JP2006214899A - 顕微ラマン分光装置及び顕微ラマン分光測定方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 ラマン散乱光を励起する励起用レーザー光を、第1の光学系3を介して試料に照射し、この試料からのラマン散乱光を、第2の光学系5を介して分光器4で分光する顕微ラマン分光装置1である。第1の光学系3に励起用レーザー光を集光する入射側対物レンズ11が設けられ、第2の光学系5にラマン散乱光を集光する出射側対物レンズ12が設けられ、入射側対物レンズ11と試料との間を通る励起用レーザー光の第1の光軸と、試料と出射側対物レンズ12との間を通る前記ラマン散乱光の第2の光軸とがなす角度が、所定の角度、例えば略直角に調整されている。
【選択図】 図1
Description
そして、近年におけるレーザーやCCD検出器の作製技術の発展により、ラマン分光装置は、赤外分光器と同様に汎用分析装置としての汎用性を有し、かつ価格も安価になってきている。これにより、研究開発の分野のみでなく、製造現場でのインライン装置としての利用の検討が行われるなど、その利用範囲が拡がろうとしている。
一般に、光の散乱強度Iを、入射光の偏光E1、散乱光の偏光成分Es、分極テンソルに比例するテンソル成分を有するラマンテンソルRを用いて表すと、
I∝|E1・R・Es|
となる。ここで、ラマンテンソルRは、各結晶系、活性振動により既に求められている。
また、特異な測定物(試料)に対しては、入射光と散乱光とが同一方向となる前方散乱配置などを併用する必要になることもある。
すなわち、一般のラマン分光装置では、直角散乱配置で測定を行おうとした場合、そのカメラレンズ(集光レンズ)と試料との間の距離を10〜20cm程度とするため、カメラレンズが複数あってもこれらが物理的に干渉しあうといったことがないが、顕微ラマン分光装置では、対物レンズと試料との間の距離を1mm程度とするため、対物レンズを複数(二個)配置しようとすると、これらが物理的に干渉してしまい、試料に対しての前記距離での配置が困難であった。
本発明は前記事情に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、例えば直角散乱光の測定を可能にした顕微ラマン分光装置、及び顕微ラマン分光測定方法を提供することにある。
前記第1の光学系に前記励起用レーザー光を集光する入射側対物レンズが設けられ、
前記第2の光学系に前記ラマン散乱光を集光する出射側対物レンズが設けられ、
前記入射側対物レンズと前記試料との間を通る前記励起用レーザー光の第1の光軸と、前記試料と前記出射側対物レンズとの間を通る前記ラマン散乱光の第2の光軸とがなす角度が、所定の角度に調整されてなることを特徴としている。
なお、前記所定の角度が、略直角であってもよい。
このようにすれば、サンプルステージを第1の光軸に沿って移動させることで、試料に対しての励起用レーザー光の焦点合わせが可能になり、さらにサンプルステージを第1の光軸、第2の光軸のそれぞれに沿って移動させることで、試料に対しての第2の光軸についての焦点合わせも可能になる。
このようにすれば、Zステージを移動させることで励起用レーザー光に対する焦点合わせを行うことができ、さらにこのZステージの移動とXYステージの移動とを組み合わせることで、試料に対しての第2の光軸についての焦点合わせも可能になる。
このようにすれば、入射側対物レンズと出射側対物レンズとが、その第1の光軸と第2の光軸とが略直角となるように配置されても、それぞれの斜面が対向させられているので、これら入射側対物レンズと出射側対物レンズとが互いに物理的に干渉してしまうことが回避される。
このようにすれば、励起用レーザー光を試料の配置場所に照射するとともに、光軸合わせ用のレーザー光を試料の配置場所に照射することで、励起用レーザー光の光軸である第1の光軸と、光軸合わせ用のレーザー光の光軸となる前記ラマン散乱光の第2の光軸とを軸合わせすることができる。
このようにすれば、励起用レーザー光と光軸合わせ用のレーザー光とを試料の配置場所に同時に照射した際、これらレーザー光が波長が異なることで例えば色が異なることにより、これらレーザー光の焦点位置やその重なり具合などを目視によって確認することが可能になる。
このようにすれば、観察部より試料の配置場所を目視あるいはCCDカメラ等で観察することで、例えば励起用レーザー光の光軸である第1の光軸と、光軸合わせ用のレーザー光の光軸となる前記ラマン散乱光の第2の光軸とを容易に軸合わせすることが可能になる。
このようにしても、観察部より試料の配置場所を目視あるいはCCDカメラ等で観察することで、励起用レーザー光の光軸である第1の光軸と、光軸合わせ用のレーザー光の光軸となる前記ラマン散乱光の第2の光軸とを容易に軸合わせすることが可能になる。
このようにすれば、励起用レーザー光を入射側対物レンズを介して試料に照射し、この入射方向と180°異なる方向に散乱した散乱光を再度入射側対物レンズを通して第3の光学系に導くことにより、バックスキャッタリングでの測定(観測)も可能になる。
前記励起用レーザー光を、前記第1の光学系に設けた入射側対物レンズで集光して前記試料に照射する工程と、
前記試料で励起したラマン散乱光を、前記第2の光学系に設けた出射側対物レンズで集光して前記分光器に導入する工程と、を有してなり、
前記入射側対物レンズと前記試料との間を通る前記励起用レーザー光の第1の光軸と、前記試料と前記出射側対物レンズとの間を通る前記ラマン散乱光の第2の光軸とがなす角度を、所定の角度に調整しておくことを特徴としている。
なお、前記所定の角度を、略直角としてもよい。
励起用レーザー光の焦点位置に光軸合わせ用のレーザー光の焦点位置が合うのを、例えば目視やCCDカメラ等で確認することにより、励起用レーザー光の光軸である第1の光軸と、光軸合わせ用のレーザー光の光軸となる前記ラマン散乱光の第2の光軸とを容易に軸合わせすることができる。
図1は、本発明の顕微ラマン分光装置の一実施形態を示す図であって、図1中符号1は顕微ラマン分光装置である。この顕微ラマン分光装置1は、励起用レーザー光を出射する励起用レーザー光源2と、この励起用レーザー光源2から出射された励起用レーザー光を試料に導入するための第1の光学系3と、前記試料からのラマン散乱光を分光器4に導入するための第2の光学系5を備えて構成されたものである。なお、前記試料は、サンプルステージ6上に配置されるようになっている。
この減光フィルター7に続く半透過鏡8は、減光フィルター7を通ってきた励起用レーザー光の光路、すなわち第1の光軸を直角に曲げるように配置されたもので、その反射面と反対の側には、観察口18が接続されている。なお、この半透過鏡8については、後述するように試料に対しての実際の測定(観測)を行う場合には、この半透過鏡8に代えて反射鏡を用い、減光フィルター7を通ってきた励起用レーザー光を全反射させるようにしてもよい。
これら入射側対物レンズ11と出射側対物レンズ12とは、図3に示すようにそれぞれの先端側(レンズ本体11a、12a側)が、試料を配置するサンプルステージ6に向くようにして配設されたものである。
集光レンズ17は、前記フィルター16を透過してきたラマン光を集光して分光器4に導入するものであり、分光器4は、導入したラマン光を波長成分に分解し、ラマンスペクトルを得るものである。
なお、XYステージ28には、前記Zステージ27を移動させる移動機構とは別の移動機構が設けられており、これによってZステージ27の移動とは別に、独立した状態で第1ステージ面27a上においてX方向及びY方向に移動可能となっている。
まず、直角散乱光の測定を行う場合について説明する。このように直角散乱光の測定を行う場合、特に半透過鏡9や半透過鏡14をそれぞれの光路(光軸)上から外しておき、第1の光学系3、第2の光学系5と第3の光学系19との光学的接続を遮断しておく。そして、実際に試料Sについての測定(観察)を行うに先立ち、光軸合わせ工程として、前記試料Sの配置場所となるサンプルステージ6上の所定位置に対し、前記第1の光軸と前記第2の光軸とを合わせる処理を行う。なお、この光軸合わせ工程では、サンプルステージ6の試料を配置する場所、すなわちXYステージ28の第2ステージ面28a上に、光軸合わせ用のサンプルとして、例えば単結晶シリコン薄膜などを配置しておく。
また、この第1の光軸と第2の光軸との光軸合わせについては、基本的には前述したように出射側対物レンズ12の位置(角度)調整で行うが、必要に応じて、サンプルステージ6のZステージ27やXYステージ28を微移動させることで、光軸合わせの微調整を行うようにしてもよい。
そして、さらに試料S中において特にその測定位置を選択したい場合、Zステージ27を固定した状態で、XYステージ28をX方向、Y方向にそれぞれ適宜移動させることで、励起用レーザー光の焦点位置であるスポットを測定位置に合わせる。なお、このような調整は、観察口18からの目視、あるいはCCDカメラによる撮影などで行うことができる。
このラマン散乱光のうち特に直角散乱光は、第1の光軸に対し略直角方向に位置した第2の光軸を有する出射側対物レンズ12に集められ、さらに第2の光学系19を通って分光器4に導入され、ここで波長成分に分解されてラマンスペクトルとして測定される。
このようなサンプルステージを用いてこれに試料Sを配置したら、従来と同様にして焦点合わせ等を行った後、励起用レーザー光源2から励起用レーザー光を出射することで、バックスキャッタリング測定を行う。
したがって、このような光軸合わせ機構を備えていることなどにより、観察口18、26で目視等により観察しつつ、サンプルステージ6を調整することなどによって光軸合わせや焦点調整が行えるので、特に直角散乱配置による測定を行う場合にも、試料に対する焦点調整を例えばナノメートルレベルで3次元的に行うことが可能になる。
(1)顕微ラマン分光装置による直角散乱測定を結晶構造の微細領域・詳細観察に適用することで、サブμm領域で生じている結晶構造を現状の不完全な測定から完全な測定手段に変えることができ、したがって、μm以下のレベルで作製されるデバイスで生じる結晶構造の制御を、完全に観察する手法を確立することができる。
・FeRAMに用いられる誘電体の結晶構造及び配向性
・アクチュエーターとして用いられる誘電体の結晶構造及び配向性
・SAWデバイスとして用いられるセラミックスの結晶構造及び配向性
・高温または低温成長で作製されるポリシリコンに含まれる、結晶構造・結晶欠陥の同定及び配向性
・粉末触媒で生じる個々の粒子間で生じる結晶構造の差異
・有機トランジスタや有機EL素子に使用される高分子の分子構造
すなわち、励起用レーザー光が試料Sを励起させるために必要な光の浸入距離が一定であるとすると、図4に示すようにバックスキャッタリング測定の場合、試料Sに対して励起用レーザー光L1が真っ直ぐ入射し、入射方向と反対方向にラマン散乱光R1が出射する。このとき、前記の光の浸入距離をd1とする。
一方、直角散乱光の測定の場合、試料Sに対して励起用レーザー光L2が45°の角度で入射し、この入射方向と直角な方向にラマン散乱光R2が出射する。このとき、前記の光の浸入距離をd2とすると、前述したように励起用レーザー光が試料Sを励起させるための光の浸入距離が一定であることから、d1=d2となる。
しかし、前記のd2は試料Sにおける表面からの距離、すなわち深さを示すものでないことから、このd2から試料Sにおいて測定に必要な実際の厚さ(深さ)d3を算出すると、d3=(1/√2)d2となり、前述したようにバックスキャッタリング測定の場合の厚さ(d1)の(1/√2)倍の厚さとなるのである。
例えば、レーザー光の波長をより短波長化することによってもレーザー光の浸入距離を短くすることが可能だが、有機物などに多くみられる発光現象を伴う測定物に対してはこれを使用することができない。よって、有機積層薄膜など発光現象が伴い、従来では観測することができなかった機能性有機薄膜について、実際の薄膜状態(サブμm〜10nmレベル)での分子構造を、(1/√2)倍高い深さ分解能で同定することが可能になる。
・各種触媒などに用いられる微粒子
・ラマン活性成分が小さな有機物
Claims (13)
- ラマン散乱光を励起する励起用レーザー光を、第1の光学系を介して試料に照射し、該試料からのラマン散乱光を、第2の光学系を介して分光器で分光する顕微ラマン分光装置であって、
前記第1の光学系に前記励起用レーザー光を集光する入射側対物レンズが設けられ、
前記第2の光学系に前記ラマン散乱光を集光する出射側対物レンズが設けられ、
前記入射側対物レンズと前記試料との間を通る前記励起用レーザー光の第1の光軸と、前記試料と前記出射側対物レンズとの間を通る前記ラマン散乱光の第2の光軸とがなす角度が、所定の角度に調整されてなることを特徴とする顕微ラマン分光装置。 - 前記所定の角度が、略直角であることを特徴とする請求項1記載の顕微ラマン分光装置。
- 前記試料を配置するサンプルステージが備えられ、
該サンプルステージは、前記試料を配置するための面として、前記第1の光軸及び第2の光軸に対してそれぞれに略45°の角度をなすステージ面を有し、該ステージ面を、前記第1の光軸に沿って移動させる機構と第2の光軸に沿って移動させる機構とを備えてなることを特徴とする請求項2記載の顕微ラマン分光装置。 - 前記試料を配置するサンプルステージが備えられ、
該サンプルステージは、前記第1の光軸及び第2の光軸に対してそれぞれに略45°の角度をなす第1ステージ面を有し、該第1ステージ面の前記角度を維持した状態で前記第1の光軸に沿って移動するZステージと、該Zステージの前記第1ステージ面上にてその縦方向及び横方向に移動可能に設けられ、前記第1ステージ面と平行な第2ステージ面を有して該第2ステージ面上に前記試料を配置するXYステージと、を備えてなることを特徴とする請求項2記載の顕微ラマン分光装置。 - 前記入射側対物レンズには、その前記試料側の端部の側面に、試料側に行くに連れて漸次径が小さくなるように前記第1の光軸に対して45°未満の角度をなす斜面が形成されており、
前記出射側対物レンズには、その前記試料側の端部の側面に、試料側に行くに連れて漸次径が小さくなるように前記第2の光軸に対して45°未満の角度をなす斜面が形成されており、
前記入射側対物レンズと前記出射側対物レンズとは、それぞれの斜面が対向させられて配置されていることを特徴とする請求項2〜4のいずれか一項に記載の顕微ラマン分光装置。 - 前記出射側対物レンズを介して前記第2の光軸を通り、前記試料の配置場所に光軸合わせ用のレーザー光を照射する光軸合わせ用レーザー光源を備えたことを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の顕微ラマン分光装置。
- 前記の光軸合わせ用のレーザー光の波長が、前記のラマン散乱光を励起する励起用レーザー光の波長と異なることを特徴とする請求項6記載の顕微ラマン分光装置。
- 前記第1の光軸上の、前記試料の配置場所と反対の側に、該試料の配置場所での前記励起用レーザー光の照射位置と前記光軸合わせ用のレーザー光の照射位置とを観察するための観察部が、備えられていることを特徴とする請求項6又は7記載の顕微ラマン分光装置。
- 前記第2の光軸上の、前記試料の配置場所と反対の側に、該試料の配置場所での前記励起用レーザー光の照射位置と前記光軸合わせ用のレーザー光の照射位置とを観察するための観察部が、備えられていることを特徴とする請求項6〜8のいずれか一項に記載の顕微ラマン分光装置。
- 前記第1の光軸上の、前記入射側対物レンズに対して前記試料と反対の側に、該第1の光軸を通って前記入射側対物レンズで集光された前記試料からのラマン散乱光を、前記分光器に導入する第3の光学系が接続されていることを特徴とする請求項1〜9のいずれか一項に記載の顕微ラマン分光装置。
- ラマン散乱光を励起する励起用レーザー光を、第1の光学系を介して試料に照射し、該試料からのラマン散乱光を、第2の光学系を介して分光器で分光する顕微ラマン分光測定方法であって、
前記励起用レーザー光を、前記第1の光学系に設けた入射側対物レンズで集光して前記試料に照射する工程と、
前記試料で励起したラマン散乱光を、前記第2の光学系に設けた出射側対物レンズで集光して前記分光器に導入する工程と、を有してなり、
前記入射側対物レンズと前記試料との間を通る前記励起用レーザー光の第1の光軸と、前記試料と前記出射側対物レンズとの間を通る前記ラマン散乱光の第2の光軸とがなす角度を、所定の角度に調整しておくことを特徴とする顕微ラマン分光測定方法。 - 前記所定の角度を、略直角とすることを特徴とする請求項11記載の顕微ラマン分光測定方法。
- 前記試料の配置場所となるサンプルステージ上の所定位置に対し、前記第1の光軸と前記第2の光軸とを合わせる光軸合わせ工程を備え、
前記光軸合わせ工程は、前記励起用レーザー光を、前記入射側対物レンズを介して前記サンプルステージ上の所定位置に集光させてその焦点位置を合わせる工程と、
光軸合わせ用のレーザー光を、前記出射側対物レンズを介して前記サンプルステージ上の所定位置に集光させ、その焦点位置を、前記励起用レーザー光の焦点位置に合わせる工程と、を備えたことを特徴とする請求項11又は12に記載の顕微ラマン分光測定方法。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009536317A (ja) * | 2006-04-05 | 2009-10-08 | ザ サイエンス アンド テクノロジー ファシリティーズ カウンシル | ラマン分析 |
CN115389485A (zh) * | 2022-10-26 | 2022-11-25 | 中国科学技术大学 | 一种拉曼显微设备以及拉曼光谱检测方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09243569A (ja) * | 1996-03-06 | 1997-09-19 | Toshiba Corp | 半導体基板の評価装置および評価方法 |
JPH11295159A (ja) * | 1998-04-09 | 1999-10-29 | Shimadzu Corp | 応力測定装置 |
JP2000260034A (ja) * | 1999-03-11 | 2000-09-22 | Ricoh Co Ltd | 光ディスク原盤露光機のフォーカス光学系調整装置 |
JP2004028824A (ja) * | 2002-06-26 | 2004-01-29 | Hitachi Ltd | 地殻変動モニタリング装置と地殻変動モニタリングシステム |
JP2006520900A (ja) * | 2003-03-11 | 2006-09-14 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 励起システム及び焦点モニタリングシステムを備える分光分析装置及び方法 |
-
2005
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09243569A (ja) * | 1996-03-06 | 1997-09-19 | Toshiba Corp | 半導体基板の評価装置および評価方法 |
JPH11295159A (ja) * | 1998-04-09 | 1999-10-29 | Shimadzu Corp | 応力測定装置 |
JP2000260034A (ja) * | 1999-03-11 | 2000-09-22 | Ricoh Co Ltd | 光ディスク原盤露光機のフォーカス光学系調整装置 |
JP2004028824A (ja) * | 2002-06-26 | 2004-01-29 | Hitachi Ltd | 地殻変動モニタリング装置と地殻変動モニタリングシステム |
JP2006520900A (ja) * | 2003-03-11 | 2006-09-14 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 励起システム及び焦点モニタリングシステムを備える分光分析装置及び方法 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009536317A (ja) * | 2006-04-05 | 2009-10-08 | ザ サイエンス アンド テクノロジー ファシリティーズ カウンシル | ラマン分析 |
US8259902B2 (en) | 2006-04-05 | 2012-09-04 | The Science And Technology Facilities Council | Raman analysis of tissue and/or calcifications |
CN115389485A (zh) * | 2022-10-26 | 2022-11-25 | 中国科学技术大学 | 一种拉曼显微设备以及拉曼光谱检测方法 |
CN115389485B (zh) * | 2022-10-26 | 2023-03-10 | 中国科学技术大学 | 一种拉曼显微设备以及拉曼光谱检测方法 |
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Publication number | Publication date |
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