Kと計測された。
パルスバルブの押し圧を1.1bar(0.11MPa)および2.0bar(0.20MPa)とし、レーザー強度170mJで、図8の上段に示すヨウ素イオンの質量スペクトルを得た。これをシグナル強度の飛行時間に関する微分を計算し、センターシグナルからのずれを乗ずることによって算出し、図8の下段に示すスペクトルを得た。それぞれ温度は、31K、21Kと計測された。
パルスバルブを開けてた直後のビームの立ち上がり時と、ビーム安定化後において、図9の上段に示すヨウ素イオンの質量スペクトルを得た。これをシグナル強度の飛行時間に関する微分を計算し、センターシグナルからのずれを乗ずることによって算出し、図9の下段に示すスペクトルを得た。それぞれ温度は、40K、21Kと計測された。
2 飛行時間型質量
3 波長板
4 レンズ
5 パルスバルブ
6 引き出し電極
7,8 ターボ分子ポンプ
9 MCP検出器
10 分子ビームスキマー
Claims (3)
- ナノ秒レーザーおよび飛行時間型質量分析計を備えたことを特徴とする分子配向温度計。
- レーザーの多光子吸収による分子イオン化とその分解反応を用いて、1台のレーザーにより分子配向とイオン化を同時に行い、分子の温度を測定することを特徴とする分子の温度計測方法。
- 飛行時間型質量分析計で得られたマススペクトルを用いて算出することを特徴とする請求項2記載の分子の温度計測方法。
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