JP2006210224A - Light emitting device, manufacturing method of light emitting device, and electronic equipment - Google Patents

Light emitting device, manufacturing method of light emitting device, and electronic equipment Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a light emitting device, a manufacturing method of the light emitting device, and an electronic equipment wherein high reliability can be secured even when a dielectric multilayer film is formed between the layer of a substrate and a self-luminous element. <P>SOLUTION: As for an organic EL device 1, on a transparent substrate 2, a second TFT90, an interlayer-insulating film 5, a source-drain electrode 11 connected to the second TFT90 via a first contact hole 51 of this interlayer-insulating film 5, an insulation-protecting film 20, a pixel electrode 4 connected to the source-drain electrode 11 via a second contact hole 21 of this insulation-protecting film 20, a positive hole transport layer 63 of the organic EL element, a light emitting layer 65, and a counter electrode 7 (cathode) provided with reflectivity are formed in this order. Between layers of the second TFT90 and the transparent substrate 2, a dielectric multilayer film 30 for constituting a light resonance device 3 is formed, and between the layers of dielectric multilayer film 30 and the pixel electrode 4, the interlayer-insulating film 5 at an area flatly superposed on the light emitting layer 65, a gate-insulating film 92, and the insulation-protecting film 20 are removed. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、基板上に所定の色光を発する自発光素子を有する発光装置、発光装置の製造方法、および電子機器に関するものである。   The present invention relates to a light emitting device having a self-luminous element that emits predetermined color light on a substrate, a method for manufacturing the light emitting device, and an electronic apparatus.

次世代の表示装置として、透明基板上に自発光素子として、複数のエレクトロルミネッセンス(EL/Electro Luminescence)素子を有する有機EL装置などの発光装置が期待されている。この有機EL装置において、EL素子は、発光層を含む有機機能層を陽極および陰極で挟んだ構成を備えており、陽極側から注入された正孔と陰極側から注入された電子とが発光層内で再結合し、励起状態から失括する際に発光する。   As a next-generation display device, a light-emitting device such as an organic EL device having a plurality of electroluminescence (EL / Electro Luminescence) elements as a self-light-emitting element on a transparent substrate is expected. In this organic EL device, the EL element has a configuration in which an organic functional layer including a light emitting layer is sandwiched between an anode and a cathode, and holes injected from the anode side and electrons injected from the cathode side are light emitting layers. Recombine in the light and emits light when it leaves the excited state.

このような有機EL装置に関しては、発光層と平面的に重なる領域に色度補正層として誘電体多層膜を形成することにより光共振器を構成し、光共振器の光学長が半波長の整数倍に相当する光の色度を向上させる技術が提案されている(例えば、特許文献1参照)。   With respect to such an organic EL device, an optical resonator is formed by forming a dielectric multilayer film as a chromaticity correction layer in a region overlapping with the light emitting layer in a plane, and the optical length of the optical resonator is an integer having a half wavelength. A technique for improving the chromaticity of light corresponding to double has been proposed (see, for example, Patent Document 1).

特許文献1に開示された技術では、スイッチング素子としてのTFT(Thin Film Transisitor/薄膜トランジスタ)、層間絶縁膜、層間絶縁膜に形成されたコンタクトホールを介してTFTのドレイン領域に電気的に接続された透明電極、自発光素子の発光層、対向電極、誘電体多層膜を基板側から上層側に向けてこの順に形成されているが、基板側に誘電体多層膜を形成する場合には、一般的に、図9に示すように、TFT90、層間絶縁膜5、この層間絶縁膜5に形成されたコンタクトホール51を介してTFT90のソース・ドレイン領域91に接続された導電膜からなるソース・ドレイン電極11、誘電体多層膜30a、この誘電体多層膜30aに形成されたコンタクトホール39aを介してソース・ドレイン電極11に接続された透明電極4、有機EL素子の正孔輸送層63、有機EL素子の発光層65、および反射性を備えた対向電極7を透明基板2側から上層側に向けてこの順に形成した構造が採用されており、誘電体多層膜30aと対向電極7との間に光共振器3aが構成されている。なお、誘電体多層膜30aの下層には、種々の配線(図示せず)が形成されている。また、TFT90と透明基板2との層間には、透明基板2からTFT90への不純物の侵入を防止するために、シリコン窒化膜からなる下地保護膜29が形成されている。
特開2004−79428号公報
In the technique disclosed in Patent Document 1, a TFT (Thin Film Transistor / Thin Film Transistor) as a switching element, an interlayer insulating film, and a contact hole formed in the interlayer insulating film are electrically connected to the drain region of the TFT. A transparent electrode, a light emitting layer of a self-luminous element, a counter electrode, and a dielectric multilayer film are formed in this order from the substrate side to the upper layer side. However, when a dielectric multilayer film is formed on the substrate side, Further, as shown in FIG. 9, a source / drain electrode made of a conductive film connected to a source / drain region 91 of the TFT 90 through a contact hole 51 formed in the TFT 90, the interlayer insulating film 5, and the interlayer insulating film 5. 11. Dielectric multilayer film 30a, and source / drain through contact holes 39a formed in the dielectric multilayer film 30a The transparent electrode 4 connected to the electrode 11, the hole transport layer 63 of the organic EL element, the light emitting layer 65 of the organic EL element, and the counter electrode 7 having reflectivity are arranged in this order from the transparent substrate 2 side to the upper layer side. The formed structure is employed, and an optical resonator 3a is formed between the dielectric multilayer film 30a and the counter electrode 7. Various wirings (not shown) are formed below the dielectric multilayer film 30a. In addition, a base protective film 29 made of a silicon nitride film is formed between the TFT 90 and the transparent substrate 2 in order to prevent impurities from entering the TFT 90 from the transparent substrate 2.
JP 2004-79428 A

しかしながら、図9に示す構造を採用した場合には、透明電極4が誘電体多層膜30aのコンタクトホール39aを介してソース・ドレイン電極11に接続する構造であるため、発光装置の信頼性が低いという問題点がある。すなわち、誘電体多層膜30aは、例えば、シリコン窒化膜31とシリコン酸化膜32とが交互に積層された構造であり、各層毎にエッチング速度が異なるため、コンタクトホール39aを形成する際、エッチング不良やコントタクトホール39aの形状不良などが発生し、電気的な接続部分の信頼性が低下する。また、図9に示す構造のように、TFT90の上層側に誘電体多層膜30aを形成すると、TFT90に対する配線の上層側に誘電体多層膜30aを形成することになるため、誘電体多層膜30aを形成する際の応力が配線に加わるため、配線にマイグレーションが発生しやすい。さらに、TFT90の形成などによって発生した凹凸の上層側に誘電体多層膜30aを形成すると、透明基板2に大きな応力が加わるので、透明基板2の反りが発生しやすく、このような透明基板2の反りは、透明基板2を搬送する際に搬送不良を引き起こすとともに有機EL装置の信頼性を低下させる原因となる。   However, when the structure shown in FIG. 9 is adopted, since the transparent electrode 4 is connected to the source / drain electrode 11 through the contact hole 39a of the dielectric multilayer film 30a, the reliability of the light emitting device is low. There is a problem. That is, the dielectric multilayer film 30a has, for example, a structure in which the silicon nitride films 31 and the silicon oxide films 32 are alternately stacked, and the etching rate is different for each layer. In addition, a defective shape of the contact hole 39a occurs, and the reliability of the electrical connection portion decreases. Further, as in the structure shown in FIG. 9, when the dielectric multilayer film 30a is formed on the upper layer side of the TFT 90, the dielectric multilayer film 30a is formed on the upper layer side of the wiring with respect to the TFT 90. As stress is applied to the wiring, migration tends to occur in the wiring. Furthermore, when the dielectric multilayer film 30a is formed on the upper side of the unevenness generated by the formation of the TFT 90 or the like, a large stress is applied to the transparent substrate 2, so that the transparent substrate 2 is likely to be warped. The warp causes a transport failure when transporting the transparent substrate 2 and decreases the reliability of the organic EL device.

以上の問題点に鑑みて、基板と自発光素子との層間に誘電体多層膜を形成した場合でも、高い信頼性を確保することのできる発光装置、発光装置の製造方法、および当該発光装置を備えた電子機器を提供することにある。   In view of the above problems, a light emitting device capable of ensuring high reliability even when a dielectric multilayer film is formed between the substrate and the self light emitting element, a method for manufacturing the light emitting device, and the light emitting device are provided. The object is to provide an electronic device equipped.

上記課題を解決するために、本発明では、少なくとも、スイッチング素子、層間絶縁膜、該層間絶縁膜に形成された第1のコンタクトホールを介して前記スイッチング素子に電気的に接続された透明電極、自発光素子の発光層、および対向電極が基板側から上層に向けてこの順に形成された発光装置において、前記スイッチング素子と前記基板との層間には、誘電体多層膜が構成され、かつ、前記誘電体多層膜と前記透明電極との層間では、前記発光層と平面的に重なる領域の前記層間絶縁膜が除去されていることを特徴とする。   In order to solve the above problems, in the present invention, at least a switching element, an interlayer insulating film, a transparent electrode electrically connected to the switching element through a first contact hole formed in the interlayer insulating film, In the light emitting device in which the light emitting layer of the self light emitting element and the counter electrode are formed in this order from the substrate side toward the upper layer, a dielectric multilayer film is formed between the switching element and the substrate, and In the interlayer between the dielectric multilayer film and the transparent electrode, the interlayer insulating film in a region overlapping with the light emitting layer in a plane is removed.

本発明では、スイッチング素子と基板との層間に誘電体多層膜が構成されているため、透明電極をスイッチング素子に電気的に接続するにあたって、誘電体多層膜にコンタクトホールを形成する必要がない。このため、誘電体多層膜にコンタクトホールを形成することに起因する不具合が発生しない。すなわち、誘電体多層膜が、例えば、シリコン酸化膜とシリコン窒化膜が交互に積層された構造である場合、シリコン酸化膜とシリコン窒化膜とでエッチング速度が行っていても、コントタクトホールを形成する際のエッチング不良やコントタクトホールの形状不良などが発生しない。また、スイッチング素子の下層側に誘電体多層膜を形成することになるため、誘電体多層膜を形成する際の応力が配線に加わらないので、配線にマイグレーションが発生するという問題を回避できる。さらに、スイッチング素子の形成などによって表面に凹凸が発生している場合でも、誘電体多層膜はその下層側の平坦面に形成するため、基板に大きな応力が加わることもない。それ故、かかる応力に起因する基板の反りが発生しないので、基板の反りに起因する基板の搬送不良や信頼性低下という問題も回避することができる。さらにまた、スイッチング素子と基板との層間に誘電体多層膜を形成するので、誘電体多層膜が下地保護膜として機能するため、下地保護膜の形成工程を省略できる。また、スイッチング素子と基板との層間に誘電体多層膜を形成すると、誘電体多層膜と透明電極との層間に層間絶縁膜が介在し、層間絶縁膜も含めて光共振器を構成することになり、不要な干渉が発生するが、本発明では、誘電体多層膜と透明電極との層間では、発光層と平面的に重なる領域の層間絶縁膜が除去されているので、スイッチング素子と基板との層間に誘電体多層膜を配置した場合でも、理想的な光共振器を構成することができる。   In the present invention, since the dielectric multilayer film is formed between the switching element and the substrate, it is not necessary to form a contact hole in the dielectric multilayer film when the transparent electrode is electrically connected to the switching element. For this reason, the malfunction resulting from forming a contact hole in a dielectric multilayer film does not occur. That is, when the dielectric multilayer film has a structure in which, for example, a silicon oxide film and a silicon nitride film are alternately laminated, a contact hole is formed even if the etching rate is performed between the silicon oxide film and the silicon nitride film. Etching defects and contact hole shape defects do not occur. In addition, since the dielectric multilayer film is formed on the lower layer side of the switching element, stress at the time of forming the dielectric multilayer film is not applied to the wiring, so that the problem of migration occurring in the wiring can be avoided. Further, even when the surface has irregularities due to the formation of switching elements, the dielectric multilayer film is formed on the flat surface on the lower layer side, so that a large stress is not applied to the substrate. Therefore, since the substrate is not warped due to such stress, problems such as poor substrate transport and reduced reliability due to the warp of the substrate can be avoided. Furthermore, since the dielectric multilayer film is formed between the switching element and the substrate, the dielectric multilayer film functions as a base protective film, so that the step of forming the base protective film can be omitted. In addition, when a dielectric multilayer film is formed between the switching element and the substrate, an interlayer insulating film is interposed between the dielectric multilayer film and the transparent electrode, and an optical resonator is configured including the interlayer insulating film. In the present invention, since the interlayer insulating film in a region overlapping the light emitting layer in a plane is removed between the dielectric multilayer film and the transparent electrode in the present invention, the switching element and the substrate Even when a dielectric multilayer film is disposed between these layers, an ideal optical resonator can be configured.

本発明において、前記層間絶縁膜と前記透明電極との層間には、当該層間絶縁膜の前記第1のコンタクトホールを介して前記スイッチング素子に接続された導電膜、および絶縁保護膜がこの順に形成され、前記透明電極は、前記絶縁保護膜に形成された第2のコンタクトホールを介して前記導電膜に接続し、前記誘電体多層膜と前記透明電極との層間では、前記発光層と平面的に重なる領域の前記絶縁保護膜が除去されていることが好ましい。層間絶縁膜の上層側に導電膜を形成するとともに、この導電膜の上層に絶縁保護膜を形成すると、誘電体多層膜と透明電極との層間に絶縁保護膜が介在し、絶縁保護膜を含めて光共振器を構成することになり、不要な干渉が発生するが、本発明では、誘電体多層膜と透明電極との層間では、発光層と平面的に重なる領域の絶縁保護膜が除去されているので、スイッチング素子と基板との層間に誘電体多層膜を配置した場合でも、理想的な光共振器を構成することができる。   In the present invention, a conductive film connected to the switching element through the first contact hole of the interlayer insulating film and an insulating protective film are formed in this order between the interlayer insulating film and the transparent electrode. The transparent electrode is connected to the conductive film through a second contact hole formed in the insulating protective film, and is planar with the light emitting layer between the dielectric multilayer film and the transparent electrode. It is preferable that the insulating protective film in a region overlapping with the substrate is removed. When a conductive film is formed on the upper side of the interlayer insulating film and an insulating protective film is formed on the upper layer of the conductive film, the insulating protective film is interposed between the dielectric multilayer film and the transparent electrode and includes the insulating protective film. However, in the present invention, the insulating protective film in a region overlapping the light emitting layer in a plane is removed between the dielectric multilayer film and the transparent electrode in the present invention. Therefore, even when a dielectric multilayer film is arranged between the switching element and the substrate, an ideal optical resonator can be configured.

本発明では、少なくとも、スイッチング素子、層間絶縁膜、該層間絶縁膜に形成された第1のコンタクトホールを介して前記スイッチング素子に電気的に接続された透明電極、自発光素子の発光層、および対向電極が基板側から上層に向けてこの順に形成された発光装置の製造方法において、前記基板上に誘電体多層膜を形成する誘電体多層膜形成工程を有し、当該誘電体多層膜形成工程を行った後、少なくとも、前記スイッチング素子の形成工程、前記層間絶縁膜の形成工程、前記透明電極の形成工程、前記発光層の形成工程、および前記対向電極の形成工程をこの順に行い、前記層間絶縁膜の形成工程では、前記第1のコンタクトホールを形成する際、前記発光層と平面的に重なる領域の前記層間絶縁膜を除去することを特徴とする。   In the present invention, at least a switching element, an interlayer insulating film, a transparent electrode electrically connected to the switching element through a first contact hole formed in the interlayer insulating film, a light emitting layer of a self-luminous element, and In the method of manufacturing a light emitting device in which the counter electrode is formed in this order from the substrate side to the upper layer, the method includes a dielectric multilayer film forming step of forming a dielectric multilayer film on the substrate, and the dielectric multilayer film forming step After performing, at least the switching element forming step, the interlayer insulating film forming step, the transparent electrode forming step, the light emitting layer forming step, and the counter electrode forming step are performed in this order. In the step of forming an insulating film, when the first contact hole is formed, the interlayer insulating film in a region overlapping with the light emitting layer in a plane is removed.

本発明では、透明電極をスイッチング素子に電気的に接続されるにあたって、誘電体多層膜にコンタクトホールを形成する必要がないので、誘電体多層膜にコンタクトホールを形成することに起因する不具合が発生しない。また、スイッチング素子の下層側に誘電体多層膜を形成することになるため、誘電体多層膜に起因する応力が配線に加わらないので、配線にマイグレーションが発生するという問題も回避できる。さらに、スイッチング素子などを形成する前の平坦面に誘電体多層膜を形成するため、基板に大きな応力が加わることもない。それ故、かかる応力に起因する基板の反りが発生しないので、基板の反りに起因する基板の搬送不良や信頼性低下という問題も回避することができる。また、層間絶縁膜を形成する際、層間絶縁膜に第1のコンタクトホールを形成すると同時に、発光層と平面的に重なる領域の層間絶縁膜を除去するので、発光層と平面的に重なる領域には、誘電体多層膜と透明電極との層間に層間絶縁膜が介在しない。従って、層間絶縁膜に起因する不要な干渉が発生しないので、理想的な光共振器を構成できる。しかも、かかる層間絶縁膜の除去は、第1のコンタクトホールの形成と同時に行うため、新たな工程の追加を一切、必要としない。   In the present invention, when the transparent electrode is electrically connected to the switching element, it is not necessary to form a contact hole in the dielectric multilayer film, so that a problem caused by forming the contact hole in the dielectric multilayer film occurs. do not do. In addition, since the dielectric multilayer film is formed on the lower layer side of the switching element, stress caused by the dielectric multilayer film is not applied to the wiring, so that the problem of migration occurring in the wiring can also be avoided. Further, since the dielectric multilayer film is formed on the flat surface before forming the switching element or the like, a large stress is not applied to the substrate. Therefore, since the substrate is not warped due to such stress, problems such as poor substrate transport and reduced reliability due to the warp of the substrate can be avoided. Further, when forming the interlayer insulating film, the first contact hole is formed in the interlayer insulating film, and at the same time, the interlayer insulating film in the region overlapping with the light emitting layer is removed, so that the region overlapping with the light emitting layer is removed. No interlayer insulating film is interposed between the dielectric multilayer film and the transparent electrode. Therefore, unnecessary interference due to the interlayer insulating film does not occur, so that an ideal optical resonator can be configured. In addition, since the removal of the interlayer insulating film is performed simultaneously with the formation of the first contact hole, no additional process is required.

本発明において、前記発光層の形成工程では、当該発光層と平面的に重なる領域に前記層間絶縁膜の除去によって形成された凹部内に発光層形成用液状物の液滴を吐出した後、当該発光層形成用液状物を固化させて前記発光層を形成することが好ましい。すなわち、発光層形成用液状物の液滴を吐出して発光層を形成する場合には、液滴が不要な領域に流出しないように、感光性樹脂により隔壁(バンク)を形成してもよいが、本発明では、層間絶縁膜の部分的な除去によって凹部が形成されるので、この凹部内に発光層形成用液状物の液滴を吐出すれば隔壁の形成を省略しても、液滴が不要な領域に流出しない。それ故、隔壁を形成するための工程を省略できるので、生産性が向上する。   In the present invention, in the step of forming the light emitting layer, after discharging droplets of a liquid material for forming a light emitting layer into a recess formed by removing the interlayer insulating film in a region overlapping with the light emitting layer, The light emitting layer is preferably formed by solidifying the light emitting layer forming liquid. That is, when a light emitting layer is formed by discharging liquid droplets for forming a light emitting layer, a partition (bank) may be formed of a photosensitive resin so that the liquid droplets do not flow out to an unnecessary region. However, in the present invention, since the recess is formed by partial removal of the interlayer insulating film, if the droplet of the liquid material for forming the light emitting layer is ejected into the recess, the droplet can be formed even if the formation of the partition is omitted. Does not flow into unnecessary areas. Therefore, the process for forming the partition can be omitted, so that productivity is improved.

本発明において、前記層間絶縁膜の形成工程の後、前記透明電極の形成工程の前に、前記層間絶縁膜の前記第1のコンタクトホールを介して前記スイッチング素子に接続する導電膜の形成工程、および絶縁保護膜の形成工程をこの順に行い、前記絶縁保護膜の形成工程では、前記基板上に前記絶縁保護膜を形成した後、当該絶縁保護膜を部分的にエッチングして前記導電膜に前記透明電極を接続させる第2のコンタクトホールを形成する際、前記発光層と平面的に重なる領域の前記絶縁保護膜を除去することが好ましい。絶縁保護膜の形成工程で第2のコンタクトホールを形成する際、発光層と平面的に重なる領域の絶縁保護膜を除去するので、発光層と平面的に重なる領域には、誘電体多層膜と透明電極との層間に絶縁保護膜が介在しない。従って、絶縁保護膜に起因する不要な干渉が発生しないので、理想的な光共振器を構成できる。しかも、かかる絶縁保護膜の除去は、第2のコンタクトホールの形成と同時に行うため、新たな工程の追加を一切、必要としない。   In the present invention, after the step of forming the interlayer insulating film, and before the step of forming the transparent electrode, a step of forming a conductive film connected to the switching element through the first contact hole of the interlayer insulating film, And forming the insulating protective film in this order. In the insulating protective film forming step, after forming the insulating protective film on the substrate, the insulating protective film is partially etched to form the insulating film on the conductive film. When forming the second contact hole to which the transparent electrode is connected, it is preferable to remove the insulating protective film in a region overlapping the light emitting layer in a plane. When forming the second contact hole in the step of forming the insulating protective film, the insulating protective film in the region overlapping with the light emitting layer is removed, so that the region overlapping the light emitting layer in the region overlapping with the dielectric multilayer film and There is no insulating protective film between the layers with the transparent electrode. Therefore, since unnecessary interference due to the insulating protective film does not occur, an ideal optical resonator can be configured. In addition, since the insulation protective film is removed at the same time as the formation of the second contact hole, no additional process is required.

このように構成した場合、前記発光層の形成工程では、当該発光層と平面的に重なる領域に前記層間絶縁膜の除去および前記絶縁保護膜の除去によって形成された凹部内に発光層形成用液状物の液滴を吐出した後、当該発光層形成用液状物を固化させて前記発光層を形成することが好ましい。発光層形成用液状物の液滴を吐出して発光層を形成する場合には、液滴が不要な領域に流出しないように、感光性樹脂により隔壁(バンク)を形成してもよいが、本発明では、層間絶縁膜および絶縁保護膜の部分的な除去によって凹部が形成されるので、この凹部内に発光層形成用液状物の液滴を吐出すれば隔壁の形成を省略しても、液滴が不要な領域に流出しない。それ故、隔壁を形成するための工程を省略できるので、生産性が向上する。   When configured in this manner, in the step of forming the light emitting layer, the light emitting layer forming liquid is formed in the recess formed by removing the interlayer insulating film and removing the insulating protective film in a region overlapping the light emitting layer in a planar manner. It is preferable that the light emitting layer is formed by solidifying the liquid material for forming the light emitting layer after discharging the droplets of the material. In the case of forming a light emitting layer by discharging liquid droplets for forming a light emitting layer, a partition wall (bank) may be formed of a photosensitive resin so that the liquid droplets do not flow into an unnecessary region. In the present invention, since the concave portion is formed by partial removal of the interlayer insulating film and the insulating protective film, even if the droplets of the liquid material for forming the light emitting layer are discharged into the concave portion, the formation of the partition is omitted. Droplet does not flow out to unnecessary area. Therefore, the process for forming the partition can be omitted, so that productivity is improved.

本発明に係る有機EL装置は、携帯電話機、モバイルコンピュータ、直視型表示装置、さらには各種の色光源などの電子機器として用いられる。特に、本発明に係る有機EL装置を電子機器の表示装置として用いれば、電子機器の表色範囲を拡大することができる。   The organic EL device according to the present invention is used as an electronic apparatus such as a mobile phone, a mobile computer, a direct-view display device, and various color light sources. In particular, if the organic EL device according to the present invention is used as a display device for an electronic device, the color range of the electronic device can be expanded.

以下、図面を参照して、本発明に係る有機EL装置とその製造方法、並びに電子機器の一実施形態について説明する。なお、以下の説明においては、図9に示す構成要素との対向が明確になるように、共通する機能を担う部分には同一の符号を付して説明する。また、参照する各図において、図面上で認識可能な大きさとするために縮尺が各層や各部材ごとに異なる場合がある。   Hereinafter, an embodiment of an organic EL device according to the present invention, a manufacturing method thereof, and an electronic device will be described with reference to the drawings. In the following description, parts having common functions are denoted by the same reference numerals so as to clarify the opposition to the components shown in FIG. Further, in each drawing to be referred to, the scale may be different for each layer or each member in order to make the size recognizable on the drawing.

[実施の形態1]
(全体構成)
図1は、アクティブマトリクス型の有機EL装置(発光装置)の電気的構成を示す等価回路図である。図2は、この有機EL装置の画素構成の一例を示す平面図である。
[Embodiment 1]
(overall structure)
FIG. 1 is an equivalent circuit diagram showing an electrical configuration of an active matrix organic EL device (light emitting device). FIG. 2 is a plan view showing an example of the pixel configuration of the organic EL device.

図1に示すように、本実施形態の有機EL装置1では、基板上に、複数の走査線131と、これら走査線131に対して交差する方向に延びる複数の信号線132と、これら信号線132に並列に延びる複数の共通給電線133とがそれぞれ配線されたもので、走査線131および信号線132の各交点毎に画素(画素領域素)100がマトリクス状に構成されている。   As shown in FIG. 1, in the organic EL device 1 of the present embodiment, a plurality of scanning lines 131, a plurality of signal lines 132 extending in a direction intersecting with the scanning lines 131, and the signal lines are formed on the substrate. A plurality of common power supply lines 133 extending in parallel with each other 132 are wired, and pixels (pixel area elements) 100 are configured in a matrix at each intersection of the scanning lines 131 and the signal lines 132.

信号線132に対しては、シフトレジスタ、レベルシフタ、ビデオライン、アナログスイッチを備えるデータ線駆動回路390が設けられている。一方、走査線131に対しては、シフトレジスタおよびレベルシフタを備える走査線駆動回路380が設けられている。また、画素領域100の各々には、走査線131を介して走査信号がゲート電極に供給される第1のTFT80と、この第1のTFT80を介して信号線132から供給される画像信号を保持する保持容量110と、保持容量110によって保持された画像信号がゲート電極に供給される第2のTFT90と、この第2のTFT90を介して共通給電線133に電気的に接続したときに共通給電線133から駆動電流が流れ込む画素電極(陽極)4と、この画素電極4と対向電極(陰極)7との間に挟み込まれる発光層65とが設けられ、画素電極4、対向電極7および発光層65によってEL素子(自発光素子)が構成されている。   A data line driver circuit 390 including a shift register, a level shifter, a video line, and an analog switch is provided for the signal line 132. On the other hand, a scanning line driving circuit 380 including a shift register and a level shifter is provided for the scanning line 131. Each pixel region 100 holds a first TFT 80 to which a scanning signal is supplied to the gate electrode via the scanning line 131 and an image signal supplied from the signal line 132 via the first TFT 80. Holding capacitor 110, the second TFT 90 to which the image signal held by the holding capacitor 110 is supplied to the gate electrode, and the common supply line 133 when electrically connected to the common power supply line 133 via the second TFT 90. A pixel electrode (anode) 4 into which a drive current flows from the electric wire 133 and a light emitting layer 65 sandwiched between the pixel electrode 4 and the counter electrode (cathode) 7 are provided. The pixel electrode 4, the counter electrode 7, and the light emitting layer are provided. 65 constitutes an EL element (self-luminous element).

このような有機EL装置1を構成するにあたって、各画素100の平面構造は、平面形状が長方形の画素電極4の四辺が、信号線132、共通給電線133、走査線131及び図示しない他の画素電極用の走査線によって囲まれた配置となっている。画素領域100の平面形状は、図に示す矩形の他に、円形、長円形など任意の形状が適用される。なお、画素電極4と第2のTFT90との電気的な接続や、共通給電線133と第2のTFT90との接続などは、後述するように、層間絶縁膜などに形成されたコンタクトホールなどを利用して行われる。   In configuring such an organic EL device 1, the planar structure of each pixel 100 is such that the four sides of the pixel electrode 4 having a rectangular planar shape are the signal line 132, the common power supply line 133, the scanning line 131, and other pixels not shown. The arrangement is surrounded by scanning lines for electrodes. As the planar shape of the pixel region 100, an arbitrary shape such as a circle or an oval is applied in addition to the rectangle shown in the figure. Note that the electrical connection between the pixel electrode 4 and the second TFT 90, the connection between the common power supply line 133 and the second TFT 90, and the like are performed by using a contact hole formed in an interlayer insulating film or the like, as will be described later. It is done using.

ここで、画素100は、各々が赤色(R)、緑色(G)、および青色(B)の3色で1つのドットを構成するサブ画素として用いられ、このような画素100の対応する色は、発光層65を構成する材料によって規定されている。   Here, the pixel 100 is used as a sub-pixel that forms one dot with three colors of red (R), green (G), and blue (B), and the corresponding color of such a pixel 100 is , And is defined by the material constituting the light emitting layer 65.

このような構成のもとに、走査線131が駆動されて第1のTFT80がオンとなると、そのときの信号線132の電位が保持容量110に保持され、該保持容量110の状態に応じて、第2のTFT90の導通状態が決まる。そして、第2のTFT90のチャネルを介して共通給電線133から画素電極4に電流が流れ、さらに発光層65を通じて対向電極7に電流が流れることにより、発光層65はこれを流れる電流量に応じて発光するようになる。   Under such a configuration, when the scanning line 131 is driven and the first TFT 80 is turned on, the potential of the signal line 132 at that time is held in the holding capacitor 110, and depending on the state of the holding capacitor 110. The conduction state of the second TFT 90 is determined. Then, a current flows from the common power supply line 133 to the pixel electrode 4 through the channel of the second TFT 90, and further a current flows to the counter electrode 7 through the light emitting layer 65, so that the light emitting layer 65 corresponds to the amount of current flowing therethrough. Will start to emit light.

(画素構成)
図3は、本発明の実施の形態1に係る有機EL装置の画素構成を示す断面図である。図3において、ここに示す有機EL装置1は、発光素子(有機EL素子)から出射された光を透明基板2の側から出射する、いわゆる「ボトムエミッション型」の有機EL装置である。いずれの画素100においても、ガラス基板などの透明基板2の表面側には、第2のTFT90、この第2のTFT90のゲート絶縁膜92およびゲート電極93を覆うように構成された厚さが1μm程度の感光性樹脂からなる層間絶縁膜5、この層間絶縁膜5およびゲート絶縁膜92に形成された第1のコンタクトホール51を介して第2のTFT90のソース・ドレイン領域91に接続されたアルミニウム膜などの導電膜からなるソース・ドレイン電極11、シリコン窒化膜などからなる絶縁保護膜20、この絶縁保護膜20に形成された第2のコンタクトホール21を介してソース・ドレイン電極11に接続された画素電極4(透明電極/陽極)、自発光素子としての有機EL素子の正孔輸送層63、有機EL素子の発光層65、および反射性を備えた対向電極7(陰極)が上層側に向けてこの順に形成されている。また、各画素100には、画素電極4の上層にシリコン窒化膜などからなる絶縁膜25が形成されている。絶縁膜25は、発光層65と平面的に重なる領域で除去され、画素電極4と正孔輸送層63が直接触することを可能としている。
(Pixel configuration)
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a pixel configuration of the organic EL device according to Embodiment 1 of the present invention. In FIG. 3, an organic EL device 1 shown here is a so-called “bottom emission type” organic EL device that emits light emitted from a light emitting element (organic EL element) from the transparent substrate 2 side. In any pixel 100, on the surface side of the transparent substrate 2 such as a glass substrate, a thickness of 1 μm configured to cover the second TFT 90, the gate insulating film 92 of the second TFT 90, and the gate electrode 93 is formed. Aluminum connected to the source / drain region 91 of the second TFT 90 through the first contact hole 51 formed in the interlayer insulating film 5 made of a photosensitive resin of a certain degree, the interlayer insulating film 5 and the gate insulating film 92. A source / drain electrode 11 made of a conductive film such as a film, an insulating protective film 20 made of a silicon nitride film, etc., and a second contact hole 21 formed in the insulating protective film 20 are connected to the source / drain electrode 11. Pixel electrode 4 (transparent electrode / anode), hole transport layer 63 of an organic EL element as a self-luminous element, light emitting layer 65 of an organic EL element, and Counter electrode 7 having a reflective (cathode) are formed in this order toward the upper layer side. In each pixel 100, an insulating film 25 made of a silicon nitride film or the like is formed on the pixel electrode 4. The insulating film 25 is removed in a region overlapping the light emitting layer 65 in a plan view, and the pixel electrode 4 and the hole transport layer 63 can be in direct contact.

絶縁層25の上層には、感光性樹脂によって、有機EL素子の正孔輸送層63、発光層65の形成領域を囲むように隔壁6が形成されている。この隔壁6は、後述するように、有機機能材料の液状物の液滴を吐出して正孔輸送層63、発光層65を形成する際、不要な領域に液状物が流出を防止するためのバンクであり、画素電極4と対向電極7との短絡を防止する機能も担っている。なお、図1および図2に示す第1のTFT80は、第2のTFT90と同一の層間に形成されている。   On the insulating layer 25, a partition wall 6 is formed by a photosensitive resin so as to surround the formation region of the hole transport layer 63 and the light emitting layer 65 of the organic EL element. As will be described later, the partition wall 6 is used to prevent the liquid material from flowing out to unnecessary regions when the hole transport layer 63 and the light emitting layer 65 are formed by discharging liquid droplets of an organic functional material. It is a bank and also has a function of preventing a short circuit between the pixel electrode 4 and the counter electrode 7. Note that the first TFT 80 shown in FIGS. 1 and 2 is formed between the same layers as the second TFT 90.

本形態において、正孔輸送層63および発光層65は、後述する有機機能材料により形成されている。画素電極4と発光層65との間には正孔注入層が形成されることがあり、対向電極7と発光層65との間には電子注入層や電子輸送層が形成されることがある。   In this embodiment, the hole transport layer 63 and the light emitting layer 65 are formed of an organic functional material described later. A hole injection layer may be formed between the pixel electrode 4 and the light emitting layer 65, and an electron injection layer or an electron transport layer may be formed between the counter electrode 7 and the light emitting layer 65. .

画素電極4は、ITO(酸化インジウムスズ)などからなる透明電極であり、発光層63が発する光に対して透過性を有している。対向電極7は、アルミニウム(Al)やマグネシウム(Mg)、金(Au)、銀(Ag)等の金属から構成され、発光層65が発する光に対して反射性を有している。   The pixel electrode 4 is a transparent electrode made of ITO (indium tin oxide) or the like, and has transparency to the light emitted from the light emitting layer 63. The counter electrode 7 is made of a metal such as aluminum (Al), magnesium (Mg), gold (Au), or silver (Ag), and has reflectivity with respect to light emitted from the light emitting layer 65.

従って、画素電極4から発光層65を通じて対向電極7に電流が流れると、発光層65はこれを流れる電流量に応じて発光し、かかる光は、透明基板2の側から出射される。その際、発光層65から対向電極7に向かう光は、対向電極7で反射した後、透明基板2の側から出射される。ここで、各画素100は、発光層65を構成する材料によって、各々が赤色(R)、緑色(G)、および青色(B)の3色に対応しており、所定の色光を出射するので、カラー画像が表示される。それ故、第2のTFT90やソース・ドレイン電極11などは、光の出射を妨げないように、画素電極4や、有機EL素子の正孔輸送層63、発光層65に対して平面的にずれた領域に形成されている。   Therefore, when a current flows from the pixel electrode 4 to the counter electrode 7 through the light emitting layer 65, the light emitting layer 65 emits light according to the amount of current flowing through this, and the light is emitted from the transparent substrate 2 side. At that time, the light traveling from the light emitting layer 65 toward the counter electrode 7 is reflected from the counter electrode 7 and then emitted from the transparent substrate 2 side. Here, each pixel 100 corresponds to three colors of red (R), green (G), and blue (B) depending on the material constituting the light emitting layer 65, and emits predetermined color light. A color image is displayed. Therefore, the second TFT 90, the source / drain electrode 11 and the like are not shifted in plane with respect to the pixel electrode 4, the hole transport layer 63 of the organic EL element, and the light emitting layer 65 so as not to prevent light emission. Formed in the region.

(光共振器の構成)
このように構成した有機EL装置1において、本形態では、第2のTFT90と透明基板2との層間には、すべての画素100にわたって、厚さが約500nmの誘電体多層膜30が構成されており、発光層65と平面的に重なる領域には、誘電体多層膜30と対向電極7との間に光共振器3が構成されている。誘電体多層膜30は、例えば、複数層のシリコン窒化膜31と複数層のシリコン酸化膜32とが交互に積層された構造になっている。従って、本形態の有機EL装置1では、光共振器3の光学長が半波長の整数倍に相当する光の色度を向上させることができる。なお、光共振器3では、誘電体多層膜30は各色に対向する画素100間で共通するが、正孔輸送層63や発光層65は、対応する色毎に材料の屈折率や厚さを相違させることできる。それ故、正孔輸送層63や発光層65の光学長を各色に対応する画素100ごとに最適化すれば、各画素100から出射される光の波長に対応する光学長を備えた光共振器3を構成することができる。なお、各色に対応する全ての画素100に対して、光共振器3の光学長を最適化した構成の他、特定の色に対応する画素100に対してのみ、光共振器3の光学長を最適化した構成を採用してもよい。
(Configuration of optical resonator)
In the organic EL device 1 configured as described above, in this embodiment, the dielectric multilayer film 30 having a thickness of about 500 nm is formed between all the pixels 100 between the second TFT 90 and the transparent substrate 2. The optical resonator 3 is formed between the dielectric multilayer film 30 and the counter electrode 7 in a region overlapping the light emitting layer 65 in a plan view. The dielectric multilayer film 30 has, for example, a structure in which a plurality of silicon nitride films 31 and a plurality of silicon oxide films 32 are alternately stacked. Therefore, in the organic EL device 1 of this embodiment, the chromaticity of light corresponding to an integral multiple of the half wavelength of the optical length of the optical resonator 3 can be improved. In the optical resonator 3, the dielectric multilayer film 30 is common to the pixels 100 facing each color, but the hole transport layer 63 and the light emitting layer 65 have the refractive index and thickness of the material for each corresponding color. Can be different. Therefore, if the optical lengths of the hole transport layer 63 and the light emitting layer 65 are optimized for each pixel 100 corresponding to each color, an optical resonator having an optical length corresponding to the wavelength of light emitted from each pixel 100. 3 can be configured. In addition to the configuration in which the optical length of the optical resonator 3 is optimized for all the pixels 100 corresponding to each color, the optical length of the optical resonator 3 is set only for the pixel 100 corresponding to a specific color. An optimized configuration may be employed.

また、本形態では、誘電体多層膜30と画素電極4との層間では、発光層65と平面的に重なる領域の層間絶縁膜5およびゲート絶縁膜92が除去され、発光層65と平面的に重なる領域では誘電体多層膜30と画素電極4との間に層間絶縁膜5およびゲート絶縁膜92が介在しない。さらに、誘電体多層膜30と画素電極4との層間では、発光層65と平面的に重なる領域の絶縁保護膜20が除去され、発光層65と平面的に重なる領域では誘電体多層膜30と画素電極4との間に絶縁保護膜20が介在しない。   In this embodiment, the interlayer insulating film 5 and the gate insulating film 92 in a region overlapping the light emitting layer 65 in a plane are removed between the dielectric multilayer film 30 and the pixel electrode 4, and the light emitting layer 65 is planarly formed. In the overlapping region, the interlayer insulating film 5 and the gate insulating film 92 are not interposed between the dielectric multilayer film 30 and the pixel electrode 4. Further, in the interlayer between the dielectric multilayer film 30 and the pixel electrode 4, the insulating protection film 20 in a region overlapping the light emitting layer 65 in a plane is removed, and in a region overlapping the light emitting layer 65 in a plane, the dielectric multilayer film 30 and The insulating protective film 20 is not interposed between the pixel electrodes 4.

(本形態の効果)
図4は、本発明の比較例に係る有機EL装置の画素構成を示す断面図である。以上説明したように、本形態では、すべての画素100にわたって光共振器3を構成する誘電体多層膜30が形成されているが、誘電体多層膜30は、第2のTFT90の下層側、すなわち、第2のTFT90と透明基板2との層間に形成されている。従って、本形態では、画素電極4を第2のTFT90に電気的に接続するにあたって、誘電体多層膜30にコンタクトホールを形成する必要がないので、誘電体多層膜30にコンタクトホールを形成することに起因する不具合が発生しない。また、第2のTFT90の下層側に誘電体多層膜30を形成するため、誘電体多層膜30に起因する応力が配線などに加わらないので、配線にマイグレーションが発生するという問題も回避できる。さらに、第2のTFT90などを形成する前の平坦面に誘電体多層膜30を形成するため、透明基板2に大きな応力が加わることもない。それ故、かかる応力に起因する透明基板2の反りが発生しないので、透明基板2の反りに起因する製造工程でも基板搬送不良や、有機EL装置1の信頼性低下という問題も回避することができる。
(Effect of this embodiment)
FIG. 4 is a cross-sectional view showing a pixel configuration of an organic EL device according to a comparative example of the present invention. As described above, in this embodiment, the dielectric multilayer film 30 constituting the optical resonator 3 is formed over all the pixels 100. The dielectric multilayer film 30 is formed on the lower layer side of the second TFT 90, that is, The second TFT 90 and the transparent substrate 2 are formed between the layers. Therefore, in this embodiment, when the pixel electrode 4 is electrically connected to the second TFT 90, it is not necessary to form a contact hole in the dielectric multilayer film 30. Therefore, a contact hole is formed in the dielectric multilayer film 30. There is no problem caused by Further, since the dielectric multilayer film 30 is formed on the lower layer side of the second TFT 90, the stress caused by the dielectric multilayer film 30 is not applied to the wiring and the like, so that the problem of migration occurring in the wiring can also be avoided. Furthermore, since the dielectric multilayer film 30 is formed on the flat surface before the second TFT 90 and the like are formed, a large stress is not applied to the transparent substrate 2. Therefore, since the warp of the transparent substrate 2 due to the stress does not occur, problems such as a substrate conveyance failure and a decrease in the reliability of the organic EL device 1 can be avoided even in the manufacturing process due to the warp of the transparent substrate 2. .

また、第2のTFT90と透明基板2との層間に、シリコン窒化膜31を含む誘電体多層膜30を形成するので、誘電体多層膜30が下地保護膜として機能するため、下地保護膜の形成工程を省略できる。   Further, since the dielectric multilayer film 30 including the silicon nitride film 31 is formed between the second TFT 90 and the transparent substrate 2, the dielectric multilayer film 30 functions as a base protection film. The process can be omitted.

さらに、第2のTFT90と透明基板2との層間に誘電体多層膜30を形成すると、図4に示すように、誘電体多層膜30と画素電極4との層間に層間絶縁膜5およびゲート絶縁膜92が介在し、層間絶縁膜5およびゲート絶縁膜92も含めて光共振器3を構成することになり、不要な干渉が発生する。また、層間絶縁膜5の上層側にソース・ドレイン電極11を形成するとともに、このソース・ドレイン電極11の上層に絶縁保護膜20を形成すると、誘電体多層膜30と画素電極4との層間に絶縁保護膜20が介在し、絶縁保護膜20を含めて光共振器3を構成することになり、不要な干渉が発生する。しかるに本形態では、誘電体多層膜30と画素電極4との層間では、発光層65と平面的に重なる領域の層間絶縁膜5、ゲート絶縁膜92および絶縁保護膜20が除去されており、発光層65と平面的に重なる領域では、誘電体多層膜30と画素電極4との間に層間絶縁膜5、ゲート絶縁膜92および絶縁保護膜20が介在しない。それ故、第2のTFT90と透明基板2との層間に誘電体多層膜30を配置した場合でも、理想的な光共振器3を構成することができる。   Further, when the dielectric multilayer film 30 is formed between the second TFT 90 and the transparent substrate 2, the interlayer insulating film 5 and the gate insulation are interposed between the dielectric multilayer film 30 and the pixel electrode 4 as shown in FIG. The film 92 is interposed, and the optical resonator 3 is configured including the interlayer insulating film 5 and the gate insulating film 92, and unnecessary interference occurs. Further, when the source / drain electrode 11 is formed on the upper layer side of the interlayer insulating film 5 and the insulating protective film 20 is formed on the upper layer of the source / drain electrode 11, it is formed between the dielectric multilayer film 30 and the pixel electrode 4. The insulating protective film 20 is interposed, and the optical resonator 3 is configured including the insulating protective film 20, and unnecessary interference occurs. However, in this embodiment, the interlayer insulating film 5, the gate insulating film 92, and the insulating protective film 20 in a region overlapping the light emitting layer 65 in a plane are removed between the dielectric multilayer film 30 and the pixel electrode 4. In the region overlapping the layer 65 in a plan view, the interlayer insulating film 5, the gate insulating film 92, and the insulating protective film 20 are not interposed between the dielectric multilayer film 30 and the pixel electrode 4. Therefore, even when the dielectric multilayer film 30 is disposed between the second TFT 90 and the transparent substrate 2, an ideal optical resonator 3 can be configured.

(製造方法)
図5は、本発明の実施の形態1に係る有機EL装置の製造工程の一部を示す工程断面図である。本形態の有機EL装置を製造するには、図3および図5(a)に示すように、まず、誘電体多層膜形成工程において、スパッタ法などにより、複数層のシリコン窒化膜31と複数層のシリコン酸化膜32とを交互に積層して、厚さが500nm程度の誘電体多層膜3を形成する。
(Production method)
FIG. 5 is a process cross-sectional view illustrating a part of the manufacturing process of the organic EL device according to Embodiment 1 of the present invention. In order to manufacture the organic EL device of this embodiment, as shown in FIGS. 3 and 5A, first, in the dielectric multilayer film forming step, a plurality of silicon nitride films 31 and a plurality of layers are formed by sputtering or the like. The silicon oxide films 32 are alternately stacked to form the dielectric multilayer film 3 having a thickness of about 500 nm.

次に、周知の半導体プロセスを利用して、TFT90の形成工程を行う。   Next, a formation process of the TFT 90 is performed using a known semiconductor process.

次に、図5(a)に示すように、層間絶縁膜5の形成工程では、例えば、感光性樹脂によって厚さが1μm程度の層間絶縁膜5を形成する。その際、第1のコンタクトホール51を形成するとともに、発光層65と平面的に重なる領域の層間絶縁膜5およびゲート絶縁膜92を同時に除去する。例えば、感光性樹脂を塗布した後、感光性樹脂を露光、現像して、第1のコンタクトホール51に相当する感光性樹脂(層間絶縁膜5)を除去する際、発光層65と平面的に重なる領域の感光性樹脂(層間絶縁膜5)も除去する。そして、層間絶縁膜5をマスクとして層間絶縁膜5の除去部分のゲート絶縁膜92を除去し、第1のコンタクトホール51を除去する。なお、層間絶縁膜5の形成工程では、透明基板2の全面に絶縁膜(層間絶縁膜5)を形成した後、レジストマスクを形成し、層間絶縁膜5およびゲート絶縁膜92を同時にエッチングして第1のコンタクトホール51を形成するとともに、発光層65と平面的に重なる領域の層間絶縁膜5およびゲート絶縁膜92を除去してもよい。   Next, as shown in FIG. 5A, in the step of forming the interlayer insulating film 5, the interlayer insulating film 5 having a thickness of about 1 μm is formed by, for example, a photosensitive resin. At this time, the first contact hole 51 is formed, and the interlayer insulating film 5 and the gate insulating film 92 in a region overlapping the light emitting layer 65 in a plan view are simultaneously removed. For example, after applying the photosensitive resin, the photosensitive resin is exposed to light and developed to remove the photosensitive resin (interlayer insulating film 5) corresponding to the first contact hole 51. The photosensitive resin (interlayer insulating film 5) in the overlapping region is also removed. Then, the gate insulating film 92 in the removed portion of the interlayer insulating film 5 is removed using the interlayer insulating film 5 as a mask, and the first contact hole 51 is removed. In the step of forming the interlayer insulating film 5, after forming an insulating film (interlayer insulating film 5) on the entire surface of the transparent substrate 2, a resist mask is formed, and the interlayer insulating film 5 and the gate insulating film 92 are simultaneously etched. The first contact hole 51 may be formed, and the interlayer insulating film 5 and the gate insulating film 92 in a region overlapping the light emitting layer 65 in a plan view may be removed.

次に、ソース・ドレイン電極11の形成工程では、図5(b)に示すように、層間絶縁膜5の上層にアルミニウム膜などの導電膜を透明基板2の全面に形成した後、パターニングし、ソース・ドレイン電極11を形成する。   Next, in the step of forming the source / drain electrodes 11, as shown in FIG. 5B, a conductive film such as an aluminum film is formed on the entire surface of the transparent substrate 2 on the interlayer insulating film 5, and then patterned. Source / drain electrodes 11 are formed.

次に、絶縁保護膜5の形成工程では、透明基板2の全面にシリコン窒化膜などからなる絶縁膜(絶縁保護膜20)を形成した後、レジストマスクを形成し、絶縁保護膜20を部分的にエッチングして第2のコンタクトホール21を形成する。その際、発光層65と平面的に重なる領域の絶縁保護膜20を除去する。   Next, in the formation process of the insulating protective film 5, after forming an insulating film (insulating protective film 20) made of a silicon nitride film or the like on the entire surface of the transparent substrate 2, a resist mask is formed, and the insulating protective film 20 is partially formed. The second contact hole 21 is formed by etching. At this time, the insulating protective film 20 in a region overlapping the light emitting layer 65 in a plan view is removed.

次に、透明電極4の形成工程では、透明基板2の全面にITO膜など形成した後、パターニングし、透明電極4を形成する。   Next, in the step of forming the transparent electrode 4, an ITO film or the like is formed on the entire surface of the transparent substrate 2 and then patterned to form the transparent electrode 4.

次に、絶縁膜25の形成工程では、透明基板2の全面にシリコン窒化膜などを形成した後、発光層65と平面的に重なる領域の絶縁保護膜25を除去する。   Next, in the step of forming the insulating film 25, after forming a silicon nitride film or the like on the entire surface of the transparent substrate 2, the insulating protective film 25 in a region overlapping the light emitting layer 65 in a plane is removed.

次に、透明基板2の全面に感光性樹脂を厚く形成した後、露光、現像し、図5(c)に示すように、有機EL素子の正孔輸送層63、発光層65の形成領域を囲むように隔壁6(バンク)を形成する。   Next, after forming a thick photosensitive resin on the entire surface of the transparent substrate 2, exposure and development are performed, and as shown in FIG. 5C, formation regions of the hole transport layer 63 and the light emitting layer 65 of the organic EL element are formed. A partition wall 6 (bank) is formed so as to surround it.

次に、正孔輸送層63の形成工程では、隔壁6で囲まれた凹部内に、一点鎖線L63で示すように、有機機能材料の液状物(正孔輸送層形成用液状物)の液滴を吐出した後、乾燥、焼成により、正孔輸送層形成用液状物を固化させて正孔輸送層63を形成する。このような液滴の吐出には、インクジェット方式の液滴吐出ヘッドなどが用いられる。インクジェット方式としては、圧電体素子の体積変化により流動体を吐出させるピエゾジェット方式や、エネルギー発生素子として電気熱変換体を用いた方式などが採用される。なお、液滴吐出装置としてはディスペンサー装置でもよい。ここで、液体材料とは、吐出ヘッドのノズルから吐出可能な粘度を備えた媒体をいう。水性であると油性であるとを問わない。ノズル等から吐出可能な流動性(粘度)を備えていれば十分で、固体物質が混入していても全体として流動体であればよい。また、液体材料に含まれる固体物質は融点以上に加熱されて溶解されたものでも、溶媒中に微粒子として分散させたものでもよく、溶媒の他に染料や顔料その他の機能性材料を添加したものであってもよい。なお、正孔輸送層63は、例えば、高分子系材料として、ポリチオフェン、ポリスチレンスルホン酸、ポリピロール、ポリアニリンおよびこの誘導体などが例示される。また、低分子系材料を使用する場合は、正孔注入層と正孔輸送層63を積層して形成するのが好ましい。その場合、正孔注入層の形成材料としては、例えば、ポリオレフィン誘導体である3,4−ポリエチレンジオシチオフェン/ポリスチレンスルフォン酸(PEDOT/PSS)を有機溶剤を主溶媒として分散させてなる分散液が好適に用いられる。但し、正孔注入材料としては、前記のものに限定されることなく、ポリマー前駆体がポリテトラヒドロチオフェニルフェニレンであるポリフェニレンビニレン、1,1−ビス−(4−N、N−ジトリルアミノフェニル)シクロヘキサン、トリス(8−ヒドロキシキノリノール)アルミニウム等を用いることもできる。   Next, in the step of forming the hole transport layer 63, liquid droplets of the organic functional material (hole transport layer forming liquid), as indicated by the alternate long and short dash line L 63, in the recesses surrounded by the partition walls 6. Then, the hole transport layer forming liquid is solidified by drying and baking to form the hole transport layer 63. For discharging such droplets, an inkjet droplet discharge head or the like is used. As the ink jet method, a piezo jet method in which a fluid is ejected by a volume change of a piezoelectric element, a method using an electrothermal transducer as an energy generating element, or the like is employed. The droplet discharge device may be a dispenser device. Here, the liquid material refers to a medium having a viscosity that can be discharged from the nozzle of the discharge head. It does not matter whether it is aqueous or oily. It is sufficient if it has fluidity (viscosity) that can be discharged from a nozzle or the like. In addition, the solid material contained in the liquid material may be dissolved by being heated to a temperature higher than the melting point, or may be dispersed as fine particles in a solvent, and a dye, pigment or other functional material added in addition to the solvent It may be. The hole transport layer 63 is exemplified by, for example, polythiophene, polystyrene sulfonic acid, polypyrrole, polyaniline, and derivatives thereof as polymer materials. In the case of using a low molecular weight material, it is preferable that the hole injection layer and the hole transport layer 63 are stacked. In that case, as a material for forming the hole injection layer, for example, a dispersion liquid in which 3,4-polyethylenediosithiophene / polystyrene sulfonic acid (PEDOT / PSS), which is a polyolefin derivative, is dispersed using an organic solvent as a main solvent. Preferably used. However, the hole injecting material is not limited to those described above, but polyphenylene vinylene whose polymer precursor is polytetrahydrothiophenylphenylene, 1,1-bis- (4-N, N-ditolylaminophenyl) ) Cyclohexane, tris (8-hydroxyquinolinol) aluminum and the like can also be used.

次に、発光層65の形成工程では、正孔輸送層63の形成工程と同様、図5(d)に一点鎖線L65で示すように、有機機能材料の液状物(正孔輸送層形成用液状物)の液滴を吐出した後、乾燥、焼成により、発光層形成用液状物を固化させて発光層65を形成する。発光層65の形成材料としては、例えば、分子量が1000以上の高分子材料が用いられる。具体的には、ポリフルオレン誘導体、ポリフェニレン誘導体、ポリビニルカルバゾール、ポリチオフェン誘導体、またはこれらの高分子材料に、ペリレン系色素、クマリン系色素、ローダミン系色素、例えばルブレン、ペリレン、9,10−ジフェニルアントラセン、テトラフェニルブタジエン、ナイルレッド、クマリン6、キナクリドン等をドープしたものが用いられる。なお、このような高分子材料としては、二重結合のπ電子がポリマー鎖上で非極在化しているπ共役系高分子材料が、導電性高分子でもあることから発光性能に優れるため、好適に用いられる。特に、その分子内にフルオレン骨格を有する化合物、すなわちポリフルオレン系化合物がより好適に用いられる。また、このような材料以外にも、例えば特開平11−40358号公報に示される有機EL素子用組成物、すなわち共役系高分子有機化合物の前駆体と、発光特性を変化させるための少なくとも1種の蛍光色素とを含んでなる有機EL素子用組成物も、発光層形成材料として使用可能である。このような発光材料を溶解あるいは分散する有機溶媒としては、非極性溶媒が好適とされ、特に発光層が正孔輸送層63の上に形成されることから、この正孔輸送層63に対して不溶なものが用いられる。具体的には、キシレン、シクロへキシルベンゼン、ジハイドロベンゾフラン、トリメチルベンゼン、テトラメチルベンゼン等が好適に用いられる。なお、発光層65の形成にあたっては、赤色の発色光を発光する発光層の形成材料、緑色の発色光を発光する発光層の形成材料、青色の発色光を発光する発光層の形成材料を、それぞれ対応する画素100に吐出し塗布することによって行う。   Next, in the formation process of the light emitting layer 65, as in the formation process of the hole transport layer 63, as shown by a one-dot chain line L 65 in FIG. The light emitting layer 65 is formed by solidifying the light emitting layer forming liquid by drying and firing. As a material for forming the light emitting layer 65, for example, a polymer material having a molecular weight of 1000 or more is used. Specifically, a polyfluorene derivative, a polyphenylene derivative, a polyvinyl carbazole, a polythiophene derivative, or a polymer material thereof, a perylene dye, a coumarin dye, a rhodamine dye such as rubrene, perylene, 9,10-diphenylanthracene, What doped tetraphenyl butadiene, Nile red, coumarin 6, quinacridone, etc. is used. As such a polymer material, a π-conjugated polymer material in which π electrons of a double bond are non-polarized on a polymer chain is also a conductive polymer, and thus has excellent light emitting performance. Preferably used. In particular, a compound having a fluorene skeleton in the molecule, that is, a polyfluorene compound is more preferably used. In addition to such materials, for example, a composition for an organic EL device disclosed in JP-A-11-40358, that is, a precursor of a conjugated polymer organic compound, and at least one kind for changing light emission characteristics A composition for an organic EL device comprising the above fluorescent dye can also be used as a light emitting layer forming material. As an organic solvent for dissolving or dispersing such a light emitting material, a nonpolar solvent is preferable. In particular, since the light emitting layer is formed on the hole transport layer 63, the hole transport layer 63 Insoluble materials are used. Specifically, xylene, cyclohexylbenzene, dihydrobenzofuran, trimethylbenzene, tetramethylbenzene and the like are preferably used. In forming the light emitting layer 65, a light emitting layer forming material that emits red colored light, a light emitting layer forming material that emits green colored light, a light emitting layer forming material that emits blue colored light, This is performed by discharging and applying to the corresponding pixels 100.

しかる後に、図3に示す対向電極7の形成工程では、透明基板2の全面にアルミニウム膜などの金属膜を形成した後、パターニングし、対向電極7を形成する。   Thereafter, in the step of forming the counter electrode 7 shown in FIG. 3, a metal film such as an aluminum film is formed on the entire surface of the transparent substrate 2 and then patterned to form the counter electrode 7.

以上のとおり、本形態では、層間絶縁膜5の形成工程で第1のコンタクトホール51を形成する際、発光層6と平面的に重なる領域の層間絶縁膜5およびゲート絶縁膜92を除去する。また、絶縁保護膜20の形成工程で第2のコンタクトホール52を形成する際、発光層6と平面的に重なる領域の絶縁保護膜20を除去する。従って、発光層65と平面的に重なる領域では、誘電体多層膜30と画素電極4との間に層間絶縁膜5、ゲート絶縁膜92および絶縁保護膜20が介在しないので、第2のTFT90と透明基板2との層間に誘電体多層膜30を配置した場合でも、理想的な光共振器3を構成することができる。しかも、発光層65と平面的に重なる領域からの層間絶縁膜5、ゲート絶縁膜92および絶縁保護膜20の除去をコンタクトホール51、21の形成と同時に行うので、コンタクトホール51、21以外の領域から絶縁膜を形成する場合でも、新たな工程の追加を一切、必要しとない。   As described above, in this embodiment, when the first contact hole 51 is formed in the step of forming the interlayer insulating film 5, the interlayer insulating film 5 and the gate insulating film 92 in a region overlapping the light emitting layer 6 in a plane are removed. Further, when forming the second contact hole 52 in the step of forming the insulating protective film 20, the insulating protective film 20 in a region overlapping the light emitting layer 6 in a plan view is removed. Accordingly, since the interlayer insulating film 5, the gate insulating film 92, and the insulating protective film 20 are not interposed between the dielectric multilayer film 30 and the pixel electrode 4 in the region overlapping the light emitting layer 65 in a plan view, Even when the dielectric multilayer film 30 is disposed between the transparent substrate 2 and the transparent substrate 2, the ideal optical resonator 3 can be configured. In addition, since the removal of the interlayer insulating film 5, the gate insulating film 92, and the insulating protective film 20 from the region overlapping the light emitting layer 65 in a plane is performed simultaneously with the formation of the contact holes 51, 21, regions other than the contact holes 51, 21 are formed. Even when an insulating film is formed from, no additional process is required.

[実施の形態2]
図6は、本発明の実施の形態2に係る有機EL装置の画素構成を示す断面図である。図7は、本発明の実施の形態2に係る有機EL装置の製造工程の一部を示す工程断面図である。なお、本形態の有機EL装置の基本的な構成は、実施の形態1と同様であるため、共通する部分については同一の符号を付して図示し、それらの詳細な説明を省略する。
[Embodiment 2]
FIG. 6 is a cross-sectional view showing a pixel configuration of an organic EL device according to Embodiment 2 of the present invention. FIG. 7 is a process cross-sectional view illustrating a part of the manufacturing process of the organic EL device according to the second embodiment of the present invention. In addition, since the basic structure of the organic EL device of this embodiment is the same as that of Embodiment 1, common portions are denoted by the same reference numerals and detailed description thereof is omitted.

図6に示す有機EL装置1も、実施の形態1と同様、発光素子(有機EL素子)から出射された光を透明基板2(透明基板)の側から出射する、いわゆる「ボトムエミッション型」の有機EL装置であり、ガラス基板などの透明基板2の表面側には、いずれの画素100においても、第2のTFT90、この第2のTFT90のゲート絶縁膜92およびゲート電極93を覆うように構成された層間絶縁膜5、この層間絶縁膜5およびゲート絶縁膜92に形成された第1のコンタクトホール51を介して第2のTFT90のソース・ドレイン領域91に接続された導電膜からなるソース・ドレイン電極11、絶縁保護膜20、この絶縁保護膜20に形成された第2のコンタクトホール21を介してソース・ドレイン電極11に接続された画素電極4(透明電極/陽極)、自発光素子としての有機EL素子の正孔輸送層63、有機EL素子の発光層65、および反射性を備えた対向電極7(陰極)が上層側に向けてこの順に形成されている。   As in the first embodiment, the organic EL device 1 shown in FIG. 6 is also a so-called “bottom emission type” that emits light emitted from the light emitting element (organic EL element) from the transparent substrate 2 (transparent substrate) side. This is an organic EL device, and on the surface side of the transparent substrate 2 such as a glass substrate, in any pixel 100, the second TFT 90, the gate insulating film 92 of the second TFT 90 and the gate electrode 93 are covered. The interlayer insulating film 5 and the source / drain composed of the conductive film connected to the source / drain region 91 of the second TFT 90 through the first contact hole 51 formed in the interlayer insulating film 5 and the gate insulating film 92. The drain electrode 11, the insulating protective film 20, and the pixel electrode connected to the source / drain electrode 11 through the second contact hole 21 formed in the insulating protective film 20 4 (transparent electrode / anode), a hole transport layer 63 of the organic EL element as a self-luminous element, a light emitting layer 65 of the organic EL element, and a counter electrode 7 (cathode) having reflectivity are directed toward the upper layer side. It is formed in order.

本形態でも、実施の形態1と同様、すべての画素100に光共振器3を構成する誘電体多層膜30が形成されているが、誘電体多層膜30は、第2のTFT90の下層側、すなわち、第2のTFT90と透明基板2との層間に形成されているため、画素電極4を第2のTFT90に電気的に接続するにあたって、誘電体多層膜30にコンタクトホールを形成する必要がない。それ故、誘電体多層膜30にコンタクトホールを形成することに起因する不具合が発生しないなどの効果を奏する。また、実施の形態1と同様、誘電体多層膜30と画素電極4との層間では、発光層65と平面的に重なる領域の層間絶縁膜5、ゲート絶縁膜92および絶縁保護膜20が除去されており、発光層65と平面的に重なる領域では、誘電体多層膜30と画素電極4との間に層間絶縁膜5、ゲート絶縁膜92および絶縁保護膜20が介在しないので、第2のTFT90と透明基板2との層間に誘電体多層膜30を配置した場合でも、理想的な光共振器3を構成することができる。   Also in this embodiment, the dielectric multilayer film 30 constituting the optical resonator 3 is formed in all the pixels 100 as in the first embodiment. The dielectric multilayer film 30 is formed on the lower layer side of the second TFT 90, That is, since it is formed between the second TFT 90 and the transparent substrate 2, it is not necessary to form a contact hole in the dielectric multilayer film 30 when the pixel electrode 4 is electrically connected to the second TFT 90. . Therefore, there is an effect that a defect caused by forming a contact hole in the dielectric multilayer film 30 does not occur. Similarly to the first embodiment, the interlayer insulating film 5, the gate insulating film 92, and the insulating protective film 20 in a region overlapping the light emitting layer 65 in a plane are removed between the dielectric multilayer film 30 and the pixel electrode 4. In the region overlapping the light emitting layer 65 in a plan view, the interlayer insulating film 5, the gate insulating film 92, and the insulating protective film 20 are not interposed between the dielectric multilayer film 30 and the pixel electrode 4, so that the second TFT 90 Even when the dielectric multilayer film 30 is disposed between the transparent substrate 2 and the transparent substrate 2, an ideal optical resonator 3 can be configured.

本形態では、実施の形態1と違って、絶縁層25の上層に隔壁6が形成されていないが、以下に説明するように、本形態では、発光層65と平面的に重なる領域では、層間絶縁膜5、ゲート絶縁膜92および絶縁保護膜20の除去によって、深い凹部60が形成されているので、この凹部60内に有機機能材料の液状物の液滴を吐出することにより、正孔輸送層63、発光層65を形成する。   In this embodiment, unlike the first embodiment, the partition wall 6 is not formed in the upper layer of the insulating layer 25. However, in this embodiment, in the region overlapping the light emitting layer 65 in a plane, the interlayer is formed as described below. Since the deep recess 60 is formed by removing the insulating film 5, the gate insulating film 92, and the insulating protective film 20, hole transport is performed by discharging liquid droplets of an organic functional material into the recess 60. A layer 63 and a light emitting layer 65 are formed.

本形態の有機EL装置1を製造するには、図5および図7(a)に示すように、まず、誘電体多層膜形成工程において、スパッタ法などにより、複数層のシリコン窒化膜31と複数層のシリコン酸化膜32とを交互に積層して、厚さが500nm程度の誘電体多層膜3を形成する。   In order to manufacture the organic EL device 1 of this embodiment, as shown in FIGS. 5 and 7A, first, in the dielectric multilayer film forming step, a plurality of silicon nitride films 31 and a plurality of silicon nitride films 31 are formed by sputtering or the like. The dielectric silicon film 32 having a thickness of about 500 nm is formed by alternately stacking the silicon oxide films 32 as layers.

次に、周知の半導体プロセスを利用して、TFT90の形成工程を行う。次に、図7(a)に示すように、層間絶縁膜5の形成工程では、例えば、感光性樹脂によって厚さが1μm程度の層間絶縁膜5を形成する。その際、第1のコンタクトホール51を形成するとともに、発光層65と平面的に重なる領域の層間絶縁膜5を同時に除去する。次に、図7(b)に示すように、ソース・ドレイン電極11の形成工程において、層間絶縁膜5の上層にソース・ドレイン電極11を形成する。次に、絶縁保護膜5の形成工程において、透明基板2の全面にシリコン窒化膜などからなる絶縁膜(絶縁保護膜20)を形成した後、第2のコンタクトホール21を形成する際、発光層65と平面的に重なる領域の絶縁保護膜20を除去する。次に、透明電極4の形成工程では、透明基板2の全面にITO膜やIZO膜を形成した後、パターニングし、透明電極4を形成する。次に、絶縁膜25の形成工程では、透明基板2の全面にシリコン窒化膜などを形成した後、発光層65と平面的に重なる領域の絶縁保護膜25を除去する。   Next, a formation process of the TFT 90 is performed using a known semiconductor process. Next, as shown in FIG. 7A, in the step of forming the interlayer insulating film 5, the interlayer insulating film 5 having a thickness of about 1 μm is formed by, for example, a photosensitive resin. At this time, the first contact hole 51 is formed, and the interlayer insulating film 5 in a region overlapping the light emitting layer 65 in a plan view is simultaneously removed. Next, as shown in FIG. 7B, in the step of forming the source / drain electrode 11, the source / drain electrode 11 is formed on the interlayer insulating film 5. Next, in the step of forming the insulating protective film 5, after forming an insulating film (insulating protective film 20) made of a silicon nitride film or the like on the entire surface of the transparent substrate 2, the light emitting layer is formed when the second contact hole 21 is formed. The insulating protective film 20 in a region overlapping with the plane 65 is removed. Next, in the step of forming the transparent electrode 4, an ITO film or an IZO film is formed on the entire surface of the transparent substrate 2 and then patterned to form the transparent electrode 4. Next, in the step of forming the insulating film 25, after forming a silicon nitride film or the like on the entire surface of the transparent substrate 2, the insulating protective film 25 in a region overlapping the light emitting layer 65 in a plane is removed.

以上の工程を行った状態で、正孔輸送層63および発光層65を形成すべき領域には、層間絶縁膜5、ゲート絶縁膜92および絶縁保護膜20の除去によって、深さが1μm程度の凹部60が形成されている。そこで、本形態では、正孔輸送層63の形成工程では、図7(c)に一点鎖線L63で示すように、凹部60内に有機機能材料の液状物(正孔輸送層形成用液状物)の液滴を吐出した後、乾燥、焼成により、正孔輸送層形成用液状物を固化させて正孔輸送層63を形成する。その際、凹部60の内壁は、液滴が不要な領域に流出することを防止するバンクとして機能する。   In the state where the above steps are performed, the region where the hole transport layer 63 and the light emitting layer 65 are to be formed has a depth of about 1 μm by removing the interlayer insulating film 5, the gate insulating film 92, and the insulating protective film 20. A recess 60 is formed. Therefore, in this embodiment, in the step of forming the hole transport layer 63, as shown by a one-dot chain line L63 in FIG. Then, the hole transport layer 63 is formed by solidifying the hole transport layer forming liquid by drying and firing. At that time, the inner wall of the recess 60 functions as a bank that prevents liquid droplets from flowing out to an unnecessary region.

次に、発光層65の形成工程では、正孔輸送層63の形成工程と同様、図7d)に一点鎖線L65で示すように、有機機能材料の液状物(正孔輸送層形成用液状物)の液滴を吐出した後、乾燥、焼成により、発光層形成用液状物を固化させて発光層65を形成する。その際、凹部60の内壁は、液滴が不要な領域に流出することを防止するバンクとして機能する。   Next, in the formation step of the light emitting layer 65, as in the formation step of the hole transport layer 63, as shown by a one-dot chain line L65 in FIG. 7d), a liquid material of organic functional material (liquid material for forming the hole transport layer) After the liquid droplets are discharged, the light emitting layer forming liquid is solidified by drying and baking to form the light emitting layer 65. At that time, the inner wall of the recess 60 functions as a bank that prevents liquid droplets from flowing out to an unnecessary region.

しかる後に、図3に示す対向電極7の形成工程では、透明基板2の全面にアルミニウム膜などの金属膜を形成した後、パターニングし、対向電極7を形成する。   Thereafter, in the step of forming the counter electrode 7 shown in FIG. 3, a metal film such as an aluminum film is formed on the entire surface of the transparent substrate 2 and then patterned to form the counter electrode 7.

以上のとおり、本形態では、実施の形態1と同様、層間絶縁膜5の形成工程で第1のコンタクトホール51を形成する際、発光層6と平面的に重なる領域の層間絶縁膜5およびゲート絶縁膜92を除去する。また、絶縁保護膜20の形成工程で第2のコンタクトホール52を形成する際、発光層6と平面的に重なる領域の絶縁保護膜20を除去する。従って、発光層65と平面的に重なる領域では、誘電体多層膜30と画素電極4との間に層間絶縁膜5、ゲート絶縁膜92および絶縁保護膜20が介在しないので、第2のTFT90と透明基板2との層間に誘電体多層膜30を配置した場合でも、理想的な光共振器3を構成することができるなど、実施の形態1と同様な効果を奏する。   As described above, in the present embodiment, as in the first embodiment, when the first contact hole 51 is formed in the step of forming the interlayer insulating film 5, the interlayer insulating film 5 and the gate in a region overlapping the light emitting layer 6 in a plane are formed. The insulating film 92 is removed. Further, when forming the second contact hole 52 in the step of forming the insulating protective film 20, the insulating protective film 20 in a region overlapping the light emitting layer 6 in a plan view is removed. Accordingly, since the interlayer insulating film 5, the gate insulating film 92, and the insulating protective film 20 are not interposed between the dielectric multilayer film 30 and the pixel electrode 4 in the region overlapping the light emitting layer 65 in a plan view, Even when the dielectric multilayer film 30 is disposed between the transparent substrate 2 and the transparent substrate 2, the ideal optical resonator 3 can be configured and the same effects as those of the first embodiment can be obtained.

また、本形態では、層間絶縁膜5、ゲート絶縁膜92および絶縁保護膜20の除去によって、正孔輸送層63および発光層65を形成すべき領域に深い凹部60が形成されているので、この凹部60内に有機機能材料の液状物の液滴を吐出する。このため、図3および図5に示す隔壁6を形成しなくても、液滴が不要な領域に流出することがない。それ故、隔壁6の形成工程を省略できる分、生産性を向上することができる。   In this embodiment, the deep recess 60 is formed in the region where the hole transport layer 63 and the light emitting layer 65 are to be formed by removing the interlayer insulating film 5, the gate insulating film 92, and the insulating protective film 20. Liquid droplets of organic functional material are discharged into the recess 60. For this reason, even if the partition wall 6 shown in FIGS. 3 and 5 is not formed, the liquid droplet does not flow out to an unnecessary region. Therefore, productivity can be improved as much as the step of forming the partition wall 6 can be omitted.

[電子機器]
次に、上述の有機EL装置を備えた電子機器の例について説明する。図8は上述した実施形態に係る表示装置を備えたモバイル型のパーソナルコンピュータ(情報処理装置)の構成を示す斜視図である。同図において、パーソナルコンピュータ1100は、キーボード1102を備えた本体部1104と、上述した有機EL装置を表示装置1106として備えた表示装置ユニットとから構成されている。このため、表色範囲の広い表示部を備えた電子機器を提供することができる。
[Electronics]
Next, an example of an electronic apparatus including the above-described organic EL device will be described. FIG. 8 is a perspective view illustrating a configuration of a mobile personal computer (information processing apparatus) including the display device according to the above-described embodiment. In the figure, a personal computer 1100 is composed of a main body 1104 provided with a keyboard 1102 and a display device unit provided with the organic EL device described above as a display device 1106. For this reason, the electronic device provided with the display part with a wide color specification range can be provided.

なお、上述した例に加えて、他の例として、携帯電話、腕時計型電子機器、液晶テレビ、ビューファインダ型やモニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、POS端末、電子ペーパー、タッチパネルを備えた機器等が挙げられる。本発明の電気光学装置は、こうした電子機器の表示部としても適用できる。   In addition to the above-described examples, other examples include mobile phones, wristwatch-type electronic devices, liquid crystal televisions, viewfinder-type and monitor direct-view video tape recorders, car navigation devices, pagers, electronic notebooks, calculators, word processors, Examples include workstations, videophones, POS terminals, electronic paper, and devices equipped with touch panels. The electro-optical device of the present invention can also be applied as a display unit of such an electronic apparatus.

[他の実施の形態]
以上、添付図面を参照しながら本発明に係る有機EL装置とその製造方法、並びに電子機器の好適な実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されないことは言うまでもない。上述した実施形態において示した各構成部材の諸形状や組み合わせ等は一例であって、本発明の主旨から逸脱しない範囲において設計要求等に基づき種々変更可能である。
[Other embodiments]
The preferred embodiments of the organic EL device, the manufacturing method thereof, and the electronic apparatus according to the present invention have been described above with reference to the accompanying drawings. Needless to say, the present invention is not limited to the above embodiment. Various shapes, combinations, and the like of the constituent members shown in the above-described embodiments are examples, and various modifications can be made based on design requirements and the like without departing from the gist of the present invention.

図1は、アクティブマトリクス型の有機EL装置(発光装置)の電気的構成を示す等価回路図である。FIG. 1 is an equivalent circuit diagram showing an electrical configuration of an active matrix organic EL device (light emitting device). 有機EL装置の画素構成の一例を示す平面図である。It is a top view which shows an example of the pixel structure of an organic electroluminescent apparatus. 本発明の実施の形態1に係る有機EL装置の画素構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the pixel structure of the organic EL apparatus which concerns on Embodiment 1 of this invention. 本発明の比較例に係る有機EL装置の画素構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the pixel structure of the organic electroluminescent apparatus which concerns on the comparative example of this invention. 本発明の実施の形態1に係る有機EL装置の製造工程の一部を示す工程断面図である。It is process sectional drawing which shows a part of manufacturing process of the organic EL apparatus concerning Embodiment 1 of this invention. 本発明の実施の形態2に係る有機EL装置の画素構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the pixel structure of the organic electroluminescent apparatus which concerns on Embodiment 2 of this invention. 本発明の実施の形態2に係る有機EL装置の製造工程の一部を示す工程断面図である。It is process sectional drawing which shows a part of manufacturing process of the organic EL apparatus which concerns on Embodiment 2 of this invention. 本実施形態の有機EL装置を備えた電子機器の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the electronic device provided with the organic EL apparatus of this embodiment. 従来の有機EL装置の画素構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the pixel structure of the conventional organic EL apparatus.

符号の説明Explanation of symbols

1 有機EL装置(発光装置)、2 透明基板、3 光共振器、4 画素電極(透明電極/陽極)、5 層間絶縁膜、6 隔壁、7 対向電極(陰極)、11 ソース・ドレイン電極(導電膜)、20 絶縁保護膜、21 第2のコンタクトホール、30 誘電体多層膜、51 第1のコンタクトホール、60凹部、63 有機EL素子の正孔輸送層、65 有機EL素子の発光層、90 第2のTFT(スイッチング素子)、92 ゲート絶縁膜、93 ゲート電極、100 画素 1 organic EL device (light emitting device), 2 transparent substrate, 3 optical resonator, 4 pixel electrode (transparent electrode / anode), 5 interlayer insulation film, 6 partition, 7 counter electrode (cathode), 11 source / drain electrode (conductive) Film), 20 insulating protective film, 21 second contact hole, 30 dielectric multilayer film, 51 first contact hole, 60 recess, 63 hole transport layer of organic EL element, 65 light emitting layer of organic EL element, 90 Second TFT (switching element), 92 gate insulating film, 93 gate electrode, 100 pixels

Claims (6)

少なくとも、スイッチング素子、層間絶縁膜、該層間絶縁膜に形成された第1のコンタクトホールを介して前記スイッチング素子に電気的に接続された透明電極、自発光素子の発光層、および対向電極が基板側から上層に向けてこの順に形成された発光装置において、
前記スイッチング素子と前記基板との層間には、光共振器を構成する誘電体多層膜が構成され、かつ、当該誘電体多層膜と前記透明電極との層間では、前記発光層と平面的に重なる領域の前記層間絶縁膜が除去されていることを特徴とする発光装置。
At least a switching element, an interlayer insulating film, a transparent electrode electrically connected to the switching element through a first contact hole formed in the interlayer insulating film, a light emitting layer of the self-light emitting element, and a counter electrode are substrates In the light emitting device formed in this order from the side toward the upper layer,
A dielectric multilayer film constituting an optical resonator is formed between the switching element and the substrate, and the light emitting layer is planarly overlapped between the dielectric multilayer film and the transparent electrode. A light-emitting device, wherein the interlayer insulating film in a region is removed.
請求項1において、前記層間絶縁膜と前記透明電極との層間には、当該層間絶縁膜の前記第1のコンタクトホールを介して前記スイッチング素子に接続された導電膜、および絶縁保護膜がこの順に形成され、
前記透明電極は、前記絶縁保護膜に形成された第2のコンタクトホールを介して前記導電膜に接続し、
前記誘電体多層膜と前記透明電極との層間では、前記発光層と平面的に重なる領域の前記絶縁保護膜が除去されていることを特徴とする発光装置。
2. The conductive film connected to the switching element through the first contact hole of the interlayer insulating film and the insulating protective film are disposed in this order between the interlayer insulating film and the transparent electrode. Formed,
The transparent electrode is connected to the conductive film through a second contact hole formed in the insulating protective film,
The light-emitting device, wherein the insulating protective film is removed in a region overlapping the light-emitting layer in a plane between the dielectric multilayer film and the transparent electrode.
少なくとも、スイッチング素子、層間絶縁膜、該層間絶縁膜に形成された第1のコンタクトホールを介して前記スイッチング素子に電気的に接続された透明電極、自発光素子の発光層、および対向電極が基板側から上層に向けてこの順に形成された発光装置の製造方法であって、
前記基板上に誘電体多層膜を形成する誘電体多層膜形成工程を有し、
当該誘電体多層膜形成工程を行った後、少なくとも、前記スイッチング素子の形成工程、前記層間絶縁膜の形成工程、前記透明電極の形成工程、前記発光層の形成工程、および前記対向電極の形成工程をこの順に行い、かつ、
前記層間絶縁膜の形成工程では、前記第1のコンタクトホールを形成する際、前記発光層と平面的に重なる領域の前記層間絶縁膜を除去することを特徴とする発光装置の製造方法。
At least a switching element, an interlayer insulating film, a transparent electrode electrically connected to the switching element through a first contact hole formed in the interlayer insulating film, a light emitting layer of the self-light emitting element, and a counter electrode are substrates A method for manufacturing a light emitting device formed in this order from the side toward the upper layer,
A dielectric multilayer film forming step of forming a dielectric multilayer film on the substrate;
After performing the dielectric multilayer film forming step, at least the switching element forming step, the interlayer insulating film forming step, the transparent electrode forming step, the light emitting layer forming step, and the counter electrode forming step In this order, and
In the step of forming the interlayer insulating film, the method of manufacturing a light emitting device is characterized in that, when the first contact hole is formed, the interlayer insulating film in a region overlapping with the light emitting layer in a plane is removed.
請求項3において、前記発光層の形成工程では、当該発光層と平面的に重なる領域に前記層間絶縁膜の除去によって形成された凹部内に発光層形成用液状物の液滴を吐出した後、当該発光層形成用液状物を固化させて前記発光層を形成することを特徴とする発光装置の製造方法。   In claim 3, in the step of forming the light emitting layer, after discharging droplets of the liquid material for forming the light emitting layer into the recess formed by removing the interlayer insulating film in a region overlapping the light emitting layer in a plane, A method for manufacturing a light emitting device, wherein the light emitting layer is formed by solidifying the light emitting layer forming liquid. 請求項3において、前記層間絶縁膜の形成工程の後、前記透明電極の形成工程の前に、前記層間絶縁膜の前記第1のコンタクトホールを介して前記スイッチング素子に接続する導電膜の形成工程、および絶縁保護膜の形成工程をこの順に行い、
前記絶縁保護膜の形成工程では、前記導電膜に前記透明電極を接続させる第2のコンタクトホールを形成する際、前記発光層と平面的に重なる領域の前記絶縁保護膜を除去することを特徴とする発光装置の製造方法。
4. The step of forming a conductive film connected to the switching element through the first contact hole of the interlayer insulating film after the step of forming the interlayer insulating film and before the step of forming the transparent electrode. , And the process of forming the insulating protective film in this order,
In the step of forming the insulating protective film, when forming the second contact hole for connecting the transparent electrode to the conductive film, the insulating protective film in a region overlapping the light emitting layer in a plane is removed. A method for manufacturing a light emitting device.
請求項1または2のいずれかに記載の発光装置を備えていることを特徴とする電子機器。   An electronic apparatus comprising the light emitting device according to claim 1.
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