JP2006228303A - 検査調整用光ディスク及びそれを用いた光ディスク装置の検査調整方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】自己録再検査調整において、選別が容易で、未記録領域を必ず使用できる検査調整用光ディスクと、それを用いた光ディスク装置の検査調整方法を提供する。
【解決手段】検査調整用光ディスク1は、ディスク検査領域のアドレス情報と光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報を持った情報記録領域2を備えており、光ディスク装置は情報記録領域2のアドレス情報をから光ディスク装置検査領域の未記録領域を計算することができ、常に未記録領域上で自己録再検査調整が出来る。
【選択図】図1
【解決手段】検査調整用光ディスク1は、ディスク検査領域のアドレス情報と光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報を持った情報記録領域2を備えており、光ディスク装置は情報記録領域2のアドレス情報をから光ディスク装置検査領域の未記録領域を計算することができ、常に未記録領域上で自己録再検査調整が出来る。
【選択図】図1
Description
本発明は、DVD−RAM、Blu−rayディスク等を用いる光ディスク装置の検査調整に用いる検査調整用光ディスクとその検査調整方法に関するものである。
近年Blu−ray光ディスク装置のように相変化記録メディアを用いて高密度記録を行いハイビジョン映像を2時間録画再生出来る技術が出てきている。このような高密度記録ではディスクに書かれるデータビット長の最小長は0.16ummにもなり、CDの最小長0.9umm、DVD−RAMの0.24ummに比べ非常に小さいものになってきている。
このような微小ビット長信号を機器間の互換性を保ちながら記録するためには、記録学習で学習調整されるレーザーパワーのライトストラテジーの特性が非常に重要な要素となり、製品出荷時の重要検査対象となる。これは一般には記録再生(自己録再)のジッターで評価される。しかしながら相変化型高密度記録ディスクの記録特性は同一記録領域に重ね書き記録する回数で自己録再のジッター値が大きく変わり、例えば初期値8.0%のジッター値が2回目の重ねがきで10%になり3回目で9.5%に下がり数回のオーバーライトで安定な8.5%になるようなことが知られている。これは主に相変化記録ディスクの記録膜特性で決まりディスクのロット間ばらつきも大きい。このような特性のディスクを使用して自己録再の特性を検査調整する時には、未記録領域を使い調整検査することが必要となり、使用した検査調整ディスクの記録済み領域の管理が重要な要素となる。
従来のディスク記録情報管理のためのファイル管理情報は、例えば特許文献1に示すようなものが知られている。特許文献1では、光ディスクにファイルデータを記録する場合、記録済みのアドレス情報をファイル管理領域と、データ領域にも記録することが述べられている。
図8は従来の例としての特許文献1の光ディスク記録状態を示す構成図である。
図8(a)は光ディスク1bに最初のファイルデータAを記録する時のディスク上のファイル管理領域F1と、アドレス情報と同時にデータが記録されているデータ記録領域F2と、データ記録領域に入り込んでいるリードアウト領域F3の記録状態を示した図である。光ディスク1bに記録を開始すると、ファイルデータAはデータ記録領域F2にアドレス情報と共に記録され、その後記録最終アドレスと共にリードアウト領域F3が記録され、最後にファイル管理領域F1にフィルデータAの先頭アドレス、ファイルサイズ及び記録された最終アドレスが記録される。したがってこの状態の光ディスク1bを再生する時には、最初にファイル管理領域F1よりファイルデータAの先頭アドレスを読み取り、次に、データ記録領域F2の先頭から再生し、リードアウト領域F3に到達したときにファイルデータAの記録完了を検出して再生を終了するよう動作する。
次に図8(b)はすでにファイルデータAが記録されている光ディスクにファイルデータBを記録した時の記録状態を示す図である。
光ディスク1b、ファイル管理領域F1、アドレス情報と共にファイルデータAが記録されているデータ記録領域F2等は図8(a)で説明した内容と同じなので説明を省略する。
すでにファイルデータAが記録されている光ディスク1bにファイルデータBを記録する場合は、まずファイル管理領域F1にある記録された最終アドレス情報にて次のファイルデータBの記録開始アドレスを探し出し記録開始位置を決める。ファイルデータBの記録が開始されるとアドレス情報とファイルデータBが同時に記録され新しいデータ記録領域F4が出来る。この時前回のリードアウト領域F3はファイルデータBの記録領域F4により重ね書きされ、ファイルデータBの記録後、ファイルデータBの最終アドレス情報を記録した新しいリードアウト領域F5が記録される。最後にファイルデータBの先頭アドレスとファイルサイズ及び最終アドレスをファイル管理領域F1に登録される。従ってファイル管理領域F1はファイルデータAの先頭アドレス、ファイルデータBの先頭アドレス、ファイルデータBの最終アドレス情報を持ち、ファイルデータA、Bのどちらにでもアクセスすることが可能となる。
また次の新しいファイルデータを記録する場合も同じ手順を繰り返すので、新しいファイルデータの開始アドレス、最終アドレス情報はファイル管理領域F1に管理される。従って各々のファイルデータの連続性は保たれるが常に新しいデータ記録領域を使用するのではなく古いリードアウト領域は重ね書きされており、当初説明した理由により光ディスク装置の自己録再特性の検査調整に使用する検査調整用光ディスクのファイル管理には不適切である。
また検査調整に用いられる検査調整光ディスクには自己録再特性に厳しい精度を求められるため、ディスクの記録膜特性の特性ばらつき管理も必要となる。特にディスクの記録膜特性はディスクの中周、内周、外周で変化しており、ディスク内、中、外周位置の検査も重要になってくる。検査調整用光ディスクによっては内周のみ、または内周、外周、または内周、中周、外周等の領域を検査する必要が生じる。このような検査調整用光ディスクを使用して自己録再の検査調整を行う時には検査調整で使用された記録済み領域(ディスク検査領域)の管理と検査調整用光ディスクのディスク検査のために使用する領域(光ディスク装置検査調整領域)の記録済み領域の管理も必要となる。さらに検査調整用光ディスクの選別、すなわち光ディスク装置の検査調整に使用できるか、出来ないかの選別では、記録膜特性のばらつきの中から最適な検査調整用光ディスクを探すための選別に時間がかかる問題が生じる。また通常選別は未記録ディスクを使用するためにロット検査で行われるが、厳しい精度の記録膜特性を持ったロットを色々なロットの中から選別基準に合うロットを見つけ出すことが困難になってきている。
特開平9−231682号公報(図2およびそれに関する説明)
このような検査調整用光ディスク及びそれを用いた光ディスク装置の検査方法においては、特に相変化記録ディスクを用いて自己録再の検査調整する時に未記録領域を使用できるように管理できること、また検査調整用光ディスクの記録膜特性のばらつきを事前に検査してもその検査領域を使用せずに未記録領域を使用できるよう管理できることと、検査調整用光ディスクの交換の際の未記録領域の管理の簡素化を図れる検査調整用光ディスクと光ディスク装置の検査調整法が要求されている。
本発明は、自己録再に使用される検査調整用光ディスクの事前検査ができ検査調整用光ディスクの選別を容易にすることと、ディスク検査領域と光ディスク装置検査調整領域の記録済み領域のアドレス情報を情報記録領域に持っているため、検査調整用光ディスクを交換しても未記録領域を用いて光ディスク装置で容易に検査できる方法を提供することを目的としてなされたものである。
上記課題に対応するために本発明の検査調整用光ディスクは、記録再生領域に信号を記録し、その記録信号を再生して記録品質を検査調整するための検査調整用ディスクであって、光ディスク装置の記録品質を検査調整する光ディスク装置検査調整領域と、事前に検査用ディスクとしての記録再生特性を検査してある少なくとも1つのディスク検査領域と、前記光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報と前記ディスク検査領域のアドレス情報とを持つ情報記録領域とを持つように構成したものである。
また、上記課題に対応するために本発明の検査調整用光ディスクを用いた光ディスク装置の検査方法は、上記の検査調整用光ディスクを用いる光ディスク装置の検査方法であって、光ディスク装置は、前記検査調整用光ディスクの情報記録領域からの光ディスク装置検査領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報とディスク検査領域のアドレス情報を読取る読取り手段と、前記読取り手段が読取った各々の情報から光ディスク装置検査領域の未記録領域を計算する計算手段と、前記計算手段の計算結果に基づく未記録領域において記録再生を行って記録品位を検査調整する検査手段と、前記検査調整用光ディスクの情報記録領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報を書き換える書き換え手段とを持ち、前記読取り手段で前記検査調整用光ディスクの情報領域から光ディスク装置検査領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報とディスク検査領域のアドレス情報を読取り、読み取った情報から前記計算手段により未記録領域を計算し、前記検査手段は光ディスク装置検査領域の未記録領域で記録再生を行って記録品位を検査調整し、前記書き換え手段で前記検査調整用光ディスクの情報記録領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報を書き換えるようにしたものである。
本発明は、上記の構成により、事前に検査調整用光ディスクの記録膜特性検査を行ったディスクでもそのディスク検査領域を情報記録領域が記録しているため、光ディスク装置は検査調整用光ディスクの情報記録領域から事前検査で使用した記録済みディスク検査領域を避けて光ディスク装置の自己録再特性を検査調整する検査調整用光ディスクとして使用することが出来るようになり、検査調整用光ディスクのロット選別は不要となる効果を有する。
また光ディスク装置は、上記検査調整用光ディスクの情報記録領域は光ディスク装置検査領域の記録済みアドレス情報とディスク検査領域のアドレス情報を読み出し、その情報より未記録領域を計算できるため、常に光ディスク装置検査領域の未記録領域にて自己録再特性の検査調整を行うことが出来るようになる。また検査調整後は使用した光ディスク装置検査調整領域のアドレス情報を情報記録領域に記録して終了するため、検査調整用光ディスクの記録済みアドレス情報は最新に管理された状態に出来るようになる。このため検査調整用光ディスクが交換されても光ディスク装置は検査調整用光ディスクの情報記録領域のアドレス情報により必ず未記録領域から自己録再特性の検査を始めることが可能となり光ディスク装置での記録済み領域の管理が非常に簡素化される効果を有する。
本発明の一実施の形態について、図1から図7を用いて説明する。
(実施の形態1)
以下に本発明の検査調整用光ディスクに関する請求項1を開示した実施の形態1を説明する。図1は本発明の実施の形態1における検査調整用光ディスクの構成図である。
以下に本発明の検査調整用光ディスクに関する請求項1を開示した実施の形態1を説明する。図1は本発明の実施の形態1における検査調整用光ディスクの構成図である。
図1の検査調整用光ディスク1は、内周から外周に螺旋状に記録する構造を持ち、情報記録領域2、第1のディスク検査領域3、第2のディスク検査領域6、第1の光ディスク装置検査調整領域4、第2の光ディスク装置検査調整領域5を持つよう構成してある。第1のディスク検査領域3と第2のディスク検査領域6は、この光ディスク1を光ディスク装置の自己録再特性を検査調整するために用いても問題ないかを調べるための、検査調整用光ディスク1の事前検査の領域であり、検査調整用光ディスクとして適切か不適切かを判断するために用いられる領域である。本実施形態では2個の領域を確保して説明しているがディスクの記録膜特性のばらつきに応じて1または3以上の複数領域を使用しても良い。
第1のディスク検査領域3と第1の光ディスク装置検査調整領域4は重ね書きしないよう領域が分けられている。第1の光ディスク装置検査調整領域4は1回目の検査調整で第1の検査調整信号(a−1)7、2回目の検査調整で第2の検査調整信号(a−2)8、n回目の検査調整で第nの検査調整信号(a−n)9が記録され、第1の光ディスク装置検査調整領域4は領域を使い終わり、次の第2のディスク検査領域6に重ね書きすること避け第2の光ディスク装置検査調整領域5に移りn+1回目の第n+1の検査調整信号(a−n+1)10を記録するよう構成されている。それぞれの検査調整回数毎に検査調整信号記録領域は分けられており重ね書きすることはなく、未記録領域でそれぞれの自己録再特性の検査調整に使用される。ここでも説明には光ディスク装置検査調整領域を2個にしてあるが、ディスク検査領域の個数に合わせ1または3以上の複数領域を使用しても良い。
情報記録領域2には、第1のディスク検査領域3と第2のディスク検査領域6と、第1回目から第n+1回目まで行われた自己録再特性で使用された第1と第2の光ディスク装置検査調整領域4、5の記録済みのアドレス情報か、または第2の光ディスク装置検査調整領域5の未記録アドレス情報を記録してある。
以上のように構成された検査調整用光ディスクでは、ディスク検査領域が検査調整用光ディスクの中に存在できるためロット選別等で検査する必要がなくディスク選別が非常に容易になる。また情報記録領域2がディスク検査領域のアドレス情報と光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域の情報を持つため、自己録再の検査調整をする時に管理していた光ディスク装置での未記録領域の管理が必要なくなる。特にディスク交換時においては検査調整用光ディスクより未記録領域情報を計算できるためディスク交換が非常に楽に行え、生産性の向上に大いに役立つ。
(実施の形態2)
以下に本発明の検査調整用光ディスクに関する請求項2、3を開示した実施の形態2について説明する。図2は本発明の実施の形態2における検査調整用光ディスクの構成図を示す。図2における検査調整用光ディスク1aにおいて、第1のディスク検査領域3、第2のディスク検査領域6、第1の光ディスク装置検査調整領域4、第2の光ディスク装置検査調整領域5、第1の検査調整信号(a−1)7、第2の検査調整信号(a−2)8、第nの検査調整信号(a−n)9、第n+1の検査調整信号(a−n+1)10については図1と同じなので同じ符号をつけて説明を省略する。
以下に本発明の検査調整用光ディスクに関する請求項2、3を開示した実施の形態2について説明する。図2は本発明の実施の形態2における検査調整用光ディスクの構成図を示す。図2における検査調整用光ディスク1aにおいて、第1のディスク検査領域3、第2のディスク検査領域6、第1の光ディスク装置検査調整領域4、第2の光ディスク装置検査調整領域5、第1の検査調整信号(a−1)7、第2の検査調整信号(a−2)8、第nの検査調整信号(a−n)9、第n+1の検査調整信号(a−n+1)10については図1と同じなので同じ符号をつけて説明を省略する。
図1と異なる点は情報記録領域2の光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報を第1の情報記録領域2aに、ディスク検査領域のアドレス情報を第2の情報記録領域2bに記録するように分けたことである。図8の従来の例でも説明したようにファイル管理領域F1は記録済みファイルデータの先頭アドレスとファイルサイズ及び最終アドレス情報を持つことが出来るが、ディスク検査領域のアドレス情報を持っていない。このため事前にディスク検査をすると、検査調整時にその部分に重ね書きをすることになり、常に新しいデータ記録領域を使用することが不可能となる。
この点を鑑みて請求項2は従来の例でのファイル管理領域F1(本発明の第1の情報記録領域2a)とは別の領域にディスク検査領域のアドレス情報を第2の情報記録領域2bとして持たせ、従来の例のファイル管理領域F1のアドレス情報を利用しながらディスク検査領域のアドレス情報の管理も可能とすることが出来るようにしたものである。
また請求項3のように第1の情報記録領域を内周に位置し、第2の情報記録領域2bを第1の情報記録領域2aの外周に位置すれば従来の例のファイル管理領域F1の位置(内周)は変えずに第2の情報記録領域2bを設けられのでさらに従来の例のファイル管理領域F1のアドレス管理情報を利用しやすくなる。
(実施の形態3)
以下に本発明の検査調整用光ディスクを用いた光ディスク装置の検査調整方法の請求項4を開示した実施の形態3を説明する。図3は本発明の実施の形態3における検査調整方法を実施する場合に用いる光ディスク装置を示すものである。
以下に本発明の検査調整用光ディスクを用いた光ディスク装置の検査調整方法の請求項4を開示した実施の形態3を説明する。図3は本発明の実施の形態3における検査調整方法を実施する場合に用いる光ディスク装置を示すものである。
図3の検査調整用光ディスク1は図1で説明した検査調整用光ディスク1または図2の1aを使用している。図3の光ディスク装置301のピックアップ303は、検査調整用光ディスク1または1aにレーザー光を照射するレーザーと、検査調整用光ディスク1よりの反射光よりデータ信号とサーボ信号を受光するディテクタと、検査調整用光ディスク1の上にレーザービームのスポットを合わせるレンズと、検査調整用光ディスク1の信号トラック上にレンズを追従させるフォーカスアクチェータ、トラッキングアクチェータを持っている。
ピックアップ303は検査調整用光ディスク1または1aよりサーボ信号306をディテクタにより検出して、サーボ制御回路314に送る。サーボ信号306はフォーカスサーボ信号、トラッキングサーボ信号からなる。サーボ制御回路314は、フォーカスサーボ信号により検査調整用光ディスク1の盤面上にレーザー光のビームスポットを最適に合わせるようフォーカス駆動信号315をピックアップ303のフォーカスアクチェータに送り、フォーカスサーボ制御をする。またサーボ制御回路314は、トラッキングサーボ信号により検査調整用光ディスク1の盤面上のトラックに追従するようトラッキング駆動信号315をピックアップ303のトラッキングアクチェータに送り、トラッキングサーボ制御を行う。
検査調整用光ディスク1または1aはスピンドルモータ302により回転しておりサーボ制御回路314は検査調整用光ディスク1の回転数を所定のスピードになるようスピンドル駆動信号317をスピンドルモータ302に送りスピンドルサーボ制御をしている。サーボ制御回路314は検査調整用光ディスク1の所定の位置にピックアップ303を移動できるようトラバースモータ304にトラバース駆動信号を送る制御もしている。
このようにサーボ制御回路314は構成されているためシステム制御回路313のサーボ制御指令318により、スピンドルモータ302を駆動し検査調整用光ディスク1を所定の回転数で回転させ、トラバースモータ304を駆動し検査調整用光ディスク1の所定の位置にピックアップ303を移動させ、フォーカスサーボ、トラッキングサーボをかける制御が行える。
またシステム制御回路313はレーザー制御指令322をレーザー制御回路323に送り、再生と記録状態でのレーザー制御回路を制御している。
再生状態では、ピックアップ303のディテクタが検査調整用光ディスク1または1aのデータ信号を検出しデータ信号305として再生回路307に送る。再生回路307はデータ信号305を増幅、高域強調回路を通して2値化信号に変換し復調回路308にてエラー訂正等の復調を行いデータ情報309に変換し出力される。データ情報309には画像データ、アドレスデータ、記録済み領域アドレスデータ等が含まれる。
データ情報309の中の記録済アドレス領域情報325は演算回路326に入り演算回路326で未記録アドレス情報327を計算しシステム制御回路313に送る。再生回路307より出力される2値化信号は検査信号310として検査装置311にも送られ検査装置311にてジッター測定を行う。
記録状態では検査装置311より画像データ、記録済み領域アドレスデータ、検査信号等の記録検査信号320を変調回路321に送りエラー訂正等の変調を行いその出力をレーザー制御回路323に送る。レーザー制御回路323は変調回路321より送られた信号によりピックアップ303のレーザーパワーを記録レーザーパワーで光らせるようレーザー駆動信号324にてピックアップ303のレーザーパワーを制御する。この記録レーザーパワーにより検査調整用光ディスク1または1aにはデータ信号が記録される。
検査装置311とシステム制御回路313とはシステム指令319で接続されており記録状態、再生状態、検査状態等の制御と記録済みアドレス領域情報等の通信を行う。
このように構成された請求項4における光ディスク装置で請求項1の検査調整用光ディスクを使用する場合の動作を図4の第1の動作フローチャート図の手順を用い説明する。検査調整用光ディスク1の情報記録領域2には、検査調整用光ディスクの選別時に検査のために記録した検査領域のアドレス情報が記録されているものとする。
(1)検査調整開始
図3の光ディスク装置に請求項1(図1)の検査調整用光ディスク1を装着し検査調整を開始する。
(2)情報記録領域2を再生する(401)。
(1)検査調整開始
図3の光ディスク装置に請求項1(図1)の検査調整用光ディスク1を装着し検査調整を開始する。
(2)情報記録領域2を再生する(401)。
図3の検査調整用光ディスク1は図1で説明した情報記録領域2を持っているので、光ディスク装置は、図3のピックアップ303を所定の位置にある情報記録領域2に移動しその領域を再生する。
(3)光ディスク装置検査領域の記録済みアドレス情報とディスク検査領域のアドレス情報を読込む(402)。
(3)光ディスク装置検査領域の記録済みアドレス情報とディスク検査領域のアドレス情報を読込む(402)。
検査調整用光ディスク1の情報記録領域2より光ディスク装置検査領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報とディスク検査領域のアドレス情報データを読取り図3の記録済みアドレス領域情報325として演算回路326に入力する。
(4)未記録領域アドレス計算をする(403)。
(4)未記録領域アドレス計算をする(403)。
図3の演算回路326で、検査調整用光ディスク1の情報記録領域2の光ディスク装置検査領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報とディスク検査領域のアドレス情報データより光ディスク装置検査調整領域の未記録領域アドレス情報を計算し、図3の未記録アドレス領域情報327をシステム制御回路313に入力する。
(5)未記録領域アドレスにピックアップを移動する(404)。
(5)未記録領域アドレスにピックアップを移動する(404)。
図3のシステム制御回路313に入力された未記録アドレス領域情報327を基に、システム制御回路313はサーボ制御指令318をサーボ制御回路314に送り、サーボ制御回路314は検査調整用光ディスク1の光ディスク装置検査調整領域の未記録領域アドレスにピックアップ303を移動するようトラバースモータ304にトラバース駆動信号316を送る。
(6)検査調整信号を記録する(405)。
(6)検査調整信号を記録する(405)。
検査調整用光ディスク1の記録開始アドレスは未記録領域にあるので検査調整信号を記録開始する。そのためには検査装置311より記録検査信号320を出力し変調回路321に入力する。それと同時にシステム制御回路313はレーザー制御指令322をレーザー制御回路323に送りレーザー制御回路323を記録状態に制御する。またレーザー制御回路323は変調回路321からの信号に合わせた記録レーザーパワーにレーザーを駆動するレーザー駆動信号324をピックアップ303のレーザーに送り記録検査信号320を変調した検査調整信号のデータ情報を検査調整用光ディスク1の未記録領域に記録をする。なおこのときもフォーカスサーボ、トラキングサーボ、スピンドルサーボはピックアップ303のサーボ信号306とサーボ制御回路314により制御されている。
(7)新たに記録した記録信号を再生する(406)。
(7)新たに記録した記録信号を再生する(406)。
光ディスク装置は自己録再のジッター測定をするために、未記録領域に記録された信号を再生する必要がある。そのためシステム制御回路313からの指令によりピックアップ303は検査調整信号を記録した(405)の記録開始アドレスまで戻され、レーザー制御回路323は再生状態に制御して先ほど記録されたアドレス領域を再生する。検査調整用光ディスク1の未記録領域に記録されたデータ信号情報はピックアップ303によりデータ信号305として取り出され再生回路307により2値化信号にされる。この2値化信号は検査装置311に送られジッター測定が行われる。
(8)記録された信号の特性を評価し(407)、OKなら良品(408)、NGなら不良品と処理する(409)。
(8)記録された信号の特性を評価し(407)、OKなら良品(408)、NGなら不良品と処理する(409)。
検査装置311は再生回路307よりの2値化出力に対してジッター測定を行いOK、NGの判定を行う。
(9)新たに記録した記録領域アドレス情報を情報記録領域2に記録する(410)。
(9)新たに記録した記録領域アドレス情報を情報記録領域2に記録する(410)。
検査調整の判定が終了した後、(405)で使用した新しい記録済領域アドレス情報は今まで使用した光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域アドレス情報に加えられ、検査調整用光ディスク1の情報記録領域2に登録する。そのためシステム制御回路313は、サーボ制御回路314でピックアップ303を検査調整用光ディスク1の情報記録領域2に移動させ、レーザー制御回路323を記録状態に制御し、検査調整信号記録(405)で使用したアドレス情報を加えた記録済みまたは未記録領域アドレス情報を検査装置311の記録検査信号320として変調回路321に送るよう制御し、情報記録領域2に新しい光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域アドレス情報を記録する。
光ディスク装置301は以上のような手順で請求項1の検査調整用光ディスクを用いて自己録再の検査調整を行うため、検査調整用光ディスク1の情報記録領域2は光ディスク装置検査調整領域の使用した記録済みまたは未記録領域の最新アドレス情報とディスク検査領域のアドレス情報を持つことが出来る。光ディスク装置は、この検査調整用光ディスク1の情報記録領域2の光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域の最新アドレス情報とディスク検査領域のアドレス情報より検査調整で使用する光ディスク装置検査調整領域の未記録領域の計算を行うため、検査調整用光ディスクが交換されても光ディスク装置検査調整領域の未記録領域を正しく計算できる。
次に請求項4における図3の光ディスク装置301で図2の請求項2または3の検査調整用光ディスクを使用する場合の動作を図5の第2の動作フローチャート図の手順を用い説明する。検査調整用光ディスク1aの第2の情報記録領域2bには、検査調整用光ディスクの選別時に検査のために記録した検査領域のアドレス情報が記録されているものとする。
(1)検査調整開始
図3の光ディスク装置に請求項2(図2)の検査調整用光ディスク1aを装着し検査調整を開始する。
(2)第1の情報記録領域を再生する(501)。
(1)検査調整開始
図3の光ディスク装置に請求項2(図2)の検査調整用光ディスク1aを装着し検査調整を開始する。
(2)第1の情報記録領域を再生する(501)。
図3の光ディスク装置301に検査調整用光ディスク1を用いた場合は図2で説明した第1の情報記録領域2aを持っているので、光ディスク装置301は、図3のピックアップ303を所定の位置にある第1の情報記録領域2aに移動しその領域を再生する。
(3)光ディスク装置検査調整領域の記録済みアドレス情報を読込む(502)。
(3)光ディスク装置検査調整領域の記録済みアドレス情報を読込む(502)。
検査調整用光ディスク1aの第1の情報記録領域2aより光ディスク装置検査領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報を読取り図3の記録済みアドレス領域情報325として演算回路326に入力し演算回路326はその光ディスク装置検査調整領域の記録済みアドレス情報を一時保管する。
(4)第2の情報記録領域を再生する(503)。
(4)第2の情報記録領域を再生する(503)。
検査調整用光ディスク1aは図2で説明した第2の情報記録領域2bを持っているので、光ディスク装置301は、図3のピックアップ303を所定の位置にある第2の情報記録領域2bに移動しその領域を再生する。
(5)ディスク検査領域のアドレス情報を読込む(504)。
(5)ディスク検査領域のアドレス情報を読込む(504)。
検査調整用光ディスク1aの第2の情報記録領域2bより光ディスク装置検査領域のアドレス情報を読取り図3の記録済みアドレス領域情報325として演算回路326に入力し演算回路326はそのディスク検査領域のアドレス情報を一時保管する。
(6)未記録領域のアドレスを計算をする(505)。
(6)未記録領域のアドレスを計算をする(505)。
図3の演算回路326は、(502)により一時保管されていた光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域アドレス情報と、(504)により一時保管していたディスク検査領域のアドレス情報より光ディスク装置検査調整領域の未記録領域アドレスを計算し、図3の未記録アドレス領域情報327をシステム制御回路313に入力する。
(7)未記録領域アドレスにピックアップを移動する(506)。
(7)未記録領域アドレスにピックアップを移動する(506)。
図3のシステム制御回路313に入力された未記録アドレス領域情報327を基に、システム制御回路313はサーボ制御指令318をサーボ制御回路314に送り、サーボ制御回路314は検査調整用光ディスク1の未記録領域アドレスにピックアップ303を移動するようトラバースモータ304にトラバース駆動信号316を送る。
(8)検査調整信号を記録する(507)。
(8)検査調整信号を記録する(507)。
検査調整用光ディスク1aの記録開始アドレスは未記録領域にあるので検査調整信号を記録開始する。そのためには検査装置311より記録検査信号320を出力し変調回路321に入力する。それと同時にシステム制御回路313はレーザー制御指令322をレーザー制御回路323に送りレーザー制御回路323を記録状態に制御する。またレーザー制御回路323は変調回路321からの信号に合わせた記録レーザーパワーにレーザーを駆動するレーザー駆動信号324をピックアップ303のレーザーに送り記録検査信号320を変調した検査調整信号データ情報を検査調整用光ディスク1aの未記録領域に記録する。なおこのときもフォーカスサーボ、トラキングサーボ、スピンドルサーボはピックアップ303のサーボ信号306とサーボ制御回路314により制御されている。
(9)新たに記録した記録信号を再生する(508)。
(9)新たに記録した記録信号を再生する(508)。
光ディスク装置301は自己録再のジッター測定をするために、未記録領域に記録された信号を再生する必要がある。そのためシステム制御回路313からの指令によりピックアップ303は検査調整信号を記録した(507)の記録開始アドレスまで戻され、レーザー制御回路323は再生状態に制御して先ほど記録されたアドレス領域を再生する。検査調整用光ディスク1aの未記録領域に記録されたデータ信号情報はピックアップ303によりデータ信号305として取り出され再生回路307により2値化信号にされる。この2値化信号は検査装置311に送られジッター測定が行われる。
(10)記録された信号の特性を評価し(509)、OKなら良品(510)、NGなら不良品と処理する(511)。
(10)記録された信号の特性を評価し(509)、OKなら良品(510)、NGなら不良品と処理する(511)。
検査装置311は再生回路307よりの2値化出力に対してジッター測定を行いOK、NGの判定を行う。
(11)新たに記録した記録領域アドレス情報を第1の情報記録領域2aに記録する(512)。
(11)新たに記録した記録領域アドレス情報を第1の情報記録領域2aに記録する(512)。
検査調整の判定が終了した後、(507)で使用した新しい記録済領域アドレス情報は今まで使用した光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域アドレス情報に加えられ、検査調整用光ディスク1aの第1の情報記録領域2aに登録する。そのためシステム制御回路313はサーボ制御回路314でピックアップ303を検査調整用光ディスク1の第1の情報記録領域2aに移動させ、レーザー制御回路323を記録状態に制御し、検査調整信号記録(507)で使用したアドレス情報を加えた記録済みまたは未記録領域アドレス情報を検査装置311の記録検査信号320として変調回路321に送るよう制御し第1の情報記録領域2aに新しい光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域アドレス情報として記録される。
以上のような手順で光ディスク装置は請求項2の検査調整用光ディスクを用いて自己録再の検査調整を行うため、検査調整用光ディスク1aの第1の情報記録領域2aは光ディスク装置検査調整領域の使用した記録済みまたは未記録領域の最新アドレス情報を持つことが出来る。この検査調整用光ディスクの第1の情報記録領域2aの光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域の最新アドレス情報と、第2の情報記録領域2bにすでに記録されていたディスク検査領域アドレス情報より、検査調整で使用する光ディスク装置検査調整領域の未記録領域の計算を行うため、検査調整用光ディスクが交換されても光ディスク装置検査調整領域の未記録領域を正しく計算できる。
(実施の形態4)
以下に本発明の検査調整用光ディスクを用いた光ディスク装置の検査調整方法の請求項5を開示した実施の形態4を説明する。図6は本発明の実施の形態3における検査調整方法における光ディスク装置601を示すものである。検査調整用光ディスク1、スピンドルモータ302、ピックアップ303、トラバースモータ304、データ信号305、サーボ信号306、再生回路307、復調回路308、データ情報309、検査信号310、検査装置311、システム制御回路313、サーボ制御回路314、フォーカス、トラッキング駆動信号315、トラバース駆動信号316、スピンドル駆動信号317、サーボ制御指令318、システム指令319、記録検査信号320、変調回路321、レーザー制御指令322、レーザー制御回路323、レーザー駆動信号324、記録済アドレス領域情報325、演算回路326、未記録アドレス領域アドレス情報327等は図3で説明した働きと同じなので同一符号を用い説明を省略する。図3との違いは記憶回路603と比較回路602があることである。図6の記憶回路603は図4の(410)と図5の(512)で説明した新たな検査調整で使用した光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域アドレス情報とディスク検査領域のアドレス情報を記憶する。また比較回路602は、検査調整時に検査調整用光ディスク1の情報記録領域2または第1の情報記録領域2aより読取られた光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域アドレス情報(記録済アドレス領域情報325)と前回の検査調整で記憶回路603に記憶されていた光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域アドレス情報を比較する回路である。
以下に本発明の検査調整用光ディスクを用いた光ディスク装置の検査調整方法の請求項5を開示した実施の形態4を説明する。図6は本発明の実施の形態3における検査調整方法における光ディスク装置601を示すものである。検査調整用光ディスク1、スピンドルモータ302、ピックアップ303、トラバースモータ304、データ信号305、サーボ信号306、再生回路307、復調回路308、データ情報309、検査信号310、検査装置311、システム制御回路313、サーボ制御回路314、フォーカス、トラッキング駆動信号315、トラバース駆動信号316、スピンドル駆動信号317、サーボ制御指令318、システム指令319、記録検査信号320、変調回路321、レーザー制御指令322、レーザー制御回路323、レーザー駆動信号324、記録済アドレス領域情報325、演算回路326、未記録アドレス領域アドレス情報327等は図3で説明した働きと同じなので同一符号を用い説明を省略する。図3との違いは記憶回路603と比較回路602があることである。図6の記憶回路603は図4の(410)と図5の(512)で説明した新たな検査調整で使用した光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域アドレス情報とディスク検査領域のアドレス情報を記憶する。また比較回路602は、検査調整時に検査調整用光ディスク1の情報記録領域2または第1の情報記録領域2aより読取られた光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域アドレス情報(記録済アドレス領域情報325)と前回の検査調整で記憶回路603に記憶されていた光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域アドレス情報を比較する回路である。
このように構成された請求項5における光ディスク装置で請求項1の検査調整用光ディスクを使用する場合の動作を図7の第3の動作フローチャート図の手順を用い説明する。この場合も検査調整用光ディスク1の情報記録領域2には、検査調整用光ディスクの選別時に検査のために記録した検査領域のアドレス情報が記録されているものとする。
(1)検査調整開始
図6の光ディスク装置に請求項1(図1)の検査調整用光ディスク1を装着し検査調整を開始する。
(2)記憶回路のアドレス情報を取り出す(701)。
(1)検査調整開始
図6の光ディスク装置に請求項1(図1)の検査調整用光ディスク1を装着し検査調整を開始する。
(2)記憶回路のアドレス情報を取り出す(701)。
図6の記憶回路は、検査調整で使用した光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域アドレス情報か、光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域アドレス情報とディスク検査領域のアドレス情報の両方を記憶しているのでその情報を取り出す。これは前回検査で使用された光ディスク装置検査調整領域の記録済または未記録領域アドレス情報である。
(3)情報記録領域を再生する(702)。
(3)情報記録領域を再生する(702)。
図6の検査調整用光ディスク1は図1で説明した情報記録領域2を持っているので、光ディスク装置は、図6のピックアップ303を所定の位置にある情報記録領域2に移動しその領域を再生する。
(4)光ディスク装置検査領域の記録済みアドレス情報とディスク検査領域のアドレス情報を読込む(703)。
(4)光ディスク装置検査領域の記録済みアドレス情報とディスク検査領域のアドレス情報を読込む(703)。
検査調整用光ディスク1の情報記録領域2より光ディスク装置検査領域の記録済みまたは未記録アドレス情報とディスク検査領域のアドレス情報データを読取り図6の記録済みアドレス領域情報325として比較回路601に入力する。
(5)記憶回路と読込みアドレス情報の比較をする(704)。
(5)記憶回路と読込みアドレス情報の比較をする(704)。
記憶回路603より取り出した光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録アドレス情報と、(703)で読込んだ光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録アドレス情報を比較する。これは光ディスク装置がなんらかの不具合を持っていて正しく記録できない場合を検出するために行われる。自己録再の検査調整は複数の光ディスク装置を1枚の検査調整用光ディスクで検査調整することが多い。このため、ある光ディスク装置が正しく記録できない場合、それ以降の光ディスク装置に記録不具合を生じた光ディスク装置で使用された検査調整用光ディスクを使用できなくなる問題が発生する。この理由は、記録不具合を生じた光ディスク装置で記録された検査調整用光ディスク1の情報記録領域2の光ディスク装置検査調整領域の記録済または未記録アドレス情報が壊れる(正しく記録されない)からである。すなわち情報記録領域のアドレス情報が得られないため、検査調整を常に未記録領域で行う目的が達成出来なくなる。
(6)比較されたアドレス情報が同じであれば未記録領域アドレスの計算をする(705)。
(6)比較されたアドレス情報が同じであれば未記録領域アドレスの計算をする(705)。
図6の比較回路602の入力である記録済アドレス領域情報325を演算回路326に入力する。演算回路326は、検査調整用光ディスク1の情報記録領域2の光ディスク装置検査領域の記録済みまたは未記録領域アドレス情報と、ディスク検査領域のアドレス情報より光ディスク装置検査調整領域の未記録領域アドレスを計算し、図6の未記録アドレス領域情報327としてシステム制御回路313に入力する。
(7)比較されたアドレス情報が違う場合は、未記録領域アドレス計算結果に一定量のアドレス情報を加算する(706)。
(7)比較されたアドレス情報が違う場合は、未記録領域アドレス計算結果に一定量のアドレス情報を加算する(706)。
演算回路326は、記憶回路602が記憶している光ディスク装置検査調整領域の記録済または未記録アドレス領域情報とディスク検査領域のアドレス情報より、光ディスク装置検査領域の未記録アドレス領域情報を計算する。また比較したアドレスが違う場合は前回検査調整をした光ディスク装置の記録不具合が発生した場合であるので、演算回路326の計算結果に不具合光ディスク装置が使用したアドレス領域として一定量の使用アドレス領域情報を加算して未記録アドレス領域情報を計算し、図6の未記録アドレス領域情報327としてシステム制御回路313に入力する。
(8)未記録領域アドレスにピックアップを移動する(707)。
(8)未記録領域アドレスにピックアップを移動する(707)。
図6のシステム制御回路313に入力された未記録アドレス領域情報327を基に、システム制御回路313はサーボ制御指令318をサーボ制御回路314に送り、サーボ制御回路314は検査調整用光ディスク1の未記録領域アドレスにピックアップ303を移動するようトラバースモータ304にトラバース駆動信号316を送る。
(9)検査調整信号を記録する(708)。
(9)検査調整信号を記録する(708)。
検査調整用光ディスク1の記録開始アドレスは未記録領域にあるので検査調整信号を記録開始する。そのためには検査装置311より記録検査信号320を出力し変調回路321に入力する。それと同時にシステム制御回路313はレーザー制御指令322をレーザー制御回路323に送りレーザー制御回路323を記録状態に制御する。またレーザー制御回路323は変調回路321からの信号に合わせた記録レーザーパワーにレーザーを駆動するレーザー駆動信号324をピックアップ303のレーザーに送り記録検査信号320を変調した検査調整信号データ情報を検査調整用光ディスク1の未記録領域に記録をする。なおこのときもフォーカスサーボ、トラキングサーボ、スピンドルサーボはピックアップ303のサーボ信号306とサーボ制御回路314により制御されている。
(10)新たに記録した記録信号を再生する(709)。
(10)新たに記録した記録信号を再生する(709)。
光ディスク装置は自己録再のジッター測定をするために、未記録領域に記録された信号を再生する必要がある。そのためシステム制御回路313からの指令によりピックアップ303は検査調整信号を記録した(708)の記録開始アドレスまで戻され、レーザー制御回路323は再生状態に制御して先ほど記録されたアドレス領域を再生する。検査調整用光ディスク1の未記録領域に記録されたデータ信号情報はピックアップ303によりデータ信号305として取り出され再生回路307により2値化信号にされる。この2値化信号は検査装置311に送られジッター測定が行われる。
(11)記録された信号の特性を評価し(710)、OKなら良品(711)、NGなら不良品と処理する(713)。
(11)記録された信号の特性を評価し(710)、OKなら良品(711)、NGなら不良品と処理する(713)。
検査装置311は再生回路307よりの2値化出力に対してジッター測定を行いOK、NGの判定を行う。
(12)新たに記録した記録領域アドレス情報を情報記録領域2に記録する(713)。
(12)新たに記録した記録領域アドレス情報を情報記録領域2に記録する(713)。
検査調整の判定が終了した後、(708)で使用した新しい記録済領域アドレス情報は今まで使用した光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域アドレス情報に加えられ、検査調整用光ディスク1の情報記録領域2に登録する。そのためシステム制御回路313はサーボ制御回路314でピックアップ303を検査調整用光ディスク1の情報記録領域2に移動させ、レーザー制御回路323を記録状態に制御し、検査調整信号記録(708)で使用したアドレス情報を加えた記録済み領域アドレス情報を検査装置311の記録検査信号320として変調回路321に送るよう制御し情報記録領域2に新しい光ディスク装置検査調整領域の記録済領域データとして記録される。
(13)新たに記録した記録済アドレス領域情報とディスク検査領域を記憶回路603に記憶させる(714)。
(13)新たに記録した記録済アドレス領域情報とディスク検査領域を記憶回路603に記憶させる(714)。
記憶回路603に光ディスク装置検査調整領域の記録済または未記録アドレス領域情報とディスク検査領域のアドレス情報を記憶する。
以上のような手順で光ディスク装置は請求項1の検査調整用光ディスクを用いて自己録再の検査調整を行うと、1枚の検査調整用光ディスクで複数の光ディスク装置の自己録再検査調整をする場合に発生する検査調整用光ディスクの情報記録領域のデータが壊れた場合でも記録回路603記憶された記録済アドレス領域情報より光ディスクの情報記録領域のアドレス情報が正しいか判定でき、また記憶回路603の記録済アドレス領域情報より未記録領域のアドレス情報を復元できその復元した記録済アドレス領域情報を検査調整用光ディスクの情報記録領域に正しく記録できるため光ディスク装置の自己録再検査調整に非常に役立つ光ディスク装置の検査調整法を提供できる。
なお、この実施形態では、請求項1の検査調整用光ディスクを用いるものとして説明したが、請求項2または3の光ディスクを用いてもよいのは当然である。
以上のように本発明の検査調整用光ディスク及びそれを用いた光ディスク装置の検査調整方法によれば、検査調整用光ディスクの選別が非常に効率よく行える。本発明の検査調整用光ディスクは記録済アドレス領域情報の管理が光ディスクの情報管理領域で行えるため非常に簡単に記録済アドレス領域情報の管理ができ検査調整用光ディスクを良く取り替える自己録再検査調整用ディスクに最適である。
また本発明の光ディスク装置の検査調整方法によれば、記録不具合の光ディスク装置で記録され情報記録領域のアドレス領域情報が壊れた場合も情報記録領域のアドレス領域情報が正しいかの判定と壊れた記録済アドレス領域情報を復元できる。などの有利な効果が得られ産業上の利用可能性の高いものである。
1、1a 検査調整用光ディスク
2 情報記録領域
2a 第1の情報記録領域
2b 第2の情報記録領域
3 第1のディスク検査領域
4 第1の光ディスク装置検査調整領域
5 第2の光ディスク装置検査調整領域
6 第2のディスク検査領域
7 第1の検査調整信号(a−1)
8 第2の検査調整信号(a−2)
9 第nの検査調整信号(a−n)
10 第n+1の検査調整信号(a−n+1)
301 光ディスク装置
302 スピンドルモータ
303 ピックアップ
304 トラバースモータ
307 再生回路
308 復調回路
311 検査装置
313 システム制御回路
314 サーボ制御回路
323 レーザー制御回路
326 演算回路
601 光ディスク装置
602 比較回路
603 記憶回路
2 情報記録領域
2a 第1の情報記録領域
2b 第2の情報記録領域
3 第1のディスク検査領域
4 第1の光ディスク装置検査調整領域
5 第2の光ディスク装置検査調整領域
6 第2のディスク検査領域
7 第1の検査調整信号(a−1)
8 第2の検査調整信号(a−2)
9 第nの検査調整信号(a−n)
10 第n+1の検査調整信号(a−n+1)
301 光ディスク装置
302 スピンドルモータ
303 ピックアップ
304 トラバースモータ
307 再生回路
308 復調回路
311 検査装置
313 システム制御回路
314 サーボ制御回路
323 レーザー制御回路
326 演算回路
601 光ディスク装置
602 比較回路
603 記憶回路
Claims (5)
- 記録再生領域に信号を記録し、その記録信号を再生して記録品質を検査調整するための検査調整用ディスクであって、
光ディスク装置の記録品質を検査調整する光ディスク装置検査調整領域と、
事前に検査用ディスクとしての記録再生特性を検査してある少なくとも1つのディスク検査領域と、
前記光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報と前記ディスク検査領域のアドレス情報とを持つ情報記録領域とを備えたことを特徴とする検査調整用光ディスク。 - 前記情報記録領域は、前記光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報を管理する第1の情報記録領域と前記ディスク検査領域のアドレス情報を管理する第2の情報記録領域とを備えたことを特徴とする請求項1記載の検査調整用光ディスク。
- 前記第1の情報記録領域は記録再生領域の内周にあり、前記第2の情報記録領域は前記第1の情報記録領域の外周側に配置したことを特徴とする請求項2記載の検査調整用光ディスク。
- 請求項1から3の検査調整用光ディスクを用いる光ディスク装置の検査調整方法であって、
光ディスク装置は、前記検査調整用光ディスクの情報記録領域からの光ディスク装置検査領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報とディスク検査領域のアドレス情報を読取る読取り手段と、
前記読取り手段が読取った各々の情報から光ディスク装置検査領域の未記録領域を計算する計算手段と、
前記計算手段の計算結果に基づく未記録領域において記録再生を行って記録品位を検査調整する検査手段と、
前記検査調整用光ディスクの情報記録領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報を書き換える書き換え手段とを持ち、
前記読取り手段で前記検査調整用光ディスクの情報領域から光ディスク装置検査領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報とディスク検査領域のアドレス情報を読取り、
読み取った情報から前記計算手段により未記録領域を計算し、
前記検査手段は光ディスク装置検査領域の未記録領域で記録再生を行って記録品位を検査調整し、
前記書き換え手段で前記検査調整用光ディスクの情報記録領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報を書き換えることを特徴とする光ディスク装置の検査調整方法。 - 前記光ディスク装置は前記検査調整用光ディスクの情報記録領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報を記憶する記憶手段と、
検査調整のたびに検査調整用光ディスクの情報記録領域より読み取られたアドレス情報と光ディスク装置に記憶してあるアドレス情報とを比較する比較手段とをさらに持ち、
前記検査手段は前記比較手段が比較したアドレス情報が異なる時はある一定量だけアドレス情報をずらし光ディスク装置検査領域の未記録領域に記録品位を検査調整する信号を記録再生し、前記書き換え手段はずらした一定量のアドレス情報を記録済みアドレス情報として前記検査調整用光ディスクの情報記録領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報を書き換えることを特徴とする請求項4記載の光ディスク装置の検査調整方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005038809A JP2006228303A (ja) | 2005-02-16 | 2005-02-16 | 検査調整用光ディスク及びそれを用いた光ディスク装置の検査調整方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005038809A JP2006228303A (ja) | 2005-02-16 | 2005-02-16 | 検査調整用光ディスク及びそれを用いた光ディスク装置の検査調整方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP2006228303A true JP2006228303A (ja) | 2006-08-31 |
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ID=36989552
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JP2005038809A Pending JP2006228303A (ja) | 2005-02-16 | 2005-02-16 | 検査調整用光ディスク及びそれを用いた光ディスク装置の検査調整方法 |
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Country | Link |
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JP (1) | JP2006228303A (ja) |
-
2005
- 2005-02-16 JP JP2005038809A patent/JP2006228303A/ja active Pending
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