JP2006226975A - 微小力測定装置、微小力測定方法および触診装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 観察用カンチレバーその他の押圧部材により出力される力を精度よく測定することができ、また、広いダイナミックレンジにわたって、出力信号の直線性を維持する。
【解決手段】 片持ち梁状に形成された測定用カンチレバー3と、該測定用カンチレバー3の歪みを検出する歪みセンサ5と、測定用カンチレバー3に設けられ、力点位置を検出する力点検出センサ6とを備える微小力測定装置1を提供する。
【選択図】 図1
【解決手段】 片持ち梁状に形成された測定用カンチレバー3と、該測定用カンチレバー3の歪みを検出する歪みセンサ5と、測定用カンチレバー3に設けられ、力点位置を検出する力点検出センサ6とを備える微小力測定装置1を提供する。
【選択図】 図1
Description
本発明は、微小力測定装置、微小力測定方法および触診装置に関するものである。
走査型プローブ顕微鏡等の触診装置は、観察用カンチレバーの先端に設けた探針を試料の表面に所定の押圧力(測定力)で押し付けながら、観察用カンチレバーを試料に対して相対的に移動させ、その間に生ずるカンチレバーの上下動を検出することで試料表面の凹凸形状を検出する顕微鏡である。この走査型プローブ顕微鏡により観察する試料として、例えば、生体試料のような比較的柔らかい試料を用いる場合、試料を変形させたり、損傷させたりしないように、どの位の測定力で押圧しているのかを正確に知ることが重要となる。
観察用カンチレバーは、その用途に応じて複雑な形状をしている場合が多く、そのバネ定数を計算により求めることは困難であることから、従来、このような微小な力を測定する装置として、例えば、特許文献1および特許文献2に示される微小力測定装置が用いられ知られている。
特許文献1に示される微小力測定装置は、固定台に一端を固定され片持ち梁状に支持された微小な測定用カンチレバーと、その基端側の表面に設けられたピエゾ抵抗体等の半導体歪みセンサとを備えている。測定用カンチレバーの自由端に、走査型プローブ顕微鏡の観察用カンチレバーの探針を押し当てて、力を加えた際に、加えられた力に応じて歪みセンサから出力される電気信号を検出することにより、観察用カンチレバーにより試料に加えられる測定力を測定することができるようになっている。
特許文献1に示される微小力測定装置は、固定台に一端を固定され片持ち梁状に支持された微小な測定用カンチレバーと、その基端側の表面に設けられたピエゾ抵抗体等の半導体歪みセンサとを備えている。測定用カンチレバーの自由端に、走査型プローブ顕微鏡の観察用カンチレバーの探針を押し当てて、力を加えた際に、加えられた力に応じて歪みセンサから出力される電気信号を検出することにより、観察用カンチレバーにより試料に加えられる測定力を測定することができるようになっている。
また、特許文献2に示される微小力測定装置は、力測定のダイナミックレンジを広げるために、大レンジ用歪みセンサと小レンジ用歪みセンサとをそれぞれ異なる位置に配置している。同一位置に作用する小さい力の範囲内では小レンジ用歪みセンサを作動させ、大きな力の範囲内では大レンジ用歪みセンサを作動させ、全体として、力測定のダイナミックレンジを広げることとしている。
特開平11−153498号公報
特開2002−22562号公報
特許文献1,2に開示されている微小力測定装置においては、片持ち梁状の測定用カンチレバーにより微小力を測定するものであるため、微小力を精度よく測定するには、測定用カンチレバーの先端の厳密に特定された位置に押圧力を加える必要がある。これは、片持ち梁状の測定用カンチレバーは、押圧力を加える位置が測定用カンチレバーの長さ方向に変化すると、そのバネ定数も変化してしまうため、正確な押圧力が計算できなくなるからである。
しかしながら、測定力を作用させる力点位置を精度よく設定することは困難であるという問題がある。
すなわち、測定用カンチレバーや観察用カンチレバーはμmオーダーの微細な構造体であるため、その位置調整は顕微鏡で観察しながら行う必要がある。この場合に、測定用カンチレバーを押圧する観察用カンチレバーその他の押圧部材の押圧位置が、押圧部材の先端に突出していれば、顕微鏡によって押圧方向に観察することで、押圧位置を測定用カンチレバーの特定位置に位置合わせすることができるが、押圧部材の先端よりも内側に配置されている場合には、顕微鏡で押圧方向に観察するだけでは押圧位置を確認することができないため、その位置調整は困難である。
なお、押圧位置が変化しても計量誤差を生じにくい構造として、ロバーバル機構が知られているが、μmオーダーの微細な構造体においてこのような複雑な機構を採用することは困難である。
すなわち、測定用カンチレバーや観察用カンチレバーはμmオーダーの微細な構造体であるため、その位置調整は顕微鏡で観察しながら行う必要がある。この場合に、測定用カンチレバーを押圧する観察用カンチレバーその他の押圧部材の押圧位置が、押圧部材の先端に突出していれば、顕微鏡によって押圧方向に観察することで、押圧位置を測定用カンチレバーの特定位置に位置合わせすることができるが、押圧部材の先端よりも内側に配置されている場合には、顕微鏡で押圧方向に観察するだけでは押圧位置を確認することができないため、その位置調整は困難である。
なお、押圧位置が変化しても計量誤差を生じにくい構造として、ロバーバル機構が知られているが、μmオーダーの微細な構造体においてこのような複雑な機構を採用することは困難である。
また、特許文献2に示されるように、複数の歪みセンサによってダイナミックレンジを広げる方法では、大レンジ用歪みセンサと小レンジ用歪みセンサとの出力信号の間で直線性を維持することが困難となり、何らかの補正を行わなければならないという不都合もある。
本発明は上述した事情に鑑みてなされたものであって、観察用カンチレバーその他の押圧部材により出力される力を精度よく測定することができ、また、広いダイナミックレンジにわたって、出力信号の直線性を維持することができる微小力測定装置、微小力測定方法および走査型プローブ顕微鏡を提供することを目的としている。
上記目的を達成するために、本発明は以下の手段を提供する。
本発明は、片持ち梁状に形成された測定用カンチレバーと、該測定用カンチレバーの歪みを検出する歪みセンサと、前記測定用カンチレバーに設けられ、力点位置を検出する力点検出センサとを備える微小力測定装置を提供する。
本発明は、片持ち梁状に形成された測定用カンチレバーと、該測定用カンチレバーの歪みを検出する歪みセンサと、前記測定用カンチレバーに設けられ、力点位置を検出する力点検出センサとを備える微小力測定装置を提供する。
この発明によれば、測定用カンチレバーに押圧力が作用すると、片持ち梁状の測定用カンチレバーが弾性変形する結果、歪みセンサにより測定用カンチレバーの歪み信号が出力される。歪み信号は、押圧力と測定用カンチレバーのバネ定数に比例するので、測定用カンチレバーのバネ定数が一定であれば、歪み信号を検出することで押圧力を算出することができる。しかし、測定用カンチレバーのバネ定数は押圧力の力点位置に応じて変動する。
本発明によれば、力点検出センサの作動により押圧力が作用した測定用カンチレバーの力点位置が検出されるので、検出された力点位置に基づいて、測定用カンチレバーの正確なバネ定数を算出することができる。あるいは、検出された力点位置に基づいて、該力点位置が予め定められた位置に配置されるように微調整し、既知の正確なバネ定数を達成し得る力点位置に押圧力を加えることができる。また、力点検出センサが、正確な押圧力を測定可能な1カ所に設けられている場合には、力点検出センサにより押圧力が加えられたことが検出されるように力点位置を調節することで、押圧力を正確に測定することができる。
上記発明においては、前記歪みセンサが前記測定用カンチレバーの基端部近傍に配置されていることが好ましい。
このように構成することで、片持ち梁状に形成された測定用カンチレバーの歪みを最も高い感度で検出することができる。
このように構成することで、片持ち梁状に形成された測定用カンチレバーの歪みを最も高い感度で検出することができる。
上記発明においては、前記力点検出センサが、測定用カンチレバーの長さ方向に沿う力点位置を検出可能に設けられていることが好ましい。
このように構成することで、測定用カンチレバーの長さ方向に沿う任意の位置に押圧力が作用しても、その力点位置を検出し、その力点位置に対する測定用カンチレバーのバネ定数を算出することで、押圧力を精度よく測定することができる。また、測定用カンチレバーの長さ方向に沿う任意の位置に押圧力が作用しても、その力点位置を検出するので、正確な押圧力測定が可能な位置に力点位置を移動させ、押圧力を精度よく測定することができる。
このように構成することで、測定用カンチレバーの長さ方向に沿う任意の位置に押圧力が作用しても、その力点位置を検出し、その力点位置に対する測定用カンチレバーのバネ定数を算出することで、押圧力を精度よく測定することができる。また、測定用カンチレバーの長さ方向に沿う任意の位置に押圧力が作用しても、その力点位置を検出するので、正確な押圧力測定が可能な位置に力点位置を移動させ、押圧力を精度よく測定することができる。
また、上記発明においては、前記力点検出センサが、測定用カンチレバーの幅方向に沿う力点位置を検出可能に設けられていることが好ましい。
測定用カンチレバーの幅方向寸法が比較的大きい場合に、力点位置が幅方向の中心からずれる場合が生ずる。この場合には、測定用カンチレバーに曲げのみならずねじれが発生するため、押圧力を精度よく測定することが困難になる。そこで、測定用カンチレバーの幅方向に沿う力点位置を検出することで、力点位置が幅方向の中心位置近傍に配されるように位置調整することが可能となり、押圧力を精度よく測定することができる。
測定用カンチレバーの幅方向寸法が比較的大きい場合に、力点位置が幅方向の中心からずれる場合が生ずる。この場合には、測定用カンチレバーに曲げのみならずねじれが発生するため、押圧力を精度よく測定することが困難になる。そこで、測定用カンチレバーの幅方向に沿う力点位置を検出することで、力点位置が幅方向の中心位置近傍に配されるように位置調整することが可能となり、押圧力を精度よく測定することができる。
さらに、上記発明においては、前記力点検出センサが、力点位置の検出可能方向に沿って複数配列され、力点位置の温度変化を検出する温度センサからなることとしてもよい。
押圧力を発生する観察用カンチレバーその他の押圧部材が測定用カンチレバーに接触すると、その接触点において熱の流れが発生するので、温度センサからなる力点検出センサにより押圧部材と測定用カンチレバーとの接触位置を簡易に、かつ精度よく検出することができる。
押圧力を発生する観察用カンチレバーその他の押圧部材が測定用カンチレバーに接触すると、その接触点において熱の流れが発生するので、温度センサからなる力点検出センサにより押圧部材と測定用カンチレバーとの接触位置を簡易に、かつ精度よく検出することができる。
上記発明においては、前記温度センサが、2種の金属層を重ねてなる熱電対からなることとしてもよい。
測定用カンチレバーは、単結晶シリコン等の半導体材料により半導体製造技術を利用して製造することができる。この場合に、2種の金属層を重ねて温度センサを構成するのも、半導体製造技術を利用して、簡易に、測定用カンチレバーと一体的に製造することができる。
測定用カンチレバーは、単結晶シリコン等の半導体材料により半導体製造技術を利用して製造することができる。この場合に、2種の金属層を重ねて温度センサを構成するのも、半導体製造技術を利用して、簡易に、測定用カンチレバーと一体的に製造することができる。
また、上記発明においては、前記熱電対が複数備えられ、各熱電対を構成する2種の金属層の内、一方の金属層が複数の熱電対について共通化され、測定を行う熱電対を順次切り替える切替装置を備えることとしてもよい。
熱電対は2種の金属層を備えるため、それぞれの金属層に接続する配線を設けることが必要である。本発明によれば、一方の金属層が複数の熱電対について共通化されているため、その共通の金属層に対する配線を1本で済ませることができ、配線数を減らすことができる。微細な測定用カンチレバーに設ける配線数を減らすことができるので、製造が容易になり、その分、熱電対数を増加させて、力点位置検出の分解能を高めることができる。
熱電対は2種の金属層を備えるため、それぞれの金属層に接続する配線を設けることが必要である。本発明によれば、一方の金属層が複数の熱電対について共通化されているため、その共通の金属層に対する配線を1本で済ませることができ、配線数を減らすことができる。微細な測定用カンチレバーに設ける配線数を減らすことができるので、製造が容易になり、その分、熱電対数を増加させて、力点位置検出の分解能を高めることができる。
さらに、上記発明においては、前記熱電対を所定温度に設定する温度調節部を備えることとしてもよい。
熱電対によって、力点位置を検出する場合には、力点位置に接触する押圧部材と測定用カンチレバーとの間に何らかの熱の流れを発生させる必要がある。このため、押圧部材と測定用カンチレバーとが同一温度の場合には力点位置を検出できない。そこで、温度調節部の作動により、熱電対の温度を所定温度に設定することで、押圧部材と異なる温度に加熱あるいは冷却し、熱流を生じさせて熱電対により確実に検出できるようにすることができる。
熱電対によって、力点位置を検出する場合には、力点位置に接触する押圧部材と測定用カンチレバーとの間に何らかの熱の流れを発生させる必要がある。このため、押圧部材と測定用カンチレバーとが同一温度の場合には力点位置を検出できない。そこで、温度調節部の作動により、熱電対の温度を所定温度に設定することで、押圧部材と異なる温度に加熱あるいは冷却し、熱流を生じさせて熱電対により確実に検出できるようにすることができる。
また、上記発明においては、前記力点検出センサにより検出された力点位置に基づいて、測定用カンチレバーのバネ定数を算出するバネ定数算出部を備え、該バネ定数算出部により算出されたバネ定数に基づいて力点位置に作用した力の大きさを算出することとしてもよい。
この発明によれば、力点位置に基づいて変化する測定用カンチレバーのバネ定数がバネ定数算出部により算出され、算出されたバネ定数に基づいて作用した力の大きさをより精度よく算出することができる。また、力点位置に基づいて変化するバネ定数を算出して、作用した力の大きさの算出に用いるので、単一の歪みセンサによって、広いダイナミックレンジにわたって力を測定することができる。
この発明によれば、力点位置に基づいて変化する測定用カンチレバーのバネ定数がバネ定数算出部により算出され、算出されたバネ定数に基づいて作用した力の大きさをより精度よく算出することができる。また、力点位置に基づいて変化するバネ定数を算出して、作用した力の大きさの算出に用いるので、単一の歪みセンサによって、広いダイナミックレンジにわたって力を測定することができる。
また、本発明は、片持ち梁状に形成された測定用カンチレバーに作用させた力を測定する微小力測定方法であって、測定用カンチレバーにおける力点位置を検出し、検出された力点位置に基づいて、測定用カンチレバーのバネ定数を算出し、算出されたバネ定数に基づいて力点位置に作用した力の大きさを算出する微小力測定方法を提供する。
片持ち針状の測定用カンチレバーにおける力点位置が、基端側に近ければバネ定数は大きくなり、先端側に近ければバネ定数は小さくなる。本発明によれば、力点位置を検出してバネ定数を算出するので、力点位置を精度よく調節しなくても作用した力の大きさを精度よく測定することができる。
さらに、本発明は、試料に接触させる触針と、該触針に対して相対移動可能に設けられ、触針を接触させて該触針から加えられる押圧力を測定する上記いずれかの微小力測定装置とを備える触診装置を提供する。
この発明によれば、触診装置として、例えば、走査型プローブ顕微鏡の場合、触針を試料に接触させつつ、該触針を試料上において走査させることにより、微細な試料の形状を測定することができる。このような場合において、微小力測定装置を備えることにより、試料の表面情報の計測等に先立って、触針に対して、微小力測定装置の測定用カンチレバーを相対移動させ、触針による押圧力を測定用カンチレバーに作用させ、その押圧力を精度よく測定することができる。したがって、試料が生体試料である場合のように、変形しやすい場合等に、触針から試料に作用させる力を調節し、試料が変形したり、損傷したりしないように保護することができる。
この発明によれば、触診装置として、例えば、走査型プローブ顕微鏡の場合、触針を試料に接触させつつ、該触針を試料上において走査させることにより、微細な試料の形状を測定することができる。このような場合において、微小力測定装置を備えることにより、試料の表面情報の計測等に先立って、触針に対して、微小力測定装置の測定用カンチレバーを相対移動させ、触針による押圧力を測定用カンチレバーに作用させ、その押圧力を精度よく測定することができる。したがって、試料が生体試料である場合のように、変形しやすい場合等に、触針から試料に作用させる力を調節し、試料が変形したり、損傷したりしないように保護することができる。
上記発明においては、試料を搭載して触針に対して試料を相対的に移動させるステージを備え、前記微小力測定装置がステージに固定されていることとしてもよい。
このように構成することで、ステージの作動により試料を触針に対して相対的に移動させ、触針を試料の所定の計測領域に接触させることができる。一方、ステージには、微小力測定装置が備えられているので、試料の計測に先立って微小力測定装置の測定用カンチレバーに触針を接触させ、該触針からの押圧力を測定用カンチレバーに作用させることで、その押圧力を予め精度よく測定することができる。試料の位置決め用に用いるステージに微小力測定装置を固定しておくことで、別個の相対移動機構を設ける必要がなく、装置を簡易に構成することができる。
このように構成することで、ステージの作動により試料を触針に対して相対的に移動させ、触針を試料の所定の計測領域に接触させることができる。一方、ステージには、微小力測定装置が備えられているので、試料の計測に先立って微小力測定装置の測定用カンチレバーに触針を接触させ、該触針からの押圧力を測定用カンチレバーに作用させることで、その押圧力を予め精度よく測定することができる。試料の位置決め用に用いるステージに微小力測定装置を固定しておくことで、別個の相対移動機構を設ける必要がなく、装置を簡易に構成することができる。
本発明によれば、測定用カンチレバーに押圧力が作用した力点位置を自動検出するので、力点位置を厳密に調節しておかなくても、力点位置に作用した押圧力の大きさを精度よく測定することができる。また、測定用カンチレバーの基端部に設けた歪みセンサにより、広いダイナミックレンジにわたって、直線性補正を行うことなく測定を行うことができるという効果を奏する。
以下、本発明の一実施形態に係る微小力測定装置1について、図1および図2を参照して説明する。
本実施形態に係る微小力測定装置1は、図1に示されるように、構造物Aに固定されるベース2と、該ベース2から片持ち梁状に延びる測定用カンチレバー3と、該測定用カンチレバー3の基端部近傍に設けられた応力集中部4と、該応力集中部4に設けられた歪みセンサ5と、測定用カンチレバー3の上面に設けられた力点検出センサ6とを備えている。また、微小力測定装置1は、歪みセンサ5から出力されてくる電圧信号S1に基づいて歪み信号S2を出力する歪み検出部7と、力点検出センサ6から出力されてくる電圧信号S3に基づいて力点位置信号S4を出力する位置検出部8と、これら歪み検出部7および位置検出部8から出力される歪み信号S2および力点位置信号S4に基づいて測定用カンチレバー3に作用した押圧力の大きさを算出する押圧力算出部9とを備えている。
本実施形態に係る微小力測定装置1は、図1に示されるように、構造物Aに固定されるベース2と、該ベース2から片持ち梁状に延びる測定用カンチレバー3と、該測定用カンチレバー3の基端部近傍に設けられた応力集中部4と、該応力集中部4に設けられた歪みセンサ5と、測定用カンチレバー3の上面に設けられた力点検出センサ6とを備えている。また、微小力測定装置1は、歪みセンサ5から出力されてくる電圧信号S1に基づいて歪み信号S2を出力する歪み検出部7と、力点検出センサ6から出力されてくる電圧信号S3に基づいて力点位置信号S4を出力する位置検出部8と、これら歪み検出部7および位置検出部8から出力される歪み信号S2および力点位置信号S4に基づいて測定用カンチレバー3に作用した押圧力の大きさを算出する押圧力算出部9とを備えている。
前記ベース2および測定用カンチレバー3は、例えば、単結晶シリコンにより一体的に製造されている。前記応力集中部4は、例えば、測定用カンチレバー3の下側を切り欠いた形状として、断面積を局部的に小さくすることにより構成されている。
歪みセンサ5は、例えば、ピエゾ抵抗効果を利用して応力集中部における歪みを検出するようになっている。なお、歪みを検出する手段としてピエゾ抵抗効果を利用した方法に限られず、また、測定用カンチレバー3の基端部近傍に設けられた構成にも限られない。測定用カンチレバー3に設けられ、ピエゾ効果を利用したセンサや、測定用カンチレバー3の外部に設けられ、光の変位あるいは静電容量の変化を利用したセンサにより歪みを検出する方式のものでもよい。
歪みセンサ5は、例えば、ピエゾ抵抗効果を利用して応力集中部における歪みを検出するようになっている。なお、歪みを検出する手段としてピエゾ抵抗効果を利用した方法に限られず、また、測定用カンチレバー3の基端部近傍に設けられた構成にも限られない。測定用カンチレバー3に設けられ、ピエゾ効果を利用したセンサや、測定用カンチレバー3の外部に設けられ、光の変位あるいは静電容量の変化を利用したセンサにより歪みを検出する方式のものでもよい。
前記力点検出センサ6は、例えば、異なる2種類の金属膜、例えば、Cr薄膜と、Ni薄膜とを重ねることにより構成された複数の熱電対10を備えている。熱電対10は、図2および図3に示されるように、測定用カンチレバー3の長さ方向に沿って複数配列されている。各熱電対10を構成する各金属層10a,10bには、金属層10a,10b間に発生する電圧信号を取り出すための配線11,12が接続されている。そして、いずれかの熱電対10に押圧部材(図示略)が接触すると、接触により生ずる温度変化により金属層10a,10b間に発生する電圧が変動することを利用して、押圧部材の接触位置を検出することができるようになっている。
前記押圧力算出部9は、力点検出センサ6により検出された押圧部材の接触位置に基づいて、その接触位置に力点が配置されたときの測定用カンチレバー3のバネ定数を算出し、あるいは、押圧部材の接触位置に対応して記憶されている測定用カンチレバー3のバネ定数を検索し、そのバネ定数と、歪みセンサ5により検出された測定用カンチレバー3の歪み量とに基づいて、力点に加えられた押圧力の大きさを算出するようになっている。
次に、このように構成される本実施形態に係る微小力測定装置1の製造プロセスについて、図4〜図 を参照しながら順を追って説明する。
図4(a)に示されるように、基材として、Si活性層13、SiO2層14、Si支持層15およびSiO2層16を順に積層してなるSOI(シリコンオンインシュレータ)基板を使用する。
図4(a)に示されるように、基材として、Si活性層13、SiO2層14、Si支持層15およびSiO2層16を順に積層してなるSOI(シリコンオンインシュレータ)基板を使用する。
まず第1に、図4に示されるように、測定用カンチレバー3の全体形状を決定する処理を行う。
図4(a)の基材の上面に、図4(b)に示されるように、測定用カンチレバー3の全長を切り出すためのレジスト膜17を形成し、図4(c)に示されるようにエッチング処理によりSi活性層13の一部を選択的に除去し、図4(d)に示されるように、レジスト膜17を剥離する。
これにより、測定用カンチレバー3の外形が形成される。
図4(a)の基材の上面に、図4(b)に示されるように、測定用カンチレバー3の全長を切り出すためのレジスト膜17を形成し、図4(c)に示されるようにエッチング処理によりSi活性層13の一部を選択的に除去し、図4(d)に示されるように、レジスト膜17を剥離する。
これにより、測定用カンチレバー3の外形が形成される。
次に、図5に示されるように、歪みセンサ5を形成するための処理を行う。
図5(a)に示されるように、歪みセンサ5を形成する領域を除き、図4において形成された測定用カンチレバー3の上面全面を被覆するようにレジスト膜18を形成する。次いで、図5(b)に示されるように、イオンを打ち込む。イオンとしては、基板となるSi活性層がn型半導体である場合にはp型の、例えば、ボロン(B)イオンを打ち込み、基板となるSi活性層がp型半導体である場合にはn型の、例えば、リン(P)イオンを打ち込む。これにより、レジスト膜18から露出している部分のみにイオンが打ち込まれ、歪みセンサ5が形成されるので、図5(c)に示されるようにレジスト膜18を剥離する。
図5(a)に示されるように、歪みセンサ5を形成する領域を除き、図4において形成された測定用カンチレバー3の上面全面を被覆するようにレジスト膜18を形成する。次いで、図5(b)に示されるように、イオンを打ち込む。イオンとしては、基板となるSi活性層がn型半導体である場合にはp型の、例えば、ボロン(B)イオンを打ち込み、基板となるSi活性層がp型半導体である場合にはn型の、例えば、リン(P)イオンを打ち込む。これにより、レジスト膜18から露出している部分のみにイオンが打ち込まれ、歪みセンサ5が形成されるので、図5(c)に示されるようにレジスト膜18を剥離する。
次に、図6に示されるように、歪みセンサ5への配線を形成するための処理を行う。
まず、図6(a)に示されるように、図5において歪みセンサ5が形成された測定用カンチレバー3の上面全体に、熱酸化処理によりSiO2皮膜を形成する。形成されたSiO2皮膜は絶縁膜19となる。
まず、図6(a)に示されるように、図5において歪みセンサ5が形成された測定用カンチレバー3の上面全体に、熱酸化処理によりSiO2皮膜を形成する。形成されたSiO2皮膜は絶縁膜19となる。
次いで、図6(b)に示されるように、歪みセンサ5への接続部を除いて、測定用カンチレバー3の上面全面を被覆するようにレジスト膜20を形成し、図6(c)に示されるように、エッチング処理により、レジスト膜20から露出している接続部21に対応する絶縁膜19を選択的に除去する。その後、図6(d)に示されるように、レジスト膜20を剥離し、図7(a)に示されるように、配線用の金属膜22、例えばアルミニウム薄膜を、測定用カンチレバー3の上面全体を被覆するように形成する。
そして、図7(b)に示されるように、前記接続部21に接続する歪みセンサ5への配線部分に対応するパターンでレジスト膜23を形成し、図7(c)に示されるように、エッチング処理によりレジスト膜23から露出している配線用の金属膜22を選択的に除去する。その後、図7(d)に示されるように、レジスト膜23を剥離することにより、絶縁膜19上に配線22が形成され、接続部21を介して歪みセンサ5に電気的に接続される。
次に、図8および図9に示されるように、熱電対10を形成するための処理を行う。
まず、図8(a)に示されるように、図7において歪みセンサ5への配線22が形成された測定用カンチレバー3の上面に、熱電対10を構成する金属層10aおよびこれに接続する電気配線11を形成するためのパターンにくりぬかれたレジスト膜24を形成する。そして、図8(b)に示されるように、スパッタリングまたは真空蒸着等により第1の金属層10aとなる金属材料、例えば、Cr膜25を形成する。
まず、図8(a)に示されるように、図7において歪みセンサ5への配線22が形成された測定用カンチレバー3の上面に、熱電対10を構成する金属層10aおよびこれに接続する電気配線11を形成するためのパターンにくりぬかれたレジスト膜24を形成する。そして、図8(b)に示されるように、スパッタリングまたは真空蒸着等により第1の金属層10aとなる金属材料、例えば、Cr膜25を形成する。
次いで、図8(c)に示されるように、レジスト膜24を剥離することにより、レジスト膜24とともにレジスト膜24上に形成されたCr膜25を除去する(リフトオフ法)。これにより、各熱電対10を構成する第1の金属層10aおよび配線11が測定用カンチレバー3の上面に形成される。
次に、図9(a)に示されるように、図8により形成された第1の金属層10a上に、第2の金属層10bおよびこれに接続する電気配線12の形状に対応したパターンでくりぬかれたレジスト膜26を形成する。そして、図9(b)に示されるように、スパッタリングまたは真空蒸着等により、第2の金属層10bを構成する金属材料、例えば、Ni膜27を形成する。
次いで、図9(c)に示されるように、レジスト膜26を剥離することにより、レジスト膜26とともにレジスト膜26上に形成されたNi膜27を除去する(リフトオフ法)。これにより、第1の金属層10aの上に第2の金属層10bを積層した複数の熱電対10および、該熱電対10への電気配線11,12が測定用カンチレバー3の上面に形成される。
最後に、図10に示されるように、基材の下側の2つのSiO2膜14,16およびSi支持層15をエッチングにより除去する。これにより、ベース2と、該ベース2から片持ち梁状に突出する測定用カンチレバー3とを有する微小力測定装置1が製造される。
また、測定用カンチレバー3の基端部の応力集中部4については、集束イオンビームでエッチングすることにより製造される。あるいは、測定用カンチレバー3の外形をエッチング処理にて形成する際に、図11に示されるように、測定用カンチレバー3の基端部に貫通孔Xを形成するくりぬき構造によっても応力集中部4を製造することができる。
また、測定用カンチレバー3の基端部の応力集中部4については、集束イオンビームでエッチングすることにより製造される。あるいは、測定用カンチレバー3の外形をエッチング処理にて形成する際に、図11に示されるように、測定用カンチレバー3の基端部に貫通孔Xを形成するくりぬき構造によっても応力集中部4を製造することができる。
このようにして構成された本実施形態に係る微小力測定装置1の作用について、以下に説明する。
ここでは、例えば、図12に示されるような走査型プローブ顕微鏡の観察用カンチレバー30の探針(触針)31により試料を押圧する測定力を測定する場合について説明する。
ここでは、例えば、図12に示されるような走査型プローブ顕微鏡の観察用カンチレバー30の探針(触針)31により試料を押圧する測定力を測定する場合について説明する。
本実施形態に係る微小力測定装置1を用いて観察用カンチレバー30の測定力を測定するには、図13に示されるように、観察用カンチレバー30の探針31の鉛直下方に微小力測定装置1の測定用カンチレバー3を配置し、観察用カンチレバー30を下降させて探針31の先端を測定用カンチレバー3の上面に接触させ、測定力を作用させる。観察用カンチレバー30に対する測定用カンチレバー3の相対位置の調節は、例えば、微小力測定装置1を、3軸方向に移動させるステージ32上に搭載することで行うことができる。押圧力の算出およびステージ32を駆動するステージ駆動部35の駆動制御はコンピュータ(押圧力算出部)9により行われる。
測定用カンチレバー3の上面に測定力が作用すると、歪みセンサ5により、応力集中部4における歪みが検出される。したがって、測定用カンチレバー3の長手方向の所定位置に観察用カンチレバー30の探針31を接触させることができれば、応力集中部4における歪み信号に基づいて、測定力の大きさを算出することができる。また、測定用カンチレバー3の長手方向の任意の位置に観察用カンチレバー30の探針31が接触した場合であっても、測定用カンチレバー3のバネ定数がわかれば、測定力を算出することが可能となる。
本実施形態に係る微小力測定装置1においては、測定用カンチレバー3の上面に力点検出センサ6が配置されているので、探針31が接触した位置、すなわち、力点位置が力点検出センサ6によって検出される。力点検出センサ6は、測定用カンチレバー3の長手方向に配列された複数の熱電対10により構成されているので、観察用カンチレバー30の探針31がいずれかの熱電対10に接触することにより熱電対10と探針31との間に生ずる熱流による温度変動が、当該熱電対10によって検出される。
したがって、位置検出部8においては、温度変動を検出した熱電対10の位置に測定力が作用したことが検出され、コンピュータ9においてはその位置に測定力が作用した場合に測定用カンチレバー3のバネ定数が算出され、あるいはデータベースから検索される。そして、このようにして算出あるいは検索された測定用カンチレバー3のバネ定数を用いるとともに、歪みセンサ5により検出された応力集中部4における歪みに基づいて、観察用カンチレバー30により加えられた押圧力を算出することができる。
本実施形態に係る微小力測定装置1においては、測定用カンチレバー3に設けた力点検出センサ6が、観察用カンチレバー30の探針31による押圧力が作用した位置を検出するので、測定用カンチレバー3と観察用カンチレバー30の探針31との相対位置関係は厳密に調節する必要がないという利点がある。例えば、図14(a)、(b)に示されるように、観察用カンチレバー30の探針31は、観察用カンチレバー30の下面に位置し、同図(b)に示されるように、その上方からは直接観察できない。このため、通常、測定用カンチレバー3と観察用カンチレバー30の探針31との相対位置関係を厳密に調節するには、図13(a)のような側方からの観察、および、同図(b)のような上方からの観察を同時に行う必要があり、その操作およびそのための設備が煩雑になる。
しかし、本実施形態によれば、測定用カンチレバー3の長手方向に関する測定用カンチレバー3と観察用カンチレバー30との相対的な位置決めは厳密に行わなくて済むので、図14(a)のような側方からの観察は不要となり、同図(b)に示される上方からの観察のみで観察用カンチレバー30により加えられる押圧力を精度よく測定することができるという利点がある。
また、本実施形態に係る微小力測定装置1においては、観察用カンチレバー30の探針31が接触した位置に応じて、測定用カンチレバー3のバネ定数を決定し、単一の歪みセンサ5により検出された単一の応力集中部4における歪みに基づいて観察用カンチレバー30の探針31による押圧力を計算するので、複数の歪みセンサ5を用いずに済み、補正を行うことなく出力信号の直線性を確保することができる。また、広いダイナミックレンジを確保することができる。
なお、本実施形態に係る微小力測定装置1においては、観察用カンチレバー30の探針31による押圧力が加えられた力点位置を検出し、その力点位置に押圧力が作用した状態で押圧力の大きさを測定する場合について説明した。これに代えて、力点検出センサ6が力点位置を検出したときには、その検出された力点位置情報に基づいて、観察用カンチレバー30と測定用カンチレバー3とを相対的に移動させ、観察用カンチレバー30の探針31が測定用カンチレバー3の所定の位置に配置されるように調節してもよい。このようにすることで、その都度バネ定数を決定する必要なく、既知のバネ定数を用いて押圧力の測定を行うことができる。
また、本実施形態においては、測定用カンチレバー3の長手方向に、複数の熱電対10を配列して力点検出センサ6を構成したが、これに加えて、測定用カンチレバー3の幅方向にも複数の熱電対10を配列することにしてもよい。力点位置が測定用カンチレバー3の幅方向の中心からずれている場合には、測定用カンチレバー3にねじりが加わるため、歪みセンサ5による正確な測定が困難になる。そこで、測定用カンチレバー3の幅方向に配列された熱電対10により、力点位置の位置ずれ量を検出し、力点が測定用カンチレバー3の幅方向の中心位置に配置されるように調整してから測定を行うこととしてもよい。
また、本実施形態に係る微小力測定装置1においては、測定用カンチレバー3の長手方向に沿って設けた複数の熱電対10をそれぞれ別個に区画形成し、各熱電対10に対して2本ずつの配線11,12を形成したが、これに代えて、図15および図16に示されるように、1種類の金属層10aを各熱電対10について共通化してもよい。このようにすることで、共通化した金属層10aついては配線11を1本とすることができるので、配線数を大幅に削減することができる。熱電対10用の配線11,12は、図2に示したように、測定用カンチレバー3の上面に、幅方向に間隔をあけて配列されるので、その数を減らすことで、測定用カンチレバー3の幅寸法を小さくすることができる。また、製造が容易になり、その分、熱電対数を増加させて、力点位置検出の分解能を高めることができる。
なお、この場合には、全ての熱電対10について同時に温度信号を検出することができないため、温度検出する熱電対10を逐次切り替えていく切替装置(図示略)を設けることで全ての熱電対10についてスキャンしながら温度変化を検出する必要がある。
また、本実施形態に係る微小力測定装置1は、接触により発生する熱流による温度変動を熱電対10により検出することとしているため、熱電対10を構成する金属層10a,10bとこれに接触する探針31とが同一の温度である場合には、温度変動を検出できない。そこで、図17および図18に示されるように、熱電対10を加熱するヒータ(温度調節部)32を設けることが好ましい。ヒータ33の作動により、全ての熱電対10を観察用カンチレバー30の探針31よりも高い温度に設定しておくことで、探針31が熱電対10に接触したときに、必ず温度変動が生ずるようにすることができ、より確実に力点位置を検出することができる。
ヒータ33の製造は、図5(b)に示した歪みセンサ5の製造工程と同時に、測定用カンチレバー3を構成するSi活性層13の表面にイオンを打ち込むことにより行うことができる。また、ヒータ33への配線34も、歪みセンサ5への配線22と同一工程において形成することができる。
また、力点検出センサ6として、熱電対10を採用したが、これに代えて、磁気センサを用いてもよい。また、観察用カンチレバー30の探針31として、電気的な検出が可能なものが用いられている場合には、電気抵抗値の検出や、導通位置の検出により力点位置を検出してもよい。また、微小力測定装置1によって測定する押圧力が、本実施形態におけるように走査型プローブ顕微鏡の観察用カンチレバー30により加えられる場合には、表面形状を測定する観察用カンチレバー30を利用して、探針31の位置を特定してもよい。すなわち、測定用カンチレバー3の上面に、位置に応じて異なる形状の凹凸を設けておくことで、観察用カンチレバー30によって検出される凹凸形状によって、探針31の接触している位置を特定することができる。
また、本実施形態に係る微小力測定装置1においては、単一の測定用カンチレバー3を備えるものを例示して説明したが、これに代えて、バネ定数の異なる複数の測定用カンチレバー3をアレイ状に配列してもよい。この場合においても、同一の半導体製造プロセスの中で、隣接する測定用カンチレバー3間に、エッチング処理によりスリットを形成することで簡易に構成することができる。
また、本実施形態に係る微小力測定装置1は、例えば、走査型プローブ顕微鏡に代表される触診式の表面情報計測装置に組み込むことが好ましい。走査型プローブ顕微鏡は、上述した観察用カンチレバー30と、試料を搭載して移動させるXYZステージ32と、観察用カンチレバー30からの検出信号とXYZステージ32による試料の位置情報とに基づいて、試料の表面形状を算出するコンピュータ9とを備えている。そこで、試料を搭載しているXYZステージ32に微小力測定装置1のベース2を固定することにより、XYZステージ32の作動により、観察用カンチレバー30に対し、試料または測定用カンチレバー3を選択的に配置することができる。
このように構成された走査型プローブ顕微鏡によれば、XYZステージ32を作動させるだけで、観察用カンチレバー30に対して試料または測定用カンチレバー3を選択的に配置できる。したがって、試料の表面形状の測定に先立って、測定用カンチレバー3に観察用カンチレバー30の探針31を押し当ててその押圧力を測定することができる。この際に、上述したように測定用カンチレバー3に対する探針31の厳密な位置決めが不要であり、かつ、測定用カンチレバー3における探針31の接触位置が検出されるので、探針31により付与される測定力が精度よく測定されることになる。
したがって、観察用カンチレバー30を交換した際には、表面形状の測定に先立って、その押圧力やバネ定数の測定を迅速に行うことができる。また、測定された押圧力やバネ定数によって、測定条件を自動的に変更することにしてもよく、これにより試料観察の高速化および簡便化を図ることができる。また、観察用カンチレバー30を自動交換する場合においても、交換によって探針31の位置が変動しても、探針31により試料に加えることとなる押圧力を精度よく測定することができる。
また、表面情報測定装置として、走査型プローブ顕微鏡を例に挙げて説明したが、これに代えて、膜厚計、硬度計あるいは表面粗さ計等の触診式の測定装置に微小力測定装置1を組み込むことにしてもよい。また、試料に接触する触針(31)によって試料を操作する形式の種々の触診装置に適用してもよい。
1 微小力測定装置
3 測定用カンチレバー
5 歪みセンサ
6 力点検出センサ
10 熱電対(温度センサ)
10a,10b 金属層
31 探針
32 ステージ
33 ヒータ(温度調節部)
3 測定用カンチレバー
5 歪みセンサ
6 力点検出センサ
10 熱電対(温度センサ)
10a,10b 金属層
31 探針
32 ステージ
33 ヒータ(温度調節部)
Claims (12)
- 片持ち梁状に形成された測定用カンチレバーと、
該測定用カンチレバーの歪みを検出する歪みセンサと、
前記測定用カンチレバーに設けられ、力点位置を検出する力点検出センサとを備える微小力測定装置。 - 前記歪みセンサが前記測定用カンチレバーの基端部近傍に配置されている請求項1に記載の微小力測定装置。
- 前記力点検出センサが、測定用カンチレバーの長さ方向に沿う力点位置を検出可能に設けられている請求項1または請求項2に記載の微小力測定装置。
- 前記力点検出センサが、測定用カンチレバーの幅方向に沿う力点位置を検出可能に設けられている請求項1から請求項3のいずれかに記載の微小力測定装置。
- 前記力点検出センサが、力点位置の検出可能方向に沿って複数配列され、力点位置の温度変化を検出する温度センサからなる請求項1から請求項4のいずれかに記載の微小力測定装置。
- 前記温度センサが、2種の金属層を重ねてなる熱電対からなる請求項5に記載の微小力測定装置。
- 前記熱電対が複数備えられ、
各熱電対を構成する2種の金属層の内、一方の金属層が複数の熱電対について共通化され、
測定を行う熱電対を順次切り替える切替装置を備える請求項6に記載の微小力測定装置。 - 前記熱電対を所定温度に設定する温度調節部を備える請求項1から請求項7のいずれかに記載の微小力測定装置。
- 前記力点検出センサにより検出された力点位置に基づいて、測定用カンチレバーのバネ定数を算出するバネ定数算出部を備え、
該バネ定数算出部により算出されたバネ定数に基づいて力点位置に作用した力の大きさを算出する請求項1から請求項8のいずれかに記載の微小力測定装置。 - 片持ち梁状に形成された測定用カンチレバーに作用させた力を測定する微小力測定方法であって、
測定用カンチレバーにおける力点位置を検出し、
検出された力点位置に基づいて、測定用カンチレバーのバネ定数を算出し、
算出されたバネ定数に基づいて力点位置に作用した力の大きさを算出する微小力測定方法。 - 試料に接触させる触針と、
該触針に対して相対移動可能に設けられ、触針を接触させて該触針から加えられる押圧力を測定する請求項1から請求項9のいずれかに記載の微小力測定装置とを備える触診装置。 - 試料を搭載して触針に対して試料を相対的に移動させるステージを備え、
前記微小力測定装置がステージに固定されている請求項11に記載の触診装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005044781A JP2006226975A (ja) | 2005-02-21 | 2005-02-21 | 微小力測定装置、微小力測定方法および触診装置 |
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Publications (1)
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ID=36988461
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JP2005044781A Withdrawn JP2006226975A (ja) | 2005-02-21 | 2005-02-21 | 微小力測定装置、微小力測定方法および触診装置 |
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Country | Link |
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JP (1) | JP2006226975A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009125898A (ja) * | 2007-11-27 | 2009-06-11 | Seiko Instruments Inc | 微小加工装置用プローブおよび微小加工装置 |
JP2010210294A (ja) * | 2009-03-07 | 2010-09-24 | Waseda Univ | 力センサ及び力センシングシステム |
JP2014529070A (ja) * | 2011-08-22 | 2014-10-30 | ホイールライト・リミテッドWheelright Limited | 車両のタイヤの圧力の点検 |
-
2005
- 2005-02-21 JP JP2005044781A patent/JP2006226975A/ja not_active Withdrawn
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